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TWI681295B - 記憶體管理方法、記憶體控制電路單元與記憶體儲存裝置 - Google Patents

記憶體管理方法、記憶體控制電路單元與記憶體儲存裝置 Download PDF

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TWI681295B
TWI681295B TW106122798A TW106122798A TWI681295B TW I681295 B TWI681295 B TW I681295B TW 106122798 A TW106122798 A TW 106122798A TW 106122798 A TW106122798 A TW 106122798A TW I681295 B TWI681295 B TW I681295B
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data
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陳建文
郭哲岳
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群聯電子股份有限公司
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Priority to US15/690,286 priority patent/US10310739B2/en
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Abstract

一種記憶體管理方法及使用此方法的記憶體控制電路單元與記憶體儲存裝置。本方法包括：根據儲存在多個實體抹除單元中的有效資料的有效資料量獲取有效資料參數，且根據所述有效資料參數獲取第一門檻值。本方法也包括：根據多個第一實體抹除單元的數目獲取第一判斷參數，其中所述多個第一實體抹除單元為已被使用單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元。本方法更包括：倘若所述第一判斷參數大於所述第一門檻值，執行垃圾收集操作。

Description

記憶體管理方法、記憶體控制電路單元與記憶體儲存裝置
本發明是有關於一種用於可複寫式非揮發性記憶體的記憶體管理方法及使用此方法的記憶體控制電路單元與記憶體儲存裝置。
數位相機、手機與MP3在這幾年來的成長十分迅速，使得消費者對儲存媒體的需求也急速增加。由於可複寫式非揮發性記憶體（rewritable non-volatile memory）具有資料非揮發性、省電、體積小、無機械結構、讀寫速度快等特性，因此，近年可複寫式非揮發性記憶體產業成為電子產業中相當熱門的一環。例如，以快閃記憶體作為儲存媒體的固態硬碟（Solid-state drive）已廣泛應用作為電腦主機的硬碟，以提升電腦的存取效能。
一般來說，包含可複寫式非揮發性記憶體模組的記憶體儲存裝置會透過執行垃圾收集（garbage collection）操作（亦稱為有效資料合併操作）來釋放出可用的實體抹除單元。例如，記憶體儲存裝置在閒置（idle）時會進入背景執行模式。在背景執行模式下，當已儲存資料的實體抹除單元的數目大於一個固定值時，記憶體儲存裝置就會執行垃圾收集操作。
然而，當主機系統持續地發送寫入指令而使得屬於某個特定的邏輯位址的資料不斷地被更新時，記憶體儲存裝置會不斷地將儲存舊資料的實體程式化單元標示為無效，並且將新資料儲存至另一個實體程式化單元中。在此情況下，隨著寫入操作的執行次數的增加，雖然實際的有效資料量並未增加，但是可複寫式非揮發性記憶體模組中已儲存資料的實體程式化單元的數目卻會隨著增加，使得已儲存資料的實體抹除單元的數目經常大於上述的固定值。在此情況下，即使可複寫式非揮發性記憶體模組中仍具有足夠的儲存空間可儲存資料，記憶體儲存裝置仍會頻繁地執行垃圾收集操作，以致於影響整體運作的效能。
本發明提供一種記憶體管理方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元，其能夠降低執行垃圾收集操作的頻率，從而提升整體運作的效能。
本發明的一範例實施例提出一種記憶體管理方法，用於一可複寫式非揮發性記憶體模組，其中所述可複寫式非揮發性記憶體模組具有多個實體抹除單元。本記憶體管理方法包括根據儲存在至少部分的所述多個實體抹除單元中的有效資料的有效資料量獲取有效資料參數，且根據所述有效資料參數獲取第一門檻值。本記憶體管理方法更包括根據多個第一實體抹除單元的數目獲取第一判斷參數，其中所述多個第一實體抹除單元為所述多個實體抹除單元之中已被使用單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元，並且已被使用所述單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存一個資料位元。本記憶體管理方法還包括倘若所述第一判斷參數大於所述第一門檻值，執行垃圾收集操作。
在本發明的一範例實施例中，上述的根據儲存在所述至少部分的所述多個實體抹除單元中的所述有效資料的所述有效資料量獲取所述有效資料參數的步驟包括：將所述有效資料量除以預定容量以計算對應所述有效資料的有效數目來獲取所述有效資料參數。
在本發明的一範例實施例中，所述預定容量為被使用多頁程式化模式來程式化的一個實體抹除單元的資料容量，其中已被使用所述多頁程式化模式來程式化的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存多個資料位元。
在本發明的一範例實施例中，上述的根據所述有效資料參數獲取所述第一門檻值的步驟包括：將計算參數減去所述有效資料參數與第一預定參數以獲取所述第一門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單元的數目。
在本發明的一範例實施例中，其中執行所述垃圾收集操作的步驟是在一背景執行模式下執行。
在本發明的一範例實施例中，上述的記憶體管理方法更包括：從主機系統接收寫入指令；根據所述有效資料參數獲取第二門檻值；根據多個第二實體抹除單元的數目獲取第二判斷參數，其中所述多個第二實體抹除單元為所述多個實體抹除單元中的未儲存資料的實體抹除單元；以及倘若所述第二判斷參數小於所述第二門檻值，使用多頁程式化模式將對應所述寫入指令的資料程式化至所述多個第二實體抹除單元之中的第三實體抹除單元，其中已被使用所述多頁程式化模式來程式化的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存多個資料位元。
在本發明的一範例實施例中，上述的記憶體管理方法更包括：倘若所述有效資料參數小於所述第二門檻值，使用所述多頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
在本發明的一範例實施例中，上述的記憶體管理方法更包括：倘若所述第二判斷參數非小於所述第二門檻值且所述有效資料參數非小於所述第二門檻值，使用所述單頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
在本發明的一範例實施例中，其中所述第二門檻值小於所述第一門檻值，並且所述第一門檻值與所述第二門檻值之間的差值等於預定差值。
在本發明的一範例實施例中，上述的根據所述有效資料參數獲取所述第二門檻值的步驟包括：將計算參數減去所述有效資料參數與第二預定參數以獲取所述第二門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單元的數目。
本發明的一範例實施例提出一種用於控制可複寫式非揮發性記憶體模組的記憶體控制電路單元，其中所述可複寫式非揮發性記憶體模組具有多個實體抹除單元。所述記憶體控制電路單元包括主機介面、記憶體介面與記憶體管理電路。所述主機介面用以耦接至主機系統，所述記憶體介面用以耦接至所述可複寫式非揮發性記憶體模組，以及所述記憶體管理電路耦接至所述主機介面與所述記憶體介面。所述記憶體管理電路用以根據儲存在至少部分的所述多個實體抹除單元中的有效資料的有效資料量獲取有效資料參數。所述記憶體管理電路更用以根據所述有效資料參數獲取第一門檻值。所述記憶體管理電路更用以根據多個第一實體抹除單元的數目獲取第一判斷參數，其中所述多個第一實體抹除單元為所述多個實體抹除單元之中已被使用單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元，並且已被使用所述單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存一個資料位元。倘若所述第一判斷參數大於所述第一門檻值，所述記憶體管理電路更用以執行垃圾收集操作。
在本發明的一範例實施例中，在所述根據儲存在所述至少部分的所述多個實體抹除單元中的所述有效資料的所述有效資料量獲取所述有效資料參數的運作中，所述記憶體管理電路將所述有效資料量除以預定容量以計算對應所述有效資料的有效數目來獲取所述有效資料參數。
在本發明的一範例實施例中，所述預定容量為被使用多頁程式化模式來程式化的一個實體抹除單元的資料容量，其中已被使用所述多頁程式化模式來程式化的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存多個資料位元。
在本發明的一範例實施例中，在所述根據所述有效資料參數獲取所述第一門檻值的運作中，所述記憶體管理電路將計算參數減去所述有效資料參數與第一預定參數以獲取所述第一門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單元的數目。
在本發明的一範例實施例中，所述記憶體管理電路是在背景執行模式下執行倘若所述第一判斷參數大於所述第一門檻值，執行所述垃圾收集操作的運作。
在本發明的一範例實施例中，所述記憶體管理電路更用以從主機系統接收寫入指令。所述記憶體管理電路更用以根據所述有效資料參數獲取第二門檻值。所述記憶體管理電路更用以根據多個第二實體抹除單元的數目獲取第二判斷參數，其中所述多個第二實體抹除單元為所述多個實體抹除單元中的未儲存資料的實體抹除單元。倘若所述第二判斷參數小於所述第二門檻值，所述記憶體管理電路更用以使用多頁程式化模式將對應所述寫入指令的資料程式化至所述多個第二實體抹除單元之中的第三實體抹除單元，其中已被使用所述多頁程式化模式來程式化的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存多個資料位元。
在本發明的一範例實施例中，倘若所述有效資料參數小於所述第二門檻值，所述記憶體管理電路更用以使用所述多頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
在本發明的一範例實施例中，倘若所述第二判斷參數非小於所述第二門檻值且所述有效資料參數非小於所述第二門檻值，所述記憶體管理電路更用以使用所述單頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
在本發明的一範例實施例中，所述第二門檻值小於所述第一門檻值，並且所述第一門檻值與所述第二門檻值之間的差值等於預定差值。
在本發明的一範例實施例中，在所述根據所述有效資料參數獲取所述第二門檻值的運作中，所述記憶體管理電路將計算參數減去所述有效資料參數與第二預定參數以獲取所述第二門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單元的數目。
本發明的一範例實施例提出一種記憶體儲存裝置，其包括連接介面單元、可複寫式非揮發性記憶體模組與記憶體控制電路單元。所述連接介面單元用以耦接至主機系統。所述可複寫式非揮發性記憶體模組具有多個實體抹除單元。所述記憶體控制電路單元耦接至所述連接介面單元與所述可複寫式非揮發性記憶體模組。所述記憶體控制電路單元用以根據儲存在至少部分的所述多個實體抹除單元中的有效資料的有效資料量獲取有效資料參數。所述記憶體控制電路單元更用以根據所述有效資料參數獲取第一門檻值。所述記憶體控制電路單元更用以根據多個第一實體抹除單元的數目獲取第一判斷參數，其中所述多個第一實體抹除單元為所述多個實體抹除單元之中已被使用單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元，並且已被使用所述單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存一個資料位元。倘若所述第一判斷參數大於所述第一門檻值，所述記憶體控制電路單元更用以執行垃圾收集操作。
在本發明的一範例實施例中，在所述根據儲存在所述至少部分的所述多個實體抹除單元中的所述有效資料的所述有效資料量獲取所述有效資料參數的運作中，所述記憶體控制電路單元將所述有效資料量除以預定容量以計算對應所述有效資料的有效數目來獲取所述有效資料參數。
在本發明的一範例實施例中，所述預定容量為被使用多頁程式化模式來程式化的一個實體抹除單元的資料容量，其中已被使用所述多頁程式化模式來程式化的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存多個資料位元。
在本發明的一範例實施例中，在所述根據所述有效資料參數獲取所述第一門檻值的運作中，所述記憶體控制電路單元將計算參數減去所述有效資料參數與第一預定參數以獲取所述第一門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單元的數目。
在本發明的一範例實施例中，所述記憶體控制電路單元是在背景執行模式下執行倘若所述第一判斷參數大於所述第一門檻值，執行所述垃圾收集操作的運作。
在本發明的一範例實施例中，所述記憶體控制電路單元更用以從主機系統接收寫入指令。所述記憶體控制電路單元更用以根據所述有效資料參數獲取第二門檻值。所述記憶體控制電路單元更用以根據多個第二實體抹除單元的數目獲取第二判斷參數，其中所述多個第二實體抹除單元為所述多個實體抹除單元中的未儲存資料的實體抹除單元。倘若所述第二判斷參數小於所述第二門檻值，所述記憶體控制電路單元更用以使用多頁程式化模式將對應所述寫入指令的資料程式化至所述多個第二實體抹除單元之中的第三實體抹除單元，其中已被使用所述多頁程式化模式來程式化的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存多個資料位元。
在本發明的一範例實施例中，倘若所述有效資料參數小於所述第二門檻值，所述記憶體控制電路單元更用以使用所述多頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
在本發明的一範例實施例中，倘若所述第二判斷參數非小於所述第二門檻值且所述有效資料參數非小於所述第二門檻值，所述記憶體控制電路單元更用以使用所述單頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
在本發明的一範例實施例中，所述第二門檻值小於所述第一門檻值，並且所述第一門檻值與所述第二門檻值之間的差值等於預定差值。
在本發明的一範例實施例中，在所述根據所述有效資料參數獲取所述第二門檻值的運作中，所述記憶體控制電路單元將計算參數減去所述有效資料參數與第二預定參數以獲取所述第二門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單元的數目。
基於上述，本範例實施例的記憶體管理方法、記憶體控制電路單元與記憶體儲存裝置，是根據儲存在實體抹除單元中的有效資料的有效資料量來獲取用以判斷是否執行垃圾收集操作的門檻值，藉此使得此門檻值可隨著有效資料量的變化而動態地調整，基此，可延後垃圾收集操作的啟動時間，由此改善因門檻值為固定值而經常執行垃圾收集操作的狀況，進而提升整體運作的效能。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
一般而言，記憶體儲存裝置（亦稱，記憶體儲存系統）包括可複寫式非揮發性記憶體模組與控制器（亦稱，控制電路單元）。通常記憶體儲存裝置是與主機系統一起使用，以使主機系統可將資料寫入至記憶體儲存裝置或從記憶體儲存裝置中讀取資料。
圖1是根據一範例實施例所繪示的主機系統、記憶體儲存裝置及輸入/輸出（I/O）裝置的示意圖，並且圖2是根據另一範例實施例所繪示的主機系統、記憶體儲存裝置及輸入/輸出（I/O）裝置的示意圖。
請參照圖1與圖2，主機系統11一般包括處理器111、隨機存取記憶體（random access memory, RAM）112、唯讀記憶體（read only memory, ROM）113及資料傳輸介面114。處理器111、隨機存取記憶體112、唯讀記憶體113及資料傳輸介面114皆耦接至系統匯流排（system bus）110。
在本範例實施例中，主機系統11是透過資料傳輸介面114與記憶體儲存裝置10耦接。例如，主機系統11可經由資料傳輸介面114將資料寫入至記憶體儲存裝置10或從記憶體儲存裝置10中讀取資料。此外，主機系統11是透過系統匯流排110與I/O裝置12耦接。例如，主機系統11可經由系統匯流排110將輸出訊號傳送至I/O裝置12或從I/O裝置12接收輸入訊號。
在本範例實施例中，處理器111、隨機存取記憶體112、唯讀記憶體113及資料傳輸介面114是可設置在主機系統11的主機板20上。資料傳輸介面114的數目可以是一或多個。透過資料傳輸介面114，主機板20可以經由有線或無線方式耦接至記憶體儲存裝置10。記憶體儲存裝置10可例如是隨身碟201、記憶卡202、固態硬碟（Solid State Drive, SSD）203或無線記憶體儲存裝置204。無線記憶體儲存裝置204可例如是近距離無線通訊（Near Field Communication Storage, NFC）記憶體儲存裝置、無線傳真（WiFi）記憶體儲存裝置、藍牙（Bluetooth）記憶體儲存裝置或低功耗藍牙記憶體儲存裝置（例如，iBeacon）等以各式無線通訊技術為基礎的記憶體儲存裝置。此外，主機板20也可以透過系統匯流排110耦接至全球定位系統（Global Positioning System, GPS）模組205、網路介面卡206、無線傳輸裝置207、鍵盤208、螢幕209、喇叭210等各式I/O裝置。例如，在一範例實施例中，主機板20可透過無線傳輸裝置207存取無線記憶體儲存裝置204。
在一範例實施例中，所提及的主機系統為可實質地與記憶體儲存裝置配合以儲存資料的任意系統。雖然在上述範例實施例中，主機系統是以電腦系統來作說明，然而，圖3是根據另一範例實施例所繪示的主機系統與記憶體儲存裝置的示意圖。請參照圖3，在另一範例實施例中，主機系統31也可以是數位相機、攝影機、通訊裝置、音訊播放器、視訊播放器或平板電腦等系統，而記憶體儲存裝置30可為其所使用的SD卡32、CF卡33或嵌入式儲存裝置34等各式非揮發性記憶體儲存裝置。嵌入式儲存裝置34包括嵌入式多媒體卡（embedded MMC, eMMC）341及/或嵌入式多晶片封裝儲存裝置（embedded Multi Chip Package, eMCP）342等各類型將記憶體模組直接耦接於主機系統的基板上的嵌入式儲存裝置。
圖4是根據一範例實施例所繪示的主機系統與記憶體儲存裝置的概要方塊圖。
請參照圖4，記憶體儲存裝置10包括連接介面單元402、記憶體控制電路單元404與可複寫式非揮發性記憶體模組406。
在本範例實施例中，連接介面單元402是相容於序列先進附件（Serial Advanced Technology Attachment, SATA）標準。然而，必須瞭解的是，本發明不限於此，連接介面單元402亦可以是符合安全數位（Secure Digital, SD）介面標準、並列先進附件（Parallel Advanced Technology Attachment, PATA）標準、電氣和電子工程師協會（Institute of Electrical and Electronic Engineers, IEEE）1394標準、高速周邊零件連接介面（Peripheral Component Interconnect Express, PCI Express）標準、通用序列匯流排（Universal Serial Bus, USB）標準、超高速一代（Ultra High Speed-I, UHS-I）介面標準、超高速二代（Ultra High Speed-II, UHS-II）介面標準、記憶棒（Memory Stick, MS）介面標準、多晶片封裝（Multi-Chip Package）介面標準、多媒體儲存卡（Multi Media Card, MMC）介面標準、嵌入式多媒體儲存卡（Embedded Multimedia Card, eMMC）介面標準、通用快閃記憶體（Universal Flash Storage, UFS）介面標準、嵌入式多晶片封裝（embedded Multi Chip Package, eMCP）介面標準、小型快閃（Compact Flash, CF）介面標準、整合式驅動電子介面（Integrated Device Electronics, IDE）標準或其他適合的標準。在本範例實施例中，連接介面單元402可與記憶體控制電路單元404封裝在一個晶片中，或者連接介面單元402是佈設於一包含記憶體控制電路單元之晶片外。
記憶體控制電路單元404用以執行以硬體型式或韌體型式實作的多個邏輯閘或控制指令，並且根據主機系統11的指令在可複寫式非揮發性記憶體模組406中進行資料的寫入、讀取與抹除等操作。
可複寫式非揮發性記憶體模組406是耦接至記憶體控制電路單元404，並且用以儲存主機系統11所寫入之資料。可複寫式非揮發性記憶體模組406具有實體抹除單元410(0)~ 410(N)。例如，實體抹除單元410(0)~410(N)可屬於同一個記憶體晶粒（die）或者屬於不同的記憶體晶粒。每一實體抹除單元分別具有複數個實體程式化單元，其中屬於同一個實體抹除單元之實體程式化單元可被獨立地寫入且被同時地抹除。然而，必須瞭解的是，本發明不限於此，每一實體抹除單元是可由64個實體程式化單元、256個實體程式化單元或其他任意個實體程式化單元所組成。
更詳細來說，實體抹除單元為抹除之最小單位。亦即，每一實體抹除單元含有最小數目之一併被抹除之記憶胞。實體程式化單元為程式化的最小單元。即，實體程式化單元為寫入資料的最小單元。每一實體程式化單元通常包括資料位元區與冗餘位元區。資料位元區包含多個實體存取位址用以儲存使用者的資料，而冗餘位元區用以儲存系統的資料（例如，控制資訊與錯誤更正碼）。在本範例實施例中，每一個實體程式化單元的資料位元區中會包含8個實體存取位址，且一個實體存取位址的大小為512位元組（byte）。然而，在其他範例實施例中，資料位元區中也可包含數目更多或更少的實體存取位址，本發明並不限制實體存取位址的大小以及個數。例如，在一範例實施例中，實體抹除單元為實體區塊，並且實體程式化單元為實體頁面或實體扇區，但本發明不以此為限。
在本範例實施例中，可複寫式非揮發性記憶體模組406為三階記憶胞（Trinary Level Cell，TLC）NAND型快閃記憶體模組（即，一個記憶胞中可儲存3個資料位元的快閃記憶體模組）。然而，本發明不限於此，可複寫式非揮發性記憶體模組406亦可是單階記憶胞（Single Level Cell，SLC）NAND型快閃記憶體模組（即，一個記憶胞中可儲存1個資料位元的快閃記憶體模組）多階記憶胞（Multi Level Cell，MLC）NAND型快閃記憶體模組（即，一個記憶胞中可儲存2個資料位元的快閃記憶體模組）或其他具有相同特性的記憶體模組。
圖5是根據一範例實施例所繪示之記憶體控制電路單元的概要方塊圖。
請參照圖5，記憶體控制電路單元404包括記憶體管理電路502、主機介面504與記憶體介面506。
記憶體管理電路502用以控制記憶體控制電路單元404的整體運作。具體來說，記憶體管理電路502具有多個控制指令，並且在記憶體儲存裝置10運作時，此些控制指令會被執行以進行資料的寫入、讀取與抹除等運作。
在本範例實施例中，記憶體管理電路502的控制指令是以韌體型式來實作。例如，記憶體管理電路502具有微處理器單元（未繪示）與唯讀記憶體（未繪示），並且此些控制指令是被燒錄至此唯讀記憶體中。當記憶體儲存裝置10運作時，此些控制指令會由微處理器單元來執行以進行資料的寫入、讀取與抹除等運作。
在本發明另一範例實施例中，記憶體管理電路502的控制指令亦可以程式碼型式儲存於可複寫式非揮發性記憶體模組406的特定區域（例如，記憶體模組中專用於存放系統資料的系統區）中。此外，記憶體管理電路502具有微處理器單元（未繪示）、唯讀記憶體（未繪示）及隨機存取記憶體（未繪示）。特別是，此唯讀記憶體具有驅動碼，並且當記憶體控制電路單元404被致能時，微處理器單元會先執行此驅動碼段來將儲存於可複寫式非揮發性記憶體模組406中之控制指令載入至記憶體管理電路502的隨機存取記憶體中。之後，微處理器單元會運轉此些控制指令以進行資料的寫入、讀取與抹除等運作。
此外，在本發明另一範例實施例中，記憶體管理電路502的控制指令亦可以一硬體型式來實作。例如，記憶體管理電路502包括微控制器、記憶胞管理電路、記憶體寫入電路、記憶體讀取電路、記憶體抹除電路與資料處理電路。記憶胞管理電路、記憶體寫入電路、記憶體讀取電路、記憶體抹除電路與資料處理電路是耦接至微控制器。其中，記憶胞管理電路用以管理可複寫式非揮發性記憶體模組406的實體抹除單元；記憶體寫入電路用以對可複寫式非揮發性記憶體模組406下達寫入指令以將資料寫入至可複寫式非揮發性記憶體模組406中；記憶體讀取電路用以對可複寫式非揮發性記憶體模組406下達讀取指令以從可複寫式非揮發性記憶體模組406中讀取資料；記憶體抹除電路用以對可複寫式非揮發性記憶體模組406下達抹除指令以將資料從可複寫式非揮發性記憶體模組406中抹除；而資料處理電路用以處理欲寫入至可複寫式非揮發性記憶體模組406的資料以及從可複寫式非揮發性記憶體模組406中讀取的資料。
主機介面504是耦接至記憶體管理電路502並且用以耦接至連接介面單元402，以接收與識別主機系統11所傳送的指令與資料。也就是說，主機系統11所傳送的指令與資料會透過主機介面504來傳送至記憶體管理電路502。在本範例實施例中，主機介面504是相容於SATA標準。然而，必須瞭解的是本發明不限於此，主機介面504亦可以是相容於PATA標準、IEEE 1394標準、PCI Express標準、USB標準、UHS-I介面標準 、UHS-II介面標準、SD標準 、MS標準、MMC標準、CF標準、IDE標準或其他適合的資料傳輸標準。
記憶體介面506是耦接至記憶體管理電路502並且用以存取可複寫式非揮發性記憶體模組406。也就是說，欲寫入至可複寫式非揮發性記憶體模組406的資料會經由記憶體介面506轉換為可複寫式非揮發性記憶體模組406所能接受的格式。
緩衝記憶體508是耦接至記憶體管理電路502並且用以暫存來自於主機系統11的資料與指令或來自於可複寫式非揮發性記憶體模組406的資料。
在一範例實施例中，記憶體控制電路單元404還包括緩衝記憶體508、電源管理電路510與錯誤檢查與校正電路512。
電源管理電路510是耦接至記憶體管理電路502並且用以控制記憶體儲存裝置10的電源。
錯誤檢查與校正電路512是耦接至記憶體管理電路502並且用以執行錯誤檢查與校正程序以確保資料的正確性。具體來說，當記憶體管理電路502從主機系統11中接收到寫入指令時，錯誤檢查與校正電路512會為對應此寫入指令的資料產生對應的錯誤檢查與校正碼（Error Checking and Correcting Code, ECC Code），並且記憶體管理電路502會將對應此寫入指令的資料與對應的錯誤檢查與校正碼寫入至可複寫式非揮發性記憶體模組406中。之後，當記憶體管理電路502從可複寫式非揮發性記憶體模組406中讀取資料時會同時讀取此資料對應的錯誤檢查與校正碼，並且錯誤檢查與校正電路512會根據此錯誤檢查與校正碼對所讀取的資料執行錯誤檢查與校正程序。
在本範例實施例中，錯誤檢查與校正電路512是以低密度奇偶檢查碼（low density parity code，LDPC）來實作。然而，在另一範例實施例中，錯誤檢查與校正電路512也可以BCH碼、迴旋碼（convolutional code）、渦輪碼（turbo code）、位元翻轉（bit flipping）等編碼/解碼演算法來實作。
具體來說，記憶體管理電路202會依據所接收之資料及對應的錯誤檢查與校正碼（以下亦稱為錯誤校正碼）來產生錯誤校正碼框（ECC Frame）並且將錯誤校正碼框寫入至可複寫式非揮發性記憶體模組406中。之後，當記憶體管理電路502從可複寫式非揮發性記憶體模組406讀取資料時，錯誤檢查與校正電路512會根據錯誤校正碼框中的錯誤校正碼來驗證所讀取之資料的正確性。
以下描述記憶體管理電路502、主機介面504與記憶體介面506、緩衝記憶體508、電源管理電路510與錯誤檢查與校正電路512所執行的操作，亦可參考為由記憶體控制電路單元404所執行。
圖6與圖7是根據一範例實施例所繪示之管理實體抹除單元的範例示意圖。
必須瞭解的是，在此描述可複寫式非揮發性記憶體模組406之實體抹除單元的運作時，以“提取”、“分組”、“劃分”、“關聯”等詞來操作實體抹除單元是邏輯上的概念。也就是說，可複寫式非揮發性記憶體模組之實體抹除單元的實際位置並未更動，而是邏輯上對可複寫式非揮發性記憶體模組的實體抹除單元進行操作。
記憶體管理電路502會將實體抹除單元410(0)~410(N)邏輯地分組為資料區602、閒置區604、系統區606與取代區608。
邏輯上屬於資料區602與閒置區604的實體抹除單元是用以儲存來自於主機系統11的資料。具體來說，資料區602的實體抹除單元是被視為已儲存資料的實體抹除單元，而閒置區604的實體抹除單元是用以替換資料區602的實體抹除單元。也就是說，當從主機系統11接收到寫入指令與欲寫入之資料時，記憶體管理電路502會從閒置區604中提取實體抹除單元，並且將資料寫入至所提取的實體抹除單元中，以輪替資料區602的實體抹除單元。
邏輯上屬於系統區606的實體抹除單元是用以記錄系統資料。例如，系統資料包括關於可複寫式非揮發性記憶體模組的製造商與型號、可複寫式非揮發性記憶體模組的實體抹除單元數、每一實體抹除單元的實體程式化單元數等。
邏輯上屬於取代區608中的實體抹除單元是用於壞實體抹除單元取代程序，以取代損壞的實體抹除單元。具體來說，倘若取代區608中仍存有正常之實體抹除單元並且資料區602的實體抹除單元損壞時，記憶體管理電路502會從取代區608中提取正常的實體抹除單元來更換損壞的實體抹除單元。
特別是，資料區602、閒置區604、系統區606與取代區608之實體抹除單元的數量會根據不同的記憶體規格而有所不同。此外，必須瞭解的是，在記憶體儲存裝置10的運作中，實體抹除單元關聯至資料區602、閒置區604、系統區606與取代區608的分組關係會動態地變動。例如，當閒置區604中的實體抹除單元損壞而被取代區608的實體抹除單元取代時，則原本取代區608的實體抹除單元會被關聯至閒置區604。
請參照圖7，記憶體管理電路502會配置邏輯單元LBA(0)~LBA(H)以映射資料區602的實體抹除單元，其中每一邏輯單元具有多個邏輯子單元以映射對應之實體抹除單元的實體程式化單元。並且，當主機系統11欲寫入資料至邏輯單元或更新儲存於邏輯單元中的資料時，記憶體管理電路502會從閒置區604中提取一個實體抹除單元來寫入資料，以輪替資料區602的實體抹除單元。在本範例實施例中，邏輯子單元可以是邏輯頁面或邏輯扇區。
為了識別每個邏輯單元的資料被儲存在哪個實體抹除單元，在本範例實施例中，記憶體管理電路502會記錄邏輯單元與實體抹除單元之間的映射。並且，當主機系統11欲在邏輯子單元中存取資料時，記憶體管理電路502會確認此邏輯子單元所屬的邏輯單元，並且在此邏輯單元所映射的實體抹除單元中來存取資料。例如，在本範例實施例中，記憶體管理電路502會在可複寫式非揮發性記憶體模組406中儲存邏輯-實體映射表來記錄每一邏輯單元所映射的實體抹除單元，並且當欲存取資料時記憶體管理電路502會將邏輯-實體映射表載入至緩衝記憶體508來維護。
值得一提的是，由於緩衝記憶體508的容量有限無法儲存記錄所有邏輯單元之映射關係的映射表，因此，在本範例實施例中，記憶體管理電路502會將邏輯單元LBA(0)~LBA(H)分組為多個邏輯區域LZ(0)~LZ(M)，並且為每一邏輯區域配置一個邏輯-實體映射表。特別是，當記憶體管理電路502欲更新某個邏輯單元的映射時，對應此邏輯單元所屬之邏輯區域的邏輯-實體映射表會被載入至緩衝記憶體508來被更新。
在本範例實施例中，記憶體管理電路502可使用單頁程式化模式或多頁程式化模式來將資料程式化至實體抹除單元。所謂單頁程式化模式是指，一個記憶胞只儲存一個資料位元的寫入模式。單頁程式化模式例如是單階記憶胞（single layer memory cell, SLC）程式化模式、下實體程式化（lower physical programming）模式、混合程式化（mixture programming）模式及少階記憶胞（less layer memory cell）程式化模式的其中之一。更詳細來說，在單階記憶胞模式中，一個記憶胞只儲存一個位元的資料。在下實體程式化模式中，只有下實體程式化單元會被程式化，而此下實體程式化單元所對應之上實體程式化單元可不被程式化。在混合程式化模式中，有效資料（或，真實資料）會被程式化於下實體程式化單元中，而同時虛擬資料（dummy data）會被程式化至儲存有效資料之下實體程式化單元所對應的上實體程式化單元中。在少階記憶胞模式中，一個記憶胞儲存一第一數目之位元的資料，例如，此第一數目可設為“1”。所謂多頁程式化模式是指，一個記憶胞儲存多個資料位元的寫入模式。多頁程式化模式例如是多階記憶胞（MLC）程式化模式、三階（TLC）記憶胞程式化模式或類似模式。在多頁程式化模式中，一個記憶胞儲存有一第二數目之位元的資料，其中此第二數目等於或大於“2”。例如，此第二數目可設為2或3。
也就是說，在單頁程式化模式中，一條字元線上的記憶胞僅提供一個實體程式化單元的儲存容量來儲存資料，而在多頁程式化模式中，一條字元線上的記憶胞可提供多個實體程式化單元的儲存容量來儲存資料。因此，基於多頁程式化模式來程式化的一個實體抹除單元的資料容量會大於基於單頁程式化模式來程式化的一個實體抹除單元的資料容量。在一範例實施例中，基於多頁程式化模式來程式化的一個實體抹除單元的資料容量亦稱為一個實體抹除單元的預定容量。此外，基於單頁程式化模式來程式化記憶胞之程式化速度會高於基於多頁程式化模式來程式化記憶胞之程式化速度（即，使用多頁程式化模式來程式化資料的所需操作時間大於使用單頁程式化模式來程式化資料的所需操作時間），而基於單頁程式化模式而被儲存之資料的可靠度也往往高於基於多頁程式化模式而被儲存之資料的可靠度。
圖8是根據一範例實施例所繪示之資料更新的示意圖。
請參照圖7與圖8，如上所述，在可複寫式非揮發性記憶體模組406中，資料區602與閒置區604的實體抹除單元會以輪替方式來儲存來自於主機系統11的資料。例如，當從主機系統11接收到指示將資料寫入至邏輯單元LBA(0)的寫入指令時，記憶體管理電路502從閒置區604提取實體抹除單元410(0)，將屬於邏輯單元LBA(0)的資料程式化至實體抹除單元410(0)，並將實體抹除單元410(0)關聯至資料區602。之後，在邏輯單元LBA(0)的資料被程式化至實體抹除單元410(0)的情況下，若來自於主機系統11的另一寫入指令指示將新資料寫入至邏輯單元LBA(0)，邏輯單元LBA(0)的新資料會被程式化至另一個實體抹除單元410(1)中，而儲存在實體抹除單元410(0)中的資料會被視為舊資料而被標示為無效。若主機系統11不斷地發送指示將新資料寫入至邏輯單元LBA(0)的寫入指令，屬於邏輯單元LBA(0)的新資料會不斷地被程式化至實體抹除單元410(2)~410(F-1)，而儲存在實體抹除單元410(0)~410(F-2)中屬於邏輯單元LBA(0)的舊資料皆會被標示為無效。當上述的操作執行一段時間之後，屬於邏輯單元LBA(0)的新資料被程式化至實體抹除單元410(F)，而儲存在實體抹除單元410(0)~410(F-1)中屬於邏輯單元LBA(0)的舊資料皆被標示為無效（見斜線部分）。此時，雖然實體抹除單元410(0)~410(F)皆為已儲存資料的實體抹除單元（或稱為已使用的實體抹除單元），然而，只有儲存在實體抹除單元410(F)的新資料是有效資料。也就是說，雖然實體抹除單元410(0)~410(F)皆儲存有資料，但實際上實體抹除單元410(0)~410(F)所儲存之有效資料的資料量（或稱為有效資料量）只相當於一個實體抹除單元的資料容量。換句話說，在上述情況下，根據來自於主機系統的11指令而執行了多次寫入操作之後，雖然已儲存資料的實體抹除單元的數目不斷地增加，但對應的有效資料量並未增加。
在本範例實施例中，當已儲存資料的實體抹除單元（以下亦稱第一實體抹除單元）的數目大於一特定數值時，記憶體管理電路502會執行垃圾收集操作來整理資料區602中的有效資料，以將資料區602中未儲存有效資料的實體抹除單元重新關聯至閒置區604。在一範例實施例中，有效資料量可為儲存在資料區602的實體抹除單元中的有效資料的總資料量，且第一實體抹除單元可為屬於資料區602的實體抹除單元。在一範例實施例中，有效資料量為儲存於第一實體抹除單元中的有效資料的總資料量。記憶體管理電路502會取得對應有效資料量的有效資料參數，並根據有效資料參數來獲取對應上述特定數值的一個門檻值（以下亦稱第一門檻值）。
更詳細來說，記憶體管理電路502可將有效資料量除以一個實體抹除單元的預定容量來獲取對應有效資料量的一個有效數目，並且根據有效數目來獲取有效資料參數。例如，此有效資料參數可正相關於儲存於第一實體抹除單元中的有效資料的總資料量。此外，記憶體管理電路502還會獲取對應所有實體抹除單元的數目的一個參數（以下亦稱計算參數）。接著，記憶體管理電路502可根據計算參數與有效資料參數來獲取第一門檻值。例如，記憶體管理電路502可將計算參數減去有效資料參數而獲得一差值（以下亦稱第一差值），並將第一差值減去一預定參數（以下亦稱第一預定參數）來獲取第一門檻值。第一預定參數可根據在管理上所需消耗的實體抹除單元的數目來設定。而在另一範例實施例中，記憶體管理電路502也可將第一差值視為第一門檻值。
再者，記憶體管理電路502會取得第一實體抹除單元（也就是已儲存資料的實體抹除單元）的數目，並且根據第一實體抹除單元的數目獲取一參數（以下亦稱第一判斷參數）。換句話說，第一判斷參數是對應於已儲存資料的實體抹除單元的數目。之後，記憶體管理電路502會判斷第一判斷參數是否大於第一門檻值。當第一判斷參數大於第一門檻值時，記憶體管理電路502會執行垃圾收集操作。
記憶體管理電路502可從第一實體抹除單元中選取至少一個實體抹除單元來執行垃圾收集操作。記憶體管理電路502會將此至少一個實體抹除單元中的有效資料複製到另一個從閒置區604選擇的實體抹除單元。例如，記憶體管理電路502可使用單頁程式化模式或多頁程式化模式來將所複製的有效資料儲存至所選擇的實體抹除單元。之後，記憶體管理電路502會對此至少一個實體抹除單元執行抹除操作而使此至少一個實體抹除單元成為未儲存資料的實體抹除單元，並將已被抹除的實體抹除單元關聯至閒置區604。經由垃圾收集操作，已儲存資料的實體抹除單元（也就是第一實體抹除單元）的數目會減少（及/或屬於閒置區6014的實體抹除單元的數目會增加），並且第一判斷參數也會改變。例如，若第一判斷參數的數值正相關於當前第一實體抹除單元的總數，則隨著第一實體抹除單元的數目減少，第一判斷參數的數值也會減少。記憶體管理電路502可持續判斷第一判斷參數是否大於第一門檻值。當第一判斷參數小於或等於第一門檻值時，記憶體管理電路502可結束垃圾收集操作。
在可複寫式非揮發性記憶體模組406為TLC NAND型快閃記憶體模組的例子中，記憶體管理電路502可使用單頁程式化模式或多頁程式化模式來將資料程式化至實體抹除單元中。在一範例實施例中，記憶體管理電路502可將實體抹除單元初始地設定為基於單頁程式化模式來程式化。也就是說，當接收到來自於主機系統11的寫入指令時，記憶體管理電路502會從閒置區604中提取一個實體抹除單元，並且使用單頁程式化模式將對應於此寫入指令的資料（即寫入資料）程式化至此實體抹除單元中的實體程式化單元。爾後，若此實體抹除單元被寫滿（也就是此實體抹除單元中的所有實體程式化單元皆已儲存資料），記憶體管理電路502會將此實體抹除單元關聯至資料區602，並且從閒置區604中提取另一個實體抹除單元來程式化資料。在本範例實施例中，前述的第一實體抹除單元（也就是已儲存資料的實體抹除單元）可為資料區602中已被使用單頁程式化模式來程式化的實體抹除單元。
屬於閒置區604的實體抹除單元可視為未儲存資料的實體抹除單元或閒置實體抹除單元（以下亦稱第二實體抹除單元）。隨著寫入操作的執行次數增加，第二實體抹除單元的數目會對應減少。在本範例實施例中，當第二實體抹除單元的數目少於另一特定數值時，記憶體管理電路502會將閒置區604中剩餘的實體抹除單元設定為基於多頁程式化模式來程式化。更詳細來說，記憶體管理電路502可根據上述有效資料量來獲取對應此特定數值的另一個門檻值（以下亦稱第二門檻值）。例如，記憶體管理電路502可將前述根據計算參數與有效資料參數所取得的第一差值減去另一預定參數（以下亦稱第二預定參數）以計算出第二門檻值。第二預定參數亦可根據在管理上所需消耗的實體抹除單元的數目來設定，並且第二預定參數可不同於第一預定參數。舉例來說，第二門檻值可小於第一門檻值。也就是說，第一門檻值與第二門檻值之間存在一預定差值。因此，在另一範例實施例中，記憶體管理電路502也可將第一門檻值減去預定差值來獲取第二門檻值。預定差值可為對應於15~20個實體抹除單元的數值。例如，預定差值可等於15。
之後，記憶體管理電路502會獲取對應未儲存資料的實體抹除單元（也就是第二實體抹除單元）的數目的參數（以下亦稱第二判斷參數），並且判斷第二判斷參數是否小於第二門檻值。例如，第二實體抹除單元的數目可為屬於閒置區604的實體抹除單元的總數，且第二判斷參數可正相關於第二實體抹除單元的數目。當第二判斷參數小於第二門檻值時，記憶體管理電路502會將閒置區604中剩餘的實體抹除單元設定為基於多頁程式化模式來程式化。在將實體抹除單元設定為基於多頁程式化模式來程式化之後，當從主機系統11接收到寫入指令時，記憶體管理電路502會從閒置區604中提取實體抹除單元，並且使用多頁程式化模式將對應此寫入指令的資料（即寫入資料）程式化至所提取的實體抹除單元中。換句話說，所提取的實體抹除單元即為前述的第二實體抹除單元的其中之一。記憶體管理電路502可持續判斷第二判斷參數是否小於第二門檻值。若第二判斷參數非小於第二門檻值，則記憶體管理電路502可使用單頁程式化模式來執行實體抹除單元的程式化操作。
在另一範例實施例中，記憶體管理電路502還可根據對應有效資料量的有效資料參數與第二門檻值來判斷要使用單頁程式化模式或多頁程式化操作來執行實體抹除單元的程式化操作。若有效資料參數小於第二門檻值，記憶體管理電路502會使用多頁程式化模式來對閒置區604中剩餘的實體抹除單元執行程式化操作。換言之，記憶體管理電路502可在第二判斷參數小於第二門檻值或有效資料參數小於第二門檻值時，使用多頁程式化模式來執行後續對於實體抹除單元的程式化操作。此外，記憶體管理電路502可在第二判斷參數非小於第二門檻值並且有效資料參數非小於第二門檻值時，使用單頁程式化模式來執行後續對於實體抹除單元的程式化操作。
在一範例實施例中，上述的各參數可分別以相關的實體抹除單元的數目來表示。例如，記憶體管理電路502可將有效資料量除以一個實體抹除單元的預定容量而計算出有效數目，並將此有效數目視為有效資料參數。此有效數目即可用以表示有效資料量相當於幾個實體抹除單元的預定容量。計算參數可為所有實體抹除單元的數目(例如，計算參數可為資料區602與閒置區604中所有實體抹除單元的總數)。第一預定參數與第二預定參數可分別為在管理上所需消耗的實體抹除單元的數目，且第一預定參數與第二預定參數可相同或不同，視實務需求而定。第一判斷參數可為已儲存資料的實體抹除單元的數目，而第二判斷參數可為未儲存資料的實體抹除單元的數目。舉例來說，所有實體抹除單元的數目為100，計算參數可等於100。假設有效數目等於50，表示當前有效資料量相當於50個實體抹除單元的預定容量。倘若第一預定參數為10，則第一門檻值可等於40。倘若預定差值為15（也就是第二預定參數為25），則第二門檻值可等於25。
在另一範例實施例中，上述的各參數也可分別以相關的實體抹除單元的數目的對應比例來表示。上述的對應比例可分別為百分比或0到1的數值。例如，有效資料參數可為有效數目除以所有實體抹除單元的數目所取得的比例。計算參數可為對應所有實體抹除單元的數目的比例，也就是說，計算參數可為100%或1。第一預定參數或第二預定參數可為在管理上所需消耗的實體抹除單元的數目除以所有實體抹除單元的數目所取得的比例。第一判斷參數可為已儲存資料的實體抹除單元的數目除以所有實體抹除單元的數目所取得的比例。第二判斷參數可為未儲存資料的實體抹除單元的數目除以所有實體抹除單元的數目所取得的比例。舉例來說，對應所有實體抹除單元的數目的計算參數等於100%。假設有效數目等於50%，表示有效數目為所有實體抹除單元的數目的50%。倘若第一預定參數為10%，則第一門檻值可等於40%。倘若第二預定參數為25%，則第二門檻值可等於25%。
圖9是根據一範例實施例所繪示之記憶體管理方法的流程圖。
請參照圖9，在步驟S901中，記憶體管理電路502根據儲存在多個實體抹除單元中的有效資料的有效資料量獲取有效資料參數。前述的多個實體抹除單元可為屬於資料區602的實體抹除單元。具體而言，記憶體管理電路502是根據有效資料量與一個實體抹除單元的資料容量來計算出有效數目，以根據有效數目獲取對應的有效資料參數。
在步驟S903中，記憶體管理電路502根據有效資料參數獲取第一門檻值。在本步驟中，記憶體管理電路502還可取得對應所有實體抹除單元的數目的計算參數，並且根據計算參數、有效資料參數與第一預定參數來計算出一差值以獲取第一門檻值。在步驟S905中，記憶體管理電路502根據多個第一實體抹除單元的數目獲取第一判斷參數，其中第一實體抹除單元為已被使用單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元。
之後，在步驟S907中，記憶體管理電路502會判斷第一判斷參數是否大於第一門檻值。倘若第一判斷參數非大於第一門檻值，記憶體管理電路502可重複執行步驟S901~S907以持續地更新第一門檻值及第一判斷參數，並且判斷第一判斷參數是否大於第一門檻值。另一方面，倘若第一判斷參數大於第一門檻值，在步驟S909中，記憶體管理電路502會執行垃圾收集操作。
圖10是根據另一範例實施例所繪示之記憶體管理方法的流程圖。在圖10的範例實施例中，實體抹除單元可初始地被設定為基於單頁程式化模式來程式化。
請參照圖10，在步驟S1001中，記憶體管理電路502從主機系統11接收寫入指令。在步驟S1003中，記憶體管理電路502根據儲存在多個實體抹除單元中的有效資料的有效資料量獲取有效資料參數。
在步驟S1005中，記憶體管理電路502根據有效資料參數獲取第二門檻值。在本步驟中，記憶體管理電路502還可取得對應所有實體抹除單元的數目的計算參數，並且根據計算參數、有效資料參數與第二預定參數來計算出一差值以獲取第二門檻值。第二門檻值與圖9中所述的第一門檻值之間可存在預定差值。
在步驟S1007中，記憶體管理電路502會根據多個第二實體抹除單元的數目獲取第二判斷參數，其中第二實體抹除單元為未儲存資料的實體抹除單元。或者，第二實體抹除單元為屬於閒置區604的實體抹除單元。
之後，在步驟S1009中，記憶體管理電路502會判斷第二判斷參數是否小於第二門檻值。倘若第二判斷參數非小於第二門檻值，在步驟S1011中，記憶體管理電路502使用單頁程式化模式將對應寫入指令的資料程式化至第三實體抹除單元。倘若第二判斷參數小於第二門檻值，在步驟S1013中，記憶體管理電路502使用多頁程式化模式將對應寫入指令的資料程式化至第三實體抹除單元。第三實體抹除單元可為第二實體抹除單元的其中之一。
圖9及圖10中的各步驟的詳細內容已於前述的範例實施例中說明，於此不再贅述。此外，記憶體管理電路502可在不同的執行模式下分別執行圖9與圖10的各步驟。舉例來說，記憶體管理電路502可在背景執行模式下執行圖9中的各步驟，並且在運行模式下執行圖10中的各步驟。
綜上所述，本發明的記憶體管理方法會根據有效資料量來取得用以判斷是否執行垃圾收集操作的門檻值，藉此使得此門檻值可隨著有效資料量的變化而動態地調整，基此，可延後垃圾收集操作的啟動時間，由此避免因門檻值為固定值而經常執行垃圾收集操作的狀況。此外，本發明的記憶體管理方法還會根據有效資料量來取得用以判斷是否改變實體抹除單元的程式化模式的門檻值。藉此可提升整體運作的效能。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧記憶體儲存裝置11‧‧‧主機系統12‧‧‧輸入/輸出（I/O）裝置110‧‧‧系統匯流排111‧‧‧處理器112‧‧‧隨機存取記憶體（RAM）113‧‧‧唯讀記憶體（ROM）114‧‧‧資料傳輸介面20‧‧‧主機板201‧‧‧隨身碟202‧‧‧記憶卡203‧‧‧固態硬碟204‧‧‧無線記憶體儲存裝置205‧‧‧全球定位系統模組206‧‧‧網路介面卡207‧‧‧無線傳輸裝置208‧‧‧鍵盤209‧‧‧螢幕210‧‧‧喇叭30‧‧‧記憶體儲存裝置31‧‧‧主機系統32‧‧‧SD卡33‧‧‧CF卡34‧‧‧嵌入式儲存裝置341‧‧‧嵌入式多媒體卡342‧‧‧嵌入式多晶片封裝儲存裝置402‧‧‧連接介面單元404‧‧‧記憶體控制電路單元406‧‧‧可複寫式非揮發性記憶體模組410(0)、410(1)、410(F-1)、410(F)、410(F+1)、410(S-1)、410(S)、410(S+1)、410(R-1)、410(R)、410(R+1)、410(N)‧‧‧實體抹除單元502‧‧‧記憶體管理電路504‧‧‧主機介面506‧‧‧記憶體介面508‧‧‧緩衝記憶體510‧‧‧電源管理電路512‧‧‧錯誤檢查與校正電路602‧‧‧資料區604‧‧‧閒置區606‧‧‧系統區608‧‧‧取代區LBA(0)~LBA(H)‧‧‧邏輯單元LZ(0)~LZ(M)‧‧‧邏輯區域S901‧‧‧根據儲存在多個實體抹除單元中的有效資料的有效資料量獲取有效資料參數的步驟S903‧‧‧根據有效資料參數獲取第一門檻值的步驟S905‧‧‧根據多個第一實體抹除單元的數目獲取第一判斷參數，其中第一實體抹除單元為已被使用單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元的步驟S907‧‧‧判斷第一判斷參數是否大於第一門檻值的步驟S909‧‧‧執行垃圾收集操作的步驟S1001‧‧‧接收寫入指令的步驟S1003‧‧‧根據儲存在多個實體抹除單元中的有效資料的有效資料量獲取有效資料參數的步驟S1005‧‧‧根據有效資料參數獲取第二門檻值的步驟S1007‧‧‧根據多個第二實體抹除單元的數目獲取第二判斷參數，其中第二實體抹除單元為未儲存資料的實體抹除單元的步驟S1009‧‧‧判斷第二判斷參數是否小於第二門檻值的步驟S1011‧‧‧使用單頁程式化模式將對應寫入指令的資料程式化至第三實體抹除單元的步驟S1013‧‧‧使用多頁程式化模式將對應寫入指令的資料程式化至第三實體抹除單元的步驟
圖1是根據一範例實施例所繪示的主機系統、記憶體儲存裝置及輸入/輸出（I/O）裝置的示意圖。 圖2是根據另一範例實施例所繪示的主機系統、記憶體儲存裝置及輸入/輸出（I/O）裝置的示意圖。 圖3是根據另一範例實施例所繪示的主機系統與記憶體儲存裝置的示意圖。 圖4是根據一範例實施例所繪示的主機系統與記憶體儲存裝置的概要方塊圖。 圖5是根據一範例實施例所繪示之記憶體控制電路單元的概要方塊圖。 圖6與圖7是根據一範例實施例所繪示之管理實體抹除單元的示意圖。 圖8是根據一範例實施例所繪示之資料更新的示意圖。 圖9是根據一範例實施例所繪示之記憶體管理方法的流程圖。 圖10是根據另一範例實施例所繪示之記憶體管理方法的流程圖。
S901‧‧‧根據儲存在多個實體抹除單元中的有效資料的有效資料量獲取有效資料參數的步驟
S903‧‧‧根據有效資料參數獲取第一門檻值的步驟
S905‧‧‧根據多個第一實體抹除單元的數目獲取第一判斷參數，其中第一實體抹除單元為已被使用單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元的步驟
S907‧‧‧判斷第一判斷參數是否大於第一門檻值的步驟
S909‧‧‧執行垃圾收集操作的步驟

Claims (25)

  1. 一種記憶體管理方法，用於一可複寫式非揮發性記憶體模組，其中所述可複寫式非揮發性記憶體模組具有多個實體抹除單元，所述記憶體管理方法包括： 根據儲存在至少部分的所述多個實體抹除單元中的有效資料的一有效資料量獲取一有效資料參數； 根據所述有效資料參數獲取一第一門檻值； 根據多個第一實體抹除單元的數目獲取一第一判斷參數，其中所述多個第一實體抹除單元為所述多個實體抹除單元之中已被使用一單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元，並且已被使用所述單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存一個資料位元；以及 若所述第一判斷參數大於所述第一門檻值，執行一垃圾收集操作。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的記憶體管理方法，其中根據儲存在所述至少部分的所述多個實體抹除單元中的所述有效資料的所述有效資料量獲取所述有效資料參數的步驟包括： 將所述有效資料量除以一預定容量以計算對應所述有效資料的一有效數目來獲取所述有效資料參數。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的記憶體管理方法，其中所述預定容量為被使用一多頁程式化模式來程式化的一個實體抹除單元的資料容量，其中已被使用所述多頁程式化模式來程式化的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存多個資料位元。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的記憶體管理方法，其中根據所述有效資料參數獲取所述第一門檻值的步驟包括： 將一計算參數減去所述有效資料參數與一第一預定參數以獲取所述第一門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單元的數目。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的記憶體管理方法，其中執行所述垃圾收集操作的步驟是在一背景執行模式下執行。
  6. 如申請專利範圍第1項所述的記憶體管理方法，更包括： 從一主機系統接收一寫入指令； 根據所述有效資料參數獲取一第二門檻值； 根據多個第二實體抹除單元的數目獲取一第二判斷參數，其中所述多個第二實體抹除單元為所述多個實體抹除單元中的未儲存資料的實體抹除單元；以及 倘若所述第二判斷參數小於所述第二門檻值，使用一多頁程式化模式將對應所述寫入指令的資料程式化至所述多個第二實體抹除單元之中的一第三實體抹除單元，其中已被使用所述多頁程式化模式來程式化的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存多個資料位元。
  7. 如申請專利範圍第6項所述的記憶體管理方法，更包括： 若所述有效資料參數小於所述第二門檻值，使用所述多頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
  8. 如申請專利範圍第7項所述的記憶體管理方法，更包括： 若所述第二判斷參數非小於所述第二門檻值且所述有效資料參數非小於所述第二門檻值，使用所述單頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
  9. 如申請專利範圍第6項所述的記憶體管理方法，其中所述第二門檻值小於所述第一門檻值，並且所述第一門檻值與所述第二門檻值之間的差值等於一預定差值。
  10. 如申請專利範圍第6項所述的記憶體管理方法，其中根據所述有效資料參數獲取所述第二門檻值的步驟包括： 將一計算參數減去所述有效資料參數與一第二預定參數以獲取所述第二門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單 元的數目。
  11. 一種記憶體控制電路單元，用於控制一可複寫式非揮發性記憶體模組，所述記憶體控制電路單元包括： 一主機介面，用以耦接至一主機系統； 一記憶體介面，用以耦接至所述可複寫式非揮發性記憶體模組，其中所述可複寫式非揮發性記憶體模組具有多個實體抹除單元；以及 一記憶體管理電路，耦接至所述主機介面與所述記憶體介面， 其中所述記憶體管理電路用以根據儲存在至少部分的所述多個實體抹除單元中的有效資料的一有效資料量獲取一有效資料參數， 其中所述記憶體管理電路更用以根據所述有效資料參數獲取一第一門檻值， 其中所述記憶體管理電路更用以根據多個第一實體抹除單元的數目獲取一第一判斷參數，其中所述多個第一實體抹除單元為所述多個實體抹除單元之中已被使用一單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元，並且已被使用所述單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存一個資料位元， 其中若所述第一判斷參數大於所述第一門檻值，所述記憶體管理電路更用以執行一垃圾收集操作。
  12. 如申請專利範圍第11項所述的記憶體控制電路單元，其中在所述根據儲存在所述至少部分的所述多個實體抹除單元中的所述有效資料的所述有效資料量獲取所述有效資料參數的運作中，所述記憶體管理電路將所述有效資料量除以一預定容量以計算對應所述有效資料的一有效數目來獲取所述有效資料參數。
  13. 如申請專利範圍第11項所述的記憶體控制電路單元，其中在所述根據所述有效資料參數獲取所述第一門檻值的運作中，所述記憶體管理電路將一計算參數減去所述有效資料參數與一第一預定參數以獲取所述第一門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單元的數目。
  14. 如申請專利範圍第11項所述的記憶體控制電路單元，其中所述記憶體管理電路更用以從一主機系統接收一寫入指令， 其中所述記憶體管理電路更用以根據所述有效資料參數獲取一第二門檻值， 其中所述記憶體管理電路更用以根據多個第二實體抹除單元的數目獲取一第二判斷參數，其中所述多個第二實體抹除單元為所述多個實體抹除單元中的未儲存資料的實體抹除單元， 其中若所述第二判斷參數小於所述第二門檻值，所述記憶體管理電路更用以使用一多頁程式化模式將對應所述寫入指令的資料程式化至所述多個第二實體抹除單元之中的一第三實體抹除單元，其中已被使用所述多頁程式化模式來程式化的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存多個資料位元。
  15. 如申請專利範圍第14項所述的記憶體控制電路單元，其中若所述有效資料參數小於所述第二門檻值，所述記憶體管理電路更用以使用所述多頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
  16. 如申請專利範圍第15項所述的記憶體控制電路單元，其中若所述第二判斷參數非小於所述第二門檻值且所述有效資料參數非小於所述第二門檻值，所述記憶體管理電路更用以使用所述單頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
  17. 如申請專利範圍第14項所述的記憶體控制電路單元，其中所述第二門檻值小於所述第一門檻值，並且所述第一門檻值與所述第二門檻值之間的差值等於一預定差值。
  18. 如申請專利範圍第14項所述的記憶體控制電路單元，其中在所述根據所述有效資料參數獲取所述第二門檻值的運作中，所述記憶體管理電路將一計算參數減去所述有效資料參數與一第二預定參數以獲取所述第二門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單元的數目。
  19. 一種記憶體儲存裝置，包括 一連接介面單元，用以耦接至一主機系統； 一可複寫式非揮發性記憶體模組，具有多個實體抹除單元；以及 一記憶體控制電路單元，耦接至所述連接介面單元與所述可複寫式非揮發性記憶體模組， 其中所述記憶體控制電路單元用以根據儲存在至少部分的所述多個實體抹除單元中的有效資料的一有效資料量獲取一有效資料參數， 其中所述記憶體控制電路單元更用以根據所述有效資料參數獲取一第一門檻值， 其中所述記憶體控制電路單元更用以根據多個第一實體抹除單元的數目獲取一第一判斷參數，其中所述多個第一實體抹除單元為所述多個實體抹除單元之中已被使用一單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元，並且已被使用所述單頁程式化模式來程式化資料的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存一個資料位元， 其中若所述第一判斷參數大於所述第一門檻值，所述記憶體控制電路單元更用以執行一垃圾收集操作。
  20. 如申請專利範圍第19項所述的記憶體儲存裝置，其中在所述根據儲存在所述至少部分的所述多個實體抹除單元中的所述有效資料的所述有效資料量獲取所述有效資料參數的運作中，所述記憶體控制電路單元將所述有效資料量除以一預定容量以計算對應所述有效資料的一有效數目來獲取所述有效資料參數。
  21. 如申請專利範圍第19項所述的記憶體儲存裝置，其中在所述根據所述有效資料參數獲取所述第一門檻值的運作中，所述記憶體控制電路單元將一計算參數減去所述有效資料參數與一第一預定參數以獲取所述第一門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單元的數目。
  22. 如申請專利範圍第19項所述的記憶體儲存裝置，其中所述記憶體控制電路單元更用以從一主機系統接收一寫入指令， 其中所述記憶體控制電路單元更用以根據所述有效資料參數獲取一第二門檻值， 其中所述記憶體控制電路單元更用以根據多個第二實體抹除單元的數目獲取一第二判斷參數，其中所述多個第二實體抹除單元為所述多個實體抹除單元中的未儲存資料的實體抹除單元， 其中倘若所述第二判斷參數小於所述第二門檻值，所述記憶體控制電路單元更用以使用一多頁程式化模式將對應所述寫入指令的資料程式化至所述多個第二實體抹除單元之中的一第三實體抹除單元，其中已被使用所述多頁程式化模式來程式化的實體抹除單元的每一個記憶胞儲存多個資料位元。
  23. 如申請專利範圍第22項所述的記憶體儲存裝置，其中若所述有效資料參數小於所述第二門檻值，所述記憶體控制電路單元更用以使用所述多頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
  24. 如申請專利範圍第23項所述的記憶體儲存裝置，其中若所述第二判斷參數非小於所述第二門檻值且所述有效資料參數非小於所述第二門檻值，所述記憶體控制電路單元更用以使用所述單頁程式化模式將對應所述寫入指令的所述資料程式化至所述第三實體抹除單元。
  25. 如申請專利範圍第22項所述的記憶體儲存裝置，其中在所述根據所述有效資料參數獲取所述第一門檻值的運作中，所述記憶體控制電路單元將一計算參數減去所述有效資料參數與一第二預定參數以獲取所述第二門檻值，其中所述計算參數對應所述多個實體抹除單元的數目。
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