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WO2006098420A1 - 発光素子及び表示装置 - Google Patents

発光素子及び表示装置 Download PDF

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Publication number
WO2006098420A1
WO2006098420A1 PCT/JP2006/305320 JP2006305320W WO2006098420A1 WO 2006098420 A1 WO2006098420 A1 WO 2006098420A1 JP 2006305320 W JP2006305320 W JP 2006305320W WO 2006098420 A1 WO2006098420 A1 WO 2006098420A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
organic semiconductor
semiconductor layer
electrode
light emitting
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2006/305320
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Kenji Nakamura
Takuya Hata
Atsushi Yoshizawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pioneer Corp
Original Assignee
Pioneer Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pioneer Corp filed Critical Pioneer Corp
Publication of WO2006098420A1 publication Critical patent/WO2006098420A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/30Organic light-emitting transistors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80Constructional details
    • H10K59/805Electrodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • H10K10/40Organic transistors
    • H10K10/46Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
    • H10K10/462Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
    • H10K10/466Lateral bottom-gate IGFETs comprising only a single gate
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K19/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic element specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, covered by group H10K10/00
    • H10K19/10Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic element specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, covered by group H10K10/00 comprising field-effect transistors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays

Definitions

  • the present invention relates to a light-emitting element and a display device using a compound having a carrier transporting property (hole or electron mobility) and having a semiconductor layer made of such a compound.
  • Organic EL elements include a red EL element having a structure emitting light in red, a green EL element having a structure emitting light in green, and a blue EL element having a structure emitting light in blue.
  • a color display device can be realized by arranging these three organic EL elements emitting red, blue, and green R GB as a single pixel light emitting unit and arranging a plurality of pixels in a matrix on the panel.
  • a passive matrix driving type and an active matrix driving type are known.
  • Active matrix drive type EL display devices have advantages such as lower power consumption and less crosstalk between pixels compared to passive matrix type devices, especially large-screen display devices and high-definition display. Suitable for equipment.
  • the display panel of an active matrix drive type EL display device has an anode power supply line, a cathode power supply line, a scanning line for horizontal scanning, and a de-evening line arranged across each scanning line in a grid pattern. Is formed. Scanning line and de-evening line RGB subpixels are formed at each RGB intersection.
  • a scan line is connected to the gate of a field effect transistor (FET) for selecting a scan line
  • a data line is connected to the drain
  • the source is connected to the source.
  • a drive voltage is applied to the source of the light emission drive F E T via an anode power line, and the anode end of the EL element is connected to the drain D thereof.
  • a capacitor is connected between the gate and source of the light emission drive FET.
  • a ground potential is applied to the cathode end of the EL element via the cathode power supply line.
  • organic light-emitting devices represented by organic EL devices
  • organic EL devices are basically active devices that exhibit diode characteristics, and most products that have been commercialized are driven by a passive matrix drive.
  • line-sequential driving requires instantaneously high brightness, and the limit number of scanning lines is limited, so it is difficult to obtain a high-definition display device.
  • An example of a problem to be solved by the present invention is to provide a light emitting element that suppresses a current component independent of the voltage applied to the auxiliary electrode.
  • the light emitting device of the present invention is a light emitting device comprising a light emitting layer formed between a pair of opposed electrodes, and is formed between at least one of the light emitting layer and the pair of electrodes.
  • a carrier transporting organic semiconductor layer, an auxiliary electrode disposed on an opposite side of the surface facing the other electrode of the electrode on the organic semiconductor layer side through an insulating layer, and the organic semiconductor layer side And a carrier regulating layer inserted between and in contact with the organic semiconductor layer, and a carrier supply portion in which the electrode on the organic semiconductor layer side is in contact with the organic semiconductor layer. And .
  • the display device of the present invention is a display device in which a plurality of light emitting units are arranged in a matrix.
  • Each of the light emitting units is a light emitting element including a light emitting layer formed between a pair of opposed electrodes, and is formed between at least one of the light emitting layer and the pair of electrodes.
  • a carrier regulating layer inserted between and in contact with the organic semiconductor layer, and the carrier on the side of the organic semiconductor layer has a carrier supply part in contact with the organic semiconductor layer.
  • FIG. 1 is a partial cross-sectional view showing an organic EL element according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic diagram for explaining the energy levels of the organic EL device according to the embodiment of the present invention. It is a mere idea.
  • FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing an organic EL device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 3A is a partial plan view seen from the substrate side of the organic EL device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a partial sectional view showing an organic EL device according to another embodiment of the present invention.
  • 5 to 8 are conceptual diagrams illustrating energy levels of organic EL devices according to other embodiments of the present invention.
  • FIG. 9 is an equivalent circuit diagram showing a sub-pixel light emitting unit of the organic EL display device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view of a switching organic TFT element in a sub-pixel light emitting unit of an organic EL display device according to an embodiment of the present invention.
  • FIGS. 11 to 18 are partial plan views of the substrate in the organic EL display panel manufacturing process of the embodiment according to the present invention.
  • FIG. 1 shows light emission formed on a substrate 10 having a light emitting layer 16 3 formed between a pair of opposed electrodes (anode 11 1 and cathode 15) in an embodiment of the present invention.
  • the organic EL element 1 1 4 is shown.
  • the organic EL element 1 1 4 includes a light-emitting layer 1 6 3 and at least one of a pair of electrodes (for example, an anode 1 1) and a carrier transporting organic semiconductor layer 1 3 (for example, a hole injection layer). ) have. Furthermore, the organic EL element 1 1 4 has the other electrode (for example, The insulating layer 12 is provided on the opposite side of the surface facing the pole 15), and the auxiliary electrode 14 is disposed through the insulating layer 12.
  • a carrier regulation layer BF inserted in contact between the organic semiconductor layer 1 3 side anode 1 1 and the organic semiconductor layer 1 3; and a carrier supply in which the anode 1 1 contacts the organic semiconductor layer 1 3. Department has CPP.
  • the work function value of the carrier restriction layer BF is smaller than the work function value of the anode 11.
  • the difference between the work function value of the anode 11 and the ionization potential value of the organic semiconductor layer 13 is preferably within 0.5 eV.
  • the carrier transporting organic semiconductor layer 13 may be, for example, a hole injection layer, a hole transport layer, or a laminate thereof.
  • the anode 11 on the organic semiconductor layer 13 side such as a hole injection layer and a hole transport layer is formed so as to define a pattern for carriers passing through the organic semiconductor layer.
  • the material of the carrier regulation layer BF is selected because its work function value is larger than the ionization potential value of the organic semiconductor layer 13.
  • the material of the anode 11 is selected from those whose work function value is smaller than the ionization potential value of the organic semiconductor layer 13.
  • the light-emitting device of the embodiment is installed so that at least a part thereof is opposed to each other through the auxiliary electrode 14, the insulating layer 12, the hole injection layer (organic semiconductor layer 13), and the light-emitting layer 16 3
  • the anode 11 is formed, and the anode 11 is formed between the light emitting layer 16 3 and the hole injection layer (FIG. 1).
  • a carrier regulation layer BF made of a metal material different from the metal material of the anode 11 is laminated on the anode 11, and injected into the organic semiconductor layer 13 such as a hole injection layer by the carrier regulation layer BF.
  • the route of the carrier is defined.
  • the carrier regulation layer BF Due to carrier movement in the organic semiconductor, the carrier regulation layer BF has a value of its ionization potential, that is, the work function (or ionization potential) between the work function of the contact electrode and the ionization potential of the organic semiconductor layer. Selected based on. This is because it is better to have a large energy barrier to inhibit carrier movement.
  • the work function Wf 1 of the anode 11 made of metal and the work function Wf 2 of the carrier regulation layer BF are energy measured from the vacuum level (0 e V) to each Fermi level.
  • the ionization potential I p 1 of the organic semiconductor layer 13 is the energy measured from the vacuum level to the highest occupied molecular orbital (HOMO) level at the top of the valence band.
  • the electron affinity E a is the energy measured from the vacuum level (VACUUM LEVEL) at the reference energy level of 0 eV to the lowest unoccupied molecular orbital (LUMO) level at the bottom of the conduction band.
  • the carrier regulation layer BF As the material of the carrier regulation layer BF used in this embodiment, a hole injection material (organic semiconductor layer 13) having an ionization potential I pi (e V) and a work function Wf 1 (eV ) And a carrier regulation layer BF having a work function 2 (eV) are laminated, it is preferable that I p 1 and Wf 2 have a relationship of I pl> Wi 2.
  • I p 1 and Wf 2 have a relationship of I pl> Wi 2.
  • I p 1 and Wf 1 satisfy I pl ⁇ Wf 1, but I p 1 ⁇ Wf 1 is acceptable, and the difference between I p 1 and Wf 1 should be within 0.5 eV. .
  • hole injection at the surface where the hole injection layer (organic semiconductor layer 13) and the anode 11 are in contact is not hindered, but at the surface where the hole injection layer and the carrier regulating layer BF are in contact. No hole is injected due to the difference in work function, and by suppressing the current component that does not depend on the voltage applied to the auxiliary electrode 14, it is possible to reduce the FF current and improve the ONZ OFF ratio of luminance. it can.
  • the patterned auxiliary electrode 14 is formed on the glass substrate, and the insulating layer 12 is formed on the auxiliary electrode 14. Thereafter, a hole injection layer (organic semiconductor layer 13) is formed by vacuum deposition, spin coating, or the like.
  • a hole injection layer organic semiconductor layer 13
  • the film-formability of the coating type hole injection material is improved, and it is formed not only by the coating type hole injection material but also by vacuum deposition.
  • the current flowing through the cathode 15 and the light emission intensity can be reduced when no voltage is applied to the anode 11 (when OFF). As a result, the ratio of the current when the voltage is applied to the anode 11 (ON), the emission intensity, the current when OFF, and the emission intensity are improved.
  • Cathode 15, anode 11 and auxiliary electrode 14 include Ti, Al, Li: AKCu, Ni, Ag, Mg: Ag Au, Pt, Pd, Ir, Cr, Mo, W , Metals such as T a, and alloys thereof.
  • a conductive polymer such as polyaniline or PE DT: PSS can be used.
  • the transparent conductive thin film oxides such as tin-doped indium oxide (IT_ ⁇ ), zinc oxide doped Injiu arm (iota Zetaomikuron), indium oxide (iota eta 2 ⁇ 3), zinc oxide (Zetaitaomikuron), tin oxide (Sn 0 2
  • the present invention is not limited to this.
  • each electrode is preferably about 30 to 500 nm.
  • the range of 50 to 300 nm is particularly suitable for the cathode 15 material and the auxiliary electrode 14.
  • a range of about 30 to 200 nm is particularly suitable for the cathode 15 material.
  • These electrode materials are preferably prepared by a vacuum evaporation method or a sputtering method.
  • Various insulating materials represented by S i 0 2 and S i 3 N 4 can be used for the insulating layer 12, and an inorganic oxide film having a high relative dielectric constant is particularly preferable.
  • inorganic oxides include silicon oxide, aluminum oxide, tantalum oxide, titanium oxide, tin oxide, vanadium oxide, barium strontium titanate, barium zirconate titanate, lead zirconate titanate, lead titanate And strontium titanate, barium titanate, barium magnesium fluoride, bismuth titanate, strontium bismuth titanate, strontium bismuth tantalate, bismuth tantalate niobate, and trioxay germanium thorium.
  • silicon oxide, aluminum oxide, tantalum oxide, and titanium oxide are preferable.
  • Inorganic nitrides such as silicon nitride and aluminum nitride can also be suitably used.
  • organic compound film examples include polyimide, polyamide, polyester, polyacrylate, photo-curing resin of photo radical polymerization system, photo-thion polymerization system, copolymer containing acrylonitrile component, polyvinyl phenol, polyvinyl alcohol. , Nopolac resin, and anoethyl pullulan, a polymer, a phosphazene compound containing an elastomer, and the like can also be used.
  • the hole injection layer (organic semiconductor layer 1 3) has the function of facilitating the injection of holes from the anode 11 1 and the function of transporting holes stably.
  • the material is copper phthalocyanine (C u P Porphyrin derivatives typified by c), polyacene typified by Peyusen, and high-molecular allylamin called Suvaj Burstamine typified by m 1 TDATA are often used in low molecular weight systems.
  • a layer in which conductivity is improved by mixing Lewis acid tetrafluorotetracyanoquinodimethane (F 4 -TCNQ) or the like with a porphyrin derivative, a triphenyl 7-amine derivative, or the like can be used.
  • the mixing ratio is preferably mixed at a weight ratio of 5 to 95%.
  • polymer materials such as polyaniline (PAN I), polythiophene derivative (PEDOT), and poly (3-hexylthiophene) (P 3HT) can be used in the polymer system.
  • PAN I polyaniline
  • PEDOT polythiophene derivative
  • P 3HT poly (3-hexylthiophene)
  • the hole injection layer organic semiconductor layer 13
  • the light emitting layer 163 contains a fluorescent material or a phosphorescent material which is a compound having a light emitting function.
  • a fluorescent substance include at least one selected from compounds such as those disclosed in JP-A-63-264692, such as quinacridone, rubrene, and styryl dyes.
  • phosphorescent materials include organic iridium complexes and organic platinum complexes as described in Appl. Phy s. Lett., Vol. 75, Section 4, 1999.
  • a hole transport layer 13 A may be inserted as an organic semiconductor layer 13 between the hole injection layer and the light emitting layer 163, and the materials thereof include a triphenyldiamine derivative, a styrylamine derivative.
  • the materials thereof include a triphenyldiamine derivative, a styrylamine derivative.
  • amine derivatives having aromatic condensed rings, strong rubazole derivatives, and polymer materials include polyvinylcarbazole and derivatives thereof, and polythiophene. Two or more of these compounds may be used in combination.
  • an electron injection layer and / or an electron transport layer 13 B may be used as an organic semiconductor layer between the light emitting layer 163 and the cathode 15 as necessary.
  • the electron injecting layer and / or the electron transporting layer 13 B includes an organometallic complex having 8-quinolinol or a derivative thereof such as tris (8-quinolinolato) aluminum (A 1 Q 3) as a ligand. Any quinoline derivative, oxadiazole derivative, perylene derivative, pyridine derivative, pyrimidine derivative, quinoxaline derivative, diphenylquinone derivative, nitro-substituted fluorene derivative, or the like can be used.
  • the electron injection layer and / or the electron transport layer may also serve as the light emitting layer 16 3. In such a case, it is preferable to use tris (8 quinolinolato) aluminum or the like.
  • the electron injection layer and the electron transport layer are formed by stacking, it is preferable to stack from the cathode 15 side in the order of the compounds having a large electron affinity value.
  • the material of the substrate 10 is not limited to a translucent material such as glass, quartz, polystyrene, or other plastic materials, but is an opaque material such as silicon or A1, thermosetting resin such as phenolic resin, or poly strength.
  • a thermoplastic resin such as can be used, but is not limited thereto.
  • a light emitting device as shown in FIG. 3 was manufactured.
  • Auxiliary electrode formation After ITO is formed on a non-alkali glass substrate by sputtering to 100 nm, a photoresist is applied by spin coating. Pattern the previous photoresist by exposure and development using an optical mask, and remove the ITO film where there is no photoresist pattern from it by milling. Finally, dissolve the photoresist using a stripping solution. It was.
  • insulating layer As the insulating layer, a film having a thickness of 4200 nm was formed by spin coating using a 10 wt% propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA) solution. After that, the polymer film formed on the edge of the auxiliary electrode is wiped with cotton soaked with PGM EA, and hot The plate was baked at 230 ° C for 20 minutes.
  • PGM EA propylene glycol monomethyl ether acetate
  • anode As an anode, gold was deposited to a thickness of 50 nm by vacuum deposition using a metal mask. The deposition rate of gold was set to 0.lmZs. Subsequently, 1 Onm of aluminum was deposited by vacuum deposition using the same mask. At this time, the deposition rate of aluminum was set to 0.2 nm / s. ,
  • Pen Onsen was deposited as a 5 Onm film as the hole injection layer. At this time, the film deposition rate of Penyusen was set to 0.1 nmZs.
  • Nichi NPD was deposited to a thickness of 50 nm.
  • Tris (8-quinolinolato) aluminum was deposited as a light emitting layer material to a thickness of 60 nm by vacuum evaporation.
  • FIG. 5 shows the energy levels of part of the light-emitting element of Example 1 (Fig. 3).
  • FIG. 3A shows a plan view of the light emitting element of Example 1 as viewed from the substrate side.
  • the electrode on the organic semiconductor layer side in this case, the anode 11 and the carrier restricting layer BF are formed in a comb-like shape or a saddle-like shape. If at least one of the key-regulating layers BF has a lattice-like, comb-like or bowl-like shape, the anode 11 on the organic semiconductor layer side has a smaller area than the other cathode 15 and passes through the organic semiconductor layer.
  • a pattern for the carrier can be defined.
  • the light emitting device fabricated in this Example 2 is an organic EL device 1 1 having a light emitting layer 1 6 3 formed between a pair of opposing anodes 11 and cathodes 15. 4 having an electron transport layer 1 3 B as a carrier transporting organic semiconductor layer 1 3 formed between the light emitting layer 1 6 3 and the cathode 1 5 and facing the other anode 1 1.
  • the auxiliary electrode 14 disposed on the opposite side of the cathode 1 5 surface via the insulating layer 1 2, and the carrier inserted between the cathode 15 and the organic semiconductor layer 1 3 in contact therewith
  • the regulation layer BF and the cathode supply unit CPP in which the cathode 15 is in contact with the organic semiconductor layer 13 are provided.
  • the work function value of the carrier restriction layer BF is larger than the work function value of the cathode 15.
  • the carrier transporting organic semiconductor layer 13 may be, for example, an electron injection layer, an electron transport layer, or a laminate thereof.
  • a light emitting device was manufactured in the following process.
  • ITO was formed on a non-reactive glass substrate by sputtering to 100 nm and then patterned in the same manner as in Example 1.
  • S 1 0 2 was formed as an insulating layer by sputtering to a thickness of 30 nm. At this time, the deposition range was limited using a metal mask so that an insulating layer was not deposited on a part of the auxiliary electrode.
  • Tris (8-quinolinolato) albumin (A l Q 3) and coumarin 6 were co-deposited by vacuum evaporation to form a 40 nm film as the light emitting layer material. At this time, the concentration of coumarin 6 was 3 wt%. The deposition rate for A 1 q 3 was 0.3 nmZ s.
  • ⁇ -NPD was formed as a hole transport layer by vacuum evaporation using a 5 Onm metal mask.
  • CuP c was formed as a hole injection layer by vacuum evaporation using a 30 nm metal mask.
  • Example 1 the auxiliary electrode Z insulating layer anode hole injection layer hole transport layer / light emitting layer Z cathode is used, but as shown in FIG.
  • the hole transport layer the anode and the carrier regulation layer (with the hole transport layer) It is good also as a modification which provided in between and inserted.
  • Example 2 the auxiliary electrode insulating layer, cathode Z electron injection layer / light emitting layer, Z hole transport layer, hole injection layer, and anode are configured.
  • the cathode and the electron injection layer are formed. The order may be changed so that a cathode and a carrier regulating layer (inserted in contact with the electron transport layer) can be provided in the electron transport layer.
  • Example 1 the configuration of auxiliary electrode / insulating layer Z anode hole injection layer / light emitting layer / cathode is used in Example 2 auxiliary electrode / insulating layer / cathode / electron injection layer Z light emitting layer Z hole transport.
  • Layer no hole injection layer Although it has a structure of an anode, a hole blocking layer, an electron transport layer, an electron injection layer and / or an electron transport layer may be arbitrarily inserted.
  • Example 1 an anode is formed between the hole injection layer and the light emitting layer.
  • Example 2 the structure after the insulating layer is reversed, and the electron injection layer, cathode, light emitting layer, hole transport are reversed. You may form in order of a layer and an anode.
  • Example 1 the insulating layer was provided only between the auxiliary electrode and the hole injection layer, but an insulating film having substantially the same shape as the anode was formed on the anode to further reduce the leakage current between the anode and the cathode. It is good also as a structure to reduce.
  • the light emitting device according to the present embodiment is a passive device and can be easily manufactured without greatly changing the organic EL manufacturing process. Furthermore, by using the light emitting element of the present embodiment, it is possible to reduce the number of element parts arranged in one pixel when performing active matrix driving, and an organic EL display device using polysilicon or the like. Compared to the above, it is possible to reduce costs, reduce power consumption and extend the service life. In the above embodiment, an example of a light emitting element is shown. It can also be used for other pixels.
  • the active drive type display device according to the present invention can be realized by manufacturing at least one organic transistor, a necessary element such as a capacitor, a pixel electrode, and the like on a common substrate. As an example, the structure when applied to a display device is described below.
  • FIG. 9 is an equivalent circuit diagram showing the light emitting portion of the subpixel of the organic EL display panel.
  • Each of the light emitting sections 102 formed on the substrate 10 is composed of a switching organic TFT element 11 of a selection transistor, a capacitor 113 for holding a data voltage, and an organic EL element 114.
  • the gate electrode G of the switching organic TFT element 11 is connected to a scanning line SL to which an address signal is supplied, and the source electrode S of the switching organic TFT element 11 is connected to a data line DL to which a signal is supplied. It is connected.
  • the drain electrode D of the switching organic TFT element 11 is connected to the auxiliary electrode 14 of the organic EL element 114 and one terminal of the capacitor 113.
  • the anode 11 of the organic EL element 114 is connected to the power supply line V c c L, and the other side of the capacitor 113 is connected to the capacitor line Vc a p.
  • the cathode 15 of the organic EL element 114 is connected to the common electrode 170.
  • the power supply line V cc L and the common electrode 170 are respectively connected to voltage sources (not shown) that supply power to each.
  • Lower pattern on substrate 10 of OLED display panel (scan line SL, switch
  • the gate electrode G of the organic TFT element 11 1, the auxiliary electrode 14 of the organic EL element 1 1 4, and the other terminal of the capacitor 1 1 3 are, for example, conductor patterns that can be anodized. Oxide films formed by anodizing from these conductor patterns become insulating films and insulating layers 12 on the respective conductor patterns.
  • FIG. 10 shows an example of the structure of the switching organic TFT element 11.
  • the organic TFT element is composed of an organic semiconductor film 0SF, a source electrode S, and a drain made of organic semiconductors stacked so that a channel can be formed between the source electrode S and the drain electrode D facing each other and the source electrode and the drain electrode.
  • a gate electrode G that applies an electric field to the organic semiconductor film OSF between the electrodes D; and a gate insulating film GIF that covers the gate electrode G and is insulated from the source electrode S and the drain electrode D .
  • the method for manufacturing an organic EL display panel will be specifically described below.
  • a scanning line SL, a gate electrode G, one electrode of a capacitor 1 1 3 a, and an auxiliary electrode 14 of an organic EL element are placed on a substrate 10 such as glass.
  • a lower conductive pattern is formed.
  • the gate electrode material in the conductor pattern may be any metal that can be anodized such as Ta, and may be a single element such as Mg, Ti, Nb, or Zr, or an alloy or laminate thereof. Can be mentioned.
  • tantalum (T a) tantalum pentoxide obtained by the electrode anodized (T a 2 0 5) has a high dielectric constant of about 2 4, which is very advantageous for an organic TFT element electric current.
  • the conductor pattern may be a single layer or a multilayer wiring of two or more layers by further laminating a second conductor pattern.
  • all the following thin film pattern deposition methods are adapted to organic or inorganic materials.
  • a sputtering method using a mask an EB vapor deposition method, a resistance heating vapor deposition method, a CVD method, and a printing method can be used.
  • the lower conductor pattern can also be patterned by dry etching or wet etching.
  • insulating contact protection that can withstand anodic oxidation to form the contact part that connects the drain electrode I of the switching organic TFT element 1 1 and the auxiliary electrode 1 4 of the organic EL element in a later process
  • Each part CP is provided.
  • Metal oxides as the material of the protection section, the metal nitride, a compound of a metal such as metal fluorides, in example Example, A 1 2 0 3, S I_ ⁇ 2, S i N, such as S i ON, or insulating Polymers such as polyimide can be used.
  • portions that should not be anodized on the substrate 10 such as the end portions of the electrodes other than the contact portions are protected by forming an insulating mask.
  • the chemical conversion solution is brought into contact with the anodizable portion on the substrate formed in the patterning process, and anodization is performed while energizing them using the anode as an anode, and oxidation is performed from the conductor pattern such as the auxiliary electrode 14 and the distribution pattern.
  • Form a film anodic oxidation method.
  • the contact protector CP is removed by cleaning, and heat treatment is performed to stabilize the oxide film.
  • the auxiliary electrode 14 is an insulating layer 12 except for the contact portion CS where the metal part is exposed.
  • the power line V cc L and the gate electrode are covered with an oxide film, and the gate electrode and the capacitor electrode are simultaneously formed as the gate insulating film GIF and the dielectric layer 11 3 b, respectively.
  • An electronic circuit component is formed on the surface of the substrate after the anodizing treatment.
  • a substantially comb-shaped electrode is formed in a predetermined pattern on the insulating layer 12 as the anode 11 of the organic EL element.
  • Anode 1 1 It is formed so as to be connected to the power supply line V c c L.
  • the source electrode S of the switching organic TFT element is connected to the data line DL, and the drain electrode D is formed to be connected to the auxiliary electrode 14 of the corresponding organic EL element via the contact portion CS.
  • the material for the data line D L and the power supply line V cc L can be the same as the source Z drain electrode.
  • conjugated polymer compounds such as organic conductive materials, polyanilines, polythiophenes, and polypyrroles can also be used for the source and drain electrodes.
  • a low-cost method such as a printing method can be used for pattern formation.
  • a protective insulating film 18 that functions as a protective film for the pixel electrode edge and the organic semiconductor electrode edge is formed in a predetermined pattern. That is, the protective insulating film 18 is formed in a pattern that exposes the anode 11 of the organic EL element and exposes the source and drain electrodes and the gate insulating film of the organic TFT element.
  • an insulating polymer such as polyimide or a metal compound such as metal oxide, metal nitride, metal fluoride, for example, A 1 2 0 3, S i 0 2 , S i N, Si ON, etc. can be used.
  • the organic semiconductor film OS is connected to the exposed source and drain electrodes of the switching organic TFT element and the gate insulating film therebetween through the opening of the protective insulating film 18, respectively.
  • F is formed in a predetermined pattern by, for example, a vapor deposition method using a metal mask.
  • the material of the organic semiconductor film OSF a material having a high carrier mobility is preferable, and a low molecular organic semiconductor material or an organic semiconductor polymer can be used.
  • the hole injection layer material can be used as an organic semiconductor.
  • the surface of the gate insulating film between the source Z and drain electrodes can be covered with a self-assembled monolayer.
  • HMDS Hexmethyldisilazane, (CH 3 ) 3 Si′NHS i (CH 3 ) 3
  • OTS Octadecyltrichlorosilane CH 3 (CH 2 ) 17 Si C 1 3
  • an alignment film can be provided on the gate insulating film.
  • the organic EL device is not limited to the configuration of the present embodiment, and for example, a configuration using a polymer-containing EL material is also effective.
  • the organic material layer 160 including at least the light emitting layer is exposed on the exposed anode 11 through the opening of the protective insulating film 18 by, for example, vapor deposition using a metal mask. Formed.
  • the organic material layer 160 may include a hole injection layer, a hole transport layer, an electron transport layer, an electron injection layer, and the like in addition to the light emitting layer.
  • the common electrode 170 is formed in a predetermined pattern by, for example, vapor deposition using a metal mask.
  • the common electrode After forming the organic material layer, for example, at a temperature below the glass transition point of each organic material layer so as not to degrade any organic material layer formed in the organic material layer forming step. There is a limit to film formation.
  • Seal with a sealing can in an inactive state to cover the formed circuit and the back of the organic EL element.
  • membrane sealing with an inorganic system or a polymer system may be used.
  • an insulating sealing film on the back surface of an organic EL element for example, a nitride such as silicon nitride, a nitrided oxide such as silicon nitride oxide, an oxide such as silicon oxide or aluminum oxide, or a carbide such as silicon carbide.
  • sealing with an inorganic sealing film made of or a multilayer sealing of a polymer and an inorganic film may be used.
  • an active matrix display type organic EL display panel has been described.
  • the present invention can also be applied to a substrate of a passive matrix display type panel in which TFT elements and the like are arranged around the screen of the panel.

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Abstract

発光素子は、対向する1対の電極の間に成膜された発光層を備えた発光素子であって、発光層及び1対の電極の少なくとも一方の間に成膜されたキャリア輸送性の有機半導体層と、有機半導体層側の電極における他方の電極と対向している面の反対側に絶縁層を介して配置された補助電極と、有機半導体層側の電極及び有機半導体層との間に接触して挿入されたキャリア規制層と、を備え、有機半導体層側の電極が有機半導体層に接触するキャリア供給部を有する。

Description

発光素子及び表示装置
技術分野
本発明は、キヤリァ輸送性 (正孔又は電子の移動性)を有する化合物を利用し、 かかる化合物からなる半導体層を備えた発光素子及び表示装置に関する。
背景技術
現在、電界を印加して発光させる例えば物質におけるキャリア(正孔又は電子) の再結合によるエレクトロルミネセンス (以下、 単に E Lという)を利用している 発光素子が着目されている。例えば、有機化合物材料を用いた注入型の有機 E L 素チによる表示パネルを搭載した E L表示装置が開発されている。有機 E L素子 には、赤色で発光する構造を有する赤色 E L素子、緑色で発光する構造を有する 緑色 E L素子、及び青色で発光する構造を有する青色 E L素子がある。これら赤、 青、緑 R G Bで発光する 3つの有機 E L素子を 1画素発光ユニットとして、複数 画素をパネル部上にマトリクス状に配列すればカラ一表示装置を実現すること ができる。かかるカラー表示装置による表示パネルの駆動方式として、パッシブ マトリクス駆動型と、 アクティブマトリクス駆動型が知られている。アクティブ マトリクス駆動型の E L表示装置は、パッシブマトリクス型のものに比べて、低 消費電力であり、 また画素間のクロストークが少ないなどの利点を有し、特に大 画面表示装置や高精細度表示装置に適している。
ァクティブマトリクス駆動型の E L表示装置の表示パネルには、陽極電源ライ ン、陰極電源ライン、水平走査を担う走査ライン及び各走査ラインに交叉して配 列されたデ一夕ラインが格子状に形成されている。走査ライン及びデ一夕ライン の各 RGB交差部に RGBサブピクセルが形成されている。
サブピクセル毎に、走査ライン選択用の電界効果トランジスタ (FET : F i e l d E f f e c t Tr an s i s t o r)のゲ一トには走査ラインが接続 され、そのドレインにはデータラインが接続されて、そのソースには発光駆動用 の F E Tのゲートが接続されている。発光駆動 F E Tのソースには陽極電源ラィ ンを介して駆動電圧が印加され、そのドレイン Dには E L素子の陽極端が接続さ れている。発光駆動 F E Tのゲート及びソ一ス間にはキャパシタが接続されてい る。更に、 EL素子の陰極端には、 陰極電源ラインを介して接地電位が印加され る。
有機 EL素子に代表される従来の有機発光素子は基本的にダイオード特性を 示す能動素子であり、製品化されているものはほとんどパッシブマトリクス駆動 によるものである。パッシブマトリクス駆動法では、線順次駆動を行うため瞬時 的に高い輝度を必要とし、走査線数の限界数が限られてしまうため高精細な表示 装置を得ることが難しかった。
近年ではポリシリコンなどを用いた T F Tを用いた有機 E L表示装置が検討 されているが、 プロセス温度が高い、単位面積あたりの製造コストが高く大画面 化に向かない、 1画素内に 2つ以上のトランジス夕とコンデンサを配置しなけれ ばならないため開口率が下がり有機 E Lを高い輝度で発光させなければならな いなどの欠点があった。
さらに先行発明の構造 (特開 2002— 343578公報、 参照) では、 補助 電極の電圧によらない陽極から陰極に流れる電流成分が多く変調が大きく取れ ないので表示装置化する際に階調制御が困難であるという問題があつた。 発明の開示
本発明の解決しょうとする課題には、補助電極にかかる電圧によらない電流成 分を抑える発光素子,を提供することが一例として挙げられる。
本発明の発光素子は、対向する 1対の電極の間に成膜された発光層を備えた発 光素子であって、前記発光層及び前記 1対の電極の少なくとも一方の間に成膜さ れたキヤリァ輸送性の有機半導体層と、前記有機半導体層側の電極における他方 の前記電極と対向している面の反対側に絶縁層を介して配置された補助電極と、 前記有機半導体層側の電極及び前記有機半導体層との間に接触して揷入された キャリア規制層と、 を備え、前記有機半導体層側の電極が前記有機半導体層に接 触するキヤリァ供給部を有することを特徴とする。 .
本発明の表示装置は、複数の発光部をマ卜リクス状に配置した表示装置であつ て、
前記発光部の各々は、対向する 1対の電極の間に成膜された発光層を備えた発 光素子であって、前記発光層及び前記 1対の電極の少なくとも一方の間に成膜さ れたキヤリァ輸送性の有機半導体層と、前記有機半導体層側の電極における他方 の前記電極と対向している面の反対側に絶縁層を介して配置された補助電極と、 前記有機半導体層側の電極及び前記有機半導体層との間に接触して挿入された キャリア規制層と、 を備え、前記有機半導体層側の電極が前記有機半導体層に接 触するキャリア供給部を有することを特徴とする。
図面の簡単な説明
図 1は、 本発明による実施形態の有機 E L素子を示す部分断面図である。 図 2は、本発明による実施形態の有機 E L素子のエネルギー準位を説明する概 念図である。
図 3は、 本発明による実施形態の有機 E L素子を示す部分断面図である。 図 3 Aは、本発明による実施形態の有機 E L素子の基板側から見た部分平面図 である。
図 4は、 本発明,による他の実施形態の有機 E L素子を示す部分断面図である。 図 5〜図 8は、本発明による他の実施形態の有機 E L素子のエネルギー準位を 説明する概念図である。
図 9は、本発明による実施形態の有機 E L表示装置のサブピクセル発光部を示 す等価回路図である。
図 1 0は、本発明による実施形態の有機 E L表示装置のサブピクセル発光部に おけるスイッチング有機 T F T素子の断面図である。
図 1 1〜図 1 8は、本発明による実施形態の有機 E L表示パネル製造工程にお ける基板の部分平面図である。
発明の詳細な説明
以下に本発明の実施形態の発光素子の一例として有機 E L表示パネルを図面 を参照しつつ説明する。
図 1は、本発明の実施形態における、対向する 1対の電極(陽極 1 1及び陰極 1 5 )の間に成膜された発光層 1 6 3を備えた基板 1 0上に形成された発光素子 の有機 E L素子 1 1 4を示す。
有機 E L素子 1 1 4は、発光層 1 6 3及び 1対の電極の少なくとも一方(例え ば陽極 1 1 )の間に成膜されたキャリア輸送性の有機半導体舉 1 3 (例えば正孔 注入層) を有している。 さらに、 有機 E L素子 1 1 4は、 他方の電極 (例えば陰 極 1 5 ) と対向している面の反対側に絶縁層 1 2を備え、 これを介して配置され た補助電極 1 4を有している。有機半導体層 1 3側の陽極 1 1及び有機半導体層 1 3との間に接触して挿入されたキャリア規制層 B Fと、 を備え、陽極 1 1が有 機半導体層 1 3に接触するキヤリァ供給部 C P Pを有する。 この場合、キヤリァ 規制層 B Fの仕事関数の値は陽極 1 1の仕事関数の値より小である。陽極 1 1の 仕事関数の値と有機半導体層 1 3のイオン化ポテンシャルの値との差が 0 . 5 e V以内であることが好ましい。なお、キャリア輸送性の有機半導体層 1 3として は、 例えば正孔注入層、 正孔輸送層又はこれらの積層であってもよい。 陽極及び 陰極の間に印加する電圧方向と同一方向になるように、補助電極と有機半導体層 側の電極との間に電圧が印加されるときに、 発光層が発光する。
正孔注入層、正孔輸送層などの有機半導体層 1 3側の陽極 1 1は、有機半導体 層を通過するキャリアのためのパターンを画定するように、形成されている。 こ の場合、キャリア規制層 B Fの材料は、その仕事関数の値が有機半導体層 1 3の イオン化ポテンシャルの値より大であるものから、 選択される。
陽極 1 1の材料は、その仕事関数の値は有機半導体層 1 3のイオン化ポテンシ ャルの値より小であるものから、 選択される。
このように、 実施形態の発光素子は、補助電極 1 4と絶縁層 1 2、正孔注入層 (有機半導体層 1 3 )、 発光層 1 6 3を介して、 少なくとも一部が対向して設置 されている陰極 1 5を有し、発光層 1 6 3と正孔注入層の間に陽極 1 1が形成さ れている (図 1 )。 本実施形態では、 陽極 1 1の金属材料と異なる金属材料から なるキャリア規制層 B Fを陽極 1 1に積層して、キャリア規制層 B Fにより、正 孔注入層などの有機半導体層 1 3に注入されるキヤリアの経路を規定する。 有機半導体中のキャリア移動のために、キャリア規制層 BFは、そのイオン化 ポテンシャルの条件すなわち、接触電極の仕事関数と有機半導体層のイオン化ポ テンシャルとの間の仕事関数 (又はイオン化ポテンシャル)の値に基づいて選択 される。キャリアの移動を阻害するにはエネルギ一障壁が大であるほうがよいか らである。図 2に示すように、金属からなる陽極 11の仕事関数 Wf 1及びキヤ リア規制層 BFの仕事関数 Wf 2は真空準位(0 e V)から各フェルミ準位へと 測定したエネルギーである。有機半導体層 13のイオン化ポテンシャル I p 1は 真空準位から価電子帯上端の最高被占分子軌道 (HOMO)準位へと測定したェ ネルギーである。なお、電子親和力 E aは 0 eVの基準エネルギー準位の真空準 位 (VACUUM LEVEL) から伝導帯下端の最低空分子軌道 (LUMO) 準位へと測定したエネルギーである。
本実施形態で使用するキャリア規制層 BFの材料としては、具体的には、ィォ ン化ポテンシャル I p i (e V) を有する正孔注入材料 (有機半導体層 13) と 仕事関数 Wf 1 (eV) を有する陽極 11と、 仕事関数 2 (eV) を有する キャリア規制層 BFとを積層したとき、 I p 1と Wf 2は I p l>Wi 2という 関係を有することが好ましい。かかるキャリア規制層 BFの挿入によって、陽極 11からキヤリァ規制層 B Fを介した有機半導体層へと障壁になり、電流が流れ 難くなる。
また、 この時、 I p 1と Wf 1は I p l<Wf 1であることが望ましいが、 I p 1≥Wf 1としてもよく、 I p 1と Wf 1の差は 0.5 eV以内であればよい。 図 1に示すように正孔注入層(有機半導体層 13) と陽極 11が接触する面で の正孔注入は妨げられないが、正孔注入層とキヤリァ規制層 B Fが接触する面で はその仕事関数の差から正孔が注入されることがなく、補助電極 14にかかる電 圧によらない電流成分を抑えることにより、〇 F F電流を低減させ輝度の ONZ OFF比を向上することができる。
本実施形態は、ガラス基板上にパターン化された補助電極 14を形成し、補助 電極 14上に絶縁層 12を形成する。 その後、 正孔注入層 (有機半導体層 13) を真空蒸着法、スピンコート法などを用いて形成する。正孔注入層を形成した後 に陽極 11を形成することで、塗布型の正孔注入材料の成膜性を向上させるとと もに、塗布型正孔注入材料に留まらず真空蒸着法により形成した正孔注入材料で も、 陽極 1 1に電圧を印加していない時 (OFF時) 陰極 15に流れる電流、 発 光強度を低減化できる。 その結果、 陽極 11に電圧を印加した時 (ON時) の電 流、 発光強度と OFF時の電流、 発光強度のそれぞれの比が向上する。
陰極 15、 陽極 11及び補助電極 14としては、 T i、 A l、 L i : A K C u、 N i、 Ag、 M g : A g Au、 P t、 Pd、 I r、 C r、 Mo、 W、 T a などの金属あるいはこれらの合金が挙げられる。あるいは、ポリア二リンや PE DT: P S Sなどの導電性高分子を用いることができる。 あるいは、酸化物透明 導電薄膜、 例えば錫ドープ酸化インジウム (I T〇)、 亜鉛ドープ酸化インジゥ ム (Ι ΖΟ)、 酸化インジウム (Ι η23)、 酸化亜鉛 (ΖηΟ)、 酸化錫 (Sn 02) のいずれかを主組成としたものを用いることができるが、 これに限定され ない。 また、 各電極の厚さは 30〜500 nm程度が好ましい。陰極 15材料と 補助電極 14には特に 50〜300 nmの範囲が適している。陰極 15材料には 特に 30〜200 nm程度の範囲が適している。これらの電極材料は真空蒸着法、 スパッ夕法で作製されたものが好ましい。 絶縁層 1 2には、 S i 02、 S i 3 N4に代表される種々の絶縁材料を用いるこ とができるが、特に比誘電率の高い無機酸化物皮膜が好ましい。無機酸化物とし ては、 酸化ケィ素、 酸化アルミニウム、 酸化タンタル、 酸化チタン、 酸化スズ、 酸化バナジウム、チタン酸バリウムストロンチウム、ジルコニウム酸チタン酸バ リウム、 ジルコニウム酸チタン酸鉛、 チタン酸鉛ラ,ンタン、 チタン酸ストロンチ ゥム、 チタン酸バリウム、 フッ化バリウムマグネシウム、 チタン酸ビスマス、 チ タン酸ストロンチウムビスマス、タンタル酸ストロンチウムビスマス、タンタル 酸ニオブ酸ビスマス、 トリオキサイドイツトリウムなどが挙げられる。それらの うち好ましいのは、 酸化ケィ素、酸化アルミニウム、 酸化タンタル、酸化チタン である。窒化ケィ素、窒化アルミニウムなどの無機窒化物も好適に用いることが できる。また有機化合物皮膜としては、ポリイミド、ポリアミド、ポリエステル、 ポリアクリレート、光ラジカル重合系、光力チオン重合系の光硬化性樹脂、 ある いはァクリロニトリル成分を含有する共重合体、ポリビニルフエノール、ポリビ ニルアルコール、 ノポラック樹脂、 及びァノエチルプルラン、 ポリマー体、 エラ ストマ一体を含むホスファゼン化合物、 などを用いることもできる。
正孔注入層 (有機半導体層 1 3 ) は、 陽極 1 1からの正孔の注入を容易にする 機能、 正孔を安定に輸送する機能を有し、 その材料には銅フタロシアニン(C u P c ) に代表されるポルフィリン誘導体、 ぺ夕センに代表されるポリアセン、 m 一 T D A T Aに代表されるス夕一バーストァミンと呼ばれる高分子ァリールァ ミンが低分子系ではよく用いられる。また、ポルフィリン誘導体やトリフエニル 7ミン誘導体などにルイス酸ゃ四フッ化テトラシァノキノジメタン(F 4— T C N Q)などを混合し導電性を高くした層を用いることもできる。 この時、 混合比 率は重量比率で 5〜 95%の割合で混合されていることが好ましい。また、高分 子系ではポリア二リン (PAN I)、 ポリチォフェン誘導体(PEDOT)、 ポリ (3—へキシルチオフェン) (P 3HT) などの高分子材料を用いることができ る。 また、 正孔注入層 (有機半導体層 13) はこれらの材料の混合層、 もしくは 積層したものでもよい。
発光層 163には、発光機能を有する化合物である蛍光物質もしくは燐光物質 を含有させる。 このような蛍光性物質としては、例えば特開 63-264692 号公報に開示されているような化合物、例えばキナクリドン、 ルブレン、 スチリ ル系色素などの化合物から選択される少なくとも 1種が挙げられる。燐光性物質 としては App l . Phy s. Le t t., 75巻、 4項、 1999年に あるような有機イリジウム錯体、 有機プラチナ錯体などが挙げられる。
また、図 3に示すように、正孔注入層と発光層 163の間に有機半導体層 13 として正孔輸送層 13 Aを揷入してもよく、その材料としては、 トリフエニルジ ァミン誘導体、 スチリルァミン誘導体、芳香族縮合環を有するァミン誘導体、 力 ルバゾール誘導体、高分子材料としてはポリビニルカルバゾール及びその誘導体、 ポリチォフェンなどが挙げられる。これらの化合物は 2種以上を併用してもよい。 さらに、一般的に、正孔輸送層は正孔注入層よりもイオン化ポテンシャル I pが 大きい有機半導体材料を用いた方が好ましい。
さらに、図 4に示すように、必要に応じて発光層 163と陰極 15の間に有機 半導体層として電子注入層及び又は電子輸送層 13 Bを用いてもよい。電子注入 層及び又は電子輸送層 13 Bには、 トリス(8—キノリノラト)アルミニウム(A 1 Q 3)などの 8—キノリノール又はその誘導体を配位子とする有機金属錯体な どのキノリン誘導体、 ォキサジァゾール誘導体、 ペリレン誘導体、 ピリジン誘導 体、 ピリミジン誘導体、 キノキサリン誘導体、 ジフエ二ルキノン誘導体、 ニトロ 置換フルオレン誘導体などを用いることができる。電子注入層及び又は電子輸送 層は発光層 1 6 3をかねたものであってもよく、 このような場合にはトリス(8 一キノリノラト)アルミニウムなどを使用することが好ましい。電子注入層と電 子輸送層を積層して作成するときには、陰極 1 5側から電子親和力の値の大きい 化合物の順に積層することが好ましい。
基板 1 0の材料としては、 ガラス、石英、 ポリスチレンなどのプラスチック材 料といった半透明材料に限らず、 シリコンや A 1などの不透明な材料、 フエノー ル樹脂などの熱硬化性樹脂、ポリ力一ポネートなどの熱可塑性樹脂などを用いる ことができるがこれに限らない。
(実施例 1 )
図 3に示すような発光素子を作製した。
( 1 ) 補助電極の形成……無アルカリガラス基板上に I T Oをスパッタリ ング法により 1 0 0 n m形成したのち、フォトレジストをスピンコートにより塗 布する。光学マスクを用いた露光と現像により先のフォトレジストをパ夕一ン化 し、その上からミリングによりフォトレジストパターンの無い部分の I T O膜を 取り除く、 最後に剥離液を用いてフォトレジストを溶解させた。
( 2 ) 絶縁層の形成…絶縁層としてポリビエルフエノ一ル系高分子 1 0 w t %プロピレングリコ一ルモノメチルエーテルアセテート (P GM E A)溶液を 用いてスピンコート法により 4 2 0 n m成膜した。その後、補助電極上の端部に 成膜された高分子膜を、 P GM E Aを含ませたコットンにより拭き取り、ホット プレートを用いて 230°Cで 20分間べ一キングを行った。
(3) 陽極の形成…陽極として、金をメタルマスクを用いた真空蒸着法に より 50 nm成膜した。金の成膜速度は 0. lmZsとした。続いて同じマスク を用いてアルミニウムを真空蒸着法により 1 Onm成膜した。この時のアルミ二 ゥムの成膜速度は 0. 2nm/sとした。 ,
(4) 正孔注入層の形成…正孔注入層として、 ペン夕センを 5 Onm成膜 した。 この時ペン夕センの成膜速度は 0. I nmZsとした。
(5) 正孔輸送層の形成…正孔輸送層として、 ひ一 NPDを 50 nm成膜 した。
(6) 発光層の形成…発光層材料として、 トリス (8—キノリノラト) ァ ルミ二ゥムを真空蒸着法により 60 nm成膜した。
(7) 陰極の形成…陰極としてマグネシウムと銀を真空蒸着法により 1 0: 1の比で 100 nm共蒸着した。 この時マグネシウムの成膜速度は 1 nmZ sとし、 銀の成膜速度は 0. I nmZsとした。
なお、 (3) 〜 (6) の過程はすべて真空一貫装置で行った。
図 5に実施例 1 (図 3) の発光素子の一部のエネルギー準位を示す。 また、 図 3 Aに実施例 1の発光素子の基板側から見た平面図を示す。図 3 Aに示すように、 有機半導体層側の電極この場合は陽極 1 1及びキヤリァ規制層 B Fは櫛状又は 簾状の形状として形成しているが、格子状でもよく、 さらに陽極 11及びキヤリ ァ規制層 BFの少なくとも一方を格子状、櫛状又は簾状の形状とすれば、有機半 導体層側の陽極 11を、他方の陰極 15より小なる面積を有しかつ有機半導体層 を通過するキヤリァのためのパターンを画定することができる。 (実施例 2 )
図 6に示すように、 この実施例 2の作製した発光素子は、対向する 1対の陽極 1 1及び陰極 1 5の間に成膜された発光層 1 6 3を備えた有機 E L素子 1 1 4 であって、発光層 1 6 3及び陰極 1 5の間に成膜されたキャリア輸送性の有機半 導体層 1 3として電子輸送層 1 3 Bを有し、他方の陽極 1 1と対向している陰極 1 5面の反対側に絶縁層 1 2を介して配置された補助電極 1 4を有し、 さらに、 陰極 1 5及び有機半導体層 1 3との間に接触して挿入されたキャリア規制層 B Fと、 陰極 1 5が有機半導体層 1 3に接触するキヤリァ供給部 C P Pを有する。 この場合、キヤリァ規制層 B Fの仕事関数の値は陰極 1 5の仕事関数の値より大 である。なお、キヤリァ輸送性の有機半導体層 1 3としては、例えば電子注入層、 電子輸送層又はこれらの積層であってもよい。
次の工程で発光素子を作製した。
( 1 ) 補助電極の形成…無アル力リガラス基板上に I T Oをスパッタリン グ法により 1 0 0 n m形成したのち、実施例 1と同様に I T Oをパターニングし た。
( 2 ) 絶縁層の形成…絶縁層としてスパッタリング法により S 1 02を 3 0 0 n m成膜した。 この時、補助電極の一部に絶縁層が成膜されないようにメ タルマスクを用いて成膜範囲を限定した。
( 3 ) 陰極の作製…陰極としてマグネシウムと銀を真空蒸着法により 1 0: 1の比で 2 O nm共蒸着した。 この時マグネシウムの成膜速度は 1 nm/ s とし、 銀の成膜速度は 0 . I nmZ sとした。 その後、 同一のマスクを用いてプ ラチナを 2 0 nm蒸着した。 (4) 電子注入層の形成…電子注入層として、 フラーレン C6。の炭素膜 を真空蒸着法により成膜した。
(5) 発光層の形成…発光層材料として、 トリス (8—キノリノラト) ァ ルミニゥム(A l Q 3) とクマリン 6を真空蒸着法により共蒸着し 40 nm成膜 した。 この時クマリン 6の濃度は 3 wt %であった。 A 1 q 3の成膜速度は 0. 3 nmZ sでめった。
(6) 正孔輸送層の形成…正孔輸送廇として α— NPDを 5 Onmメタル マスクを用いて真空蒸着法により成膜した。
(7) 正孔注入層の形成…正孔注入層として CuP cを 30 nmメタルマ スクを用いて真空蒸着法により成膜した。
(8) 陽極の形成…陽極として金を真空蒸着法により 10 Onm蒸着した。 この時金の成膜速度は 1 nmZsとした。
駆動例
上記実施例 1で作成した陽極と陰極間に 20 Vの電圧を加え、補助電極には陽 極に対して + 5 Vの電圧を加えたところ、 2 Aの電流が流れた。 しかし、 この 時の発光輝度は 0. 1 c d/m2程度であった。 その後、 陽極と陰極間に 20 V の電圧を加えつつ、補助電極に陽極に対して— 15 Vの電圧を加えたところ、 1 00 i Aの電流が流れ、 10 c d/m2の発光輝度を確認した。 この時補助電極 に流れた電流値は 100 nA/ cm2以下であった。
上記実施例 1では、補助電極 Z絶縁層 陽極 正孔注入層 正孔輸送層/発光 層 Z陰極という構成をとつているが、図 7に示すように、陽極と正孔注入層の成 膜順序を入れ替えて、正孔輸送層内に陽極及びキャリア規制層(正孔輸送層との 間に接触して揷入された)を設けた変形例としてもよい。図 8にかかる変形例(図 7 ) の発光素子の一部のエネルギー準位を示す。
上記実施例 2では補助電極ノ絶縁層 陰極 Z電子注入層/発光層 Z正孔輸送 層/正孔注入層/陽極という構成をとつているが、かかる構造のうち陰極と電子 注入層の成膜順序を入れ替えて、電子輸送層内に陰極及びキャリア規制層(電子 輸送層との間に接触して挿入された) を設けえた構造としてもよい。
上記実施例 1では、補助電極/絶縁層 Z陽極ノ正孔注入層/発光層/陰極とい う構成を実施例 2では補助電極/絶縁層/陰極/電子注入層 Z発光層 Z正孔輸 送層ノ正孔注入層 陽極という構造をとつているが、その他に、正孔ブロック層、 電子輸送層、 電子注入層及び又は電子輸送層を任意に挿入してもよい。
上記実施例 1には正孔注入層と発光層の間に陽極を形成しているが、実施例 2 のように絶縁層以降の構造を逆転し電子注入層、 陰極、 発光層、 正孔輸送層、 陽 極という順で形成してもよい。
上記実施例 1では絶縁層は補助電極と正孔注入層の間にしか設けていなかつ たが、陽極上に陽極とほぼ同一形状の絶縁膜を形成して、陽極及び陰極間の漏れ 電流をさらに減少させる構造としてもよい。
本実施形態による発光素子は受動型素子であり、かつ有機 E L作製プロセスを 大きく変更することなく容易に作製可能である。さらに本実施形態の発光素子を 用いることで、ァクティブマトリクス駆動をする際に 1画素内に配置される素子 部品の数を減らすことが可能であり、ポリシリコンなどを用いた有機 E Lの表示 装置と比較して低コスト化、 低消費電力化、 長寿命化を図ることができる。 また、上記実施例では発光素子の実施例を示したが、発光素子の複数を表示装 置の画素に用いることもできる。具体的には、少なくとも有機トランジスタを 1 つ、 コンデンサなど必要な素子、画素電極などを共通の基板上に作製すれば、 本 発明によるアクティブ駆動型の表示装置を実現できる。例として、以下に表示装 置に適用した場合の構造を説明する。
図 9は有機 E L表示パネルのサブピクセルの発光部を示す等価回路図を示す。 基板 10上に形成された発光部 102の各々は、選択用トランジスタのスイツ チング有機 T FT素子 11と、データ電圧の保持用のキャパシタ 113と、有機 EL素子 1 14と、から構成されている。 この構成を走査ライン SL及び電源ラ イン Vc cL、並びにデ一夕ライン DLの各交点近傍に、配置することで画素の 発光部を実現することができる。本実施形態では駆動用トランジス夕を省略する 効果が得られるが、駆動有機 T F T素子を 2以上設けた場合にも適用できること はいうまでもない。
スィツチング有機 T FT素子 11のゲート電極 Gは、ァドレス信号が供給され る走査ライン SLに接続され、スイッチング有機 T FT素子 11のソ一ス電極 S はデ一夕信号が供給されるデータライン D Lに接続されている。スイッチング有 機 TFT素子 1 1のドレイン電極 Dは有機 EL素子 1 14の補助電極 14及び キャパシ夕 113の一方の端子に接続されている。有機 EL素子 114の陽極 1 1は電源ライン V c c Lに接続されており、キャパシ夕 113の他方はキャパシ 夕ライン Vc a pに接続されている。有機 EL素子 114の陰極 15は共通電極 170に接続されている。電源ライン V c c L及び共通電極 170は、それぞれ に電力を供給する電圧源 (図示せず) にそれぞれ接続されている。
有機 EL表示パネルの基板 10上の下部パターン(走査ライン SL、スィッチ ング有機 T F T素子 1 1のゲート電極 G、有機 E L素子 1 1 4の補助電極 1 4及 びキャパシ夕 1 1 3の他方の端子)は、例えば陽極酸化が可能な導電体パターン である。これら導電体パターンから陽極酸化されて生成された酸化膜がそれぞれ の導電体パターン上の絶縁膜、 絶縁層 1 2となる。
図 1 0は、スイッチング有機 T F T素子 1 1の構造の一例を示す。有機 T F T 素子は、対向するソース電極 S及びドレイン電極 Dと、 ソース電極及びドレイン 電極の間にチャネルを形成できるように積層された有機半導体からなる有機半 導体膜 0 S Fと、ソース電極 S及びドレイン電極 Dの間の有機半導体膜 O S Fに 電界を印加せしめるゲート電極 Gと、 を含み、 さらに、 ゲート電極 Gを覆いソ一 ス電極 S及びドレイン電極 Dから絶縁するゲート絶縁膜 G I Fを有している。 以下に、 具体的に有機 E L表示パネルの製造方法を説明する。
[下部導電体パターンの形成] ..
図 1 1の平面図に示すように、 まず、 ガラスなどの基板 1 0上に、走査ライン S L、 ゲート電極 G、 キャパシタの一方の電極 1 1 3 a、有機 E L素子の補助電 極 1 4を含む下部の導電体パターンを形成する。
導電体パターンにおけるゲート電極材料としは、 T aなどの陽極酸化可能な金 属であれば何でもよく、 Aし M g、 T i、 N b、 Z rなどの単体もしくはそれ らの合金又は積層が挙げられる。例えばタンタル(T a )電極を陽極酸化して得 られる五酸化タンタル (T a 205) は誘電率が約 2 4と高く、 有機 T F T素子 が電流を流す上で非常に有利である。 また、 導電体パターンは、 1層でも、 更に 第 2導電体パターンを積層され 2層以上の多層配線としてもよい。
なお、以下のすべての薄膜のパターン成膜方法は、有機又は無機材料に合わせ て、 マスクを用いたスパッ夕法、 E B蒸着法、 抵抗加熱蒸着法、 C VD法や、 印 刷法などを用いることができる。下部導電体パターンはドライエッチングゃゥェ ッ卜エッチングでもパターニングできる。
[コンタクト保護パターンの形成]
図 1 2に示すように、スイッチング有機 T F T素子 1 1のドレイン電極 I 及び 有機 E L素子の補助電極 1 4を後の工程で接続させるコンタクト部の形成ため、 陽極酸化に耐えられる絶縁性のコンタクト保護部 C Pがそれぞれ設けられる。保 護部の材料としては金属酸化物、金属窒化物、 金属弗化物など金属の化合物、例 えば、 A 1 203、 S i〇2、 S i N、 S i O Nなど、 もしくは絶縁性のポリマー、 例えばポリイミドなど、 を用いることができる。
さらに、コンタクト部以外の電極の各端部など基板 1 0に陽極酸化処理しては ならない部分は絶縁性のマスクを成膜して保護しておく。
[酸化物絶縁膜の形成]
パターン工程で形成された基板上の陽極酸化の可能な部位に化成液を接触さ せて、それらを陽極として通電しつつ陽極酸化を行い、補助電極 1 4などの導電 体パターン及び配電パターンから酸化膜を生成する (陽極酸化法)。
後処理として、 洗浄しコンタクト保護部 C Pなどを除去し、 加熱処理をして、 酸化膜を安定化させる。陽極酸化処理後の基板 1 0表面では、図 1 3に示すよう に、 金属部分が露出するコンタクト部 C S以外、 補助電極 1 4は絶縁層 1 2で、 電源ライン V c c L、ゲ一ト電極 G及び走査ライン S Lは酸化膜で被覆され、ゲ 一ト電極及びキャパシ夕電極は酸化膜がゲート絶縁膜 G I F及び誘電体層 1 1 3 bとしてそれぞれ同時に成膜される。 [画素電極などの形成]
陽極酸化処理後の基板表面に電子回路部品を形成する。
図 1 4に示すように、有機 E L素子の陽極 1 1としてほぼ櫛形電極を絶縁層 1 2上に所定のパターンで形成する。陽極 1 1電源ライン V c c Lに接続されるよ うに形成される。同時にスイッチング有機 T F T素子のソース電極 Sはデータラ イン D Lに接続され、ドレイン電極 Dは対応する有機 E L素子の補助電極 1 4に コンタクト部 C Sを介して接続するように、 形成される。 なお、 データライン D L及び電源ライン V c c Lの材料としてはソース Zドレイン電極と同様のもの が用いられ得る。 '
抵抗率の点では金属より劣るがソース電極及びドレイン電極に有機導電材料、 ポリア二リン類、ポリチォフェン類、ポリピロール類などの共役性高分子化合物 を用いることもできる。この場合パターン形成に印刷法など低コストな方法を用 いることもできる。
[保護用絶縁膜の形成]
図 1 5に示すように、画素電極縁部及び有機半導体極縁部の保護膜として機能 する保護用絶縁膜 1 8を所定のパターンで形成する。すなわち、保護用絶縁膜 1 8は有機 E L素子の陽極 1 1を露出せしめ、かつ有機 T F T素子のソース及びド レイン電極並びにゲート絶縁膜を露出せしめるパターンで形成される。
保護用絶縁膜の材料としては例えばポリイミドなど絶縁性のポリマーもしく は、 金属酸化物、 金属窒化物、 金属弗化物など金属の化合物、 例えば、 A 1 20 3 , S i 02, S i N, S i O Nなど、 を用いることができる。
[有機半導体膜の形成] 図 16に示すように、保護用絶縁膜 18の開口を介して、スイッチング有機 T FT素子の露出しているソース及びドレイン電極並びにそれら間のゲート絶縁 膜に接続するように、それぞれ有機半導体膜 OS Fが、例えばメタルマスクを用 いた蒸着法により、 所定のパターンで形成される。
有機半導体膜 O S Fの材料としてはキヤリァの移動度が高い材料が好ましく、 低分子の有機半導体材料、有機半導体ポリマ一を用いることができる。例えば有 機半導体として上記正孔注入層材料が用いられ得る。
また、ソース Zドレイン電極間のゲ一ト絶縁膜表面を自己組織化単分子膜で被 覆することもできる。 例えば、 HMDS (:へキメチルジシラサン、 (CH3) 3 S i'NHS i (CH3) 3) で処理することが好ましい。 そのほかに、 OTS (: ォクタデシルトリクロロシラン CH3 (CH2) 17S i C 13)処理によって疎水 膜を設けた構成でもよい。また、それとは別にゲート絶縁膜上に配向膜を設ける こともできる。
有機 E L素子も本実施例の構成に限るものではなく、例えば高分子有^ E L材 料を使用した構成でも有効である。
[有機材料層の形成]
次に、 図 17に示すように、保護用絶縁膜 18の開口を介して、 少なくとも発 光層を含む有機材料層 160が、例えばメタルマスクを用いた蒸着法により、露 出している陽極 11上に形成される。有機材料層 160は発光層の他に正孔注入 層、 正孔輸送層、 電子輸送層、 電子注入層などを含んでいてもよい。
[共通電極の形成]
図 18に示すように、有機材料層 160上に有機 EL素子 114の陰極として の共通電極 1 7 0を、例えばメタルマスクを用いた蒸着法により、所定のパ夕一 ンで形成する。
共通電極の形成には、有機材料層の形成工程で成膜されたいずれの有機材料層 をも劣化させないように、有機材料層形成後は、例えばそれぞれの有機材料層の ガラス転移点以下の温度で成膜を行う制限がある。
[封止]
形成された回路及び有機 E L素子の背面を覆うように、不活性状態で封止缶で 封止する。 この他、 無機系、 ポリマー系などによる膜封止でもよい。 例えば、 有 機 E L素子などの背面に絶縁性の封止膜、例えば窒化シリコンなどの窒化物、窒 化酸化シリコンなどの窒化酸化物、酸化シリコンゃ酸化アルミニウムなどの酸化 物、 炭化シリコンなどの炭化物からなる無機物封止膜による封止や、 その他に、 高分子及び無機膜の多層封止でもよい。
さらに上述した実施例においては、ァクティブマトリクス表示タイプの有機 E L表示パネルを説明したが、本発明は T F T素子などをパネルの画面周囲に配置 したパッシブマトリクス表示タイプのパネルの基板にも応用できる。

Claims

請求の範囲
1 . 対向する 1対の電極の間に成膜された発光層を備えた発光素子であって、 前記発光層及び前記 1対の電極の少なくとも一方の間に成膜されたキヤリァ輸 送性の有機半導体層と、前記有機半導体層側の電極における他方の前記電極と対 向している面の反対側に絶縁層を介して配置された補助電極と、前記有機半導体 層側の電極及び前記有機半導体層との間に接触して揷入されたキヤリァ規制層 と、 を備え、前記有機半導体層側の電極が前記有機半導体層に接触するキャリア 供給部を有することを特徴とする発光素子。 ·
2 . 前記有機半導体層側の電極は前記他方の電極より小なる面積を有し、前 記有機半導体層を通過するキャリアのためのパターンを画定することを特徴と する請求項 1記載の発光素子。
3 . 前記有機半導体層側の電極及び前記他方の電極は陽極及び陰極であり、 前記有機半導体層は正孔注入層、正孔輸送層又はこれらの積層であることを特徴 とする請求項 1又は 2記載の発光素子。
4. 前記キヤリァ規制層の仕事関数の値は前記有機半導体層側の電極の仕事 関数の値より小であることを特徴とする請求項 3記載の発光素子。
5 . 前記キヤリァ規制層の仕事関数の値は前記有機半導体層のイオン化ポテ ンシャルの値より大であることを特徴とする請求項 3又は 4記載の発光素子。
6 . 前記有機半導体層側の電極の仕事関数の値と前記有機半導体層のイオン 化ポテンシャルの値との差が 0 . 5 e V以内であることを特徴とする請求項 3〜 5のいずれかに記載の発光素子。
7 . 前記有機半導体層側の電極の仕事関数の値は前記有機半導体層のイオン 化ポテンシャルの値より小であることを特徴とする請求項 3〜 6のいずれかに 記載の発光素子。 .
8 . 前記有機半導体層側の電極及び前記他方の電極は陰極及び陽極であり、 前記有機半導体層は電子注入層、電子輸送層又はこれらの積層であることを特徴 とする請求項 1又は 2記 mの発光素子。 .
9 . 前記キヤリァ規制層の仕事関数の値は前記有機半導体層側の電極の仕事 関数の値より大であることを特徴とする請求項 8記載の発光素子。
1 0 . 前記有機半導体層側の電極及び前記キヤリァ規制層の少なくとも一方 は、格子状、櫛状又は簾状の形状を備えたことを特徴とする請求項 1〜9のいず れかに記載の発光素子。
1 1 . 複数の発光部をマトリクス状に配置した表示装置であって、 前記発光部の各々は、対向する 1対の電極の間に成膜された発光層を備えた発 光素子であって、前記発光層及び前記 1対の電極の少なくとも一方の間に成膜さ れたキヤリァ輸送性の有機半導体層と、前記有機半導体層側の電極における他方 の前記電極と対向している面の反対側に絶縁層を介して配置された補助電極と、 前記有機半導体層側の電極及び前記有機半導体層との間に接触して挿入された キャリア規制層と、 を備え、前記有機半導体層側の電極が前記有機半導体層に接 触するキヤリァ供給部を有することを特徴とする表示装置。
1 2 . 前記有機半導体層側の電極は前記他方の電極より小なる面積を有し、 前記有機半導体層を通過するキャリアのためのパターンを画定することを特徴 とする請求項 1 1記載の表示装置。
1 3 . 前記発光部ごとに前記補助電極に電気的に接続されたスィツチング素 子を備え、前記 1対の電極に電力を供給する配線と、前記スイッチング素子にォ ンオフの電圧情報を印加する配線と、を有することを特徴とする請求項 1 1又は 1 2記載の表示装置。
1 4. 前記有機半導体層側の電極及び前記他方の電極は陽極及び陰極であり、 前記有機半導体層は正孔注入層、正孔輸送層又はこれらの積層であることを特徴 とする請求項 1 1〜1 3のいずれかに記載の表示装置。
1 5 . 前記キヤリァ規制層の仕事関数の値は前記有機半導体層側の電極の仕 事関数の値より小であることを特徴とする請求項 1 4記載の発光素子。
1 6 . 前記キヤリァ規制層の仕事関数の値は前記有機半導体層のイオン化ポ テンシャルの値より大であることを特徴とする請求項 1 4又は 1 5記載の発光 素子。
1 7 . 前記有機半導体層側の電極の仕事関数の値と前記有機半導体層のィォ ン化ポテンシャルの値との差が 0 . 5 e V以内であることを特徴とする請求項 1 4〜1 6のいずれかに記載の発光素子。
1 8 . 前記有機半導体層側の電極の仕事関数の値は前記有機半導体層のィォ ン化ポテンシャルの値より小であることを特徴とする請求項 1 .4〜1 7のいず れかに記載の発光素子。
1 9 . 前記有機半導体層側の電極及び前記他方の電極は陰極及び陽極であり、 前記有機半導体層は電子注入層、電子輸送層又はこれらの積層であることを特徴 とする請求項 1 1〜1 3のいずれかに記載の発光素子。
2 0 . 前記キヤリァ規制層の仕事関数の値は前記有機半導体層側の電極の仕 事関数の値より大であることを特徴とする請求項 1 9記載の発光素子。
2 1 . 前記有機半導体層側の電極及び前記キヤリァ規制層の少なくとも一方 は、格子状、櫛状又は簾状の形状を備えたことを特徴とする請求項 1 1〜2 0の いずれかに記載の表宗装置。
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