TWI894611B - 電性測試裝置 - Google Patents

Abstract

一種電性測試裝置，包含一具有界定一空間之框板的本體單元、一固定於該空間的導接單元，及一安裝於該本體單元的定位單元。該框板具有多個定位孔及穿設孔。該導接單元包括多個能產生可復原之形變的導接件。該定位單元包括一限位板、多個定位件，及多個內撐件。該限位板具有多個供該等導接件穿伸的通槽、多個對應該等定位孔的對位孔，及多個對應該等穿設孔的通孔。該等定位件設置於該等定位孔及該等對位孔而定位該限位板。該等內撐件穿設該等穿設孔且對應該等通孔，使該限位板在與該框板維持距離的初始位置及與該框板接觸的極限位置間移動。

Description

電性測試裝置

本發明是有關於一種樣品測試設備，特別是指一種電性測試裝置。

參閱圖1，為一現有的測試裝置1，適用於與一電子元件2達成電性連接而執行電性測試，並包含一本體11，及多個自該本體11延伸且能在受壓時產生形變而累積彈性恢復力的探針12。其中，每一個所述探針12是對應該電子元件2上個別的電性接點21，藉此使得該電子元件2與該測試裝置1達成電性連接，以對該電子元件2的功能進行測試。

當該電子元件2置入該測試裝置1而執行測試，由於每一個所述探針12是呈現單臂的外觀型態，因此每一個所述探針12接觸到個別的電性接點21時，會因自身的結構彈性而產生沿該電子元件2壓抵方向的形變，藉此也利用該等探針12的彈性恢復力，使得該測試裝置1與該電子元件2的電性連接更加穩定。

然而，單純依靠單臂結構的所述探針12，具體而言僅是點對點的連接，在所述探針12有公差或者磨耗缺損等等情況下，容易在與所述電性接點21的連接處產生滑移，除了造成電性連接不穩定以外，也有可能在該等探針12上，甚至是該電子元件2上產生不必要的磨耗。另外，若是所述探針12因損傷或者其他因素，受外力後的形變程度有可能超出預期，也有可能在形變方向上有所偏差，並因而影響到該測試裝置1的測試性能，甚至縮短該等探針12的使用壽命。

因此，本發明之目的，即在提供一種使測試時電性連接更加穩定的電性測試裝置。

於是，本發明電性測試裝置，包含一具有圍繞界定出一設置空間之框板的本體單元、一固定於該設置空間中的導接單元，及一安裝於該本體單元的定位單元。

該本體單元之該框板具有多個呈貫穿狀的定位孔，及多個與該等定位孔相間隔的穿設孔。

該導接單元包括一以絕緣材料製成的基底，及多個自該基底向外延伸的導接件。每一該導接件能沿一朝向該基底之形變方向產生一可恢復原狀的最大形變量。

該定位單元包括至少一限位板、多個定位件，及多個內撐件。每一該限位板具有多個用以供該等導接件穿伸的通槽、多個位置分別對應該等定位孔的對位孔，及多個位置分別對應該等穿設孔的通孔。該等定位件是設置於該等定位孔及該等對位孔而用以定位該至少一限位板。該等內撐件分別穿設於該等穿設孔且通過對應之該等通孔。每一個該內撐件具有一設置於個別之該穿設孔及個別之該通孔的銷部，及至少一繞設於該銷部且頂抵於該至少一限位板的彈性部。該等內撐件之該等彈性部使該至少一限位板能在一與該框板維持一段設定距離的初始位置，及一與該框板接觸的極限位置間移動。

本發明之功效在於：藉由該定位單元之該等定位件及該等內撐件，能使該至少一限位板與該框板之間維持適當的距離，在欲檢測之電子元件朝向該至少一限位板移動，進而與該等導接件達成電連接而執行檢測時，能藉由該至少一限位板的厚度，配合該設定距離所形成之緩衝餘裕，避免該等導接件執行檢測而受到外力時，產生超出所述最大形變量的形變，在確保該等導接件不致斷裂或產生不可逆之形變的情況下，即可確保達成電性測試的預期性能，優化檢測的穩定性。

在本發明被詳細描述之前，應當注意在以下的說明內容中，類似的元件是以相同的編號來表示。

參閱圖2，為本發明電性測試裝置之一第一實施例，本第一實施例包含一界定出一設置空間300的本體單元3、一固定於該設置空間300中的導接單元4，及一安裝於該本體單元3的定位單元5。定義該設置空間300是沿一輔助線L呈貫通狀，而如圖3所呈現地，待檢測的一電子元件90即是沿該輔助線L與該導接單元4達成電性連接，並透過與本第一實施例自相反於該電子元件90之一側達成電性連接的驅動設備99，對該電子元件90執行電性測試。

參閱圖2至圖4，該本體單元3包含一圍繞界定出該設置空間300的該框板31。該框板31具有多個呈貫穿狀的定位孔311、多個與該等定位孔311相間隔的穿設孔312，及多個分別設置於該等穿設孔312中，且形成有一孔徑小於該穿設孔312且與該穿設孔312同向貫通之孔洞319的凸環部313。

該導接單元4包括一以絕緣材料製成的基底41，及多個自該基底41沿該輔助線L朝相反兩側向外延伸的導接件42。其中，該基底41具體而言是多片彼此間隔設置的基板，而該等導接件42是以形成於該等基板之間的金屬層所構成，且具體而言可採用半導體製程來製成所需的型態，有利於對應待檢測之電子元件90的接點，設計該等導接件42的位置分布。藉由每一該導接件42概為一彈性臂的型態，該等導接件42皆能沿一朝向該基底41之形變方向，產生一可恢復原狀的最大形變量。

該定位單元5包括二個分別設置於該框板31沿該輔助線L之相反兩側的限位板51、多個用以定位該等限位板51的定位件52，及多個支撐該框板31與該等限位板51之相對位置的內撐件53。每一該限位板51具有多個用以供該等導接件42穿伸的通槽510、多個位置分別對應該等定位孔311的對位孔511，及多個位置分別對應該等穿設孔312的通孔512。如圖5所示，每一該通槽510的橫截面，概是呈現外側相對較窄而符合該等導接件42的寬度，且逐漸往內側漸擴的型態，藉此在該等導接件42自內側往外側穿伸的同時，對該等導接件42形成由相反兩側往中間對正的導正效果，使得難免略有偏移的該等導接件42能在從該等通槽510向外伸出時，能更為精準地處於預設的位置。

重新參閱圖2至圖4，該等定位件52是設置於該等定位孔311及該等對位孔511而用以定位該等限位板51。每一該定位件52具有一伸置於個別之該定位孔311及個別之該對位孔511中的穿伸部521，及一自該穿伸部521彎折且用以搭接於對應之該限位板51的彎折部522。該等內撐件53分別穿設於該等穿設孔312且通過對應之該等通孔512。每一個該內撐件53具有一穿伸於個別之孔洞319及個別之通孔512的銷部531，及二繞設於該銷部531且相反兩端分別頂抵於個別之該凸環部313與同側之該限位板51間的彈性部532。具體而言，每一個該內撐件53的該彈性部532為壓縮彈簧，藉由該等彈性部532朝向相反兩側的彈性恢復力，可配合該等定位件52之該等彎折部522鉤定於對應之該限位板51的向內定位力，使得該等限位板51與該框板31之間在不受外力的情況下，得以維持預期的距離。

參閱圖6並配合圖4，該等內撐件53之該等彈性部532使每一個該限位板51能在一與該框板31維持一段設定距離D的初始位置，及一與該框板31接觸的極限位置間移動。以實際執行一待測之電子元件90之電性測試時，單一側之該限位板51的移動情況為例來說明。當該電子元件90分別對應該等導接件42之位置的多個電性接點901，是設計為對外凸設的形式時，隨著該電子元件90朝向本第一實施例位於同一側之該限位板51移動，由於該等導接件42是經由該等通槽510延伸至該限位板51外的一凸伸長度d，在該電子元件90接觸到該等導接件42並推抵該限位板51時，至多只能再移動該凸伸長度d與該設定距離D，該限位板51即會接觸該框板31，也就是移動至該極限位置。因此，只要該凸伸長度d與該設定距離D的總和，不大於該等導接件42的該最大形變量，則本第一實施例可提供該等導接件42與該等電性接點901接觸的緩衝餘裕，避免該等導接件42受到外力時產生無法復原之形變，於是可確保該等導接件42維持在設定的狀態，降低該等導接件42受損甚至彎折、斷裂的可能性，藉此維持本第一實施例執行電性測試的預期性能，優化檢測的穩定性。

參閱圖7，呈現另一種該等電性接點901為平板狀的實施態樣。如圖7所呈現的實施態樣相較於圖6之實施態樣而言，除了該等電性接點901的型態不同，因而可能在該電子元件90接觸到該限位板51的時機有所差異以外，本實施態樣同樣能發揮提供該等導接件42與該等電性接點901接觸的緩衝餘裕，避免該等導接件42受到外力時產生無法復原之形變的相同效果。

接著參閱圖7並配合圖4與圖6，當檢測完成時，該等電性接點901脫離該等導接件42，該限位板51將會因為該等彈性部532受推抵時所累積的彈性恢復力而遠離該框板31，並在由該等定位件52定位的情況下，回到與該框板31維持該設定距離D之該初始位置。

參閱圖8並配合圖4，就另一種電性測試的情況而言，該電子元件90的該等電性接點901必須伸入該等通槽510，才能確實接觸該等導接件42。此時，為了因應此種檢測需求，並且同樣發揮避免該等導接件42受壓時產生過大形變的效果，該限位板51在該初始位置時，該設定距離D不大於該等導接件42的該最大形變量，則亦能藉由妥善地設計該設定距離D，並且配合該限位板51的厚度，提供該等導接件42與該等電性接點901接觸的緩衝餘裕，避免該等導接件42受到外力時產生無法復原之形變，藉此達成優化檢測之穩定性的效果。

參閱圖9，為本發明電性測試裝置之一第二實施例，本第二實施例與該第一實施例的區別在於：本第二實施例之該本體單元3還包括二沿該輔助線L自相反兩側封擋該基底41，且形成有多個供該等導接件42穿伸之槽孔320的封裝板32。具體而言，每一該封裝板32是與個別之該限位板51模組化地預先相互連接，於是在圖9中的其中一片該封裝板32是貼附於位於上方之該限位板51的下側。透過該等封裝板32，除了進一步將該本體單元3封裝為更完整的總成化部件，在該等導接件42先穿伸過該等槽孔320才穿伸到該等通槽510的情況下，也更有利於使該等導接件42處於更準確的位置，以利於達成更加精準的電連接，藉此進一步優化檢測的性能。

綜上所述，本發明電性測試裝置，藉由該定位單元5之該等定位件52及該等內撐件53，能使該等限位板51與該框板31之間維持適當的該設定距離D，並配合所述限位板51的厚度，形成該等導接件42執行檢測時的形變緩衝餘裕，在確保該等導接件42不致斷裂或產生不可逆之形變的情況下，即可確保達成電性測試的預期性能，優化檢測的穩定性。因此，確實能達成本發明之目的。

惟以上所述者，僅為本發明之實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。

3:本體單元 300:設置空間 31:框板 311:定位孔 312:穿設孔 313:凸環部 319:孔洞 32:封裝板 320:槽孔 4:導接單元 41:基底 42:導接件 5:定位單元 51:限位板 510:通槽 511:對位孔 512:通孔 52:定位件 521:穿伸部 522:彎折部 53:內撐件 531:銷部 532:彈性部 90:電子元件 901:電性接點 99:驅動設備 d:凸伸長度 D:設定距離 L:輔助線

本發明之其他的特徵及功效，將於參照圖式的實施方式中清楚地呈現，其中： 圖1是一示意圖，說明一現有的測試裝置； 圖2是一立體分解圖，說明本發明電性測試裝置之一第一實施例； 圖3是一示意圖，說明使用該第一實施例配合一驅動設備而對一待測之電子元件進行電性測試的情況； 圖4是一不完整的剖視圖，說明該第一實施例之一導接單元，及該第一實施例之一定位單元的其中一個定位件及其中一個內撐件； 圖5是一不完整的剖視圖，說明該定位單元之一限位板； 圖6是一示意圖，說明使用本第一實施例對該電子元件執行測試的情況； 圖7是一示意圖，說明該電子元件之多個電性接點為平板狀的實施態樣； 圖8是一示意圖，說明使用本第一實施例對該電子元件執行測試的另一種情況；及 圖9是一立體分解圖，說明本發明電性測試裝置之一第二實施例。

3:本體單元

300:設置空間

31:框板

311:定位孔

312:穿設孔

4:導接單元

41:基底

42:導接件

5:定位單元

51:限位板

510:通槽

511:對位孔

512:通孔

52:定位件

521:穿伸部

522:彎折部

53:內撐件

L:輔助線

Claims (9)

1. 一種電性測試裝置，包含： 一本體單元，包括一圍繞界定出一設置空間的框板，該框板具有多個呈貫穿狀的定位孔，及多個與該等定位孔相間隔的穿設孔； 一導接單元，固定於該設置空間中，並包括一以絕緣材料製成的基底，及多個自該基底向外延伸的導接件，每一該導接件能沿一朝向該基底之形變方向產生一可恢復原狀的最大形變量；及 一定位單元，安裝於該本體單元，並包括 至少一限位板，每一該限位板具有多個用以供該等導接件穿伸的通槽、多個位置分別對應該等定位孔的對位孔，及多個位置分別對應該等穿設孔的通孔， 多個定位件，設置於該等定位孔及該等對位孔而用以定位該至少一限位板，及 多個內撐件，分別穿設於該等穿設孔且通過對應之該等通孔，每一個該內撐件具有一設置於個別之該穿設孔及個別之該通孔的銷部，及至少一繞設於該銷部且頂抵於該至少一限位板的彈性部，該等內撐件之該等彈性部使該至少一限位板能在一與該框板維持一段設定距離的初始位置，及一與該框板接觸的極限位置間移動。
2. 如請求項1所述的電性測試裝置，其中，該至少一限位板在該初始位置時，該等導接件經由該等通槽延伸至該至少一限位板外的一凸伸長度與該設定距離的總和，不大於該等導接件的該最大形變量。
3. 如請求項1所述的電性測試裝置，其中，該至少一限位板在該初始位置時，該設定距離不大於該等導接件的該最大形變量。
4. 如請求項2或3所述的電性測試裝置，其中，該導接單元之該等導接件是沿一輔助線往相反兩側以遠離該基底的方向延伸，而該定位單元包括位於該導接單元之相反兩側的二個所述限位板。
5. 如請求項4所述的電性測試裝置，其中，該本體單元還包括二沿該輔助線分別自相反兩側封擋該基底，且形成有多個供該等導接件穿伸之槽孔的封裝板。
6. 如請求項4所述的電性測試裝置，其中，該定位單元的每一該定位件具有一伸置於個別之該定位孔及個別之該對位孔中的穿伸部，及一自該穿伸部彎折且用以搭接於該至少一限位板的彎折部。
7. 如請求項1所述的電性測試裝置，其中，每一該限位板之每一該通槽的橫截面，是呈現由外側逐漸往內側漸擴的型態。
8. 如請求項1至3任一項所述的電性測試裝置，其中，該本體單元之該框板還包括多個分別設置於該等穿設孔中且形成有一孔徑小於該穿設孔之孔洞的凸環部，每一該內撐件的該彈性部是頂抵於個別之該凸環部與該至少一限位板之間。
9. 如請求項8所述的電性測試裝置，其中，該定位單元之每一個該內撐件的該彈性部為壓縮彈簧。