TWI640793B - 電源鍵測試系統與方法 - Google Patents

Abstract

一種電源鍵測試系統與方法，用以偵測測試機的電源鍵。此方法包括：感測測試機在開機狀態或關機狀態；若為關機狀態時，控制一單穩態計時電路導通；單穩態計時電路倒數一預設時間；以及當預設時間倒數至零，導通電源鍵以模擬一按壓電源鍵動作。

Description

電源鍵測試系統與方法

本發明是有關於一種電源鍵測試系統與方法。

就現有技術而言，關於電源鍵的測試流程，通常是使用軟體搭配基本輸入輸出系統(Basic Input and Output，BIOS)執行，如此一來，無法真實體現並模擬使用者實際按壓電源鍵啟動或喚醒機器動作，因而導致部分無法預期的問題在出貨後產生。

本發明提供一種電源鍵測試系統與方法，在電子產品研發初期及出貨前，增加電源鍵的多元測試方式，更貼近使用者的操作模式，藉以發現未知的產品問題，以提升產品良率。本案採用簡單邏輯電路及電阻電容充放電路即可達成驗證測試，成本低廉。本案亦可利用微控制單元或可程式化邏輯器件來開發設計，藉以模組化並減小體積。

本發明之一實施方式提供一種電源鍵測試系統，用以偵測一測試機的一電源鍵是否能正常使用。此電源鍵測試系統包括一控制模組及一模擬模組。控制模組連接至測試機，控制模組包括第一繼電器，第一繼電器感測測試機處於開機狀態或關機狀態。模擬模組耦接至控制模組，模擬模組包括一單穩態計時電路及一第二繼電器。當第一繼電器感測到目前測試機為關機狀態時，第一繼電器控制單穩態計時電路導通，單穩態計時電路倒數一預設時間。第二繼電器耦接至單穩態計時電路，當單穩態計時電路倒數預設時間至零，單穩態計時電路輸出一切換訊號至第二繼電器，第二繼電器根據此切換訊號導通電源鍵以模擬按壓電源鍵動作。

本發明之一實施方式提供一種電源鍵測試方法，用以偵測一測試機的電源鍵是否能正常使用。此方法包括：感測測試機在開機狀態或關機狀態；若為關機狀態時，控制一單穩態計時電路導通；單穩態計時電路倒數一預設時間；以及當該單穩態計時電路倒數預設時間至零，導通電源鍵以模擬一按壓電源鍵動作。

以下將以圖式揭露本發明之複數個實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而，應瞭解到，這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說，在本發明部分實施方式中，這些實務上的細節是非必要的。此外，為簡化圖式起見，一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。

本發明提供一電源鍵測試系統與方法，用以偵測一測試機的電源鍵是否能正常使用。第1圖繪示本發明第一實施方式之電源鍵測試系統的功能方塊圖，電源鍵測試系統100用以偵測測試機110的電源鍵112是否能正常使用。其中，測試機110由電源供應設備120提供電力，電源供應設備120可以是一電源供應器或市電輸入端，測試機110可以是一電腦或其他相類似之電子裝置。電源鍵測試系統100包括：一控制模組130及一模擬模組140，控制模組130及模擬模擬140之間相互耦接。其中，控制模組130連接至測試機110的第一通用序列匯流排端口114(Universal Serial Bus，USB)，模擬模組140連接至測試機110的第二通用序列匯流排端口116。當測試機110在開機狀態時，第一通用序列匯流排端口114供電，當測試機110在關機狀態時，第一通用序列匯流排端口114不供電，而第二通用序列匯流排端口116則是持續供電。

控制模組130包括一第一繼電器132及一第一發光單元134。模擬模組140包括一單穩態計時電路150、一第二發光單元160及一第二繼電器170，單穩態計時電路150、第二發光單元160及第二繼電器170依序串接。其中，單穩態計時電路150包括一電容單元152、一電阻單元154及一計時單元156。

第2圖繪示本發明第一實施方式之電源鍵測試方法的流程圖，請同時參照第1圖及第2圖。首先，判斷測試機110是否在關機狀態(步驟S210)，控制模組130中的第一繼電器132先感測測試機110現為開機狀態或關機狀態。第一繼電器132可視為一電子開關，測試機110為開機或關機狀態將會影響第一繼電器132，藉以使第一繼電器132有不同的電路導通情況。

其中，控制模組130所包括的第一發光單元134，其並聯於第一繼電器132。當測試機110為開機狀態，第一發光單元134導通發光，當測試機110為關機狀態，則第一發光單元134不發光，藉以提醒測試人員目前測試機110為開機狀態或關機狀態。

承上所述，若步驟S210的判斷為是，第一繼電器132感測到目前測試機110為關機狀態時，則第一繼電器132與模擬模組140之間的電路導通，即控制單穩態計時電路150導通(步驟S220)。反之，當若步驟S210的判斷為否，表示測試機110目前為開機狀態，則第一繼電器132控制單穩態計時電路150為不導通(步驟S215)，控制模組130接著持續感測測試機110的開關機狀態是否有改變。

在步驟S220之後，單穩態計時電路150倒數一預設時間(步驟S230)。其中，單穩態計時電路150包括電容單元152、電阻單元154及計時單元156，電容單元152、電阻單元154及計時單元156三者相互耦接。當第一繼電器132控制單穩態計時電路150導通後，計時單元156倒數該預設時間，其中該預設時間為電容單元152的電容值及電阻單元154的電阻值所決定。

接著，單穩態計時電路150判斷預設時間是否倒數至零(步驟S240)。若步驟S240的判斷為否，則繼續倒數。若步驟S240的判斷為是，單穩態計時電路150輸出一切換訊號至第二繼電器170，第二繼電器170根據該切換訊號導通電源鍵112，以模擬按壓電源鍵動作 (步驟S250)。

其中，第二繼電器170亦可視為一電子開關，單穩態計時電路150是否送出切換訊號，將會影響第二繼電器170是否觸發測試機110的電源鍵112。舉例來說，第二繼電器170的其中一腳位可連接至測試機110的電源鍵112腳位，當第二繼電器170接收到單穩態計時電路150所送出的切換訊號時，第二繼電器170則觸發電源鍵112。當電源鍵112被觸發之後，測試機110為開機狀態，則第一繼電器132控制單穩態計時電路150為不導通。

此外，模擬模組140所包括的第二發光單元160，串聯於單穩態計時電路150及第二繼電器170之間，當單穩態計時電路150為導通，第二發光單元160導通發光。當第二發光單元160導通發亮，即提醒測試人員此時單穩態計時電路150已送出切換訊號予第二繼電器170。

本發明提供一種電源鍵測試系統與方法，在電子產品研發初期及出貨前，增加電源鍵的多元測試方式，更貼近使用者的操作模式，藉以發現未知的產品問題，以提升產品良率。本案採用簡單邏輯電路及電阻電容充放電路即可達成驗證測試，成本低廉。本案亦可利用微控制單元或可程式化邏輯器件來開發設計，藉以模組化並減小體積。

雖然本發明已以多種實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧電源鍵測試系統

110‧‧‧測試機

112‧‧‧電源鍵

114‧‧‧第一通用序列匯流排端口

116‧‧‧第二通用序列匯流排端口

120‧‧‧電源供應設備

130‧‧‧控制模組

132‧‧‧第一繼電器

134‧‧‧第一發光單元

140‧‧‧模擬模組

150‧‧‧單穩態計時電路

152‧‧‧電容單元

154‧‧‧電阻單元

156‧‧‧計時單元

160‧‧‧第二發光單元

170‧‧‧第二繼電器

S210~S250‧‧‧電源鍵測試方法流程步驟

第1圖繪示本發明第一實施方式之電源鍵測試系統的功能方塊圖。 第2圖繪示本發明第一實施方式之電源鍵測試方法的流程圖。

Claims (7)

1. 一種電源鍵測試系統，用以偵測一測試機的一電源鍵是否能正常使用，該電源鍵測試系統包括：一控制模組，連接至該測試機，包括：一第一繼電器，感測該測試機在一開機狀態或一關機狀態；以及一模擬模組，耦接至該控制模組，該模擬模組包括：一單穩態計時電路，當該第一繼電器感測到目前該測試機為該關機狀態時，該第一繼電器控制該單穩態計時電路導通，該單穩態計時電路倒數一預設時間；以及一第二繼電器，耦接至該單穩態計時電路，當該單穩態計時電路倒數該預設時間至零，該單穩態計時電路輸出一切換訊號至該第二繼電器，該第二繼電器根據該切換訊號導通該電源鍵以模擬一按壓電源鍵動作。
2. 如申請專利範圍第1項的電源鍵測試系統，其中，當該第二繼電器根據該切換訊號導通該電源鍵後，該測試機為該開機狀態，該第一繼電器控制該單穩態計時電路為不導通。
3. 如申請專利範圍第1項的電源鍵測試系統，其中該控制模組更包括：一第一發光單元，並聯該第一繼電器，當該測試機為該開機狀態，該第一發光單元導通發光。
4. 如申請專利範圍第1項的電源鍵測試系統，其中該模擬模組更包括：一第二發光單元，串聯於該單穩態計時電路及該第二繼電器之間，當該單穩態計時電路為導通，該第二發光單元導通發光。
5. 如申請專利範圍第1項的電源鍵測試系統，其中該單穩態計時電路包括：一電容單元；一電阻單元，耦接至該電容單元；以及一計時單元，耦接至該電容單元及該電阻單元，當該第一繼電器控制該單穩態計時電路導通後，該計時單元倒數該預設時間，其中該預設時間為該電容單元的電容值及該電阻單元的電阻值所決定。
6. 如申請專利範圍第1項的電源鍵測試系統，其中該控制模組透過一通用序列匯流排端口與該測試機連接。
7. 如申請專利範圍第1項的電源鍵測試系統，其中該模擬模組透過一通用序列匯流排端口與該測試機連接。