TWI775815B

TWI775815B - 缺陷檢查系統、膜製造裝置、膜製造方法、印字裝置及印字方法

Info

Publication number: TWI775815B
Application number: TW107106813A
Authority: TW
Inventors: 洪昇均; 李銀珪; 加集功士
Original assignee: 日商住友化學股份有限公司; 南韓商東友精細化工有限公司
Priority date: 2017-03-03
Filing date: 2018-03-01
Publication date: 2022-09-01
Also published as: KR20180101211A; TW201837454A; CN108535273A; JP7086642B2; JP2018146581A; KR102469408B1; CN108535273B

Abstract

在搬送長帶狀的膜(F105)的期間，在沿著膜(F105)的端緣部之記錄區域(S)進行印字之印字裝置(50)，係具備有：對膜(F105)進行印字之印字頭(13a)；檢測出膜(F105)的蛇行之蛇行檢測部(53)；以及進行使印字頭(13a)在與膜(F105)的搬送方向交叉之方向移動的操作之頭操作部(51)，頭操作部(51)係配合蛇行檢測部(53)所檢測出的膜(F105)的蛇行，使印字頭(13a)移動到與記錄區域(S)相對向的位置。

Description

缺陷檢查系統、膜製造裝置、膜製造方法、印字裝置及印字方法

本發明係關於缺陷檢查系統、膜製造裝置、膜製造方法、印字裝置及印字方法。

例如偏光板等的光學膜，係在進行過異物缺陷、凹凸缺陷等之缺陷檢查後，捲繞在芯材的周圍。與缺陷的位置及種類有關之資訊(以下稱為缺陷資訊)，係以在光學膜的端部印上條碼(barcode)、或在缺陷部位印上標記(mark)之方式記錄在光學膜上。捲繞於芯材之光學膜的捲繞量達到一定的量，就與來自上游側的光學膜切分開來，作為光學膜的料捲而出貨。在例如日本特開2011-7779號公報中，揭示一種：在光學膜的搬送線上配備有缺陷檢查裝置、及將缺陷資訊記錄在膜上的記錄裝置之缺陷檢查系統。

然而，上述的缺陷檢查系統在將缺陷資訊記錄在光學膜上之際，會因為光學膜的狀態、搬送條件等而發生搬送中的光學膜蛇行之情形。光學膜發生如此的蛇行的話，就有：要利用從印字頭噴出的墨水印上之缺陷資訊，不會正確地記錄在沿著光學膜的端緣部之記錄區域，而發生印字錯誤之可能性。

本發明之態樣係有鑒於如上所述的以往的問題而提出者，其目的在提供即使在搬送長帶狀的膜的期間發生蛇行的情況，也可適切地在沿著膜的端緣部之記錄區域進行印字之缺陷檢查系統、膜製造裝置、膜製造方法、印字裝置及印字方法。

為了解決上述課題，本發明之態樣採用以下的構成。

本發明的一態樣之缺陷檢查系統，係具備有：搬送線，係搬送長帶狀的膜；缺陷檢查裝置，係進行在前述搬送線搬送的膜的缺陷檢查；以及記錄裝置，係將根據前述缺陷檢查的結果而得到的缺陷資訊記錄到在前述搬送線搬送的膜，其中，前述記錄裝置係具有：印字頭，係將前述缺陷資訊印到沿著前述膜的端緣部之記錄區域；蛇行檢測部，係檢測出前述膜的蛇行；以及頭操作部，係進行使前述印字頭相對於前述膜相對地在與前述膜的搬送方向交叉之方向移動的操作，前述頭操作部係配合前述蛇行檢測部所檢測出的前述膜的蛇行，使前述印字頭移動到與前述記錄區域相對向的位置。

在前述態樣之缺陷檢查系統中，前述蛇行檢測部可具有在與前述膜的搬送方向交叉之方向排列而配置之複數個感測器，前述頭操作部可進行使前述複數個感測器與前述印字頭一體地在與前述膜的搬送方向交叉之方向移動的操作。

在前述態樣之缺陷檢查系統中，可在前述印字頭位於與前述記錄區域相對向的位置之情況，在前述複數個感測器之中的至少相鄰的一方的感測器與另一方的感測器之間檢測出不同的訊號。

在前述態樣之缺陷檢查系統中，前述蛇行檢測部可具有：向前述膜照射光之至少一個或複數個光源；以及作為前述感測器之配置成與前述光源隔著前述膜而相對向之複數個感光元件。

本發明的另一態樣係為一種膜製造裝置，此膜製造裝置具備有前述任一形態的缺陷檢查系統。

本發明的又另一態樣係為一種膜製造方法，此膜製造方法包含：使用前述任一形態的缺陷檢查系統來進行缺陷檢查之工序。

本發明的又另一態樣係為一種在搬送長帶狀的膜的期間，在沿著前述膜的端緣部之記錄區域進行印字之印字裝置，具備有：印字頭，係對前述膜進行印字；蛇行檢測部，係檢測出前述膜的蛇行；以及頭操作部，係進行使前述印字頭相對於前述膜相對地在與前述膜的搬送方向交叉之方向移動的操作，其中，前述頭操作部係配合前述蛇行檢測部所檢測出的前述膜的蛇行，使前述印字頭移動到與前述記錄區域相對向的位置。

在前述態樣之印字裝置中，前述蛇行檢測部可具有在與前述膜的搬送方向交叉之方向排列配置之複數個感測器，前述複數個感測器可由前述頭操作部使之與前述印字頭一體地在與前述膜的搬送方向交叉之方向移動操作。

在前述態樣之印字裝置中，可在前述印字頭位於與前述記錄區域相對向的位置之情況，在前述複數個感測器之中的至少相鄰的一方的感測器與另一方的感測器之間檢測出不同的訊號。

在前述態樣之印字裝置中，前述蛇行檢測部可具有：向前述膜照射光之至少一個或複數個光源。

本發明的又另一態樣係為一種在搬送長帶狀的膜的期間，使用印字頭在沿著前述膜的端緣部之記錄區域進行印字之印字方法，包含：檢測出前述膜的蛇行之工序；配合前述檢測出的前述膜的蛇行，使前述印字頭相對於前述膜相對地移動到與前述記錄區域相對向的位置之工序；以及使用前述印字頭在前述記錄區域進行印字之工序。

在前述態樣之印字方法中，可使用在與前述膜的搬送方向交叉的方向排列配置，而且受到操作而與前述印字頭一體地在與前述膜的搬送方向交叉的方向移動之複數個感測器，來檢測出前述膜的端緣部。

在前述態樣之印字方法中，可在前述印字頭位於與前述記錄區域相對向的位置之情況，在前述複數個感測器之中的至少相鄰的一方的感測器與另一方的感測器之間檢測出不同的訊號。

在前述態樣之印字方法中，可使用向前述膜照射光之至少一個或複數個光源。

如以上所述，根據本發明之態樣，就可提供即使在搬送長帶狀的膜的期間發生蛇行的情況，也可適切地在沿著膜的端緣部之記錄區域進行印字之缺陷檢查系統、膜製造裝置、膜製造方法、印字裝置及印字方法。

10‧‧‧缺陷檢查系統

11‧‧‧第一缺陷檢查裝置

12‧‧‧第二缺陷檢查裝置

13‧‧‧記錄裝置

13a‧‧‧印字頭

14‧‧‧第一測長器

15‧‧‧第二測長器

16‧‧‧控制裝置

21a、22a、23a、24a、25a‧‧‧照明部

21b、22b、23b、24b、25b‧‧‧光檢測部

30‧‧‧遮蓋

30a‧‧‧第一側板部

30b‧‧‧第二側板部

30c‧‧‧第三側板部

30d‧‧‧第四側板部

31‧‧‧遮蓋

32‧‧‧遮蓋

32a‧‧‧窗部

40‧‧‧靜電去除裝置

50‧‧‧印字裝置

51‧‧‧頭操作部

52‧‧‧支持框

52a‧‧‧上側臂

52b‧‧‧下側臂

52c‧‧‧連結部

53‧‧‧蛇行檢測部

54a‧‧‧第一光源

54b‧‧‧第二光源

55a‧‧‧第一感測器

55b‧‧‧第二感測器

100‧‧‧膜製造裝置

101‧‧‧第一搬送線

102‧‧‧第二搬送線

103‧‧‧第三搬送線

104‧‧‧第四搬送線

105‧‧‧第五搬送線

106‧‧‧捲取部

111a、111b‧‧‧第一夾輥

112‧‧‧第一蓄積器

112a、112b‧‧‧第一張力調節輥

113‧‧‧第一導輥

121a、121b‧‧‧第二夾輥

122‧‧‧第二蓄積器

122a、122b‧‧‧第二張力調節輥

123a、123b‧‧‧第二導輥

131a、131b‧‧‧第三夾輥

141a、141b‧‧‧第四夾輥

142‧‧‧第三蓄積器

142a、142b‧‧‧第三張力調節輥

143a、143b‧‧‧第四導輥

151a、151b‧‧‧第五夾輥

152‧‧‧第四蓄積器

152a、152b‧‧‧第四張力調節輥

153a‧‧‧第五導輥

153b‧‧‧第六導輥

153c‧‧‧第七導輥

B‧‧‧交界

F1X‧‧‧光學膜

F4‧‧‧基材片

F4a‧‧‧偏光鏡

F4b、F4c‧‧‧保護膜

F5‧‧‧黏著層

F6‧‧‧分隔片

F7‧‧‧表面保護片

F8‧‧‧貼合片

F10X‧‧‧光學膜

F11‧‧‧第一光學膜

F12‧‧‧第二光學膜

F13‧‧‧第三光學膜

F101‧‧‧第一膜

F102‧‧‧第二膜

F103‧‧‧第三膜

F104‧‧‧單面貼合膜

F105‧‧‧兩面貼合膜

FX‧‧‧光學片

G‧‧‧框緣部

Ma‧‧‧空白區域

P‧‧‧液晶顯示面板(光學顯示裝置)

P1‧‧‧第一基板

P2‧‧‧第二基板

P3‧‧‧液晶層

P4‧‧‧顯示區域

Pa‧‧‧偏光區域

S‧‧‧記錄區域

第1圖係顯示液晶顯示面板的一例之平面圖。

第2圖係第1圖中顯示的液晶顯示面板的斷面圖。

第3圖係顯示光學膜的一例之斷面圖。

第4圖係顯示膜製造裝置及缺陷檢查系統的構成之側面圖。

第5圖係顯示兩面貼合膜的構成之平面圖。

第6圖係顯示印字裝置的構成，第6圖(a)係從膜的上方側所見之印字裝置的平面圖，第6圖(b)係從膜的搬送方向所見之印字裝置的側面圖。

第7圖係顯示第6圖所示的印字裝置的動作，第7圖(a)係印字頭在正常位置的情況之側面圖，第7圖(b)係印字頭在外側的情況之側面圖，第7圖(c)係印字頭在內側的情況之側面圖。

第8圖係顯示記錄裝置的一例之側面圖。

第9圖係顯示遮蓋的一例，第9圖(a)係從膜的上方側所見之遮蓋的平面圖，第9圖(b)係從膜的上游側所見之遮蓋的側面圖，第9圖(c)係從膜的外側所見之遮蓋的側面圖。

第10圖係顯示遮蓋的變形例之平面圖。

第11圖係顯示遮蓋的變形例，第11圖(a)係遮蓋的斜視圖，第11圖(b)係遮蓋的側面圖。

第12圖係顯示遮蓋的另一實施形態，第12圖(a)係遮蓋的平面圖，第12圖(b)係遮蓋的側面圖。

以下，參照圖式來詳細說明本發明的實施形態。

在本實施形態中，將針對構成光學顯示裝置的生產系統的一部分之膜製造裝置、以及使用此膜製造裝置之膜製造方法進行說明。

膜製造裝置係製造用來貼合在例如液晶顯示面板(panel)、有機EL顯示面板等之面板狀的光學顯示元件(光學顯示面板)上之例如偏光膜或相位差膜、增亮膜等的膜狀的光學部件(光學膜)之裝置。膜製造裝置係構成生產包含如此的光學顯示元件及光學部件之光學顯示裝置(device)的生產系統的一部分。

本實施形態中，係以透過型的液晶顯示裝置作為光學顯示裝置的例子進行說明。透過型的液晶顯示裝置係具有液晶顯示面板、以及背光(backlight)。此液晶顯示裝置可藉由使從背光射出的照明光從液晶顯示面板的背面側射入，使經液晶顯示面板予以調變過的光從液晶顯示面板的表面側射出而顯示影像。

(光學顯示裝置)

首先，針對光學顯示裝置，說明第1及2圖所示的液晶顯示面板P的構成。第1圖係顯示液晶顯示面板P的構成之平面圖。第2圖係沿著第1圖中顯示的剖面線A-A剖開之液晶顯示面板P的斷面圖。第2圖中省略了表示斷面之陰影線的圖示。

液晶顯示面板P係如第1及2圖所示，具備有第一基板P1、與第一基板P1相對向配置之第二基板P2、以及配置於第一基板P1與第二基板P2之間之液晶層P3。

第一基板P1係由從平面圖看呈長方形的透明基板所構成。第二基板P2係由比第一基板P1小之長方形的透明基板所構成。第一基板P1與第二基板P2之間的周圍係以密封材(未圖示)密封住，液晶層P3係配置於由密封材所圍住之從平面圖看呈長方形的區域的內側。液晶顯示面板P當中，從平面圖看限制在液晶層P3的外周的內側之區域為顯示區域P4，包圍在此顯示區域P4的周圍之外側的區域為框緣部G。

在液晶顯示面板P的背面(背光側)，貼合有層疊之先是作為偏光膜之第一光學膜F11、然後是作為增亮膜之第三光學膜F13。在液晶顯示面板P的表面(顯示面側)，則貼合有作為偏光膜之第二光學膜F12。以下，將第一、第二及第三光學膜F11、F12、F13統稱為光學膜F1X。

(光學膜)

接著，說明第3圖所示之構成光學膜F1X之光學片FX的一例。第3圖係顯示光學片FX的構成之斷面圖。第3圖中省略了表示斷面之陰影線的圖示。

光學膜F1X係從第3圖所示的長帶狀的光學片(料捲)FX切出一段預定長度的片段(chip)而得到。具體而言，該光學片FX係具有基材片F4、設於基材片F4的一側的面(第3圖中的上側面)之黏著層F5、透過黏著層F5而設於基材片F4的一側的面之分隔片(separator sheet)F6、以及設於基材片F4的另一側的面(第3圖中的下側面)之表面保護片F7。

基材片F4在例如偏光膜之情況，係具有將偏光鏡(polarizer)F4a夾在一對保護膜F4b,F4c之間的構造。黏著層F5係用來使光學片(光學膜F1X)黏貼在液晶顯示面板P上之層。分隔片F6係保護黏著層F5之膜片。分隔片F6係在要將光學片(光學膜F1X)黏貼至液晶顯示面板P之前從黏著層F5剝離。以下，將已經撕掉分隔片F6之光學膜F1X的部分稱為貼合片F8。表面保護片F7係用來保護基材片F4的表面之膜片。表面保護片F7在已將光學片(光學膜F1X)黏貼至液晶顯示面板P之後從光學片(光學膜F1X)的表面剝離。

在基材片F4方面，可將一對保護膜F4b,F4c之中的任一方予以省略。例如，可省略黏著層F5側的保護膜F4b而將黏著層F5直接設於偏光鏡F4a。另外，可對於表面保護片F7側的保護膜F4c，施加例如用來保護液晶顯示面板P的最外面之硬鍍膜(hard coating)處理、用來得到防眩效果之防眩光(anti-glare)處理等之表面處理。又，基材片F4並不限於上述的積層構造的薄片，亦可為單層構造的薄片。此外，也可將表面保護片F7予以省略。

(膜製造裝置及膜製造方法)

接著，說明第4圖所示之膜製造裝置100。第4圖係顯示膜製造裝置100的構成之側面圖。

膜製造裝置100係如第4圖所示，為例如在作為偏光膜之長帶狀的第一膜F101的一面貼合作為表面保護膜之長帶狀的第二膜F102之後，在第一膜F101的另一面貼合作為表面保護膜之長帶狀的第三膜F103，以此方式製造在第一膜F101的兩面貼合有第二膜F102及第三膜F103之光學膜F10X之裝置。

具體而言，該膜製造裝置100係具備有第一搬送線101、第二搬送線102、第三搬送線103、第四搬送線104、第五搬送線105、以及捲取部106。

第一搬送線101係形成搬送第一膜F101之搬送路徑。第二搬送線102係形成搬送從第一料捲R1拉出的第二膜F102之搬送路徑。第三搬送線103係形成搬送在第一膜F101的一面貼合第二膜F102之後的單面貼合膜F104之搬送路徑。第四搬送線104係形成搬送從第二料捲R2拉出的第三膜F103之搬送路徑。第五搬送線105係形成搬送在單面貼合膜F104的第一膜F101側的面(第一膜F101的另一面)貼合第三膜F103之後的兩面貼合膜F105(光學膜F10X)之搬送路徑。製造出的光學膜F10X係在捲取部106捲繞在芯材上而成為第三料捲R3。

第一搬送線101係將對於例如PVA(聚乙烯醇：Polyvinyl Alcohol)等之作為偏光鏡的基材之膜施加染色處理及交聯處理、拉伸處理等之後，在其兩面貼合TAC(三醋酸纖維素：Triacetylcellulose)等之保護膜而得到之長帶狀的第一膜F101往第三搬送線103搬送。

具體而言，係在此第一搬送線101上，從第三搬送線103的上游處的一方側開始朝向第三搬送線103的方向，在水平方向依序排列配置一對第一夾輥(nip roller)111a,111b、包含複數個第一張力調節輥(dancer roller)112a,112b之第一蓄積器(accumulator)112、以及第一導輥113。

一對第一夾輥111a,111b係將第一膜F101夾在中間且同時往相反方向轉，藉此而將第一膜F101往第4圖中顯示的箭號a的方向(右方)拉。

第一蓄積器112係用來吸收第一膜F101的進給量變動所產生的差，以及減低施加於第一膜F101之張力的變動。具體而言，第一蓄積器112係具有在第一夾輥111a,111b與第一導輥113之間將位於上部側之複數個張力調節輥112a及位於下部側之複數個張力調節輥112b交互排列配置之構成。

第一蓄積器112係以使第一膜F101交互地繞過上部側的張力調節輥112a及繞過下部側的張力調節輥112b之狀態，一邊進行第一膜F101的搬送，一邊使上部側的張力調節輥112a及下部側的張力調節輥112b相對地在上下方向做升降動作。如此，就可暫時蓄積第一膜F101而不用使第一搬送線101停止。例如，第一蓄積器112使上部側的張力調節輥112a與下部側的張力調節輥112b之間的距離增大，就可增加第一膜F101之蓄積。反之，第一蓄積器112使上部側的張力調節輥112a與下部側的張力調節輥112b之間的距離縮減，就可減少第一膜F101之蓄積。第一蓄積器112係例如在更換料捲R1至R3的芯材之後的片帶的銜接等之作業時稼動。

第一導輥113係轉動而將第一夾輥111a,111b所拉動並搬送過來的第一膜F101導引朝向第三搬送線103的上游側。第一導輥113並不限於只配置一個之構成，亦可為配置複數個之構成。

第二搬送線102係將例如PET(聚對苯二甲酸乙二酯：Polyethylene Terephthalate)等之作為表面保護膜之長帶狀的第二膜F102從第一料捲R1拉出，並將之往第三搬送線103搬送。

具體而言，係在此第二搬送線102上，從第三搬送線103的上游處的另一方側開始朝向第三搬送線103的方向，在水平方向依序排列配置一對第二夾輥121a,121b、包含複數個第二張力調節輥122a,122b之第二蓄積器122、以及複數個第二導輥123a,123b。

一對第二夾輥121a,121b係將第二膜F102夾在中間且同時往相反方向轉，藉此而將第二膜F102往第4圖中顯示的箭號b的方向(左方)拉。

第二蓄積器122係用來吸收第二膜F102的進給量變動所產生的差，以及減低施加於第二膜F102之張力的變動。具體而言，第二蓄積器122係具有在第二夾輥121a,121b與第二導輥123a,123b之間將位於上部側之複數個張力調節輥122a及位於下部側之複數個張力調節輥122b交互排列配置之構成。

第二蓄積器122係以使第二膜F102交互地繞過上部側的張力調節輥122a及繞過下部側的張力調節輥122b之狀態，一邊進行第二膜F102的搬送，一邊使上部側的張力調節輥122a及下部側的張力調節輥122b相對地在上下方向做升降動作。如此，就可暫時蓄積第二膜F102而不用使第二搬送線102停止。例如，第二蓄積器122使上部側的張力調節輥122a與下部側的張力調節輥122b之間的距離增大，就可增加第二膜F102之蓄積。反之，第二蓄積器122使上部側的張力調節輥122a與下部側的張力調節輥122b之間的距離縮減，就可減少第二膜F102之蓄積。第二蓄積器122係例如在更換料捲R1至R3的芯材之後的片帶的銜接等之作業時稼動。

複數個第二導輥123a,123b係分別轉動而將第二夾輥121a,121b所拉動並搬送過來的第二膜F102導引向第三搬送線103的上游側。第二導輥123a,123b並不限於配置複數個之構成，亦可為只配置一個之構成。

第三搬送線103係將在第一膜F101的一面貼合第二膜F102而成的長帶狀的單面貼合膜F104往第五搬送線105搬送。

具體而言，係在此第三搬送線103上配置一對第三夾輥131a,131b。一對第三夾輥131a,131b係位於第一搬送線101的下游側與第二搬送線102的下游側的合流點，將第一膜F101及第二膜F102夾在中間且同時往相反方向旋轉，藉此而將第一膜F101及第二膜F102兩者相貼合而成的單面貼合膜F104往第4圖中顯示的箭號c的方向(下方)拉。

第四搬送線104係將例如PET(Polyethylene Terephthalate)等之作為表面保護膜之長帶狀的第三膜F103從第二料捲R2拉出，並將之往第五搬送線105搬送。

具體而言，係在此第四搬送線104上，從第三搬送線103的下游處的一方側開始朝向第三搬送線103的方向，在水平方向依序排列配置一對第四夾輥141a,141b、包含複數個第三張力調節輥142a,142b之第三蓄積器142、以及複數個第四導輥143a,143b。

一對第四夾輥141a,141b係一邊將第三膜F103夾在中間且一邊相互往相反方向轉，藉此而將第三膜F103往第4圖中顯示的箭號d的方向(右方)拉。

第三蓄積器142係用來吸收第三膜F103的進給量變動所產生的差，以及減低施加於第三膜F103之張力的變動。具體而言，第三蓄積器142係具有在第四夾輥141a,141b與第四導輥143a,143b之間將位於上部側之複數個張力調節輥142a及位於下部側之複數個張力調節輥142b交互排列配置之構成。

第三蓄積器142係以使第三膜F103交互地繞過上部側的張力調節輥142a及繞過下部側的張力調節輥142b之狀態，一邊進行第三膜F103的搬送，一邊使上部側的張力調節輥142a及下部側的張力調節輥142b相對地在上下方向做升降動作。如此，就可暫時蓄積第三膜F103而不用使第四搬送線104停止。例如，第三蓄積器142使上部側的張力調節輥142a與下部側的張力調節輥142b之間的距離增大，就可增加第三膜F103之蓄積。反之，第三蓄積器142使上部側的張力調節輥142a與下部側的張力調節輥142b之間的距離縮減，就可減少第三膜F103之蓄積。第三蓄積器142係例如在更換料捲R1至R3的芯材之後的片帶的銜接等之作業時稼動。

複數個第四導輥143a,143b係分別轉動而將第四夾輥141a,141b所拉動並搬送過來的第三膜F103 導引向第三搬送線103的下游側(第五搬送線105的上游側)。第四導輥143a,143b並不限於配置複數個之構成，亦可為只配置一個之構成。

第五搬送線105係將在單面貼合膜F104的第一膜F101側的面(第一膜F101的另一面)貼合第三膜F103而成的長帶狀的兩面貼合膜F105(光學膜F10X)往第三料捲R3搬送。

具體而言，係在此第五搬送線105上，從第三搬送線103的下游處的另一方側開始朝向第三料捲R3的方向，在水平方向依序排列配置一對第五夾輥151a,151b、第五導輥153a、一對第六夾輥151c,151d、包含複數個第四張力調節輥152a,152b之第四蓄積器152、以及第六導輥153b。

一對第五夾輥151a,151b係位於第三搬送線103的下游側與第五搬送線105的上游側的合流點，將單面貼合膜F104及第三膜F103夾在中間且同時往相反方向轉，藉此而將單面貼合膜F104與第三膜F103兩者相貼合而成的兩面貼合膜F105往第4圖中顯示的箭號e的方向(下方)拉。

第五導輥153a係轉動而將第五夾輥151a,151b所拉動並搬送過來的兩面貼合膜F105導引向第四蓄積器152。第五導輥153a並不限於只配置一個之構成，亦可為配置複數個之構成。

一對第六夾輥151c,151d係一邊將兩面貼合膜F105夾在中間且一邊相互往相反方向轉，藉此而將兩面貼合膜F105往第4圖中顯示的箭號f的方向(右方)拉。

第四蓄積器152係以使兩面貼合膜F105交互地繞過上部側的張力調節輥152a及繞過下部側的張力調節輥152b之狀態，一邊進行兩面貼合膜F105的搬送，一邊使上部側的張力調節輥152a及下部側的張力調節輥152b相對地在上下方向做升降動作。如此，就可蓄積兩面貼合膜F105而不用使第五搬送線105停止。例如，第四蓄積器152使上部側的張力調節輥152a與下部側的張力調節輥152b之間的距離增大，就可增加兩面貼合膜F105之蓄積。反之，第四蓄積器152使上部側的張力調節輥152a與下部側的張力調節輥152b之間的距離縮減，就可減少兩面貼合膜F105之蓄積。第四蓄積器152係例如在更換料捲R1至R3的芯材之後的片帶的銜接等之作業時稼動。

第六導輥153b係轉動而將兩面貼合膜F105導引向第三料捲R3。第六導輥153b並不限於只配置一個之構成，亦可為配置複數個之構成。

兩面貼合膜F105係在捲取部106捲繞在芯材上之後，作為光學膜F10X的第三料捲R3而送到下一工序進行處。

(缺陷檢查系統)

接著，針對上述膜製造裝置100所具備的缺陷檢查系統10進行說明。

缺陷檢查系統10係如第4圖所示，具備有搬送線L、第一缺陷檢查裝置11、第二缺陷檢查裝置12、記錄裝置13、第一測長器14、第二測長器15、以及控制裝置16。

搬送線L係形成搬送作為檢查對象的膜之搬送路徑。本實施形態中，搬送線L係由上述第一搬送線101、第三搬送線103及第五搬送線105所構成。

第一缺陷檢查裝置11係進行在貼合第二膜F102及第三膜F103之前的第一膜101的缺陷檢查的裝置。具體而言，此第一缺陷檢查裝置11係檢測出製造第一膜F101之際產生的、搬送第一膜F101之際產生的異物缺陷、凹凸缺陷、亮點缺陷等之各種缺陷。第一缺陷檢查裝置11係藉由對於在第一搬送線101上搬送的第一膜F101進行例如反射檢查、透射檢查、斜向透射檢查、正交偏光(crossed Nichol)透射檢查等之檢查處理，來檢測出第一膜F101的缺陷。

第一缺陷檢查裝置11係在第一搬送線101上比第一夾輥111a,111b更靠近上游側之處具有：照射光線至第一膜F101之複數個照明部21a,22a,23a、以及檢測透射過第一膜F101之光(透射光)或在第一膜F101反射之光(反射光)之複數個光檢測部21b,22b,23b。

本實施形態中，用來檢測透射光之構成，係在第一膜F101的搬送方向排列配置且相互隔著第一膜F101而相對向之複數個照明部21a,22a,23a及複數個光檢測部21b,22b,23b。另外，第一缺陷檢查裝置11並不限於如此之檢測透射光之構成，亦可為檢測反射光之構成、或檢測透射光及反射光之構成。在檢測反射光之情況，只要將光檢測部21b,22b,23b配置在照明部21a,22a,23a側即可。

照明部21a,22a,23a係照射經按照缺陷檢查的種類而調整過光強度及波長、偏光狀態等之照明光至第一膜F101。光檢測部21b,22b,23b係使用CCD等之攝像元件來攝取第一膜F101之照射到照明光的位置的影像。光檢測部21b,22b,23b所攝得的影像(缺陷檢查結果)係輸出至控制裝置16。

第二缺陷檢查裝置12係進行貼合了第二膜F102及第三膜F103之後的第一膜101、亦即兩面貼合膜F105的缺陷檢查的裝置。具體而言，此第二缺陷檢查裝置12係檢測在第一膜F101貼合第二膜F102及第三膜F103之際、搬送單面貼合膜F104及兩面貼合膜F105之際產生的異物缺陷、凹凸缺陷、亮點缺陷等之各種缺陷。第二缺陷檢查裝置12係藉由對於在第五搬送線105上搬送的兩面貼合膜F105進行例如反射檢查、透射檢查、斜向透射檢查、正交偏光透射檢查等之檢查處理，來檢測出兩面貼合膜F105的缺陷。

第二缺陷檢查裝置12係在第五搬送線105上比第五夾輥151a,151b更靠近下游側之處具有：照射光線至兩面貼合膜F105之複數個照明部24a,25a、以及檢測透射過兩面貼合膜F105之光(透射光)或在兩面貼合膜 F105反射之光(反射光)之複數個光檢測部24b,25b。

本實施形態中，用來檢測透射光之構成，係在兩面貼合膜F105的搬送方向排列配置一一對應且相互隔著兩面貼合膜F105而相對向之複數個照明部24a,25a及複數個光檢測部24b,25b。另外，第二缺陷檢查裝置12並不限於如此之檢測透射光之構成，亦可為檢測反射光之構成、或檢測透射光及反射光之構成。在檢測反射光之情況，只要將光檢測部24b,25b配置在照明部24a,25a側即可。

照明部24a,25a係照射經按照缺陷檢查的種類而調整過光強度及波長、偏光狀態等之照明光至兩面貼合膜F105。光檢測部24b,25b係使用CCD等之攝像元件來攝取兩面貼合膜F105之照射到照明光的位置的影像。光檢測部24b,25b所攝得的影像(缺陷檢查結果)係輸出至控制裝置16。

記錄裝置13係將根據第一缺陷檢查裝置11及第二缺陷檢查裝置12的缺陷檢查的結果而得到之缺陷資訊記錄到兩面貼合膜F105之裝置(印字裝置)。具體而言，缺陷資訊係包含與缺陷的位置及種類等有關之資訊，係以例如文字、條碼、二維條碼(DataMatrix code、QR code(註冊商標))等之識別碼的形態記錄(印上)。識別碼中含有例如表示第一缺陷檢查裝置11及第二缺陷檢查裝置12所檢測出的缺陷係存在於與印上識別碼的位置在膜的寬度方向相距多少距離的位置之資訊(與缺陷的位置有關之資訊)。識別碼中亦可含有與檢測出的缺陷的種類有關的資訊。本實施形態中，印上的缺陷資訊係7mm×7mm之二維條碼。

記錄裝置13係在第五搬送線105上設於比第二缺陷檢查裝置12更靠近下游側之處。記錄裝置13係具有採用例如噴墨方式之印字頭13a。另外，在與印字頭13a相對向之位置，配置有與兩面貼合膜F105相接觸之第七導輥153c。該印字頭13a係從兩面貼合膜F105之與第七導輥153c相接觸位置的相反側，在沿著兩面貼合膜105的寬度方向的端緣部之記錄區域噴出墨水，而進行上述缺陷資訊之印出。

此處，兩面貼合膜F105係如第5圖所示，具有：藉由將第二膜F102及第三膜F103的寬度形成得比第一膜F101寬，而在夾於第二膜F102與第三膜F103之間之第一膜F101的寬度方向的兩側設有由第二膜F102及第三膜F103所構成的空白區域Ma之構成。

空白區域Ma係位於配置有第一膜F101之區域以外的位置，亦即位於發揮作為偏光膜的機能之區域(以及稱為偏光區域)Pa的外側之位置，在將兩面貼合膜F105貼合到上述液晶顯示面板P時，會位於與該液晶顯示面板P的顯示區域P4重疊之區域的外側。空白區域Ma係在貼合到上述液晶顯示面板P之前要切掉之區域。

記錄裝置13係在兩面貼合膜F105上之距離偏光區域Pa與空白區域Ma的交界B一定的距離之空白區域Ma上記錄缺陷資訊。因此，將該空白區域Ma之中之記錄缺陷資訊的區域稱為記錄區域S。本實施形態中，係在兩面貼合膜F105的寬度方向的一邊的空白區域Ma設置記錄區域S。

記錄裝置13亦可藉由在兩面貼合膜F105的缺陷部位印上將缺陷包含在裡面之大小的點狀、線狀或框狀的標記(marking)，而直接在缺陷部位進行記錄。此時，除了標記之外亦可藉由印上表示缺陷的種類之記號或圖案，來記錄與缺陷的種類有關之資訊。

第一測長器14及第二測長器15係量測第一膜F101的搬送量。具體而言，本實施形態中，係在第一搬送線101上，在位於比第一蓄積器112更靠近上游側之第一夾輥111a配置構成第一測長器14之旋轉編碼器(rotary encoder)，以及在位於比第一蓄積器112更靠近下游側之第三夾輥131a配置構成第二測長器15之旋轉編碼器。

第一測長器14及第二測長器15係利用旋轉編碼器根據與第一膜F101接觸而轉動之第一夾輥111a及第三夾輥131a的轉動變位量而測出第一膜F101的搬送量。第一測長器14及第二測長器15的測定結果係輸出至控制裝置16。

本實施形態中，在第一缺陷檢查裝置11與記錄裝置13之間只存在有一個蓄積器，所以分別在該蓄積器的上游側及下游側各配置一個測長器。另一方面，在第一缺陷檢查裝置11與記錄裝置13之間存在有複數個蓄積器之情況，只要在最上游側的蓄積器的上游側及最下游側的蓄積器的下游側各配置一個測長器即可。

控制裝置16係統括控制膜製造裝置100的各部。具體而言，此控制裝置16係具備有作為電子控制裝置之電腦系統。電腦系統大致具備有CPU等演算處理部、以及記憶體及硬碟等之資訊記憶部。

控制裝置16的資訊記憶部中，記錄有控制電腦系統之作業系統(OS)、使演算處理部進行膜製造裝置100的各部所需的各種處理之程式等。控制裝置16亦可包含進行膜製造裝置100的各部的控制所需的各種處理之ASIC等的邏輯電路。另外，控制裝置16包含用來進行電腦系統與外部裝置的輸出入之介面(interface)。可在此介面連接上例如鍵盤及滑鼠等之輸入裝置、液晶顯示器等之顯示裝置、通訊裝置等。

控制裝置16係分析光檢測部21b,22b,23b及光檢測部24b,25b所攝得的影像，判別缺陷之有無(位置)及種類等。控制裝置16在判定第一膜F101或兩面貼合膜F105有缺陷之情況，控制記錄裝置13使之在兩面貼合膜F105上記錄缺陷資訊。

缺陷檢查系統10係以不會讓兩面貼合膜F105的缺陷檢查位置、與缺陷資訊的資訊記錄位置之間發生偏差之方式，在缺陷檢查後的預定的時序(timing)進行缺陷資訊的記錄。例如，本實施形態中，係算出從第一缺陷檢查裝置11及第二缺陷檢查裝置12進行缺陷檢查的時點之後在搬送線L上搬送的膜的搬送量，且在算出的搬送量與偏移距離(offset distance)一致時，使記錄裝置13進行記錄。

此處，偏移距離係指第一缺陷檢查裝置11及第二缺陷檢查裝置12與記錄裝置13之間的膜的搬送距離。嚴格來說，偏移距離係定義為第一缺陷檢查裝置11及第二缺陷檢查裝置12進行缺陷檢查的位置(缺陷檢查位置)與記錄裝置13進行缺陷資訊的記錄的位置(資訊記錄位置)之間的膜的搬送距離。偏移距離在第一蓄積器112稼動時會變動。

第一蓄積器12未稼動時的偏移距離(以下稱為第一偏移距離)係預先記憶於控制裝置16的資訊記憶部。具體而言，第一缺陷檢查裝置11及第二缺陷檢查裝置12中有複數個光檢測部21b,22b,23b及光檢測部24b,25b，每個光檢測部21b,22b,23b,24b,25b都進行缺陷檢查。因此，控制裝置16的資訊記憶部中針對每個光檢測部21b,22b,23b,24b,25b分別記憶有第一偏移距離。

在偏移距離由於第一蓄積器112的稼動而變動之情況，係根據第一蓄積器112的上游側及下游側的第一膜F101的搬送量的差來算出偏移距離的修正值。亦即，控制裝置16係從第一測長器14及第二測長器15的測定結果來算出第一蓄積器112中的第一膜F101的蓄積量，根據此第一膜F101的蓄積量來算出偏移距離的修正值。

在第一蓄積器112稼動時，缺陷檢查系統10根據偏移距離的修正值來修正記錄裝置13進行缺陷資訊的記錄之時序。例如，本實施形態係根據第一測長器14及第二測長器15的測定結果，來算出偏移距離的修正值。控制裝置16根據此修正值及第一偏移距離，來算出第一蓄積器112稼動時的偏移距離(以下稱為第二偏移距離)。

本實施形態中，根據第一測長器14及第二測長器15的測定結果，來算出從第一缺陷檢查裝置11及第二缺陷檢查裝置12進行缺陷檢查的時點之後在搬送線L上搬送的膜的搬送量，且在算出的搬送量與第二偏移距離一致時，使記錄裝置13進行記錄。

又，本實施形態中，在第一蓄積器112稼動時，可除了缺陷資訊之外，還在兩面貼合膜F105記錄表示第一蓄積器112為稼動的資訊(以下稱為蓄積器稼動資訊)。在記錄有蓄積器稼動資訊之情況，操作員(operator)仔細檢查印有蓄積器稼動資訊的部分的缺陷部位，就可檢測出記錄位置之偏差等。如此，誤將良品部分判定為缺陷部位的可能性會變少，產率會提高。

然而，就本實施形態之缺陷檢查系統10而言，由於兩面貼合膜F105的狀態(例如膜端部捲曲、膜貼合時的偏差或膜寬度方向的厚度不均等)、搬送條件(例如輥的芯偏心、在膜的寬度方向施加的張力不平衡等)等，會有搬送中的兩面貼合膜F105發生蛇行之情形。兩面貼合膜F105發生如此之蛇行的情況，藉由印字頭13a噴出的墨水而印上的缺陷資訊，就不會正確地印在沿著兩面貼合膜F105的端緣部之記錄區域，而有變成印字錯誤之可能性。

「蛇行」的方向，係從上方看兩面貼合膜F105的表面時之兩面貼合膜F105的左右方向(寬度方向)。所謂的搬送中的兩面貼合膜F105的「蛇行」，係指從上方看兩面貼合膜F105的表面時兩面貼合膜F105一邊在左右方向(寬度方向)偏移一邊向兩面貼合膜F105的搬送方向前進這樣的動作。

針對此點，本實施形態係採用如第6圖(a)、(b)所示之印字裝置50作為上述記錄裝置13，藉此而在即使在搬送兩面貼合膜F105的期間發生蛇行之情況，也可適切地在沿著兩面貼合膜F105的端緣部之記錄區域S進行印字。

(印字裝置及印字方法)

以下，針對本實施形態之印字裝置50的具體的構成、以及使用該印字裝置50之具體的印字方法。第6圖(a)係顯示相對於兩面貼合膜F105之印字裝置50的配置之平面圖。第6圖(b)係顯示相對於兩面貼合膜F105之印字裝置50的配置之側面圖。

印字裝置50係如第6圖(a)、(b)所示，具有進行使印字頭13a在與兩面貼合膜F105的搬送方向交叉的方向(寬度方向)移動的操作之頭操作部51。

頭操作部51具有支持印字頭13a之支持臂52。支持臂52具有：與兩面貼合膜F105的上表面相對向而配置之上側臂52a；與兩面貼合膜F105的下表面相對向而配置之下側臂52b；以及配置於兩面貼合膜F105的外側，將上側臂52a與下側臂52b連結起來之連結部52c。上側臂52a與下側臂52b係以相對向的狀態在兩面貼合膜F105的寬度方向延長而設。連結部52c係在上下方向延長而設，將上側臂52a與下側臂52b的基端側連結起來。印字頭13a係安裝於上側臂52a。

支持臂52係被支持成可在兩面貼合膜F105的寬度方向滑動。另外，頭操作部51具有滑動驅動部(未圖示)。滑動驅動部係透過齒輪及齒條將驅動馬達的旋轉驅動轉換為直線驅動，來驅使支持臂52在兩面貼合膜F105的寬度方向滑動。藉此，驅使印字頭13a與支持臂52一體地在兩面貼合膜F105的寬度方向滑動。

記錄裝置13係具有檢測出兩面貼合膜F105的蛇行之蛇行檢測部53。蛇行檢測部53具有向著兩面貼合膜F105射出光線之複數個(本實施形態中為兩個)光源54a,54b、以及接受從光源54a,54b射出的光之複數個(本實施形態中為兩個)感測器55a,55b。

複數個光源54a,54b係安裝於上側臂52a。複數個光源54a,54b係位於上側臂52a上比印字頭13a靠近前端側之處，且在上側臂52a的延長方向(兩側貼合膜F105的寬度方向)並排配置。

其中，靠近印字頭13a之光源(一方之光源)為第一光源54a，遠離印字頭13a之光源(另一方之光源)為第二光源54b。各光源54a,54b只要是發出的光通過偏光區域Fa與空白區域Ma之際的透射率不同者即可，發出可見光、紅外光皆可，可採用發出例如紅外(IR)光之發光二極體(LED)等之發光元件。

複數個感測器55a,55b係安裝於下側臂52b。複數個感測器55a,55b係以與複數個光源54a,54b相對向的形態並排配置於下側臂52b的延長方向(兩側貼合膜F105的寬度方向)。其中，與第一光源54a相對向之感測器(一方之感測器)為第一感測器55a，與第二光源54b相對向之感測器(另一方之感測器)為第二感測器55b。各感測器55a,55b可採用例如光電二極體(PD)等之感光元件。

蛇行檢測部53中，第一光源54a射出的光由第一感測器55a感測，第二光源54b射出的光由第二感測器55b感測。複數個光源54a,54b及複數個感測器55a,55b係在兩面貼合膜F105的寬度方向配置成與印字頭13a同列或配置成相較於印字頭13a較靠下游側。複數個光源54a,54b及複數個感測器55a,55b也受到頭操作部51的操作使之與印字頭13a一體地在兩面貼合膜F105的寬度方向移動。

在具有如上述構成之印字裝置50中，頭操作部51配合蛇行檢測部53所檢測出的兩面貼合膜F105的蛇行而使印字頭13a移動到與記錄區域S相對向的位置。

以下，如第7(a)至(c)圖所示，針對在搬送中的兩面貼合膜F105發生蛇行的情況使印字頭13a移動到與記錄區域S相對向的位置之具體的動作進行說明。

第7圖(a)係印字頭13a在與記錄區域S相向的位置(以下稱為正常位置)之情況。在此情況，在兩面貼合膜F105的寬度方向，兩面貼合膜F105的偏光區域Pa與空白區域Ma的交界B係位於第一感測器55a與第二感測器55b之間。

因此，在蛇行檢測部53，從第一光源54a射出的光BL1會通過空白區域Ma而由第一感測器55a來受光，另一方面，從第二光源54b射出的光BL2則會通過偏光區域Pa而由第二感測器55b來受光。

本實施形態中，第一光源54a及第二光源54b係採用相同的發光元件，第一感測器55a及第二感測器55b係採用相同的感光元件。在此情況，透過偏光區域Pa之光的透射率會比透過空白區域Ma的低，所以第一感測器55a的受光量(訊號)為大(Hi)，第二感測器55b的受光量(訊號)為小(Lo)。

檢測出如此的訊號之情況，頭操作部51判斷為印字頭13a位於正常位置，使在兩面貼合膜F105的寬度方向之印字頭13a的位置保持。

第7圖(b)係由於兩面貼合膜F105的蛇行使得印字頭13a相較於正常位置偏到外側之情況。在此情況，在兩面貼合膜F105的寬度方向，第一感測器55a與第二感測器55b都相較於兩面貼合膜F105的偏光區域Pa與空白區域Ma的交界B偏到外側。

因此，在蛇行檢測部53，從第一光源54a射出的光BL1會通過空白區域Ma而由第一感測器55a來受光，同樣的，從第二光源54b射出的光BL2也是通過空白區域Ma而由第二感測器55b來受光。在此情況，第一感測器55a的受光量(訊號)為大(Hi)，第二感測器55b的受光量(訊號)也為大(Hi)。

檢測出如此的訊號之情況，頭操作部51判斷為印字頭13a相較於正常位置偏到外側，而使印字頭13a向兩面貼合膜F105的寬度方向的內側移動。然後，在從蛇行檢測部53所檢測出的訊號判斷印字頭13a已到正常位置之時點，使在兩面貼合膜F105的寬度方向之印字頭13a的位置保持。

第7圖(c)係由於兩面貼合膜F105的蛇行使得印字頭13a相較於正常位置偏到內側之情況。在此情況，在兩面貼合膜F105的寬度方向，第一感測器55a與第二感測器55b都相較於兩面貼合膜F105的偏光區域Pa與空白區域Ma的交界B偏到內側。

因此，在蛇行檢測部53，從第一光源54a射出的光BL1會通過偏光區域Pa而由第一感測器55a來受光，同樣的，從第二光源54b射出的光BL2也是通過偏光區域Pa而由第二感測器55b來受光。在此情況，第一感測器55a的受光量(訊號)為小(Lo)，第二感測器55b的受光量(訊號)也為小(Lo)。

檢測出如此的訊號之情況，頭操作部51判斷為印字頭13a相較於正常位置偏到內側，而使印字頭13a向兩面貼合膜F105的寬度方向的外側移動。然後，在從蛇行檢測部53所檢測出的訊號判斷印字頭13a已到正常位置之時點，使在兩面貼合膜F105的寬度方向之印字頭13a的位置保持。

第一感測器55a及第二感測器55b所接受的受光量(訊號)不同(大小)之判定，可依據兩面貼合膜F105的構成而適當地選定。例如，假設在偏光區域Pa及空白區域Ma之受光量分別為A(Pa)、A(Ma)，則以{A(Pa)-A(Ma)}÷2之值作為閾值，比較此閾值與兩個感測器55a,55b間的受光量的差，若受光量的差比閾值大，就可視為在兩個感測器55a,55b間檢知的受光量(訊號)不同，且以受光量(訊號)大的為大(Hi)，以受光量(訊號)小的為小(Lo)。

複數個感測器55a,55b的相鄰之間的間隔，通常係設得比記錄區域S的寬度小，所以最好將之設定在記錄區域S的寬度的1/3至1/2倍的範圍內。

相鄰的感測器55a,55b間的間隔在此範圍內，就可相對於兩面貼合膜F105的蛇行，穩定地使印字頭13a保持在與記錄區域S相對向的位置。例如，在本實施形態之將7mm×7mm之二維條碼印在10mm寬的記錄區域S之情況，可將相鄰的感測器55a,55b間的間隔設定在3mm至5mm的範圍內。

關於配置的感測器的數目，通常在2至6個之程度，個數越多越可高精度地使印字頭13a保持在與記錄區域S相對向的位置。另一方面，感測器的個數太多，蛇行檢測部53會相對於記錄區域S變大，會變為不必要的空間，所以關於感測器的配置數目，最好為2至4個。

本實施形態之印字方法，係可藉由使用上述的印字裝置50，檢測出兩面貼合膜F105的蛇行，且配合前述檢測出的兩面貼合膜F105的蛇行而使印字頭13a移動到與記錄區域S相對向的位置後，使用該印字頭13a在記錄區域S進行印字。

如以上所述，本實施形態之缺陷檢查系統10即使在搬送中的兩面貼合膜F105發生蛇行的情況，也可適切地將缺陷資訊記錄(印)在兩面貼合膜F105的記錄區域S。因此，本實施形態之膜製造裝置100可防止由於印字錯誤所導致之缺陷資訊的讀取錯誤之發生，而可用很好的產率從兩面貼合膜F105切出光學膜F10X，可製造高品質的光學膜F10X。

再者，就本實施形態之缺陷檢查系統10而言，由於兩面貼合膜F105的狀態及搬送條件等，會有搬送中的兩面貼合膜F105啪啪跳動之情形。尤其，在兩面貼合膜F105的寬度方向的兩端部容易因為膜的吸濕或乾燥條件等而捲曲，此捲曲可想成是在搬送中發生啪啪跳動的原因之一。

針對此點，本實施形態之缺陷檢查系統10 係如第8圖所示，將印字頭13a配置成與和上述的兩面貼合膜F105接觸之第七導輥153c相對向。

藉此，即使是在搬送中兩面貼合膜F105的寬度方向的兩端部發生啪啪跳動之情況，也可在與第七導輥153c相接觸之位置抑制兩面貼合膜F105的啪啪跳動。因此，本實施形態之缺陷檢查系統10可適切地將想要利用從印字頭13a噴出的墨水i印上之缺陷資訊記錄(印)在兩面貼合膜F105的記錄區域S。

兩面貼合膜F105最好以40°至130°之角度範圍(以下稱為圍繞角度θ)繞接在第七導輥153c的外周面。本實施形態中所謂的圍繞角度，係指以導輥的中心角表示膜在圓周方向與導輥的外周面接觸的角度範圍。

圍繞角度θ小於40°，兩面貼合膜F105就容易在第七導輥153c的外周面上滑動。因此，為了防止由於兩面貼合膜F105的滑動而產生的擦痕等，最好使圍繞角度θ在40°以上。另一方面，圍繞角度θ超過130°，就容易在例如作為表面保護膜之第二及第三膜F102,F103與第一膜F101之間咬入氣泡。

因而，為了防止如此之氣泡的咬入，最好使圍繞角度θ在130°以下。

另外，施加於兩面貼合膜F105之張力低的情況，最好使圍繞角度θ超過90°，在95°以上更好。如此，可抑制發生於兩面貼合膜F105之啪啪跳動。另一方面，施加於兩面貼合膜F105之張力高的情況，最好使圍繞角度θ小於90°，在85°以下更好。如此，可防止兩面貼合膜F105過度緊貼於第七導輥153c的外周面。

關於兩面貼合膜F105的搬送速度，通常係在9至50m/min之程度。關於施加於兩面貼合膜F105之張力，在乾燥爐內係在400至1500N之程度，在乾燥爐外係在200至500N之程度。施加於兩面貼合膜F105之張力越小越容易發生啪啪跳動。兩面貼合膜F105的寬度係在500至1500mm之程度。兩面貼合膜F105的寬度越大越容易發生啪啪跳動。兩面貼合膜F105的厚度係在10至300μm之程度。兩面貼合膜F105的厚度越薄越容易發生啪啪跳動。

另外，第七導輥153c的外徑最好在100至150mm之範圍內。第七導輥153c的外徑變大，相對於圍繞角度θ之與第七導輥153c的外周面接觸的兩面貼合膜F105的面積就會變大。因此，可抑制發生於兩面貼合膜F105之啪啪跳動，可使記錄區域S更穩定化。但是，第七導輥153c的外徑變大，就容易發生上述的擦痕或氣泡的咬入，所以最好在上述的範圍內。

又，第七導輥153c的真圓度越高，越可抑制與該第七導輥153c接觸之兩面貼合膜F105的振動，使記錄區域S更穩定化。具體而言，第七導輥153c的真圓度最好在1.0mm以下，在0.5mm以下更好。

又，第七導輥153c的外周面的表面粗度(最大粗度Ry)最好在100s以下，在25s以下更好。如此，可抑制上述的擦痕或氣泡之咬入的發生。

又，本實施形態之缺陷檢查系統10可為了在第七導輥153c的上游側及下游側也抑制發生於兩面貼合膜105之啪啪跳動，而追加與兩面貼合膜F105接觸之導輥。在此情況，追加的導輥與第七導輥153c之間的距離最好在1000mm以內。亦可使兩面貼合膜F105相對於追加的導輥具有圍繞角度。最好相對於追加於上游側之導輥具有圍繞角度，相對於追加於上游側及下游側之導輥都具有圍繞角度更好。

如以上所述，本實施形態之缺陷檢查系統10可減低由於發生於搬送中的兩面貼合膜F105的啪啪跳動所造成的影響，適切地在兩面貼合膜F105記錄(印上)缺陷資訊。因此，本實施形態之膜製造裝置100可防止由於印字錯誤所導致之缺陷資訊的讀取錯誤之發生，而可用很好的產率從兩面貼合膜F105切出光學膜F10X，可製造高品質的光學膜F10X。

本實施形態中之記錄裝置13係如第9圖(a)至(c)所示，設有遮蓋(cover)30以防止墨水i附著於兩面貼合膜F105的至少記錄區域S以外的內側之區域。第9圖(a)係從兩面貼合膜F105的上方側看遮蓋30所見之平面圖，第9圖(b)係從兩面貼合膜F105的搬送方向的上游側看遮蓋30所見之側面圖，第9圖(c)係從兩面貼合膜F105的外側看遮蓋30所見之側面圖。

具體而言，該遮蓋30係具有：遮住兩面貼合膜F105與印字頭13a相向的空間K之中的面向兩面貼合膜F105的內側之側之第一側板部30a、遮住面向兩面貼合膜F105的搬送方向的上游側之側之第二側板部30b、以及遮住面向兩面貼合膜F105的搬送方向的下游側之側之第三側板部30c。

遮蓋30係利用螺絲鎖緊等之手段而相對於印字頭13a安裝成可裝拆。遮蓋30係使空間K之中之面向兩面貼合膜F105的外側之側開放，所以相對於印字頭13a之裝拆會變容易。

遮蓋30之與兩面貼合膜F105相對向的面、與兩面貼合膜F105的表面之間的間隔T最好在1mm以下。使此間隔T在1mm以下，可在從印字頭13a噴出的墨水i飛散到周圍時防止該墨水i的飛散物飛散到遮蓋30的外側。

墨水i的飛散物有：從印字頭13a噴出的墨水i之中例如離開資訊記錄位置而飛散到周圍之墨水i、附著到兩面貼合膜F105後飛散到周圍之墨水i等。

構成遮蓋30之三個側板部30a,30b,30c之中，第一側板部30a係防止墨水i的飛散物附著到兩面貼合膜F105之與顯示區域P4重疊之區域，第二側板部30b係防止墨水i的飛散物附著到兩面貼合膜F105的搬送方向的上游側，第三側板部30c係防止墨水i的飛散物附著到兩面貼合膜F105的搬送方向的下游側。

墨水i的飛散物會附著於遮蓋30的內面。因此，可定期地將遮蓋30從印字頭13a拆下，進行洗淨後，再安裝到印字頭13a而重複使用。

又，膜製造裝置100最好形成為具備有將兩面貼合膜F105的表面予以除電之靜電去除裝置40之構成。靜電去除裝置40係稱為電離器(ionizer)者，配置於兩面貼合膜F105的搬送方向上之比記錄裝置13(印字頭13a)靠近上游側之處。此靜電去除裝置40係在兩面貼合膜F105的寬度方向全域噴吹離子化氣體，來去除兩面貼合膜F105的表面所產生的靜電。

藉此，膜製造裝置100防止墨水i的飛散物受到靜電的吸引而吸附到兩面貼合膜F105的表面。因此，膜製造裝置100可藉由組合上述的遮蓋30及靜電去除裝置40來更加抑制墨水i的飛散物附著到兩面貼合膜F105的表面。

如以上所述，本實施形態之缺陷檢查系統10可防止由於將缺陷資訊記錄到兩面貼合膜F105之際之墨水i的飛散所造成之兩面貼合膜F105的污染。

本發明並非一定要限定於上述實施形態，還可在未脫離本發明的主旨之範圍內加上各種變更。

具體而言，在上述印字裝置50方面，並不限於使用兩個光源54a,54b及兩個感測器55a,55b之構成，可適當地變更光源及感測器的數目。具體而言，在將感測器的數目增加到三個以上之情況，可更精細地檢測出兩面貼合膜F105的蛇行程度。

亦即，可藉由在複數個感測器之中至少相鄰的一方的感測器與另一方的感測器之間檢測出不同的訊號，而檢測出兩面貼合膜F105的偏光區域Pa與空白區域Ma的交界B位於一方的感測器與另一方的感測器之間。可與此配合，利用頭操作部51使印字頭13a移動到與記錄區域S相對向的位置。

另一方面，在光源方面，並不限於配置與上述的感測器相同數目的光源之構成，亦可配置比感測器少的數目的光源。另外，還可為面發光源之類之對應於複數個感測器而射出光之一個光源。在感測器方面，並不限於檢測來自兩面貼合膜F105的透射光之類型，亦可為檢測來自兩面貼合膜F105的反射光之類型。

又，上述印字裝置50雖係形成為進行使印字頭13a相對於兩面貼合膜F105而移動的操作之構成，但亦可採用藉由使兩面貼合膜F105相對於印字頭13a在寬度方向移動操作，使印字頭13a相對地移動到與記錄區域S相向的位置之構成。

又，在上述遮蓋30方面，亦可為配置上述三個側板部30a,30b,30c之中的至少第一側板部30a之構成。藉此，而可防止墨水i的飛散物附著到兩面貼合膜F105之與顯示區域P4重疊之區域。

又，關於上述遮蓋30，亦可如第10圖所示，採用除了上述三個側板部30a,30b,30c之外，還配置有遮住面向兩面貼合膜F105的外側之側之第四側板部30d之構成。

又，關於上述記錄裝置13，亦可如第11圖(a)、(b)所示，將安裝於印字頭13a之遮蓋31的下端部形成為合於導輥41的外形之形狀。藉此，而可使與兩面貼合膜F105之間的間隔T在1mm以下。

又，作為本發明的另一實施形態，亦可採用如例如第12圖(a)、(b)所示之遮蓋32。此遮蓋32係由平行平板狀的板材所構成，以接近兩面貼合膜F105的狀態與兩面貼合膜F105相向而配置。而且，在遮蓋32之面臨記錄區域S的位置設有窗部(開口部)32a。在此構成之情況，遮蓋32遮住記錄區域S以外的區域，而可防止在兩面貼合膜F105記錄缺陷資訊之際之墨水i的飛散所造成之兩面貼合膜F105的污染。此外，遮蓋32也可設有上述的側板部30a,30b,30c,30d。亦即，此遮蓋32可構成覆蓋上述遮蓋30的底面之底板部。

又，上述記錄裝置13雖係形成為配置於第二缺陷檢查裝置12的下游側之構成，但亦可配置在第一缺陷檢查裝置11的下游側。在此情況，可在進行過利用第一缺陷檢查裝置11之缺陷檢查之後，進行利用記錄裝置13之缺陷資訊的記錄。

又，關於上述記錄裝置13，並不限定於在上述的缺陷檢查後記錄缺陷資訊。還有例如，在長距離的搬送線上，配置複數個記錄裝置，在每一定距離進行距離資訊的記錄，根據此記錄的距離資訊進行距離的修正。關於如此的進行距離資訊的記錄之記錄裝置，係例如配置於第一缺陷檢查裝置11的上游側等。

又，關於適合採用本發明之膜，並非一定要限定於上述的偏光膜或相位差膜、增亮膜等之光學膜，亦可將本發明擴大應用於要以記錄裝置13在其上進行記錄之膜。

又，本發明除了上述的噴墨方式之外，亦可擴大應用於雷射方式等之非接觸式的印字裝置及印字方法。尤其，噴墨方式容易產生墨水的氣霧，所以若光學膜發生啪啪跳動，就容易受之影響而發生印字錯誤。關於缺陷資訊也一樣，以噴墨方式列印上述的二維條碼之類的複雜資訊之情況，較容易受到光學膜的啪啪跳動的影響。