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TWI700579B - 儲存裝置測試系統及儲存裝置測試方法 - Google Patents

儲存裝置測試系統及儲存裝置測試方法 Download PDF

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TWI700579B
TWI700579B TW108108761A TW108108761A TWI700579B TW I700579 B TWI700579 B TW I700579B TW 108108761 A TW108108761 A TW 108108761A TW 108108761 A TW108108761 A TW 108108761A TW I700579 B TWI700579 B TW I700579B
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游嘉偉
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點序科技股份有限公司
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Abstract

本揭露提出一種儲存裝置測試系統及儲存裝置測試方法。儲存裝置測試系統包括：電子裝置，包括處理器及耦接到處理器的內部儲存裝置；以及外部儲存裝置，耦接到電子裝置的處理器。處理器接收測試腳本並執行測試腳本以對內部儲存裝置進行測試操作。處理器將對應測試操作的測試記錄檔傳送到外部儲存裝置。

Description

儲存裝置測試系統及儲存裝置測試方法
本揭露是有關於一種儲存裝置測試系統及儲存裝置測試方法，且特別是有關於一種自動化測試儲存裝置的儲存裝置測試系統及儲存裝置測試方法。
現有的手機測試系統通常將測試設備連結到手機以進行測試，這造成測試上的不便。當測試過程中發生手機的內存損壞或手機系統死機時，可能會導致重要測試信息的流失。因此，如何對手機內部儲存裝置進行測試並在錯誤產生時保有完整的測試資訊是本領域技術人員應致力的目標。
本揭露提供一種儲存裝置測試系統及儲存裝置測試方法，對手機內部儲存裝置進行自動化測試並在錯誤產生時保有完整的測試資訊。
本揭露提出一種儲存裝置測試系統包括：電子裝置，包括處理器及耦接到處理器的內部儲存裝置；以及外部儲存裝置，耦接到電子裝置的處理器。處理器接收測試腳本並執行測試腳本以對內部儲存裝置進行測試操作。處理器將對應測試操作的測試記錄檔傳送到外部儲存裝置。
本揭露提出一種儲存裝置測試方法，適用於電子裝置及外部儲存裝置。電子裝置包括處理器及耦接到處理器的內部儲存裝置。外部儲存裝置耦接到電子裝置的處理器。儲存裝置測試方法包括：藉由處理器接收測試腳本並執行測試腳本以對內部儲存裝置進行測試操作；以及藉由處理器將對應測試操作的測試記錄檔傳送到外部儲存裝置。
基於上述，本揭露的儲存裝置測試系統及儲存裝置測試方法能透過電子裝置的處理器執行測試腳本來測試電子裝置的內部儲存裝置，並將測試記錄檔傳送到外部儲存裝置。
為讓本揭露的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1為根據本揭露一實施例的儲存裝置測試系統的方塊圖。
請參照圖1，本揭露一實施例的儲存裝置測試系統100包括電子裝置110及外部儲存裝置120。電子裝置110包括處理器111及耦接到處理器111的內部儲存裝置112。外部儲存裝置120耦接到電子裝置110的處理器111。電子裝置110例如是智慧型手機、平板電腦、智慧型手錶等類似裝置。電子裝置110可執行安卓(android)平台、iOS平台或其他種類的系統平台。處理器111例如是中央處理器(Central Processing Unit，CPU)、微處理器控制單元(Microprocessor Control Unit，MCU)或其他類似元件。內部儲存裝置112例如是反及閘快閃記憶體(NAND flash)或其他類似元件。外部儲存裝置120例如是安全數位卡(Secure Digital card，SD card)或其他類似元件。
在一實施例中，處理器111可接收測試腳本並執行測試腳本以對內部儲存裝置112進行測試操作。處理器111還可將對應測試操作的測試記錄檔即時傳送到外部儲存裝置120，以防止內部儲存裝置112損壞或電子裝置110發生死機時丟失重要的測試資訊。
圖2為根據本揭露一實施例的儲存裝置測試方法的流程圖。
雖然在本實施例中揭示了依序執行圖2的步驟S201到步驟S208，但本揭露不限於此。在另一實施例中，步驟S201到步驟S208可通過任意的排列順序來執行且單一步驟可執行一到多次或不執行。
請參照圖1及圖2，在步驟S201中，進行應用程式套件安裝測試。在一實施例中，應用程式套件例如是安卓應用程式套件(Android Application Package，APK)。具體來說，內部儲存裝置112可接收多個應用程式套件。處理器111執行測試腳本以對應用程式套件執行多次的安裝及卸載操作並判斷每次的安裝及卸載操作是否成功。多個應用程式套件的大小可為不同以測試內部儲存裝置112在不同大小的應用程式套件進行安裝及卸載時是否產生韌體錯誤(firmware bug)。在另一實施例中，多個應用程式套件的大小也可相同。在每次安裝應用程式套件之後，處理器111可在系統中搜尋應用程式套件應用檔是否存在。若有搜尋到應用程式套件應用檔則產生搜尋成功訊息，反之則產生搜尋成功訊息。上述測試資訊都可作為測試記錄檔並即時傳送到外部儲存裝置120。
在步驟S202中，進行讀寫測試。具體來說，處理器111執行測試腳本以對內部儲存裝置112進行多次循序及隨機讀寫並判斷內部儲存裝置112是否產生錯誤。讀寫測試選單可包括區塊大小(例如，1KB到512MB)、循序緩衝器大小(例如1KB到21768KB)、隨機緩衝器大小(例如，1KB到4KB)、寫入資料型態(例如，10101010、01010101等)、測試週期、週期模式及時間模式等，以提供測試人員選擇搭配，並提高測試複雜度。如此一來，可測試內部儲存裝置112在不同讀寫模式下是否產生韌體錯誤。
在步驟S203中，進行讀寫效能測試。具體來說，處理器111可執行測試腳本以對內部儲存裝置112進行多次循序及隨機讀寫並判斷每次循序及隨機讀寫的讀寫效能，判斷第幾次循序及隨機讀寫的讀寫效能小於門檻值，並在每次循序及隨機讀寫後將讀寫效能傳送到外部儲存裝置120。例如，處理器111可通過基準(benchmark)測試應用程式測試內部儲存裝置112的循序讀寫效能、隨機讀寫效能、資料庫管理系統(例如，SQLite)的插入/更新/刪除效能。
在步驟S204中，進行視頻老化測試。具體來說，處理器111執行測試腳本以執行視頻(例如，視頻播放器影片、網路影片、遊戲影片等)但不將視頻的視頻資料傳送到電子裝置110的顯示器(未繪示於圖中)，並判斷電子裝置110是否產生異常狀態(例如，系統平台產生定屏、死機等現象)。值得注意的是，當處理器111執行自動化視頻老化測試腳本時，測試項目會先被開啟並記錄播放時間等資訊，且測試資訊會定期被寫入外部儲存裝置120。
在步驟S205中，進行待機喚醒測試。具體來說，處理器111執行測試腳本以進行多次休眠及喚醒操作，並判斷內部儲存裝置112是否產生錯誤。如此一來，可測試內部儲存裝置112在反覆測試睡眠及喚醒操作時是否產生韌體錯誤(例如，休眠後無法喚醒的狀態)。
在步驟S206中，進行重開機測試。具體來說，處理器111執行測試腳本以進行多次軟開機操作，並判斷電子裝置110是否產生異常狀態。如此一來，可測試內部儲存裝置112在軟開機的測試中是否造成系統平台死機或卡顯示標識(logo)等狀態發生。
在步驟S207中，進行讀取壓力測試。具體來說，處理器111執行測試腳本以進行多次讀取操作，並判斷電子裝置110是否產生異常狀態。如此一來，可測試內部儲存裝置112在進行大量資料讀取時是否造成平台死機或讀取資料有誤的問題。
在步驟S208中，進行掉電測試。具體來說，處理器111執行測試腳本以進行多次讀取操作並在讀取操作過程進行軟開機操作，並在軟開機操作後判斷對應讀取操作的資料是否正確及完整。
透過上述測試，可確保軟韌體錯誤不會重複出現並確保產品達到品質要求以建立開發團隊及客戶的信心度。此外，透過上述測試也可達到加速除錯的效果並節省大量人力成本，並且能找出產品的潛在性問題及效能問題。由於上述自動化測試具有一致性及可重覆性，測試結果及測試內容是具有保障的。測試人員可任意組合及調整測試條件來增加測試壓力、測試複雜度或延長測試時間，以提高系統平台兼容性測試的效能、品質及穩定性，並減少產品報修機率。
綜上所述，本揭露的儲存裝置測試系統及儲存裝置測試方法能透過電子裝置的處理器執行測試腳本來測試電子裝置的內部儲存裝置，並將測試記錄檔傳送到外部儲存裝置。如此一來，可避免測試產生錯誤時丟失重要的測試資訊。
雖然本揭露已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本揭露，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本揭露的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本揭露的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
100:儲存裝置測試系統
110:電子裝置
111:處理器
112:內部儲存裝置
120:外部儲存裝置
S201~S208:儲存裝置測試方法的步驟
圖1為根據本揭露一實施例的儲存裝置測試系統的方塊圖。 圖2為根據本揭露一實施例的儲存裝置測試方法的流程圖。
100:儲存裝置測試系統
110:電子裝置
111:處理器
112:內部儲存裝置
120:外部儲存裝置

Claims (16)

  1. 一種儲存裝置測試系統，包括：一電子裝置，包括一處理器及耦接到該處理器的一內部儲存裝置；以及一外部儲存裝置，耦接到該電子裝置的該處理器，其中該處理器接收一測試腳本並執行該測試腳本以對該內部儲存裝置進行一測試操作，該處理器將對應該測試操作的一測試記錄檔傳送到該外部儲存裝置，其中該處理器執行該測試腳本以對該內部儲存裝置進行多次循序及隨機讀寫並判斷每次該循序及隨機讀寫的一讀寫效能，判斷第幾次該循序及隨機讀寫的該讀寫效能小於門檻值，並在每次該循序及隨機讀寫後將該讀寫效能傳送到該外部儲存裝置。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的儲存裝置測試系統，其中該內部儲存裝置接收多個應用程式套件，該處理器執行該測試腳本以對該些應用程式套件執行多次的安裝及卸載操作並判斷每次的該安裝及卸載操作是否成功，其中該些應用程式套件的大小不同。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的儲存裝置測試系統，其中該處理器執行該測試腳本以對該內部儲存裝置進行多次循序及隨機讀寫並判斷該內部儲存裝置是否產生錯誤。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的儲存裝置測試系統，其中該處理器執行該測試腳本以執行一視頻但不將該視頻的一視頻資料傳送到一顯示器，並判斷該電子裝置是否產生一異常狀態。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的儲存裝置測試系統，其中該處理器執行該測試腳本以進行多次休眠及喚醒操作，並判斷該內部儲存裝置是否產生錯誤。
  6. 如申請專利範圍第1項所述的儲存裝置測試系統，其中該處理器執行該測試腳本以進行多次軟開機操作，並判斷該電子裝置是否產生一異常狀態。
  7. 如申請專利範圍第1項所述的儲存裝置測試系統，其中該處理器執行該測試腳本以進行多次讀取操作，並判斷該電子裝置是否產生一異常狀態。
  8. 如申請專利範圍第1項所述的儲存裝置測試系統，其中該處理器執行該測試腳本以進行多次讀取操作並在該些讀取操作過程進行一軟開機操作，並在該軟開機操作後判斷對應該些讀取操作的資料是否正確。
  9. 一種儲存裝置測試方法，適用於一電子裝置及一外部儲存裝置，該電子裝置包括一處理器及耦接到該處理器的一內部儲存裝置，該外部儲存裝置耦接到該電子裝置的該處理器，該儲存裝置測試方法包括：藉由該處理器接收一測試腳本並執行該測試腳本以對該內部儲存裝置進行一測試操作；以及 藉由該處理器將對應該測試操作的一測試記錄檔傳送到該外部儲存裝置，其中該處理器執行該測試腳本以對該內部儲存裝置進行多次循序及隨機讀寫並判斷每次該循序及隨機讀寫的一讀寫效能，判斷第幾次該循序及隨機讀寫的該讀寫效能小於門檻值，並在每次該循序及隨機讀寫後將該讀寫效能傳送到該外部儲存裝置。
  10. 如申請專利範圍第9項所述的儲存裝置測試方法，其中該內部儲存裝置接收多個應用程式套件，該處理器執行該測試腳本以對該些應用程式套件執行多次的安裝及卸載操作並判斷每次的該安裝及卸載操作是否成功，其中該些應用程式套件的大小不同。
  11. 如申請專利範圍第9項所述的儲存裝置測試方法，其中該處理器執行該測試腳本以對該內部儲存裝置進行多次循序及隨機讀寫並判斷該內部儲存裝置是否產生錯誤。
  12. 如申請專利範圍第9項所述的儲存裝置測試方法，其中該處理器執行該測試腳本以執行一視頻但不將該視頻的一視頻資料傳送到一顯示器，並判斷該電子裝置是否產生一異常狀態。
  13. 如申請專利範圍第9項所述的儲存裝置測試方法，其中該處理器執行該測試腳本以進行多次休眠及喚醒操作，並判斷該內部儲存裝置是否產生錯誤。
  14. 如申請專利範圍第9項所述的儲存裝置測試方法，其中該處理器執行該測試腳本以進行多次軟開機操作，並判斷該電子裝置是否產生一異常狀態。
  15. 如申請專利範圍第9項所述的儲存裝置測試方法，其中該處理器執行該測試腳本以進行多次讀取操作，並判斷該電子裝置是否產生一異常狀態。
  16. 如申請專利範圍第9項所述的儲存裝置測試方法，其中該處理器執行該測試腳本以進行多次讀取操作並在該些讀取操作過程進行一軟開機操作，並在該軟開機操作後判斷對應該些讀取操作的資料是否正確。
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