TWI840195B - 馬達測試機構、轉子及馬達 - Google Patents
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Abstract
本發明揭露一種馬達測試機構、轉子及馬達。轉子包含轉子本體、端構件及心軸。轉子本體具有心軸穿孔。端構件具有內螺孔及多個迫緊構件。各個迫緊構件的一端與端構件連接,且多個迫緊構件彼此間隔地設置於迫緊構件。心軸的一端具有螺紋,心軸具有外徑變化區段。在心軸的螺紋與端構件的內螺孔相互鎖合的過程中,心軸的外徑變化區段將推抵多個迫緊構件,而各個迫緊構件將抵頂轉子本體的心軸穿孔的內壁面。當心軸的螺紋與內螺孔相互鎖固時,心軸將通過多個迫緊構件與轉子本體相互固定。
Description
本發明涉及一種馬達測試機構、轉子及馬達,特別是一種便於研發人員對馬達進行測試的馬達測試機構、轉子及馬達。
在馬達研發過程中,轉子及定子通常需要反覆地進行調校。在現有技術中,相關人員欲對馬達進行測試時,相關人員是將定子,以干涉的方式固定於測試機台上,此種方式,在拆裝定子的過程中,定子容易發生損傷,且相關人員必需耗費大量的時間進行定子的拆裝。另外,在現有技術中,在對馬達進行測試的過程中,轉子的心軸及轉子本體(通常是由矽剛製成)容易發生打滑的問題,且轉子的心軸與轉子本體的固定方式,大多也是採用干涉的方式進行,如此設計,心軸及轉子本體在拆裝的過程中,同樣容易發生損傷的問題。
本發明公開一種馬達測試機構,主要用以改善現有相關測試機構,是利用干涉的方式,將定子固定於測試機構中,如此設計,定子在拆裝的過程中,容易發生損傷且需要耗費大量的時間;本發明公開一種轉子及馬達,主要用以改善現有馬達的轉子,其所包含的心軸及轉子本體是利用干涉的方式進行固定,如此設計,心軸在拆裝的過程中,容易發生損傷且需要耗費大量的時間。
本發明的其中一實施例公開一種轉子,其包含一心軸、一轉子本體及一輔助固定組件。心軸的兩端分別定義為一鎖固端及一樞接端,心軸於鎖固端具有一螺紋,心軸具有一外徑變化區段,外徑變化區段鄰近於螺紋設置,心軸於外徑變化區段的外徑,是由鎖固端向樞接端逐漸遞增;轉子本體具有一心軸穿孔;輔助固定組件包含一端構件及多個迫緊構件,端構件包含一內螺孔,多個迫緊構件的一端與端構件連接,多個迫緊構件彼此間隔地與端構件連接,且多個迫緊構件是環繞內螺孔的外圍設置;各個迫緊構件的內側具有一導引面,各個迫緊構件的一外側面的外型,與心軸穿孔的一內壁面的至少一部分的外型相對應;其中,當心軸的螺紋與內螺孔相互鎖合時,多個迫緊構件的導引面抵靠於心軸的外徑變化區段的外圍,各個迫緊構件的外側面抵靠於內壁面,而心軸通過多個迫緊構件緊密地與轉子本體相互卡合。
本發明的其中一實施例公開一種馬達,其包含一定子及本發明的轉子。
本發明的其中一實施例公開一種馬達測試機構,其用以對一馬達進行測試,馬達包含一定子及本發明的轉子,馬達測試機構包含:一底座、一編碼器模組、一第一板件、一第二板件及一中間組件。編碼器模組包含一編碼器;第一板件的一端可拆卸地設置於底座,第一板件的一側設置有編碼器模組;第一板件具有一第一穿孔,第一板件於第一穿孔設置有一第一樞接件,且第一板件的一側具有一第一容槽;第二板件的一端可拆卸地設置於底座,第二板件具有一第二穿孔,第二板件於第二穿孔設置有一第二樞接件,且第二板件的一側具有一第二容槽;中間組件包含一中間板體及一鎖固件,中間板體通過多個固定件,與第一板件及第二板件相連接,且中間板體位於第一板件及第二板件之間;中間板體具有一定子容置孔,定子容置孔貫穿中間板體,中間板體具有一間隙,間隙將中間板體區隔為兩個臂部,兩個臂部分別具有一鎖固孔,鎖固件用以與兩個鎖固孔配合,以與中間板體相互固定;在鎖固件與中間板體相互鎖固的過程中,位於間隙兩側的兩個臂部,將向彼此相互靠近的方向移動,而定子容置孔的孔徑將縮小;其中,第一板件的第一樞接件及第二板件的第二樞接件分別用以與轉子的兩端相連接,中間組件用以固持定子。
綜上所述,本發明的轉子可以讓相關人員快速地進行轉子本體及心軸的拆裝,且轉子本體及心軸在拆裝過程中,不容易受損。本發明的馬達測試機構,通過第一板件、第二板件、中間組件等設計,特別是中間組件所包含的中間板體及鎖固件等設計,讓相關研發人員可以快速且方便地,將馬達安裝於馬達測試機構中,亦可快速且方便地由馬達測試機構,將馬達卸下,且馬達於拆裝過程中,不容易受損。
為能更進一步瞭解本發明的特徵及技術內容,請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖,但是此等說明與附圖僅用來說明本發明,而非對本發明的保護範圍作任何的限制。
於以下說明中,如有指出請參閱特定圖式或是如特定圖式所示,其僅是用以強調於後續說明中,所述及的相關內容大部份出現於該特定圖式中,但不限制該後續說明中僅可參考所述特定圖式。
請一併參閱圖1至圖4,圖1為本發明的馬達測試機構設置有馬達的示意圖,圖2為本發明的馬達測試機構及馬達的分解示意圖,圖3為本發明的馬達測試機構設置有馬達的剖面示意圖,圖4為本發明的馬達測試機構的中間板體、固定件及定子的分解示意圖。
本發明的馬達測試機構100用以對本發明的馬達200進行測試。馬達200包含一定子21及一轉子22。當然,本發明的馬達測試機構100也可以對一般的馬達進行測試。需說明的是,本發明的馬達200及轉子22,可以是分別獨立地製造、實施或販售。
馬達測試機構100包含:一底座11、一編碼器模組12、一第一板件13、一第二板件14、多個固定件15及一中間組件16。編碼器模組12包含一編碼器(Encoder)。關於編碼器的功用與習知相同,於此不再贅述。
在其中一個實施例中,編碼器模組12可以是磁性編碼器,而編碼器模組12還可以包含一固定座121、一電子模組122、一磁鐵固定座123、一感測磁鐵124及一固定件125。固定座121可拆卸地(例如通過螺絲)固定於第一板件13的一側。電子模組122包含現有常見的磁性編碼器所包含的電子零組件(例如電路板、微處理器等),電子模組122可拆卸地(例如通過螺絲)固定於固定座121。磁鐵固定座123用以通過固定件125鎖固於轉子22的一端構件2231的一鎖孔2213(如圖7所示),感測磁鐵124設置(例如卡合)於磁鐵固定座123。
第一板件13的一端可拆卸地(例如通過螺絲等)設置於底座11。第一板件13的一側設置有編碼器模組12。第一板件13具有一第一穿孔131,第一穿孔131貫穿第一板件13設置。第一板件13於第一穿孔131設置有一第一樞接件163。第一樞接件163例如是各式軸承。
第二板件14的一端可拆卸地(例如通過螺絲等)設置於底座11。第二板件14具有一第二穿孔141,第二穿孔141貫穿第二板件14設置。第二板件14於第二穿孔141設置有一第二樞接件164。第二樞接件164例如是各式軸承。
第一板件13的第一樞接件163及第二板件14的第二樞接件164,主要是用來與轉子22的兩端相連接,而轉子22可以通過第一樞接件163及第二樞接件164相對於第一板件13及第二板件14旋轉。關於第一板件13及第二板件14的外型及尺寸,不以圖中所示為限。如圖3所示,在馬達測試機構100對本發明的馬達200進行測試的實施例中,第一樞接件163可以是與轉子22的端構件2231相互樞接,而第二樞接件164則是與轉子22的心軸221相互樞接。
如圖2所示,中間組件16包含一中間板體161及一鎖固件162。中間板體161通過多個固定件15,與第一板件13及第二板件14相連接,且中間板體161位於第一板件13及第二板件14之間。各個固定件15例如螺絲,但不以此為限。具體來說,第一板件13、第二板件14及中間板體161可以是分別包含多個第一固定孔133、多個第二固定孔143及多個第三固定孔1614,多個固定件15能對應與多個第一固定孔133、多個第二固定孔143及多個第三固定孔1614相互配合,據以使第一板件13、第二板件14及中間板體161相互固定。
中間板體161具有一定子容置孔1611,定子容置孔1611貫穿中間板體161,中間板體161具有一間隙1612,間隙1612將中間板體161區隔為兩個臂部1613,兩個臂部1613分別具有一鎖固孔16131。鎖固件162用以與兩個鎖固孔16131相互配合,以與中間板體161相互固定。
在鎖固件162與中間板體161相互鎖固的過程中,位於間隙1612兩側的兩個臂部1613,將受鎖固件162的帶動,而向彼此相互靠近的方向移動,而定子容置孔1611的孔徑將縮小,藉此,位於定子容置孔1611中的定子21將被中間板體161所固持。通過上述設計,可以讓相關人員快速、簡單地將定子21固定於中間板體161中,且定子21無論是在安裝至中間板體161的過程中,或者,由中間板體161中卸下的過程中,定子21基本上不容易受到損傷。
另外,通過使中間板體161具有間隙1612,並使中間板體161配合鎖固件162,以固持定子21的設計,還可以有效地防止定子21在馬達200運轉的過程中,發生打滑的問題。
如圖2至圖4所示,在其中一個較佳的實施例中,第一板件13相反於設置編碼器模組12的一側,還可以具有一第一限位結構134,第二板件14面對中間組件16的一側具有一第二限位結構144,中間板體161的兩側分別具有一第三限位結構1615及一第四限位結構1616,第一板件13、中間板體161及第二板件14通過多個固定件15相互固定時,第一限位結構134與第三限位結構1615相互卡合,第二限位結構144及第四限位結構1616相互卡合。通過第一限位結構134、第二限位結構144、第三限位結構1615及第四限位結構1616的設計,當第一限位結構134與第三限位結構1615相互卡合時,第一板件13的所有第一固定孔133將與所有第三固定孔1614相互連通;同理,當第二限位結構144與第四限位結構1616相互卡合時,第二板件14的所有第二固定孔143將與所有第三固定孔1614相互連通,藉此,相關人員可以簡單且快速地使多個固定件15,穿過多個第一固定孔133、多個第二固定孔143及多個第三固定孔1614。需說明的是,關於第一限位結構134、第二限位結構144、第三限位結構1615及第四限位結構1616,具體的外型、結構及其設置位置,不以圖中所示為限。
如圖3所示,在其中一個較佳的實施例中,第一板件13的一側具有一第一容槽132,第二板件14的一側具有一第二容槽142,第一板件13、中間板體161及第二板件14通過多個固定件15相互固定時,第一容槽132及第二容槽142用以容置被中間組件16所固持的定子21的一部分及轉子22的一部分。在實際應用中,可以依據使用者的需求,對第一容槽132的尺寸及第二容槽142的尺寸進行設計,藉此,讓第一板件13、第二板件14及中間板體161可以共同容置不同尺寸的馬達200。
請一併參閱圖5至圖8,圖5及圖6分別為本發明的轉子的不同視角的分解示意圖,圖7為本發明的轉子的心軸、端構件及轉子本體的局部分解剖面示意圖,圖8本發明的轉子的剖面示意圖。
本發明的轉子22包含一心軸221、一轉子本體222及一輔助固定組件223。心軸221的兩端分別定義為一鎖固端221A及一樞接端221B。心軸221於鎖固端221A具有一螺紋2211,心軸221具有一外徑變化區段2212,外徑變化區段2212鄰近於螺紋2211設置,心軸221於外徑變化區段2212的外徑,是由鎖固端221A向樞接端221B逐漸遞增。
轉子本體222具有一心軸穿孔2221。心軸穿孔2221貫穿轉子本體222設置。心軸穿孔2221用以提供心軸221的一部分及輔助固定組件223的一部分穿設。轉子本體222例如可以是由矽剛製成,且轉子本體222可以是設置有多個永久磁鐵,而定子21則是具有多個纏繞有線圈的單元。
輔助固定組件223包含一端構件2231及多個迫緊構件2232。端構件2231包含一內螺孔22311及多個組裝結構22312。多個組裝結構22312環繞內螺孔22311的外圍設置。各個迫緊構件2232的一端具有一卡合部22321,各個卡合部22321用以與其中一個組裝結構22312相互卡合。在實際應用中,各個組裝結構22312例如可以是由端構件2231的一側內凹形成的卡合凹槽,而各個迫緊構件2232的一端的卡合部22321的外型,則是大致對應於卡合凹槽的外型。
各個迫緊構件2232通過卡合部22321與其中一個組裝結構22312相互卡合後,各個卡合部22321與組裝結構22312之間存在一間隙S(如圖7所示),而迫緊構件2232能相對於端構件2231擺動。需特別強調的是,於此所指的間隙S,是用來讓迫緊構件2232能受外力作用,以相對於端構件2231擺動,而所述間隙S不是迫緊構件2232及端構件2231於生產製造時所產生的公差。
設置於端構件2231的多個迫緊構件2232,是環繞內螺孔22311的外圍設置,且多個迫緊構件2232彼此間隔地設置。關於迫緊構件2232的數量及其彼此間的間隔距離等,皆可依據實際需求加以設計,不以圖中所示為限。
各個迫緊構件2232的一內側具有一導引面22322,各個迫緊構件2232的一外側面的外型,與轉子本體222的心軸穿孔2221的一內壁面22211的至少一區段的外型相對應。各個迫緊構件2232的厚度,是由各個迫緊構件2232與端構件2231相連接的一端向另一端逐漸遞減。如圖7所示,較佳地,於一截面中,心軸221的外徑變化區段2212的邊線的一傾斜角度θ可以是介於0.5~10度,所述截面的法線方向垂直於所述心軸的一中心軸方向。所述傾斜角度θ的設計可以是依據迫緊構件2232的材質進行改變,於此不加以限制。
如圖6至圖8所示,在實際應用中,轉子22的組裝方式可以是:先使端構件2231的多個迫緊構件2232,置入於轉子本體222的心軸穿孔2221中,而使各個迫緊構件2232的外側面對端構件2231的心軸穿孔2221的內壁面22211;接著,使心軸221的鎖固端221A的螺紋2211通過轉子本體222的心軸穿孔2221,而與端構件2231的內螺孔22311相互鎖固。
在心軸221的螺紋2211與端構件2231的內螺孔22311相互鎖合的過程中,心軸221的外徑變化區段2212將會抵頂多個迫緊構件2232的導引面22322,而使各個導引面22322向轉子本體222的心軸穿孔2221的內壁面22211擺動。
如圖8所示,當心軸221的螺紋2211,與端構件2231的內螺孔22311完全鎖合後,多個迫緊構件2232的導引面22322將抵靠於心軸221的外徑變化區段2212的外圍,且各個迫緊構件2232的外側,將因為受心軸221的外徑變化區段2212的抵頂,而緊密地抵頂於轉子本體222的內壁面22211,心軸221則可通過多個迫緊構件2232穩固地與轉子本體222相互卡合。
簡單來說,當心軸221的螺紋2211與端構件2231的內螺孔22311相互鎖固後,心軸221的外徑變化區段2212將會通過迫緊構件2232,而與轉子本體222呈現為類似緊配合的方式相互穩固地連接,如此設計,在轉子22運轉的過程中,轉子22及心軸221將不容易發生相對旋轉(即類似打滑的情況)的問題。
在馬達的研發過程中,相關研發人員欲對轉子進行修改時,基本上是對轉子的轉子本體進行修改,因此,在研發過程中,研發人員可能需要反覆地進行心軸及轉子本體的拆裝作業。在現有技術中,轉子本體與心軸大多是採用干涉的方式進行固定,因此,研發人員必需耗費大量的時間進行轉子本體及心軸的拆裝。而且,研發人員在進行轉子本體及心軸的安裝的過程中,還需要謹慎地進行轉子本體及心軸的對位,以確保轉子運轉時,心軸及轉子本體可以是以同一軸線進行旋轉。另外,在現有技術中,因為心軸與轉子本體是以干涉的方式相互固定,所以相關人員在拆裝的過程中,也容易造成心軸或轉子本體的損傷。
反觀,本發明的轉子22通過端構件2231的內螺孔22311、多個迫緊構件2232、心軸221的外徑變化區段2212及心軸221的螺紋2211等設計,可以讓相關人員可以快速且簡單地進行心軸221及轉子本體222的拆裝,且於拆裝過程中,心軸221及轉子本體222都不容易受到損傷。而且,由於心軸221是通過螺紋2211與端構件2231的內螺孔22311相互鎖合,且心軸221是通過外徑變化區段2212,與多個迫緊構件2232相互配合,以與轉子本體222相互卡合,因此,只要心軸221的螺紋2211是正確地與內螺孔22311相互鎖合,即可確保轉子22在旋轉時,心軸221與轉子本體222是以大致相同的中心軸線為中心進行旋轉。
在實際應用中,通過使各個迫緊構件2232可拆卸地與端構件2231地相連接的設計,可以讓相關研發人員可以通過更換不同的多個迫緊構件2232,以使同一個心軸221與不同的轉子本體222相互連接,如此設計,可以有效地降低研發成本,且相關研發人員可以快速地、方便地完成對另一個轉子本體222進行測試的前置作業(即,使轉子本體222、心軸221及端構件2231相互固定)。
請參閱圖9,其本發明的轉子的另一實施例的分解示意圖。本實施例與前述實施例最大不同之處在於:本實施例的端構件2231與多個迫緊構件2232是一體成型地設置,且端構件2231與各個迫緊構件2232相連接的位置的周圍具有至少一凹槽,凹槽的深度不小於0.2公釐。
更具體來說,端構件2231可以是具有一內環狀凹槽22313及一外環狀凹槽22314,內環狀凹槽22313是由位於各個迫緊構件2232的內側的凹槽相互連通所構成,外環狀凹槽22314是由位於各個迫緊構件2232的外側的凹槽相互連通而成。通過內環狀凹槽22313及外環狀凹槽22314的設計,在心軸221與端構件2231相互鎖合的過程中,各個迫緊構件2232將相對容易相對於端構件2231向轉子本體222的方向擺動。
需說明的是,於本實施例中,是以端構件2231同時具有內環狀凹槽22313及外環狀凹槽22314為例,但在不同的實施例中,端構件2231也可以是僅包含內環狀凹槽22313或僅包含外環狀凹槽22314。在不同的實施例中,端構件2231於各個迫緊構件2232的周圍所具有的凹槽,可以是不與周圍的其他凹槽相互連通。
綜上所述,本發明的馬達測試機構通過第一板件、第二板件、中間板體等設計,可以讓相關人員快速地進行馬達的轉子及定子的安裝及拆卸,且轉子及定子在拆裝過程中,都不容易受到任何破壞。相對地,在習知技術中,相關測試機構是以干涉的方式,與定子進行固定,為此,定子在拆裝過程中,不但麻煩還容易造成損傷。本發明的轉子及馬達,通過心軸具有螺紋及端構件具有內螺孔,配合多個迫緊構件等設計,可以讓心軸與端構件相互所固時,心軸可以通過迫緊構件而更緊密地與轉子本體相互連接,如此,轉子在旋轉過程中,心軸旋轉的動能將可以有效地傳遞至轉子本體,且心軸及轉子本體兩者之間不容易發生相對旋轉的問題。
以上所述僅為本發明的較佳可行實施例,非因此侷限本發明的專利範圍,故舉凡運用本發明說明書及圖式內容所做的等效技術變化,均包含於本發明的保護範圍內。
100:馬達測試機構
11:底座
12:編碼器模組
121:固定座
122:電子模組
123:磁鐵固定座
124:感測磁鐵
125:固定件
13:第一板件
131:第一穿孔
132:第一容槽
133:第一固定孔
134:第一限位結構
14:第二板件
141:第二穿孔
142:第二容槽
143:第二固定孔
144:第二限位結構
15:固定件
16:中間組件
161:中間板體
1611:定子容置孔
1612:間隙
1613:臂部
16131:鎖固孔
1614:第三固定孔
1615:第三限位結構
1616:第四限位結構
162:鎖固件
163:第一樞接件
164:第二樞接件
200:馬達
21:定子
22:轉子
221:心軸
221A:鎖固端
221B:樞接端
2211:螺紋
2212:外徑變化區段
2213:鎖孔
222:轉子本體
2221:心軸穿孔
22211:內壁面
223:輔助固定組件
2231:端構件
22311:內螺孔
22312:組裝結構
22313:內環狀凹槽
22314:外環狀凹槽
2232:迫緊構件
22321:卡合部
22322:導引面
S:間隙
θ:傾斜角度
圖1為本發明的馬達測試機構設置有馬達的示意圖。
圖2為本發明的馬達測試機構及馬達的分解示意圖。
圖3為本發明的馬達測試機構設置有馬達的剖面示意圖。
圖4為本發明的馬達測試機構的中間板體、固定件及定子的分解示意圖。
圖5及圖6分別為本發明的轉子的不同視角的分解示意圖。
圖7為本發明的轉子的心軸、端構件及轉子本體的局部分解剖面示意圖。
圖8本發明的轉子的剖面示意圖。
圖9本發明的轉子的另一實施例的分解示意圖。
100:馬達測試機構
12:編碼器模組
121:固定座
122:電子模組
123:磁鐵固定座
124:感測磁鐵
125:固定件
13:第一板件
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134:第一限位結構
14:第二板件
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15:固定件
16:中間組件
161:中間板體
1615:第三限位結構
1616:第四限位結構
162:鎖固件
163:第一樞接件
164:第二樞接件
200:馬達
21:定子
22:轉子
221:心軸
2231:端構件
Claims (10)
- 一種轉子,其包含: 一心軸,其兩端分別定義為一鎖固端及一樞接端,所述心軸於所述鎖固端具有一螺紋,所述心軸具有一外徑變化區段,所述外徑變化區段鄰近於所述螺紋設置,所述心軸於所述外徑變化區段的外徑,是由所述鎖固端向所述樞接端逐漸遞增; 一轉子本體,其具有一心軸穿孔; 一輔助固定組件,其包含一端構件及多個迫緊構件,所述端構件包含一內螺孔,多個所述迫緊構件的一端與所述端構件連接,多個所述迫緊構件彼此間隔地與所述端構件連接,且多個所述迫緊構件是環繞所述內螺孔的外圍設置;各個所述迫緊構件的內側具有一導引面,各個所述迫緊構件的一外側面的外型,與所述心軸穿孔的一內壁面的至少一部分的外型相對應; 其中,當所述心軸的所述螺紋與所述內螺孔相互鎖合時,多個所述迫緊構件的所述導引面抵靠於所述心軸的所述外徑變化區段的外圍,各個所述迫緊構件的所述外側面抵靠於所述內壁面,而所述心軸通過多個所述迫緊構件緊密地與所述轉子本體相互卡合。
- 如請求項1所述的轉子,其中,所述端構件包含多個組裝結構,多個所述組裝結構環繞所述內螺孔的外圍設置;各個所述迫緊構件的一端具有一卡合部,各個所述卡合部用以與其中一個所述組裝結構相互卡合;各個所述迫緊構件通過所述卡合部與其中一個所述組裝結構相互卡合後,各個所述卡合部與所述組裝結構之間存在一間隙,而所述迫緊構件能相對於所述端構件擺動。
- 如請求項1所述的轉子,其中,各個所述迫緊構件的厚度,是由各個所述迫緊構件與所述端構件相連接的一端向另一端逐漸遞減;於一截面中,所述心軸的所述外徑變化區段的邊線的一傾斜角度介於0.5~10度,所述截面的法線方向垂直於所述心軸的一中心軸方向。
- 如請求項1所述的轉子,其中,所述端構件與多個所述迫緊構件是一體成型地設置,且所述端構件與各個所述迫緊構件相連接的位置的周圍具有至少一凹槽,所述凹槽的深度不小於0.2公釐。
- 如請求項4所述的轉子,其中,所述端構件具有一內環狀凹槽及一外環狀凹槽中的至少一個,所述內環狀凹槽是由鄰近於各個所述迫緊構件的內側的多個所述凹槽相互連通所構成,所述外環狀凹槽是由鄰近於各個所述迫緊構件的外側的多個所述凹槽相互連通而成。
- 如請求項1所述的轉子,其中,所述端構件相反於設置有多個所述迫緊構件的一端具有一鎖孔,所述鎖孔用以與一編碼器模組的一磁鐵固定座相互鎖固。
- 一種馬達,其包含:如請求項1至6任一項所述的轉子及一定子。
- 一種馬達測試機構,其用以對一馬達進行測試,所述馬達包含一定子及如請求項1至6任一項所述的轉子,所述馬達測試機構包含: 一底座; 一編碼器模組,其包含一編碼器; 一第一板件,其一端可拆卸地設置於所述底座,所述第一板件的一側設置有所述編碼器模組;所述第一板件具有一第一穿孔,所述第一板件於所述第一穿孔設置有一第一樞接件,且所述第一板件的一側具有一第一容槽; 一第二板件,其一端可拆卸地設置於所述底座,所述第二板件具有一第二穿孔,所述第二板件於所述第二穿孔設置有一第二樞接件,且所述第二板件的一側具有一第二容槽; 一中間組件,其包含一中間板體及一鎖固件,所述中間板體通過多個固定件,與所述第一板件及所述第二板件相連接,且所述中間板體位於所述第一板件及所述第二板件之間;所述中間板體具有一定子容置孔,所述定子容置孔貫穿所述中間板體,所述中間板體具有一間隙,所述間隙將所述中間板體區隔為兩個臂部,兩個所述臂部分別具有一鎖固孔,所述鎖固件用以與兩個所述鎖固孔配合,以與所述中間板體相互固定;在所述鎖固件與所述中間板體相互鎖固的過程中,位於所述間隙兩側的兩個所述臂部,將向彼此相互靠近的方向移動,而所述定子容置孔的孔徑將縮小; 其中,所述第一板件的所述第一樞接件及所述第二板件的所述第二樞接件分別用以與所述轉子的兩端相連接,所述中間組件用以固持所述定子。
- 如請求項8所述的馬達測試機構,其中,所述第一板件相反於設置所述編碼器模組的一側,具有一第一限位結構,所述第二板件面對所述中間組件的一側具有一第二限位結構,所述中間板體的兩側分別具有一第三限位結構及一第四限位結構,所述第一板件、所述中間板體及所述第二板件通過多個所述固定件相互固定時,所述第一限位結構與所述第三限位結構相互卡合,所述第二限位結構及所述第四限位結構相互卡合;所述第一板件的一側具有一第一容槽,所述第二板件的一側具有一第二容槽,所述第一板件、所述中間板體及所述第二板件通過多個所述固定件相互固定時,所述第一容槽及所述第二容槽用以容置被所述中間組件所固持的所述定子的一部分及所述轉子的一部分。
- 如請求項8所述的馬達測試機構,其中,所述編碼器模組還包含一磁鐵固定座及一感測磁鐵,所述磁鐵固定座用以通過一固定件鎖固於所述轉子的一端,所述感測磁鐵設置於所述磁鐵固定座。
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| TW112114678A TWI840195B (zh) | 2023-04-20 | 2023-04-20 | 馬達測試機構、轉子及馬達 |
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| TWI840195B true TWI840195B (zh) | 2024-04-21 |
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2023
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