TWI303471B - Plastic ball grid array package with integral heatsink - Google Patents
Plastic ball grid array package with integral heatsink Download PDFInfo
- Publication number
- TWI303471B TWI303471B TW091113866A TW91113866A TWI303471B TW I303471 B TWI303471 B TW I303471B TW 091113866 A TW091113866 A TW 091113866A TW 91113866 A TW91113866 A TW 91113866A TW I303471 B TWI303471 B TW I303471B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- heat spreader
- package
- substrate
- heat
- patent application
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H10W74/016—
-
- H10W40/778—
-
- H10W74/117—
-
- H10W74/127—
-
- H10W72/075—
-
- H10W72/551—
-
- H10W72/951—
-
- H10W74/00—
-
- H10W90/754—
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
1303471 , A7 ' B7 五、發明説明(1 ) 背景 本發明關於高性能半導體裝置封裝。 半導體裝置曰增需要具有高熱及電性能之較低成本封 裝。供高性能裝置使用之一般封裝為塑料球栅陣列 (’fPBGA”)。此PBGA為表面安裝之封裝,與引線框基楚之 表面安裝封裝,如塑料四線扁平封裝("PQFP")及其他相 較,其可提供較高熱及電性能,及較低厚度輪廓及較小之 足跡。一直在追求包封之結構與設計之改進,以提供增加 之熱及電性能,及保持已建立之標準PBGAs之足跡與厚度 特性。 傳統PBGAs中,半導體裝置產生之熱之小部份經模塑化 合物耗散至四周,主要在封裝之上表面擴散,較少程度經 側邊擴散。在標準PBGAs中之半導體裝置產生之熱之大部 分經焊球傳導至產品板,該板之作用如一散熱器。 曾利用各種方法或建議以自PBGAs增加功率耗散。例 如,在封裝上以鼓風方式可增加功率耗散至四周;但成本 考慮及空間限制使此一氣冷方式不實際。例如,增加豐裝 與板間之焊球數目,特別是增加裝置直下面之焊球數目可 增加功率耗散;及利用具有多金屬層之疊層基板亦可增加 功率耗散。此等方法需要增加封裝尺寸及改變封裝結構。 自PBGA增加功率耗散另一方法,通常稱為”熱改進之 PBGA ’’或TEPBGA,利用一部分嵌入金屬熱擴散器。此部 分嵌入之金屬熱擴散器包括一上平面部分,具有無模塑化 合物之頂表面暴露在四周;及嵌入部分,稱為支撐臂自上 -5- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1303471 A7
1303471
循衣傳遞之應力及應力損害,因為在熱擴散器之支撐臂與 基板之間備有釋放物。本發明以上之製備係由於在熱擴散 ,支撐臂與基板之間無直接連接,或,如有_或多個支撑 臂與基板之直接連接,其為彈性接點。 、準此,本發明足一特性為製造塑料球柵陣列封裝之方 =j將具有一上部分及複數個支撐臂之熱擴散器置於一塑 模空腔中;在塑模空腔上置-球栅陣列,#包括裝在基板 支撐表面上之半導體模片及連接至基板,俾支撐臂之下端 與模片週圍之基板支撐表面接觸;賴塑材料注人空腔以 構成模蓋;及使模塑材料變硬以構成模蓋。
、本發月另特性為具有部分嵌入之熱擴散器之TEPBGA 〈形成方法,將具有一上部分及複數個支撐臂之熱擴散器 置於基板<模片支撐表面上,俾熱擴散器之至少一支撐臂 利用彈性連接物如彈性黏膠連接在基板上;將模塑空腔置 於熱擴教器之上;將模塑材料注人空腔中;及使模塑材料 變=構成模蓋。在模塑材料注人期間,彈性連接物將熱 擴固疋在與基板相關之適當位置,當模塑材料變硬構 成模蓋,部分嵌入之熱擴散器在與基板相關之適當位置變 為固定。 本發明另一特性為一塑料球柵陣列半導體封裝,並包括 :金屬熱擴散器,其具有支撐臂.入模蓋中,其中該嵌入 心支撑臂與基板未直接堅固連接;或其中該任何支撑臂與 基板連接時,係利用彈性材料如彈性黏劑連接。 在某些κ她例中,熱擴散器由金屬製造,在一特殊實施
1303471 A7 B7 五、發明説明(4 ) 擴散器由銅製造。在某些實施例中,擴散器有四 支撐臂’其構型使其下端可與通常為矩形較佳為方形陣 j基板表面接觸。在某些實施例中,彈性材料具有一彈 性模數範圍在〇.5 MPa至謂MPa,較佳為t略至1〇 Mpa = ’且於特定實施例中該彈性材料具有一5 5 MPa之 :性模數。某些實施例中,彈性材料為彈性黏劑,如硬黏 劑,如可用Dow-Coming 7920之代號商購。 气某些實施例中,封裝元件需加以選擇俾封裝之總尺寸 準規私之内(特別是,總封裝厚度與標準封裝之 厚度相同或較少)。例如’在某實施例中,模片之厚度加 上挺片連接環氧數脂’線接合迴路高度及線至塑模間隙必 須決足’肖自基板至封裝之頂部之高度(即,總模蓋厚度 加熱擴散器厚度,及熱擴散器黏膠厚度)必須大於ιΐ7 例如’在某些實施例中,位於半導體裝置及熱擴散 益間之元件部分之厚度’即,位於臨界熱路徑中之元件必 須加以決定以便使臨界熱路徑之長度最小。 、例如在某些實施例中,在模片及熱擴散器之上部分間 <至少一部分模塑材料使其盡量薄,同時,避免模片之上 表面及熱擴散器之下表面間之接觸,熱擴散器之上部分因 此由下表面向下穿出而變厚。結果,在半導體裝置與封裝 S上表面間之路徑中金屬之比例增加,俾自模片至其上之 四周之臨界熱路徑之熱阻抗可以降低。例如,在某實施例 中#在模片#熱擴散器之上部分間之至少部分體積由具有 較模塑材料為低之熱電阻率之材料所佔據。 在某些特別較佳實施例中,利用—種在熱擴散器下表面 -8 - 1303471 . A7 ---—-一 B7 五、發明説明~^~'
St銅或化學粗糙化銅,以便改進熱擴散器之底部 口物間之膠連。熱擴散器之下表面在注入模 ㈣’加以處理以提供黑氧化銅層或化學粗糙表面。利用 :乳化物時:其可用曝露銅表面在NaC102 一足夠長時間以 —成理想厚度層,該厚度較佳在3 μπι至15 μπι之範圍,在 一特殊κ她例中約為7 μιη厚。或者,如利用化學粗糙化 銅表面時可用微蝕刻方法構成,如傳統之H2S〇4_H2〇2方 法或其他化學方法以提供理想粗糙度,較佳為0.5 μιη至 1·0 μηι範圍,及在一特殊實施例中約為〇 5 。 發明可提供封裝中最佳之功率耗散並較傳統封裝容易 製造,且在使用中之熱循環期間較傳統封裝不易失效。 圖式簡略說明 圖1為一傳統熱改進塑料球柵陣列封裝之橫向剖面圖, 其具有部分嵌入之熱擴散器,該熱擴散器具有支撐 連接至基板。 、=2為本發明一實施例之改進熱增強塑料球柵陣列封裝 之橫向剖面格圖。 圖3為本發明另一實施例之改進熱增強塑料球柵陣列封 裝之橫向剖面略圖。 及4B*本發明一實施例具有一放大部分’顯示熱 擴散器之下表面介面處具有下覆材料之熱改進塑料球柵陣 列封裝之橫向剖面圖。 圖5為本發明另一實施例之熱改進塑料球柵陣列封裝之 橫向剖面略圖,顯示半導體裝置與熱擴散器之上部分間所 -9- 1303471
用之較低熱電阻率材料。 廿圖6為本發明又_實施例之熱改進塑料球栅陣列封裝之 美β】面略圖’ _不熱擴散器較厚中心部分及對應之模蓄 較薄部分覆在半導體裝置之上。 | 詳細說明 一本發月見將參考圖式詳細說明,圖式亦說明本發明其他 貝施彳]圖式為略圖,其顯示本發明之特性及與其他特性 及、構之關係’圖式並不合比例。為清晰之說明計,本發 明之說明實施例’其他圖式中顯示之並元件並未再編號: 但在圖中可輕易辨認。 ,參考圖Ί中工業中廣泛使用之熱改進塑料球柵陣列 (TEPBGA )封叙。此結構利用一金屬熱擴散器2 〇 2,其 邛刀肷入模盍中,嵌入部分連接至基板及具有圓形上部分 2〇6,該部份有一無模塑化合物及暴露在四周之上表面 209。此一構造可提供在無氣流之下3·9瓦之功率耗散, 及在氣流1GG lfpm之下提供4 2瓦之功率耗散。改進之熱 耗散係封裝中增加之熱容量及二設計因素所致。 一個對改進之熱性能於pBGA中之一設計因素為降低裝 置上之熱電阻率,即在裝置之上表面與封裝表面間電阻率 降低,使較多熱流向頂部及四周傳導。此路徑之熱電阻為 鄰近上表面209之熱擴散器上部分206,其厚度為£之熱 電阻,及模塑化合物2〇4,其在裝置上表面與熱擴散器上 表面206之下表面間厚度為G之熱電阻之和。因為構成熱 擴散器之金屬之熱傳導率為模塑化合物之熱傳導率之至少 -10- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公爱) 1303471 五、發明説明(7 100倍,金屬厚度之比例增加可降低熱電阻,及增加自裝 置至封裝頂部傳導之熱。作為一實際作法,熱擴散器之上 部刀206<最大厚度£;在此構型中被模蓋厚度A,及容納 模蓋厚度内之模片與模片連接環氧樹脂之組合厚度B,及 線迴路207,其在模片之上表面之上延伸之一尺寸〇,其 必須與熱擴散器上部分2 06之上表面保持一間隙c而益接 觸,故其最大厚度E被限制在〇·3 mm。有些熱量經散擴散 器之側壁21〇傳導至頂部,但至裝置之熱路徑較長及傳導 不艮。以下尺寸為典型常用之熱改進PBGA封裝如圖2所 示··模蓋厚度A,LH mm;模片+模片連接環氧樹脂厚度 B ’ 0.38mm;線接合迴路高度^,〇·33_;熱擴散器厚 度E,0.3 0 mm ;線迴路間隙c,0.16 mm。 對PBGA封裝中改進熱性能有貢獻之另一設計因素為熱 擴散器表面209之暴露,其直徑v在廣泛使用構型中為22 mm,與模塑化合物之表面比較,其傳導更多熱量至四 =。熱量傳導通常與熱擴散器表面2〇9之面積成正比,但 實際上此面積受限制於模蓋之上表面之5 〇 %。 根據本發明,改進之製造可能性及降低之熱應力失效之 得以提供,係在製造期間消除使用熱擴散器之支撐臂之堅 固連接。 圖2顯示本發明一實施例之細節,其中之熱擴散器3 〇 ^ 係由在基板之模片支撐表面3 1 〇上之彈性黏劑之一點3 〇 2 連接在基板304上,在基板之位置至少一支撐臂3〇6覆於 其上。支撐臂之下端可構型以提供一 ”足部”如圖2中之 -11 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) 1303471
1303471 五、發明説明(9 :處,參數之設計可產生一段氧化銅層厚度約為7 較 佳之厚度為3 μι^15 μπι之範圍。或者,如利用化學粗糙 鋼表面時,則利用微蝕刻方法,如傳統之H2S〇4_H2〇2方法 或〜他化學方法,如揭示於T· Kida等人所著,,改進乾薄膜 f接”,發表於2〇01年7月之光電子製造會議,發表於網際 網路網址www.pcfab.com,以參考方式併入此間。在一特 T實施射1學粗糙方法參數設計後可產生表面粗糖度 約〇·5 μχη ;較佳粗糙度為〇 5 ^^至h〇 範圍。 又 圖5顯示本發明封裝之另一實施例,其中之熱傳導材料 6〇9係置於模片頂部6〇7與熱擴散器6〇2,61〇之底部⑼8 又間。在此實施例中,熱傳導材料6 〇 9限定在必須具有熱 傳導率大於典型模塑化合物之傳導率(即大於〇〜7 W/mK)。此材料可能係堅固環氧樹脂,或,在某些實施 例中可為彈性材料以提供應力释放。 圖6顯不本發明另一實施例,其中熱擴散器702,710已 加以修改’俾其在中間部分7 〇 6較厚,以便使模片頂部 7〇7與熱擴散器底部708間之熱路徑長度最小,同時,可 保持理想封裝輪廓。此種變厚之完成係經由將熱擴散器此 面積中I金屬加厚.,或者,在此區域中使用熱傳導材科 (如圖5所限定)。此種修改較傳統PbgA可大幅提高熱性 能至20%或更多。 其他實施例見以下之申請專利範圍。 -13- igg本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4祝格(210X297公釐)
Claims (1)
- I303^^|113866 號專利申請案 申文申請專利範圍替換本(97年1月)六、申請專利範園 ϊ 奶年?月、1日移ι/ί)正本| 1· 一種製造球柵陣列封裝之方法,包含·· *:?有1邛刀及複數個支撐臂之熱擴散器置於模塑 將包括裝在基板之支撐表面另 又仿衣面及連接至基板之半導體模 片之一球柵陣列置於模塑空腔上,你;t #后奈 ^ 上工胺上,俾支撐臂之下端與模 片周圍之基板之支撐表面接觸; 將模塑材料注入空腔; 使模塑材料硬化以構成模蓋; 一處理該熱擴散器之—下表面,以便在注人模塑材料之 河構成黑氧化銅層,該黑氧化銅層增強介於該熱擴散 之該下表面與該模蓋之間的黏著力。 2. 如申請專利範圍第i項之方法’其中該熱擴散 製成。 3. 如申請專利範圍第2項之方法,其中該處理包含將執 散益之銅下表面暴露在NaC丨〇2以構成黑氧化銅層。 4. 如申請專利範圍第2項之方法,其十該處理包括將敎 散器之銅下表面暴露在NaC1〇2中,其條件足以形成具 3 μιη至1 5 μηι厚度之黑氧化銅層。 ^ 5_如:請專利範圍第4項之方法’其中該處理包含將熱 散器之銅下表面暴露在]^^。2中,其條件足以形成^ 7 μηι之黑氧化銅層。 ’、 6,如申請專利範圍第i項之方法’其中該熱擴散器由金 製成,且進一步包含在注入模塑材料之前,處理金屬 擴散器之下表面以將下表面粗糙化。 器 屬 擴 擴 有 擴 有 屬 79056-970131.doc 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 13034717·如申請專利範圍第6項之方 万去,其中该處理包含徼蝕刻 …、擴政之銅下表面。 8·如申請專利範圍第7項 甘士》占 ^ 方去,其中戎處理包含熱擴散 裔銅τ表面之微餘亥j,以使其粗糙度在〇5 _至" μπι之範圍。 9·如申請專利範圍第8項之方法 乃古兵甲忒處理包含微蝕刻 …擴散器之銅下表面之粗糙度為〇·5 μιη。 10· —種製造塑料球柵陣列封裝方法,包含: 將具有一上部分及複數個支撐臂熱擴散器置於基板之 模片支撐表面,俾熱擴散器之至少一支撐臂利用彈性固 定物,如彈性黏劑固定在基板上; 將模塑空腔置於熱擴散器上; 將模塑材料注入空腔内;及 使模塑材料硬化以構成模蓋。 11· 一種塑料球柵陣列半導體封裝,包括附著於一基板上之 一膜片,以及具有嵌入模蓋中之支撐臂之金屬熱擴散 器,其中該嵌入之支撐臂並未直接剛性接合足部固定於 基板,且其中在該熱擴散器及該模蓋之一模塑化合物之 一介面處將該熱擴散器之一下表面化學粗糙化。 12·如申請專利範圍第丨i項之封裝,其中該熱擴散器由金屬 製造。 13.如申請專利範圍第i 2項之封裝,其中該熱擴散器係由銅 製造。 14·如申請專利範圍第1 1項之封裝,其中該熱擴散器具有四 -2- 79056-970131.doc 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 1303471 A8 « ’ B8 C8 --------D8 六、申請專利範圍 個支撐臂,其構型可使其下端與通常為矩形陣列之基板 表面接觸。 15.如申凊專利範圍第丨4項之封裝,其中該熱擴散器具有四 個支撐臂,其構型可使其下端與通常為方形陣列之基板 表面接觸。 16·如申請專利範圍第12項之封裝,其中該金屬熱擴散器之 下表面在熱擴散器與模蓋模塑化合物處介面係化學粗糙 化。 17.如申明專利範圍第丨2項之封裝,其中該金屬熱擴散器之 下表面包含在熱擴散器與模蓋之模塑化合物之介面處之 一層黑氧化銅。 18·如申請專利範圍第丨6項之封裝,其中該熱擴散器之粗糙 化下表面之粗糙度為〇·5 μιη至1() μηι。 19. 如申請專利範圍第18項之封裝,其中該熱擴散器之粗糙 化下表面之粗糙度為〇.5 μηι。 20. 如申請專利範圍第17項之封裝,其中該黑氧化銅層有一 厚度為3 μ m至1 5 μ m。 21 ·如申請專利範圍第2 〇項之封裝,其中該黑氧化銅層之厚 度為7 μιη。 22. 如申請專利範圍第12項之封裝,其中該熱擴散器為鋼製 成。 23. 如申請專利範圍第丨丨項之封裝,其中該覆於半導體裝置 上之熱擴散器之一部分向下穿出至半導體裝置之上表 面’且模蓋之對應部分在半導體裝置之上表面與熱擴散 79056-970131. docA8 B8 C8 D8申請專利範圍 1303471 器之間較周圍為薄。 24.2塑料球柵陣列半導體封裳,包括具有嵌 二撑臂之金屬熱擴散器’其中該任何與基板固定:: 臂係利用彈性材料固定。 又之支拉 其中該彈性材之料彈性 其中该彈性材料之彈性 其中該彈性材料之彈性 其中該彈性材料包含彈 其中該彈性黏劑為矽黏 其中該熱擴散器由金屬 其中該熱擴散器有四個 25.如申請專利範圍第2 4項之封裝 模數為 0.5 MPa 至 100 MPa。 26·如申請專利範圍第2 5項之封裝 模數在1 MPa至1 〇 MPa之範圍。 27·如申請專利範圍第2 5項之封震 模數為5.5 MPa。 28. 如申請專利範圍第2 4項之封裝 性黏劑。 29. 如申請專利範圍第2 8項之封裝 劑。 30·如申請專利範圍第2 4項之封裝 製成。 31·如申請專利範圍第2 4項之封裝 其構型可使其下端與矩形陣列之基板表面接 32. =:專:範圍第31項之封裝’其中該熱擴散器有四個 =牙,、構型可使其下端與方形陣列之基板 觸。 ^ 33. 如申請專利範圍第24項之封裝,其中覆於半導體裝置之 上表面之熱擴散器之一部分向下穿出至半導體裝置之上 -4- 79056-970131.doc 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 470313 8 8 8 8 ABCD 六、申請專利範圍 表面,且對應之模蓋部分在半導體裝置之上表面與熱擴 器之間較其四周為薄。 79056-970131.doc 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐)
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/919,763 US6614123B2 (en) | 2001-07-31 | 2001-07-31 | Plastic ball grid array package with integral heatsink |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWI303471B true TWI303471B (en) | 2008-11-21 |
Family
ID=25442613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW091113866A TWI303471B (en) | 2001-07-31 | 2002-06-25 | Plastic ball grid array package with integral heatsink |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (4) | US6614123B2 (zh) |
| TW (1) | TWI303471B (zh) |
| WO (1) | WO2003021670A1 (zh) |
Families Citing this family (72)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10102621B4 (de) * | 2001-01-20 | 2006-05-24 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Leistungsmodul |
| US20030030139A1 (en) * | 2001-06-26 | 2003-02-13 | Marcos Karnezos | Integral heatsink plastic ball grid array |
| US6614123B2 (en) * | 2001-07-31 | 2003-09-02 | Chippac, Inc. | Plastic ball grid array package with integral heatsink |
| US6661102B1 (en) * | 2002-01-18 | 2003-12-09 | Advance Micro Devices, Inc. | Semiconductor packaging apparatus for controlling die attach fillet height to reduce die shear stress |
| US6882041B1 (en) * | 2002-02-05 | 2005-04-19 | Altera Corporation | Thermally enhanced metal capped BGA package |
| KR20060040580A (ko) * | 2003-04-02 | 2006-05-10 | 허니웰 인터내셔날 인코포레이티드 | 열적 상호접속 및 인터페이스 시스템, 및 이들의 제조 및사용 방법 |
| US7256491B2 (en) * | 2003-06-06 | 2007-08-14 | Honeywell International Inc. | Thermal interconnect systems methods of production and uses thereof |
| US7863730B2 (en) * | 2003-08-28 | 2011-01-04 | St Assembly Test Services Ltd. | Array-molded package heat spreader and fabrication method therefor |
| US6969640B1 (en) * | 2004-09-02 | 2005-11-29 | Stats Chippac Ltd. | Air pocket resistant semiconductor package system |
| KR100631403B1 (ko) | 2004-09-23 | 2006-10-09 | 삼성전자주식회사 | 방열판을 장착한 반도체 패키지 및 그 제조 방법 |
| US20060108681A1 (en) * | 2004-11-23 | 2006-05-25 | Chua Kok H | Semiconductor component package |
| TW200620586A (en) * | 2004-12-09 | 2006-06-16 | Advanced Semiconductor Eng | Chip package structure |
| US7335534B2 (en) * | 2005-01-10 | 2008-02-26 | Hvvi, Semiconductors, Inc. | Semiconductor component and method of manufacture |
| US8610262B1 (en) * | 2005-02-18 | 2013-12-17 | Utac Hong Kong Limited | Ball grid array package with improved thermal characteristics |
| US7521780B2 (en) * | 2005-04-26 | 2009-04-21 | Stats Chippac Ltd. | Integrated circuit package system with heat dissipation enclosure |
| US20070109750A1 (en) * | 2005-04-29 | 2007-05-17 | Stats Chippac Ltd. | Integrated circuit package system |
| US7236562B2 (en) * | 2005-11-03 | 2007-06-26 | General Electric Company | Method of assembly and thermal management of CT detector electronics circuits |
| US7468548B2 (en) * | 2005-12-09 | 2008-12-23 | Fairchild Semiconductor Corporation | Thermal enhanced upper and dual heat sink exposed molded leadless package |
| DE102006000724A1 (de) * | 2006-01-03 | 2007-07-12 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterbauteil mit Durchgangskontakten und mit Kühlkörper sowie Verfahren zur Herstellung des Halbleiterbauteils |
| US20070200225A1 (en) * | 2006-02-28 | 2007-08-30 | Ruzaini Ibrahim | Heat sink for semiconductor package |
| US8564124B2 (en) * | 2006-03-07 | 2013-10-22 | International Rectifier Corporation | Semiconductor package |
| JP2007266150A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Fujitsu Ltd | 熱伝導性接合材、半導体パッケージ、ヒートスプレッダ、半導体チップ、及び半導体チップとヒートスプレッダとを接合する接合方法 |
| US8492906B2 (en) | 2006-04-28 | 2013-07-23 | Utac Thai Limited | Lead frame ball grid array with traces under die |
| US8461694B1 (en) | 2006-04-28 | 2013-06-11 | Utac Thai Limited | Lead frame ball grid array with traces under die having interlocking features |
| US8310060B1 (en) | 2006-04-28 | 2012-11-13 | Utac Thai Limited | Lead frame land grid array |
| US8460970B1 (en) | 2006-04-28 | 2013-06-11 | Utac Thai Limited | Lead frame ball grid array with traces under die having interlocking features |
| US8487451B2 (en) | 2006-04-28 | 2013-07-16 | Utac Thai Limited | Lead frame land grid array with routing connector trace under unit |
| US7605451B2 (en) * | 2006-06-27 | 2009-10-20 | Hvvi Semiconductors, Inc | RF power transistor having an encapsulated chip package |
| US20080017998A1 (en) * | 2006-07-19 | 2008-01-24 | Pavio Jeanne S | Semiconductor component and method of manufacture |
| US8013437B1 (en) | 2006-09-26 | 2011-09-06 | Utac Thai Limited | Package with heat transfer |
| US8125077B2 (en) | 2006-09-26 | 2012-02-28 | Utac Thai Limited | Package with heat transfer |
| US9761435B1 (en) | 2006-12-14 | 2017-09-12 | Utac Thai Limited | Flip chip cavity package |
| US9711343B1 (en) | 2006-12-14 | 2017-07-18 | Utac Thai Limited | Molded leadframe substrate semiconductor package |
| US7863738B2 (en) * | 2007-05-16 | 2011-01-04 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus for connecting integrated circuit chip to power and ground circuits |
| US8643172B2 (en) | 2007-06-08 | 2014-02-04 | Freescale Semiconductor, Inc. | Heat spreader for center gate molding |
| US7602060B2 (en) * | 2007-06-25 | 2009-10-13 | Intel Corporation | Heat spreader in a flip chip package |
| US8067834B2 (en) * | 2007-08-21 | 2011-11-29 | Hvvi Semiconductors, Inc. | Semiconductor component |
| US7989930B2 (en) * | 2007-10-25 | 2011-08-02 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor package |
| US7790512B1 (en) | 2007-11-06 | 2010-09-07 | Utac Thai Limited | Molded leadframe substrate semiconductor package |
| US8063470B1 (en) | 2008-05-22 | 2011-11-22 | Utac Thai Limited | Method and apparatus for no lead semiconductor package |
| US9947605B2 (en) | 2008-09-04 | 2018-04-17 | UTAC Headquarters Pte. Ltd. | Flip chip cavity package |
| TW201032300A (en) * | 2009-02-27 | 2010-09-01 | Advanced Semiconductor Eng | Chip scale package and method of fabricating the same |
| US8367476B2 (en) * | 2009-03-12 | 2013-02-05 | Utac Thai Limited | Metallic solderability preservation coating on metal part of semiconductor package to prevent oxide |
| US20100327421A1 (en) * | 2009-06-30 | 2010-12-30 | Stmicroelectronics Asia Pacific Pte. Ltd. | Ic package design with stress relief feature |
| US9230874B1 (en) * | 2009-07-13 | 2016-01-05 | Altera Corporation | Integrated circuit package with a heat conductor |
| US20110012257A1 (en) * | 2009-07-14 | 2011-01-20 | Freescale Semiconductor, Inc | Heat spreader for semiconductor package |
| US9449900B2 (en) * | 2009-07-23 | 2016-09-20 | UTAC Headquarters Pte. Ltd. | Leadframe feature to minimize flip-chip semiconductor die collapse during flip-chip reflow |
| US8368189B2 (en) | 2009-12-04 | 2013-02-05 | Utac Thai Limited | Auxiliary leadframe member for stabilizing the bond wire process |
| US9355940B1 (en) | 2009-12-04 | 2016-05-31 | Utac Thai Limited | Auxiliary leadframe member for stabilizing the bond wire process |
| US8575732B2 (en) | 2010-03-11 | 2013-11-05 | Utac Thai Limited | Leadframe based multi terminal IC package |
| US8871571B2 (en) | 2010-04-02 | 2014-10-28 | Utac Thai Limited | Apparatus for and methods of attaching heat slugs to package tops |
| US8012799B1 (en) * | 2010-06-08 | 2011-09-06 | Freescale Semiconductor, Inc. | Method of assembling semiconductor device with heat spreader |
| JP2012033559A (ja) | 2010-07-28 | 2012-02-16 | J Devices:Kk | 半導体装置 |
| US9059144B2 (en) | 2012-02-23 | 2015-06-16 | Freescale Semiconductor, Inc. | Method for forming die assembly with heat spreader |
| US9029198B2 (en) | 2012-05-10 | 2015-05-12 | Utac Thai Limited | Methods of manufacturing semiconductor devices including terminals with internal routing interconnections |
| US9449905B2 (en) | 2012-05-10 | 2016-09-20 | Utac Thai Limited | Plated terminals with routing interconnections semiconductor device |
| US9397031B2 (en) | 2012-06-11 | 2016-07-19 | Utac Thai Limited | Post-mold for semiconductor package having exposed traces |
| US8921994B2 (en) | 2012-09-14 | 2014-12-30 | Freescale Semiconductor, Inc. | Thermally enhanced package with lid heat spreader |
| US9159643B2 (en) | 2012-09-14 | 2015-10-13 | Freescale Semiconductor, Inc. | Matrix lid heatspreader for flip chip package |
| US9543263B2 (en) * | 2013-11-12 | 2017-01-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. | Semiconductor packaging and manufacturing method thereof |
| US9318411B2 (en) | 2013-11-13 | 2016-04-19 | Brodge Semiconductor Corporation | Semiconductor package with package-on-package stacking capability and method of manufacturing the same |
| US10242953B1 (en) | 2015-05-27 | 2019-03-26 | Utac Headquarters PTE. Ltd | Semiconductor package with plated metal shielding and a method thereof |
| US10242934B1 (en) | 2014-05-07 | 2019-03-26 | Utac Headquarters Pte Ltd. | Semiconductor package with full plating on contact side surfaces and methods thereof |
| US9379034B1 (en) * | 2014-12-30 | 2016-06-28 | Stmicroelectronics Pte Ltd | Method of making an electronic device including two-step encapsulation and related devices |
| KR102424402B1 (ko) * | 2015-08-13 | 2022-07-25 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 및 그 제조방법 |
| US9922843B1 (en) | 2015-11-10 | 2018-03-20 | UTAC Headquarters Pte. Ltd. | Semiconductor package with multiple molding routing layers and a method of manufacturing the same |
| US10276477B1 (en) | 2016-05-20 | 2019-04-30 | UTAC Headquarters Pte. Ltd. | Semiconductor package with multiple stacked leadframes and a method of manufacturing the same |
| US11413802B2 (en) | 2018-03-22 | 2022-08-16 | Honda Motor Co., Ltd. | Reusable mold for injection molding and molding method |
| CN111211059B (zh) * | 2018-11-22 | 2023-07-04 | 矽品精密工业股份有限公司 | 电子封装件及其制法与散热件 |
| US11472083B2 (en) | 2019-09-25 | 2022-10-18 | Honda Motor Co., Ltd. | Injection mold master unit die back plate cooling with metal backfilled plastic mold |
| CN111769085A (zh) * | 2020-07-20 | 2020-10-13 | 杰华特微电子(杭州)有限公司 | 一种半导体散热片装置、封装方法及封装结构 |
| US12431402B2 (en) | 2022-07-26 | 2025-09-30 | Avago Technologies International Sales Pte. Limited | Stress and warpage improvements for stiffener ring package with exposed die(s) |
Family Cites Families (36)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04162556A (ja) * | 1990-10-25 | 1992-06-08 | Mitsubishi Electric Corp | リードフレーム及びその製造方法 |
| IL98660A (en) * | 1991-06-28 | 1996-10-16 | Orbotech Ltd | Method of printing an image on a substrate particularly useful for producing printed circuit boards |
| JP3322429B2 (ja) * | 1992-06-04 | 2002-09-09 | 新光電気工業株式会社 | 半導体装置 |
| US5493153A (en) * | 1992-11-26 | 1996-02-20 | Tokyo Tungsten Co., Ltd. | Plastic-packaged semiconductor device having a heat sink matched with a plastic package |
| US5397921A (en) | 1993-09-03 | 1995-03-14 | Advanced Semiconductor Assembly Technology | Tab grid array |
| US5578869A (en) * | 1994-03-29 | 1996-11-26 | Olin Corporation | Components for housing an integrated circuit device |
| US5844168A (en) * | 1995-08-01 | 1998-12-01 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Multi-layer interconnect sutructure for ball grid arrays |
| KR19980024134A (ko) | 1996-09-18 | 1998-07-06 | 모기 쥰이찌 | 반도체 패키지 |
| US6020637A (en) | 1997-05-07 | 2000-02-01 | Signetics Kp Co., Ltd. | Ball grid array semiconductor package |
| US6323065B1 (en) | 1997-05-07 | 2001-11-27 | Signetics | Methods for manufacturing ball grid array assembly semiconductor packages |
| US5877552A (en) | 1997-06-23 | 1999-03-02 | Industrial Technology Research Institute | Semiconductor package for improving the capability of spreading heat and electrical function |
| US5851337A (en) | 1997-06-30 | 1998-12-22 | Caesar Technology Inc. | Method of connecting TEHS on PBGA and modified connecting structure |
| US5933324A (en) | 1997-12-16 | 1999-08-03 | Intel Corporation | Apparatus for dissipating heat from a conductive layer in a circuit board |
| US5977626A (en) * | 1998-08-12 | 1999-11-02 | Industrial Technology Research Institute | Thermally and electrically enhanced PBGA package |
| US6117797A (en) * | 1998-09-03 | 2000-09-12 | Micron Technology, Inc. | Attachment method for heat sinks and devices involving removal of misplaced encapsulant |
| US6146921A (en) | 1998-09-16 | 2000-11-14 | Intel Corporation | Cavity mold cap BGA package with post mold thermally conductive epoxy attach heat sink |
| TW388976B (en) * | 1998-10-21 | 2000-05-01 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Semiconductor package with fully exposed heat sink |
| US6586845B1 (en) * | 1998-10-28 | 2003-07-01 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Semiconductor device module and a part thereof |
| US6201302B1 (en) * | 1998-12-31 | 2001-03-13 | Sampo Semiconductor Corporation | Semiconductor package having multi-dies |
| US6218730B1 (en) * | 1999-01-06 | 2001-04-17 | International Business Machines Corporation | Apparatus for controlling thermal interface gap distance |
| US20030137061A1 (en) * | 1999-09-03 | 2003-07-24 | Phillip Bailey | Encapsulation of organic polymer electronic devices |
| US20020000239A1 (en) * | 1999-09-27 | 2002-01-03 | Krishna G. Sachdev | Removal of cured silicone adhesive for reworking electronic components |
| US6451448B1 (en) * | 1999-12-22 | 2002-09-17 | Mitsubishi Shindoh Co. Ltd. | Surface treated metallic materials and manufacturing method thereof |
| US6570764B2 (en) * | 1999-12-29 | 2003-05-27 | Intel Corporation | Low thermal resistance interface for attachment of thermal materials to a processor die |
| TW478119B (en) * | 2000-06-26 | 2002-03-01 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Semiconductor package having heat sink which can be anchored on the substrate |
| US6538320B1 (en) * | 2000-06-28 | 2003-03-25 | Advanced Micro Devices, Inc. | Heat spreader having holes for rivet-like adhesive connections |
| US6509642B1 (en) * | 2000-07-28 | 2003-01-21 | Agere Systems Inc. | Integrated circuit package |
| US6432742B1 (en) * | 2000-08-17 | 2002-08-13 | St Assembly Test Services Pte Ltd. | Methods of forming drop-in heat spreader plastic ball grid array (PBGA) packages |
| TW454321B (en) * | 2000-09-13 | 2001-09-11 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Semiconductor package with heat dissipation structure |
| US6400014B1 (en) | 2001-01-13 | 2002-06-04 | Siliconware Precision Industries Co., Ltd. | Semiconductor package with a heat sink |
| TW476147B (en) * | 2001-02-13 | 2002-02-11 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | BGA semiconductor packaging with through ventilator heat dissipation structure |
| US6614123B2 (en) * | 2001-07-31 | 2003-09-02 | Chippac, Inc. | Plastic ball grid array package with integral heatsink |
| US6767765B2 (en) * | 2002-03-27 | 2004-07-27 | Intel Corporation | Methods and apparatus for disposing a thermal interface material between a heat source and a heat dissipation device |
| TWI225296B (en) * | 2003-12-31 | 2004-12-11 | Advanced Semiconductor Eng | Chip assembly package |
| TWI246756B (en) * | 2004-06-28 | 2006-01-01 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Semiconductor package having exposed heat sink and heat sink therein |
| US20060108681A1 (en) * | 2004-11-23 | 2006-05-25 | Chua Kok H | Semiconductor component package |
-
2001
- 2001-07-31 US US09/919,763 patent/US6614123B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-06-12 WO PCT/US2002/018645 patent/WO2003021670A1/en not_active Ceased
- 2002-06-25 TW TW091113866A patent/TWI303471B/zh not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-06-27 US US10/608,843 patent/US6967126B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-08-26 US US11/213,058 patent/US7217598B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2007
- 2007-04-06 US US11/697,433 patent/US8030756B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2003021670A1 (en) | 2003-03-13 |
| US8030756B2 (en) | 2011-10-04 |
| US20040043539A1 (en) | 2004-03-04 |
| US20030025215A1 (en) | 2003-02-06 |
| US6614123B2 (en) | 2003-09-02 |
| US7217598B2 (en) | 2007-05-15 |
| US20060019429A1 (en) | 2006-01-26 |
| US6967126B2 (en) | 2005-11-22 |
| US20070176289A1 (en) | 2007-08-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI303471B (en) | Plastic ball grid array package with integral heatsink | |
| US6737755B1 (en) | Ball grid array package with improved thermal characteristics | |
| TWI249232B (en) | Heat dissipating package structure and method for fabricating the same | |
| CN100435324C (zh) | 具有增强散热性的半导体封装结构 | |
| TWI359483B (en) | Heat-dissipating semiconductor package and method | |
| EP0566872A2 (en) | A thermally enhanced semiconductor device and method for making the same | |
| TW200949966A (en) | Conductive clip for semiconductor device package | |
| TWI236740B (en) | Chip package structure | |
| TWI298527B (en) | Semiconductor package, fabrication method thereof, and dissipating heat method therefrom | |
| CN101118895A (zh) | 具有内置热沉的半导体器件 | |
| TW200843001A (en) | Leadframe for leadless packaging, packaging structure thereof and manufacturing method using the same | |
| TWI332694B (en) | Chip package structure and process for fabricating the same | |
| EP1769538A2 (en) | Semiconductor package having integrated metal parts for thermal enhancement | |
| TWI237363B (en) | Semiconductor package | |
| JP3628058B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
| JP3655338B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 | |
| TWI298938B (zh) | ||
| TW200805587A (en) | Semiconductor package, method of production of same, printed circuit board, and electronic apparatus | |
| TWI259566B (en) | Exposed heatsink type semiconductor package and manufacture process thereof | |
| CN101819955A (zh) | 具有增强散热性的半导体封装结构 | |
| US9230874B1 (en) | Integrated circuit package with a heat conductor | |
| TW200828455A (en) | Method for fabricating heat-dissipating package and heat-dissipating structure applicable thereto | |
| TW200849511A (en) | Tape type semiconductor package with improved thermal dissipation | |
| TW200423349A (en) | Chip package structure | |
| TWI311361B (en) | Semiconductor chip package and heat slug |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |