TWI424171B - Electronic component testing classifier - Google Patents

Description

電子元件測試分類機

本發明係提供一種可易於排出發生異常狀況時之水珠，並縮減測試裝置佔用機台台面空間，以提升測試品質及縮小設備體積之電子元件測試分類機。

在現今，電子元件係應用於不同電子設備，由於電子設備所處之環境可能為常溫環境、高溫環境或低溫環境等，因此，業者為確保電子元件之使用品質，於電子元件製作完成後，必須視其應用之環境溫度，將電子元件移載至常溫測試機或冷測機或熱測機，以分別於不同作業溫度環境中進行常溫測試作業或冷測作業或熱測作業，進而淘汰出不良品。

請參閱第1圖，係為一種電子元件冷測機之示意圖，其係於機台11上配置有供料裝置12、收料裝置13、測試裝置14、預冷盤15及輸送裝置16，該供料裝置12係容納複數個待測之電子元件17，該收料裝置13係容納複數個完測之電子元件17，該測試裝置14係設有一具低溫作業環境之冷測室141，並於冷測室141內部之機台11上配置有一水平式且具複數個測試座143之測試電路板142，用以測試電子元件17，另於測試座143之側方設有一下壓治具144，用以下壓電子元件17，該預冷盤15係用以預冷待測之電子元件17，該輸送裝置16係設有至少一取放器161，用以於供料裝置12、收料裝置13、測試裝置14及預冷盤15間輸送待測/完測之電子元件；於執行冷測作業時，輸送裝置16之取放器161係於供料裝置12處取出待測之電子元件17，並先移載置入於預冷盤15內，該預冷盤15即將待測之電子元件17預冷至所需測試溫度(例如-20℃)，於待測之電子元件17預冷後，輸送裝置16之取放器161再將待測之電子元件17移載至冷測室141，並置入於測試座143上，下壓治具144即下壓待測之電子元件17執行冷測作業，於冷測完畢後，輸送裝置16之取放器161係將完測之電子元件17移載至收料裝置13處收置；惟，電子元件17於低溫作業環境之冷測室141內執行測試作業時，由於電子元件17本身如在低溫環境執行測試程式發生異常狀況時，易導致電子元件17之表面凝結水珠，但測試裝置14之測試座143係水平配置於機台11上，以致電子元件17上之水珠殘留於測試座143內，不僅影響測試良率，亦降低測試電路板142及測試座143之使用壽命；再者，該測試裝置14係於測試電路板142上配置有複數個測試座143，使得測試電路板142之面積較大，當測試電路板142水平配置於機台11上時，勢必相當佔用機台11之台面空間，並無法有效縮小設備之體積，造成佔用空間之缺失。

因此，如何提供一種可提升測試良率及縮小體積之電子元件測試分類機，即為業者研發之標的。

本發明之目的一，係提供一種電子元件測試分類機，係於機台上配置有供料裝置、收料裝置、測試裝置及輸送裝置，該供料裝置係容納至少一待測之電子元件，該收料裝置係容納至少一完測之電子元件，該測試裝置係設有至少一可執行不同溫度測試之測試區，並於測試區設有具至少一測試座之測試電路板，且使測試座之插入口非朝向上方，用以測試電子元件，該輸送裝置係設有具至少一載台之載送機構，用以於供、收料裝置及測試裝置間載送電子元件，並設有具至少一取放器之移料機構，用以於供、收料裝置及載台間移載電子元件，另設有具至少一取放器之轉載機構，用以於載台與測試座間轉載電子元件；藉此，可利用插入口非朝向上方之測試座，易於排出發生異常狀況時之水珠，並增加測試電路板及測試座之使用壽命，達到提升測試品質及節省成本之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件測試分類機，該測試裝置係於測試區設有具至少一測試座之測試電路板，且使測試座之插入口非朝向上方，用以測試電子元件，而可縮減佔用機台之台面空間，達到縮小設備體積之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種電子元件測試分類機，該測試裝置係於機台上設有一具測試區之作業室，並於測試區之一側設有具溫控器之第一溫控區，而可視熱測/冷測作業所需，使第一溫控區形成一預熱區或預冷區，用以預熱/預冷待測之電子元件，以縮短電子元件之升溫/降溫時間，以利迅速進行測試作業，達到提升使用效能之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種電子元件測試分類機，該測試裝置係於測試區之另一側設有一具溫控器之第二溫控區，並使第二溫控區形成一回溫區，以使冷測完畢後之電子元件於回溫區內回溫至常溫，而防止電子元件表面凝結水珠，達到提升使用效能之實用效益。

本發明之目的五，係提供一種電子元件測試分類機，該輸送裝置係可視需求增設有至少一可變換電子元件之角位方向的轉位機構，該轉位機構可獨立裝配於機台上，亦可裝配於移料機構或轉載機構上，進而可利用轉位機構變換待測電子元件之角位方向，以符合測試座的角位方向，並於測試完畢後，再變換完測電子元件之角位方向，以利收置於收料裝置，達到提升使用效能之實用效益。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：請參閱第3、4圖，本發明電子元件測試分類機係於機台20上配置有至少一供料裝置、收料裝置、測試裝置及輸送裝置，於本實施例中，係於機台20上配置有供料裝置30、收料裝置40、空匣裝置50、測試裝置60及輸送裝置70；該供料裝置30係用以容納至少一待測之電子元件，於本實施例中，該供料裝置30係設有至少一可作第一軸向位移(即為Y軸向位移)之料盤31，用以盛裝複數個待測之電子元件；該收料裝置40係用以容納至少一完測之電子元件，於本實施例中，該收料裝置40係設有至少一可作第一軸向位移之料盤41，用以盛裝複數個完測之電子元件；該空匣裝置50係用以收置供料裝置30之空料盤31，並將空料盤31補充於收料裝置40，用以盛裝完測之電子元件；該測試裝置60係設有至少一測試區，並於測試區設有具至少一測試座之測試電路板，且使測試座之插入口非朝向上方，用以測試電子元件，於本實施例中，該測試裝置60係於機台20上設有一具至少一測試區62之作業室61，並於測試區62內設有溫控器621，而可視測試作業所需，將測試區62變換為一常溫作業環境、高溫作業環境或低溫作業環境等，使電子元件於不同溫度之作業環境下執行測試作業，又該測試區62之側壁上係開設有通孔622，並於通孔622之一側設有具至少一測試座64且垂直配置之測試電路板63，使得測試座64之插入口朝向側方，供插入待測之電子元件，並以測試器(圖未示出)將測試結果傳輸至中央控制單元(圖未示出)，由中央控制單元控制各裝置作動，另於作業室61內之測試區62一側設有一具溫控器651之第一溫控區65，並可視熱測/冷測作業所需，使第一溫控區65形成一預熱區或預冷區，用以預熱/預冷待測之電子元件，而測試區62之另一側則設有一具溫控器661之第二溫控區66，並使第二溫控區66形成一回溫區，以供完測之電子元件回溫至常溫；該輸送裝置70係設有具至少一載台711之載送機構71，用以於供、收料裝置30、40及測試裝置60間載送電子元件，並設有具至少一取放器之移料機構72，用以於供、收料裝置30、40及載台711間移載電子元件，另設有具至少一取放器之轉載機構73，該取放器係擺置呈水平狀態時，可於載台711上取放電子元件，並於旋轉擺置對應測試座64插入口之角度狀態時，可將待測之電子元件插置於測試座64內測試，於本實施例中，該載送機構71可視使用所需而配置載台711之位移路徑，例如載台711可直接位移至測試區62，或使載台711位移至第一溫控區65及測試區62，亦或使載台711位移至第一溫控區65、測試區62及第二溫控區66，於本實施例中，係設有一具複數個載台711之載送機構71，並使各載台711於移料機構72、測試區62及第一、二溫控區65、66間循環位移，用以載送待測/完測之電子元件，又該移料機構72係設有二可作第二、三軸向位移(即為X-Z軸向位移)之第一取放器721及第二取放器722，第一取放器721係於供料裝置30及各載台711間移載待測之電子元件，第二取放器722係於收料裝置40及各載台711間移載完測之電子元件，另設有一可作第二、三軸向位移之移盤器723，用以於供料裝置30及空匣裝置50間移載空的料盤，又該轉載機構73係設有一具轉動架732之驅動源731，該驅動源可為馬達或旋轉缸，於本實施例中，該驅動源731係為馬達，並於馬達之轉軸上裝設有轉動架732，轉動架732之兩端係分別固設有呈水平狀態及垂直狀態之第一、二面板733A、733B，以旋轉帶動第一、二面板733A、733B交替變換位置，第一面板733A上係配置有第一驅動源734A，該第一驅動源734A可為壓缸或包含有馬達及螺桿螺座組，用以連結驅動一具複數個第三取放器736A之第一活動板735A作伸縮位移，第一活動板735A與第一面板733A間則設有相互配合之第一滑座737A及第一滑軌738A，另該第一驅動源734A亦可架設於作業區外之上方機架上，而不隨著第一面板733A移動，第一驅動源734A之伸縮桿並以抵頂的方式頂推第一活動板735A作伸出位移，第一活動板735A復位時則由其上之拉伸彈簧拉伸復位，而不限於前述之實施例。第二面板733B上係配置有第二驅動源734B，該第二驅動源734B可為壓缸或包含有馬達及螺桿螺座組，用以連結驅動一具複數個第四取放器736B之第二活動板735B作伸縮位移，第二活動板735B與第二面板733B間則設有相互配合之第二滑座737B及第二滑軌738B，另該第二驅動源734B亦可架設於作業區外之上方機架上，而不隨著第二面板733B移動，第二驅動源734B之伸縮桿並以抵頂的方式頂推第二活動板735B作伸出位移，第二活動板735B復位時則由其上之拉伸彈簧拉伸復位，而不限於前述之實施例。進而驅動源731可帶動第一、二活動板735A、735B及其上之第三、四取放器736A、736B旋轉交替變換呈水平狀態及垂直狀態，使第三取放器736A或第四取放器736B擺置呈水平狀態時，可於載台711上取放電子元件，並使第三取放器736A或第四取放器736B擺置呈垂直狀態將待測之電子元件插置於測試座64；另該輸送裝置70係可視需求增設有至少一可變換電子元件之角位方向的轉位機構，該轉位機構可獨立裝配於機台20上，亦可裝配於移料機構72或轉載機構73上，而可利用轉位機構變換待測電子元件之角位方向，以符合測試座64的角位方向，並於測試完畢後，再變換完測電子元件之角位方向，以利收置於收料裝置40；當轉位機構獨立裝配於機台20上時，係設有複數個承座供承置電子元件，並控制帶動各承座自轉或同步轉動而變換電子元件之角位方向，再配置一具取放器之移載機構，以於轉位機構及載台711間移載電子元件，又輸送裝置70亦可於機台20上設有複數個承置電子元件之承座，並配置一具取放器之移料機構，再於移料機構上設有轉位機構，於取放器取出承座上之電子元件後，利用轉位機構帶動取放器及其上之電子元件轉動，而變換電子元件的角位方向，另當轉位機構裝配於移料機構72或轉載機構73上時，係可帶動第一、二取放器721、722或第三、四取放器736A、736B轉動，而變換電子元件之角位方向，於本實施例中，該輸送裝置70係於移料機構72之第一取放器721上設有第一轉位機構74A，用以變換待測電子元件之角位方向，並於第二取放器722上設有第二轉位機構74B，用以變換完測電子元件之角位方向。

本發明可提供業者視電子元件日後應用之環境溫度，而選擇對電子元件作常溫測試作業、熱測作業或冷測作業，以淘汰出不良品，例如電子元件欲執行常溫測試作業時，可關閉測試區62及第一、二溫控區65、66之各溫控器621、651、661，使測試區62及第一、二溫控區65、66形成一常溫測試作業環境，以供電子元件執行常溫測試作業，或電子元件欲執行熱測作業時，可開啟測試區62及第一溫控區65之各溫控器621、651，使第一溫控區65形成一預熱區，用以預熱電子元件，並使測試區62形成一高溫測試作業環境，以供電子元件執行高溫測試作業，亦或電子元件欲執行冷測作業時，可開啟測試區62及第一、二溫控區65、66之各溫控器621、651、661，使第一溫控區65形成一預冷區，用以預冷電子元件，並使測試區62形成一低溫測試作業環境，以供電子元件執行冷測作業，而第二溫控區66則形成一回溫區，用以使電子元件回溫至常溫。

請參閱第5圖，係為本發明對電子元件執行冷測作業之實施例，該測試裝置60係控制開啟測試區62及第一、二溫控區65、66之各溫控器621、651、661，使第一溫控區65形成一預冷區，測試區62係形成一低溫測試作業環境，第二溫控區66則形成一回溫區，該供料裝置30之料盤31係作Y軸向位移至移料機構72之第一取放器721側方，該移料機構72之第一取放器721即作X-Z軸向位移至料盤31處取出待測之電子元件80，接著以第一轉位機構74A帶動第一取放器721及其上之待測電子元件80轉動，而變換待測電子元件80之角位方向，此時，載送機構71之載台711A係位移至第一取放器721之側方，第一取放器721作X-Z軸向位移將已變換角位方向之待測電子元件80移載置入於載台711A上；請參閱第6圖，載送機構71係驅動載台711A將待測之電子元件80載送至第一溫控區65，由於第一溫控區65係為一預冷區，而可預冷待測之電子元件80，載台711B依序承載已變換角位方向之待測電子元件81載送至第一溫控區65預冷，此時，第一取放器721係作X-Z軸向位移將已變換角位方向之待測電子元件82移載置入於載台711C上；請參閱第7、8、9圖，載台711A係載送已預冷之待測電子元件80至測試區62，由於測試區62係為一低溫作業環境，而可使待測之電子元件80於模擬低溫環境下執行冷測作業，接著轉載機構73係控制第一驅動源734A驅動第一活動板735A作Z軸向位移，使第三取放器736A於載台711A上取出待測之電子元件80，再以驅動源731控制轉動架732帶動第一、二面板733A、733B作180度旋轉而變換位置，使第一面板733A及其上之第一活動板735A擺置呈水平狀態，而第二面板733B及其上之第二活動板735B則擺置呈垂直狀態，第一驅動源734A係驅動第一活動板735A作X軸向位移，使第三取放器736A將待測之電子元件80置入壓抵於測試裝置60之測試座64內而執行測試作業，由於測試座64之插入口非朝向上方，並不會使冷測作業發生異常狀況時所凝結之水珠殘留於測試座64內，進而可提升測試良率及測試電路板63、測試座64之使用壽命，此時，載台711C係載送待測之電子元件82至第一溫控區65預冷，第一取放器721則將已變換角位方向之待測電子元件83置入於載台711D；請參閱第9、10、11、12圖，當測試座64執行電子元件80之測試作業時，載台711A係作Y軸向向前位移，轉載機構73可控制第二驅動源734B驅動第二活動板735B作Z軸向位移，使第四取放器736B於載台711A上取出其他待測電子元件80A，當電子元件80測試完畢後，轉載機構73之第一驅動源734A係驅動第一活動板735A作X軸向反向位移，使第三取放器736A於測試座64內取出完測之電子元件80，再以驅動源731控制轉動架732帶動第一、二面板733A、733B作180度反向旋轉而變換位置，使第一面板733A及其上之第一活動板735A擺置呈垂直狀態，而第二面板733B及其上之第二活動板735B則擺置呈水平狀態，接著控制第一驅動源734A驅動第一活動板735A作Z軸向位移，使第三取放器736A將完測之電子元件80置入於載台711A上，而第二驅動源734B則驅動第二活動板735B作X軸向位移，使第四取放器736B將待測之電子元件80A置入壓抵於測試裝置60之測試座64內而接續執行測試作業；請參閱第13圖，載台711A係承載完測之電子元件80至第二溫控區66，由於第二溫控區66係為一回溫區，而可使完測之電子元件80回溫至常溫，此時，測試裝置60之測試座64則執行電子元件80A之測試作業，載台711B係承載待測之電子元件81供轉載機構73取料，其他載台則依序位移；請參閱第14、15圖，載送機構71係控制承載完測電子元件80之載台711A離開第二溫控區66，而載台711B、711C則依序承載完測電子元件81、82至第二溫控區66回溫，第二取放器722即作X-Z軸向位移於載台711A上取出完測之電子元件80，接著以第二轉位機構74B帶動第二取放器722及其上之完測電子元件80轉動，而變換完測電子元件80之角位方向，再依測試結果(如良品電子元件、不良品電子元件或次級品電子元件)而直接將完測之電子元件80移載至收料裝置40處，收料裝置40之料盤41即作Y軸向位移供第二取放器722置入完測之電子元件80，以完成分類收置作業。

請參閱第4、16圖，係本發明之另一實施例，該機台20上係配置有供料裝置30、收料裝置40、空匣裝置50、測試裝置60及輸送裝置70；該供料裝置30係設有至少一可作第一軸向位移(即為Y軸向位移)之料盤31，用以盛裝複數個待測之電子元件；該收料裝置40係設有至少一可作第一軸向位移之料盤41，用以盛裝複數個完測之電子元件；該空匣裝置50係用以收置供料裝置30之空料盤31，並將空料盤31補充於收料裝置40，用以盛裝完測之電子元件；該測試裝置60係於機台20上設有一具至少一測試區62之作業室61，並於測試區62內設有溫控器621，而可視測試作業所需，將測試區62變換為一常溫作業環境、高溫作業環境或低溫作業環境等，使電子元件於不同溫度之作業環境下執行測試作業，又該測試區62之側壁上係開設有通孔622，並於通孔622之一側設有具至少一測試座64且垂直配置之測試電路板63，使得測試座64之插入口朝向側方，供插入待測之電子元件，並以測試器(圖未示出)將測試結果傳輸至中央控制單元(圖未示出)，由中央控制單元控制各裝置作動，另於作業室61內之測試區62一側設有一具溫控器651之第一溫控區65，並可視熱測/冷測作業所需，使第一溫控區65形成一預熱區或預冷區，用以預熱/預冷待測之電子元件，而測試區62之另一側則設有一具溫控器661之第二溫控區66，並使第二溫控區66形成一回溫區，以供完測之電子元件回溫至常溫；該輸送裝置70係設有一具複數個載台711之載送機構71，並使各載台711於測試區62及第一、二溫控區65、66間循環位移，用以載送待測/完測之電子元件，又該移料機構72係設有二可作第二、三軸向位移(即為X-Z軸向位移)之第一取放器721及第二取放器722，第一取放器721係用以移載待測之電子元件，第二取放器722係用以移載完測之電子元件，另設有一可作第二、三軸向位移之移盤器723，用以於供料裝置30及空匣裝置50間移載空的料盤，又該轉載機構73係設有一具轉動架732之驅動源731，該驅動源731係為馬達，並於馬達之轉軸上裝設有轉動架732，轉動架732之兩端係分別固設有呈水平狀態及垂直狀態之第一、二面板733A、733B，以旋轉帶動第一、二面板733A、733B交替變換位置，第一面板733A上係配置有第一驅動源734A，用以連結驅動一具複數個第三取放器736A之第一活動板735A作伸縮位移，第一活動板735A與第一面板733A間則設有相互配合之第一滑座737A及第一滑軌738A，另該第一驅動源734A亦可架設於作業區外之上方機架上，而不隨著第一面板733A移動，第一驅動源734A之伸縮桿並以抵頂的方式頂推第一活動板735A作伸出位移，第一活動板735A復位時則由其上之拉伸彈簧拉伸復位，而不限於前述之實施例。第二面板733B上係配置有第二驅動源734B，用以連結驅動一具複數個第四取放器736B之第二活動板735B作伸縮位移，第二活動板735B與第二面板733B間則設有相互配合之第二滑座737B及第二滑軌738B，另該第二驅動源734B亦可架設於作業區外之上方機架上，而不隨著第二面板733B移動，第二驅動源734B之伸縮桿並以抵頂的方式頂推第二活動板735B作伸出位移，第二活動板735B復位時則由其上之拉伸彈簧拉伸復位，而不限於前述之實施例。進而驅動源731可帶動第一、二活動板735A、735B及其上之第三、四取放器736A、736B旋轉交替變換呈水平狀態及垂直狀態，使第三取放器736A或第四取放器736B擺置呈水平狀態時，可於載台711上取放電子元件，並使第三取放器736A或第四取放器736B擺置呈垂直狀態將待測之電子元件插置於測試座64；另該輸送裝置70係於供料裝置30、收料裝置40及載台711間獨立配置有二具至少一承座741C之第三轉位機構74C及具至少一承座741D之第四轉位機構74D，於本實施例中，第三轉位機構74C係設有複數個可同步或各別轉動之承座741C，供承置待測之電子元件，並變換其角位方向，而符合測試座64的角位方向，第四轉位機構74D係設有複數個可同步或各別轉動之承座741D，供承置完測之電子元件，並變換其角位方向，以利收置於收料裝置40；又該輸送裝置70係於第三轉位機構74C及第四轉位機構74D之側方設有具至少一取放器之移載機構75，用以於第三轉位機構74C、第四轉位機構74D及載台711間移載待測/完測之電子元件，於本實施例中，移載機構75係於第三轉位機構74C之側方設有第五取放器751，用以於第三轉位機構74C及載台711間移載已變換角位方向之待測電子元件，並於第四轉位機構74D之側方設有第六取放器752，用以於第四轉位機構74D及載台711間移載已變換角位方向之完測電子元件。

請參閱第17圖，係為本發明對電子元件執行冷測作業之實施例，該測試裝置60係控制開啟測試區62及第一、二溫控區65、66之各溫控器621、651、661，使第一溫控區65形成一預冷區，測試區62係形成一低溫測試作業環境，第二溫控區66則形成一回溫區，該供料裝置30之料盤31係作Y軸向位移至移料機構72之第一取放器721側方，第一取放器721即作X-Z軸向位移至料盤31處取出待測之電子元件80，並移載至第三轉位機構74C之承座741C上，第三轉位機構74C即帶動各承座741C同步轉動，以變換待測電子元件80之角位方向，此時，載送機構71之載台711A係位移至第一取放器721之側方；請參閱第18圖，當第三轉位機構74C變換待測電子元件80之角位方向完畢後，移載機構75之第五取放器751係於第三轉位機構74C上取出已變換角位方向之待測電子元件80，並移載至載台711A上；請參閱第19圖，載送機構71係驅動載台711A將已變換角位方向之待測電子元件80載送至第一溫控區65，由於第一溫控區65係為一預冷區，而可預冷待測之電子元件80，載台711B依序承載已變換角位方向之待測電子元件81載送至第一溫控區65預冷，此時，第五取放器751係於第三轉位機構74C上取出已變換角位方向之待測電子元件82，並移載至載台711C上；請參閱第8、9、20圖，載台711A係載送已預冷之待測電子元件80至測試區62，由於測試區62係為一低溫作業環境，而可使待測之電子元件80於模擬低溫環境下執行冷測作業，接著轉載機構73係控制第一驅動源734A驅動第一活動板735A作Z軸向位移，使第三取放器736A於載台711A上取出待測之電子元件80，再以驅動源731控制轉動架732帶動第一、二面板733A、733B作180度旋轉而變換位置，使第一面板733A及其上之第一活動板735A擺置呈水平狀態，而第二面板733B及其上之第二活動板735B則擺置呈垂直狀態，第一驅動源734A係驅動第一活動板735A作X軸向位移，使第三取放器736A將待測之電子元件80置入壓抵於測試裝置60之測試座64內而執行測試作業，由於測試座64之插入口非朝向上方，並不會使冷測作業發生異常狀況時所凝結之水珠殘留於測試座64內，進而可提升測試良率及測試電路板63、測試座64之使用壽命，此時，載台711C係載送待測之電子元件82至第一溫控區65預冷，第五取放器751係於第三轉位機構74C上取出已變換角位方向之待測電子元件83，並移載至載台711D上；請參閱第9、11、12、21圖，當測試座64執行電子元件80之測試作業時，載台711A係作Y軸向向前位移，轉載機構73可控制第二驅動源734B驅動第二活動板735B作Z軸向位移，使第四取放器736B於載台711A上取出其他待測電子元件80A，當電子元件80測試完畢後，轉載機構73之第一驅動源734A係驅動第一活動板735A作X軸向反向位移，使第三取放器736A於測試座64內取出完測之電子元件80，再以驅動源731控制轉動架732帶動第一、二面板733A、733B作180度反向旋轉而變換位置，使第一面板733A及其上之第一活動板735A擺置呈垂直狀態，而第二面板733B及其上之第二活動板735B則擺置呈水平狀態，接著控制第一驅動源734A驅動第一活動板735A作Z軸向位移，使第三取放器736A將完測之電子元件80置入於載台711A上，而第二驅動源734B則驅動第二活動板735B作X軸向位移，使第四取放器736B將待測之電子元件80A置入壓抵於測試裝置60之測試座64內而接續執行測試作業；請參閱第22圖，載台711A係承載完測之電子元件80至第二溫控區66，由於第二溫控區66係為一回溫區，而可使完測之電子元件80回溫至常溫，此時，測試裝置60之測試座64則執行電子元件80A之測試作業，載台711B係承載待測之電子元件81供轉載機構73取料，其他載台則依序位移；請參閱第23圖，載送機構71係控制承載完測電子元件80之載台711A離開第二溫控區66，而載台711B、711C則依序承載完測電子元件81、82至第二溫控區66回溫，第六取放器752係於載台711A上取出完測之電子元件80；請參閱第24圖，第六取放器752係將完測之電子元件80移載置入於第四轉位機構74D之承座741D上，第四轉位機構74D即帶動各承座741D同步轉動，以變換完測電子元件80之角位方向；請參閱第25圖，於完測之電子元件80變換角位方向後，第二取放器722即作X-Z軸向位移於第四轉位機構74D之承座741D上取出已變換角位方向之完測電子元件80；請參閱第26圖，第二取放器722係依測試結果(如良品電子元件、不良品電子元件或次級品電子元件)而直接將完測之電子元件80移載至收料裝置40處，收料裝置40之料盤41即作Y軸向位移供第二取放器722置入完測之電子元件80，以完成分類收置作業。

據此，本發明實為一深具實用性及進步性之設計，然未見有相同之產品及刊物公開，從而允符發明專利申請要件，爰依法提出申請。

[習式]

11．．．機台

12．．．供料裝置

13．．．收料裝置

14．．．測試裝置

141．．．冷測室

142．．．測試電路板

143．．．測試座

144．．．下壓治具

15．．．預冷盤

16．．．輸送裝置

161．．．取放器

17．．．電子元件

[本發明]

20．．．機台

30．．．供料裝置

31．．．料盤

40．．．收料裝置

41．．．料盤

50．．．空匣裝置

60．．．測試裝置

61．．．作業室

62．．．測試區

621．．．溫控器

622．．．通孔

63．．．測試電路板

64．．．測試座

65．．．第一溫控區

651．．．溫控器

66．．．第二溫控區

661．．．溫控器

70．．．輸送裝置

71．．．載送機構

711、711A、711B、711C、711D．．．載台

72．．．移料機構

721．．．第一取放器

722．．．第二取放器

723．．．移盤器

73．．．轉載機構

731．．．驅動源

732．．．轉動架

733A．．．第一面板

733B．．．第二面板

734A．．．第一驅動源

734B．．．第二驅動源

735A．．．第一活動板

735B．．．第二活動板

736A．．．第三取放器

736B．．．第四取放器

737A．．．第一滑座

737B．．．第二滑座

738A．．．第一滑軌

738B．．．第二滑軌

74A．．．第一轉位機構

74B．．．第二轉位機構

74C．．．第三轉位機構

741C．．．承座

74D．．．第四轉位機構

741D．．．承座

75．．．移載機構

751．．．第五取放器

752．．．第六取放器

80、80A、81、82、83．．．電子元件

第1圖：係習式電子元件冷測機之示意圖。

第2圖：係習式測試座之使用示意圖。

第3圖：本發明之各裝置配置示意圖。

第4圖：本發明轉載機構之示意圖。

第5圖：係本發明執行冷測作業之使用示意圖(一)。

第6圖：係本發明執行冷測作業之使用示意圖(二)。

第7圖：係本發明執行冷測作業之使用示意圖(三)。

第8圖：係轉載機構取出待測電子元件之使用示意圖。

第9圖：係轉載機構壓抵電子元件測試之使用示意圖。

第10圖：係本發明執行冷測作業之使用示意圖(四)。

第11圖：係轉載機構取出及壓測電子元件之使用示意圖。

第12圖：係轉載機構轉載待測/完測電子元件之使用示意圖。

第13圖：係本發明執行冷測作業之使用示意圖(五)。

第14圖：係本發明執行冷測作業之使用示意圖(六)。

第15圖：係本發明執行冷測作業之使用示意圖(七)。

第16圖：係本發明之另一實施例圖。

第17圖：係本發明另一實施例執行冷測作業之使用示意圖(一)。

第18圖：係本發明另一實施例執行冷測作業之使用示意圖(二)。

第19圖：係本發明另一實施例執行冷測作業之使用示意圖(三)。

第20圖：係本發明另一實施例執行冷測作業之使用示意圖(四)。

第21圖：係本發明另一實施例執行冷測作業之使用示意圖(五)。

第22圖：係本發明另一實施例執行冷測作業之使用示意圖(六)。

第23圖：係本發明另一實施例執行冷測作業之使用示意圖(七)。

第24圖：係本發明另一實施例執行冷測作業之使用示意圖(八)。

第25圖：係本發明另一實施例執行冷測作業之使用示意圖(九)。

第26圖：係本發明另一實施例執行冷測作業之使用示意圖(十)。

20．．．機台

30．．．供料裝置

31．．．料盤

40．．．收料裝置

41．．．料盤

50．．．空匣裝置

60．．．測試裝置

61．．．作業室

62．．．測試區

621．．．溫控器

622．．．通孔

63．．．測試電路板

64．．．測試座

65．．．第一溫控區

651．．．溫控器

66．．．第二溫控區

661．．．溫控器

70．．．輸送裝置

71．．．載送機構

711．．．載台

72．．．移料機構

721．．．第一取放器

722．．．第二取放器

723．．．移盤器

73．．．轉載機構

74A．．．第一轉位機構

74B．．．第二轉位機構

Claims (10)

1. 一種電子元件測試分類機，包含：機台；供料裝置：係配置於機台上，用以容納至少一待測之電子元件；收料裝置：係配置於機台上，用以容納至少一完測之電子元件；測試裝置：係配置於機台上，並設有至少一測試區，該測試區係設有具至少一測試座之測試電路板，且使測試座之插入口非朝向上方，用以測試電子元件；輸送裝置：係配置於機台上，並設有具至少一載台之載送機構，用以於供、收料裝置及測試裝置間載送電子元件，又設有具至少一取放器之移料機構，用以移載電子元件，另設有具至少一取放器之轉載機構，該取放器係於水平狀態取放電子元件，並於旋轉擺置對應測試座插入口之角度狀態將待測之電子元件插置於測試座內測試；中央控制單元：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，其中，該測試裝置係於機台上設有具測試區之作業室，並於測試區設有溫控器。
3. 依申請專利範圍第2項所述之電子元件測試分類機，其中，該測試裝置係於作業室內之測試區一側設有具溫控器之第一溫控區，以及於測試區之另一側設有具溫控器之第二溫控區。
4. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，其中，該移料機構係設有二可作第二、三軸向位移之第一取放器及第二取放器，第一取放器係於供料裝置及載台間移載待測之電子元件，第二取放器係於收料裝置及載台間移載完測之電子元件。
5. 依申請專利範圍第4項所述之電子元件測試分類機，更包含該輸送裝置係於移料機構之第一取放器上設有第一轉位機構，用以變換待測電子元件之角位方向，並於第二取放器上設有第二轉位機構，用以變換完測電子元件之角位方向。
6. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，其中，該轉載機構係設有一驅動源，用以驅動一轉動架旋轉，轉動架之兩端係分別設有呈不同角度配置之第一、二面板，第一面板上係配置有具第三取放器之第一活動板，該第一活動板並以一驅動源驅動位移，第二面板上係配置有具第四取放器之第二活動板，該第二活動板並以一驅動源驅動位移。
7. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，更包含有空匣裝置，用以容納至少一空的料盤，以及於移料機構設有移盤器，用以於供料裝置及空匣裝置間移載空的料盤。
8. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，更包含該輸送裝置係設有至少一轉位機構，用以變換電子元件之角位方向。
9. 依申請專利範圍第8項所述之電子元件測試分類機，其中，該輸送裝置係於機台上裝設二具承座之第三轉位機構及第四轉位機構，用以變換電子元件之角位方向，並設有一具第五取放器及第六取放器之移載機構，用以於第三、四轉位機構及載台間移載電子元件。
10. 依申請專利範圍第8項所述之電子元件測試分類機，其中，該輸送裝置係於轉載機構之第三、四取放器上分別設有轉位機構，用以變換電子元件之角位方向。