TWI788203B - 探測針、檢查治具及檢查治具單元 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種探測針，能夠抑制彈性部伸縮時鄰接的直線部間的干擾。探測針包括：彈性部、配置於彈性部的一端的第一接觸部、以及配置於彈性部的另一端的第二接觸部。彈性部具有第一彈性片及第二彈性片、以及設置於第一彈性片與第二彈性片之間的貫通孔。第一彈性片及第二彈性片分別具有多個直線部、以及連接於鄰接的直線部各自的兩端的任一個的彎曲部。配置於最靠近第一接觸部處的第一直線部相對於第一接觸部自第二方向的一端側連接，配置於最靠近第二接觸部處的第二直線部相對於第二接觸部自與第一接觸部相同之側連接。第一彈性片的彎曲部及第二彈性片的彎曲部中，遠離彈性部的中心線地配置的外側彎曲部的中間部具有較連接有外側彎曲部的直線部的寬度大的寬度。

Description

探測針、檢查治具及檢查治具單元

本揭示是有關於一種探測針、檢查治具及檢查治具單元。

於相機或者液晶面板等電子零件模組中，一般於其製造步驟中進行導通檢查及動作特性檢查等。該些檢查是藉由使用探測針，將用於與設置於電子零件模組的主體基板連接的端子、和檢查裝置的端子連接來進行。

作為此種探測針，有專利文獻1中所記載者。專利文獻1的探測針包括：設置有貫通孔的彈性部、配置於彈性部的長度方向的一端的第一接觸部、以及配置於彈性部的長度方向的另一端的第二接觸部。所述探測針的彈性部具有直線部及彎曲部交替地連續的蜿蜒形狀。 [現有技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本專利特開2017-223628號公報

[發明所欲解決之課題]

所述探測針於抑制彈性部伸縮時鄰接的直線部間的干擾的方面有改善的餘地。

本揭示的目的在於提供一種能夠抑制彈性部伸縮時鄰接的直線部間的干擾的探測針。 [解決課題之手段]

本揭示的一形態的探測針包括： 彈性部，沿著第一方向伸縮； 第一接觸部，配置於所述彈性部的所述第一方向的一端；以及 第二接觸部，配置於所述彈性部的所述第一方向的另一端， 所述彈性部具有： 第一彈性片及第二彈性片；以及 貫通孔，設置於所述第一彈性片與所述第二彈性片之間， 所述第一彈性片及所述第二彈性片分別具有： 多個直線部，沿著與所述第一方向交叉的第二方向延伸；以及 彎曲部，連接於鄰接的所述直線部各自的所述第二方向上的兩端的任一個， 所述直線部及所述彎曲部沿著所述第一方向交替地配置， 於所述第一方向上配置於最靠近所述第一接觸部處的所述直線部即第一直線部相對於所述第一接觸部自所述第二方向的一端側連接， 於所述第一方向上配置於最靠近所述第二接觸部處的所述直線部即第二直線部相對於所述第二接觸部於所述第二方向上自與所述第一接觸部相同之側連接， 所述第一彈性片的所述彎曲部及所述第二彈性片的所述彎曲部中，於所述第二方向上遠離穿過所述彈性部的所述第二方向的中心的中心線地配置的外側彎曲部的中間部具有較連接有所述外側彎曲部的所述直線部的寬度大的寬度。

本揭示的一形態的檢查治具包括： 所述形態的探測針；以及 殼體，於內部具有於所述第一接觸部的一部分及所述第二接觸部的一部分露出至外部的狀態下收容所述探測針的收容部， 所述探測針具有連接部， 所述連接部將所述第一接觸部與所述第一直線部連接， 所述探測針以所述第一直線部及所述連接部於所述第一方向上與構成所述收容部的所述殼體的內表面接觸的狀態下收容於所述收容部。

本揭示的一形態的檢查治具單元包括多個所述形態的檢查治具。 [發明的效果]

根據所述探測針，可實現能夠抑制彈性部伸縮時鄰接的直線部間的干擾的探測針。

根據所述檢查治具，可實現能夠抑制所述探測針伸縮時彈性部的鄰接的直線部間的干擾的檢查治具。

根據所述檢查治具單元，可實現利用所述檢查治具能夠抑制探測針伸縮時彈性部的鄰接的直線部間的干擾的檢查治具單元。

以下，依照隨附圖式對本揭示的一例進行說明。再者，於以下的說明中，視需要使用表示特定的方向或者位置的用語（例如，包括「上」、「下」、「右」、「左」的用語），但該些用語的使用是為了容易理解參照圖式的本揭示，並非由該些用語的含義來限定本揭示的技術範圍。另外，以下的說明本質上僅為例示，並不意圖限制本揭示、其適用物或者其用途。進而，圖式為示意性者，各尺寸的比率等未必與現實者一致。

如圖1所示，本揭示的一實施方式的檢查治具10具有殼體20、以及收容於殼體20的內部的探測針30。於本實施方式中，檢查治具10具有多個探測針30。各探測針30例如為使用導電性的材料利用電鑄法形成的細長的薄板狀，且沿著第一方向（例如，Y方向）伸縮。各探測針30於板厚方向（例如，Z方向）上空開間隔地排列配置，並以相互電性獨立的狀態收容於殼體20。

作為一例，殼體20為絕緣性的大致長方體形狀，且如圖1所示，具有殼體主體21以及蓋部22。

如圖2所示，殼體主體21具有：設置於其內部並收容探測針30的凹狀的收容部23、設置於第一方向Y的一端的第一開口部24、以及設置於第一方向Y的另一端的第二開口部25。於本實施方式中，殼體主體21具有多個收容部23。於沿著所收容的探測針30的板厚方向Z觀察的情況下，各收容部23具有沿其長度方向延伸的大致矩形形狀，並連接於第一開口部24及第二開口部25。

第一開口部24構成為能夠僅供後述的探測針30的第一接觸部32自第一方向Y插入。第一開口部24連接於貫通孔212，所述貫通孔212沿第一方向Y貫通構成收容部23的底面231的殼體主體21的壁部211。貫通孔212的與第一方向Y交叉的第二方向（例如，X方向）的一端連接於收容部23的其中一個側面232。貫通孔212的第二方向X的另一端連接於收容部23的底面231。連接有貫通孔212及收容部23的底面231的角部233被C倒角。藉此，防止了於探測針30伸縮時與殼體主體21接觸而損傷。

第二開口部25構成為能夠供探測針30整體自第一方向Y插入。第二開口部25的第二方向X的一端連接於收容部23的第二方向X上的其中一個側面232，第二開口部25的第二方向X的另一端連接於收容部23的第二方向X上的另一個側面234。

蓋部22安裝於殼體主體21的第二開口部25側的端面，並覆蓋第二開口部25。蓋部22具有僅能夠收容第二接觸部33的貫通孔26。貫通孔26於蓋部22安裝於殼體主體21的狀態下，配置於穿過第一開口部24並沿著第一方向Y延伸的假想直線L1上。換言之，殼體主體21的貫通孔212與蓋部22的貫通孔26配置於以假想直線L1為軸的同軸上。於本實施方式中，假想直線L1穿過第一接觸部32的主體部321的第二方向X的中心以及第二接觸部33的第三接點部332。貫通孔26的第二方向X的一端連接於收容部23的第二方向X上的其中一個側面232。

收容部23所收容的探測針30中，構成後述的探測針30的彈性部31的第一直線部41與構成收容部23的底面231的殼體主體21的內表面接觸。第一接觸部32的一部分經由第一開口部24露出至殼體20的外部。另外，收容於收容部23的探測針30中，構成後述的探測針30的彈性部31的第二直線部45及連接部70和構成收容部23的蓋部22的與殼體主體21相向的面221接觸。後述的探測針30的第二接觸部33經由第二開口部25露出至殼體20的外部。

例如如圖2所示，探測針30包括：沿著第一方向Y伸縮的彈性部31、配置於彈性部31的第一方向Y的一端的第一接觸部32、以及配置於彈性部31的第一方向Y的另一端的第二接觸部33。

作為一例，如圖2所示，彈性部31整體具有蜿蜒形狀。如圖3及圖4所示，彈性部31具有第一彈性片40及第二彈性片50、以及設置於第一彈性片40與第二彈性片50之間的貫通孔60。

第一彈性片40及第二彈性片50分別具有多個直線部以及至少一個彎曲部，直線部及彎曲部沿著第一方向Y交替地配置。各直線部沿著第二方向X延伸。彎曲部連接於鄰接的直線部各自的第二方向X上的兩端的任一個。

多個直線部包括：第一直線部41、第二直線部45、以及第三直線部42、第三直線部51。第一直線部41於第一方向Y上配置於最靠近第一接觸部32處。第二直線部45於第一方向Y上配置於最靠近第二接觸部33處。第三直線部42、第三直線部51於第一方向Y上配置於第一直線部41與第二直線部45之間。於本實施方式中，第一直線部41及第二直線部45均構成第一彈性片40的一部分。第一直線部41、第二直線部45及第三直線部42、第三直線部51具有大致相同的寬度W1（換言之，第一方向Y上的長度）。

如圖3所示，第一直線部41相對於第一接觸部32自第二方向X的一端側（例如，圖3的左側）連接。

如圖4所示，第二直線部45相對於第二接觸部33於第二方向X上自與第一接觸部32相同之側（例如，圖4的左側）連接。於本實施方式中，第二直線部45經由連接部70連接於第二接觸部33。連接部70具有與第一方向Y上的自第一彈性片40的直線部的外端至第二彈性片50的外端的長度大致相同的寬度（換言之，第一方向Y上的長度），未設置貫通孔60。

彎曲部包括外側彎曲部43、外側彎曲部52以及內側彎曲部44、內側彎曲部53。外側彎曲部43、外側彎曲部52構成第一彈性片40的彎曲部及第二彈性片50的彎曲部中，於第二方向X上遠離穿過彈性部31的第二方向的中心的中心線CL地配置的彎曲部。內側彎曲部44、內側彎曲部53構成第一彈性片40的彎曲部及第二彈性片50的彎曲部中，於第二方向X上配置於靠近中心線CL處的彎曲部。於本實施方式中，內側彎曲部44、內側彎曲部53的除了連接有直線部的兩端部分以外的中間部具有較外側彎曲部43、外側彎曲部52的中間部的寬度W2小的寬度W3。

如圖3所示，外側彎曲部43、外側彎曲部52的中間部432、中間部522具有較連接有外側彎曲部43、外側彎曲部52的直線部的寬度W1大的寬度W2（換言之，外側彎曲部43、外側彎曲部52的相對於曲率中心而言的徑向上的長度）。即，外側彎曲部43、外側彎曲部52的中間部432、中間部522的寬度較連接有直線部的端部431、端部521的寬度大。於本實施方式中，關於外側彎曲部43、外側彎曲部52的寬度W2，中間部432、中間部522中，於第二方向X上最遠離中心線CL的部分的寬度W21最大，隨著自該部分接近中心線CL而逐漸變小。

如圖4所示，內側彎曲部44、內側彎曲部53的中間部442、中間部532具有較連接有內側彎曲部44、內側彎曲部53的直線部的寬度W1大的寬度W3（換言之，內側彎曲部44、內側彎曲部53的相對於曲率中心而言的徑向上的長度）。即，內側彎曲部44、內側彎曲部53的中間部442、中間部532的寬度較連接有直線部的端部441、端部531的寬度大。於本實施方式中，關於內側彎曲部44、內側彎曲部53的寬度W3，與外側彎曲部43、外側彎曲部52同樣地，中間部442、中間部532中，於第二方向X上最遠離中心線CL的部分的寬度W31亦最大，隨著自該部分接近中心線CL而逐漸變小。

如圖2所示，貫通孔60沿著彈性部31的形狀，自彈性部31延伸的方向上的一端連續延伸至另一端。即，第一彈性片40的直線部與第二彈性片50的直線部之間的貫通孔60和第一彈性片40的彎曲部與第二彈性片50的彎曲部之間的貫通孔60相互連接。於本實施方式中，彎曲部處的貫通孔60具有直線部處的貫通孔60的寬度W4以下的寬度W5。貫通孔60的寬度W4、寬度W5例如為第一彈性片40與第二彈性片50間的直線距離的長度。

如圖2所示，第一接觸部32具有：主體部321，連接有彈性部31的第一直線部41；以及第一腳部322及第二腳部323，分別自主體部321沿著第一方向Y向遠離第一直線部41的方向延伸。第一腳部322及第二腳部323分別於第二方向X上空開間隙324地配置。

第一腳部322具有一對第一接點部325，所述一對第一接點部325設置於第一方向Y上的自主體部321遠離的端，並於第二方向X上空開間隔地配置。於第一腳部322的第一方向Y上的自主體部321遠離的端，設置有於第二方向X上向接近第二腳部323的方向突出的突出部326。各第一接點部325分別配置於突出部326的第二方向X的兩端。突出部326的一對第一接點部325之間的部分沿著第一方向Y向朝向主體部321的方向凹陷。

第二腳部323具有一對第二接點部327，所述一對第二接點部327設置於第一方向Y上的自主體部321遠離的端，並於第二方向X上空開間隔地配置。於第二腳部323的第一方向Y上的自主體部321遠離的端，設置有於第二方向X上向接近第一腳部322的方向突出的突出部328。各第二接點部327分別配置於突出部328的第二方向X的兩端。突出部328的一對第二接點部327之間的部分沿著第一方向Y向朝向主體部321的方向凹陷。

於本實施方式中，一對第一接點部325及一對第二接點部327配置於同一沿著第二方向X延伸的假想直線L2上。第一腳部322與第二腳部323間的間隙324中，設置有突出部326、突出部328的部分於第二方向X上最小。

如圖2所示，第二接觸部33具有連接有連接部70的主體部331、以及設置於主體部331的第三接點部332。主體部331例如具有沿著第一方向Y延伸的大致矩形形狀。第三接點部332設置於主體部331的第一方向Y上的自彈性部31遠離的端，具有沿著第一方向Y向遠離所述彈性部31的方向突出的彎曲形狀。於主體部331的第一方向Y上的靠近彈性部31的端，設置有切口333。切口333設置於在第二方向X上主體部331的與連接有連接部70的端為相反側的端。

探測針30可發揮如下的效果。

探測針30包括：沿著第一方向伸縮的彈性部31、配置於彈性部31的第一方向的一端的第一接觸部32、以及配置於彈性部31的第一方向的另一端的第二接觸部33。彈性部31具有第一彈性片40及第二彈性片50、以及設置於第一彈性片40與第二彈性片50之間的貫通孔60。第一彈性片40及第二彈性片50分別具有沿著第二方向延伸的多個直線部、以及連接於鄰接的直線部各自的第二方向的兩端的任一個的彎曲部。直線部及彎曲部沿著第一方向交替地配置。於第一方向上配置於最靠近第一接觸部32處的第一直線部41相對於第一接觸部32自第二方向的一端側連接。於第一方向上配置於最靠近第二接觸部33處的第二直線部45相對於第二接觸部33於第二方向上自與第一接觸部32相同之側連接。第一彈性片40的彎曲部及第二彈性片50的彎曲部中，於第二方向上遠離中心線CL地配置的外側彎曲部43、外側彎曲部52的中間部432、中間部522具有較連接有外側彎曲部43、外側彎曲部52的直線部的寬度W1大的寬度W2。藉由此種結構，於探測針30沿著第一方向伸縮時，可避免彈性部31的鄰接的直線部間的接觸。其結果，可實現能夠抑制彈性部31伸縮時鄰接的直線部間的干擾的探測針30。另外，使於壓縮了探測針30時施加至彈性部31的應力整體自彎曲部向直線部分散，從而可使探測針30的耐久性提升。

彎曲部處的貫通孔60具有直線部處的貫通孔60的寬度W4以下的寬度W5。藉由此種結構，於探測針30沿著第一方向伸縮時，可更可靠地避免彈性部31的鄰接的直線部間的接觸。另外，可使於壓縮了探測針30時施加至彈性部31的應力更可靠地分散。

第一彈性片40的彎曲部及第二彈性片50的彎曲部中，於第二方向上配置於靠近中心線CL處的內側彎曲部44、內側彎曲部53的中間部442、中間部532具有較外側彎曲部43、外側彎曲部52的中間部432、中間部522的寬度W2小的寬度W3。藉由此種結構，可使於壓縮了探測針30時施加至彈性部31的應力更可靠地分散。

第一彈性片40的彎曲部及第二彈性片50的彎曲部中，於第二方向上配置於靠近中心線CL處的內側彎曲部44、內側彎曲部53的中間部442、中間部532具有較連接有內側彎曲部44、內側彎曲部53的直線部的寬度W1大的寬度W3。藉由此種結構，可使於壓縮了探測針30時施加至彈性部31的應力更可靠地分散。

第一接觸部32具有：主體部321，連接有第一直線部41；以及第一腳部322及第二腳部323，分別自主體部321沿著第一方向向遠離第一直線部41的方向延伸，並且分別於第二方向上空開間隙324地配置。第一腳部322具有一對第一接點部325，所述一對第一接點部325設置於第一方向上的自主體部321遠離的端，並於第二方向上空開間隔地配置。第二腳部323具有一對第二接點部327，所述一對第二接點部327設置於第一方向上的自主體部321遠離的端，並於第二方向上空開間隔地配置。藉由此種結構，一對第一接點部325及一對第二接點部327於相對於檢查對象物或檢查裝置於第二方向上滑動的同時接觸（擦拭），從而可將附著於檢查對象物或檢查裝置的異物去除。另外，可將藉由擦拭而去除的異物自第一腳部322及第二腳部323的間隙324排出。其結果，可提高探測針30的接觸可靠性。

檢查治具10可發揮如下的效果。

檢查治具10包括：探測針30；以及殼體20，於內部具有於第一接觸部32的一部分及第二接觸部33的一部分露出至外部的狀態下收容探測針30的收容部23。探測針30具有將第二接觸部33與第二直線部45連接的連接部70，且以第二直線部45及連接部70於第一方向上與構成收容部23的殼體20的內表面接觸的狀態下收容於收容部23。可實現能夠抑制探測針30伸縮時彈性部31的鄰接的直線部間的干擾的檢查治具10。另外，可確保彈性部31的彈性，同時確保探測針30自第一接觸部32被朝向第二接觸部33按壓時的檢查治具10的強度。

所收容的探測針30的外側彎曲部具有自彎曲部的於第二方向上距中心線CL遠的外表面向接近中心線CL的方向延伸的寬度。藉由此種結構，即便於收容部23的空間有限制的情況下，亦可使探測針30正常地運作。

檢查治具10及探測針30亦可以如下方式構成。

如圖5所示，可由多個檢查治具10構成檢查治具單元1。檢查治具單元1亦可包括收容多個檢查治具10並進行定位的殼體。

於所述實施方式中，探測針30包括以下彈性部31：配置於靠近假想直線L1處的外側彎曲部（例如，彎曲部52）與遠離假想直線L1地配置的外側彎曲部（例如，彎曲部43）為大致相同的形狀，於第二方向X上最遠離中心線CL的部分的寬度W21大致相同，但不限於此。如圖6所示，探測針30亦可包括以下彈性部31：具有配置於靠近假想直線L1處的外側彎曲部（例如，彎曲部52）與遠離假想直線L1地配置的外側彎曲部（例如，彎曲部43）不同的形狀。於圖6的探測針30中，彎曲部52的於第二方向X上最遠離中心線CL的部分的寬度W22較彎曲部43的於第二方向X上最遠離中心線CL的部分的寬度W23大。彎曲部43的中間部432的寬度W2具有較連接有彎曲部43的直線部的寬度W1稍大的寬度W2。藉由如此構成，而使彈性部31的伸縮直線化，從而可防止第一接觸部32及第二接觸部33的側滑（即，向第二方向X的移動）。

彈性部31的直線部只要設置有多個即可。彈性部31的彎曲部至少設置有一個即可。

第一接觸部32及第二接觸部33可根據探測針30的設計等而採用任意的結構。例如，可根據檢查對象物或檢查裝置，於第一接觸部32及第二接觸部33設置任意的形狀及結構的接點。即，不限於第一接觸部32具有第一腳部322及第二腳部323情況，第二接觸部33亦可具有第一腳部322及第二腳部323。第一接觸部32及第二接觸部33雙方亦可具有第一腳部322及第二腳部323。

殼體20可採用能夠收容至少一個探測針30的任意結構。

連接部70亦可設置於第一直線部41側而非第二直線部45側。即，探測針30亦可以第一直線部41及連接部70於第一方向Y上與構成收容部23的殼體20的底面231接觸的狀態下收容於收容部23。

以上，參照圖式對本揭示中的各種實施方式進行了詳細說明，最後，對本揭示的各種形態進行說明。再者，於以下的說明中，作為一例，亦附加參照符號來進行記載。

本揭示的第一形態的探測針30包括： 彈性部31，沿著第一方向伸縮； 第一接觸部32，配置於所述彈性部31的所述第一方向的一端；以及 第二接觸部33，配置於所述彈性部31的所述第一方向的另一端， 所述彈性部31具有： 第一彈性片40及第二彈性片50；以及 貫通孔60，設置於所述第一彈性片40與所述第二彈性片50之間， 所述第一彈性片40及所述第二彈性片50分別具有： 多個直線部，沿著與所述第一方向交叉的第二方向延伸；以及 彎曲部，連接於鄰接的所述直線部各自的所述第二方向上的兩端的任一個， 所述直線部及所述彎曲部沿著所述第一方向交替地配置， 於所述第一方向上配置於最靠近所述第一接觸部32處的所述直線部即第一直線部41相對於所述第一接觸部32自所述第二方向的一端側連接， 於所述第一方向上配置於最靠近所述第二接觸部處的所述直線部即第二直線部45相對於所述第二接觸部33於所述第二方向上自與所述第一接觸部32相同之側連接， 所述第一彈性片40的所述彎曲部及所述第二彈性片50的所述彎曲部中，於所述第二方向上遠離穿過所述彈性部31的所述第二方向的中心的中心線CL地配置的外側彎曲部的中間部具有較連接有所述外側彎曲部的所述直線部的寬度W1大的寬度W2。

本揭示的第二形態的探測針30中， 所述彎曲部處的所述貫通孔60具有所述直線部處的所述貫通孔60的寬度W4以下的寬度W5。

本揭示的第三形態的探測針30中， 所述第一彈性片40的所述彎曲部及所述第二彈性片50的所述彎曲部中，於所述第二方向上配置於靠近所述中心線CL處的內側彎曲部的中間部具有較所述外側彎曲部的寬度W2小的寬度W3。

本揭示的第四形態的探測針30中， 所述彈性部31具有多個所述外側彎曲部， 多個所述外側彎曲部中，配置於靠近穿過所述第一接觸部及所述第二接觸部並沿著所述第一方向延伸的假想直線L1處的所述外側彎曲部的中間部具有較遠離所述假想直線地配置的所述外側彎曲部的寬度W23大的寬度W22。

本揭示的第五形態的探測針30中， 所述第一彈性片40的所述彎曲部及所述第二彈性片50的所述彎曲部中，於所述第二方向上配置於靠近所述中心線CL處的內側彎曲部的中間部具有較連接有所述內側彎曲部的所述直線部的寬度W1大的寬度W3。

本揭示的第六形態的探測針30中， 所述第一接觸部32及所述第二接觸部33的至少任一個具有： 主體部321，連接有所述直線部連接；以及 第一腳部322及第二腳部323，分別自所述主體部321沿著所述第一方向向遠離所述直線部的方向延伸，並且分別於所述第二方向上空開間隙324地配置， 所述第一腳部322具有一對第一接點部325，所述一對第一接點部325設置於所述第一方向上的自所述主體部321遠離的端，並於所述第二方向上空開間隔地配置， 所述第二腳部323具有一對第二接點部327，所述一對第二接點部327設置於所述第一方向上的自所述主體部321遠離的端，並於所述第二方向上空開間隔地配置。

本揭示的第七形態的檢查治具10包括： 所述形態的探測針30；以及 殼體20，於內部具有於所述第一接觸部32的一部分及所述第二接觸部33的一部分露出至外部的狀態下收容所述探測針30的收容部23， 所述探測針30具有連接部70， 所述連接部70將所述第一接觸部32與所述第一直線部41或所述第二接觸部33與所述第二直線部45連接， 所述探測針30以所述第一直線部41及所述連接部70或所述第二直線部45及所述連接部70於所述第一方向上與構成所述收容部23的所述殼體20的內表面接觸的狀態下收容於所述收容部23。

本揭示的第八形態的檢查治具10中， 所述外側彎曲部具有自所述彎曲部的於所述第二方向上距所述中心線CL遠的外表面向接近所述中心線CL的方向延伸的寬度。

本揭示的第九形態的檢查治具單元1包括多個所述形態的檢查治具10。

再者，藉由將所述各種實施方式或變形例中的任意的實施方式或變形例適宜組合，可發揮各自所具有的效果。另外，能夠進行實施方式彼此的組合、或實施例彼此的組合、或實施方式與實施例的組合，並且亦能夠進行不同的實施方式或實施例中的特徵彼此的組合。

本揭示參照隨附圖式並關聯於較佳的實施方式進行了充分記載，但對於熟悉該技術的人們來說，各種變形或修正顯而易見。應理解為，只要不脫離基於隨附的申請專利範圍的本揭示的範圍，則此種變形或修正包括於其中。 [產業上的可利用性]

本揭示的探測針例如可應用於相機模組等包括企業對企業（Business-to-Business，BtoB）連接器作為連接媒體的模組、及小引出線封裝（Small Outline Package，SOP）、四方扁平封裝（Quad Flat Package，QFP）、球柵陣列（Ball grid array，BGA）等半導體封裝的檢查中所使用的檢查治具。

1:檢查治具單元 10:檢查治具 20:殼體 21:殼體主體 22:蓋部 23:收容部 24:第一開口部 25:第二開口部 26、60、212:貫通孔 30:探測針 31:彈性部 32:第一接觸部 33:第二接觸部 40:第一彈性片 41:第一直線部 42、51:第三直線部 43、52:外側彎曲部/彎曲部 44、53:內側彎曲部 45:第二直線部 50:第二彈性片 70:連接部 211:壁部 221:面 231:底面 232、234:側面 233:角部 321、331:主體部 322:第一腳部 323:第二腳部 324:間隙 325:第一接點部 326、328:突出部 327:第二接點部 332:第三接點部 333:切口 431、441、521、531:端部 432、442、522、532:中間部 CL:中心線 L1、L2:假想直線 W1、W2、W3、W4、W5、W21、W22、W23、W31:寬度 X:第二方向 Y:第一方向 Z:板厚方向

圖1是表示本揭示的一實施方式的檢查治具的立體圖。 圖2是沿著圖1的II-II線的剖視圖。 圖3是收容於圖1的檢查治具的探測針的第一部分平面圖。 圖4是收容於圖1的檢查治具的探測針的第二部分平面圖。 圖5是包括圖1的檢查治具的檢查治具單元的平面圖。 圖6是表示收容於圖1的檢查治具的探測針的變形例的局部平面圖。

31:彈性部 32:第一接觸部 40:第一彈性片 41:第一直線部 42、51:第三直線部 43、52:外側彎曲部/彎曲部 44、53:內側彎曲部 50:第二彈性片 60:貫通孔 321:主體部 431、521:端部 432、522:中間部 CL:中心線 L1:假想直線 W1、W2、W4、W5、W21:寬度 X:第二方向 Y:第一方向

Claims (9)

1. 一種探測針，包括： 彈性部，沿著第一方向伸縮； 第一接觸部，配置於所述彈性部的所述第一方向的一端；以及 第二接觸部，配置於所述彈性部的所述第一方向的另一端， 所述彈性部具有： 第一彈性片及第二彈性片；以及 貫通孔，設置於所述第一彈性片與所述第二彈性片之間， 所述第一彈性片及所述第二彈性片分別具有： 多個直線部，沿著與所述第一方向交叉的第二方向延伸；以及 彎曲部，連接於鄰接的所述直線部各自的所述第二方向上的兩端的任一個， 所述直線部及所述彎曲部沿著所述第一方向交替地配置， 於所述第一方向上配置於最靠近所述第一接觸部處的所述直線部即第一直線部，相對於所述第一接觸部自所述第二方向的一端側連接， 於所述第一方向上配置於最靠近所述第二接觸部處的所述直線部即第二直線部，相對於所述第二接觸部於所述第二方向上自與所述第一接觸部相同之側連接， 所述第一彈性片的所述彎曲部及所述第二彈性片的所述彎曲部中，於所述第二方向上遠離穿過所述彈性部的所述第二方向的中心的中心線地配置的外側彎曲部的中間部具有較連接有所述外側彎曲部的所述直線部的寬度大的寬度。
2. 如請求項1所述的探測針，其中所述彎曲部處的所述貫通孔具有所述直線部處的所述貫通孔的寬度以下的寬度。
3. 如請求項1或請求項2所述的探測針，其中所述第一彈性片的所述彎曲部及所述第二彈性片的所述彎曲部中，於所述第二方向上配置於靠近所述中心線處的內側彎曲部的中間部具有較所述外側彎曲部的中間部的寬度小的寬度。
4. 如請求項1或請求項2所述的探測針，其中所述彈性部具有多個所述外側彎曲部， 多個所述外側彎曲部中，配置於靠近穿過所述第一接觸部及所述第二接觸部並沿著所述第一方向延伸的假想直線處的所述外側彎曲部的中間部具有較遠離所述假想直線地配置的所述外側彎曲部的寬度大的寬度。
5. 如請求項1或請求項2所述的探測針，其中所述第一彈性片的所述彎曲部及所述第二彈性片的所述彎曲部中，於所述第二方向上配置於靠近所述中心線處的內側彎曲部的中間部具有較連接有所述內側彎曲部的所述直線部的寬度大的寬度。
6. 如請求項1或請求項2所述的探測針，其中所述第一接觸部及所述第二接觸部的至少任一個具有： 主體部，連接有所述直線部；以及 第一腳部及第二腳部，分別自所述主體部沿著所述第一方向向遠離所述直線部的方向延伸，並且分別於所述第二方向上空開間隙地配置， 所述第一腳部具有一對第一接點部，所述對第一接點部設置於所述第一方向上的自所述主體部遠離的端，並於所述第二方向上空開間隔地配置， 所述第二腳部具有一對第二接點部，所述對第二接點部設置於所述第一方向上的自所述主體部遠離的端，並於所述第二方向上空開間隔地配置。
7. 一種檢查治具，包括：如請求項1至請求項6中任一項所述的探測針；以及 殼體，於內部具有於所述第一接觸部的一部分及所述第二接觸部的一部分露出至外部的狀態下收容所述探測針的收容部， 所述探測針具有連接部，所述連接部將所述第一接觸部與所述第一直線部或所述第二接觸部與所述第二直線部連接， 所述探測針以所述第一直線部及所述連接部或所述第二直線部及所述連接部於所述第一方向上與構成所述收容部的所述殼體的內表面接觸的狀態下收容於所述收容部。
8. 如請求項7所述的檢查治具，其中所述外側彎曲部具有自所述彎曲部的於所述第二方向上自所述中心線遠離的外表面向接近所述中心線的方向延伸的寬度。
9. 一種檢查治具單元，包括多個如請求項7或請求項8所述的檢查治具。

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