TWI314641B - Apparatus for detecting the orientation of polarization axis and the method thereof - Google Patents

Description

1314641 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一種偏振光軸檢測裝置及其檢測方 法，尤指一種利用發光二極體多色光源轉盤，配合一可旋 轉檢偏振片之檢測裝置及其檢測方法’措由偵測該檢偏振 片與待檢測偏振元件偏振光軸一致時之角度，可得知該待 檢測偏振元件偏振光軸，該裝置之結構簡單、成本低，檢 測方式簡單，可快速檢測偏振元件偏振軸向，適於偏振元 件製造及應用等相關領域。 【先前技術】 按，偏振元件主要應用於光學領域，藉由光源配合偏 振元件具有特定偏振光軸之特性，可得到獨特之出光效 果，例如液晶顯示器背光模組，即利用光源搭配偏光膜之 偏振光軸軸向，使液晶顯示器面板呈現最佳顯示角度，據 此可知，液晶顯示器偏光膜對於液晶顯示器透光強度有極 大影響，然由於目前一般面板製造業者使用之偏光膜係由 上游廠商裁切後提供，裁切之好壞（影響偏振光軸方向）與 一致性無法立即判斷，往往在液晶顯示器組合完成進行檢 驗時才能發現，此時只能報廢或列入次級品，造成經濟損 失。 因此，即使偏光膜製造業者已有出貨檢驗，但部分液 晶顯示器業者仍會於偏光膜進料時，再次對偏光膜進行進 料檢驗，然而傳統偏振光軸檢測裝置為了達到高檢測解析 -1314641 * 度，往往採用許多元件組成，並配合複雜之運算判斷以分 • 析檢測結果；而近年來，由於發光二極體具有體積小、耗 . 電量低、元件壽命長、無須暖燈時間、反應速度快等優點， 因此利用RGB(紅、綠、藍）混光，或多晶形RGB(紅、綠、 藍）封裝型式之發光二極體為背光源之液晶顯示器已成為 趨勢，換言之，對於採用發光二極體為背光源之液晶顯示 ' 器，其偏光膜之偏振光軸必須同時符合RGB(紅、綠、藍） 三色出光，方能達到最佳顯示效果，也因此而提高該偏光 • 膜檢測之困難度。 請參閱圖一所示，美國發明專利第5247176號 「Infrared Laser Polarimeter」，該檢測裝置 20 包括紅 外光雷射21、光束斷續器23、相位延遲片30、31、偏振 片35、可程式旋轉控制器43、直流馬達42、多功能電表 28、41、光偵測器27、39及電腦47，待測物33設置於相 位延遲片30、31之間，再利用傅立葉分析運算判斷結果； 據上可知，該檢測裝置20之組成構件多、複雜，成本高、 • 維護維修困難，且其後端運算需用電腦處理，也必須搭配 複雜軟硬體，整體觀之，前述該習知專利案所提供之裝置 及方法雖可對偏光膜進行檢測，然其複雜之運算及分析， 嚴重影響檢測程序與效率。 因此，如何能有一種成本低、檢測方式簡單，可快速 ' 檢測偏光膜之檢測裝置，係為偏光膜製造及應用相關領域 業者迫切需要解決之重大課題。 【發明内容】 1314641 -種知技術之缺失，本發明之主要目的在於提出 =偏振先軸檢測裝置，其結_單、成本低，操作方式 間早、快速，可提高檢測效率。 乃1 =達到上述目的，本發明提出—種偏振光轴檢測裝置 it ，其包含—可旋轉之轉盤，於該轉盤上設有

一^光源可投射出不同色紐，該光投射路徑上依序設有 一檢，振片及-光制模組’該檢偏振片係可旋轉地且具 有&角度之偏振光轴，該光偵測模組係用以接受通過哼 片之光線；將待檢測偏振元件設置於該光源與該檢 ，振片間，驅動該轉盤轉動，調整該複數光源可位於一特 定投射位置，使投射光線依序通過該待檢測偏振元件、該 片i，到達該光_模組，藉由該光偵測模組偵測 不同光源穿透該檢偏振片之光線強度，並判斷產生最大穿 透光強度時之角度’即為該待測偏振元件之偏光轴之角度。 =到上述目的，本發明更提出一種偏振光軸檢二 法，其包含： U)轉動-具有複數可發出不同色光之光源之㈣，使 設置於該轉盤上之其中之-光源至1定投射位 置； (b) 该光源投射光線通過一待檢測偏振元件，形成一 穿透光； (c) 該第一穿透光投射至一可旋轉之檢偏振片，形成第 二穿透光； / ⑷該第二穿透光投射至—光制模組，由該光摘測模 組偵測該第二穿透光強度； ' 8 ^ 1314641 ' (e)轉動該轉盤，使設置於該轉盤上之另一光源到達該 特定投射位置； . (f)重複上述步驟（b)〜（e)，直至該光偵測模組依序偵 測到所有設置於該轉盤上之光源所產生之第二穿 透光強度。 較佳的是，該轉盤係可以機械或電性驅動，或以人工 驅動。 較佳的是，該轉盤係可以馬達、傳動皮帶等驅動裝置 馨 驅動。 較佳的是，該光源係為指向性光源。 較佳的是，該指向性光源係為發光二極體或雷射發光 二極體。 較佳的是，該複數光源可發出之不同色光係為白色、 RGB(紅、綠、藍）三原色其中之一或其組合。 較佳的是，該檢偏振片係由馬達、傳動皮帶等驅動裝 置驅動旋轉。 • 較佳的是，該檢偏振片之旋轉軸向係與該光投射路徑 相互平行。 較佳的是，該檢偏振片係可作360度全圓周連續旋轉。 較佳的是，該光源與該檢偏振片之間設有一承載台， 係用以承載待檢測偏振元件。 ' 較佳的是，該承載台上設有圓周角度指示刻度，用以 指示該待檢測偏振元件之置放角度。 較佳的是，該光偵測模組包含： 一光偵測器，係用以偵測通過該檢偏振片之光穿透率 9 • 1314641 並產生信號； - 一控制單元，係用以接收該光偵測器所偵測之光穿透 . 率信號，並可對該信號進行分析處理。 較佳的是，該控制單元更包含一顯示裝置，該顯示裝 置係用以顯示該控制單元所分析處理之信號内容。 較佳的是，該控制單元係與該檢偏振片電性連接，用 以控制該檢偏振片。 較佳的是，該光源更包括： 參 一透鏡，係設置於該光源之光投射路徑上並可直接供 光線通過； 一線性偏光器，係用以接收通過該透鏡之光線，用以 調整該光線朝向一定方向偏振。 較佳的是，該線性偏光器所調整之光線射出方向係平 行於該檢偏振片之旋轉軸心方向。 為使貴審查委員對於本發明之結構目的和功效有更 進一步之了解與認同，茲配合圖示詳細說明如后。 【實施方式】 以下將參照隨附之圖式來描述本發明為達成目的所使 用的技術手段與功效，而以下圖式所列舉之實施例僅為輔 助說明，以利貴審查委員暸解，但本案之技術手段並不限 於所列舉圖式。 請參閱圖二所示，本發明提供之偏振光軸檢測裝置 10，其主要係由一可旋轉之光源轉盤20、一可旋轉之檢偏 振片30及一光偵測模組40所構成，該光源轉盤20與該檢 •1314641 偏振片30之間可供設置一待檢測偏振元件5〇，該待檢測 偏振70件50係為具有一定偏振光軸之片材，例如液晶顯示 器之偏光膜。 《 月ί)述邊光源轉盤2〇係由一轉盤21及複數可發出不同 色光之指向性^源22a、22b所構成，該轉盤21具有旋轉 中心211 ’可藉由馬達、傳動皮帶等驅動裝置（圖中未示出） 或機械電性驅動旋轉，亦可以人手操作旋轉，該複數之指 向性光源22a、22b可採用發光二極體、雷射發光二極體等 ，，將该複數之指向性光源22a、22b設置於該轉盤Μ上， 藉由驅動该轉盤21旋轉，可調整該不同位置之指向性光源 22a、22b到達所需之指定位置（如圖示該光投射路徑c)， ^於該指向性光源22a、22b之佈置位置，則以等角、等距 %繞該轉盤21之旋轉中心2Π為佳，例如圖示等角、等距 環繞該轉盤21之旋轉中心211設置該二指向性光源22&、 22b’則每旋轉180度即可變換一指向性光源’或如圖三所 不該光源轉盤120，其係等角、等距環繞該轉盤121之旋 轉中心1211設置三指向性光源122R、122G、122β，分別 代表RGB(紅、綠、藍）三原色，每旋轉12〇度即可變換不 同之指向性光源122R、122G、122B，以此類推；至於該指 向性光源，除設置RGB(紅、綠、藍）三色外，亦可以白色 光源完全或部份替代之，或以白色光源同時搭配RGB(紅、 綠、藍）三色，視實際所需而決定；如圖所示，該光源22& 發出光線Lo，該光線lg通過該待檢測偏振元件5〇後，可 形成一第一穿透光Li。 至於該可旋轉之檢偏振片30，其係連接如馬達、傳動 1314641 皮帶等之驅動裝置（圖中未示出）驅動可作360度全圓周連 續旋轉，該檢偏振片30可採用與該待檢測偏振元件50同 類之具有一定偏振光軸之片材；如圖所示，前述該第一穿 透光Li前進並穿透該檢偏振片30後可形成一第二穿透光 L2，該第二穿透光L2再繼續前進至該光偵測模組40。 該光偵測模組40，係包含相互電性連接之一光偵測器 41、一控制單元42，以及一顯示裝置43，該光偵測器41 可偵測該第二穿透光L2之強度，並產生信號傳送至該控制 單元42，該控制單元42接收信號後，可對該信號進行分 析處理，如一般人士所熟知，該控制單元42可為一單晶片 或電腦處理裝置或軟體，對所接收之信號進行分析處理或 紀錄，此外，該控制單元42亦可電性連接驅動該轉盤21 以及該檢偏振片30之驅動裝置，用以控制調整該轉盤21、 該檢偏振片30之轉速，同時，可將分析處理之信號内容、 參數設定等結果顯示於該顯示裝置43上，而該顯示裝置 43同時可用以顯示電源連接狀態、或整體機組之運作狀態。 藉此，由該光源22a發出光線Lo，依序通過該待檢測 偏振元件50、該檢偏振片30，形成該第一穿透光Li、該第 二穿透光L2到達該光偵測模組40，理想狀況下，該光線 Lo、該第一穿透光Li、該第二穿透光L2係為一筆直光線， 其光投射路徑C係與該檢偏振片30之旋轉軸向相互平行， 為使該光源2 2 a發出之光線L 〇可被充分投射至該待檢測偏 振元件50上，該光源22a可配合一透鏡23、一線性偏光 器24，藉由該透鏡23準直，再藉由該線性偏光器24將光 線Lo形成線性偏振，可使該光源22a發出之光線Lo達到最 卩14641 贅述。 偏振片3〇V= ’ _㈣單元42可紀錄不同光源下，該檢 由—分析步‘ι/度’以及各旋轉角度時之光強度，再經 旋轉角度Γϋ斷各不同色光光源下最大穿透光強度時之 振光軸檢偏振片30與該待檢測偏振元件50之偏 各不同色弁二其1穿透率最大，可由該控制單元 42擷取 角度，並^取大光強度時之該檢偏振片30之旋轉 待檢测偏振元件== 置上’如此，即可快速檢測該 調說明的3，Γ 冋色光光源下之偏振光軸；必須強 在於檢測:振元光軸檢測裝置，其目的 偏振元件5η μ 貝τ、爲振光軸是否與標示於該待檢測 3〇每旋㈣軸相符合，換言之’該檢偏振片 測偏振元件振光軸必定會與該待檢 振元㈣上之偏振光轴標示;否=用以判斷該待檢測偏 方法综測 可投射出不同色光線，該光投射路徑上^光源 片及一光偵測模組，該檢偏振片“轉：檢偏振 度之偏振光軸，該光偵測模組係用^轉地且f —定角 之光線；將待檢測錢元件設置㈣過該檢偏振片 間，驅動該轉㈣動，㈣簡數^光源與該檢偏振片 =’使投射光，過該待檢剛 = 源穿透該檢偏振片之光線強度，二^模組偵测不同光 及別斷產生最大穿透光強 14 1314641 度時之角度，即為該待測偏振元件在不同色光光源下之偏 •光軸之角度；該檢測裝置之結構簡單、成本低，操作方式 .簡單、快速，可提高檢測效率，適於偏振元件應用與製造 相關領域。 惟以上所述者，僅為本發明之最佳實施例而已，當不 ' 能以之限定本發明所實施之範圍。即大凡依本發明申請專 利範圍所作之均等變化與修飾，皆應仍屬於本發明專利涵 蓋之範圍内，謹請貴審查委員明鑑，並祈惠准，是所至 • 禱。 【圖式簡單說明】 圖一係美國發明專利第5247176號「Infrared laser polarimeter」之結構示意圖。 圖二係本發明之系統架構示意圖。 圖三係本發明之光源轉盤另一較佳實施例之結構示意 圖。 零 圖四係本發明之操作步驟流程圖。 【主要元件符號說明】 10-檢測裝置 20、 120-光源轉盤 21、 121-轉盤 211、1211-旋轉中心 22a、22b、122R、122G、122B-光源 15 1314641 23- 透鏡 24- 線性偏光器 30-檢偏振片 4 0 _光偵測模組 41- 光偵測器 42- 控制單元 43- 顯示裝置 5 0 _待檢測偏振元件 C-光投射路徑

Lo-光源投射之光線 Li-第一穿透光 L2-第二穿透光

Claims (1)

1. * 1314641 十、申請專利範圍： 1. 種偏振光轴檢測裝置’係用以檢測偏振元件’該檢測 •裝置包含： 一光源轉盤，其包含： . 一轉盤，係可旋轉； 複數光源，係設置於該轉盤上，該複數光源係可投射 出不同色光，且可隨該轉盤旋轉而移動； _ 一檢偏振片，係可旋轉地設置於該光源之光投射路徑上 並可供光線通過，其具有一定角度之偏振光轴； 一光^貞測模組，係用以接受通過該檢偏振片之光線， 將待檢測偏振元件設置於該光源與該檢偏振片之間’驅 動該轉盤轉動，使設置於其上之複數光源可依序位於一 特定投射位置，使光源投射出光線依序通過該待檢測偏 振元件、該檢偏振片後，到達該光偵測模組，藉由該光 偵測模組偵測不同光源穿透該檢偏振片之光線強度。 φ 2.如申請專利範圍第1項所述之偏振光轴檢測裝置，其中 該轉盤係可以機械或電性驅動，或以人工驅動。 3.如申請專利範圍第2項所述之偏振光軸檢測裝置，其中 該轉盤係可以馬達、傳動皮帶等驅動裝置驅動。 ' 4.如申請專利範圍第1項所述之偏振光軸檢測裝置，其中 該光源係為指向性光源。 5. 如申請專利範圍第4項所述之偏振光軸檢測裝置，其中 該指向性光源係為發光二極體或雷射發光二極體。 6. 如申請專利範圍第1項所述之偏振光軸檢測裝置，其中 1314641 該複數光源可發出之不同色光係為白色、R G b (紅 藍）三原色其中之一或其組合。 、'"、、 7. 如申請專利範圍第丨賴述之偏振光轴檢㈣置， 該檢偏振片係由馬達、傳動皮帶等驅動裝置驅動旋轉。 8. 如申請專利範圍第！項所述之偏振光軸檢測裝置，其 該檢偏振片之旋轉軸向係與該光投射路徑相互平行f 9. 如申請專利範圍第1項所述之偏振光軸檢測裝置，其中 該檢偏振片係可作360度全圓周連續旋轉。 ” 10. 如申請專利範圍第1項所述之偏振光軸檢測裝置，其 中為光源與该檢偏振片之間設有—承載台，係用以 待檢測偏振元件。 U·如申請專利範圍第10項所述之偏振光軸檢測裝置， 其中5玄承載台上設有圓周角度指示刻度， 檢測偏振元件之置放肖度。 胃丁。亥待 12.如申請專利範圍第1項所述之偏振光軸檢測裝置，其 中δ亥光^[貞測模組包含： —光偵測器，係用以偵測通過該檢偏振片之光穿透率並 產生信號； 一控制單元，係用以接收該光偵測器所偵測之光穿透率 k號，並可對該信號進行分析處理。 1 〇 .如申請專利範圍第12項所述之偏振光軸檢測裝置， 其中該控制單元更包含一顯示裝置，該顯示裝置係用以 顯不该控制單元所分析處理之信號内容。 14.如申請專利範圍第12項所述之偏振光軸檢測裝置， !314641

   其中該控制單元係與該檢偏振片 檢偏振片。 15. 如申請專利範圍第 中該光源更包括： —透鏡， 線通過； 電性連接， 用以控制該 項所述之偏振光軸檢測裴置，其 係设置於該光源之光投射路徑上並可直接供光 一線性偏光器，係用以接收通過該透 整該光線朝向-定方向偏振。 先線 用以調 以如申請專利範圍第15項所述之偏振光軸檢測裝置， 其中該偏光n所輕之光線射出方向係平行於該檢 片之旋轉軸心方向。 x .一種偏振光軸檢測方法，其包含： (a)轉動一具有複數可發出不同色光之光源之轉盤，使 s又置於该轉盤上之其中之一光源至一特定投射位 置； (b) 该光源投射光線通過一待檢測偏振元件，形成第— 穿透光； (c) 該第一穿透光投射至一可旋轉之檢偏振片，形成第 二穿透光； (d) 該第二穿透光投射至一光偵測模組，由該光偵測模 組偵測該第二穿透光強度； (e) 轉動該轉盤，使設置於該轉盤上之另一光源到達該 特定投射位置； (f) 重複上述步驟（b)〜（e)，直至該光偵測模組依序债 1Q 1314641 測到所有設置於該轉盤上之光源所產生之第二穿 透光強度。 18. 如申請專利範圍第17項所述之偏振光轴檢測方法， 其中該步驟（a)中，該轉盤係可以機械或電性驅動，或以 人工驅動。 19. 如申請專利範圍第18項所述之偏振光軸檢測方法， 其中該轉盤係可以馬達、傳動皮帶等驅動裝置驅動。 20. 如申請專利範圍第17項所述之偏振光軸檢測方法， 其中該步驟（b)中，該光源係可發出指向性光線。 21. 如申請專利範圍第20項所述之偏振光軸檢測方法， 其中該光源係為發光二極體或雷射發光二極體。 22. 如申請專利範圍第17項所述之偏振光轴檢測方法， 其中該複數光源可發出之不同色光係為白色、RGB(紅、 綠、藍）三原色其中之一或其組合。 23. 如申請專利範圍第17項所述之偏振光軸檢測方法， 其中該步驟（b)中，該光源所投射之光線係先依序經過一 透鏡、一線性偏光器後，再通過該待檢測偏振元件。 24. 如申請專利範圍第17項所述之偏振光轴檢測方法， 其中該步驟（b)中，該光源可為自然光或線偏振光 (Linearly Polarized Light)其中之一或其組合。 25. 如申請專利範圍第17項所述之偏振光軸檢測方法， 其中該步驟（b)中，該待檢測偏振元件係設置於一承載台 上。 26. 如申請專利範圍第25項所述之偏振光軸檢測方法， 20 1314641 檢測偏角度指示刻度，用以指示該待 其中兮專利範圍第17項所述之偏振光軸檢測方法， 旋轉1Γッ驟（c)中，該檢偏振片係可作360度全圓周連續 28苴申請專利範圍第17項所述之偏振光軸檢測方法， 驟（e)t ’該第—穿透光之行進方向係與該檢偏 振片之方疋轉軸向平行。 29其中t申請專利範圍第17項所述之偏振綠檢測方法， Λ乂驟化）中，該檢偏振片係由馬達、傳動皮帶等驅 動名置驅動旋轉。 3 0 .如申請專利範圍第17項所述之偏振光抽檢測方法， ^該步驟⑷中，該光偵龍組包含： 光偵測杰，係用以偵測該第二穿透光之強度並產生信 就； η控制單凡，係用以接收該光偵測器所偵測之光強度信 號，並可對該信號進行分析處理。 复如申明專利範圍第項所述之偏振光軸檢測方法， 中》亥步驟（f)後更包括一步驟（g),由該控制單元紀錄 ^不同色光之光源下，該檢偏振片之旋轉角度，以及各 方疋轉角度之光強度，並擷取各不同色光之光源下最大光 強度時之該檢偏振片之旋轉角度。 32·如申請專利範圍第30項所述之偏振光軸檢測方法， 一中°亥控制單元更包含一顯示裝置，該顯示裝置係用以 顯不該控制單元所分析處理之信號内容。 1314641 33. 如申請專利範圍第30項所述之偏振光軸檢測方法， 其中該控制單元係與該轉盤或該檢偏振片電性連接，用 以控制該轉盤或該檢偏振片之轉速。