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TWI330165B - - Google Patents

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TWI330165B
TWI330165B TW095133140A TW95133140A TWI330165B TW I330165 B TWI330165 B TW I330165B TW 095133140 A TW095133140 A TW 095133140A TW 95133140 A TW95133140 A TW 95133140A TW I330165 B TWI330165 B TW I330165B
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TW095133140A
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Inventor
Mitsuru Ikeda
Original Assignee
Murata Manufacturing Co
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Description

九、發明說明: 【:明所屬之技術領域】 送電零件測定裝置’特別是關於-邊搬 品的電子零件測3置其特性以選別良品/不良 疋裒置及其控制方法。 【先前技術】 作為電子零件測定裝置 記載之裝置。此Φ j _ 有—種專利文獻1所 I 此電子零件測 貫通孔之板狀搬g g 4 、 乂 ,概略具備設有複數個 件、使搬= 將電子零件導至貫通孔之導引構 件使搬送構件旋轉驅動㈣ 壓以將電子零件吸入貫 使貝通孔内成為負 所設之測定端子吸引機構、接近搬送構件 件上面之喷出口的屋乂=縮空乳喷出至搬送構 出機構,係用以從搬送構:!=構。此處,空氣噴 件表面之電子零件 件吹洛因靜電等而附著於搬送構 …然而,此電子零件测定裝置在停止運作時即使欲在 处搬送構件之^丨^^如 、 出所有電子零件後停止搬送構件 之知轉’但由於電子零件 、、’’貝被裝入貫通孔内,而成為電 子零件殘留於搬送構件之貫通孔内的狀態。如此,會造成 進行維修時測定端子清掃的妨礙、位於測定端子下之電子 令件附著端子痕、或因麼電效果使電容器之容量變化。又, 若將電子零件保持該狀態持續放置,亦有可能導致特性變 化而成為不良品β 【專利文獻1】特表2000— 5〇n74號公報 1330165 【發明内容】 因此,本發明之目的,係提供在運轉停止時可 構件之貫通孔内排出所有電子零件、且能抑制不良 、 之電子零件測定裝置及其控制方法。 〈生 為達成前述目的,本發明之電子零件測定裝置,1 ^朝上傾斜40〜90。之搬送面之搬送台、安裝於^^ 導至該貫通孔之導引構件、使該搬送::移:=零件 ::使該貫通孔内成為負壓之吸引機構、接近該搬送構件 所叹之測定部、接近該搬送構件所設之排出 近該導引構件之出口所設且具有用以將 Υ以及接 搬送構件上面之嘴出口的壓縮空氣嗜出機構工出至5亥 入==勢待機之複數個電子零件從該導引構件送 "搬送構件並收容於該貫通孔予以搬送,並 該測定部測定收容於該 、中1 該書请w〈冤子零件,其特徵在於: 該導引構件Γ t㈣送構件之上面開口的狀態形成; ^ 係沿該貫通孔之移動路徑設置; 方向機構係、於沿該搬送構件之上面流動之 件上機之複數個電子零件存在於該導引構 作停止,並從構件停止時,係使該吸引機構之動 止電子零件進空氣喷出機構之該喷出口喷出用以防 %八5亥貫通孔的壓缩咖名^ 置之搬送方向下游 内:乱’再使位於噴出口位 之貫通孔内的殘留電子零件經過該測 6 1JJU165 定部搬送至該排出機構加以排出後,使搬送構件停止。 又’本發明之電子零件測定裝置之控制方法 零件測定裝置,具備:具有朝上傾斜4〇〜 … 搬送台、安裝於該搬送 搬迗面之 搬送構件、將電子零件導至該貫通扎之導之二盤狀 送構件移動的驅動機構、 π 使4搬 切伐構、使該貫通孔内 構、接近該搬送構件所……内成為負愿之吸”機 之排出機構、以及接,二:部、接近該搬送構件所設 k Μ導引構件之出口所設 將壓縮空氣喷出至兮撫Υ J又且、有用以 出機構:至錢讀件上面之喷出口㈣縮空氣喷 :以任意姿勢待機之複數個電子零件 入錢送構件並收容於該貫通孔予以搬送,並在= 該測定部測定收容於 在搬送中以 該貫通孔係以在電子零件’其特徵在於: 該導引物沿該貫通孔之移動路徑設置,成, 方向機構係於沿該搬送構件之上面流動之 方向賀出壓縮空氣; 叫机勒芝 件上==::::數個電子零件存在於…構 作停止,並從該1止時,係使該吸引機構之動 止電子零件進入出機構之該嗔出口嗔出用以防 疋八4貝通孔的壓介 + 置之搬送方向下游側之 ”工乳’再使位於噴出口位 定部搬送至該排出機構:、内的殘留電子零件經過該測 本… 以排出後,使搬送構件停止。 本…’在使電子零件測定裝置之運轉停止時,係 7 1330165 停止吸引機構之動作, ^, 7再從壓縮空氣喷出機構之喑+ 出較電子零件測定F w+ 苒之嘴出口噴 疋裝置之運轉時更強(至少 進入貫通孔之強度)的壓 μ 万止電子零件 部產生氣簾,防止二…糟此’即於貫通孔之開口 產生Μ防止電子零件進人貫通孔内 壓縮空氣帶來抽氣效果f g 错由此 从,办 果(負壓),將已位於貫通孔内之 件從貫通孔引出。位於喑屮π ν 1之電子零 、s 、 位置之搬送方向下游側之4 =的殘留電子零件,係經測定部後被排出機構排出貝 :π:於貫通孔内之電子零件時,即停止搬送: 此外,亦可以測定部測定殘留電子零件。 本發明之電子零件測定裝置中,搬送台之搬 係朝上傾斜40〜90。.搬诸Μ & 达面亦可 構來旋轉驅動。X,導引摄# / 糟由駆動機 ¥引構件,最好係在相當於時鐘字盤 五點到十點的區域㈣電子零件供應至搬送構件的貫通 =二地,導引構件,最好係設於可承接被壓縮空氣 '機構处搬送構件吹落之電子零件的位置。 +根據本發明,由於在從搬送構件之貫通孔内排出所有 2零件後停止搬送構件之移動’因此可解決電子零件因 :疋端子而附著端子痕、或將電子零件保持該狀態持續放 而產生特性變化等的疑慮。其結果,能改善電子零件之 不良品產生率。 【實施方式】 以下,參照附圖說明本發明之電子零件測定裝置及其 控制方法的實施例》 /、 (第1實施例,參照圖1〜圖4) 8 1330165 如圖丨及圖2所示,第丨實施例之電子零件測定裝置 大致具備:具有搬送面Ia之搬送台】、安裝於搬送台】上 且設有複數個貫通孔3之圓盤狀搬送構件2、將電子零件 導至貫通孔3之導引構件5、使搬送構件2旋轉驅動的 未圖示驅動機構、使貫通孔3内成為負壓之未圖示吸引機 構、接近搬送構件2所設之複數朗定端子部7、接近搬送 構件2所設之未圖示排出機構、以及接近導⑽件$之出 口所設且具有用以將壓縮空氣噴出至搬送構件2上面之喷 出口 Π的壓縮空氣噴出機構' +不-π, ,、戈诹廷面la直立成 大致90。,向上傾斜成4〇〜9〇。即可。搬送構件 個貫通孔3,其能使設於電子零件3Q兩端部之電 位於搬送構件2表背側的方式,將電子零件_其長邊方 向加以收谷(參照圖3)。電子愛仕m , m)冤千零件30,藉由以吸引機構從貫 通孔3底。ρ (圖3右側)進行真办 . 内’心丁具:吸引,來將其裝入貫通孔3 個撫w 错由在箭頭X方向之間歇旋轉來-個接一 個搬达收容於貫通孔3之電子零件3〇。 V引構件5,係由(¾ l 2上設置在相#於* 周知機構構成,於搬送構件 ▲丄。X直任相當於時鐘字殽 置^弓! H ς 五點到十點的區域。此外,設 置導以構件5之區域σ 又 可。電子零件3() 、係相當於五點到十點的區域即 J电卞令件30滯留於導引 從該處被撥人貫通孔3 Θ “之相以六點的區域, 送面la具有壓縮空氣喷出。口又。,排出機構於搬送台1之搬 此外,各吸引機構、駆t i 動機構及排出機構,均具備作 9 為此種電子零件測定裝置之翌 置之^知構成,因此省略其說明。 *丨其次,說明由以上構成組成之電子零件測定裝置之控 方法H在電子料敎裝置運㈣,敍貫通孔3 内成為負壓且藉由驅動機構使搬 文搬运構件2往箭頭X方向旋 轉驅動。被導引構件5運至貫通孔3之開口部的電子零件 3册〇’即因負壓而被裝人貫通孔3内。裝入有電子零件川之 貫通孔3,經由壓縮空翁喑ψ拖4妓,Λ ,、賀出機構10而被間歇性地搬送至 測疋區間Α。 此時’如圖3所示,壓縮空氣嘴出機構1〇,藉由從噴 出口 η喷出空氣將因靜電等而附著於搬送構件2表面之電 子零件30從搬送構件2吹落。 等3丨構件5之上部於接近舞 縮空氣噴出機構丨〇之噴出口 11 ?〜, 地°又开開口,被吹落之電 子零件30即回到導引構件5。 目嘴出口 11之空氣壓,由 於右過弱即無法得到充分的 ♦ 果右過強則會使電子 令件30在導引構件5上彼此楷 ^ 撹况使電子零件30彼此衝 才里而產生裂痕或從導引構件5滿出, ^ 適度之厂堅力。 滿出因此空氣㈣設定成 搬送至測定區間A的電子愛彼·5 Λ ^ ^ 7 子零件3G,錢^置藉構成 心知子部7之各接觸端子(未圖示)測定電子零件Μ的電 氣特性後,即搬送至排出區間 0 $ 於忒處區分出良品/不良 °。再猎由排出機構排出。 其次,在使電子零件測定裝置之運轉停止時,係停止 使貝通孔3内成負壓之動作, ’、 嘖屮機爐m a 丹如圖4所不,從壓縮空氣 T出機構10之噴出口 Η啃屮 赁出較電子零件測定裝置之運轉 ^30165 時更強的壓縮空氣。藉此,即於貫通孔3之開口部產生氣 廉,防止電子零件30進入貫通孔3内。又’藉由此壓縮空 氣帶來抽氣效果(負壓),將已位於貫通孔3内之電子零件從 貫通孔3拉出。在運轉停止時從噴出口 11噴出之壓縮空 乳,只要係至少可防止電子零件3〇進入貫通孔3的強度即 可。或者,亦可以是能將進入貫通孔3之電子零件取出 之強度的壓縮空氣,此情形下,由於可將進入貫通孔3之 電子零件30取出,因此可縮短以下說明之搬送構件2的移 動距離’較快地結束停止動作。 位於壓縮空氣噴出機構1〇之噴出口 n位置之搬送方 向X下游側之貫通孔3内的殘留電子零件3〇,在被搬送至 :!疋區間A測定特性後’在排出區間B被排出機構排出。 ::出所有位於貫通孔3内之電子零件3〇時即停止搬送 2之旋轉。此外,殘留電子零件3 宏夕处处τv丨又-、任不測 恶I過測定區間A,而在排出區間B排出。 如此’由於在從搬送構件2之貫通孔3 _ 子冪件30後停止搬访错彳土 〇 m β有電 因此可解決因敎端子部7 t接觸端子而於雷+ !杜7Λ m ^ 佴姓 〇附者端子痕、或將電子零件30 保持該狀態下持續放f於舟 ψ 30 疑慮。其結果,==3内而產生特性變化等的 木月匕改善電子零件3〇之不良品產生率。 (第2實施例,參照圖5及圖6) 其次,參照圖5及圖6說明 零件測定裝置。此測定梦… 弟實她例之電子 正下f 、 係於壓縮空氣喷出機構1〇之 下方扠置延伸於與搬送構 之 苒件2大致正交之水平方向的導 1330165 引構件5 ’。此導引構件$,,伤 係藉由振動等作用使電子零 30往箭頭Y方向移動而落入貫通孔3内。 本第2貫施例中,導引^ ^ 导引構件5’以外之構成與前述第 圖4相同之構件、部 搬送構 實施例相同’對圖5及圖6中與圖丨 分係賦予共通符號’省略重複 里H兄明。又,圖5中, 件2之貫通口之圖示係省略。 此外,本發明之電子零 不限定於、,+ ^义裝置及其控制方法當麸 限疋於珂述實施例,可在豆 — 田热 【圖+ # β ’、曰之範圍内進行各種變更。 L圖式簡單說明】 支文。
圖 1 , % S 係顯示電子零件測定裴置之笛】… 战圖。 之第1貫施例的概略構 圖〆圖。,係圖1所示之壓縮空氣噴 _ 3,^係用以說明本發明之電子 方法的戠h意圖。 電子裝置及其 出機構附近的放大 立體 控制 圖4, 係接績圖 制方法的戠面:;:v用以說明電子零件測定裝置及其 控 圖 成圖 係顯示電子零件測定裝置 之第2實施例的概略構 圖6, 1 1 a 2 係圖5之C — C截面圖 主要元件符號說明】 搬送台 搬送面 搬送構件 12 1330165 3 貫通孔 5, 5’ 導引構件 7 測定端子部 10 壓縮空氣喷出機構 1 1 喷出口
13

Claims (1)

  1. 丄u J 丄u J 修 十、申請專利範圍: L —種電子零件測 90。之搬送面之搬送台、壯’具備:具有朝上傾斜4〇〜 貫通孔之圓盤狀搬送:件女;::搬送台上且設有複數個 引構件、使該搬送椹杜冑電子零件導至該貫通孔之導 ^ g ^ 、 移動的驅動機構、使該貫通孔内成 為負壓之吸弓丨機構、接近 該搬送構件所設之排出㈣、运構件所設之測定部、接近 所設且具有用以將懕…以及接近該導引構件之出口 ' 、'空氣喷出至該搬送構件上¢( t of + 口的壓縮空氣噴出機構; …牛上面之噴出 :以任意姿勢待機之複數個電 入該搬送構件i收容 守。構件达 , 於5玄貝通孔予以搬送’並在搬送中以 HP測定收容於該貫通孔 該貫通孔係以在該搬送 的二在於: 苒件之上面開口的狀態形成; ^ 聋件係沿該貫通孔之移動路徑設置; °亥I缩空氣喷出機構係,於沿 方向喷出塵縮空氣; 構件之上面流動之 在从任意姿勢待機之複數個電子零件存在 件上之狀態τ佳兮你a m Μ γ m τ使錢補❹止時,係㈣之動 =二並從該㈣空氣噴出機構之該噴出口噴出用以防 止電子零件進入該貫通孔的麼縮空氣,再使位於嘴出口位 ^ 之搬送方向下游側之貫通孔内的殘留電子零件經過該測 疋部搬送至該排出機構加以排出後,使搬送構件停止。 2.如申請專利範圍第丨項之電子零件測定裝置其中, 該導引構件’係在相當於時鐘字盤上五點到十點的區域内 14 1330165 將電子零件供應至該搬送構件的貫通孔。 3. 如申請專利範圍第1或2 中,料“ 項之電子零件測定裝置,其 中该導引構件,係設於可承接被該壓縮空、 該搬送構件吹落之電子零件的位置。 機構從 4. 如申請專利範圍第] 梦署“ 〒任項之電子零件測定 裝置’其中’在使該搬送構件停止時,係從該壓 出機構之該噴出口喷出可將進 ;;、 之強度的壓縮空氣。 出 5·—種電子零件測定裝置之控 梦署目# 制方法,該電子零件測定 裝置,具備.具有朝上傾斜4〇〜 史壯# > 之搬送面之搬送台、 女裝^该搬送台上且設有複數 件、將” h“ 有複數個貝通孔之圓盤狀搬送構 將电子零件導至該貫通孔之導弓丨構件、使該 移動的驅動機構、使該貫通孔内 j 、件 近遠搬送構件所設之測定部、接 苒接 機構、以及接近該導引構件之出口 f出 处名A , 所叹且具有用以將壓缩 I机噴出至該搬送構件上面之噴 ^ 構; 贺出口的壓縮空氣噴出機 將以任忍姿勢待機之複數個電 入嗲舻i m V 电于零件從該導引構件送 »玄搬达構件並收容於該貫通孔 ^ ^ 乂搬迗,亚在搬送中 μ測疋部測定收容於該貫通孔 ^ .5 电十零件,其特徵在於: 。哀貝通孔係以在該搬送構件之 <上面開口的狀態形成; 逑導引構件係沿該貫通孔之移動路徑設置; 該壓縮空氣噴出機構係於沿該 方向噴出壓縮空氣; %構件之上面流動之 1330165 以任意姿勢㈣之複數個電子零件存在於該導引構 狀使該搬送構件停止時,係使該吸引機構之動 作作止’並從该屋縮空裹哈 H孔贳出機構之該噴出口噴出用以防 ==;:貫通孔的㈣空氣,再使位於噴出” n 11側之貫通孔内的殘留電子零件經過該測 ^搬送至該排出機構加以排出後,使搬送構件停止。'
    6·:申請專利範圍…之電子零件測定裝置之控制 …其中’在使該搬送構件停止時.從 :構之㈣出”出可將…貫逯孔之電子零件 強度的壓縮空氣。 出之 十一、圖式: 如次頁
    16 1330165 七、指定代表圖: 圖。 (一) 本案指定代表圖為:第(4 (二) 本代表圖之元件符號簡單說明 1 搬送台 2 搬送構件 3 貫通孔 5 導引構件 10 壓縮空氣喷出 1 1 喷出口 30 電子零件 機構 八、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學式:
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