[go: up one dir, main page]

TWI334755B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TWI334755B
TWI334755B TW094117532A TW94117532A TWI334755B TW I334755 B TWI334755 B TW I334755B TW 094117532 A TW094117532 A TW 094117532A TW 94117532 A TW94117532 A TW 94117532A TW I334755 B TWI334755 B TW I334755B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
wiring board
layer
printed wiring
multilayer printed
conductor terminal
Prior art date
Application number
TW094117532A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200607427A (en
Inventor
Kariya Takashi
Toshiki Furutani
Hirohumi Goto
Shinichiro Iwanaga
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Jsr Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd, Jsr Corp filed Critical Ibiden Co Ltd
Publication of TW200607427A publication Critical patent/TW200607427A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI334755B publication Critical patent/TWI334755B/zh

Links

Classifications

    • H10W70/685
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0271Arrangements for reducing stress or warp in rigid printed circuit boards, e.g. caused by loads, vibrations or differences in thermal expansion
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0313Organic insulating material
    • H05K1/0353Organic insulating material consisting of two or more materials, e.g. two or more polymers, polymer + filler, + reinforcement
    • H05K1/0373Organic insulating material consisting of two or more materials, e.g. two or more polymers, polymer + filler, + reinforcement containing additives, e.g. fillers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/115Via connections; Lands around holes or via connections
    • H10W70/60
    • H10W90/701
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/01Dielectrics
    • H05K2201/0104Properties and characteristics in general
    • H05K2201/0133Elastomeric or compliant polymer
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/0332Structure of the conductor
    • H05K2201/0364Conductor shape
    • H05K2201/0367Metallic bump or raised conductor not used as solder bump
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/06Thermal details
    • H05K2201/068Thermal details wherein the coefficient of thermal expansion is important
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10674Flip chip
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28Applying non-metallic protective coatings
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4007Surface contacts, e.g. bumps
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4602Manufacturing multilayer circuits characterized by a special circuit board as base or central core whereon additional circuit layers are built or additional circuit boards are laminated
    • H10W72/07251
    • H10W72/20
    • H10W90/724

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Description

1334755 (1) 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於多層印刷配線板。 【先前技術】 近年來,在代表攜帶資訊終端或通訊終端的電子機器 ,驚人的高機能化及小型化。將使用於這些的電子機器的 1C晶片作爲於多層印刷配線板高密度實裝的形態’採用將 1C晶片直接表面構裝於多層印刷配線板的覆晶(Flip Chip )方式。作爲如此的多層印刷配線板,已知具備了核心基 板、形成於此核心基板上的加高(build-up )層、和於此 加高層的上面經由銲錫凸塊而構裝1C晶片的構裝用電極。 在此,作爲核心基板,使用將環氧樹脂或BT ( bismaleimide triazine 雙馬來硫亞氨三嗪)樹脂、聚亞酸 胺樹脂、聚丁二烯樹脂、酚樹脂等與玻璃纖維等的強化材 料一起成形者,而這些核心基板的熱膨脹係數爲約 12〜2 0PPm/°C ( 3 0〜2 00 °C ),與1C晶片的矽之熱膨脹係數 (約3. 5 ppm/°C )比較,約大4倍以上。因而,在前述的覆 晶方式,在反覆產生了伴隨1C晶片的發熱的溫度變化的情 況,因1C晶片與核心基板的熱膨脹量及熱收縮量的差異, 有破壞銲錫凸塊或1C晶片(多孔性化層間絕緣層之物)之 虞。 爲了解決此問題’提案:於加高層上設置低彈性率的 應力緩和層,於此應力緩和層的上面設置構裝用電極,將 -5- (2) (2)1334755 加高層上的導體圖形與構裝用電極以導體端子連接的多層 印刷配線板(日本特開昭58-28848號公報,日本特開2001-36253號公報)。例如於日本特開2〇〇1_36253號公報,如 第12圖所示的,開示:於加高層130的上面層疊低彈性率 層140,將於加高層130的上面的導體圖形132與形成於低 彈性率層140的上面的構裝用電極152,以介層洞150連接 的多層印刷配線板100。另外,於日本特開200 1 -3 625 3號 公報,作爲形成低彈性率層1 40的樹脂的具體例,可舉出 :爲熱塑性樹脂的聚烯烴系樹脂或聚亞醯胺樹脂、爲熱硬 化性樹脂的矽樹脂或含有NBR等的橡膠之變性環氧樹脂。 【發明內容】 但是,在日本特開200 1 -3 62 5 3號公報,作爲形成低彈 性率層1 40的樹脂,使用玻璃轉換溫度(Tg )低的樹脂, 但因在製作印刷配線板時實施的熱處理製程或於實際使用 時在高頻範圍動作的1C晶片的發熱等而有超過Tg。低彈性 率層係因爲若超過Tg則熱膨脹係數成爲數l〇〇PPm/°C範圍 的大的値,成爲對印刷配線板而產生10倍範圍的膨脹,所 以在產生印刷配線板與低彈性率層之間容易產生剝離的問 題。另外,在高溫範圍,因爲低彈性率層爲比起貫穿低彈 性率層的導體爲大的膨脹,所以亦有導體受到應力而容易 破斷的問題。特別是若搭載動作時脈(clock)爲高頻範圍 (例如3GHz以上)的1C,則因其發熱而此問題變爲顯著。 本發明係爲了解決如此的課題而爲,其目的爲提供: -6- (3) (3)1334755 即使在高溫時亦防止低彈性率層的剝離、同時可確保貫穿 低彈性率層的導體端子的連接信賴性之多層印刷配線板。 本發明者群,進行了專心致力硏究的結果,查明在曰 本特開200 1 -3 62 5 3號公報,因爲以Tg低的樹脂形成低彈性 率層,所以在印刷配線板與低彈性率層變爲容易產生剝離 ,而達到完成本發明。 亦即,本發明係具備:核心基板、和在形成於該核心 基板的上面,設置導體圖形的加高層 '和形成於該加高層 上的低彈性率層、和設置於該低彈性率層的上面,與電子 構件經由連接部而連接的構裝用電極、和貫穿前述低彈性 率層而電氣的連接前述構裝用電極和前述導體圖形的導體 端子的多層印刷配線板:前述低彈性率層係藉由包含環 氧樹脂、酚樹脂、架橋橡膠粒子及硬化觸媒的樹脂組成物 而形成。 在此多層印刷配線板,低彈性率層係因爲藉由包含環 氧樹脂、酚樹脂、架橋橡膠粒子及硬化觸媒的樹脂組成物 而形成,所以Tg高(100~2 00 °C範圍)。因此,即使由在 製作印刷配線板時的熱處理製程或被構裝的電子構件(特 別是動作時脈爲3GHz以上的1C晶片)的發熱等而低彈性率 層成爲高溫,低彈性率層亦係不超過Tg而不過剩的膨脹。 因而’即使在高溫時亦可防止低彈性率層的剝離,可確保 貫穿低彈性率層的導體端子的連接信賴性。 使用於本發明的環氧樹脂係如爲被使用於多層電路基 板的層間絕緣膜或平坦化膜、電子構件等的保護膜或電氣 (4) (4)1334755 絕緣膜等的環氧樹脂,則不特別被限定,而具體而言,可 舉出:雙酚A型環氧樹脂 '雙酚F型環氧樹脂、氫化雙酚A 型環氧樹脂、氫化雙酚F型環氧樹脂、雙酚S型環氧樹脂、 溴化雙酣A型環氧樹脂、聯苯環氧樹脂、萘型環氧樹脂、 芴型環氧樹脂、螺環型環氧樹脂、雙酚烷屬烴環氧樹脂、 酚醛清漆型(phenol novolac )環氧樹脂、鄰甲酚醛清漆 型環氧樹脂(O-CRESOL NOVOLAC EPOXY RESIN)、溴 化甲酚醛清漆型環氧樹脂、三烴基甲烷型環氧樹脂、四酚 +醇乙烷型環氧樹脂、環脂族環氧樹脂、醇型環氧樹脂、丁 基縮水甘油醚(butyl glycidyl ether)、苯基縮水甘油醚 、甲苯酚基縮水甘油醚、壬基縮水甘油醚、二乙二醇二縮 水甘油醚、聚乙二醇二縮水甘油醚、聚丙二醇二縮水甘油 醚、甘油聚縮水甘油謎(glycerol polyglycidyl ether)、 新戊二醇二縮水甘油醚、1,6己二醇二縮水甘油醚、三羥 甲基丙烷三縮水甘油醚、六氫苯二甲酸 ( hexahydrophthalic )二縮水甘油醚、脂肪酸變性環氧樹脂 、甲苯胺(toluidine )型環氧樹脂、苯胺型環氧樹脂、氨 基酚(aminophenol)型環氧樹脂、1,3 -雙(Ν,Ν -二縮水甘 油胺甲基)環己烷、乙內醯脲型環氧樹脂、三縮水甘油異 氰酸酯、四縮水甘油二胺基二苯基甲烷、二苯醚型環氧樹 脂 '二環戊二烯型環氧樹脂、二聚物酸(dimer acid )二 縮水甘油醋、六氫苯二甲酸(hexahydrophthalic)二縮水 甘油酯、二聚物酸(dimer acid)二縮水甘油醚、聚矽氧 (silicone) 變性環氧樹脂、矽含有環氧樹脂、氨基甲酸 -8- (5) (5)1334755 酯變性環氧樹脂、NBR變性環氧樹脂、CTBN變性環氧樹 脂、環氧化聚丁二烯等。 被使用於本發明的酚樹脂係可舉出酚醛清漆(phenol novolac )樹脂、甲酚醛清漆樹脂、烷基酚醛清漆樹脂、 甲階酚醛樹脂、聚乙烯酚樹脂等。酚醛清漆(novolac)樹 脂係藉由使酚類與醛類在觸媒的存在下縮合而得。作爲此 時被使用的酚類,例如可舉出:酚、〇-甲酚、m-甲酚' ρ· 甲酚、〇-乙基酚、m-乙基酚、p-乙基酚、〇-丁基酚、m-丁 基酚、P-丁基酚、2,3-二甲酚、2,4-二甲酚、2,5-二甲酚、 2,6-二甲酚、3,4-二甲酚、3,5-二甲酚、2,3,5-三甲基酚、 3,4,5-三甲基酚、兒茶酚、間苯二酚、五倍子酚、α-萘酚 、冷-萘酸。作爲酸類係可舉出:甲醒(formaldehyde)、 多聚甲醒(paraformaldehyde )' 乙醒(acetaldehyde )、 苯甲醛等。作爲如此作用而得的酚醛清漆樹脂,具體而言 ,可舉出:酚/甲醛縮合酚醛清漆樹脂、甲酚/甲醛縮合酚 醛清漆樹脂、酚-萘酚/甲醛縮合酚醛清漆樹脂等。另外, 作爲酚醛清漆樹脂以外的樹脂,聚羥苯乙烯及其共聚物、 酚-二甲苯二醇縮合樹脂、甲酚-二甲苯二醇縮合樹脂、酚-二環戊二烯縮合樹脂等。 使用於本發明的酚樹脂,對於前述環氧樹脂100重量 份,配合5〜100重量份,理想爲10〜50重量份的量爲理想。 若配合量超過前述範圍的上限,則有進行熱硬化而得的硬 化膜的彈性率爲超過1GP a,在未滿前述範圍的下限係有硬 化膜的耐熱性下降。 -9- (6) 1334755 使用於本發明的架橋橡膠粒子,玻璃轉換溫度(Tg) 爲-1〇〇°(:〜〇°0:'理想爲在-8〇。《[:~-2〇1:的範圍爲最佳。如此 的架橋橡膠粒子,例如:聚合性不飽合結合,至少有2個 架橋性單體(以下,單稱爲「架橋性單體」。)與前述架 橋性單體(monomer)以外的單體(以下,稱爲「其他的 架橋性單體」)的共聚物,其他的架橋性單體,如此共聚 物的Tg成爲- l〇〇°C〜0°C的選擇至少1種的其他的架橋性單 g 體之共聚物爲理想。作爲更理想的其他的架橋性單體,不 具有聚合性不飽和結合的官能基,可舉出例如:具有羧基 、環氧基、胺基、異氰酸鹽基、氫氧基等的官能基的單體 。作爲前述架橋性單體,具體而言,可舉出:二乙烯基苯 、鄰苯二甲酸二烯丙酯' 乙二醇(甲基)丙烯酸酯、丙二 醇二(甲基)丙烯酸酯、三甲醇丙烷三(甲基)丙烯酸酯 、季四戊醇三(甲基)丙烯酸酯、聚乙二醇二(甲基)丙 烯酸酯、聚丙二醇二(甲基)丙烯酸酯等的聚合性不飽和 鲁結合’至少有2個的化合物。這些之中,二乙烯基苯爲理 想的被使用。作爲前述其他的單體,具體而言,可舉出: 丁二烯、異戊二烯、二甲基丁二烯、氯丁二烯等的乙烯化 合物類;1,3戊二烯、(甲基)丙烯腈、α-氯丙烯腈、α-氯甲基丙烯腈、α -甲氧基丙烯腈、α -乙氧基丙烯腈、巴 豆酸腈酯(nitrile crotonate )、桂皮酸腈(nitrile cinnamate)、衣康酸二腈(dinitrile itaconate)、順丁烯 二酸二腈、反丁烯二酸二腈等的不飽和腈化合物類;(甲 基)丙烯醯胺' N,N’·亞甲基雙(甲基)丙烯醯胺、n,N,- -10- (7) (7)1334755 乙烯雙(甲基)丙烯醯胺、N,N’-己亞甲基雙(甲基)丙 烯醯胺、N_羥甲基(甲基)丙烯醯胺、N-( 2-羥甲基)( 甲基)丙烯醯胺、N,N’-雙(2-羥甲基)(甲基)丙烯醯 胺、巴豆酸胺酯、桂皮酸胺酯等的不飽和胺類;甲基丙烯 酸甲酯、甲基丙烯酸乙酯、甲基丙烯酸丙酯、甲基丙烯酸 丁酯、甲基丙烯酸己酯、甲基丙烯酸月桂酯、聚乙二醇甲 基丙烯酸酯、聚丙二醇甲基丙烯酸酯等的甲基丙烯酸酯類 、苯乙烯、α-甲基苯乙烯、〇-甲氧基苯乙烯、p-羥苯乙烯 、Ρ-異丙烯基酚等的芳香族乙烯基化合物;藉由雙酚Α的 二縮水甘油醚或二元醇的二縮水甘油醚等、與甲基丙烯酸 或羥烷基甲基丙烯酸酯等的反應而得的環氧基甲基丙烯酸 酯;羥烷基甲基丙烯酸酯與聚異氰酸酯的反應而得的氨基 甲酸酯甲基丙烯酸酯類;縮水甘油甲基丙烯酸酯、甲基烯 丙基縮水甘油醚等的含有環氧基不飽和化合物;甲基丙烯 酸酯、衣康酸、琥珀酸- /3 -甲基丙烯氧基乙基、順丁烯二 酸- /3-甲基丙烯氧基乙基、苯二甲酸·θ-甲基丙烯氧基乙 基、六氫苯二甲酸-^ -甲基丙烯氧基乙基等的不包和酸化 合物;二甲基胺基甲基丙烯酸酯、二乙基胺基甲基丙烯酸 酯等的含有胺基(amino )不飽和化合物;甲基丙烯醯胺 、二甲基甲基丙烯醯胺等的含有醯胺(amido)基不飽和 化合物;羥乙基甲基丙烯酸酯、羥丙基甲基丙烯酸酯、羥 丁基甲基丙烯酸酯等的含有氫氧基不飽和化合物。這些之 中,丁二烯、異戊二烯、(甲基)丙烯腈、甲基丙烯酸烷 基酯類、苯乙烯、羥苯乙烯、P-異丙烯基酚、縮水甘油 -11 - (8) (8)1334755 甲基丙烯酸酯、甲基丙烯酸、羥烷基甲基丙烯酸酯類等爲 理想。在本發明被使用的架橋性單體係對於在製造架橋橡 膠粒子時被使用的全單體量,理想爲使用1〜20重量%、較 理想爲2〜10重量%的量。 在本發明被使用的架橋橡膠粒子的大小,通常爲 30~5 00nm、理想爲40〜200nm爲最佳。架橋橡膠粒子的粒 徑的控制方法係不特別限定,而例如,在藉由乳化聚合而 合成架橋橡膠粒子的情況,調整使用的乳化劑的量而控制 乳化聚合中的微胞(micelle )的數,可控制粒徑。於本發 明,前述架橋橡膠粒子,對於前述環氧樹脂100重量份, 配合50〜200重量份、理想爲70〜180重量份爲理想。配合量 爲在前述範圍的下限未滿,熱硬化而得的硬化膜的彈性率 爲有超過lGPa之虞,若超過前述範圍的上限,則有硬化膜 的耐熱性下降、與樹脂組成物中的其他的成分的相溶性下 降。 在本發明被使用的架橋橡膠粒子的製造方法係不特別 限定,例如可使用乳化聚合法。在乳化聚合法,使用界面 活性劑而於水中乳化包含架橋性單體的單體類,作爲聚合 開始劑,添加過氧化物觸媒、氧化還原(redox )系觸媒 等的自由基聚合開始劑,按照必要,添加:硫醇( mercaptan)系化合物、鹵化碳化氫等的分子量調節劑。接 著,在0〜5 0 °C進行聚合,達到了特定的聚合轉化率後,添 加N,N-二乙基羥基胺等的反應停止劑而使聚合反應停止。 之後,可藉由將聚合系的未反應單體,以水蒸氣蒸餾等除 -12- (9) 1334755 去而合成包含架橋橡膠粒子的乳膠(latex )。在此乳化聚 合法使用的界面活性劑,如爲可以乳化聚合而製造架橋橡 膠粒子,則不特別限定,例如可舉出:烷基萘磺酸鹽、烷 基苯磺酸鹽等的陰離子系界面活性劑;烷基三甲基銨鹽' 二烷基二甲基銨鹽等的陽離子系界面活性劑;聚氧乙烯烷 基醚、聚氧乙烯烷基烯丙醚、聚氧乙烯脂肪酸酯、聚氧乙 烯山梨醇酐脂肪酸酯、脂肪酸單甘油酯等的非離子系界面 | 活性劑;兩性的界面活性劑;反應性乳化劑。這些界面活 性劑係可以單獨或混合2種以上而使用。如此進行而將包 含以乳化聚合而得的架橋橡膠粒子的乳膠,藉由鹽析等的 方法而使其凝固、藉由水洗、乾燥而可得架橋橡膠粒子。 另外不使用架橋性單體,作爲製造架橋橡膠粒子的方法, 可舉出:將過氧化物等的架橋劑添加於乳膠而架橋乳膠粒 子的方法、或藉由提高聚合轉化率而在乳膠粒子中進行膠 化(gelling )的方法、利用羧基等的官能基而藉由添加金 φ屬鹽等的架橋劑,在乳膠粒子內使其架橋的方法。 在本發明使用的硬化觸媒,不特別限制,例如可舉出 :胺類、殘酸類、酸酐(acid anhydride)、雙氰胺( dicyandiamide)、二元酸二醯肼、咪唑(imidazole)類、 有機硼 '有機膦(phosphine)、胍(guanidine)類及這 些的鹽等,這些係可1種單獨或組合2種以上而使用。此硬 化觸媒係對於前述環氧樹脂100重量份,添加0.^20重量 份、理想爲0.5〜10重量份的量爲理想。另外,亦可按照必 要而與硬化觸媒同時、以促進硬化反應的目的,倂用硬化 -13- (10) (10)1334755 促進劑。 關於在本發明使用的樹脂組成物,在對於前述環氧樹 脂100重量份,使用包含前述酚樹脂5〜100重量份、前述架 橋橡膠粒子5〜200重量份、前述硬化觸媒〇·1〜20重量份的 情況,玻璃轉換溫度Tg成爲12 0~2 00 t:的範圍,在對於前 述環氧樹脂100重量份,使用包含前述酚樹脂10〜50重量份 、前述架橋橡膠粒子7〜180重量份、前述硬化觸媒0.5〜10 重量份的情況,玻璃轉換溫度Tg成爲140~200°C的範圍。 於本發明的多層印刷配線板,爲了使形成低彈性率層 的樹脂組成物的操作性提高等而調節黏度或保存安定性, 於該樹脂組成物可按照必要而使用有機溶劑。在本發明使 用的有機溶劑,不特別限定,例如可舉出:乙二醇單甲醚 醋酸酯、乙二醇單乙醚醋酸酯等的乙二醇單烷基醋酸酯( ethylene glycol monoalkyl ether acetate)類;丙二醇單甲 醚、丙二醇單乙醚、丙二醇單丙醚、丙二醇單丁醚等的丙 二醇單院基酸(propylene glycol monoalkyl ether)類; 丙二醇二甲醚、丙二醇二乙醚、丙二醇二丙醚、丙二醇二 丁醚等的丙二醇二烷基醚類:丙二醇單甲醚醋酸酯、丙二 醇單乙醚醋酸酯、丙二醇單丙醱醋酸酯、丙二醇單丁醚醋 酸酯等的丙二醇單烷基醚醋酸酯類;乙基賽璐素(ethyl cellosolve) 、丁基賽猫素等的賽猫素(cellosolve)類; 二甘醇丁醚(Butyl Carbitol)等的二甘醇乙醚(Carbitol )類;乳酸甲酯、乳酸乙酯、乳酸正丙酯(n-propyl lactate)、乳酸異丙酯等的乳酸酯類;乙酸乙酯、乙酸正 -14- (11) (11)1334755 丙酯 '乙酸異丙酯、乙酸正丁酯、乙酸異丁酯、乙酸正戊 酯、乙酸異戊酯、丙酸異丙酯、丙酸正丁酯、丙酸異丁酯 (isobutyl propionate)等的脂肪族羧酸酯類;3_甲氧基丙 酸甲酯、3-甲氧基丙酸乙酯、3·乙氧基丙酸甲酯、3-乙氧 基丙酸乙酯、丙酮酸甲酯、丙酮酸乙酯等的其他的酯類; 甲苯、二甲苯(xylene)等的芳香烴類;2-丁酮、2-庚酮 、3_庚酮' 4_庚酮、環己酮等的酮類;N -二甲基甲醯胺、 N-甲基乙醯胺、N,N-二甲基乙醯胺、甲基吡咯烷酮(N_ Methylpyrrolidone)等的醯胺(amide)類;7-丙烯酸正 丁酯等的內酯(lactone )類。這些有機溶劑係可以1種單 獨或混合2種以上而使用。 於本發明的多層印刷配線板,於形成低彈性率層的樹 脂組成物,按照必要,添加其他的添加劑亦佳。作爲如此 的添加物,包含無機塡料、密接助劑、高分子添加劑、反 應性稀釋劑、均染(leveling )劑、沾溼性改良劑、界面 活性劑、可塑劑、氧化防止劑、帶電防止劑、無機塡充劑 、防黴劑、調濕劑、難燃劑等亦佳。這些添加劑係可在不 損及本發明的效果的範圍使用。 形成低彈性率層的樹脂組成物的硬化條件’不特別限 定,按照可得的硬化物的用途’例如可在50~2 00 °C的範圍 的溫度,加熱10分〜4 8小時範圍。另外,爲了使硬化充分 的進行等而防止氣泡的發生,亦可以二階段加熱,例如: 在第1階段,在50〜100°C範圍的溫度,加熱10分〜10小時程 度,在第二階段,在80〜200°C範圍的溫度’加熱30分〜12 -15- (12) (12)1334755 小時程度而使其硬化亦佳。如此的加熱,一般可使用烤爐 、或紅外線爐等的加熱設備而實施。 於本發明的多層印刷配線板,前述導體端子係長寬比 Rasp爲4 $ Rasp <20爲理想,若如此作用,則即使產生了 起因於核心基板與電子構件的熱膨脹係數差的應力,亦可 確實的緩和其應力,可防止因熱膨脹 '熱收縮的對電子構 件之連接破壞。另外,可控制變小反覆加熱、冷卻時的電 氣阻抗的變化率,可向搭載的電子構件安定供給電源。可 得如此的效果的理由,推測因爲導體端子的長寬比Rasp大 ,所以配合低彈性率層,導體端子亦變形。而且,於本發 明所謂導體端子的長寬比Rasp,稱導體端子的高/導體端 子的徑(徑爲不一樣時爲最小徑)。 於本發明的多層印刷配線板,若前述導體端子的長寬 比Rasp爲低於4,則因爲反覆加熱、冷卻時的電氣阻抗變 大而不理想,若成爲20以上,則反覆加熱、冷卻時因爲有 導體端子產生破裂之虞所以不理想。換言之,若長寬比 Rasp低於4,則導體端子不變形,因爲妨礙低彈性率層的 變形而不理想,若成爲20以上,則導體端子過度變形而因 爲疲勞破壞而不理想。此長寬比Rasp爲4S RaspS 6.5爲理 想。 於本發明的多層印刷配線板,導體端子係直徑超過 3 0 μιη爲理想。若如此作用,可抑制於搭載的電子構件供給 電源時的電壓下降,可防止電子構件產生誤動作。另外, 亦可控制變低導體端子的電氣阻抗。在此,於電子構件爲 -16- (13) (13)1334755 1GHz以下的1C晶片的情況,即使導體端子作爲30μιη以下 ,亦難以產生電壓下降,但於3GHz以上的高速的1C晶片的 情況,因爲電壓下降變爲顯著,所以導體端子的直徑儘量 超過30μηι爲理想。而且,於導體端子的大小爲不一樣時, 最細部分的直徑爲超過30 μιη爲理想。因爲’導體端子的導 體阻抗變小、耐疲勞劣化性或耐熱循環性提高。而且導體 端子的直徑爲超過30μιη,60μιη以下爲理想。 於本發明的多層印刷配線板,前述導體端子,形成至 具有細腰形狀亦佳。若如此作用,比起略直線形狀的導體 端子,可更控制反覆加熱、冷卻時的電氣阻抗的變化率。 因爲,以細腰作爲中心(起點)之導體端子配合低彈性率 層而變形。而且,所謂細腰,稱於沿軸方向看導體端子時 ,比起上部或下部變細的部分。於具有如此的細腰的形狀 之導體端子,對於該導體端子之中最細的部分的直徑之最 粗部分的直徑(最粗部分/最細部分)爲2以上爲理想。 於本發明的多層印刷配線板,前述構裝用電極,作爲 形成如與前述低彈性率層的上面成爲略同一平面之前述導 體端子的頂部亦佳。若如此作用,比起將構裝用電極對導 體端子另外形成的情況,可簡單的製作。 於本發明的多層印刷配線板,前述低彈性率層,於3〇 °C的彈性率爲10MPa〜lGPa爲理想。若如此作用,可更確 實的緩和起因於熱膨脹係數差的應力。另外,此低彈性率 層,於30°C的彈性率爲lOMPa〜500MPa爲較理想, lOMPa〜lOOMPa爲最理想。另外’前述導體端子係以導電 -17- (14) (14)1334755 性良好的材料形成爲理想’例如以銅、鉛錫合金或包含這 些任一的合金而形成爲理想。 【實施方式】 接著,根據圖面說明本發明的實施形態。第1圖爲本 發明的一實施形態的多層印刷配線板的剖面圖。而且,於 以下係有對「上」或「下」的表現,但因爲此係不過爲了 權宜的表現相對的位置關係,例如改換上下、將上下改換 爲左右亦佳。 本實施形態的多層印刷配線板1 0,如第1圖所示的, 具備:將形成於上下兩面的配線圖形2 2相互間,經由穿孔 (through-hole )導體24而電氣的連接的核心基板20、和 於此核心基板20的上下,經由樹脂絕緣層36而複數層疊的 導體圖形32、32爲藉由介層洞34而電氣的連接的加高層30 、和於加高層30上以低彈性率材料形成的低彈性率層40、 和將爲電子構件的1C晶片70,經由銲錫凸塊66而構裝的孔 環(構裝用電極)52、和貫穿低彈性率層40,電氣的連接 孔環52與形成於加高層30的上面的導體圖形32之導體端子 50 ° 核心基板20係具有:於由BT (雙馬來硫亞氨三嗪 bismaleimide triazine)樹脂或玻璃環氧樹脂等所構成的核 心基板本體21的上下兩面,由銅所構成的配線圖形22、22 、和形成於貫穿核心基板本體21的上下的穿孔的內周面的 由銅所構成的穿孔導體24,兩配線圖形22、22係經由穿孔 -18- (15) (15)1334755 導體24而電氣的連接。 加高層30係於核心基板20的上下兩面交互層疊樹脂絕 緣層36和導體圖形32,核心基板20的配線圖形22與加高層 30的導體圖形32之電氣的連接或在加高層30的導體圖形32 、3 2相互間之電氣的連接係藉由貫穿樹脂絕緣層3 6的上下 的介層洞34而被確保。如此的加高層30,藉由一般周知的 減除(Subtractive)法或加成(additive)法(包含半加 成(semi additive)法或全加成(full additive)法)而形 成。具體的係,例如如以下作用而形成。亦即,首先,於 核心基板20的上下兩面黏上成爲樹脂絕緣層36的樹脂薄片 。此樹脂薄片係以變性環氧系樹脂薄片、聚次苯基醚系樹 脂薄片、聚亞醯胺系樹脂薄片、氰酯系樹脂薄片等形成, 其厚度爲大約20〜80 μιη,在常溫的彈性率爲2〜7 GPa。於此 樹脂薄片係使無機塡料分散亦佳。在本實施例係使用了味 之素公司製的熱硬化性樹脂薄膜(品名:ABF_45SH、彈 性率:3.0GPa)。接著,於黏上的樹脂薄片藉由二氧化碳 氣體雷射或UV雷射、YAG雷射 '準分子雷射(Excimer Laser)等而形成穿孔。接著,施以無電解銅鍍覆、於無 電解銅鍍覆層之上形成光阻,曝光、顯像,接著於光阻的 非形成部施行了電解銅鍍覆後剝離光阻,將該光阻存在的 部分的無電解銅鍍覆,以硫酸-過氧化氫系的蝕刻液蝕刻 ,形成配線圖形22。而且,穿孔內部的導體層成爲介層洞 34。之後,藉由反覆此步驟而形成加高層3〇。 低彈性率層40係以由將萘型的環氧樹脂(日本化藥公 -19- (16) (16)1334755 司製、商品名:NC-7000L) 100重量份、酚-二甲苯二醇縮 合樹脂(三井化學製、商品名:XLC-LL ) 20重量份、作 爲架橋橡膠粒子的Tg爲- 50t的羧酸變性NBR ( JSR公司製 、商品名:XER-91 ) 90重量份、作爲硬化觸媒的1-氰乙 基-2-乙基-4-甲基咪唑(P17L11) 4重量份,溶解於乳酸乙 酯3 00重量份的樹脂組成物而得的低彈性率材料而被形成 。此低彈性率材料爲熱硬化性薄膜(膜厚21 〇μ„ι ),於已 離型處理的PET薄膜上塗佈剛才的樹脂組成物,藉由90t X 3 〇分加熱而得。另外,低彈性率層4 0係於3 0 °C的彈性率爲 500 MPa,玻璃轉換溫度爲160 °C。低彈性率層40的彈性率 爲此範圍,於孔環52係經由銲錫凸塊66而電氣的連接的1C 晶片70與核心基板20間,即使產生起因於兩者的熱膨脹係 數差的應力,亦可緩和其應力。 導體端子50係如於上下方向貫穿低彈性率層40的,以 銅作爲主成分而形成,電氣的連接孔環52與設置於加高層 30的上面的導體圖形32。此導體端子5 0係具有細腰形狀, 具體的係比起上部的直徑或下部的直徑,中間部的直徑形 成小的形狀。在本實施例,上部的直徑爲80μιη、下部的直 徑爲80μηι、中間部的直徑爲35μιη’局度爲200μιη。因而, 此導體端子50的長寬比Rasp爲對於最細的中間部的直徑的 導體端子的高度之比爲5.7,對於最細的中間部的直徑的 最粗的上部的直徑之比爲2.3。 孔環52爲由低彈性率層40露出的各導體端子50的頂部 。此孔環52係以鍍鎳及鍍金此依序施加後,經由IC晶片7〇 -20- (17) (17)1334755 的電極部和銲錫凸塊66而連接。 接著,說明關於本實施形態的多層印刷配線板1 〇的製 造例。因爲核心基板20及加高層30的製作步驟係一般周知 ,所以在此係以製作低彈性率層40、導體端子50及孔環52 的步驟作爲中心而說明。第2圖〜第7圖爲此步驟的說明圖 〇 首先,準備形成了加高層30的核心基板20。第2圖爲 形成於核心基板20的上面的加高層30的部分剖面圖。在此 階段,最上部的樹脂絕緣層36的表面係保持以無電解銅鏟 覆層304鍍覆。亦即,於形成穿孔後的樹脂絕緣層36施以 無電解銅鍍覆,於無電解銅鍍覆層3 04上形成光阻而被圖 形化後,於不被形成光阻的部分施加電解銅鍍覆而形成無 電解銅鍍覆層3 04和電解銅鍍覆層,之後,爲剝離光阻的 階段。因而,導體層之中電解銅鍍覆層係被圖形化而成爲 圖形化鍍覆層3 02,但無電解銅鍍覆層3 04留下。而且無電 解銅鍍覆層3 04的厚度爲數μιη。其次,於如此的加高層30 的上面,黏上重疊2片市售的乾薄膜(旭化成CX-A240) 而上的乾薄膜3 06 (厚度2 40 μπι),於特定位置藉由二氧化 碳氣體雷射而形成0120 μιη的開口 308 (參照第3圖)。 接著,關於此作成途中的基板,藉由從乾薄膜306的 開口 3 08的底部進行電解銅鍍覆,而以柱狀的銅層310塡充 於開口 308內,而且於銅層310的上面形成銲錫層312 (參 照第4圖)。而且,電解銅鍍覆液係使用以下的組成。硫 酸 2.24mol/l、硫酸銅 0.26mol/l、添加劑 19.5ml/l、( -21 - (18) (18)1334755
Atotech Japan公司製、Cupracid GL)。另外,電解銅鍍覆 係在以下的條件進行。電流密度1 A/dm2、時間17小時、溫 度 22±2〇C 。 接著,剝下乾薄膜306後(參照第5圖),藉由將作成 途中的基板浸漬於氨鹼蝕刻液(商品名:A-process、 MELTEX公司製)而進行蝕刻。藉由此蝕刻,以乾薄膜306 被覆著的部分,也就是除去不在被覆電解銅鍍覆層302的 部分的無電解銅鍍覆層304、同時浸蝕柱狀的銅層310的中 間部而成爲具有細腰的形狀(參照第5圖)。此結果,電 解銅鍍覆層302及無電解銅鍍覆層304之中樹脂絕緣層36的 上面部分成爲導體圖形32,穿孔的部分成爲介層洞34。此 時,銲錫層312係作爲蝕刻阻質(etching resist)而發揮 機能。在此,使銅層310的中間部浸蝕何種程度係可藉由 蝕刻時間而控制。例如:如將蝕刻時間作爲1 0〜60秒,則 銅層310的最大徑(上部或下部的直徑)成爲60〜120μηι, 中間部的直徑成爲30〜60μιη。但是,最大徑及中間部的直 徑係可能由改變開口 3 0 8的徑而作爲上述的大小以外的大 小0 接著,將銲錫層3 1 2浸漬銲錫剝離劑(商品名: Enstrip TL-106 MELTEX公司製)而除去後,於該作成途 中的基板疊製(laminate)樹脂薄膜316 (參照第6圖)、 在150 °C 60分硬化,之後硏磨至導體端子50的表面露出( 參照第7圖)。此樹脂薄膜31 6係爲將萘型的環氧樹脂(日 本化藥公司製、商品名:NC-7000L ) 100重量份、酌.二甲 -22- (19) (19)1334755 苯二醇縮合樹脂(三井化學製、商品名:XLC-LL) 20重 量份、作爲架橋橡膠粒子的Tg爲-50°C的羧酸變性NBR( JSR公司製、商品名:XER-91 ) 90重量份、作爲硬化觸媒 的1-氰乙基-2-乙基-4-甲基咪唑 4重量份,溶解於乳酸乙 酯3 00重量份的樹脂組成物。而且,硏磨後的樹脂薄膜316 成爲低彈性率層40。另外,由低彈性率層40露出的導體端 子50的頂部成爲孔環52。最後,導體端子50的高度成爲 2 0 0 μιη 〇 接著,將此作成途中的基板,浸漬於包含活性化銅表 面的鈀觸媒的酸性溶液後,20分鐘浸漬於由氯化鎳30g/l、 次亞磷酸鈉l〇g/l、檸檬酸鈉l〇g/l所構成的pH5的無電解鎳 鍍覆液,於孔環52上形成了厚度5μηι的鎳鍍覆層。而且, 將此基板,於由氰化金鉀2g/l、氯化銨75g/l、檸檬酸鈉 5 0g/l、次亞磷酸鈉10g/l所構成的無電解金鍍覆液,以93 °C的條件浸漬23秒,於鎳鍍覆層上形成厚〇.〇3μιη的金鍍覆 層。然後,使用遮罩圖形而印刷銲錫糊而在200 °C藉由進 行回銲(reflow)而於孔環52上形成銲錫凸塊66,製造多 層印刷配線板1 0 (參照第8圖及第1圖)。 如藉由以上詳述的本實施形態的多層印刷配線板10, 因爲由包含環氧樹脂、酚樹脂、架橋橡膠粒子及硬化觸媒 的樹脂組成物而形成的低彈性率層40的Tg高,所以即使由 在製作多層印刷配線板10時的熱處理製程或被構裝的1C晶 片70的發熱等而低彈性率層40成爲高溫,低彈性率層40亦 係不超過Tg而不過剩的膨脹。因而,即使在高溫時亦可防 -23- (20) 1334755 止低彈性率層40的剝離,可確保貫穿低彈性率層40的導體 端子50的連接信賴性。另外,因爲導體端子50的長寬比 Rasp爲適當,所以即使產生了起因於核心基板20與1C晶片 70的熱膨脹係數差的應力,亦可確實的緩和其應力,所以 可防止因熱膨脹、熱收縮的對1C晶片70之連接破壞,因爲 可控制變小反覆加熱、冷卻時的電氣阻抗的變化率,所以 可向1C晶片70安定供給電源。另外,導體端子50係因爲最 | 細的部分的直徑超過30μιη,所以可抑制於1C晶片70供給電 源時的電壓下降,進而可防止1C晶片70產生誤動作。特別 是,搭載3GHZ以上的1C晶片70時,此效果變爲顯著。而且 ,導體端子50,形成具有細腰形狀,但是因爲對於最細部 分的直徑的最粗部分的直徑(最粗部分/最細部分)爲2以 上,所以比起略直線形狀的導體端子,可抑制由反覆加熱 、冷卻時的電氣阻抗的變化率。因爲,低彈性率層40與導 體端子50—起變形。關於這些的效果爲按照在後述的實驗 II例說明而實證過。而且另外,作爲孔環5 2,因爲利用如與 低彈性率層40的上面同一平面的形成的導體端子50的頂部 ,所以對導體端子50係比起另外形成孔環的情況,可簡單 的製作。然後另外,於30°C的彈性率爲lOMPa〜lGPa,可 更確實的緩和起因於熱膨脹係數差的應力。 而且,本發明係不任何限定於上述的實施形態,限於 屬於本發明的技術的範圍而可實施各種的態樣係屬當然。 例如,在上述的實施形態,將導體端子50的形狀作爲 具有細腰的形狀,而作爲略直線的柱狀亦佳。於將如此的 -24- (21) (21)1334755 導體端子5 0作爲略直線的柱狀的情況’例如:如將鈾刻液 藉由狹縫噴嘴(slit nozzle)等而直線的噴霧噴射而進行 蝕刻爲.佳。此情況,如導體端子50的長寬比Rasp爲4 $ Rasp <20,與上述的實施形態相同,可防止由熱膨脹、熱 收縮的對1C晶片70的連接破壞、同時可防止1C晶片70的誤 動作。此時,將導體端子5〇的橫剖面的直徑作到超過30μιη ,因爲可控制變低電壓下降量而爲理想。但是,若超過 80μιη,則因爲導體端子50有妨礙低彈性率層40的變形之虞 ,所以超過30μιη而作爲80μιη以下爲較理想。而且,關於 這些亦按照在後述的實驗例說明而實證過。 另外,於上述的實施形態的低彈性率層40上,形成阻 焊劑(Solder Resist)層亦佳。此情況,於阻焊劑( Solder Resist)層係設置孔環52爲如露出於外部的開口。 而且,如此的阻焊劑層係可藉由常法而形成。 而且,在上述的實施形態係於加高層30上只形成了 1 層具備了導體端子50的低彈性率層40,但複數層疊亦佳。 而且另外,在上述的實施形態將孔環52作爲導體端子50的 頂部,也就是作爲導體端子50的一部分,但將孔環52與導 體端子50作爲別體亦佳。 實驗例 以下,說明關於爲了實證本實施形態的多層印刷配線 板10的效果的實驗例。首先,說明關於導體端子的長寬比 Rasp與反覆加熱、冷卻後的電氣阻抗的變化率的關係。在 -25- (22) 1334755 此,將具備表示於第9圖的表的實驗例1〜12的導體端子的 多層印刷配線板,按照上述的實施形態而作成。具體的係 ,於各實驗例,將於第3圖的乾薄膜306 (厚240 μπι)使用 二氧化碳氣體雷射而形成的開口 308的孔徑,配合導體端 子的最大徑而設定,將第5圖的銅層310的蝕刻時間配合導 體端子的最小徑而設定。而且,最小徑與最大徑的相同處 係爲略直線狀的柱狀的導體端子,最小徑與最大徑的相異 | 處爲具有細腰形狀的導體端子。另外,直線形狀的導體端 子係採用了使用了狹縫噴嘴的噴霧蝕刻。於如此作用而製 作的各實施例的多層印刷配線板構裝1C晶片,之後作爲於 1C晶片與多層印刷配線板之間塡充封止樹脂的1C搭載基板 。之後,測定經由1C晶片的特定電路的電氣阻抗(1C搭載 基板的1C晶片搭載面與露出於相反側的面而與1C晶片導通 的一對電極間的電氣阻抗),將該値作爲初期値。之後, 於那些1C搭載基板,以-55°Cx5分、125°Cx5分作爲1循環 φ而將此進行反覆1 5 00循環的熱循環試驗。於此熱循環試驗 ’測定第500循環、第750循環、第1000循環、第1500循環 的電氣阻抗,求出與初期値的變化率(1 0 0 X (測定値-初 期値)/初期値(% ))。將該結果表示於第9圖的表。此 表中’將電氣阻抗的變化率爲±5%以內作爲「良好」(〇 )、土 5~10%爲「普通」(△)、超過±1〇%作爲「不良」 (X)。而且,將目標詳細說明(spec),第1〇〇〇循環的 變化率作爲± 1 0%以內(也就是在評估「普通」或「良好」 )。如由此表可明暸的,對於長寬比Rasp在4以上係至少 -26- (23) (23)1334755 至第1000循環評估爲「良好」,長寬比Rasp在3.3以下評 估大部分爲「不良」。另外,長寬比Rasp爲在20係於導體 端子產生破裂而斷線。另外,在導體端子的長寬比Rasp爲 相同的情況係具有細腰形狀的一方比略直線狀優良。 接著,說明關於導體端子的最小徑與電壓下降的關係 。在此,表示於第10圖的表的實驗例13~18的多層印刷配 線板,按照上述的實施形態而製作。具體的係,於各實驗 例,將於第3圖的乾薄膜306 (厚240 μηι)使用二氧化碳氣 體雷射而形成的開口 308的孔徑,配合導體端子的最大徑 而設定,將第5圖的銅層310的蝕刻時間配合導體端子的最 小徑而設定。如此作用而製作的各實施例的多層印刷配線 板構裝以3.1 GHz高速驅動的1C晶片,供給一定量的電源而 測定起動此1C晶片時的電壓下降量。附帶說明,1C晶片的 電壓係因爲不能直接測定,所以於多層印刷配線板形成可 測定的1C晶片的電壓的電路,以該電路測定電壓下降量。 將該結果與第1〇圖的表而表示於線圖。而且,一導通( ON ) 1C晶片的電晶體,則該電晶體係伴隨時間經過而複 數次電壓下降,測定其中第1次的電壓下降量。另外,第 10圖的表中的電壓下降量係作爲,將電源電壓作爲1.0V, 5次起動1C晶片時的電壓下降量的平均値。一方面,關於 第1 0圖的表中的導體端子的最小徑係於剖面硏磨後測定, 關於1C晶片的誤動作的有無係反覆100次同時開關( switching ),確認於其間是否產生誤動作。如由第10圖的 線圖可明暸,導體端子的最小徑爲在超過3 Ομπι附近,電壓 -27- (24) 1334755 下降量明顯的變小。而且,於實驗例13 (參照第1〇圖的表 )的多層印刷配線板1 0構裝1 GHz的1C晶片,作爲同樣而確 認是否產生誤動作,但誤動作不產生。另外,若導體端子 的最小徑超過80μιη,則因爲有將長寬比Rasp作爲4以上的 必要而導體端子變高而配線長變長,所以最小徑係超過 30μηι、80μιη以下爲理想。 接著,說明關於導體端子的長寬比與關於1C晶片的絕 | 緣層的應力的關係。將1C晶片、低彈性率層、銲錫突塊、 導體端子、核心基板等的各種構成材料的熱膨脹係數或彈 性率、蒲松比(poisson ratio )維持一定,使導體端子的 長寬比Rasp變化,進行3D線性模擬(3D strip simulation ),計算對於導體端子的長寬比Rasp爲1時的關於1C晶片 的絕緣層的應力之關於在各種長寬比Rasp的導體端子的1C 晶片之絕緣層的應力之比(單稱爲應力比)。將該結果表 示於第11圖的表及線圖。如由此表及線圖可明暸的,了解 φ長寬比Rasp爲在4的範圍應力比大的變化。亦即,應力比 係長寬比Rasp對於在4以上爲小而在未滿4係變大。 接著’說明關於在形成低彈性率層時使用的樹脂組成 物。在此,作爲爲了形成低彈性率層的材料,可使用之前 表不的低彈性率材料,亦即使用由萘型的環氧樹脂(曰本 化藥公司製、商品名:NC-7000L) 100重量份、酣·二甲苯 —醇縮合樹脂(三井化學製、商品名:XLC-LL) 20重量 份、作爲架橋橡膠粒子的Tg爲- 50°C的殘酸變性NBR(JSR 公司製、商品名:XER-91) 90重量份 '作爲硬化觸媒的卜 -28- (25) 1334755 氰乙基-2-乙基-4-甲基咪唑4重量份,溶解於乳酸乙酯3〇〇 重量份的樹脂組成物而得的低彈性率材料,按照上述的實 施形態而將第1圖的多層印刷配線板作爲實施例1。另外, 作爲爲了形成低彈性率層的材料,使用烯烴(〇lefin)系 樹脂薄膜(巴川製紙所製’商品名TLF-ΥΜ2 ),按照上述 的實施形態而將第1圖的多層印刷配線板作爲比較例1。然 後,關於實施例1和比較例1’進行油浸(oil dip)(將在 | 室溫放置30秒後在260 °C放置10秒作爲1循環,將此反覆 100循環)’與先前範圍同樣作用而求出電氣阻抗的變化 率。該結果’對於實施例1係對於電氣阻抗的變化率爲土 10%以內,比較例1係導體端子爲斷線。
更關於實施例於以下說明。首先,說明關於導體端子 的長寬比Rasp與反覆加熱、冷卻後的電氣阻抗的變化率的 關係。在此,將具備表示於第13圖的表的實驗例19~73的 導體端子的多層印刷配線板,按照上述的實施形態而作成 φ 。具體的係,於各實驗例,於依照導體端子的高而各種變 更了厚度的乾薄膜306(參照第3圖,例如:以薄膜片數調 整厚度亦佳)使用二氧化碳氣體雷射而形成的開口 308的 孔徑,配合導體端子的最大徑而設定,將第5圖的銅層310 的蝕刻時間配合導體端子的最小徑而設定。而且,最小徑 與最大徑的相同處係爲略直線狀的柱狀的導體端子,最小 徑與最大徑的相異處爲具有細腰形狀的導體端子。另外, 直線形狀的導體端子係採用了使用了狹縫噴嘴的噴霧蝕刻 。於如此作用而製作的各實施例的多層印刷配線板構裝1C -29- (26) I334755 晶片’.之後作爲於IC晶片與多層印刷配線板之間塡充封止 樹脂的1C搭載基板。之後,進行與上述的實施例1〜18相同 的熱循環試驗。但是,關於第1750循環 '第2000循環、第 25 00循環亦測定電氣阻抗而進行評估。將該結果表示於第 13圖的表。此表中的〇、△、X的意味之處與第9圖相同 〇 由第13圖的結果,若長寬比Rasp爲4以上、未滿20, φ 至少在1000循環爲評估爲「普通」(△)或「良好」(〇 )。對於此,長寬比Rasp爲未滿4或20以上之物係於1〇〇〇 循環爲「不良」(X)。此係,在長寬比Rasp未滿4,推 測:即使低彈性率層如變形,導體端子亦妨礙該變形;推 測:在20以上,因爲導體端子過度變形而疲勞劣化。另外 ,特別是長寬比Rasp爲4以上、6.5以下者爲於更長的循環 數帶來良好的結果。另外長寬比Rasp於4以上、未滿20, 若比較導體端子的形狀,則對於細腰形狀者係至少至1 500 φ循環,評估爲「普通」或「良好」,直線形狀者係至少至 1000循環,評估爲「普通」或「良好」,至1500循環,評 估爲「不良」或「普通」。此係,推測爲因爲細腰形狀者 係以細腰部作爲中心而藉由與低彈性率層一起而容易變形 。一方面,關於導體端子的最小徑,於超過30μιη、60μπι 以下時可得理想的結果。推測此係在30μχη以下係因爲徑小 ,所以因被反覆的變形而疲勞劣化,若超過60μιη則因導體 端子變爲難以變形。另外,若比較導體端子的最大徑/最 小徑之比爲2以上的實驗例22〜24、35〜3 7與未滿2的實驗例 -30- (27) 1334755 2 5~27、3 8〜40,則前者之一方爲長期信賴性高。推測此係 因爲最大徑/最小徑之比大’導體端子爲適度的容易變形 〇 而且,取代低彈性率層’採用使用於加高層的形成的 樹脂絕緣層(味之素公司製’品名:ABF-45SH、彈性率 :3.0GPa),製作與實驗例22相同的導體端子,進行與上 述的各實驗例相同的評估試驗時,在第5 00循環已經爲「 | 不良」。推測此係因爲取代低彈性率層而採用彈性率高的 樹脂絕緣層,而不能緩和應力。 於實驗例21〜30,變更低彈性率層40的樹脂組成物的 配合量,按照實施形態而製作實驗例74〜8 3。具體的係, 使用將萘型的環氧樹脂1〇〇重量份、酚-二甲苯二醇縮合樹 脂1〇重量份、作爲架橋橡膠粒子的Tg爲-50 °C的羧酸變性 NBR 7重量份、作爲硬化觸媒的1-氰乙基-2-乙基-4-甲基 咪唑 0_5重量份,溶解於乳酸乙酯3 00重量份的樹脂組成 φ物。此樹脂組成物的玻璃轉換溫度(Tg)爲165°C。 於實驗例21〜30,變更低彈性率層40的樹脂組成物的 配合量,按照實施形態而製作實驗例84〜93。具體的係, 使用將萘型的環氧樹脂100重量份、酚-二甲苯二醇縮合樹 脂5重量份、作爲架橋橡膠粒子的Tg爲-50 °C的羧酸變性 NBR 180重量份、作爲硬化觸媒的1·氰乙基-2-乙基-4-甲 基咪唑10重量份’溶解於乳酸乙酯300重量份的樹脂組成 物。此樹脂組成物的玻璃轉換溫度(Tg)爲125。(:。 於實驗例21〜30,變更低彈性率層40的樹脂組成物的 (28) (28)1334755 配合量,按照實施形態而製作實驗例94~103。具體的係, 使用將萘型的環氧樹脂100重量份、酚-二甲苯二醇縮合樹 脂5重量份、作爲架橋橡膠粒子的Tg爲-50 °C的羧酸變性 NBR 5重量份、作爲硬化觸媒的1-氰乙基-2·乙基-4-甲 基咪唑 0.1重量份’溶解於乳酸乙酯300重量份的樹脂組 成物。此樹脂組成物的玻璃轉換溫度(Tg)爲140°C。 於實驗例21〜30,變更低彈性率層40的樹脂組成物的 配合量,按照實施形態而製作實驗例1 〇4~ 1 1 3。具體的係 ,使用將萘型的環氧樹脂1〇〇重量份、酚-二甲苯二醇縮合 樹脂 1〇〇重量份、作爲架橋橡膠粒子的Tg爲-50 °C的羧酸 變性NBR 200重量份、作爲硬化觸媒的1-氰乙基-2-乙基-4-甲基咪唑 20重量份,溶解於乳酸乙酯300重量份的樹脂 組成物。此樹脂組成物的玻璃轉換溫度(Tg )爲1 5 5 °C » 在實驗例74〜113使用的萘型的環氧樹脂、酚-二甲苯 二醇縮合樹脂、羧酸變性NBR,任一使用與實驗例1相同 的市售品。關於這些實驗例74〜1 13,亦進行與上述的實施 例1〜18相同的熱循環試驗。將該結果表示於第I4圖的表。 此表中的〇、△、:X:的意味之處與第9圖相同。如由此表 明暸的,在滿足:長寬比爲4 · 〇、最大徑/最小徑之比爲2 · 0 以上、導體端子的最小徑爲超過3〇μιη、60μιη以下的條件 時(實驗例75〜77、8 5-87 ' 95〜97、105-1 07 ),特別是可 得理想的結果。另外,關於實驗例74〜1】3若比較導體形狀 相同的相互間(也就是如實驗例74、84、94、104的末尾 的數字相同的相互間)’則實驗例74〜83 ' 84~93之一方可 -32- (29) (29)1334755 得比實驗例94~1 03、104〜13良好的結果。 本發明係以於2004年5月27日申請的日本國專利申請 2004- 1 5 7459號作爲優先權主張的基礎,編入該內容的全 部。 〔產業上的可利用性〕 本發明的多層印刷配線板係爲了搭載1C晶片等的半導 體元件而被使用,例如利用於電氣關連產業或通訊關連產 業等。 【圖式簡單說明】 第1圖爲本實施形態的多層印刷配線板的剖面圖。 第2圖爲表示本實施形態的多層印刷配線板的作成途 中之剖面圖。 第3圖爲表示本實施形態的多層印刷配線板的作成途 中之剖面圖。 第4圖爲表示本實施形態的多層印刷配線板的作成途 中之剖面圖。 第5圖爲表示本實施形態的多層印刷配線板的作成途 中之剖面圖。 第6圖爲表示本實施形態的多層印刷配線板的作成途 中之剖面圖。 第7圖爲表示本實施形態的多層印刷配線板的作成途 中之剖面圖 -33- (30) (30)1334755 第8圖爲表示本實施形態的多層印刷配線板的作成途 中之剖面圖。 第9圖爲表示導體端子的形狀與電氣阻抗的變化率的 關係的表。 第10圖爲表示導體端子的最小徑與電壓下降量的關係 的表及線圖。 第11圖爲表示導體端子的長寬比與應力比的關係的表 及線圖。 第1 2圖爲先前例的多層印刷配線板的剖面圖。 第13圖爲表示導體端子的形狀與電氣阻抗的變化率的 關係的表。 第14圖爲表示導體端子的形狀與電氣阻抗的變化率的 關係的表。 【主要元件符號說明】 10 多層印刷配線板 20 核心基板 2 1 核心基板本體 22 配線圖形 24 穿孔導體 30 加高層 32 導體圖形 3 4 介層洞 36 樹脂絕緣層 -34- (31)1334755 40 低彈性率層 50 導體端子 52 孔環 66 銲錫凸塊 7 0 IC晶片 100多層印刷配線板 1 3 0加高層
1 4 0低彈性率層 1 5 0介層洞 152構裝用電極 302圖形化鍍覆層 302電解銅鍍覆層 3 04無電解銅鍍覆層 3 0 6乾薄膜 3 08 開口
3 1 2銲錫層 3 1 6樹脂薄膜 -35-

Claims (1)

1334755 fl年2月 < 日修⑻止替換頁I 十、申請專利範圍 第94 1 1 7 5 3 2號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國99年8月25日修正 1 . 一種多層印刷配線板,係具備: 核心基板、和 在形成於該核心基板的上面,設置導體圖形的加高層 、和 形成於該加高層上的低彈性率層、和 設置於該低彈性率層的上面,與電子零件經由連接部 而連接的構裝用電極、和 貫穿前述低彈性率層而電氣的連接前述構裝用電極和 前述導體圖形的導體端子的多層印刷配線板,其特徵爲, 前述低彈性率層係藉由包含環氧樹脂、酚樹脂、架橋 橡膠粒子及硬化觸媒的樹脂組成物而形成; 前述樹脂組成物對於前述環氧樹脂100重量份,包含 前述酚樹脂5~100重量份、前述架橋橡膠粒子5〜2 00重量 份、前述硬化觸媒0.1〜20重量份; 前述架橋橡膠的玻璃轉換溫度係爲-8〇°C〜-2〇°C ; 前述樹脂組成物的玻璃轉換溫度係爲l〇〇°C〜200°C。 2.如申請專利範圍第1項所記載的多層印刷配線板 ,其中,前述樹脂組成物對於前述環氧樹脂1〇〇重量份, 包含前述酚樹脂1〇〜50重量份、前述架橋橡膠粒子7~180 重量份、前述硬化觸媒〇_5〜10重量份。 1334755 丨_雌__ I .. 11年?月<曰修(束)正替換頁 3 .如申請專利範圍第1項所記載的多層印刷配線板 ’其中,前述導體端子長寬比Rasp爲4各Rasp < 2〇。 4.如申請專利範圍第2項所記載的多層印刷配線板 ,其中,前述導體端子長寬比Rasp爲4 g Rasp < 20。 5 .如申請專利範圍第1項至第4項任一項所記載的 多層印刷配線板,其中,前述導體端子係超過直徑30μπι 〇 6 ·如申請專利範圍第1項至第4項任一項所記載的 多層印刷配線板,其中,前述導體端子係形成至具有細腰 形狀。 7 .如申請專利範圍第6項所記載的多層印刷配線板 ’其中,前述導體端子係對於最細的部分的直徑的最大的 部分的直徑之比爲2以上。 8 ·如申請專利範圍第6項所記載的多層印刷配線板 ’其中’目U述導體师i子係敢小徑爲超過30μπι且爲60μιη 以下。 9. 如申請專利範圍第6項所記載的多層印刷配線板 ’其中,前述導體端子係對於最細的部分的直徑的最大的 部分的直徑之比爲2以上,最小徑爲超過30μπι且爲60μιη 以下。 10. 如申請專利範圍第1項至第4項任—項所記載的 多層印刷配線板,其中,前述構裝用電極爲形成如成爲與 前述低彈性率層的上面略同一平面的前述導體端子的頂部 -2- I 1334755 修(^)正瞀換箅 I___ 11.如申請專利範圍第1項至第4項任一項所記載的 多層印刷配線板,其中,前述低彈性率層爲在30 °C的彈性 率爲 1 OMPa〜1 GPa。
TW094117532A 2004-05-27 2005-05-27 Multilayer PCB TW200607427A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004157459 2004-05-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200607427A TW200607427A (en) 2006-02-16
TWI334755B true TWI334755B (zh) 2010-12-11

Family

ID=35451307

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW094117532A TW200607427A (en) 2004-05-27 2005-05-27 Multilayer PCB

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7495332B2 (zh)
EP (1) EP1753278A4 (zh)
JP (1) JP4846572B2 (zh)
KR (1) KR100870216B1 (zh)
CN (1) CN100531528C (zh)
TW (1) TW200607427A (zh)
WO (1) WO2005117510A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI411489B (zh) * 2011-08-08 2013-10-11 Jsr股份有限公司 助焊劑組成物、電性連接結構的形成方法、電性連接結構以及半導體裝置

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005107350A1 (ja) * 2004-04-28 2005-11-10 Ibiden Co., Ltd. 多層プリント配線板
JP4824397B2 (ja) 2005-12-27 2011-11-30 イビデン株式会社 多層プリント配線板
SG160403A1 (en) * 2006-09-13 2010-04-29 Sumitomo Bakelite Co Semiconductor device
KR20110074135A (ko) * 2009-12-24 2011-06-30 삼성전자주식회사 내장 회로 기판을 구비한 시스템 인 패키지
JP2012069926A (ja) * 2010-08-21 2012-04-05 Ibiden Co Ltd プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
CN102034721B (zh) * 2010-11-05 2013-07-10 南通富士通微电子股份有限公司 芯片封装方法
CN102034720B (zh) 2010-11-05 2013-05-15 南通富士通微电子股份有限公司 芯片封装方法
JP5823117B2 (ja) * 2010-11-16 2015-11-25 デクセリアルズ株式会社 異方性導電フィルム、接合体、及び接合体の製造方法
US8595927B2 (en) * 2011-03-17 2013-12-03 Ibiden Co., Ltd. Method for manufacturing multilayer printed wiring board
WO2013095363A1 (en) * 2011-12-20 2013-06-27 Intel Corporation Microelectronic package and stacked microelectronic assembly and computing system containing same
CN104584701B (zh) * 2012-06-22 2018-11-13 株式会社尼康 基板、拍摄单元及拍摄装置
KR20140134479A (ko) * 2013-05-14 2014-11-24 삼성전기주식회사 인쇄회로기판
US9373576B2 (en) * 2014-01-09 2016-06-21 Broadcom Corporation Flip chip pad geometry for an IC package substrate
US10457806B2 (en) 2014-07-18 2019-10-29 Sabic Global Technologies B.V. Methods of forming dynamic cross-linked polymer compositions
CN104093272B (zh) * 2014-07-25 2018-01-16 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 一种半导体封装基板结构及其制作方法
TWI554174B (zh) 2014-11-04 2016-10-11 上海兆芯集成電路有限公司 線路基板和半導體封裝結構
EP3274124A1 (en) * 2015-03-26 2018-01-31 SABIC Global Technologies B.V. Use of dynamic cross-linked polymer compositions in soldering applications
JP6735505B2 (ja) * 2016-09-06 2020-08-05 パナソニックIpマネジメント株式会社 プリント配線板、プリント回路板、プリプレグ
US20220199574A1 (en) * 2020-12-18 2022-06-23 Intel Corporation Microelectronic structures including bridges
JP7786043B2 (ja) * 2021-04-19 2025-12-16 Toppanホールディングス株式会社 多層配線基板

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2097998B (en) 1981-05-06 1985-05-30 Standard Telephones Cables Ltd Mounting of integrated circuits
JPH0537157A (ja) * 1991-07-31 1993-02-12 Sony Corp 多層プリント基板の製造方法
JPH0547842A (ja) * 1991-08-21 1993-02-26 Hitachi Ltd 半導体装置
WO1997019579A1 (fr) * 1995-11-17 1997-05-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Tableau de connexion multicouches, materiau prefabrique pour ce tableau, procede de fabrication de ce dernier groupement de composants electroniques et procede de formation de connexions verticales conductrices
JPH1041633A (ja) * 1996-07-25 1998-02-13 Hitachi Ltd 多層配線板とそれに用いる感光性樹脂組成物
JPH10173102A (ja) * 1996-12-12 1998-06-26 Nitto Denko Corp 半導体装置
ID19337A (id) * 1996-12-26 1998-07-02 Ajinomoto Kk Film perekat antar-pelapis untuk papan pembuat kabel cetakan berlapis-banyak dan papan kabel cetakan berlapis-banyak memakai film ini
JP3944795B2 (ja) * 1997-06-20 2007-07-18 日立化成工業株式会社 多層配線板
JP2001036253A (ja) 1999-07-26 2001-02-09 Shinko Electric Ind Co Ltd 多層配線回路基板及びその製造方法
EP1990833A3 (en) * 2000-02-25 2010-09-29 Ibiden Co., Ltd. Multilayer printed circuit board and multilayer printed circuit board manufacturing method
JP2001288336A (ja) * 2000-04-06 2001-10-16 Techno Polymer Co Ltd エポキシ樹脂組成物
JP2001298272A (ja) * 2000-04-13 2001-10-26 Nec Corp プリント基板
JP4045083B2 (ja) * 2000-12-25 2008-02-13 株式会社ルネサステクノロジ 半導体モジュールおよび実装構造体
TW511405B (en) * 2000-12-27 2002-11-21 Matsushita Electric Industrial Co Ltd Device built-in module and manufacturing method thereof
US6770965B2 (en) * 2000-12-28 2004-08-03 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Wiring substrate using embedding resin
US6486415B2 (en) * 2001-01-16 2002-11-26 International Business Machines Corporation Compliant layer for encapsulated columns
US20030034565A1 (en) 2001-08-18 2003-02-20 Lan James Jaen-Don Flip chip substrate with metal columns
JP2004281695A (ja) * 2003-03-14 2004-10-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多層プリント配線板、多層プリント配線板の製造方法、及び実装構造体
JP4504925B2 (ja) * 2004-01-30 2010-07-14 イビデン株式会社 多層プリント配線板及びその製造方法
WO2005107350A1 (ja) 2004-04-28 2005-11-10 Ibiden Co., Ltd. 多層プリント配線板

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI411489B (zh) * 2011-08-08 2013-10-11 Jsr股份有限公司 助焊劑組成物、電性連接結構的形成方法、電性連接結構以及半導體裝置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2005117510A1 (ja) 2005-12-08
KR20070027562A (ko) 2007-03-09
EP1753278A1 (en) 2007-02-14
TW200607427A (en) 2006-02-16
JP4846572B2 (ja) 2011-12-28
CN100531528C (zh) 2009-08-19
US7495332B2 (en) 2009-02-24
KR100870216B1 (ko) 2008-11-24
JPWO2005117510A1 (ja) 2008-04-03
CN1957649A (zh) 2007-05-02
EP1753278A4 (en) 2010-05-19
US20070085203A1 (en) 2007-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI334755B (zh)
US7331502B2 (en) Method of manufacturing electronic part and electronic part obtained by the method
JP2016196549A (ja) プリント配線基板用樹脂組成物、プリプレグ、樹脂基板、金属張積層板、プリント配線基板、および半導体装置
JP6592962B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物、キャリア付樹脂膜、プリント配線基板、および半導体装置
JP2016196548A (ja) プリント配線基板用樹脂組成物、プリプレグ、樹脂基板、金属張積層板、プリント配線基板、および半導体装置
TW201513758A (zh) 配線基板的製造方法
JP2016196557A (ja) プリント配線基板用樹脂組成物、プリプレグ、樹脂基板、金属張積層板、プリント配線基板、および半導体装置
JP2016196635A (ja) プリプレグ、樹脂基板、金属張積層板、プリント配線基板、および半導体装置
JP2013251368A (ja) 半導体装置の製造方法及びそれに用いる熱硬化性樹脂組成物並びにそれにより得られる半導体装置
JP3850261B2 (ja) 半導体チップ
JP2016066789A (ja) 配線基板の製造方法、および半導体パッケージの製造方法
JP6107992B1 (ja) 樹脂シート
WO2009107346A1 (ja) 回路板および回路板の製造方法
JP2006278530A (ja) ソルダーレジスト用熱硬化性樹脂組成物およびソルダーレジスト
JP6217870B2 (ja) 構造体、配線基板および配線基板の製造方法
JP2012166515A (ja) 配線板用絶縁樹脂材料、多層配線板及び多層配線板の製造方法
JP2003103398A (ja) 硬化性フラックスおよび硬化性フラックスシート
JP2018174250A (ja) 熱硬化性樹脂組成物、キャリア付樹脂膜、プリプレグ、プリント配線基板および半導体装置
KR20230022669A (ko) 절연층 제조방법, 절연층, 다층인쇄회로기판 제조 방법 및 다층인쇄회로기판
JP2018172552A (ja) 熱硬化性樹脂組成物、キャリア付樹脂膜、プリプレグ、プリント配線基板および半導体装置
JP7240085B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物、キャリア付樹脂膜、プリプレグ、プリント配線基板および半導体装置
JP2004356369A (ja) 半導体用接着剤付きテープおよびそれを用いた半導体用接続用基板の製造方法
JP2019095719A (ja) 配線基板の製造方法、半導体装置の製造方法
TW201430020A (zh) 樹脂片材
WO2011118146A1 (ja) 回路基板、半導体装置、回路基板の製造方法および半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees