TWI328123B - Method and device for inspecting a misalignment of an electronic element - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 33
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 14
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 1
- 239000002759 woven fabric Substances 0.000 claims 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- RVCKCEDKBVEEHL-UHFFFAOYSA-N 2,3,4,5,6-pentachlorobenzyl alcohol Chemical compound OCC1=C(Cl)C(Cl)=C(Cl)C(Cl)=C1Cl RVCKCEDKBVEEHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000255925 Diptera Species 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
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- Wire Bonding (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
1328123 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係獅-轉位鱗細 一種電子元伽縣對象 H職置,特別是 裝置。 對象時之對位偏移檢測方法及其檢測 【先前技街】 液晶顯示器是藉由驅動晶片Qc 透過高溫高壓的壓合製程,n驅動晶片是 上爾前會有對準的動作,藉對應位置 :構’轉触嫩 或=誤差’因而造成失準偏移的情況。因此,於每=械 仍須人為觀察偏移狀況。 σ時 在玻璃覆晶封裝(chip_on_glass; C0G)製程中,傳統之 =板與晶>1壓合的偏移狀況檢測評估方法,係彻顯微鏡 ,察分別位於晶片與相對之基板上的對位標記之間的相對位置。 日日片上的對位標記與基板上的對位標記兩者之間有固定且相對的 尺寸及形狀。細,由於兩對位標記之間並非完全密合的狀態, 因此當發生偏移時’僅能初略的估計偏移狀況,無法較明確ς知 曉偏移的量。當機台進行雛時,只能以初略的方式進行調整, 如此往往t要乡次的調校,村制鮮顧結果。 另一種方式係應用於玻璃基板之接觸墊與晶片之凸塊的壓合 檢測’ ^測時’利用—側向光源照射玻璃基板,並藉由來自壓合 區和非μ合區之反射光具有不同之亮度,藉以躺麵基板與晶 片壓合之偏移量。此方法仍是僅以一初略估計之偏移量進行調 5 1328123 校’且利狀射光的亮度來判斷偏移量必須經由換算的過程來評 估結果,故此檢測方法也較為複雜。 【發明内容】 :狄社的_,树明提供奸叙雜偏移檢測 方法及其檢測裝置,藉以解決先前技術所揭露檢測方法複雜且不 準確的問題。 為達上述目的,本發明揭露一種電子元件之對位偏移檢測方 法,用以檢測-電子it件貼附至—貼附對象時的對位偏移狀態, •貼附對象具有-_區以_電子元件,檢測方法包括:將第一 導線連接至位於貼附區外圍之導電標記;將第二導線連接至電子 元件;將信號輸出元件連接第一導線及第二導線其中之一條;提 供電壓訊號給第-導線及第二導線其中之H以及將電子元 件職至刺區。當發生對⑽糾,f子元件與導電標記產生 .短路,以將電壓訊號傳輸至信號輸出元件,因而致使信號輸出元 件發出警示信號。 • 根據本發明’可將信號輸出元件連接至第-導線,而將電壓 訊號提供給第二導線;或是將信號輸出元件連接至第二導線,而 將電壓訊號提供給第一導線。 根據本發明,於電子元件與貼附對象貼合前,可先於貼附對 象的貼合區上貼附一異向性導電膜(ACF),再透過此異向性導電 膜而與電子元件相互貼附。 田電子元件係為積體電路(ic)時,電麼訊號可由此積體電 路提供,或由另一積體電路或一外部治具連接至第一或第二導 線’以提供所需的電壓訊號。 6 1328123 若電子元件為親’舰電子元件_由健電路 塊貼附至貼附對象的貼附區,第—或第二導線中之—係連接至該 積體電路之-非魏性凸塊(d_y bump)。於此貼附對象^ 為玻璃基板’而導電標記則可由玻璃基板上諸如銦錫氧化 等導電材料所組成。
當電子元件為軟性電路板(FPC)時,則藉由軟性電路板上的 連接墊(pad)貼附至貼附對象的貼附區,兩導線中之一則連接至 連接墊。於此,貼附對象可為印刷電路板(pcBA),而導電標記則 可由印刷電路板上諸如銅等導電材料所組成。 根據本發明,當檢測出發生對位偏移時,還可根據電子元件 與導電標記的位置計算偏移量,然後再依據該偏移量調整電子元 件與貼附對象的相對位置。 本發明所揭露之電子元件之對位偏移檢測裝置,用以檢測一 電子元件貼附至一貼附對象時的對位偏移狀態,貼附對象具有一 貼附區以貼附電子元件,檢測裝置包括:導電標記、第一導線和 第二導線。 \ 導電標記設置於貼附區的外圍。第一導線連接導電標記。第 二導線則連接電子元件,以接收電壓訊號。於電子元件貼附至貼 附區時’若發生對位偏移’電子元件與導電標記會產生短路,而 致使第二導線接收到之電壓訊號傳輸至導電標記。於此,導電標 記可環繞設置於貼附區的外圍。 根據本發明’第一導線還可連接至一信號輸出元件,以於發 生對位偏移時’經由電壓訊號的致動而發出警示信號。 再者’亦可將信號輸出元件連接至第二導線,而將電壓訊號 7 15 提供給第一導線。 相互ΓΓ。’於電子元件與軸縣之間可制—異向性導電膜而 田電子元件係為频魏時,電壓訊號可由此積體電路提 供丄抑或由另—積體電路或—外部治具連接至第—或第二導線, 以提供所需的電壓訊號。 有關本發㈣概與實作’茲以較佳實施顺合圖式詳細說 明如下。 【實施方式】 以下舉a紐實施取詳細綱本發明之内容,並以圖式作 為輔助說明。·巾提及之符雜參_式符號。 參照第1®及第2 ®,係為根據本發明—實施例之電子元件 ff立偏移檢測裝置,其係用以檢測電子元件,貼附至貼附對 象100時的對位偏移狀態。貼附對& 1〇〇具有一貼附區脱,用以 貼附電子το件130。於此’為明確表示,圖中僅繪出電子元件別 貼合部位,其他部位則省略未繪出。 對位偏移檢測裝置包括:導電標記11G、第-導線120和第 二導線132。 、導電標記110設置於貼附區102的外圍。在此,需注意的是: 雖然圖情示的導電標記11()和貼附區1〇2的形狀均為矩形,但 本發明的實施方式並不限於具特定形狀的導電標記11〇或貼附區 102。第一導線120連接導電標記110。第二導線132則連接電子 元件130,以接收電壓訊號。當電子元件13〇貼附至貼附區1〇2 且發生對位偏移(即電子元件與貼崎象細時對位偏移超出一 既定偏移量)時,電子元件130與導電標記則會產生短路而導 通’進而將第二導線132接收到之電壓訊號傳輸至導電標記⑽。 於此,導電標記11〇可環繞設置於貼· 1〇2的外圍。關於導電 標記no的設置方式,熟習此項技藝者當可依照實際所需的精確 度而採取適當的設置方式。 參照第3圖還可連接至—信號輸出元件14〇。 當電子元件m貼附至貼附區1()2且發生對位偏移時,電子元件 130與導電標記no會產生短路而導通,致使第二導線132接收到 之電壓訊號Vs會經由電子元件13〇而傳輸至導電標記11Q,進而 致使=號輸出元件140發出警示信號。信號輸出播14G包含一 警示單元142,以透過警示單元142發出警示信號。在一實施例 中’警示單元142 $指示燈,電壓訊號Vs會致使信號輸出元件 14〇透過警示單元142發出燈光。在另一實施例中,警示單元142 可為一蜂鳴H ’電壓訊號Vs會致使信號輸出元件14(]透過警示單 元142發出聲響。如熟習此技藝者所知,警示單元142亦可為其 他具有警示個的元件。如此—來,可簡單且準確地檢測出電子 元件的對位偏移狀態。 —舉例來說’將-積體電路(IC)貼附至―玻璃基板上時,電 子^件130可為積體電路,而貼附對象1〇〇即可為玻璃基板,導 電標記110則可由玻璃基板上諸如銦錫氧化物(IT〇)等導電材料 所組成。於此’係將積體電路的凸塊(bump)贿至玻璃基板的 貼附區,第二導線132餘接連接至積體電路之一非魏性凸塊。 於此’電壓訊號Vs可由積體電路本身提供。此外,亦可將第二導 線132的另一端連接至另一積體電路或一外部治具,藉以提供電 1328123 壓訊號Vs給第二導線132。 在另一實施例中,將一軟性電路板(FPC)貼附至一印刷電路 板(PCBA)上,此電子元件130為軟性電路板,而貼附對象1〇〇 即為印刷電路板,導電標記110則可由印刷電路板上諸如銅等導 電材料所組成。於此,係將軟性電路板的連接墊(pad)貼附至印 刷電路板的貼附區’因此第二導線132將連接至連接墊。第一導 線120係利用印刷電路板上已有的線路。於此,電壓訊號vs可經 由將第二導線132的另一端連接至一積體電路或一外部治具,來 •藉以提供電壓訊號Vs給第二導線132。 此外’於電子元件130與貼附對象100之間可透過一異向性 導電膜(ACF)而相互貼附。 如第1圖、第2圖及第4圖所示,亦可由第一導線12〇接收 電壓訊號Vs ’並將第二導線132連接至信號輸出元件14〇。當電 子元件130貼附至貼附區1〇2發生對位偏移時,電子元件13〇與 導電彳示δ己110會產生短路,因而將第一導線12〇接收到之電壓訊 φ 號Vs會、、^'由導電標兄110而傳輸至電子元件bo,進而經由第二 導線132致使信號輸出元件14〇透過警示單元142發出警示信號。 參…、第5圖,可透過偵測模組150操取電子元件13〇與導電 標記1=的影像,藉以债測出電子元件13〇與導電標記⑽的位 置再措由计异模組16〇依據債測模組bo價測得之位置計算出 偏差量X、γ,並傳送給機台以進行電子元件13〇與貼附對刚 之相對位置的調校。 、…第6圖’係為根據本發明—實關之電子元件之對位偏 移仏測方:¾•其伽崎測電子元件貼附至_縣時的對位偏 1328123 移狀:〃中貼瞬象具有—貼隱,肋細電子元件。 圍 附區外=帛導線連接至導電標記,且此導電標記係位於貼 1 (^驟21〇a)。於此’導電標記可環繞設置於貼附區的外 並且將第一導線連接至電子元件(步驟210b)。 再將乜號輸出元件連接第一導線(步驟)。 後,將電壓汛號提供給第二導線(步驟23〇)。
如此即可透過^號輸出元件得之電子元件與貼附對象貼合 (步驟24〇)時是否有發生至對位偏移(步驟242)。換言之,若 發生對位偏移(即電子元件無晒象_時對賴移超出一既 定偏移量)時,由於電子元件與導記產生短路,因而將電壓 訊號傳輸至信號輸出元件(步驟25〇),進而致使信號輸出元件發 出一警示信號(步驟252)。若未發生對位偏移(即,電子元件與 貼附對象貼附時對位偏移未超出一既定偏移量或無偏移),則信號 輪出元件不會發出警示信號(步驟26〇)。如此一來,即可簡單且 準確地檢測出電子元件的對位偏移。 舉例來說,欲將一積體電路貼附至玻璃基板上,此電子元件 可為積體電路,而貼附對象即可為玻璃基板,導電標記則可由玻 璃基板上諸如銦錫氧化物之導電材料所组成。於此,係將積體電 路的凸塊貼附至玻璃基板的貼附區’第二導線可直接連接至積體 電路之一非功能性凸塊(dummy bump)。於此,電壓訊號可由積體 電路本身提供。亦可將第二導線的另一端連接至另一積體電路或 外部治具,來藉以提供電壓訊號給第二導線。 在另一實施例中,將一軟性電路板貼附至一印刷電路板上 1328123 時,此電子元件可為軟性電路板,而貼附對象即可為印刷電路板, 導電標記則可由印刷電路板上諸如鋼之導電材料所組成。於此, 係將軟性電路板的連接墊貼附至印刷電路板的軸區,因此第二 導線將連接至連接墊。第-導線可直接__電路板上的線 路。於此,龍喊可經由將第二導_另—端連接至積體電路 或外部治具,藉以提供電壓訊號給第二導線。 在-實施例巾,於電子元件無睛象貼合前,可先於貼附 對象的貼合區上貼附異向性導電膜(步驟235),再透過此異向性 導電膜而與電子it件相互貼附(步驟24G),如第7圖所示。 請再參照第8圖,亦可提健號勸耕以連鮮二導線(步 驟222 ),並將電壓訊號提供給第一導線(步驟232 )。 於電子元件無附對象貼合(步驟24〇)時,是若發生對位 偏移(即f子元件與朗縣貼㈣對位偏移超出—既定偏移量) 時’由於電子元件與導電標記產生短路,因而將訊號將依序 經由第H導電標記、電子元件及第二導線而傳輸至信號輸 出兀件(步驟250)’進而致使信號輸出元件發出警示信號(步驟 252)。 再參照第9圖’當發生對位偏移時,可根據電子元件與導電 標記的位置計算偏移量(步驟27G),再依據計算得之偏移量調整 電子元件與貼附對象的相對位置(步驟28〇)。 —雖然本發明以前述之較佳實施例揭露如上,然其並非用以限 疋本發明。任何熟習糊技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍 内’當可作些許之更動與潤飾。因此,本發明之專利保護範圍須 視本說明書觸之㈣專概_界定者為準。 12
丄J乙01ZJ 【圖式簡單說明】 裝置為根縣㈣—實關之1子元叙·偏移檢測 測裝置第之根據本發邮—實施例之電子元件之對位偏移檢 檢測裴 置^^意=_本發蚊另—實施狀電子元件之對位偏移 檢測裝第置4之圖=_她|細㈣爾之對位偏移 檢測縣發蚊^實補之電子林之對位偏移 方法據本㈣—實補之電付叙騎偏移檢測 =7圖係為根據本發明另—實施例之電子元件之對 測方法之流程圖; 第8圖係為根據本發明又另-實施例之電子元件 檢測方法之流程圖;以及 丁偏移 第9圖係為根據本發明又另一實施例之電子元件之對位 檢測方法之流程圖。 【主要元件符號說明】 100.............................. 附對象 102..............................貼附區 110.............................. 電標記 120.............................. 一導線 13 1328123 130..............................電子元件 132..............................第二導線 140..............................信號輸出元件 142..............................警示單元 150..............................偵測模組 160..............................計算模組
Vs...............................檢測信號
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Claims (1)
- I32&123;十、申請專利範圍 1· 一種電子元件之對位偏移檢測方法,用以檢測一電子元件貼附 至一貼附對象時的對位偏移狀態,該貼附對象具有一貼附區以 貼附該電子元件,且該貼附區之外圍設置有一導電標記,該檢 測方法包括: 連接一第一導線至該導電標記; 連接一第二導線至該電子元件; 連接一信號輸出元件至該第一導線; 提供一電壓訊號給該第二導線;以及 將該電子元件貼附至該貼附區,其中當該電子元件與該貼 附區發生對位偏移時,該電子元件與該導電標記產生短路,以將 該電壓訊號傳輸至該信號輸出元件而致使該信號輪出元件發出一 警示信號。 2.如請求項1之對位偏移檢測方法,其中該電子元件係為一積體 電路’其巾該貼附對祕爲—液晶顯示面板之—玻璃基板。 3·如請柄2之對絲移檢财法,其巾提·電舰號之步驟 包括: 由該積體電路提供該電壓訊號至該第二導線。 4. 如請求項3之對位偏移檢測方法,其中該第二導線係連接至該 積體電路之一非功能性凸塊。 5. 如請求項4之對位婦酬方法,其巾該麵峨雜由該非 功能性凸塊提供給該第二導線。 6· —3之對位偏移檢測方法,其中提供該雜訊號之 包括: 15 mm3 7. 8. 由一外部治具提供該電壓訊號至該第二導線。 如請求項1之對雜移檢_法,其中該電子元件係為一款性 電路板,該貼附對象為一印刷電路板。 導線係連接至該 如請求項7之對位偏移檢測方法,其中該第二 軟性電路板之一連接墊。 it::::檢·其中麵 1〇.如請求項9之對位偏移檢測方法,其中提電壓訊號之步辣 W 包括: 由-外部治具提供該電壓訊號至該第二導線。 11. 如請求項1之對位偏移檢測方法,更包括·· >根據該電子元件與該導電標記的位置計算—偏移量。 12. 如喷求項11之對位偏移檢測方法,更包括:. _依據該偏職該電子元件與賴睛象_對位置。 13. -種電子元件之對位偏移_方法,肋檢測—電子元件貼附 至一貼附縣時_位偏移織,該貼晴象具有—貼附區以 貼附該電子元件,且該貼附區之外圍設置有一導電標記,該檢 測方法包括: 連接一第一導線至該導電標記; 連接一第二導線至該電子元件; 連接一信號輪dj元件至二導線; 提供—電壓訊號給該第一導線;以及 。將該電子元件軸至馳_,其巾當該電子元件與該貼 附區發生對位偏料,該電?元件與該導電標記產生短路,以 16 1328123 . · · · . . · 職電>1訊麟輪至該錄細元細紐該健輸出元件 發出一警示信號。 14·如„月求項is之對位偏移檢測方法,其中該電子元件係為一積 體電路’舰附對⑽爲i晶顯示面板之—玻璃基板。 15·如請未項14之對位偏移檢測方法,其中該第二導線係連接至 該積體電路之一非功能性凸塊。 16.如請求項13之對位偏移檢測方法,其中該電子元件係為一軟 性電路板,該貼附對象為一印刷電路板。 • 17.如明求項16之對位偏移檢測方法,其中該第二導線係連接至 該軟性電路板之一連接墊。 18. 如請求項13之檢測方法,更包括: 根據該電子元件與該導電標記的位置計算一偏移量。 19. 如請求項18之對位偏移檢測方法,更包括: 依據該偏移置調整該電子元件與該貼附對象的相對位置。 20. -種電子元件之對位偏移檢測裝置,用以檢測一電子元件點附 至一貼附對象時的對位偏移狀態’該貼附對象具有-貼附區以 看 貼附該電子元件’該檢測裝置包括: —導電標記,位於該貼附區的外圍; 一第一導線,連接該導電標記;以及 一第一導線,連接該電子元件,用以接收一電壓訊號,藉 此§該電子元件貼附至該貼附區且發生對位偏移時,該電子元 件與該導電標記產生短路而致使該電壓訊號傳輸至該導電標 記。 21.如請求項20之對位偏移檢測裝置,其中該導電標記係環繞於 17 1328123 該貼附區之外圍。 22.如請求項21之對位偏移檢測裝置,更包括: 一:信鶴航件’連接該第—導線,該輸出元件包含一 :示單元其+電子元件貼附至該貼附區且發生對位偏移 時,該電遷喊致使該警示單元發出—警示信號。 23·如明求項22之對位偏移檢測裝置,其中該警示單元係為一指24.如明求項22之對位偏移制裝置,其巾該警示單元係為一锋 鳴器。. 25·如請求項22之對位偏移檢測裝置,更包括: 、外部/σ具’連接該第二導線,用以提供該電壓訊號給該第 其中該電子元件係為一積 26.如請求項2〇之對位偏移檢測裝置 體電路。 27·如請求項26之對位偏移檢測裝置,其中該積體電路包括: 一非功能性凸塊,連接該第二導線。 28.如請求項27之對位偏移檢測裝置,其中該電壓訊號是由該積 體電路提供至該第二導線。 29·如明求項2G之對位偏移檢測裝置,其中該電子元件係為一軟 性電路板。 30·如明求項29之對位偏移檢測裝置,其巾練性電路板包括: 一連接墊,連接該第二導線。 31.如請求項2〇之對位偏移檢測裝置,更包括: 一外部治具’連接該第二導線,用以提供該電壓訊號給該第 18 1328123 二導線。 32.如請求項20之對位偏移檢測裝置,更包括: 一偵測模組,用以偵測該電子元件與該導電標記的位置;以 及 一計算模組,電性連接該偵測模組,用以依據該電子元件與 該導電標記的位置計算一偏差量。19 I328123; Λ«修(更)正替換頁 七、指定代表圖: (一) 本案指定代表圖為··第(3 )圖。 (二) 本代表圖之元件符號簡單說明: 102..................貼附區 110..................導電標記 120..................第一導線 130..................電子元件 132..................第二導線 140..................信號輸出元件 142..................警示單元 Vs..................檢測信號 八、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學式:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW96121186A TWI328123B (en) | 2007-06-12 | 2007-06-12 | Method and device for inspecting a misalignment of an electronic element |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW96121186A TWI328123B (en) | 2007-06-12 | 2007-06-12 | Method and device for inspecting a misalignment of an electronic element |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW200848756A TW200848756A (en) | 2008-12-16 |
| TWI328123B true TWI328123B (en) | 2010-08-01 |
Family
ID=44823950
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW96121186A TWI328123B (en) | 2007-06-12 | 2007-06-12 | Method and device for inspecting a misalignment of an electronic element |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| TW (1) | TWI328123B (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015149451A (ja) * | 2014-02-07 | 2015-08-20 | デクセリアルズ株式会社 | アライメント方法、電子部品の接続方法、接続体の製造方法、接続体、異方性導電フィルム |
-
2007
- 2007-06-12 TW TW96121186A patent/TWI328123B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW200848756A (en) | 2008-12-16 |
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