TWI228652B - Memory system and memory card - Google Patents
Memory system and memory card Download PDFInfo
- Publication number
- TWI228652B TWI228652B TW091102682A TW91102682A TWI228652B TW I228652 B TWI228652 B TW I228652B TW 091102682 A TW091102682 A TW 091102682A TW 91102682 A TW91102682 A TW 91102682A TW I228652 B TWI228652 B TW I228652B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- memory
- instruction
- writing
- write
- volatile memory
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/32—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F13/00—Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
- G06F13/14—Handling requests for interconnection or transfer
- G06F13/16—Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus
- G06F13/1605—Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus based on arbitration
- G06F13/1647—Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus based on arbitration with interleaved bank access
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1042—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using interleaving techniques, i.e. read-write of one part of the memory while preparing another part
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1045—Read-write mode select circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2216/00—Indexing scheme relating to G11C16/00 and subgroups, for features not directly covered by these groups
- G11C2216/12—Reading and writing aspects of erasable programmable read-only memories
- G11C2216/14—Circuits or methods to write a page or sector of information simultaneously into a nonvolatile memory, typically a complete row or word line in flash memory
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Description
1228652 A7 B7 五、發明説明(1 ) (發明所屬技術領域) 本發明關於具備多區塊之快閃記憶體等之非揮發性記 憶體之多數予以晶片化使用之記憶體系統或記憶卡,例如 適用多媒體卡等之記憶卡的有效技術, (背景技術) 快閃記憶體係可利用對記憶格電晶體之浮動閘極等之 電子之注入或放出來改變其臨限値電壓而進行資訊記憶。 本說明書中記憶格電晶體之臨限値電壓低之狀態稱爲消去 狀態,高之狀態稱爲寫入狀態。依寫入資料進行資訊記憶 時,係對消去狀態之記憶格電晶體,依寫入資料之邏輯値 於記憶格電晶體施加高電壓,爲能於記憶格電晶體獲得所 要臨限値電壓需要較長之處理時間。 習知搭載快閃記憶晶片及記憶控制器之快閃記憶卡, 爲求寫入動作之高速化而採交錯寫入動作模態。例如於卡 片基板搭載多數快閃記憶晶片,對1個快閃記憶晶片指示 寫入動作開始寫入動作之後,對其他之快閃記憶體指示寫 入動作而開始寫入動作。依此動作若欲使寫入動作時間表 面上看不出則需搭載多數之快閃記憶晶片。亦即,對1個 快閃記憶晶片供給寫入位址或寫入資料據以指示寫入動作 之寫入設定之時間,與對依寫入設定所指示之記憶位址輸 出寫入資料的寫入動作之時間比較時,寫入動作之時間遠 較寫入設定之時間爲長。將該寫入動作之時間埋入般依序 進行對其他之快閃記憶體之寫入設定,則可使大多數快閃 本紙張尺度適用中國國家榇準(CNS ) Α4規格(210Χ297公慶) I Γ — ^-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1Τ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -4 - 1228652 A 7 B7 五、發明説明(2) 記憶晶片之寫入動作之一部分予以並列進行,表面上看不 出多數之快閃記憶晶片之寫入動作之時間。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 但是,以快閃記憶體單位進行交錯寫入動作之習知方 式,欲使寫入動作之時間表面上看不出則需搭載多數之快 閃記憶晶片,此將導致記憶卡之大型化、及成本之上升。 本發明目的在於提供一種不必搭載會導致記憶卡之大 型化及成本之上升的如此多數快閃記憶晶片之情況下,可 達成寫入速度之高速化的記憶體系統,及記憶卡。 本發明之目的及特徵可由以下說明及圖面理解。 (發明之揭示) (1 )本發明之記憶體系統,係包含:具備可個別獨 立進行記憶動作之多數記憶區塊的多數非揮發性記憶晶片 ,及對上述非揮發性記憶晶片可個別存取的記憶控制器。 上述記憶控制器,係可對上述非揮發性記憶晶片之多數記 憶區塊選擇性指示同時寫入動作模態或交錯寫入動作模態 〇 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 依上述手段,可以具多數區塊之晶片單位對多數記憶 區塊進行同時寫入動作模態或交錯寫入動作模態。於同時 寫入動作模態可令遠較寫入設定之時間爲長之寫入動作完 全並列化,於交錯寫入動作模態,則接續於1個記憶區塊 之寫入設定的寫入動作被依序偏移而與其他之記憶區塊之 寫入動作一部分重疊而呈並列化。依此則可以較少數之非 揮發性記憶晶片構成寫入處理高速化之記憶體系統。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)' -5- 1228652 A7 B7 五、發明説明(3) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 上述同時寫入動作模態,係例如於指定記億區塊之寫 入動作之串接之多數之指示之後,對該多數記憶區塊以相 同之時序開始之寫入動作模態。上述交錯寫入動作模態, 係例如於已經開始之寫入動作中響應於對其他記憶區塊指 定之寫入指示而開始新的寫入動作之寫入動作模態。 本發明之較佳實施形態之一,上述記憶控制器,係依 附隨寫入位址資訊及寫入資料資訊而用於指示寫入動作之 指令碼之種類,來區別上述同時寫入動作模態之指示與交 錯寫入動作模態之指示。亦可以暫存器設定來指示,但與 其比較可省略特別之控制形態。僅需附隨於寫入位址資訊 及寫入資料資訊而供給寫入指令即可。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本發明之較佳實施形態之一,上述各個非揮發性記憶 t晶片具有晶片選擇端子及其他之多數存取端子時,欲簡單 獲得記憶控制器可對多數非揮發性記憶晶片進行個別存取 控制之連接形態時,上述記憶控制器,可具有:分別連接 於各個非揮發性記憶晶片之上述晶片選擇端子的晶片選擇 信號輸出端子,及共通連接於各個非揮發性記憶晶片之上 述存取端子的多數存取資訊端子。 (2 )本發明另一觀點之記憶體系統,係包含:具備 可個別獨立進行記憶動作之多數記憶區塊的多數非揮發性 記憶晶片,及對上述多數非揮發性記憶晶片可個別存取的 記憶控制器。上述記憶控制器,係可依上述非揮發性記憶 晶片之每一個,對該非揮發性記憶晶片內之記憶區塊指示 交錯寫入動作模態。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -6- 1228652 A7 B7 五、發明説明(4) 上述交錯寫入動作指示,係於已經開始之寫入動作中 響應於對其他記憶區塊指定之寫入指示而開始新的寫入動 作之寫入動作指示。 依上述手段,可以具多數區塊之晶片單位對多數記憶 區塊進行交錯寫入動作模態。於交錯寫入動作模態’接續 於1個記憶區塊之寫入設定的寫入動作被依序偏移而與其 他之記憶區塊之寫入動作一部分重疊而呈並列化。依此則 可以較少數之非揮發性記憶晶片構成寫入處理高速化之記 憶體系統。 本發明之另一觀點之記憶體系統,係包含:具備可個 別獨立進行記憶動作之多數記憶區塊的多數非揮發性記憶 晶片,及對上述非揮發性記憶晶片可個別存取的記憶控制 器。上述記憶控制器,係可依上述非揮發性記憶晶片之每 一個,對該非揮發性記憶晶片內之記憶區塊間指示同時寫 入動作模態。 上述同時寫入動作指示,係於指定記憶區塊之寫入動 作之串接之多數之指示之後,對該多數記憶區塊以相同之 時序開始寫入動作之寫入動作指示。 依上述手段,可以具多數區塊之晶片單位對多數記憶 區塊進行同時寫入動作模態。於同時寫入動作模態可令遠 較寫入設定之時間爲長之寫入動作完全並列化。依此則可 以較少數之非揮發性記憶晶片構成寫入處理高速化之記憶 體系統。 (4 )本發明另一觀點之記憶體系統,係包含:具備 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ' ' -7- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1228652 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明(5) 可個別獨立進行記憶動作之多數記憶區塊的多數快閃記憶 晶片,及對上述多數快閃記憶晶片可個別存取的記憶控制 器,及連接於上述記憶控制器的S R A Μ。上述S R A Μ 係可暫時儲存對快閃記憶晶片之寫入資料,上述記憶控制 器,係可選擇性地依上述快閃記憶晶片之每一個,對該快 閃記憶晶片內之記憶區塊指示交錯寫入動作模態,及依上 述快閃記憶晶片之每一個,對該快閃記憶晶片內之記憶區 塊間指示同時寫入動作模態。 當由主電腦四桶傳送來之寫入資料之傳送速度,相較 於交錯寫入或同時寫入對快閃記憶晶片之資料寫入動作速 度爲較快時,S R A Μ可用作爲資料緩衝器。當上述寫入 速度大於資料之傳送速度時不需利用S R A Μ作爲資料緩 .衝器。 (5 )本發明另一觀點之記憶體系統,係包含:具備 可個別獨立進行記憶動作之多數記憶區塊的多數快閃記憶 晶片,及對上述快閃記憶晶片可使用存取指令進行存取控 制的記憶控制器。上述記憶控制器,係輸出第1指令碼、 接續於該第1指令碼的記憶區塊之位址資訊、及接續於記 憶區塊之位址資訊的第2指令碼,對上述位址資訊所指定 之記憶區塊,依第2指令碼之每一輸入開始記憶動作,又 ,輸出第1指令碼、接續於該第1指令碼的記憶區塊之位 址資訊、接續於記憶區塊之位址資訊的第3指令碼、接續 於第3指令碼之記憶區塊之位址資訊、及接續於記憶區塊 之位址資訊的第2指令碼,在上述第1指令碼至第2指令 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) 一 -8 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1228652 Α7 Β7 五、發明説明(6) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 碼之間,對以上述第3指令碼劃分之多數位址資訊所指定 之多數記憶區塊,響應於第2指令碼之輸入同時開始記憶 動作。前者爲交錯寫入動作模態,後者爲同時寫入動作模 態。 上述第1指令碼,係指示寫入動作之種類的指令碼, 第2指令碼係指示寫入動作之開始的指令碼,第3指令碼 係指示接續有位址資訊之指令碼。 (6 )本發明之記憶卡,係於卡片基板具有外部連接 端子,接於上述外部連接端子的外部介面電路,接於上述 外部介面電路的記憶控制器,及接受上述記憶控制器之個 別存取控制的多數快閃記憶晶片。上述快閃記憶晶片,係 具有可分別獨立進行記憶動作之多數記憶區塊,上述記憶 控制器,係可對上述快閃記憶晶片之多數記憶區塊選擇性 指示同時寫入動作模態或交錯寫入動作模態。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 可搭載S R A Μ作爲寫入資料緩衝器。適用多媒體卡 時,上述外部連接端子,可包含1位元之資料輸出入端子 、1位元之指令端子、電源電壓端子、電路之接地端子、 及時脈端子。 於此記憶卡,和上述同樣,於同時寫入動作模態可令 遠較寫入設定之時間爲長之寫入動作完全並列化,於交錯 寫入動作模態,則接續於1個記憶區塊之寫入設定的寫入 動作被依序偏移而與其他之記憶區塊之寫入動作一部分重 疊而呈並列化。依此則可以較少數之非揮發性記憶晶片構 成寫入處理高速化之記憶卡,可抑制記憶卡之成本上升’ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) 1228652 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ___B7_五、發明説明(7) 實現寫入動作之高速化。 (7 )本發明之非揮發性半導體記憶裝置,係具有記 憶控制器及1個以上之非揮發性記憶體。上述記憶控制器 ,係對上述1個以上之非揮發性記憶體,發出寫入指示指 令,該寫入指示指令包含用於指示資訊應被寫入之位址的 位址資訊。上述非揮發性記憶體之中,第1非揮發性記憶 體具有被以位址分離之多數記憶區域,各個記憶區域可與 其他之記憶區域並行進行記憶體之存取動作。上述記憶控 制器,係發出第1寫入指示指令用於指示對上述第1非揮 發性記憶體之第1記憶區域包含之位址之資訊之寫入之後 ,在上述第1記憶區域之寫入動作終了之前,可發出第2 寫入指示指令用於指示對上述第1非揮發性記憶體之第2 記憶區域包含之位址之資訊之寫入。 上述非揮發性記憶體,例如係具有多數記憶元件,上 述非揮發性記憶體之寫入動作,係依上述寫入指示指令所 指示之位址選擇一群之記憶元件,變化應寫入所選擇之各 個記憶元件之資訊所對應之臨限値電壓。 上述非揮發性記憶體之寫入動作,係例如包含用於變 化記憶格之臨限値電壓的第1動作,及確認各個記憶格之 臨限値電壓是否變化爲上述應寫入資訊所對應之臨限値電 壓的第2動作,在上述第2動作之後,至少1個記憶格之 臨限値電壓未變化爲應寫入資訊所對應之臨限値電壓之情 況下,進行上述第1動作。 上述多數記憶元件,例如係設爲3個以上之臨限値電 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) •10- 1228652 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _B7五、發明説明(8) 壓分布之中’應寫入資訊所對應之臨限値電壓分布所包含 之臨限値電壓。 (8 )本發明之非揮發性記憶裝置,係具有··資料之 輸出入用之第1端子’及動作指示指令之輸入用的第2端 子,及用於指示資料之輸出入及動作指示指令之輸入之時 序的時脈之輸入所使用之第3端子。又,具有··控制部用 於控制由第2端子輸入之動作指示指令所對應之動作,及 依上述控制部之控制進行資料之儲存或讀出的1個以上之 非揮發性記憶體。上述非揮發性記憶體,係具有位址所對 應之多數記憶元件,上述多數記憶元件被分類爲多數群, 在第1群之資料儲存動作中,於其他群可開始資料之儲存 動作。 上述控制部,例如係將由上述第1端子輸入之資料依 每一特定位元組予以分割,指示將第1資料儲存於第1非 揮發性記憶體之上述第1群,指示將第2資料儲存於第1 非揮發性記憶體之上述第2群。 上述控制部,例如係發出儲存指示指令用於指示對上 述非揮發性記憶體之儲存動作,上述儲存指示指令,係由 :指示該指令被儲存之第1指令,及用於指示資料應儲存 之記憶元件的位址資訊,及應儲存之資料,及用於指示儲 存動握開始的第2指令構成。 上述控制部,例如係於發出上述第1指令、用於指示 上述第1非揮發性記憶體之上述第1群之記憶元件的第1 位址、上述第1資料、及上述第2指令之後,發出上述第 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -11 - 1228652 A7 B7 五、發明説明(9) 1指令、用於指示上述第1非揮發性記憶體之上述第2群 之記憶元件的第2位址、上述第2資料、及上述第2指令 〇 上述控制部,例如係於發出上述第1指令、用於指示 上述第1非揮發性記憶體之上述第1群之記憶元件的第1 位址、及上述第1資料之後,發出上述第1指令、用於指 示上述第1非揮發性記憶體之上述第2群之記憶元件的第 2位址、上述第2資料、及上述第2指令。 上述控制部,例如係將由上述第1端子輸入之資料依 每一特定位元組予以分割,指示將第1資料儲存於第1非 揮發性記憶體之上述第1群,指示將第2資料儲存於第2 非揮發性記憶體之第1群。 上述控制部,例如係於發出上述第1指令、用於指示 上述第1非揮發性記憶體之上述第1群之記憶元件的第1 位址、上述第1資料、及上述第2指令之後,發出上述第 1指令、用於指示上述第2非揮發性記憶體之上述第1群 之記憶元件的第2位址、上述第2資料、及上述第2指令 〇 上述控制部,例如係於發出上述第1指令、用於指示 上述第1非揮發性記憶體之上述第1群之記憶元件的第1 位址、及上述第1資料之後,發出上述第1指令、用於指 示上述第2非揮發性記憶體之上述第1群之記憶元件的第 2位址、上述第2資料、及上述第2指令。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 iv -12- 1228652 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _B7五、發明説明(10) (發明之實施形態) (記憶體系統) 圖1係本發明之記憶體系統之一例之記憶卡。圖示之 記憶卡1 ,係於卡片基板2具備:具有多數可獨立進行記 憶動作之例如2個記憶區塊B N K 1、B N K 2的多數非 揮發性記憶晶片例如2個快閃記憶晶片C Η P 1、 C Η Ρ 2,及可對上述快閃記憶晶片C Η Ρ 1、c Η Ρ 2 個別進行存取控制的記憶控制器5,及接於記憶控制器5 的SRAM6。上述SRAM6,可用作爲暫時儲存對快 閃記憶晶片C Η Ρ 1、C Η Ρ 2之寫入資料的資料緩衝器 。上述記憶控制器5,可對上述快閃記憶晶片C Η Ρ 1、 C Η Ρ 2之記憶區塊Β Ν Κ 1、Β Ν Κ 2選擇性指示同時 寫入動作模態或交錯寫入動作模態。 上述快閃記憶晶片C Η Ρ 1、C Η Ρ 2之詳細如後述 ,於此事先說明響應於上述同時寫入動作模態或交錯寫入 動作模態之指示之機能。各個快閃記憶晶片C Η Ρ 1、 C Η Ρ 2,係具有··晶片選擇端子/ C Ε、重置端子/ RES、寫入致能端子/WER、輸出致能端子/〇Ε、 指令資料致能端子/ C D E、序列時脈端子S C、輸出入 端子I /〇〔〇 : 7〕、及等待/忙線端子R / B。輸出 入端子I /〇〔〇 : 7〕兼用作爲資料輸出入、位址輸入 、及指令輸入。來自輸出入端子I/O〔 0 : 7〕之指令 輸入係與指令資料致能端子/ C D E之變化同步。資料輸 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -13- 1228652 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明(11) 出入與序列時脈端子s C同步。位址資訊之輸入與寫入致 能端子/WE R之變化同步。 對快閃記憶晶片C Η P 1之動作選擇係由記憶控制器 5之晶片選擇信號/ C Ε 0指示,對快閃記憶晶片 C Η Ρ 2之動作選擇係由記憶控制器5之晶片選擇信號/ C Ε 1指示,快閃記憶晶片C Η Ρ 1、C Η Ρ 2之其他介 面端子係與對應之快閃記憶晶片共通連接於記憶控制器5 之對應端子。 對晶片選擇信號/ C Ε 0、/ C Ε 1所選擇之快閃記 憶晶片C Η Ρ 1、C Η Ρ 2之記憶動作內容,係介由輸出 入端子I /〇〔〇 : 7〕供給之指令及位址資訊,必要時 爲寫入資料而被指示。位址資訊包含記憶區塊Β Ν Κ 1、 Β Ν Κ 2之指定資訊、指定之記憶區塊中之存取位址資訊 等。指示記憶動作內容之動作稱爲設定動作。設定動作必 需藉由外部之介面進行故需依每一記憶區塊串聯進行。被 選擇之快閃記憶晶片C Η Ρ 1、C Η Ρ 2係依設定動作指 示之內容,進行對快閃記憶格之寫入、消去、或讀出等記 憶動作。記憶動作可依上述設定動作供給之存取控制資訊 依每一區塊獨立進行。因此,記憶動作可於記憶區塊並列 進行。 圖2係寫入之設定動作(寫入設定動作)與記憶動作 (寫入動作)之時序流程圖之一例。寫入設定動作所輸入 之、、10Η"表示寫入指令,、、SA(1) ,SA(2) "表示扇區位址,、、C A ( 1 ) ,C A ( 2 ) 〃表示列位 本紙張尺度適财關家縣(CNS ) M規格(21Gx297公釐) — ' -14 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1228652 Α7 Β7 五、發明説明(12) 址’ 、、D i η 1 — D i η N表示寫入資料,、、4 Ο Η " 表示寫入開始指令。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 於圖2,寫入動作之時間(寫入動作時間Tprog )遠較 寫入設定之時間(寫入設定時間Tsetup )爲長,寫入資料 D 1 η 1 — D丨η N之資料量一般較多,寫入設定時間 Tsetup係和與s C同步輸入之寫入資料量成比例。 圖3係於被選擇動作之1個快閃記憶晶片中令記憶區 塊1個個動作之1區塊動作之時序流程圖。寫入資料設爲 D i η 1 一 d i η N。依每一記憶區塊B N K 1、 β Μ Κ 2序列地進行寫入動作。 圖4係2區塊同時寫入之時序流程圖。指令等之輸入 約需寫入設定時間T s e t u ρ之2倍時間,2個記憶區 塊B N K 1、B N K 2之動作時間,因並列動作之故只需 時間Tprog即可。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖5係交錯寫入動作模態之時序流程圖。上述2區塊 同時寫入動作,係響應於指定1個記憶區塊之寫入動作之 指示而在記憶動作凱之前接續有指定其他記憶區塊之寫入 動作之指示時,對雙方之記憶區塊同時進行並列之寫入動 作者。相對於此,交錯寫入動作模態係指,即使在響應於 指定1個記憶區塊之寫入動作之指示而進行記憶動作中亦 可響應於指定其他記憶區塊之寫入動作之指示而進行記憶 動作。時間T X係指示開始寫入動作之指令碼"4 0 Η 〃 之發出至次一寫入動作之扇區位址被發出爲止之時間,其 他之時間實質上可接近0。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) -15- 1228652 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(13) 圖4之寫入設定動作之寫入存取指令之指令碼爲、、 1 0 H " 、 " 4 1 H " 、 " 4 Ο Η ",圖5之寫入設定動 作之寫入存取指令之指令碼爲、、1 〇 Η 〃 、 、、4 Ο Η "、 4 Ο Η 〃 ,若圖5之時間Τ χ實質上爲〇 ,則圖4之2 區塊並列同時寫入之寫入設定動作時間,與圖5之交錯寫 入動作模態之寫入設定動作時間實質上相等。要言之,圖 4之並列同時寫入動作時間,與圖5之交錯寫入動作時間 ,爲最短之2Τ s e t up + TPr og。相對於此,圖 3之1區塊動作中對2個記憶區塊BNK1 、BNK2之 寫入之最短時間爲2T s e t up + 2Tp r 〇 g。 如上述,快閃記憶晶片C Η P 1、c Η P 2,係依設 定動作供給之指令碼,來區別、指示對多數記憶區塊之並 列同時寫入動作,及交錯寫入動作。又,多數記憶區塊3 、4可並列寫入或交錯寫入動作,故可縮短寫入動作引起 之忙線狀態之期間。要言之,對記憶控制器5指示之寫入 動作可高速處理。 在理解快閃記憶晶片中之並列寫入或交錯寫入動作可 使寫入處理高速化之情況下,以下依每一寫入動作模態彙 整1個快閃記憶晶片之記憶區塊之數與寫入速度之關係。 圖6係每一寫入動作模態之寫入動作時序與寫入速度 之例。圖6中,寫入動作之寫入單位設爲N位元組。具1 個記憶區塊之快閃記憶晶片之寫入速度爲N/ ( T s e t u p + T p r 〇 g )〔位元組/秒〕。 具S個記憶區塊之快閃記憶晶片中之S個記憶區塊同 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) -16- 1228652 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _____ B7 _____五、發明説明(14) 時進行寫入時之寫入速度爲S · N/ (S · Ts e t up + T p r o g )〔位元組/秒〕。 具S個記憶區塊之快閃記憶晶片中之S個記憶區塊交 錯進行寫入時之寫入速度,係依(S - 1 ) · Ts e t up與Tp r og之大小關係而定。亦即,設定 動作由記憶區塊B N K 1 - B N K S完成一巡時,依記憶 區塊B N K 1之寫入動作終了否之觀點而區分。(S - 1 ).Tse tup - 丁 prog時寫入速度爲N/ T s e t u ρ〔位元組/秒〕。(8 — 1). Ts e t up<Tpr og時寫入速度爲s · N / ( Tsetup+Tprog)〔位元組/秒〕。 圖7係2K位元組、丁setup= 100 usee ,Tprog=l〇〇〇usec時,交錯寫入 動作與同時寫入動作之1個快閃記憶體之記憶區塊之數與 圖6說明之寫入速度之關係之例。交錯寫入動作之情況下 ,當記憶區塊數增至某一値之後即使再增大寫入動作速度 亦不變化,同時寫入動作之情況下,則依記憶區塊之數之 增加使寫入動作速度之上升率漸漸變小。記憶區塊數較少 之處,交錯寫入動作與同時寫入動作之寫入動作速度約略 相同。 以下依每一寫入動作模態彙整多數快閃記憶晶片之記 憶區塊數與寫入速度之關係。 圖8係使用U個1區塊之快閃記憶晶片時之寫入動作 時序與寫入動作速度之例之說明圖。此動作模態,係等同 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -17- 1228652 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(15) 於對具有u個記憶區塊之1個快閃記憶晶片進行交錯寫入 動作楔態,對應圖6之S區塊之交錯寫入動作。(U — 1 )•丁36 1:11?^丁?1'〇8時之寫入速度爲“/ T s e t u p〔位元組/秒〕。(U — 1 ) · T s e t up<Tprog時之寫入速度爲U · N/( Tsetup+Tprog)〔位元組/秒〕。 圖9係使用U個S區塊之快閃記憶晶片時之同時寫入 動作時序與寫入動作速度之例之說明圖。此動作模態係對 應圖6之S區塊同時寫入動作之U倍之處理·此時之寫入 速度,依 S(U— 1) .Tsetup 與 Tprog 之大 小關係而定·亦即,對全晶片C Η P 1 — C Η P U之記憶 區塊完成設定動作時,依1個晶片C Η Ρ 1中之全記憶區 塊Β Ν Κ 1 - B N K S之交錯寫入動作已經終了否之觀點 而區分。S (U— 1) · Ts e tup^Tpr og 時之 寫入速度爲N/T s e t up 〔位兀組/秒〕。S (U — 1).TsetupCTprog時之寫入速度爲S. U.N/7 (S.Tsetup+Tprog)〔位元組/ 秒〕。 圖1 ο係使用υ個S區塊之快閃記憶晶片時之交錯寫 入動作時序與寫入動作速度之例之說明圖。此動作模態, 係等同於對具S · II個記憶區塊之1個快閃記憶晶片之交 錯寫入動作模態,對應圖6之S區塊交錯寫入動作之U倍 之處理·此時之寫入速度,依(S.U-1). T s e t u ρ與T p r 〇 g之大小關係而區分·亦即,對 I------Γ---- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1Τ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) -18- 1228652 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(16) 全晶片C Η P丨〜^ Η P U之記憶區塊完成設定動作一巡 時’依1個晶片C Η Ρ 1中之1個記憶區塊Β Ν Κ 1之交 錯寫入動作已經終了否之觀點而區分。(S υ 一 ;L ) · Ts e t Up^Tp ^ 〇g時之寫入速度爲ν/ T s e t u p〔位元組/秒〕。(s υ — 1 ) · Τ s e t u ρ <Τρ r 〇 g時之寫入速度爲s · υ . Ν/ (Tsetup+Tprog)〔位元組/秒〕。 上述圖8 —圖1 〇之寫入動作模態中,當寫入速度爲 N / T s e t u ρ 〔位元組/秒〕時,亦即即使增加晶片 數寫入速度亦不致上升之狀態,係指由記憶控制器5對快 閃記憶晶片常時可連續傳送設定資料及寫入資料之狀態。 即使增加晶片數寫入速度亦不致上升之境界點之晶片數, 可爲各寫入動作模態中成爲寫入速度最大之系統·之面積最 小値,要言之爲,快閃記憶晶片數之最小値。 由此一觀點而言,圖1 1係上述圖8 -圖1 0之各個 寫入動作模態中寫入速度成爲最大之晶片數與記憶區塊數 之關係之例之說明圖。圖中設爲T s e t u p = 1 0 0 usee ,Tprog=l〇〇〇usec。由圖 11 可 理解,若使用具有多數可獨立進行記憶動作之記憶區塊的 多數區塊構成之快閃記憶晶片,於記憶晶片內進行同時寫 入動作或於記憶晶片內進行交錯寫入動作,則可以較少數 之快閃記憶晶片構築高速寫入速度之記憶體系統。 如上述可被選擇之同時寫入動作中,對多數晶片之多 數區塊可令遠較寫入設定之時間爲長之寫入動作完全並列 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -19- 1228652 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明(17) 化,於可被選擇之交錯寫入動作模態中,對多數晶片之多 數區塊,則接續於1個記憶區塊之寫入設定的寫入動作被 依序偏移而與其他之記憶區塊之寫入動作一部分重疊而呈 並列化。依此則可以較少數之非揮發性記憶晶片構成寫入 處理高速化之記憶體系統。 上述記憶控制器,可依附隨寫入位址資訊及寫入資料 資訊而用於指示寫入動作之指令碼之種類,來區別上述同 時寫入動作模態之指示與交錯寫入動作模態之指示,但亦 可以暫存器設定來指示,與暫存器設定比較可省略特別之 控制形態。僅需附隨於寫入位址資訊及寫入資料資訊而供 給寫入指令即可。 (多媒體卡之適用) 圖1 2 :本發明適用之多媒體卡之例。多媒體卡1 1 ,依標準化團體之規格,具有2 4 m m X 3 2 m m X 1 · 4 mm之卡片尺寸。於卡片基板1 2,具有以下之連接端子 ,亦即輸入卡片選擇信號C S的1個連接端子1 3 a,及 輸入指令C M D的1個連接端子1 3 b,及輸入時脈信號 C L K的1個連接端子1 3 c ,及書物資料D A T的1個 連接端子1 3 d,及供給電源電壓V c c的1個連接端子 1 3 e ,及供給接地電壓V s s之2個連接端子;3 f、 1 3 g。 於卡片基板1 2,具有介面驅動器1 4、記憶控制器 5、S R A Μ 6 、及快閃記憶晶片C Η P 1 、C Η P 2。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -20- 1228652 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(18) 記憶控制器5具有介面控制部1 5及記憶控制部1 6。介 面控制部1 5,係具有主電腦介面控制、檔案控制、及資 料傳送用之控制邏輯電路。介面控制部1 5,係介由介面 驅動器1 4接受由主系統供給之指令,施以解碼,指示言己 憶控制部1 6之動作。記憶控制部1 6則接受該指示對快 閃記憶晶片C Η P 1、C Η P 2進行檔案資料之存取控制 。例如,介面控制部1 5將由外部供給之寫入資料暫時存 於S R A Μ,對記憶控制部1 6指示對上述多數晶片之多 數區塊之同時寫入動作,或交錯寫入動作。記憶控制部 1 6則依該指示對快閃記憶晶片C Η Ρ 1、C Η Ρ 2供給 指令碼及寫入資料,據以控制對多數晶片之多數區塊之同 時寫入動作,或對多數晶片之多數區塊之交錯寫入動作。 以下說明上述多媒體卡1 1之各種寫入動作模態之寫 入速度,上述快閃記憶晶片C Η Ρ 1、C Η Ρ 2之特性設 爲 Tsetup = l〇〇usec,Tprog = 2000usec ,與上述N相當之寫入單位之;[扇區設 爲2 k位元組。此時,由主系統以5 0 n s e c之週期以 序列方式對資料端子D A T輸入資料,2 k位元組之寫入 資料輸入資料端子DAT需2048x 8x 50与〇 . 82 m s e c之時間。 圖1 3係僅使用1個快閃記憶晶片之1區塊之動作形 態(1區塊1晶片)之寫入動作形態及動作時序之例之說 明圖。此情況下,由主電腦對記憶卡之資料傳送速度爲 0 · 67百萬位元組/秒(Mbyt e s/s e c)。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -21 - 1228652 A7 B7 五、發明説明(19) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 圖1 4係對2個快閃記憶晶片各使用1個記憶區塊( 1區塊2晶片利用形態)之寫入動作時序之例之說明圖。 此情況下,由主電腦系統對記憶卡之資料傳送速度爲 1 · 3 4百萬位元組/秒。 圖1 5係對1個快閃記憶晶片同時寫入2個記憶區塊 之動作形態(2區塊同時寫入1晶片利用形態)之寫入動 作時序之例之說明圖。此情況下,由主電腦系統對記憶卡 之資料傳送速度爲1 · 0 4百萬位元組/秒。 圖1 6係對2個快閃記憶晶片同時寫入2個記憶區塊 之動作形態(2區塊同時寫入2晶片利用形態)之寫入動 作時序之例之說明圖。此情況下,由主電腦系統對記憶卡 之資料傳送速度爲2 . 0 8百萬位元組/秒。 圖1 7係對1個快閃記憶晶片交錯寫入2個記憶區塊 之動作形態(2區塊交錯寫入1晶片利用形態)之寫入動 作時序之例之說明圖。此情況下,由主電腦系統對記憶卡 之資料傳送速度爲1 . 2 4百萬位元組/秒。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖1 8係對2個快閃記憶晶片交錯寫入2個記憶區塊 之動作形態(2區塊交錯寫入2晶片利用形態)之寫入動 作時序之例之說明圖。此情況下,由主電腦系統對記憶卡 之資料傳送速度爲2 . 3 8百萬位元組/秒。 由圖1 3 —圖1 8之每一動作形態之動作速度結果可 知’採用圖1 6所示2區塊同時寫入2晶片利用之動作形 態’及圖1 8所示2區塊交錯寫入2晶片利用之動作形態 之情況下,來自主電腦系統側之資料傳送速度相對較快。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -22- 1228652 Α7 Β7 五、發明説明(20) 圖1 6所示2區塊同時寫入’2晶片利用之動作形態係圖9 之對多數晶片之S記憶區塊同時寫入之1個態樣,圖1 8 所示2區塊交錯寫入2晶片利用之動作形態係圖1 〇之S 記憶區塊交錯寫入之1個態樣。因此,藉由對多數晶片之 多數區塊採用同時寫入動作或交錯寫入動作,可構成高速 寫入處理之記憶體系統。 採用同時寫入動作或交錯寫入動作之任一可由主電腦 系統側之對應任意決定。圖1 8之情況下處理速度最快, 但主電腦系統需無間斷地連續傳送寫入指令及寫入資料。 圖1 6之情況下於記憶卡側僅稍微發生忙線狀態處理速度 僅稍微慢,但於忙線狀態期間主電腦系統可自由進行其他 之處理。 (快閃記憶體之全體構成) 圖1 9係上述快閃記憶晶片C Η P 1之一例之全體方 塊圖。 快閃記憶晶片C Η Ρ 1 ,係於單晶矽之1個半導體基 板(半導體晶片)2 2,具有:可分別獨立進行記憶動作 的多數例如2個記憶區塊Β Ν Κ 1、Β Ν Κ 2,及對上述 2個記憶區塊Β Ν Κ 1、Β Ν Κ 2控制記憶動作的控制部 2 5,及設於上述記憶區塊Β Ν Κ 1、Β Ν Κ 2之每〜個 的狀態暫存器2 6、2 7,及與外部間之介面控制部2 8 ,及分配給每一記憶區塊Β Ν Κ 1、Β Ν Κ 2的救濟電路 2 9、3 Ό,及位址緩衝器3 ,及位址計數器3 2,及 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210χ297公釐) '' -23- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1228652 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(21) 內部電源3 3。控制部2 5具有··指令解碼器4 〇,及具 CPU (中央處理裝置)及其動作程式(Pgm)的處理 器(亦有將處理器單純稱爲CPU) 4 1 ,及薈料輸出入 控制電路4 2。 快問i己if、晶片C Η P 1之輸出入端子I /〇〔〇 : 7 〕,係兼用作位址輸入、資料輸出入、指令輸入。由輸出 入端子I/O〔0 : 7〕輸入之X位址信號,係介由介面 控制部2 8供至X位址緩衝器3 1 ,輸入之γ位址信號則 介由介面控制部2 8欲設定於Υ位址計數器3 2。由輸出 入端子I /〇〔0 : 7〕輸入之指令,係介由介面控制部 2 8供至指令解碼器4 0。由輸出入端子I /〇〔〇 : 7 〕應供至記憶區塊Β Ν Κ 1、Β Ν Κ 2之寫入資料係介由 介面控制部2 8供給至資料輸出入控制電路4 2。來自記 憶區塊Β Ν Κ 1、Β Ν Κ 2之讀出資料,則由資料輸出入 控制電路4 2介由介面控制部2 8供至輸出入端子I /〇 〔0:7〕。又,由輸出入端子1/〇〔〇:7〕輸出入 之信號爲方便說明亦有稱爲信號I / 〇〔 〇 : 7〕° 介面控制部2 8,係輸入上述晶片致能信號/ c Ε、 輸出致能信號/〇Ε、寫入致能信號/W Ε、序列時脈信 號S C、重置信號/ R E S、及指令致能信號/ c D Ε作 爲存取控制信號。信號名之前標記之符號/表示該信號爲 低致能。介面控制部2 8,係依該些信號之狀態控制與外 部間之信號之介面功能。 上述各記憶區塊Β Ν Κ 1、Β Ν K 2具備多數可更新 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -24- 1228652 Α7 Β7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(22) 寫入記憶資訊之非揮發性記憶格。非揮發性記憶晶片之一 部分作爲缺陷記憶格替換用之救濟用(冗長用)記憶格使 用。救濟電路2 9、3 0具備:可寫入應以救濟用記憶格 替換之缺陷記憶格之位址的寫入電路(未圖示)’及判斷 被寫入之應救濟之位址是否被指定作爲存取位址的位址比 較器(未圖示)。由上述記憶區塊BNK1、BNK2選 擇非揮發性記憶格之X位址信號係由位址緩衝器3 1輸出 ,由上述記憶區塊B N K 1、B N K 2選擇非揮發性記憶 格之Y位址信號係由位址計數器3 2輸出。X位址信號及 Y位址信號被供至救濟電路2 9、3 0 ’若爲應救濟之位 址時則進行位址之替換,若非應救濟之位址則直接供至記 憶區塊 B N K 1、B N K 2。 上述各記憶區塊B N K 1、B N K 2並未特別限制, 如圖2 0所示可具備:記憶格陣列5 0,X位址解碼器 5 1 ,Y位址解碼器5 2,Y開關電路5 3 ’感測拴鎖電 路5 4,及資料拴鎖電路5 5。記憶格陣列5 0具備多數 電氣可抹除/寫入之非揮發性記憶格。例如’圖.2 1所示 ,非揮發性記憶格M C,係具備:形成於半導體基板或記 憶阱S U Β之源極S及汲極D,及於通道區域介由氧化膜 形成之浮動閘極F G,及於浮動閘極F G上介由層間絕緣 膜重疊之控制閘極C G而構成。記憶格陣列5 0 ’爲圖 2 2所示之A N D型陣列時,於主位元線Μ B L介由選擇 Μ〇S電晶體Μ 1連接代表性之例如副位元線S B L,於 副位元線S B L耦合非揮發性記憶格M C 0之汲極。共有 :---- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) -25- 1228652 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(23) 副位元線S B L之非揮發性記憶格M C之源極,係介由第 2選擇Μ 0 S電晶體Μ 2共通連接於源極線S L。第1選 擇Μ〇S電晶體Μ 1 ,係以行方向單位藉由位元線控制線 S D i進行開關控制,第2選擇Μ〇S電晶體Μ 2則以行 方向單位藉由源極線控制線S S i進行開關控制。 圖2 0之X位址解碼器5 1 ,用於解碼X位址信號, 依指定之記憶動作進行字元線W L、位元線控制線S D i 、源極線控制線S S i之選擇。Y位址解碼器5 2,則解 碼由位址計數器3 2輸出之Y位址信號,產生位元線選擇 用之Y開關電路5 3之開關控制信號。資料拴鎖電路1 5 係具備資料緩衝器功能可暫時保存由外部以位元組單位輸 入之寫入資料。感測拴鎖電路5 4則感測、保持由非揮發 性記憶格讀出之記憶資訊,保持由資料拴鎖電路1 5供給 之寫入動作用之寫入控制資料。 對上述記憶格之抹除,如圖2 3所示,設爲以字元線 單位(亦有以1扇區單位)之同時抹除,係對選擇字元線 施加一 1 7 V,對非選擇字元線施加〇 V,對源極線施加 Ο V 〇 對上述記憶格之寫入,如圖2 3所示,於寫入選擇字 元線施加1 7 V,寫入選擇位元線施加Ο V,寫入非選擇 之位元線施加6 V。隨上述寫入高電壓施加時間之設爲較 多,記憶格之臨限値電壓上升。對位元線施加Ο V或6 V 係由感測拴鎖電路拴鎖之寫入控制資訊之邏輯値決定。 對上述記憶格之讀出動作,隨未特別限制,可設爲對 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -26- 1228652 A7 B7 五、發明説明(24) 讀出選擇字元線施加3 · 2 V,源極線導通於電路之接地 電壓,於位元線介由感測拴鎖電路施加1 . 〇 V,依記憶 格之臨限値電壓,依由位元線流入源極線之電流之有無所 產生之位元線電位之變化而讀出記憶資訊。 Y位址解碼器5 2所選擇之位元線,係導通於資料輸 出入控制電路4 2。資料輸出入控制電路4 2與上述輸出 入端子I / 0〔 0 : 7〕間之連接則由介面控制部2 8控 制。 圖1 9之內部電源電路3 3,係用於產生寫入、抹除 、確認、讀出等之各種動作電源供至記憶區塊B N K 1、 B N K 2。 指令解碼器4 0及C P U 4 1,係依介面控制部2 8 供給之存取指令(亦有單稱爲指令)等對利用上述多數晶 片之多數區塊之同時寫入動作,或利用上述多數晶片之多 數區塊之交錯寫入動作等之記憶動作進行全體控制。 上述指令,雖未特別限制,可包含依據特定規格之單 數或多數之指令碼及指令執行必要之位址資訊及資料資訊 等。指令包含之寫入資料等資料資訊被供至資料輸出入控 制電路4 2。含於指令之位址資訊如上述般被供至位址緩 衝器3 1,必要時供至位址計數器3 2。上述記憶區塊 B N K 1 、B N K 2分別對應於不同之記憶位址,供至位 址緩衝器3 1之X位址信號被賦與位置俾作爲指定例如 2 0 4 8位元單欸之扇區區域之1之扇區位址。特別是上 述X位址信號之一部分之資訊,例如最上位之位址位元 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -27- 1228652 A7 B7 五、發明説明(25) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A m被視爲指示記憶動作之對象記憶區塊的記憶區塊指定 資訊,被供至指令解碼器4 0。指令解碼器4 0則指示 C P U 4 1以該記憶區塊指定資訊所指定之記憶區塊作爲 記憶動作之對象。供至位址計數器3 2之Y位址信號,係 針對X位址信號所指定扇區位址之2 0 4 8位元之資料指 定8位元單位之位置。於記憶動作之初期狀態位址計數器 3 2被設爲初期値〃 0 〃 。當Y位址信號被供給時,該値 設爲位址計數器3 2之預設値。位址計數器3 2,係以初 期値或預設値爲開始位址,必要時對記憶區塊B N K 1、 B N K 2.輸出依序上數之Y位址信號。 圖1 9之指令解碼器4 0解碼含於指令之指令碼,判 斷應依據記憶區塊指定資訊A m動作之記憶區塊,將解碼 結果及判斷解果供至C P U 4 1。C P U 4 1則依此對應 動作之記憶區塊B N K 1、B N K 2供給存取控制信號 C N T 1、C N T 2,據以控制記憶區塊B N K 1、 B N K 2之動作。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
記憶動作被抹除或寫入時,高電壓施加被階段式進行 ,於各階段進行確認,確認結果資訊V F Y 1、V F Y 2 被送回C P U 4 1。C P U 4 1 ,當確認結果資訊V F Y 1、V F Y 2表示未到達所要臨限値電壓狀態時,若時間 未到則藉由存取控制信號C N T 1、C N T 2指示次一階 段之高電壓施加。時間已到但確認結果資訊V F Y 1、 V F Y 2乃未到達所要臨限値電壓狀態時,C P U 4 1將 失敗/成功(F a i 1 · P a s s )資訊 F P 1、F P 2 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇χ297公釐) -28- 1228652 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(26) 指示之失敗狀態供至狀態暫存器2 6 ' 2 7 °指令解碼器 4 0,則將此時被供給之指令所指示動作之動作模態資訊 M D 1、M D 2輸出至狀態暫存器2 6、2 7。狀態暫存 器2 6、2 7則依動作模態資訊M D 1、M D 2判斷失敗 /成功資訊F Ρ 1、F Ρ 2所通知之失敗/成功之原因, 於對應之暫存器位元設定失敗或成功狀態。指令解碼器 4 0,輸入狀態暫存器2 6、2 7保持之狀態資訊S 丁 1 、S 丁 2 ,參照其來決定新的輸入指令可否接受。例如, 記憶區塊Β Ν Κ 1寫入失敗時,指定該記憶區塊之存取指 令之接受僅有再寫物等之特定指令始可被接受。 狀態暫存器2 6、2 7,係依每一記憶區塊保有表示 記憶動作之狀態的資訊。2個狀態暫存器2 6、2 7之保 持內容,可藉由促發上述輸出致能信號/◦ Ε而由輸出入 端子I /〇〔0 : 7〕讀出。 圖2 4係快閃記憶晶片C Η Ρ 1之存取指令之例之說 明圖。存取指令可大分爲讀出動作系指令A,抹除動作系 指令B,寫入動作系指令C,及狀態暫存器淸除系指令D 。圖中圖示指令名、意義、指令歸歌基本型等。 第1序列讀出指令(Serial Read ( 1 ))系對扇區之資 料區域讀出的讀出指令,第2序列讀出指令(Serial Read ( 2 ))系對扇區之管理區域讀出的讀出指令。I D讀出指 令(Read Identifier Codes )係讀出快閃記憶晶片之記憶容 量或製造編號之矽特徵之指令。第1資料復原讀出指令( Data Recovery Read ( 1 ))係指示將1個記憶區塊寫入動 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) — -29 - (請先閱讀背面之注意事項存填寫本頁) 訂 IP-· 1228652 A7 B7 五、發明説明(27) 作時寫入失敗之記憶區塊所保有之寫入資料輸出至外部之 指令。第2資料復原讀出指令(Data Recovery Read ( 2 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) )係指示將2個記憶區塊寫入動作時寫入失敗之一方之記 憶區塊B N K 1所保有之寫入資料輸出至外部之指令。第 3資料復原讀出指令(Data Recovery Read ( 3 ))係指示 將2個記憶區塊寫入動作時寫入失敗之另一方之記憶區塊 B N K 2所保有之寫入資料輸出至外部之指令。該資料復 原讀出指令,係將寫入失敗時之快閃記憶晶片內部保持之 寫入資料輸出至外部供作爲主電腦裝置寫入另一快閃記憶 體之用。 扇區抹除指令(Sector Erase)係指示扇區單位之抹除 動作。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第1寫入指令(Program ( 1 ))係指示含有扇區抹除 順序之寫入動作。第2寫入指令(Program ( 2 ))係指示 對扇區之資料區域之寫入動作。第3寫入指令(Program ( 3 ))則指示對扇區之管理區域之寫入動作。第4寫入指 令(Program ( 3 ))則指示追加寫入。所謂追加寫入係指 對管理區物之一部分的記憶區域之寫入動作。再寫入指令 (Program Retry )係指示當寫入失敗時對同一記憶區塊之 其他扇區再度嘗試寫入動作。 於上述各種存取指令之先頭配置以1 6進位表示之、、 0 0 Η 之手曰节碼。I Db買出指令(Read Identifier Codes )等之一部分之指令則僅由指令碼構成。需要位址資訊之 存取指令,則於指令碼之後配置扇區位址資訊S A 1、 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -30- 1228652 Α7 Β7 五、發明説明(2S) (請先閲讀背面之泣意事項鼻填寫本育〇 SA2。扇區位址資訊SA1、SA2全部爲16位元’ 以1 6位元構成1個扇區位址(X位址資訊)。於讀出或 寫入動作以1扇區中之一部分爲對象,欲由扇區中途進行 讀出貨寫入時,於扇區位址資訊之後附加Y位址資訊即可 。寫入動作等需要寫入資料時,逾其後接續寫入資料。 於扇區抹除指令,指令碼、、Β Ο Η 〃指示抹除動作之 開始。指示對1個記憶區塊之扇區抹除之指令,只需於抹 除對象之扇區位址資訊S A 1、S A 2之後附加指令碼a Β 〇 Η 〃即可。指示對2個記憶區塊並列進行扇區抹除, 可於第1之扇區位址資訊SA1、SA2之後配置第2之 扇區位址資訊S A 1 * 1、S A 2 * 1 ,最後附加指令碼 '' B 〇 Η 〃即可。第2之扇區位址資訊S A 1 * 1、 S A 2 * 1所指定之記憶區塊需與第1之扇區位址資訊 S A 1、S A 2指定之記憶區塊不同。第1之扇區位址資 訊SA1、SA2與第2之扇區位址資訊SA1氺1、 S A 2 * 1之間不必配置區隔碼,因扇區抹除不需要Y位 址資訊或資料資訊。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 於第1 -第4寫入存取指令及再寫入指令,指令碼、、 4 Ο Η 〃係指示寫入動作之開始之指令碼。對2個記憶區 塊並列進行寫入時,可於雙方之記憶區塊Β Ν Κ 1、 Β Ν Κ 2之位址或寫入資料等之指示資訊之間配置指令碼 ^ 4 1 Η 〃作爲區隔碼。於寫入動作,γ位址(對位址計 數器之預設位址)之指定可任意,需要區隔碼。該區隔碼 4 1 Η 〃作爲指示並列寫入動作之指令碼。於寫入動作 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) -31 - 1228652 Α7 Β7 五、發明説明(29) 請 先 閱 讀 背 之 注 意 事 項 再 填 寫 本 頁 ,第2之扇區位址資訊S A 1 * 1、S A 2 * 1指定之記 憶區塊需不同於第1之扇區位址資訊S A 1 、S A 2指定 之記憶區塊。該2區塊並列寫入指令不作爲交錯寫入動作 之對象。於再寫入指令,扇區位址資訊S A 1 * 3、 S A 2 * 3需選擇寫入失敗之區塊。該限制事項之狀態由 指令解碼器4 0判斷。 以上係依實施形態說明本發明,但本發明並不限於此 ,在不脫離其要旨範圍內可做各種變更。 例如非揮發性記憶晶片不限於快閃記憶晶片,可爲 Μ N ◦ S、高介電係數記憶格等。又,記憶格之記憶資訊 不限於1個記憶格2値之資訊,可爲4値等多値資訊。多 値資訊記憶可能之記憶格之情況下,依臨限値電壓之不同 進行多値記憶,或於記憶閘極局部儲存電荷據以進行多値 記憶均可。又,於快閃記憶晶片。記憶格陣列不限於 AND型陣列,亦可爲NOR型、NAND型等。又,抹 除及寫入之臨限値電壓定義亦可和本發明相反之定義。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 又,指令之種類,扇區位址之指定方法,寫入資料之 輸入方法等亦可和上述不同。例如,資料、位址、指令之 輸入端子不必專用亦可。記憶區塊之數不限於2個,可爲 以上之數。 記憶卡之形式不限於多媒體卡,可爲依其他規格之記 憶卡。例如,輸出入資料之端子存在多數,資料之輸出入 以並列方式進行之記憶卡。記憶體系統不限於記憶卡,可 構成將微處理器或記憶體等搭載於電路基板上而構成之資 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -32- 1228652 A 7 _B7__ 五、發明説明(30) 料處理系統之一部分,或搭載快閃記憶晶片及控制晶片亦 可。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} 本發明之效果可簡單說明如下。 亦即,可以選擇對多數非揮發性記憶晶片之多數記憶 區塊進行同時寫入動作模態或交錯寫入動作模態,於同時 寫入動作模態可令遠較寫入設定之時間爲長之寫入動作完 全並列化,於交錯寫入動作模態,則接續於寫入設定的寫 入動作可與其他之記憶區塊之寫入動作一部分重疊而呈並 列化。結果,可以較少數之非揮發性記憶晶片構成寫入處 理高速化之記憶體系統。要言之爲,可提供一種不必搭載 會導致記憶卡之大型化及成本之上升的如此多數快閃記憶 晶片之情況下,可達成寫入速度之高速化的記憶體系統, .及記憶卡。 (產業上之可利用性) 本發明廣泛適用於多媒體卡等定型之記憶卡、快閃記 憶體及安裝有微處理器之處理器基板等。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (圖面之簡單說明) 圖1 :本發明之記憶體系統之一例之記憶卡之方塊圖 Ο 圖2 :寫入之設定動作(寫入設定動作)與記憶動作 (寫入動作)之例之時序流程圖。 圖3 :被選擇動作之1個快閃記憶晶片中令記憶區塊 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐)— "" -33 —— 1228652 A7 B7 五、發明説明(31) 1個個逐一動作之1區塊動作之例之時序流程圖。 圖4 : 2區塊同時寫入之例之時序流程圖。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 圖5 :交錯寫入動作模態之例之時序流程圖。 圖6 :每一寫入動作模態之寫入動作時序及寫入速度 之例之說明圖。 圖 7 :N=2K 位元組、Tse tup = l〇〇 usee、Tprog=l〇〇〇usec時之交錯寫入 動作模態與同時寫入動作模態中各個記憶區塊之數與寫入 速度之關係說明圖。 圖8 :使用U個1區塊之快閃記憶晶片時之寫入動作 時序與寫入動作速度之例之說明圖。 圖9 :使用U個S區塊之快閃記憶晶片時之同時寫入 動作時序與寫入動作速度之例之說明圖。 圖1 0 :使用U個S區塊之快閃記憶晶片時之交錯寫 入動作時序與寫入動作速度之例之說明圖。 圖1 1 :圖8 —圖1 0之各個寫入動作模態中寫入速 度最大之晶片數與記憶區塊數之關係之例之說明圖。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖12·本發明適用之多媒體卡之方塊圖。 圖1 3 ·· 1區塊1晶片利用形態之寫入動作形態及動 作時序之例之說明圖。 圖1 4 : 1區塊2晶片利用形態之寫入動作形態及動 作時序之例之說明圖。 圖1 5 : 2區塊同時寫入1晶片利用形態之寫入動作 形態及動作時序之例之說明圖。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210><297公釐) -34- 1228652 A7 B7 五、發明説明(32) 圖1 6 ·· 2區塊同時寫入2晶片利用形態之寫入動作 形態及動作時序之例之說明圖。 圖1 7 ·· 2區塊交錯寫入1晶片利用形態之寫入動作 形態及動作時序之例之說明圖。 圖1 8 ·· 2區塊交錯寫入2晶片利用形態之寫入動作 形態及動作時序之例之說明圖。 圖1 9 :快閃記憶晶片之一例之全體方塊圖。 圖2 0 :記憶區塊之一例之方塊圖。 圖2 1 :非揮發性記憶格之斷面構造之例之說明圖。 圖2 2 : A N D型記憶格陣列之一部分之電路圖。 圖2 3 ··對記憶格進行消去及寫入之電壓施加狀態之 例之說明圖。 圖2 4 :快閃記憶體之指令之例之說明圖。 (符號說明) m If · (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 衣· 、1Τ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 記憶 卡 5 記憶 控 制 器 6 S R A Μ 1 1 多媒 體 卡 1 2 卡片 基 板 1 4 介面 驅 動 器 1 5 介面 控 制 部 1 6 記憶 控 制 部 2 2 半導 體 基 板 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210Χ297公釐) -35- 1228652 A7 B7 五、發明説明(33) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 2 6、2 7 狀態暫存器 28 介面控制部 2 9、3 0 救濟電路 31 位址緩衝器 32 位址計數器 3 3 內部電源電路 4〇 指令解碼器 4 1 CPU 42 資料輸出入控制電路 50 記憶格陣列 5 1 X位址解碼器 5 2 Y位址解碼器 5 3 Y開關電路 54 感測拴鎖電路 55 資料拴鎖電路 BAK1、BNK2 CHP1、CHP2 C G 控制閘極 F G 浮動閘極 M C 非揮發性記憶格 S 源極 D 汲極 SUB 記憶阱 記憶區塊 快閃記憶晶片 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 衣.
、1T -36-
Claims (1)
1228652 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 i 1 · 一種記憶體系統,係包含:具備可個別獨立進行 記憶動作之多數記憶區塊的多數非揮發性記憶晶片,及對 上述非揮發性記憶晶片可個別存取的記憶控制器;其特徵 爲· 上述記憶控制器,係可對上述非揮發性記憶晶片之多 數記憶區塊選擇性指示同時寫入動作模態或交錯寫入動作 模態。 2 ·如申請專利範圍第1項之記憶體系統,其中 上述同時寫入動作模態,係於指定記憶區塊之寫入動 作之串接之多數之指示之後,對該多數記憶區塊以相同之 時序開始之寫入動作模態, 上述交錯寫入動作模態,係於已經開始之寫入動作中 響應於對其他記憶區塊指定之寫入指示而開始新的寫入動 作之寫入動作模態。 3 ·如申請專利範圍第2項之記憶體系統,其中 上述記憶控制器,係依附隨寫入位址資訊及寫入資料 資訊而用於指示寫入動作之指令碼之種類,來區別上述同 時寫入動作模態之指示與交錯寫入動作模態之指示。 4 ·如申請專利範圍第1項之記憶體系統,其中 上述各個非揮發性記憶晶片係具有晶片選擇端子及其 他之多數存取端子; 上述記憶控制器,係具有··分別連接於各個非揮發性 記憶晶片之上述晶片選擇端子的晶片選擇信號輸出端子, 及共通連接於各個非揮發性記憶晶片之上述存取端子的$ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐 1 一 - ^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) IJ· 1-1 ϋι I 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -37- 1228652 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 2 數存取資訊端子。 5 · —種記憶體系統,係包含:具備可個別獨立進行 記憶動作之多數記憶區塊的多數非揮發性記憶晶片,及對 上述多數非揮發性記憶晶片可個別存取的記憶控制器;其 特徵爲: 上述記憶控制器,係可依上述非揮發性記憶晶片之每 一個’對該非揮發性記憶晶片內之記憶區塊指示交錯寫入 動作模態。 6 ·如申請專利範圍第5項之記憶體系統,其中 上述交錯寫入動作指示,係於已經開始之寫入動作中 響應於對其他記憶區塊指定之寫入指示而開始新的寫入動 作之寫入動作指示。 7 · —種記憶體系統,係包含:具備可個別獨立進行 記憶動作之多數記憶區塊的多數非揮發性記憶晶片,及對 上述非揮發性記憶晶片可個別存取的記憶控制器;其特徵 爲· 上述記憶控制器,係可依上述非揮發性記憶晶片之每 一個’對該非揮發性記憶晶片內之記憶區塊間指示同時寫 入動作模態。 8 ·如申請專利範圍第7項之記憶體系統,其中 上述同時寫入動作指示,係於指定記憶區塊之寫入動 作之串接之多數之指示之後,對該多數記憶區塊以相同之 時序開始寫入動作之寫入動作指示。 9 · 一種記憶體系統,係包含:具備可個別獨立進行 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
-38- 1228652 A8 B8 C8 D8 3 申請專利範圍 π己丨思動作之多數S憶區塊的多數快閃記憶晶片,及對上述 多數快閃記憶晶片可個別存取的記憶控制器,及連接於上 述記憶控制器的S R A Μ ;其特徵爲: 上述S R A Μ係可暫時儲存對快閃記憶晶片之寫入資 料, 上述sS彳思控制器,係可選擇性地依上述快閃記憶晶片 之母一個’對g亥快閃記憶晶片內之記憶區塊指示交錯寫入 動作模態’及依上述快閃記憶晶片之每一個,對該快閃記 憶晶片內之記憶區塊間指示同時寫入動作模態。 1 0 ·如申請專利範圍第9項之記憶體系統,其中 上述交錯寫入動作指示,係於已經開始之寫入動作中 響應於對其他記憶區塊指定之寫入指示而開始新的寫入動 作之寫入動作指示, 上述同時寫入動作指示,係於指定記憶區塊之寫入動 作之串接之多數之指示之後,對該多數記憶區塊以相同之 時序開始寫入動作之寫入動作指示。 1 1 · 一種記憶體系統,係包含:具備可個別獨立進 行記憶動作之多數記憶區塊的多數快閃記憶晶片,及對上 述快閃記憶晶片可使用存取指令進行存取控制的記憶控制 器;其特徵爲: 上述記憶控制器,係輸出第1指令碼、接續於該第1 指令碼的記憶區塊之位址資訊、及接續於記憶區塊之位址 資訊的第2指令褐,對上述位址資訊所指定之記憶區塊, 依第2指令碼之每一輸入開始記憶動作, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -39- 1228652 A8 B8 C8 D8 々、申請專利範圍 4 又,輸出第1指令碼、接續於該第1指令碼的記憶區 塊之位址資訊、接續於記憶區塊之位址資訊的第3指令碼 、接續於第3指令碼之記憶區塊之位址資訊、及接續於記 憶區塊之位址資訊的第2指令碼,在上述第1指令碼至第 2指令碼之間,對以上述第3指令碼劃分之多數位址資訊 所指定之多數記憶區塊,響應於第2指令碼之輸入同時開 始記憶動作。 1 2 ·如申請專利範圍第1 1項之記憶體系統,其中 上述第1指令碼,係指示寫入動作之種類的指令碼, 第2指令碼係指示寫入動作之開始的指令碼,第3指令碼 係指示接續有位址資訊之指令碼。 1 3 _ —種記憶卡,係於卡片基板具有外部連接端子 ,接於上述外部連接端子的外部介面電路,接於上述外部 介面電路的記憶控制器,及接受上述記憶控制器之個別存 取控制的多數快閃記憶晶片;其特徵爲: 上述快閃記憶晶片,係具有可分別獨立進行記憶動作 之多數記憶區塊, 上述記憶控制器,係可對上述快閃記憶晶片之多數記 憶區塊選擇性指示同時寫入動作模態或交錯寫入動作模態 〇 1 4 ·如申請專利範圍第1 3項之記憶卡,其中 上述同時寫入動作模態,係於指定記憶區塊之寫入動 作之串接之多數之指示之後,對該多數記憶區塊以相同之 時序開始之寫入動作模態, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公餐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) • I 4 I — J I 、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -40- 8 8 8 8 ABCD 1228652 々、申請專利範圍 5 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 上述交錯寫入動作模態,係於已經開始之寫入動作中 響應於對其他記憶區塊指定之寫入指示而開始新的寫入動 作之寫入動作模態。 1 5 ·如申請專利範圍第1 4項之記憶卡,其中 上述記憶控制器,係依附隨寫入位址資訊及寫入資料 資訊而用於指示寫入動作之指令碼之種類,來區別上述同 時寫入動作模態之指示與交錯寫入動作模態之指示。 1 6 ·如申請專利範圍第1 5項之記憶卡,其中 另包含接於上述記憶控制器的S R A Μ,上述S R A Μ可暫時儲存對快閃記憶晶片之寫入資料。 1 7 ·如申請專利範圍第1 3項之記憶卡,其中 上述外部連接端子,係包含1位元之資料輸出入端子 、1位元之指令端子、電源電壓端子、電路之接地端子、 及時脈端子。 1 8 . —種非揮發性半導體記憶裝置,係具有記憶控 制器及1個以上之非揮發性記憶體, 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 上述記憶控制器,係對上述1個以上之非揮發性記憶 體,發出寫入指示指令,該寫入指示指令包含用於指示資 訊應被寫入之位址的位址資訊, 上述非揮發性記憶體之中,第1非揮發性記憶體具有 被以位址分離之多數記憶區域,各個記憶區域可與其他之 記億區域並行進行記憶體之存取動作, 上述記憶控制器,係發出第1寫入指示指令用於指示 對上述第1非揮發性記憶體之第1記憶區域包含之位址之 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) -41 - A8 B8 C8 D8 1228652 六、申請專利範圍 6 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 資訊之寫入之後,在上述第1記憶區域之寫入動作終了之 前,可發出第2寫入指示指令用於指示對上述第1非揮發 性記憶體之第2記憶區域包含之位址之資訊之寫入。 1 9 ·如申請專利範圍第1 8項之非揮發性半導體記 憶裝置,其中 上述非揮發性記憶體係具有多數記憶元件, 上述非揮發性記憶體之寫入動作,係依上述寫入指示 指令所指示之位址選擇一群之記憶元件,變化應寫入所選 擇之各個記憶元件之資訊所對應之臨限値電壓。 2 〇 ·如申請專利範圍第1 8項之非揮發性半導體記 憶裝置,其中 上述非揮發性記憶體之寫入動作,係包含用於變化記 憶格之臨限値電壓的第1動作,及確認各個記憶格之臨限 値電壓是否變化爲上述應寫入資訊所對應之臨限値電壓的 第2動作, 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在上述第2動作之後,至少1個記憶格之臨限値電壓 未變化爲應寫入資訊所對應之臨限値電壓之情況下,進行 上述第1動作。 2 1 ·如申請專利範圍第2 0項之非揮發性半導體記 憶裝置,其中 上述多數記憶元件,係設爲3個以上之臨限値電壓分 布之中,應寫入資訊所對應之臨限値電壓分布所包含之臨 限値電壓。 2 2 · —種非揮發性記憶裝置,係具有:資料之輸出 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -42- A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1228652 六、申請專利範圍 7 入用之第1端子,及動作指示指令之輸入用的第2端子, 及用於指示資料之輸出入及動作指示指令之輸入之時序的 時脈之輸入所使用之第3端子, 具有:控制部用於控制由第2端子輸入之動作指示指 令所對應之動作,及依上述控制部之控制進行資料之儲存 或讀出的1個以上之非揮發性記憶體, 上述非揮發性記憶體,係具有位址所對應之多數記憶 元件,上述多數記憶元件被分類爲多數群,在第1群之資 料儲存動作中,於其他群可開始資料之儲存動作。 2 3 ·如申請專利範圍第2 2項之非揮發性記憶裝置 ,其中 上述控制部,係將由上述第1端子輸入之資料依每一 特定位元組予以分割,指示將第1資料儲存於第1非揮發 性記憶體之上述第1群,指示將第2資料儲存於第1非揮 發性記憶體之上述第2群。 2 4 .如申請專利範圍第2 3項之非揮發性記憶裝置 ,其中 上述控制部,係發出儲存指示指令用於指示對上述非 揮發性記憶體之儲存動作, 上述儲存指示指令,係由:指示該指令被儲存之第1 指令,及用於指示資料應儲存之記憶元件的位址資訊,及 應儲存之資料,及用於指示儲存動握開始的第2指令構成 〇 2 5 ·如申請專利範圍第2 4項之非揮發性記憶裝置 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
-43- A8 B8 C8 D8 1228652 々、申請專利範圍 8 ,其中 上述控制部,係於發出上述第1指令、用於指示上述 第1非揮發性記憶體之上述第1群之記憶兀件的第1位址 、上述第1資料、及上述第2指令之後, 發出上述第1指令、用於指示上述第1非揮發性記憶 體之上述第2群之記憶元件的第2位址、上述第2資料、 及上述第2指令。 2 6 ·如申請專利範圍第2 4項之非揮發性記憶裝置 ,其中 上述控制部,係於發出上述第1指令、用於指示上述 第1非揮發性記憶體之上述第1群之記憶元件的第1位址 、及上述第1資料之後, 發出上述第1指令、用於指示上述第1非揮發性記憶 體之上述第2群之記憶元件的第2位址、上述第2資料、 及上述第2指令。 2 7 ·如申請專利範圍第2 2 - 2 4項中之任〜項之 非揮發性記憶裝置,其中 上述控制部,係將由上述第1端子輸入之資料依每一 特定位元組予以分割,指示將第1資料儲存於第1非揮發 性記憶體之上述第1群,指示將第2資料儲存於第2非揮 發性記憶體之第1群。 2 8 ·如申請專利範圍第2 7項之非揮發性記憶裝置 ,其中 上述控制部,係於發出上述第1指令、用於指示上述 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Μ規格(21〇><297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -44- 1228652 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 9 第1非揮發性記憶體之上述第1群之記憶元件的第1位址 、上述第1資料、及上述第2指令之後’ 發出上述第1指令、用於指示上述第2非揮發性記憶 體之上述第1群之記憶元件的第2位址、上述第2資料、 及上述第2指令。 2 9 _如申請專利範圍第2 7項之非揮發性記憶裝置 ,其中 上述控制部,係於發出上述第1指令、用於指示上述 第1非揮發性記憶體之上述第1群之記憶元件的第1位址 、及上述第1資料之後, 發出上述第1指令、用於指示上述第2非揮發性記憶 體之上述第1群之記憶元件的第2位址、上述第2資料、 及上述第2指令。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -45-
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2002/000025 WO2003060722A1 (en) | 2002-01-09 | 2002-01-09 | Memory system and memory card |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWI228652B true TWI228652B (en) | 2005-03-01 |
Family
ID=11738112
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW091102682A TWI228652B (en) | 2002-01-09 | 2002-02-18 | Memory system and memory card |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US7290109B2 (zh) |
| JP (1) | JP4061272B2 (zh) |
| CN (1) | CN1278239C (zh) |
| TW (1) | TWI228652B (zh) |
| WO (1) | WO2003060722A1 (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI425512B (zh) * | 2009-06-16 | 2014-02-01 | Phison Electronics Corp | 快閃記憶體控制電路及其儲存系統與資料傳輸方法 |
Families Citing this family (142)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4561110B2 (ja) * | 2004-01-29 | 2010-10-13 | Tdk株式会社 | メモリコントローラ及びメモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びに、フラッシュメモリの制御方法 |
| US7023733B2 (en) * | 2004-05-05 | 2006-04-04 | Sandisk Corporation | Boosting to control programming of non-volatile memory |
| US7307884B2 (en) * | 2004-06-15 | 2007-12-11 | Sandisk Corporation | Concurrent programming of non-volatile memory |
| KR100632947B1 (ko) * | 2004-07-20 | 2006-10-12 | 삼성전자주식회사 | 불 휘발성 메모리 장치 및 그것의 프로그램 방법 |
| JP2006040497A (ja) * | 2004-07-30 | 2006-02-09 | Renesas Technology Corp | 半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶装置 |
| US20060027906A1 (en) * | 2004-08-03 | 2006-02-09 | Sheng-Chih Hsu | Exclusive memory structure applicable for multi media card and secure digital card |
| KR100606173B1 (ko) * | 2004-08-24 | 2006-08-01 | 삼성전자주식회사 | 불휘발성 메모리 장치의 초기화 상태를 검증하는 방법 및장치 |
| US8595459B2 (en) | 2004-11-29 | 2013-11-26 | Rambus Inc. | Micro-threaded memory |
| KR100626393B1 (ko) | 2005-04-07 | 2006-09-20 | 삼성전자주식회사 | 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 멀티-페이지 카피백 방법 |
| JP4264955B2 (ja) * | 2005-07-11 | 2009-05-20 | 株式会社Jm | 認証画像付き報告書作成システム |
| KR100672105B1 (ko) * | 2005-09-15 | 2007-01-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 플래시 메모리 칩들을 동작시키는 방법 |
| US7652922B2 (en) * | 2005-09-30 | 2010-01-26 | Mosaid Technologies Incorporated | Multiple independent serial link memory |
| CN101278352B (zh) * | 2005-09-30 | 2012-05-30 | 莫塞德技术公司 | 菊花链级联设备和方法 |
| EP1932158A4 (en) | 2005-09-30 | 2008-10-15 | Mosaid Technologies Inc | MEMORY WITH OUTPUT CONTROL |
| US11948629B2 (en) | 2005-09-30 | 2024-04-02 | Mosaid Technologies Incorporated | Non-volatile memory device with concurrent bank operations |
| KR100750183B1 (ko) * | 2006-01-10 | 2007-08-17 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 및 그 제어방법 |
| US7404026B2 (en) * | 2006-04-10 | 2008-07-22 | Spansion Llc | Multi media card with high storage capacity |
| US20070260841A1 (en) * | 2006-05-02 | 2007-11-08 | Hampel Craig E | Memory module with reduced access granularity |
| KR100765786B1 (ko) * | 2006-06-12 | 2007-10-12 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 시스템, 그 프로그램을 위한 호스트 시스템및 프로그램 방법 |
| US7904639B2 (en) * | 2006-08-22 | 2011-03-08 | Mosaid Technologies Incorporated | Modular command structure for memory and memory system |
| KR20080017982A (ko) * | 2006-08-23 | 2008-02-27 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 시스템 및 그 프로그램 방법 |
| CN101622594B (zh) | 2006-12-06 | 2013-03-13 | 弗森-艾奥公司 | 使用空数据令牌指令管理来自于请求设备的数据的装置、系统和方法 |
| US8935302B2 (en) * | 2006-12-06 | 2015-01-13 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Apparatus, system, and method for data block usage information synchronization for a non-volatile storage volume |
| US9495241B2 (en) | 2006-12-06 | 2016-11-15 | Longitude Enterprise Flash S.A.R.L. | Systems and methods for adaptive data storage |
| US8489817B2 (en) | 2007-12-06 | 2013-07-16 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for caching data |
| US7778020B2 (en) | 2006-12-06 | 2010-08-17 | Fusion Multisystems, Inc. | Apparatus, system, and method for a modular blade |
| US8706968B2 (en) | 2007-12-06 | 2014-04-22 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for redundant write caching |
| US8443134B2 (en) | 2006-12-06 | 2013-05-14 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for graceful cache device degradation |
| US8074011B2 (en) * | 2006-12-06 | 2011-12-06 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for storage space recovery after reaching a read count limit |
| US9104599B2 (en) | 2007-12-06 | 2015-08-11 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Apparatus, system, and method for destaging cached data |
| US8578127B2 (en) * | 2009-09-09 | 2013-11-05 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for allocating storage |
| US9116823B2 (en) | 2006-12-06 | 2015-08-25 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Systems and methods for adaptive error-correction coding |
| US9262284B2 (en) * | 2006-12-07 | 2016-02-16 | Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. | Single channel memory mirror |
| US7567471B2 (en) * | 2006-12-21 | 2009-07-28 | Intel Corporation | High speed fanned out system architecture and input/output circuits for non-volatile memory |
| CN101495975B (zh) | 2006-12-25 | 2011-10-05 | 松下电器产业株式会社 | 存储控制装置、存储装置及存储控制方法 |
| KR100875978B1 (ko) * | 2007-02-06 | 2008-12-26 | 삼성전자주식회사 | 메모리 카드 및 그것을 포함한 메모리 시스템 |
| US8977912B2 (en) * | 2007-05-07 | 2015-03-10 | Macronix International Co., Ltd. | Method and apparatus for repairing memory |
| JP2008305350A (ja) * | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Spansion Llc | メモリシステム、メモリ装置、およびメモリ装置の制御方法 |
| JP2009023118A (ja) * | 2007-07-17 | 2009-02-05 | Canon Inc | インクジェット記録ヘッドのワイピング方法 |
| WO2009013879A1 (ja) * | 2007-07-20 | 2009-01-29 | Panasonic Corporation | メモリーコントローラ、及びこれを用いた不揮発性記憶装置 |
| JP2009054103A (ja) * | 2007-08-29 | 2009-03-12 | Panasonic Corp | 複数のメモリカードを制御するホスト機器 |
| US9519540B2 (en) | 2007-12-06 | 2016-12-13 | Sandisk Technologies Llc | Apparatus, system, and method for destaging cached data |
| US8316277B2 (en) * | 2007-12-06 | 2012-11-20 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for ensuring data validity in a data storage process |
| US8195912B2 (en) * | 2007-12-06 | 2012-06-05 | Fusion-io, Inc | Apparatus, system, and method for efficient mapping of virtual and physical addresses |
| US7836226B2 (en) | 2007-12-06 | 2010-11-16 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for coordinating storage requests in a multi-processor/multi-thread environment |
| US20090187701A1 (en) * | 2008-01-22 | 2009-07-23 | Jin-Ki Kim | Nand flash memory access with relaxed timing constraints |
| JP5107776B2 (ja) * | 2008-04-07 | 2012-12-26 | スパンション エルエルシー | メモリコントローラ、メモリシステム、及びメモリデバイスへのデータの書込方法 |
| US8195978B2 (en) * | 2008-05-16 | 2012-06-05 | Fusion-IO. Inc. | Apparatus, system, and method for detecting and replacing failed data storage |
| TWI373773B (en) * | 2008-05-27 | 2012-10-01 | Phison Electronics Corp | Storage sysetm having multiple non-volatile memory, and controller and access method thereof |
| JP4992835B2 (ja) * | 2008-06-25 | 2012-08-08 | ソニー株式会社 | ディスク記憶装置およびプログラム |
| JP2010020715A (ja) | 2008-07-14 | 2010-01-28 | Toshiba Corp | 半導体メモリコントローラおよび半導体メモリシステム |
| US20100017569A1 (en) * | 2008-07-16 | 2010-01-21 | Agere Systems Inc. | Pcb including multiple chips sharing an off-chip memory, a method of accessing off-chip memory and a mcm utilizing fewer off-chip memories than chips |
| US8938590B2 (en) * | 2008-10-18 | 2015-01-20 | Micron Technology, Inc. | Indirect register access method and system |
| US8266503B2 (en) | 2009-03-13 | 2012-09-11 | Fusion-Io | Apparatus, system, and method for using multi-level cell storage in a single-level cell mode |
| US8285917B2 (en) * | 2009-03-26 | 2012-10-09 | Scaleo Chip | Apparatus for enhancing flash memory access |
| JP5480714B2 (ja) * | 2009-05-15 | 2014-04-23 | パナソニック株式会社 | 半導体記録装置 |
| US8307258B2 (en) * | 2009-05-18 | 2012-11-06 | Fusion-10, Inc | Apparatus, system, and method for reconfiguring an array to operate with less storage elements |
| US8281227B2 (en) | 2009-05-18 | 2012-10-02 | Fusion-10, Inc. | Apparatus, system, and method to increase data integrity in a redundant storage system |
| US20110059628A1 (en) * | 2009-09-04 | 2011-03-10 | Solid State System Co., Ltd. | Secure digital card with two micro-sd cards in striping data access |
| CN102696010B (zh) | 2009-09-08 | 2016-03-23 | 才智知识产权控股公司(2) | 用于将数据高速缓存在固态存储设备上的装置、系统和方法 |
| JP4956593B2 (ja) * | 2009-09-08 | 2012-06-20 | 株式会社東芝 | メモリシステム |
| WO2011031899A2 (en) | 2009-09-09 | 2011-03-17 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for power reduction in a storage device |
| US9223514B2 (en) | 2009-09-09 | 2015-12-29 | SanDisk Technologies, Inc. | Erase suspend/resume for memory |
| US9122579B2 (en) | 2010-01-06 | 2015-09-01 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Apparatus, system, and method for a storage layer |
| US8996785B2 (en) * | 2009-09-21 | 2015-03-31 | Aplus Flash Technology, Inc. | NAND-based hybrid NVM design that integrates NAND and NOR in 1-die with serial interface |
| JP2011070365A (ja) * | 2009-09-25 | 2011-04-07 | Toshiba Corp | メモリシステム |
| KR101094945B1 (ko) * | 2009-12-28 | 2011-12-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치 및 이의 프로브 테스트 방법 |
| US8661184B2 (en) | 2010-01-27 | 2014-02-25 | Fusion-Io, Inc. | Managing non-volatile media |
| US8380915B2 (en) | 2010-01-27 | 2013-02-19 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for managing solid-state storage media |
| US8315092B2 (en) * | 2010-01-27 | 2012-11-20 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for determining a read voltage threshold for solid-state storage media |
| US8854882B2 (en) | 2010-01-27 | 2014-10-07 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Configuring storage cells |
| US9245653B2 (en) | 2010-03-15 | 2016-01-26 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Reduced level cell mode for non-volatile memory |
| WO2011143628A2 (en) | 2010-05-13 | 2011-11-17 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for conditional and atomic storage operations |
| US8725934B2 (en) | 2011-12-22 | 2014-05-13 | Fusion-Io, Inc. | Methods and appratuses for atomic storage operations |
| WO2012016089A2 (en) | 2010-07-28 | 2012-02-02 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for conditional and atomic storage operations |
| US8984216B2 (en) | 2010-09-09 | 2015-03-17 | Fusion-Io, Llc | Apparatus, system, and method for managing lifetime of a storage device |
| US10817421B2 (en) | 2010-12-13 | 2020-10-27 | Sandisk Technologies Llc | Persistent data structures |
| US9047178B2 (en) | 2010-12-13 | 2015-06-02 | SanDisk Technologies, Inc. | Auto-commit memory synchronization |
| EP2652623B1 (en) | 2010-12-13 | 2018-08-01 | SanDisk Technologies LLC | Apparatus, system, and method for auto-commit memory |
| US9218278B2 (en) | 2010-12-13 | 2015-12-22 | SanDisk Technologies, Inc. | Auto-commit memory |
| US9208071B2 (en) | 2010-12-13 | 2015-12-08 | SanDisk Technologies, Inc. | Apparatus, system, and method for accessing memory |
| US10817502B2 (en) | 2010-12-13 | 2020-10-27 | Sandisk Technologies Llc | Persistent memory management |
| WO2012083308A2 (en) | 2010-12-17 | 2012-06-21 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for persistent data management on a non-volatile storage media |
| US8713242B2 (en) * | 2010-12-30 | 2014-04-29 | Solid State System Co., Ltd. | Control method and allocation structure for flash memory device |
| US9213594B2 (en) | 2011-01-19 | 2015-12-15 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Apparatus, system, and method for managing out-of-service conditions |
| WO2012106362A2 (en) | 2011-01-31 | 2012-08-09 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for managing eviction of data |
| US8874823B2 (en) | 2011-02-15 | 2014-10-28 | Intellectual Property Holdings 2 Llc | Systems and methods for managing data input/output operations |
| US9003104B2 (en) | 2011-02-15 | 2015-04-07 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Systems and methods for a file-level cache |
| US9201677B2 (en) | 2011-05-23 | 2015-12-01 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Managing data input/output operations |
| WO2012116369A2 (en) | 2011-02-25 | 2012-08-30 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for managing contents of a cache |
| US8966191B2 (en) | 2011-03-18 | 2015-02-24 | Fusion-Io, Inc. | Logical interface for contextual storage |
| US9563555B2 (en) | 2011-03-18 | 2017-02-07 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for storage allocation |
| TWI479491B (zh) * | 2011-07-05 | 2015-04-01 | Phison Electronics Corp | 記憶體控制方法、記憶體控制器與記憶體儲存裝置 |
| US9268719B2 (en) * | 2011-08-05 | 2016-02-23 | Rambus Inc. | Memory signal buffers and modules supporting variable access granularity |
| US9093445B2 (en) * | 2011-08-26 | 2015-07-28 | International Business Machines Corporation | Packaging identical chips in a stacked structure |
| JP2013069171A (ja) * | 2011-09-22 | 2013-04-18 | Toshiba Corp | メモリシステムとその制御方法 |
| US9274937B2 (en) | 2011-12-22 | 2016-03-01 | Longitude Enterprise Flash S.A.R.L. | Systems, methods, and interfaces for vector input/output operations |
| US9251052B2 (en) | 2012-01-12 | 2016-02-02 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Systems and methods for profiling a non-volatile cache having a logical-to-physical translation layer |
| US9767032B2 (en) | 2012-01-12 | 2017-09-19 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for cache endurance |
| US10102117B2 (en) | 2012-01-12 | 2018-10-16 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for cache and storage device coordination |
| US8782344B2 (en) | 2012-01-12 | 2014-07-15 | Fusion-Io, Inc. | Systems and methods for managing cache admission |
| US9251086B2 (en) | 2012-01-24 | 2016-02-02 | SanDisk Technologies, Inc. | Apparatus, system, and method for managing a cache |
| US10359972B2 (en) | 2012-08-31 | 2019-07-23 | Sandisk Technologies Llc | Systems, methods, and interfaces for adaptive persistence |
| US9116812B2 (en) | 2012-01-27 | 2015-08-25 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Systems and methods for a de-duplication cache |
| US10019353B2 (en) | 2012-03-02 | 2018-07-10 | Longitude Enterprise Flash S.A.R.L. | Systems and methods for referencing data on a storage medium |
| US9678863B2 (en) | 2012-06-12 | 2017-06-13 | Sandisk Technologies, Llc | Hybrid checkpointed memory |
| US8804415B2 (en) | 2012-06-19 | 2014-08-12 | Fusion-Io, Inc. | Adaptive voltage range management in non-volatile memory |
| US10339056B2 (en) | 2012-07-03 | 2019-07-02 | Sandisk Technologies Llc | Systems, methods and apparatus for cache transfers |
| US9612966B2 (en) | 2012-07-03 | 2017-04-04 | Sandisk Technologies Llc | Systems, methods and apparatus for a virtual machine cache |
| KR102025088B1 (ko) * | 2012-09-03 | 2019-09-25 | 삼성전자 주식회사 | 메모리 컨트롤러 및 상기 메모리 컨트롤러를 포함하는 전자장치 |
| US10318495B2 (en) | 2012-09-24 | 2019-06-11 | Sandisk Technologies Llc | Snapshots for a non-volatile device |
| US10509776B2 (en) | 2012-09-24 | 2019-12-17 | Sandisk Technologies Llc | Time sequence data management |
| JP2014102867A (ja) * | 2012-11-20 | 2014-06-05 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置及びその制御方法 |
| KR20140072276A (ko) * | 2012-11-29 | 2014-06-13 | 삼성전자주식회사 | 불휘발성 메모리 및 불휘발성 메모리의 동작 방법 |
| US9842053B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-12-12 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for persistent cache logging |
| US10558561B2 (en) | 2013-04-16 | 2020-02-11 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for storage metadata management |
| US10102144B2 (en) | 2013-04-16 | 2018-10-16 | Sandisk Technologies Llc | Systems, methods and interfaces for data virtualization |
| US9842128B2 (en) | 2013-08-01 | 2017-12-12 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for atomic storage operations |
| US10019320B2 (en) | 2013-10-18 | 2018-07-10 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for distributed atomic storage operations |
| US10073630B2 (en) | 2013-11-08 | 2018-09-11 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for log coordination |
| JP2015176309A (ja) | 2014-03-14 | 2015-10-05 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
| KR102174337B1 (ko) | 2014-04-08 | 2020-11-04 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 및 이를 포함하는 전자 장치 |
| US20180101457A1 (en) * | 2014-10-29 | 2018-04-12 | International Business Machines Corporation | Retrying failed write operations in a dispersed storage network |
| US20240045777A1 (en) * | 2014-10-29 | 2024-02-08 | Pure Storage, Inc. | Processing of Data Access Requests in a Storage Network |
| US9946607B2 (en) | 2015-03-04 | 2018-04-17 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for storage error management |
| US10009438B2 (en) | 2015-05-20 | 2018-06-26 | Sandisk Technologies Llc | Transaction log acceleration |
| US10141034B1 (en) * | 2015-06-25 | 2018-11-27 | Crossbar, Inc. | Memory apparatus with non-volatile two-terminal memory and expanded, high-speed bus |
| US10222989B1 (en) * | 2015-06-25 | 2019-03-05 | Crossbar, Inc. | Multiple-bank memory device with status feedback for subsets of memory banks |
| US9921763B1 (en) | 2015-06-25 | 2018-03-20 | Crossbar, Inc. | Multi-bank non-volatile memory apparatus with high-speed bus |
| JP2017045311A (ja) | 2015-08-27 | 2017-03-02 | 株式会社東芝 | メモリシステム |
| JP6627346B2 (ja) * | 2015-09-09 | 2020-01-08 | ソニー株式会社 | メモリコントローラ、記憶装置、情報処理システムおよびメモリ制御方法 |
| KR102384962B1 (ko) * | 2015-11-27 | 2022-04-11 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
| US10261704B1 (en) | 2016-06-29 | 2019-04-16 | EMC IP Holding Company LLC | Linked lists in flash memory |
| US10089025B1 (en) | 2016-06-29 | 2018-10-02 | EMC IP Holding Company LLC | Bloom filters in a flash memory |
| US10146438B1 (en) | 2016-06-29 | 2018-12-04 | EMC IP Holding Company LLC | Additive library for data structures in a flash memory |
| US10055351B1 (en) | 2016-06-29 | 2018-08-21 | EMC IP Holding Company LLC | Low-overhead index for a flash cache |
| US10037164B1 (en) * | 2016-06-29 | 2018-07-31 | EMC IP Holding Company LLC | Flash interface for processing datasets |
| US10331561B1 (en) | 2016-06-29 | 2019-06-25 | Emc Corporation | Systems and methods for rebuilding a cache index |
| EP3662474B1 (en) | 2017-07-30 | 2023-02-22 | NeuroBlade Ltd. | A memory-based distributed processor architecture |
| JP7128669B2 (ja) * | 2018-06-22 | 2022-08-31 | 株式会社三共 | 遊技機 |
| KR102727931B1 (ko) * | 2019-07-11 | 2024-11-12 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치 및 이를 포함하는 메모리 시스템 |
| CN115050400B (zh) * | 2022-06-27 | 2025-08-26 | 清华大学 | 一种存储器的写入方法和写入装置 |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3328321B2 (ja) | 1992-06-22 | 2002-09-24 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
| US5592415A (en) | 1992-07-06 | 1997-01-07 | Hitachi, Ltd. | Non-volatile semiconductor memory |
| JP3330187B2 (ja) * | 1993-05-13 | 2002-09-30 | 株式会社リコー | メモリカード |
| US5559988A (en) * | 1993-12-30 | 1996-09-24 | Intel Corporation | Method and circuitry for queuing snooping, prioritizing and suspending commands |
| US5603001A (en) * | 1994-05-09 | 1997-02-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor disk system having a plurality of flash memories |
| US5696917A (en) * | 1994-06-03 | 1997-12-09 | Intel Corporation | Method and apparatus for performing burst read operations in an asynchronous nonvolatile memory |
| JPH08278916A (ja) * | 1994-11-30 | 1996-10-22 | Hitachi Ltd | マルチチャネルメモリシステム、転送情報同期化方法及び信号転送回路 |
| US6081878A (en) * | 1997-03-31 | 2000-06-27 | Lexar Media, Inc. | Increasing the memory performance of flash memory devices by writing sectors simultaneously to multiple flash memory devices |
| US5933847A (en) * | 1995-09-28 | 1999-08-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Selecting erase method based on type of power supply for flash EEPROM |
| JP3759645B2 (ja) * | 1995-12-25 | 2006-03-29 | 三菱電機株式会社 | 同期型半導体記憶装置 |
| KR100359414B1 (ko) * | 1996-01-25 | 2003-01-24 | 동경 엘렉트론 디바이스 주식회사 | 데이타독출/기록방법및그를이용한메모리제어장치및시스템 |
| US6047352A (en) * | 1996-10-29 | 2000-04-04 | Micron Technology, Inc. | Memory system, method and predecoding circuit operable in different modes for selectively accessing multiple blocks of memory cells for simultaneous writing or erasure |
| US5890192A (en) * | 1996-11-05 | 1999-03-30 | Sandisk Corporation | Concurrent write of multiple chunks of data into multiple subarrays of flash EEPROM |
| JP3161383B2 (ja) * | 1997-09-16 | 2001-04-25 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
| US6141249A (en) * | 1999-04-01 | 2000-10-31 | Lexar Media, Inc. | Organization of blocks within a nonvolatile memory unit to effectively decrease sector write operation time |
| JP2001167586A (ja) | 1999-12-08 | 2001-06-22 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体メモリ装置 |
| JP2001266579A (ja) | 2000-01-12 | 2001-09-28 | Hitachi Ltd | 不揮発性半導体記憶装置および半導体ディスク装置 |
| JP2001249890A (ja) * | 2000-03-06 | 2001-09-14 | Toshiba Corp | 半導体メモリ記憶装置 |
| US6772273B1 (en) * | 2000-06-29 | 2004-08-03 | Intel Corporation | Block-level read while write method and apparatus |
| JP4136359B2 (ja) * | 2001-11-15 | 2008-08-20 | 株式会社ルネサステクノロジ | マイクロコンピュータ |
-
2002
- 2002-01-09 WO PCT/JP2002/000025 patent/WO2003060722A1/ja not_active Ceased
- 2002-01-09 CN CN02826966.7A patent/CN1278239C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2002-01-09 JP JP2003560750A patent/JP4061272B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-01-09 US US10/500,252 patent/US7290109B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-02-18 TW TW091102682A patent/TWI228652B/zh not_active IP Right Cessation
-
2007
- 2007-03-29 US US11/730,089 patent/US20070198770A1/en not_active Abandoned
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI425512B (zh) * | 2009-06-16 | 2014-02-01 | Phison Electronics Corp | 快閃記憶體控制電路及其儲存系統與資料傳輸方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20070198770A1 (en) | 2007-08-23 |
| WO2003060722A1 (en) | 2003-07-24 |
| US20050015539A1 (en) | 2005-01-20 |
| JP4061272B2 (ja) | 2008-03-12 |
| JPWO2003060722A1 (ja) | 2005-05-19 |
| US7290109B2 (en) | 2007-10-30 |
| CN1278239C (zh) | 2006-10-04 |
| CN1613063A (zh) | 2005-05-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI228652B (en) | Memory system and memory card | |
| US10861509B2 (en) | Asynchronous/synchronous interface | |
| TW556227B (en) | Steering gate and bit line segmentation in non-volatile memories | |
| TW381267B (en) | Non-volatile semiconductor memory elements having single-bit and multi-bit memory cells | |
| TWI506425B (zh) | 用於非揮發性記憶體之最佳化頁程式化次序 | |
| CN1329924C (zh) | 非易失性存储器中可靠的数据拷贝操作的新颖方法和结构 | |
| US7409473B2 (en) | Off-chip data relocation | |
| JP4059473B2 (ja) | メモリカード及びメモリコントローラ | |
| JP2015176309A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| CN109215703B (zh) | 包括页缓冲器的存储装置 | |
| TW200947444A (en) | Flexible memory operations in NAND flash devices | |
| JP6779821B2 (ja) | メモリシステム及びデータの読み出し方法 | |
| US20180074952A1 (en) | Non-volatile semiconductor memory device | |
| TWI806089B (zh) | 半導體記憶裝置 | |
| CN116737058A (zh) | 存储器系统 | |
| JP5016841B2 (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
| JP4849637B2 (ja) | メモリカード及びメモリコントローラ | |
| JP7012174B1 (ja) | 半導体装置および連続読出し方法 | |
| JP2021152779A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| KR100863373B1 (ko) | 메모리 시스템 및 메모리 카드 | |
| JP4742561B2 (ja) | 記憶装置、データ処理システムおよびメモリ制御方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |