TWI638995B - 缺陷檢查裝置、光學部件之製造系統及光學顯示裝置之生產系統 - Google Patents
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Abstract
包含偏光元件之光學部件之缺陷檢查裝置係包含：光源；攝像裝置，其係對因來自光學部件的透過光所得之像進行攝像；第1偏光濾光鏡，其係被配置在光源與光學部件之間的光路上，具有第1吸收軸；第2偏光濾光鏡，其係被配置在攝像裝置與光學部件之間的光路上，具有第2吸收軸；第1移動裝置，其係使第1偏光濾光鏡朝向光源與光學部件之間的光路作進退移動；及第2移動裝置，其係使第2偏光濾光鏡朝向攝像裝置與光學部件之間的光路作進退移動。
Description
本發明係關於缺陷檢查裝置、光學部件之製造系統及光學顯示裝置之生產系統。
本案係根據2013年8月22日向日本申請之專利申請案2013-172344號來主張優先權，且在此援用該內容。
以包含偏光元件的光學部件的缺陷檢查裝置而言，已知一種專利文獻1所記載的缺陷檢查裝置。專利文獻1的缺陷檢查裝置係具備有：被配置在光學部件的一側的光源；被配置在光學部件的另一側的攝像裝置；及被配置在攝像裝置與光學部件之間的光路上，具有與偏光元件的吸收軸呈正交的吸收軸的偏光濾光鏡。
缺陷檢查裝置係被配置在光學部件的製造線、或將光學部件朝向液晶面板等貼合對象物進行搬送的搬送線。例如，在光學部件的製造線中，係在偏光元件的兩面貼合成為保護層的保護薄膜，將貼合有該保護薄膜的偏光元件捲繞成捲物狀來製造光學部件的原材料捲。缺陷檢查裝置係被設置在將保護薄膜積層在偏光元件的單面或兩面的積層薄膜的搬送線
上，檢測偏光元件與保護薄膜之間有無異物缺陷等。
在缺陷檢查裝置中，通常檢查光學部件的貼合面側(與液晶面板等貼合對象物所貼合的面側)有無缺陷。因此，偏光濾光鏡係被設置在光學部件的貼合面側。
例如，在專利文獻1的缺陷檢查裝置中，係在光學部件的搬送線的下方設置光源，且在搬送線的上方設置偏光濾光鏡及攝像裝置。
若在偏光元件與其上面側(貼合面側)的保護薄膜之間存在異物時，由光源所被照射的光係在藉由偏光元件而被變換成直線偏光之後，其一部分因異物而被散射。所被散射的光的一部分係因偏光狀態被弄亂，因此透過偏光濾光鏡，藉由攝像裝置而被檢測為亮點。
另一方面，若在偏光元件與其下面側(與貼合面為相反側)的保護薄膜之間存在異物時，由光源所被照射的光係在藉由異物而被散射之後，入射至偏光元件，且被變換成直線偏光。該直線偏光係只要在偏光元件與偏光濾光鏡之間不存在弄亂偏光狀態的異物等缺陷，即不會透過偏光濾光鏡。因此，在攝像裝置中，係維持暗視野，缺陷並未被檢測。
如上所示藉由將偏光濾光鏡設置在光學部件的貼合面側，可僅選擇性地檢查光學部件的貼合面側的缺陷。
【專利文獻1】日本特開2007-212442號
要將光學部件的上面與下面的哪一面形成為貼合面，係預先決定，缺陷檢查裝置的光源、攝像裝置及偏光濾光鏡的配置亦對應該情形予以固定。通常如專利文獻1般，光學部件的上面成為貼合面，偏光濾光鏡亦被設置在光學部件的上方。
在此，以包含偏光元件的光學部件而言，已知一種在由聚乙烯醇(PVA：Poly Vinyl Alcohol)所成之偏光元件的兩面積層成為保護層的三醋酸纖維素(TAC：TriAcetyl Cellulose)的偏光板(TAC/PVA/TAC)。
近年來，偏光板不斷多樣化，亦已提出一種在偏光元件的兩面所積層之TAC之中將其中一方的TAC置換成其他薄膜的偏光板。
在如上所示之偏光板中，藉由本發明人的研究，可知最終製品的翹曲等狀態依將TAC側設為貼合面、或將其他薄膜側設為貼合面而異。
因此，若使用上述缺陷檢查裝置來進行如上所示之偏光板的缺陷檢查時，將TAC與其他薄膜的任一較佳者貼合在偏光元件的上面側。
但是，在光學部件的製造線的構成上，其他薄膜的搬送線的位置規定在偏光元件的搬送線的上方側、或下方側的任一者，會有無法進行作為目的的缺陷檢查的情形。
例如，考慮一種若其他薄膜為容易在表面產生損傷的薄膜時，先在其他薄膜的表面積層保護薄膜，若將偏光元件與其他薄膜進行貼合時，將保護薄膜由其他薄膜剝離的方法。此時，在將偏光元件與其他薄膜進行貼合的瞬前設置刀刃(knife edge)等剝離機構，一邊將保護薄膜由其他薄膜剝離，一邊將剝離後的其他薄膜貼合在偏光元件。
但是，在製造線的構成上，會有剝離機構的設置空間僅被設
在偏光元件的搬送線的上方側或下方側的任一方的情形。此時，其他薄膜的搬送線的位置亦被限定為偏光元件的搬送線的上方側或下方側的任一方。假設其他薄膜的搬送線被限定在偏光元件的搬送線的上方側，而且，其他薄膜被貼合在與光學部件的貼合面側為相反側者時，在上述缺陷檢查裝置並無法進行光學部件的貼合面側的缺陷檢查。
因此，考慮對應光學部件的構成來更換光源與攝像裝置及偏光濾光鏡的位置。但是，此時，必須進行裝置構成的大幅變更，且在裝置的更換作業亦需要很多時間。此外，必須按每個光學部件的構成來準備各自的缺陷檢查裝置，並不實際。基於如上所示之背景，探求一種對應光學部件的構成，可輕易切換光學部件的一面側與另一面側的缺陷檢查的缺陷檢查裝置。
本發明之態樣之目的在提供可輕易切換光學部件的一面側與另一面側的缺陷檢查的缺陷檢查裝置及光學顯示裝置之生產系統。
本發明之態樣係採用以下手段。
(1)本發明之態樣之缺陷檢查裝置係包含偏光元件之光學部件之缺陷檢查裝置，其包含：光源，其係被配置在前述光學部件的第1側，對前述光學部件照射光；攝像裝置，其係被配置在前述光學部件的第2側，對因來自前述光學部件的透過光所得之像進行攝像；第1偏光濾光鏡，其係被配置在前述光源與前述光學部件之間的光路上，具有與前述偏光元件的吸收軸呈正交的第1吸收軸；第2偏光濾光鏡，其係被配置在前述攝像裝置與前述光學部件之間
的光路上，具有與前述偏光元件的吸收軸呈正交的第2吸收軸；第1移動裝置，其係使前述第1偏光濾光鏡相對前述光源與前述光學部件之間的光路作進退移動；及第2移動裝置，其係使前述第2偏光濾光鏡相對前述攝像裝置與前述光學部件之間的光路作進退移動。
(2)在上述(1)之態樣中，亦可另外包含控制裝置，其係在第1攝像模式中，以前述第1移動裝置使前述第1偏光濾光鏡移動至前述光源與前述光學部件之間的光路上的方式進行控制，並且以前述偏光元件的吸收軸與前述第1吸收軸呈正交的方式進行前述第1偏光濾光鏡的配置的控制，而且，以前述第2移動裝置使前述第2偏光濾光鏡移動至由前述攝像裝置與前述光學部件之間的光路上偏離的位置的方式進行控制，在第2攝像模式中，以前述第1移動裝置使前述第1偏光濾光鏡移動至由前述光源與前述光學部件之間的光路上偏離的位置的方式進行控制，而且，以前述第2移動裝置使前述第2偏光濾光鏡移動至前述攝像裝置與前述光學部件之間的光路上的方式進行控制，並且以前述偏光元件的吸收軸與前述第2吸收軸呈正交的方式進行前述第2偏光濾光鏡的配置的控制。
(3)本發明之態樣之光學部件之製造系統係包含偏光元件之光學部件之製造系統，其包含：光學部件的製造裝置，其係製造前述光學部件；及如上述(1)或(2)所記載之缺陷檢查裝置，其係檢查前述光學部件有無缺陷。
(4)在上述(3)之態樣中，前述光學部件亦可包含：偏光元件、被積層在前述偏光元件的第1面上的第1保護層、及被積層在前述偏光元件的第2面上的第2保護層，前述光學部件的製造裝置係包含：第1供給
部，其係供給前述偏光元件；第2供給部，其係被配置在前述偏光元件的供給路徑的第1側，且供給積層部件，該積層部件包含：前述第1保護層、及被積層在前述第1保護層的第3面上的第3保護層；第3供給部，其係被配置在前述偏光元件的供給路徑的第2側，且供給前述第2保護層；及剝離部，其係被配置在前述偏光元件的供給路徑的第1側，且使前述第3保護層由前述積層部件剝離而形成為前述第1保護層。
(5)本發明之態樣之光學顯示裝置之生產系統係在光學顯示零件貼合光學部件而成之光學顯示裝置之生產系統，其特徵為：包含：搬送裝置，其係用以搬送前述光學部件；貼合裝置，其係將以前述搬送裝置所被搬送的前述光學部件貼合在前述光學顯示零件來製作前述光學顯示裝置；及如上述(1)或(2)所記載之缺陷檢查裝置，其係檢查由前述搬送裝置被搬送至前述貼合裝置的前述光學部件有無缺陷。
藉由本發明之態樣，可提供可輕易切換光學部件的一面側與另一面側的缺陷檢查的缺陷檢查裝置、光學部件之製造系統及光學顯示裝置之生產系統。
1‧‧‧薄膜貼合系統(光學顯示裝置之生產系統)
2‧‧‧控制部
3‧‧‧滾輪輸送器
7‧‧‧第1供給裝置
8‧‧‧第1搬送裝置(搬送裝置)
8a‧‧‧捲物保持部
8b‧‧‧夾持滾輪
8c‧‧‧導引滾輪
8d‧‧‧累積器
8e‧‧‧收捲部
9‧‧‧第1缺陷檢查裝置(缺陷檢查裝置)
10‧‧‧第1切斷裝置
11‧‧‧第1貼合裝置(貼合裝置)
18‧‧‧檢查前剝離裝置
18a‧‧‧刀刃
18b‧‧‧收捲部
19‧‧‧檢查後貼合裝置
19a‧‧‧捲物保持部
19b‧‧‧夾壓滾子
100‧‧‧光學薄膜之製造系統(光學部件之製造系統)
101‧‧‧光學薄膜的製造裝置(光學部件的製造裝置)
102‧‧‧缺陷檢查裝置
110‧‧‧第1供給部
111‧‧‧第2供給部
112‧‧‧第3供給部
113‧‧‧剝離部
113a‧‧‧刀刃
113b‧‧‧收捲部
114‧‧‧薄膜積層裝置
114a、114b‧‧‧滾輪
115‧‧‧收捲部
120‧‧‧光源
120a‧‧‧光射出面
121‧‧‧第1偏光濾光鏡
122‧‧‧攝像裝置
122a‧‧‧受光面
123‧‧‧第2偏光濾光鏡
130‧‧‧第1移動裝置
131‧‧‧第2移動裝置
132‧‧‧控制裝置
CL‧‧‧光軸
E1、E2‧‧‧缺陷
F‧‧‧光學片材
F1‧‧‧光學部件
F2‧‧‧黏著層
F3‧‧‧隔離件
F4‧‧‧表面保護薄膜
F5‧‧‧貼合片材
F6‧‧‧偏光元件
F7‧‧‧第1薄膜
F8‧‧‧第2薄膜
F10‧‧‧光學薄膜(光學部件)
F11‧‧‧偏光元件薄膜(偏光元件)
F12‧‧‧積層薄膜(積層部件)
F13‧‧‧COP薄膜(第1保護層)
F14‧‧‧COP薄膜用保護薄膜(第3保護層)
F15‧‧‧TAC薄膜(第2保護層)
F16‧‧‧黏著層
H1‧‧‧第1隔離件
H2‧‧‧第2隔離件
L1、L3‧‧‧光
L2‧‧‧直線偏光
P‧‧‧液晶面板(光學顯示零件)
P1‧‧‧第1基板
P2‧‧‧第2基板
P3‧‧‧液晶層
P4‧‧‧顯示區域
P11‧‧‧單面貼合面板
Q1‧‧‧第1位置
Q2‧‧‧第2位置
Q3‧‧‧第3位置
Q4‧‧‧第4位置
R1、R10、R11、R12、R15‧‧‧原材料捲
R2‧‧‧第1隔離件捲
R3‧‧‧第2隔離件捲
R4‧‧‧第2隔離件捲
R14‧‧‧剝離捲
Sf1‧‧‧上面(光學部件的一側的面)
Sf2‧‧‧下面(光學部件的另一側的面)
SV1、SV2‧‧‧重疊部分
V0‧‧‧偏光元件薄膜F11的吸收軸
V1‧‧‧第1吸收軸
V2‧‧‧第2吸收軸
第一圖係顯示本發明之一實施形態之光學薄膜之製造系統的側視圖。
第二圖係本發明之一實施形態之缺陷檢查裝置的側視圖。
第三圖係用以說明第1偏光濾光鏡的第1吸收軸(第2偏光濾光鏡的第2吸收軸)與偏光元件薄膜的吸收軸的配置關係的圖。
第四圖係用以說明藉由缺陷檢查裝置所致之缺陷檢查原理的圖。
第五圖係用以說明藉由缺陷檢查裝置所致之缺陷檢查原理的圖。
第六圖係本發明之一實施形態之缺陷檢查裝置的俯視圖。
第七圖係顯示偏光板(TAC/PVA/TAC)對液晶面板的貼合例圖。
第八圖係顯示偏光板(COP/PVA/TAC)對液晶面板的貼合例圖。
第九圖係用以說明偏光板(TAC/PVA/TAC)的第1攝像模式中的缺陷檢查裝置的圖。
第十圖係顯示偏光板(TAC/PVA/TAC)的第1攝像模式中偏光板對液晶面板的貼合例圖。
第十一圖係用以說明偏光板(COP/PVA/TAC)的第1攝像模式中的缺陷檢查裝置的圖。
第十二圖係顯示偏光板(TAC/PVA/COP)的第1攝像模式中偏光板對液晶面板的貼合例圖。
第十三圖係用以說明第2攝像模式中的缺陷檢查裝置的圖。
第十四圖係顯示第2攝像模式中偏光板對液晶面板的貼合例圖。
第十五圖係顯示本發明之一實施形態之薄膜貼合系統的裝置構成的側視圖。
第十六圖係顯示本發明之一實施形態之薄膜貼合系統的裝置構成的側視圖。
第十七圖係液晶面板的俯視圖。
第十八圖係偏光薄膜片材的剖面圖。
以下一面參照圖示，一面說明本發明之實施形態，惟本發明並非限定於以下實施形態。
其中，在以下所有圖面中，為易於觀看圖面，使各構成要素的尺寸或比率等作適當不同。此外，在以下說明及圖面中，對於相同或相當的要素係標註相同符號，且省略重複說明。
[光學部件之製造系統]
第一圖係顯示本發明之一實施形態之光學部件之製造系統亦即光學薄膜之製造系統100之一例的側視圖。以下說明製造偏光薄膜作為光學薄膜之例。但是，光學薄膜若為至少包含偏光元件薄膜者，則除了偏光薄膜以外，亦可為積層相位差薄膜或亮度提升薄膜等複數光學元件者。
在以下說明中，視需要設定XYZ正交座標系，且一面參照該XYZ正交座標系，一面說明各部件的位置關係。在本實施形態中，將長形光學薄膜的搬送方向設為X方向，在光學薄膜的面內與X方向呈正交的方向(長形光學薄膜的寬幅方向)設為Y方向，將與X方向及Y方向呈正交的方向設為Z方向。
如第一圖所示，光學薄膜之製造系統100係具備有：製造光學薄膜F10的光學薄膜的製造裝置101(光學部件的製造裝置)；及檢查光學薄膜F10有無缺陷的缺陷檢查裝置102。
在本實施形態中所使用的光學薄膜F10(光學部件)係例如藉由作為保護薄膜的COP(環烯烴聚合物(cyclic olefin polymer))薄膜F13(第1保護層)與TAC(三醋酸纖維素(triacetylcellulose))薄膜F15(第2
保護層)夾著由PVA(聚乙烯醇(polyvinyl alcohol))等所成之偏光元件薄膜F11(偏光元件)的構造。其中，在偏光元件薄膜F11中，亦可將積層有COP薄膜F13之側的面稱為第1面。此外，在偏光元件薄膜F11中，亦可將積層有TAC薄膜F15之側的面稱為第2面。
其中，以保護薄膜而言，除了TAC薄膜或COP薄膜以外，亦可使用PET(聚乙烯對苯二甲酸酯(polyethylene terephthalate))薄膜、MMA(甲基丙烯酸甲酯(methyl methacrylate))薄膜等。
光學薄膜的製造裝置101係具備有：供給偏光元件薄膜F11的第1供給部110；供給具有COP薄膜F13及COP薄膜用保護薄膜F14(第3保護層)的積層薄膜F12的第2供給部111；供給TAC薄膜F15的第3供給部112；使COP薄膜用保護薄膜F14由積層薄膜F12剝離而形成為COP薄膜F13的剝離部113；將偏光元件薄膜F11、COP薄膜F13、TAC薄膜F15等3片薄膜進行積層來製造1片光學薄膜F10的薄膜積層裝置114；及將光學薄膜F10收捲的收捲部115。
第1供給部110係保持捲繞帶狀偏光元件薄膜F11的原材料捲R11，並且將偏光元件薄膜F11沿著其長邊方向依序送出。
第2供給部111係保持捲繞有帶狀積層薄膜F12的原材料捲R12，並且將積層薄膜F12沿著其長邊方向依序送出。第2供給部111係被配置在偏光元件薄膜F11的供給路徑的一側(第一圖所示之+Z方向側)。其中，亦可將偏光元件薄膜F11的供給路徑的一側亦即第一圖所示之+Z方向側，稱為偏光元件薄膜F11的供給路徑的第1側。
第3供給部112係保持捲繞帶狀TAC薄膜F15的原材料捲
R15，並且將TAC薄膜F15沿著其長邊方向依序送出。第3供給部112係被配置在偏光元件薄膜F11的供給路徑的另一側(第一圖所示之-Z方向側)。其中，亦可將偏光元件薄膜F11的供給路徑的另一側亦即第一圖所示之-Z方向側，稱為偏光元件薄膜F11的供給路徑的第2側。
剝離部113係將COP薄膜用保護薄膜F14由從第2供給部111被依序送出的積層薄膜F12剝離，且捲繞成捲物的構成。剝離部113係具有：刀刃113a、及收捲部113b。
COP薄膜用保護薄膜F14係被積層在COP薄膜F13的一面上(與偏光元件薄膜F11相貼合的貼合面上)。藉此，可抑制在COP薄膜用保護薄膜F14的表面(與偏光元件薄膜F11相貼合的貼合面)有損傷。其中，如上所述，亦可將積層COP薄膜用保護薄膜F14的COP薄膜F13的一面稱為第3面。
刀刃113a係在積層薄膜F12的寬幅方向至少遍及其全幅延伸。刀刃113a係以在由原材料捲R12放捲的積層薄膜F12的COP薄膜用保護薄膜F14側進行滑動接觸的方式將其進行纏繞。刀刃113a係在其前端部將積層薄膜F12纏繞成銳角。刀刃113a係當在其前端部將積層薄膜F12折返成銳角時，使COP薄膜F13由COP薄膜用保護薄膜F14分離。刀刃113a係將該COP薄膜F13供給至薄膜積層裝置114。
收捲部113b係捲繞經由刀刃113a而成為單獨的COP薄膜用保護薄膜F14，且作為剝離捲R14進行保持。
剝離部113係在偏光元件薄膜F11的供給路徑的一側(第一圖所示之+Z方向側)中，被配置在第1供給部110與第2供給部111之間。
其中，第2供給部111、第3供給部112及剝離部113的配置構成並非侷限於此。例如，亦可第2供給部111及剝離部113之雙方被配置在偏光元件薄膜F11的供給路徑的另一側(第一圖所示之-Z方向側)，而且第3供給部112被配置在偏光元件薄膜F11的供給路徑的一側(第一圖所示之+Z方向側)。
在薄膜積層裝置114係以上下設有一對滾輪114a、114b。在該兩滾輪114a、114b之間疊合偏光元件薄膜F11、COP薄膜F13、TAC薄膜F15來進行供給。接著，藉由兩滾輪114a、114b予以按壓，藉此貼合偏光元件薄膜F11、COP薄膜F13、TAC薄膜F15，且製造1片光學薄膜F10。其中，亦可在COP薄膜F13及TAC薄膜F15的表面另外積層剝離薄膜或保護薄膜等。該光學薄膜F係藉由未圖示的搬送滾輪，朝向缺陷檢查裝置102被搬送。
缺陷檢查裝置102係具備有：被配置在光學薄膜F10的上方(第一圖所示之+Z方向側)的光源120；被配置在光學薄膜F10的下方(第一圖所示之-Z方向側)的攝像裝置122；被配置在光源120與光學薄膜F10之間的光路上的第1偏光濾光鏡121；及被配置在攝像裝置122與光學薄膜F10之間的光路上的第2偏光濾光鏡123。其中，關於缺陷檢查裝置102的詳細內容將於後述。此外，亦可將配置如上所述之光源120之第一圖所示之+Z方向側稱為光學薄膜F10的第1側。此外，亦可將配置如上所述之攝像裝置122之第一圖所示之-Z方向側稱為光學薄膜F10的第2側。
以缺陷檢查裝置102所被檢測到的光學薄膜F10的缺陷的資料係與光學薄膜F10的位置(光學薄膜F10的長邊方向的位置及寬幅方向的位置)產生關連地記憶在記憶裝置。以缺陷檢查裝置102所檢查到的光學薄
膜F10係朝向收捲部115被搬送。接著，在收捲部115中被捲繞成捲物狀，製造光學薄膜F10的原材料捲R10。
(缺陷檢查裝置)
第二圖係本發明之一實施形態之缺陷檢查裝置102的側視圖。
在第二圖中，符號Sf1係光學薄膜F10的上面(光學部件的一側的面)，且為COP薄膜F13側的面。符號Sf2係光學薄膜F10的下面(光學部件的另一側的面)，且為TAC薄膜F15側的面。
如第二圖所示，本實施形態的缺陷檢查裝置102係具備有：被配置在光學薄膜F10的上面Sf1之側的光源120；被配置在光學薄膜F10的下面Sf2之側的攝像裝置122；被配置在光源120與光學薄膜F10之間的光路上的第1偏光濾光鏡121；被配置在攝像裝置122與光學薄膜F10之間的光路上的第2偏光濾光鏡123；使第1偏光濾光鏡121朝向光源120與光學薄膜F10之間的光路作進退移動的第1移動裝置130；使第2偏光濾光鏡123朝向攝像裝置122與光學薄膜F10之間的光路作進退移動的第2移動裝置131；及控制裝置132。換言之，第1移動裝置130係可將第1偏光濾光鏡121，相對光源120與光學薄膜F10之間的光路作進退移動，第2移動裝置131係可將第2偏光濾光鏡123，相對攝像裝置122與光學薄膜F10之間的光路作進退移動。
控制裝置132係控制第1偏光濾光鏡121及第2偏光濾光鏡123之各自的進退移動。控制裝置132係可獨立控制第1移動裝置130及第2移動裝置131的各個。
光源120的光射出面120a的中心與攝像裝置122的受光面122a的中心係被配置在同軸(光軸CL上)。
第三圖係用以說明第1偏光濾光鏡121的第1吸收軸V1(第2偏光濾光鏡123的第2吸收軸V2)與偏光元件薄膜F11的吸收軸V0的配置關係的圖。
如第三圖所示，第1偏光濾光鏡121係具有與偏光元件薄膜F11的吸收軸V0呈正交的第1吸收軸V1。第1偏光濾光鏡121係在光源120與光學薄膜F10之間的光路上，互相正交配置(正交尼可耳配置)有第1偏光濾光鏡121的第1吸收軸V1與偏光元件薄膜F11的吸收軸V0。
若使第1偏光濾光鏡121的第1吸收軸V1與偏光元件薄膜F11的吸收軸V0進行正交尼可耳配置時，在第1偏光濾光鏡121與偏光元件薄膜F11的重疊部分SV1中，並不會透過光。因此，若藉由攝像裝置122對重疊部分SV1進行攝像時，只要在第1偏光濾光鏡121與偏光元件薄膜F11之間未配置有具有相位差之缺陷等弄亂偏光狀態者，即看起來為暗視野。
第2偏光濾光鏡123係具有與偏光元件薄膜F11的吸收軸V0呈正交的第2吸收軸V2。第2偏光濾光鏡123係在攝像裝置122與光學薄膜F10之間的光路上，互相正交配置(正交尼可耳配置)有第2偏光濾光鏡123的第2吸收軸V2與偏光元件薄膜F11的吸收軸V0。
即使使第2偏光濾光鏡123的第2吸收軸V2與偏光元件薄膜F11的吸收軸V0進行正交尼可耳配置，亦在第2偏光濾光鏡123與偏光元件薄膜F11的重疊部分SV2並不會透過光。因此，即使藉由攝像裝置122對重疊部分SV2進行攝像，亦只要在第2偏光濾光鏡123與偏光元件薄膜F11之間未配置有具有相位差之缺陷等弄亂偏光狀態者，即看起來為暗視野。
第四圖及第五圖係用以說明藉由缺陷檢查裝置102所致之缺
陷E1之檢查原理的圖。第四圖係若在COP薄膜F13存在缺陷E1時的圖。第五圖係在COP薄膜F13並未存在缺陷，但是在TAC薄膜F15存在缺陷E2時的圖。其中，在第四圖及第五圖中，為方便起見，省略第2偏光濾光鏡123、第1移動裝置130、第2移動裝置131及控制裝置132的圖示。
如第四圖所示，由光源120朝向光學薄膜F10被射出的光L1係藉由第1偏光濾光鏡121而被形成為直線偏光L2。藉由第1偏光濾光鏡121所得之直線偏光L2係入射至COP薄膜F13。如此一來，因存在於COP薄膜F13的缺陷E1，直線偏光L2的偏光狀態被弄亂，偏光狀態被弄亂的光的一部分(光L3)會透過偏光元件薄膜F11。結果，透過偏光元件薄膜F11的光L3入射至攝像裝置122，藉由攝像裝置122，缺陷E1成為亮點而被明亮攝像。
如第五圖所示，由光源120朝向光學薄膜F10所被射出的光L1係藉由第1偏光濾光鏡121而被形成為直線偏光L2。藉由第1偏光濾光鏡121所得之直線偏光L2係入射至COP薄膜F13。如此一來，在COP薄膜F13並未存在缺陷，因此直線偏光L2並無法透過偏光元件薄膜F11。結果，在攝像裝置122並未入射光，因此以攝像裝置122係對黑畫像進行攝像。此時，存在於TAC薄膜F15的缺陷E2並看不到。
如上所示，藉由檢測亮點的存在，可判定COP薄膜F13有無缺陷E1。例如，若藉由攝像裝置122對亮點攝像時，在COP薄膜F13係被判定為「有缺陷」。另一方面，藉由攝像裝置122對黑畫像攝像時(任何均未被攝像時)，在COP薄膜F13係被判定為「無缺陷」。
第六圖係缺陷檢查裝置102的俯視圖。在第六圖中，為方便起見，係圖示光學薄膜F10。
如第六圖所示，構成缺陷檢查裝置102的光源120的光射出面120a為長方形，沿著Y方向具有長邊。在本實施形態中，光源120的光射出面120a係沿著與光學薄膜F10的搬送方向呈正交的寬幅方向具有長邊。光源120的光射出面120a係對光學薄膜F10跨越寬幅方向而形成。例如，以光源120而言，係可使用金屬鹵化物燈。
第1偏光濾光鏡121係以與光源120的光射出面120a的外周部相重疊的方式作配置。第1偏光濾光鏡121係與光源120的光射出面120a同樣地，沿著Y方向具有長邊。第1偏光濾光鏡121係在X方向及Y方向的各方向比光源120的光射出面120a為更長。
藉此，若第1偏光濾光鏡121被配置在光源120與光學薄膜F10之間的光路上時，由光源120所被射出的光係全部入射至第1偏光濾光鏡121。
攝像裝置122亦與光源120的光射出面120a同樣地，沿著Y方向具有長邊。例如，以攝像裝置122而言，係可使用線感測器攝影機。
第2偏光濾光鏡123係以與攝像裝置122的受光面122a的外周部相重疊的方式予以配置。第2偏光濾光鏡123係與攝像裝置122的受光面122a同樣地，沿著Y方向具有長邊。第2偏光濾光鏡123係在X方向及Y方向的各方向，比攝像裝置122的受光面122a為更長。
上述光學薄膜F10係藉由未圖示的切斷裝置被切割成預定尺寸，且形成為作為被貼合在液晶面板的片材片的偏光板。藉由該偏光板被貼合在液晶面板，製造作為光學顯示裝置的液晶顯示裝置。
但是，在液晶面板貼合有偏光板的液晶顯示裝置的製造中，
係在將偏光板貼合在液晶面板時，會有因偏光板的應力而在液晶面板發生翹曲的問題。
本發明人精心研究結果，發現若改變偏光板的構成，即可使液晶面板的翹曲狀態不同。
以下使用第七圖及第八圖來進行說明。
第七圖係顯示將偏光板的構成形成為TAC/PVA/TAC之偏光板(TAC/PVA/TAC)對液晶面板P的貼合例圖。
如第七圖所示，在偏光板(TAC/PVA/TAC)之與液晶面板P的貼合面配置有黏著層F16。偏光板(TAC/PVA/TAC)係透過黏著層F16而被貼合在液晶面板P。
第八圖係顯示將偏光板的構成形成為COP/PVA/TAC之偏光板(COP/PVA/TAC)對液晶面板P的貼合例圖。
如第八圖所示，在偏光板(COP/PVA/TAC)之與液晶面板P的貼合面(TAC薄膜側的面)配置有黏著層F16。偏光板(COP/PVA/TAC)係在液晶面板P的貼合面側配置TAC薄膜，透過黏著層F16而被貼合在液晶面板P。
本發明人得知雖然其原因不明，但是在將偏光板(COP/PVA/TAC)，在液晶面板P的貼合面側配置TAC薄膜而貼合在液晶面板P的情形(參照第八圖)下、及將偏光板(TAC/PVA/TAC)貼合在液晶面板P的情形(參照第七圖)下，可使液晶面板P的翹曲狀態不同。
因此，由使液晶面板P的翹曲狀態與將偏光板(TAC/PVA/TAC)貼合在液晶面板P時為不同的觀點來看，較佳為使用如第八圖所示
之具有COP/PVA/TAC的構成的偏光板，將偏光板之TAC側的面與液晶面板P相貼合。此時，偏光板之TAC側的面成為與液晶面板P的貼合面。因此，若使用第一圖的製造裝置100來製造光學薄膜F10時，係COP薄膜F13被貼合在偏光元件薄膜F11的上面的構成。因此，缺陷檢查裝置的偏光濾光鏡係必須被設置在光學薄膜F10的搬送線的下方。
若為如習知之缺陷檢查裝置般偏光濾光鏡僅被配置在偏光板的貼合面側的構成，若偏光板的構成由第七圖被變更為第八圖時，必須更換光源與攝像裝置及偏光濾光鏡的位置，必須進行裝置構成的大幅變更。
例如，若為偏光板(TAC/PVA/TAC)的情形，TAC薄膜被配置在PVA薄膜的兩面。因此，若將一對TAC薄膜之中任一側形成為偏光板的貼合面側即可，即使為習知之缺陷檢查裝置，亦可未變更裝置構成地適用。
但是，若為偏光板(COP/PVA/TAC)的情形，TAC薄膜僅被配置在PVA薄膜的一面。因此，為了使液晶面板P的翹曲狀態不同而將TAC薄膜側設為偏光板的貼合面側時，若為習知之缺陷檢查裝置，則必須進行裝置構成的大幅變更。
尤其，如第一圖所示將COP薄膜用保護薄膜F14由積層薄膜F12剝離的剝離部113僅被配置在偏光元件薄膜F11的供給路徑的上方側時，供給積層薄膜F12的第2供給部111亦被配置在偏光元件薄膜F11的供給路徑的上方側。因此，在習知之缺陷檢查裝置中若形成為偏光濾光鏡僅被配置在光學薄膜F10的上方側的構成時，雖然可進行COP薄膜F13的缺陷檢查，但是無法進行成為偏光板的貼合面側的TAC薄膜F15的缺陷檢查。
另一方面，以該對策而言，亦考慮更換光源、偏光濾光鏡及攝像裝置的位置，惟必須進行裝置構成的大幅變更，且在裝置的更換作業亦需要較多時間。此外，亦考慮將進行光學薄膜F10的上面側的缺陷檢查的缺陷檢查裝置、及進行光學薄膜F10的下面側的缺陷檢查的缺陷檢查裝置，沿著光學薄膜F10的搬送路徑設置2台，但是由於需要較寬的設置空間，並且耗費龐大的設置成本，因此並不實際。
因此，本發明之態樣係為了可輕易切換光學薄膜的一面側與另一面側的缺陷檢查，採用以下構成。
本發明之一實施形態之缺陷檢查裝置102係如第二圖所示，其特徵為包含：被配置在光學薄膜F10的上方側，對光學薄膜F10照射光的光源120；被配置在光學薄膜的下方側，對因來自光學薄膜的透過光所致之像進行攝像的攝像裝置122；被配置在光源120與光學薄膜F10之間的光路上，具有與偏光元件薄膜F11的吸收軸呈正交的第1吸收軸的第1偏光濾光鏡121；被配置在攝像裝置122與光學薄膜F10之間的光路上，具有與偏光元件薄膜F11的吸收軸呈正交的第2吸收軸的第2偏光濾光鏡123；使第1偏光濾光鏡121朝向光源120與光學薄膜F10之間的光路作進退移動的第1移動裝置130；及使第2偏光濾光鏡123朝向攝像裝置122與光學薄膜F10之間的光路作進退移動的第2移動裝置131。換言之，第1移動裝置130係可將第1偏光濾光鏡121，相對光源120與光學薄膜F10之間的光路作進退移動，第2移動裝置131係可將第2偏光濾光鏡123，相對攝像裝置122與光學薄膜F10之間的光路作進退移動。
藉由該構成，在光學薄膜F10的上面側與下面側之雙方配置
偏光濾光鏡。因此，使各自的偏光濾光鏡，對應光學薄膜F10的構成，在光源120與攝像裝置122之間的光路上作進退移動，可輕易切換光學薄膜F10的上面側與下面側的缺陷檢查。因此，在身為省空間且廉價的構成的同時，可輕易對應各種構成的光學薄膜F10的缺陷檢查。
第九圖係用以說明偏光板(TAC(1)/PVA/TAC(2))的第1攝像模式中的缺陷檢查裝置102的圖。
第十圖係第1攝像模式中偏光板(TAC(1)/PVA/TAC(2))對液晶面板P的貼合例圖。
第十一圖係用以說明偏光板(COP/PVA/TAC)的第1攝像模式中的缺陷檢查裝置102的圖。第十二圖係第1攝像模式中偏光板(COP/PVA/TAC)對液晶面板P的貼合例圖。
第十三圖係用以說明第2攝像模式中的缺陷檢查裝置102的圖。
第十四圖係顯示第2攝像模式中偏光板對液晶面板P的貼合例圖。
其中，在第九圖、第十一圖及第十三圖中，為方便起見，省略第1移動裝置130、第2移動裝置131及控制裝置132的圖示。在第九圖及第十圖中，將偏光板的貼合面側的TAC薄膜表示為TAC(1)薄膜「TAC(1)」，與偏光板的貼合面側為相反側的TAC薄膜表示為TAC(2)薄膜「TAC(2)」。
如第九圖所示，控制裝置132係在第1攝像模式中，以第1移動裝置130使第1偏光濾光鏡121在光源120與偏光板(TAC(1)/PVA/TAC(2))之間的光路上(光軸CL上的第1位置Q1)移動的方式進行控制，並且以PVA薄膜的吸收軸與第1偏光濾光鏡121的第1吸收軸呈正交的方式進行
第1偏光濾光鏡121的配置的控制，而且，以第2移動裝置131使第2偏光濾光鏡123移動至由攝像裝置122與偏光板(TAC(1)/PVA/TAC(2))之間的光路上偏離的位置(由光軸CL偏離的第2位置Q2)的方式進行控制。
具體而言，控制裝置132係在第1攝像模式中，以第1移動裝置130使第1偏光濾光鏡121的中心配置在光軸CL上的第1位置Q1的方式進行控制，並且以PVA薄膜的吸收軸與第1偏光濾光鏡121的第1吸收軸呈正交的方式進行第1偏光濾光鏡121的配置的控制，而且，以第2移動裝置131使第2偏光濾光鏡123的中心配置在由光軸CL偏離的第2位置Q2的方式進行控制。
第2位置Q2係被設定在第2偏光濾光鏡123由攝像裝置122的視野範圍退避的位置。亦即，第2位置Q2係被設定在第2偏光濾光鏡123不會進入至攝像裝置122的視野範圍的位置。若第2位置Q2過於接近光軸CL時，第2偏光濾光鏡123會侵入至攝像裝置122的視野範圍。另一方面，若第2位置Q2離光軸CL過遠時，當使第2偏光濾光鏡123移動至光軸CL上的位置時會耗費時間，難以順利地移至其他攝像模式。由如上所示之觀點來看，本實施形態中的第2位置Q2係例如被設定為離光軸CL為30mm以上、50mm以下的範圍的距離。其中，第2位置Q2較佳為被設定為離光軸CL為35mm以上、45mm以下的範圍的距離。
在第1攝像模式中，PVA薄膜的吸收軸與第1偏光濾光鏡121的第1吸收軸作正交尼可耳配置。在第1攝像模式中，係可進行被配置在第1偏光濾光鏡121與PVA薄膜之間的光路上的TAC薄膜(1)的缺陷檢查。
由光源120朝向偏光板(TAC(1)/PVA/TAC(2))所被
射出的光係藉由第1偏光濾光鏡121而形成為直線偏光。藉由第1偏光濾光鏡121所得之直線偏光係入射至TAC薄膜(1)。若在TAC薄膜(1)沒有缺陷時，透過TAC薄膜(1)的光係被PVA薄膜所遮斷。因此，在攝像裝置122係對黑畫像進行攝像。此時，TAC薄膜(1)係被判定為「無缺陷」。
另一方面，若在TAC薄膜(1)有缺陷時，入射至TAC薄膜(1)的直線偏光係因缺陷而偏光狀態被弄亂，偏光狀態被弄亂的光的一部分會透過PVA薄膜。結果，透過PVA薄膜的光入射至攝像裝置122，藉由攝像裝置122，缺陷形成為亮點而被明亮攝像。此時，TAC薄膜(1)係被判定為「有缺陷」。
如上所示藉由第1攝像模式，可進行被積層在PVA薄膜的上面的TAC薄膜(1)側的正交尼可耳(crossed Nicol)透過檢查，且可進行偏光板(TAC(1)/PVA/TAC(1))與液晶面板P的貼合面側的缺陷檢查。
如第十圖所示，在偏光板(TAC(1)/PVA/TAC(2))的液晶面板P的貼合面(TAC(1)的表面)係配置有黏著層F16。偏光板(TAC(1)/PVA/TAC(2))係透過黏著層F16而被貼合在液晶面板P。
如第十一圖所示，若為偏光板(COP/PVA/TAC)，亦可進行與使用第九圖所說明之第1攝像模式為相同的控制。
若為偏光板(COP/PVA/TAC)，在第1攝像模式下，係可進行被配置在第1偏光濾光鏡121與PVA薄膜之間的光路上的COP薄膜的缺陷檢查。
由光源120朝向偏光板(COP/PVA/TAC)被射出的光係藉由第1偏光濾光鏡121而形成為直線偏光。藉由第1偏光濾光鏡121所得之
直線偏光係入射至COP薄膜。若在COP薄膜沒有缺陷時，透過COP薄膜的光係被PVA薄膜所遮斷。因此，在攝像裝置122中係對黑畫像進行攝像。此時，COP薄膜係被判定為「無缺陷」。
另一方面，若在COP薄膜有缺陷時，入射至COP薄膜的直線偏光係因缺陷而偏光狀態被弄亂，偏光狀態被弄亂的光的一部分會透過PVA薄膜。結果，透過PVA薄膜的光入射至攝像裝置122，且藉由攝像裝置122，缺陷形成為亮點而被明亮攝像。此時，COP薄膜係被判定為「有缺陷」。
如上所示藉由第1攝像模式，可進行被積層在PVA薄膜的上面的COP薄膜的正交尼可耳透過檢查，且可進行成為偏光板(COP/PVA/TAC)的貼合面側的COP薄膜的缺陷檢查。
如第十二圖所示，在偏光板(COP/PVA/TAC)的液晶面板P的貼合面(COP的表面)配置有黏著層F16。偏光板(COP/PVA/TAC)係在液晶面板P的貼合面側配置COP薄膜，透過黏著層F16而被貼合在液晶面板P。
如第十三圖所示，控制裝置132係在第2攝像模式中，以第1移動裝置130使第1偏光濾光鏡121移動至由光源120與偏光板(COP/PVA/TAC)之間的光路上偏離的位置(由光軸CL偏離的第3位置Q3)的方式進行控制，而且，以第2移動裝置131使第2偏光濾光鏡123在攝像裝置122與偏光板(COP/PVA/TAC)之間的光路上(光軸CL上的第4位置Q4)移動的方式進行控制，並且以PVA薄膜的吸收軸與第2偏光濾光鏡123的第2吸收軸呈正交的方式進行第2偏光濾光鏡123的配置的控制。
具體而言，控制裝置132係在第2攝像模式中，以第1移動裝
置130使第1偏光濾光鏡121的中心配置在由光軸CL偏離的第3位置Q3的方式進行控制，而且以第2移動裝置131使第2偏光濾光鏡123的中心配置在光軸CL上的第4位置Q4的方式進行控制，並且以PVA薄膜的吸收軸與第2偏光濾光鏡123的第2吸收軸呈正交的方式進行第2偏光濾光鏡123的配置的控制。
第3位置Q3係被設定在可避免由光源120被射出的光被第1偏光濾光鏡121與PVA薄膜的正交尼可耳配置所遮蔽的位置。若第3位置Q3過於接近光軸CL時，由光源120被射出的光的一部分會被第1偏光濾光鏡121與PVA薄膜的正交尼可耳配置所遮蔽。另一方面，若第3位置Q3離光軸CL過遠時，在使第1偏光濾光鏡121移動至光軸CL上的位置時會耗費時間，難以順利地移至其他攝像模式。由如上所示之觀點來看，本實施形態中的第3位置Q3係例如被設定為離光軸CL為30mm以上、50mm以下的範圍的距離。
其中，第3位置Q3較佳為被設定為離光軸CL為35mm以上、45mm以下的範圍的距離。
在第2攝像模式中，PVA薄膜的吸收軸與第2偏光濾光鏡123的第2吸收軸作正交尼可耳配置。在第2攝像模式中，可進行被配置在PVA薄膜與第2偏光濾光鏡123之間的光路上的TAC薄膜的缺陷檢查。
由光源120朝向偏光板(COP/PVA/TAC)被射出的光係透過COP薄膜，藉由PVA薄膜而形成為直線偏光。藉由PVA薄膜所得之直線偏光係入射至TAC薄膜。若在TAC薄膜沒有缺陷時，透過TAC薄膜的光係被第2偏光濾光鏡123所遮斷。因此，在攝像裝置122中係對黑畫像進行攝像。此時，TAC薄膜係被判定為「無缺陷」。
另一方面，若在TAC薄膜有缺陷時，入射至TAC薄膜的直線偏光係因缺陷而偏光狀態被弄亂，偏光狀態被弄亂的光的一部分會透過第2偏光濾光鏡123。結果，透過第2偏光濾光鏡123的光入射至攝像裝置122，藉由攝像裝置122，缺陷形成為亮點而被明亮攝像。此時，TAC薄膜係被判定為「有缺陷」。
如上所示，藉由第2攝像模式，可進行被積層在PVA薄膜的下面的TAC薄膜的正交尼可耳透過檢查，且可進行成為偏光板(COP/PVA/TAC)的貼合面側的TAC薄膜的缺陷檢查。
如第十四圖所示，在偏光板(COP/PVA/TAC)的液晶面板P的貼合面(TAC薄膜的表面)係配置有黏著層F16。偏光板(COP/PVA/TAC)係在液晶面板P的貼合面側配置TAC薄膜，透過黏著層F16而被貼合在液晶面板P。該構成係作為液晶面板P的翹曲對策為有效果的構成。
其中，在各攝像模式中，光源120與攝像裝置122係被固定在定位置。
如以上說明所示，本實施形態的缺陷檢查裝置102係藉由控制裝置132的控制，可自由選擇第1攝像模式及第2攝像模式。因此，即使在偏光板的構成為不同的情形下，亦可藉由相同的缺陷檢查裝置102來檢測各偏光板的貼合面側的缺陷。亦即，藉由本實施形態，不需要替換光源與攝像裝置的位置，亦不需要進行裝置構成的大幅變更。因此，藉由本實施形態，可輕易切換光學薄膜F10的一面側與另一面側的缺陷檢查。
此外，在本實施形態中，光學薄膜F10由被積層在偏光元件薄膜F11的上面上的COP薄膜F13、及被積層在偏光元件薄膜F11的下面上的
TAC薄膜F15所構成，第2供給部111及剝離部113被配置在偏光元件薄膜F11的供給路徑的上方側。藉由本發明人的精心研究，可知若將偏光板(COP/PVA/TAC)，在液晶面板P的貼合面側配置TAC薄膜而貼合在液晶面板P時，可使液晶面板P的翹曲狀態不同，會有必須進行成為偏光板(COP/PVA/TAC)的貼合面側的TAC薄膜側的缺陷檢查的情形。
但是，此時假設偏光濾光鏡僅被配置在光學薄膜的上方側時，若照原樣並無法進行成為偏光板的貼合面側的TAC薄膜側的缺陷檢查。因此，必須更換光源、偏光濾光鏡及攝像裝置的位置，且必須進行裝置構成的大幅變更。
相對於此，藉由本實施形態，使用相同的缺陷檢查裝置102，僅切換成第2攝像模式，即可進行成為偏光板的貼合面側的TAC薄膜側的缺陷檢查。
此外，在各攝像模式中，係光源120與攝像裝置122被固定在定位置的構成。因此，與使光源及攝像裝置移動的構成相比，可輕易進行光學薄膜F10的貼合面側的缺陷檢查。
(光學顯示裝置之生產系統)
以下以本發明之一實施形態之光學顯示裝置之生產系統而言，針對構成其一部分的薄膜貼合系統1進行說明。本實施形態之薄膜貼合系統1係藉由上述缺陷檢查裝置102來構成第1缺陷檢查裝置9及第2缺陷檢查裝置。
第十五圖及第十六圖係顯示本實施形態之薄膜貼合系統1的裝置構成的側視圖。
薄膜貼合系統1係在例如液晶面板或有機EL面板等面板狀的光學顯示
零件，貼合偏光薄膜或反射防止薄膜、光擴散薄膜等薄膜狀光學部件者。
在以下說明中，視需要設定XYZ正交座標系，一面參照該XYZ正交座標系，一面說明各部件的位置關係。在本實施形態中，將作為光學顯示零件的液晶面板的搬送方向設為X方向，將在液晶面板的面內與X方向呈正交的方向(液晶面板的寬幅方向)設為Y方向，與X方向及Y方向呈正交的方向設為Z方向。
其中，在本實施形態中，係例示液晶面板P作為光學顯示零件，例示在液晶面板P的表背兩面貼合貼合片材F5而成的兩面貼合面板作為光學部件貼合體，惟本發明並非限定於此。
如第十五圖及第十六圖所示，本實施形態之薄膜貼合系統1係作為液晶面板P之製造線之一工序而設。薄膜貼合系統1的各部係藉由作為電子控制裝置的控制部2來總括控制。
本實施形態之薄膜貼合系統1係對液晶面板P的搬送方向，將液晶面板P的姿勢在途中回旋90°。薄膜貼合系統1係在液晶面板P的表背面貼合互相將偏光軸朝向呈正交的方向的偏光薄膜F1。
第十七圖係將液晶面板P由其液晶層P3的厚度方向觀看的俯視圖。液晶面板P係具備有：俯視下呈長方形狀的第1基板P1；與第1基板P1相對向配置之呈較為小形的長方形狀的第2基板P2；及被封入在第1基板P1與第2基板P2之間的液晶層P3。液晶面板P係在俯視下呈沿著第1基板P1的外形狀的長方形狀，將在俯視下位於液晶層P3的外周的內側的區域設為顯示區域P4。
第十八圖係包含貼合在液晶面板P的光學部件F1的光學片
材F的剖面圖。
其中，在第十八圖中，為方便起見，省略剖面圖之各層的影線。
如第十八圖所示，光學片材F係具有：薄膜狀的光學部件F1；設在光學部件F1的一面(圖中為上面)的黏著層F2；透過黏著層F2而可分離地被積層在光學部件F1的一面的隔離件F3；及被積層在光學部件F1的另一面(圖中為下面)的表面保護薄膜F4。光學部件F1係作為偏光板來發揮功能，遍及液晶面板P的顯示區域P4的全域及其周邊區域予以貼合。
光學部件F1係在一邊在其一面殘留黏著層F2一邊將隔離件F3分離的狀態下，透過黏著層F2而被貼合在液晶面板P。以下，將由光學片材F除了隔離件F3以外的部分稱為貼合片材F5。
隔離件F3係在由黏著層F2被分離為止的期間保護黏著層F2及光學部件F1。表面保護薄膜F4係連同光學部件F1一起被貼合在液晶面板P。表面保護薄膜F4係對光學部件F1，被配置在與液晶面板P為相反側來保護光學部件F1，並且以預定的時序由光學部件F1被分離。
其中，亦可為光學片材F未包含表面保護薄膜F4的構成，或表面保護薄膜F4未由光學部件F1被分離的構成。
光學部件F1係具有：片材狀的偏光元件F6、以接著劑等被接合在偏光元件F6的其中一面的第1薄膜F7、及以接著劑等被接合在偏光元件F6的另一面的第2薄膜F8。第1薄膜F7及第2薄膜F8係例如保護偏光元件F6的保護薄膜。
其中，光學部件F1可為由一層光學層所構成的單層構造，亦可為複數光學層互相積層的積層構造。前述光學層係除了偏光元件F6以
外，亦可具有相位差薄膜或亮度提升薄膜等。第1薄膜F7與第2薄膜F8的至少一者亦可施行包含保護液晶顯示元件的最外面的硬塗覆處理、或抗眩光處理在內以獲得防眩等效果的表面處理。光學部件F1亦可未包含第1薄膜F7與第2薄膜F8的至少一者。例如若省略第1薄膜F7時，亦可使隔離件F3透過黏著層F2而貼合在光學部件F1的其中一面。
接著，詳加說明本實施形態之薄膜貼合系統1。
如第十五圖及第十六圖所示，本實施形態之薄膜貼合系統1係具備有：由圖中右側的液晶面板P的搬送方向上游側(+X方向側)至圖中左側的液晶面板P的搬送方向下游側(-X方向側)，在水平狀態下搬送液晶面板P的驅動式的滾輪輸送器3。
滾輪輸送器3係以反轉裝置(省略圖示)為交界被分為上游側輸送器與下游側輸送器。在上游側輸送器，液晶面板P係將顯示區域P4的長邊形成為沿著搬送方向來進行搬送。另一方面，在下游側輸送器，液晶面板P係將顯示區域P4的短邊形成為沿著搬送方向來進行搬送。對該液晶面板P的表背面貼合由帶狀光學片材F切出成預定長度的貼合片材F5。
本實施形態之薄膜貼合系統1係具備有：第1供給裝置7、第1貼合裝置11、反轉裝置、第2供給裝置、第2貼合裝置、檢查裝置、控制部2。
其中，關於反轉裝置、第2供給裝置、第2貼合裝置及檢查裝置，為方便起見，省略其圖示。
在第十五圖中，係在第1供給裝置及第2供給裝置之中列舉第1供給裝置7作為薄膜貼合系統1的裝置構成來進行說明。第2供給裝置係與第1供給裝置7為相同構成，故省略其詳細說明。
如第十五圖所示，第1供給裝置7係由捲繞有帶狀光學片材F的原材料捲R1拉出光學片材F，在切斷成預定尺寸之後進行供給。第1供給裝置7係具備有：第1搬送裝置8、檢查前剝離裝置18、第1缺陷檢查裝置9、檢查後貼合裝置19、第1切斷裝置10。
第1搬送裝置8係將光學片材F沿著其長邊方向進行搬送的搬送機構。第1搬送裝置8係具有：捲物保持部8a、夾持滾輪(nip roller)8b、導引滾輪8c、累積器(accumulator)8d、及收捲部8e(參照第十六圖)。
捲物保持部8a係保持捲繞有帶狀光學片材F的原材料捲R1，並且將光學片材F沿著其長邊方向依序送出。
夾持滾輪8b係夾著光學片材F，俾以將由原材料捲R1放捲的光學片材F沿著預定的搬送路徑進行導引。
導引滾輪8c係使搬送中的光學片材的進行方向沿著搬送路徑改變。複數導引滾輪8c之中至少一個係作為張力滾輪來發揮功能。
亦即，為可動，俾以調整搬送中的光學片材F的張力。
累積器8d係在光學片材F被第1切斷裝置10所切斷的期間，吸收由捲物保持部8a被搬送的光學片材F的依序送出量。
位於第1搬送裝置8的始點的捲物保持部8a與位於第1搬送裝置8的終點的收捲部8e(參照第十六圖)係例如互相同步驅動。藉此，捲物保持部8a一邊將光學片材F朝其搬送方向依序送出，一邊由收捲部8e捲繞經由第1貼合裝置11的隔離件F3。以下，將第1搬送裝置8中的光學片材F(隔離件F3)的搬送方向上游側稱為片材搬送上游側，搬送方向下游側稱為片材搬送下游側。
檢查前剝離裝置18係將第1隔離件H1(相當於隔離件F3)從由片材搬送上游側被搬送而來的光學片材F剝離且捲繞成捲物的構成。檢查前剝離裝置18係具有：刀刃18a、及收捲部18b。
刀刃18a係在光學片材F的寬幅方向，至少遍及其全幅延伸。
刀刃18a係以在由原材料捲R1放捲的光學片材F的第1隔離件H1側進行滑動接觸的方式將其纏繞。刀刃18a係在其前端部將光學片材F纏繞成銳角。刀刃18a係在其前端部將光學片材F翻折成銳角時，使貼合片材F5由第1隔離件H1分離。刀刃18a係將該貼合片材F5供給至第1缺陷檢查裝置9。
收捲部18b係捲繞經由刀刃18a而形成為單獨的第1隔離件H1，作為第1隔離件捲R2來進行保持。
第1缺陷檢查裝置9係進行第1隔離件H1剝離後的光學片材F，亦即貼合片材F5的缺陷檢查。第1缺陷檢查裝置9係對以CCD攝影機所攝像的畫像資料進行解析來檢查有無缺陷，若有缺陷時，即算出其位置座標。
該缺陷的位置座標係被提供至藉由第1切斷裝置10所為之跳切(skip cutting)。其中，第1缺陷檢查裝置9係藉由上述缺陷檢查裝置102所構成。
檢查後貼合裝置19係將第2隔離件H2(相當於隔離件F3)透過黏著層F2而貼合在缺陷檢查後的貼合片材F5。檢查後貼合裝置19係具有：捲物保持部19a、及夾壓滾子19b。
捲物保持部19a係保持捲繞有帶狀第2隔離件H2的第2隔離件捲R3，並且將第2隔離件H2沿著其長邊方向依序送出。
夾壓滾子19b係將由第2隔離件捲R3放捲的第2隔離件H2貼合在由片材搬送上游側被搬送的缺陷檢查後的貼合片材F5的下面(黏著層
F2側的面)。夾壓滾子19b係具有互相將軸方向形成為平行所配置的一對貼合滾輪(上面的貼合滾輪係上下移動)。在一對貼合滾輪間係形成預定間隙，該間隙內成為檢查後貼合裝置19的貼合位置。貼合片材F5及第2隔離件H2相疊合而被導入至前述間隙內。該等貼合片材F5及第2隔離件H2一邊被夾壓滾子19b夾壓一邊被送出至片材搬送下游側。藉此，在缺陷檢查後的貼合片材F5的下面貼合第2隔離件H2，形成光學片材F。
第1切斷裝置10係當光學片材F被依序送出預定長度時，遍及與光學片材F的長邊方向呈正交的寬幅方向的全幅，進行將光學片材F的厚度方向的一部分進行切斷的半切割。
第1切斷裝置10係以光學片材F(隔離件F3)不會因在光學片材F搬送中所作用的張力而破斷的方式(以預定的厚度殘留在隔離件F3的方式)，調整切斷刃的進退位置，且至黏著層F2與隔離件F3的界面的近傍為止施行半切割。其中，亦可使用取代切斷刃的雷射裝置。
在半切割後的光學片材F，在其厚度方向，光學部件F1及表面保護薄膜F4被切斷，藉此形成遍及光學片材F的寬幅方向的全幅的切口線。切口線係以帶狀光學片材F的長邊方向排列複數的方式形成。若為例如搬送同一尺寸的液晶面板P的貼合工序，複數切口線係以光學片材F的長邊方向以等間隔形成。光學片材F係藉由前述複數切口線，在長邊方向被分為複數區劃。被光學片材F中在長邊方向相鄰的一對切口線所夾的區劃係分別形成為貼合片材F5中的一個片材片。
第1切斷裝置10係根據以第1缺陷檢查裝置9所被算出的缺陷的位置座標，以避開缺陷部分的方式切斷成預定尺寸(跳切(skip cutting))。
包含缺陷部分的切斷品係作為不良品而在後工序中被排除。其中，第1切斷裝置10亦可忽略缺陷部分而將光學片材F連續切斷成預定尺寸。此時，在貼合片材F5與液晶面板P的貼合工序中，可將包含缺陷部分的切斷品未貼合在液晶面板P地去除。
在第十六圖中係在第1貼合裝置及第2貼合裝置之中列舉第1貼合裝置11作為薄膜貼合系統1的裝置構成來進行說明。第2貼合裝置係與第1貼合裝置11為相同構成，故省略其詳細說明。
如第十六圖所示，第1貼合裝置11係對被導入至貼合位置的液晶面板P的上面，進行切割成預定尺寸的貼合片材F5的貼合。第1貼合裝置11係具有：刀刃11a、及夾壓滾子11b。
刀刃11a係將施行半切割的光學片材F纏繞成銳角而一邊使貼合片材F5由隔離件F3分離一邊將該貼合片材F5供給至貼合位置。
夾壓滾子11b係將由刀刃11a由光學片材F分離的預定長度的貼合片材F5貼合在藉由上游側輸送器被搬送的液晶面板P的上面。夾壓滾子11b係具有互相將軸方向形成為平行所配置的一對貼合滾輪。在一對貼合滾輪間係形成有預定間隙，該間隙內成為第1貼合裝置11的貼合位置。液晶面板P及貼合片材F5相疊合而被導入至前述間隙內。該等液晶面板P及貼合片材F5一邊被夾壓滾子11b夾壓一邊被送出至上游側輸送器的面板搬送下游側。藉此，在液晶面板P的上面一體貼合貼合片材F5。以下，將該貼合後的面板稱為單面貼合面板P11。
收捲部8e係捲繞經由刀刃11a而形成為單獨的第2隔離件H2，作為第2隔離件捲R4來進行保持。
反轉裝置(省略圖示)係被設在比第1貼合裝置11更為面板搬送下游側，將到達至上游側輸送器的終點位置的液晶面板P搬送至下游側輸送器的開始位置。
反轉裝置係藉由吸附或夾持等來保持經由第1貼合裝置11而到達上游側輸送器的終點位置的單面貼合面板P11。反轉裝置係使單面貼合面板P11的表背反轉。反轉裝置係例如使原與前述顯示區域P4的長邊呈平行被搬送的單面貼合面板P11，以與顯示區域P4的短邊呈平行被搬送的方式進行方向轉換。
前述反轉係在貼合在液晶面板P的表背面的各光學部件F1將偏光軸方向互相配置成直角的情形下進行。
其中，若僅使液晶面板P的表背反轉時，若使用例如具有與搬送方向呈平行的旋動軸的反轉臂的反轉裝置即可。此時，若將第1供給裝置7的片材搬送方向與第2供給裝置的片材搬送方向在俯視下互相形成為直角來作配置，即可在液晶面板P的表背面貼合互相將偏光軸方向形成為直角的光學部件F1。
第2供給裝置係與第1供給裝置7為相同構成，故省略其詳細說明。第2供給裝置係由捲繞有帶狀光學片材F的原材料捲拉出光學片材F，在切斷成預定尺寸之後進行供給。雖未圖示，第2供給裝置係具備有：第2搬送裝置、檢查前剝離裝置、第2缺陷檢查裝置、檢查後貼合裝置、第2切斷裝置。
第2貼合裝置係對被導入至貼合位置的液晶面板P的上面，進行切割成預定尺寸的貼合片材F5的貼合。第2貼合裝置係具有：與第1貼
合裝置11相同的刀刃、及夾壓滾子。
在夾壓滾子的一對貼合滾輪間的間隙內(第2貼合裝置的貼合位置)，單面貼合面板P11及貼合片材F5在相疊合的狀態下被導入，且在單面貼合面板P11的上面一體貼合貼合片材F5。以下將該貼合後的面板稱為兩面貼合面板(光學部件貼合體)。
檢查裝置(省略圖示)係被設在比第2貼合裝置更為面板搬送下游側。檢查裝置係檢查兩面貼合面板有無缺陷(貼合不良等)。以成為檢查對象的缺陷而言，列舉有當將液晶面板與貼合片材貼合時的異物或氣泡的陷捕、貼合片材的表面的損傷、存在於液晶面板的配向不良等缺陷等。
其中，在本實施形態中作為總括控制薄膜貼合系統1的各部的電子控制裝置的控制部2係構成為包含電腦系統。該電腦系統係具備：中央處理器(CPU)等運算處理部、及記憶體或硬碟等記憶部。本實施形態之控制部2係包含可執行與電腦系統的外部裝置的通訊的界面。在控制部2亦可連接可輸入輸入訊號的輸入裝置。上述輸入裝置係包含：鍵盤、滑鼠等輸入機器、或可輸入來自電腦系統的外部裝置的資料的通訊裝置等。控制部2係可包含表示薄膜貼合系統1之各部的動作狀況的液晶顯示顯示器等顯示裝置，亦可與顯示裝置相連接。
在控制部2的記憶部係安裝有控制電腦系統的作業系統(OS)。在控制部2的記憶部係記錄有藉由使運算處理部控制薄膜貼合系統1的各部，使薄膜貼合系統1的各部執行用以精度佳地搬送光學片材F的處理的程式。包含被記錄在記憶部的程式的各種資訊係可由控制部2的運算處理部讀取。控制部2亦可包含執行薄膜貼合系統1的各部的控制所需的各種處
理的ASIC(Application Specific Integrated Circuit，特定功能積體電路)等邏輯電路。
記憶部係包含RAM(Random Access Memory，隨機存取記憶體)、ROM(Read Only Memory，唯讀記憶體)等半導體記憶體、或硬碟、唯讀記憶光碟(CD-ROM)讀取裝置、碟片型記憶媒體等外部記憶裝置等的概念。記憶部在功能上係設定記憶記述有第1供給裝置7、第1貼合裝置11、反轉裝置、第2供給裝置、第2貼合裝置、檢查裝置的動作的控制順序的程式軟體的記憶區域、其他各種記憶區域。
如以上說明所示，本實施形態之第1缺陷檢查裝置9係藉由上述缺陷檢查裝置102所構成。因此，即使在貼合片材F5的構成為不同的情形下，亦可藉由相同的缺陷檢查裝置102來檢測各貼合片材F5的貼合面側的缺陷。
因此，藉由本實施形態，可輕易切換貼合片材F5的一面側與另一面側的缺陷檢查。
以上一面參照所附圖示，一面說明本實施形態之較適實施形態例，惟本發明並非限定於該例，自不待言。在上述例中所示之各構成部件的諸形狀或組合等為一例，在未脫離本發明之主旨的範圍內，可根據設計要求等來作各種變更。
Claims (5)
- 一種缺陷檢查裝置，其係包含偏光元件之光學部件之缺陷檢查裝置，其包含：光源，其係被配置在前述光學部件的第1側，對前述光學部件照射光；攝像裝置，其係被配置在前述光學部件的第2側，對因來自前述光學部件的透過光所得之像進行攝像；第1偏光濾光鏡，其係被配置在前述光源與前述光學部件之間的光路上，具有與前述偏光元件的吸收軸呈正交的第1吸收軸；第2偏光濾光鏡，其係被配置在前述攝像裝置與前述光學部件之間的光路上，具有與前述偏光元件的吸收軸呈正交的第2吸收軸；第1移動裝置，其係使前述第1偏光濾光鏡相對前述光源與前述光學部件之間的光路作進退移動；第2移動裝置，其係使前述第2偏光濾光鏡相對前述攝像裝置與前述光學部件之間的光路作進退移動；及控制裝置，其係控制前述第1移動裝置及前述第2移動裝置之進退移動，而使前述第1偏光濾光鏡或前述第2偏光濾光鏡配置於從前述光路偏離的位置。
- 如申請專利範圍第1項所述之缺陷檢查裝置，其中，前述控制裝置係在第1攝像模式中，以前述第1移動裝置使前述第1偏光濾光鏡移動至前述光源與前述光學部件之間的光路上的方式進行控制，並且以前述偏光元件的吸收軸與前述第1吸收軸呈正交的方式進行前述第1偏 光濾光鏡的配置的控制，而且，以前述第2移動裝置使前述第2偏光濾光鏡移動至由前述攝像裝置與前述光學部件之間的光路上偏離的位置的方式進行控制，前述控制裝置係在第2攝像模式中，以前述第1移動裝置使前述第1偏光濾光鏡移動至由前述光源與前述光學部件之間的光路上偏離的位置的方式進行控制，而且，以前述第2移動裝置使前述第2偏光濾光鏡移動至前述攝像裝置與前述光學部件之間的光路上的方式進行控制，並且以前述偏光元件的吸收軸與前述第2吸收軸呈正交的方式進行前述第2偏光濾光鏡的配置的控制。
- 一種光學部件之製造系統，其係包含偏光元件之光學部件之製造系統，其包含：光學部件的製造裝置，其係製造前述光學部件；及如申請專利範圍第1項或第2項所述之缺陷檢查裝置，其係檢查前述光學部件有無缺陷。
- 如申請專利範圍第3項所述之光學部件之製造系統，其中，前述光學部件係包含：偏光元件、被積層在前述偏光元件的第1面上的第1保護層、及被積層在前述偏光元件的第2面上的第2保護層，前述光學部件的製造裝置係包含：第1供給部，其係供給前述偏光元件；第2供給部，其係被配置在前述偏光元件的供給路徑的第1側，且供給積層部件，該積層部件包含：前述第1保護層、及被積層在前述 第1保護層的第3面上的第3保護層；第3供給部，其係被配置在前述偏光元件的供給路徑的第2側，且供給前述第2保護層；及剝離部，其係被配置在前述偏光元件的供給路徑的第1側，且使前述第3保護層由前述積層部件剝離而形成為前述第1保護層。
- 一種光學顯示裝置之生產系統，其係在光學顯示零件貼合光學部件而成之光學顯示裝置之生產系統，其包含：搬送裝置，其係用以搬送前述光學部件；貼合裝置，其係將以前述搬送裝置所被搬送的前述光學部件貼合在前述光學顯示零件來製作前述光學顯示裝置；及如申請專利範圍第1項或第2項所述之缺陷檢查裝置，其係檢查由前述搬送裝置被搬送至前述貼合裝置的前述光學部件有無缺陷。
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