TWI361639B - Plating method and article comprising substrate having metal layer - Google Patents
Plating method and article comprising substrate having metal layer Download PDFInfo
- Publication number
- TWI361639B TWI361639B TW094113202A TW94113202A TWI361639B TW I361639 B TWI361639 B TW I361639B TW 094113202 A TW094113202 A TW 094113202A TW 94113202 A TW94113202 A TW 94113202A TW I361639 B TWI361639 B TW I361639B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- metal
- substrate
- copper
- current
- electrolyte
- Prior art date
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D5/00—Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
- C25D5/18—Electroplating using modulated, pulsed or reversing current
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D5/00—Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
- C25D5/60—Electroplating characterised by the structure or texture of the layers
- C25D5/605—Surface topography of the layers, e.g. rough, dendritic or nodular layers
- C25D5/611—Smooth layers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
- H05K3/423—Plated through-holes or plated via connections characterised by electroplating method
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D7/00—Electroplating characterised by the article coated
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/14—Related to the order of processing steps
- H05K2203/1476—Same or similar kind of process performed in phases, e.g. coarse patterning followed by fine patterning
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
- H05K3/429—Plated through-holes specially for multilayer circuits, e.g. having connections to inner circuit layers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
Description
1361639 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種經改良之鍵覆方法。更明確地說’ 本發明係關於因鍍覆循環之調整而改良均鍍比並且減少結 瘤形成之改良之鍍覆方法。 【先前技術】
大體上,利用金屬錢覆基材包括使電流通過兩個在電 解液中的電極之間,其中有—電極為要㈣的基材。在基 材上沈積金屬用之電解液-般包括—或多種金屬離子 '盆 量足以賦予電解液導電度的可溶性鹽及改良鍍覆均勾度盘 金屬沈積物品質的添加物。此添加物可包含增亮劑、整平 劑(1 evelers)、抑制劑、抗氧化劑及界面活性劑。 在許多傳統的鑛覆製程中,係將外部電路之電極(陰極 及陽極)浸在電解液中,並且橫跨電極施加直流電,使產生 電化學反應或還原反應,讓電解液中的金屬離子在陰極上
之產生金屬或金屬合金沈積。橫跨陰極的電流密度分布曲 線及主要分布,會依照幾何路徑或者會依照相對於陽極的 陰極外形及位置,而導致沈積物厚度變化的陽極與陰極之 =距離而變化。這個作用在使用高外加平均電流密度時 取為明顯。因此,^了獲得最佳的金屬分布均句度,係使 用低外加平均電流密度。 或者’藉著使用脈衝周期性反向電鑛(ppR,puise penochc reverse electr叩latlng)電流代替直流電流, 在較南的電流密度下可製造均勾的金屬沈積物。這種技術 92811 5 1361639 在深寬比(aspect,在本文中指基板厚度與孔徑之比值)高 的印刷線路板,即具有小貫穿孔直徑的較厚印刷線路板上 * 進行電解鍍銅特別有用。此等基材因為其表面幾何形狀, - 該幾何形狀會影響電流分布,並且造成板子表面與貫穿孔 之間的電流密度有測得到的差異而存在鍍覆的問題。該電 流密度差異造成在具有較高電流密度的表面上產生較厚度 塗層之不均勻的金屬沈積。大體上,板子邊緣與獨立的表 面電路將蒙受較高的電流密度,而造成比板子表面中央或 # 貫穿孔内表面更厚的沈積物(有時候稱為狗骨現象 (dog-boning))。在這些區域中額外的厚度可能會出現後續 加工及組合作業方面的問題。非均勻性表面外廓可能導致 . 防焊罩要符合適當覆蓋所需的最小厚度要求的增加。貫穿 孔入口處缺乏電路平坦性及過厚的厚度可能會妨礙在組合 的期間零件的適當定位,然而使用減少此過厚厚度的方法 可能導致加工時間的拖長及產量的損失。 _ PPR電流可在板子表面及貫穿孔二者產生具有平坦厚 度的金屬沈積物。藉由正向與反向循環之間交變的電流調 變而產生PPR電流。該電流之調變,係使由陰極向陽極流 之電流模式反向,而將原來一定方向之直流極化效果破壞 而形成。該直流極化效果破壞之程度依一次電流分布而 定,而在高電流密度區域比低電流密度區域產生更多,由 此對跨過整個複雜之幾何圖形提供在較高之施加平均電流 密度下之沈積率(沈積速度)之正常化。再者,藉著在較高 的外加平均電流密度下維持厚度均勻性·,將使整體金屬沈 92S11 1361639 積速次數減少而產生較高的製造輪出*。 但是關於貫穿孔壁最後得到的沈積 度, 面(灿e)到半亮(semiiightii'm^w於霧 R g Dlsh) ’ 由此於高(表 及=貝牙孔)電流密度之間產生非均勻性沈積 “) ;=;:=1流’則整個電流密度範圍-般』
二…但為了保持金屬沈積物的厚产 „使用低電流密度。因此,無論何者 : =流密度下提供具有均勾性金屬沈積物外觀的最 可錄覆的金屬包括’舉例來說,銅、銅合金、鎳、錫、 。,金銀紐、1巴、始、鉻及鋅。金屬鐘覆用之電解液 U夕工業應用之用。舉例來說,它們可用於汽車工業充 當供後續施加裝飾及腐㈣護塗層用之基底層。它們也可 用於電子業’例如詩印刷電路或線路板之製造中,而供 半導體裝置之用。對於印刷電路板的電路製造,在印刷電 =板表面經選擇的部分上及通過電路板基材表面之間的貫 牙孔壁上鍍覆例如銅等金屬。使貫穿孔壁金屬化而於板子 各表面上的電路層之間提供導電性。 美國專利案編號6, 402, 924揭示在含有孔洞 (apertures)或不平表面的基材上沈積金屬的方法。該方法 一面維持在高電流密度下之均鍍比[thr〇w i ng p〇wer,容在 下文解釋其疋義]改良包括沈積物之亮度,晶粒結構以及穿 孔之平坦度(through-hole level ing)。當貫穿孔中心的錢 92811 1361639 覆電流密度與基材表面流動的電流密度相同時 佳的均鍍比。此為企求的電流密度,以在基材表面及= 供均句的金屬層’但报難達到。當基材表面的ΐ: -度與貫穿孔的電流密度不同時,可能會發生電路= 、在吳國專利6’402, 924號中揭示的基材上沈積金屬的 方法’提到施加脈衝周期性反向電流橫 利用聲值反向電流密度及峰值正向電流密度,並且 =猶環當中的峰反向電流密度對峰正向電流密度的: “及:供均句外觀的金屬沈積物、精細的晶粒 峰:::!厚度。改變此比例之-方法為藉由保持 峰正向心讀固^,同時改變峰反向電流密度。 沈積在基材上的金屬依照應用而定。舉例來說 銅充當底塗層供保護及導電之用,然而金可t作供裝姊、 保遠及例如電氣接觸等功能用之頂塗層。銅與金合金 利用此方法㈣。其他可藉纽方法沈積的金屬包括錫、 ..巴㉟銀、鋅及其合金。該方法一般都用於沈積銅 印刷電路板上,其中深寬比為板子厚度 夕儘了美國專利案編號MG2, 924中揭示的方法提出許 夕乂上4 D冊有關金屬鍍覆方面的問題,但是印刷電路板產 業仍持續地顿更大的電路稠密程度(c^cuit
Sifi cat ion),因此要求金屬鍍覆方面有更進一步的改 ^為了提同饴度,該產業已經訴諸於具有貫穿孔的多層 毛路或牙過夕層的互連件(inten加此cti〇n)。多層電路製 92S11 ⑧ 1361639 孚¥致在板子$度方面的整體增加及伴 的互連件長度方面之增加。α μ板子 &表不增加的電路稠密程度將 南的深寬比及貫穿孔長度及,舉例來說,狗骨問題 ~ 〇 =重程度之提高。對高密度板子而言,深寬比可能超: 十比一 rt
另一個金屬鐘覆會遇到的問題為金屬沈積物上之結瘤 =:’也叫做樹枝狀結晶(d_i⑻,的形成。咸: 瘤為㈣覆金屬之晶體而且產生於經鍍覆的表面。儘 官結瘤的起因已經變成某些討論的主題,但是基材上有不 完全的抑制劑層時經常都會出現結瘤。抑制劑—般提供在 沈積反應的動力過電位(kin仙。verpQtentiai)方面大 中田的又化。故易使於基材的表面上提供更均勻的電流分布 亚且使金屬沈積能進行全面的整平。抑制劑將吸附於例如 銅等許多金屬上,而且-般在金屬沈積反應的期間都不合 4耗掉。抑制劑可與整平劑有所區分’整平劑也會提高表 面過電位但是在金屬沈積的期間會遭消耗或改變。大體 上。’。抑制劑為例如聚環氧乙坑及聚環氧丙烧、前述聚合物 〜之共聚物(無規則或段式)以及其他界面活性劑分子 等向分子量含氧聚合物。 〜結瘤的直徑可在小於1微米到大至數毫米範圍内。由 種電氣、機械及表面上的理由而不想要有結粒。舉例 =°兒結瘤容易藉著冷卻空氣流遭帶入電子物件外殼内部 ^外部的電子組件中’其中結瘤處可能會造成短路的故 匕必品在鑛覆之基材組裝到電子物件内以前移除 92811
1361639 結瘤。移除結粒的傳統方法包括 檢查,接著由作業員使用顯微鏡人工移=基材的雷射 法會有作業員失誤的可能且無效率。κ瘤。此傳統方 因此,需要在基材上沈積金屬及 t,該方法可提高均鍍比並且減少結瘤形成方 【發明内容] 一種包括以下的步驟的方法: 的導電性基材、電解液及陽極之電電路連通 間間隔中斷電流而提高均鐘 w或多個時 上的金屬上之結瘤。由適當的來源產生電動广〖生基材 eieCtr_tlve force,emf)或電壓,以提佴 ”通的導電性基材、電解液及陽極之電流而提供2二 声材在或電氣迴路中扮演陰極的角 ::在電流流過的期間使金屬或金屬合金沈積在導丄 :以-或多個時間間隔中斷電流時,金屬沈積作㈣ 至少降低。整個鐘覆猶環以一或多個時間間隔的 :广’相對於許多傳統的金屬沈積加工 阿均錢比及減少結狀金屬或金屬合金沈積物的基材 ,電解液含有一或多種金屬離子以提供沈積在導電性 二;金之來源。大體上金屬離子的來源 :岭或至少可分散在電解液稀釋劑中的金屬鹽 屬皆可用於實行本方法。除了一或多種金屬鹽之 该笔解液也可包含一或多種例如增亮劑、抑制劑 '整 ^、抗氧化劑、螯合劑 '錯合劑、界面活性劑、緩衝溶 9281! 1361639 陷。 【實施方式】 在本說明書全文中使用時,除非本文中另外明確指 明,否則以下的縮寫具有下述的意義:。(^攝氏度;mA=毫 安培;cm=公分;V=伏特;hr=小時;min.=分鐘;wt%=重量 百分比;=毫米;g/L=克數/公升;mils = 〇 〇〇1密爾/吋; inch=2.54公分/吋;ms=毫秒;以及邡胙掃描式電子顯微 鏡0 讚術語「印刷線路板(printed wiring b〇ard)」與「印 刷電路板(printed circui t board)」在本說明書全文中皆 可父替使用。「沈積(depositi〇n)」與「鍍覆(ρΐ&仂叩)」 在本說明書全文中皆可交替使用。「多層」表示二或更多」 層。「均鍍比(throwing power)」係定義為洞孔中間段部的 =,積物厚度對洞孔表面部的金屬沈積物厚度之比例。 「深寬比」(aspect ratio)表示基材厚度除以孔洞 # UP_re)直徑。「孔洞(aperture)」表示如貫穿孔之孔洞 或如在基材表面的通孔(via)之凹部。 ,非:加指明’所有的百分比皆以重量計。除非邏輯 匕值範圍上限為1 〇〇%,否則所有的數值範圍皆為八 並且可以任何順序結合。 ’·,,53 雷性係包括以下的步驟:提供通過成為電路連通的導 =、電解液及陽極產生電流;以及在_覆循環中 乂一或夕個時間間隔中斷電流提高均鑛比,並 在該導電性基材上的金屬上之結瘤。由適當的電力來源: u〇i639 生電動勢或電壓,提供通過成 電解液及陽極之電流而提供導在電, =下中斷電流時,金_作用二 對正個鐘覆循環在一或多個時間間隔下的電户日 子於許多傳統的金屬沈積加工, =相 法所PH 沈㈣㈣材。此外,藉由本方 去所鍍復的物件可耐科肯達孔隙型缺陷。 方 ,鍍覆循環中可使用任何時間間隔的適當植 只要時間間隔的組合提供沈積在基材上至二 η二,或例如°.5:1至1:1,或例如0.6:1至U5·· 可。S :如^7:1至°.9: 1之金屬及金屬合金的均鑛比即 σ ^均鍍味圍表示在具有不規職何形 ^ 之鑛覆電流密度與基材開口的鑛覆電流密度相同面 這樣可提供金屬層的全面/接、。 的可能性。 μ取終物件中電流缺陷 除了提供至少0.5:1的均鍍比’用於中 的時間間隔之組合,將減少形成於 屬:广 物上的結瘤或樹枝狀結晶數目。儘管結瘤二::: 某些討論的主題,但是當基材上有;^全的抑· 2現結瘤。鍍覆循環過程的中斷似乎能補償不完全的抑制 ,另-實_中該方法包括提供通過的導電性基材、+ 解液和陽極之電流’該導電性基材、電解液及陽ς彼此= 間以及與提供電流的電動勢或電壓之來源之間係成為電路 92811 13 1361639 結束,則立即再將電流提高到持續金 度。 你所需的電流密 任何適合的電流密度皆可用於實行誃 度可介於1毫安培/平方公分及更高,或例如5山此^“ 方公分到200毫安培/平方公分,或例如5 :女培/平 50毫安培/平方公分之範圍内。 。’千方公分到 任何適合的陽極皆可使用。該陽極 網柵(grid)等可溶性陽極。也可 ^属0 ·_-、〆銅 s 用貝重金屬或非貴重金 屬之不浴性陽極。此不溶性陽極的舉例為:氧化鉉及 化錯。 任何適合的電解液皆可用於使金屬或金屬合金沈積。 該電解液的組成可依照要沈積的金屬或金屬合金之種類而 變。除了 -或多種金屬離子來源之外,該電解液也可包含 一或多種稀釋劑,及一或多種可選用的添加物,例如增亮 籲劑、抑制劑、整平劑、抗氧化劑、緩衝溶液、導電性鹽類、 鹵化物及界面活性劑,以及其他符合鍍覆特定金屬或金屬 合金所需電解液之添加物。 可鍍覆的金屬舉例包括銅、錫、鎳、鈷、鉻、鎘、斜、 銀、金、紐、纪、叙j、銦、錢、釕、鉉、鋅或其合金。— 般該方法係用於沈積銅及銅合金。金屬係包含在組成物中 作為可溶性鹽類’或者金屬至少可分散於電解液稀釋劑 中。任何適合的金屬鹽或化合物都可使用。適合的銅化合 物包括銅鹵化物、銅硫酸鹽、銅烷磺酸鹽、銅醇磺酸鹽或 15 92811 1361639 其混合物。此等銅化合物為水溶性β 包含於該電解液中之足量的金屬鹽 的濃度為G. GIQ/公升到克/公升,或例如子 =升到刚克/公升。若該金屬為銅時,則使用足量 銅離子濃度介於^幻〇〇克/公升,或例如二 克/么升到50克/公升之範圍内。 此稀釋劑包括 。也可使用溶 任何適合的稀釋皆可用於該電解液中。
水或有機溶劑例如醇或其他適合的有機溶劑 劑的混合物。 ::子來源包括任何適合的氯鹽或其他可溶於該電 "虱來源。此氣離子的來源之舉例為氣化鈉、氯化鉀、 2風或其混合物。典型地,電解液巾所包含的氣離子來 〜使传乳離子濃度介於〇.〇2卿到125卿,或例如〇25 卿到60卿’或例如5卿到35 _。 丄可用於該電解液的增亮劑包括任何對於要錢覆的金屬 係適合的增亮劑。增亮劑可針對金屬或金屬合金而指 疋。電解液可包含用量Q.⑽1 PPm到l.G ppm的增亮劑。 適合增亮劑的舉例包括具通式s_R_s〇3的含硫化合 ,,式中R為經取代或未經取代的烧基或芳基。更具體而 舌,適合的增亮劑之舉例包括具結構式hs_r_s〇3x、 〇3 S R S-S-R-S〇3X 或 x〇3__s_Ar_s_s_Ar_s〇3X 的化合物, 式"為經取代或未經取代的烷基,而較佳為具有i至6 個,原子的烧基’更佳為具有i纟4個碳原子的烧基;紅 為芳基例如苯基或奈基;以及χ為適合的平衡離子例如納 928Π 1361639 克/公升的此類整平劑。 適合的整平劑之另-個實施例包含聚伸垸二㈣ (polyalkylene giyc〇i ether)。該電解液中可包含介於 〇.〇5至30克/公升的聚伸烷二醇醚。相對分子量可為5的 至3500克/莫耳,較佳為800至4〇〇〇克/莫耳。 此聚神貌二醇醚的實施例包含二甲基聚乙二醇峻、二 曱基聚丙二醇醚、二第三丁基聚乙二醇醚' 硬脂醯基單曱 基聚乙二醇醚、壬基酚單曱基聚乙二醇醚、聚乙烯聚丙烯 二甲醚(混合或段式聚合物)、辛基單甲基聚伸烷醚( 段式聚合物)、二甲基-雙(聚伸烧二醇)辛_(混合或 聚合物)及石-萘酚單曱基聚乙二醇。 ^ 任何用於金屬鍍覆中的抑制劑(載劑)皆可用於 液。儘管抑制劑的濃度可由一個電鐘浴變過另一個,作θ 抑制劑一般都介於100 _或更大。此抑制劑的實施例: 例如聚二醇類等多絲化合物,例如,聚(乙二醇)、以丙 一醇)及其共聚物。該聚(乙二醇)的分子量可介於刚〇到 1 2000之範圍内。其他適合的化合物包含,但不限於 環氧乙燒、聚環氧㈣及聚環氧Μ與聚環氧㈣的I體 之共聚物(無規及段式)。 任何適合的緩衝溶液或ρΗ調節劑都可使用。 =可包含’舉例來說’例如硫酸、氯氯酸、琐酸 U合㈣無機賴。添加足量的酸到該組成使得邱 介於〇至14,或例如〇至8’或例如〇至6,或例如。至% 该ΡΗ範圍可依照要鍍覆的金屬或金屬合金而變。 92811 18 1361639 在鑛覆的期間該電解液的溫度可介於丨8它到u〇。〇, 或例如25 C到6Q°C之範圍内。溫度範圍可依照要鐘覆的金 j或至屬合金而變。銅電解液可保持在2〇。〇到的溫度 乾圍下’而酸銅浴⑽從Q至4)在抓到航的溫度。 玄方法可用於金屬鍍覆任何適合的導電性基材。若基 才係由%材料製成’則可處理或活化該基材使得整個基 材可又成導電性’或者可選擇性地活化使得僅部份基材為 金屬鍍覆。已知此技藝中有許多不同的方法’藉由該些方 =活化用於金屬鐘覆的基材。有—個此類的方法如美國專 1案編號4, 810, 333中揭示之係以金屬硫化物例如鐵、 ^錄及鋼㈣化物轉化塗覆非導電性基材。另-轉化塗 後的方法之實施例如美國專利案編號4,挪,739中揭示 IS道?錫—貴重金屬無電金屬鍍覆觸媒的酸膠體溶液處理 康之f性基材表面,㈣以含有可與該金屬鐘覆觸媒起反 ==的硫化物而形成該催化性貴重金屬的硫化物來 利用電流中斷法鑛覆的基材可用於任何以金 材用於例如電氣物件之製造的後基 包含印刷線路板、積體電路、丄=物件的貫施例 落片、用於微晶片應用的心連接器、電解 導線架、光電元件及光電封^。+導體與半導體封農、 說’在印刷線路板的製造中,戶 0.5. !及更大的金屬及金屬合 :錢比 減少的結瘤之金屬及金屬合金沈積物 也企圖含 貞初以援供具有可靠效能 19 件。有各種不同的方法製造印刷線路板,包括此 *中習知的多層印刷線路板。 产,在:_包路板製造中該基材一般都是填充玻璃纖維的 二:::材’亚且其至少—表面上有銅包覆。貫穿孔係藉 =!:塵餘何此技藝中其他適合的方法形成。然後 X貝穿子叫邊以移除任何在該貫穿孔壁上的附著 。去料(deSmear ing)可使用硫酸、鉻g线電漿钱刻或 利用鉻酸㈣(etchba⑻接著玻㈣刻,或任何里 =&的方法而進行。貫穿孔切渣或㈣之後,習慣I 利用移除由貫穿孔壁延伸到 〖貝上 刻來口 u 的玻璃纖維之玻璃姓 处 "。在這之後接著利用溶液清洗銅表面並 :由溶液使貫穿孔壁處於促㈣媒吸附的狀態。此溶液 J為鹼性界面活性劑水溶液。 然後可將該板子浸在觸媒預浸溶液中。此溶液包含虚 ::溶液相崎質但不含移體。專有的觸媒預浸溶液組 ㊉可由市%上購仔’例如有一適合的材料可由羅門哈斯 =子材料公司⑻hm and Haas…伽…Mateos)蹲 侍,名為 CataprepTM 4〇4。 然後將該板子浸在觸媒組成物水溶液中。此觸媒组成 物含有藉由貴重催化性金屬,舉例來說藉由錫在酸性介質 2還原作用而形成的還原產物q錫在酸性介質中的 把之還原產物就是代表。此觸媒的實施例為如寧印tm R-44 ’可由羅門哈斯電子材料公司購得。傳統的非貴重金 屬觸媒也可使用。觸媒可在2(rc到耽的溫度使用】分鐘 92S11 20 丄北1639 到10分鐘。 視情況需要,該板子可利用加速劑加以處理。適合的 加迷劑可移除部分由例如氧化锡等觸媒形成的金屬氧化 t。適合的加速劑之實施例為氫氣酸及過氣酸。加速得藉 著在20°c到7(TC的溫度將該板子浸入加速劑水溶液中/ 分鐘到5分鐘而完成。 在施加觸媒或加速劑之後,令該板子轉化塗覆而使其 對於金屬或金屬合金沈積物具有導電性。在此技藝中習知 的任何適合方法都可用於轉化塗布該板子。硫^玻璃 (chalcogenide)形成就是其中—種可使用的方法。硫石西碎 $璃形成係藉著使該催化性層與硫族元素(ehai⑺㈣的 ’合液接觸而發生。該硫石西碲玻璃處理溶液可為水溶性硫族 鹽類的切液。硫化物為典型的硫族元素。適合的硫化物 f類之實施例為例如鈉、鉀及㈣硫化物等驗金屬硫化物 孤類γ硫硒碲玻璃處理溶液具有〇1克/公升到“克/公升 之鹽濃度。 轉化塗覆之後將該板子浸人金屬或金屬合金電解液 鐘设广)以供金屬或金屬合金的沈積用。任何適合的金屬 =眉合金電解液都可用於板子上沈積一或多種金屬層。 /地使用鋼或鋼合金電解液供鐘覆印刷電路板。可沈積 印刷電路板上的適合銅合金包括,但不限於,銅/錫、銅 /鉍、銅/金、鋼/銀及銅,鎳。可鍍覆的額外金屬包括,但 不限於,鎳、錫及其合金。 適合的銅電解液水溶液包含提供〇.〗克/公升到5〇克/ 928 Π 21 1361639 公升的銅離子含量的例如五水合硫酸銅等—或多種水溶性 2鹽;提供5卿到35 ppm的氣離子含量的例如氯化納等 #或多種氣離子源;Q_到Q 5 _含量之例如娜 寺—種或多種增亮劑;〇· 005克/公升到0.2克/公升含量 如烷氧基内酯等一或多種整平劑;5 〇 〇 _到】_ _ 3里之具2500到5000分子量之例如聚(乙二醇)等一或夕 種抑制劑,以及可使電解液Η纟^ ^ ^ ^ ^ ^ ^ ^ 硫酸等—或多種無機酸類。1的^之例如 將板陰極)與例如不溶性二氧化鉛電極等平衡電極 同狀銅電料水料巾,並且連到電動勢源使 广極、電解液及電動勢源彼此處於電氣交流下 叫供元全的電氣迴路。電流密度介於1()毫安# 分到40毫安培/平方公分之範圍内。 “ 金屬鑛覆循環開始在最初的時候使電流由〇提 於鍵覆的程度並維持在該範圍! i 5分鐘,_丨 5分鐘在該鍍覆循環最初的1〇分鐘内使電流下降至刀〇: :Γ:ΓΓ中斷電流。在該金屬錢覆循環最初1。分鐘 之後,使電流由0提高回龍覆範圍, 計 中每10分鐘到20分鐘;^分鐘到 在/鐘則盾每 直到該印刷線路板的表面及貫穿孔上=㈣外電流中斷, 為止。 牙孔上達到所需的銅層厚度 該銅鑛覆方法提供具有至少〇 5 :〗, 或例如0. 8 : 1,或例如〇· 8 : 1 ’或〇 9或例如〇. 7 . 1 ’ 金屬沈積。因"低在許多以傳统卜1之均鐘比的銅 尤趨覆的印刷線路板中
92SH 22 1361639 ••看到的狗骨問題。此外相對於許多不使用電流中斷方 ^統製程所鐘覆的銅金屬沈積該板顯示有減少的結瘤數 , ㈣線路板所用的鑛覆時間介於45分鐘至5小 圍。在電路板製造方面’想要的金屬或金屬合金厚 到獅密或例如8。密爾到m密爾或 如90岔爾到150密爾之範圍。 乂例 該電流中斷方法適用於金屬鍍 ►如7:1到10 :丨的深寬比多層 / 5·卜或例 經鐘覆的貫穿扎具有0.。2:;;7的'貫穿孔。典型地, 公分到0.7公分的平均紳公分,或例如 成的貫穿孔的平均直4二電流中斷方法所製 千士 罝祅可由則述的範圍加以改變。 垂直及水平鍍覆製程皆可使用..^ 材,例如印刷線路板,以垂直的^,垂直製程中該基 中:作_,的該基材,係位於相;:::::::容器 可/合性陽極之垂直位置。美 、夕p /合f生或不 路。各種用於產生♦位熱土 ’、極都連到電源及電氣迴 者。藉由例如栗等^裝置在此技藝中乃眾所周知 陰極及陽極的容器。: = 電:液連續地導入通過含 用。此類泵在電鑛業中;鐘製程中的適合粟皆可使 在水平㈣方法中^者並以於取得。_ 置’具水平方向移動之亥f材或陽極係透過位在水平位 (splash nozz〗e) ^运早70來輪送。藉由飛濺喷嘴 或上方連續地注~ (fl〇od Pipes)由基材下方及/ 包解液$ I 4J·, 土杓上。將陽極以相對於基材 92811 ⑧ 1361639 與電解液相接觸。 在技藝中乃眾所周 之間隔來排裂,且藉由適合的裝置使之 藉由滾輪或板運送該基材。此水平裳置 知者。 印刷線路板經鍵覆之後就可Μ由 ,立 错由一或多種此技藝中習 知的傳統製程進行進一步的加工 i办廿 九成多層電路板,然後 再轉其他零件組合而構成各種不同的電氣物件及裝置。 提供以下的實施例以便更完全地說明本發明,盆 用以限制本發明的範圍。 貫施例1 均鍍比 在70°C平均溫度下藉著將具有〇· 〇3公分、〇 〇7公分 及U9公分貫穿孔陣列的多層銅包覆之印刷電路板浸入 至 CyCuposit™ conditioner 33〇2 (可由麻州,馬博羅 市二隹門哈斯電子材料公司料)的有機環、氧系溶劑的驗性 欠冷液中1 〇分鐘預清洗該多層鋼包覆之印刷電路板,接著 用水清洗該板。 然後在70°C的平均溫度下利用MLB Pr〇m〇terTM 33〇8 的高猛酸鹽溶液將該貫穿孔壁去膠渣分鐘,接著用水清 洗。然後令和殘餘物並且在5(TC使用由醋酸羥基銨(5〇克/ A升)、甲石頁酸(14 0克/公升)、界面活性劑(.5克/公升)、 聚合電解質(10克/公升)及一公升水所組成的單一1理溶 夜進行電荷改質5分鐘。然後用水清洗該板。 然後以導電粒子塗層施塗於該板。該導電粒子塗声為 石墨的驗性碳質分散液。在室溫使該板沒入該分散液中5 24 92811 ⑧ 丄JOlOjy =童。料將含有導電粒子塗層的板置於料在8{rc的空 乱循%烘箱中直到該塗層乾燥為止。 微蝕刻包覆在5亥板上的銅以移除來自銅包覆的分散液 =。然後以水噴㈣板。接著就準備該板非導電部分的 至屬化。 銅=,該板置於具有包含10克/公升的五水合硫酸 (乙-醇认f 5升的硫酸、50卿I氣離子' 200卿的聚 及0.5卿的刪之電解液水溶液的鍍覆槽中。 個鑛覆使電解液的PH都維持於〇至!。 路與銅陽極一起連到電動勢源以提供完整的迴 屬間使電流維持在50毫安培/平方公分。金 、鑛復㈣開始時使電流由G提高到50毫安培/平方八 分,並且使電流維持在5〇其 “ 鍍覆於該板上,接方公分5分鐘以使銅 反上接者使電流降到0使達 在該鐘覆猶環最初10分鐘剩餘 々丨L k南回到50毫安捭/伞士八\ J 了间便电 分鐘士&夕β π 分。該鍍覆循環最初的10 刀鈿凡成之後,使電流降到0以達每 流,斷直到該鍍覆循環完成為止。”’里有“童的電 第1Α及1Β圖顯干加π Μ 圖。第1Α圖顯示個細銅鑛覆的貫穿孔⑽Μ截面 貫穿孔的上部或表面;八孔的广以 均鑛比大於。.9二測定該貫穿孔的銅金屬層之 穿孔表面的銅層厚度〜處的銅層厚度直經/在該貫 .^ 又 取么的均鑛比為丨。因此,# + 中辦方法能提供具有良好均錢比的銅金屬層 亥電流 92811 ⑧ 1361639 實施例2 (比較性) 樹枝狀結晶(Dendrite)之減量 藉由如實施例1中所說明的相同方法來預清潔具有 0.03公分、〇.〇7公分及0.09公分貫穿孔陣列的多層銅包 覆印刷電路板並且如實施例1中所說明的相同方法之條: 塗覆。等預處理過程完成之後將各板置於銅電解液中供銅 金屬沈積。 該銅電解液包含20克/公升的五水合硫酸銅、25〇克/ 公升的硫酸、1〇〇 ppm的氯離子、1〇〇 ppm的聚(乙二醇) 及0.5卯„!的BSDS。在整個鍍覆循環中使電解液的邱都 維持於0至1。 將各板置於不同的鍍覆槽。以一個板當作控制組,其 中使用傳統的鍵覆製程鐘覆該板,而其他的板則使用電^ 中斷方法m缝覆的期間使各板的電流密度都料 在50毫安安培/平方公分。令各板與作為平衡電極的銅陽 極-起連到電動勢源以提供完整的迴路。該 進行2小時。 只 等該鍍覆循環結束之後使用傳統的雷射檢查技術分析 馳制組板子的細絲狀(stringy)的結瘤或樹枝狀結晶。在 二板子表面上娜"支狀結晶。第以及Μ圖為 之經銅鑛覆部分的板子表面上顯示有大樹枝狀 、·口日日的板子之SEM 〇 第利用電流中斷方法鑛覆銅。電位勢最初由 ◦心到50宅安培/平方公分並且維持在5〇毫安培/平方 92811 1361639 表 使用的鑲板 樹枝狀結 總數 控制組 12 ίΓ^ 10分鐘中斷 24 6 20分鐘中斷 12 2 B曰
T果顯示相對於傳統的銅㈣$程,本㈣ ,低在㈣覆的期間形成之樹技狀結晶的數目。該控制= 鑲板具有母個鑲板樹枝狀結晶的平均數目 電流中斷方法鑛覆的鎮柄 > .,丨】用本 均值。 項的錯板具有母個鑲板0.25及0.17的平 :了有減少的樹枝狀結晶形成之外,本電 也”有比使用傳統製程 法 以上的平均均錢比增量:的=反之均鍵比更優越_ 改良之銅鍍覆方法。 本电流中斷方法可供用作 【圖式簡單說明】 第1Α至1 β圖為以且 鍍覆之貫穿孔的 :有千句均鍍比大於":1的銅所 第2Α5 ^ 部分及上方部分的照片。 牙至2D圖Ass- 分的照片。 ’、’、,.、、不結瘤的鍍銅電路板的表面四個部 928Π @
Claims (1)
1361639 第94113202號專利申請案 100年9月21曰修正替換頁 十、申請專利範圍: 1 一種電鍍方法,包括提供通過成為電 材、電解液及陽極之電流;以及在金屬錢覆循環最初的 10分鐘内以〇分鐘到5分鐘的時間間隔中斷該電流加 上在該金顧覆循環的每1()至2G分鐘以0至5分鐘的 額外時間間隔中斷電流而提高均鍍比並且減少沈積在 導電性基材上的金屬上之結瘤。 2.如申請專利範圍第i項之電鍍方法,其中該均鑛比為至 少 0. 5 : 1 。 3. —種包括具有一或多層金屬層的基材之物件,該一或多 層金屬層係藉由申請專利範圍第142項之錢方法而 電鑛在該基材上且具有至少〇5:1的均鍛比⑽而加 power) ° 4. 如申請專利㈣第3項之物件,其中,該基材為多層印 刷線路板。 如申請專職圍第3項之物件,其中,該基材沒有樹枝 狀結晶。 (修正本)92811 30
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US56541504P | 2004-04-26 | 2004-04-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW200610454A TW200610454A (en) | 2006-03-16 |
| TWI361639B true TWI361639B (en) | 2012-04-01 |
Family
ID=34941003
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW094113202A TWI361639B (en) | 2004-04-26 | 2005-04-26 | Plating method and article comprising substrate having metal layer |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US7582199B2 (zh) |
| EP (1) | EP1598449B1 (zh) |
| JP (1) | JP4740632B2 (zh) |
| KR (1) | KR101185194B1 (zh) |
| CN (1) | CN1749442B (zh) |
| DE (1) | DE602005022650D1 (zh) |
| TW (1) | TWI361639B (zh) |
Families Citing this family (35)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1598449B1 (en) * | 2004-04-26 | 2010-08-04 | Rohm and Haas Electronic Materials, L.L.C. | Improved plating method |
| JP2007234841A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Kyocera Corp | 配線基板、実装部品、電子装置、配線基板の製造方法および電子装置の製造方法 |
| JP4759416B2 (ja) * | 2006-03-20 | 2011-08-31 | 新光電気工業株式会社 | 非シアン無電解金めっき液及び無電解金めっき方法 |
| US7575666B2 (en) * | 2006-04-05 | 2009-08-18 | James Watkowski | Process for electrolytically plating copper |
| US20090038947A1 (en) * | 2007-08-07 | 2009-02-12 | Emat Technology, Llc. | Electroplating aqueous solution and method of making and using same |
| JP5010685B2 (ja) * | 2007-10-26 | 2012-08-29 | クムホ エレクトリック インコーポレイテッド | 電界放出装置 |
| US20090188553A1 (en) * | 2008-01-25 | 2009-07-30 | Emat Technology, Llc | Methods of fabricating solar-cell structures and resulting solar-cell structures |
| US20090250352A1 (en) * | 2008-04-04 | 2009-10-08 | Emat Technology, Llc | Methods for electroplating copper |
| JP5084766B2 (ja) * | 2009-03-11 | 2012-11-28 | 住友電気工業株式会社 | 薄膜超電導線材および超電導ケーブル導体 |
| US8262894B2 (en) | 2009-04-30 | 2012-09-11 | Moses Lake Industries, Inc. | High speed copper plating bath |
| TW201218277A (en) * | 2010-09-09 | 2012-05-01 | Novellus Systems Inc | By-product mitigation in through-silicon-via plating |
| FR2965659B1 (fr) * | 2010-10-05 | 2013-11-29 | Centre Nat Rech Scient | Procédé de fabrication d'un circuit intégré |
| JP2012092366A (ja) * | 2010-10-25 | 2012-05-17 | Imec | 銅の電着方法 |
| US9816193B2 (en) | 2011-01-07 | 2017-11-14 | Novellus Systems, Inc. | Configuration and method of operation of an electrodeposition system for improved process stability and performance |
| ES2644268T3 (es) | 2011-01-26 | 2017-11-28 | Macdermid Enthone Inc. | Proceso para rellenar surcos de contacto en microelectrónica |
| EP2568063A1 (en) * | 2011-09-09 | 2013-03-13 | Rohm and Haas Electronic Materials LLC | Low internal stress copper electroplating method |
| CN102510668B (zh) * | 2011-11-08 | 2014-02-19 | 深圳市景旺电子股份有限公司 | 一种超厚铜pcb板制作方法及其电路板 |
| US20130220819A1 (en) * | 2012-02-27 | 2013-08-29 | Faraday Technology, Inc. | Electrodeposition of chromium from trivalent chromium using modulated electric fields |
| US9816196B2 (en) | 2012-04-27 | 2017-11-14 | Novellus Systems, Inc. | Method and apparatus for electroplating semiconductor wafer when controlling cations in electrolyte |
| EP2735627A1 (en) * | 2012-11-26 | 2014-05-28 | ATOTECH Deutschland GmbH | Copper plating bath composition |
| US9611550B2 (en) | 2012-12-26 | 2017-04-04 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Formaldehyde free electroless copper plating compositions and methods |
| US10190232B2 (en) * | 2013-08-06 | 2019-01-29 | Lam Research Corporation | Apparatuses and methods for maintaining pH in nickel electroplating baths |
| US20150041328A1 (en) * | 2013-08-07 | 2015-02-12 | Xagenic Inc. | Sensor growth controller |
| CN103409780B (zh) * | 2013-08-13 | 2016-01-20 | 山东大学 | 一种对纳米多孔金进行表面合金修饰的方法 |
| JP2015106653A (ja) * | 2013-11-29 | 2015-06-08 | イビデン株式会社 | プリント配線板の製造方法 |
| US9732434B2 (en) | 2014-04-18 | 2017-08-15 | Lam Research Corporation | Methods and apparatuses for electroplating nickel using sulfur-free nickel anodes |
| US10154598B2 (en) * | 2014-10-13 | 2018-12-11 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Filling through-holes |
| JP6641717B2 (ja) | 2015-04-08 | 2020-02-05 | 日立化成株式会社 | 多層配線基板の製造方法 |
| US20170016131A1 (en) * | 2015-07-15 | 2017-01-19 | Far East University | Growth method of dendritic crystal structure that provides directional heat transfer |
| US10508357B2 (en) * | 2016-02-15 | 2019-12-17 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Method of filling through-holes to reduce voids and other defects |
| WO2020096906A1 (en) * | 2018-11-07 | 2020-05-14 | Coventya, Inc. | Satin copper bath and method of depositing a satin copper layer |
| JP7107190B2 (ja) * | 2018-11-28 | 2022-07-27 | 住友金属鉱山株式会社 | 銅張積層板の製造方法 |
| US10612149B1 (en) * | 2019-09-05 | 2020-04-07 | Chow Sang Sang Jewellery Company Limited | Platinum electrodeposition bath and uses thereof |
| CN115058757B (zh) * | 2022-07-04 | 2024-05-24 | 厦门海辰新材料科技有限公司 | 电镀设备及镀膜机 |
| CN120993822A (zh) * | 2025-10-24 | 2025-11-21 | 广东硕成科技股份有限公司 | 一种直流电镀铜的电流控制方法与应用 |
Family Cites Families (49)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2471918A (en) * | 1946-12-12 | 1949-05-31 | Harshaw Chem Corp | Electrodeposition of copper |
| GB710375A (en) * | 1951-10-26 | 1954-06-09 | Westinghouse Electric Int Co | Improvements in or relating to electroplating |
| US2862861A (en) * | 1956-01-19 | 1958-12-02 | Harshaw Chem Corp | Copper cyanide plating process and solution therefor |
| GB932822A (en) | 1960-03-09 | 1963-07-31 | Vyzk Ustav Polygraficky | Electrolytic production of copper articles |
| DE2453830C2 (de) * | 1974-11-13 | 1986-07-31 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Bad und Verfahren zur galvanischen Abscheidung von glänzenden Aluminiumüberzügen |
| US3945894A (en) * | 1975-04-11 | 1976-03-23 | Oxy Metal Industries Corporation | Bath composition and method of electrodepositing utilizing the same |
| SE408034B (sv) * | 1977-03-15 | 1979-05-14 | Philips Svenska Ab | Lageranordning vid ett mosaiktryckhuvud |
| US4152467A (en) * | 1978-03-10 | 1979-05-01 | International Business Machines Corporation | Electroless copper plating process with dissolved oxygen maintained in bath |
| US4189324A (en) | 1978-06-02 | 1980-02-19 | Michael Gulla | Stabilized electroless plating solutions |
| JPS602692A (ja) * | 1983-05-26 | 1985-01-08 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 銀メツキ方法 |
| US4683036A (en) * | 1983-06-10 | 1987-07-28 | Kollmorgen Technologies Corporation | Method for electroplating non-metallic surfaces |
| JPS6063987A (ja) * | 1983-09-17 | 1985-04-12 | 沖電気工業株式会社 | 印刷配線基板の製造方法 |
| US4515829A (en) * | 1983-10-14 | 1985-05-07 | Shipley Company Inc. | Through-hole plating |
| US5246817A (en) * | 1985-08-02 | 1993-09-21 | Shipley Company, Inc. | Method for manufacture of multilayer circuit board |
| US4902610A (en) * | 1985-08-02 | 1990-02-20 | Shipley Company Inc. | Method for manufacture of multilayer circuit board |
| JPS62127493A (ja) * | 1985-11-28 | 1987-06-09 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 電気錫メツキ法 |
| WO1987003915A1 (en) * | 1985-12-24 | 1987-07-02 | Gould Inc. | A process and apparatus for electroplating copper foil |
| US5007990A (en) * | 1987-07-10 | 1991-04-16 | Shipley Company Inc. | Electroplating process |
| US4952286A (en) * | 1987-07-10 | 1990-08-28 | Shipley Company Inc. | Electroplating process |
| US5326454A (en) * | 1987-08-26 | 1994-07-05 | Martin Marietta Corporation | Method of forming electrodeposited anti-reflective surface coatings |
| US4810333A (en) | 1987-12-14 | 1989-03-07 | Shipley Company Inc. | Electroplating process |
| GB8801827D0 (en) | 1988-01-27 | 1988-02-24 | Jct Controls Ltd | Improvements in electrochemical processes |
| US4895739A (en) * | 1988-02-08 | 1990-01-23 | Shipley Company Inc. | Pretreatment for electroplating process |
| US4932518A (en) * | 1988-08-23 | 1990-06-12 | Shipley Company Inc. | Method and apparatus for determining throwing power of an electroplating solution |
| US5051154A (en) * | 1988-08-23 | 1991-09-24 | Shipley Company Inc. | Additive for acid-copper electroplating baths to increase throwing power |
| US4897165A (en) * | 1988-08-23 | 1990-01-30 | Shipley Company Inc. | Electroplating composition and process for plating through holes in printed circuit boards |
| JP3098022B2 (ja) | 1990-06-14 | 2000-10-10 | 荏原ユージライト株式会社 | 局所析出皮膜形成方法 |
| US5849171A (en) * | 1990-10-13 | 1998-12-15 | Atotech Deutschland Gmbh | Acid bath for copper plating and process with the use of this combination |
| JP2697773B2 (ja) * | 1991-03-11 | 1998-01-14 | 日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース 株式会社 | メッキ方法 |
| US5252196A (en) * | 1991-12-05 | 1993-10-12 | Shipley Company Inc. | Copper electroplating solutions and processes |
| US5630840A (en) | 1993-01-19 | 1997-05-20 | Schneider (Usa) Inc | Clad composite stent |
| US5958207A (en) * | 1994-10-01 | 1999-09-28 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Process for applying a surface coating |
| JP3313277B2 (ja) * | 1995-09-22 | 2002-08-12 | 古河サーキットフォイル株式会社 | ファインパターン用電解銅箔とその製造方法 |
| DE19545231A1 (de) * | 1995-11-21 | 1997-05-22 | Atotech Deutschland Gmbh | Verfahren zur elektrolytischen Abscheidung von Metallschichten |
| DE19653681C2 (de) * | 1996-12-13 | 2000-04-06 | Atotech Deutschland Gmbh | Verfahren zur elektrolytischen Abscheidung von Kupferschichten mit gleichmäßiger Schichtdicke und guten optischen und metallphysikalischen Eigenschaften und Anwendung des Verfahrens |
| US6565731B1 (en) * | 1997-06-03 | 2003-05-20 | Shipley Company, L.L.C. | Electroplating process |
| US5972192A (en) * | 1997-07-23 | 1999-10-26 | Advanced Micro Devices, Inc. | Pulse electroplating copper or copper alloys |
| US6071398A (en) * | 1997-10-06 | 2000-06-06 | Learonal, Inc. | Programmed pulse electroplating process |
| US6165306A (en) * | 1998-06-01 | 2000-12-26 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Process and apparatus for cutting of discrete components of a multi-component workpiece and depositing them with registration on a moving web of material |
| MY144573A (en) | 1998-09-14 | 2011-10-14 | Ibiden Co Ltd | Printed circuit board and method for its production |
| JP4388611B2 (ja) * | 1998-09-14 | 2009-12-24 | イビデン株式会社 | 銅被膜からなる配線を有するプリント配線板およびその製造方法、並びに銅被膜からなる回路を有する回路板 |
| JP3229286B2 (ja) * | 1999-04-02 | 2001-11-19 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | プリント回路基板の製造方法 |
| US6527920B1 (en) | 2000-05-10 | 2003-03-04 | Novellus Systems, Inc. | Copper electroplating apparatus |
| US6736954B2 (en) * | 2001-10-02 | 2004-05-18 | Shipley Company, L.L.C. | Plating bath and method for depositing a metal layer on a substrate |
| US20040011432A1 (en) * | 2002-07-17 | 2004-01-22 | Podlaha Elizabeth J. | Metal alloy electrodeposited microstructures |
| EP1475463B2 (en) * | 2002-12-20 | 2017-03-01 | Shipley Company, L.L.C. | Reverse pulse plating method |
| US20040154925A1 (en) * | 2003-02-11 | 2004-08-12 | Podlaha Elizabeth J. | Composite metal and composite metal alloy microstructures |
| JP4280993B2 (ja) | 2003-12-24 | 2009-06-17 | ソニー株式会社 | 撮像装置及びその方法並びにプログラム |
| EP1598449B1 (en) * | 2004-04-26 | 2010-08-04 | Rohm and Haas Electronic Materials, L.L.C. | Improved plating method |
-
2005
- 2005-04-23 EP EP05252554A patent/EP1598449B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2005-04-23 DE DE602005022650T patent/DE602005022650D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2005-04-25 KR KR1020050033996A patent/KR101185194B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2005-04-25 JP JP2005126027A patent/JP4740632B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-04-26 CN CN2005100689867A patent/CN1749442B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-04-26 US US11/114,440 patent/US7582199B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-04-26 TW TW094113202A patent/TWI361639B/zh not_active IP Right Cessation
-
2009
- 2009-01-12 US US12/319,753 patent/US8945362B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW200610454A (en) | 2006-03-16 |
| JP2005320631A (ja) | 2005-11-17 |
| US20090188804A1 (en) | 2009-07-30 |
| CN1749442A (zh) | 2006-03-22 |
| KR101185194B1 (ko) | 2012-09-24 |
| EP1598449A3 (en) | 2007-01-31 |
| DE602005022650D1 (de) | 2010-09-16 |
| US8945362B2 (en) | 2015-02-03 |
| CN1749442B (zh) | 2013-01-02 |
| US20060012044A1 (en) | 2006-01-19 |
| JP4740632B2 (ja) | 2011-08-03 |
| EP1598449B1 (en) | 2010-08-04 |
| EP1598449A2 (en) | 2005-11-23 |
| KR20060045837A (ko) | 2006-05-17 |
| US7582199B2 (en) | 2009-09-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI361639B (en) | Plating method and article comprising substrate having metal layer | |
| TW420728B (en) | Method for electrolytic deposition of metal coatings | |
| TW200303376A (en) | Process for electrolytic copper plating | |
| CN101348928A (zh) | 镀钯及镀钯合金之高速方法 | |
| TW200307768A (en) | Via filling method, printed circuit board, and wafer | |
| CN1703540A (zh) | 电沉积铜的方法 | |
| TW569390B (en) | Via filling method | |
| TW201615628A (zh) | 用於電沉積含金之層之組合物及方法 | |
| JP4932370B2 (ja) | 電解めっき方法、プリント配線板及び半導体ウェハー | |
| WO2004038070A2 (en) | Pulse reverse electrolysis of acidic copper electroplating solutions | |
| JPWO2002031228A1 (ja) | 不溶性陽極を使用する電解銅めっき方法 | |
| KR102150878B1 (ko) | 전해 구리 도금액 및 전해 구리 도금 방법 | |
| TWI512149B (zh) | 電解式銅鍍覆溶液及電解式銅鍍覆方法 | |
| JP7121390B2 (ja) | すず合金電気めっき浴及びそれを用いためっき方法 | |
| TWI275668B (en) | Electroplating method | |
| TWI468555B (zh) | 銅電鍍溶液及銅電鍍方法 | |
| TWI515332B (zh) | 銅電鍍溶液及銅電鍍方法 | |
| CN118946690B (zh) | Pr脉冲电解用镀铜液和利用pr脉冲电解法的镀铜方法 | |
| JP3737268B2 (ja) | 電解銅めっき液及びそれを用いた電解銅めっき方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |