TWM618100U - 測試機之結構改良 - Google Patents

Abstract

本新型為有關一種測試機之結構改良，主要結構包括一進入切換器，進入切換器上具有一進入外接部及第一至第四進入連接部，進入切換器之側處設有第一至第四測試切換器，第一至第四測試切換器上分別具有第一至第四測試端、第一至第四輸入端、第一至第四輸出端、第一至第四輔助端、及第一至第四阻抗端，且第四測試切換器之側處設有一輸出切換器，輸出切換器上具有一輸出外接部及第一至第四輸出連接部。藉上述結構，使用者可利用第一至第四測試切換器連接至多四個被測試物來進行測試，藉此達到高生命週期、低插入損耗、及低諧波失真的測試裝置。

Description

測試機之結構改良

本新型為提供一種測試機之結構改良，尤指一種可降低損壞機率及提高測試準確度的測試機之結構改良。

按，晶片的種類隨著時代的進步，會不斷的增加，並且精細度同時也是不斷的提升。而由於精細度的提升，所對應的測試機構之要求也會相對的提高。

而在進行高功率的射頻測試時，測試機械本身的諧波表現將直接影響到測試結果，目前業界大多使用機構式切換器來直接進行測試動作，以符合所需的測試條件。但一般機構式切換器大多具有體積較大以及使用週期較短的問題，所以也有人會選用固態式切換器來使用，但相對於機械式切換器而言，固態式切換器在諧波失真以及插入損耗上的表現就會較差。

是以，要如何解決上述習用之問題與缺失，即為本新型之申請人與從事此行業之相關廠商所亟欲研究改善之方向所在者。

故，本新型之申請人有鑑於上述缺失，乃蒐集相關資料，經由多方評估及考量，並以從事於此行業累積之多年經驗，經由不斷試作及修改，始設計出此種同時具有較佳的測試效果與高生命週期的測試機之結構改良的新型專利者。

本新型之主要目的在於：利用多個微機電式的切換器，組合成一切換器矩陣，藉此來同時具有較佳的測試效果與較高的生命週期。

為達成上述目的，本新型之主要結構包括：一進入切換器、一設於進入切換器之側處的第一測試切換器、一設於第一測試切換器之側處的第二測試切換器、一設於第二測試切換器之側處的第三測試切換器、一設於第三測試切換器之側處的第四測試切換器、及一設於第四測試切換器之側處的輸出切 換器，其中，進入切換器上具有一進入外接部、一與該進入外接部相連接之第一進入連接部、一與該進入外接部相連接之第二進入連接部、一與該進入外接部相連接之第三進入連接部、及一與該進入外接部相連接之第四進入連接部；而第一測試切換器具有一第一測試端、一與該第一測試端及該第一進入連接部相連接之第一輸入端、一與該第一測試端相連接之第一輸出端、一與該第一測試端相連接之第一輔助端、及一與該第一測試端相連接之第一阻抗端；第二測試切換器具有一第二測試端、一與該第二測試端及該第二進入連接部相連接之第二輸入端、一與該第二測試端相連接之第二輸出端、一與該第二測試端相連接之第二輔助端、及一與該第二測試端相連接之第二阻抗端；第三測試切換器具有一第三測試端、一與該第三測試端及該第三進入連接部相連接之第三輸入端、一與該第三測試端相連接之第三輸出端、一與該第三測試端相連接之第三輔助端、及一與該第三測試端相連接之第三阻抗端；第四測試切換器具有一第四測試端、一與該第四測試端及該第四進入連接部相連接之第四輸入端、一與該第四測試端相連接之第四輸出端、一與該第四測試端相連接之第四輔助端、及一與該第四測試端相連接之第四阻抗端；輸出切換器上具有一輸出外接部、一與該輸出外接部及該第一輸出端相連接之第一輸出連接部、一與該輸出外接部及該第二輸出端相連接之第二輸出連接部、一與該輸出外接部及該第三輸出端相連接之第三輸出連接部、及一與該輸出外接部及該第四輸出端相連接之第四輸出連接部。

藉由上述之結構，使用者可將測試儀器的訊號輸入端連接於進入切換器上的進入外接部上，同時將測試儀器的訊號接收端連接於輸出切換器之輸出外接部上。並將四個被測試物分別連接於第一測試切換器之第一測試端、第二測試切換器之第二測試端、第三測試切換器之第三測試端、及第四測試切換器之第四測試端上。

即可讓測試儀器發出第一測試訊號導入進入切換器中，再讓第一測試訊號經由進入外接部、第一進入連接部、第一輸入端、及第一測試端進入其中一被測試物中，而第一測試訊號經過被測試物之後，會再經由第一測試端、第一輸出端、第一輸出連接部、及輸出外接部回到測試儀器中，藉此來針對連接第一測試切換器之被測試物進行測試。

同時，測試儀器發出的第二測試訊號亦會導入進入切換器中，再 讓第二測試訊號經由進入外接部、第二進入連接部、第二輸入端、及第二測試端進入其中一被測試物中，第二測試訊號經過被測試物之後，會再經由第二測試端、第二輸出端、第二輸出連接部、及輸出外接部回到測試儀器中，藉此來針對連接第二測試切換器之被測試物進行測試。

同上所述，連接第三測試切換器之被測試物能通過進入外接部、第三進入連接部、第三輸入端、及第三測試端接收到第三測試訊號，並再將第三測試訊號經由第三測試端、第三輸出端、第三輸出連接部、及輸出外接部導回測試儀器中，藉此進行測試動作。

而連接第四測試切換器之被測試物能通過進入外接部、第四進入連接部、第四輸入端、及第四測試端接收到第四測試訊號，並再將第四測試訊號經由第四測試端、第四輸出端、第四輸出連接部、及輸出外接部導回測試儀器中，藉此進行測試動作。

而若是第一測試切換器、第二測試切換器、第三測試切換器、或第四測試切換器沒有連接被測試物時，則可將連接的訊號連接至第一阻抗端、第二阻抗端、第三阻抗端、或第四阻抗端處，以輔助測試動作。

並由於進入切換器、第一測試切換器、第二測試切換器、第三測試切換器、第四測試切換器、及輸出切換器皆為一進四出的微機電切換器，如此就能利用多個微機電切換器組合成一切換器矩陣，來進行測試動作，並若測試的數量未滿四個時，則可將連接的位置轉到對應的阻抗處，以經由阻抗所產生的效果，來降低干擾的效果，以增加測試時的準確度，如此就能同時達到較高的生命週期、低插入損耗、及低諧波失真的優勢。

並且使用者再測試的同時，能分別將第一輔助端、第二輔助端、第三輔助端、及第四輔助端分別連接一網路分析儀，以平行進行散射參數(S parameter)的量測動作，藉此增加使用上的方便性，能同時進行兩種類型的測試功能。

藉由上述技術，可針對習用測試機械無法同時具有較佳的測試效果與較長的生命週期之問題點加以突破，達到上述優點之實用進步性。

1:進入切換器

11:進入外接部

12:第一進入連接部

13:第二進入連接部

14:第三進入連接部

15:第四進入連接部

2:第一測試切換器

21:第一測試端

22:第一輸入端

23:第一輸出端

24:第一輔助端

25:第一阻抗端

3:第二測試切換器

31:第二測試端

32:第二輸入端

33:第二輸出端

34:第二輔助端

35:第二阻抗端

4:第三測試切換器

41:第三測試端

42:第三輸入端

43:第三輸出端

44:第三輔助端

45:第三阻抗端

5:第四測試切換器

51:第四測試端

52:第四輸入端

53:第四輸出端

54:第四輔助端

55:第四阻抗端

6:輸出切換器

61:輸出外接部

62:第一輸出連接部

63:第二輸出連接部

64:第三輸出連接部

65:第四輸出連接部

7:測試儀器

8:網路分析儀

A、B、C、D:被測試物

第一圖 係為本新型較佳實施例之立體圖。

第二圖 係為本新型較佳實施例之俯視圖。

第三圖 係為本新型較佳實施例之第一態樣連接示意圖。

第四圖 係為本新型較佳實施例之第一態樣訊號傳送示意圖。

第五圖 係為本新型較佳實施例之第二態樣連接示意圖。

第六圖 係為本新型較佳實施例之第三態樣連接示意圖。

第七圖 係為本新型較佳實施例之第三態樣訊號傳送示意圖。

為達成上述目的及功效，本新型所採用之技術手段及構造，茲繪圖就本新型較佳實施例詳加說明其特徵與功能如下，俾利完全了解。

請參閱第一圖及第二圖所示，係為本新型較佳實施例之立體圖及俯視圖，由圖中可清楚看出本新型係包括：

一進入切換器1，而進入切換器1具有一進入外接部11、一與進入外接部11相連接之第一進入連接部12、一與進入外接部11相連接之第二進入連接部13、一與進入外接部11相連接之第三進入連接部14、及一與進入外接部11相連接之第四進入連接部15；

一設於進入切換器1側處之第一測試切換器2，且第一測試切換器2具有一第一測試端21、一與第一測試端21及第一進入連接部12相連接之第一輸入端22、一與第一測試端21相連接之第一輸出端23、一與第一測試端21相連接之第一輔助端24、及一與第一測試端21相連接之第一阻抗端25，而第一阻抗端25係供連接一50歐姆(ohms)之阻抗器；

一設於第一測試切換器2側處之第二測試切換器3，且第二測試切換器3具有一第二測試端31、一與第二測試端31及第二進入連接部13相連接之第二輸入端32、一與第二測試端31相連接之第二輸出端33、一與第二測試端31相連接之第二輔助端34、及一與第二測試端31相連接之第二阻抗端35，而第二阻抗端35係供連接一50歐姆(ohms)之阻抗器；

一設於第二測試切換器3側處之第三測試切換器4，且第三測試切換器4具有一第三測試端41、一與第三測試端41及第三進入連接部14相連接之第三輸入端42、一與第三測試端41相連接之第三輸出端43、一與第三測試端41相連接之第三輔助端44、及一與第三測試端41相連接之 第三阻抗端45，而第三阻抗端45係供連接一50歐姆(ohms)之阻抗器；

一設於第三測試切換器4側處之第四測試切換器5，且第四測試切換器5具有一第四測試端51、一與第四測試端51及第四進入連接部15相連接之第四輸入端52、一與第四測試端51相連接之第四輸出端53、一與第四測試端51相連接之第四輔助端54、及一與第四測試端51相連接之第四阻抗端55，而第四阻抗端55係供連接一50歐姆(ohms)之阻抗器；及

一設於第四測試切換器5之側處的輸出切換器6，且輸出切換器6上具有一輸出外接部61、一與輸出外接部61及第一輸出端23相連接之第一輸出連接部62、一與輸出外接部61及第二輸出端33相連接之第二輸出連接部63、一與輸出外接部61及第三輸出端43相連接之第三輸出連接部64、及一與輸出外接部61及第四輸出端53相連接之第四輸出連接部65。

且於本實施例中，進入切換器1、第一測試切換器2、第二測試切換器3、第三測試切換器4、第四測試切換器5、及輸出切換器6皆為型號MM 5130之微機電切換器，因此可讓使用者透過微機電之技術，分別控制內部之連通效果。

藉由上述之說明，已可了解本技術之結構，而依據這個結構之對應配合，更可達到同時具有提高生命週期、降低插入損耗、及低諧波失真的優勢，而詳細之解說將於下述說明。

請同時配合參閱第一圖至第七圖所示，係為本新型較佳實施例之立體圖至第三態樣訊號傳送示意圖，藉由上述構件組構時，由圖中可清楚看出，使用者可配合第三圖及第四圖所示，係為本實施例之第一態樣的測試模式，將一測試儀器7連接於進入切換器1的進入外接部11及輸出切換器6的輸出外接部61上，同時將四個被測試物分別連接於各測試切換器之測試端上(本實施例以將被測試物A連接於第一測試切換器2之第一測試端21上，將被測試物B連接於第二測試切換器3之第二測試端31上，將被測試物C連接於第三測試切換器4之第三測試端41上，將被測試物D連接於第四測試切換器5之第四測試端51上)。

之後使用者就能控制測試儀器7將測試訊號傳送至進入切換器1中，而測試儀器7以可發出高功率的第一測試訊號至第四測試訊號之濾波器模 組作為舉例。其中第一測試訊號會經由進入外接部11、第一進入連接部12、第一輸入端22、及第一測試端21進入被測試物A之中，而第一測試訊號通過被測試物A之後，會再經由第一測試端21、第一輸出端23、第一輸出連接部62、及輸出外接部61傳送回測試儀器7中，藉此經由第一測試訊號針對被測試物A進行測試的動作。

相對而言，測試儀器7產生之第二測試訊號會經由進入外接部11、第二進入連接部13、第二輸入端32、及第二測試端31進入被測試物B之中，再從被測試物B經由第二測試端31、第二輸出端33、第二輸出連接部63、及輸出外接部61傳送回測試儀器7中，來針對被測試物B進行測試動作。

而測試儀器7產生之第三測試訊號會經由進入外接部11、第三進入連接部14、第三輸入端42、及第三測試端41進入被測試物C之中，再從被測試物C經由第三測試端41、第三輸出端43、第三輸出連接部64、及輸出外接部61傳送回測試儀器7中，來針對被測試物C進行測試動作。

測試儀器7產生之第四測試訊號會經由進入外接部11、第四進入連接部15、第四輸入端52、及第四測試端51進入被測試物D之中，再從被測試物D經由第四測試端51、第四輸出端53、第四輸出連接部65、及輸出外接部61傳送回測試儀器7中，來針對被測試物D進行測試動作。

如此即能經由上述之動作，利用六個微機電切換器產生一種二進四出(double pole four throw，DP4T)的切換器矩陣，來同時對四個被測試物進行測試動作，並由於此技術乃利用微機電切換器所組成之切換器矩陣，因此能夠同時具有較高的生命週期、低插入損耗、及低諧波失真的優勢。

且本案與第一進入連接部12、第一測試端21、第一輔助端24、第二測試端31、第二輔助端34、第三測試端41、第三輔助端44、第四測試端51、第四輔助端54、及輸出外接部61所連接之連接頭，皆使用垂直式的接頭，即能達到較好的阻抗匹配與穩定度。

使用者亦可如第五圖所示，將第一輔助端24、第二輔助端34、第三輔助端44、及第四輔助端54連接一網路分析儀8，即為本實施例之第二態樣的測試模式，如此就能經由網路分析儀8傳送對應的測試訊號至被測試物A至被測試物D之中，以平行進行散射參數(S parameter)的量測動作，如此就能同時進行多種類型的量測動作，藉此增加使用上的方便性。

若被測試物不足四個時，其中未連接有被測試物之測試切換器內部，可將連通效果改變連接至阻抗端的位置，以利用50歐姆(ohms)之阻抗器來降低干擾的訊號，達到降低諧波失真的優勢，如配合第六圖及第七圖所示，係為本實施例之第三態樣的測試模式，第三態樣僅有兩個被測試物(以被測試物B及被測試物C作為舉例)，如此當未連接被測試物之第一測試切換器2及第四測試切換器5則會將其中的測試端改變連接於阻抗端處，則本實施例第一測試切換器2會將第一測試端21、第一輸入端22、第一輸出端23、及第一阻抗端25相連通，而第四測試切換器5會將第四測試端51、第四輸入端52、第四輸出端53、及第四阻抗端55相連通，如此就能利用第一阻抗端25及第四阻抗端55所連接之50歐姆(ohms)阻抗器達到降低諧波失真的效果，以提高使用上的方便性與測試上的準確性。

惟，以上所述僅為本新型之較佳實施例而已，非因此即侷限本新型之專利範圍，故舉凡運用本新型說明書及圖式內容所為之簡易修飾及等效結構變化，均應同理包含於本新型之專利範圍內，合予陳明。

綜上所述，本新型之測試機之結構改良於使用時，為確實能達到其功效及目的，故本新型誠為一實用性優異之新型，為符合新型專利之申請要件，爰依法提出申請，盼 審委早日賜准本新型，以保障申請人之辛苦創作，倘若 鈞局審委有任何稽疑，請不吝來函指示，申請人定當竭力配合，實感德便。

1:進入切換器

2:第一測試切換器

3:第二測試切換器

4:第三測試切換器

5:第四測試切換器

6:輸出切換器

Claims (10)

1. 一種測試機之結構改良，其主要包含：

   一進入切換器，該進入切換器上具有一進入外接部、一與該進入外接部相連接之第一進入連接部、一與該進入外接部相連接之第二進入連接部、一與該進入外接部相連接之第三進入連接部、及一與該進入外接部相連接之第四進入連接部；

   一第一測試切換器，該第一測試切換器設於該進入切換器之側處，且該第一測試切換器具有一第一測試端、一與該第一測試端及該第一進入連接部相連接之第一輸入端、一與該第一測試端相連接之第一輸出端、一與該第一測試端相連接之第一輔助端、及一與該第一測試端相連接之第一阻抗端；

   一第二測試切換器，該第二測試切換器設於該第一測試切換器之側處，且該第二測試切換器具有一第二測試端、一與該第二測試端及該第二進入連接部相連接之第二輸入端、一與該第二測試端相連接之第二輸出端、一與該第二測試端相連接之第二輔助端、及一與該第二測試端相連接之第二阻抗端；

   一第三測試切換器，該第三測試切換器設於該第二測試切換器之側處，且該第三測試切換器具有一第三測試端、一與該第三測試端及該第三進入連接部相連接之第三輸入端、一與該第三測試端相連接之第三輸出端、一與該第三測試端相連接之第三輔助端、及一與該第三測試端相連接之第三阻抗端；

   一第四測試切換器，該第四測試切換器設於該第三測試切換器之側處，且該第四測試切換器具有一第四測試端、一與該第四測試端及該第四進入連接部相連接之第四輸入端、一與該第四測試端相連接之第四輸出端、一與該第四測試端相連接之第四輔助端、及一與該第四測試端相連接之第四阻抗端；及一輸出切換器，該輸出切換器設於該第四測試切換器之側處，且該輸出切換器上具有一輸出外接部、一與該輸出外接部及該第一輸出端相連接之第一輸出連接部、一與該輸出外接部及該第二輸出端相連接之第二輸出連接部、一與該輸出外接部及該第三輸出端相連接之第三輸出連接部、及一與該輸出外接部及該第四輸出端相連接之第四輸出連接部。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試機之結構改良，其中該進入切換器係為微機電切換器，並係供更改該進入外接部、該第一進入連接部、該第二進入連接部、該第三進入連接部、及該第四進入連接部之間的連通關係。
3. 如申請專利範圍第1項所述之測試機之結構改良，其中該第一測試切換器係為微機電切換器，並係供更改該第一測試端、該第一輸入端、該第一輸出端、該第一輔助端、及該第一阻抗端之間的連通關係。
4. 如申請專利範圍第1項所述之測試機之結構改良，其中該第二測試切換器係為微機電切換器，並係供更改該第二測試端、該第二輸入端、該第二輸出端、該第二輔助端、及該第二阻抗端之間的連通關係。
5. 如申請專利範圍第1項所述之測試機之結構改良，其中該第三測試切換器係為微機電切換器，並係供更改該第三測試端、該第三輸入端、該第三輸出端、該第三輔助端、及該第三阻抗端之間的連通關係。
6. 如申請專利範圍第1項所述之測試機之結構改良，其中該第四測試切換器係為微機電切換器，並係供更改該第四測試端、該第四輸入端、該第四輸出端、該第四輔助端、及該第四阻抗端之間的連通關係。
7. 如申請專利範圍第1項所述之測試機之結構改良，其中該輸出切換器係為微機電切換器，並係供更改該輸出外接部、該第一輸出連接部、該第二輸出連接部、該第三輸出連接部、及該第四輸出連接部之間的連通關係。
8. 如申請專利範圍第1項所述之測試機之結構改良，其中該第一阻抗端、該第二阻抗端、該第三阻抗端、及該第四阻抗端係供連接一50歐姆(ohms)之阻抗器。
9. 如申請專利範圍第1項所述之測試機之結構改良，其中該進入切換器、該第一測試切換器、該第二測試切換器、該第三測試切換器、該第四測試切換器、及該輸出切換器係為型號MM 5130之切換器。
10. 如申請專利範圍第1項所述之測試機之結構改良，其中該第一輔助端、該第二輔助端、該第三輔助端、及該第四輔助端係供連接一網路分析儀。

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