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TWI520561B - 測試板 - Google Patents

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Publication number
TWI520561B
TWI520561B TW101141854A TW101141854A TWI520561B TW I520561 B TWI520561 B TW I520561B TW 101141854 A TW101141854 A TW 101141854A TW 101141854 A TW101141854 A TW 101141854A TW I520561 B TWI520561 B TW I520561B
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TW
Taiwan
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test
voltage
voltages
control signal
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TW101141854A
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TW201419828A (zh
Inventor
陳一銘
劉駿寬
賴昆良
Original Assignee
緯創資通股份有限公司
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Publication date
Application filed by 緯創資通股份有限公司 filed Critical 緯創資通股份有限公司
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Priority to CN201210475314.8A priority patent/CN103813027B/zh
Priority to US13/904,011 priority patent/US9239356B2/en
Publication of TW201419828A publication Critical patent/TW201419828A/zh
Application granted granted Critical
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/26Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
    • H04M3/28Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
    • H04M3/30Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop
    • H04M3/308Craftsperson test terminals

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Description

測試板
本發明是有關於一種測試板的架構,且特別是有關於一種會議電話的測試裝置及其測試板的架構。
在習知的會議電話的測試領域中,常見利用國家儀器(National Instruments)所開發的PCI/PXI-6229介面卡以配置在電腦裝置上以作為測試主機。PCI/PXI-6229介面卡是一個具有固定數量的類比輸入埠(例如32埠)以及數位輸入及輸出埠(例如48埠)的介面卡。然而在隨著會議電話的功能越來越強大的狀態下,所需要針對會議電話進行測試的信號數量也越來越多。在此情況下,直接應用PCI/PXI-6229介面卡所提供的類比輸入埠來對會議電話進行電壓及/或電流的相關測試,顯然是不足夠的。
因此,為了可以測試具有更多功能的會議電話,在習知的技術領域中,必須使用具有更多數量的類比輸入埠及/或數位輸入及輸出埠介面卡來進行測試。以PCI/PXI-6229介面卡為範例,這種具有更多類比輸入埠(例如超過32埠)以及數位輸入及輸出埠(例如超過48埠)的PCI/PXI-6229介面卡,在價格上是相當昂貴的,也因而增加了更多的測試成本。
本發明提供一種會議電話的測試裝置及其所應用的測試板,作為對會議電話執行測試動作的介面,有效使能提供有限測試通道的測試主機對具有較多信號通道的會議電話進行測試,並降低測試成本。
本發明提出一種測試板,作為對會議電話執行測試動作的介面。測試板包括多數個測試通道選擇器。各測試通道選擇器接收會議電話傳送的多個測試電壓以及第一及第二控制信號。測試電壓被區分為多個測試電壓對,各測試通道選擇器依據第一控制信號選擇各測試電壓對的其中之一測試電壓以產生多個選中電壓,並依據第二控制信號選擇選中電壓的其中之二以產生第一及第二輸出電壓,其中,第一及第二輸出電壓被傳送至測試機主機以進行會議電話的測試動作。
本發明另提出一種會議電話的測試裝置,作為對一會議電話執行測試動作的介面,包括多數個測試通道選擇模組。各測試通道選擇模組則包括多數個第一測試通道選擇器以及第二測試通道選擇器。各第一測試通道選擇器接收會議電話傳送的多個測試電壓以及第一、第二及第三控制信號。測試電壓被區分為多個測試電壓對,各測試通道選擇器依據第一控制信號選擇各測試電壓對的其中之一測試電壓以產生多個第一選中電壓,並依據第二控制信號選擇選中電壓的其中之四以產生多個第二選中電壓,更依據第三控制信號選擇第二選中電壓中的其中之二以產生多個第 三選中電壓。第二測試通道選擇器耦接第一測試通道選擇器,接收第三選中電壓、第四以及第五控制信號。第三選中電壓被區分為多數個測試電壓對,各測試通道選擇器依據第四控制信號選擇各測試電壓對的其中之一以產生多個第四選中電壓,並依據第四控制信號選擇選中第四電壓的其中之二以產生第一及第二輸出電壓。
基於上述,本發明提供具有多數個測試通道選擇器的測試板來對會議電話傳送的多個測試電壓進行分層次的選擇方式,來使測試電壓可以分批的被提供至測試主機以進行測試。本發明所提供的測試板可利用有限的控制信號以配合例如PCI/PXI-6229介面卡上所提供的有限類比輸入埠提供多數量的會議電話所輸出的測試電壓來進行測試,如此一來,不需要因應會議電話所輸出的測試電壓的數量來擴充PCI/PXI-6229介面卡的類比輸入埠及控制信號各個數,有效節省測試成本,並提升會議電話的價格競爭力。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖示作詳細說明如下。
請參照圖1,圖1繪示本發明實施例的繼電器(relay)的動作示意圖。在繼電器101中,繼電器101中具有輸入端IE1、IE2、IE3及IE4、輸出端OE1及OE2以及控制端CE。繼電器101的控制端CE接收控制信號CTRL1使其輸入端IE1連接到其輸出端OE1,並使其輸入端IE3連接 到其輸出端OE2,如此一來,繼電器101的輸入端IE1以及IE3上所接收的測試電壓VOL1以及VOL3可被分別傳送至繼電器101的輸出端OE1以及OE2。相對的,繼電器102同樣具有輸入端IE1、IE2、IE3及IE4、輸出端OE1及OE2以及控制端CE。繼電器102的控制端CE接收控制信號CTRL1使其輸入端IE2連接到其輸出端OE1,並使其輸入端IE4連接到其輸出端OE2,如此一來,繼電器102的輸入端IE2以及IE4上所接收的測試電壓VOL2以及VOL4可被分別傳送至繼電器102的輸出端OE1以及OE2。
也就是說,藉由圖1繪示的繼電器101及102,測試電壓VOL1~VOL4可以依據控制信號CTRL1被分批的由繼電器101及102的輸出端OE1及OE2傳送出去以進行測試。
以下請參照圖2,圖2繪示本發明一實施例的測試板200的示意圖。測試板200接收由會議電話202所傳至的測試電壓VOLX並傳出輸出電壓OUTX至測試主機201以進行測試。測試板200用來作為對會議電話202執行測試動作的介面,其中,測試板200包括多個測試通道選擇器210。以測試通道選擇器210為範例,測試通道選擇器210接收會議電話202傳送的測試電壓VOL1~VOL8以及控制信號CTRL1及CTRL2。在本實施例中,測試電壓VOL1~VOL8被區分為多個測試電壓對,各測試通道選擇器210依據控制信號CTRL1選擇各測試電壓對的其中之 一以產生多個選中電壓,測試通道選擇器210並依據控制信號CTRL2選擇選中電壓的其中之二以產生二輸出電壓OUT1以及OUT2。
在本實施例中,測試電壓VOLX被區分為多個測試電壓對,其中,測試通道選擇器210接收由測試電壓VOL1及VOL2所組成的測試電壓對、由測試電壓VOL3及VOL4所組成的測試電壓對、由測試電壓VOL5及VOL6所組成的測試電壓對以及由測試電壓VOL7及VOL8所組成的測試電壓對。測試通道選擇器210會依據控制信號CTRL1來由所接收的四個測試電壓對中分別選出四個測試電壓以作為選中電壓。舉例來說,測試通道選擇器210可依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL1以及VOL3並同時選擇測試電壓VOL5以及VOL7以作為選中電壓。或者,測試通道選擇器210也可依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL2以及VOL4並同時選擇測試電壓VOL6以及VOL8以作為選中電壓。
此外,測試通道選擇器210還依據控制信號CTRL2來由四個選中電壓中選出其中的兩個測試電壓來產生輸出電壓OUT1以及OUT2。當測試通道選擇器210選擇測試電壓VOL1、VOL3、VOL5以及VOL7作為選中電壓時,測試通道選擇器210可以依據控制信號CTRL2來選擇測試電壓VOL1及VOL3以分別作為輸出電壓OUT1以及OUT2,或者是測試通道選擇器210也可以依據控制信號CTRL2來選擇測試電壓VOL5及VOL7以分別作為輸出電 壓OUT1以及OUT2。當測試通道選擇器210選擇測試電壓VOL2、VOL4、VOL6以及VOL8作為選中電壓時,測試通道選擇器210可以依據控制信號CTRL2來選擇測試電壓VOL2及VOL4以分別作為輸出電壓OUT1以及OUT2,或者是測試通道選擇器210也可以依據控制信號CTRL2來選擇測試電壓VOL6及VOL8以分別作為輸出電壓OUT1以及OUT2。
附帶一提的,本發明實施例透過可設置多個測試通道選擇器210來做為會議電話202的測試介面,其中,單一個測試通道選擇器210可以作為會議電話202所產生的8個測試電壓VOL1~VOL8的測試介面,並僅需要透過兩個控制信號CTRL1、CTRL2,而測試主機201則只需要提供對應的兩個類比輸入埠來接收輸出電壓OUT1以及OUT2以進行測試即可。控制信號CTRL1、CTRL2則可由測試主機201的數位輸出埠來提供。若設置多個測試通道選擇器210於測試板200上,則可以針對更多的會議電話202所產生的測試電壓VOLX以進行測試。以會議電話202可產生64個測試電壓為範例,測試板200上需配置8組通道選擇器210,測試主機201並需要提供16個控制信號數位輸出埠以及16個類比輸入埠以進行測試。
以下請參照圖3,圖3繪示本發明實施例的測試通道選擇器210的實施方式的示意圖。測試通道選擇器210包括選擇開關211、212以及213。選擇開關211接收控制信號CTRL1、由測試電壓VOL1、VOL2所組成的測試電壓 對以及由測試電壓VOL3、VOL4所組成的測試電壓對。選擇開關211依據控制信號CTRL1以分別由測試電壓VOL1、VOL2以及測試電壓VOL3、VOL4中選出選中電壓EXP1以及EXP4。其中,在本實施方式中,當選擇開關211選擇測試電壓VOL1為選中電壓EXP1時,同時選擇測試電壓VOL3為選中電壓EXP4。相對的,當選擇開關211選擇測試電壓VOL2為選中電壓EXP1時,則同時選擇測試電壓VOL4為選中電壓EXP4。
選擇開關212接收控制信號CTRL1、由測試電壓VOL5、VOL6所組成的測試電壓對以及由測試電壓VOL7、VOL8所組成的測試電壓對。選擇開關212依據控制信號CTRL1以分別由測試電壓VOL5、VOL6以及測試電壓VOL7、VOL8中選出選中電壓EXP2以及EXP3。其中,在本實施方式中,當選擇開關212選擇測試電壓VOL5為選中電壓EXP2時,同時選擇測試電壓VOL7為選中電壓EXP3。相對的,當選擇開關212選擇測試電壓VOL6為選中電壓EXP2時,則同時選擇測試電壓VOL8為選中電壓EXP3。
選擇開關213接收控制信號CTRL2以及選中電壓EXP1~EXP4。選擇開關213依據控制信號CTRL2選擇選中電壓EXP1或EXP2以產生輸出電壓OUT1,選擇開關213並依據控制信號CTRL2選擇選中電壓EXP4或EXP3以產生輸出電壓OUT2。
值得注意的,選擇開關211~213皆可利用繼電器來實 施。
依據圖3繪示的測試通道選擇器210的實施方式,本實施方式的所進行的測試電壓VOL1~VOL8的選擇動作的真值表可如下所示:
上述真值表中的“H”表示邏輯高準位,“L”則表示為邏輯低準位。
以下請參照圖4,圖4繪示本發明另一實施例的測試板400的示意圖。測試板400包括多個測試通道選擇模組410。各測試通道選擇模組410包括測試通道選擇器4111~4114以及測試通道選擇器412。其中,測試通道選擇器4111~4114分別接收測試電壓VOL1~VOL16、VOL17~VOL32、VOL33~VOL48以及VOL49~VOL64,測試通道選擇器4111~4114並共同接收控制信號CTRL1~CTRL3。其中,測試電壓VOL1~VOL64依序兩兩倍區分為一個測試信號對,而各測試通道選擇器4111~4114依據控制信號CTRL1選擇各測試電壓對的其中之一測試電壓以產生多個第一選中電壓,並依據控制信號CTRL2選擇 第一選中電壓的其中之四以產生多個第二選中電壓,再依據控制信號CTRL3選擇第二選中電壓的其中之二以產生多個第三選中電壓IVOL1。
在本實施例中,測試通道選擇器4111接收測試電壓VOL1~VOL16並依據控制信號CTRL1~CTRL3選出第三選中電壓IVOL6及IVOL8;測試通道選擇器4112接收測試電壓VOL17~VOL32並依據控制信號CTRL1~CTRL3選出第三選中電壓IVOL5及IVOL7;測試通道選擇器4113接收測試電壓VOL33~VOL48並依據控制信號CTRL1~CTRL3選出第三選中電壓IVOL2及IVOL4;測試通道選擇器4114則接收測試電壓VOL49~VOL64並依據控制信號CTRL1~CTRL3選出第三選中電壓IVOL1及IVOL3。
測試通道選擇器412則耦接至測試通道選擇器411並接收測試通道選擇器4111~4114所產生的第三選中電壓IVOL1~IVOL8。其中,測試通道選擇器412的實施細節與圖2及圖3的測試通道選擇器210實施方式相同,以依據兩個控制信號(控制信號CTRL4以及CTRL5)來由第三選中電壓IVOL1~IVOL8中選出其中兩個待測電壓以作為輸出電壓OUT1以及OUT2,並由測試主機201的類比輸入埠來測試。
以下請參照圖5A~圖5D,圖5A~圖5D分別繪示本發明實施例的測試通道選擇器4111~4114的實施方式。在圖5A中,測試通道選擇器4111包括第一選擇開關511~514、 第二選擇開關515、516以及第三選擇開關517。第一選擇開關511~514分別接收測試電壓VOL1~VOL4、VOL5~VOL8、VOL9~VOL12以及VOL13~VOL16。第一選擇開關511~514並共同接收控制信號CTRL1。
其中,測試電壓VOL1及VOL2形成一測試電壓對,測試電壓VOL3及VOL4則形成另一測試電壓對。第一選擇開關511依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL1、VOL2的其中之一以產生第一選中電壓AEXP2211,並選擇測試電壓VOL4及VOL3的其中之一以產生第一選中電壓AEXP3211。測試電壓VOL5及VOL6形成一測試電壓對,測試電壓VOL8及VOL7則形成另一測試電壓對。第一選擇開關512依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL5、VOL6的其中之一以產生第一選中電壓AEXP2212,並選擇測試電壓VOL8及VOL7的其中之一以產生第一選中電壓AEXP3212。
另外,測試電壓VOL9及VOL10形成一測試電壓對,測試電壓VOL12及VOL11則形成另一測試電壓對。第一選擇開關513依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL9、VOL10的其中之一以產生第一選中電壓AEXP2221,並選擇測試電壓VOL12及VOL11的其中之一以產生第一選中電壓AEXP3221。測試電壓VOL13及VOL14形成一測試電壓對,測試電壓VOL16及VOL15則形成另一測試電壓對。第一選擇開關514依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL13、VOL14的其中之一以產生第一選中電壓 AEXP2222,並選擇測試電壓VOL16及VOL15的其中之一以產生第一選中電壓AEXP3222。
第二選擇開關515則接收第一選中電壓AEXP2211、AEXP2212、AEXP3211以及AEXP3212以及控制信號CTRL2,並依據控制信號CTRL2選擇第一選中電壓AEXP2211及AEXP2212的其中之一以及第一選中電壓AEXP3211以及AEXP3212的其中之一以分別作為第二選中電壓AEXP221以及AEXP321。第二選擇開關516則接收第一選中電壓AEXP2221、AEXP2222、AEXP3221以及AEXP3222以及控制信號CTRL2,並依據控制信號CTRL2選擇第一選中電壓AEXP2221及AEXP2222的其中之一以及第一選中電壓AEXP3221以及AEXP3222的其中之一以分別作為第二選中電壓AEXP222以及AEXP322。
第三選擇開關517接收第二選中電壓AEXP221、AEXP222、AEXP321以及AEXP322以及控制信號CTRL3。第三選擇開關517並依據控制信號CTRL3選擇第二選中電壓AEXP221及AEXP222的其中之一以作為第三選中電壓IVOL6,第三選擇開關517且依據控制信號CTRL3選擇第二選中電壓AEXP321及AEXP322的其中之一以作為第三選中電壓IVOL8。
在圖5B中,測試通道選擇器4112包括第一選擇開關521~524、第二選擇開關525、526以及第三選擇開關527。第一選擇開關521~524分別接收測試電壓VOL17~VOL20、VOL21~VOL24、VOL25~VOL28以及 VOL29~VOL32。第一選擇開關521~524並共同接收控制信號CTRL1。
其中,第一選擇開關521依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL17、VOL18的其中之一以產生第一選中電壓BEXP2211,並選擇測試電壓VOL20及VOL19的其中之一以產生第一選中電壓BEXP3211。第一選擇開關522依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL21、VOL22的其中之一以產生第一選中電壓BEXP2212,並選擇測試電壓VOL24及VOL23的其中之一以產生第一選中電壓BEXP3212。
另外,第一選擇開關523依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL25、VOL26的其中之一以產生第一選中電壓BEXP2221,並選擇測試電壓VOL28及VOL27的其中之一以產生第一選中電壓BEXP3221。第一選擇開關524依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL29、VOL30的其中之一以產生第一選中電壓BEXP2222,並選擇測試電壓VOL32及VOL31的其中之一以產生第一選中電壓BEXP3222。
第二選擇開關525則接收第一選中電壓BEXP2211、BEXP2212、BEXP3211以及BEXP3212以及控制信號CTRL2,並依據控制信號CTRL2選擇第一選中電壓BEXP2211及BEXP2212的其中之一以及第一選中電壓BEXP3211以及BEXP3212的其中之一以分別作為第二選中電壓BEXP221以及BEXP321。第二選擇開關526則接 收第一選中電壓BEXP2221、BEXP2222、BEXP3221以及BEXP3222以及控制信號CTRL2,並依據控制信號CTRL2選擇第一選中電壓BEXP2221及BEXP2222的其中之一以及第一選中電壓BEXP3221以及BEXP3222的其中之一以分別作為第二選中電壓BEXP222以及BEXP322。
第三選擇開關527接收第二選中電壓BEXP221、BEXP222、BEXP321以及BEXP322以及控制信號CTRL3。第三選擇開關527並依據控制信號CTRL3選擇第二選中電壓BEXP221及BEXP222的其中之一以作為第三選中電壓IVOL5,第三選擇開關527且依據控制信號CTRL3選擇第二選中電壓BEXP321及BEXP322的其中之一以作為第三選中電壓IVOL7。
在圖5C中,測試通道選擇器4113包括第一選擇開關531~534、第二選擇開關535、536以及第三選擇開關537。第一選擇開關531~534分別接收測試電壓VOL33~VOL36、VOL37~VOL40、VOL41~VOL44以及VOL45~VOL48。第一選擇開關531~534並共同接收控制信號CTRL1。
其中,第一選擇開關531依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL33、VOL34的其中之一以產生第一選中電壓CEXP2211,並選擇測試電壓VOL36及VOL35的其中之一以產生第一選中電壓CEXP3211。第一選擇開關532依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL37、VOL38的其中之一以產生第一選中電壓CEXP2212,並選擇測試電壓 VOL40及VOL39的其中之一以產生第一選中電壓CEXP3212。
另外,第一選擇開關533依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL41、VOL42的其中之一以產生第一選中電壓CEXP2221,並選擇測試電壓VOL44及VOL43的其中之一以產生第一選中電壓CEXP3221。第一選擇開關534依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL45、VOL46的其中之一以產生第一選中電壓CEXP2222,並選擇測試電壓VOL48及VOL47的其中之一以產生第一選中電壓CEXP3222。
第二選擇開關535則接收第一選中電壓CEXP2211、CEXP2212、CEXP3211以及CEXP3212以及控制信號CTRL2,並依據控制信號CTRL2選擇第一選中電壓CEXP2211及CEXP2212的其中之一以及第一選中電壓CEXP3211以及CEXP3212的其中之一以分別作為第二選中電壓CEXP221以及CEXP321。第二選擇開關536則接收第一選中電壓CEXP2221、CEXP2222、CEXP3221以及CEXP3222以及控制信號CTRL2,並依據控制信號CTRL2選擇第一選中電壓CEXP2221及CEXP2222的其中之一以及第一選中電壓CEXP3221以及CEXP3222的其中之一以分別作為第二選中電壓CEXP222以及CEXP322。
第三選擇開關537接收第二選中電壓CEXP221、CEXP222、CEXP321以及CEXP322以及控制信號CTRL3。第三選擇開關537並依據控制信號CTRL3選擇 第二選中電壓CEXP221及CEXP222的其中之一以作為第三選中電壓IVOL2,第三選擇開關537且依據控制信號CTRL3選擇第二選中電壓CEXP321及CEXP322的其中之一以作為第三選中電壓IVOL4。
在圖5D中,測試通道選擇器4114包括第一選擇開關541~544、第二選擇開關545、546以及第三選擇開關547。第一選擇開關541~544分別接收測試電壓VOL49~VOL52、VOL53~VOL56、VOL57~VOL60以及VOL61~VOL64。第一選擇開關541~544並共同接收控制信號CTRL1。
其中,第一選擇開關541依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL49、VOL50的其中之一以產生第一選中電壓DEXP2211,並選擇測試電壓VOL52及VOL51的其中之一以產生第一選中電壓DEXP3211。第一選擇開關542依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL53、VOL54的其中之一以產生第一選中電壓DEXP2212,並選擇測試電壓VOL56及VOL55的其中之一以產生第一選中電壓DEXP3212。
另外,第一選擇開關543依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL57、VOL58的其中之一以產生第一選中電壓DEXP2221,並選擇測試電壓VOL60及VOL59的其中之一以產生第一選中電壓DEXP3221。第一選擇開關544依據控制信號CTRL1選擇測試電壓VOL61、VOL62的其中之一以產生第一選中電壓DEXP2222,並選擇測試電壓 VOL64及VOL63的其中之一以產生第一選中電壓DEXP3222。
第二選擇開關545則接收第一選中電壓DEXP2211、DEXP2212、DEXP3211以及DEXP3212以及控制信號CTRL2,並依據控制信號CTRL2選擇第一選中電壓DEXP2211及DEXP2212的其中之一以及第一選中電壓DEXP3211以及DEXP3212的其中之一以分別作為第二選中電壓DEXP221以及DEXP321。第二選擇開關546則接收第一選中電壓DEXP2221、DEXP2222、DEXP3221以及DEXP3222以及控制信號CTRL2,並依據控制信號CTRL2選擇第一選中電壓DEXP2221及DEXP2222的其中之一以及第一選中電壓DEXP3221以及DEXP3222的其中之一以分別作為第二選中電壓DEXP222以及DEXP322。
第三選擇開關547接收第二選中電壓DEXP221、DEXP222、DEXP321以及DEXP322以及控制信號CTRL3。第三選擇開關547並依據控制信號CTRL3選擇第二選中電壓DEXP221及DEXP222的其中之一以作為第三選中電壓IVOL1,第三選擇開關547且依據控制信號CTRL3選擇第二選中電壓DEXP321及DEXP322的其中之一以作為第三選中電壓IVOL3。
以下請參照圖5E,圖5E繪示本發明實施例的測試通道選擇器412的實施方式示意圖。測試通道選擇器412包括選擇開關551~553,選擇開關551接收控制信號CTRL4以及第三選中電壓IVOL1~IVOL4,選擇開關552接收控 制信號CTRL4以及第三選中電壓IVOL5~IVOL8,選擇開關553則接收控制信號CTRL5以及待測電壓EEXP1~EEXP4。
其中,選擇開關551依據控制信號CTRL4選擇第三選中電壓IVOL1及IVOL2的其中之一以產生待測電壓EEXP1,並選擇第三選中電壓IVOL3及IVOL4的其中之一以產生待測電壓EEXP4。選擇開關552依據控制信號CTRL4選擇第三選中電壓IVOL5及IVOL6的其中之一以產生待測電壓EEXP2,並選擇第三選中電壓IVOL7及IVOL8的其中之一以產生待測電壓EEXP3。
選擇開關553則依據控制信號CTRL5選擇待測電壓EEXP1及EEPX2的其中之一以產生輸出電壓OUT1,並選擇待測電壓EEXP4及EEPX3的其中之一以產生輸出電壓OUT2。
其中,依據圖5A~圖5D所繪示的測試通道選擇器4111~4114以及測試通道選擇器412的真值表可以如下所示:
上述真值表中的“H”表示邏輯高準位,“L”則表示為邏輯低準位。
附帶一提的圖5A~5E中所有的選擇開關都可以利用繼電器來實施。
由上述的實施方式可以得知,透過提供5個控制信號,並在測試主機提供兩個類比輸入埠的狀況下,本發明實施例的測試版400可以作為提供64個待測電壓的會議電話的測試介面。如此一來,在測試主機僅能提供有限的測試資源的情況下,可以測到更多的類比格式的測試電壓,有效的降低了因需要提升測式主機的測試能力(例如增加類比輸入埠的個數)所可能造成的成本支出。
綜上所述,本發明透過具有至少多層次的測試通道選擇器的測試板,來做為會議電話執行測試動作的介面。如此一來,在測試主機具有固定的測試通道的狀況下,仍可以有效針對不同規格的會議電話進行測試。有效提升測試動作的相容性。並且,在不變動測試主機的硬體架構下,仍可針對不同規格的會議電話進行測試,有效節省測試成本。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
101‧‧‧繼電器
200‧‧‧測試板
201‧‧‧測試主機
202‧‧‧會議電話
211、212、213、511~514、515、516、517‧‧‧選擇開關
VOLX、VOL1~VOL64‧‧‧測試電壓
OUTX‧‧‧輸出電壓
CTRL1~CTRL5‧‧‧控制信號
OUT1、OUT2‧‧‧輸出電壓
IE1、IE2、IE3、IE4‧‧‧輸入端
OE1、OE2‧‧‧輸出端
CE‧‧‧控制端
EXP1~EXP4、IVOL1~IVOL8、AEXP221、AEXP321、AEXP222、AEXP322、AEXP3211、AEXP2211、AEXP3212、AEXP2212、AEXP3212、AEXP2221、AEXP3221、AEXP2222、AEXP3222、BEXP221、BEXP321、BEXP222、BEXP322、BEXP3211、BEXP2211、BEXP3212、BEXP2212、BEXP3212、BEXP2221、BEXP3221、BEXP2222、BEXP3222、CEXP221、CEXP321、CEXP222、CEXP322、CEXP3211、CEXP2211、CEXP3212、CEXP2212、CEXP3212、CEXP2221、CEXP3221、CEXP2222、CEXP3222、DEXP221、DEXP321、DEXP222、DEXP322、DEXP3211、DEXP2211、DEXP3212、DEXP2212、DEXP3212、DEXP2221、DEXP3221、DEXP2222、DEXP3222‧‧‧選中電壓
4111~4114‧‧‧測試通道選擇器
EEXP1~EEXP4‧‧‧待測電壓
102‧‧‧繼電器
400‧‧‧測試板
410‧‧‧測試通道選擇模組
412‧‧‧測試通道選擇器
521~524、531~534、541~544‧‧‧第一選擇開關
525~526、535~536、545~546‧‧‧第二選擇開關
527、537、547‧‧‧第三選擇開關
551~553‧‧‧選擇開關
圖1繪示本發明實施例的繼電器(relay)的動作示意 圖。
圖2繪示本發明一實施例的測試板200的示意圖。
圖3繪示本發明實施例的測試通道選擇器210的實施方式的示意圖。
圖4繪示本發明另一實施例的測試板400的示意圖。
圖5A~圖5D分別繪示本發明實施例的測試通道選擇器4111~4114的實施方式。
圖5E繪示本發明實施例的測試通道選擇器412的實施方式示意圖。
200‧‧‧測試板
201‧‧‧測試主機
202‧‧‧會議電話
VOLX、VOL1~VOL8‧‧‧測試電壓
OUTX‧‧‧輸出電壓
CTRL1、CTRL2‧‧‧控制信號
OUT1、OUT2‧‧‧輸出電壓

Claims (13)

  1. 一種測試板,作為對一會議電話執行測試動作的介面,包括:多數個測試通道選擇器,各該測試通道選擇器接收該會議電話傳送的多數個測試電壓以及一第一及一第二控制信號,該些測試電壓被區分為多數個測試電壓對,各該測試通道選擇器依據該第一控制信號選擇各該測試電壓對的其中之一測試電壓以產生多數個選中電壓,並依據該第二控制信號選擇該些選中電壓的其中之二以產生一第一及一第二輸出電壓,其中各該測試通道選擇器包括:一第一選擇開關,接收該第一控制信號以及該些測試電壓對的一第一及一第二測試電壓對,依據該第一控制信號以分別選擇該第一及該第二測試電壓對中的該些選中電壓的一第一以及一第四選中電壓;一第二選擇開關,接收該第一控制信號以及該些測試電壓對的一第三及一第四測試電壓對,依據該第二控制信號以分別選擇該第三及該第四測試電壓對中的該些選中電壓的一第二以及一第三選中電壓;以及一第三選擇開關,接收該第二控制信號以及該第一、該第二、該第三及該第四選中電壓,該第三選擇開關依據該第二控制信號選擇該第一或該第二選中電壓以產生該第一輸出電壓,該第三選擇開關並依據該第二控制信號選該第三或該第四選中電壓以產生該第二輸出電壓,其中,該第一及該第二輸出電壓被傳送至一測試機主 機以進行該會議電話的測試動作。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試板,其中當該第一選擇開關分別選擇該第一及第三測試電壓為該第一及該第四選中電壓時,該第二選擇開關分別選擇該第五及第七測試電壓為該第二及該第三選中電壓。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之測試板,其中當該第一選擇開關分別選擇該第二及第四測試電壓為該第一及該第四選中電壓時,該第二選擇開關分別選擇該第六及第八測試電壓為該第二及該第三選中電壓。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試板,其中該第三選擇開關依據該第二控制信號以選擇該第一選中電壓為該第一輸出電壓時,該第三選擇選擇該第四選中電壓為該第二輸出電壓時。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之測試板,其中該第三選擇開關依據該第二控制信號以選擇該第二選中電壓為該第一輸出電壓時,該第三選擇選擇該第三選中電壓為該第二輸出電壓時。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之測試板,其中該第一、該第二以及該第三選擇開關分別為多數個繼電器。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之測試板,其中各該繼電器具有第一輸入端、第二輸入端、第三輸入端、第四輸入端、控制端、第一輸出端以及第二輸出端,各該繼電器依據其控制端上接收的電壓以使該第一輸入端與該第一輸出端短路且使其第三輸入端與其第一輸出端短路,或者, 各該繼電器依據其控制端上接收的電壓以使該第二輸入端與該第一輸出端短路且使其第四輸入端與其第二輸出端短路。
  8. 一種測試板,作為對一會議電話執行測試動作的介面,包括:多數個測試通道選擇模組,各該測試通道選擇模組包括:多數個第一測試通道選擇器,各該第一測試通道選擇器接收該會議電話傳送的多數個測試電壓以及一第一、一第二及一第三控制信號,該些測試電壓被區分為多數個測試電壓對,各該測試通道選擇器依據該第一控制信號選擇各該測試電壓對的其中之一測試電壓以產生多數個第一選中電壓,並依據該第二控制信號選擇該些選中電壓的其中之四以產生多數個第二選中電壓,更依據該第三控制信號選擇該些第二選中電壓中的其中之二以產生多數個第三選中電壓,其中,各該第一測試通道選擇器包括:多數個第一選擇開關,各該第一選擇開關具有第一至第四輸入端、第一至第二輸出端以及控制端,其控制端接收該第一控制信號,其第一及第二輸入端接收該些測試電壓對的其中之一,其第三及第四輸入端接收該些測試電壓對的其中之另一,其第一輸出端傳送其第一輸入端或第二輸入端上的電壓,其第二輸出端傳送其第三輸入端或第四輸入端上的電壓,其中,該些第一選擇開關的第一及第二輸出端產生該些第一選中電壓; 多數個第二選擇開關,各該第二選擇開關具有第一至第四輸入端、第一至第二輸出端以及控制端,其控制端接收該第二控制信號,其第一及第二輸入端接收該些第一選中電壓的其中之二,其第三及第四輸入端接收該些測試電壓對的其中之另二,其第一輸出端傳送其第一輸入端或第二輸入端上的電壓,其第二輸出端傳送其第三輸入端或第四輸入端上的電壓,其中,該些第二選擇開關的第一及第二輸出端產生該些第二選中電壓;以及一第三選擇開關,依據該第三控制信號選擇該些第二選中電壓的其中之二為該些第三選中電壓;以及一第二測試通道選擇器,耦接該些第一測試通道選擇器,接收該些第三選中電壓以及一第四以及一第五控制信號,該些第三選中電壓被區分為多數個測試電壓對,各該測試通道選擇器依據該第四控制信號選擇各該測試電壓對的其中之一以產生多數個第四選中電壓,並依據該第四控制信號選擇該些選中第四電壓的其中之二以產生一第一及一第二輸出電壓。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之測試板,其中該第一、該第二以及該第三選擇開關分別為多數個繼電器。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之測試板,其中各該繼電器具有第一輸入端、第二輸入端、第三輸入端、第四輸入端、控制端、第一輸出端以及第二輸出端,各該繼電器依據其控制端上接收的電壓以使該第一輸入端與該第一輸出端短路且使其第三輸入端與其第一輸出端短路,或 者,各該繼電器依據其控制端上接收的電壓以使該第二輸入端與該第一輸出端短路且使其第四輸入端與其第二輸出端短路。
  11. 如申請專利範圍第8項所述之測試板,其中,各該第二測試通道選擇器包括:一第四選擇開關,接收該第四控制信號以及該些第三選中電壓,依據該第四控制信號以選擇該些第三選中電壓的一第一以及一第四待測電壓;一第五選擇開關,依據該第四控制信號以選擇該些第三選中電壓中的一第二以及一第三待測電壓;以及一第六選擇開關,依據該第五控制信號選該第一或該第二待測電壓以產生該第一輸出電壓,該第六選擇開關並依據該第五控制信號選該第三或該第四待測電壓以產生該第二輸出電壓。
  12. 如申請專利範圍第10項所述之測試板,其中該第四、該第五以及該第六選擇開關皆為繼電器。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之測試板,其中各該繼電器具有第一輸入端、第二輸入端、第三輸入端、第四輸入端、控制端、第一輸出端以及第二輸出端,各該繼電器依據其控制端上接收的電壓以使該第一輸入端與該第一輸出端短路且使其第三輸入端與其第一輸出端短路,或者,各該繼電器依據其控制端上接收的電壓以使該第二輸入端與該第一輸出端短路且使其第四輸入端與其第二輸出端短路。
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