TWI550482B - 觸控感測電路與方法 - Google Patents

Description

觸控感測電路與方法

本發明是關於觸控感測電路與方法，尤其是關於能夠偵測干擾訊號，並且依據偵測結果調整感測電路之充電與偵測時間，以增加感測準確度之觸控感測電路與方法。

請參閱圖1，其係習知觸控感測電路之功能方塊圖。觸控感測電路100包含感測元件110、感測值解析電路120、控制訊號產生電路130以及判斷單元140。對一個電容式的觸控面板來說，在表面的玻璃覆蓋層下方有許多透明電極，各透明電極與觸控面板的基板之間等效形成電容元件，圖1之感測元件110所包含的複數感測單元112即對應該些電容元件。當玻璃覆蓋層的上方有觸控事件發生時，透明電極與人體之間的等效電容將導致感測單元112之電容值的變化，也就是感測元件110所產生的感測值會因觸控事件而發生變化，感測值解析電路120依據控制訊號產生電路130的控制訊號來解析感測值，並產生感測訊號，最後判斷單元140判斷感測訊號而決定觸控事件之觸控位置、次數以及時間長短等資訊。

請參閱圖2，其係習知感測值解析電路120之細部電路圖。感測值解析電路120包含開關元件121、122及123、運算放大器124 及126以及電容125。開關元件121、122及123受控制訊號產生單元130之控制訊號CTRL的控制，呈現週期性之導通與開路，感測值解析電路120依據不同的導通路徑對感測單元112進行充電及偵測(或稱為取樣)。在充電階段內，控制訊號CTRL控制開關元件121及開關元件123導通，開關元件122開路，運算放大器124的輸出端以電壓V_ref1對感測元件112進行充電，同時電容125進行放電程序，當充電階段結束，感測元件112的端電壓被充電至V_ref1，電容125的電荷放盡；在隨後的偵測階段內，控制訊號CTRL控制開關元件121及123開路，開關元件122導通，此時感測單元112上的電荷會重新分佈於感測單元112及電容125之上，因電容125的電容值及電壓V_ref1、V_ref2為預先設定，所以判斷單元140藉由偵測運算放大器126輸出端的電壓變化即可推知感測單元112的電容值(即感測值)的變化，而得到觸控資訊。

在實際應用上，觸控面板可能因為外部訊號的干擾導致偵測結果不準確，例如品質不良的充電器將雜訊耦合至觸控面板，使觸控面板的參考準位隨雜訊變化，對觸控面板而言，此雜訊形同透過人體耦合至感測元件112。請參閱圖3，其係習知觸控感測電路伴隨雜訊源之電路圖。雜訊源310透過感測元件112與地之間的接點耦合進觸控面板，影響感測值解析電路120對感測元件112的充電及偵測程序。請參閱圖4，其係習知感測值解析電路120的充電階段及偵測階段對應干擾訊號之關係圖。感測值解析電路120依據控制訊號產生單元130的控制訊號CTRL在充電階段P內對感測元件112進行充電程序，以及在偵測階段S內對感測元件112進行偵測程序。充電階段P與偵測階段S間隔發生，並具有相同 的時間(此例中為5μs)。曲線410為雜訊源310的干擾訊號，其在虛線框選的範圍內有較劇烈的變化。當充電階段P或是偵測階段S結束的瞬間，若干擾訊號有較劇烈的變化，將導致感測元件112無法充電預設的電壓V_ref1，並影響偵測階段S中電荷於感測元件112及電容125上的分佈而影響最終的偵測結果。

鑑於先前技術之不足，本發明之一目的在於提供一種觸控感測電路與觸控感測方法，以降低干擾訊號對觸控靈敏度的影響。

本發明揭露了一種觸控感測電路，應用於一觸控面板以產生一觸控感測結果，其中該觸控面板包含複數電容，該觸控感測電路包含：一感測值解析電路，於一第一時間區間對該些電容充電，以及於一第二時間區間將該些電容放電，並依據該些電容之一電容量資訊產生一感測訊號；以及一判斷單元，依據該感測訊號以產生該觸控感測結果；其中，該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度係依據一控制訊號而改變。

本發明另揭露了一種觸控感測方法，應用於一觸控面板以產生一觸控感測結果，該觸控面板包含複數電容，該方法包含：於一第一時間區間對該些電容充電；於一第二時間區間對該些電容放電；依據該些電容之一電容量以產生一感測訊號；以及依據該感測訊號以產生該觸控感測結果；其中，該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度係依據一控制訊號而改變。

本發明另揭露了一種觸控感測電路，應用於一觸控面板 以產生一感測訊號，其中該觸控面板包含一感測元件，該觸控感測電路包含：一干擾訊號偵測電路，用來偵測該觸控面板之一干擾訊號，以產生一干擾訊號偵測結果；一控制訊號產生單元，依據該干擾訊號偵測結果產生一控制訊號；以及一感測值解析電路，於一第一時間區間對該感測元件充電，以及於一第二時間區間將該感測元件放電，並依據該感測元件之一感測值產生該感測訊號，其中該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度係依據一控制訊號而改變。

本發明之觸控感測電路與觸控感測方法能夠偵測干擾訊號的變化，在干擾訊號相對較大時，適時調整觸控感測電路的充電階段與偵測階段的時間，以減少干擾訊號對觸控靈敏度的影響。

有關本發明的特徵、實作與功效，茲配合圖式作較佳實施例詳細說明如下。

100、500‧‧‧觸控感測電路

110、510‧‧‧感測元件

112、512‧‧‧感測單元

120、520、620、820、1020‧‧‧感測值解析電路

130、530‧‧‧控制訊號產生單元

140、540‧‧‧判斷單元

121、122、123、512、522、523‧‧‧開關元件

124、126、524、526‧‧‧運算放大器

125、525‧‧‧電容

310‧‧‧雜訊源

550‧‧‧干擾訊號偵測電路

527、528‧‧‧電阻

555‧‧‧比較器

S1210~S1260‧‧‧步驟

〔圖1〕為習知觸控感測電路之功能方塊圖；〔圖2〕為習知感測值解析電路之細部電路圖；〔圖3〕為習知觸控感測電路伴隨雜訊源之電路圖；〔圖4〕為習知感測值解析電路的充電階段及偵測階段對應干擾訊號之關係圖；〔圖5〕為本發明觸控感測電路之功能方塊圖；〔圖6〕為本發明感測值解析電路及干擾訊號偵測電路之詳細電路圖；〔圖7〕為本發明感測值解析電路的充電階段及偵測階段對應干擾訊號與 干擾訊號偵測結果之關係圖；〔圖8〕為本發明感測值解析電路及干擾訊號偵測電路之另一實施例的詳細電路圖；〔圖9〕為本發明感測值解析電路的充電階段及偵測階段對應干擾訊號與干擾訊號偵測結果之另一關係圖；〔圖10〕為本發明感測值解析電路及干擾訊號偵測電路之另一實施例的詳細電路圖；〔圖11〕為本發明感測值解析電路的充電階段及偵測階段對應干擾訊號與干擾訊號偵測結果之另一關係圖；以及〔圖12〕為本發明之觸控感測方法之一實施例的流程圖。

以下說明內容之技術用語係參照本技術領域之習慣用語，如本說明書對部分用語有加以說明或定義，該部分用語之解釋係以本說明書之說明或定義為準。

本發明之揭露內容包含觸控感測電路與觸控感測方法，能夠偵測干擾訊號，以降低干擾訊號對觸控靈敏度的影響。該觸控感測電路與觸控感測方法可應用於電容式的觸控面板，在實施為可能的前提下，本技術領域具有通常知識者能夠依本說明書之揭露內容來選擇等效之元件或步驟來實現本發明，亦即本發明之實施並不限於後敘之實施例。由於本發明之觸控感測電路所包含之部分元件單獨而言可能為已知元件，因此在不影響該裝置發明之充分揭露及可實施性的前提下，以下說明對於已知元件的細節將予以節略。此外，本發明之觸控感測方法可藉由本發明之觸控 感測電路或其等效裝置來執行，在不影響該方法發明之充分揭露及可實施性的前提下，以下方法發明之說明將著重於步驟內容而非硬體。

請參閱圖5，其係本發明觸控感測電路之功能方塊圖。觸控感測電路500包含感測元件510、感測值解析電路520、控制訊號產生單元530、判斷單元540及干擾訊號偵測電路550。感測元件510包含複數感測單元512，每一感測單元512耦接感測值解析電路520且各自可等效為電容元件，其電容值隨觸控面板上之觸控事件而變化。感測值解析電路520解析感測元件510所產生的感測值，更詳細地說，解析每一感測單元512的電容值的變化，而產生感測訊號。控制訊號產生單元530耦接感測值解析電路520，感測值解析電路520依據控制訊號產生單元530的控制訊號CTRL決定其解析感測值的動作方式。干擾訊號偵測電路550耦接感測值解析電路520及控制訊號產生單元530，其依據感測值解析電路520動作時的訊號狀態判斷干擾訊號是否過大，並且將得到的干擾訊號偵測結果傳送至控制訊號產生單元530，控制訊號產生單元530依據干擾訊號偵測結果調整控制訊號CTRL，亦即調整感測值解析電路520解析感測值時的動作方式。控制訊號產生單元530可以利用邏輯電路，或是利用具有運算能力的處理單元以執行軟體的方式，來依據干擾訊號偵測結果產生控制訊號CTRL。判斷單元540耦接感測值解析電路520，其可能利用類比數位轉換器將感測值解析電路520的感測訊號先轉換為數位的型態，再以預設的演算法判斷出觸控事件的位置、次數及時間長度等觸控資訊。感測值解析電路520及干擾訊號偵測電路550的細部電路圖及詳細的動作方式將說明如下。

請參閱圖6，其係本發明感測值解析電路520及干擾訊號偵測電路550之詳細電路圖。圖5之感測值解析電路520可以感測值解析電路620來實作。感測值解析電路620包含開關元件521、522及523、運算放大器524及526、電容525以及電阻527。運算放大器524作為電壓隨耦器(voltage follower)，目的為在輸出端提供穩定的參考電壓V_ref1。在充電階段內，開關元件521及523依據控制訊號CTRL之控制而導通，而開關元件522依據控制訊號CTRL之控制呈開路狀態，此時參考電壓透過電阻527對感測單元512進行充電，另一方面，電容525則進行放電。在充電階段中，雜訊源310的干擾訊號會透過感測單元512耦合至充電路徑上，使充電路徑上充電電流的大小發生變化，充電電流的變化反應在電阻527兩端的電壓差上，電壓差的資訊由干擾訊號偵測電路550處理後產生干擾訊號偵測結果。當控制訊號CTRL改變時，開關元件521及523開路，開關元件522導通，使感測值解析電路520結束充電階段進入偵測階段時，此時運算放大器526將其反相輸入端維持在穩定的參考電壓V_ref2，使感測單元512上的電荷重新分佈於感測單元512及電容525，因此對感測單元512而言，電容525及運算放大器526形同放電單元，感測單元512透過其與電容525相連接之放電路徑放電。隨著電荷重新分佈，運算放大器526的輸出端上的電壓(即感測訊號)也會跟著變化，判斷單元540便可依據此電壓變化來得知感測單元512的電容值(即感測值)。

干擾訊號偵測電路550包含比較器555，其將電阻527兩端的電壓差與一預設值做比較，並依據比較的結果產生干擾訊號偵測結果，例如以高準位的訊號代表干擾訊號的大小超過預設值，以低準位的訊 號代表干擾訊號尚在可接受的範圍內。上述的預設值可依據干擾訊號的實際情況做調整。請參閱圖7，其係本發明感測值解析電路620的充電階段及偵測階段對應干擾訊號與干擾訊號偵測結果之關係圖。當干擾訊號發生劇烈變化時，本實施例中干擾訊號偵測電路550對應輸出高準位的干擾訊號偵測結果，控制訊號產生單元530依據干擾訊號偵測結果調整控制訊號CTRL，使感測值解析電路520的充電階段的時間隨著干擾訊號而調整。舉例來說，圖7中的第一個充電階段P原本應該在預設的5μs到達後就結束，但因為此時干擾訊號偵測結果指示有劇烈的干擾訊號發生，因此控制訊號產生單元530便延長開關元件521及523的導通時間，直到干擾訊號偵測結果指示干擾訊號趨於穩定，才改變控制訊號CTRL使感測值解析電路520離開充電階段P進入偵測階段S，因此充電階段P相較於預設的時間多延長T1的時間；同理，第二個充電階段P也因為干擾訊號而延長了T2的時間。上述的動作方式可以確保充電階段P結束在干擾訊號的變化量相對較小的時段內，以降低觸控面板受干擾訊號的影響程度。

上述的延長機制設定為當干擾訊號的變化量超過預設值時就持續延長某充電階段，直到干擾訊號相對穩定時才結束延長。但為了避免延長的時間過長而造成觸控面板的反應時間過慢，控制訊號產生單元530可以設定一個等待的機制，當延長的時間超過預設的等待時間時，縱使干擾訊號仍過大，亦強制改變控制訊號CTRL，使感測值解析電路520離開充電階段進入偵測階段。另一個方法是，當控制訊號CTRL控制某個充電階段P開始延長，控制訊號產生單元530即每隔一段時間檢查一次干擾訊號偵測結果，例如每1μs檢查一次，當發現干擾訊號偵測結果未指示 干擾訊號過大時，即改變控制訊號CTRL，使感測值解析電路520離開充電階段進入偵測階段。

請參閱圖8，其係本發明感測值解析電路520及干擾訊號偵測電路550之另一實施例的詳細電路圖。圖5之感測值解析電路520可以感測值解析電路820來實作。在此實施例中，電阻527位於感測值解析電路820的放電路徑上，因此在偵測階段，干擾訊號偵測電路550可以監測干擾訊號的變化情形，並產生干擾訊號偵測結果。請參閱圖9，其係本發明感測值解析電路820的充電階段及偵測階段對應干擾訊號與干擾訊號偵測結果之關係圖。當控制訊號CTRL控制開關元件522導通，感測值解析電路820進入偵測階段，同時干擾訊號偵測電路550開始偵測干擾訊號。在此實施例中，同樣以高準位的干擾訊號偵測結果反應干擾訊號有較大的變化。由圖可見，由於第一個偵測階段S的結束時間點並未落於干擾訊號偵測結果第一次呈現高準位的期間，所以維持預設的時間長度；然而第二個偵測階段S結束時，干擾訊號偵測結果正好為高準位，所以控制訊號CTRL延後切換時間，直到T3時間後干擾訊號的變化較不劇烈時才控制第二個偵測階段S結束。

請參閱圖10，其係本發明感測值解析電路及干擾訊號偵測電路之另一實施例的詳細電路圖。圖5之感測值解析電路520可以感測值解析電路1020實作。感測值解析電路1020的充電及放電路徑上分別包含電阻527及電阻528，干擾訊號偵測電路550分別將電阻527與電阻528的跨壓與預設值比較，以得到干擾訊號偵測結果。更詳細地說，在充電階段P內，比較器555將電阻527的跨壓與預設值比較，在偵測階段S內， 比較器555將電阻528的跨壓與預設值比較。本實施例之充電階段P及偵測階段S對應干擾訊號與干擾訊號偵測結果的關係圖顯示於圖11，本技術領域具有通常知識者可由前揭之實施例了解各訊號之變化及對應關係，故不再贅述。

請注意，在其他較佳的實施例中，圖6之干擾訊號偵測電路550包含電阻527，而感測值解析電路620不包含電阻527。同理，圖8之干擾訊號偵測電路550包含電阻527，而感測值解析電路820不包含電阻527，以及圖10之干擾訊號偵測電路550包含電阻527及電阻528，而感測值解析電路1020不包含電阻527及電阻528。

請參閱圖12，其係本發明之觸控感測方法之一實施例的流程圖。除前述之觸控感測電路外，本發明亦相對應地揭露了一種觸控感測方法，應用於電容式的觸控面板，能夠防止雜訊的干擾。本方法由前揭觸控感測電路500或其等效裝置來執行。如圖12所示，本發明觸控感測方法之一實施例包含下列步驟：步驟S1210：依據控制訊號CTRL之控制，在充電階段內對複數感測單元充電。對電容式的觸控面板而言，感測單元等效上可以視為電容元件，其電容值因應觸控事件會產生變化。為了偵測電容值的變化情形，本步驟依據控制訊號CTRL之控制，以一充電路徑在預設時間內對感測元件充電，使其累積電荷；步驟S1220：依據控制訊號CTRL之控制，在偵測階段內對複數感測單元放電。在充電階段結束後，控制訊號CTRL使本感測方法進入偵測階段。在此步驟的偵測階段中，感測單元以一放電路徑在預設時間 內放電，使其部分電荷透過放電路徑轉移到另一電容；步驟S1230：在充電階段及/或偵測階段內，監控干擾訊號之變化情形，以得到干擾訊號偵測結果。干擾訊號偵測結果可以利用準位的高低變化反應干擾訊號的大小，例如利用高準位表示干擾訊號的變動大小超過容忍範圍。監控干擾訊號的方式可以在步驟1210的充電路徑及/或步驟1220的放電路徑上設置電阻，干擾訊號會在此電阻上產生電壓變化，因此可以藉由將電阻的跨壓與預設值比較來得知干擾訊號是否過大。上述的電阻可以只設置在充電路徑與放電路徑的其中之一，或是同時設置於兩者；步驟S1240：控制訊號CTRL依據干擾訊號偵測結果，適時調整充電階段及/或偵測階段的時間。控制訊號CTRL原本以預設的時間控制充電階段與偵測階段交互切換，當預設時間到達後，即控制觸控感測方法由一階段切換至另一階段。然而，若在切換的瞬間干擾訊號變化過大，則觸控感測方法很容易受干擾訊號的影響而降低確準度，因此本發明的控制訊號CTRL會依據干擾訊號偵測結果做調整。當充電階段及/或偵測階段到達原本預設的時間，且此時干擾訊號偵測結果為高準位，控制訊號CTRL便延長該階段的時間，以降低干擾訊號的影響，請對應參閱圖7、圖9及圖11以了解各訊號之變化及對應關係。延長的時間不限於待干擾訊號的變化小於可接受的範圍後才結束，其他延長控制訊號的方式已揭露於前述之裝置發明，故不再贅述；步驟S1250：依據放電後感測單元之電荷分佈產生感測訊號。如步驟S1220所述，放電後感測單元上的電荷會重新分佈於感測單元及另一 電容上，該電容之端電壓的變化即可代表感測單元之感測值(即電容值)的變化情形，也就是說電容的端電壓可以作為解析感測單元之感測值所生成的感測訊號；以及步驟S1260：判斷感測訊號以得到觸控感測結果。感測訊號可以先經由類比數位轉換器轉換為數位格式，再以預設的演算法判斷出觸控事件的位置、次數及時間長度等觸控資訊。

由於本技術領域具有通常知識者可藉由圖5至圖11之裝置發明的揭露內容來瞭解圖12之方法發明的實施細節與變化，因此，為避免贅文，在不影響該方法發明之揭露要求及可實施性的前提下，重複之說明在此予以節略。請注意，前揭圖示中，元件之形狀、尺寸、比例以及步驟之順序等僅為示意，係供本技術領域具有通常知識者瞭解本發明之用，非用以限制本發明。另外，本技術領域人士可依本發明之揭露內容及自身的需求選擇性地實施任一實施例之部分或全部技術特徵，或者選擇性地實施複數個實施例之部分或全部技術特徵之組合，藉此增加本發明實施時的彈性。本發明的觸控感測電路與方法適用於自電容型(self capacitance)與互電容型(mutual capacitance)的觸控面板。

雖然本發明之實施例如上所述，然而該些實施例並非用來限定本發明，本技術領域具有通常知識者可依據本發明之明示或隱含之內容對本發明之技術特徵施以變化，凡此種種變化均可能屬於本發明所尋求之專利保護範疇，換言之，本發明之專利保護範圍須視本說明書之申請專利範圍所界定者為準。

500‧‧‧觸控感測電路

510‧‧‧感測元件

512‧‧‧感測單元

520‧‧‧感測值解析電路

530‧‧‧控制訊號產生單元

540‧‧‧判斷單元

550‧‧‧干擾訊號偵測電路

Claims (18)

1. 一種觸控感測電路，應用於一觸控面板以產生一觸控感測結果，其中該觸控面板包含複數電容，該觸控感測電路包含：一感測值解析電路，於一第一時間區間對該些電容充電，以及於一第二時間區間將該些電容放電，並依據該些電容之一電容量資訊產生一感測訊號；一判斷單元，依據該感測訊號以產生該觸控感測結果；其中，該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度係依據一控制訊號而改變；一干擾訊號偵測電路，耦接該感測值解析電路，用來偵測該觸控面板之一干擾訊號，以產生一干擾訊號偵測結果；以及一控制訊號產生單元，依據該干擾訊號偵測結果產生該控制訊號。
2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控感測電路，其中該感測值解析電路包含：一充電單元，透過一充電路徑對該些電容充電；以及一電阻，位於該充電路徑上；並且該干擾訊號偵測電路包含：一比較單元，耦接該電阻，將該電阻之跨壓與一預設值做比較以產生該干擾訊號偵測結果。
3. 如申請專利範圍第1項所述之觸控感測電路，其中該感測值解析電路包含： 一放電單元，透過一放電路徑使該些電容放電；以及一電阻，位於該放電路徑上；並且該干擾訊號偵測電路包含：一比較單元，耦接該電阻，將該電阻之跨壓與一預設值做比較以產生該干擾訊號偵測結果。
4. 如申請專利範圍第1項所述之觸控感測電路，其中該感測值解析電路包含：一充電單元，透過一充電路徑對該些電容充電；一放電單元，透過一放電路徑使該些電容放電；一第一電阻，位於該充電路徑上；以及一第二電阻，位於該放電路徑上；並且該干擾訊號偵測電路包含：一比較單元，耦接該第一電阻及該第二電阻，用來將該第一電阻之跨壓與一第一預設值做比較以及將該第二電阻之跨壓與一第二預設值做比較以產生該干擾訊號偵測結果。
5. 如申請專利範圍第1項所述之觸控感測電路，其中該控制訊號產生單元依據一第一預設時間及該干擾訊號偵測結果決定該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度，其中，當該預設時間到達時若該干擾訊號偵測結果指示有干擾產生，則該控制訊號產生單元透過該控制訊號使該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度延長一第二預設時間。
6. 如申請專利範圍第5項所述之觸控感測電路，其中該控制訊號產生單元於該第二預設時間到達後，依據該干擾訊號偵測結果透過該控制訊號選 擇性地再將該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度延長該第二預設時間。
7. 一種觸控感測方法，應用於一觸控面板以產生一觸控感測結果，該觸控面板包含複數電容，該方法包含：於一第一時間區間對該些電容充電；於一第二時間區間對該些電容放電；偵測該觸控面板之一干擾訊號，以產生一干擾訊號偵測結果；以及依據該干擾訊號偵測結果產生一控制訊號；依據該些電容之一電容量以產生一感測訊號；以及依據該感測訊號以產生該觸控感測結果；其中，該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度係依據該控制訊號而改變。
8. 如申請專利範圍第7項所述之觸控感測方法，其中該對該些電容充電之步驟係透過一充電路徑對該些電容充電，該充電路徑包含一電阻，並且該偵測該觸控面板之該干擾訊號以產生該干擾訊號偵測結果之步驟包含：將該電阻之跨壓與一預設值做比較以產生該干擾訊號偵測結果。
9. 如申請專利範圍第7項所述之觸控感測方法，其中該對該些電容放電之步驟係透過一放電路徑對該些電容放電，該放電路徑包含一電阻，並且該偵測該觸控面板之該干擾訊號以產生該干擾訊號偵測結果之步驟包含：將該電阻之跨壓與一預設值做比較以產生該干擾訊號偵測結果。
10. 如申請專利範圍第7項所述之觸控感測方法，其中該對該些電容充電之步驟係透過一充電路徑對該些電容充電，該充電路徑包含一第一電阻，且該對該些電容放電之步驟係透過一放電路徑對該些電容放電，該放電路徑包含一第二電阻，並且該偵測該觸控面板之該干擾訊號以產生該干擾訊號偵測結果之步驟包含：將該第一電阻之跨壓與一第一預設值做比較以及將該第二電阻之跨壓與一第二預設值做比較以產生該干擾訊號偵測結果。
11. 如申請專利範圍第7項所述之觸控感測方法，更包含：計數一第一預設時間；以及當該第一預設時間到達時若該干擾訊號偵測結果指示有干擾產生，則將該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度延長一第二預設時間。
12. 如申請專利範圍第11項所述之觸控感測方法，更包含：於該第二預設時間到達後，依據該干擾訊號偵測結果選擇性地再將該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度延長該第二預設時間。
13. 一種觸控感測電路，應用於一觸控面板以產生一感測訊號，其中該觸控面板包含一感測元件，該觸控感測電路包含：一干擾訊號偵測電路，用來偵測該觸控面板之一干擾訊號，以產生一干擾訊號偵測結果；一控制訊號產生單元，依據該干擾訊號偵測結果產生一控制訊號；以及一感測值解析電路，於一第一時間區間對該感測元件充電，以及於一第 二時間區間將該感測元件放電，並依據該感測元件之一感測值產生該感測訊號，其中該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度係依據一控制訊號而改變。
14. 如申請專利範圍第13項所述之觸控感測電路，其中該感測元件包含複數電容，該感測值解析電路包含：一充電單元，依據該控制訊號透過一充電路徑對該些電容充電；以及一電阻，位於該充電路徑上；並且該干擾訊號偵測電路包含：一比較單元，耦接該電阻，將該電阻之跨壓與一預設值做比較以產生該干擾訊號偵測結果。
15. 如申請專利範圍第13項所述之觸控感測電路，其中該感測元件包含複數電容，該感測值解析電路包含：一放電單元，依據該控制訊號透過一放電路徑對該些電容放電；以及一電阻，位於該放電路徑上；並且該干擾訊號偵測電路包含：一比較單元，耦接該電阻，將該電阻之跨壓與一預設值做比較以產生該干擾訊號偵測結果。
16. 如申請專利範圍第13項所述之觸控感測電路，其中該感測元件包含複數電容，該感測值解析電路包含：一充電單元，依據該控制訊號透過一充電路徑對該些電容充電；以 及一放電單元，依據該控制訊號透過一放電路徑對該些電容放電；一第一電阻，位於該充電路徑上；以及一第二電阻，位於該放電路徑上；並且該干擾訊號偵測電路包含：一比較單元，耦接該第一電阻及該第二電阻，將該第一電阻之跨壓與一第一預設值做比較以及將該第二電阻之跨壓與一第二預設值做比較以產生該干擾訊號偵測結果。
17. 如申請專利範圍第13項所述之觸控感測電路，其中該控制訊號產生單元依據一第一預設時間及該干擾訊號偵測結果決定該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度，其中當該第一預設時間到達時若該干擾訊號偵測結果指示有干擾產生，則該控制訊號產生單元利用該控制訊號使該感測值解析電路將該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度延長一第二預設時間。
18. 如申請專利範圍第17項所述之觸控感測電路，其中該控制訊號產生單元於該第二預設時間到達後，依據該干擾訊號偵測結果利用該控制訊號使該感測值解析電路選擇性地再將該第一時間區間與該第二時間區間其中之一的長度延長該第二預設時間。