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TWI728085B - 顯示設備 - Google Patents

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TWI728085B
TWI728085B TW106110556A TW106110556A TWI728085B TW I728085 B TWI728085 B TW I728085B TW 106110556 A TW106110556 A TW 106110556A TW 106110556 A TW106110556 A TW 106110556A TW I728085 B TWI728085 B TW I728085B
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TW
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layer
conductive layer
inorganic
conductive
disposed
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TW106110556A
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Inventor
李東炫
金得鐘
Original Assignee
南韓商三星顯示器有限公司
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Publication date
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Abstract

提供一種顯示設備，其包括基板、電路和像素電極。基板包括顯示區域和顯示區域外的周邊區域。電路設置在顯示區域中。電路包括複數個導電層，並且每個導電層接觸直接配置於每個導電層下方的對應的無機層。像素電極設置在電路上並且電性連接到導電層中的至少其一。

Description

顯示設備
相關申請案之交互參照
本申請案主張於2016年4月4日向韓國智慧財產局提出之韓國專利申請號第10-2016-0041257號之優先權，揭露之全部內容於此併入作為參考。
本揭露的示例性實施例涉及一種顯示設備，更具體地，涉及一種可以防止導電層中短路的顯示設備。
顯示設備包括顯示裝置和控制施加到顯示裝置的電訊號的電子裝置。電子裝置可以包括例如薄膜電晶體(TFT，thin-film transistor)、電容器和複數個導線。
為了正確地控制顯示裝置的發光和顯示裝置的發光程度，可以增加電性連接到顯示裝置的薄膜電晶體的數量，並且也可以增加向薄膜電晶體傳送電訊號的導線數目。
根據本發明的示例性實施例，顯示設備包括基板、電路和像素電極。基板包括顯示區域和顯示區域外的周邊區域。電路設置在顯示區域。電路包括複數個導電層。每個導電層接觸直接配置於每個導電層下方的對應的無機層。像素電極配置在電路上並且電性連接到導電層中的至少其一。
在一個示例性實施例中，每個導電層的底面直接接觸設置在各導電層下方的對應的無機層。
在一個示例性實施例中，導電層包括第一導電層和設置在第一導電層上方的第二導電層。無機層包括層間絕緣層、第一無機層和第二無機層。層間絕緣層設置在第一導電層下方。第一無機層設置在第一導電層與第二導電層之間，並且包括暴露第一導電層的至少一部分表面的第一開口。第二導電層透過第一開口接觸第一導電層。第二無機層覆蓋第二導電層，並在第二導電層之外部與第一無機層接觸。
在示例性實施例中，第二無機層包括暴露第二導電層的至少一部分表面的第二開口。
在一個示例性實施例中，顯示設備還包括覆蓋第二無機層並包括與第二開口對應的接觸孔的平坦化層。第二導電層的至少一部份表面藉由接觸孔和第二開口露出，且像素電極設置在平坦化層之上並電性連接到第二導電層。
在一個示例性實施例中，層間絕緣層在周邊區域上延伸，並且顯示設備還包括第一導線、第二導線和覆蓋第一導線的有機材料層。第一導線設置在周邊區域中的層間絕緣層的上方，並且包括與第一導電層相同的材料。第二導線設置在周邊區域的有機材料層上，並且包括與第二導電層相同的材料。
在一個示例性實施例中，第一無機層在周邊區域上延伸並覆蓋第一導線，有機材料層設置在第一無機層之上，且第二無機層在周邊區域上延伸並覆蓋第二導線。
在一個示例性實施例中，基板包括包含顯示區域的第一區域、包含周邊區域的至少一部分的第二區域以及設置在第一區域與第二區域之間的彎 曲區域。基板相對於彎曲軸在彎曲區域中彎曲。第一無機層包括對應於彎曲區域的開口部分，有機材料層填充開口部分，且第二無機層包括對應於開口部分的附加開口部分。
在一個示例性實施例中，第一導線和第二導線在不同的層上彼此交叉。
在一個示例性實施例中，基板在設置有機材料層的區域中彎曲。
在一個示例性實施例中，顯示設備還包括設置在顯示區域中的薄膜電晶體(TFT)。薄膜電晶體包括主動層和閘極電極。主動層包括通道區、設置在通道區的第一側的源極區和設置在與第一側相對的通道區的第二側的汲極區。閘極電極設置在主動層上方並與主動層絕緣，且第一導電層與源極區或汲極區電性連接。
在一個示例性實施例中，第二導電層電性連接到源極區或汲極區。
在一個示例性實施例中，下電源供應線設置在與顯示區域中的第一導電層相同的層上，並且上電源供應線設置在與顯示區域中的第二導電層相同的層上。下電源供應線和上電源供應線彼此電性連接。
在一個示例性實施例中，第一無機層設置在下電源供應線與上電源供應線之間。第一無機層包括暴露下電源供應線的至少一部分表面的附加開口，並且上電源供應線透過附加開口接觸下電源供應線。
根據本揭露的示例性實施例，顯示設備包括基板、設置在基板上的複數個導電層、設置在基板上的複數個無機層以及設置在基板上並電性連接 到導電層的至少一個的像素電極。每個導電層的底面接觸設置在每個導電層下方的無機層的對應的一個的頂面。
在一個示例性實施例中，每個導電層的底面直接接觸無機層的對應的一個的頂面。
在一個示例性實施例中，每個導電層直接設置在無機層之對應的一個上。
在一個示例性實施例中，導電層包括第一導電層和設置在第一導電層上方的第二導電層。無機層包括層間絕緣層、第一無機層和第二無機層。層間絕緣層設置在第一導電層下方。第一無機層設置在第一導電層與第二導電層之間，並且包括暴露第一導電層的至少一部分的第一開口。第二導電層透過第一開口接觸第一導電層。第二無機層覆蓋第二導電層，並在第二導電層之外側與第一無機層接觸。
在一個示例性實施例中，第二無機層包括暴露第二導電層的至少一部分的第二開口。
在一個示例性實施例中，顯示設備包括覆蓋第二無機層並包括與第二開口對應的接觸孔的平坦化層。第二導電層的部分透過接觸孔和第二開口露出，且像素電極設置在平坦化層之上，並電性連接到第二導電層。
DA:顯示區域
PA:周邊區域
BA:彎曲區域
1A:第一區域
2A:第二區域
BAX:彎曲軸
OLED:有機發光裝置
T1、T2、T3、T4、T5、T6、T7:薄膜電晶體
G1、G2、G3、G4、G5、G6、G7:閘極電極
S1、S2、S3、S4、S5、S6、S7:源極電極
D1、D2、D3、D4、D5、D6、D7:汲極電極
Cst:儲存電容器
Cst1、125a:第一儲存電容板
Cst2、127:第二儲存電容板
Sn:掃描訊號
Sn-1:先前掃描訊號
En:發光控制訊號
Dm:數據訊號
ELVDD:驅動電壓
ELVSS:共用電極
Vint:初始化電壓
Id:驅動電流
Ibp:旁路電流
IOLED:發光電流
110:基板
111:緩衝層
121:掃描線
122:先前掃描線
123:發光控制訊號線
124:初始化電壓線
125b:開關閘極電極
125c、125c1、125c2:補償閘極電極
125d、125d1、125d2:初始化閘極電極
125e:操作控制閘極電極
125g:旁路閘極電極
125f:發光控制閘極電極
126:遮蔽層
131a:驅動通道區
131b:開關通道區
131c1、131c2、131c3:補償通道區
131d1、131d2、131d3:初始化通道區
131e:操作控制通道區
131f:發光控制通道區
131g:旁路通道區
141:第一閘極絕緣層
142:第二閘極絕緣層
143:層間絕緣層
151:第一無機層
152:有機材料層
153:第二無機層
154:平坦化層
171:數據線
172:下電源供應線
173:初始化連接線
174:連接構件
175:中間連接層
175a:第一導線
179a:第二導線
176a:驅動源極區
176b:開關源極區
176c:補償源極區
176d:初始化源極區
176e:操作控制源極區
176g:旁路源極區
176f:發光控制源極區
177a:驅動汲極區
177b:開關汲極區
177c:補償汲極區
177d:初始化汲極區
177e:操作控制汲極區
177f:發光控制汲極區
177g:旁路汲極區
178:上電源供應線
179:輔助連接層
161、162、163、164、165、166、167、168、169、181、183、185:接觸孔
191:像素電極
27:儲存開口
本揭露的上述描述和其他特徵將藉由參考附圖詳細描述其示例性實施例而變得更加明顯，其中：第1圖是根據本揭露的示例性實施例繪示顯示設備的一部分的平面圖。
第2圖是根據本揭露的示例性實施例繪示第1圖的顯示設備中的一個子像素的等效電路圖。
第3圖是根據本揭露的示例性實施例繪示第2圖的子像素中的複數個薄膜電晶體(TFT)和電容器的位置的佈局圖。
第4圖至第8圖是根據本揭露的示例性實施例繪示第3圖的佈局圖。
第9圖是根據本揭露的示例性實施例的沿著第3圖的IX-IX線截取的子像素的一部分的截面圖。
第10圖是根據本揭露的示例性實施例的沿著第3圖的X-X線截取的子像素的一部分的截面圖。
第11圖是根據本揭露的示例性實施例的第1圖的XI部分的截面圖。
第12圖是根據本揭露的示例性實施例的顯示設備的一部分的透視圖。
第13圖是根據本揭露的示例性實施例的顯示設備的一部分的截面圖。
將在下文中參考附圖更全面地描述本揭露的示例性實施例。在附圖中，為了清楚起見，層和區域的尺寸和相對尺寸可能被誇大。附圖中相同的元件符號可以表示相同的元件。
將理解的是，當包括例如層、膜、區域或板等的各種元件被稱為在另一層、膜、區域或板「上(over)」時，它可以直接在另一層、膜、區域或板上，或者可以在其與另一層、膜、區域或板之間插入一個或複數個中間層、膜、區域或板。
在下文中，將理解的是，X軸、Y軸和Z軸不限於直角坐標系上的三個軸。例如，X軸、Y軸和Z軸可以實質上彼此垂直，或者可以指示彼此實質上不垂直的不同方向。
當兩個元件被描述為實質上彼此平行或垂直時，將理解的是，兩個元件彼此精確地平行或垂直，或者由具有所屬領域具有通常知識者理解的彼此大致平行或垂直。此外，當兩個或複數個事件被描述為實質上同時發生或實質上同步發生時，應當理解的是，事件可以精確地相同的時間或由具有所屬領域具有通常知識者理解的大約在同一時間發生。此外，當將兩個或複數個元件或數值描述為彼此實質上相同或大致相等時，應當理解，元件或數值係由具有所屬領域具有通常知識者理解的彼此相同、彼此可區分、或彼此可區分但功能上彼此相同。
在本文中可以使用空間相關的用語，諸如「之下(beneath)、「下方(below)」、「下部(lower)」、「下面(under)」、「上方(above)」、「上部(upper)」等，以便於描述如圖所示的一個元件或特徵與另一元件或特徵的元件關係。將理解的是，除了圖中所示的方位之外，空間相對用語旨在包括使用或操作中的裝置的不同方位。例如，如果圖中的裝置被翻轉，則被描述為「下方(below)」或「之下(beneath)」或「下面(under)」的其他元件或特徵將被定向為在其他元件 或特徵的「上方(above)」。因此，「下方(below)」和「下面(under)」的示例性用語可以包括上下方向。
將理解的是，當諸如膜、區域、層或元件的部件被稱為在另一部件「上(on)」，或「連接到(connected to)」、「耦合到(coupled to)」或「鄰近(adjacent to)」另一個部件時，它可以直接在另一部件上、或直接連接、耦合或相鄰於另一部件，或者可以存在中間部件。還將理解的是，當部件被稱為在兩個部件「之間(between)」時，其可以是兩個部件之間的唯一部件，或者也可以存在一個或複數個中間部件。還將理解的是，當將部件稱為「覆蓋」另一部件時，其可以是覆蓋另一部件的唯一部件，或者一個或複數個中間部件也可以覆蓋另一部件。
將進一步理解的是，用語「第一(first)」、「第二(second)」、「第三(third)」等在本文中用於區分一個元件與另一個元件，並且元件不受這些術語的限制。因此，在另一示例性實施例中，示例性實施例中的「第一(first)」元件在另一示例性實施例中可以被描述為「第二(second)」元件。
第1圖是示出根據本揭露的示例性實施例的顯示設備的一部分的平面圖。如第1圖所示，根據示例性實施例的顯示設備包括基板110。包括在根據第1圖所示的示例性實施例的顯示設備中的基板110具有顯示區域DA和在顯示區域DA之外的周邊區域PA。在下文中，顯示設備也可以稱為有機發光顯示設備。例如有機發光裝置等的各種顯示裝置可以被設置在基板110的顯示區域DA中。用於傳遞以施加到顯示區域DA的電訊號的各種導線可以設置在基板110的周邊區域PA中。在下文中，假設顯示設備包括作為顯示裝置的有機發光裝置。然而，本揭露不限於此。
第2圖是示出根據本揭露的示例性實施例的第1圖的顯示設備的顯示區域DA中的一個子像素的等效電路圖。第2圖繪示子像素包括有機發光裝置OLED的情況。
如第2圖所示，根據示例性實施例的顯示設備的一個子像素包括複數個訊號線121、122、123、124和171、連接至訊號線121、122、123、124和171的複數個薄膜電晶體(TFT)T1、T2、T3、T4、T5、T6和T7、儲存電容器Cst、電源供應線172和178(參考第3圖、第7圖和第8圖關於電源供應線178之描述)以及有機發光裝置OLED。訊號線121、122、123、124和171以及/或電源供應線172和178可以在複數個子像素之間共享。
薄膜電晶體(TFT)T1、T2、T3、T4、T5、T6和T7包括驅動薄膜電晶體T1、開關薄膜電晶體T2、補償薄膜電晶體T3、初始化薄膜電晶體T4、驅動控制薄膜電晶體T5、發光控制薄膜電晶體T6、旁路(bypass)薄膜電晶體T7。
參照訊號線121、122、123、124和171，掃描線121傳送掃描訊號Sn，先前掃描線122將先前掃描訊號Sn-1傳送到初始化薄膜電晶體T4和旁路薄膜電晶體T7，發光控制訊號線123將發光控制訊號En傳送到驅動控制薄膜電晶體T5和發光控制薄膜電晶體T6，數據線171與掃描線121交叉以傳送數據訊號Dm，下電源供應線172傳送驅動電壓ELVDD，並且實質上與數據線171平行，以及初始化電壓線124傳送用於初始化驅動薄膜電晶體T1的初始化電壓Vint。
驅動薄膜電晶體T1的閘極電極G1連接到儲存電容器Cst的第一儲存電容板Cst1，驅動薄膜電晶體T1的源極電極S1透過驅動控制薄膜電晶體T5連接到下電源供應線172，且驅動薄膜電晶體T1的汲極電極D1透過發光控制薄膜電晶體T6電性連接到有機發光裝置OLED的像素電極191(參照第9圖)。驅動薄膜 電晶體T1根據由開關薄膜電晶體T2的切換操作接收數據訊號Dm，從而向有機發光裝置OLED施加驅動電流Id。
開關薄膜電晶體T2的閘極電極G2係連接至掃描線121，開關薄膜電晶體T2的源極電極S2係連接至數據線171，且開關薄膜電晶體T2的汲極電極D2係連接到驅動薄膜電晶體T1的源極電極S1且經由驅動控制薄膜電晶體T5連接至下電源供應線172。開關薄膜電晶體T2根據通過掃描線121接收的掃描訊號Sn導通，並執行開關操作，以將透過數據線171傳送的數據訊號Dm傳送到驅動薄膜電晶體T1的源極電極S1。
補償薄膜電晶體T3中的閘極電極G3係連接至掃描線121，補償薄膜電晶體T3的源極電極S3係連接至驅動薄膜電晶體T1的汲極電極D1且透過發光控制薄膜電晶體T6連接至有機發光裝置OLED的像素電極191(參照第9圖)，以及補償薄膜電晶體T3的汲極電極D3係連接至儲存電容器Cst的第一儲存電容板Cst1、初始化薄膜電晶體T4的汲極電極D4以及驅動薄膜電晶體T1的閘極電極G1。補償薄膜電晶體T3根據透過掃描線121接收掃描訊號Sn導通，並藉由驅動薄膜電晶體T1的閘極電極G1與汲極電極D1二極連接驅動薄膜電晶體T1。
初始化薄膜電晶體T4的閘極電極G4與先前掃描線122連接，初始化薄膜電晶體T4的源極電極S4連接到旁路薄膜電晶體T7的汲極電極D7和初始化電壓線124，且初始化薄膜電晶體T4的汲極電極D4連接到儲存電容器Cst的第一儲存電容板Cst1、補償薄膜電晶體T3的汲極電極D3和驅動薄膜電晶體T1的閘極電極G1。初始化薄膜電晶體T4根據透過先前掃描線122接收的先前掃描訊號Sn-1導通，並將初始化電壓Vint傳送到驅動薄膜電晶體T1的閘極電極G1，以執行用於初始化驅動薄膜電晶體T1的閘極電極G1的電壓的初始化操作。
驅動控制薄膜電晶體T5的閘極電極G5連接到發光控制訊號線123，驅動控制薄膜電晶體T5的源極電極S5連接到下電源供應線172，且驅動控制薄膜電晶體T5的汲極電極D5連接到驅動薄膜電晶體T1的源極電極S1和開關薄膜電晶體T2的汲極電極D2。
發光控制薄膜電晶體T6的閘極電極G6連接到發光控制訊號線123，發光控制薄膜電晶體T6的源極電極S6連接到驅動薄膜電晶體T1的汲極電極D1及補償薄膜電晶體T3的源極電極S3，且發光控制薄膜電晶體T6的汲極電極D6電性連接到旁路薄膜電晶體T7的源極電極S7以及有機發光裝置OLED的像素電極191。驅動控制薄膜電晶體T5和發光控制薄膜電晶體T6根據通過發光控制訊號線123接收的發光控制訊號En實質上同步導通，以藉由將驅動電壓ELVDD施加於有機發光裝置OLED來允許驅動電流Id流至有機發光裝置OLED。
旁路薄膜電晶體T7的閘極電極G7連接到先前掃描線122，旁路薄膜電晶體T7的源極電極S7連接到發光控制薄膜電晶體T6的汲極電極D6和有機發光裝置OLED的像素電極191(參考第9圖)，且旁路薄膜電晶體T7的汲極電極D7連接到初始化薄膜電晶體T4的源極電極S4、初始化電壓線124。旁路薄膜電晶體T7的閘極電極G7接收經由先前掃描線122接收的先前掃描訊號Sn-1。當從先前掃描訊號Sn-1施加具有可關閉旁路薄膜電晶體T7的預定電壓的電訊號時，旁路薄膜電晶體T7被關閉且驅動電流Id的一部分透過旁路薄膜電晶體T7流通作為旁路電流Ibp。
當驅動薄膜電晶體T1的最小電流流通作為用於顯示黑色影像的驅動電流流動時，若有機發光裝置OLED發光，則黑色影像不被適當地顯示。此外，驅動薄膜電晶體T1的最小電流在驅動薄膜電晶體T1的閘極-源極電壓VGS小 於臨界電壓Vth的條件下表示的電流，以使驅動薄膜電晶體T1關閉。因此，為了防止當最小電流作為驅動電流流過時有機發光裝置OLED的發光，旁路薄膜電晶體T7可以將來自驅動薄膜電晶體T1的部分驅動電流Id作為旁路電流Ibp而分配至除了向有機發光裝置OLED的電流路徑之外的另一個電流路徑。以這種方式，在關閉驅動薄膜電晶體T1的條件下，小於最小驅動電流的電流(例如，大約等於或小於約10pA的電流)被傳送到有機發光裝置OLED，而使有機發光裝置OLED不發光或發出少量光，以顯示黑色影像。
當顯示黑色影像的最小驅動電流流過時，由於旁路電流Ibp從最小驅動電流偏離，而可能顯著影響有機發光裝置OLED的發光或不發光或發光電位。然而，當顯示一般影像或白色影像的大驅動電流流動時，有機發光裝置OLED的發光電位可能不受旁路電流Ibp的影響或者可能僅略受到旁路電流Ibp的影響。因此，當顯示黑色影像的驅動電流流過時，有機發光裝置OLED的發光電流IOLED藉由通過旁路薄膜電晶體T7而從驅動電流Id偏離的旁路電流Ibp減少，且可具有可準確地顯示黑色影像的電位。因此，使用旁路薄膜電晶體T7實現準確的黑亮度影像，而可以改善對比度。
參照第2圖，在示例性實施例中，初始化薄膜電晶體T4和旁路薄膜電晶體T7連接到先前掃描線122。然而，本揭露不限於此。例如，在一個示例性實施例中，初始化薄膜電晶體T4可以連接到先前掃描線122，且可以根據先前掃描訊號Sn-1驅動，以及旁路薄膜電晶體T7可以連接到單獨的導線，並且可以根據通過導線所傳遞的訊號來驅動。
儲存電容器Cst的第二儲存電容板Cst2連接到下電源供應線172，且有機發光裝置OLED的相對電極連接到共用電極ELVSS。因此，有機發 光裝置OLED可以藉由從驅動薄膜電晶體T1接收驅動電流Id的一部分而發光，從而可以顯示影像。
參照第2圖，在示例性實施例中，補償薄膜電晶體T3和初始化薄膜電晶體T4中的每一個具有雙閘電極。然而，本揭露不限於此。例如，在示例性實施例中，補償薄膜電晶體T3和初始化薄膜電晶體T4中的每一個可以具有一個閘極電極。或者，可以各種改變本揭露的示例性實施例，使得除補償薄膜電晶體T3和初始化薄膜電晶體T4之外的其他薄膜電晶體T1、T2、T5、T6和T7中的至少一個可以具有兩個閘極電極。
以下，根據本揭露的示例性實施例的有機發光顯示設備的一個像素的操作將於下文所述。
首先，在初始化期間，透過先前掃描線122供給具有低電位的先前掃描訊號Sn-1。然後，響應於具有低電位的先前掃描訊號Sn-1，初始化薄膜電晶體T4導通。因而，自初始化電壓線124的初始化電壓Vint透過初始化薄膜電晶體T4傳送到驅動薄膜電晶體T1的閘極電極G1。因此，驅動薄膜電晶體T1透過初始化電壓Vint初始化。
接著，在數據編碼期間，透過掃描線121供給具有低電位的掃描訊號Sn。然後，響應於具有低電位的掃描訊號Sn，開關薄膜電晶體T2和補償薄膜電晶體T3導通。因此，驅動薄膜電晶體T1由導通的補償薄膜電晶體T3二極體連接，並向正向偏壓(biased)。然後，透過從經由數據線171供給的數據訊號Dm中減去驅動薄膜電晶體T1的臨界電壓Vth的絕對值而獲得的補償電壓Dm+Vth(其中Vth是負值)施加於驅動薄膜電晶體T1的閘極電極G1。接著，驅動電壓 ELVDD和補償電壓Dm+Vth施加到儲存電容器Cst的兩個端子，使得對應於兩個端子之間的電壓差的電荷被儲存在儲存電容器Cst中。
然後，在發光期間，從發光控制訊號線123供給的發光控制訊號En從高電位變為低電位。然後，在發光期間，響應於具有低電位的發光控制訊號En，驅動控制薄膜電晶體T5和發光控制薄膜電晶體T6導通。接著，產生根據驅動薄膜電晶體T1的閘極電極G1的電壓與驅動電壓ELVDD的電壓之間的差確定的驅動電流Id，然後將驅動電流Id通過發光控制薄膜電晶體T6施加給有機發光裝置OLED。在發光期間，由於儲存電容器Cst，驅動薄膜電晶體T1的閘極-源極電壓VGS保持在「(Dm+Vth)-ELVDD」，並且根據驅動薄膜電晶體T1的電流-電壓關係，驅動電流Id與從閘極-源極電壓VGS中減去臨界電壓Vth而得到的值的平方「(Dm-ELVDD)2」成比例。因此，根據示例性實施例，驅動薄膜電晶體T1的臨界電壓Vth與決定驅動電流Id無關。
在下文中，參照第3圖至第10圖描述根據本揭露的示例性實施例的第2圖中所示的有機發光顯示設備的一個子像素的詳細結構。
第3圖是繪示根據本揭露的示例性實施例的第2圖的子像素中的複數個薄膜電晶體和電容器的位置的佈局圖。第3圖的佈局圖示出了一個子像素的配置。根據示例性實施例，各個具有相同或相似配置的複數個子像素可以水平方向及垂直方向排列相鄰於一個子像素(例如，以矩陣配置排列)。第4圖至第8圖是各具有例如第3圖的複數個薄膜電晶體、電容器等元件的層的佈局圖。第4圖至第8圖中的每一個示出了示例性實施例，其中相同層的導線或半導體層和絕緣層的配置可以插入在層結構之間。例如，可以將第一閘極絕緣層141(參照第9圖)可插入第4圖的層和第5圖的層之間，第二閘極絕緣層142(參照第9圖)可插入 在第5圖的層和第6圖的層結構之間，以及第一無機層151(參照第9圖)可以插入在第7圖的層結構和第8圖的層之間。接觸孔可以形成在上述絕緣層中，使得第4圖至第8圖中所示的層結構可以實質上垂直的方向上彼此電性連接。以這種方式，根據示例性實施例的顯示設備具有設置在顯示區域DA中並且包括導電層的電路單元。電路單元在本文中也可以稱為電路。像素電極191設置在電路單元上方(例如，設置在電路單元上)，並且電性連接到電路單元的至少一個導電層。
根據示例性實施例的有機發光顯示設備的子像素包括沿著列方向排列且分別將掃描訊號Sn、先前掃描訊號Sn-1、發光控制訊號En和初始化電壓Vint施加於子像素的掃描線121、先前掃描線122、發光控制訊號線123和初始化電壓線124。根據示例性實施例的顯示設備的子像素可以包括與掃描線121、先前掃描線122、發光控制訊號線123和初始化電壓線147交叉且分別將數據訊號Dm和驅動電壓ELVDD施加於子像素的數據線171和電源供應線172和178。
此外，子像素可以包括驅動薄膜電晶體T1、開關薄膜電晶體T2、補償薄膜電晶體T3、初始化薄膜電晶體T4、驅動控制薄膜電晶體T5、發光控制薄膜電晶體T6、旁路薄膜電晶體T7、儲存電容器Cst，以及有機發光裝置。
驅動薄膜電晶體T1、開關薄膜電晶體T2、補償薄膜電晶體T3、初始化薄膜電晶體T4、驅動控制薄膜電晶體T5、發光控制薄膜電晶體T6和旁路薄膜電晶體T7可沿半導體層形成，如第4圖所繪示。半導體層可以具有在各個方向上彎曲的形狀。半導體層可以包括對應於驅動薄膜電晶體T1的驅動通道區131a、對應於開關薄膜電晶體T2的開關通道區131b、對應於補償薄膜電晶體T3的補償通道區131c1、131c2及131c3、對應於初始化薄膜電晶體T4的初始化通道區131d1、131d2、131d3、對應於驅動控制薄膜電晶體T5的操作控制通道區131e、 對應於發光控制薄膜電晶體T6的發光控制通道區131f，以及對應於旁路薄膜電晶體T7的旁路通道區131g。也就是說，根據本揭露的示例性實施例，驅動通道區131a、開關通道區131b、補償通道區131c1、131c2及131c3、初始化通道區131d1、131d2及131d3、操作控制通道區131e、發光控制通道區131f和旁路通道區131g可以是第4圖所示的半導體層的部分區域。
半導體層可以包括例如：多晶矽。此外，半導體層可以包括不摻雜雜質的上述通道區、以及設置在通道區兩側並摻雜有雜質的源極區和汲極區。雜質類型可以根據TFT的類型而變化，並且可以包括例如N型雜質或P型雜質。通道區、通道區一側的源極區和通道區另一側的汲極區可以統稱為主動層。也就是說，薄膜電晶體可以具有包括通道區、源極區和汲極區的主動層。
摻雜源極區或摻雜汲極區可對應於薄膜電晶體的源極電極或汲極電極。例如，如第4圖所示，驅動源極電極可以對應於在半導體層的驅動通道區131a的外圍摻雜有雜質的驅動源極區176a，且如圖4所示，驅動汲極電極可以對應於在半導體層的驅動通道區131a的外圍摻雜雜質的驅動源極區177a。在下文中，為了便於說明，可以使用諸如源極區和汲極區的用語來代替源極電極和汲極電極。此外，如第4圖所示的薄膜電晶體之間的半導體層的部分可以對應於摻雜有雜質的導線，因此用於電性連接TFT。該特徵也適用於下面描述的示例性實施例，包括其修改的示例性實施例。
儲存電容器Cst可包括設置有插入於其之間的第二閘極絕緣層142的第一儲存電容板125a和第二儲存電容板127。此外，第一儲存電容板125a也可以用作驅動薄膜電晶體T1的驅動閘極電極125a。也就是說，驅動閘極電極 125a和第一儲存電容板125a可以是一體。在下文中，為了便於說明，當參考驅動閘極電極時，驅動閘極電極的元件符號可以與第一儲存電容板125a相同。
如第5圖所示，第一儲存電容板125a可以具有與相鄰子像素間隔開的島形。如第5圖所示，在示例性實施例中，第一儲存電容板125a可以由與掃描線121、先前掃描線122和發光控制訊號線123相同的材料層形成。
開關閘極電極125b和補償閘極電極125c1及125c2可以是掃描線121的部分或與半導體層交叉的掃描線121的突起。初始化閘極電極125d1和125d2以及旁路閘極電極125g可以是先前掃描線122的部分或與半導體層交叉的先前掃描線122的突起。操作控制閘極電極125e和發光控制閘極電極125f可以是發光控制訊號線123的一部分或與半導體層交叉的發光控制訊號線123的突起。
第二儲存電容板127可以在相鄰子像素上延伸，使得相鄰子像素中的第二儲存電容板127一體地形成。如第6圖所示，第二儲存電容板127可以由與初始化電壓線124及/或遮蔽層126相同的材料層形成。儲存開口27可以形成在第二儲存電容板127中。因此，補償薄膜電晶體T3的第一儲存電容板125a和補償汲極區177c可以經由儲存開口27使用下面描述的連接構件174彼此電性連接。第二儲存電容板127可以經由形成在層間絕緣層143(參考第9圖)中的接觸孔168連接到下電源供應線172。
驅動薄膜電晶體T1包括驅動通道區131a、驅動閘極電極125a、驅動源極區176a和驅動汲極區177a。如上所述，驅動閘極電極125a也可以用作第一儲存電容板125a。驅動源極區176a表示驅動閘極電極125a外的部分(在第4圖中之-x方向)，且驅動汲極區177a表示驅動閘極電極125a外的部分(在第4圖中之+x方 向)，並且藉由配置在其間的驅動閘極電極125a而設置在驅動源極區176a的相對側。
驅動薄膜電晶體T1的驅動源極區176a連接到下面描述的開關汲極區177b和操作控制汲極區177e。驅動汲極區177a連接到下述的補償源極區176c和發光控制源極區176f。
開關薄膜電晶體T2包括開關通道區131b、開關閘極電極125b、開關源極區176b和開關汲極區177b。開關源極區176b可以經由形成在第一閘極絕緣層141、第二閘極絕緣層142和層間絕緣層143中的接觸孔164電性連接到數據線171。根據示例性實施例，數據線171的接觸孔164的周邊可以是開關薄膜電晶體T2的源極區。開關汲極區177b表示摻雜有雜質的半導體層的一部分，並且藉由配置在其之間的開關通道區131b而設置於開關源極區176b的相反側。
開關薄膜電晶體T2用作為開關裝置，其配置成選擇發光目標子像素。開關閘極電極125b連接到掃描線121，開關源極區176b連接到上述的數據線171，且開關汲極區177b連接到驅動薄膜電晶體T1、驅動控制薄膜電晶體T5。
補償薄膜電晶體T3包括補償通道區131c1、131c2及131c3、補償閘極電極125c1和125c2、補償源極區176c和補償汲極區177c。補償源極區176c是摻雜有雜質並設置於補償通道區131c1、131c2及131c3之外的半導體層的一部分。補償汲極區177c設置在補償通道區131c1、131c2及131c3的外側，並摻雜有雜質。補償閘極電極125c1和125c2是包括第一閘極電極125c1和第二閘極電極125c2的雙閘極電極，並且可以被配置成防止或減少漏電流的發生。補償薄膜電晶體T3的補償汲極區177c可以經由連接構件174連接到第一儲存電容板125a。補償通道區131c1、131c2及131c3可以包括對應於第一閘極電極125c1的部分 131c1、對應於第二閘極電極125c2的部分131c3以及部分131c1和131c3之間的部分131c2。
連接構件174可以由與第7圖所示的數據線171相同的材料層形成。連接構件174的端部透過形成在第一閘極絕緣層141、第二閘極絕緣層142和層間絕緣層143中的接觸孔166連接到補償汲極區177c和初始化汲極區177d。連接構件174的另一端經由形成在第二閘極絕緣層142和層間絕緣層143中的接觸孔167連接到第一儲存電容板125a。在此情況下，連接構件174的另一端透過形成在第二儲存電容板127中的儲存開口27連接到第一儲存電容板125a。
初始化薄膜電晶體T4包括初始化通道區131d1、131d2以及131d3、初始化閘極電極125d、初始化源極區176d和初始化汲極區177d。初始化源極區176d透過初始化連接線173連接到初始化電壓線124。初始化連接線173的端部可以透過形成在第二閘極絕緣層142和層間絕緣層143中的接觸孔161連接到初始化電壓線124，並且初始化連接線173的另一端可以透過形成在第一閘極絕緣層141、第二閘極絕緣層142和層間絕緣層143中的接觸孔162連接到初始化源極區176d。初始化汲極區177d表示為半導體層的一部分，其係摻雜有雜質且藉由配置於其之間的初始化通道區131d1、131d2及131d3而設置於初始化源極區176d的相對側。
驅動控制薄膜電晶體T5包括操作控制通道區131e、操作控制閘極電極125e、操作控制源極區176e和操作控制汲極區177e。操作控制源極區176e可以透過形成在第一閘極絕緣層141、第二閘極絕緣層142和層間絕緣層143中的接觸孔165與下電源供應線172電性連接。根據示例性實施例，下電源供應線172的接觸孔165的周邊可以是驅動控制薄膜電晶體T5的源極區。操作控制汲極區 177e表示為摻雜有雜質的半導體層的一部分，並且藉由設置於其之間的操作控制通道區131e而設置於操作控制源極區176e的相反側。
發光控制薄膜電晶體T6包括發光控制通道區131f、發光控制閘極電極125f、發光控制源極區176f以及發光控制汲極區177f。發光控制汲極區177f可以透過形成在第一閘極絕緣層141、第二閘極絕緣層142和層間絕緣層143中的接觸孔163連接到層間絕緣層143上的中間連接層175。如第7圖所示，中間連接層175、數據線171和下電源供應線172可以被設置在層間絕緣層143上。發光控制源極區176f係指摻雜有雜質且藉由配置於其之間的發光控制通道區131f而設置於發光控制汲極區177f的相反側之半導體層的一部份。中間連接層175可以電性連接到下面描述的輔助連接層179，並且因此可以電性連接到有機發光裝置的像素電極191。
旁路薄膜電晶體T7包括旁路通道區131g、旁路閘極電極125g、旁路源極區176g，以及旁路汲極區177g。由於旁路汲極區177g連接到初始化薄膜電晶體T4的初始化源極區176d，旁路汲極區177g透過初始化連接線173連接到初始化電壓線124。旁路源極區176g與子像素(+y方向)的有機發光裝置的像素電極電性連接。例如，旁路源極區176g連接到子像素(+y方向)的發光控制汲極區177f，使得旁路源極區176g可以透過接觸孔163連接到層間絕緣層143上的中間連接層175。如上所述，中間連接層175電性連接到輔助連接層179，因此電性連接到有機發光裝置的像素電極191。
如上所述，遮蔽層126可以由與第二儲存電容板127和初始化電壓線124相同的材料層形成。第6圖左側的遮蔽層126配置成在相應的子像素和相鄰子像素(-x方向)上延伸的一個主體，並且第6圖的右側的遮蔽層126配置成在相應 的子像素和相鄰的子像素(+x方向)上延伸的一個主體。遮蔽層126至少與補償通道區131c1、131c2及131c3之間的部分131c1和131c3之間的部分131c2重疊。由於遮蔽層126透過形成在層間絕緣層143中的接觸孔169與下電源供應線172電性連接，所以遮蔽層126的電位為約恆定。
數據線171存在於子像素附近的子像素(例如，在+x方向上)，如第3圖所示。為了便於說明，當將如第3圖所示的子像素稱為像素P1，將像素P1附近的子像素(例如，在+x方向)稱為像素P2時，數據線171將數據訊號傳送到像素P2以及排列在像素P2的+y和-y方向上的複數個子像素。在此情況下，傳送的數據訊號可以根據在像素P2的+y和-y方向上配置的複數個子像素的每一個中實現的亮度而變化。因此，當像素P1發光時，像素P1的半導體層的部分131c2附近的像素P2的數據線171隨時間傳送不同的電訊號。
如果不存在遮蔽層126，則可能在像素P2的數據線171與像素P1的補償通道區131c1、131c2及131c3中的部分131c2之間產生寄生電容。因此，在像素P1隨時間的發光期間，像素P1的補償薄膜電晶體T3的部分131c2的電位受由像素P2的數據線171所傳送的不同電訊號影響。補償薄膜電晶體T3與驅動薄膜電晶體T1電性連接。因此，如果像素P1的補償薄膜電晶體T3的部分131c2的電位受到由像素P2的數據線171所傳送的不同電訊號影響，則由驅動薄膜電晶體T1決定亮度的有機發光裝置的亮度為可能變得與原始水平不同，而導致由有機發光顯示設備顯示的影像品質劣化。
然而，根據本揭露的示例性實施例的有機發光顯示設備中，遮蔽層126設置在像素P1的補償薄膜電晶體T3的部分131c2與像素P2的數據線171之間。因此，與不存在遮蔽層126的比較例相比，像素P2的數據線171對補償薄膜 電晶體T3的部分131c2的影響被消除或減少，而產生具有改善亮度的可顯示高品質影像的有機發光顯示設備(例如，具有相對於原始電位改善精準度的亮度)。
例如，在示例性實施例中，由於遮蔽層126透過形成在層間絕緣層143中的接觸孔169電性連接到下電源供應線172，所以遮蔽層126的電位大約恆定。因此，可以消除或減少由部分131c2附近的電訊號造成對補償薄膜電晶體T3的部分131c2的影響。
如第7圖所示，數據線171、下電源供應線172、初始化連接線173、連接構件174和中間連接層175可以包括相同的材料並且可以設置在相同的層(例如：層間絕緣層143)上。下電源供應線172向複數個子像素提供恆定的電訊號。防止下電源供應線172中的電壓降的發生以允許顯示高品質影像的顯示設備的實現。然而，如第7圖所示，在示例性實施例中，由於下電源供應線172、數據線171、初始化連接線173、連接構件174和中間連接層175設置在同一層上，因此擴大區域是有限度的。
因此，在示例性實施例中，如第8圖所示，為了解決下電源供應線172中的電壓降，上電源供應線178設置於數據線171、下電源供應線172、初始化連接線173、連接構件174和中間連接層175上，以及透過接觸孔181電性連接到下電源供應線172。如第8圖所示，在示例性實施例中，上電源供應線178可以在子像素中具有「+」形狀，並且在顯示區域DA的較大部分(例如，整體部分)中，上電源供應線178可以具有格子形狀。然而，本揭露的示例性實施例不限於此。
此外，為了將發光控制汲極區177f電性連接至有機發光裝置的像素電極191，包括與上電源供應線178相同的材料的輔助連接層179可設置於與上 電源供應線178相同的層之上，且可透過接觸孔183連接至中間連接層175，其係透過接觸孔163電性連接到發光控制汲極區177f。藉由透過形成於上層的接觸孔185將輔助連接層179與有機發光裝置的像素電極191電性連接，輔助連接層179可允許將發光控制汲極區177f電性連接至有機發光裝置的像素電極191。
第9圖是根據本揭露的示例性實施例的沿著第3圖的IX-IX線截取的子像素的一部分的截面圖。第10圖是沿著第3圖的X-X線的子像素的一部分的截面圖。如第9圖和第10圖所示，上述各種元件可以設置在基板110上。基板110可以包括各種材料，例如玻璃材料、金屬材料、塑料材料等。在示例性實施例中，緩衝層111可以設置在基板110上。緩衝層111可以平坦化基板110的表面，及/或可以防止雜質滲透到其上的半導體層中。緩衝層111可以具有單層結構或多層結構，其包括例如氧化矽、氮化矽及/或氮氧化矽。
如第4圖所示的驅動通道區131a、開關通道區131b、補償通道區131c1、131c2及131c3等可以配置在緩衝層111上。包括例如氮化矽、氧化矽及/或氧氮化矽的第一閘極絕緣層141可以配置在驅動通道區131a、開關通道區131b、補償通道區131c1、131c2及131c3等之上。
如第5圖所示之諸如驅動閘極電極125a、掃描線121、開關閘極電極125b、補償閘極電極125c，包括初始化閘極電極125d和旁路閘極電極125g的先前掃描線122、包括操作控制閘極電極125e和發光控制閘極電極125f的發光控制訊號線123等的導線可以配置在第一閘極絕緣層141之上。驅動閘極電極125a、掃描線121、先前掃描線122和發光控制訊號線123可以統稱為第一閘極導線。
第二閘極絕緣層142可以覆蓋第一閘極導線。第二閘極絕緣層142可以包括例如氮化矽、氧化矽或氮氧化矽。如第6圖所示的第二儲存電容板127、遮蔽層126和初始化電壓線124可以配置在第二閘極絕緣層142上方。第二儲存電容板127、遮蔽層126和初始化電壓線124可以統稱為第二閘極導線。
層間絕緣層143配置在第二閘極導線之上。層間絕緣層143可以包括例如氮化矽、氧化矽或氮氧化矽。
如第7圖所示的數據線171、下電源供應線172、初始化連接線173，連接構件174和中間連接層175可以配置在層間絕緣層143上。數據線171、下電源供應線172、初始化連接線173、連接構件174和中間連接層175可以統稱為第一導電層。數據線171、下電源供應線172、初始化連接線173、連接構件174和中間連接層175可以透過形成在上述的第一閘極絕緣層141、第二閘極絕緣層142和層間絕緣層143中的至少部分的接觸孔161、162、163、164、165、166、167、168和169電性連接到下面的半導體層。
第一無機層151設置在第一導電層上。第一無機層151可以包括例如氮化矽、氧化矽或氮氧化矽。
如第8圖所示的上電源供應線178和輔助連接層179可配置在第一無機層151上。上電源供應線178和輔助連接層179可以統稱為第二導電層。上電源供應線178和輔助連接層179可以透過形成在第一無機層151中的接觸孔181和接觸孔183電性連接到第一導電層。例如，如第10圖所示，在示例性實施例中，第一無機層151具有用於接觸孔181的附加開口，以及因此暴露在第一無機層151下的下電源供應線172的第一頂面的至少一部分。因此，上電源供應線178可透 過附加開口接觸下電源供應線172。如第9圖所示，第一無機層151具有用於接觸孔183的第一開口，以允許上述輔助連接層179接觸中間連接層175。
如上所述，作為第一導電層的一部分的中間連接層175可透過形成在第一閘極絕緣層141、第二閘極絕緣層142以及層間絕緣層143的至少一部份中的接觸孔163連接到下面的半導體層，例如：發光控制汲極區177f。因此，透過接觸孔183電性連接到中間連接層175的第二導電層的輔助連接層179也可以電性連接到下面的半導體層，例如發光控制汲極區177F。然而，本揭露不限於此。例如，根據示例性實施例，具有與第2圖的等效電路圖不同的顯示設備中，第二導電層可以電性連接到半導體層的各種源極區或汲極區。該特徵也適用於下述的示例性實施例及其修改的示例性實施例。
第二無機層153設置在第二導電層之上。第二無機層153可以包括例如氮化矽、氧化矽或氮氧化矽。第二無機層153覆蓋第二導電層，並接觸第二導電層外的第一無機層151。參照第9圖，第二無機層153覆蓋輔助連接層179，並且因此接觸輔助連接層179外的第一無機層151。參照第10圖，第二無機層153覆蓋上電源供應線178，並且因此接觸上電源供應線178外的第一無機層151。
平坦化層154可配置於第二無機層153之上，且有機發光裝置的像素電極191可設置於平坦化層154之上。像素電極191可透過形成於第二無機層153的第二開口以及對應於第二開口且形成於平坦化層154的接觸孔185連接至輔助連接層179，以使像素電極191可電性連接到發光控制汲極區177f。
參照第9圖，在示例性實施例中，形成於第二無機層153的第二開口的內表面約等同於形成於平坦化層154中的接觸孔185的內表面。因此，形成於第二無機層153的第二開口以及形成於平坦化層154的接觸孔185可以統稱為 接觸孔185。然而，本揭露並不限於此。舉例來說，在示例性實施例中，形成於第二無機層153的第二開口的內表面可不約等同於形成於平坦化層154的接觸孔185的內表面。舉例來說，形成於第二無機層153的第二開口的面積可大於形成於平坦化層154的接觸孔185的面積。平坦化層154可能包括有機材料，例如，丙烯酸(acryl)、苯環丁烯(benzocyclobutene，BCB)、聚醯亞胺(polyimide)、六甲基二矽氧(hexamethyldisiloxane，HMDSO)等。
在根據示例性實施例的顯示設備中，包括在顯示區域DA中的電路單元中的每個導電層設置成接觸配置在對應導電層下方(例如，直接在對應的導電層下方)的對應無機層。例如，在示例性實施例中，在每個導電層和其對應的無機層之間不存在中間層，並且每個導電層與直接設置在對應導電層下方的對應無機層接觸(例如，直接接觸)(例如，各導電層直接設置在其對應的無機層上方，而不存在中間層)。例如，如上所述，包括如第5圖所示的驅動閘極電極125a、掃描線121、先前掃描線122以及發光控制訊號線123的第一閘極導線設置在第一閘極絕緣層141之上。此外，包括如第6圖所示的第二儲存電容板127、遮蔽層126和初始化電壓線124的第二閘極導線設置在第二閘極絕緣層142上。此外，包括如第7圖所示的數據線171、下電源供應線172、初始化連接線173、連接構件174和中間連接層175的第一導電層設置在層間絕緣層143之上。此外，包括如第8圖所示的上電源供應線178和輔助連接層179的第二導電層設置在第一無機層151上。在此情況下，第一閘極絕緣層141、第二閘極絕緣層142、層間絕緣層143和第一無機層151可以是無機層。
當導線被不同地圖案化時，在基板110的表面(例如，整個表面)上設置的導電層被圖案化，且部分地去除。如果去除目標的部分沒有適當地去 除，不應相互電性連接的元件可能被連接，而導致短路的發生。因此，缺陷可能發生在顯示設備中。
當形成於有機層之上的導電層圖案化，且被部分地去除之後，去除目標的部分可能不被適當地移除。舉例來說，如果導電層包括鈦，則鈦可能與導電層下面的有機材料反應，而導致在導電層和有機層之間的界面上形成氧化鈦層。例如，在圖案化製程期間，可以去除包含鈦的去除目標的導電層的一部分，但是下面的氧化鈦層可能不被去除，並且在圖案化製程之後可能仍殘留。因此，不應相互電性連接的元件可能被連接，而導致短路的發收。因此，缺陷可能發生在顯示設備中。
例如，由於包括在每個子像素中的諸如薄膜電晶體的電子裝置的數量增加，以實現顯示高品質影像的顯示設備，或者每個子像素的面積減少，以實現高解析度顯示設備，所以在顯示區域DA中的各種類型的導線之間的間隙可以小於根據比較示例的顯示設備的顯示區域中的導線之間的間隙。在這種情況下，因氧化鈦層的殘留而引起的缺陷率可能急劇地增加。
然而，根據示例性實施例的顯示設備，如上所述，於顯示區域DA中的導電層配置成分別接觸提供在導電層下面(例如，直接在導電層下面)的無機層。例如，在示例性實施例中，每個導電層的底面設置成與配置於對應的底面下方(例如，直接在底面下方)的無機層進行面對面(surface-to-surface)接觸。也就是說，在示例性實施例中，每個導電層的底面設置成直接接觸其對應的無機層(例如，每個導電層的底面直接接觸導電層下面設置的對應無機層的頂面)。因此，在示例性實施例中，可以防止或減少在圖案化導電層的製程期間可能發生的缺陷。
如上所述，第二導電層上的第二無機層153覆蓋第二導電層，並於第二導電層的外圍接觸第一無機層151。參照第9圖，第二無機層153覆蓋輔助連接層179，並且因此在輔助連接層179的周邊接觸第一無機層151。參照第10圖，第二無機層153覆蓋上電源供應線178，並且因此在上電源供應線178的周邊接觸第一無機層151。平坦化層154配置在第二無機層153之上，且有機發光裝置的像素電極191設置在平坦化層154之上。
當顯示設備被製造或製造之後使用時，可能從包括有機材料的平坦化層154產生諸如氣體的雜質。雜質可能損壞薄膜電晶體。然而，在根據示例性實施例的顯示設備中，如上所述，第一無機層151覆蓋第一導電層，第二無機層153覆蓋第二導電層，並且第一無機層151和第二無機層153彼此互相接觸。這種結構中的第一無機層151和第二無機層153可以起到保護層，其可以防止或減少自平坦化層154產生的例如氣體的雜質破壞平坦化層154之下的薄膜電晶體的發生。
第11圖是根據本揭露的示例性實施例的位於周邊區域PA中第1圖的XI部分的截面圖。
如第11圖繪示，緩衝層111、第一閘極絕緣層141、第二閘極絕緣層142和層間絕緣層143可以在顯示區域DA和周邊區域PA上延伸。可以實質上由與包括數據線171、下電源供應線172、初始化連接線173、連接構件174以及中間連接層175的第一導電層相同材料層同時形成的第一導線175a配置於周邊區域PA的層間絕緣層143上。第一無機層151也可以從顯示區域DA延伸到周邊區域PA，從而可以藉由覆蓋包含與第一導電層相同材料的第一導線175a以保護第一導線175a。
有機材料層152可以配置在周邊區域PA的第一無機層151上。有機材料層152可以包括例如丙烯酸、苯環丁烯(BCB)、聚醯亞胺、六甲基二矽氧(HMDSO)等。有機材料層152可以具有實質平坦的頂面。可以實質上由與包含上電源供應線178和輔助連接層179的第二導電層相同的材料層同時形成的第二導線179a可設置在有機材料層152上。第二無機層153可以從顯示區域DA延伸到周邊區域PA，從而可以藉由覆蓋包括與第二導電層相同材料的第二導線179a以保護第二導線179a。
第一導線175a和第二導線179a可配置於不同的層之上，且可部分地彼此重疊，如第11圖所示。相對於第11圖的座標軸，指示x-y平面的軸可以被解釋為第1圖的x軸。在這種情況下，第一導線175a和第二導線179a可被解釋成在第1圖中的平面圖中的-y方向延伸的導線。或者，由於第一導線175a和第二導線179a延伸於不同方向，第一導線175a和第二導線179a可能於不同層之上彼此交叉。例如，參照第1圖的平面圖，第一導線175a可在-y方向延伸，且第二導線179a可以相對於y軸約45度的角度延伸，使得第一導線175a和第二導線179a可於不同層上彼此交叉。
第一導線175a和第二導線179a可以是用於傳遞要施加到顯示設備的移位暫存器(shift register)的電訊號的導線，可以是用於傳送要施加到顯示區域DA的數據線171的電訊號的導線或者可以是用於傳遞要施加到顯示區域DA的下電源供應線172或上電源供應線178的電訊號的導線。
由於顯示設備的解析度增加，像素數量增加。因此，亦增加連接到像素的數據線等的數量。因而，周邊區域PA中的導線數量也增加，以將從積體電路裝置或印刷電路板的電訊號傳送到顯示區域DA。
根據示例性實施例的顯示設備中，如第11圖所示，第一導線175a和第二導線179a設置在與周邊區域PA中的不同層。因此，第一導線175a和第二導線179a中的每一條的線寬度可足夠大，因而可不增加第一導線175a和第二導線179a的電阻。因此，可以避免由有限空間中的每一個導線的線寬減少而引起的電阻增加的情況。
根據示例性實施例，即使第二導線179a設置在有機材料層152上，第二導線179a可以與有機材料層152上的其他導線具有足夠地距離。這是因為第一導線175a和第二導線179a位於周邊區域PA中的不同層中，所以有機材料層152上的導線之間的間隙不需要變小。因此，即使第二導線179a設置在有機材料層152上，由於第二導線179a與有機材料層152上的其他導線具有足夠地距離，而可防止圖案化錯誤所導致的第二導線179a與其他導線之間的短路的發生。
以這種方式，透過將有機材料層152設置在第一導線175a和第二導線179a之間，可以實現其中基板110的一部分在周邊區域PA中彎曲的顯示設備。例如，如第12圖所示，其是根據示例性實施例的顯示設備的一部分的透視圖，基板110可以具有延伸於第一方向(例如，+x方向)的彎曲區域BA。彎曲區域BA在與第一方向交叉的第二方向(例如，+y方向)上位於第一區域1A和第二區域2A之間。基板110相對於沿第一方向(例如，+x方向)延伸的彎曲軸BAX彎曲，如第12圖所示。基板110可以包括具有柔性或可彎曲特性的各種材料。基板110可以包括例如聚醚碸(polyethersulfhone，PES)、聚丙烯酸酯(polyacrylate)、聚醚醯亞胺(polyetherimide，PEI)、聚萘二甲酸乙二酯(polyethylene naphthalate，PEN)、聚對苯二甲酸乙二酯(polyethylene terepthalate，PET)、聚苯硫(polyphenylene sulfide，PPS)、聚芳酯(polyarylate，PAR)、聚醯亞胺(PI)、聚碳酸酯(polycarbonate， PC)或醋酸丙酸纖維素(cellulose acetate propionate，CAP)的聚合物樹脂。參照第12圖，雖然僅示出了基板110的彎曲，但是應理解的是，設置在基板110上的各種結構也以與基板110相同的方式彎曲。
第一區域1A包括如上所述的顯示區域DA。第一區域1A還可以包括在顯示區域DA外的周邊區域PA的一部分。第二區域2A還包括周邊區域PA。
在顯示設備於彎曲區域BA彎曲的情況下，當基板110於彎曲區域BA彎曲時，應力可能施加於彎曲區域中的導線上，因此損壞導線。然而，在根據示例性實施例的顯示設備中，可以防止或減少在彎曲過程中缺陷在第一導線175a和第二導線179a的發生。例如，在根據示例性實施例的顯示設備中，有機材料層152位於第一導線175a和第二導線179a之間。在此情況下，由於有機材料層152的硬度低於無機材料層的硬度，所以由於基板110的彎曲而在第一無機層151或有機材料層152中產生的應力以及第一導線175a或第二導線179a中產生的應力可藉由有機材料層152吸收。因此，可以減少或防止對第一導線175a或第二導線179a的損壞。
為了獲得由有機材料層152的應力吸收，有機材料層152的厚度可以大於第一無機層151及/或第二無機層153的厚度。例如，第一無機層151及/或第二無機層153的厚度可以為約0.5μm至約0.6μm，並且有機材料層152的厚度可以為約1.6μm至約1.8μm。也就是說，在示例性實施例中，有機材料層152的厚度可以比第一無機層151及/或第二無機層153的厚度大至少約兩倍。
如第13圖所示，其是根據示例性實施例的顯示設備的彎曲區域BA的一部分的截面圖，與第11圖所示的示例性實施例不同，第一無機層151和第 二無機層153不設置在彎曲區域BA中，而只有有機材料層152和平坦化層154設置在彎曲區域BA中。
也就是說，第一無機層151可以具有對應於彎曲區域BA的開口部分，第二無機層153可以具有對應於第一無機層151的開口部分的附加開口部分，並且有機材料層152可以填充第一無機層151的開口部分。
在這種情況下，第一導線175a和第二導線179a透過有機材料層152彼此絕緣。以這種方式，由於第一無機層151或第二無機層153不配置在彎曲區域BA中，所以在彎曲基板110的過程中由無機層引起的應力水平可被降低。此外，由於基板110彎曲的過程而在彎曲區域BA中的應力藉由有機材料層152或平坦化層154吸收，所以可以減少或防止對第一導線175a或第二導線179a的損壞。
參照第13圖，在示例性實施例中，由無機材料形成的緩衝層111、第一閘極絕緣層141、第二閘極絕緣層142和層間絕緣層143係配置在彎曲區域BA中。然而，本揭露不限於此。例如，緩衝層111、第一閘極絕緣層141、第二閘極絕緣層142和層間絕緣層143中的至少一部分可以具有對應於彎曲區域BA的開口部。因此，可以將低在彎曲基板110的過程中彎曲區域BA中的應力水平。
根據本揭露的示例性實施例，提供了防止導電層中的短路的顯示設備。
在根據比較例的顯示設備中，為了致力於實現具有減小的尺寸及/或高解析度的顯示設備，而可以能減少薄膜電晶體的元件之間的間隙及/或包括在顯示設備中的導線之間的間隙。當減少間隙時，導電層在製造過程中可能不被正確地圖案化，而導致相鄰導電圖案之間發生的短路。如上所述，本揭露的示例性實施例提供了一種顯示設備，其可以防止導電層中短路的發生。
雖然已經參考其示例性實施例具體示出和描述本揭露，但是所屬技術領域中具有通常知識者將理解的是，在不脫離如下列發明申請專利範圍所定義之本揭露的精神和範圍的情況下，可以在形式和細節上進行各種改變。
110:基板
111:緩衝層
123:發光控制訊號線
141:第一閘極絕緣層
142:第二閘極絕緣層
143:層間絕緣層
151:第一無機層
153:第二無機層
154:平坦化層
163、183、185:接觸孔
175:中間連接層
177f:發光控制汲極區
179:輔助連接層
191:像素電極

Claims (17)

  1. 一種顯示設備，其包括：一基板，其包括一顯示區域及位於該顯示區域之外之一周邊區域；一電路，係設置在該顯示區域中，其中該電路包括複數個導電層，且該複數個導電層的每一個接觸對應的一無機層，相應的該無機層直接配置於各該導電層下方；以及一像素電極，係設置於該電路之上，並電性連接到該複數個導電層的至少一個；其中：該複數個導電層包括一第一導電層及設置在該第一導電層上方之一第二導電層；該複數個無機層包括一層間絕緣層、一第一無機層及一第二無機層，且該層間絕緣層係設置於該第一導電層下方；該第一無機層設置於該第一導電層與該第二導電層之間，並且該第一無機層包括暴露該第一導電層的至少一部分表面的一第一開口；該第二導電層透過該第一開口接觸該第一導電層，且該第二無機層覆蓋該第二導電層，並在該第二導電層的外部接觸該第一無機層；該層間絕緣層係於該周邊區域上延伸，且該顯示設備進一步包括： 一第一導線，係設置於該周邊區域的該層間絕緣層之上，且包括與該第一導電層相同之材料；一有機材料層，係覆蓋該第一導線；以及一第二導線，係設置於該周邊區域的該有機材料層之上，且包括與該第二導電層相同之材料。
  2. 如請求項1所述之顯示設備，其中各該導電層之一底面直接接觸設置於各該導電層下方之對應的該無機層。
  3. 如請求項1所述之顯示設備，其中該第二無機層包括暴露該第二導電層之至少一部份表面的一第二開口。
  4. 如請求項3所述之顯示設備，其進一步包括：一平坦化層，係覆蓋該第二無機層，其中該平坦化層包括對應於該第二開口的一接觸孔；其中該第二導電層的至少一部分表面係透過該接觸孔及該第二開口暴露，且該像素電極係設置於該平坦化層之上，並電性連接至該第二導電層。
  5. 如請求項1所述之顯示設備，其中該第一無機層係於該周邊區域之上沿伸並覆蓋該第一導線，該有機材料層係設置於該第一無機層之上，且該第二無機層係於該周邊區域之上延伸並覆蓋該第二導線。
  6. 如請求項5所述之顯示設備，其中該基板包括：一第一區域，該第一區域包括該顯示區域；一第二區域，該第二區域包括該周邊區域的至少一部份；及 一彎曲區域，該彎曲區域係設置於該第一區域與該第二區域之間，且該基板係相對一彎曲軸於該彎曲區域中彎曲；其中該第一無機層包括對應於該彎曲區域之一開口部，該有機材料層填充該開口部，且該第二無機層包括對應於該開口部之一附加開口部。
  7. 如請求項1所述之顯示設備，其中該第一導線與該第二導線於不同層之上彼此交叉。
  8. 如請求項1所述之顯示設備，其中該基板係於設置該有機材料層之區域中彎曲。
  9. 如請求項1所述之顯示設備，其進一步包括：一薄膜電晶體(TFT)，係設置於該顯示區域中，其中該薄膜電晶體包括一主動層與一閘極電極；其中該主動層包括一通道區、設置於該通道區的一第一側之一源極區以及設置於該通道區之與該第一側相對之一第二側的一汲極區；其中該閘極電極係設置於該主動層之上且與該主動層絕緣，且該第一導電層係電性連接至該源極區或該汲極區。
  10. 如請求項9所述之顯示設備，其中該第二導電層係電性連接至該源極區或該汲極區。
  11. 如請求項1所述之顯示設備，其進一步包括：一下電源供應線，係設置於與該顯示區域中的該第一導電層相同的層上；以及 一上電源供應線，係設置於與該顯示區域中的該第二導電層相同的層之上；其中該下電源供應線與該上電源供應線係彼此電性連接。
  12. 如請求項11所述之顯示設備，其中該第一無機層設置在該下電源供應線與該上電源供應線之間，該第一無機層包括暴露該下電源供應線的至少一部份表面的一附加開口，且該上電源供應線透過該附加開口接觸該下電源供應線。
  13. 一種顯示設備，其包括：一基板；複數個導電層，係設置於該基板之上；複數個無機層，係設置於該基板之上，其中該複數個導電層的每一個的底面接觸設置在各該導電層下面的該複數個無機層中之對應的一個的頂面；以及一像素電極，係設置於該基板之上且電性連接至該複數個導電層的至少一個；其中：該複數個導電層包括一第一導電層及設置在該第一導電層上方之一第二導電層；該複數個無機層包括一層間絕緣層、一第一無機層及一第二無機層，且該層間絕緣層係設置於該第一導電層下方；該第一無機層設置於該第一導電層與該第二導電層之間，並且該第一無機層包括暴露該第一導電層的至少一部分表面的一第一開口； 該第二導電層透過該第一開口接觸該第一導電層，且該第二無機層覆蓋該第二導電層，並在該第二導電層的外部接觸該第一無機層；該層間絕緣層係於周邊區域上延伸，且該顯示設備進一步包括：一第一導線，係設置於該周邊區域的該層間絕緣層之上，且包括與該第一導電層相同之材料；一有機材料層，係覆蓋該第一導線；以及一第二導線，係設置於該周邊區域的該有機材料層之上，且包括與該第二導電層相同之材料。
  14. 如請求項13所述之顯示設備，其中各該導電層的底面直接接觸該複數個無機層中對應的一個的頂面。
  15. 如請求項14所述之顯示設備，其中各該導電層係直接設置於該複數個無機層中對應的一個上方。
  16. 如請求項13所述之顯示設備，其中該第二無機層包括暴露該第二導電層的至少一部份的一第二開口。
  17. 如請求項16所述之顯示設備，其進一步包括：一平坦化層，係覆蓋該第二無機層，且該平坦化層包括與該第二開口相對應的一接觸孔；其中該第二導電層的部分藉由該接觸孔及該第二開口暴露，且該像素電極係設置於該平坦化層之上，並電性連接至該第二導電層。
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