TWI323889B - Pick-up head and disk device - Google Patents

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16284pif.doc 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 有關通過改變傾斜度以及水平移動固定物鏡的透鏡 架，使來自光源的記錄讀取用雷射光束照射到光碟上進行 資訊的記錄讀取的光拾取頭裝置。 【先前技術】 ±光拾取頭裝置是通過照射到光碟的記錄面上的記錄 言買取用雷射光束進行資訊的記錄讀取。此時，為了實現^ 精度地記錄讀取’使記錄讀取用雷射光束聚焦到光碟的: 鏡需要與光碟保持平行。因此，物鏡在製造過程中是被高 精度地安裝上的。例如，下述專利文獻丨中公開了能夠= 精度地調整物鏡的安裝傾斜度的物鏡傾斜馬達裝置。其g 置疋把光照射到物鏡的邊緣部分，通過其反射光的強度和 返回的位置檢測出物鏡的傾斜程度。由此，能夠實現高精 度地安裝物鏡。 、° > 然而，即使物鏡被高精度地安裝上了，但是由於光碟 本身的翹曲（Radiai skew)等原因，也會出現物鏡和光碟 之間不平行的現象。因此，在改變物鏡的傾斜角的同時對 光碟記錄後的區域進行測試照射，把獲得讀取品質優於基 準值時的傾斜角作為基準傾斜角記憶下來，根據這個記憶 ^基準傾斜角’採用傾斜補償對物鏡的傾斜角進行調整。 =樣’即使光碟上出現翹曲等現象，物鏡與光碟之間仍然 此夠保持平行’從而能夠提高資訊記錄讀取的可靠性。 [專利文獻1]特開2000-57585號公報。 6 16284pif.doc (90〇b.uzr--- 年月日修胃 然而，以往這個基準傾斜角度是以改變物鏡傾斜度的 驅動裝置上施加的電壓值記憶下來的。驅動裝置是分別在 物鏡的左右兩側垂直方向施加推力的二個電磁圈。當光拾 取頭裝置在光碟的半徑方向上作尋執等操作，物鏡在徑向 方向發生移動時，電磁圈產生的推力中心與透鏡架的結構 重心會出現偏差，即使施加同樣的電壓值，傾斜角度也會 改變。也就是說，出現了施加的電壓值和傾斜角度之間的 對應關係不一致的現象。因此，即使施加上所記憶的電壓 值，物鏡也不能處在基準傾斜角上，而發生記錄讀取精度 降低的問題。 又 【發明内容】 因此，本發明的目的是提供一種能夠進一步提高記錄 讀取精度的光拾取頭裝置。 本發明的光拾取頭裝置是一種通過改變傾斜度以及 水平移動蚊減的透驗絲自統的賴讀取用 光束照射到辆上’錢行纽的記錄讀取的光拾 置，其特徵在於包括：設置在魏架上，反射自光源射向、 透鏡架的記錄讀取用雷射光束中—部分光的反射體、 體上反射的記錄讀取用雷射作為檢出用反射光， 射光的&光量是在能對應錢架的麟肖變化的 測出” i設ΐ的光檢出裝置、以及根據光檢出I置檢： 出的文光里取得物鏡傾斜角的傾斜角取得裝置。、 作為-種適當的形式，傾斜角取得裝置是 出裝置檢測出的受光量中，去掉因透鏡架水平移動 16284pif.doc -- 年月日修正替換頁 ________i 的測㈣受光量的變化部分’來取得傾斜角。最好是 trl用雷射光束具有已知的不均勻的光強度分佈，傾 二取付裂置疋從水平移動所弓丨起的檢出用反射光整體的 光強ΐ變化巾，取得透鏡架水平移動所引起的級測器的 又光量的變化部分。 一種適當的形式是設定記錄讀取用雷射光束的光 大於物鏡的孔徑，反射體設置在反射沒有入射到物 f上的記錄讀取用雷私束驗置上。最好是透鏡架上有 ^限制入射到物鏡的記錄讀取用雷射光束的絲直徑的孔 k限制益，反射體設置在孔徑限制器上。 另種適g的开> 式是光碟上反射的記錄讀取用雷射 二/·作為仏唬光，信號光的光路徑與檢出用反射光的光路 t同-個方向上，反射體相對於入射光傾斜設置，使檢 用反射光略微偏離信號光，並射向光檢測器。 其，適當的形式有：使信號光具有與入射光不同偏光 使檢出用反射光與信號光具有相 二光角度的反射光偏光裝置；根據偏光角度把入射光、 S光^檢_反射光的光路徑方向分離的偏光光束分 射=°另—種適當的形式是反射體的反射面相對於構成反 後！Γ本身的構成面呈傾斜狀態，反射體的反射面呈複數階 條狀。 另外’本發明的光碟裝置是使用光拾取頭裝置把記錄 ^置用t射光束照射到光碟上，進行資訊記錄讀取的光碟 包括.上述任意—種光拾取頭裝置、通過對光碟進 1323889 16284pif.doc (960852) 年牙日修正替&胃 行檢測照射’把達到規定的基準讀取品質時的透鏡架的傾 斜角作為基準傾斜角記憶下來的記憶裝置、根據記憶裝置 上記憶的基準傾斜角和當前透鏡架的傾斜角之間的差值， 驅動控制透鏡架到基準傾斜角的控制裴置； 取頭裝置的取得傾斜角的裝置取得基準傾斜 鏡架的傾斜角。這裏，規定的基準是指抖晃參數Gitter)、 出錯率(error rate)等表示讀取品質的參數值在“規定的基準 值以上”，並且包括“最佳，，值。 本發明因為能夠準確地取得物鏡的傾斜角，所以能夠 提高資訊的記錄讀取品質。 【實施方式】 以下，參照圖示對本發明的實施形式給予說明。首 先’對本發明的基本原理給予說明。圖1是光拾取頭裝置 10的結構略圖。 眾所周知，光拾取頭裝置1〇是通過未在圖中表示出 的光源射出的記錄讀取用雷射光束經物鏡14聚焦照射到 光碟12的記錄面上，以進行資訊的記錄或讀取。在光碟 12的記錄面上反射的記錄讀取用雷射光束作為含有資訊 的信號光25返回，在光束分離器21等光學系統中以與入 射光不同的光路徑通過，由受光部20上設置的光檢測器接 受。並且，光碟12可以是CD士R/RW、DVD士R/RW、 HD-DVD、BLU-RAY 等。 物鏡14配置在與光碟12相對的位置上，由透鏡架16 固定。通過未在圖中表示出的驅動器控制，透鏡架16可以 9 16284pif.doc 16284pif.doc 年月 日修正替換頁 水千私動、垂直移動、以及 這裏，為了要獲得高度0 上雷射光束的光轴要盘光碑取品質，照射到光碟12 和光碟12之間需要3^直:換句話說，物鏡Η HD彻、助撕：仃碟特別是對於麵、 束是短姑具古度先碟，記錄讀取用雷射光 增加有很大、影響 小傾斜都會對慧形像差(―的 在為主的光拾如綠置㈣各個部件 度安裝的1而’即使高精度地安裝 平行性不向傾斜等原因，與物鏡14之間的 光碑12 的縣也會出現。這種徑向傾斜的程度隨 Υ而不同，不能約統—對應。因此，為了對應 的徑向傾斜，™直是採用使物鏡14向徑向 Β傾斜呆持與θ光碟12之間平行性的傾斜補償技術。 位、厂^貝技術疋為了達到預先記憶的基準傾斜角的 ^置^改變物鏡Μ的傾斜裎度。這個基準傾斜肢在初 變物鏡_斜㈣同時’通過用記錄讀取用雷射 、♦ +光碟12的記錄後區域進行照射，做測試讀取來取得 ^。根據賴讀取的結果’把·最佳或規絲準值以上 項取品質時的傾斜角作為基準傾斜角。另外，對於 fD-DVD’可以用執溝SCM的讀取代替記錄後區域的資訊 -貝取。時，最佳讀取品質是指内圈軌溝scm的讀取輸 出值，外®執溝SCM的讀取輪出值相同，規定基準值以 上的讀取品質是指兩個讀取輸出值的差在容許值以内。 16284pif.doc X9W87CTZ) 年月日修正替換頁 這裏，要通過傾斜補償技術提高記錄讀取品質，記憶 下的基準傾斜角必須與資訊記錄讀取時檢測出的實際傾^ 角一致。所以很明顯，必須準確地檢測出傾斜角。因此， 本實施形式通過設置以下將要說明的反射體以及檢出用光 檢測器等部件，進行物鏡傾斜角的檢出。以下，^此給 說明。 、… 為了檢測出傾斜角，本實施形式在透鏡架16上設置 了由鏡面等構成的反射體18。這個反射體18只要能=反 射入射到透鏡架16的記錄讀取用雷射光束，即入射=射光 束22中的一部分，其位置以及大小沒有特殊限制。^是為 了不妨礙資訊的域讀取·，設置在反料訊的記錄讀取過 f呈中沒有被利用的入射雷射光束22的位置上為佳。具體地 說，使入射雷射光束22的光束直徑大於進入物鏡14的入 射孔徑’設置在能夠反射入射雷射光束22中外圈光的位置 上為佳。並且，反射體18的個數可以是—個，也可以是數 個’以數個分散設置為佳。 ^傾斜角的檢出時，這個反射體18反射的記錄讀取用 田射光束作為檢出用反射光24使用。檢出用反射光24通 過偏光光束分離器21等光學系統，使其光路徑得到控制 後，由受光部20上設置的檢出用光檢測器接受。 這裏，檢出用反射光24的光路徑與光碟12上反射的 k號光25的光路徑基本在相同方向上為佳。因為在相同方 ^上，所以可以把資訊讀取用檢測器和檢出用光檢測器設 且在相近的位置上，在能簡化光拾取頭裝置丨〇整體的蛣構 16284pif.doc (9108为°2)日修正替換頁 的同％ ’减㈣小型化的效果。但是，從防止伴 5 射，見在一起發生串擾的觀點上來；，檢出 ，24的光路徑相對於信號光25的光路徑鑛偏向 向方向的外側為佳。這種情形可以通過把反射體18的反 射面向徑向方向的外側傾斜來實現。另外根據情況，信號 光25的光路徑和檢出用反射光24的光路徑可以完全不^。 。。檢出用光檢測器是接受檢出用反射光光檢測 益。檢出用光檢測器是相應於透鏡架16的傾 在檢出用反射光24的受光量變化的位置上度當$ 體18是數個時，也就是說，檢出用反射光以有幾束時， 檢出用光檢測器也要一一對應檢出用反射光24的數個設 =為，。而且，雖然與每一個反射體18相對應的檢出用光 檢測器可以是單—的光檢㈣，但是以數鱗分割的光檢 測器為佳。 檢出用光檢測器上檢測出的光強度轉變成電信號 後，輸出到未在圖中表示出的演算部。演算部具有取得傾 斜角的功能，根據檢測出的光強度變化計算輸出物鏡的傾 斜角。這個傾斜角的計算原理在圖2(A)〜圖2(c)中說明。 圖2(A)〜圖2(C)是透鏡架16的傾斜程度與檢出用光檢測器 26上檢測出的光強度之間關係的示意圖。圖中，上側表示 的疋入射雷射光束22的光強度分佈，中間表示的是透鏡架 1^6傾斜的樣子•’下側表示的是檢出用光檢測器26的檢測 又光位置。這裏，檢出用光檢測器26是以分別對應各個反 射體18的形式設置。並且’圖例中各個檢出用光檢測器 12 T7W02)- 年月日修正替換頁 1323889 16284pif.doc 26採用的是二等分光檢測器形式。以下，各二等分光檢測 器中内圈位置上的光檢測器片（圖中的J，L)稱為‘内圈 檢測器’，外圈位置上的光檢測器片（圖中的K，M)稱為 ‘外圈檢測器’。 透鏡架16處於水平狀態時（圖2(A))，入射到反 射體18的入射雷射光束被垂直地反射出，檢出用光檢測器 26受光。一方面，當透鏡架16向外圈傾斜時（圖2(B))， 檢出用反射光24的光軸傾斜，靠内圈位置上的檢出用光檢 測器受光。因此，這個時候和水平的時候相比，内圈檢測 器J，L的受光量增大，外圈檢測器K，Μ的受光量減少。 另一方面，當透鏡架16向内圈傾斜時（圖2 (C))，檢 出用反射光24在偏向外圈的位置被接受。換句話說，這個 時候和水平的時候相比，内圈檢測器J，L的受光量減少， 外圈檢測器Κ，Μ的受光量增大。 也就是說，透鏡架16的傾斜角由各光檢測器片上受 光量的變化反映出來。這時，如果透鏡架16的水平位置沒 有變化的話，照射在反射體18上的記錄讀取用雷射光束的 光強度也沒有變化，所以各個光檢測器檢測出的光強度變 化可以直接視為受光量的變化。 演算部是根據傾斜角和受光量的變化之間的關係計 算輸出傾斜角。但是，各光檢測器片上的受光量不僅隨透 鏡架16的傾斜而變化，而且也隨透鏡架16在徑向方向上 的水平移動而發生變化。所以，演算部要去掉透鏡架16 的水平移動所引起的檢出用反射光24的受光量變化部分 13 1323889 16284pif.doc (9608^)2) Θ修正替換頁 後，來計算傾斜角。對此將使用圖3 (Α)〜圖3 (c)給 予說明。圖3 (A)〜@ 3 (C)表示的是透鏡架16在徑向 方向上的水平移動與移動時檢出用光檢測器％上檢測出 的光強度之間的關係。 由圖3⑷〜圖3⑹可知，在透鏡架“發生水平 移動時，。當然檢出用反射光24的返回位置會發生變化，各 光檢測器片上檢測出的受光量也發生變化。因此，在透鏡 架16水平移_情況下，僅根據各光檢測^上檢測出的 光強度變化，不能夠檢測出透鏡架16的傾斜角。、 然而’通常入射雷射光束22是具有高斯分佈等不均 句先強度分佈。因此，在透鏡架16發生水平移動時，照射 糾㈣度也會發生變化，料檢—反射光 Λ先強度也會發生變化。也就是說，根據各個檢出 整體的光強度變化，可以得出由水平移動而引 光24 錢化。細_反射光 =Γ 圈檢測器J，L以及外圈檢測器κ， Μ核測出的光強度的總和。 2算部根據各個光檢測器片檢測出的光強度，通過在 =個U用反射光24整體的光強度的基礎上加上修正 =從而可以取得更準柄傾斜角。具體的傾斜角計算公 式有弄多種形式，例如可以採用下面的公式。

Angle = ( (J-K) + (L-M) )+k( (J+K) _ (L+M) }( ’ M是各光檢測器月上檢測出的光強 14 1323889 16284pif.doc τη 曰修正替換頁 度值，k為修正係數。這個修正係數k的取值， 16沒有發生傾斜並且透鏡架16在水平移動的狀離下（圖3 ⑻，圖3⑹的狀態），使Angle=〇為佳。^樣設定 修正係數k之後，則可以判斷當Angle> 〇時為向外圈傾斜 (圖2义的狀態）’Angle<〇時為向内圈傾斜（圖2 (C)的狀態）°當然也可以使用公式⑴以外的公 算傾斜角。此外’使用各檢出用反射光整體的光強度以外 的方式檢測出水平移動量，在各光檢，片上檢測出的光 強度變化上加上對應於此檢測出的水平移動量的修正值也 是可以的。 下面，對具有利用這個原理的光拾取頭裝置的本實施 形式中的光置30給予說明。圖4表示 _ 30的整體結構方塊圖。 碟裝置 光碟32由未在圖中表示出的主軸馬達驅動旋轉。光 拾取頭裝置34設置在與此柄32相對的位置上，通過在 光碟32的表面上照射記錄讀取用雷射光束進行資吼的記 錄或讀取。資訊記錄時’記錄資訊由控制器科提供給碼 器82。編碼器82對提供的資訊進行編碼，並輸出到光源 驅動部⑽。錢,_部8G生成職於記錄:纽的驅動^ 號’來驅動光拾取頭裝置内部的光源。 資訊讀取時，光拾取頭褒置34的受光部上接收到的 讀⑽號被輸出到信號處理部90，進而實行大家所熟悉的 RF信號處理、二值化處理以及PLL同期處理等。在這享 生成尋執錯誤信號、聚焦錯誤信號以及RF信號等。2些 15 16284pif.doc Γ(9Γ^Γ2Ϊ- 年月日修正替換頁 信，被輸出到驅動控制部92。並且，RF信號被輸出到解 碼益88’經解碼後作為讀取資訊輸出到控制器84。控制器 84把來自解碼器88的解碼資訊通過輸入輸出介面沾： 到個人電腦等的上層裝置。 ’ 驅動控制部92發出指令驅動光拾取頭裝置34内部的 透鏡^件，，使光拾取頭裝置的尋執錯誤信號和聚焦錯誤信 號為零。並且，驅動控制部92還從光拾取頭裝置34中^ 出當前透鏡元件的徑向方向的傾斜角，即實際傾斜角。驅 動控制部92把這個實際傾斜角和下述的記憶部94中記憶 的基準傾斜角相比較，發出指令驅動透鏡元件改變傾^ 角，使這兩者的差為零。 W' 記憶部94中記憶了通過測試照射所取得的基準傾斜 角。基準傾斜角是在改變透鏡元件的傾斜角的同時，對光 碟^記錄後的區域進行職照射，根制試讀取的品質來 確定的。也就是說，把獲得最佳讀取品質時的傾斜角作為 基準傾斜角記憶下來。“，光碟32 _斜補償量從光碟 内圈到光餅_漸㈣。為此，鱗傾斜肖要在光碟％ 半徑上幾個不同的位置取值。因此，記憶部94中記"數 個基準傾斜角‘，以及獲取各基準傾斜㈣半徑上的相關位 置。廷種事先㈣基賴斜角的裝置使得即使絲％的傾 斜補偾存在的情況τ，仍然可以獲得良好的記錄讀取品質。 然而，基準傾斜角也可以從對光碟的記錄後區域進行 測試照射以外的裝置取得。例如，對於.爾，可以利 用記錄面上賴的舰校正魏（SCM)絲得基準傾斜

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Ltrj 元件傾斜角的同時，對光碟進 的讀取輪出量相同時的傾斜角作為 早1貝斜角圮憶下來的裝置也是可行的。 說明:個f裝置30的光拾取頭裝置34做詳細 圖64:=::=:冓略;。另外， 裝置34 Φ八義… 〕側面不思圖思個光拾取頭 束分 各:^t;取頭裝置34具備有㈣光源，辆36、38。從 = ===合波棱鏡等數個光“置ί 有物鏡心及丄5r等;受。 =由數個電構成__ ^鏡辑40 斜:r水平移動移= 極體=^。波長領域雷射的藍先雷射- 雙波長雷射：色(=(=長領 —極體。從這些光源36、38 ^ 乂兩種雷射 :狀的不均勾光強度分佈。巧有高斯分 的擴散光射出。 為具有一定擴散程度 作為入射雷射光束從各光源36,38射出的雷射光束 16284pif.doc (9608.02) 牟月曰修正替換頁 經過合波棱鏡46’其光路徑合成在一起。因為合波棱鏡牝 的合波面上热著有反射藍色波長領域的光，而容許紅色波 長領域以及紅外波長領域的光透過的光學膜 ，所以合波面 設置在和從各光源36、38射出的人射雷射光束的光轴成 35度角的位置上。從這個合波棱鏡46透過或反射的入射 雷射光束經過准直儀48變成平行光。並且，光束經鏡面 49後，垂直向上射向物鏡41。 射向物鏡41的入射雷射光束經過設置在透鏡架56下 部的1/4波片60由直線偏光變成圓偏光後，入射到物鏡 41 °經物鏡41聚焦的入射雷射光束照射到光碟32的記錄 面’進行資訊的記錄或讀取後，根據資訊的有無而被調製 反射回來。反射回來的雷射光束作為資訊光，經過鏡面49 以及ό波棱鏡46反射，通過和入射時大致相同的光路徑反 白行進。然後’經設置在藍光LD36和合波棱鏡46之間的 偏光光束分離器5〇反射，射向受光部42。偏光光束分離 器50根據偏光特性使光束反射或透過。資訊光能夠被偏光 光束分離器50反射是因為入射和返回時各經過1/4波片 60 一次，相對於Ρ偏光的入射雷射光束，資訊光變成了偏 光方向旋轉了 90度的S偏光。 受光部42上配置有接受信號光用的數個光檢測器。 廷些光檢測器檢測出的信號光的光強度轉變成電信號輪出 到信號處理部9〇。另外，受光部42上還配置有下面將要 δ 兒明的接受檢出用反射光用的檢出用光檢測器。 透鏡元件40由驅動透鏡元件40的驅動器、物鏡41 1323889

16284pif.doc = ==41的透鏡架56等構成。這個透鏡元件40 '' 支架53支撐。這樣，通過改變吊線53的$ 狀，使透鏡元件40的*正梦叙、击古分& 改傲m处 勺尺千私動t直私動、以及傾斜度的 父成為了此。驅動器44上設置的電磁圈通電時盘支竿 5互3:的電磁電路（未在圖中示出）發生電磁相 互作用，所產生電磁力使吊線51變形。 此驅動器44具有給透鏡元件4〇施加 聚焦用驅動器52 魏古推力的 54。聚隹魏^ ^ ^讀方向推力料_驅動器 L用·_态52是由設置在徑向方向2 圈構成。通過在2個雷斑園卜士 μ丁门l似相耶的电磁 诵M W * 不同的電壓，也就是說， ，在2個電磁圈上產生不同大小的推力，可以使透锖开 件40改變傾斜度。 』以使透鏡το 物鏡41由透鏡架56固定。透鏡架56由支 和Μ波片6〇構成。如上所述，因為1/4波支座=8 1/4波片60設置在透鏡=二 ==斜。這個1/4波片60上有形成在其底面: 的波長選擇性孔徑限伽（未在圖 限制射入物鏡41的人射 =仗而具有 器的功能, *的7^束直從的孔徑限制 /皮長擇孔徑限制膜是隨波長不同而限制、类 過孔㈣光學薄膜，為了在 J而限制透 束直^而軸在1/4波片6G的底面上長下㈣所期望的光 入射:frf波長選擇性孔徑限制膜的理由如下。為了伟 光束在光碟32上有效地聚焦，物鏡圈了， 強度（邊緣強度）需要在—定的強度以上。為此， 19 1323889 16284pif.doc :年月ET修正蚌$.·，ί 用比實際所需要的光束直徑大的入射雷射光束照射，其光 束直徑由波長選擇性孔徑限制膜限制。並且，光束直徑隨 波長不同而改變是為了獲得對應於照射雷射光束波長的適 當的數值孔徑（ΝΑ)。 本實施形式中，在這個孔徑限制膜上設置有反射鏡 62。用圖7 ( A)〜圖7 (C)對此反射鏡62給予說明。圖 7 (A)為透鏡元件40的下方示意圖，圖7(B)是圖7(A) 中的A-A剖面圖，圖7 ( C )是圖7 ( A )中的B-B剖面圖。 反射鏡62是一個反射被波長選擇性孔徑限制膜限制，而沒 有入射到物鏡41的一部分入射雷射光束的部件，由1/4波 片膜和反射膜層疊構成。1/4波片膜與1/4波片相同，是使 透過光偏光的光學薄膜（例如，由液晶高分子聚合物製成 等）。因此，經這個反射鏡62反射的反射光變成相對於入 射雷射光束具有90度相位差的S偏光。所以由此，反射 光在偏光光束分離器50上被反射’而能夠和信號光通過相 同的光路徑。 此反射鏡62在徑向方向上分開設置了 2個。並且， 雖然由反射鏡62形成的1/4波片60是傾斜配置的，但是 反射鏡62的部分是由許多臺階狀的水平的反射面形成 的，如圖7 (C)所示。 反射鏡62上反射的雷射光束作為檢出用反射光和光 碟上反射的信號光一起被受光部42上配置的光檢測器接 受。這個檢出用反射光的光路徑在圖5中用粗黑線表示。 圖8 (A)是受光部42上光檢測器的配置例示意圖。 20 (90 0&02 厂--> 年月日修正_胃

16284pif.doc ^檢測器分為檢測信號光用的光檢測器即信號用檢測器 ，以及接X檢出収射光的光檢測•檢錢光檢測器 66 ° 信測器6'是由接受信號光的4等分的光檢測 °° 、並且，採用差分推挽法進行資訊的記錄讀取 時’在4等分的光檢測器64a的切向方向的兩侧配置有2 等分的光檢測器66b和66c。 檢出用光檢測器66是由兩個2等分的光檢測器_、 66b構成’並設置在信號用檢測器64的徑向方向的兩側。 各2等分的光檢測器66a、66b接受各反射鏡&反射的檢 出用反射光。然後，各光檢測器片j、K、乙、M上檢測出 的光強度被輸出到未在圖中表示的演算部。演算部根據輸 出的光強度计异出傾斜角。這個傾斜角是依據用圖2(Α)〜 圖2(C)、圖3(A)〜圖3(C)說明的基本原理計算出的。 即’輸出的是由公式（1)計算出的傾斜角。 然而，如圖8 (Β)所示，也可以使用斜向分割的光 檢測器66c、66d作為檢出用光檢測器66。斜向分割方式 使和當檢出用反射光大幅度移動時，各光檢測片仍然有受 光的可能，因此能夠取得準確的傾斜角。並且，光檢測器 的形狀採用徑向方向長的形狀時，可以增加接受檢出反射 光的可能的範圍’從而能夠確保取得傾斜角。 這長所計异出的傾斜角是基於反射鏡62上反射的檢 出用反射光的移動狀態。如上所述，反射鏡62是與物鏡 41連在一體移動。因此，根據反射鏡62上反射的檢出用 1323889 16284pif.doc 動f態取得的傾斜角可以說是正確地反映了物 夠取得準•角:還= =角因Γ=部計算出傾斜角能夠實現良好的二 補仏目而，&夠提高資訊的記錄讀取品質。 =檢出用反射光是記錄讀取用雷射光束(入射雷 护成的。又有0射到物鏡的那部分雷射光束被反射後 ，不需要為檢測傾斜角而設置新的光源，就 月匕夠間早地取得傾斜角。並且， 件，所以還可以防止光碟裝置3G的大型化不而要新w 雖f，這裏舉例說明了通過取得物鏡徑向方向的傾 ^來^動控制透鏡架，但是也可以把反射體的位置移動90 又、過取得切線方向上的傾斜角來實現驅動控制。 Μ 對作為另一種實施形式的全息型光拾取頭裝置 此^1 Γ °圖9是全魅光拾取頭裝置34的結構略圖。 =像=取頭裝置34雖然具有由藍色波長領域二 ，70、偏光光束分離器76以及光檢測器 ΞΖ?6:，㈣基本上與上述的實施形= H π 68疋發射監色波長領域雷射光束的藍色 ΐ哭曰7曰2及偏光光束分離器％、全像元件74、光檢 置反全像㈣棘媽置，也是在透辦56上設 兄纟且通過置接受反射鏡上反射的檢出用反 1323889 16284pif.doc 年月日修正替換頁 射光的檢出用光檢測器，_出物鏡41的傾斜角。 也就疋5兒，即使是全像型光拾取頭裝置，也可以檢測 出準確的傾斜角’彳<而能夠提高資訊的記錄讀取品質。並 且，採用全像元件可以使裝置整體小型化。 以下用圖10對另外_種實施形式給予說明。圖10是 =外-種實施形式的光拾取頭裝置34的下視略圖。圖10 中^反射光的光路徑_黑線表示，錢糾光路徑用 點J表：。此光拾取頭裝置34中，反射鏡62的 向的外側傾斜。_，檢出収射光的光路徑相對 檢出用反射光和信號光猶微分開，可以防止 ?反射光之間串擾，從而能夠確保取得準傾°角、双 【圖式簡單說明】 貝斜角。 圖 圖1是本發明實施形式中的光拾取頭裝置的結構略 圖2(A)〜圖2(c)是本發明的基本原理示意圖。 圖3(A)〜圖3(C)是本發明的基本原理示意圖。 圖4是本發明實施形式中的光碟裝置^構^ 圖5是光拾取頭裝置的結構略圖。 、忍圖。 意圖 圖6是光拾取頭裝置中透鏡元件周圍的示音 圖取)〜圖7(C)是光拾取頭裝置中透鏡元^詳細干 圖8(A)〜圖8(B)是光檢測器的配置例的示土 …另-種實施形式中的光拾取戦二結構略 23 1323889 16284pif.doc (?5〇§0〇2)' ^ s 年月3修正替迄 圖。 圖10是另一種實施形式中的光拾取頭裝置的結構略 圖。 【主要元件符號說明】 10、34 :光拾取頭裝置 12、32 :光碟 14、41 :物鏡 16、56 :透鏡架 18 :反射體 20、42 :受光部 21 :偏光光束分離器 22 :入射雷射光束 24 :檢出用反射光 25 :信號光 26、66 :檢出用光檢測器 30 光碟裝置 • 40 透鏡元件 - 44 驅動器 ' 46 合波棱鏡 48 準直儀 49 鏡面 50 偏光光束分離器 60 1/4波片 62 反射鏡 24 1323889

16284pif-doc 年月日修正替換ΐί 64 :信號用檢測器 68 :藍光全像元件 25

Claims (1)

16284pif.doc 爲第9伽94號中文 f 8日修正替換頁 1^^期:卯年9月8 十、申請專利範圍： 光拾取頭裝置，通過改變傾斜度以及水平移動 射μ透鏡架，使來自光源的記錄讀取用雷射光束照 ' ，進行資訊記錄讀取，該光拾取頭裝置包括： 射體’设置在透鏡架上，反射自統射向透鏡架的 §己錄#買取用雷射光束中一部分光； 光檢出裝置，固定設置於當反射體上反射的記錄讀取 田射作為檢出用反射光時，檢&肢射光的受光量是對 應透鏡架的傾斜角而變化的位置；以及 傾斜角取得裝置，根據光檢出裝置檢測出的受光量 中’去掉因透鏡架水平移動所引起的光檢測器的受光量的 變化部分，來取得物鏡傾斜角。 2二如申請專利範圍第1項所述的光拾取頭裝置，其中 §己錄讀取用雷射光束具有已知的不均勻的光強度分佈，傾 斜角取得裝置是從水平移動所引起的檢_反射光整體的 光強度變化中’取得透鏡架水平移動所引起的光檢測器的 受光量的變化部分。 3.如申請專利範圍第1項或第2項所述的光拾取頭裝 置’其中設定記錄讀取用雷射光束的光束直徑大於物鏡的 孔控’反射體設置在反射沒有入射到物鏡上的記錄讀取用 雷射光束的位置上。 4.如申請專利範圍第3項所述的光拾取頭裝置，更包 括透鏡架上有能限制入射到物鏡的記錄讀取用雷射光束的 光束直徑的孔徑限制器，反射體設置在孔徑限制器上。 26 1323889 16284pif.doc

日修正替換頁

5. 如申請專利範圍笫1項所述的光拾取頭裝置，其中 光碟上反射的記錄讀取用雷射光束作為信號光，信號光的 光路徑與檢出用反射光的光路徑在同一個方向上，且反射 體相對於入射光傾斜設置，使檢出用反射光略微偏離信號 光，並射向光檢測器。 6. 如申請專利範圍第5項所述的光拾取頭震置，更包 括： 信號光偏光裝置，使信號光與入射光具有不同的偏光 角度； 反射光偏光裝置，使檢出用反射光與信號光具有相同 偏光角度的；以及 根據偏光角度把入射光、信號光以及檢出用反射光的 光路徑方向分離的偏光光束分離器。 7. 如申請專利範圍第1項所述的光拾取頭裝置其中 反射體的反射面相對於構成反射體本身的構成面呈傾^狀 態’反射體的反射面呈複數階梯狀。 8. -種光碟裝置，使用光拾取頭裝置把記錄讀取用雷 射光束照制光碟上，崎㈣記錄讀取，該光碟裝置包 括： 光拾取頭裝置，如申請專案第1項至第7項中任音-項所記述； ^ ，憶裝^通過對光碟進行檢測照射’把達到規定的 ，準讀取“時的透鏡架的傾斜角作為基準 來；以及 27 1323889 16284pif.doc

修正替換頁 控制裝置，根據記憶裝置上記憶的基準傾斜角和當前 透鏡架的傾斜角之間的差值，驅動控制透鏡架到基準傾斜 角，其中通過光拾取頭裝置的取得傾斜角的裝置取得基準 傾斜角以及當前透鏡架的傾斜角。

28 1323889 16284pif.doc (900^02) 年月日修正替換頁 七、 指定代表圖： (一） 本案指定代表圖為：圖2 (二） 本代表圖之元件符號簡單說明： 16 :透鏡架 18 :反射體 24 :檢出用反射光 26 :光檢測器 八、 本案若有化學式時，請揭示最能顯示發明特徵 的化學式： 無