TWI750376B - 薄膜輥及其製造方法 - Google Patents
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Abstract
一種薄膜輥，其係包含捲芯與捲繞於捲芯之長條的樹脂薄膜，樹脂薄膜於幅寬方向的端部包含凹凸構造部，樹脂薄膜具有包含捲繞方向上之起始端部的第1區域，與鄰接於第1區域且包含捲繞方向上之終止端部的第2區域，第2區域為樹脂薄膜的凹凸構造部的凸部的高度平均值較第1區域高1μm以上之區域，且將捲芯的直徑作為R1，捲繞於捲芯之第1區域的捲取直徑作為R2，薄膜輥的直徑作為R3時，係3＜100×（R2－R1）／R3＜50，且100×（R2－R1）／R2＜65。
Description
本發明係關於薄膜輥及其製造方法。
在光學薄膜等薄膜的製造時，就實現高生產性之觀點而言，一般進行將薄膜製造成長條薄膜，並將其捲繞於圓筒形的捲芯的外表面而做成薄膜輥。
此種薄膜輥承載於例如於專利文獻1所揭示之機架等而輸送。於專利文獻1中揭示用於承載包含棒狀圓筒部件與捲取於該棒狀圓筒部件之片狀物品之輥製品的機架。
『專利文獻』 《專利文獻1》：日本專利公開第2005-335747號公報
於此，在捲取於棒狀圓筒部件之片狀物品為光學薄膜的情況下，光學薄膜係為一般薄膜而容易損傷。若光學薄膜產生擦傷，則光學薄膜的光學特性變得受損。然而，若於以往的機架承載光學薄膜等輥製品輸送至目的地，則有時起因於輸送中發生之振動等，而光學薄膜產生擦傷。尤其，於薄膜輥的軸方向中央部中，重力方向上部的位置上容易產生前述傷痕，僅靠輸送時的對策並不充分。
於是，為了解決上述問題而研究，發現藉由使用於長邊方向的全區中不具有凹凸構造部的薄膜以製造薄膜輥，可抑制擦傷的發生。然而，將於長邊方向的全區中不具有凹凸構造部的薄膜捲繞而獲得之薄膜輥中，於其表面上有發生在圓周方向上延伸之帶狀的凹部或凸部（亦稱為帶狀凹凸缺陷（gauge band））的情況。
本發明係鑒於前述課題而完成者，其目的在於提供可同時抑制擦傷的發生及帶狀凹凸缺陷的發生之薄膜輥及其製造方法。
為了解決上述課題而進行研究，結果獲得下述見解：使用具有將「包含捲繞方向的起始端部之第1區域」與「凹凸構造部的凸部的平均高度較第1區域高1μm以上並包含捲繞方向的終止端部之第2區域」鄰接之長條狀的樹脂薄膜，以捲芯的直徑、第1區域的捲取直徑及薄膜輥的直徑滿足指定條件的方式製造之薄膜輥，可同時抑制擦傷的發生及帶狀凹凸缺陷的發生。亦即，本發明如同以下所揭示。
〔1〕一種薄膜輥，其係包含捲芯與捲繞於前述捲芯之長條的樹脂薄膜的薄膜輥，其中 前述樹脂薄膜於幅寬方向的端部包含凹凸構造部， 前述樹脂薄膜具有包含捲繞方向上之起始端部的第1區域，與鄰接於前述第1區域並包含前述捲繞方向上之終止端部的第2區域， 前述樹脂薄膜滿足式（1）～（3）， H2－H1＞1 （1） 3＜100×（R2－R1）／R3＜50 （2） 100×（R2－R1）／R2＜65 （3） 其中，H1為前述第1區域中之前述樹脂薄膜之前述凹凸構造部之凸部的高度平均值， H2為前述第2區域中之前述樹脂薄膜之前述凹凸構造部之凸部的高度平均值， R1為前述捲芯的直徑， R2為捲繞於前述捲芯之前述第1區域的捲取直徑， R3為前述薄膜輥的直徑。
〔2〕如〔1〕所記載之薄膜輥，其中前述樹脂薄膜於前述第2區域內具有凹凸構造區域， 前述凹凸構造區域規定位於距前述樹脂薄膜的幅寬方向的端邊20mm以內的端部區域內， 前述樹脂薄膜於前述凹凸構造區域內具有平均高度3μm～25μm的前述凹凸構造部。
〔3〕如〔1〕或〔2〕所記載之薄膜輥，其中前述樹脂薄膜於至少一面在距幅寬方向的端邊20mm更內側的區域具有平均粗糙度SRa為5nm～25nm之平坦部。
〔4〕如〔1〕～〔3〕之任一項所記載之薄膜輥，其平均厚度為10μm～100μm。
〔5〕一種薄膜輥的製造方法，其係如［1］～［4］之任一項所記載之薄膜輥的製造方法； 其包含將前述樹脂薄膜以50N／m～300N／m的捲取張力捲取至前述捲芯之工序。
〔6〕如〔5〕記載之薄膜輥的製造方法，其中捲取前述樹脂薄膜於前述捲芯之工序依序包含： 捲取前述樹脂薄膜的前述第1區域之第1捲取工序，與 捲取前述樹脂薄膜的前述第2區域之第2捲取工序； 於前述第1捲取工序中，進行將接觸輥壓在製造途中的前述薄膜輥上並捲取的接觸捲取， 於前述第2捲取工序中，進行將前述接觸輥自製造途中的前述薄膜輥離開並捲取的間距捲取。
根據本發明，可提供可同時抑制擦傷的發生及帶狀凹凸缺陷的發生之薄膜輥及其製造方法。
以下揭示實施型態及示例物以詳細說明本發明，但本發明並未受限於以下所說明之實施型態及示例物，在未脫離本發明之申請專利範圍及其均等範圍之範圍中得任意變更並實施。
於以下的說明中，所謂「長條」的薄膜，係謂相對於幅寬具有5倍以上的長度之薄膜，以具有10倍或其以上的長度為佳，具體而言係謂具有捲取成輥狀以保存或搬運之程度的長度之薄膜。長條的薄膜之長度的上限並無特別限制，舉例而言相對於幅寬得為10萬倍以下。
〔實施形態1〕
參照圖1～圖6，同時說明有關本發明之一實施形態的薄膜輥。
〔1.薄膜輥〕
圖1係概略揭示自本實施形態的薄膜輥10將於捲繞方向上之終止端部側的樹脂薄膜100一部份捲出之狀態的斜視圖。如圖1所示，本實施形態的薄膜輥10包含圓筒狀的捲芯11與捲繞於捲芯11之長條的樹脂薄膜100。
圖2係概略揭示本實施形態的薄膜輥10之側視圖。薄膜輥10係將點11C做為中心之圓筒形，並具備圓筒狀的捲芯11與樹脂薄膜捲繞於其外側之薄膜部12A、12B。於圖2中，12A係捲繞有包含薄膜100的捲繞方向上之起始端部的第1區域100A之第1薄膜部，12B係捲繞有包含薄膜100的捲繞方向上之終止端部的第2區域100B之第2薄膜部。於圖2中，12P係第1薄膜部12A（第1區域100A）的端部，以該端部12P連結第2薄膜部12B（第2區域100B）。於圖2中，R1為捲芯11的直徑，R2為捲繞於捲芯11之第1區域100A的捲取直徑，R3為薄膜輥10的直徑。
於以下的說明中，有時將「樹脂薄膜」稱為「薄膜」。
〔2.樹脂薄膜〕
圖3係揭示將使用在本實施形態的薄膜輥10之樹脂薄膜100自上方100U側所見之模樣的平面示意圖。於圖3中之左右方向為捲繞方向，左側為捲繞方向上之起始端側，右側為捲繞方向上之終止端側。如圖3所示，樹脂薄膜100具有包含捲繞方向上之起始端部的第1區域100A，與鄰接於第1區域100A並包含捲繞方向上之終止端部的第2區域100B。第1區域100A的端部12P亦為第2區域100B的捲繞方向上之起始端側的端部。第1區域100A係自薄膜100的捲繞方向上之起始端部到端部12P為止的區域，第2區域100B係自端部12P到捲繞方向上之終止端部為止的區域。如圖1所示，自薄膜輥10拉出之樹脂薄膜100係包含捲繞方向上之終止端部的第2區域100B。
如圖3所示，樹脂薄膜100包含凹凸構造部120。於本實施形態中，在第1區域100A並未設置凹凸構造部120，但在第2區域100B於幅寬方向（圖式上下方向）的兩端部設置相同形狀的凹凸構造部120。於本發明中設置凹凸構造部120之區域稱為凹凸構造區域120R、120L（參照圖1）。在2處的凹凸構造區域120R、120L之間未設置凹凸構造的區域為平坦部110。
於本實施形態中，平坦部110以設置於較距薄膜100的幅寬方向的端邊20mm更內側的區域為佳，以設置於較距該端邊18mm更內側的區域為較佳，以設置於較距該端邊15mm更內側的區域為更佳，尤以設置於較距該端邊12mm更內側的區域為佳。
於本實施形態中，平坦部110的平均粗糙度SRa，以5nm以上為佳，以7nm以上為較佳，以9nm以上為更佳，且以25nm以下為佳，以20nm以下為較佳，以10nm以下為更佳。藉由將平坦部110的平均粗糙度SRa定為前述上限值以下，可抑制薄膜因滑動所致之捲繞偏離的發生；藉由將平坦部110的平均粗糙度SRa定為前述下限值以上，可抑制因薄膜彼此變為容易接觸所致之擦傷的發生。於此，薄膜100的平坦部110的表面粗糙度SRa可使用市售的表面粗糙度量測機，例如小坂研究所公司製的表面粗糙度量測機「Surfcorder ET4000AK」，以探針荷重50μN、量測長1mm四角形、截止值0.8mm的條件量測。
〔3.凹凸構造部〕
於本實施形態中，存在於凹凸構造區域120R及120L內之凹凸構造部120，如圖1及圖3所示，設置於與薄膜100的幅寬方向的端邊隔開的位置。於本實施形態中，2處凹凸構造區域120R、120L的幅寬尺寸A1大略相同，該幅寬尺寸A1自第2區域100B的起始端（端部12P）到終止端為止設為固定的值。
凹凸構造部120，以設置於距薄膜100的幅寬方向的端邊20mm以內的端部區域為佳，以設置於距該端邊18mm以內的端部區域為較佳，以設置於距該端邊15mm以內的端部區域為更佳。並且，凹凸構造部所形成之凹凸構造區域的幅寬尺寸A1，以3mm以上為佳，以5mm以上為較佳，以7mm以上為更佳。藉由將設置凹凸構造部的區域定為上述範圍內，可抑制挫曲或捲繞偏離等的發生。
於本實施形態中，凹凸構造部120如圖3所示，將4個菱形所連結之形狀單元作為一個單元，此為薄膜長度方向（捲繞方向）上重複之形狀。就易於調整凹凸構造面積的比例等的觀點而言，凹凸構造部120以係指定的形狀單元重複者為佳。
圖4係揭示將第2區域100B的凹凸構造部120於延展方向以垂直的面切割之剖面（圖3中的Y－Y剖面）示意圖。凹凸構造部120具備凹部121及凸部122。通常凹部122相當於因雷射光的照射所致之熱熔融或消蝕而樹脂被去除的部分，並且凸部121相當於因前述雷射光的照射而加熱並流動化之樹脂升高的部分。因凸部121較周圍的薄膜100的面100U突出，故於此凹凸構造部120中薄膜100實質上的厚度變厚。
於圖4中，100L為薄膜100的下面，122B為凹部122的底部，121T為凸部121的頂部，H為凸部121的高度。於本發明中，所謂凹凸構造部120的凸部121的高度H，係指自未設置有凹凸構造的薄膜100的上面100U到凸部的頂部121T為止的高度。凹凸構造部120的凸部的高度可為相同，亦可為不相同。第2區域的凹凸構造部120中之凸部的高度，可使用例如三維表面分析儀（Zygo公司製「NewView5000」）量測。
於本實施形態中，薄膜100的第2區域100B中之凹凸構造部120的凸部121的高度H的平均值H2係在特定的範圍內的值。H2受規定要相對於薄膜100的第1區域100A中的凹凸構造部的凸部的高度H的平均值H1。H1及H2滿足下述式（A）。 式（A）： H2－H1≧1μm
於本實施形態中，由於對於第1區域100A並未設置有凹凸構造部，故第1區域100A中的凹凸構造部的凸部的高度H的平均值H1為0。因此，於本實施形態中，若第2區域100B的凹凸構造部120的凸部121的高度H的平均值為1μm以上，則該第2區域100B為凹凸構造部120的凸部121的高度H的平均值較第1區域100A高1μm以上的區域。於以下的說明中，有將「凸部的高度平均值」稱為「凸部的平均高度」的情況。H2－H1的值以3μm以上為佳，以5μm以上為較佳。H2－H1的值的上限並不特別限定，但例如得設為25μm以下。
於本實施形態中，第2區域100B的凹凸構造部120的凸部121的高度H的平均值H2為1μm以上，以3μm以上為佳，以5μm以上為較佳，以7μm以上為更佳，另一方面以25μm以下為佳，以20μm以下為較佳，以15μm以下為更佳。藉由將第2區域100B中的凹凸構造部120的凸部121的高度H的平均值H2設為前述下限值以上，可抑制薄膜的捲取時之捲繞偏離，並藉由將該高度H的平均值H2設為前述上限值以下，可抑制起因於捲取輥中之凹凸構造部所形成之部分與其以外的部分中之捲取徑的差所致之薄膜的變形。
於本實施形態中，凹凸構造部120的幅寬，以0.1μm以上為佳，以0.15μm以上為較佳，尤以0.2μm以上為佳，且以1μm以下為佳，以0.75μm以下為較佳，尤以0.5μm以下為佳。藉由凹凸構造部120的幅寬為前述範圍的下限值以上，於薄膜100的捲取時可抑制捲繞偏離。並且，藉由凹凸構造部120的幅寬為前述範圍的上限值以下，可形狀不崩塌地形成凹凸構造部120。
〔4.薄膜的厚度〕
薄膜100的平均厚度，以10μm以上為佳，以20μm以上為較佳，以30μm以上為更佳，且以100μm以下為佳，以80μm以下為較佳，以60μm以下為更佳。即使平均厚度為上限值以下之薄的薄膜，仍可有效抑制擦傷的發生，而獲得本發明的效果。薄膜的厚度可使用市售的量測器，例如Filmetrics公司製的「F20-NIR」量測。
〔5.樹脂薄膜的材料〕
構成本實施形態的薄膜輥之樹脂薄膜的材料並不特別限定，得採用各種熱可塑性樹脂。樹脂薄膜可為單層的薄膜，亦可為具有多數的層之多層薄膜。樹脂薄膜可為延伸薄膜，亦可為未經延伸的薄膜。
〔6.薄膜輥的製造方法〕
本實施形態的薄膜輥得藉由包含製備樹脂薄膜之製備工序及將已製備之樹脂薄膜捲取至捲芯之工序（捲取工序）之製造方法而製造。
〔6.1.樹脂薄膜製備工序〕
於樹脂薄膜的製備時，賦予凹凸構造部於賦予凹凸構造部前的薄膜之方法並不特別限定，得採用用以形成凹凸構造之已知的方法。作為相關方法的例子，可列舉：使用雷射之凹凸構造賦予方法及使用壓紋輥之凹凸構造賦予方法。在使用雷射之凹凸構造賦予方法中，於連續輸送之薄膜的凹凸構造區域內的表面上，透過雷射描繪特定的圖案。藉此，以雷射部分地加熱薄膜的表面，透過該加熱可使薄膜的表面變形，其結果得形成具有特定的圖案之凹凸構造部。在使用壓紋輥之凹凸構造賦予方法中，準備具有特定圖案的凹凸構造於圓周表面之壓紋輥，於連續輸送之薄膜的凹凸構造區域內的表面上，轉印該壓紋輥的凹凸構造，藉此得形成具有特定的圖案之凹凸構造。
於本實施形態中，凹凸構造的賦予僅賦予至相當於樹脂薄膜100的第2區域100B的區域。
〔6.2.捲取工序〕
捲取樹脂薄膜於捲芯之工序，依序包含捲取樹脂薄膜的第1區域之第1捲取工序，與捲取樹脂薄膜的第2區域之第2捲取工序。在本實施形態中，於第1捲取工序中進行將接觸輥壓在於製造途中的薄膜輥上並捲取之接觸捲取，並於第2捲取工序中進行將接觸輥自製造途中的薄膜輥離開並捲取之間距捲取。在捲取不包含凹凸構造部的區域之樹脂薄膜的情況下，就更有效防止擦傷的發生如此之觀點而言，以進行接觸捲取為佳。在本實施形態中，藉由將不包含凹凸構造部之第1區域透過接觸捲取而捲取，得更有效防止擦傷的發生。
圖5係揭示在第1捲取工序使用之捲取裝置200的示意圖。捲取裝置200係用以捲取長條的薄膜100的第1區域100A並得到於捲芯11捲繞第1區域100A之薄膜輥（具有第1薄膜部12A之薄膜輥）的捲取裝置，其具備：捲芯11、作為捲芯11用的旋轉驅動裝置之捲芯馬達210、接觸輥220、作為接觸輥220用的位置調整裝置之手臂230。
於第1捲取工序中，將薄膜100沿該長條薄膜100的長邊方向連續輸送以供給於接觸輥220。此時薄膜100的輸送速度通常等同於以捲芯11捲取薄膜100時的捲取速度。因此，薄膜100的輸送速度以得實現所期望的捲取速度之方式設定為佳。
供給於接觸輥220之薄膜100捲掛於接觸輥220。此時由於接觸輥220設置為能夠自由旋轉，故藉由自捲掛之長條薄膜100所給予的摩擦力而沿圓周方向旋轉。而且，藉由如此旋轉之接觸輥220，引導長條薄膜100至捲芯11。視需求對於接觸輥220亦可給予用以使該接觸輥220旋轉的驅動力。
捲芯11藉由自捲芯馬達210所給予之驅動力而沿圓周方向旋轉。因此，以捲掛於接觸輥220的狀態被引導至捲芯11的薄膜100係捲取於捲芯11。然後，透過捲取至捲芯11之薄膜100，形成具有第1薄膜部12A之薄膜輥。此時，接觸輥220以接觸於已捲取至捲芯11而成為製造途中的薄膜輥的一部份之薄膜100的方式，藉由手臂230調整位置。
以捲芯11捲取薄膜100時，藉由自未圖示之氣缸給予之附加力，接觸輥220於捲芯11的徑向以指定的荷重壓著製造途中的薄膜輥。藉此捲取至捲芯11之薄膜100（亦即製造途中的薄膜輥所包含之薄膜），向著捲芯11的中心以指定的荷重被壓著。因此，抑制捲取薄膜100時，製造途中的薄膜輥之圓周表面與薄膜100間的空氣之捲入。
接觸輥220壓著製造途中的薄膜輥之荷重的大小，通常為20N／m以上，以50N／m以上為佳，以100N／m以上為較佳，且通常為500N／m以下，以400N／m以下為佳，以300N／m以下為較佳。接觸輥220壓著製造途中的薄膜輥之荷重的大小，亦可於上述範圍中，視製造途中的薄膜輥的捲徑使值任意變換。
於第1捲取工序中，將薄膜100捲取至捲芯11時的薄膜100的捲取張力，以50N／m以上為佳，以70N／m以上為較佳，以90N／m以上為更佳，以300N／m以下為佳，以250N／m以下為較佳，以200N／m以下為更佳。前述捲取張力的單位「N／m」表示於薄膜的幅寬每1m所施加的力的大小。藉由將薄膜100的捲取張力定於前述範圍內，可有效抑制薄膜輥中的擦傷等之發生。薄膜100的捲取張力，亦可於上述範圍中視製造途中的薄膜輥10的捲徑使值任意變換。在此情況下，舉例而言，可使前述捲取張力以逐漸變小地方式變換，亦可使之以逐漸變大地方式變換，亦可組合此等。
圖6係揭示在第2捲取工序所使用之捲取裝置300的示意圖。捲取裝置300係捲取長條的薄膜100的第2區域100B，用以獲得於第1區域100A已捲繞之捲繞體上再捲繞第2區域100B之薄膜輥10的捲取裝置。捲取裝置300具備：捲芯11、作為捲芯11用的旋轉驅動裝置之捲芯馬達310、自由輥320與作為自由輥320用的位置調整裝置的手臂330。
自由輥320係將在第1捲取工序所使用之捲取裝置200的接觸輥220以不接觸於捲芯11及製造途中的薄膜輥10之方式而藉由手臂330調整位置者。若使用此種捲取裝置300執行第2捲取工序，即捲掛薄膜100於自由輥320後，捲取薄膜100至捲芯11而獲得薄膜輥10。此時，捲掛於自由輥320之薄膜100從自由輥320離開後捲取至捲芯11而形成薄膜輥10。
於捲取裝置300中，由於取代接觸輥220使用自由輥320，故於製造途中的薄膜輥的圓周表面與薄膜100間變得流入空氣，於第2薄膜部12B中比第1薄膜部12A包含較多的空氣。
於第2捲取工序中，將薄膜100捲取至捲芯11時的薄膜100的捲取張力，設成比第1捲取工序更小。第2捲取工序中之薄膜100的捲取張力，以50N／m以上為佳，以70N／m以上為較佳，以90N／m以上為更佳，且以300N／m以下為佳，以200N／m以下為較佳，以150N／m以下為更佳。前述捲取張力的單位「N／m」表示於薄膜的幅寬每1m所施加的力的大小。藉由將薄膜100的捲取張力定於前述範圍內，可有效抑制薄膜輥中的挫曲或捲繞偏離等之發生。薄膜100的捲取張力，亦可於上述範圍中，視製造途中的薄膜輥10的捲徑使值任意變換。在此情況下，舉例而言，可使前述捲取張力以逐漸變小地方式變換，亦可使之以逐漸變大地方式變換，亦可組合此等。
〔7.本實施形態的作用、效果〕
於本實施形態中，樹脂薄膜100滿足前述式（A）的要件（要件（A））。並且，於本實施形態中薄膜輥滿足以下的式（B）及式（C）的要件（要件（B）及（C））。 式（B）：3＜100×（R2－R1）／R3＜50 式（C）：100×（R2－R1）／R2＜65 於式（B）～（C）中，R1為捲芯11的直徑，R2為捲繞於捲芯11之第1區域100A的捲取直徑，R3為薄膜輥10的直徑。
於要件（B）中，100×（R2－R1）／R3以4以上為佳，以6以上為較佳，以8以上為更佳，且以45以下為佳，以40以下為較佳，以35以下為更佳。
於要件（C）中，100×（R2－R1）／R2以3以上為佳，以5以上為較佳，以7以上為更佳，且以60以下為佳，以40以下為較佳。
說明關於要件（A）～（C）的效果。
於本實施形態中，由於薄膜100具有於捲繞方向的起始端部側未設置凹凸構造部120的第1區域100A，故在薄膜100的第1區域100A所捲繞之第1薄膜部12A，薄膜無浮起並堅固地捲繞，變成難以產生摩擦。
於此，對於捲繞在全區均未設置凹凸構造部的樹脂薄膜而獲得之薄膜輥，於薄膜輥的外側（捲徑大的部分）中，有起因於膜厚而容易發生帶狀凹凸缺陷之如此的問題。然而，於本實施形態中，於第1薄膜部12A的外側設置有捲繞第2區域100B的第2薄膜部12B，該第2區域100B之凹凸構造部120的凸部的高度平均值較第1區域100A高1μm以上，對於此第2薄膜部12B，樹脂薄膜100以比第1薄膜部12A包含較多空氣的方式捲繞。
換言之本實施形態的薄膜輥10，在具備要件（A）下，具有於靠近捲芯11之部分（捲取直徑小的部分）難以產生摩擦之第1薄膜部12A，具有於外側（捲取直徑大的部分）包含空氣並難以受膜厚的影響之第2薄膜部12B。
捲繞於捲芯11之第1區域100A的捲取直徑R2為大的情況下，雖抑制擦傷的發生，但帶狀凹凸缺陷的發生變得容易。關於此問題研究後的結果，發現藉由將相對於薄膜輥的直徑R3之第1區域100A的捲繞部分（R2－R1）的比例（100×（R2－R1）／R3）及相對於第1區域100A的捲取直徑R2之第1區域100A的捲繞部分（R2－R1）的比例定為滿足要件（B）及（C）之範圍，可抑制帶狀凹凸缺陷的發生。
換言之根據本實施形態，由於樹脂薄膜達成要件（A）且薄膜輥達成要件（B）及（C），故可提供可同時抑制擦傷的發生及帶狀凹凸缺陷的發生之薄膜輥及其製造方法。
〔8.薄膜的用途〕
本實施形態的薄膜輥能以薄膜輥的狀態進行保存、搬運、交易等處置。自本發明的薄膜輥捲出之薄膜可使用於廣泛的用途，其中以使用作為光學薄膜為佳。作為光學薄膜的具體例，可列舉：相位差薄膜、偏光板保護薄膜、光學補償薄膜等。
『實施例』
以下說明關於本發明之實施例，惟本發明並非為受以下所說明之實施例所限定者，在未脫離本發明之申請專利範圍及其均等範圍之範圍中得任意變更並實施。於以下說明之操作，除非另有註記，否則係於常溫及常壓的條件下進行。
［評價方法］
〔1.帶狀凹凸缺陷及捲皺的程度〕
自在實施例及比較例（以下亦稱「各例」）製造之薄膜輥捲出薄膜至第1區域的捲取直徑（R2）為止以觀察外觀，並觀察薄膜輥上的帶狀凹凸缺陷的有無。在看到帶狀凹凸缺陷的情況下，以目視觀察對應於有帶狀凹凸缺陷之位置的部分，並將帶狀凹凸缺陷及捲皺的程度依循下述的評價基準而評價。
（評價基準） A：在有帶狀凹凸缺陷之位置上未見不均，或於薄膜輥的觀察中未見帶狀凹凸缺陷。 B：在有帶狀凹凸缺陷之位置上可見不均。
〔2.有無擦傷的發生〕
〔2-1.振動試驗〕
（2-1-1）機架
簡單說明關於振動試驗時使用之機架。圖8係承載以各例製造之薄膜輥的狀態的機架之前視圖，圖9係該機架的側視圖。
機架1係鋼製，如圖8及9所示，具備：在底部之托板4、自托板4向上設立之一對支撐架體3、3，與於機架1的側面上部中連結之一對支撐架體3、3之連結桿5、5。在由托板4的上面、一對支撐架體3、3、連結桿5、5所包圍之收納空間，承載藉由各例製造之薄膜輥10。托板4成為包含上述收納空間之中空的長方體，並發揮作為承受機架1所施加之荷重的底台之功能。圖8及圖9中之8為托板4的底板。
機架1如圖9所示具備：收納薄膜輥10的捲芯11的端部之圓筒部件接收部2、開關該圓筒部件接收部2之開關部件7。將捲芯11的端部收納於圓筒部件接收部2後，藉由關閉開關部件7並使鎖定金具7A鎖定，而捲芯11的端部於圓筒部件接收部2中透過壓住部件9及橡膠製部件9A維持，以限制移動。
機架1具有墊板部6，墊板部6具備：具有支撐薄膜輥10的側面之支撐面的墊板6A、自與墊板6A的支撐面的反側的背面上垂直設立之基板6B，以及與螺紋螺栓（未圖示）的螺絲凸部旋合之螺帽6C。藉由於基板6B所形成之螺栓孔通過螺紋螺栓後栓合螺帽6C，呈可將墊板部6固定於開關部件7。於本評價試驗中，墊板6A發揮作為夾置薄膜輥10的側面之部件的機能。未承載薄膜輥10的機架1的個體之重量為100kg。
（2-1-2）振動試驗
於在（2-1-1）所說明之機架承載以各例製造之薄膜輥，並使用市售的隨機試驗機（IMV公司製，商品名「EMK1252／H15」）進行隨機振動試驗。進行隨機振動試驗時，將墊板6A以接觸於薄膜輥10的側面的方式配置以固定基板6B。作為隨機振動試驗的條件，採用施加於承載薄膜輥的機架之最大加速度Ga成為3.0G之條件。具體而言，在隨機振動試驗中，以經過於X軸方向1小時、於Y軸方向1小時及於Z軸方向1小時之合計3小時、功率譜密度0.4G2
／Hz加振。於隨機振動試驗當中，量測施加於薄膜輥的捲芯之最大加速度Gb為2.0G。最大加速度Gb使用裝載在捲芯11之加速度感應器（Slik公司製的Gravity Shock Recorder「G-MEN DR 20」）量測，該捲芯11係承載於機架之薄膜輥的捲芯11。
〔2-2.拆卸檢查〕
自振動試驗進行後的薄膜輥每捲出100m之樹脂薄膜取樣10m長度的樹脂薄膜，將該取樣之薄膜在暗室以高亮度燈反射檢查下檢查整體表面，觀察有無擦傷並透過以下的基準進行評價。 A：無發生擦傷 B：有發生擦傷
〈實施例1〉
（1-1）樹脂薄膜的製造
使用於以環烯樹脂形成之薄膜的一側的表面上設置有由胺酯樹脂而成之易接合層之光學薄膜，其係平均厚度50μm的長條狀的光學薄膜，並透過以下的方法形成凹凸構造部。
於相當於前述處理前的光學薄膜的第2區域之部分照射雷射光以形成於圖7所示之凹凸構造部。詳細而言，凹凸構造部係光學薄膜的樹脂層側的面之距薄膜幅寬方向的端邊距離為11.5mm的區域，形成於距端邊間隔1mm～2mm的區域。於此，凹凸構造區域的幅寬尺寸A1為9.5mm～10.5mm。作為雷射光的照射裝置，使用CO2
雷射光照射裝置（Panasonic Industrial Devices SUNX公司製「LP-430U」、雷射波長10.6μm）。並且，雷射光的照射輸出設成輸出90%。
圖7係揭示以本實施例1所形成之凹凸構造部120的平面形狀之平面示意圖。於圖7中為了揭示凹凸構造部120的尺寸，揭示樹脂薄膜的長邊方向及幅寬方向的座標。此座標的數值的單位係公釐。凹凸構造部120的凸部的高度平均值為10μm。
雷射光的照射，以描繪於圖7所示之凹凸構造部120的平面形狀的方式，同時以移動速度2000mm／s使雷射光照射點移動而進行。於圖7所示之凹凸構造部120的平面形狀中，以一點鏈線圈選而揭示之角部A任一者皆為角度90°。並且，於凹凸構造部120的平面形狀中，角部A以外的非直線部（於圖7中以鏈線圈選而揭示之非直線部）X的角度為135°。透過前述雷射光的照射，於處理前的光學薄膜的樹脂層側的面，在薄膜長條方向上以4.2mm間隔排列，形成具有藉由線狀的凸部而做出之於圖7所示之平面形狀的多個凹凸構造部120。藉此，獲得具備基材層及樹脂層且在樹脂層的面上具有由線狀的凸部而成之凹凸構造部120的長條狀的樹脂薄膜。此長條狀的樹脂薄膜為具有未設置凹凸構造部之第1區域與於幅寬方向的兩端部分別設置有如圖7所示之形狀的凹凸構造部120之第2區域之樹脂薄膜，並於第2區域中2處凹凸構造區域間的平坦部的表面的平均粗糙度SRa為10μm。於此樹脂薄膜中，第1區域的長度為300m。
（1-2）薄膜輥的製造
於直徑R1為168mm的捲芯，將於（1-1）所獲得之長條狀的樹脂薄膜以捲繞於捲芯之第1區域的捲取直徑R2成為220mm、薄膜輥的直徑R3成為610mm的方式捲繞，以製造薄膜輥。對於所獲得之薄膜輥進行評價試驗並將結果揭示於表1。
第1區域的捲取係使用於圖5所揭示之捲取裝置，以捲取張力成為300N／m、接觸輥壓在製造途中的薄膜輥上之荷重的大小成為200N／m的方式進行。
第2區域的捲取係使用於圖5的捲取裝置中將接觸輥藉由手臂自製造途中的薄膜輥離開之裝置（參照圖6），以捲取張力150N／m進行。
〈實施例2〉
（2-1）樹脂薄膜的製造
除了以第1區域的長度成為500m之方式操作以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（2-2）薄膜輥的製造
除了使用於（2-1）製造之樹脂薄膜，以R2成為250mm之方式捲繞於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表1。
〈實施例3〉
（3-1）樹脂薄膜的製造
除了以第1區域的長度成為1000m之方式操作以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（3-2）薄膜輥的製造
除了使用於（3-1）製造之樹脂薄膜，以R2成為310mm之方式捲繞於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表1。
〈實施例4〉
（4-1）樹脂薄膜的製造
除了以第1區域的長度成為2600m之方式操作以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（4-2）薄膜輥的製造
除了使用於（4-1）製造之樹脂薄膜，以R2成為450mm之方式捲繞於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表1。
〈實施例5〉
（5-1）薄膜輥的製造
除了使用直徑R1為350mm的捲芯，以R2成為375mm、薄膜輥的直徑R3成為685mm的方式，捲繞樹脂薄膜於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表1。
〈實施例6〉
（6-1）樹脂薄膜的製造
除了以第1區域的長度成為500m之方式操作以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（6-2）薄膜輥的製造
除了使用於（6-1）製造之樹脂薄膜，使用直徑R1為350mm的捲芯，以R2成為395mm、薄膜輥的直徑R3成為685mm的方式捲繞樹脂薄膜於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表1。
〈實施例7〉
（7-1）樹脂薄膜的製造
除了以第1區域的長度成為1000m之方式操作以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（7-2）薄膜輥的製造
除了使用於（7-1）製造之樹脂薄膜，使用直徑R1為350mm的捲芯，以R2成為435mm、薄膜輥的直徑R3成為685mm的方式捲繞樹脂薄膜於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表1。
〈實施例8〉
（8-1）樹脂薄膜的製造
除了以第1區域的長度成為2600m之方式操作以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（8-2）薄膜輥的製造
除了使用於（8-1）製造之樹脂薄膜，使用直徑R1為350mm的捲芯，以R2成為545mm、薄膜輥的直徑R3成為685mm的方式，捲繞樹脂薄膜於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表1。
〈比較例1〉
（C1-1）樹脂薄膜的製造
除了以第1區域的長度成為100m之方式操作以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（C1-2）薄膜輥的製造
除了使用於（C1-1）製造之樹脂薄膜，以R2成為180mm之方式捲繞樹脂薄膜於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表2。
〈比較例2〉
（C2-1）樹脂薄膜的製造
除了操作第1區域的長度成為100m之方式以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（C2-2）薄膜輥的製造
除了使用於（C2-1）製造之樹脂薄膜，使用直徑R1為350mm的捲芯，以R2成為360mm之方式捲繞樹脂薄膜於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表2。
〈比較例3〉
（C3-1）樹脂薄膜的製造
除了以第1區域的長度成為1000m之方式操作以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（C3-2）薄膜輥的製造
除了使用於（C3-1）製造之樹脂薄膜，使用直徑R1為100mm的捲芯，以R2成為280mm、薄膜輥的直徑R3成為330mm之方式捲繞樹脂薄膜於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表2。
〈比較例4〉
（C4-1）樹脂薄膜的製造
除了以第1區域的長度成為3900m之方式操作以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（C4-2）薄膜輥的製造
除了使用於（C4-1）製造之樹脂薄膜，以R2成為535mm之方式捲繞樹脂薄膜於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表2。
〈比較例5〉
（C5-1）樹脂薄膜的製造
除了以第1區域的長度成為5200m之方式操作以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（C5-2）薄膜輥的製造
除了使用於（C5-1）製造之樹脂薄膜，以R2成為610mm、薄膜輥的直徑R3成為1000mm的方式捲繞樹脂薄膜於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表2。
〈比較例6〉
（C6-1）樹脂薄膜的製造
除了以第1區域的長度成為2600m之方式操作以外，比照實施例1的（1-1）操作以獲得長條的樹脂薄膜。
（C6-2）薄膜輥的製造
除了使用於（C6-1）製造之樹脂薄膜，使用直徑R1為100mm的捲芯，以R2成為430mm、薄膜輥的直徑R3成為600mm的方式捲繞樹脂薄膜於捲芯以外，比照實施例1的（1-2）操作製造薄膜輥，進行評價試驗並將結果揭示於表2。
將實施例及比較例的評價結果揭示於表1及表2。亦一併揭示於表中實施例及比較例中之R1、R2、R3、100×（R2－R1）／R3、100×（R2－R1）／R2、樹脂薄膜中之第1區域的長度（表中「第1區域的長度」）、第1區域的凹凸構造部的凸部的高度平均值（表中「第1區域的凸部的平均高度」）、第2區域的凹凸構造部的凸部的高度平均值（表中「第2區域的凸部的平均高度」）、平坦部的表面粗糙度SRa（表中「平坦部的SRa」）、第1捲取工序的捲取張力，以及第2捲取工序的捲取張力。
『表1』 
『表2』 
從表1及2的結果可了解滿足本發明全部的要件之薄膜輥，可同時抑制擦傷的發生及帶狀凹凸缺陷的發生。
［其他的實施形態］
本發明並非限定於透過上述記述及圖面說明之實施形態者，亦可為例如如以下之實施形態。
（1）在上述實施形態中，已揭示具有幅寬尺寸概略相同的凹凸構造區域120R、120L之薄膜100，但亦可為2處的凹凸構造區域的幅寬尺寸相異之薄膜。
（2）在上述實施形態中，已揭示凹凸構造部120設置於間隔自薄膜100的幅寬方向的端邊之位置上的薄膜100，但亦可為凹凸構造部設置於接觸薄膜的幅寬方向的端邊位置上的薄膜。
（3）在上述實施形態中，揭示連結4個菱形之形狀單元作為一個單元之凹凸構造部，但凹凸構造部的形狀並不限定於此。
（4）於上述實施形態中，揭示具有未形成凹凸構造部的（凸部的高度0）第1區域之樹脂薄膜，但亦可為具有設置凹凸構造部之第1區域的樹脂薄膜。在此種之情況下，第2區域的凹凸構造部的凸部的高度平均值較第1區域的凹凸構造部的凸部的高度平均值高1μm以上即可。
（5）於上述實施形態中，揭示於捲取樹脂薄膜的第1區域之第1捲取工序中進行接觸捲取，於捲取樹脂薄膜的第2區域之第2捲取工序進行間距捲取的例子，但並不限定於此。例如在使用於第1區域及第2區域同時設置有凹凸構造部之樹脂薄膜的情況下，樹脂薄膜的第1區域及第2區域的捲取方法亦可同為間距捲取。
10‧‧‧薄膜輥11‧‧‧捲芯11C‧‧‧捲芯的中心點12A‧‧‧第1薄膜部12B‧‧‧第2薄膜部12P‧‧‧第1薄膜部的端部100‧‧‧樹脂薄膜100U‧‧‧樹脂薄膜的上面100L‧‧‧樹脂薄膜的下面100A‧‧‧第1區域100B‧‧‧第2區域110‧‧‧平坦部120‧‧‧凹凸構造部120L、120R‧‧‧凹凸構造區域121‧‧‧凸部121T‧‧‧凸部的頂部122‧‧‧凹部122B‧‧‧凹部的底部200、300‧‧‧捲取裝置210、310‧‧‧捲芯馬達220‧‧‧接觸輥230、330‧‧‧手臂320‧‧‧自由輥A1‧‧‧凹凸構造區域的幅寬尺寸H‧‧‧凸部的高度R1‧‧‧捲芯的直徑R2‧‧‧捲繞於捲芯之第1區域的捲取直徑R3‧‧‧薄膜輥的直徑
〈圖1〉圖1係揭示有關本發明之一實施形態的薄膜輥的斜視圖。 〈圖2〉圖2係概略揭示有關本發明之一實施形態的薄膜輥的側視圖。 〈圖3〉圖3係揭示將有關本發明之一實施形態的薄膜輥的樹脂薄膜於平面上展開之狀態的平面示意圖。 〈圖4〉圖4係圖3中的Y－Y線上之剖面圖。 〈圖5〉圖5係揭示在有關本發明之一實施形態的薄膜輥的製造方法中所使用之捲取裝置的示意圖。 〈圖6〉圖6係揭示在有關本發明之一實施形態的薄膜輥的製造方法中所使用之捲取裝置的示意圖。 〈圖7〉圖7係揭示在有關實施例1之薄膜輥中所形成之凹凸構造部的平面形狀的平面示意圖。 〈圖8〉圖8係揭示在實施例的薄膜輥的評價試驗使用之機架之構成的前視圖。 〈圖9〉圖9係圖8的機架的側視圖。
10‧‧‧薄膜輥
11C‧‧‧捲芯的中心點
12A‧‧‧第1薄膜部
12B‧‧‧第2薄膜部
12P‧‧‧第1薄膜部的端部
R1‧‧‧捲芯的直徑
R2‧‧‧捲繞於捲芯之第1區域的捲取直徑
R3‧‧‧薄膜輥的直徑
Claims (6)
- 一種薄膜輥，其係包含捲芯與捲繞於該捲芯之長條的樹脂薄膜的薄膜輥，其中該樹脂薄膜於幅寬方向的端部包含凹凸構造部，該樹脂薄膜具有包含捲繞方向上之起始端部的第1區域，與鄰接於該第1區域且包含該捲繞方向上之終止端部的第2區域，該樹脂薄膜滿足式（A），該薄膜輥滿足式（B）至（C），H2－H1≧1μm （A）3＜100×（R2－R1）／R3＜50 （B）100×（R2－R1）／R2＜65 （C）其中，H1為該第1區域中之該樹脂薄膜之該凹凸構造部之凸部的高度平均值，H2為該第2區域中之該樹脂薄膜之該凹凸構造部之凸部的高度平均值，R1為該捲芯的直徑，R2為捲繞於該捲芯之該第1區域的捲取直徑，R3為該薄膜輥的直徑。
- 如請求項1所述之薄膜輥，其中該樹脂薄膜於該第2區域內具有凹凸構造區域，該凹凸構造區域規定位於距該樹脂薄膜的幅寬方向的端邊20mm以內的端部區域內，該樹脂薄膜於該凹凸構造區域內具有平均高度3μm~25μm的該凹凸構造部。
- 如請求項1或2所述之薄膜輥，其中該樹脂薄膜於至少一面在距幅寬方向的端邊20mm更內側的區域具有平均粗糙度SRa為5nm~25nm之平坦部。
- 如請求項1或2所述之薄膜輥，其中該樹脂薄膜的平均厚度為10μm~100μm。
- 一種薄膜輥的製造方法，其係如請求項1至4之任一項所述之薄膜輥的製造方法，其包含將該樹脂薄膜以50N/m~300N/m的捲取張力捲取至該捲芯之工序。
- 如請求項5所述之薄膜輥的製造方法，其中捲取該樹脂薄膜於該捲芯之工序依序包含：捲取該樹脂薄膜的該第1區域之第1捲取工序；與捲取該樹脂薄膜的該第2區域之第2捲取工序；於該第1捲取工序中，進行將接觸輥壓在製造途中的該薄膜輥上並捲取的接觸捲取，於該第2捲取工序中，進行將該接觸輥自製造途中的該薄膜輥離開並捲取的間距捲取。
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