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TWI689053B - 具有非平面特徵及無鹼玻璃元件的玻璃物件 - Google Patents

具有非平面特徵及無鹼玻璃元件的玻璃物件 Download PDF

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TWI689053B
TWI689053B TW104136532A TW104136532A TWI689053B TW I689053 B TWI689053 B TW I689053B TW 104136532 A TW104136532 A TW 104136532A TW 104136532 A TW104136532 A TW 104136532A TW I689053 B TWI689053 B TW I689053B
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葛羅斯提摩西麥克
修史達克保羅約翰
威克斯溫德爾波特
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美商康寧公司
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Abstract

電子裝置組件包括背板，背板具有實質無鹼離子的玻璃組成、約40吉帕至約100吉帕的彈性模數和約20μm至約100μm的最終厚度。背板的主表面的特徵在於預先從初始厚度移除材料達最終厚度，初始厚度比最終厚度大至少20μm。組件亦包括保護層，位於背板的第一主表面；及複數個電子部件，位於背板的第二主表面。此外，背板配置有至少一靜態彎曲，靜態彎曲的彎曲半徑為約25毫米至約5毫米。電子裝置組件的電子部件可包括至少一薄膜電晶體(TFT)元件或有機發光二極體(OLED)元件。

Description

具有非平面特徵及無鹼玻璃元件的玻璃物件 【交互參照之相關申請案】
本申請案根據專利法法規主張西元2014年11月5日申請的美國臨時專利申請案第62/075,599號的優先權權益，本申請案依賴該臨時申請案全文內容且該臨時申請案全文內容以引用方式併入本文中。
本發明大體係關於具一或更多靜態非平面特徵結構的玻璃物件、堆疊組件與電子裝置組件和各種製作方法。更特別地，本發明係關於含無鹼玻璃元件的物件變體與組件和製作方法。
傳統剛性及/或平面性可撓與彎曲產品和部件正概念化為新應用。例如，可撓電子裝置可提供薄、輕與可撓性，而提供機會做為新應用，例如彎曲顯示器和穿戴式裝置。許多可撓電子裝置需要可撓基板來保持及裝設裝置的電子部件。聚合物箔具有一些優點，包括抗疲勞失效，但具最低限度透光度、缺乏熱穩定性和有限氣密性的缺點。當聚合物箔用作電子裝置用背板或基板時，有限耐溫性將大大限制用於該等裝置的電子元件處理及製造。
一些具靜態非平面特徵結構的電子裝置亦可利用可撓顯示器。例如，靜態非平面特徵結構可構成具斜邊、朝安放顯示器的裝置長度方向彎曲、朝安放顯示器的裝置寬度方向彎曲和其他彎曲、彎折或非平面顯示特徵結構排列的顯示器。透光度和熱穩定性通常是可撓顯示器應用的重要性質。此外，具靜態非平面特徵結構的可撓顯示器應具高靜態疲勞與穿刺抗性，包括抗小彎曲半徑失效，特別係具觸控螢幕功能及一或更多表面實質彎曲的可撓顯示器。
習知可撓玻璃材料提供具一或更多靜態非平面特徵結構的基板及/或顯示器應用所需的許多性質。然將玻璃材料用於該等應用迄今仍未很成功。通常，玻璃基板可製造成非常低的厚度量級(<25微米(μm))，以實現越來越小的彎曲半徑。然「薄」玻璃基板具有有限穿刺抗性。同時，厚玻璃基板(>150μm)可製造成具較佳穿刺抗性，但彎曲成一或更多靜態非平面形狀後，基板將無適當靜態疲勞抗性和機械可靠性。此外，一些習知玻璃基板組成的缺點為含有大量鹼離子。由該等組成製作的玻璃基板易受鹼離子遷移影響，以致降低裝設於基板上的電子裝置和部件性能。
因此，需要能可靠用於具一或更多靜態非平面特徵結構的背板、基板及/或顯示器應用的玻璃材料、部件和組件，特別係用於非平面狀電子裝置應用。
根據一態樣，提供電子裝置組件，組件包括背板，背板具有實質無鹼離子的玻璃組成、約40吉帕(GPa)至約100GPa的彈性模數和約20μm至約100μm的最終厚度。背板亦具有第一主表面和第二主表面。主表面的特徵在於預先從初始厚度移除材料達最終厚度，初始厚度比最終厚度大至少20μm。組件亦包括保護層，位於背板的第一主表面；及複數個電子部件，位於背板的第二主表面。此外，背板配置有至少一靜態彎曲，靜態彎曲的彎曲半徑為約25毫米(mm)至約5mm。在一些情況下，背板的彎曲半徑可設為約15mm至約5mm。根據一些實施方式，電子裝置組件的電子部件包含至少一薄膜電晶體(TFT)元件或有機發光二極體(OLED)元件。
在本發明的某些態樣中，電子裝置組件進一步包括在複數個電子部件上面的蓋體，蓋體具有約25μm至約125μm的厚度、第一主表面、第二主表面和半徑實質等於背板彎曲半徑的至少一靜態彎曲。蓋體亦包括第一玻璃層，具有至少90%的光透射率和第一主表面；及壓縮應力區，從第一玻璃層的第一主表面延伸到第一玻璃層內的第一深度，該區在第一玻璃層的第一主表面由至少約100MPa的壓縮應力定義。蓋體的進一步特徵在於：當蓋體的第一主表面由(i)彈性模數小於約1GPa的約25μm厚感壓膠和(ii)彈性模數小於約10GPa的約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且蓋體 的第二主表面裝有不鏽鋼銷，不鏽鋼銷具有直徑200μm的平底時，穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及鉛筆硬度為大於或等於8H。
根據一附加態樣，電子裝置組件進一步包括在複數個電子部件上面的蓋體，蓋體具有玻璃組成和半徑實質等於背板彎曲半徑的至少一彎曲特徵結構。蓋體的特徵還在於光透射率為至少90%；當蓋體的第一主表面由(i)彈性模數小於約1GPa的約25μm厚感壓膠和(ii)彈性模數小於約10GPa的約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且蓋體的第二主表面裝有不鏽鋼銷，不鏽鋼銷具有直徑200μm的平底時，穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及鉛筆硬度為大於或等於8H。
在本發明電子裝置組件的某些態樣中，組件亦包括封裝物，封裝物位於蓋體下面並接合背板，封裝物配置以封裝複數個電子部件。電子裝置組件的一些實施方式包括封裝物，封裝物位於蓋體下面並接合背板，封裝物配置以封裝複數個電子部件。此外，封裝物的厚度為約25μm至約125μm，且進一步包含：(a)第二玻璃層，具有至少90%的光透射率和第一主表面；及(b)壓縮應力區，從第二玻璃層的第一主表面延伸到第二玻璃層內的第一深度，該區在第二玻璃層的第一主表面由至少約100MPa的壓縮應力定義。封裝物的進一步特徵在於至少一彎曲特徵結構，彎曲特徵結構的半徑實質等於背板彎曲半徑。
在本發明的又一態樣中，電子裝置組件進一步包括封裝物，封裝物位於蓋體下面並接合背板，封裝物進一步配置以封裝複數個電子部件；及保護層，位於封裝物的第一主表面。在此態樣中，封裝物的特徵進一步在於：玻璃組成實質無鹼離子且光透射率為至少90%；彈性模數為約40GPa至約100GPa；最終厚度為約20μm至約100μm；第一主表面；及第二主表面，主表面的特徵在於預先從初始厚度移除材料達最終厚度，初始厚度比最終厚度大至少20μm。封裝物的特徵進一步在於半徑實質等於背板彎曲半徑的至少一彎曲特徵結構或靜態彎曲。
根據一附加態樣，提供形成電子裝置組件的方法，方法包括下列步驟：形成背板，背板具有實質無鹼離子的玻璃組成、約40GPa至約100GPa的彈性模數、比最終厚度大至少20μm的初始厚度、第一主表面和第二主表面；及從背板的初始厚度移除材料，以定義最終厚度，最終厚度為約20μm至約100μm。方法亦包括下列步驟：形成保護層至背板的第一主表面上；於背板的第二主表面配置複數個電子部件；及在於背板的第二主表面配置複數個電子部件的步驟後，在背板中形成至少一靜態彎曲，靜態彎曲具有約25mm至約5mm的彎曲半徑。
在形成電子裝置組件的方法的某些態樣中，方法進一步包括下列步驟：在複數個電子部件上面形成 蓋體，蓋體具有約25μm至約125μm的厚度、第一主表面和第二主表面。蓋體亦包括光透射率至少90%的第一玻璃層和第一主表面；及壓縮應力區，從第一玻璃層的第一主表面延伸到第一玻璃層內的第一深度，該區在第一玻璃層的第一主表面由至少約100MPa的壓縮應力定義。蓋體的特徵還在於，當蓋體的第一主表面由(i)彈性模數小於約1GPa的約25μm厚感壓膠和(ii)彈性模數小於約10GPa的約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且蓋體的第二主表面裝有不鏽鋼銷，不鏽鋼銷具有直徑200μm的平底時，穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及鉛筆硬度為大於或等於8H。方法亦包括下列步驟：使蓋體彎曲，以形成至少一靜態彎曲，靜態彎曲的半徑實質等於背板中靜態彎曲的彎曲半徑。
在形成電子裝置組件的方法的某些態樣中，方法包括下列步驟：用封裝物密封背板；及用封裝物封裝複數個電子部件。根據一些實施例，封裝物包括約25μm至約125μm的厚度、光透射率至少90%的第二玻璃層、第一主表面和第二主表面。封裝物亦包括壓縮應力區，從第二玻璃層的第一主表面延伸到第二玻璃層內的第一深度，該區在第二玻璃層的第一主表面由至少約100MPa的壓縮應力定義；及至少一彎曲特徵結構，具有實質等於背板中靜態彎曲的彎曲半徑的半徑。某些態樣包括在密封封裝物與背板的步驟前，使封裝物彎曲， 以形成至少一彎曲特徵結構的步驟。在上述方法的另一態樣中，密封步驟包括熔塊密封封裝物與背板的步驟。
附加特徵和優點將詳述於後，熟諳此技術者在參閱或實行所述實施例後，包括以下詳細實施方式說明、申請專利範圍和附圖，在某種程度上將變得更清楚易懂。
應理解以上概要說明和下述詳細說明僅為舉例說明，及擬提供概觀或架構以對申請專利範圍的本質和特性有所瞭解。所含附圖提供進一步瞭解，故當併入及構成說明書的一部分。圖式描繪一或更多實施例，並連同實施方式說明一起用於解釋各種實施例的原理和操作。在此所用方向用語僅參考繪圖使用，例如上、下、右、左、前、後、頂部、底部，而無意隱射絕對位向。
40、40a:彎曲半徑
50:玻璃元件
52:最終厚度
54、56:主表面
60、60a:實質無裂縫區
62、62a、72:厚度
70:保護層
100、100a:堆疊組件
140、140a:彎曲半徑
150:背板
152:厚度
154、156:主表面
160、160a:實質無裂縫區
162、162a:深度
170:保護層
180:電子部件
200、200a:電子裝置組件
250:封裝物
250a:玻璃層
254、254a:主表面
255、255a:半徑
256a:主表面
258、258b:壓縮應力區
258a、258c:深度
260:蓋體
260a:玻璃層
264、264a、266、266a:主表面
265、265a:半徑
268、268b:壓縮應力區
268a、268c:深度
300、300a:電子裝置組件
第1圖係一組具蝕刻及頂壓主表面的可撓玻璃樣品和另一組具蝕刻主表面的可撓玻璃樣品的失效機率對失效負載韋伯(Weibull)圖。
第2圖係根據本發明一態樣，可彎曲堆疊組件的透視圖，組件包含組成實質無鹼離子的無鹼玻璃元件和保護層。
第2A圖係第2圖所示堆疊組件的截面圖。
第2B圖係根據本發明另一態樣，將組件彎曲成具規定半徑的靜態彎曲構造後，第2圖所示堆疊組件的截面圖。
第2C圖係根據本發明一態樣，將組件彎曲成具規定半徑的二靜態彎曲構造後，第2圖所示堆疊組件的截面圖。
第3圖及第3A圖圖示根據本發明進一步態樣的可彎曲堆疊組件設計構造，特別係關於最大彎曲半徑、彈性模數和用於組件的無鹼玻璃元件厚度。
第4圖係根據本發明一附加態樣，電子裝置組件的截面圖，組件包括具無鹼玻璃組成的背板、保護層、位於背板上的電子裝置和背板的靜態彎曲，使含電子裝置的表面受壓縮。
第4A圖係根據本發明一態樣，電子裝置組件的截面圖，組件包括具無鹼玻璃組成的背板、保護層、位於背板上的電子裝置和背板的二靜態彎曲，使含電子裝置的表面受拉伸。
第5圖係併入第4圖所示電子裝置組件和封裝物與蓋體的電子裝置組件截面圖，蓋體的靜態彎曲實質等於第4圖所示組件背板的靜態彎曲。
第5A圖係併入第4A圖所示電子裝置組件和封裝物與蓋體的電子裝置組件截面圖，蓋體的靜態彎曲實質等於第4圖所示組件背板的靜態彎曲。
現將詳述本發明較佳實施例，實施例範例乃圖示如附圖。盡可能以相同的元件符號表示各圖中相同或相仿的零件。範圍在此表示成從「約」一特定值及/ 或到「約」另一特定值。依此表示範圍時，另一實施例將包括從一特定值及/或到另一特定值。同樣地，數值以先行詞「約」表示成近似值時，當理解特定值會構成另一實施例。更應理解各範圍的終點相對另一終點係有意義的，並且獨立於另一終點。
在其他特徵和優點方面，本發明的堆疊組件、玻璃元件和玻璃物件(及製作方法)提供小彎曲半徑的機械可靠性(例如靜態張力和疲勞)。小彎曲半徑及降低鹼離子遷移影響特別有利於當堆疊組件、玻璃元件及/或玻璃物件用作非平面顯示器及/或具一或更多靜態非平面特徵結構的顯示器的基板或背板部件時。例如，元件、組件或物件可用於顯示器，其中部分顯示器具有靜態斜邊或其他具定義曲率的靜態特徵結構。本發明物件的可撓性容許物件於製造成預定非平面最終形狀期間成型，同時在應用環境中維持非平面形狀的機械完整性與可靠性。更大體而言，堆疊組件、玻璃元件及/或玻璃物件可用作一或更多：蓋體，位於可摺疊顯示器的面使用者部分，此處穿刺抗性尤其重要；基板，設在裝置本身內部，電子部件設置於上；或用於可摺疊顯示裝置，例如做為封裝層。或者，堆疊組件、玻璃元件及/或玻璃物件可用於不具顯示器、但善用玻璃層有益性質且以類似前述具此特徵結構的顯示器方式配置有一或更多靜態非平面特徵結構的裝置。
根據本發明一態樣，提供可彎曲堆疊組件，組件包括組成實質無鹼離子、彈性模數約40GPa至約100GPa、最終厚度約20μm至約100μm的玻璃元件。組件亦包括至少一保護層在玻璃元件的一或更多主表面上面。玻璃元件的最終厚度係經材料移除製程後的元件厚度，例如蝕刻製程，此自玻璃元件各表面移除至少10微米。此外，堆疊組件的玻璃元件具有一或更多具規定半徑的靜態彎曲。
無鹼可彎曲玻璃物件能否彎曲成預定構造、又不會在靜態及/或循環條件下失效至少部分取決於物件強度。物件強度通常取決於相對施加至物件的應力場的物件裂縫尺寸和分佈。製造期間，無鹼玻璃基板切割、單粒化或以其他方式切成最終或近最終形狀。該等製程和相關操縱往往引入裂縫至物件，以致降低物件強度和韌性。因此，無鹼玻璃板通常呈250兆帕(MPa)或以下的強度量級。無鹼玻璃組成的抗斷韌性(K IC )值通常為0.8兆帕．公尺1/2(MPa．m1/2)。利用以下方程式(1)可估計遭操縱及製造相關損壞的物件的最大裂縫尺寸為約2.6微米：K IC =Y*σ*a 1/2 (1)其中a係最大裂縫尺寸，Y係憑經驗決定的裂紋形狀因子，就表面刮痕而言為約1.12*π1/2，此一般與單粒化及製造相關操縱損壞如顯示裝置用玻璃元件有關。
藉由減小密度和裂縫尺寸，材料移除製程可有效改善無鹼玻璃物件(和其他玻璃組成)內的裂縫分佈，例如單粒化後進行的酸蝕程序。熟諳此技術者可採用其他方式來從玻璃移除材料(例如雷射蝕刻)。根據本發明一態樣，材料移除製程可加強無鹼玻璃元件的強度達1000MPa或以上的強度量級。鑑於方程式(1)，材料移除製程可使最大裂縫尺寸a減小成約162奈米(nm)。
由於操縱及單粒化會損壞物件，亦預期在材料移除製程後減少及甚至小心操縱無鹼玻璃物件(和具其他玻璃組成的物件)也會顯著降低由材料移除程序獲得的物件增強強度。第1圖顯示失效負載與失效機率的韋伯圖，以證實此點。特別地，一組經材料移除製程及小立方角頂壓的非強化Corning Gorilla®玻璃(即「B1-深蝕刻」組)證實強度值明顯比具相同組成與材料移除製程條件的樣品組(即「A1-深蝕刻」組)低。在第1圖中，測試樣品的原始厚度為約200微米，經深酸蝕程序後，厚度減為75微米。在B1組中，樣品遭約10克力(gf)立方角頂壓。
再次參照第1圖，A1組證實在失效機率10%或以上時，強度值超過1000MPa。另外，強度值遠低於1000MPa的二資料點認為是測試相關操縱期間無意損壞的異常值。如此，第1圖所示A1組的韋伯模數(即失效機率對施效應力的斜率)在某種意義上亦保守包括 二異常值。若忽略該組的異常值，則所得韋伯模數指示估計強度值超過1000MPa的失效機率很可能為2%或以上。相較之下，B1樣品組證實在所有失效機率下，強度值為200MPa或以下。失效機率2%時，預期強度為約150MPa。比較第1圖產生與非強化Corning Gorilla®玻璃樣品相關的資料與無鹼玻璃樣品產生的強度資料。雖然具無鹼玻璃組成與非強化Corning Gorilla®玻璃組成的樣品組的強度值和韋伯模數略為不同，但第1圖所示立方角頂壓相關強度降低趨勢據察為實質相同。
有鑑於此，本發明一態樣為增加保護層至無鹼玻璃元件受到來自最終應用或產品構造的靜態彎曲及/或彎曲特徵結構所形成拉伸應力的一或更多表面。預期保護層將確保在將玻璃元件安裝到電子裝置或其他物件前，仍保持無鹼玻璃元件在額外操縱及製造過程的增強強度量級。例如，保護層可施用於無鹼玻璃元件受到出自製造做為最終設計部分期間施加或形成於元件的永久性或半永久性彎曲及/或曲率張力的主表面。在一些態樣中，保護層乃施用成與無鹼玻璃元件的待保護表面接觸減至最少。薄聚合物材料膜，例如厚度100微米或以下的聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)，可使用厚度100微米或以下的膠層黏附至無鹼玻璃元件的主表面，而予以保護。在某些實施例中，保護層包含奈米二氧化矽微粒與環氧樹脂或胺基甲酸乙酯材料的混合物，厚度為約5微米 至約50微米。另外，可利用任一或更多下列塗佈應用技術施用保護層：浸泡、噴塗、滾塗、縫模、淋塗、噴墨、平版印刷、凹版印刷、間接凹版、刷塗、轉印、澆鑄及固化和熟諳操作技術領域者已知的其他適合製程。混合物亦可用於保護預期受到來自最終設計構造相關元件的靜態彎曲拉伸應力的無鹼玻璃元件邊緣。
參照第2圖至第2C圖，其圖示根據本發明一態樣的可彎曲堆疊組件100、100a。組件100包括玻璃元件50，玻璃元件50具有實質無鹼離子的組成、約40GPa至約100GPa的彈性模數、約20μm至約100μm的最終厚度52、第一主表面54和第二主表面56。在第2B圖中，靜態彎曲施加於可彎曲堆疊組件100，使第一主表面54實質受拉伸，第二主表面56實質受壓縮。在第2C圖中，二靜態彎曲施加於可彎曲堆疊組件100a，使第一主表面54實質受壓縮，第二主表面56實質受拉伸。在一些態樣中，一或更多靜態彎曲施加於堆疊組件100、100a的一或更多主表面54、56。
如第2圖至第2C圖所示，主表面54、56的特徵在於預先從初始厚度移除材料達最終厚度52，初始厚度比最終厚度52大至少20μm。玻璃元件在第一主表面54上亦包括具厚度72的保護層70。在一些附加態樣中，保護層70施用於第二主表面56或二主表面54、56。此外，可彎曲堆疊組件100的玻璃元件50的特徵在於當元件50遭以彎曲半徑40約100mm或以下、75mm或 以下、50mm或以下、25mm或以下、小至約5mm的靜態彎曲時沒有失效(參見第2B圖)。同樣地，可彎曲堆疊組件100a的玻璃元件50的特徵在於當元件50遭以彎曲半徑40a約100mm或以下、75mm或以下、50mm或以下、25mm或以下、小至約5mm的靜態彎曲時沒有失效(參見第2C圖)。在一些態樣中，視玻璃元件50的厚度與模數和元件受拉伸區內的裂縫分佈等而定，更小的彎曲半徑40、40a也可行。
根據一些態樣，第2圖至第2C圖所示玻璃元件50的組成具有各少於0.5莫耳%的Li2O、Na2O、K2O、Rb2O和Cs2O。在某些實施方式中，玻璃元件50的無鹼本質特徵在於各少於0.45莫耳%、0.40莫耳%、0.35莫耳%、0.30莫耳%、0.25莫耳%、0.20莫耳%、0.15莫耳%、0.10莫耳%或0.05莫耳%的Li2O、Na2O、K2O、Rb2O和Cs2O。
在一些實施方式中，第2圖至第2C圖所示可彎曲堆疊組件100、100a包括玻璃元件50，元件50的特徵在於在約25℃及約50%相對溼度下，當元件50包括遭以彎曲半徑40、40a約15mm的一或更多靜態彎曲時沒有失效。在其他態樣中，元件50的特徵在於在相同或類似測試條件下，當元件包括遭以彎曲半徑5mm的一或更多靜態彎曲時沒有失效。第2圖至第2C圖所示堆疊組件100、100a在符合預期應用環境的其他測試條件下(例如在前述數值的約±10%以內的溼度及/或溫度量 級)亦能達成相同或類似彎曲半徑(例如在前述彎曲半徑的約±10%以內)。
再次參照第2圖至第2C圖，可彎曲堆疊組件100、100a的保護層70在玻璃元件50的主表面54(在一些態樣中為及/或第二主表面56)可包含不同材料。較佳地，保護層70包含厚度72至少5微米的聚合物材料。在一些態樣中，視玻璃元件50的厚度而定，保護層70的厚度72可為5微米至50微米。較佳為採用厚度72為前述範圍下限的保護層70用於薄玻璃元件，以免元件因保護層處理收縮而翹曲。隨著玻璃元件厚度增加，根據一些態樣，保護層70的厚度72亦可在前述範圍內增加。此外，當保護層70待置於玻璃元件50的表面而將在成型狀態受到拉伸時，保護層70可製作成減少對玻璃元件50的拉伸應力的貢獻。例如，保護層70的厚度及/或模數可選擇為小於玻璃元件50。
保護層70可包含奈米二氧化矽微粒和環氧樹脂與胺基甲酸乙酯材料的至少一者。保護層70的組成和其他適合替代組成亦揭示於西元2014年10月17日申請的美國專利申請案第14/516,685號。在一較佳實例中，具下列組成的胺基甲酸乙酯可用於保護層70：50%的寡聚物(Ebecryl® 8311：40% 20nm奈米二氧化矽分散於脂族胺基甲酸乙酯丙烯酸酯)、43.8%的單體(Sartomer Arkema SR531：環三羥甲基丙烷甲縮醛丙烯酸酯)、0.2%的光起始劑(MBF：苯甲醯甲 酸甲酯)、3.0%的矽烷黏著促進劑(APTMS：3-丙烯醯氧基丙基三甲氧基矽烷)和3.0%的黏著促進劑(Sartomer Arkema CD9053：備於TMPEOTA丙烯酸酯磷酸酯)。在另一較佳實例中，具下列組成的環氧樹脂可用於保護層70：70.69%的Nanopox® C-620(環脂族環氧樹脂且具40重量%、20nm的球形奈米二氧化矽)、23.56%的Nanopox® C-680(環氧丙烷單體且具50重量%、20nm的球形奈米二氧化矽)、3.00%的MomentiveTM CoatOSil® MP-200(矽烷黏著促進劑)、2.50%的Dow Chemical Cyracure UVI-6976TM(陽離子光起始劑)和0.25%的CibaTM Tinuvin® 292(立體障礙胺光穩定劑)。保護層70亦可包含聚合物層、膜或片，並由相同厚度或較薄的膠層接合至玻璃元件50的表面。
第2圖至第2B圖所示可彎曲堆疊組件100可配有玻璃元件50，元件50具有表示增強強度值的裂縫分佈。在某些實施方式中，第一主表面54和第一主表面54與約一半最終厚度62間的區域60定義實質無裂縫區，且裂縫分佈特徵在於平均最長截面尺寸約200nm或以下的複數個裂縫。在一些態樣中，視用於在區域60內形成小裂縫尺寸的處理條件而定，實質無裂縫區60可在元件50內橫跨不同深度(例如玻璃元件50的厚度52的1/3至2/3)。根據一些實施例，實質無裂縫區60位於玻璃元件50受到具彎曲半徑40的一或更多靜態彎曲相關的 拉伸應力的區域(例如在第一主表面54上靜態彎曲，以致受到拉伸)。區域60的增強強度可抵消區域包含一或更多靜態彎曲相關的高拉伸應力。
同樣地，第2C圖所示可彎曲堆疊組件100a可配有玻璃元件50，元件50具有表示增強強度值的裂縫分佈。在某些實施方式中，第二主表面56和第二主表面56與約一半最終厚度62a間的區域60a定義實質無裂縫區，且裂縫分佈特徵在於平均最長截面尺寸約200nm或以下的複數個裂縫。在一些態樣中，視用於在區域60a內形成小裂縫尺寸的處理條件而定，實質無裂縫區60a可在元件50內橫跨不同深度(例如玻璃元件50的厚度52的1/3至2/3)。根據一些實施例，實質無裂縫區60a位於玻璃元件50受到具彎曲半徑40a的一或更多靜態彎曲相關的拉伸應力的區域(例如在第二主表面56上靜態彎曲，以致受到拉伸)。區域60a的增強強度可抵消區域包含一或更多靜態彎曲相關的高拉伸應力。
根據本發明的其他態樣，第2圖至第2C圖所示可彎曲堆疊組件100、100a包括由融合製程形成的玻璃元件50，且元件的彈性模數為約40GPa至約65GPa。因此，玻璃元件50會包括融合線(未圖示)。在某些態樣中，玻璃元件50的特徵在於黏度約1010帕．秒(Pa．s)時的虛擬溫度為700℃至800℃，較佳由融合製程製備。該虛擬溫度通常高於大多數無鹼玻璃組成的虛擬溫度，是以彈性模數值小於由浮式製程製備及退火 的組成。由浮式製程製備的無鹼玻璃組成較不理想，因為彈性模數通常比由融合製程製備的玻璃元件大。
在第2圖至第2C圖所示可彎曲堆疊組件100、100a的另一實施方式中，組件包括玻璃元件50，元件50具有實質無鹼離子的組成、約40GPa至約100GPa的彈性模數、至少0.6MPa．m1/2的KIC抗斷韌性和約20μm至約100μm的厚度52。至於組件100，在包含半徑40的靜態彎曲後(參見第2B圖)，玻璃元件50亦包括實質受拉伸的第一主表面54和實質受壓縮的第二主表面56。至於組件100a(參見第2C圖)，在包含半徑40a的一或更多靜態彎曲後，玻璃元件50亦包括實質受拉伸的第二主表面56和實質受壓縮的第一主表面54。組件100、100a的玻璃元件50亦包括位於第一主表面54的保護層70。
在第2圖至第2C圖所示可彎曲堆疊組件100、100a的某些態樣中，組件可配有玻璃元件50，元件50具有實質無鹼離子的組成、約40GPa至約100GPa的彈性模數、約20μm至約100μm的最終厚度52，及在失效機率2%或以上時的彎曲強度為至少1000MPa。在主表面包含半徑40、40a的一或更多靜態彎曲後，玻璃元件50亦包括實質受拉伸或壓縮的第一主表面54和實質受壓縮或拉伸的第二主表面56。在此構造下，主表面54、56的特徵在於預先從初始厚度移除材料達最終厚度52，初始厚度比最終厚度大至少20μm。玻璃元 件50亦包括位於第一主表面54的保護層70。此外，玻璃元件的特徵在於組件100、100a的保護層70與第一主表面54層疊的部分遭立方角壓頭以10克力頂壓後，保留強度為彎曲強度的至少90%。
如第3圖所示，根據本發明態樣，具各種厚度與彈性模數的無鹼玻璃元件的可彎曲堆疊組件100、100a可用於達成25mm或以下的彎曲半徑40、40a。預期1000MPa或以上強度量級時，藉由使拉伸應力維持在或低於最大強度值的1/5，可獲得估計有10年壽命的抗疲勞失效(例如循環及/或靜態疲勞)。因此，產生200MPa或以下應力量級的靜態彎曲半徑當不易受無鹼玻璃元件的靜態疲勞相關失效影響。更特定言之，以下方程式(2)用於產生第3圖所示解空間，並假設用於堆疊組件100、100a的玻璃元件的最大誘發拉伸應力σ 最大值 為200MPa：R=(E*h)/(1-v 2)*2σ 最大值 (2)其中R=無疲勞相關失效的堆疊組件的最大彎曲半徑，h係玻璃元件的厚度，E係玻璃元件的彈性模數，v係無鹼玻璃的帕松比(假設為0.2)。
參照第3圖可知，配有具約82GPa的彈性模數(「Glass C」)且厚度約100微米的玻璃元件50的可彎曲堆疊組件100、100a能達成約22mm的最大靜態彎曲半徑40、40a。厚度減至如20微米可使最大彎曲半徑達約4mm(即急劇彎曲是可行的)。同樣地，配 有具約74GPa的較小彈性模數(「Glass B」)且厚度約100微米的玻璃元件50的可彎曲堆疊組件100、100a能達成約18mm的最大彎曲半徑40、40a。厚度減至如20微米可使最大彎曲半徑小於4mm。另外，配有具約57GPa的彈性模數(「Glass A」)且厚度約100微米的玻璃元件50的可彎曲堆疊組件100、100a能達成約15mm的最大彎曲半徑40、40a。厚度減至如20微米可使最大彎曲半徑達約3mm。
如第3A圖所示，根據本發明態樣，具各種厚度與彈性模數的無鹼玻璃元件的可彎曲堆疊組件100、100a可用於達成25mm或以下的彎曲半徑40、40a。預期1000MPa或以上強度量級時，藉由使拉伸應力維持在或低於最大強度值的1/3，可獲得估計有10年壽命的抗疲勞失效(例如循環及/或靜態疲勞)。因此，產生333MPa或以下應力量級的靜態彎曲半徑當不易受無鹼玻璃元件的靜態疲勞相關失效影響。更特定言之，以下方程式(2)用於產生第3A圖所示解空間，並假設用於堆疊組件100、100a的玻璃元件的最大誘發拉伸應力σ 最大值 為333MPa：R=(E*h)/(1-v 2)*2σ 最大值 (2)其中R=無疲勞相關失效的堆疊組件的最大彎曲半徑，h係玻璃元件的厚度，E係玻璃元件的彈性模數，v係無鹼玻璃的帕松比(假設為0.2)。
參照第3A圖可知，配有具約82GPa的彈性模數(「Glass C」)且厚度約100微米的玻璃元件50的可彎曲堆疊組件100、100a能達成約13mm的最大靜態彎曲半徑40、40a。厚度減至如20微米可使最大彎曲半徑達約2.5mm(即急劇彎曲是可行的)。同樣地，配有具約74GPa的較小彈性模數(「Glass B」)且厚度約100微米的玻璃元件50的可彎曲堆疊組件100、100a能達成約11.5mm的最大彎曲半徑40、40a。厚度減至如20微米可使最大彎曲半徑小於2.5mm。另外，配有具約57GPa的彈性模數(「Glass A」)且厚度約100微米的玻璃元件50的可彎曲堆疊組件100、100a能達成約9mm的最大彎曲半徑40、40a。厚度減至如20微米可使最大彎曲半徑小於2mm。
參照第4圖至第4A圖，提供電子裝置組件200、200a，組件包括背板150，背板具有實質無鹼離子的玻璃組成、約40GPa至約100GPa的彈性模數和約20μm至約100μm的最終厚度152。背板150具有第一主表面154和第二主表面156。另外，主表面154、156的特徵在於預先從初始厚度移除材料達最終厚度152，初始厚度比最終厚度152大至少20μm。組件200、200a亦包括保護層170，位於背板150的第一主表面154；及複數個電子部件180，位於背板150的第二主表面156。此外，組件100的背板150(參見第4圖)配有彎曲半徑140約25mm至約5mm的至少一靜態彎 曲或彎曲特徵結構。同樣地，組件100a的背板150(參見第4A圖)配有彎曲半徑140a約25mm至約5mm的至少一靜態彎曲。在組件200、200a的一些態樣中，背板150配有彎曲半徑140、140a約15mm至約5mm的至少一靜態彎曲或彎曲特徵結構。
如第4圖所示，電子裝置組件200包括具彎曲半徑140的靜態彎曲，致使第一主表面154受拉伸，含電子部件180的第二主表面156受壓縮。故保護層170可置於受拉伸第一主表面154上面，以確保操縱相關缺陷不會形成於該表面，造成強度降低及最終縮短特定彎曲半徑140的靜態疲勞壽命性能。在裝置組件200的一些態樣中，具深度162的實質無裂縫區160配置在背板150內。背板150中存有無裂縫區160可抵消(例如藉由提高強度和背板150的抗斷韌性)背板中沿第一主表面154與具彎曲半徑140的靜態彎曲相關的拉伸應力。在所有態樣中，實質無裂縫區160類似先前所述與組件100有關的無裂縫區60(參見第2圖至第2B圖和對應敘述)。
如第4A圖所示，電子裝置組件200a包括具彎曲半徑140a的靜態彎曲，致使含電子部件180的第二主表面156受拉伸。然在此態樣中，保護層170可置於第一主表面154(受壓縮)上面，以確保元件150該側操縱相關缺陷不會形成於該表面，導致過早失效。在一些態樣中(未圖示)，保護層170可置於受拉伸第二主 表面156(即含電子部件180的表面)上面，以確保操縱相關缺陷不會形成於該表面，造成強度降低及最終縮短特定彎曲半徑140a的靜態疲勞壽命性能。在此態樣中，保護層170的組成經部分選擇以確保具有足以忍受開發及/或附接電子部件180至第二主表面156相關製造製程的高溫能力。在裝置組件200a的一些態樣中，具深度162a的實質無裂縫區160a配置在背板150內。背板150中存有無裂縫區160可抵消(例如藉由提高強度和背板150的抗斷韌性)背板中沿第二主表面156與具彎曲半徑140a的一或更多靜態彎曲相關的拉伸應力。在所有態樣中，實質無裂縫區160a類似先前所述與組件100a有關的無裂縫區60a(參見第2圖至第2C圖和對應敘述)。
在第4圖至第4A圖所示電子裝置組件200、200a方面，背板150、實質無裂縫區160、160a和保護層170等電子裝置部件分別類似用於第2圖至第2C圖所示堆疊組件100、100a的玻璃元件50、實質無裂縫區60、60a和保護層70。故前述堆疊組件100、100a的變體亦可應用到電子裝置組件200、200a。
在一些態樣中，電子裝置組件200、200a的電子部件180包含至少一薄膜電晶體(TFT)元件或至少一有機發光二極體(OLED)元件。當耐溫保護層170的組成用於裝置組件200、200a時，可高溫處理背板150上的電子部件180(例如相較於具聚合物背板的系 統)。有利地，耐溫力提升的裝置組件200、200a(例如相較於習知僅依賴可撓聚合物部件的系統)可用於實現更高的製造產率及/或將高性能電子裝置部件整合到安放背板的裝置內。
參照第5圖至第5A圖，第5圖至第5A圖圖示電子裝置組件300、300a，組件採用或以其他方式包括類似第4圖至第4A圖所示組件的裝置組件200、200a。特別地，組件300、300a進一步包括位在複數個電子部件180上面的蓋體260。蓋體260具有約25μm至約125μm的厚度、第一主表面264與第二主表面266和至少一靜態彎曲，靜態彎曲半徑265、265a實質等於施加至背板150的彎曲半徑140、140a。至於組件300(參見第5圖)，蓋體260亦包括(a)第一玻璃層260a，具有至少90%的光透射率、第一主表面264a和第二主表面266a；及(b)壓縮應力區268，從第一玻璃層260a的第一主表面264a延伸到第一玻璃層內的第一深度268a，該區268在第一玻璃層260a的第一主表面264a由至少約100MPa的壓縮應力定義。至於組件300a(參見第5A圖)，壓縮應力區268b從第一玻璃層260a的第二主表面266a延伸到第一深度268c，該區268b在第二主表面266a由至少約100MPa的壓縮應力定義。
此外，電子裝置組件300、300a的蓋體260的特徵還在於：(a)當蓋體260的第一主表面264由(i)彈性模數小於約1GPa的約25μm厚感壓膠和(ii)彈性 模數小於約10GPa的約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且蓋體260的第二主表面266裝有不鏽鋼銷，不鏽鋼銷具有直徑200μm的平底時，穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及(b)鉛筆硬度為大於或等於8H。
如第5圖至第5A圖所示，壓縮應力區268、268b位於蓋體260可能受到具半徑265、265a的靜態彎曲相關拉伸應力的部分。但應理解壓縮應力區268、268b亦可設在蓋體260的其他位置，本質上係在預期在應用環境中受到拉伸應力的任何區域和高強度量級對蓋體有益的其他區域(例如使用者操縱含電子裝置組件300、300a的裝置所接觸的表面)。
在用於電子裝置組件300、300a的蓋體260的某些態樣中，蓋體260的厚度為約25μm至約125μm。在其他態樣中，蓋體260的厚度為約50μm至約100μm或約60μm至約80μm。前述範圍內的其他厚度值也可做為可彎曲蓋體260的厚度。
在蓋體260的一些實施例中，蓋體260含有單一玻璃層260a，玻璃層260a的厚度類似蓋體260的厚度。在其他態樣中，蓋體260含有二或更多玻璃層260a。故每一玻璃層260a的厚度可為約1μm至約125μm。亦應理解除了一或更多玻璃層260a，玻璃蓋體260還可包括其他非玻璃層(例如順應聚合物層)。
根據本發明一態樣，電子裝置組件300、300a採用類似第4圖至第4A圖所示組件的裝置組件 200、200a。特別地，組件300、300a進一步包括位在複數個電子部件180上面的蓋體260。蓋體260具有玻璃組成和至少一彎曲特徵結構，彎曲特徵結構的半徑265、265a實質等於施加至背板150的彎曲半徑140、140a。至於組件300(參見第5圖)，蓋體260的特徵還在於：(a)光透射率為至少90%；(b)當蓋體260的第一主表面264由(i)彈性模數小於約1GPa的約25μm厚感壓膠和(ii)彈性模數小於約10GPa的約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且蓋體260的第二主表面266裝有不鏽鋼銷，不鏽鋼銷具有直徑200μm的平底時，穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及(c)鉛筆硬度為大於或等於8H。例如，在此構造下，蓋體260可採用依此形成具一或更多靜態彎曲及/或彎曲特徵結構的玻璃元件。
在蓋體260的玻璃層260a方面，各玻璃層260a(和蓋體260(若不包括玻璃層260a))可由無鹼鋁矽酸鹽、硼矽酸鹽、硼鋁矽酸鹽和矽酸鹽玻璃組成製成。各玻璃層260a亦可由含鹼鋁矽酸鹽、硼矽酸鹽、硼鋁矽酸鹽和矽酸鹽玻璃組成製成。在某些態樣中，鹼土改質劑可加入前述任一組成。在一示例性態樣中，下列玻璃組成適用玻璃層260a：64%至69%的SiO2(按莫耳%計)、5%至12%的Al2O3、8%至23%的B2O3、0.5%至2.5%的MgO、1%至9%的CaO、0至5%的SrO、0至5%的BaO、0.1%至0.4%的SnO2、0至0.1% 的ZrO2和0至1%的Na2O。在另一示例性態樣中，下列組成適用玻璃層50a：~67.4%的SiO2(按莫耳%計)、~12.7%的Al2O3、~3.7%的B2O3、~2.4%的MgO、0%的CaO、0%的SrO、~0.1%的SnO2和~13.7%的Na2O。在又一示例性態樣中，下列組成亦適用玻璃層260a：68.9%的SiO2(按莫耳%計)、10.3%的Al2O3、15.2%的Na2O、5.4%的MgO和0.2%的SnO2。在一些態樣中，玻璃層260a的組成乃選擇為具有較低彈性模數(相較於其他替代玻璃)。玻璃層260a具低彈性模數可降低靜態彎曲形成於內相關的層260a內拉伸應力。其他準則可用於選擇玻璃層260a的組成，包括容易製造小厚度量級，同時減少併入裂縫、容易形成壓縮應力區，以抵消彎曲期間產生的拉伸應力、透光度和抗蝕性，但不以此為限。
仍舊參照第5圖及第5A圖，電子裝置組件300的蓋體260進一步包括壓縮應力區268，壓縮應力區268從第一玻璃層260a的第一主表面264a延伸到第一玻璃層260a內的第一深度268a。另外，電子裝置組件300a的蓋體260進一步包括壓縮應力區268b，壓縮應力區268b從第一玻璃層260a的第二主表面266a延伸到第一玻璃層260a內的第一深度268c。除其他優點外，壓縮應力區268、268b可用於玻璃層260a，以抵消一或更多靜態彎曲形成後於玻璃層260a產生的拉伸應力，特別係在主表面264a、266a附近達最大值的拉 伸應力。壓縮應力區268、268b可包括於玻璃層260a的第一主表面264a或第二主表面266a至少約100MPa的壓縮應力。在一些態樣中，於第一主表面264a或第二主表面266a的壓縮應力為約600MPa至約1000MPa。在其他態樣中，視用於在玻璃層260a中產生壓縮應力的製程而定，於第一主表面264a或第二主表面266a的壓縮應力可超過1000MPa至高達2000MPa。例如，壓縮應力區268、268b可利用離子交換製程或藉由將具不同熱膨脹係數的材料(包括不同玻璃材料)層疊在一起而形成。在本發明的其他態樣中，於第一或第二主表面264a、266a的壓縮應力亦可為約100MPa至約600MPa。
在壓縮應力區268、268b內，玻璃層260a內壓縮應力可隨從玻璃層的第一或第二主表面264a、266a往下到第一深度268a、268c的深度保持恆定、減小或增大變化。如此，各種壓縮應力分佈可用於壓縮應力區268、268b。另外，從玻璃層的第一或第二主表面264a、266a起的深度268a、268c可設為約15μm或以下。在其他態樣中，從玻璃層的第一或第二主表面264a、266a起的深度268a、268c可設為約玻璃層260a厚度的約1/3或以下、或玻璃層260a厚度的20%或以下。
參照第5圖及第5A圖，蓋體260的特徵在於在約25℃及約50%相對溼度下遭以彎曲半徑265、 265a約5mm至約25mm的一或更多靜態彎曲時沒有失效。在一些態樣中，蓋體260內各靜態彎曲的彎曲半徑265、265a可設為約5mm至約15mm。視應用要求而定，各靜態彎曲的彎曲半徑265、265a亦可設成在約25mm至約5mm範圍內的數值。在此所用「失效」等用語係指斷裂、損壞、分層、裂痕蔓延或其他機制，致使本發明堆疊組件、玻璃物件、玻璃元件和裝置組件不適合擬定用途。當在該等條件(即約25℃與約50%相對溼度)下，蓋體260含有具彎曲半徑265的一或更多靜態彎曲時(參見第5圖)，將於蓋體260的第一主表面264產生拉伸應力，及於第二主表面266產生壓縮應力。同樣地，當在該等條件下，蓋體260含有具彎曲半徑265a的一或更多靜態彎曲時(參見第5A圖)，將於蓋體260的第二主表面266產生拉伸應力，及於第一主表面264產生壓縮應力。亦應理解彎曲測試結果可能因不同於前述的溫度及/或溼度測試條件而異。例如，具小彎曲半徑265(例如<5mm)的靜態彎曲的蓋體260的特徵在於在遠小於50%相對溼度的溼度下進行彎曲測試時沒有失效。
蓋體260的特徵還在於當元件260的第一主表面264由(i)彈性模數小於約1GPa的約25μm厚感壓膠(「PSA」)和(ii)彈性模數小於約10GPa的約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層(「PET」)支撐，且蓋體260的第二主表面266裝有不鏽鋼銷，不鏽鋼銷具有直徑200μm的平底時，穿刺抗性為大於約1.5公斤力 (例如模擬在應用環境中使用電子裝置組件300、300a時對蓋體260的衝擊)。通常，根據本發明態樣，在依0.5毫米/分鐘十字頭速度位移控制下進行穿刺測試。在某些態樣中，經特定測試量後(例如10個測試)，以新銷代替不鏽鋼銷，以避免具高彈性模數的材料(例如玻璃蓋體260)測試相關金屬銷變形引起偏差。在一些態樣中，蓋體260的特徵在於在韋伯圖中失效機率5%或以上時的穿刺抗性為大於約1.5公斤力。蓋體260的特徵還在於在韋伯特徵強度下的穿刺抗性為大於約3公斤力(即63.2%或以上)。在某些態樣中，電子裝置組件300、300a的蓋體260的穿刺抗性為大於約2公斤力或以上、2.5公斤力或以上、3公斤力或以上、3.5公斤力或以上、4公斤力或以上和甚至更大範圍。蓋體260的特徵還在於鉛筆硬度為大於或等於8H。
參照第5圖及第5A圖，圖所示電子裝置組件300、300a的截面說明本發明一態樣，其中組件依靠離子交換製程，以於蓋體260中形成壓縮應力區268、268b。在組件300的一些態樣中，蓋體260的壓縮應力區268、268b可利用離子交換製程形成。即，壓縮應力區268、268b可包括複數個可離子交換金屬離子和複數個離子交換金屬離子，離子交換金屬離子經選擇以於該區268、268b產生壓縮應力。在電子裝置組件300、300a的一些態樣中，離子交換金屬離子的原子半徑大於可離子交換金屬離子的原子半徑。在經歷離子交換製程 前，可離子交換離子(例如Na+離子)存於蓋體260和玻璃層260a。離子交換離子(例如K+離子)可併入蓋體260和一或更多層260a，以取代一些可離子交換離子。使元件或層沉入含離子交換離子的熔融鹽浴(例如熔融KNO3鹽)，可將離子交換離子(例如K+離子)併入蓋體260和層260a。在此實例中，K+離子的原子半徑比Na+離子大，且無論存在何處，傾向在玻璃內產生局部壓縮應力。
視採用離子交換製程條件而定，離子交換離子可從第一或第二主表面264a、266a往下傳至第一離子交換深度268a、268c，以建立壓縮應力區268、268b的離子交換層深度(「DOL」)。利用離子交換製程，可使DOL內的壓縮應力量級遠遠超過100MPa至高達2000MPa。如前所述，壓縮應力區268、268b的壓縮應力量級可用於抵消蓋體260和一或更多玻璃層260a中存在具半徑265、265a的一或更多靜態彎曲產生的拉伸應力。
根據本發明蓋體260元件的其他處理相關資訊和替代構造可由分別於西元2014年1月29日和西元2014年4月3日申請的美國臨時專利申請案第61/932,924號和第61/974,732號(集體稱為「’924與’732申請案」)教示的堆疊組件態樣和相關文章獲知。例如，電子裝置組件300、300a可在蓋體260內使用不同玻璃組成，包括含鹼組成，因為蓋體260不直接 接觸電子部件180。在裝置組件300、300a的一些其他態樣中，蓋體260可於背板150和裝設於背板的電子部件180上面採用整合電子部件(例如觸控感測器)。在此態樣中，蓋體260較佳使用無鹼玻璃組成。
在第5圖至第5A圖所示電子裝置組件300、300a的一些態樣中，組件進一步包括封裝物250位於蓋體260下面並接合背板150。封裝物250配置以封裝電子部件180。在一些態樣中，封裝物配置做為透光聚合物封裝材料。然應理解封裝物250必需具有適當機械完整性來當作封裝物，以當組件300、300a包括具半徑265、265a的一或更多靜態彎曲時不會失效。故封裝物可具有一或更多具半徑255、255a的靜態彎曲，半徑255、255a實質等於蓋體260的半徑265、265a。
再次參照第5圖至第5A圖，電子裝置組件300、300a的另一態樣採用玻璃層形式的封裝物250，玻璃層厚度為約25μm至約125μm，封裝物進一步包括：(a)第二玻璃層250a，具有至少90%的光透射率、第一主表面254a和第二主表面256a；及(b)壓縮應力區258、258b，分別從第二玻璃層250a的第一主表面254a或第二主表面256a延伸到第二玻璃層250a內的第一深度258a、258c，該區258、258b分別在第二玻璃層的第一或第二主表面254a、256a由至少約100MPa的壓縮應力定義。封裝物250的進一步特徵在於在約25℃及約50%相對溼度下，當封裝物包括一或更多具 半徑255、255a的靜態彎曲及/或彎曲特徵結構時沒有失效，該等彎曲與結構實質等於存於背板150的靜態彎曲。因此，封裝物250可配置成同於或類似前述玻璃蓋體260。
在電子裝置組件300、300a的一些態樣中，蓋體260的特定穿刺抗性和鉛筆硬度要求非由封裝物250控制。即，封裝物250不見得由製造人員或裝置擁有者直接操縱，以致降低高穿刺抗性和鉛筆硬度的重要性。在本發明的某些其他態樣中，封裝物250包括如先前背板150所述實質無鹼離子的玻璃組成。組件300、300a的該等態樣通常需使封裝物250與底下電子部件180緊密接觸。雖然第5圖及第5A圖未具體圖示，但封裝物250實際上將密封至背板而為電子部件180形成氣密環境。如此領域所知，封裝物250可利用熔塊密封密封至背板150。
在電子裝置組件300、300a的某些實施方式中，組件的總厚度為400微米或以下、375微米或以下、350微米或以下、325微米或以下、300微米或以下、275微米或以下、250微米或以下、225微米或以下或200微米或以下。電子裝置組件的總厚度通常取決於背板150、封裝物250、蓋體260和保護層170各自的厚度。在裝置組件300、300a採用保護層170構成聚合物膜與黏著膠的態樣中，總厚度可為約600微米或以下。 如前所述，背板厚度取決於預先材料移除相關的處理條件程度。
根據一附加態樣，提供形成電子裝置組件300、300a(參見第5圖至第5A圖)的方法，方法包括下列步驟：形成背板150，背板具有實質無鹼離子的玻璃組成、約40GPa至約100GPa的彈性模數、比最終厚度152大至少20μm的初始厚度、第一主表面154和第二主表面156；從背板150的初始厚度(未圖示)移除材料，以定義最終厚度152，最終厚度152為約20μm至約100μm。方法亦包括下列步驟：形成保護層170至背板150的第一主表面154上；於背板150的第二主表面156配置複數個電子部件180；及在於背板150的第二主表面156配置複數個電子部件180的步驟後，在背板150中形成至少一靜態彎曲，靜態彎曲具有約25mm至約5mm的彎曲半徑140。
在形成電子裝置組件300、300a的方法的某些態樣中，方法進一步包括下列步驟：在複數個電子部件180上面形成蓋體260，蓋體260具有約25μm至約125μm的厚度、第一主表面264、第二主表面266。蓋體260亦包括光透射率至少90%的第一玻璃層260a、第一主表面264a和第二主表面266a。組件300的蓋體260亦包括壓縮應力區268，從第一玻璃層260a的第一主表面264a延伸到第一玻璃層內的第一深度268a，該區268在第一玻璃層260a的第一主表面264a由至少約 100MPa的壓縮應力定義。組件300a的蓋體260亦包括壓縮應力區268b，從第一玻璃層260a的第二主表面266a延伸到第一玻璃層內的第一深度268c，該區268b在第一玻璃層260a的第二主表面264a由至少約100MPa的壓縮應力定義。
根據前述方法形成組件300、300a的蓋體260的特徵還在於，當蓋體260的第一主表面264由(i)彈性模數小於約1GPa的約25μm厚感壓膠和(ii)彈性模數小於約10GPa的約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且蓋體260的第二主表面266裝有不鏽鋼銷，不鏽鋼銷具有直徑200μm的平底時，穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及鉛筆硬度為大於或等於8H。形成組件300、300a的方法亦包括使蓋體260彎曲，以形成至少一靜態彎曲或彎曲特徵結構的步驟，彎曲或結構的半徑265實質等於背板150中一或更多靜態彎曲的彎曲半徑140。
在形成電子裝置組件300、300a的方法的某些態樣中，方法包括下列步驟：用封裝物250密封背板150；及用封裝物250封裝複數個電子部件180。根據一些實施例，封裝物250包括約25μm至約125μm的厚度、光透射率至少90%的第二玻璃層250a和第一主表面254。另外，根據前述方法形成組件300的封裝物250包括壓縮應力區258，從第二玻璃層250a的第一主表面254a延伸到第二玻璃層內的第一深度258a，該區258 在第二玻璃層250a的第一主表面254s由至少約100MPa的壓縮應力定義。同樣地，根據前述方法形成組件300a的封裝物250包括壓縮應力區258b，從第二玻璃層250a的第二主表面256a延伸到第二玻璃層內的第一深度258c，該區258b在第二玻璃層250a的第二主表面256a由至少約100MPa的壓縮應力定義。此外，組件300、300a的封裝物250亦包括至少一彎曲特徵結構或靜態彎曲，具有實質等於背板150的彎曲半徑140的半徑255、255a。本發明所述方法的某些態樣需要在密封封裝物250與背板150的步驟前，使封裝物250彎曲，以形成至少一靜態彎曲或彎曲特徵結構的步驟。在前述方法的另一態樣中，密封步驟包括熔塊密封封裝物250與背板150。
熟諳此技術者將明白，在不脫離申請專利範圍的精神和範圍內，當可作各種更動與潤飾。例如，第2圖至第2C圖所示堆疊組件100、100a於主表面254包括保護層70，並預期存在一或更多具半俓40、40a的靜態彎曲而受到拉伸。也可能有其他變化，其中保護層70用於玻璃元件50的附加表面及/或邊緣(未圖示)，元件50用於堆疊組件100、100a，並預期存在一或更多靜態彎曲及/或彎曲特徵結構而受到拉伸應力。
又例如，堆疊組件各層可由可彎曲玻璃層組成，以於放置堆疊時形成預定非平面形狀，或為在組裝堆疊前設為預定非平面狀的玻璃層(例如坍陷或以其他 方式形成非平面狀，使之通常呈非平面構造)。後者尤其適用封裝層和蓋體，封裝層和蓋體在組裝堆疊前不需以平面方式處理。
說明書所述各種態樣可以任何方式結合或全部結合。例如，態樣可依下述結合。
根據第一態樣，提供電子裝置組件，包含：背板，具有實質無鹼離子的玻璃組成、約40GPa至約100GPa的彈性模數、約20μm至約100μm的最終厚度、第一主表面和第二主表面，主表面的特徵在於預先從初始厚度移除材料達最終厚度，初始厚度比最終厚度大至少20μm；保護層，位於背板的第一主表面；及複數個電子部件，位於背板的第二主表面，其中背板配置具有至少一靜態彎曲，靜態彎曲具有約25mm至約5mm的彎曲半徑。
根據第二態樣，提供根據態樣1的電子裝置組件，其中靜態彎曲的彎曲半徑為約15mm至約5mm。
根據第三態樣，提供根據態樣1或態樣2的電子裝置組件，其中保護層包含奈米二氧化矽微粒和環氧樹脂與胺基甲酸乙酯材料的至少一者。
根據第四態樣，提供根據態樣1-3中任一態樣的電子裝置組件，其中背板的組成具有各少於0.5莫耳%的Li2O、Na2O、K2O、Rb2O和Cs2O。
根據第五態樣，提供根據態樣1-4中任一態樣的電子裝置組件，其中電子部件包含至少一薄膜電晶體元件。
根據第六態樣，提供根據態樣1-4中任一態樣的電子裝置組件，其中電子部件包含至少一OLED元件。
根據第七態樣，提供根據態樣1-6中任一態樣的電子裝置組件，進一步包含：蓋體，位在複數個電子部件上面，蓋體具有約25μm至約125μm的厚度、第一主表面、第二主表面、半徑實質等於彎曲半徑的至少一靜態彎曲，及進一步包含：(a)第一玻璃層，具有至少90%的光透射率和第一主表面；及(b)壓縮應力區，從第一玻璃層的第一主表面延伸到第一玻璃層內的第一深度，該區在第一玻璃層的第一主表面由至少約100MPa的壓縮應力定義，其中蓋體的特徵在於：(a)當蓋體的第一主表面由(i)彈性模數小於約1GPa的約25μm厚感壓膠和(ii)彈性模數小於約10GPa的約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且蓋體的第二主表面裝有不鏽鋼銷，不鏽鋼銷具有直徑200μm的平底時，穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及(b)鉛筆硬度為大於或等於8H。
根據第八態樣，提供根據態樣7的電子裝置組件，其中電子裝置組件的總厚度為250μm或以下。
根據第九態樣，提供根據態樣1-6中任一態樣的電子裝置組件，進一步包含：蓋體，位在複數個電子部件上面，蓋體具有玻璃組成和至少一彎曲特徵結構，彎曲特徵結構的半徑實質等於彎曲半徑，其中蓋體的進一步特徵在於：(a)光透射率為至少90%；(b)當蓋體的第一主表面由(i)彈性模數小於約1GPa的約25μm厚感壓膠和(ii)彈性模數小於約10GPa的約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且蓋體的第二主表面裝有不鏽鋼銷，不鏽鋼銷具有直徑200μm的平底時，穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及(c)鉛筆硬度為大於或等於8H。
根據第十態樣，提供根據態樣7或態樣9的電子裝置組件，進一步包含封裝物，位於蓋體下面並接合背板，封裝物配置以封裝複數個電子部件。
根據第十一態樣，提供根據態樣7或態樣9的電子裝置組件，進一步包含：封裝物，位於蓋體下面並接合背板，封裝物配置以封裝複數個電子部件，其中封裝物具有約25μm至約125μm的厚度，及進一步包含： (a)第二玻璃層，具有至少90%的光透射率和第一主表面；及(b)壓縮應力區，從第二玻璃層的第一主表面延伸到第二玻璃層內的第一深度，該區在第二玻璃層的第一主表面由至少約100MPa的壓縮應力定義，其中封裝物的進一步特徵在於至少一彎曲特徵結構，彎曲特徵結構的半徑實質等於彎曲半徑。
根據第十二態樣，提供根據態樣11的電子裝置組件，其中第二玻璃層具有實質無鹼離子的玻璃組成。
根據第十三態樣，提供根據態樣11或態樣12的電子裝置組件，其中電子裝置組件的總厚度為約375μm或以下。
根據第十四態樣，提供形成電子裝置組件的方法，包含下列步驟：形成背板，背板具有實質無鹼離子的玻璃組成、約40GPa至約100GPa的彈性模數、比最終厚度大至少20μm的初始厚度、第一主表面和第二主表面；從背板的初始厚度移除材料，以定義最終厚度，最終厚度為約20μm至約100μm；形成保護層至背板的第一主表面上；於背板的第二主表面配置複數個電子部件；及在於背板的第二主表面配置複數個電子部件的步驟後，在背板中形成至少一靜態彎曲，靜態彎曲具有約25mm至約5mm的彎曲半徑。
根據第十五態樣，提供根據態樣14的方法，其中靜態彎曲的彎曲半徑為約15mm至約5mm。
根據第十六態樣，提供根據態樣14或態樣15的方法，其中保護層包含奈米二氧化矽微粒和環氧樹脂與胺基甲酸乙酯材料的至少一者。
根據第十七態樣，提供根據態樣14-16中任一態樣的方法，其中背板的組成具有各少於0.5莫耳%的Li2O、Na2O、K2O、Rb2O和Cs2O。
根據第十八態樣，提供根據態樣14-17中任一態樣的方法，其中電子部件包含至少一薄膜電晶體元件。
根據第十九態樣，提供根據態樣14-18中任一態樣的方法，其中電子部件包含至少一OLED元件。
根據第二十態樣，提供根據態樣14-19中任一態樣的方法，進一步包含下列步驟：在複數個電子部件上面形成蓋體，蓋體具有約25μm至約125μm的厚度、第一主表面、第二主表面、至少一靜態彎曲，靜態彎曲的半徑實質等於背板中靜態彎曲的彎曲半徑，及進一步包含：(a)第一玻璃層，具有至少90%的光透射率；(b)第一主表面；及(c)壓縮應力區，從第一玻璃層的第一主表面延伸到第一玻璃層內的第一深度，該區在第一玻璃層的第一主表面由至少約100MPa的壓縮應力定義， 其中蓋體的特徵在於：(a)當蓋體的第二主表面由(i)彈性模數小於約1GPa的約25μm厚感壓膠和(ii)彈性模數小於約10GPa的約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且蓋體的第一主表面裝有不鏽鋼銷，不鏽鋼銷具有直徑200μm的平底時，穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及(b)鉛筆硬度為大於或等於8H；及使蓋體彎曲，以形成至少一靜態彎曲，靜態彎曲的半徑實質等於背板中靜態彎曲的彎曲半徑。
根據第二十一態樣，提供根據態樣20的方法，其中電子裝置組件的總厚度為250μm或以下。
根據第二十二態樣，提供根據態樣20的方法，進一步包含下列步驟：用封裝物密封背板；及用封裝物封裝複數個電子部件。
根據第二十三態樣，提供根據態樣22的方法，其中封裝物包含：(a)約25μm至約125μm的厚度；(b)第二玻璃層，具有至少90%的光透射率；(c)第一主表面；(d)壓縮應力區，從第二玻璃層的第一主表面延伸到第二玻璃層內的第一深度，該區在第二玻璃層的第一主表面由至少約100MPa的壓縮應力定義；及 (e)至少一彎曲特徵結構，具有實質等於背板中靜態彎曲的彎曲半徑的半徑。
根據第二十四態樣，提供根據態樣22或態樣23的方法，其中第二玻璃層具有實質無鹼離子的玻璃組成。
根據第二十五態樣，提供根據態樣22的方法，進一步包含下列步驟：在密封封裝物與背板的步驟前，使封裝物彎曲，以形成至少一彎曲特徵結構。
根據第二十六態樣，提供根據態樣22的方法，其中電子裝置組件的總厚度為約375μm或以下。
根據第二十七態樣，提供根據態樣23-26中任一態樣的方法，其中密封步驟包含熔塊密封封裝物與背板。
40‧‧‧彎曲半徑
50‧‧‧玻璃元件
52‧‧‧最終厚度
54、56‧‧‧主表面
60‧‧‧實質無裂縫區
62、72‧‧‧厚度
70‧‧‧保護層
100‧‧‧堆疊組件

Claims (13)

  1. 一種電子裝置組件，包含：一背板，具有實質無鹼離子的一玻璃組成、約40GPa至約100GPa的一彈性模數、約20μm至約100μm的一最終厚度、一第一主表面和一第二主表面，該等主表面的特徵在於預先從一初始厚度移除材料達該最終厚度，該初始厚度比該最終厚度大至少20μm；一保護層，位於該背板的該第一主表面上；及複數個電子部件，位於該背板的該第二主表面上，其中該背板配置具有至少一靜態彎曲，該靜態彎曲具有約25mm至約5mm的一彎曲半徑；一蓋體，位在該複數個電子部件上面，該蓋體具有一玻璃組成和至少一彎曲特徵結構，該彎曲特徵結構具有實質等於該彎曲半徑的一半徑，其中該蓋體的進一步特徵在於：(a)一光透射率為至少90%；(b)當該蓋體的一第一主表面由(i)一彈性模數小於約1GPa的一約25μm厚感壓膠和(ii)一彈性模數小於約10GPa的一約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且該蓋體的一第二主表面負載有一不 鏽鋼銷，該不鏽鋼銷具有直徑200μm的一平底時，一穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及(c)一鉛筆硬度為大於或等於8H。
  2. 如請求項1所述之電子裝置組件，其中該保護層包含奈米二氧化矽微粒和環氧樹脂與胺基甲酸乙酯(urethane)材料的至少一者。
  3. 如請求項1所述之電子裝置組件，其中該背板的該組成具有各少於0.5莫耳%的Li2O、Na2O、K2O、Rb2O和Cs2O。
  4. 如請求項1所述之電子裝置組件，該蓋體具有約25μm至約125μm的一厚度，及進一步包含：一壓縮應力區，從該蓋體的該第一主表面延伸到該蓋體內的一第一深度，該區在該蓋體的該第一主表面由至少約100MPa的一壓縮應力定義。
  5. 如請求項4所述之電子裝置組件，其中該電子裝置組件具有250μm或以下的一總厚度。
  6. 如請求項1或請求項4所述之電子裝置組件，進一步包含：一封裝物，位於該蓋體下面並接合該背板，該封裝物配置以封裝該複數個電子部件，其中該封裝物具有約25μm至約125μm的一厚度，及進一步包含： (a)一玻璃層，具有至少90%的一光透射率和一第一主表面；及(b)一壓縮應力區，從該玻璃層的該第一主表面延伸到該玻璃層內的一第一深度，該區在該玻璃層的該第一主表面由至少約100MPa的一壓縮應力定義，其中該封裝物的進一步特徵在於至少一彎曲特徵結構，該彎曲特徵結構具有實質等於該彎曲半徑的一半徑。
  7. 如請求項6所述之電子裝置組件，其中該玻璃層具有實質無鹼離子的一玻璃組成。
  8. 如請求項6所述之電子裝置組件，其中該電子裝置組件具有約375μm或以下的一總厚度。
  9. 一種形成電子裝置組件的方法，包含下列步驟：形成一背板，該背板具有實質無鹼離子的一玻璃組成、約40GPa至約100GPa的一彈性模數、一初始厚度、一第一主表面和一第二主表面，該初始厚度比一最終厚度大至少20μm；從該背板的該初始厚度移除材料，以定義該最終厚度，該最終厚度為約20μm至約100μm；形成一保護層至該背板的該第一主表面上； 於該背板的該第二主表面上配置複數個電子部件；在於該背板的該第二主表面上配置該複數個電子部件的該步驟後，在該背板中形成至少一靜態彎曲，該靜態彎曲具有約25mm至約5mm的一彎曲半徑；及用該封裝物封裝該複數個電子部件，其中該封裝物包含：(a)約25μm至約125μm的一厚度；(b)一玻璃層，具有至少90%的一光透射率；(c)一第一主表面；(d)一壓縮應力區，從該玻璃層的該第一主表面延伸到該玻璃層內的一第一深度，該區在該玻璃層的該第一主表面由至少約100MPa的一壓縮應力定義；及(e)至少一彎曲特徵結構，具有實質等於該背板中該靜態彎曲的該彎曲半徑的一半徑。
  10. 如請求項9所述之方法，進一步包含下列步驟：在該複數個電子部件上面形成一蓋體，該蓋體具有約25μm至約125μm的一厚度、一第一主表 面、一第二主表面、至少一靜態彎曲，該至少一靜態彎曲的一半徑實質等於該背板中該靜態彎曲的該彎曲半徑，及進一步包含：(a)一第一玻璃層，具有至少90%的一光透射率；(b)一第一主表面；及(c)一壓縮應力區，從該第一玻璃層的該第一主表面延伸到該第一玻璃層內的一第一深度，該區在該第一玻璃層的該第一主表面由至少約100MPa的一壓縮應力定義，其中該蓋體的特徵在於：(a)當該蓋體的該第二主表面由(i)一彈性模數小於約1GPa的一約25μm厚感壓膠和(ii)一彈性模數小於約10GPa的一約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且該蓋體的該第一主表面負載有一不鏽鋼銷，該不鏽鋼銷具有直徑200μm的一平底時，一穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及(b)一鉛筆硬度為大於或等於8H；及使該蓋體彎曲，以形成至少一靜態彎曲，該靜態彎曲具有實質等於該背板中該靜態彎曲的該彎曲半徑的一半徑。
  11. 如請求項10所述之方法，進一步包含下列步驟： 在密封該封裝物與該背板的該步驟前，使該封裝物彎曲，以形成該至少一彎曲特徵結構。
  12. 如請求項10所述之方法，其中該密封步驟包含熔塊密封該封裝物與該背板。
  13. 一種形成電子裝置組件的方法，包含下列步驟：形成一背板，該背板具有實質無鹼離子的一玻璃組成、約40GPa至約100GPa的一彈性模數、一初始厚度、一第一主表面和一第二主表面，該初始厚度比一最終厚度大至少20μm；從該背板的該初始厚度移除材料，以定義該最終厚度，該最終厚度為約20μm至約100μm；形成一保護層至該背板的該第一主表面上；於該背板的該第二主表面上配置複數個電子部件；在於該背板的該第二主表面上配置該複數個電子部件的該步驟後，在該背板中形成至少一靜態彎曲，該靜態彎曲具有約25mm至約5mm的一彎曲半徑；及在該複數個電子部件上面形成一蓋體，該蓋體具有約25μm至約125μm的一厚度、一第一主表面、一第二主表面、至少一靜態彎曲，該至少一靜態彎曲的一半徑實質等於該背板中該靜態彎曲的該 彎曲半徑，及進一步包含：(a)一第一玻璃層，具有至少90%的一光透射率；(b)一第一主表面；及(c)一壓縮應力區，從該第一玻璃層的該第一主表面延伸到該第一玻璃層內的一第一深度，該區在該第一玻璃層的該第一主表面由至少約100MPa的一壓縮應力定義，其中該蓋體的特徵在於：(a)當該蓋體的該第二主表面由(i)一彈性模數小於約1GPa的一約25μm厚感壓膠和(ii)一彈性模數小於約10GPa的一約50μm厚聚對苯二甲酸乙二酯層支撐，且該蓋體的該第一主表面負載有一不鏽鋼銷，該不鏽鋼銷具有直徑200μm的一平底時，一穿刺抗性為大於約1.5公斤力；及(b)一鉛筆硬度為大於或等於8H；及使該蓋體彎曲，以形成至少一靜態彎曲，該靜態彎曲具有實質等於該背板中該靜態彎曲的該彎曲半徑的一半徑。
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