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TWI868230B - 光學用雙軸延伸塑膠膜、偏光板、影像顯示裝置及雙軸延伸塑膠膜之選擇方法 - Google Patents

光學用雙軸延伸塑膠膜、偏光板、影像顯示裝置及雙軸延伸塑膠膜之選擇方法 Download PDF

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TWI868230B
TWI868230B TW109134167A TW109134167A TWI868230B TW I868230 B TWI868230 B TW I868230B TW 109134167 A TW109134167 A TW 109134167A TW 109134167 A TW109134167 A TW 109134167A TW I868230 B TWI868230 B TW I868230B
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biaxially stretched
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TW109134167A
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久保田翔生
石井憲雄
黒田剛志
瀬川裕章
牛山章伸
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日商大日本印刷股份有限公司
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Abstract

本發明提供一種不提高面內相位差便可抑制利用偏光太陽鏡或偏光護目鏡等進行視認時之黑視的光學用雙軸延伸塑膠膜、偏光板及影像顯示裝置，並且，本發明提供一種光學用雙軸延伸塑膠膜之選擇方法。 本發明係一種光學用雙軸延伸塑膠膜，其具有滿足下述條件1及條件2之區域。 ＜條件1＞ 以100個測定點分別算出特定之測定1中所獲得之亮度、與特定之測定2中所獲得之亮度之差（L1.n－L2.n），從100點測定點之亮度差算出的「亮度差之偏差3σ」為100以上。 ＜條件2＞ 面內相位差（Re）為2500 nm以下。

Description

光學用雙軸延伸塑膠膜、偏光板、影像顯示裝置及雙軸延伸塑膠膜之選擇方法
本發明係關於一種光學用雙軸延伸塑膠膜、偏光板、影像顯示裝置及雙軸延伸塑膠膜之選擇方法。
液晶顯示元件及有機EL元件用於各種電子機器以在視覺上傳輸資訊。該等顯示元件不僅於室內使用，近年來，由於智慧型手機及數位標誌之普及，於室外使用之機會逐漸增多。
視認者於液晶顯示元件視認透射光射出側之偏光子之光，於有機EL元件視認透過設置得較發光層靠近視認者側以防止外界光之反射之偏光子的光。因此，視認者於液晶顯示元件及有機EL元件之任一者均視認經偏光之光。
如此，若影像顯示裝置用於室外，則配戴了偏光太陽鏡或偏光護目鏡等之視認者便有機會與由經偏光之光所形成之資訊接觸。此時，若透過視認者側之偏光子的光之振動面與偏光太陽鏡或偏光護目鏡等之偏光子之吸收軸正交，則自該等影像顯示裝置發出之光被偏光太陽鏡或偏光護目鏡等遮蔽，視認者將液晶顯示元件視認成漆黑，即成為所謂之黑視狀態。偏光太陽鏡或偏光護目鏡不僅於室外配戴，有時亦於室內配戴，因此消除黑視是重要的。
為了消除黑視，揭示了一種使用高分子膜，將偏光板之偏光子之吸收軸與高分子膜之慢軸所成之角度設置成大概45度之方法(專利文獻1)。
專利文獻1揭示了一種液晶顯示裝置，其將影像顯示裝置之光源設為特定之白色光源、使延伸塑膠膜之面內相位差(Re，延遲)提高至3000nm以上且30000nm以下、以及以大概45度配置偏光子之吸收軸與延伸塑膠膜之慢軸，藉此可消除利用偏光太陽鏡或偏光護目鏡等進行視認時之黑視。
然而，專利文獻1之手段需要使用面內相位差較大之延伸塑膠膜。並且，面內相位差較大之延伸塑膠膜通常為單軸延伸，因此存在容易在延伸方向上裂開、在與延伸方向垂直的方向上較強地殘留彎曲慣性力等問題。
先前技術文獻
專利文獻
專利文獻1：日本特開2011-107198號
本發明之課題在於提供一種不提高面內相位差便可抑制利用偏光太陽鏡或偏光護目鏡等進行視認時之黑視的光學用雙軸延伸塑膠膜、偏光板及影像顯示裝置。
本發明人等進行了努力研究，結果發現藉由將下述「亮度差之偏差3σ」設為100以上，將面內相位差(Re)設為2500nm以下，可解決上述課題。
本發明提供一種下述之光學用雙軸延伸塑膠膜、使用其之功能性膜、偏光板及影像顯示裝置以及光學用雙軸延伸塑膠膜之選擇方法。
[1]一種光學用雙軸延伸塑膠膜，其具有滿足下述<條件1>及下述<條件2>之區域：<條件1> 以100個測定點算出下述測定1中所獲得之亮度與下述測定2中所獲得之亮度的亮度差(L1.n-L2.n)，從100個測定點之亮度差算出的「亮度差之偏差3σ」為100以上；《測定1》製作於面光源上依序配置第1偏光子、光學用雙軸延伸塑膠膜及第2偏光子而成之第1測定樣品，於第1測定樣品中，將該光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，使該第1測定樣品之面光源進行白顯示，以在任意第1區域內等間隔設定的縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光的亮度，自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L1.1，將第100個測定點之亮度定義為L1.100，將第n個測定點之亮度定義為L1.n；《測定2》準備於與該測定1相同之面光源上依序配置該第1偏光子及該第2偏光子而成之第2測定樣品，於第2測定樣品中，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，使該第2測定樣品之面光源進行白顯示，以在與該第1測定區域大致一致之區域內等間隔設定的縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光之亮度，自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L2.1，將第100個測定點之亮度定義為L2.100，將第n個測定點之亮度定義為L2.n；<條件2>面內相位差(Re)為2500nm以下。
[2]如[1]之光學用雙軸延伸塑膠膜，其中，相對於厚度方向之相位差的面內相位差為0.10以下。
[3]如[1]或[2]之光學用雙軸延伸塑膠膜，其膜厚為20μm以上且200μm以下。
[4]一種功能性膜，其係於[1]至[3]中任一項之光學用雙軸延伸塑膠膜之單面具有功能層而成。
[5]一種偏光板，其具有偏光子、配置於該偏光子之一側而成的第1透明保護板及配置於該偏光子之另一側而成的第2透明保護板，該第1透明保護板及該第2透明保護板之至少一者為[1]至[3]中任一項之光學用雙軸延伸塑膠膜。
[6]一種影像顯示裝置，其具有顯示元件及配置於該顯示元件之光射出面側而成之塑膠膜，該塑膠膜為[1]至[3]中任一項之光學用雙軸延伸塑膠膜。
[7]如[6]之影像顯示裝置，其於該顯示元件與該塑膠膜之間具有偏光子。
[8]如[6]或[7]之影像顯示裝置，其於該光學用雙軸延伸塑膠膜之與該顯示元件相反側進而具有功能層。
[9]一種影像顯示裝置，其於顯示元件之光射出面上具有第1偏光子及光學用雙軸延伸塑膠膜，且係該光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向與該第1偏光子之吸收軸的方向配置成大致垂直而成，該光學用雙軸延伸塑膠膜具有滿足下述<條件1B>及下述<條件2B>之區域：<條件1B>以100個測定點算出下述測定1B中所獲得之亮度與下述測定2B中所獲得之亮度的亮度差(L1.n-L2.n)，根據100個測定點之亮度差算出的「亮度差之偏差3σ」為100以上；《測定1B》製作於該顯示元件上依序配置該第1偏光子、該光學用雙軸延伸塑膠膜及第2偏光子而成之第1B測定樣品，於第1B測定樣品，將該光學用雙軸延伸塑膠膜之 慢軸的方向配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，使該第1B測定樣品之顯示元件進行白顯示，以在任意第1區域內等間隔設定的縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光之亮度。自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L1.1，將第100個測定點之亮度定義為L1.100，將第n個測定點之亮度定義為L1.n；《測定2B》製作於與該測定1B相同之顯示元件上依序配置該第1偏光子及該第2偏光子而成之第2B測定樣品，於第2B測定樣品中，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，使該第2B測定樣品之顯示元件進行白顯示，以在與該第1測定區域大致一致之區域內等間隔設定的縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光之亮度，自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L2.1，將第100個測定點之亮度定義為L2.100，將第n個測定點之亮度定義為L2.n；<條件2B>面內相位差(Re)為2500nm以下。
[10]一種光學用雙軸延伸塑膠膜之選擇方法，其係於顯示元件之光射出面側的面上具有光學用雙軸延伸塑膠膜之影像顯示裝置的雙軸延伸塑膠膜之選擇方法，以具有滿足條件1及條件2之區域作為判定條件，將滿足該判定條件者選擇為光學用雙軸延伸塑膠膜。
本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜、使用其之功能性膜、偏光板及 影像顯示裝置不提高面內相位差便可抑制利用偏光太陽鏡或偏光護目鏡等進行視認時之黑視。
1:面光源
1A:顯示元件
2:第1偏光子
2A:最靠近視認者側之偏光子(第1偏光子)
3:第2偏光子
3A:偏光太陽鏡(第2偏光子)
4:第1測定樣品
5:第2測定樣品
10:光學用雙軸延伸塑膠膜
10C:光學用雙軸延伸塑膠膜10之邊部
10D:與10C對應之邊部
10E:光學用雙軸延伸塑膠膜10之彎曲部
20:成像亮度計
21:第1個第1測定樣品
22:第2個第1測定樣品
23:第3個第1測定樣品
24:對角線
30:視認者
40:低折射率層
60:被配置成彼此平行之固定部
Re1~5:條件2之測定點
[圖1]係表示算出「亮度差之偏差3σ」時之測定形態之示意圖。
[圖2]係表示算出「亮度差之偏差3σ」時之測定形態之示意圖。
[圖3]係表示算出「亮度差之偏差3σ」時之測定區域之例的示意圖。
[圖4]係表示測定區域之例之示意圖。
[圖5]係用以對條件2~4中之5個部位之測定點進行說明之俯視圖。
[圖6]係示意性地表示連續摺疊試驗之情況之圖。
[圖7]係將本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜應用於液晶顯示元件之示意圖。
[圖8]係將本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜應用於有機EL元件之示意圖。
[圖9]係用以對條件A之[+αB-(-αB)]、[+αG-(-αG)]及[+αR-(-αR)]進行說明之圖。
以下，對本發明之實施形態進行說明。
[光學用雙軸延伸塑膠膜]
本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜具有滿足下述條件1及條件2之區域(以下，亦有時稱為「測定區域」)。
<關於測定條件>
<條件1>
條件1之「亮度差之偏差3σ」係使用以下測定1中所獲得之L1.n及測定2中所 獲得之L2.n而求出。再者，於本說明書中，所謂3σ意指統計學中所使用之3σ。統計學之3σ意指相對於自柱狀圖所獲得之常態分佈曲線之區域100%，測定資料以99.7%之機率存在於±3σ之區域。即，意指於條件1中，100個測定點之亮度差之柱狀圖之±3σ之區域為100以上。又，於本說明書中，所謂「亮度」意指藉由下述測定步驟所檢測出之光之能量，且為無因次數值。
《測定1》
使用圖1、3及4對作為第n個測定點之亮度之L1.n之測定方法進行說明。
如圖1所示，將本案發明之光學用雙軸延伸塑膠膜(10)按照面光源(1)、第1偏光子(2)、光學用雙軸延伸塑膠膜(10)、第2偏光子(3)之順序進行重疊。將其作為第1測定樣品(4)。
第1測定樣品係光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直。於本說明書中，所謂大致垂直，只要無特別說明，便意指90度±5度以內，較佳為90度±3度以內，更佳為90度±1度以內。
繼而，於與面光源之表面相距750mm之處設置成像亮度計20。再者，該第2偏光子亦可配置於成像亮度計20之正前。即，光學用雙軸延伸塑膠膜與第2偏光子亦可不相接。
繼而，將該第2偏光子上之任意區域設為測定1之測定區域，如圖3所示，在測定區域均勻地設定縱橫100×100個合計10000點測定點。將測定1之測定區域稱為「第1測定區域」。任意區域較佳為100mm×100mm，但於如行動機器般小型顯示元件之情形時，亦可設為進而狹窄之區域。自該橫100列中選擇任意1列，將最左側之一塊設為第1個測定點，將最右側之一塊設為第100個測定點而定義出第1個測定點至第100個測定點。藉由上述成像亮度計對該各測定點之亮度進行測定。將第1個測定點之亮度設為L1.1，將第100個測定點之亮度設為L1.100，將 第1測定樣品中之第n個測定點之亮度設為L1.n。
如圖3所示，測定1之縱橫100×100個測定點之縱向及橫向依照第1測定樣品之縱向及橫向。同樣地，測定2之縱橫100×100個測定點之縱向及橫向依照第2測定樣品之縱向及橫向。只要第1測定樣品及第2測定樣品之俯視形狀為長方形或正方形，便容易認定縱向及橫向。再者，無需判別縱向與橫向。
於第1測定樣品及第2測定樣品之俯視形狀為長方形或正方形以外之形狀(圓形、三角形等)之情形時，只要繪製不自該等樣品之外框形狀突出且面積成為最大之長方形或正方形，基於所繪製之長方形或正方形來認定縱向或橫向即可。
再者，亮度係於暗室內測定。
第1偏光子較佳為配置成第1偏光子之吸收軸與面光源之橫向或縱向大致平行。於本說明書中，所謂大致平行意指偏光子之吸收軸與該面光源之橫向或縱向之差為±5度以內，較佳為±3度以內，進而較佳為±1度以內。
面光源之橫向及縱向之判別係依照上述第1測定樣品及第2測定樣品之橫向及縱向之判別。將第1偏光子之吸收軸的方向、與面光源之左右方向或上下方向所成之角配置成大致平行係考慮到通用影像顯示裝置之光射出面側之偏光子係如此配置。
再者，於測定1中，關於與鄰接之測定點之亮度變動超過30%之測定點，視為由構成第1測定樣品之構件之局部缺陷所引起，自測定結果排除。於存在此種異常點之情形時，基於異常點以外之點來算出條件1之3σ。下述測定2亦同樣如此。再者，所謂鄰接之測定點，例如於圖3之第1個測定點之情形時為第2個測定點，於第5個測定點之情形時為第4個及第6個測定點。
算出「亮度差偏差3σ」時所使用之亮度之測定點之數量較佳為10以上，更佳為20以上，更佳為30以上，更佳為40以上，更佳為50以上，更佳為70 以上，更佳為90以上。若用於算出之亮度之值較少，則變得無法反映出第1測定樣品之性質，故欠佳。
上述測定點之數量於小型顯示裝置中尤其較佳。
另一方面，於20英吋以上(進而50英吋以上)之大型顯示裝置之情形時，為了良好地測定偏差，測定點之數量較佳為80以上，更佳為90以上。
亮度之測定點之數量之上限為100。亮度之測定點之數量最佳為100，為了充分地反映第1測定樣品之性質，較佳為80以上。
光學用雙軸延伸塑膠膜例如存在為片狀形態(參照圖4)之情況、及為捲筒狀形態之情況。條件1之測定可直接使用片狀或捲筒狀之光學用雙軸延伸塑膠膜，但於容易捲回、或因光學用雙軸延伸塑膠膜較大而無法設置於測定裝置之情形時，亦可切為縱100mm以上×橫100mm以上之大小(以下，稱為測定樣品)，將在上下左右距離其輪廓1mm以上內側之縱100mm×橫100mm之區域設為測定區域。對樣品之內側之區域進行測定之原因在於考慮到如下情況：於切割樣品時，容易對塑膠膜之邊緣附近施加應力，因此存在樣品之邊緣附近之光軸發生應變之情況。於圖4中，示出了自片狀之光學用雙軸延伸塑膠膜10切出第1個~第3個樣品(21、22、23)之例。
於切出而使用之情形時，可自光學用雙軸延伸塑膠膜之任何場所進行切出，但於可確認片及捲筒之縱及橫之方向性之情形時，沿著已確認之縱向及橫向切出樣品。例如於捲筒之情形時，可將捲筒之行進方向(MD方向)視為縱向，將捲筒之寬度方向(TD方向)視為橫向。又，於可確認片之行進方向及寬度方向之情形時，可將行進方向視為縱向，將寬度方向視為橫向。於難以確認片之行進方向及寬度方向且片為長方形或正方形之情形時，只要以構成長方形或正方形之四邊來確認縱及橫之方向性即可。於難以確認片之行進方向及寬度方向且片為長方形或正方形以外之形狀(圓形、三角形等)之情形時，只要繪製不自片之 外框形狀突出且面積成為最大之長方形或正方形，以所繪製之長方形或正方形所具有之邊來確認縱及橫之方向性即可。又，於片狀之光學用雙軸延伸塑膠膜之情形時，較佳為自中央附近切出樣品，於捲筒狀之光學用雙軸延伸塑膠膜之情形時，較佳為自捲筒之寬度方向之中央附近切出樣品。
上述條件1之取樣之實施形態可應用於下述條件2之取樣之實施形態(但，於條件2中，樣品之大小為100mm×100mm)。
再者，於光學用雙軸延伸塑膠膜被組入於市售之影像顯示裝置內之情形時，可將影像顯示裝置進行分解，自配置於顯示元件上之積層體將光學用雙軸延伸塑膠膜進行剝離等而取出，從而對所取出之光學用雙軸延伸塑膠膜評價是否滿足條件1及2。
於測定1及測定2中，亮度係以如下之方式測定者。如上所述，測定1及測定2中之亮度意指藉由以下測定步驟所檢測出之光之能量，且為無因次數值。
測定1及測定2中之測定之環境設為溫度23℃±5℃、相對濕度40%RH以上且65%RH以下。又，於實施測定1及測定2之前，將第1測定樣品及第2測定樣品在該環境中靜置30分鐘以上。
《測定1之測定步驟》
使第1測定樣品之面光源進行白顯示。
測定裝置使用Cybernet公司之商品號「Prometric PM1423-1，成像亮度計，CCD分辨率：1536×1024」。將第1測定樣品與該成像亮度計以圖1之位置關係進行設置。將相機與面光源之距離設為750mm。
繼而，實施下述「測定前之設定」及「曝光時間之調整」，然後實施下述「測定及解析」。測定係於暗室環境下實施。
<測定前之設定>
(1)將該成像亮度計連接於個人電腦，啟動個人電腦內之該成像亮度計之配套軟體(RADIANT IMAGING Prometric 9.1 Version9.1.32)。
(2)當啟動該軟體時，該成像亮度計內之CCD溫度被自動調整為藍色顯示(-10℃)。等待直至CCD溫度穩定在-10℃為止。
(3)於該軟體之「測定設置」中指定「Color,1x1 binning」。
(4)將透鏡之光圈設定之刻度盤設為1.8，對焦於第2偏光子。
<曝光時間之調整>
實施該軟體之「曝光時間之調整」。具體而言，按照Y(綠)、X(紅)、Z(藍)之順序點擊「調整」，然後進行保存。曝光時間之調整係於每次測定樣品時實施。
<測定及解析>
選擇工具列之「聚焦模式」，確認測定對象區域已映入聚焦模式之影像中。
點擊「執行測定」而實施測定。保存測定結果。
自工具列中選擇「工具」及「處理測定資料」。繼而，自「選擇處理內容」之下拉選單中選擇「切取範圍」。繼而，指定相當於樣品之100mm×100mm之範圍，並進行保存。將該保存資料稱為「保存資料1」。(再者，於如行動機器般為小型顯示元件之情形時，亦可指定較100mm×100mm更窄之範圍；例如於小型顯示元件之情形時，亦可指定30mm×100mm、30mm×70mm、30mm×50mm、30mm×30mm等範圍；又，於小型顯示元件之情形時，亦可在與元件之形狀對應之大小及形狀內指定範圍)
打開保存資料1。繼而，自工具列中選擇「工具」及「測定資料之導出」。繼而，將資料之種類選擇為「亮度」，將解析度設為「X：100，Y：100」，將輸出形式設為「XY表」而導出excel表格資料。
藉由上述步驟，可獲得縱橫100×100個測定點之亮度資料。藉由自測定結果抽選任意橫向一行100點，可獲得圖3所示之100點之亮度資料(L1.n，測定1之亮 度)。
《測定2之測定步驟》
只要於測定1之測定步驟中，將「第1測定樣品」及「L1.n，測定1之亮度」換讀為「第2測定樣品」及「L2.n，測定2之亮度」，便成為測定2之測定步驟。
《測定2》
使用圖2、3及4對作為第n個測定點之亮度之L2.n之測定方法進行說明。
使用自測定1之第1測定樣品中去除了光學用雙軸延伸塑膠膜之第2測定樣品，除了去除光學用雙軸延伸塑膠膜以外，均同樣地測定亮度。使作為測定2之測定區域之第2測定區域與作為測定1之測定區域之第1測定區域大致一致。本說明書中之大致一致意指測定區域之差異為0.5mm以內，較佳為0.3mm以內，更佳為0.1mm以內。
與使用圖3在測定1中所說明之內容同樣地設定100點測定點，於各點處測定亮度。第2測定樣品中之第1個測定點與第1測定樣品中之第1個測定點大致一致，將亮度設為L2.1，第2測定樣品中之第100個測定點與第1測定樣品中之第100個測定點大致一致，將亮度設為L2.100，將第2測定樣品中之第n個測定點之亮度設為L2.n。
再者，使測定2之L2.n之橫向一行與測定1之L1.n之任意橫向一行一致。例如於測定1之L1.n之任意橫向一行為第50列之橫向一行之情形時，測定2之L2.n之任意橫向一行亦設為第50列之橫向一行。
計算該測定1中所獲得之第1個測定點處之亮度與測定2中所獲得之第1個測定點處之亮度的亮度差。藉由相同方式對直至第100個測定點為止之100點分別算出亮度差，基於所獲得之100點之亮度差算出「亮度差偏差3σ」。
為了確認而記載如下：於測定2中，依序重疊面光源(1)、第1偏光子(2)、第2偏光子(3)。此時，將第2偏光子之吸收軸的方向配置成與該第1偏光子之吸 收軸的方向大致垂直。
再者，關於本案中之上限值及下限值之值，可將所記載之值進行適宜組合而表示將其等作為最大值及最小值之範圍。
條件1規定「亮度差偏差3σ」為100以上。
L1.n及L2.n係包含背光源之特性及環境因素等之值，因此本發明之條件1係使用作為L1.n與L2.n之差之亮度差(L1.n-L2.n)而算出「亮度差偏差3σ」。
若「亮度差偏差3σ」為100以上，則不產生黑視，或其影響較弱，而可在配戴偏光太陽鏡或偏光護目鏡等之狀態下讀取使用了光學用雙軸延伸塑膠膜之智慧型手機等之資訊。因此，「亮度差偏差3σ」之下限值需要為100以上，較佳為105以上，更佳為110以上。另一方面，有如下情況：若使「亮度差偏差3σ」變得過大，則容易產生機械強度之降低等缺陷，又，產生由濕度等引起之光學用雙軸延伸塑膠膜之皺褶、由應變引起之彩虹狀不均等。因此，上限值較佳為800以下，更佳為600以下，更佳為500以下，更佳為450以下。
藉由滿足下述條件3及4，可容易滿足條件1。
關於條件1之亮度差之偏差3σ之較佳之範圍，例如可列舉：100以上且800以下、100以上且600以下、100以上且500以下、100以上且450以下、105以上且800以下、105以上且600以下、105以上且500以下、105以上且450以下、110以上且800以下、110以上且600以下、110以上且500以下、110以上且450以下。
條件1之亮度差之偏差3σ係根據100行中之任意橫向一行而算出。於本實施形態中，滿足條件1之行較佳為100行中之50行以上，更佳為70行以上，更佳為90行以上，更佳為95行以上，更佳為100行。
用於算出「亮度差偏差3σ」之L1.n之下限較佳為80以上，更佳為100以上。又，L1.n之上限較佳為1200以下，更佳為1000以下，進而較佳為500以下。
作為L1.n之較佳之範圍，可列舉：80以上且1200以下、100以上且1000以下、80以上且500以下、100以上且1200以下、100以上且1000以下、100以上且500以下。
又，L1.n之100點之平均值之下限較佳為150以上，更佳為200以上，進而較佳為250以上，上限較佳為800以下，更佳為600以下，進而較佳為500以下。藉由將L1.n之100點之平均值設為該範圍，可容易滿足條件1。
用於算出「亮度差偏差3σ」之L2.n之下限較佳為20以上，更佳為30以上。又，L2.n之上限較佳為600以下，更佳為500以下，進而較佳為300以下。
作為L2.n之較佳之範圍，可列舉：20以上且600以下、30以上且600以下、20以上且500以下、30以上且500以下、20以上且300以下、30以上且300以下。
又，L2.n之100點之平均值之下限較佳為20以上，更佳為30以上，上限較佳為600以下，更佳為500以下，進而較佳為300以下。藉由將L2.n之100點之平均值設為該範圍，可容易滿足條件1。
面光源只要為能夠進行白顯示者，便無特別限定。再者，使面光源進行白顯示時之色溫之下限較佳為5000K以上，更佳為6000K以上，進而較佳為6500K以上，上限較佳為13000K以下，更佳為12000K以下，進而較佳為11000K以下。藉由將白顯示之色溫設為該範圍，可容易使測定結果均質化。
關於面光源，例如可使用液晶顯示裝置、有機EL顯示裝置等通用影像顯示裝置。然而，於影像顯示裝置在顯示元件上具有視認側偏光子之情形時，將去除視認側偏光子而成者視為面光源。其原因在於視認側偏光子可能成為第1偏光子。又，於面光源為液晶顯示裝置之情形時，作為液晶顯示裝置之背光源，可列舉使用量子點之背光源、使用白色發光二極體之背光源。
第1偏光子較佳為另外準備，而非市售之影像顯示裝置之顯示元件上所配置之偏光子。再者，於可將市售之影像顯示裝置之顯示元件上所配置之偏光子以良 好之狀態取出之情形時，亦可將所取出之偏光子用作第1偏光子。
關於在面光源上配置第1偏光子而自第1偏光子側射出之透射光之亮度，以自測定2中去除第2偏光子而成之測定區域中之100點之平均值計，下限較佳為15000以上，更佳為17000以上，更佳為18000以上，更佳為20000以上，上限較佳為60000以下，更佳為50000以下，更佳為40000以下，更佳為38000以下。若為該範圍，則可再現性較高地算出「亮度差之偏差3σ」。
作為該透射光之亮度之較佳之範圍，可列舉：15000以上且60000以下、15000以上且50000以下、15000以上且40000以下、15000以上且38000以下、17000以上且60000以下、17000以上且50000以下、17000以上且40000以下、17000以上且38000以下、18000以上且60000以下、18000以上且50000以下、18000以上且40000以下、18000以上且38000以下、20000以上且60000以下、20000以上且50000以下、20000以上且40000以下、20000以上且38000以下。
關於在面光源上配置第1偏光子而自第1偏光子側射出之透射光之亮度之3σ，以根據自測定2中去除第2偏光子而成之測定區域中之100點算出之值計，下限較佳為1000以上，更佳為1300以上，更佳為1500以上，上限更佳為10000以下，更佳為8000以下，更佳為7000以下。如上所述，藉由使「亮度差之偏差3σ」獲取差，而將面光源等之影響排除，藉由將該透射光之亮度之3σ設為該範圍，可再現性較高地算出「亮度差之偏差3σ」。
作為該透射光之亮度之3σ之較佳之範圍，可列舉：1000以上且10000以下、1000以上且8000以下、1000以上且7000以下、1300以上且10000以下、1300以上且8000以下、1300以上且7000以下、1500以上且10000以下、15000以上且8000以下、1500以上且7000以下。
又，為了容易抑制彩虹狀不均，面光源較佳為滿足以下條件A者。滿足條件A意指分別存在於藍色之波長區域、綠色之波長區域、及紅色之波長區 域的強度之波峰之半峰全幅值之至少任一者為規定值以上(10nm以上)。
圖9係用以對條件A之[+αB-(-αB)]、[+αG-(-αG)]及[+αR-(-αR)]進行說明之圖。再者，圖9之分光光譜係通用有機EL元件之面光源之分光光譜。
<條件A>
對於在面光源上配置第1偏光子而自第1偏光子側沿垂直方向射出之光L1之強度，以波長每1nm為單位進行測定。將藍色之波長區域設為400nm以上且未達500nm，將綠色之波長區域設為500nm以上且未達570nm，將紅色之波長區域設為570nm以上且780nm以下。將該L1之藍色之波長區域之最大強度設為Bmax，將該L1之綠色之波長區域之最大強度設為Gmax，將該L1之紅色之波長區域之最大強度設為Rmax。
將表示該Bmax之波長設為L1λB，將表示該Gmax之波長設為L1λG，將表示該Rmax之波長設為L1λR。
將作為表示該Bmax之1/2以下之強度之波長且位於L1λB之負方向側的最小波長設為-αB，將作為表示該Bmax之1/2以下之強度之波長且位於L1λB之正方向側的最小波長設為+αB，將作為表示該Gmax之1/2以下之強度之波長且位於L1λG之負方向側的最大波長設為-αG，將作為表示該Gmax之1/2以下之強度之波長且位於L1λG之正方向側之最小波長設為+αG，將作為表示該Rmax之1/2以下之強度之波長且位於L1λR之負方向側的最大波長設為-αR，將作為表示該Rmax之1/2以下之強度之波長且位於L1λR之正方向側的最大波長設為+αR。
[+αB-(-αB)]、[+αG-(-αG)]及[+αR-(-αR)]之至少任一者顯示為10nm以上。
條件A更佳為[+αB-(-αB)]、[+αG-(-αG)]及[+αR-(-αR)]中之2個以上顯示為10nm以上。進而較佳為3個全部顯示為10nm以上。
[+αB-(-αB)]更佳為15nm以上，進而較佳為17nm以上。[+αB -(-αB)]較佳為70nm以下，更佳為50nm以下，進而較佳為30nm以下。
[+αG-(-αG)]更佳為15nm以上，進而較佳為20nm以上。[+αG-(-αG)]較佳為70nm以下，更佳為50nm以下，進而較佳為45nm以下。
[+αR-(-αR)]更佳為15nm以上，進而較佳為20nm以上，進而較佳為30nm以上。[+αR-(-αR)]較佳為70nm以下，更佳為65nm以下，進而較佳為60nm以下。
<條件2>
面內相位差(Re)係對自縱100mm×橫100mm之樣品之四角朝向中央部前進了10mm處之4個部位、及該樣品之中央部合計5個部位之面內相位差進行測定(圖5之黑圓點)。將該5個部位之面內相位差分別定義為Re1、Re2、Re3、Re4、Re5時，Re1~Re5之平均值為2500nm以下。該面內相位差(Re)係於各點基於以下值藉由下述式(1)而算出之面內相位差之平均值：作為折射率最大之方向之慢軸方向之折射率nx、作為與該慢軸方向正交之方向之快軸方向之折射率ny、及雙軸延伸塑膠膜之厚度T[nm]。再者，於本說明書中，面內相位差及厚度方向之相位差意指於波長550nm之值。又，於雙軸延伸塑膠膜之面內慢軸的方向不均一之情形時，雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向意指雙軸延伸塑膠膜之面內之慢軸之平均方向。
面內相位差(Re)=(nx-ny)×T[nm] (1)
慢軸的方向及面內相位差例如可藉由大塚電子公司(Otsuka Electronics CO.,Ltd.)之商品名「RETS-100」進行測定。
於使用大塚電子公司(Otsuka Electronics CO.,Ltd.)之商品名「RETS-100」對面內相位差(Re)等進行測定之情形時，較佳為按照以下步驟(A1)~(A4)來準備測定。
(A1)首先，為了使RETS-100之光源穩定，而於安裝光源後放 置60分鐘以上。然後，選擇旋轉檢偏器法，並且選擇θ模式(測定角度方向相位差及算出Rth之模式)。藉由選擇該θ模式，載台成為傾斜旋轉載台。
(A2)繼而，向RETS-100中輸入以下測定條件。
(測定條件)
．延遲測定範圍：旋轉檢偏器法
．測定點徑：
Figure 109134167-A0305-12-0018-9
5mm
．傾斜角度範圍：0°
．測定波長範圍：400nm以上且800nm以下
．雙軸延伸塑膠膜之平均折射率。例如於PET膜之情形時，設為N=1.617。再者，塑膠膜之平均折射率N可基於nx、ny及nz，藉由(N=(nx+ny+nz)/3)之式算出。
．厚度：利用SEM或光學顯微鏡另外測得之厚度
(A3)繼而，不對該裝置設置樣品而獲得背景資料。裝置設為封閉系統，於每次點亮光源時實施該內容。
(A4)然後，將樣品設置於裝置內之載台上而進行測定。
條件2將光學用雙軸延伸塑膠膜之Re之值規定為2500nm以下。
由於進行了雙軸延伸，故而本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜之機械強度良好。
又，本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜之Re為2500nm以下，因此縱橫之延伸比率為適當之範圍，可進一步使機械強度變得良好，並且可使耐撕裂性變得良好。又，本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜之Re為2500nm以下，因此亦可有助於塑膠膜之薄膜化。
進而，光學用雙軸延伸塑膠膜亦存在如下情況：若Re過小，則無法獲得充分之機械強度。
為了使Re變大，而需要將塑膠膜高程度地進行延伸。然而，當將塑膠膜高程度地進行延伸時，機械強度產生問題，如塑膠膜之高分子鏈之配向一致而容易在延伸方向上裂開等。因此，本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜之Re之上限值較佳為2500nm以下，更佳為2000nm以下，更佳為1800nm以下，更佳為1600nm以下，更佳為1490nm以下，更佳為1400nm以下，更佳為1200nm以下，更佳為1150nm以下，更佳為1000nm以下，更佳為800nm以下，更佳為600nm以下。
再者，於將光學用雙軸延伸塑膠膜之厚度薄膜化成10μm以上且50μm以下之情形時，Re較佳為1400nm以下。
再者，存在以下情況：若光學用雙軸延伸塑膠膜之面內相位差過小，則即便為雙軸延伸，亦無法使機械強度變得充分。因此，光學用雙軸延伸塑膠膜之面內相位差較佳為20nm以上，更佳為100nm以上，進而較佳為300nm以上，進而更佳為520nm以上。
關於條件2之Re之較佳之範圍，可列舉：20nm以上且2500nm以下、20nm以上且2000nm以下、20nm以上且1800nm以下、20nm以上且1600nm以下、20nm以上且1490nm以下、20nm以上且1400nm以下、20nm以上且1200nm以下、20nm以上且1150nm以下、20nm以上且1000nm以下、20nm以上且800nm以下、20nm以上且600nm以下、100nm以上且2500nm以下、100nm以上且2000nm以下、100nm以上且1800nm以下、100nm以上且1600nm以下、100nm以上且1490nm以下、100nm以上且1400nm以下、100nm以上且1200nm以下、100nm以上且1150nm以下、100nm以上且1000nm以下、100nm以上且800nm以下、100nm以上且600nm以下、300nm以上且2500nm以下、300nm以上且2000nm以下、300nm以上且1800nm以下、300nm以上且1600nm以下、300nm以上且1490nm以下、300nm以上且1400nm以下、300nm以上且1200nm以下、300nm以上且1150nm以下、300nm以上且1000nm以下、300nm以上且800nm以下、 300nm以上且600nm以下、520nm以上且2500nm以下、520nm以上且2000nm以下、520nm以上且1800nm以下、520nm以上且1600nm以下、520nm以上且1490nm以下、520nm以上且1400nm以下、520nm以上且1200nm以下、520nm以上且1150nm以下、520nm以上且1000nm以下、520nm以上且800nm以下、520nm以上且600nm以下。
於片狀之光學用雙軸延伸塑膠膜中，滿足條件1及條件2兩者之測定區域之比率較佳為50%以上，更佳為70%以上，進而較佳為90%以上，進而更佳為100%。
又，於可自捲筒狀之光學用雙軸延伸塑膠膜採取複數個條件1及2之測定之樣品之情形時，較佳為自捲筒之寬度方向之規定位置採取之樣品在捲筒之行進方向之大部分滿足條件。藉由滿足上述構成，只要拾取捲筒之寬度方向之規定位置之光學用雙軸延伸塑膠膜，便可製成發揮本發明之效果之光學用雙軸延伸塑膠膜。即，捲筒狀之光學用雙軸延伸塑膠膜無需在整個寬度方向上滿足條件1及2，只要至少在寬度方向之規定位置滿足條件1及2即可。再者，捲筒狀之塑膠膜之各種物性在寬度方向上容易變化，但在行進方向上各種物性幾乎相同。因此，於自捲筒之寬度方向之規定位置採取之樣品滿足條件1及條件2之情形時，對於寬度方向之位置相同之部位，可假設為在捲筒之整個行進方向上滿足條件1及2者。
進而，於光學用雙軸延伸塑膠膜內，較佳為滿足下述條件3及4之至少任一者。
<條件3>
條件2中所獲得之Re1、Re2、Re3、Re4、Re5之最大值、與Re1~Re5之最小值之差較佳為5nm以上，更佳為30nm以上，更佳為50nm以上。
藉由增大該差，可容易滿足條件4。
又，為了抑制光學特性及機械強度之不均，該差較佳為100nm以下，更佳為70nm以下。
<條件4>
測定條件2之該5個部位之慢軸的方向，將條件2之測定區域之任意1邊與各測定部位之慢軸的方向所成之角度分別定義為D1(Re1之測定點之角度)、D2、D3、D4、D5時，D1~D5之最大值與最小值之差較佳為5.0度以上。再者，所謂「條件2之測定區域之任意1邊」意指條件2之測定樣品(100mm×100mm)之任意1邊。關於任意1邊，只要在D1~D5中全部以相同之邊作為基準即可，可為樣品之縱及橫之任一邊。
條件4規定了D1~D5之最大值、與D1~D5之最小值之差為5.0度以上。若該差為5.0度以上，則於利用偏光太陽鏡或偏光護目鏡等進行視認時，在樣品之區域內不會觀測到黑視或可減輕黑視。
以往之光學用塑膠膜被設計成於狹窄之區域內慢軸的方向不偏移，但滿足條件4之光學用雙軸延伸塑膠膜之構成在以下方面與以往之光學膜不同，即特意於狹窄之區域內使慢軸的方向偏移。所謂狹窄之區域，意指該測定樣品之大小(100mm×100mm)。又，亦可使用削弱延伸之強度，未充分地使慢軸的方向變得一致之光學用雙軸延伸塑膠膜。藉由滿足該條件4，而更容易滿足條件1及2。又，藉由滿足條件4，可容易使下述耐彎折性變得良好。
D1~D5之最大值與D1~D5之最小值之差較佳為6.0度以上，更佳為8.0度以上，進而較佳為10.0度以上。
再者，若D1~D5之最大值與D1~D5之最小值之差過大，則有光學用雙軸延伸塑膠膜之配向性變低，而機械強度降低之傾向。因此，該差較佳為20.0度以下，更佳為17.0度以下，進而較佳為15.0度以下。
於條件4中，關於D1~D5之最大值與最小值之差之較佳之範圍， 例如可列舉：5.0度以上且20.0度以下、6.0度以上且20.0度以下、8.0度以上且20.0度以下、10.0度以上且20.0度以下、5.0度以上且17.0度以下、6.0度以上且17.0度以下、8.0度以上且17.0度以下、10.0度以上且17.0度以下、5.0度以上且15.0度以下、6.0度以上且15.0度以下、8.0度以上且15.0度以下、10.0度以上且15.0度以下。
本發明之一實施形態之光學用雙軸延伸塑膠膜較佳為D1~D5分別為5度以上且30度以下或60度以上且85度以下，更佳為7度以上且25度以下或65度以上且83度以下，進而較佳為10度以上且23度以下或67度以上且80度以下。
藉由將D1~D5分別設為5度以上或85度以下，可容易抑制利用偏光太陽鏡或偏光護目鏡等進行視認時之黑視。又，藉由將D1~D5分別設為30度以下或60度以上，可容易抑制因光學用雙軸延伸塑膠膜之配向性變低導致機械強度降低。
本發明之一實施形態之光學用雙軸延伸塑膠膜較佳為，相對於厚度方向之相位差的面內相位差(面內相位差/厚度方向之相位差)為0.10以下。於本說明書中，有時將相對於厚度方向之相位差的面內相位差表示為「Re/Rth」。Re/Rth例如可如下所述般測定。
將上述樣品之5個部位處所測定之面內相位差分別定義為Re1、Re2、Re3、Re4及Re5，將上述樣品之5個部位處所測定之厚度方向之相位差分別定義為Rth1、Rth2、Rth3、Rth4及Rth5。
光學用雙軸延伸塑膠膜較佳為Re1/Rth1、Re2/Rth2、Re3/Rth3、Re4/Rth4及Re5/Rth5之平均值為0.10以下。
面內相位差與厚度方向之相位差之比(Re/Rth)較小，則意味著雙軸延伸塑膠膜之雙軸之延伸接近均等之雙軸性。因此，藉由將Re/Rth設為0.10以下，可使雙軸延伸塑膠膜之機械強度變得良好。Re/Rth更佳為0.07以下，進而較佳為0.05以下。Re/Rth之下限為0.01左右。
完全單軸性之延伸塑膠膜之Re/Rth為2.0。通用之單軸延伸塑膠膜在行進方 向上亦被稍微延伸。因此，通用之單軸延伸塑膠膜之Re/Rth為1.0左右。
Re1/Rth1、Re2/Rth2、Re3/Rth3、Re4/Rth4及Re5/Rth5較佳為分別為0.10以下，更佳為0.07以下，進而較佳為0.05以下。該等比之下限為0.01左右。
厚度方向之相位差(Rth)係基於以下值而由下述式表示者：作為折射率最大之方向之慢軸方向之折射率nx、作為與該慢軸方向正交之方向之快軸方向之折射率ny、塑膠膜之厚度方向之折射率nz、及塑膠膜之厚度T[nm]。
Rth=((nx+ny)/2-nz)×T[nm]
光學用雙軸延伸塑膠膜之厚度方向之相位差(Rth)較佳為2000nm以上，更佳為3000nm以上，進而較佳為4000nm以上。Rth之上限為10000nm左右，較佳為8000nm以下，更佳為7000nm以下。藉由將Rth設為該範圍，可容易進一步抑制彩虹狀不均。
關於光學用雙軸延伸塑膠膜之Rth之較佳之範圍，可列舉：2000nm以上且10000nm以下、2000nm以上且8000nm以下、2000nm以上且7000nm以下、3000nm以上且10000nm以下、3000nm以上且8000nm以下、3000nm以上且7000nm以下、4000nm以上且10000nm以下、4000nm以上且8000nm以下、4000nm以上且7000nm以下。
為了將光學用雙軸延伸塑膠膜之Rth設為該範圍，較佳為使縱向及橫向之延伸倍率變大。藉由使縱向及橫向之延伸倍率變大，雙軸延伸塑膠膜之厚度方向之折射率nz變小，因此可容易使Rth變大。
<摺疊試驗之詳情>
又，就可改善光學用雙軸延伸塑膠膜之機械強度、例如向延伸方向之易裂開性之方面及可使耐彎折性變得良好之方面而言，較佳為滿足條件1及2。
另一方面，不滿足條件1及2之塑膠膜於彎曲試驗後膜發生斷裂，或較強地殘留彎曲慣性力。具體而言，如專利文獻1之單軸延伸膜，於沿著慢軸進行了彎曲 試驗之情形時，發生了斷裂，於在與慢軸正交之方向上進行了彎曲試驗之情形時，較強地殘留有彎曲慣性力。又，通用之雙軸延伸膜於在與慢軸正交之方向上進行了彎曲試驗之情形時，較強地殘留有彎曲慣性力。
另一方面，就不論彎折方向如何，均可抑制於彎曲試驗後殘留彎曲慣性力、或發生斷裂之方面而言，較佳為本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜。再者，為了容易進一步使耐彎折性變得良好，較佳為塑膠膜滿足條件4。
如圖6(A)所示，於連續摺疊試驗中，首先將光學用雙軸延伸塑膠膜10之邊部10C、及與邊部10C相對之邊部10D利用被平行地配置之固定部60分別進行固定。固定部60可沿水平方向進行滑動移動。
繼而，如圖6(B)所示，藉由使固定部60以彼此接近之方式移動，而使光學用雙軸延伸塑膠膜10以摺疊之方式變形，進而，如圖6(C)所示，使固定部60移動至光學用雙軸延伸塑膠膜10之由固定部60固定之相對之2個邊部之間隔成為10mm之位置後，使固定部60向反向移動而解除光學用雙軸延伸塑膠膜10之變形。
藉由如圖6(A)~(C)所示般使固定部60移動，可將光學用雙軸延伸塑膠膜10摺疊180度。又，以光學用雙軸延伸塑膠膜10之彎曲部10E不自固定部60之下端伸出之方式進行連續摺疊試驗，且將固定部60最接近時之間隔控制為10mm，藉此可使光學膜10之相對之2個邊部之間隔成為10mm。
光學用雙軸延伸塑膠膜較佳為將實施例所示之摺疊試驗進行10萬次後(更佳為進行30萬次後)不產生破裂或斷裂。又，光學用雙軸延伸塑膠膜較佳為將實施例所示之摺疊試驗進行10萬次後(更佳為進行30萬次後)將測定樣品置於水平之台上時，樣品之端部自台上隆起之角度為20度以下，更佳為15度以下。樣品之端部所隆起之角度為15度以下意味著不易產生由摺疊形成之慣性力。又，較佳為於光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向之平均方向、及快軸的方向之 平均方向之任一方向上均顯示上述結果(不產生破裂、斷裂及由摺疊形成之慣性力；試驗後之樣品之端部所隆起之角度為20度以下)者。
再者，單軸延伸塑膠膜於進行摺疊試驗時，在延伸方向上產生斷裂，在與延伸方向正交之方向上較強地殘留彎曲慣性力。
<光學用雙軸延伸塑膠膜>
關於光學用雙軸延伸塑膠膜之積層構成，可列舉單層構造及多層構造，其中，較佳為單層構造。
關於光學用雙軸延伸塑膠膜，為了使機械強度變得良好並且抑制利用偏光太陽鏡或偏光護目鏡等進行視認時之黑視及彩虹狀不均，而需要將「亮度差之偏差3σ」設為100以上，將Re設為2500nm以下。並且，為了使光學用雙軸延伸塑膠膜之面內相位差變小，重要的是使縱向及橫向之延伸接近均勻等細緻的延伸控制。關於細緻的延伸控制，於多層構造中因各層之物性之不同等導致難以進行細緻的延伸控制，但單層構造容易進行細緻的延伸控制，故較佳。
作為構成光學用雙軸延伸塑膠膜之樹脂成分，可列舉：聚酯、聚醯胺、聚醯亞胺、聚醚碸、聚碸、聚丙烯、聚甲基戊烯、聚氯乙烯、聚乙烯縮醛、聚醚酮、聚甲基丙烯酸甲酯、聚碳酸酯、聚胺酯(polyurethane)及非晶質烯烴(COP：Cyclo-Olefin-Polymer，環烯烴聚合物)等。該等中，就容易使機械強度變得良好之方面而言，較佳為聚酯。即，光學用雙軸延伸塑膠膜較佳為聚酯膜。
作為構成聚酯膜之聚酯，可列舉：聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚萘二甲酸乙二酯(PEN)及聚對苯二甲酸丁二酯(PBT)等。該等中，就容易將「亮度差之偏差3σ」設為100以上之方面而言，較佳為PET。
光學用雙軸延伸塑膠膜亦可含有紫外線吸收劑、光穩定劑、抗氧化劑、抗靜電劑、難燃劑、抗膠凝劑及界面活性劑等添加劑。
光學用雙軸延伸塑膠膜之厚度之下限較佳為10μm以上，更佳為 15μm以上，更佳為20μm以上，更佳為25μm以上，更佳為30μm以上，上限較佳為200μm以下，更佳為180μm以下，更佳為150μm以下，更佳為100μm以下，更佳為80μm以下，更佳為60μm以下，更佳為50μm以下。為了薄膜化，光學用雙軸延伸塑膠膜之厚度較佳為50μm以下。
藉由將厚度設為10μm以上，可容易使機械強度變得良好。又，藉由將厚度設為200μm以下，可容易滿足條件2。
關於雙軸延伸塑膠膜之厚度之較佳之範圍，例如可列舉：10μm以上且200μm以下、15μm以上且200μm以下、20μm以上且200μm以下、25μm以上且200μm以下、30μm以上且200μm以下、10μm以上且180μm以下、15μm以上且180μm以下、20μm以上且180μm以下、25μm以上且180μm以下、30μm以上且180μm以下、10μm以上且150μm以下、15μm以上且150μm以下、20μm以上且150μm以下、25μm以上且150μm以下、30μm以上且150μm以下、10μm以上且100μm以下、15μm以上且100μm以下、20μm以上且100μm以下、25μm以上且100μm以下、30μm以上且100μm以下、10μm以上且80μm以下、15μm以上且80μm以下、20μm以上且80μm以下、25μm以上且80μm以下、30μm以上且80μm以下、10μm以上且60μm以下、15μm以上且60μm以下、20μm以上且60μm以下、25μm以上且60μm以下、30μm以上且60μm以下、10μm以上且50μm以下、15μm以上且50μm以下、20μm以上且50μm以下、25μm以上且50μm以下、30μm以上且50μm以下。
光學用雙軸延伸塑膠膜較佳為JIS K7136：2000之霧度為3.0%以下，更佳為2.0%以下，進而較佳為1.5%以下，進而更佳為1.0%以下。
又，光學用雙軸延伸塑膠膜較佳為JIS K7361-1：1997之總光線透射率為80%以上，更佳為85%以上，進而較佳為90%以上。
為了使機械強度變得良好，光學用雙軸延伸塑膠膜更佳為雙軸延 伸聚酯膜。進而，光學用雙軸延伸塑膠膜更佳為聚酯樹脂層之單層構造。
光學用雙軸延伸塑膠膜可藉由使含有構成塑膠膜之成分之樹脂層進行延伸而獲得。延伸之手法可列舉逐次雙軸延伸及同時雙軸延伸等雙軸延伸。光學用雙軸延伸塑膠膜中，較佳為雙軸延伸聚酯膜，更佳為雙軸延伸聚對苯二甲酸乙二酯膜。
-逐次雙軸延伸-
於逐次雙軸延伸中，在使流延膜(casting film)沿行進方向進行延伸後，進行膜之寬度方向之延伸。
行進方向之延伸通常藉由一對延伸輥之周速之差而實施。行進方向之延伸可以1個階段進行，亦可使用複數個延伸輥對而分多個階段進行。為了抑制面內相位差等光學特性之過度不均，較佳為使複數個夾輥(nip roll)接近延伸輥。行進方向之延伸倍率通常為2倍以上且15倍以下，為了抑制面內相位差等光學特性之過度不均，較佳為2倍以上且7倍以下，更佳為3倍以上且5倍以下，進而較佳為3倍以上且4倍以下。
為了抑制面內相位差等光學特性之過度不均，延伸溫度較佳為樹脂之玻璃轉移溫度以上玻璃轉移溫度+100℃以下。於PET之情形時，較佳為70℃以上且120℃以下，更佳為80℃以上且110℃以下，進而較佳為95℃以上且110℃以下。
關於延伸溫度，藉由使膜快速升溫等，使低溫之延伸區間變短，而有面內相位差之平均值變小之傾向。另一方面，藉由使膜緩慢升溫等，使低溫之延伸區間變長，而有如下傾向：配向性變高，面內相位差之平均值變大，並且慢軸之偏差變小。
再者，於延伸時之加熱時，較佳為使用產生亂流之加熱器。藉由以包含亂流之風進行加熱，而於膜面內之細微區域產生溫度差，因該溫度差導致配向軸產生細微差異，從而可容易滿足條件1及條件4。
可藉由線內塗佈(in-line coating)對沿行進方向進行了延伸之膜賦予易滑性、易接著性、抗靜電性等功能。又，亦可於線內塗佈之前視需要實施電暈處理、火焰處理、電漿處理等表面處理。
如此由線內塗佈所形成之塗膜係厚度10nm以上且2000nm以下左右之極薄者(又，該塗膜藉由延伸處理而被拉伸得更薄)。於本說明書中，此種薄層不作為構成光學用雙軸延伸塑膠膜之層之數量被計數。
寬度方向之延伸通常使用拉幅機法，一面利用夾具抓握膜之兩端一面進行搬送而沿寬度方向進行延伸。寬度方向之延伸倍率通常為2倍以上且15倍以下，為了抑制面內相位差等光學特性之過度不均，較佳為2倍以上且5倍以下，更佳為3倍以上且5倍以下，進而較佳為3倍以上且4.5倍以下。又，較佳為使寬延伸倍率高於縱延伸倍率。
延伸溫度較佳為樹脂之玻璃轉移溫度以上且玻璃轉移溫度+120℃以下，較佳為溫度隨著自上游朝向下游而變高。具體而言，於將橫延伸區間分割成2個部分之情形時，上游之溫度與下游之溫度之差較佳為20℃以上，更佳為30℃以上，進而較佳為35℃以上，進而更佳為40℃以上。又，於PET之情形時，第1段之延伸溫度較佳為80℃以上且120℃以下，更佳為90℃以上且110℃以下，進而較佳為95℃以上且105℃以下。
對於如上所述般經逐次雙軸延伸之塑膠膜，為了賦予平面性、尺寸穩定性，較佳為於拉幅機內進行延伸溫度以上且未達熔點之熱處理。具體而言，於PET之情形時，較佳為於150℃以上且255℃以下之範圍內進行熱固定，更佳為200℃以上且250℃以下。又，為了抑制面內相位差等光學特性之過度不均，較佳為於熱處理之前半部分中進行1%以上且10%以下之追加延伸。
於對塑膠膜進行熱處理後，緩冷至室溫後進行捲取。又，亦可視需要於熱處理及緩冷時併用鬆弛處理等。為了抑制面內相位差等光學特性之過度不均，熱處 理時之鬆弛率較佳為0.5%以上且5%以下，更佳為0.5%以上且3%以下，進而較佳為0.8%以上且2.5%以下、進而更佳為1%以上且2%以下。又，為了抑制面內相位差等光學特性之過度不均，緩冷時之鬆弛率較佳為0.5%以上且3%以下，更佳為0.5%以上且2%以下，進而較佳為0.5%以上且1.5%以下，進而更佳為0.5%以上且1.0%以下。為了使平面性變得良好，緩冷時之溫度較佳為80℃以上且150℃以下，更佳為90℃以上且130℃以下，進而較佳為100℃以上且130℃以下，進而更佳為100℃以上且120℃以下。
-同時雙軸延伸-
同時雙軸延伸係將流延膜導入至同時雙軸拉幅機，一面利用夾具抓握膜之兩端一面進行搬送而沿行進方向與寬度方向同時及/或階段性地進行延伸。作為同時雙軸延伸機，有縮放方式、螺桿方式、驅動馬達方式、線性馬達方式，較佳為能夠任意地變更延伸倍率且可於任意場所進行鬆弛處理之驅動馬達方式或線性馬達方式。
同時雙軸延伸之倍率以面積倍率計通常為6倍以上且50倍以下。為了抑制面內相位差等光學特性之過度不均，面積倍率較佳為8倍以上且30倍以下，更佳為9倍以上且25倍以下，進而較佳為9倍以上且20倍以下，進而更佳為10倍以上且15倍以下。於同時雙軸延伸中，較佳為於行進方向之延伸倍率及寬度方向之延伸倍率為2倍以上且15倍以下之範圍內，以成為該面積倍率之方式進行調整。
又，於同時雙軸延伸之情形時，為了抑制面內之配向差，較佳為將行進方向及寬度方向之延伸倍率設為幾乎相同，並且將行進方向及寬度方向之延伸速度亦設為幾乎相同。
為了抑制面內相位差等光學特性之過度不均，同時雙軸延伸之延伸溫度較佳為樹脂之玻璃轉移溫度以上且玻璃轉移溫度+120℃以下。於PET之 情形時，較佳為80℃以上且160℃以下，更佳為90℃以上且150℃以下，進而較佳為100℃以上且140℃以下。
對於經同時雙軸延伸之膜，為了賦予平面性、尺寸穩定性，較佳為繼續於拉幅機內之熱固定室內進行延伸溫度以上且未達熔點之熱處理。該熱處理之條件與逐次雙軸延伸後之熱處理條件相同。
<形態、大小>
光學用雙軸延伸塑膠膜可為切成規定大小而成之單片狀形態，亦可為將長條片捲取成捲筒狀而成之捲筒狀形態。又，單片之大小並無特別限定，最大徑為2英吋以上且500英吋以下左右，於本發明中，較佳為30英吋以上且80英吋以下。所謂「最大徑」係指將光學膜之任意2點連結時之最大長度。例如於光學膜為長方形之情形時，長方形之區域之對角線成為最大徑。又，於光學膜為圓形之情形時，直徑成為最大徑。
捲筒狀之寬度及長度並無特別限定，一般而言，寬度為500mm以上且3000mm以下，長度為100m以上且5000m以下左右。捲筒狀形態之光學膜可根據影像顯示裝置等之大小而切成單片狀來使用。於切割時，較佳為將物性不穩定之卷端部排除。
又，單片之形狀亦無特別限定，例如可為多邊形(三角形、四邊形、五邊形等)、圓形，亦可為無規之不定形。更具體而言，於光學膜為四邊形之情形時，縱橫比係只要作為顯示畫面無問題，便無特別限定。例如可列舉橫：縱=1：1、4：3、16：10、16：9、2：1等。
[功能性膜]
本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜亦可進而形成硬塗層、低折射率層、高折射率層、防眩層、防污層、抗靜電層、阻氣層、防霧層及透明導電層等功能層而作為功能性膜。
即，本發明之功能性膜係於上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜上具有功能層而成者。功能層可於光學用雙軸延伸塑膠膜之至少單面具有，亦可於兩面具有。
為了維持機械特性，並且抑制面內相位差等光學特性之過度不均，良好地抑制黑視，功能性膜之整體厚度較佳為100μm以下，更佳為60μm`下。又，於功能性膜中，雙軸延伸塑膠膜之厚度與功能層之厚度之平衡值較佳為10：4~10：0.5。
關於功能性膜，只要作為基材之光學用雙軸延伸塑膠膜滿足條件1及2即可，進而，較佳為滿足下述條件1A。條件1A之較佳之實施形態與上文所述之條件1之較佳之實施形態相同。又，關於測定1A及測定2A，除了將雙軸延伸塑膠膜變更為功能性膜以外，均與上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜之測定1及測定2相同。
<條件1A>
以100個測定點算出下述測定1A中所獲得之亮度與下述測定2A中所獲得之亮度的亮度差(L1.n-L2.n)，從100個測定點之亮度差算出的「亮度差之偏差3σ」為100以上。
《測定1A》
製作於面光源上依序配置第1偏光子、功能性膜及第2偏光子而成之第1A測定樣品。於第1A測定樣品中，將構成該功能性膜之光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直。
使該第1A測定樣品之面光源進行白顯示，以在任意第1區域內等間隔設定的縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光之亮度。自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定 點之亮度定義為L1.1，將第100個測定點之亮度定義為L1.100，將第n個測定點之亮度定義為L1.n。
《測定2A》
製作於與在該測定1相同之面光源上依序配置該第1偏光子及該第2偏光子而成之第2A測定樣品。於第2A測定樣品中，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直。
使該第2A測定樣品之面光源進行白顯示，以在與該第1測定區域大致一致之區域內等間隔設定的縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光之亮度。自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L2.1，將第100個測定點之亮度定義為L2.100，將第n個測定點之亮度定義為L2.n。
<功能層>
作為功能層，可列舉硬塗層、低折射率層、高折射率層、防眩層、防污層、抗靜電層、阻氣層、防霧層及透明導電層等。功能層可為選自上述層中之一種，亦可為將兩種以上之層進行積層而成者。該等功能層較佳為光學各向同性者。所謂光學各向同性係指面內相位差未達20nm，較佳為10nm以下，更佳為5nm以下。
又，功能層亦可為將上述功能之兩種以上加以複合而成者。即，於本說明書中，硬塗層、低折射率層、高折射率層、防眩層、防污層、抗靜電層、阻氣層、防霧層及透明導電層等各功能層之記述不僅意指具有單一功能之功能層，還意指具有複合功能之功能層。例如，硬塗層包含防污性硬塗層、防眩性硬塗層及高折射率硬塗層等。又，防污層包含防眩性防污層及低折射率防污層等。
作為功能層之具體例，可列舉下述(1)~(9)。再者，於下述(1)~(9)中，左側表示位於光學用雙軸延伸塑膠膜側之層。又，於下述(1) ~(9)中，防污層、硬塗層、高折射率層、低折射率層及防眩層亦可為具有其他功能之複合功能層。例如，(1)、(2)、(7)~(9)之低折射率層較佳為具有防污層。又，(3)之防眩層、(5)之防污層較佳為具有硬塗性。
(1)於硬塗層上具有低折射率層之構成。
(2)於硬塗層上具有高折射率層及低折射率層之構成。
(3)防眩層之單層構成。
(4)於硬塗層上具有防眩層之構成。
(5)防污層之單層構成。
(6)於硬塗層上具有防污層之構成。
(7)於防眩層上具有低折射率層之構成。
(8)於高折射率硬塗層上具有低折射率層之構成。
(9)於硬塗層上具有防眩層及低折射率層之構成。
以下，對作為功能層之代表例之硬塗層、低折射率層、高折射率層、防眩層及防污層進行具體說明。
<硬塗層>
關於作為功能層之一例之硬塗層，為了使耐擦傷性變得良好，較佳為含有熱硬化性樹脂組成物或游離輻射硬化性樹脂組成物等硬化性樹脂組成物之硬化物，更佳為含有游離輻射硬化性樹脂組成物之硬化物。
熱硬化性樹脂組成物係至少含有熱硬化性樹脂之組成物，且係藉由加熱而硬化之樹脂組成物。作為熱硬化性樹脂，可列舉：丙烯酸系樹脂、胺酯(urethane)樹脂、酚系樹脂、脲三聚氰胺樹脂、環氧樹脂、不飽和聚酯樹脂、聚矽氧樹脂等。於熱硬化性樹脂組成物中，除該等硬化性樹脂以外，還視需要添加硬化劑。
游離輻射硬化性樹脂組成物係含有具有游離輻射硬化性官能基 之化合物(以下，亦稱為「游離輻射硬化性化合物」)之組成物。作為游離輻射硬化性官能基，可列舉：(甲基)丙烯醯基、乙烯基、烯丙基等乙烯性不飽和鍵結基、及環氧基、氧雜環丁基(oxetanyl)等。作為游離輻射硬化性化合物，較佳為具有乙烯性不飽和鍵結基之化合物，更佳為具有2個以上之乙烯性不飽和鍵結基之化合物，其中，進而較佳為具有2個以上之乙烯性不飽和鍵結基之(甲基)丙烯酸酯系化合物。作為具有2個以上之乙烯性不飽和鍵結基之(甲基)丙烯酸酯系化合物，可使用單體及低聚物之任一者。
再者，所謂游離輻射意指電磁波或帶電粒子束中具有能夠使分子聚合或交聯之能量量子者，通常可使用紫外線(UV)或電子束(EB)，此外，亦可使用X射線、γ射線等電磁波、α射線、離子束等帶電粒子束。
於本說明書中，所謂(甲基)丙烯酸酯意指丙烯酸酯或甲基丙烯酸酯，所謂(甲基)丙烯酸意指丙烯酸或甲基丙烯酸，所謂(甲基)丙烯醯基意指丙烯醯基或甲基丙烯醯基。
為了使耐擦傷性變得良好，硬塗層之厚度較佳為0.1μm以上，更佳為0.5μm以上，進而較佳為1.0μm以上，進而更佳為2.0μm以上。又，為了抑制捲曲，硬塗層之厚度較佳為100μm以下，更佳為50μm以下，更佳為30μm以下，更佳為20μm以下，更佳為15μm以下，更佳為10μm以下。為了使耐彎曲性變得良好，硬塗層之厚度較佳為10μm以下，更佳為8μm以下。
<低折射率層>
低折射率層具有如下作用：提高光學膜之抗反射性，並且容易抑制以肉眼視認時之彩虹狀不均。此處，所謂彩虹狀不均，係指通過了偏光子之直線偏光在通過延伸塑膠膜等雙折射體時因直線偏光之偏光狀態混亂而被觀察到之彩虹狀干擾紋。
自影像顯示裝置之內部朝向視認者側之光，於通過了偏光子之階段中為直 線偏光，但於通過光學用雙軸延伸塑膠膜後，直線偏光之偏光狀態混亂而成為混合存在有P波及S波之光。並且認為，P波之反射率與S波之反射率存在差，且反射率差具有波長相依性，因此以肉眼視認到彩虹狀不均。此處，於光學用雙軸延伸塑膠膜上具有低折射率層之情形時，可使上述反射率差變小，因此認為可容易抑制彩虹狀不均。
低折射率層較佳為形成於距離光學用雙軸延伸塑膠膜最遠之側。再者，藉由將下述高折射率層以較低折射率層更靠近光學用雙軸延伸塑膠膜側之方式與低折射率層鄰接而形成，可進一步提高抗反射性，並且可容易進一步抑制彩虹狀不均。
低折射率層之折射率較佳為1.10以上且1.48以下，更佳為1.20以上且1.45以下，更佳為1.26以上且1.40以下，更佳為1.28以上且1.38以下，更佳為1.30以上且1.32以下。
又，低折射率層之厚度較佳為80nm以上且120nm以下，更佳為85nm以上且110nm以下，更佳為90nm以上且105nm以下。又，低折射率層之厚度較佳為較中空粒子等低折射率粒子之平均粒徑更大。
作為形成低折射率層之手法，可大致區分為濕式法與乾式法。作為濕式法，可列舉：使用金屬烷氧化物等並藉由溶膠凝膠法而形成之手法；塗佈如氟樹脂之低折射率之樹脂而形成之手法；塗佈樹脂組成物中含有低折射率粒子而成之低折射率層形成用塗佈液而形成之手法。作為乾式法，可列舉如下手法：自下述低折射率粒子中選擇具有所需折射率之粒子，藉由物理氣相沈積法或化學氣相沈積法而形成。
就生產效率、斜反射色相之抑制、及耐化學品性之方面而言，濕式法較乾式法更優異。又，濕式法中，為了密接性、耐水性、耐擦傷性及低折射率化，較佳為利用黏合劑樹脂組成物中含有低折射率粒子而成之低折射率層形成用塗佈液 而形成。
低折射率層於大多數情況下位於光學膜之最表面。因此，對低折射率層要求良好之耐擦傷性，通用之低折射率層亦設計為具有規定之耐擦傷性。
近年來，為了使低折射率層之折射率降低，而使用粒徑較大之中空粒子作為低折射率粒子。本發明人等發現如下課題(以下，有時將該課題稱為「耐油塵性」)：即便於「以僅附著有細微之固形物(例如砂)者、或僅附著有油分者對如此含有粒徑較大之中空粒子之低折射率層之表面進行摩擦，亦無法視認出傷痕」之情形時，以附著有固形物及油分兩者之物進行摩擦時亦會造成傷痕。以附著有固形物及油分者進行摩擦之動作例如相當於如下動作：使用者以附著有化妝品及食品等中所含之油分、及大氣中所含之砂之手指對觸控面板式之影像顯示裝置進行操作。
使低折射率層之耐油塵性變得良好，使得能夠長期維持彩虹狀不均抑制效果，就該方面而言較佳。
本發明人等進行了研究，結果發現上述傷痕主要因低折射率層中所含之中空粒子之一部分缺少、或中空粒子脫落而產生。作為其原因，認為由形成於低折射率層之表面之中空粒子引起之凹凸較大。即，當以附著有固形物及油分之手指對低折射率層表面進行摩擦時，油分成為黏合劑，手指在固形物附著於手指之狀態下在低折射率層表面移動。此時，認為：容易產生固形物之一部分(例如砂之尖突部位)進入至低折射率層表面之凹部之現象、及進入至凹部之固形物與手指一起脫離凹部而越過凸部(中空粒子)之現象，此時對凸部(中空粒子)施加較大之力，因此中空粒子損傷或脫落。又，認為位於凹部之樹脂本身亦因固形物之摩擦而受損，因樹脂之損傷導致中空粒子更容易脫落。
為了使耐油塵性變得良好，低折射率粒子較佳為包含中空粒子及非中空粒子。
為了使耐油塵性變得良好，較佳為併用中空粒子與非中空粒子作為低折射率粒子，且使中空粒子與非中空粒子均勻地分散。
中空粒子及非中空粒子之材質可為二氧化矽及氟化鎂等無機化合物、有機化合物之任一者，但為了低折射率化及強度，較佳為二氧化矽。以下，以中空二氧化矽粒子及非中空二氧化矽粒子為中心進行說明。
所謂中空二氧化矽粒子意指具有由二氧化矽所構成之外殼層，由外殼層包圍之粒子內部為空洞，且空洞之內部含有空氣之粒子。中空二氧化矽粒子係藉由含有空氣，而與二氧化矽原本之折射率相比，折射率與氣體之佔有率成正比地降低之粒子。所謂非中空二氧化矽粒子係指如中空二氧化矽粒子般內部未成為空洞之粒子。非中空二氧化矽粒子例如為實心之二氧化矽粒子。
中空二氧化矽粒子及非中空二氧化矽粒子之形狀並無特別限定，可為真球狀、橢球體狀、及可近似球體之多面體形狀等大致球狀等。其中，考慮到耐擦傷性，較佳為真球狀、橢球體狀或大致球狀。
中空二氧化矽粒子於內部含有空氣，因此發揮使低折射率層整體之折射率降低之作用。藉由使用提高了空氣之比率之粒徑較大之中空二氧化矽粒子，可進一步使低折射率層之折射率降低。另一方面，中空二氧化矽粒子有機械強度欠佳之傾向。於使用提高了空氣之比率之粒徑較大之中空二氧化矽粒子之情形時，尤其有容易使低折射率層之耐擦傷性降低之傾向。
非中空二氧化矽粒子藉由分散於黏合劑樹脂中，而發揮使低折射率層之耐擦傷性提高之作用。
為了在黏合劑樹脂中以高濃度含有中空二氧化矽粒子及非中空二氧化矽粒子，並且使粒子於樹脂內沿膜厚方向均勻地分散，較佳為以中空二氧化矽粒子之間接近，進而以非中空粒子能夠進入至中空二氧化矽粒子之間之方式設定中空二氧化矽粒子之平均粒徑及非中空二氧化矽粒子之平均粒徑。具體 而言，非中空二氧化矽粒子之平均粒徑相對於中空二氧化矽粒子之平均粒徑之比(非中空二氧化矽粒子之平均粒徑/中空二氧化矽粒子之平均粒徑)較佳為0.29以下，更佳為0.20以下。又，該平均粒徑之比較佳為0.05以上。
考慮到光學特性及機械強度，中空二氧化矽粒子之平均粒徑較佳為20nm以上且100nm以下。為了容易使低折射率層整體之折射率變低，中空二氧化矽粒子之平均粒徑更佳為50nm以上且100nm以下，進而較佳為60nm以上且80nm以下。
又，當防止非中空二氧化矽粒子之凝集並且考慮分散性時，非中空二氧化矽粒子之平均粒徑較佳為5nm以上且20nm以下，更佳為10nm以上且15nm以下。
中空二氧化矽粒子及非中空二氧化矽粒子較佳為表面經矽烷偶合劑被覆。更佳為使用具有(甲基)丙烯醯基或環氧基之矽烷偶合劑。
藉由利用矽烷偶合劑對二氧化矽粒子實施表面處理，二氧化矽粒子與黏合劑樹脂之親和性提高，不易產生二氧化矽粒子之凝集。因此，二氧化矽粒子之分散容易變得均勻。
作為矽烷偶合劑，可列舉：3-甲基丙烯醯氧基丙基甲基二甲氧基矽烷、3-甲基丙烯醯氧基丙基三甲氧基矽烷、3-甲基丙烯醯氧基丙基甲基二乙氧基矽烷、3-甲基丙烯醯氧基丙基三乙氧基矽烷、3-丙烯醯氧基丙基三甲氧基矽烷、2-(3,4-環氧基環己基)乙基三甲氧基矽烷、3-環氧丙氧基丙基甲基二甲氧基矽烷、3-環氧丙氧基丙基三甲氧基矽烷、3-環氧丙氧基丙基甲基二乙氧基矽烷、3-環氧丙氧基丙基三乙氧基矽烷、N-2-(胺乙基)-3-胺基丙基甲基二甲氧基矽烷、N-2-(胺乙基)-3-胺基丙基三甲氧基矽烷、3-胺基丙基三甲氧基矽烷、3-胺基丙基三乙氧基矽烷、3-三乙氧基矽基-N-(1,3-二甲基-亞丁基)丙基胺、N-苯基-3-胺基丙基三甲氧基矽烷、三聚異氰酸三-(三甲氧基矽基丙基)酯、3-巰基丙基甲基二甲氧基矽烷、3-巰基丙基三甲氧基矽烷、3-異氰酸基丙基三乙氧基矽烷、甲基三甲氧基矽烷、 二甲基二甲氧基矽烷、苯基三甲氧基矽烷、甲基三乙氧基矽烷、二甲基二乙氧基矽烷、苯基三乙氧基矽烷、正丙基三甲氧基矽烷、正丙基三乙氧基矽烷、己基三甲氧基矽烷、己基三乙氧基矽烷、辛基三乙氧基矽烷、癸基三甲氧基矽烷、1,6-雙(三甲氧基矽基)己烷、三氟丙基三甲氧基矽烷、乙烯基三甲氧基矽烷及乙烯基三乙氧基矽烷等。尤其較佳為使用選自3-甲基丙烯醯氧基丙基甲基二甲氧基矽烷、3-甲基丙烯醯氧基丙基三甲氧基矽烷、3-甲基丙烯醯氧基丙基甲基二乙氧基矽烷、及3-甲基丙烯醯氧基丙基三乙氧基矽烷中之一種以上。
中空二氧化矽粒子之含量越多，黏合劑樹脂中之中空二氧化矽粒子之填充率越高，低折射率層之折射率越低。因此，中空二氧化矽粒子之含量較佳為相對於黏合劑樹脂100質量份為100質量份以上，更佳為150質量份以上。
另一方面，若相對於黏合劑樹脂之中空二氧化矽粒子之含量過多，則不僅自黏合劑樹脂中露出之中空二氧化矽粒子增加，而且將粒子間結合之黏合劑樹脂變少。因此，容易導致中空二氧化矽粒子損傷或脫落，而有低折射率層之耐擦傷性等機械強度降低之傾向。又，若中空二氧化矽粒子之含量過多，則有轉印適應性受損之傾向。因此，中空二氧化矽粒子之含量較佳為相對於黏合劑樹脂100質量份為400質量份以下，更佳為300質量份以下。
若非中空二氧化矽粒子之含量較少，則存在如下情況：即便非中空二氧化矽粒子存在於低折射率層之表面，亦不會對硬度上升產生影響。又，若大量含有非中空二氧化矽粒子，則可使由黏合劑樹脂之聚合引起之收縮不均之影響變小，使樹脂硬化後在低折射率層表面產生之凹凸變小。因此，非中空二氧化矽粒子之含量較佳為相對於黏合劑樹脂100質量份為90質量份以上，更佳為100質量份以上。
另一方面，若非中空二氧化矽粒子之含量過多，則非中空二氧化矽容易凝集，產生黏合劑樹脂之收縮不均，表面之凹凸變大。又，若非中空二氧化矽粒子 之含量過多，則有轉印適應性受損之傾向。因此，非中空二氧化矽粒子之含量較佳為相對於黏合劑樹脂100質量份為200質量份以下，更佳為150質量份以下。
藉由以上述比率在黏合劑樹脂中含有中空二氧化矽粒子及非中空二氧化矽粒子，可提高低折射率層之阻隔性。推測其原因在於，藉由使二氧化矽粒子以高填充率均勻地分散，而阻礙氣體等之透過。
又，存在如下情況：於防曬霜及護手霜等各種化妝品中含有揮發性較低之低分子聚合物。藉由使低折射率層之阻隔性變得良好，可抑制低分子聚合物滲透至低折射率層之塗膜內部，可抑制因低分子聚合物長期殘存於塗膜導致之缺陷(例如外觀異常)。
低折射率層之黏合劑樹脂較佳為含有游離輻射硬化性樹脂組成物之硬化物。又，作為游離輻射硬化性樹脂組成物中所含之游離輻射硬化性化合物，較佳為具有乙烯性不飽和鍵結基之化合物。其中，更佳為具有(甲基)丙烯醯基之(甲基)丙烯酸酯系化合物。
以下，將具有4個以上之乙烯性不飽和鍵結基之(甲基)丙烯酸酯系化合物稱為「多官能性(甲基)丙烯酸酯系化合物」。又，將具有2個以上且3個以下之乙烯性不飽和鍵結基之(甲基)丙烯酸酯系化合物稱為「低官能性(甲基)丙烯酸酯系化合物」。
作為(甲基)丙烯酸酯系化合物，可使用單體及低聚物之任一者。尤其是，為了抑制硬化時之收縮不均而使低折射率層表面之凹凸形狀變得平滑，游離輻射硬化性化合物進而較佳為包含低官能(甲基)丙烯酸酯系化合物。
游離輻射硬化性化合物中之低官能(甲基)丙烯酸酯系化合物之比率較佳為60質量%以上，更佳為80質量%以上，進而較佳為90質量%以上，進而更佳為95質量%以上，最佳為100質量%。
又，為了抑制上述硬化時之收縮不均而使低折射率層表面之凹凸形狀變得 平滑，低官能(甲基)丙烯酸酯系化合物較佳為具有2個乙烯性不飽和鍵結基之(甲基)丙烯酸酯系化合物。
作為(甲基)丙烯酸酯系化合物中之2官能(甲基)丙烯酸酯系化合物，可列舉：異三聚氰酸二(甲基)丙烯酸酯、乙二醇二(甲基)丙烯酸酯、聚乙二醇二丙烯酸酯、聚丁二醇二(甲基)丙烯酸酯等聚伸烷基二醇二(甲基)丙烯酸酯、雙酚A四乙氧基二丙烯酸酯、雙酚A四丙氧基二丙烯酸酯、1,6-己二醇二丙烯酸酯等。
作為3官能(甲基)丙烯酸酯系化合物，例如可列舉：三羥甲基丙烷三(甲基)丙烯酸酯、新戊四醇三(甲基)丙烯酸酯、異三聚氰酸改質三(甲基)丙烯酸酯等。
作為4官能以上之多官能(甲基)丙烯酸酯系化合物，例如可列舉：新戊四醇四(甲基)丙烯酸酯、二新戊四醇六(甲基)丙烯酸酯、二新戊四醇四(甲基)丙烯酸酯等。
該等(甲基)丙烯酸酯系化合物亦可為如下文所述經改質者。
又，作為(甲基)丙烯酸酯系低聚物，可列舉：(甲基)丙烯酸胺酯(urethane(meth)acrylate)、環氧(甲基)丙烯酸酯、聚酯(甲基)丙烯酸酯、聚醚(甲基)丙烯酸酯等丙烯酸酯系聚合物等。
(甲基)丙烯酸胺酯例如可藉由多元醇及有機二異氰酸酯與(甲基)丙烯酸羥酯之反應而獲得。
又，較佳之環氧(甲基)丙烯酸酯為：使3官能以上之芳香族環氧樹脂、脂環族環氧樹脂、脂肪族環氧樹脂等與(甲基)丙烯酸反應而獲得之(甲基)丙烯酸酯；使2官能以上之芳香族環氧樹脂、脂環族環氧樹脂、脂肪族環氧樹脂等與多元酸及(甲基)丙烯酸反應而獲得之(甲基)丙烯酸酯；及使2官能以上之芳香族環氧樹脂、脂環族環氧樹脂、脂肪族環氧樹脂等與酚類及(甲基)丙烯酸反應而獲得之(甲基)丙烯酸酯。
又，為了抑制由交聯引起之收縮不均而提高表面之平滑性，上述(甲基)丙烯酸酯系化合物亦可為對分子骨架之一部分進行了改質者。例如作為上述(甲基)丙烯酸酯系化合物，亦可使用經環氧乙烷、環氧丙烷、己內酯、異三聚氰酸、烷基、環狀烷基、芳香族、雙酚等改質者。尤其是為了提高與低折射率粒子(其中之二氧化矽粒子)之親和性，抑制低折射率粒子之凝集，上述(甲基)丙烯酸酯系化合物較佳為經環氧乙烷、環氧丙烷等環氧烷(alkylene oxide)改質者。
游離輻射硬化性化合物中之環氧烷改質之(甲基)丙烯酸酯系化合物之比率較佳為60質量%以上，更佳為80質量%以上，進而較佳為90質量%以上，進而更佳為95質量%以上，最佳為100質量%。又，環氧烷改質之(甲基)丙烯酸酯系化合物較佳為低官能(甲基)丙烯酸酯系化合物，更佳為具有2個乙烯性不飽和鍵結基之(甲基)丙烯酸酯系化合物。
作為經環氧烷改質而成之具有2個乙烯性不飽和鍵結基之(甲基)丙烯酸酯系化合物，可列舉雙酚F環氧烷改質二(甲基)丙烯酸酯、雙酚A環氧烷改質二(甲基)丙烯酸酯、異三聚氰酸環氧烷改質二(甲基)丙烯酸酯及聚伸烷基二醇二(甲基)丙烯酸酯，其中，較佳為聚伸烷基二醇二(甲基)丙烯酸酯。聚伸烷基二醇二(甲基)丙烯酸酯中所含之伸烷基二醇之平均重複單元較佳為3以上且5以下。又，聚伸烷基二醇二(甲基)丙烯酸酯中所含之伸烷基二醇較佳為乙二醇及/或聚乙二醇。
作為經環氧烷改質而成之具有3個乙烯性不飽和鍵結基之(甲基)丙烯酸酯系化合物，可列舉三羥甲基丙烷環氧烷改質三(甲基)丙烯酸酯及異三聚氰酸環氧烷改質三(甲基)丙烯酸酯。
上述游離輻射硬化性樹脂可單獨使用一種，或組合兩種以上使用。
於低折射率層中，為了防污性及表面平滑性，較佳為含有調平劑。
調平劑可列舉氟系及聚矽氧系，較佳為聚矽氧系。藉由含有聚矽氧系調平 劑，可進一步使低反射率層表面變得平滑。進而，可使低反射率層表面之滑動性及防污性(指紋擦除性、相對於純水及十六烷之較大之接觸角)變得良好。
相對於黏合劑樹脂100質量份，調平劑之含量較佳為1質量份以上且25質量份以下，更佳為2質量份以上且20質量份以下，進而較佳為5質量份以上且18質量份以下。藉由將調平劑之含量設為1質量份以上，可容易賦予防污性等各種性能。又，藉由將調平劑之含量設為25質量份以下，可抑制耐擦傷性降低。
低折射率層較佳為最大高度粗糙度Rz為110nm以下，更佳為90nm以下，進而較佳為70nm以下，進而更佳為60nm以下。又，較佳為Rz/Ra(Ra為算術平均粗糙度)為12.0以下，更佳為10.0以下。將Rz/Ra設為該範圍，於Rz大至90nm以上且110nm以下左右之情形時尤其有效。
於本說明書中，Ra及Rz係將島津製作所公司(SHIMADZU CORPORATION)之掃描式探針顯微鏡SPM-9600升級套件安裝說明書(SPM-9600 2016年2月，P.194-195)中所記載之二維粗糙度參數之粗糙度擴展成三維而成者。Ra及Rz係如下所述般定義。
(算術平均粗糙度Ra)
算術平均粗糙度Ra係自粗糙度曲線沿其平均線的方向僅抽取基準長度(L)，在該抽取部分之平均線的方向上取X軸，在縱倍率的方向上取Y軸，將粗糙度曲線以y=f(x)進行表示時，藉由下式求出。
Figure 109134167-A0305-12-0043-1
(最大高度粗糙度Rz)
最大高度粗糙度Rz係自粗糙度曲線沿其平均線的方向僅抽取基準長度，沿粗糙度曲線之縱倍率的方向對該抽取部分之山頂線與谷底線之間隔進行測定所 得之值。
於使用島津製作所公司(SHIMADZU CORPORATION)之掃描式探針顯微鏡SPM-9600之情形時，例如較佳為在以下條件下對Ra及Rz進行測定及解析。
<測定條件>
測定模式：相位
掃描範圍：5μm×5μm
掃描速度：0.8Hz以上且1Hz以下
像素數：512×512
所使用之懸臂：NanoWorld公司(NanoWorld Holding AG,)之商品號「NCHR」，共振頻率：320KHz，彈簧常數：42N/m
<解析條件>
傾斜修正：線性配適
Rz較小意味著微小區域中之由中空二氧化矽粒子引起之凸部較小。又，Rz/Ra較小意味著微小區域中之由二氧化矽粒子引起之凹凸均勻，不具有相對於凹凸之平均高程差突出之凹凸。再者，於本發明中，Ra之數值並無特別限定，Ra較佳為15nm以下，更佳為12nm以下，進而較佳為10nm以下，進而更佳為6.5nm以下。
藉由使低折射率層中之低折射率粒子均勻地分散，或抑制低折射率層之收縮不均，而容易滿足上述Rz及Rz/Ra之範圍。
藉由低折射率層表面之Rz及Rz/Ra為上述範圍，可使固形物越過低折射率層表面之凸部(由存在於表面附近之中空二氧化矽粒子引起)時之阻力變小。因此，認為即便以帶有油分之砂一面施加負重一面進行摩擦，固形物亦在低折射率層表面順滑地移動。又，認為凹部之硬度本身亦得到提高。結果可推測， 防止中空二氧化矽粒子之破損或脫落，亦防止黏合劑樹脂本身之損傷。
關於Rz及Ra等表面粗糙度，只要無特別說明，便意指將16個部位之測定值之最小值及最大值排除所得之14個部位之測定值之平均值。
於本說明書中，上述16個測定部位較佳為，將自測定樣品之外緣起距離0.5cm之區域設為空白，關於自上述空白起靠近內側之區域，繪製將縱向及橫向進行5等分之線，將此時之交點之16個部位作為測定之中心。測定樣品較佳為使用與上述條件1之樣品相同者。
又，表面粗糙度設為在溫度23℃±5℃、相對濕度40%RH以上且65%RH以下之條件下所測得之值。又，於開始各測定之前，將對象樣品於上述環境中暴露30分鐘以上後進行測定及評價。
低折射率層可藉由如下方式形成：使構成低折射率層之各成分溶解或分散而形成低折射率層形成塗佈液，將該低折射率層形成塗佈液進行塗佈、乾燥。於低折射率層形成塗佈液中，通常為了調節黏度或使各成分能夠溶解或分散而使用溶劑。
關於溶劑，例如可例示酮類(丙酮、甲基乙基酮、甲基異丁基酮、環己酮等)、醚類(二
Figure 109134167-A0305-12-0045-10
烷、四氫呋喃等)、脂肪族烴類(己烷等)、脂環烴類(環己烷等)、芳香族烴類(甲苯、二甲苯等)、鹵化碳類(二氯甲烷、二氯乙烷等)、酯類(乙酸甲酯、乙酸乙酯、乙酸丁酯等)、醇類(丁醇、環己醇等)、賽璐蘇類(甲賽璐蘇、乙賽璐蘇等)、乙酸賽璐蘇類、亞碸類(二甲基亞碸等)、二醇醚類(1-甲氧基-2-丙基乙酸酯等)、醯胺類(二甲基甲醯胺、二甲基乙醯胺等)等，亦可為該等之混合物。
於溶劑之揮發過快之情形時，在低折射率層形成用塗佈液之乾燥時溶劑會激烈地進行對流。因此，即便於塗佈液中之二氧化矽粒子為均勻分散之狀態，亦因乾燥時之溶劑之激烈之對流導致均勻分散之狀態容易崩解。因此，作 為溶劑，較佳為包含蒸發速度緩慢者。具體而言，較佳為包含相對蒸發速度(將乙酸正丁酯之蒸發速度設為100時之相對蒸發速度)為70以下之溶劑，更佳為包含30以上且60以下之溶劑。又，相對蒸發速度為70以下之溶劑較佳為總溶劑之10質量%以上且50質量%以下，較佳為20質量%以上且40質量%以下。
列舉蒸發速度緩慢之溶劑之相對蒸發速度之例：異丁醇為64；1-丁醇為47；1-甲氧基-2-丙基乙酸酯為44；乙基賽璐蘇為38；環己酮為32。
再者，溶劑之餘物(蒸發速度緩慢之溶劑以外之溶劑)較佳為對樹脂之溶解性優異者。又，溶劑之餘物較佳為相對蒸發速度為100以上者。
又，為了抑制乾燥時之溶劑之對流而使二氧化矽粒子之分散性變得良好，形成低折射率層時之乾燥溫度較佳為儘可能較低。乾燥溫度可考慮溶劑之種類、二氧化矽粒子之分散性、生產速度等而適宜設定。
<高折射率層>
作為功能層之一例之高折射率層之折射率較佳為1.53以上且1.85以下，更佳為1.54以上且1.80以下，更佳為1.55以上且1.75以下，更佳為1.56以上且1.70以下。
又，高折射率層之厚度較佳為200nm以下，更佳為50nm以上且180nm以下，進而較佳為70nm以上且150nm以下。再者，於設為高折射率硬塗層之情形時，較佳為依照硬塗層之厚度。
高折射率層例如可由含有黏合劑樹脂組成物及高折射率粒子之高折射率層形成用塗佈液所形成。作為該黏合劑樹脂組成物，例如可使用硬塗層中所例示之硬化性樹脂組成物。
作為高折射率粒子，可列舉：五氧化二銻、氧化鋅、氧化鈦、氧化鈰、摻錫氧化銦、摻銻氧化錫、氧化釔及氧化鋯等。再者，五氧化二銻之折射率為約1.79，氧化鋅之折射率為約1.90，氧化鈦之折射率為約2.3以上且2.7以下，氧化鈰之折射率為約1.95，摻錫氧化銦之折射率為約1.95以上且2.00以下，摻銻 氧化錫之折射率為約1.75以上且1.85以下，氧化釔之折射率為約1.87，氧化鋯之折射率為2.10。
高折射率粒子之平均粒徑較佳為2nm以上，更佳為5nm以上，進而較佳為10nm以上。又，為了抑制變白及透明性，高折射率粒子之平均粒徑較佳為200nm以下，更佳為100nm以下，更佳為80nm以下，更佳為60nm以下，更佳為30nm以下。高折射率粒子之平均粒徑越小，則透明性越良好，藉由設為60nm以下，尤其可使透明性變得極其良好。
於本說明書中，高折射率粒子或低折射率粒子之平均粒徑可藉由以下(y1)~(y3)之操作而算出。
(y1)利用TEM或STEM對高折射率層或低折射率層之剖面進行拍攝。較佳為將TEM或STEM之加速電壓設為10Kv以上且30KV以下，將倍率設為5萬倍以上且30萬倍以下。
(y2)自觀察影像中抽選任意10個粒子，算出各個粒子之粒徑。粒徑係將粒子之剖面以任意2根平行直線夾著時，以該2根直線間距離成為最大之2根直線之組合中之直線間距離計而測定。於粒子凝集在一起之情形時，將所凝集之粒子視為一個粒子而進行測定。
(y3)於同一樣品之其他畫面之觀察影像中進行5次相同之作業，將自合計50個量之粒徑之數量平均所獲得之值設為高折射率粒子或低折射率粒子之平均粒徑。
<防眩層>
作為功能層之一例之防眩層具有提高被黏著體之防眩性之作用。
防眩層例如可由含有黏合劑樹脂組成物及粒子之防眩層形成用塗佈液所形成。作為該黏合劑樹脂組成物，例如可使用硬塗層中所例示之硬化性樹脂組成物。
粒子可使用有機粒子及無機粒子之任一者。作為有機粒子，可列舉由聚甲基丙烯酸甲酯、聚丙烯酸-苯乙烯共聚物、三聚氰胺樹脂、聚碳酸酯、聚苯乙烯、聚氯乙烯、苯胍
Figure 109134167-A0305-12-0048-11
-三聚氰胺-甲醛縮合物、聚矽氧、氟系樹脂及聚酯系樹脂等所構成之粒子。作為無機粒子，可列舉由二氧化矽、氧化鋁、銻、氧化鋯及二氧化鈦等所構成之粒子。
防眩層中之粒子之平均粒徑根據防眩層之厚度而不同，因此不可一概而論，較佳為1.0μm以上且10.0μm以下，更佳為2.0μm以上且8.0μm以下，進而較佳為3.0μm以上且6.0μm以下。
防眩層之粒子之平均粒徑可藉由以下(z1)~(z3)之操作而算出。
(z1)利用光學顯微鏡對防眩層剖面之透過觀察影像進行拍攝。倍率較佳為500倍以上且2000倍以下。
(z2)自觀察影像中抽選任意10個粒子，算出各個粒子之粒徑。粒徑係將粒子之剖面以任意2根平行直線夾著時，以該2根直線間距離成為最大之2根直線之組合中之直線間距離計而測定。
(z3)於同一樣品之其他畫面之觀察影像中進行5次相同之作業，將自合計50個量之粒徑之數量平均所獲得之值設為防眩層中之粒子之平均粒徑。
防眩層中之粒子之含量根據目標防眩性程度而不同，因此不可一概而論，相對於樹脂成分100質量份，較佳為1質量份以上且100質量份以下，更佳為5質量份以上且50質量份以下，進而較佳為10質量份以上且30質量份以下。
再者，防眩層亦可為了賦予抗靜電性，或控制折射率，或對由硬化性樹脂組成物之硬化引起之防眩層之收縮進行調整而含有平均粒徑未達500nm之微粒子。
防眩層之厚度較佳為0.5μm以上，更佳為1.0μm以上，進而較佳 為2.0μm以上。又，防眩層之厚度較佳為50μm以下，更佳為30μm以上，更佳為20μm以下，更佳為15μm以下，更佳為10μm以下。為了使耐彎曲性變得良好，防眩層之厚度較佳為10μm以下，更佳為8μm以下。
<防污層>
防污層較佳為形成於距離光學用雙軸延伸塑膠膜最遠之側。
防污層例如可由含有黏合劑樹脂組成物及防污劑之防污層形成用塗佈液所形成。作為該黏合劑樹脂組成物，例如可使用硬塗層中所例示之硬化性樹脂組成物。
作為防污劑，可列舉氟系樹脂、聚矽氧系樹脂及氟-聚矽氧共聚樹脂等。
為了抑制自防污層之滲出，防污劑較佳為具有能夠與黏合劑樹脂組成物進行反應之反應性基者。換言之，較佳為於防污層中防污劑被固定於黏合劑樹脂組成物。
又，為了抑制自防污層之滲出，能夠進行自交聯之防污劑亦較佳。換言之，較佳為於防污層中防污劑進行自交聯。
防污層中之防污劑之含量較佳為防污層之總固形物成分之5質量%以上且30質量%以下，更佳為7質量%以上且20質量%以下。
防污層之厚度並無特別限定。例如於設為防污性硬塗層之情形時，較佳為依照硬塗層之厚度。又，於設為防污性低折射率層之情形時，較佳為依照低折射率層之厚度。
功能性膜較佳為JIS K7136：2000之霧度為5%以下，更佳為4%以下，進而較佳為3%以下。又，功能性膜較佳為JIS K7136：2000之霧度為0.5%以上，更佳為1.0%以上，進而較佳為1.5%以上。
又，功能性膜較佳為JIS K7361-1：1997之總光線透射率為90%以上，更佳為 91%以上，進而較佳為92%以上。
<用途>
本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜可適當地用作影像顯示裝置之塑膠膜。如上所述，本發明之雙軸延伸塑膠膜抑制利用偏光太陽鏡或偏光護目鏡等進行視認時之黑視，尤其可適當地用於在室外使用之影像顯示裝置。又，於光學用雙軸延伸塑膠膜滿足條件3及4之情形時，不論彎折的方向如何，均可抑制於彎曲試驗後殘留彎曲慣性力、或發生斷裂，因此可更適當地用作曲面之影像顯示裝置、可摺疊之影像顯示裝置之塑膠膜。
又，本發明之光學用塑膠膜可適當地用作配置於影像顯示裝置之光射出面側之塑膠膜。此時，較佳為於影像顯示裝置之光源、與本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜之間具有偏光子。
再者，作為影像顯示裝置之塑膠膜，可列舉作為偏光子保護膜、表面保護膜、抗反射膜、構成觸控面板之導電性膜等各種功能性膜之基材而使用之塑膠膜。
[偏光板]
本發明之偏光板具有偏光子、配置於該偏光子之一側而成的第1透明保護板及配置於該偏光子之另一側而成的第2透明保護板，該第1透明保護板及該第2透明保護板之至少一者為上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜。
偏光板例如用於藉由與λ/4相位差板之組合而賦予抗反射性。於該情形時，於影像顯示裝置上配置λ/4相位差板，將偏光板配置於較λ/4相位差板更靠近視認者側。
又，於將偏光板用於液晶顯示裝置之情形時，係用於賦予液晶快門之功能。於該情形時，液晶顯示裝置按照下側偏光板、液晶層、上側偏光板之順序配置，且使下側偏光板之偏光子之吸收軸與上側偏光板之偏光子之吸收軸正交而配置。上側偏光板中所含之偏光子相當於第1偏光子。
偏光板含有下述偏光子。
本發明之偏光板使用上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜作為第1透明保護板及第2透明保護板之至少一者。較佳之實施形態係將第1透明保護板及第2透明保護板兩者設為上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜。
本發明之偏光板中之第1透明保護板及/或第2透明保護板亦可為於本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜上具有功能層者。換言之，本發明之偏光板中之第1透明保護板及/或第2透明保護板亦可為於上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜上具有功能層而成之功能性膜。
於第1透明保護板及第2透明保護板之一者為上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜之情形時，另一透明保護板並無特別限定，較佳為光學各向同性之透明保護板。所謂光學各向同性係指面內相位差未達20nm，較佳為10nm以下，更佳為5nm以下。關於具有光學各向同性之透明基材，可列舉：丙烯酸膜、環烯膜、三乙醯纖維素(TAC)膜等。再者，較佳為丙烯酸膜、環烯膜，其原因在於透濕度性能與雙軸延伸塑膠膜接近之膜能夠防止因偏光板之吸水導致之變形，亦能夠防止偏光子之劣化。
又，於第1透明保護板及第2透明保護板之一者為上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜之情形時，較佳為使用上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜作為光射出側之透明保護板。
<偏光子>
作為偏光子，例如可列舉：使被碘等染色之膜進行延伸而成之片型偏光子(聚乙烯醇膜、聚乙烯縮甲醛膜、聚乙烯縮醛膜、乙烯-乙酸乙烯酯共聚物系皂化膜等)、由平行排列之多根金屬線所構成之線柵型偏光子、塗佈有溶致型液晶及二色性賓-主材料之塗佈型偏光子、多層薄膜型偏光子等。再者，該等偏光子 亦可為反射型偏光子，該反射型偏光子具備使不透射之偏光成分反射之功能。
偏光子較佳為偏光度為99.00%以上且平均透射率為35%以上者，更佳為偏光度為99.90%以上且平均透射率為37%以上，進而較佳為偏光度為99.95%以上且平均透射率為40%以上。再者，於本說明書中，所謂平均透射率意指波長400nm以上且700nm以下之分光透射率之平均值。平均透射率之測定波長間隔為5nm。
偏光子較佳為將其吸收軸與依據上述手法而切出之光學用雙軸延伸塑膠膜之樣品之任意1邊配置成大致平行或大致垂直。
[影像顯示裝置(1)]
本發明之影像顯示裝置(1)具有顯示元件、配置於該顯示元件之光射出面側而成之塑膠膜，且該塑膠膜為上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜。
用於本發明之影像顯示裝置的本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜亦可為於光學用雙軸延伸塑膠膜上具有功能層者。換言之，本發明之影像顯示裝置中之光學雙軸延伸塑膠膜亦可為於上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜上具有功能層而成之功能性膜。該功能層較佳為配置於光學用雙軸延伸塑膠膜之與該顯示元件相反側。
<顯示元件>
作為顯示元件，可列舉液晶顯示元件、EL顯示元件(有機EL元件、無機EL元件)、電漿顯示元件等，進而可列舉迷你LED、微型LED顯示元件等LED顯示元件、使用量子點之液晶顯示元件或LED顯示元件等。
於顯示元件為液晶顯示元件之情形時，在液晶顯示元件之與塑膠膜相反側之面需要背光源。
又，影像顯示裝置亦可為具備觸控面板功能之影像顯示裝置。
作為觸控面板，可列舉電阻膜式、靜電電容式、電磁感應式、紅外線式、超 音波式等方式。
觸控面板功能可為如內嵌式觸控面板液晶顯示元件般於顯示元件內附加功能而成者，亦可為於顯示元件上載置觸控面板而成者。
於圖7示出具有本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜及偏光子之影像顯示裝置(1)及下述影像顯示裝置(2)之構成例。於圖7中，1A表示顯示元件，且示出液晶顯示元件或有機EL元件等。相對於該1A，2A為第1偏光子，且為貼附於最靠近視認者30側之影像顯示裝置中之偏光子。3A為第2偏光子，且表示偏光太陽鏡等。
圖8係對圖7進而附加低折射率層40而成之影像顯示裝置之示意圖。
關於該液晶顯示元件，例如可例示以薄膜電晶體型為代表之主動矩陣驅動型等、以扭轉向列型、超扭轉向列型為代表之單純矩陣驅動型等。
本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜亦可適當地用於有機EL元件。於圖8示出有機EL元件之示意圖。
一般而言，有機EL元件係於透明基板上依序積層透明電極、有機發光層及金屬電極而形成了發光體(有機電致發光發光體)。此處，有機發光層係各種有機薄膜之積層體，例如已知有具有各種組合之構成，如由三苯胺衍生物等所構成之電洞注入層、與由蒽等螢光性有機固體所構成之發光層之積層體；或此種發光層與由苝衍生物等所構成之電子注入層之積層體；該等電洞注入層、發光層、及電子注入層之積層體等。
於有機EL元件中，為了提取有機發光層中之發光，至少一電極必須透明，通常使用由氧化銦錫(ITO)等透明導電體所形成之透明電極作為陽極。另一方面，為了使電子注入變得容易而提高發光效率，重要的是使用功函數較小之物質作為陰極，通常使用Mg-Ag、Al-Li等金屬電極。
於此種構成之有機EL元件中，有機發光層由厚度10nm左右之極 薄之膜所形成。因此，有機發光層亦與透明電極同樣地幾乎使光完全地透射。結果為，於非發光時，自透明基板之表面入射且透射透明電極與有機發光層而被金屬電極反射之光，再次向透明基板之表面側射出，因此於自外部進行視認時，有機EL顯示裝置之顯示面看起來如鏡面般。
然而，若將λ/4相位差板(未圖示)等雙折射層與偏光子(第1偏光子)加以組合，且將偏光子與該雙折射層在偏光方向上所成之角調整為π/4，則可完全地遮蔽金屬電極之鏡面。
即，入射至該有機EL顯示裝置之外部光因偏光子而僅透射直線偏光成分。一般而言，該直線偏光藉由雙折射層而成為橢圓偏光，但於雙折射層為λ/4相位差板並且與偏光子在偏光方向上所成之角為π/4時成為圓偏光。該圓偏光透射透明基板、透明電極、有機薄膜，被金屬電極反射而再次透射有機薄膜、透明電極、透明基板，藉由λ/4相位差板而再次成為直線偏光。然後，該直線偏光由於與偏光子之偏光方向正交，故而無法透射偏光子。結果可完全地遮蔽金屬電極之鏡面。
該2A為偏光子(第1偏光子)，且為貼附於最靠近視認者側之影像顯示裝置中之偏光子。
本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜配置於第1偏光子與偏光太陽鏡3A(第2偏光子)之間之影像顯示裝置中。光學用雙軸延伸塑膠膜、第1偏光子可經由黏著劑層(未圖示，以下同樣如此)而積層。
作為用於本發明之接著層之黏著劑，並無特別限定，例如可適宜地選擇如下物質而使用：丙烯酸系聚合物、聚矽氧系聚合物、以聚酯、聚胺酯、聚醯胺、聚醚、氟系及橡膠系等聚合物作為基礎聚合物者。對於黏著劑，要求光學透明性、適度之潤濕性、凝集性、接著性等黏著特性、耐候性、耐熱性等優異。進而，就防止因吸濕導致之發泡現象及剝落現象、防止因熱膨脹差等導致之光學 特性之降低及液晶單元之翹曲、以及高品質且耐久性優異之影像顯示裝置之形成性等方面而言，要求吸濕率較低且耐熱性優異之黏著劑層。為了滿足該等要求，較佳為丙烯酸系黏著劑。
於黏著劑中，例如亦可含有天然物之樹脂類、合成物之樹脂類、黏著性賦予樹脂、玻璃纖維、玻璃珠、金屬粉、顏料、著色劑、抗氧化劑等添加劑。又，亦可為含有微粒子而表現光擴散性之黏著劑層。
上述黏著劑向本發明之偏光板之塗佈並無特別限定，可藉由適宜之方法進行。例如可列舉：製備使基礎聚合物或其組成物溶解或分散於溶劑中而成之10質量%以上且40質量%以下左右之黏著劑溶液，且上述溶劑由甲苯及乙酸乙酯等適宜之溶劑之單一物質或混合物所構成，藉由流延方式及塗佈方式等適宜之展開方式將上述黏著劑溶液直接塗佈於本發明之偏光板上之方法；或依據該方法於脫模性基礎膜上形成黏著劑層，將其轉移黏著至本發明之偏光板上之方法等。
塗佈方法可為凹版塗佈、棒式塗佈、輥式塗佈、逆輥塗佈(reverse roll coat)、刮刀塗佈(comma coat)等各種方法，但最一般的是凹版塗佈。
黏著劑層亦可作為不同組成或種類等之層之重疊層而設置於本發明之偏光板之單面或兩面。又，於設置於兩面之情形時，在本發明之偏光板之正面及背面，黏著劑無需為相同組成，又，亦無需為相同厚度。亦可設為不同之組成、不同之厚度之黏著劑層。
又，黏著劑層之厚度可根據使用目的及接著力等而適宜決定，一般而言，為1μm以上且500μm以下，較佳為5μm以上且200μm以下，尤其較佳為10μm以上且100μm以下。
<其他塑膠膜>
本發明之影像顯示裝置亦可於不阻礙本發明之效果之範圍內具有其他塑膠 膜。
作為其他塑膠膜，較佳為具有光學各向同性者。
作為配置於顯示元件之光射出面側之塑膠膜，可列舉作為偏光子保護膜、表面保護膜、抗反射膜、構成觸控面板之導電性膜等各種功能性膜之基材而使用之塑膠膜。
[影像顯示裝置(2)]
<條件1B>
以100個測定點算出下述測定1B中所獲得之亮度與下述測定2B中所獲得之亮度的亮度差(L1.n-L2.n)，根據100個測定點之亮度差算出的「亮度差之偏差3σ」為100以上。
《測定1B》
製作於顯示元件上依序配置第1偏光子、光學用雙軸延伸塑膠膜及第2偏光子而成之第1B測定樣品。於第1B測定樣品中，將該光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直。
使該第1B測定樣品之顯示元件進行白顯示，以在任意第1區域內等間隔設定的縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光之亮度。自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L1.1，將第100個測定點之亮度定義為L1.100，將第n個測定點之亮度定義為L1.n。
《測定2B》
製作於該與該測定1B相同之顯示元件上依序配置該第1偏光子及該第2偏光子而成之第2B測定樣品。於第2B測定樣品中，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直。
使該第2B測定樣品之顯示元件進行白顯示，以在與該第1測定區域大致一致之區域內等間隔設定的縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光之亮度。自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L2.1，將第100個測定點之亮度定義為L2.100，將第n個測定點之亮度定義為L2.n。
<條件2B>
面內相位差(Re)為2500nm以下。
本發明之影像顯示裝置(2)於該顯示元件之光射出面上具有該第1偏光子及光學用雙軸延伸塑膠膜，且係該光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向與該第1偏光子之吸收軸的方向配置成大致垂直而成，該光學用雙軸延伸塑膠膜具有滿足該<條件1B>及該<條件2B>之區域。
影像顯示裝置(2)之測定1B中之「第1B測定樣品」意指於影像顯示裝置(2)之光射出面上配置第2偏光子而成者。又，影像顯示裝置(2)之測定2B中之「第2B測定樣品」意指自影像顯示裝置(2)去除上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜，且於第1偏光子之光射出面側配置第2偏光子而成者。
本發明之影像顯示裝置(2)中之測定1B及測定2B除了面光源與顯示元件不同以外，均與上文所述之本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜之測定1及測定2相同。
又，測定1B及測定2B之較佳之實施形態與測定1及測定2之較佳之實施形態相同(例如在顯示元件上配置第1偏光子而自第1偏光子側射出之透射光之亮度之較佳之範圍，與在面光源上配置第1偏光子而自第1偏光子側射出之透射光之亮度之較佳之範圍相同。)。又，條件1B及條件2B之較佳之實施形態與上文所述之條件1及條件2之較佳之實施形態相同。
<影像顯示裝置之用途>
本發明之影像顯示裝置具有顯示元件及配置於該顯示元件之光射出面側而成之光學用雙軸延伸塑膠膜。
本發明之影像顯示裝置可為於室內使用之影像顯示裝置，亦可為於室外使用之影像顯示裝置，較佳為於作為視認者使用偏光太陽鏡或偏光護目鏡等之環境之室外使用之影像顯示裝置。
具體而言，較佳為用於平板電腦、智慧型手機、智慧型手錶等手錶、汽車導航、PID(公共資訊顯示器)、魚群探測器或無人機操作畫面等之影像顯示裝置。於平板電腦及智慧型手機等之可攜型影像顯示裝置之情形時，外界光之條件及視認者與光射出面之位置會發生變化，因此藉由使用本案發明之光學用雙軸延伸塑膠膜，而不易產生黑視，故而較佳。又，於如PID般為固定型影像顯示元件裝置之情形時，雖然影像顯示裝置不動，但視認者一面移動一面觀看影像顯示裝置，因此要求於廣泛視角內不產生黑視，故較佳為使用本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜及使用其之功能性膜。
又，如上所述，本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜能夠抑制於彎曲試驗後殘留彎曲慣性力、或發生斷裂。因此，本發明之影像顯示裝置於為曲面之影像顯示裝置、可摺疊之影像顯示裝置之情形時，可發揮更顯著之效果，就該方面而言較佳。
再者，於影像顯示裝置為曲面之影像顯示裝置、可摺疊之影像顯示裝置之情形時，影像顯示裝置較佳為有機EL元件。
<偏光板之吸收軸與光學用塑膠之慢軸之關係>
第2偏光子相當於偏光太陽鏡或偏光護目鏡等之透鏡，例如於偏光太陽鏡之情形時，吸收水面等水平面之反射光，因此吸收軸成為水平方向。本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸較佳為與第2偏光子之吸收軸平行，即相對於地面為水平或大致水平。進而，於第1偏光子之吸收軸與第2偏光子之吸收軸垂直或大致垂 直之情形時會最大限度地發揮本發明之效果，故而較佳。PID用之縱向長之影像顯示裝置係使電視用之橫向長之影像顯示裝置旋轉了90度者，因此PID用影像顯示裝置與電視用影像顯示裝置之大部分係第1偏光子之吸收軸相差90度。因此，尤其於第2偏光子之吸收軸與第1偏光子垂直或大致垂直之情形時，會最大限度地發揮本發明之效果，故而較佳。
再者，於光學用雙軸延伸塑膠膜之面內慢軸的方向不均一之情形時，光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向意指光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸之平均方向。
[光學用雙軸延伸塑膠膜之選擇方法]
本發明之影像顯示裝置之光學用雙軸延伸塑膠膜之選擇方法係於影像顯示裝置之光射出面側的面上具有偏光板及光學用雙軸延伸塑膠膜之影像顯示裝置的光學用雙軸延伸塑膠膜之選擇方法，以具有滿足條件1及條件2之區域作為判定條件，將滿足該判定條件者選擇為光學用雙軸延伸塑膠膜。
條件1及2係上文所示之條件。本發明之影像顯示裝置之光學用雙軸延伸塑膠膜之選擇方法較佳為進而具有追加之判定條件作為判定條件。作為追加之判定條件，可列舉本發明之光學用雙軸延伸塑膠膜之較佳之實施形態(例如滿足條件3及/或條件4之實施形態等)。
根據本發明之顯示裝置之光學膜之選擇方法，可效率良好地選擇能夠對經由偏光太陽鏡進行觀察時之黑視進行抑制之光學膜，可提高作業性。
[實施例]
其次，藉由實施例而更詳細地說明本發明，但本發明並不受該等例任何限制。
1.測定、評價
以下測定及評價之環境設為溫度23℃±5℃、相對濕度40%RH以上且65%RH以下。又，於測定及評價之前，將樣品於該環境中暴露30分鐘以上。
1-1.亮度
自光學用雙軸延伸塑膠膜切出縱120mm×橫120mm之測定樣品。
依序重疊下述面光源、第1偏光子(以下，偏光子使用MeCan Imaging公司(MeCan Imaging Inc.)之「商品號：MUHD40S，偏光度：99.97%，平均透射率：40.0%」)、所切出之雙軸延伸塑膠膜及第2偏光子而製作第1測定樣品。將光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向配置成與第1偏光子之吸收軸的方向垂直，將第2偏光子之吸收軸配置成與第1偏光子之吸收軸的方向垂直。
使第1測定樣品之面光源進行白顯示。
測定裝置使用Cybernet公司之商品號「Prometric PM1423-1，成像亮度計，CCD分辨率：1536×1024」。將第1測定樣品與成像亮度計以圖1之位置關係進行設置。使相機與面光源之距離成為750mm。
將第1測定樣品內之在上下左右距離所切出之雙軸延伸塑膠膜之輪廓10mm內側之縱100mm×橫100mm之區域作為測定區域。
繼而，實施下述「測定前之設定」及「曝光時間之調整」，然後實施下述「測定及解析」。測定係於暗室環境下實施。
<測定前之設定>
(1)將該成像亮度計連接於個人電腦，啟動個人電腦內之該成像亮度計之配套軟體(RADIANT IMAGING Prometric 9.1 Version9.1.32)。
(2)當啟動該軟體時，該成像亮度計內之CCD溫度被自動調整為藍色顯示(-10℃)。等待直至CCD溫度穩定在-10℃為止。
(3)於該軟體之「測定設置」中指定「Color,1x1 binning」。
(4)將透鏡之光圈設定之刻度盤設為1.8，對焦於第2偏光子。
<曝光時間之調整>
實施該軟體之「曝光時間之調整」。具體而言，按照Y(綠)、X(紅)、Z(藍) 之順序點擊「調整」，然後進行保存。曝光時間之調整係於每次測定樣品時實施。
<測定及解析>
選擇工具列之「聚焦模式」，確認測定對象區域已映入聚焦模式之影像中。
點擊「執行測定」而實施測定。保存測定結果。
自工具列選擇「工具」及「處理測定資料」。繼而，自「選擇處理內容」之下拉選單中選擇「切取範圍」。繼而，指定相當於樣品之100mm×100mm之範圍，並進行保存。將該保存資料稱為「保存資料1」。
打開保存資料1。繼而，自工具列選擇「工具」及「測定資料之導出」。繼而，將資料之種類選為「亮度」，將解析度設為「X：100，Y：100」，將輸出形式設為「XY表」而導出excel表格資料。
藉由上述步驟而獲得縱橫100×100個測定點之亮度資料。藉由自測定結果抽選任意橫向一行100點，可獲得圖3所示之100點之亮度資料(L1.n，測定1之亮度)。
再者，於測定1中，關於與鄰接之測定點之亮度變動超過30%之測定點，視為由構成第1測定樣品之構件之局部缺陷所引起，而自測定結果排除。下述測定2亦同樣如此。
作為面光源，使用下述三種。
再者，下述所示之亮度意指於自測定2之測定中進而去除第2偏光子之條件下以100點測定點求出之亮度之平均值，亮度之3σ係根據所獲得之100點之亮度算出。
面光源之色溫係使用Cybernet公司之商品號「Prometric PM1423-1，成像亮度計，CCD分辨率：1536×1024」而測定。關於面光源之色溫之資料，除了將所導出之資料之種類自「亮度」變更為「相關色溫」以外，可與上述亮度測定同樣地獲得。並且，將自100mm×100mm之測定區域之四角朝向中央部前進了10mm之部位之4個部位、及樣品之中央部合計5個部位之色溫之平均值設為各面光源 之色溫。
<LED光源(LED)>
使用LED光源(GraphicsPower公司之商品名「Dbmier A4S」，薄型4.5mm USB饋電(278×372×4.5mm)作為面光源。
亮度：23021，亮度之3σ：6917，白顯示之色溫：10526K
<RGB顯示之OLED(OLED)>
使自Samsung公司之商品名「galaxy Note4」去除偏光子而成者顯示白色而用作面光源。
亮度：32995，亮度之3σ：2433，白顯示之色溫：6962K
<LCD顯示器(LCD)>
使自EIZO公司之商品名「EV2450Z」去除顯示元件之最表面之偏光子而成者顯示白色而用作面光源。
亮度：36907，亮度之3σ：1564，白顯示之色溫：7772K
拆卸掉光學用雙軸延伸塑膠膜，除此以外，與測定1同樣地實施測定2而測定亮度(L2.n，測定2之亮度)。再者，使作為測定2之測定區域之第2測定區域與作為測定1之測定區域之第1測定區域大致一致。
1-2.「亮度差之偏差3σ」之算出
使用所測得之100點之亮度L1.n與L2.n分別算出亮度差(L1.n-L2.n)。去除所獲得之100點之亮度差中之負值，算出「亮度差之偏差3σ」。第1偏光子與第2偏光子係以正交偏光鏡(cross nicol)方式配置，因此L2.n之亮度通常變低。亮度差為負之測定點可謂自正交偏光鏡局部地漏光而L2.n表示較高值之異常點，因此自3σ之算出排除。
再者，於實施例及比較例中，算出亮度差偏差3σ時所使用之亮度測定點之數量均為80以上。
1-2.面內相位差(Re)、厚度方向之相位差(Rth)及慢軸之偏差
自光學用雙軸延伸塑膠膜切出縱100mm×橫100mm之測定樣品。將該測定樣品之行進方向(MD方向)視為縱向，將塑膠膜之寬度方向(TD方向)視為橫向。對自該樣品之四角朝向中央部前進了10mm之部位之4個部位及該樣品之中央部合計5個部位測定面內相位差、厚度方向之相位差及慢軸的方向。將根據測定結果算出之Re1~Re5之平均值等示於表1。測定裝置使用大塚電子公司(Otsuka Electronics CO.,Ltd.)之商品名「RETS-100(測定點：直徑5mm)」。再者，慢軸的方向係將塑膠膜之行進方向(MD方向)設為基準之0度，在0度以上且90度以下之範圍內進行測定。
1-3.黑視評價
黑視之評價係藉由對18點文字之可讀性進行評價而進行。評價係於影像顯示裝置之電源斷開(OFF)之狀態下影像顯示裝置之表面之明度為300勒克司以上且750勒克司以下的亮室環境下進行。
接通影像顯示裝置之電源，於白色背景中使18點文字進行黑顯示，使20位評價者(自20多歲、30多歲、40多歲、50多歲各年代中各5人)自距離影像顯示裝置約750mm之距離處進行觀察，評價是否可判讀文字。使評價者之視線對應影像顯示裝置之高度。又，將評價者之位置設為影像顯示裝置之正面方向。將15人以上且20人以下可判讀者設為「A」，將10人以上且14人以下可判讀者設為「B」，將雖可判讀但為9人以下者設為「C」。
1-4.耐彎曲性
<TD方向>
自光學用雙軸延伸塑膠膜切出短邊(TD方向)30mm×長邊(MD方向)100mm之短條狀樣品。將該樣品之短邊(30mm)側之兩端固定於(固定自前端起10mm之區域)耐久試驗機(製品名「DLDMLH-FS」，YUASA SYSTEM公司 (YUASA SYSTEM CO.,LTD.))，進行10萬次摺疊180度之連續摺疊試驗。摺疊速度設為每1分鐘120次。將摺疊試驗之更詳細之手法示於以下。TD方向與慢軸的方向之平均方向大致吻合。
於摺疊試驗後將短條狀樣品至於水平之台上，測定樣品之端部自台上隆起之角度。將結果示於表1。再者，將樣品在途中斷裂者設為「斷裂」。
<MD方向>
自光學用雙軸延伸塑膠膜切出短邊(MD方向)30mm×長邊(TD方向)100mm之短條狀樣品。進行與上述相同之評價。
<摺疊試驗之詳情>
如圖6(A)所示般，於連續摺疊試驗中，首先將塑膠膜10之邊部10C及與邊部10C相對之邊部10D利用被平行地配置之固定部60分別進行固定。固定部60可沿水平方向進行滑動移動。
繼而，如圖6(B)所示，藉由使固定部60以彼此接近之方式移動，而使塑膠膜10以摺疊之方式變形，進而，如圖6(C)所示，使固定部60移動至塑膠膜10之由固定部60固定之相對之2個邊部之間隔成為10mm之位置後，使固定部60向反向移動而解除塑膠膜10之變形。
藉由如圖6(A)~(C)所示般使固定部60移動，可將塑膠膜10摺疊180度。又，以塑膠膜10之彎曲部10E不自固定部60之下端伸出之方式進行連續摺疊試驗，且將固定部60最接近時之間隔控制為10mm，藉此可使光學膜10之相對之2個邊部之間隔成為10mm。
[實施例1~3]
利用混練機將1kg之PET(熔點258℃，吸收中心波長：320nm)及0.1kg之紫外線吸收劑(2,2'-(1,4-伸苯基)雙(4H-3,1-苯并
Figure 109134167-A0305-12-0064-12
酮-4-酮))以280℃進行熔融混合而製作含有紫外線吸收劑之顆粒。將該顆粒及熔點258℃之PET投入至單軸 擠出機，以280℃進行熔融混練，自T型模頭擠出，在將表面溫度控制為25℃之流延鼓上進行流延而獲得流延膜。流延膜中之紫外線吸收劑之量相對於PET 100質量份為1質量份。
利用被設定為95℃之輥群對所獲得之流延膜進行加熱後，一面以延伸區間400mm(起點為延伸輥A，終點為延伸輥B，延伸輥A及B分別具有2根夾輥)之250mm地點處之膜溫度成為103℃之方式利用輻射加熱器對膜之正面及背面兩側進行加熱，一面將膜沿行進方向延伸3.3倍，然後暫時冷卻。再者，於利用輻射加熱器進行加熱時，藉由自輻射加熱器之膜之相反側向膜吹送92℃、4m/s之風，而於膜之正面及背面產生亂流，從而使膜之溫度均一性變亂。
繼而，於空氣中對該單軸延伸膜之兩面實施電暈放電處理，將基材膜之潤濕張力設為55mN/m，將「含有玻璃轉移溫度18℃之聚酯樹脂、玻璃轉移溫度82℃之聚酯樹脂、及平均粒徑100nm之二氧化矽粒子之易滑層塗佈液」線內塗佈於膜兩面之電暈放電處理面而形成易滑層。
繼而，將單軸延伸膜導入至拉幅機，以95℃之熱風進行預熱後，於第1段以105℃之溫度，於第2段以140℃之溫度沿膜寬度方向延伸4.5倍。此處，於將橫延伸區間分割成2個部分之情形時，橫延伸區間中間點處之膜之延伸量(測量地點處之膜寬-延伸前膜寬)係以成為橫延伸區間結束時之延伸量之80%之方式分2個階段進行延伸。對於已橫延伸之膜，直接於拉幅機內以熱處理溫度245℃之熱風自180℃起階段性地進行熱處理，繼而於相同溫度條件下沿寬度方向實施1%之鬆弛處理，進而於急冷至100℃後沿寬度方向實施1%之鬆弛處理，然後進行捲取而獲得厚度40μm之雙軸延伸聚酯膜1(實施例1~3中所使用之雙軸延伸聚酯膜)。
將所獲得之雙軸延伸聚酯膜1之各物性值、以及使用上述三種面光源時之「亮度差之偏差」及「黑視評價(可讀性)」之評價彙總於表1。
Figure 109134167-A0305-12-0066-2
實施例之雙軸延伸聚酯膜之可讀性不論面光源如何，均為良好之結果。又，雙軸延伸聚酯膜1之耐彎曲性良好。
[比較例1~8]
使用下述比較膜1~3作為聚酯膜，除此以外，與實施例1同樣地評價黑視(可讀性)。又，面光源使用表2~4中所記載者。將結果示於表2~4。
<比較膜1>
東洋紡股份有限公司(TOYOBO CO.,LTD.)之商品名「Cosmoshine A4300(Cosmoshine A4300)，雙軸延伸聚酯膜」(膜厚：188μm，Re之平均值8259nm)
<比較膜2>
東洋紡股份有限公司(TOYOBO CO.,LTD.)之商品名「Cosmoshine TA048(Cosmoshine TA048)，單軸延伸膜」(膜厚：80μm，Re之平均值10302nm)
<比較膜3>
東洋紡股份有限公司(TOYOBO CO.,LTD.)之商品名「Cosmoshine A4300(Cosmoshine A4300)，雙軸延伸聚酯膜」(膜厚：100μm，Re之平均值4207nm)
Figure 109134167-A0305-12-0067-3
Figure 109134167-A0305-12-0067-4
Figure 109134167-A0305-12-0067-5
於比較例1~8中，均可讀性較低，產生黑視。
[實施例4]
製作於實施例1之光學用雙軸延伸塑膠膜上進而積層反射率為0.15%之低折射率層作為功能層而成之實施例4之功能性膜。使用實施例4之功能性膜代替實施例1之光學用雙軸延伸塑膠膜，除此以外，與實施例1同樣地進行「亮度差之偏差3σ」及黑視評價。面光源使用表5中所記載者。將結果示於表5。
Figure 109134167-A0305-12-0068-6
如表5所示，實施例4之功能性膜表現出良好之可讀性。
又，即便將實施例4之低折射率層之反射率變更為0.65%、1.00%或1.65%，可讀性亦與實施例4同樣地良好。
[實施例5~7]
將寬度方向之延伸倍率自4.5倍變更為4.9倍，除此以外，與雙軸延伸聚酯膜1同樣地獲得實施例5~7中所使用之雙軸延伸聚酯膜2。
將所獲得之雙軸延伸聚酯膜2之各物性值、以及使用上述三種面光源時之「亮度差之偏差」及「黑視評價(可讀性)」之評價彙總於表6。
[表6]
Figure 109134167-A0305-12-0069-7
如表6所示，於實施例5~7中，不論面光源如何，可讀性均為良好之結果。又，雙軸延伸聚酯膜2之耐彎曲性良好。
[參考例1~2]
準備市售之雙軸延伸聚酯膜(東洋紡社(TOYOBO CO.,LTD.)，商品名「Cosmoshine A4100(Cosmoshine A4100)」，厚度：50μm，Re之平均值：2202nm)作為參考例1之光學用塑膠膜。
又，準備市售之單軸延伸聚酯膜(東洋紡社(TOYOBO CO.,LTD.)，商品名「Cosmoshine TA048(Cosmoshine TA048)」，厚度：80μm)作為參考例2之光學用塑膠膜。
使用參考例1及2之聚酯膜，與實施例同樣地評價耐彎曲性。將結果示於表7。
Figure 109134167-A0305-12-0070-8
自表7之結果確認到，與單軸延伸聚酯膜及一般之雙軸延伸膜相比，實施例之雙軸延伸聚酯膜之耐彎曲性良好。

Claims (15)

  1. 一種光學用雙軸延伸塑膠膜，其具有滿足下述<條件1>及下述<條件2>之區域：<條件1>以100個測定點算出下述測定1中所獲得之亮度與下述測定2中所獲得之亮度的亮度差(L1.n-L2.n)，從100個測定點之亮度差算出的「亮度差之偏差3σ」為100以上；《測定1》製作於面光源上依序配置第1偏光子、光學用雙軸延伸塑膠膜及第2偏光子而成之第1測定樣品，於第1測定樣品中，將該光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，使該第1測定樣品之面光源進行白顯示，以在任意第1區域內等間隔設定之縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光的亮度，自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L1.1，將第100個測定點之亮度定義為L1.100，將第n個測定點之亮度定義為L1.n；《測定2》製作於與該測定1相同之面光源上依序配置該第1偏光子及該第2偏光子而成之第2測定樣品，於第2測定樣品中，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，使該第2測定樣品之面光源進行白顯示，以在與該第1測定區域大致一致之區域內等間隔設定的縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光的亮度，自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個 測定點，將第1個測定點之亮度定義為L2.1，將第100個測定點之亮度定義為L2.100，將第n個測定點之亮度定義為L2.n；<條件2>對自縱100mm×橫100mm之光學用雙軸延伸塑膠膜之樣品之四角朝向中央部前進了10mm處之4個部位、及該樣品之中央部合計5個部位之波長550nm之面內相位差進行測定；將該5個部位之面內相位差分別定義為Re1、Re2、Re3、Re4、Re5時，Re1~Re5之平均值為2500nm以下。
  2. 如請求項1之光學用雙軸延伸塑膠膜，其中，波長550nm之面內相位差相對於波長550nm之厚度方向之相位差為0.10以下。
  3. 如請求項1之光學用雙軸延伸塑膠膜，其膜厚為20μm以上且200μm以下。
  4. 如請求項1之光學用雙軸延伸塑膠膜，其中，該條件2之Re1~Re5之平均值為520nm以上且2500nm以下。
  5. 如請求項1之光學用雙軸延伸塑膠膜，其中，測定該條件2之該5個部位之慢軸的方向，將該樣品之任意1邊與各測定部位之慢軸的方向所成之角度分別定義為D1、D2、D3、D4、D5時，D1~D5之最大值與最小值之差為5.0度以上。
  6. 如請求項5之光學用雙軸延伸塑膠膜，其中，D1~D5之最大值與最小值之差為5.0度以上且20.0度以下。
  7. 一種功能性膜，其係於請求項1至6中任一項之光學用雙軸延伸塑膠膜之單面具有功能層而成。
  8. 如請求項7之功能性膜，其中，該光學用雙軸延伸塑膠膜之該條件1之「亮度差之偏差3σ」為105以上且800以下。
  9. 如請求項7之功能性膜，其中，該光學用雙軸延伸塑膠膜之該條 件1之「亮度差之偏差3σ」為110以上且600以下。
  10. 一種偏光板，其具有偏光子、配置於該偏光子之一側而成的第1透明保護板及配置於該偏光子之另一側而成的第2透明保護板，該第1透明保護板及該第2透明保護板之至少一者為請求項1至6中任一項之光學用雙軸延伸塑膠膜。
  11. 一種影像顯示裝置，其具有顯示元件及配置於該顯示元件之光射出面側而成之塑膠膜，該塑膠膜為請求項1至6中任一項之光學用雙軸延伸塑膠膜。
  12. 如請求項11之影像顯示裝置，其於該顯示元件與該塑膠膜之間具有偏光子。
  13. 如請求項11或12之影像顯示裝置，其於該光學用雙軸延伸塑膠膜之與該顯示元件相反側進而具有功能層。
  14. 一種影像顯示裝置，其於顯示元件之光射出面上具有第1偏光子及光學用雙軸延伸塑膠膜，且係該光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向與該第1偏光子之吸收軸的方向配置成大致垂直而成，該光學用雙軸延伸塑膠膜具有滿足下述<條件1B>及下述<條件2B>之區域：<條件1B>以100個測定點算出下述測定1B中所獲得之亮度與下述測定2B中所獲得之亮度的亮度差(L1.n-L2.n)，從100個測定點之亮度差算出的「亮度差之偏差3σ」為100以上；《測定1B》製作於該顯示元件上依序配置該第1偏光子、該光學用雙軸延伸塑膠膜及第2偏光子而成之第1B測定樣品，於第1B測定樣品中，將該光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，將該第2偏光子 之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，使該第1B測定樣品之顯示元件進行白顯示，以在任意第1區域內等間隔設定之縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光的亮度，自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L1.1，將第100個測定點之亮度定義為L1.100，將第n個測定點之亮度定義為L1.n；《測定2B》製作於與該測定1B相同之顯示元件上依序配置該第1偏光子及該第2偏光子而成之第2B測定樣品，於第2B測定樣品中，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，使該第2B測定樣品之顯示元件進行白顯示，以在與該第1測定區域大致一致之區域內等間隔設定的縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光的亮度，自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L2.1，將第100個測定點之亮度定義為L2.100，將第n個測定點之亮度定義為L2.n；<條件2B>對自縱100mm×橫100mm之光學用雙軸延伸塑膠膜之樣品之四角朝向中央部前進了10mm處之4個部位、及該樣品之中央部合計5個部位之波長550nm之面內相位差進行測定；將該5個部位之面內相位差分別定義為Re1、Re2、Re3、Re4、Re5時，Re1~Re5之平均值為2500nm以下。
  15. 一種光學用雙軸延伸塑膠膜之選擇方法，其係於顯示元件之光射出面側的面上具有光學用雙軸延伸塑膠膜之影像顯示裝置的雙軸延伸塑膠膜之選擇方法，以具有滿足下述<條件1>及下述<條件2>之區域作為判定條件，將滿足該判定條件者選擇為光學用雙軸延伸塑膠膜： <條件1>以100個測定點算出下述測定1中所獲得之亮度與下述測定2中所獲得之亮度的亮度差(L1.n-L2.n)，從100個測定點之亮度差算出的「亮度差之偏差3σ」為100以上；《測定1》製作於面光源上依序配置第1偏光子、光學用雙軸延伸塑膠膜及第2偏光子而成之第1測定樣品，於第1測定樣品中，將該光學用雙軸延伸塑膠膜之慢軸的方向配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，使該第1測定樣品之面光源進行白顯示，以在任意第1區域內等間隔設定之縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光的亮度，自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L1.1，將第100個測定點之亮度定義為L1.100，將第n個測定點之亮度定義為L1.n；《測定2》製作於與該測定1相同之面光源上依序配置該第1偏光子及該第2偏光子而成之第2測定樣品，於第2測定樣品中，將該第2偏光子之吸收軸配置成與該第1偏光子之吸收軸的方向大致垂直，使該第2測定樣品之面光源進行白顯示，以在與該第1測定區域大致一致之區域內等間隔設定的縱橫100×100個測定點測定自該第2偏光子側射出之透射光的亮度，自測定結果抽選任意橫向一行100點，依序設為第1個測定點至第100個測定點，將第1個測定點之亮度定義為L2.1，將第100個測定點之亮度定義為L2.100，將第n個測定點之亮度定義為L2.n；<條件2> 對自縱100mm×橫100mm之光學用雙軸延伸塑膠膜之樣品之四角朝向中央部前進了10mm處之4個部位、及該樣品之中央部合計5個部位之波長550nm之面內相位差進行測定；將該5個部位之面內相位差分別定義為Re1、Re2、Re3、Re4、Re5時，Re1~Re5之平均值為2500nm以下。
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