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TWI817362B - 資料接收電路 - Google Patents

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TWI817362B
TWI817362B TW111106574A TW111106574A TWI817362B TW I817362 B TWI817362 B TW I817362B TW 111106574 A TW111106574 A TW 111106574A TW 111106574 A TW111106574 A TW 111106574A TW I817362 B TWI817362 B TW I817362B
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transistor
signal
circuit
data receiving
gate
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Inventor
楊吳德
Original Assignee
南亞科技股份有限公司
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Priority claimed from US17/544,574 external-priority patent/US11770117B2/en
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Abstract

本申請提供一種資料接收電路。該資料接收電路包括一資料輸入電路、一鎖存電路以及一電流源。該資料輸入電路經配置以接收一輸入訊號。該鎖存電路經配置以因應於該輸入訊號來輸出一輸出訊號。該電流源經配置以向該鎖存電路提供一電流。該電流源與該資料輸入電路不同。

Description

資料接收電路
本申請案主張美國第17/541,801號及第17/544,574號專利申請案之優先權(即優先權日為「2021年12月3日」及「2021年12月7日」),其內容以全文引用之方式併入本文中。
本揭露關於一種資料接收電路,特別是關於一種具有感應放大器的資料接收電路。
在記憶體元件中,輸入接收器被廣泛用於接收輸入訊號。然而,隨著對記憶體元件操作速度的要求越來越高,輸入接收器的性能可能無法跟上,導致對輸入資料做正確判斷的餘量更小。在輸入資料被錯誤解釋的情況下,記憶體元件可能因此而崩潰或操作異常。
上文之「先前技術」說明僅係提供背景技術,並未承認上文之「先前技術」說明揭示本揭露之標的,不構成本揭露之先前技術,且上文之「先前技術」之任何說明均不應作為本案之任一部分。
本揭露的一個實施例提供一種資料接收電路。該資料接收電路包括一資料輸入電路、一鎖存電路以及一電流源。該資料輸入電路經配置以接收一輸入訊號。該鎖存電路經配置以因應於該輸入訊號來輸出一輸出訊號。該電流源經配置以向該鎖存電路提供一電流。該電流源與該資料輸入電路不同。
本揭露的另一個實施例提供一種資料接收電路。該資料接收電路包括一第一電晶體、一第二電晶體、一第三電晶體以及一鎖存電路。該第一電晶體其一閘極經配置以接收一輸入訊號。該鎖存電路經配置以因應於輸入訊號來輸出一輸出訊號。該第二電晶體具有一閘極和一極,該閘極經配置以接收一第一訊號,該汲極與該鎖存電路相連。該第三電晶體具有一閘極和一汲極,該閘極經配置以接收該第一訊號,該汲極連接到該鎖存電路。該第二電晶體和該第三電晶體經配置以因應於該第一訊號來向鎖存電路提供一電流。
上文已相當廣泛地概述本揭露之技術特徵及優點,俾使下文之本揭露詳細描述得以獲得較佳瞭解。構成本揭露之申請專利範圍標的之其它技術特徵及優點將描述於下文。本揭露所屬技術領域中具有通常知識者應瞭解,可相當容易地利用下文揭示之概念與特定實施例可作為修改或設計其它結構或製程而實現與本揭露相同之目的。本揭露所屬技術領域中具有通常知識者亦應瞭解,這類等效建構無法脫離後附之申請專利範圍所界定之本揭露的精神和範圍。
現在用具體的語言來描述附圖中說明的本揭露的實施例,或實例。應理解的是,在此不打算限制本揭露的範圍。對所描述的實施例的任何改變或修改,以及對本文所描述的原理的任何進一步應用,都應被認為是與本揭露內容有關的本領域普通技術人員通常會做的。參考符號可以在整個實施例中重複,但這並不一意旨一個實施例的特徵適用於另一個實施例,即使它們共用相同的參考符號。
應理解的是,儘管用語第一、第二、第三等可用於描述各種元素、元件、區域、層或部分。可用於描述各種元素、部件、區域、層或部分,但這些元素、部件、區域、層或部分不受這些用語的限制。相反,這些用語僅用來區分一個元素、元件、區域、層或部分與另一個區域、層或部分。因此,下面討論的第一元素、元件、區域、層或部分可以稱為第二元素、元件、區域、層或部分而不偏離本發明概念的教導。
本文使用的用語僅用於描述特定的實施例,並不打算局限于本發明的概念。正如本文所使用的,單數形式的”一"、"一個”和”該”旨在包括複數形式,除非上下文特別指出。應進一步理解,用語”包括”和”包含”在本說明書中使用時,指出了所述特徵、整數、步驟、操作、元素或元件的存在,但不排除存在或增加一個或多個其他特徵、整數、步驟、操作、元素、元件或其組。
圖1A是電路圖,例示本揭露一些實施例之資料接收電路100(或資料接收器)。資料接收電路100包括輸入電路110、鎖存電路120,和等化器130。在一些實施例中,資料接收電路100可以是或可以包括一感應放大器。在一些實施例中,輸入電路110和鎖存電路120可統稱為感應放大器。
輸入電路110包括電晶體T11、T12和T13。在一些實施例中,電晶體T11、T12和T13是P型金屬氧化物半導體(PMOS)電晶體。電晶體T11的源極經連接以接收電源電壓Vdd。電晶體T11的閘極經連接以接收時脈訊號V1。在部分實施例中,時脈訊號V1與等化訊號Veq是相同的。例如,時脈訊號V1與等化訊號Veq具有相同的時脈。電晶體T11的汲極連接到電晶體T12的源極和電晶體T13的源極。電晶體T12的閘極經連接以接收參考訊號V2。電晶體T12的汲極與鎖存電路120相連(例如,與電晶體T21的源極相連)。電晶體T13的閘極經連接以接收輸入訊號Vin。電晶體T13的汲極連接到鎖存電路120(例如,連接到電晶體T23的源極)。在一些實施例中,參考訊號V2的一電壓電平在約0.1Vdd至約0.42Vdd的範圍內。在其他實施例中,參考訊號V2可根據設計要求以具有其他電壓電平。在一些實施例中,輸入訊號Vin的一電壓電平在大約-0.2V至大約Vdd+0.2V的範圍內。在其他實施例中,輸入訊號Vin可根據設計要求以具有其他電壓電平。
鎖存電路120可以包括兩個反相器,其中一個反相器的輸出端與另一個反相器的輸入端相連。如圖1A所示,鎖存電路120包括電晶體T21、T22、T23和T24。電晶體T21和T22定義一反相器,而電晶體T23和T24定義另一反相器。電晶體T21和T23是PMOS電晶體,電晶體T22和T24是N型金屬氧化物半導體(N-type metal-oxide-semiconductor,NMOS)電晶體。
電晶體T21的源極與電晶體T12的汲極相連。電晶體T21的閘極與電晶體T22的閘極、電晶體T23的汲極和電晶體T24的汲極相連。電晶體T21的汲極連接到電晶體T22的汲極。電晶體T22的源極與公共電壓(例如,地)相連。電晶體T21的汲極和電晶體T22的汲極可以做為資料接收電路100的輸出端Vout1。
電晶體T23的源極與電晶體T13的汲極相連。電晶體T23的汲極與電晶體T24的汲極相連。電晶體T24的源極與公共電壓(例如,地)相連。電晶體T23的汲極和電晶體T24的汲極可以做為資料接收電路100的輸出端Vout2。
等化器130包括電晶體T31、T32、T33、T34和T35。在一些實施例中,電晶體T31、T32、T33、T34和T35是NMOS電晶體。電晶體T31、T32、T33、T34和T35的閘極相互連接以接收等化訊號Veq。電晶體T31的源極與公共電壓(例如,地)相連。電晶體T33的源極連接到公共電壓(例如,連接到地)。電晶體T34的源極連接到公共電壓(例如,連接到地)。電晶體T35的源極與公共電壓(如地)相連。電晶體T32連接在電晶體T31和T33之間。
圖1B是時序圖,例示本揭露一些實施例之圖1A的資料接收電路100在不同節點的時序波形。
在一些實施例中,在時間T1之前,資料接收電路100經配置以操作在一等化階段。在這個階段,等化器130被致能。具有一高邏輯電平(例如,邏輯值"1")的等化訊號Veq(等於時脈訊號V1)經輸入到電晶體T31、T32、T33、T34和T35的閘極,以開啟(turn on)這些電晶體。因此,電晶體T12汲極的電壓Vcom1、電晶體T13汲極的電壓Vcom2、Vout1和Vout2將被拉低到公共電壓(例如,地),如圖1C所示,例示操作在等化階段的資料接收電路100的等效電路。
在時間T1之後,該等化階段完成,因此具有一低邏輯電平(例如邏輯值"0")的等化訊號Veq經輸入到電晶體T31、T32、T33、T34和T35的閘極,以關閉(turn off)這些電晶體。等化器130被關閉。圖1D例示本揭露一些實施例之資料接收電路100在此操作階段的等效電路。
在T1的時候,等化器130關閉,此時時脈訊號V1等於等化訊號Veq,電晶體T11被打開,具有一高邏輯電平的輸入訊號Vin(例如,邏輯值"1")經輸入到電晶體T13的閘極。電晶體T11的汲極(或電晶體T12或T13的源極)的電壓Vtop開始上升。例如,電壓Vtop被拉高。電晶體T12的汲極(或電晶體T21的源極)的電壓Vcom1也開始上升。例如,電壓Vcom1被拉高。電晶體T13的汲極(或電晶體T23的源極)的電壓Vcom2也開始上升。例如,電壓Vcom2被拉高。
由於電晶體T13閘極的電壓(如輸入訊號Vin)高於電晶體T12閘極的電壓(如參考訊號V2),流經電晶體T12的電流I11比流經電晶體T13的電流I12大。經過足夠長的時間,電晶體T21被完全開啟。由於在該等化階段,電晶體T21和T22閘極的電壓Vout2已經被拉低到公共電壓(例如,地),電晶體T21和T24被完全開啟,而電晶體T22和T23被完全關閉。因此,在電晶體T21和T22的汲極(或電晶體T23和T24的閘極)的電壓Vout1在時間T2開始上升。例如,電壓Vout1在時間T2被拉高。
在一些實施例中,在時間T2,資料接收電路100經配置以操作在一資料開發階段。在時間T3,電晶體T21和T22的汲極(或電晶體T23和T24的閘極)的電壓Vout1已完全拉高到該高邏輯電平(例如,邏輯值"1")。在一些實施例中,在時間T3和時間T4期間,資料接收電路100經配置以操作在一資料鎖存階段。
在資料輸入的時期(例如從時間T1到時間T4)完成後,資料接收電路100經配置以在時間T4階段再次操作在一等化階段。
當在資料輸入期間(例如,從時間T1到時間T4)操作時,如果輸入訊號Vin的電壓高於參考訊號V2的電壓,則資料接收電路100經配置以輸出具有高邏輯電平(例如,邏輯值"1")的電壓Vout1;如果輸入訊號Vin的電壓低於參考訊號V2的電壓,則資料接收電路100經配置以輸出端有低邏輯電平(例如,邏輯值"0")的電壓Vout1。然而,由於存在於電晶體T12和T13的汲極的寄生元件(例如,電阻、電感和/或電容),電流I11和電流I12必須對這些寄生元件充電(或放電)以拉高(或拉低)電壓Vcom1和Vcom2。
如圖1A和圖1D中所示,電流I11和電流I12分別由電晶體T12和T13確定。例如,電流I11(或電流I12)可以由電晶體T12(或電晶體T13)的源極和閘極之間的電壓差(例如Vsg)決定。然而,由於電晶體T12的閘極的電壓V2(例如,約0.1Vdd至約0.42Vdd)和和電晶體T13的閘極的電壓Vin(約Vdd+0.2V)相對較高,電流I11和電流I12將減少,這將使電壓Vout1的上升時間(或下降時間)相對延長。例如,如圖1B所示,與輸入訊號Vin相比,電壓Vout1上升緩慢。當資料接收電路100的操作速度增加時,這種情況變得嚴重。在某些情況下,電壓Vout1將不能正確反映輸入訊號Vin,導致資料接收電路100不正常。
圖2A是電路圖,例示本揭露一些實施例之資料接收電路200(或資料接收器)。資料接收電路200包括輸入電路410、鎖存電路420、等化器430、電流源(或電流汲取)440,和脈衝產生器450。在一些實施例中,資料接收電路200可以是或可以包括一感應放大器。
輸入電路包括410電晶體T41、T42和T43。在一些實施例中,電晶體T41、T42和T43是P型金屬氧化物半導體(PMOS)電晶體。電晶體T41的源極經連接以接收電源電壓Vdd。電晶體T41的閘極經連接以接收來自脈衝產生器450的訊號V3。電晶體T41的汲極與電晶體T42的源極和電晶體T43的源極相連。電晶體T42的閘極經相連以接收參考訊號V5。電晶體T42的汲極與鎖存電路420相連(例如,與電晶體T51的汲極、電晶體T52的汲極、電晶體T53的閘極和電晶體T54的閘極)。電晶體T42的汲極也連接到等化器430上。電晶體T43的閘極經連接以接收輸入訊號Vin1。電晶體T43的汲極連接到鎖存電路420(例如,連接到電晶體T53的汲極、電晶體T54的汲極、電晶體T51的閘極和電晶體T52的閘極)。電晶體T43的汲極也連接到等化器430。
在一些實施例中,參考訊號V5的一電壓電平在大約0.1Vdd到大約0.42Vdd的範圍內。在其他實施例中,參考訊號V5可根據設計要求以具有其他電壓電平。在一些實施例中,輸入訊號Vin1的電壓電平範圍在大約-0.2V至大約Vdd+0.2V的範圍內。在其他實施例中,輸入訊號Vin1可根據設計要求以具有其他電壓電平。
鎖存電路420可以包括兩個反相器(例如,如圖2D所示的反相器IN1和IN2),其中一個反相器的輸出端與另一個反相器的輸入端相連。如圖2A所示,鎖存電路420包括電晶體T51、T52、T53和T54。電晶體T51和T52定義一反相器,而電晶體T53和T54定義另一反相器。電晶體T51和T53是PMOS電晶體,電晶體T52和T54是N型金屬氧化物半導體(NMOS)電晶體。
電晶體T51的源極與電流源440(例如,與電晶體T71的汲極)相連。電晶體T51的閘極與電晶體T52的閘極、電晶體T53的汲極和電晶體T54的汲極相連。電晶體T51的汲極與電晶體T52的汲極相連。電晶體T52的源極與公共電壓(例如,地)相連。電晶體T51的汲極和電晶體T52的汲極可以做為資料接收電路200的輸出端Vout3。
電晶體T53的源極與電流源相連440(例如,與電晶體T72的汲極相連)。電晶體T53的汲極與電晶體T54的汲極相連。電晶體T54的源極連接到公共電壓(例如,連接到地)。電晶體T53的汲極和電晶體T54的汲極可以做為資料接收電路200的輸出端Vout4。
等化器430包括電晶體T61、T62、T63、T64和T65。在一些實施例中,電晶體T61、T62、T63、T64和T65是NMOS電晶體。電晶體T61、T62、T63、T64和T65的閘極相互連接以接收等化訊號Veq1。電晶體T61的源極與公共電壓(如地)相連。電晶體T63的源極連接到公共電壓(例如,連接到地)。電晶體T64的源極連接到公共電壓(例如,連接到地)。電晶體T65的源極與公共電壓(例如,地)相連。電晶體T62連接在電晶體T61和T63之間。
電流源440包括電晶體T71和T72。在一些實施例中,電晶體T71和T72是PMOS電晶體。電晶體T71的源極經連接以接收電源電壓Vdd。電晶體T71的閘極經連接以接收訊號V4。電晶體T71的汲極經連接到鎖存電路420。電晶體T72的源極經連接以接收電源電壓Vdd。電晶體T72的閘極經連接以接收訊號V4,電晶體T72的汲極經連接到鎖存電路420。
脈衝產生器450可以包括反相器G1、延遲電路(或緩衝器)G2、和或閘(OR gate)G3。圖2B是時序圖,例示本揭露一些實施例之脈衝產生器450在不同節點的波形。
在操作中,脈衝產生器450經配置以接收具有週期為P1的一第一邏輯值的輸入(例如,訊號V4)並產生具有週期為P2的一第二邏輯值的輸出(例如,訊號V3)。在一些實施例中,該第一邏輯值與該第二邏輯值相同。例如,如圖2B所示,該第一邏輯值為0,該第二邏輯值為0。在一些實施例中,週期P2小於週期P1。例如,P2等於n×P1,其中0<n<1。
在一些實施例中,n可以由延遲電路G2的延遲時間決定。如圖2B所示,在時間TG1,具有邏輯值"0”的訊號V4(等於等化訊號Veq)經輸入到脈衝產生器450。詳言之,具有邏輯值"0”的訊號V4輸入至延遲電路G2與或閘G3的一端點(即為訊號A)。延遲電路G2經配置以將經延遲的訊號輸入至反相器G1。反相器G1經配置以產生具有邏輯值"1”的輸出訊號B。時間TG2和時間TG1之間的差異是延遲電路G2的延遲時間。因此,在時間TG1到時間TG2的期間,或閘G3經配置以產生具有邏輯值”0”的訊號V3。
圖2C是時序圖,例示本揭露一些實施例之圖2A的資料接收電路200在不同節點的波形。
在一些實施例中,在時間T5之前,資料接收電路200經配置以操作在一等化階段。在這個階段,等化器430被致能。具有一高邏輯電平(例如,邏輯值"1")的等化訊號Veq1經輸入到電晶體T61、T62、T63、T64和T65的閘極,以開啟這些電晶體。因此,電壓Vcom3、Vcom4、Vout3和Vout4將被拉低到公共電壓(例如,地)。
在時間T5之後,該等化階段完成,因此具有一低邏輯電平(例如,邏輯值"0")的等化訊號Veq1經輸入到電晶體T61、T62、T63、T64和T65的閘極,以關閉這些電晶體。等化器430被關閉。圖2D例示本揭露一些實施例之資料接收電路200在此階段操作的等效電路。
在時間T5,具有一高邏輯電平的輸入訊號Vin1(例如,邏輯值"1")經輸入到電晶體T43的閘極。同時,具有邏輯值"0"的訊號V3和V4(例如,在圖2B中的時間TG1和時間TG2期間)經輸入到電晶體T41、T71和T72的閘極以開啟電晶體T41、T71和T72。電晶體T41的汲極(或電晶體T42或T43的源極)的電壓Vtop1開始上升。例如,電壓Vtop1被拉高。電晶體T71的汲極的電壓Vcom3也開始上升。例如,電壓Vcom3被拉高。電晶體T72的汲極的電壓Vcom4也開始上升。例如,電壓Vcom4被拉高。
由於電晶體T43閘極的電壓(如輸入訊號Vin1)高於電晶體T42閘極的電壓(如參考訊號V5),電晶體T51和T52的汲極(或電晶體T53和T54的閘極)的電壓Vout3也開始上升。例如,電壓Vout3被拉高。在資料輸入的週期(例如從時間T5到時間T6)完成後,資料接收電路200經配置以在時間週期T6上再次操作在一等化階段。
當在資料輸入期間(例如,從時間T5到時間T6)操作時,如果輸入訊號Vin1的電壓高於參考訊號V5的電壓,則資料接收電路200經配置以輸出具有一高邏輯電平(例如,邏輯值"1")的電壓Vout3;如果輸入訊號Vin1的電壓低於參考訊號V5的電壓,則資料接收電路200經配置以輸出具有一低邏輯電平(例如,邏輯值"0")的電壓Vout3。在輸入訊號Vin1輸入到電晶體T43之後,在資料操作經鎖存電路420完成之前(例如,如圖2B所示的時間TG4之後),脈衝產生器450經配置以產生具有邏輯值"1”的訊號V3以關閉電晶體T41,因此防止電路因Vdd和地之間的短路而被損壞。
根據一些實施例,如圖2A至圖2D所示,在資料輸入期間,電晶體T41、T71和T72的閘極經輸入具有邏輯值"0”的訊號。換句話說,在資料輸入期間,電晶體T41、T71和T72的閘極經連接到地。因此,電晶體T71(或電晶體T72)的源極和閘極之間的電壓差(例如Vsg)高於如圖1A所示的電晶體T12(或電晶體T13)的源極和閘極之間的電壓差(例如Vsg),這使得由電晶體T71和T72產生的電流I13和電流I14大於由電晶體T12和T13產生的電流I11和電流I12。與圖1A中的資料接收電路100相比,資料接收電路200可以用較大的電流I13和I14對寄生元件(例如,電阻、電感和/或電容)充電或放電,這可以增加資料接收電路200的輸出端(例如,電壓Vout3)的因應時間。換句話說,電壓Vout3的上升時間(或下降時間)可以減少。這可以增加資料接收電路200的容忍度和操作速度。
雖然已詳述本揭露及其優點,然而應理解可以進行其他變化、取代與替代而不脫離揭露專利範圍所定義之本揭露的精神與範圍。例如,可用不同的方法實施上述的許多製程,並且以其他製程或其組合替代上述的許多製程。
再者,本揭露案的範圍並不受限於說明書中所述之製程、機械、製造、物質組成物、手段、方法與步驟之特定實施例。該技藝之技術人士可自本揭露的揭示內容理解以根據本揭露而使用與本文所述之對應實施例具有相同功能或是達到實質上相同結果之現存或是未來發展之製程、機械、製造、物質組成物、手段、方法、或步驟。據此,此等製程、機械、製造、物質組成物、手段、方法、或步驟係包括於本揭露案之揭露專利範圍內。
100:資料接收電路 110:輸入電路 120:鎖存電路 130:等化器 200:資料接收電路 410:輸入電路 420:鎖存電路 430:等化器 440:電流源(或電流汲取) 450:脈衝產生器 A:訊號 B:輸出訊號 G1:反相器 G2:延遲電路 G3:或(OR)閘 I11:電流 I12:電流 I13:電流 I14:電流 IN1:反相器 IN2:反相器 P1:週期 P2:週期 T1:時間 T2:時間 T3:時間 T4:時間 T11:電晶體 T12:電晶體 T13:電晶體 T21:電晶體 T22:電晶體 T23:電晶體 T24:電晶體 T31:電晶體 T32:電晶體 T33:電晶體 T34:電晶體 T35:電晶體 T41:電晶體 T42:電晶體 T43:電晶體 T51:電晶體 T52:電晶體 T53:電晶體 T54:電晶體 T61:電晶體 T62:電晶體 T63:電晶體 T64:電晶體 T65:電晶體 T71:電晶體 T72:電晶體 TG1:時間 TG2:時間 V1:時脈訊號 V2:參考訊號 V3:訊號 V4:訊號 V5:參考訊號 Vcom1:電壓 Vcom2:電壓 Vcom3:電壓 Vcom4:電壓 Vdd:電源電壓 Veq:等化訊號 Veq1:等化訊號 Vin:輸入訊號 Vin1:輸入訊號 Vout1:輸出 Vout2:輸出 Vout3:輸出 Vout4:輸出 Vtop:電壓 Vtop1:電壓
參閱實施方式與申請專利範圍合併考量圖式時,可得以更全面了解本申請案之揭示內容,圖式中相同的元件符號係指相同的元件。 圖1A是電路圖,例示本揭露一些實施例之資料接收電路。 圖1B是時序圖,例示本揭露一些實施例之圖1A的資料接收電路在不同節點的時序波形。 圖1C是電路圖,例示本揭露一些實施例之圖1A的資料接收電路的等效電路。 圖1D是電路圖,例示本揭露一些實施例之圖1A的資料接收電路的等效電路。 圖2A是電路圖,例示本揭露一些實施例之資料接收電路。 圖2B是時序圖,例示本揭露一些實施例之圖2A的資料接收電路在不同節點的波形。 圖2C是時序圖,例示本揭露一些實施例之圖2A的資料接收電路在不同節點的波形。 圖2D是電路圖,例示本揭露一些實施例之圖2A的資料接收電路的等效電路。
200:資料接收電路
410:輸入電路
420:鎖存電路
430:等化器
440:電流源
450:脈衝產生器
A:輸出訊號
B:輸出訊號
G1:反相器
G2:延遲電路
G3:或(OR)閘
I13:電流
I14:電流
T41:電晶體
T42:電晶體
T43:電晶體
T51:電晶體
T52:電晶體
T53:電晶體
T54:電晶體
T61:電晶體
T62:電晶體
T63:電晶體
T64:電晶體
T65:電晶體
T71:電晶體
T72:電晶體
V3:訊號
V4:訊號
V5:參考訊號
Vcom3:電壓
Vcom4:電壓
Vdd:電源電壓
Veq1:等化訊號
Vin1:輸入訊號
Vout3:輸出
Vout4:輸出
Vtop1:電壓

Claims (24)

  1. 一種資料接收電路,包括:一資料輸入電路,經配置以接收一輸入訊號,其中該資料輸入電路包括一第一輸入端和一第二輸入端,該第一輸入端經配置以接收一參考電壓,該第二輸入端經配置以接收該輸入訊號;一鎖存電路,經配置以因應於該輸入訊號來輸出一輸出訊號,其中該鎖存電路經配置以當該輸入訊號的一電壓小於該參考電壓時,輸出具有一低邏輯值的該輸出訊號;一電流源,經配置以向該鎖存電路提供一電流,其中該電流源與該資料輸入電路不同;以及一脈衝產生器,電連接至該資料輸入電路且經配置以接收一第一訊號並因應於該第一訊號來產生一第二訊號,其中該第一訊號的一週期大於該第二訊號的一週期,其中當該資料輸入電路經配置以接收該輸入訊號時,該第一訊號被用來開啟該電流源,該第二訊號被用來開啟該資料輸入電路,及其中在該鎖存電路的一鎖存操作未完成之前,該第二訊號被用來關閉該資料輸入電路。
  2. 如請求項1所述的資料接收電路,其中該鎖存電路經配置以當該輸入訊號的一電壓大於該參考電壓時,輸出具有一高邏輯值的該輸出訊號。
  3. 如請求項1所述的資料接收電路,其中該第一訊號的一邏輯值與該第 二訊號的一邏輯值不同。
  4. 如請求項1所述的資料接收電路,其中該第二訊號該週期大約為該第一訊號該週期的三分之一。
  5. 如請求項1所述的資料接收電路,其中該電流源經配置以向該鎖存器電路提供該電流而不流經該資料輸入電路。
  6. 如請求項1所述的資料接收電路,還包括一等化器,經配置以當該等化器被致能時,將該鎖存電路的一輸出端和該電流源的一輸出端連接到地。
  7. 一種資料接收電路,包括:一第一電晶體,其一閘極經配置以接收一輸入訊號;一鎖存電路,經配置以因應於該輸入訊號來輸出一輸出訊號;一第二電晶體,具有一閘極和一汲極,該閘極經配置以接收一第一訊號,該汲極與該鎖存電路相連;以及一第三電晶體,具有一閘極和一汲極,該閘極經配置以接收該第一訊號,該汲極連接到該鎖存電路;其中該第二電晶體和該第三電晶體經配置以因應於該第一訊號而向該鎖存電路提供一電流。
  8. 如請求項7所述的資料接收電路,還包括一第四電晶體,其一閘極經 配置以接收一參考訊號,其中該鎖存電路經配置以當該輸入訊號的一電壓大於一參考電壓時,輸出具有一高邏輯值的該輸出訊號。
  9. 如請求項8所述的資料接收電路,還包括一第五電晶體,具有一閘極和一汲極,該閘極經連接以接收一第二訊號,該汲極連接到該第一電晶體的一源極和該第四電晶體的一源極。
  10. 如請求項9所述的資料接收電路,其中該第二訊號的一週期大約為該第一訊號的一週期的三分之一。
  11. 如請求項9所述的資料接收電路,還包括一脈衝產生器,經配置以接收該第一訊號並產生該第二訊號。
  12. 如請求項11所述的資料接收電路,其中該脈衝產生器包括:一反相器,具有一輸入端以接收該第一訊號;一延遲電路,具有一輸入端以接收該第一訊號;以及一或(OR)閘,具有一第一輸入端、一第二輸入端和一輸出端,該第一輸入端與該反相器的一輸出端相連,該第二輸入端與該延遲電路的一輸出端相連,以及該或閘該輸出端經配置以產生該第二訊號。
  13. 如請求項12所述的資料接收電路,其中該反相器該輸入端和該延遲電路該輸入端與該第二電晶體該閘極和該第三電晶體該閘極相連。
  14. 如請求項13所述的資料接收電路,其中該或閘該輸出端與該第五電晶體該閘極相連。
  15. 如請求項9所述的資料接收電路,其中當該第一電晶體經配置以接收該輸入訊號時,該第一訊號被用來開啟該第二電晶體和該第三電晶體。
  16. 如請求項15所述的資料接收電路,其中當該第一電晶體經配置以接收該輸入訊號時,該第一訊號被用來開啟該第五電晶體。
  17. 如請求項16所述的資料接收電路,其中在該鎖存電路的一鎖存操作未完成之前,該第一訊號被用來關閉該第五電晶體。
  18. 如請求項7所述的資料接收電路,其中該鎖存電路包括:一第六電晶體,其一源極與該第二電晶體該汲極相連;以及一第七電晶體,其一源極與該第三電晶體該汲極相連;其中該第六電晶體的一閘極與該第一電晶體的一汲極相連。
  19. 如請求項18所述的資料接收電路,其中該鎖存電路包括:一第八電晶體,具有一汲極和一閘極,該汲極與該第六電晶體該汲極相連,該閘極與該第六電晶體該閘極相連;以及一第九電晶體,具有一汲極和一閘極,該汲極與該第七電晶體該汲極相連,該閘極與該第七電晶體該閘極相連。
  20. 如請求項19所述的資料接收電路,其中該第六電晶體該汲極和該第八電晶體該汲極經配置以輸出該輸出訊號。
  21. 如請求項7所述的資料接收電路,還包括一等化器,經配置以當該等化器被致能時,將該鎖存電路的一輸出端連接到地。
  22. 如請求項21所述的資料接收電路,其中該等化器包括:一第十電晶體,具有一源極和一汲極,該源極與地相連,該汲極與該第二電晶體該汲極相連;以及一第十一電晶體,具有一源極和一汲極,該源極與地相連,該汲極與與該第三電晶體該汲極相連。
  23. 如請求項22所述的資料接收電路,其中該等化器包括一第十二電晶體,該第十二電晶體具有一閘極、一源極和一汲極,該閘極與該第十電晶體一閘極和該第十一電晶體一閘極相連,該源極與地相連,該汲極與該第一電晶體該汲極相連。
  24. 如請求項7所述的資料接收電路,其中該第一電晶體與該第二電晶體和該第三電晶體斷開連接。
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