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TWI788039B - 電雙層電容器 - Google Patents

電雙層電容器 Download PDF

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TWI788039B
TWI788039B TW110136993A TW110136993A TWI788039B TW I788039 B TWI788039 B TW I788039B TW 110136993 A TW110136993 A TW 110136993A TW 110136993 A TW110136993 A TW 110136993A TW I788039 B TWI788039 B TW I788039B
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edlc
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伊藤将志
伊藤秀毅
檜圭憲
大橋良彦
長谷川浩昭
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日商Tdk股份有限公司
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Abstract

議題:提供可抑制阻抗隨著時間經過而增加的電雙層電容器。 解決方式:其至少具有一個電容器單元, 上述電容器單元,具有: 分離板片; 一對內部電極,其夾著上述分離板片層積; 電解質溶液,其浸漬上述分離板片及一對上述內部電極, 在上述電容器單元內部,包含Na(鈉)、K(鉀)、及Si(矽)的無機物質。

Description

電雙層電容器
本揭露係關於電雙層電容器(EDLC)。
作為一種蓄電裝置,已知電雙層電容器。在該電雙層電容器,藉由使離子吸附在含有活性物質的極化電極表面,在極化電極與電解液之間的介面形成電雙層,而可儲存電荷。在如此的蓄電方法,與藉由化學反應進行充放電的先前的二次電池不同,原理上可以無限充放電。惟,即使是具有如上述特性的電雙層電容器,因電解液向外部的擴散(揮發等),使阻抗上升,而可能會隨著時間經過而發生惡化。
有鑑於該等問題,專利文獻1揭露將填充電解液的電容器單元封裝結構最佳化的技術。藉由將封裝結構最佳化,抑制電解液向外部的擴散,有助於延長電雙層電容器的使用壽命。惟,為對應高速的充放電,使電雙層電容器低容量化時,會因電解質溶液擴散以外的因素,阻抗可能會增加。因此,需要採取進一步措施來抑制阻抗的上升。 [先行技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2019-145755號公報
[發明所欲解決的問題]
本揭露係有鑑於此種情況,其目的係以提供可抑制阻抗隨著時間經過而增加的電雙層電容器。 [用以解決問題的手段]
為達成上述目標,關於本揭露的電雙層電容器,其至少具有一個電容器單元, 上述電容器單元,具有: 分離板片; 一對內部電極,其夾著上述分離板片層積; 電解質溶液,其浸漬上述分離板片及一對上述內部電極, 在上述電容器單元內部,包含Na(鈉)、K(鉀)、及Si(矽)的無機物質。
本揭露者們,經過深入研究的結果,發現藉由在電容器單元的內部包含具有既定特徵的無機物質,可抑制阻抗的上升,而使裝置壽命變長,達至完成本揭露。再者,上述無機物質的形式,可為粒子、纖維、箔狀、塊狀等。
此外,在關於本揭露的電雙層電容器,電容器單元內所含無機物質的組成,滿足以下條件為佳。即,上述無機物質所含Na含有率,以Na 2O換算為αwt%,上述無機物質所含K含有率,以K 2O換算為βwt%,α+β以1.0wt%以上為佳。以7.0wt%以上為更佳。 在無機物質,特別重要的是含有Na及K,藉由滿足上述組成,可更良好地抑制阻抗的上升。結果,可進一步提升電雙層電容器的壽命。
此外,在從層積方向的平面觀看,以一對相對的上述內部電極的區域的面積為有效電極面積時,在單一電容器單元的上述有效電極面積,以12cm 2以下為佳,以1cm 2以下為更佳。 在本揭露的電雙層電容器,有效電極面積越小,阻抗的上升抑制效果有越高的趨勢。此外,藉由減小有效電極面積,可使電雙層電容器低容量化,關於本揭露的電雙層電容器,特別是可應用在適合高速充放電的蓄電裝置。
以下,將本揭露,基於圖式所示實施形態進行說明。
第1實施形態 如圖1A所示,關於本揭露的一實施形態的電雙層電容器(EDLC)2,其具有:外裝板片4。外裝板片4,具有:表面板片4a及背面板片4b,該等係將一枚板片以折返周緣部4c彎曲形成。再者,外裝板片4,並非限定於上述構成,亦可將獨立的兩枚板片上下黏合而構成。
在本實施形態,外裝板片4,雖具有X軸方向的長度L0較Y軸方向的長度W0長的長方形狀,但並非限定於此,亦可為正方形、其他多角形、圓形、橢圓形、其他形狀。在本實施形態,以外裝板片4的表面板片4a與背面板片4b重疊的方向為厚度方向(Z軸方向),以相互垂直的方向為X軸與Y軸。
此外,在本實施形態的EDLC2,在以外裝板片4的表面板片4a與背面板片4b覆蓋的內側區域收容單一電容器單元9,該電容器單元9,係藉由四個封裝部(40、42、44、46)密封。該電容器單元,作為基本的構成要素,具有元件本體10與電解質溶液。更具體而言,在電容器單元9內部,內建有元件本體10,填充電解質溶液將該元件本體10浸漬(參照圖2A)。
元件本體10,具有:滲有電解質溶液的分離板片11;及一對內部電極(第1內部電極16、第2內部電極26)。第1內電極16與第2內部電極26以包夾分離板片11的方式在Z軸方向層積,該等之中的一方為正極,另一方為負極。
再者,在本實施形態,所謂「正極」,係對電雙層電容器施加電壓時,吸附電解質溶液中的陰離子的電極,所謂「負極」,係對電雙層電容器施加電壓時,吸附電解質溶液中的陽離子的電極。在第1內電極16與第2內部電極26之中,使哪一方為正極,哪一方為負極,係根據施加的電壓的方向決定。惟,在電雙層電容器中,一旦向特定正負方向施加電壓進行充電,之後,在充電時,通常以與首次相同的方向進行充電,很少對相反方向施加電壓進行充電。
在第1內部電極16,係由第1活性層12及第1集電體層14構成。第1活性層12,係以與分離板片11接觸的方式層積,第1集電體層,係以與第1活性層接觸的方式層積。第2內部電極26,亦與第1內部電極16同樣,係由第2活性層22及第2集電體層24構成。第2活性層22,係以與第1活性層12的另一側分離板片11接觸的方式層積,第2集電體層24,係以與第2活性層22接觸的方式層積。
在此,詳述構成元件本體10的各要素的特徵。首先,分離板片11,係以可將一對內部電極16與26電性絕緣,同時可使電解質溶液浸透的材料所構成,例如,以電絕緣性的多孔質板片構成。更具體而言,電絕緣性的多孔質板片,可舉出聚乙烯、聚丙烯、聚烯烴薄膜所構成的單層體、層積體、上述樹脂的混合物的拉伸膜、纖維不織布等。
再者,作為構成分離板片11的纖維不織布,可使用例如,選自由纖維素、聚酯、聚丙烯、尼龍、聚丙烯腈等的至少一種有機物纖維所構成的有機物系不織布,此外,亦可使用玻璃纖維、碳纖維等無機物纖維所構成的無機物系的不織布、以及包含如上所述的無機物纖維與有機物纖維雙方的有機-無機複合系不織布。此外,分離板片11的厚度,並無特別限制,例如,可為5~50μm程度。
集電體層14、24,只要具有較後述活性層12、22高的導電性即可,構成集電體層14、24的材料,並無特別限制。例如,作為集電體層14、24,使用銅(Cu)、鋁(Al)、鎳(Ni)等電阻較低的金屬材料的板片。該集電體層14、24的平均厚度,例如,可為10~100μm,以80μm以下為佳,以60μm以下為更佳,進一步以15~80μm為佳,以15~60μm為特佳。在X-Y平面,集電體層14、24的尺寸,以小於分離板片11的尺寸為佳,集電體層14、24,配置在分離板片11的Y軸方向的中心為佳。
活性層12、22,包含活性物質及黏合劑,以包含導電助劑為佳。活性層12、22,係分別層積在構成各個集電體層14、24的板片表面而形成。
活性物質,係由具有電子導電性的各種多孔體構成,可使用例如活性炭、天然石墨、人造石墨、中間相微碳球、中間相碳纖維(MCF)、焦炭、玻璃碳,有機化合物鍛燒體等碳材料。黏合劑,只要具有可以將活性物質,導電助劑,固定在集電體層14、24表面的特性,即可使用各種黏合劑。例如,作為黏合劑,可使用聚偏二氟乙烯(PVDF)、聚四氟乙烯(PTFE)等氟樹脂,苯乙烯-丁二烯橡膠(SBR)與水溶性聚合物(羧甲基纖維素、聚乙烯醇、聚丙烯酸鈉、糊精、麩質等)的混合物等。
導電助劑,係用於提高活性層12、22的電子導電性的材料。作為導電助劑,可舉出例如炭黑、乙炔黑等碳材料、銅、鎳、不鏽鋼、鐵等金屬細粉、碳材料及金屬細粉的混合物、ITO等導電氧化物。
活性層12、22的平均厚度,可例如為1~100μm。此外,活性層12、22,可以與分離板片11同等以下的面積,形成在集電體層14、24的表面。
另一方面,作為填充在電容器單元9的電解質溶液,使用將電解質溶解在有機溶劑的電解液。電解質,使用例如,四乙基銨四氟硼酸鹽(TEA +BF 4-)、三乙基單甲基銨四氟硼酸鹽(TEMA +BF 4-)等四級銨鹽、銨鹽、胺鹽或脒鹽為佳。再者,該等電解液可以一種單獨使用,亦可並用兩種以上。
作為有機溶劑,可使用習知的溶劑,可舉出例如,碳酸丙烯酯、碳酸乙烯酯、碳酸二甲酯、碳酸甲乙酯、碳酸二乙酯、γ-丁內酯、二甲基甲醯胺、環丁碸、乙腈、丙腈、甲氧基乙腈等,其中,特別使用碳酸丙烯酯為佳。上述溶劑可以單獨使用,亦可以任意比例混合兩種以上使用。
收容電容器單元9的外裝板片4,不只是不會使上述電解質溶液穿透,還需要具有可防止空氣及水分等侵入的特性。此外,外裝板片4,具有優良的密封性為佳,外裝板片4的周緣部可藉由熱封一體化為佳。外裝板片4,只要具有上述特性,可為單層板片,惟如圖2A所示,以層積金屬板片4A、內側層4B、外側層4C的多層板片為佳。在圖2A所示外裝板片4,以包夾金屬板片4A的方式,層積內側層4B及外側層4C,內側層4B位在外裝板片4內側,外側層4C位於外裝板片4的外側表面。
金屬板4A,例如以鋁(Al)、不鏽鋼等構成為佳。內側層4B,係以電性絕緣材構成,以不容易與電解質溶液反應,且可熱封的聚丙烯構成為佳。此外,在聚丙烯以外,亦可以具有與聚丙烯同等特質的樹脂材料(例如,聚乙烯、離聚物樹脂、酸變性聚烯烴、聚甲基戊烯等)構成。另一方面,外側層4C,並無特別限制,可例如以聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚碳酸酯(PC)、聚醚碸(PES)、聚萘二甲酸乙二酯(PEN)、聚醯亞胺(PI)、氟樹脂、聚乙烯(PE)、聚對苯二甲酸丁二酯(PBT)等構成。外裝板片4全體的平均厚度以5~150μm為佳。
在本實施形態,外裝板片4的耐力,在JIS Z2241為390~1275N/mm2,以785~980N/mm2為佳。此外,外裝板片4的硬度,在維氏硬度(Hv)(JIS 2244)為230~480,以280~380為佳。從此觀點來看,作為外裝板片4的金屬板4A,使用不鏽鋼SUS304(BA)、SUS304(1/2H)、SUS304H、SUS301BA、SUS301(1/2H)、SUS301(3/4H)為佳。
此外,在本實施形態,外裝板片4,如圖2A及圖2B所示,具備支撐片4f1、4f2。具體而言,外裝板片4的背面板片4b的X軸方向的兩側尖端沿X軸方向延伸到表面板片4a的外側,該延伸部分亦兼做支撐片4f1及4f2。在支撐片4f1、4f2上,配置後述之引線端子18、28,藉由該支撐片4f1、4f2,可有效保護引線端子18、28。
引線端子18、28,係電性連接在集電體層14、24的略矩形板形狀的導電性構件,從電容器單元9的內側向外側在X軸方向上拉出,配置在支撐片4f1、4f2上。該引線端子18、28,使用異向性導電膜(ACF)、異向性導電膏(ACP)等接合材料,可與未示於圖的外部端子連接,引線端子18、28,作用作為對集電體層14、24輸出入電流的端子。
在本實施形態,引線端子18、28,係以與集電體層14、24一體化的金屬板構成(即,以與集電體層14、24相同的構件構成),具有與與集電體層14、24相同的厚度。惟,引線端子18、28,亦可以與集電體層14、24不同的導電構件構成,與集電體層14、24電性連接。此時,引線端子18、28的平均厚度,亦可與集電體層14、24的厚度不同,例如為10~100μm程度,以60μm以下為佳,進一步以20~60μm為佳。
再者,在本實施形態的EDLC2,第1引線端子18與第2引線端子28,係沿著EDLC2的長邊(X軸方向)方向向相反側拉出。藉由如此構成,可減少EDLC2的Y軸方向的寬度。此外,可將拉出引線端子的可封裝部(40、42)的厚度最小化,而可使整個EDLC2的厚度亦減少。結果,可實現EDLC2的小型化及薄型化。
此外,如上所述,引線端子18、28雖係配置在支撐片4f1、4f2上,但如圖2B所示,在引線端子18、28與支援片4f1、4f2之間,進一步介在絕緣底座板60為佳。該絕緣底座板片60,係藉由熱熔接或黏合劑等,接合在支撐片4f1、4f2的內側層4B而一體化。藉由在引線端子18、28與支援片4f1、4f2之間具備絕緣底座板片60,使引線端子18、28與外部端子連接時,可有效防止外裝板片4的金屬片4A與引線端子18、28短路。
絕緣底座板片60,以即使是施加熱、壓力,亦可保持既定厚度,結果可維持絕緣的材料構成為佳。例如,作為絕緣底座板片60,可使用聚乙烯(PE)、聚丙烯(PP)、聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、聚乙烯醇(PVA)、聚碳酸酯、聚醯亞胺、聚醯胺、聚對苯二甲酸丁二酯等。此外,亦可使用如聚氨酯或環氧樹脂等熱固性樹脂,亦可以複合上述各種樹脂材料的材料構成。
惟,上述樹脂材料之中,特別是使用耐熱性優良的樹脂材料為佳。例如,使用PE或PP時,選擇以拉伸的OPE(拉伸聚乙烯)、OPP(拉伸聚丙烯)較以擠出方法製造的CPE(鑄製聚乙烯)或CPP(鑄製聚丙烯)為佳。由於OPE、OPP在製造過程向縱橫方向拉伸而顯示優良的結晶配向性,故耐熱性較CPE、CPP優。
此外,絕緣底座板片60,可為單層結構,亦可為多層結構,惟以如圖2B所示三層結構的樹脂膜構成為佳。在三層結構的樹脂膜,在層積方向的中心部配置耐熱性優良的PET等高熔點樹脂,在表面及背面層積PP等低熔點樹脂為佳。PET等高熔點樹脂,在使用ACF、ACP,將到引線端子18、28與外部端子連接時,並不會熔融,而可保持厚度。另一方面,配置在表面側及背面側的PP,則容易熔融,而可熱熔接在背面板片4b的內側層4B,及引線端子18、28的背面。
接著,說明關於電容器單元9的封裝結構。首先,電容器單元9的X軸方向的兩端部分,係以第1封裝部40及第2封裝部42封裝,兩個封裝部40、42,具有相同的結構。在第1封裝部40及第2封裝部42,分別拉出引線端子18、28,特別需要密封性。因此,在第1封裝部40及第2封裝部42,如圖2D所示,在表面板片4a的內側層4B與引線端子18、28之間,及背面板片4b的內側層4B與引線端子18、28之間,介在封裝用膠帶40a(以下有時同樣地包含42a),做熱封。
更具體而言,第1封裝部40及第2封裝部42,係封裝用膠帶40a、42a與外裝板片4的內側層4B,藉由熱封時的加熱一體化形成。即,形成在外裝板片4的內周面的內側層(樹脂)4B的一部分,與封裝用膠帶40a、42a一起,與引線端子18、28的Y軸方向的兩側表面密著成為熱熔接部,提升在第1封裝部40及第2封裝部42的密封性。
再者,封裝用膠帶40a、42a,只要藉由熱而熔化,可接著的膠帶材料構成即可,例如,可與內側層4B同樣,以聚丙烯、聚乙烯、離聚物樹脂、酸變性聚烯烴、聚甲基戊烯等膠帶材料構成。此外,封裝用膠帶40a、42a,並不限定於膠帶材料,亦可藉由塗佈封裝劑樹脂來構成。
另一方面,沒有拉出引線端子18、28的第3封裝部44及第4封裝部46,係如圖2C所示,表面板片4a的內側層4B,與背面板片4b的內側層4B,藉由熱封時的加熱熔融而一體化形成。
再者,各個封裝部40、42、44、46,係一體連接。具體而言,如圖1A所示,在第1封裝部40的Y軸方向的兩端,分別使第3封裝部44及第4封裝部46的一端連接的方式連續形成,將該等第3封裝部44及第4封裝部46的另一端連接的方式連續形成第2封裝部42。因此,電容器單元9,係以四個封裝部包圍,以該等封裝部良好地密封。
具有如上所述特徵的本實施形態的EDLC2,可使全體的厚度為1mm以下(以0.9mm以下為佳,進一步以0.5mm以下為佳)而非常的薄,同時具有充分的耐電壓。因此,EDLC2,可良好地使用在例如,用於內建在IC卡等薄型電子機器(如IC卡)的蓄電裝置。
此外,本實施形態的EDLC2,除了上述特徵之外,還具有以下特徵。即,在EDLC2,在電容器單元9的內部,包含具有既定特徵的無機物質。該無機物質,可具有粒子狀、纖維狀、箔狀,塊狀等形態(以粒子狀或纖維狀為佳),以如下所示態樣包含在電容器單元9的內部。
例如,無機物質,作為無機粒子,可分散存在於電解質溶液中。此時,無機粒子的一部分,藉由電解質溶液浸入分離板片11,而擔持在分離板片11的內部及表面。
或者,藉由將包含粒子狀無機物質的漿料,噴塗到分離板片11的兩側表面(垂直於Z軸的上面及下面),然後使之乾燥,亦可在分離板片11的表面添加無機物質。再者,包含無機物質的漿料,亦可不是分離板片11,而噴塗在與分離板片11相對的活性層12、22表面。如此在內部電極16、26表面添加無機物質時,對正極及負極的雙方,噴塗包含無機物質的漿料為佳。
或者,無機物質,亦可作為包含在分離板片11的構成材料的一部分。即,藉由預先將織纖狀的無機物質織入有機或無機纖維不織布,使電容器單元9的內部含有無機物質。
上述含有無機物質的態樣,僅為例示,無機物質,亦可以上述以外的態樣包含在電容器單元9的內部。惟,無機物質,存在於相對的第1活性層12與第2活性層22之間為佳。
包含在電容器單元9的無機物質,包含:鈉(Na)、鉀(K)、及矽(Si),可以包含該等元素的氧化物,或玻璃化的氧化物存在。此外,在無機物質,在Na、K、Si之外,亦可將鎂(Mg)、鈣(Ca)、鋁(Al)、鋇(Ba)、硼(B)、磷(P)、鋅(Zn)等元素以氧化物等化合物的狀態包含。
此外,無機物質的組成,Na、K以既定比例包含為佳。具體而言,包含在無機物質的Na的含有率,以Na 2O換算為αwt%,包含在無機物質的K的含有率,以K 2O換算為βwt%時,α+β以1.0wt%以上為佳。以7.0wt%以上為更佳。α+β的上限並無特別限制,例如,以50wt%以下為佳,以30wt%以下為更佳。此外,Na的含有率α以大於K的含有率β為佳。
另一方面,包含在無機物質的Si含量γ(wt%),並無特別限制,例如,以SiO 2換算,可為10wt%~99wt%,以10wt%~70wt%為佳。
再者,上述各元素的含有率,可以X射線螢光分析(XRF:X-Ray Fluorescebece)、電感耦電漿放射光譜分析(ICP:Inductively Coupled Plasma)、或電子微探分析儀(EPMA:Electron Probe Micro Analyzer)等,進行無機物質的元素分析測定。例如,在XRF實施成分分析時,將檢測到的全元素(惟,碳(C)等源自有機物的元素除外)的氧化物換算的含量,以FP定量法(基本參數定量法)計算,在其共計含量之中Na 2O、K 2O、SiO 2所佔的比例,作為含有率α、β、γ導出即可。再者,在無機物質中存在B等輕元素時,以ICP進行成分分析為佳。
在上述成分分析,作為分析用試料,例如,可使用分離板片11。具體而言,將EDLC2分解,使填充在電容器單元9電解質溶液乾燥後,取出乾燥的分離板片11,將此用於作為分析試料即可。在時,鑑定存在於乾燥分離板片11內部、表面的無機物質(粒子狀、纖維狀),對無機物質進行成分分析。此外,使用ICP時,將乾燥的分離板片11溶解在氫氟酸等溶劑,使用該溶液試料進行成分分析即可。
將無機物質分散在電解質溶液中時,對分離板片11、活性層12、22噴霧無機物質時,及有對分離板片11織入無機物質時,由於無機物質會被添加到分離板片11的表面、內部(或擔持),故以上述方法製備分析用的試料即可。然後,藉由對包含在該試料中的無機物質進行成分分析,即可鑑定包含在電容器單元的無機物質的組成。此外,對內部電極側噴霧包含無機物質的漿料時,取代分離板片11,將內部電極16、26作為分析試料,分析該內部電極16、26的表面即可。
再者,添加在電容器單元9的無機物質為粒子狀時,其粒徑、粒子形狀,並無特別限制。例如,選擇容易擔持在分離板片11的粒徑、形狀即可。此外,纖維狀無機物質織入分離板片11時,該纖維狀無機物質的直徑,並無特別限制,例如,以奈米級的纖維為佳。
此外,包含在電容器單元9的內部的無機物質本身的含有率,由於可想有複數無機物質的添加形式,故鑑定並不容易。惟,例如,藉由TG-DTA(熱重示差熱量分析),可推測介在於一對內部電極16、26之間的無機物質本身的含有率。此時,使用從完成後的EDLC2取出,使之乾燥的分離板片11作為分析試料。然後,將該試料,以TG-DTA,加熱至800°C(在大氣氣氛,以升溫速率20°C/分鐘為佳),測定試料的重量損失率。介在於一對內部電極16、26之間的無機物質本身的含有率,可以「100wt%-重量損失率」近似表示。
在電解質溶液中分散無機物質時,對分離板片11等噴霧無機物質時,及對分離板片11織入無機物質時,可藉由上述方法,估計介在於一對內部電極16、26之間的無機物質本身的含有率。如此推測在電極間的無機物質本身含有率,以0.15wt%~45wt%為佳,以1wt%~35wt%為更佳。
接著,說明關於本實施形態的EDLC2的製造方法的一例。
首先,準備要添加到電容器單元9的無機物質。以下,作為例示,詳述關於對分離板片11表面,將漿料噴霧添加無機物質的方法。首先,作為起始原料,準備碳酸鈉、碳酸鉀、氧化矽,將該等以所期望的組成比秤量。之後,使用研缽等,將稱量的起始原料混合。再者,起始原料,並不限定於上述,可使用在鍛燒後成為氧化物的化合物,例如,碳酸鹽、硝酸鹽、草酸鹽、氫氧化物等。此外,在無機物質,含有Na、K、Si以外的元素時,只要將包含該元素的起始原料,與Na、K、Si等的起始原料混合即可。
將起始原料混合之後,將該混合粉放入白金坩鍋等高溫鍛燒用高溫鍛燒用的坩鍋進行鍛燒。鍛燒,以上述起始原料可相互反應的條件實施即可,詳細的條件並無特別限制。例如,將無機物質玻璃化時,將投入白金坩鍋的混合粉,以100°C/h~500°C/h的速度升溫,在1200°C~1500°C的溫度保持1~10小時之後,將熔融材料藉由滴入水中得到玻璃化無機原料粉。再者,上述鍛燒之後,對所得無機原料粉施以適當的研磨處理及分級處理。
接著,使用上述無機原料粉,製作漿料。在溶劑中加入無機原料粉混合之後,對該混合物進行超音波處理,使無機原料粉充分分散在溶劑中。之後,使用球磨機等粉碎機,將上述混合物粉碎,得到包含無機物質的漿料。再者,作為在上述使用的溶劑,可使用蒸餾水等水性溶劑,或乙醇、丙酮、己烷、甲乙酮等各種有機溶劑。
藉由將上述所得漿料噴霧到分離板片11的上面及下面,可對分離板片11添加無機粒子。再者,漿料的噴霧,實施複數次為佳。噴霧次數,只要根據包含在漿料中的無機原料粉的添加量適當確定即可,例如,使用無機原料粉的添加量為20wt%的漿料時的噴霧次數,以2~10次為佳,以3~8次為更佳。藉由漿料的噴霧添加無機物質時,添加到電容器單元9內的無機物質的總量,可藉由噴霧次數調整。再者,在噴霧後,藉由真空乾燥等手法,將分離板片11充分乾燥,使包含在漿料中的溶劑揮發即可。此外,不是在分離板片11,而是將漿料噴霧到內部電極16、26的表面時,亦可以與上述相同的方式,添加無機物質。
此外,將無機物質添加到電解質溶液中時,只要以如下所示方法製備電解質溶液即可。首先,將以上述方法所得含有無機物質的漿料,充分乾燥,使溶劑揮發,得到無機粒子。然後,將該無機粒子,添加到電解質溶液中藉由超音波處理,得到分散無機粒子的電解質溶液。此時,無機粒子的添加量,對電解質溶液100重量份,以0.2重量份~60重量份為佳,以1重量份~50重量份為更佳。
此外,將無機物質織入分離板片11時,將纖維狀的無機物質與分離板片11的原料混合,以習知的方法製造纖維不織布即可。
以上述方法,可製備添加到電容器單元9的無機物質。
接著,說明關於EDLC2的組裝方法。首先,如圖3A及圖4A所示,製造元件本體10。為製造元件本體10,準備第1內部電極16,在第1內部電極16與第1引線端子18之間的邊界部分,黏貼封裝用膠帶40a。此外,準備另一邊的第2內部電極26,在第2內部電極26與第2引線端子28之間的邊界部分,黏貼封裝用膠帶42a。然後,在第1內部電極16與第2內部電極18之間配置分離板片11。
封裝用膠帶40a、42a,係分別以位在第1封裝部40及第2封裝部42的位置,接濯著在引線端子18、28的一側表面或兩側。此時,封裝用膠帶40a、42a的Y軸方向的寬度大於引線端子18、28的Y軸方向的寬度。
接著,以覆蓋整個元件本體10,將外裝板片4折返以周緣部4c彎曲,以板片4的表面板片4a及背面板片4b覆蓋元件本體10。再者,外裝板片4,係預先在Y軸方向形成較長。外裝板片4的表面板片4a的X軸方向的寬度,係調整為表面板片4a的X軸方向的尖端部分4d1、4d2分別位在封裝用膠帶40a、42a的X軸方向內側。
接著,如圖3B及圖4B所示,為形成第1封裝部40及第2封裝部42,將熱熔接夾具50壓在表面板片4a及背面板片4b的Z軸方向外側,進行加熱加壓(熱封)。更具體而言,熱熔接夾具50,係壓在以表面板片4a及背面板片4b夾住封裝用膠帶40a、42a的位置。此時,封裝用膠帶40a、42a,藉由加壓及加熱成為流動的接著用樹脂,與外裝板片4的內側層4B密著而一體化,在固化後成為封裝部40、42。此外,在封裝用膠帶40a、42a的熔接時,構成封裝用膠帶40a、42a的樹脂溢出,覆蓋位於表面板片4a的X軸方向的尖端部4d1、4d2的金屬片4A的露出面為佳。藉此,可有效防止金屬片4A與引線端子18、28的表面板片4a短路。
如上所述,第1封裝部40,係黏貼在第1引線端子18的封裝用膠帶40a,與外裝板片4的內側層4B熱封(加熱壓接)形成。同樣地,第2封裝部42,係黏貼在第2引線端子28的封裝用膠帶42a,與外裝板片4的內側層4B熱封(加熱壓接)形成。
在形成第1封裝部40及第2封裝部42之前,或在形成之後,將外裝板片4的折返周緣部4c進行加壓加熱,形成第3封裝部44。接著,從沒有形成第4封裝部46的外裝板片4的開口端52注入電解質溶液,之後,將最後第4封裝部46,使用與用於形成第3封裝部44的夾具相同的夾具,藉由加熱加壓形成。之後,沿著第4封裝部46的外部切割線54切割外裝板片4,藉由去除多餘的外裝板片4',得到本實施形態的EDLC2。
再者,圖3A及3B所示的絕緣底座板片60,在將元件本體10封裝在外裝板片4內之前,可先接合在外裝板片4的既定位置,亦可在封裝之後,設在引線端子18、28與支撐片4f1、4f2之間。
(第1實施形態的總結) 在本實施形態的EDLC2,在電容器單元9的內部,包含含有Na、K、及Si的無機物質。藉由具有該特徵,在EDLC2,可抑制阻抗的上升,而可延長元件的壽命。可藉由既定無機物質抑制阻抗的上升的理由,雖並不一定清楚,惟例如,可考慮如下原因。
阻抗隨時間上升的主要因素,可舉出電解質溶液擴散到電容器單元外部,但在此主要因素之外,內部電極隨時間經過而惡化亦被認為是阻抗上升的原因之一。通常,作為構成內部電極的集電體層,使用Cu、Al、Ni等金屬板片,在集電體層的表面層,存在來自金屬板片的構成元素的氧化披膜。因此,藉由在集電體層的表層存在氧化披膜,抑制集電體層被電解質溶液腐蝕。惟,可認為在電容器單元的內部,由於殘存在電容器單元內的水分,與包含在電解質溶液的離子反應,生成HF等氟化物。在先前的EDLC,可認為是因為生成的氟化物破壞集電體層的氧化披膜,而內部電極(特別是集電體層)的腐蝕進展,而使阻抗隨時間上升。
再者,在本實施形態的EDLC2,可認為即使是在電容器單元9的內部生成氟化物,具有既定特徵的無機物質會吸附氟化物。結果,阻止氟化物破壞集電體層的氧化披膜,而可抑制阻抗因內部電極16、26的惡化而上升。特別是無機物質,存在於第1活性層12與第2活性層之間(即,滲有電解質溶液的分離板片11所在的位置),氟化物被吸附在遠離集電體層14、24的無機物質上,而可認為可更良好地抑制內部電極16、26的劣化。
再者,在本實施形態的EDLC2,有效電極面積越小,根據無機物質的阻抗上升抑制效果有提升的趨勢。在此,所謂「有效電極面積」,係指在從層積方向(Z軸方向)的平面觀看,一對內部電極16、26相對(重疊)的區域的面積。一般而言,有效電極面積越小,EDLC的容量越低,可高速充放電。
惟,在先前的EDLC,使有效電極面積變小,則有阻抗隨時間的上升有加劇的趨勢。如上所述,氟化物對集電體層的腐蝕,特別容易發生在集電體層的邊緣附近。因此,有效電極面積變小時,邊緣長度對有效電極面積的比率會變大,而認為集電體層的腐蝕容易進展。另一方面,在本實施形態的EDLC2,藉由無機物質吸附氟化物,抑制氟化物在電容器單元9的內部的自由游離,故即使有效電極面積變小,亦可有效抑制阻抗的上升。
具體而言,在本實施形態的EDLC2,有效電極面積以12cm 2以下為佳,以1cm 2以下為更佳。如此,使有效電極面積變小,與先前的EDLC相比,可以進一步降低阻抗隨時間經過的上升率。此外,藉由上述構成,本實施形態的EDLC2,可以更快地充放電。
此外,在本實施形態的EDLC2,無機物質所含Na含有率α與K含有率β之和(α+β)為1.0wt%以上,以7.0wt%以上為佳。無機物質,特別重要的是含有Na及K,藉由滿足上述組成,可更良好地抑制阻抗的上升。結果,可進一步提升EDLC2的使用壽命。
第2實施形態 以下,基於圖5及圖6,說明關於本揭露的第2實施形態。如圖5及6所示,在第2實施形態的EDLC2b,在外裝板片4的內部,收容在Y軸方向排列的兩個電容器單元9a及9b。其他與第1實施形態相同。因此,關於在第2實施形態與第1實施形態共通的構成,將省略其說明,使用相同的符號。
在第2個實施形態,外裝板片4,係由表面板片4a1與背面板片4b1構成,與圖1A所示的外裝板片4相比,在Y軸方向具有略2倍的大小。在外裝板片4的內側,如圖6所示,收容兩個電容器單元9a、9b,該等電容器單元9a、9b,分別具有元件本體10a、10b。元件本體10a、10b,均具有與第1實施形態的元件本體10相同的結構。
在第2實施形態,各元件本體10a、10b的第2引線端子28、28,係分別形成,各元件本體10a、10b的第1引線端子18a與連接部18b一體成形,相互連續。即,各元件本體10a、10b,係如圖5所示,經由第1引線端子18a及連接部18b,串聯。
在外裝板片4的Y軸方向的中心部,沿著X軸方向形成第3封裝部44a,在兩個電容器單元9a、9b之間,遮斷電解質溶液的流動。電容器單元9a,係藉由連續形成在外裝板片4的第1封裝部、第2封裝部42、第3封裝部44a、及第4封裝部46a封裝,在內部填充電解質溶液。同樣地,電容器單元9b,係藉由連續形成在外裝板片4的第1封裝部40、第2封裝部42、第3封裝部44a、及第4封裝部46b封裝,在內部填充電解質溶液。
一般,在EDLC中,單一電容器單元的耐電壓,設定在最大約為2.85V左右,如第2實施形態的EDLC2b所示,藉由串聯兩個電容器單元9a、9b,可提高EDLC2b的耐電壓。再者,電容器單元的連接數,並無特別限定,藉由連接多個電容器單元構成EDLC,可按照EDLC的用途確保最佳耐電壓。此外,在第2實施形態的EDLC2b,係串聯兩個電容器單元9a、9b,惟亦可將該等並聯。
在第2實施形態的EDLC2b,各電容器單元9a、9b,分別包含具有與第1實施形態相同特徵的無機物質,藉由該構成,可抑制阻抗的上升,可提升EDLC2b的壽命。此外,電容器單元9a與9b,有效電極面積可為一致,亦可互相不同。即使是如EDLC2b存在多個電容器單元9a、9b的情形,單一電容器單元的有效電極面積,分別以12cm 2以下為佳,以1cm 2以下為更佳。
以上,說明關於本揭露的實施形態,惟本揭露並非限定於上述實施形態,可在本揭露的範圍內進行各種改變。例如,在圖1A所示EDLC2,在外裝板片4具備支撐片4f1、4f2,該支撐片4f1、4f2並非必需構成要素。亦可如圖1B所示EDLC2a,外裝板片4不具備支撐片4f1、4f2,表面板片4a與背面板片4b在X軸方向具有大致相同的長度。再者,在圖1B所示EDLC2a,亦可將一枚板片彎曲構成外裝板片4,亦可將各別的板片重疊構成外裝板片4。
此外,在第1實施形態及第2實施形態,第1引線端子18與第2引線端子28,係沿著EDLC的長邊方向(X軸方向)拉出到相反側,惟亦可如圖7的EDLC2d所示,所有引線端子僅向X軸方向的一方拉出。此外,亦可如圖7所示,引線端子向同一方向拉出時,使極性一致的兩個以上的引線端子在層積方向重疊拉出。
再者,如圖4A所示的封裝用膠帶40a、42a,並不限於單一層樹脂膠帶,亦可為多層結構的樹脂膠帶。可使用例如,在層積方向的中心部有高熔點樹脂(例如PP)層,在其兩面有低熔點樹脂(例如PP)層的三層層積結構的膠帶。藉由使用具有如此構成的膠帶40a、42a,可進一步提升在封裝部40、42的封裝性,同時即使在引線端子18、28發生毛邊,可藉由高熔點樹脂層防止毛邊穿透外裝板片4的內側層4B。因此,可更有效地防止在封裝部40、42的短路故障,同時可有效防止引線端子在熱壓接時斷裂等。 [實施例]
以下,將本揭露,基於實施例做更詳細的說明,惟本揭露,並非限定於該等實施例。
實驗1 在實驗1,對電解質溶液中加入無機粒子,製作圖1A所示結構的EDLC試料。特別是在實驗1,製作變更無機粒子的組成、添加量的複數實施例試料(1~11),評價各實施例試料的壽命特性。以下,說明在各實施例的實驗條件。
(實施例1) 首先,作為無機粒子的起始原料,準備碳酸鈉、碳酸鉀、氧化矽,將該等以既定比例稱重後,使用瑪腦研缽混合。此時,在上述起始原料之外,加入適量氫氧化鋁、碳酸鈣、碳酸鎂、硼酸、氧化鋅、碳酸鋇等,與上述起始原料一起混合。
然後,將所得混合粉末投入白金坩鍋,以可控制升溫.高溫速率的電爐鍛燒。鍛燒條件,以升溫速率300°C/h,保持溫度1200°C~1500°C,持溫時間為2小時,經過該持溫時間之後,將熔融原料滴入水中,得到玻璃化無機原料粉。鍛燒後,將該無機原料粉以瑪瑙研缽粗粉碎。
接著,對有機溶劑的己烷100重量份,添加10重量份以上述步驟所得無機原料粉。然後,將該溶液,超音波處理30分鐘,將無機原料粉分散在己烷中。之後,將添加到己烷的無機原料粉,以球磨機研磨48小時,得到包含無機粒子的漿料。此外,將該漿料以100°C~140°C乾燥12小時,藉由使溶劑揮發,得到使用在實施例1的無機粒子。再者,將該步驟所得之無機粒子的組成,以XRF或ICP分析,結果在實施例1的無機粒子,確認包含Na、K、及Si在表1所示組成比。
然後,將上面獲得的無機粒子添加到電解質溶液中,然後,約30分鐘,藉由超音波處理,將無機粒子分散在電解質溶液中。此時,無機粒子的添加量,相對於電解質溶液100份重量,按重量計算為20份。
最後,使用上述電解質溶液,製造關於實施例1的EDLC試料。在EDLC的製造,使用Al的金屬板片作為集電體層14、24,使用活性炭作為活性層12、22的活性物質,使用纖維素纖維不織布作為分離板片11,以第1實施形態所述方法(圖3A至圖4B)組裝EDLC。此外,內部電極的有效電極面積為0.21cm 2。測量該方法所得EDLC試料的容量的結果為10mF。
(實施例2~7) 在實施例2~7,準備組成與實施例1不同的無機粒子,使用該無機粒子製作EDLC試料。具體而言,在實施例2~7,無機粒子的組成,係藉由調整起始原料的混合比來控制,在實施例2~5,主要變更Na、K的含有率α、β,在實施例6~7,主要變更Si的含有率γ。將各實施例2~7的無機粒子的組成(XRF的成分分析結果)是於表1。在實施例2~7,變更無機粒子的組成以外,以與實施例1同樣地製造關於各實施例的EDLC試料。
(實施例8~11) 在實施例8~11,準備與實施例1不同無機粒子添加量的電解質溶液,使用該電解質溶液製作EDLC試料。將在各實施例8~11,無機粒子的添加量(無機粒子對電解質溶液100重量份的重量比)示於表1。在實施例8~11,變更無機粒子的添加量以外,以與實施例1同樣地製造關於各實施例的EDLC試料。
(比較例1) 在比較例1,與上述實施形態不同,在電容器單元中沒有添加無機粒子,而製作EDLC試料。未使用無機粒子以外,其他條件與實施例1相同。
(比較例2) 在比較例2,雖在電解質溶液加入無機粒子,惟使用在比較例2的無機粒子為純度高的SiO 2粒子(玻璃),並不含Na、K。在比較例2,上述以外的實驗條件,以與實施例1同樣地得到關於比較例2的EDLC試料。
(特性評價:耐久試驗) 為評價上述各實施例及比較例的壽命特性,進行耐久試驗。在耐久試驗,將製作的EDLC試料,在85°C的環境下保管1000小時,測量阻抗在試驗前後的上升率。阻抗的上升率以200%以下判定為合格,上升率越低,可靠性越高,而判斷為高壽命。將各實施例及比較例的評價結果示於表1。
[表1] 表1
試料No. 無機物質的特徵 電容器元件 耐久試驗結果
對電解質溶液的添加量 組成 有效電極面積 容量 試驗前的阻抗 試驗後的阻抗 阻抗 上升率
Na 2O K 2O SiO 2 其他
重量份 α(wt%) β(wt%) γ(wt%) wt% cm 2 mF Ω Ω %
比較例1 0 - - - - 0.21 10 3.56 17.6 494
比較例2 20 - - 100 - 0.21 10 3.64 17.5 479
實施例1 20 13 2 65 20 0.21 10 3.51 4.23 121
實施例2 20 0.6 0.3 58 41.1 0.21 10 3.78 7.46 197
實施例3 20 4 1 65 30 0.21 10 3.73 6.06 163
實施例4 20 10 10 65 15 0.21 10 3.54 4.36 123
實施例5 20 18 2 65 15 0.21 10 3.61 4.44 123
實施例6 20 13 2 40 45 0.21 10 3.61 4.56 126
實施例7 20 13 2 10 75 0.21 10 4.11 5.27 128
實施例8 0.2 13 2 65 20 0.21 10 3.71 7.35 198
實施例9 1 13 2 65 20 0.21 10 3.61 6.60 183
實施例10 48 13 2 65 20 0.21 10 5.84 6.60 113
實施例11 52 13 2 65 20 0.21 10 6.25 9.10 146
如表1所示,在沒有在電容器單元內添加無機粒子的比較例1,試驗後的阻抗上升到約500%左右,無法滿足目標的壽命特性。此外,在添加不含Na、K的SiO 2粒子的比較例2,阻抗的上升速率與比較例1相同程度,無法滿足目標的壽命特性。從該比較例2的結果,可知僅以Si的氧化物粒子,無法得到抑制阻抗上升的效果。
相對於此,添加包含Na、K、Si的無機粒子的實施例1~11,阻抗的上升速率在200%以下,滿足基準值。從該結果,確認藉由在電容器單元內添加包含既定元素的無機粒子,可抑制阻抗的上升,而提升EDLC的壽命。
此外,比較實施例1~5,確認Na與K的含有率地和(α+β)越多,越可抑制阻抗上升。此外,比較實施例6~7與實施例1的結果,可確認減少無機粒子所含的Si含量γ,增加其他無機成分的比例,有使初期阻抗變高的趨勢。
再者,從實施例8~11的結果,確認只要含有Na、K、Si的無機物粒子,少量包含在電解質溶液中(添加量0.2重量份),具有抑制阻抗上升的效果。然後,可知在電解質溶液中分散無機粒子時,無機粒子對電解質溶液的添加量,以0.2重量份~60重量份為佳,以1重量份~50重量份為更佳。
實驗2 在實驗2,製作變更EDLC容量的複數試料,調查有效電極面積與阻抗上升率的相關性。以下,說明關於在實驗2製作的各試料。
(實施例12~14) 在實施例12~14,準備與實驗1的實施例1不同的有效電極面積的元件本體,使用該元件本體製作EDLC試料。具體而言,在各試料的有效電極面積在實施例12為0.84cm 2,在實施例13為4.2cm 2,在實施例14為14cm 2。在實施例12~14,有效電極面積以外的製造條件與實施例1相同,進行與實施例1同樣的評價。將評價結果示於表2。
(實施例15) 在實施例15,使有效電極面積與實施例14同樣為14cm 2,並且藉由使活性層12、24較實施例14厚,使容量變大。在實施例15,上述以外的實驗條件,以與實施例1同樣地製造EDLC試料,進行與實施例1同樣的評價。將評價結果示於表2。
(比較例3~6) 在比較例3~6,與上述實施例12~15同樣地改變有效電極面積、容量,製作EDLC試料。在比較例3~6,有效電極面積、容量以外的製造條件與實施例1相同。將評價結果示於表2。
[表2] 表2
試料No. 無機物質的特徵 電容器元件 耐久試驗結果
對電解質溶液的添加量 組成 有效電極面積 容量 試驗前的阻抗 試驗後的阻抗 阻抗 上升率
Na 2O K 2O SiO 2 其他
重量份 α(wt%) β(wt%) γ(wt%) wt% cm 2 mF Ω Ω %
比較例1 0 - - - - 0.21 10 3.56 17.6 494
比較例3 0 - - - - 0.84 40 0.734 2.48 338
比較例4 0 - - - - 4.2 200 0.158 0.421 266
比較例5 0 - - - - 14 1000 0.064 0.134 209
比較例6 0 - - - - 14 1200 0.06 0.132 220
實施例1 20 13 2 65 20 0.21 10 3.51 4.23 121
實施例12 20 13 2 65 20 0.84 40 0.721 0.795 110
實施例13 20 13 2 65 20 4.2 200 0.152 0.164 108
實施例14 20 13 2 65 20 14 1000 0.068 0.072 106
實施例15 20 13 2 65 20 14 1200 0.062 0.065 105
從表2的比較例1、3~6的評價結果,可確認當有效電極面積變小時,阻抗的上升率變得更高,而壽命特性容易惡化。另一方面,在本實施例1、12~15,即使使有效電極面積變小,亦可抑制阻抗的上升。
此外,從表2所示的結果,可確認有效電極面積越小,無機粒子的壽命改善效果越高。對比有效電極面積為14cm 2的比較例5與實施例15時,實施例15的上升率抑制在比較例5的1/2的程度。相對於此,對比有效電極面積為0. 21cm 2的比較例1與實施例1時,實施例1的上升率可降至比較例1的1/4的程度。即,可知有效電極面積越小,阻抗的上升抑制效果越高。有鑑於此效果,有效電極面積,以小於14cm 2為佳,以1cm 2以下為更佳。
實驗3 在實驗3,變更無機粒子的添加方法製作關於實施例21~23的EDLC試料。具體而言,在實驗3的各實施例中,以與實驗1及實驗2同樣的方法,製作包含無機粒子(添加量20wt%)的漿料之後,將該漿料噴霧到與活性層的與分離板片相對的表面。此時,漿料係噴霧到第1內電極的第1活性層及第2內電極的第2活性層雙方。此外,噴霧次數,對第1及第2活性層,分別在實施例21為1次(共計2次),在實施例22為3次(共計6次),在實施例23為5次(共計10次)。
然後,在漿料的噴霧後,藉由真空乾燥使漿料中的有機溶劑揮發,在第1及第2活性層表面添加無機粒子。無機粒子的組成,與實驗1同樣,藉由進行XRF、ICP的成分分析確認。
在實驗3的各實施例,使用上述分離板片,製作EDLC,進行與實施例1同樣的評價。再者,在實驗3的各實施例,上述以外的實驗條件,與實施例1相同。將實驗3的評價結果示於表3。
[表3] 表3
試料No. 無機物質的特徵 電容器元件 耐久試驗結果
噴霧次數 (共計) 組成 有效電極面積 容量 試驗前的阻抗 試驗後的阻抗 阻抗 上升率
Na 2O K 2O SiO 2 其他
α(wt%) β(wt%) γ(wt%) wt% cm 2 mF Ω Ω %
實施例21 2 13 2 65 20 0.21 10 3.58 7.1 199
實施例22 6 13 2 65 20 0.21 10 3.66 4.26 116
實施例23 10 13 2 65 20 0.21 10 5.76 6.8 118
如表3所示,即使是改變無機粒子的添加方法,亦可確認可抑制阻抗的上升。此外,以噴霧漿料的方法添加無機粒子時,總噴霧次數以2~10次為佳,以6次左右為更佳。
再者,在實驗1~3,將製造過程的無機粒子作為測量試料,實施以XRF、ICP成分分析,惟在製造後的EDLC試料,亦分析了無機粒子的組成。即,將製造的EDLC試料拆解,使充填在電容器單元內部的電解質溶液乾燥之後,鑑別存在於分離板片的內部、表面、或內部電極表面的無機粒子,藉由以XRF及ICP進行成分分析,測量無機粒子的組成。結果,得到與表1~3所示成分同等的成分分析結果。
2,2a,2b,2d:電雙層電容器(EDLC) 4:外裝板片 4a,4a1,4a2:表面板片 4b,4b1,4b2:背面板片 4c:折返周緣部 4d1,4d2:尖端部 4f1,4f2:支援片 4A:金屬板片 4B:內側層 4C:外側層 10:元件本體 11:分離板片 12:第1活性層 14:第1集電體層 16:第1內部電極 18:第1引線端子 22:第2活性層 24:第2集電體層 26:第2內部電極 28:第2引線端子 40:第1封裝部 42:第2封裝部 44:第3封裝部 46:第4封裝部 50:熱熔接夾具 60:絕緣底座板片
圖1A為關於本揭露的一實施形態的電雙層電容器的立體圖。 圖1B為表示圖1A所示電雙層電容器的變形例的立體圖。 圖2A為沿著圖1A的IIA-IIA線的示意剖面圖。 圖2B為圖2A所示封裝部的主要部分的放大剖面圖。 圖2C為沿著圖1A的IIC-IIC線的主要部分的放大剖面圖。 圖2D為沿著圖1A的IID-IID線的主要部分的放大剖面圖。 圖3A為表示圖2A所示電雙層電容器的製造方法例的剖面圖,顯示了示例。 圖3B為表示圖3A的後續步驟的立體圖。 圖4A為表示對應圖3A的製造方法例的示意立體圖。 圖4B為表示圖4A的後續步驟的立體圖。 圖5為關於本揭露的其他實施形態的電雙層電容器的立體圖。 圖6為沿著圖5的VI-VI線的主要部分的剖面圖。 圖7為表示圖1A所示的電雙層電容器的變形例的立體圖。
2:電雙層電容器(EDLC)
4:外裝板片
4a:表面板片
4b:背面板片
4f1,4f2:支援片
4A:金屬板片
4B:內側層
4C:外側層
10:元件本體
11:分離板片
12:第1活性層
14:第1集電體層
16:第1內部電極
18:第1引線端子
22:第2活性層
24:第2集電體層
26:第2內部電極
28:第2引線端子
40:第1封裝部
42:第2封裝部

Claims (4)

  1. 一種電雙層電容器,其係至少具有一個電容器單元的電雙層電容器,上述電容器單元,具有:分離板片;一對內部電極,其夾著上述分離板片層積;電解質溶液,其浸漬上述分離板片及一對上述內部電極,在上述電容器單元內部,包含含有Na(鈉)、K(鉀)、及Si(矽)的氧化物玻璃之無機物質,其中上述無機物質所含Na含有率,以Na2O換算為αwt%,上述無機物質所含K含有率,以K2O換算為βwt%,α+β為1.0wt%以上。
  2. 如請求項1之電雙層電容器,其中上述無機物質所含Na含有率,以Na2O換算為αwt%,上述無機物質所含K含有率,以K2O換算為βwt%,α+β為7.0wt%以上。
  3. 如請求項1或2之電雙層電容器,在從層積方向的平面觀看,以一對相對的上述內部電極的區域的面積為有效電極面積時,在單一電容器單元的上述有效電極面積為12cm2以下。
  4. 如請求項1或2之電雙層電容器,在從層積方向的平面觀看,以一對相對的上述內部電極的區域的面積為有效電極面積時,在單一電容器單元的上述有效電極面積為1cm2以下。
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