TWI227871B - Optical read device, information processing device using optical recording medium, and information reproduction method - Google Patents

Description

1227871 (1) 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明是關於，爲了解決使用光學式記錄媒體的裝置 時，有關推挽法的問題（分割型受光元件的中心與回光光 點的中心不一致時發生的D C偏移），使用具有藉由複數 條分割線細分化的受光面的分割型受光元件，同時，依該 受光面上的光點位置變更分割線的位置，而得以良好進 行，在生成推挽信號時去除同相成分，及良好檢出埋沒在 該推挽信號的位址資訊的技術。 【先前技術】 有一種習知的使用 CD(Compact Disk)或 DVD(Digital Versatile Disk)等光學式記錄媒體的記錄再生裝置，例 如，可以寫入資訊的CD - R/ RW或DVD + RW、DVR等 之光碟是藉由使引導溝蛇行（wobbling :蛇行、顛動），將 位址資訊記錄在碟片（亦即，將依據位址信號的光調變記 錄的位址資訊，被當成引導溝的蛇行埋沒在內）。 第9圖是表示碟片上的蛇行、顛動的樣子的槪念，具 備有半徑方向交互配置波浪狀的島（land)狀部分與溝 (g r ο 〇 v e)狀部分的架構。 同時，CD - R/ RW是如第10圖所示，由島前坑洞 (land pre pit - LPP)表示位址資訊。 任一格式均將引導溝形成爲蛇行狀，檢出蛇行的資訊 是用在，例如，碟片的轉動伺服（C L V伺服）控制、記錄時 (2) 1227871 鐘的PLL(相位同步環）同步引入、或檢出速度成分等。 要檢測位址資訊時是在檢測蛇行時使用推挽（PP)信 號。 所謂「推挽信號」’在此是指由分割型檢波器所檢出 的光量差信號（所謂徑方向推挽信號）。亦即，如第1 1圖 所示，照射在光碟的光線在該光碟的記錄層被反射，其回 光的光點S在2分割型檢波器PD受光。檢波器PD是以 其中央劃的一條分割線a分成兩部分，由運算部b算出其 一方的受光部（A部）的受光信號與另一方的受光部（B部） 的受光信號的差，去除信號中的RF(Radio Frequency)成 分（去除同相成分），獲得推挽信號。 再者，關於檢測含有位址資訊的信號（位址信號），對 碟片記錄資料後較記錄資料前困難，這是受到坑洞（記錄 標誌）的外亂的影響的緣故。 而在傳統的架構，依據推挽信號的位址檢測有下列問 題（參照第12A圖至第12C圖）。 上述同相成分的去除，其前提是回光的光點S是位於 2分割型檢波器PD的剛好中央（參照第1 2B圖）。因此， 光點從2分割型檢波器PD的中央偏移至一側的位置時， 例如第1 2 A圖所示，光點S位於靠檢波器的B部側的位 置，或如第1 2 C圖所示，光點S位於靠檢波器的A部側 的位置時，同相部分的去除便會不充分。 由於偏心等使物鏡移動，2分割型檢波器上的光點的 位置偏移時，因爲對應各受光量的信號會失去平衡，因 -5- (3) 1227871 此，無法充分去除信號中的RF成分。其結果，會發生， 很難取得記錄後的位址貪訊’或檢測用的電路架構變複雜 等問題。 因此’本發明的課題是’確實且容易再生記錄在光學 式記錄媒體的資訊（含位址資訊）。 【發明內容】 本發明爲了解決上述課題，使構成用以檢測從光學式 記錄媒體的回光的受光手段的受光元件，具有由複數條分 割線區分的檢測領域，依受光元件的受光面的回光光點的 位置，變更檢測基準。亦即，對應光點位置的偏移，變更 成爲檢測基準的分割線的位置，求出對應由該分割線區分 成兩個的各檢測領域的受光信號的差，獲得推挽信號。 因此，依據本發明時，縱使分割型受光元件上的回光 光點發生位置上的偏移，只要對應該受光點的位置，變更 分割線的位置，便可以求出由分割線所區分的檢測領域的 兩個受光信號的差，去除同相部分。 【實施方式】 本發明是關於，利用向光學式記錄媒體照射光線的光 學式讀取裝置、使用光學式記錄媒體的資訊處理裝置（記 錄再生裝置等）及資訊再生方法。而本發明是以檢測從光 學式記錄媒體的回光獲得推挽（Push Pull)信號爲其前提， 例如，再生埋沒在推挽信號的位址資訊時，應用在該位址 -6 - (4) 1227871 資訊是以蛇彳了資訊的方式記錄的光學式記錄媒體時’很合 適。 第1圖是表示本發明的基本架構，是表示光碟記錄再 生裝置的架構例子。 在資訊處理裝置1使用的光學式記錄媒體2記錄有包 含使用者資料的各種資訊，該資訊可利用雷射光照射讀 出。 再者，本發明並不問光學式記錄媒體的記錄形態或記 錄媒質、形狀等如何，但以下是依照碟狀記錄媒體（以下 簡稱「碟片」）進行說明。此碟片以溝的蛇行資訊方式記 錄位址資訊。 光學式記錄媒體2是藉由驅動源3的心軸馬達使其轉 動，該心軸馬達是由來自伺服控制電路4的信號加以驅動 控制。 光學式讀取裝置5使用光拾訊器（或光學頭）5a構成， 該光拾訊器是由伺服控制電路4控制其動作（驅動物鏡的 追蹤伺服控制或聚焦伺服控制，或變更視野位置用的螺紋 控制等）。 藉由光拾訊器5 a讀出的信號被送到矩陣放大器6， 在此獲得：追蹤錯誤信號、聚焦錯誤信號、推挽信號、資 訊信號（或資訊再生信號）。追蹤錯誤信號或聚焦錯誤信號 供給伺服控制電路4，用以控制對準物鏡的焦點位置或進 行追蹤控制。同時，推挽信號是後述的分割型檢波器的光 量差信號，送至後述的解調處理部，用以檢測位址資訊。 (5) 1227871 亦即，位址資訊是以溝部的蛇行方式記錄在碟片，因此可 以從推挽信號檢出。 信號處理邰7備有解調處理部8與調變處理部9。 在矩陣放大器6獲得的上述資訊信號供給解調處理部 8，當作使用者貝料加以解碼。亦即，解調處理部8備有 解碼電路或E C C (錯誤更正符號）電路等，藉由解碼使其恢 復到記錄前的資料’更正符號錯誤後輸出資料。 記錄資料時，輸入的使用者資料被送至調變處理部 9。在此，藉由E C C電路在資料附加錯誤更正符號，再藉 調變電路進行記錄資料所需要的調變。而，調變處理部9 的輸出信號被送至矩陣放大器6，進行對碟片的記錄處 理。 再者’雖省略圖示’但當然設有CPU(中央處理裝置） 或記億器等構成的控制手段。 第2圖是關於光學式讀取裝置，槪略表示除了檢測電 路部以外的主要部分的架構例子1 〇。 光學系1 1的構成零件是配置：物鏡1 2、平行光管 (collimator ：透鏡）13、光束分割器 14、光柵 (grating)15、調整用透鏡16。 發光源17使用雷射二極體（LD)，從該雷射二極體射 出的雷射光透過光柵15，在光束分割器14反射後，在平 行光管1 3成爲平行的光線，再透過物鏡1 2照射在光學式 記錄媒體2。 受光手段（光檢波器）1 8是用以對從來自光學式記錄媒 -8- (6) 1227871 體2的回光進行信號檢測（除了表示記錄資訊的信號外’ 包含各種錯誤信號的檢測）。此受光手段1 8使用分割型的 受光元件（詳情後述），構成用以獲得推挽信號的檢測手 段。從光學式記錄媒體2的回光是通過物鏡1 2、平行光 管1 3、光束分割器1 4、調整用透鏡1 6到達受光手段 1 8，在此進行光電變換。 包含物鏡12、平行光管13的光學系11是連同發光 源1 7 —起構成對光學式記錄媒體2進行光照射的照射手 段1 9。 再者，圖中是表示以個別的發光源1 7與受光手段1 8 當作元件零件分別構成的例子，當然可以採用使用光積體 型元件的架構作爲包含發光源與受光手段的發受光手段。 本發明的目的是，縱使回光光點在受光元件的受光面 上移動（或變位）時，仍可以在生成推挽信號時充分去除同 相成分，並防止上述弊害（發生所謂DC偏移）。 第3A圖至第3C圖及第4A圖至第4C圖是說明推挽 信號的檢測原理的圖。 在第3A圖至第3C圖，中央所示的第3B圖是表示呈 圓形的回光光點S的中心在與受光元件2 0的受光面2 1的 中心大致上相一致的位置的狀況，而其左側所示的第3 A 圖是表不回光光點S的中心來到受光元件2 0的受光面2 1 中心稍偏下方的位置的狀況，而第3 B圖右側所示的第3 C 圖是表不回光光點S的中心來到受光元件2 0的受光面2 1 中心稍偏下方的位置的狀況。 -9 - (7) 1227871 與第12A圖至第12C圖的不同點是，受光元件20的 受光面21所示的分割線（參照22至24)並非恆常相同，會 依光點S的位置而異這一點。 例如，在第3 B圖，受光面2 1被分割線2 2分割爲 2，分割線2 2與向圖面左右延伸的受光面2 1的中心線一 致。對此，第3 A圖是，受光面2 1被分割線2 3區分，分 割線23較分割線22位於圖的下方。而，第3C圖是，受 光面2 1被分割線24區分，分割線24較分割線23位於圖 的上方。如此，在受光面上依光點移動的方向變更分割 線，便可以將分割線規定在光點的中心或接近此的位置， 因此，能夠求出對應由分割線區分爲2的各檢測領域（或 受光領域）的受光信號的差，去除同相成分。 當然，也可以考慮，在受光面上依光點的位置移動受 光元件本身的方法，但因需要移動機構或需要進行控制， 因此’如本發明之依光點的位置，變更成爲檢測基準的分 割線較爲簡單，成本上也較爲有利。 第4A圖至第4C圖是表示在受光面上設定3條平行 的分割線的架構例子，第4A圖至第4C圖分別對應第3 A 圖至第3C圖。 本例是，受光面2 1由位於其中央的分割線22，及分 別位於該分割線22的上下的分割線23、24，區分成4個 檢測領域。 關於受光面2 1，第4 A圖及第4C圖是從上往下順序 分成檢測領域 2 1 A、2 1 B、2 1 C、2 1 D，本例是，各檢測領 -10- (8) 1227871 域對分割線2 2成對稱狀配置。再者，位於分割線2 2上下 的檢測領域2 1 B、2 1 C較該等周圍的檢測領域2 1 A或2 1 D 狹窄。 在第4 B圖，光點S的中心大致上位於受光面2 1的 中央，這時，分割線2 2被選擇作爲檢測基準。因此，位 於分割線22上方的檢測領域21 A及21B的檢測信號（表 示爲「A + B」。）被送至減法器25B。而，位於分割線22 下方的檢測領域2 1 C及21 D的檢測信號（表示爲「C + D」。）被送至減法器2 5 B。因此，在減法器2 5 B求出檢測 信號「A + B」與檢測信號「C + D」的差信號「A + B -(C + D)」，獲得推挽信號（稱作「ΡΡι」）。 在第4 A圖，光點S的中心位於受光面2 1的中央的 下方’這時，分割線2 3被選擇作爲檢測基準。因此，位 於分割線2 3上方的檢測領域2 1 A、2 1 B及2 1 C的檢測信 號（表示爲「A + B + C」。）被送至減法器25A。而，位於 分割線 2 3下方的檢測領域 2 1 D的檢測信號（表示爲 ^ D」。）被送至減法器25A。因此，在減法器25A求出檢 測信號「A + B + C」與檢測信號「D」的差信號「A + B + C — (D)」，獲得推挽信號（稱作「PP3」）。 在第4C圖，光點S的中心位於受光面2 1的中央的 上方’這時，分割線24被選擇作爲檢測基準。因此，位 於分割線2 4上方的檢測領域2 1 A的檢測信號（表示爲 厂A」。）被送至減法器25C。而，位於分割線24下方的 檢測領域2 1 B、2 1 C、2 1 D的檢測信號（表示爲「B + C + -11 - (9) 1227871 D」。）被送至減法器25C。因此，在減法器25C求出 信號「A」與檢測信號「B + C + D」的差信號「A -C + D)」，獲得推挽信號（稱作「PP2」）° 不論是那一種場合，均能夠從以通過光點的大致 央的分割線作爲基準的區分領域的檢測光量之差獲得 信號。亦即，依受光面的回光的光點的位置’變更成 測基準的分割線的位置，即可因應受光面上的光點的 變位。因此，若求出對應由變更的分割線區分成兩個 檢測領域的受光信號之差，所獲得的推挽信號幾乎不 留不需要的成分（RF成分），因此’對上述位址資訊 測很有效。 再者，複數條平行的分割線，對受光面上的光點 動方向，具有垂直相交或差不多垂直相交的關係（分 與光點的移動方向平行時，當然是除外）。同時，本 設定3條分割線，對應光點的移動改變各檢測領域的 信號的運算式，但這是以矩陣處理爲之。亦即，此項 是由上述矩陣放大器6爲之，但可以藉由運算處理實 跟物理方式切換分割線時同樣的效果。 同時，因受光面上的不同光點的位置，有時可能 生分割線的位置偏離光點的中心位置的關係，但增加 線的數目便可以很容易因應。亦即，將分割線的數目 愈多，對應光點位置的分割線的選擇幅度會愈寬，因 以獲得品質更高的信號（因爲3條的分割線便可以充 得效果，因此增加分割線效果會更大），但是要考慮 檢測 (B + 上中 推挽 爲檢 移動 的各 會殘 的檢 的移 割線 例是 檢測 處理 現， 會發 分割 增加 此可 分獲 處理 -12 - (10) 1227871 的複雜化或成本等，以決定分割數。 再者，關於分割線的間隔，可考慮需要將分割線置於 光點的移動範圍內的問題，而適宜決定。 分割線位置的決定，需要檢出受光面上的光點的位 置。亦即，需要以第3B圖或第4B圖所示的光點位置（中 立位置）爲基準，掌握光點向那一方向偏移多少。 設定上述3條分割線時，可以檢出光點的中心部是位 於受光面的大体上中央或接近中央的部位，或變位至其上 方或下方，對應檢測結果選擇上述推挽信號（P P 1〜p P 3 )之 任一即可。 第5圖是表示，依受光面的回光的光點位置，決定成 爲檢測基準的分割線的分割線決定手段（或分割線變更手 段）26的構成例子。 本例是以上述分割線2 2爲基準，將從位於圖上方的 檢測領域2 7 U (第4 A圖至第4 C圖是相當於2 1 A及2 1 B )獲 得的檢測信號送出到減法器2 8，將從位於圖下方的檢測 領域2 7 L (第4 A圖至第4 C圖是相當於2 1 C及2 1 D )獲得的 檢測信號送出到減法器2 8。 減法器2 8的輸出信號（表示爲「s 2 8」）被送至檢測位 準用的窗比較器（window comparator)29，與規定其檢測窗 的基準値（參照第6圖的VI、V2)做比較。 第6圖是說明位準比較的圖，波狀的曲線g表示在減 法器2 8獲得的差信號。

基準値VI、V2均在窗比較器29設定，圖中表示VI -13- (11) 1227871 是上限値，V 2是下限値。 如曲線g上的點Y所示，信號s 2 8的位準位於基準 値V1與V 2之間時，表不光點S的中心來到接近受光面 中央的位置，因之，推挽信號選擇上述PP 1即可。 如曲線g上的點Z所示，信號S 2 8的位準在基準値 V2以下時，如第3A圖或第4A圖所示，表示光點s的中 心來到較受光面的中央爲接近下方的位置，因之，推挽信 號選擇上述P P 3即可。 如曲線g上的點X所示，信號s 2 8的位準超過基準 値V 1時，如第3 C圖或第4 C圖所示，表示光點s的中心 來到較受光面的中央爲接近上下方的位置，因之，推挽信 號選擇上述P P 2即可。 如此，求出從通過受光面中心的分割線所區分的各檢 測領域獲得的信號之差信號，以比較手段（窗比較器2 9)將 該信號與基準値做比較，便可以檢出在受光面上的光點的 移動（變位）。亦即，窗比較器29構成，可以依據從減法 器2 8獲得的差信號的絕對値或振幅，檢測受光面上的回 光光點的位置上的偏移的手段。再者，推挽信號本身可以 藉由相位檢測而獲得，但要檢測受光面上的回光光點的位 置，最好是使用信號的絕對値或振幅，藉此，可以很容易 從位置檢測結果決定分割線。同時具有，不必爲此配設複 雜的電路架構的好處。 要設定比較位準所要的上述基準値V 1、V 2時，可以 有例如下列的形態。 - 14- (12) 1227871 設定預定的一定基準質的形態’ 爲了因應溫度變化或因時間經過而發生的變化，變更 基準値或更心基準値的形態。 首先，（1)是製造時或出貝時’由裝置的製造廠商設 定基準値，同時，此後基本上是不再變更’或使其在保養 或修理時，工作人員能夠調整等的形態。 而，（2)是，例如’起動裝置時’或依據溫度感測器 等的檢測手段所檢測的資訊定期變更基準値’或進行校正 的形態。亦即，受光面上的光點的移動’主要是受到光拾 訊器因溫度變化或因時間經過而發生變化等的影響，因 此’不是固定的基準値’而是要能以動態方式設定基準値 (自動調整較人工調整理想）。 第7圖是例示，無法藉由驅動物鏡進行追蹤控制時， 所獲得的推挽信號隨時間的變化。 在決定上述基準値 VI、V2時，其基本的値（光點在 中立位置時的信號値）可以使用如圖示的推挽信號的平均 値或中央値。亦即，包括有：從平均値檢測檢出光點的中 立位置的方法；及檢出信號的尖峰値及谷底値（或其平均 値）而求出中央値，將其作爲光點的中立位置的方法等。 再者，兩個基準値V 1、 V2是分3階段檢測光點位 置時所設定，如果以N階段進行，即可設定N - 1個基準 値’檢出受光面上的光點的偏移狀態。 第8圖表示檢測來自光學式記錄媒體的回光以獲得推 挽信號用的檢測手段3 0的架構例子。再者，本例是的聚 -15- (13) 1227871 焦檢測方法使用像散（Astigma)法，追蹤檢測法則採用將 推挽法應用在3光點的DPP (Differential Push Pull)法。 構成檢測手段3 0的3個受光元件3 1、3 2、3 3，其受 光面均具有由分割線區分的複數個檢測領域。 檢出〇次光點的受光元件3 1是，藉由3條平行的分 割線α 1、α 2、α 3，及 與此等垂直相交的1條分割線β區分成8個檢測領域 (Α〜D，J〜Μ)。亦即，受光面由分割線α 1及α 3在圖 的上下方向大致上均等區分成3部分，同時，分割線α 1 與α 3之間的部分被分割線^ 2均分爲2。而在圖的左右 方向’受光面由分割線β均等區分成爲2。 再者，各檢測領域的區分是如下示。 •領域「A」、「D」—位於分割線α 1上方的領域 •領域「Β」、「C」—位於分割線α 3下方的領域 •領域「J」、「Μ」—位於分割線α 1與α 2之間 的領域 •領域「Κ」、「L」—位於分割線α 2與α 3之間 的領域 •領域「A」，「J」、「K」、「B」—位於分割線 β左側的領域 •領域「D」、「Μ」、「L」、「C」-> 位於分割 線β右側的領域 回光的折射光點的檢測用受光元件3 2、3 3均是2分 割型，對各分割線成對稱。 -16 - (14) 1227871 例如，受光兀件3 2的受光面是由向圖的左右方 伸的分割線^ 4均分爲2 ’該分割線α 4的上側有檢 域「Ε」，該分割線^ 4的下側有檢測領域「F」。同 受光兀件 3：>的1光面疋：由向圖的左右方向延伸的分 α 5均分爲2，該分割線α 5的上側有檢測領域「G」 分割線α 5的下側有檢測領域「Η」。 首先，說明受光元件3 1的信號處理，該元件設 法器34U、3 4L與減法器35，加法器的架構是多輸入 出（以下是，使用與附加在檢測領域Α〜Η的記號相 記號，以區別檢測信號）。 在圖中，從位於分割線α 2上側的檢測領域A、 D、Μ分別獲得的檢測信號被送到加法器3 4 U進行加 而將其結果（「Α + J + D + Μ」）送至減法器35。在圖 從位於分割線α 2下側的檢測領域Κ、Β、L、C分別 的檢測信號被送到加法器34L進行加算。而，將其 (「K+B+L+C」）送至減法器35。 在減法器3 5可以獲得從「A + J + D + Μ」檢掉「 B + L + C」的信號「（A + D + J + Μ) — (B + C + K + L)」 算時順序不拘，因此括弧內是改成英文子母順序）。 號是相當於上述P P 1，而被送到窗比較器3 6、或後述 擇部3 7、減法器4 3。再者，窗比較器3 6的任務與上 比較器29相同，是分3階段檢出受光面上的光點位 而依光點位置決定分割線。 再者，再算出，表示光點S在受光面上從中立位 向延 測領 時， 割線 ，該 有加 1輸 同的 算。 中， 獲得 結果 κ + (加 此信 的選 述窗 置， 置來 -17- (15) 1227871 到偏向一側（圖下方）的位置時之相當於上述PP2的運算結 果的「（A+D+J+K+L+M) - (B+C)」，或表示光點S 在受光面上從中立位置來到偏向另一側（第4 A圖至第4 C 圖上方）的位置時之相當於上述PP3的運算結果的「（A + D) - (B+C+J+K+L+M)j ，分別送至選擇部37。此等 運昇’包括上述「（A+D+J+M) -（B+C+K+L)」的運 算，均以運算手段3 9加以處理（矩陣處理）。亦即，運算 手段3 9具有進行有關信號A〜Η的四則運算的架構，可 依據從依分割線區分的各檢測領域的信號進行運算處理， 以獲得推挽信號。 選擇部3 7可依來自窗比較器3 6的信號，選擇上述3 種運算結果中的任一種，送出到後級的位址解碼器3 8。 亦即，如果依據來自窗比較器3 6的信號，檢出光點S來 到中立位置，或接近該位置處時，選擇「（A + D + J + Μ) 一（B+C+K+L)」，依據來自窗比較器36的信號，檢出 光點S來到較中立位置爲偏向（變位）圖下側時，選擇「（ A + D+ J+ K+ L+ M) - (B+C)j ，依據來自窗比較器36的 信號，檢出光點S來到較中立位置爲偏向圖上側時，選擇 「（A+D)-(B+C+J+K+L+M)」。 位址解碼器3 8是接受來自選擇部3 7的信號（推挽信 號），抽出埋沒在該信號的位址資訊加以再生的手段（位址 再生手段）。 關於追蹤錯誤信號，是將由受光元件3 2、3 3的各檢 測領域獲得的差信號相加，再從上述減法器3 5的輸出檢 -18- (16) 1227871 掉其加算結果而獲得。亦即，將來自受光元件3 2的檢測 領域E及F的各信號送給減法器4 0，獲得差信號「£ _ F」’同時，將來自受光元件3 3的檢測領域G及Η的各 信號送給減法器4 ]，獲得差信號「G — η」。而將減法器 4 0、4 1的輸出送給加法器42相加後，將加算結果送給減 法器43。 對此減法器43供應有減法器3 5的運算結果「（a + D + J+M)-(B+C+K+L)j ，從此檢掉加法器4 2的加算 結果’獲得追蹤錯誤信號〔（A + D + J + Μ) -（ B + C + κ + L)〕-〔「E-F」-「G- Η」〕。 而’關於聚焦錯誤信號，使依據受光元件3 1的各檢 測領域的信號，獲得運算結果「（ A + C + J + Μ) — (B + D + Κ + L)」。這是，將由分割線α 2及β區分成4的領域 中，具有對角的位置關係的領域相互間的信號相加，同時 在各相加結果間相減而獲得。亦即，在受光面上以分割線 α 2及β看作爲位置座標軸時，以位於第2象限的檢測領 域A、J，及位於第4象限的檢測領域c、L作爲一組，獲 得將該等信號相加的運算結果（「A + C + J + L」），同時， 以位於第1象限的檢測領域D、Μ，及位於第3象限的檢 測領域Β、Κ作爲一組，獲得將該等信號相加的運算結果 (「B + D + K + Μ」），然後，在兩者間進行減算便可以（運 算用的架構從運算式可以淸楚瞭解，圖示從略）。 如以上所述，本例是在應用於3光點法時，求出依回 光的光點位置的複數次運算結果，同時，對應依該光點位 -19- (17) 1227871 置而變更的分割線，從複數個運算結果中選擇一個，將其 採用作爲推挽信號。所選擇的推挽信號的不需要的RF成 分已減少，因此，可以很容易檢出埋沒在該信號的位址資 訊。 因此，在應用於使用碟片（例如，CD - R/ RW、DVD + RW、DVD - R/ RW、DVR等）的記錄再生裝置時，可以 確實檢出以引導溝的蛇行方式記錄的位址資訊，而且，可 以簡單進行該項檢測。 從以上的記載可以淸楚瞭解，依據本發明時，藉由對 應受光面上的回光光點的位置，變更分割線的位置，便可 以去除推挽信號中的同相成分，或使其充分降低。因此， 可以確實再生含在推挽信號中的資訊，而且，不會使所需 要的架構或處理複雜化。 依據本發明時，能夠依受光面上的回光光點的位置所 決定的分割線爲基準，進行生成推挽信號所需要的運算， 可以降低推挽信號中的不需要的成分。 依據本發明時，可以很容易檢出受光元件的受光面上 的回光光點的位置偏移。 依據本發明時，可以確實進行位址資訊的檢測及再 生。 【圖式簡單說明】 第1圖是表示使用光學式記錄媒體的資訊處理裝置的 架構例子的方塊圖。 -20- (18) 1227871 第2圖是表示光學式讀取裝置的架構例子的圖。 第3A圖至第3C圖，連同第4A圖第4C圖是本發明 的檢測原理的說明圖，本圖是表示受光面上的光點位置與 分割線的關係的圖。 第4A圖第4C圖是用以說明依分割線位置的變更的 推挽信號的運算處理的圖。 第5圖是說明決定分割線用的檢測處理的圖。 第6圖是是分3階段檢測受光面上的光點位置時的說 明圖。 第7圖是爲了說明設定用來檢測光點位置的基準値， 而例示無追蹤伺服時所獲得的推挽信號的波形圖。 第8圖是表面本發明的檢測手段的架構例子的圖。 第9圖是表示蛇行、顛動的樣子的槪念圖。 第1〇圖是表示島前坑洞（LPP)的槪念圖。 第1 1圖是表示藉由2分割型檢波器的推挽信號的生 成方法的說明圖。 弟1 2 A圖1 2 C是說明起因於回光的光點位置偏移的 弊害的圖。 [主要元件對照表] 1 :資訊處理裝置 2 :光學式記錄媒體 3 :驅動源 4 :伺服控制電路 -21 - (19) (19)1227871 5 :光學式讀取裝置 5 a :光拾訊器 6 :矩陣放大器 7 :信號處理部 8 :解調處理部 9 :調變處理部 1 1 :光學系 1 2 :物鏡 1 3 :平行光管 1 4 :光束分割器 15 :光柵 1 6 :調整用透鏡 1 7 :發光源 1 8 :發光手段 1 9 :照射手段 20、31、32、33:受光元件 21 :受光面 2 1 A〜D、2 7 L、27U ：檢測領域 22、 23、 24:分割線 25A、 25B、 28' 35、 40、 41、 43:減法器 2 6、3 6 :分割線決定手段 29 :窗比較器 3 0 :檢測手段 34L、34U、42 :力口法器 -22- (20) 1227871 3 7 :選擇部 3 8 :位址解碼器 P P 1、P P 2、P P 3 :推挽信號 S :光點 V 1、V 2 :基準値 -23-

Claims (1)

1. (1) 1227871 拾、申請專利範圍 1. 一種光學式讀取裝置，具備有：向光學式記錄媒 體照射光線的照射手段；檢出來自該光學式記錄媒體的回 光，獲得推挽信號的檢測手段，其特徵爲， 構成上述檢測手段的受光元件備有：由複數條平行的 分割線區分的檢測領域， 依據上述受光元件的受光面的上述回光的光點位置， 決定上述分割線的位置，同時，從對應該分割線區分成兩 個的各檢測領域的受光信號的差，獲得上述推挽信號。 2 ·如申請專利範圍第1項所述之光學式讀取裝置， 其中 具備有：依據上述受光元件的受光面的上述回光的光 點位置，決定成爲檢測基準的上述分割線的分割線決定手 段；以及 根據分別從依上述分割線區分的各檢測領域獲得的信 號，進行運算處理，獲得上述推挽信號的運算手段。 3 ·如申請專利範圍第2項所述之光學式讀取裝置， 其中 上述分割線決定手段在上述受光兀件的受光面求出， 從以中心線作爲分割線區分的兩個檢測領域獲得的檢測信 號的差信號，同時，根據該差信號的絕對値或振幅，檢出 上述受光面的上述回光光點的位置的偏移。 4 · 一種使用光學式記錄媒體的資訊處理裝置，利用 對光學式記錄媒體的光線照射，讀出資訊加以處理，其特 -24- (2) 1227871 徵爲， 備有=對上述光學式記錄媒體進行光線照射的照射手 段；及藉由檢出來自該光學式記錄媒體的回光，獲得推挽 信號的檢測手段，同時，構成該檢測手段的受光元件具 有，由複數條平行的分割線區分的檢測領域， 而’依據上述受光元件的受光面的上述回光的光點位 置’決定上述分割線的位置，同時，從對應由該分割線區 分爲二的各檢測領域的受光信號的差，獲得上述推挽信 號。 5 ·如申請專利範圍第4項所述之使用光學式記錄媒 體的資訊處理裝置，其中 具備有：依據上述受光元件的受光面的上述回光的光 點位置’決定成爲檢測基準的上述分割線的分割線決定手 段；以及 根據分別從依上述分割線區分的各檢測領域獲得的信 號’進行運算處理，獲得上述推挽信號的運算手段。 6 .如申請專利範圍第5項所述之使用光學式記錄媒 體的資訊處理裝置，其中 上述分割線決定手段在上述受光元件的受光面求出， 從以中心線作爲分割線區分的兩個檢測領域獲得的檢測信 號的差信號，同時，根據該差信號的絕對値或振幅，檢出 上述受光面的上述回光光點的位置的偏移。 7 .如申請專利範圍第4項所述之使用光學式記錄媒 體的資訊處理裝置，其中 -25- (3) 1227871 資訊處理裝置用以再生埋沒在上述推挽信號的位址資 訊。 8 · —種資訊再生方法，對光學式記錄媒體進行光線 照射’檢出來自該光學式記錄媒體的回光，獲得推挽信 號’而再生資訊，其特徵爲， 在上述檢測回光的受光元件的受光面，設定複數條平 行的分割線，區分成複數個檢測領域， 依上述受光面的上述回光的光點的位置，變更成爲檢 測基準的上述分割線的位置，就由該分割線區分爲二的各 檢測領域的受光信號，求出兩者的差，獲得上述推挽信 號。 9 ·如申請專利範圍第8項所述之資訊再生方法，其 中 上述方法是要再生埋沒在上述推挽信號的位址資訊。 10·如申請專利範圍第9項所述之資訊再生方法，其 中 上述位址貧訊是記錄在上述光學式記錄媒體的蛇行 (wobbling)資訊。