TWI476587B

TWI476587B - 測試電子裝置之功能的測試方法以及測試裝置

Info

Publication number: TWI476587B
Application number: TW100144199A
Authority: TW
Inventors: Yi Cheng Lin; Shen Pin Lin; Chi Chang Hsieh; Wei Chun Kao
Original assignee: Mstar Semiconductor Inc
Priority date: 2011-12-01
Filing date: 2011-12-01
Publication date: 2015-03-11
Also published as: US9183115B2; US20130145217A1; TW201324141A

Description

測試電子裝置之功能的測試方法以及測試裝置

本發明有關於測試方法和測試系統，特別有關於可適用於不同的使用者介面以及不同的硬體狀態的測試方法和測試系統。

隨著技術的進步，電子裝置具有越來越多的功能，因此精確的測試這些眾多的功能以確保其正確性變成製造商一個相當重要的工作。一般而言，都是利用測試程式(通常稱為測試腳本、test script)來進行測試。舉例來說，若欲測試打電話的功能，則會發出一指令給欲測試的電子裝置，命令其撥出一電話(也有可能並未真的撥出，只是模擬撥出動作)，電子裝置會根據被測試的功能執行狀況發出一回應，然後測試裝置會根據其回應來判斷此功能有沒有辦法正確執行。

然而，現今的測試方法通常都僅能使用在固定的使用者介面上。請參照第1圖，其繪示了一手機上的使用者介面之示意圖。如第1圖所示，手機100之螢幕101顯示了一使用者介面，此使用者介面上圖符(icon) 103、105、107以及109分別代表了訊息、行事曆、照片以及工具之功能。

第1圖所示的使用者介面及其所包含的功能可以可延伸標記式語言(Extensible Markup Language,XML)或相類似的標記式語言描述。如第2圖所示，其繪示了一待測程式如何使用可延伸標記式語言描述一使用者介面及此使用者介面所包含的功能。每一視窗皆具有一專屬之Window ID，用以判斷有那些功能被定義在此視窗中，並可描述現今視窗是那一類視窗。舉例來說，若為電話簿的視窗，則可能具有”依群組分類的電話簿功能”、”依SIM卡分類的電話簿功能等等。程式區塊200中的程式語言描述了此視窗中的功能列表，亦即此視窗中具有哪些功能，而程式區塊201描述了此視窗中各功能的動作。第2圖中的其他詳細內容為熟知此項技藝者所知悉，故在此不再贅述。

在測試過程中，每一個功能都有相對應的測試程式。然而，於習知的測試方法中，為了第1圖所示的介面所寫的測試程式，由於無法動態得知該介面上各功能對應之圖符之正確位置，僅能靜態地應用於第1圖所示的介面。舉例來說，圖符103代表了訊息的功能，圖符109代表了工具的功能，若圖符103和圖符109的位置對調，則測試訊息和測試工具的測試程式必須要相對應的做修改，否則測試時會出現錯誤。

另一方面，習知的測試方法通常沒有考慮到動態的硬體狀態。第3圖繪示了習知技術中一待測程式如何運用可延伸標記式語言描述被測試的電子裝置之硬體狀態的示意圖。程式區塊300表示了被測試的電子裝置的硬體狀態，而且在測試過程中可動態更新。舉例來說，Touch_screen若為”Yes”，則代表被測試的電子裝置有觸控功能，而Key_Pad若為”Yes”，則代表被測試的電子裝置有鍵盤功能。此外，連接至手機之配件或週邊配備如行動電話用戶識別(Subscriber Identity Module，SIM)卡，記憶卡、耳機等，亦可藉由程式區塊300來定義其狀態。

然而，習知的測試方法通常沒有考慮到硬體狀態，因而經常產生不必要的錯誤。以第1圖的手機為例，其通常可以插入一些額外的硬體如行動電話用戶識別卡或記憶卡等，因此測試者可能需要對手機對於硬體的存取或其他功能亦做一些測試。然而，若在這些硬體不存在於內的情況下，仍發出測試指令，可能會因為一直得不到回應而產生錯誤訊息，甚至造成測試裝置的停滯或當機。此外，儲存裝置如記憶卡等，其內檔案的分佈狀況或資料夾的分佈變動相當大，因此習知的測試方法可能需要逐次針對這些不同的檔案或資料夾分佈來變動測試程式。

綜上所述，習知的測試方法和測試裝置在使用者介面或硬體狀態常變動的狀況下會需要不斷的更改測試程式，因此會浪費相當多的時間或成本。

因此，本發明之一目的為提供一種測試方法以及一種測試裝置，可運用在不同的使用者介面以及不同的硬體狀態之測試上。

本發明之一實施例揭露了一種測試方法，用以測試一電子裝置中一程式包含的一功能，該程式使該功能對應於一使用者介面之一圖符，該測試方法包含：(a)尋找欲測試該功能於該程式之一位置；(b)根據該位置傳送一指令來執行該功能；以及(c)根據該功能對於該指令的回應來判斷該功能是否有誤。其中，該指令包含對應於一使用者於該使用者介面移至該圖符之一子指令。

本發明之另一實施例揭露了一種測試方法，用以測試一電子裝置中一程式所包含的一功能，該測試方法包含：(a)自該電子裝置取得一使用者介面中所有功能的一索引資訊；(b)根據該索引資訊取得欲測試該功能之一位置，並傳送一指令以執行該功能；以及(c)根據該功能對於該指令的回應來判斷該功能是否有誤。

本發明之另一實施例揭露了一種測試裝置，用以測試一電子裝置中一程式所包含的一功能，該程式使該功能對應於一使用者介面之一圖符，該測試裝置包含：一儲存裝置，儲存有一測試程式；一控制單元，用以執行該測試程式來執行上列的測試方法。

根據前述之實施例，可以不用不斷的更改測試程式來配合不同的使用者介面和硬體狀態，且可以實行自動化的測試而不用人工不斷的控制。

在說明書及後續的申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。所屬領域中具有通常知識者應可理解，硬體製造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個元件。本說明書及後續的申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區分元件的方式，而是以元件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及後續的請求項當中所提及的「包含」係為一開放式的用語，故應解釋成「包含但不限定於」。以外，「耦接」一詞在此係包含任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述一第一裝置耦接於一第二裝置，則代表該第一裝置可直接電氣連接於該第二裝置，或透過其他裝置或連接手段間接地電氣連接至該第二裝置。

第4圖繪示了根據本發明之一實施例的測試裝置之方塊圖。如第4圖所示，測試裝置401具有一測試程式403，會發出一指令給電子裝置405來測試欲測試的功能。測試程式403可儲存於一儲存裝置406中。電子裝置405具有一測試回應程式407，會根據被測試的功能對指令之反應來送出一回應給測試裝置401，然後測試程式403會根據此回應判斷被測試的功能是否正常。測試程式403分別具有程式區塊500、501以及700，這些程式區塊之內容將於底下分別說明。須留意的是，底下雖以可延伸標記式語言檔案做例子來說明，但其他功能性檔案亦可運用於本發明所揭露的內容。測試裝置401具有一控制單元402來執行測試程式403。控制單元402可由軔體搭配硬體如處理器等，或是單獨的硬體來實現。測試裝置401和電子裝置405係藉由傳輸介面409來溝通，傳輸介面409可以是無線或有線的介面。

第5圖繪示了根據本發明之一實施例的測試程式運作方式。第5圖中的程式區塊500定義了其需要的硬體，若此硬體狀態不符合程式區塊300所定義的狀態，則停止測試欲測試的功能。舉例來說，若欲測試SIM1卡中讀取電話簿的功能，會需要SIM1卡的存在，因此若程式區塊300中SIM1卡的狀態並非”Yes”，也就是SIM1卡並不存在於被測試的電子裝置之中，則會停止測試SIM1卡中讀取電話簿的功能。若有任何會造成無法測試欲測試的功能之狀況，例如SIM1卡存在於電子裝置中，但與SIM1卡接觸的接面有所損毀，則一樣會停止SIM1卡相關功能。也就是說，本發明利用一待測之程式原有之被測試的電子裝置的硬體狀態，在測試過程中動態決定是否停止該硬體相關之功能測試。此外，於一實施例中，當偵測到欲測試之功能相對應的一硬體不在電子裝置中，則不顯示與硬體相對應的該圖符。如第6圖中的圖(a)，與第2圖相較起來，便沒有顯示代表SIM1卡的圖符203。此外，若偵測到欲測試該功能相對應的一硬體不在該電子裝置中，亦可用和其他該些圖符不同的格式顯示與硬體相對應的該圖符。如第6圖中的圖(b)，其便以虛線來顯示SIM1卡。

第5圖的程式區塊501描述了在本發明的實施例中，測試程式中的測試指令如何運作，其主要的內容為：於此視窗所對應之待測程式中尋找欲測試該功能之一位置；然後根據該位置傳送一指令來執行欲測試功能。舉例來說，當要測試第2圖所示之待測程式中SIM1卡的電話簿功能時，測試程式會去尋找該電話簿功能在待測程式中相對應的位置，然後根據該位置送出一指令以於第2圖中所定義的使用者介面中，先往右移兩次，再讀取SIM1卡的電話簿。應注意的是，由於可延伸標記式語言檔案具有可同時描述使用者介面及此使用者介面所包含的功能之性質，其可將某些功能關連於使用者介面上之特定圖符。據此，當測試程式於待測程式中找出待測功能之位置時，即可同時得知該待測功能於使用者介面上對應之圖符位置。當測試程式取得圖符位置時，即可於測試指令中加上實質相同於一使用者操作該使用者介面時，自現今位置移動至該圖符位置之一子指令。也就是說，該測試指令除了實際測試該待測功能外，尚包含利用子指令模擬使用者移動至該圖符位置並點選該圖符之行為。

本發明所揭露的測試程式除了可供測試位於可靜態描述之使用者介面之一般指令外，另可供測試位於會變動之使用者介面之功能，例如：位於儲存裝置中功能之一動態指令。如前所述，在一些儲存裝置中其資料的排列變動會相當大，因此測試同一個功能時，可能每一次該功能所位之階層及視窗都會不一樣，故在此稱為動態指令。第7圖繪示了根據本發明一實施例的動態指令之示意圖。請再參考第4圖，在本發明之一實施例中，由於電子裝置中的儲存裝置沒辦法利用可延伸標記式語言來編寫，因此會利用包含在測試回應程式407中的程式碼讓電子裝置405，將位於電子裝置405之一儲存裝置(例如記憶卡)所有功能的索引資訊傳送給測試裝置401。藉此，測試裝置401便可得知欲測試功能之位置。以第7圖為例，若欲測試讀取電子裝置中記憶卡之影像程式的功能，則先讓電子裝置405將記憶卡的索引資訊告知測試裝置401，如此便可得知其位於某畫面的第三層，因此當要測試此功能時，便傳送一指令在某一畫面中往下移三次來執行此功能。程式區塊700則表示了動態指令如何運作。應注意的是，動態指令並不限於位於電子裝置外之儲存裝置中之指令，而泛指所有無法以可延伸標記式語言檔案等功能檔案靜態描述，而會隨著當時電子裝置之狀態，動態地改變該功能相對應之圖符之位置者。舉例而言，手機通訊錄中之功能選單，會隨著通訊錄內有無資料，而有所變動。因此，該功能選單中之指令即為動態指令。此即為位於電子裝置內部之動態指令之一適例。

第8圖揭露了測試程式內如何取得電子裝置之索引資訊的部份程式碼。須注意的是，第8圖中僅揭露了一部份的程式，而且這些測試程式程式碼僅用以舉例，並非用以限制本發明，熟知此項技藝者當可任意修改部份程式碼來達成相同的效果，其亦應在本發明的範圍之內。第8圖中A部份的程式碼係表示”取得該使用者介面中之項目的數目”，而B部份的程式係表示”分析該些項目的相關資訊”，在分析完後會將這些資訊傳回給測試裝置401，因此測試裝置401便可得知欲測試功能的位置。

第9圖揭露了根據本發明之實施例的測試方法之流程圖，其包含了下列步驟：

步驟901

開始。

步驟903

取得已定義好的一待測程式。此步驟可更包含取得一畫面(Window ID)，如前所述，特定視窗可相對應於特定的功能，因此取得Window ID有助於傳送指令的正確性。舉例來說，若判斷欲測試功能不符合電子裝置現今視窗該有的功能，則不傳送指令。

步驟905

開始執行根據本發明之測試方法，其可為自動執行，但不限定。

步驟907

判斷本行待測程式是否為一動態指令？若是則到步驟923，若否則到步驟909。

步驟909

尋找欲測試功能之位置。

步驟911

根據該欲測試功能之位置傳送相關的指令。

步驟913

測試回應程式傳送回應。

步驟915

測試程式比對所接收到的回應和預期的回應。

步驟917

比較結果是否正確？若否則表示被測試的功能有問題，到步驟929結束測試流程，亦可讓測試裝置顯示一錯誤訊息。若是則表示被測試的功能正常，到步驟919。

步驟919

執行下一指令？若是則回到步驟907，若否則到步驟921。

步驟921

結束。

步驟923

讓電子裝置傳送索引資訊給測試裝置。

步驟925

根據索引資訊取得欲測試功能的位置。

步驟927

是否取得正確的位置？若是，則回到步驟911，若否，則到步驟929結束測試方法。

根據前述之實施例，可以不用不斷的更改測試程式來配合不同的使用者介面和硬體狀態，且可以實行自動化的測試而不用人工不斷的監控。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

100．．．手機

101．．．螢幕

103、105、107、109、203．．．圖符

200、201、300、301、500、501、700．．．程式區塊

401．．．測試裝置

402．．．控制單元

403．．．測試程式

406．．．儲存裝置

405．．．電子裝置

407．．．測試回應程式

第1圖繪示了一手機上的使用者介面之示意圖。

第2圖繪示了習知技術中一待測程式如何使用可延伸標記式語言描述一使用者介面及此使用者介面所包含的功能之示意圖。

第3圖繪示了習知技術中一待測程式如何運用可延伸標記式語言描述被測試的電子裝置之硬體狀態的示意圖。

第4圖繪示了根據本發明之一實施例的測試裝置之方塊圖。

第5圖繪示了根據本發明之一實施例的測試程式運作方式。

第6圖繪示了當硬體不存在或無法使用時，不顯示或改變其顯示方式的示意圖。

第7圖繪示了根據本發明之實施例的動態指令之示意圖。

第8圖揭露了如何取得電子裝置之索引資訊的部份程式碼。

第9圖揭露了根據本發明之實施例的測試方法之流程圖。

901-929．．．步驟

Claims

一種測試方法，用以測試一電子裝置中一程式所包含的一功能，該程式將該功能相關於一使用者介面之一圖符，該測試方法包含：(a)　尋找所欲測試該功能於該程式之一位置；(b)　根據該位置傳送一指令來執行該功能；以及(c)　根據該功能對於該指令的回應來判斷該功能是否有誤；其中，該指令包含對應於一使用者於該使用者介面移至該圖符之一子指令。
如申請專利範圍第1項所述之測試方法，該步驟(a)更包含偵測該功能相對應之一硬體狀態，並於該硬體狀態發生一錯誤狀況時，停止測試該功能。
如申請專利範圍第2項所述之測試方法，該程式被執行時於該電子裝置上顯示該圖符，該測試方法更包含：當該硬體狀態發生該錯誤狀況時，則不顯示相對應的該圖符。
如申請專利範圍第2項所述之測試方法，包含：當該錯誤狀況為該功能相對應的一硬體不在該電子裝置中，則不顯示與該硬體相對應的一圖符。
如申請專利範圍第2項所述之測試方法，包含：當該錯誤狀況為該功能相對應的一硬體不在該電子裝置中，則以一不同的格式顯示與該硬體相對應的一圖符。
如申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中該程式為一可延伸標記式語言(Extensible Markup Language,XML)檔案。
如申請專利範圍第1項所述之測試方法，該步驟(a)包含：(a1)　判斷該功能是否對應於一動態指令，以產生一判斷結果；(a2)　若該判斷結果為是，自該電子裝置取得該使用者介面中所有功能的索引資訊，並根據該索引資訊取得該功能之該位置；(a3)　若該判斷結果為否，根據該待測程式取得該功能之該位置。
如申請專利範圍第7項所述之測試方法，其中該索引資訊係由相關於該電子裝置之一儲存裝置提供。
如申請專利範圍第7項所述之測試方法，其中該(a2)步驟包含：(d1)　取得該使用者介面中之複數個項目的數目；(d2)　分析該些項目的複數筆相關資訊；(d3)　根據該數目以及該些相關資訊，取得該功能之該位置。
如申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中該(b)步驟更包含：判斷該使用者介面相對應的功能，若該功能不屬於該使用者介面，則停止傳送該指令。
一種測試方法，用以測試一電子裝置中一程式所包含的一功能，該測試方法包含：(a)　自該電子裝置取得一使用者介面中所有功能的一索引資訊；(b)　根據該索引資訊取得欲測試該功能之一位置，並傳送一指令以執行該功能；以及(c)　根據該功能對於該指令的回應來判斷該功能是否有誤。
如申請專利範圍第11項所述之測試方法，其中該索引資訊係由相關於該電子裝置之一儲存裝置提供。
如申請專利範圍第11項所述之測試方法，其中該(a)步驟包含：(a1)　取得於該使用者介面中之複數個項目的數目；以及(a2)　分析該些項目的複數筆相關資訊；其中該(b)步驟係根據該(a1)步驟取得之該數目以及該(a2)步驟的該些相關資訊，來取得該功能之該位置。
一種測試裝置，用以測試一電子裝置中一程式所包含的一功能，該程式使該功能對應於一使用者介面之一圖符，該測試裝置包含：一儲存裝置，儲存有一測試程式；一控制單元，用以執行該測試程式來執行下列步驟：(a)　尋找欲測試該功能於該程式之一位置；(b)　根據該位置傳送一指令來執行該功能；以及(c)　根據該功能對於該指令的回應來判斷該功能是否有誤；其中，該指令包含對應於一使用者於該使用者介面移至該圖符之一子指令。
如申請專利範圍第14項所述之測試裝置，該控制單元更偵測該功能相對應之一硬體狀態，並於該硬體狀態發生一錯誤狀況時，停止測試該功能。
如申請專利範圍第15項所述之測試裝置，該程式被執行時於該電子裝置上顯示該圖符，該控制單元更執行：當該硬體狀態發生該錯誤狀況時，則不顯示相對應的該圖符。
如申請專利範圍第15項所述之測試裝置，該控制單元執行：當該錯誤狀況為該功能相對應的一硬體不在該電子裝置中，則以一不同的格式顯示與該硬體相對應的該圖符。
如申請專利範圍第14項所述之測試裝置，其中該程式為一可延伸標記式語言(Extensible Markup Language,XML)檔案。
如申請專利範圍第14項所述之測試裝置，該控制單元尋找該功能於該程式之該位置時，執行下列步驟：(a1)　判斷該功能是否對應於一動態指令，以產生一判斷結果；(a2)　若該判斷結果為是，自該電子裝置取得該使用者介面中所有功能的索引資訊，並根據該索引資訊取得該功能之該位置；(a3)　若該判斷結果為否，根據該程式取得該功能之該位置。
如申請專利範圍第19項所述之測試裝置，其中該(a2)步驟包含：(d1)　取得該使用者介面中之複數個項目的數目；以及(d2)　分析該些項目的複數筆相關資訊；(d3)　根據該數目以及該些相關資訊，取得該功能之該位置。
如申請專利範圍第14項所述之測試裝置，其中該(b)步驟更包含：判斷該使用者介面相對應的功能，若該功能不屬於該畫面，則停止傳送該指令。