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TWI580949B - Test area CCD line scanning mechanism - Google Patents

Test area CCD line scanning mechanism Download PDF

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TWI580949B
TWI580949B TW102129597A TW102129597A TWI580949B TW I580949 B TWI580949 B TW I580949B TW 102129597 A TW102129597 A TW 102129597A TW 102129597 A TW102129597 A TW 102129597A TW I580949 B TWI580949 B TW I580949B
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Zaocai Qin
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Joint Power Technology Co Ltd
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    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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Description

測試區CCD線掃描機構
本發明關於機械、電子視覺檢查技術領域，具體是一種測試區CCD(Charge Coupled Device)線掃描機構。
目前在視覺檢查領域對產品進行外觀檢查需要進行多面檢查時，通常採用的方式為物體單面進行掃描後，然後翻轉物體後對另外的一面進行掃描，以此來完成物體的多面掃描檢查工作，此種方式中途需要完成物體的一次翻面工作，機構繁瑣，檢查效率較低，機構成本高。
為了簡化目前對物品進行多面視覺檢查時的繁瑣的機構，節約成本，提高產品生產檢查效益，本發明提供一種測試區CCD線掃描機構，採用此技術方案，讓被檢查物品藉由直立式運動經過雙面CCD進行正反兩面同時掃描，同時完成兩面的檢查工作，無需對產品進行翻轉，減少機械結構的複雜性，因減少翻轉機構固減少設備故障率、減少機器體積。雙面掃面效率更高，更高的生產效益。
本發明之技術方案： 一種測試區CCD線掃描機構，包括長條掃描窗19、AB面中間隔板20、A面CCD線掃描裝置和B面CCD線掃描裝置，A面CCD線掃描裝置和B面CCD線掃描裝置分別設置在AB面中間隔板20的兩側，AB面中間隔板20上設有長條掃描窗19。
其中，A面CCD線掃描裝置和B面CCD線掃描裝置分別安裝在A面側面支架1和B側面支架18上，A面側面支架1和B側面支架18分別安裝在AB面中間隔板20的兩側。
其中，B側面支架18上連接有A面側面調節塊14，A面側面調節塊14設置在AB面中間隔板20上。
其中，A面側面支架1上設有A面底面支撐板2。
其中，B側面支架18上設有CCD電源支架底座16和CCD支架電源蓋板17。
其中，A面CCD線掃描裝置包括A面固定板3、A面X方向調節板4、A面Y方向調節板7、A面Z軸旋轉固定板8、A面Z軸旋轉調節板9、A面XY旋轉固定架11、A面CCD固定板12、A面CCD感測器13和A面調節支架15，A面X方向調節板4設置在A面固定板3上，A面Y方向調節板7設置在A面X方向調節板4上，A面Z軸旋轉固定板8設置在A面Y方向調節板7上，A面Z軸旋轉調節板9設置在A面Y方向調節板7，A面CCD固定板12設置在A面XY旋轉固定架11上，A面CCD感測器13設置在A面CCD固定板12上。
其中，A面CCD線掃描裝置更包括A面Y方向擋條5、A面X方向擋條6、A面Z軸旋轉微調板10和A面調節支架15，A面Y方向擋條5設置在A面X方向調節板4邊緣，A面X方向擋條6設置在A面Y方向調節板7邊緣，A面Z軸旋轉微調板10設置在A面Y方向調節板7上，A面調節支架15設置在A面固定板3上。
其中，B面CCD線掃描裝置包括B面固定板3’、B面X方向調節板4’、B面Y方向調節板7’、B面Z軸旋轉固定板8’、B面Z軸旋轉調節板9’、B面XY旋轉固定架11’、B面CCD固定板12’、B面CCD感測器13’和B面調節支架15’，B面X方向調節板4’設置在B面固定板3’上，B面Y方向調節板7’設置在B面X方向調節板4’上，B面Z軸旋轉固定板8’設置在B面Y方向調節板7’上，B面Z軸旋轉調節板9’設置在B面Y方向調節板7’上，B面CCD固定板12’設置在B面XY旋轉固定架11’上，B面CCD感測器13’設置在B面CCD固定板12’上。
其中，B面CCD線掃描裝置更包括B面Y方向擋條5’、B面X方向擋條6’、B面Z軸旋轉微調板10’和B面調節支架15’，B面Y方向擋條5’設置在B面X方向調節板4’邊緣，B面X方向擋條6’設置在B面Y方向調節板7’邊緣，B面Z軸旋轉微調板10’設置在B面Y方向調節板7’上，B面調節支架15’設置在B面固定板3’上。
本發明之有益效果是：本發明之測試區CCD線掃描機構採用兩面同時掃 描，無需對產品進行翻轉動作，減少機械結構的複雜性，因為無需進行翻轉動作，所以節約了因翻轉而產生的效率減少。從而雙面掃描效率更高，能夠提高一倍的生產效益。同時由於整個設備減少了翻轉機構，設備的體積大大減少，相同的空間能夠放入更多的設備，有效提高廠房的利用率。
圖中：1‧‧‧為A面側面支架
2‧‧‧為A面底面支撐板
3‧‧‧為A面固定板
4‧‧‧為A面X方向調節板
5‧‧‧為A面Y方向擋條
6‧‧‧為A面X方向擋條
7‧‧‧為A面Y方向調節板
8‧‧‧為A面Z軸旋轉固定板
9‧‧‧為A面Z軸旋轉調節板
10‧‧‧為A面Z軸旋轉微調板
11‧‧‧為A面XY旋轉固定架
12‧‧‧為A面CCD固定板
13‧‧‧為A面CCD感測器
14‧‧‧為A面側面調節塊
15‧‧‧為A面調節支架
3’‧‧‧為B面固定板
4’‧‧‧為B面X方向調節板
5’‧‧‧為B面Y方向擋條
6’‧‧‧為B面X方向擋條
7’‧‧‧為B面Y方向調節板
8’‧‧‧為B面Z軸旋轉固定板
9’‧‧‧為B面Z軸旋轉調節板
10’‧‧‧’為B面Z軸旋轉微調板
11’‧‧‧為B面XY旋轉固定架
12’‧‧‧為B面CCD固定板
13’‧‧‧為B面CCD感測器
15’‧‧‧為B面調節支架
16‧‧‧為CCD電源支架底座
17‧‧‧為CCD支架電源蓋板
18‧‧‧為B側面支架
19‧‧‧為長條掃描窗
20‧‧‧為AB面中間隔板
第1圖為本發明之側面結構示意圖。
第2圖為本發明之立體結構示意圖。
下面本發明將結合圖式中的實施例作進一步的描述：如第1圖、第2圖所示，本發明之測試區CCD線掃描機構，包括長條掃描窗19、AB面中間隔板20、A面CCD線掃描裝置和B面CCD線掃描裝置，A面CCD線掃描裝置和B面CCD線掃描裝置分別設置在AB面中間隔板20的兩側，AB面中間隔板20上設有長條掃描窗19。
A面CCD線掃描裝置和B面CCD線掃描裝置分別安裝在A面側面支架1和B側面支架18上，A面側面支架1和B側面支架18分別安裝在AB面中間隔板20的兩側。
B側面支架18修改為：A面側面支架1上連接有A面側面調節塊14，A面側面調節塊14設置在AB面中間隔板 20上。
A面側面支架1上設有A面底面支撐板2。
B側面支架18上設有CCD電源支架底座16和CCD支架電源蓋板17。
A面CCD線掃描裝置包括A面固定板3、A面X方向調節板4、A面Y方向調節板7、A面Z軸旋轉固定板8、A面Z軸旋轉調節板9、A面XY旋轉固定架11、A面CCD固定板12、A面CCD感測器13和A面調節支架15，A面X方向調節板4設置在A面固定板3上，A面Y方向調節板7設置在A面X方向調節板4上，A面Z軸旋轉固定板8設置在A面Y方向調節板7上，A面Z軸旋轉調節板9設置在A面Y方向調節板7上，A面CCD固定板12設置在A面XY旋轉固定架11上，A面CCD感測器13設置在A面CCD固定板12上。
A面CCD線掃描裝置更包括A面Y方向擋條5、A面X方向擋條6、A面Z軸旋轉微調板10和A面調節支架15，A面Y方向擋條5設置在A面X方向調節板4邊緣，A面X方向擋條6設置在A面Y方向調節板7邊緣，A面Z軸旋轉微調板10設置在A面Y方向調節板7上，A面調節支架15設置在A面固定板3上。
B面CCD線掃描裝置包括B面固定板3’、B面X方向調節板4’、B面Y方向調節板7’、B面Z軸旋轉固定板8’、B面Z軸旋轉調節板9’、B面XY旋轉固定架11’、B面CCD固定板12’、B面CCD感測器13’和B面調節支架16’，B面X 方向調節板4’設置在B面固定板3’上，B面Y方向調節板7，設置在B面X方向調節板4’上，B面Z軸旋轉固定板8’設置在B面Y方向調節板7’上，B面Z軸旋轉調節板9’設置在B面Y方向調節板7’上，B面CCD固定板12’設置在B面XY旋轉固定架11’上，B面CCD感測器13’設置在B面CCD固定板12’上。
B面CCD線掃描裝置更包括B面Y方向擋條5’、B面X方向擋條6’、B面Z軸旋轉微調板10’和B面調節支架15’，B面Y方向擋條5’設置在B面X方向調節板4’邊緣，B面X方向擋條6’設置在B面Y方向調節板7’邊緣，B面Z軸旋轉微調板10’設置在B面Y方向調節板7’上，B面調節支架15’設置在B面固定板3’上。
上面所述之實施例僅僅是對本發明之較佳實施方式進行描述，並非對本發明的構思和範圍進行限定，在不脫離本發明設計構思前提下，本發明所屬技術領域中具有通常知識者對本發明之技術方案作出的各種變型和改進，均應落入本發明的保護範圍，本發明所請求保護的技術內容已經全部記載在發明申請專利範圍中。
1‧‧‧為A面側面支架
2‧‧‧為A面底面支撐板
16‧‧‧為CCD電源支架底座
17‧‧‧為CCD支架電源蓋板
18‧‧‧為B側面支架
19‧‧‧為長條掃描窗
20‧‧‧為AB面中間隔板

Claims (7)

  1. 一種測試區CCD線掃描機構，其包括長條掃描窗(19)、AB面中間隔板(20)、A面CCD線掃描裝置和B面CCD線掃描裝置，該A面CCD線掃描裝置和B面CCD線掃描裝置分別設置在AB面中間隔板(20)的兩側，AB面中間隔板(20)上設有長條掃描窗(19)；其中該A面CCD線掃描裝置和B面CCD線掃描裝置分別安裝在A面側面支架(1)和B側面支架(18)上，A面側面支架(1)和B側面支架(18)分別安裝在AB面中間隔板(20)的兩側；其中CCD電源支架底座(16)和CCD支架電源蓋板(17)係設置於為A字型結構的該B側面支架中。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試區CCD線掃描機構，其中該A面側面支架(1)上連接有A面側面調節塊(14)，A面側面調節塊(14)設置在AB面中間隔板(20)上。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之測試區CCD線掃描機構，其中該A面側面支架(1)上設有A面底面支撐板(2)。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試區CCD線掃描機構，其中該A面CCD線掃描裝置包括A面固定板(3)、A面X方向調節板(4)、A面Y方向調節板(7)、A面Z軸旋轉固定板(8)、A面Z軸旋轉調 節板(9)、A面XY旋轉固定架(11)、A面CCD固定板(12)、A面CCD感測器(13)和A面調節支架(15)，該A面X方向調節板(4)設置在A面固定板(3)上，A面Y方向調節板(7)設置在A面X方向調節板(4)上，A面Z軸旋轉固定板(8)設置在A面Y方向調節板(7)上，A面Z軸旋轉調節板(9)設置在A面Y方向調節板(7)上，A面CCD固定板(12)設置在A面XY旋轉固定架(11)上，A面CCD感測器(13)設置在A面CCD固定板(12)上。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之測試區CCD線掃描機構，其中該A面CCD線掃描裝置更包括A面Y方向擋條(5)、A面X方向擋條(6)、A面Z軸旋轉微調板(10)和A面調節支架(15)，A面Y方向擋條(5)設置在A面X方向調節板(4)邊緣，A面X方向擋條(6)設置在A面Y方向調節板(7)邊緣，A面Z軸旋轉微調板(10)設置在A面Y方向調節板(7)上，A面調節支架(15)設置在A面固定板(3)上。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之測試區CCD線掃描機構，其中該B面CCD線掃描裝置包括B面固定板(3’)、B面X方向調節板(4’)、B面Y方向調節板(7’)、B面Z軸旋轉固定板(8’)、B面Z軸旋轉調節板(9’)、B面XY旋轉固定架(11’)、B面CCD固定板(12’)、B面CCD感測器(13’)和B 面調節支架(15’)，該B面X方向調節板(4’)設置在B面固定板(3’)上，B面Y方向調節板(7’)設置在B面X方向調節板(4’)上，B面Z軸旋轉固定板(8’)設置在B面Y方向調節板(7’)上，B面Z軸旋轉調節板(9’)設置在B面Y方向調節板(7’)上，B面CCD固定板(12’)設置在B面XY旋轉固定架(11’)上，B面CCD感測器(13’)設置在B面CCD固定板(12’)上。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之測試區CCD線掃描機構，其中該B面CCD線掃描裝置更包括B面Y方向擋條(5’)、B面X方向擋條(6’)、B面Z軸旋轉微調板(10’)和B面調節支架(15’)，B面Y方向擋條(5’)設置在B面X方向調節板(4’)邊緣，B面X方向擋條(6’)設置在B面Y方向調節板(7’)邊緣，B面Z軸旋轉微調板(10’)設置在B面Y方向調節板(7’)上，B面調節支架(15’)設置在B面固定板(3’)上。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102841096B (zh) * 2012-08-16 2015-02-25 南京协力电子科技集团有限公司 测试区直立式双面ccd线扫描机构
CN104165842B (zh) * 2014-07-21 2016-08-10 四川祥益智能科技有限公司 一种在线光学检测仪
CN105383918B (zh) * 2015-11-17 2018-06-29 杭州载力科技有限公司 倾斜可调式ccd双面线扫描系统

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2741045Y (zh) * 2004-10-11 2005-11-16 卢彦豪 测试设备显微镜座装置
CN2773679Y (zh) * 2005-02-05 2006-04-19 中国印钞造币总公司 双面胶印彩色印刷质量在线检测装置
US20100260380A1 (en) * 2007-10-23 2010-10-14 Zumbach Electronic Ag Device for optically measuring and/or testing oblong products
CN102136165A (zh) * 2010-12-23 2011-07-27 西安印钞有限公司 码后人民币大张产品正背票面质量检测系统及检测方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0871027A3 (en) * 1997-04-07 1999-05-19 Hewlett-Packard Company Inspection of print circuit board assembly
US6094269A (en) * 1997-12-31 2000-07-25 Metroptic Technologies, Ltd. Apparatus and method for optically measuring an object surface contour
US6671397B1 (en) * 1998-12-23 2003-12-30 M.V. Research Limited Measurement system having a camera with a lens and a separate sensor
CN100473968C (zh) * 2004-11-30 2009-04-01 中国科学院武汉岩土力学研究所 应力—水流—化学耦合的岩石破裂过程细观力学加载系统
CN2856995Y (zh) * 2005-12-09 2007-01-10 中国科学院金属研究所 一种动态加载条件下表面观测装置
CN201508323U (zh) * 2009-09-24 2010-06-16 清华大学 Led晶圆显微定位测试装置
CN201852797U (zh) * 2010-11-24 2011-06-01 东莞市创丰科技发展有限公司 一种双面自动检测机
CN102565061B (zh) * 2012-01-16 2014-03-12 沈阳农业大学 作物生物量无损检测图像采集处理装置及检测方法
CN102841096B (zh) * 2012-08-16 2015-02-25 南京协力电子科技集团有限公司 测试区直立式双面ccd线扫描机构
CN202837193U (zh) * 2012-08-16 2013-03-27 南京协力电子科技集团有限公司 测试区ccd线扫描机构

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2741045Y (zh) * 2004-10-11 2005-11-16 卢彦豪 测试设备显微镜座装置
CN2773679Y (zh) * 2005-02-05 2006-04-19 中国印钞造币总公司 双面胶印彩色印刷质量在线检测装置
US20100260380A1 (en) * 2007-10-23 2010-10-14 Zumbach Electronic Ag Device for optically measuring and/or testing oblong products
CN102136165A (zh) * 2010-12-23 2011-07-27 西安印钞有限公司 码后人民币大张产品正背票面质量检测系统及检测方法

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Publication number Publication date
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TW201409020A (zh) 2014-03-01
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CN102841096A (zh) 2012-12-26

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