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TWI456211B - 高頻晶片天線量測平台 - Google Patents

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Publication number
TWI456211B
TWI456211B TW101143743A TW101143743A TWI456211B TW I456211 B TWI456211 B TW I456211B TW 101143743 A TW101143743 A TW 101143743A TW 101143743 A TW101143743 A TW 101143743A TW I456211 B TWI456211 B TW I456211B
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TW
Taiwan
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antenna
frequency chip
stage
carrier
high frequency
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Application number
TW101143743A
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TW201421036A (zh
Original Assignee
Nat Univ Chung Cheng
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Publication date
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/10—Radiation diagrams of antennas

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
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Claims (9)

  1. 一種高頻晶片天線量測平台，包含有：一平台；二支架，設於該平台上；一拱臂，兩端以可旋擺的方式樞設於該二支架，且該拱臂位於原點位置時其中點高於其兩端；一步進馬達，設於一該支架而與該拱臂連接，用以驅動該拱臂旋擺；一指示及固定組件，具有一來源天線固定座以及一光指示器，該光指示器係以可移動的方式設於該拱臂，該來源天線固定座係設於該光指示器下方，並可供該光指示器的光線透過，該來源天線固定座用以供安裝一來源天線；一載台，設於該平台且位於該二支架之間，該載台頂端具有一載台基板；一晶片天線載具，具有一底柱以及位於該底柱頂端分別向上向外延伸的二斜柱，該二斜柱的頂端分別具有一晶片天線載台，該底柱係以其底段固設於該載台基板；一探針載具，具有一底板、二支撐板以及一探針載台，該底板係以可改變方向的方式固定於該載台基板上，該二支撐板固設於該底板且彼此平行，並且向外向上斜向延伸，該探針載台設於該二支撐板頂端，用以承載一探針；以及一橋板，兩端分別設於各該晶片天線載台，該橋板的中央用以設置一晶片天線。
  2. 依據申請專利範圍第1項所述之高頻晶片天線量測平台，其中：該二支架呈柱狀。
  3. 依據申請專利範圍第1項所述之高頻晶片天線量測平台，其中：該拱臂之一端藉由一樞軸樞接於一該支架的頂端，該拱臂之另一端係連接於該步進馬達而受其驅轉。
  4. 依據申請專利範圍第1項所述之高頻晶片天線量測平台，其中：該二晶片天線載台之間的空間，其間距及深度均大於該來源天線的半功率波束寬度。
  5. 依據申請專利範圍第1項所述之高頻晶片天線量測平台，其中：該晶片天線載具之二斜柱係聯合形成V形、U形或形，其呈V形U形或形之結構的頂端兩點的寬度及開口的深度均大於該來源天線的半功率波束寬度。
  6. 依據申請專利範圍第1項所述之高頻晶片天線量測平台，其中：該探針載具的底板呈圓環形，而環繞於該晶片天線載具之底柱的底部周圍；該底板具有複數穿孔，藉由複數螺栓以可拆卸的方式固定於該載台基板，藉由拆下後改變該底板的穿孔對應於該載台基板的位置，即可改變該探針載具相對於該載台的角度。
  7. 依據申請專利範圍第1項所述之高頻晶片天線量測平台，其中：該探針載具的二支撐板的間距係大於該來源天線的半功率波束寬度，並且小於該探針載台的寬度。
  8. 依據申請專利範圍第1項所述之高頻晶片天線量測平台，其中：該探針載台在中央具有一長形槽孔，且於該長形槽孔之左右分別再設有一長形槽孔。
  9. 依據申請專利範圍第1項所述之高頻晶片天線量測平台，其中：該指示及固定組件之光指示器係套於該拱臂，而可於該拱臂上滑移。
TW101143743A 2012-11-22 2012-11-22 高頻晶片天線量測平台 TWI456211B (zh)

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