TWI221925B - Apparatus and method for examining insulation of circuit board - Google Patents

Description

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發明所屬之技術領域 顯示 法0 本發明係有關一種印刷電路基板 口口， ^ 狀晶以汉寻離子體 盗的電極板等電路基板之絕緣檢查駿置和絕緣檢查方 先前技術 路基板，通常是利 的絕緣情況是否良 斷，來檢查電路基 近年來，對於設有複數條配線的電 用絕緣檢查裝置，對各配線與其他配線 好（是否保證具有充分的絕緣性）進行判 板是否為優良品。 圖4是習知的絕緣檢查裝置的基本結構六音圖。 絕緣裝置100包括：用於在檢查對象的配^pi、p2的 接點之間施加高壓電壓V(比如：20 0 V)的可變電壓源 101、 用於測量施加在配線Pi、P2之間的電壓的電壓表 102、 連接在上述配線!^上的開關1〇3、用於測量在配\線 P1、P2之間流動的電流I的電流計丨〇 4、以及基於電壓表 1 0 2和電流計1 〇 4輸出的V和I計算出電阻值R (v /丨）、並根據 其電阻值R來判斷絕緣狀況是否良好的控制裝置1 〇 5。 在此絕緣檢查裝置100中，一旦由控制裝置1〇5接通了 開關103，可變電壓源1〇1的輸出電壓則被施加在配線ρι、 P2之間’由電，壓表1〇2測出的配線PI、P2之間的電壓值和 由電a十1 0 4測出的在配線P 1、P 2之間流動的電流值則被 輸入到控制裝置105。控制裝置1 05，在配線P1、ρ2之間施 加了可變電壓源1 〇 1的輸出電壓之後，在既定的時間根據

1221925 五、發明說明（2) —-------- 檢測出來的電壓值v和電流值ί計算出配線P丨、p 2 阻值（絕緣電阻值）R= V/I，並判斷此絕緣電阻1，電 在預先設定的既定臨界值Re f以上，以此來判定電路疋否 是否良好。也就是，當絕緣電阻值R在臨界值Ref以基板 時’控制裝置丨〇 5就判斷配線p丨、p2之間的絕緣狀況f 好’而當絕緣電阻值R未達到臨界值R e f時，控制; 就判斷配線p 1、P 2之間的絕緣狀況為不良。 ^在配線P 1、P2之間施加了可變電壓源丨〇 i的輸出電壓 之後’不立即對絕緣狀況是否良好進行判斷，這是因為， 如圖\所示，在配線P1、P2之間剛剛施加了電壓v，配線間 的電壓還處在不穩定的狀態（圖5 (a )中的電壓上升的區 =)，並且，在配線P丨、P2之間一瞬間有較大的過渡電流 流動，所以，要在配線P1、p2之間的電壓穩定在所施加的 電壓v上、且電流也處於穩定的既定時刻t2後才對絕緣狀 況是否良好進行判斷。 發明内容 發明所要解決的課題 但是’因為在檢查對象的配線p丨、p2之間施加了高壓 的直流電壓，這樣從施加電壓之後到經過一個既定時刻t21. 為止’會在配，線之間出現產生火花的現象，因此，會存在 配線P1、P 2之間的絕緣電阻值發生變化的不良情況。 一比如，在圖5中，如果在時刻t丨發生了火花，如虛線a 所示，配線之間的電壓就會在一剎那間急劇地下降，之後

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再上升，與此同時，如虛線B所示，在一瞬間有較大的電 流流動，而絕緣電阻值!^在火花發生的一瞬間幾乎成為〇 之後，再逐漸增大。 '

火花發生後，由於配線之間的電壓在朝施加電壓¥上 升的同時，在配線Ρ1、ρ 2之間流動的電流在下降，所以， 配線PI、Ρ2之間的絕緣電阻值r會增大。但是，由於因火’ 花而引起絕緣電阻值R發生變化，如虛線C、D所示，其增 大的波形也就處於不穩定狀態。這樣，如虛線^所示了 ^ 檢查時刻t2，絕緣電阻值R為臨界值Ref以上的，就可以类 斷電路基板為優良品，如虛線D所示，絕緣電阻值r比臨$ 值Rei小的，就判斷電路基板為不良品。 1 由於因火花而引起絕緣電阻值r比臨界值Re f小的，艮 :是按習知的絕緣檢查方法，也可以在檢測時刻」 =判Γ不良品，所以，對此種情況不存在什麼特= '、、、'而，對於如虛線C所示的、上述絕緣電阻值R在蹈 各值Ref以上的情況來說，由於按習知的絕緣檢查方法， 4 ϊ ί ί ί ΓB!刻t2將電路基板判斷為優良品，所以，名 而^ 6優良品的電路基板中，因絕緣檢查中火花的發4

緣電阻似發生變化的電路基板、以及不是這種 ΓίΓ上路基板就都混在一起了。由於火花產生而引起释 ^一發生變化的電路基板會因火花的發生而多少受 製。t:: f，因、此，與沒有產生火花的電路基板相比較， 安ϊ電：ϋ ΐ有：降低’之後就會出現在該電路基板』 "^ °卩件、或者是在檢查安裝了零部件的電路基相

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以及機械的疲勞而 引起電路基板不良 時，由於熱、電氣、 等問題。 經絕緣^裝置被判斷為優良品 又變成了*良品的發生，會使絕緣檢查裝 ^ 地被降低。因&，有必要設法不讓那 “員以 的發生而引起絕緣電阻值R發生變化的缘檢-中火曰化 這種情況的電路基板都混在一起， "·板^ 不疋 電路基板的情況發生。 了此破判斷為優良品的 置以= ΐ於，提供一種電路基板之絕緣檢杳裝 = 別可以確保將發生過火花的電路基ί 用以解決課題 本發明的 既定的直流電 定時刻，根據 線之間流動的 根據此電阻值 括·火化檢測 述配線之間發 測裝置檢測出· 根據本發 查方法，在配 間的電壓處於 絕緣檢 配線之 和由施 算出上 基板是 檢測因 及判斷 ，則判 態，本 既定的 定時刻 查裴置 間的電 加電壓 述配線 否為良 施加上 裝置， 斷該電 發明的 直流電 ，根據 間施加 時的既 上述配 值，再 在於包 起在上 火花檢 良品。 絕緣檢 配線之 和由施 的手段 電路基板之 壓，在上述 上述電壓值 電流值，計 來判斷電路 裝置，用來 生的火花； 有火花發生 明的另一形 線之間施加 穩定時的既 ，在配線之 壓處於穩定 所引起的在 之間的電阻 好，其特徵 述電壓而引 一旦由上述 路基板為不 電路基板之 壓，在上述 上述電壓值

2014-5547-PF(Nl).ptd 第8頁 1221925 五、發明說明（5) ^壓所引起的在上述配線之間流動的電流值，計 否=線之間的電阻值，再根據此電阻值來判斷電路 2良好，其特徵在於包括··檢測因上述施加電壓 的上述電壓處於穩定為止而發生在上述配線之間 j V驟，及一旦檢測出有火花發生，則不管基於電 =的電路基板是否為良好，均判斷該電路基板 的步驟。 根據以上的發明，在配線之間施加了既定的直 ，，在該配線之間的電壓處於穩定的既定時刻， ^線之間的電壓值V和該配線之間流動的電流值1， =^调檢測值计异出此配線之間的絕緣電阻值R = ^將此絕緣電阻㈣與預先設定的臨界值Ref進行比 ^對電路基板是否良好來進行判斷。也就是說， 2 ί Γ在臨界值Ref以上，則判斷電路基板為優 t果絕緣電阻值R比臨界值Ref小，❹丨斷電路基板 OU ° :且士根據上述絕緣電阻值來對電路基板進行 :查過程中，自配線之間施加既定的直 =之間的電壓處=穩定的既定時刻為止的期間内， :=間發生了火化’其火花的發生就能被檢測出， 根據電阻值的·判斷電路基板是否 基板直接被判斷為不良品。由此，就可; 絕緣檢查而被判斷為優良品的電路基板中有火花發 電路基板混入的可能性。 算出上 基板是 而引起 的火花 阻值而 不良品 流電壓 檢測出 再根據 I，通 較，則 如果絕 良品， 為不良 的絕緣 到該配 一旦配 而不管 的電路 止通過 生過的

2014-5547-PF(Nl).ptd 第9頁

、發明說明（6) 而且’本發明的電路基板之絕緣檢查裝置，在上述配 為t間施加既定的直流電壓時，還可以將面積小的配線作 加向2位來施加上述直流電壓。這樣，由於在配線之間施 2既定的直流電壓時，是將面積小的配線作為高電位來施 小i述直流電壓的，所以，火花發生時流動的火花電流就 二將面積大的配線作為高電位的情況，由此可以減小由 化發生而引起的配線等的損傷。 於m ΐ且又因為施加直流電壓後，到配線之間的電壓處 要i疋=而要的時間比將面積大的配線作為高電位的情況 良好的判二 比面2 生：引起的電壓變化，面積小… 花的情況下，蔣A a 厅以，在基於電壓的變化來檢測火 測出火花。 、小的配線作為高電位還可以準確地檢 而且’本發明的雷 括操作裝置，用來改m板之、、、邑緣檢查裝置，還可以包 述既定時刻。並且，=、、、電路基板是否良好進行判斷的上 時刻，可以預先 f 2判斷電路基板是否良好的既定 根據此特徵， 良好進行判斷，的上述 ^作裝置來延遲對電路基板是否 的時間來監視是否有火：的情況下’因為可以有較長 的信賴度得以提高。而一 =生，所以，製品（電路基板） 情況下，因為縮短了檢查時間’所前上述既定時刻的 所以就可以提高檢查的效 2014-5547-PF(Nl).ptd 第10頁 五、發明說明（7) _________ 率。因此’通過設置操作裝置來改變 進行判斷的既定時刻’則可以兼顧產σ^路基板是否良好 果的平衡’來自由地設定上述既定時：的信賴度和檢查效 而且，本發明的電路基板之絕緣檢 檢測裝置’還可以包括用於檢測u的上述火花 裝置、…加電壓突然下降時則判芯，的電壓檢測 判斷裝置。具體地來說，上述火花檢測：f化二生的火花 次的信號和這次的信號；置和’將上 路基板之絕緣檢查方法，可以基於施 ^，上述電 發生。根據這些特徵，以 進订準確而有效地檢測。 j對火化的發生 而且，本發明的電路基板之絕 括工序控制裝置，一旦由火花檢測裝置檢^右运可以包 測出有火花，板之絕緣檢查方法’也是-旦檢 根據此特徵、:因為檢查工序。 火花發生，則可以省ς A:檢测出被檢查中的電路基板有 」从,去其後的檢杳工库，辦 對許多電路基板進行檢查時具有較好的檢查效率特別是在· 實施方式 構示Γ:有關本發明的絕緣檢查裝置的-個實施例的結 1221925 五、發明說明（8) 署η查裝置1，對於在未圖示的電路基板上分佈設 τ ’用在習知技術中已說明過的技術，來 mλ 絕緣狀態是否良好，當確認了所有的配 線Ρ1〜Ρ5與其他配線之間的絕緣狀況都為良好時，則可以 =:電？基板為優良品，而當只要存在一個絕緣狀況不 良的部分時，則將電路基板判斷為不良品。 而且，為瞭解決由上述火花發生而°出°現的問題，還配 置有一種在絕緣檢查中能夠檢測出配線之間發生過火花， 2在檢測出有火花發生時’則判斷電路基良品的 結構。 !緣檢查裝置1，具有可變電壓源2、電壓表3、與設 圖不的電路基板上的配線Ρ1Ρ5連接的開關電路4 、電流計5、控制裝置6、火花檢出電路7、D/A轉換器8、 1轉換益9和1〇。而且，D/A轉換器8將由控制裝置6向可 支電壓源2輸出的控制信號（控制輸出電壓的數值信號）轉 變成模擬信號。A/D轉換器9將從電壓表3輸入到控制裝置6 $，壓檢測信號（模擬信號）轉換成數值信號，a/d轉換器 10是將從電流計5冑入到㉟制裝置6的電流檢測信號（模擬 信號）轉換成數值信號。 、、、邑緣檢查裝置1，基本上是在圖4所示的習知的絕緣檢 —裝置100上追加了火花檢出電路7而構成的。也就是，絕 緣檢查裝置i的可變電壓源2、t壓表3、開關電路4、電流 。十5以及控制裝置6分別相當於絕緣檢查裝置丨〇 〇的可變電 壓源101、電壓表102、開關電路1〇3、電流計1〇4以及控

五 、發明說明（9) 制裝置1 0 5，各部件的功能也基本上是相同 儘管圖4所示的習知的絕緣檢查裝、。、 蕾為例來對檢測原理進行了說明，而實際，是以2拫配 杳：基板上形成有許多配線，根據同上：檢查的 查各配線之間的絕緣狀％，是該技 5相冋的原理來檢 板進:樣針對設置有許多配線的電：其 =仃檢查’但疋’為了說明其檢查原理 =路基 ，根，如以下所述，從配線中：」：數目 仃、、且合，來進行絕緣檢查。當然， 、田的配線進 也同樣可以詳述此檢查原理。、 。，對多數的配線 =P1、P2為兩端有接點的直線配 各的配線，配線心5為^ 4有接點的呈十字形的配線。I線P1,的各面積:大端

Pl=P2<P3< P4- P5 有關此面積的内容將在後面詳細敘述。 而且’基於配線數目的不Π y , 關電路1❹3是由"固開關而構置100中的開 同的熹. 再风的而在本貫施例中，所了 =哥電路4的結構為轉換組開關SWi (i = i、2、 2、…5)而構成的

可變電轉換開關是由每根配_i(i = 1、2、...5)的遊 二電壓减2連接的開關Tl(1 = 1、2、…5)和與電流』J ^ "Λι tT、J 〇 定電：(變上墨源f :係用於向檢查對象的配線之間施加既 疋電[(M下稱為試驗電壓），$過由㈣轉換器8進行心

1221925 五、發明說明（10) 轉換的^制裝置的控制信號，其輸出電壓可以得到控制。 電壓表3 ’係用於測量高電位的配線和低電位的配線 的電壓，由此電壓表3測量到的電壓信息，經過A/D轉 換器9進行A/D轉換之後被輸入到控制裝置6中。 開關電路4，根據預先設定的組合，可以將如上所述 ◊，線P1 (工—1、2、…5 )作為檢查對象的配線，將各配線 」=絕緣檢查裝置1進行連接/切斷。轉換組開關SWi，包 配狳ΪΡ1連接在可變電壓源2上的正極開關n、以及將 SW2〜在電流計5上的負極開關M1。同樣，轉換開關 π Μτ? ι括將配線？2〜Ρ5連接在可變電壓源2上的正極 =〜Μ以及將配線Ρ2〜Ρ5連接在電流計5上的負極 = Μ2〜Μ5。開關電路4的各開㈣〜丁5⑻〜μ，是 控制名置6來對其開關轉換進行控制的。 電流計5 ’係用於測量在施加了電 換器1〇進行A/D轉換之後，被輸入到控制裝置6中；轉 火花檢查電路7，係用來檢測因施 花。如圖5(a )所示，由於一旦因”加電壓而發生的火 火花，可變電壓源2的輸出電壓就“二^ 電壓V而發生 過檢測此電壓&變化，料以檢 火、、-’所以’通 =電路7,比如可以由抽樣保持電路火、化比疋二發生。火花 八〜構為，可以按既定的週期對電壓的專構成。 進行抽樣，並將前次的電壓信號和^ /I出的^壓信號 較，一旦檢測出有電壓波形的下 、電壓仏號進行比 卜降（這次的電壓較前次電 $ 14頁 2014-5547.PF(Nl).ptd 1221925 五、發明說明（11) 壓小的情況），則輸出火花發生的信號。此火花檢出信 號’被輸入到控制裝置6。 控制裝置6包括：對開關電路4的各開關τ 1〜T5、Μ 1〜 Μ5進行on/〇FF (開關）轉換的轉換控制裝置61、利用電壓 表3檢測出的電壓值和電流計5檢測出的電壓值計算絕緣電 阻值R的電阻值計算裝置6 2、根據電阻值計算裝置6 2計算 出的電阻值R以及火花檢出電路7輸出的信號來判斷絕緣狀 況是否良好的判斷裝置6 3。

在本實施例中，轉換控制裝置6丨，如表1所示，對各 開關Τ1〜T 5、Μ1〜Μ 5進行0 N / 0 F F的轉換控制。 表1

SW1 SW2 SW3 SW4 SW5 T1 Ml T2 M2 13 M3 T4 M4 T5 M5 第1次 ON — — ON — ON _ ON ON 第2次 — — ON — ON ON ON 第3次 — — — —— ON __ ON ON 次 — — — — — —— ON — — ON

、也就是，為了檢查配線Ρ1和其他的配線Ρ2〜Ρ5的絕緣 狀況’在將開關M2〜Μ5全部接通（〇Ν)、使配線ρ2〜Ρ5處於 低電位之後，接通開關Τ 1使配線Ρ 1處於高電位（第1次檢 查）。這樣，在本實施例中，配線p i和p 2、 ρ 1和p 3、 ρ 1 和P 4、以及ρ 1和ρ 5之間的絕緣檢查就可以同時進行。這是

!221925 五、發明說明（12) 因為，本實施例的絕緣檢查裝置丨，即使不能檢測出是 哪條配線之間發生了火花，❻只要檢測出有火花發生就在 以將其電路基板作為不良品來進行區別，所以，只 何配線之間檢測出有火花發生就足夠了。如此，由於配 P1和其他的配線P2〜P5之間的絕緣檢查可以同時進行，所 以，對於配線P1和其他的配線P2〜P5的絕緣檢查，用i次 檢查就可以完成在分別進行各配線之間的絕緣檢查時所人需 =的5次的檢查，從而可以大大地縮短絕緣檢查所需要的而 日可間以下’對於第2次以後的檢查也同樣適用。 、 其次，為了檢查配線P2和其他的配線P3〜p5的絕緣狀 況，在將開關M3〜M5全部接通（ON)，使配線P3〜p5處於低 電位之後，接通開關T 2使配線p 2處於高電位（第2次檢 查）。在這裏，沒有接通開關…是因為在第j次的檢查中已 經對配線PI、P2進行了絕緣檢查。 一 接下來’為了檢查配線P3和其他的配線P4、P5的絕緣 狀況’在將開關乂4、M5接通，使配線P4、P5處於低電位的 同時’、接通開關T3使配線P3處於高電位（第3次檢查）。 然後’為了檢查配線Ρ4和配線Ρ5的絕緣狀況，在將開 ΐ通丄使配線Ρ5處於低電位的同時，接通開關Τ4使配 線Ρ4處於高電位（第4次檢查）。 對上述各，開關的〇N/〇FF (開與關）的控制，還考慮了 以下的幾點。 #由=配，Pl〜p5各自都有靜電電容，在即將開始放火 化、”火花開始時的電壓Vsps (參照圖5 )相對應的正電

1221925 五、發明說明（13) 荷被充電到尚電位的配線（盘電壓 魄）h，伯闵氩t 而〜"、电查/原2的正接點連接的配 線）上仁因為靜電電容與配線的面穑 以，在將面積較大的配線作為高電、 、’、 較小的配線作為高電位的情況T m以及將面積 電壓VSPS，卻有G的電：使有相同的火花開始 Μ邮W。m 〇_ 電到前者中（即面積較大 ^ 、， ，^將面積較大的配線作為高電位時，火 花電流會比當將面積較小的配線作為高電位時的火花電流 大’這樣’ 一旦有較大的火花電流流動，配線等就要承受 較大的負荷，從而會產生配線等受到損傷的情況。 而且，當將面積較大的配線作為高電位的情況、以及 將面積較小的配線作為高電位的情況互相比較時，比起前 者’後者電壓上升到電壓V所要的時間較短。這樣，將面 積較小的配線作為高電位，比起將面積大的配線作為高電 位的情況來說，可以提前判斷時刻，從而縮短檢查時間。 並且，因火花發生而弓丨起的電壓變化（即Vsps與“… 之差），面積大的配線較面積小的配線小。因此，由於是 基於電壓的變化來檢測火花，所以，要是將面積大的配 作為高電位，就難以進行火花的檢測。 於是，在本實施例中，考慮到以上所述的情況， 行如上所述的絕緣檢查時，將面積小的配線作為高 而將面積大的’配線作為低電位。 ^ ’ 比如，在表1的第1次檢查中，是採用將具有比配 的面積大的其他配線P2〜P5接通負極開關成為低電位、 面積小的配線P1接通正極開關成為高電位。 f 1221925 五、發明說明（14) 汽叶5電所阻值:十算裝置62 ’根據電壓表3所測量的電壓v和電 抓。十5所測I的電流！來計算出電阻值r( = v/i)。 電 驗電壓^ f 63具有計時器63a ’用此計時器63a計算從試 通Γ到配線之間時的時刻t〇開始所經過的時間， 通過對在配線的雷懕#私雜—& # 士 ^ T iBi 圖5)計算出的PΦ Γ 態時的既定時刻t2 (參照 小進行出私，Γ峰電阻值R和予先設定的臨界值Rre f的大 φ 又，來判斷絕緣狀態是否良好。也就是，♦計曾 出來的電阻值R在臨 ’疋 田。十# 絕緣狀態為不良 界值Rrefj"下時，則判斷配線間的 否良ί:ίΓ斷3中在ΐ於上述絕緣電阻值Rfi絕緣狀態是彳 出_妒^ ，一旦有來自火花檢出電路7的火花檢 G 3二=用再“絕緣電阻值^判斷絕緣狀態 為，由於考慮到在絕緣檢查中發生 ，而使電路基板的絕緣特性的信賴 JL:: 將這種信賴度不可靠的電 去。 味檢查而被判斷為優良品的電路基板中 及的：:檢二Γ法所進^二程，為例，來對本實施例所涉i 加的電所二牛在檢查對象的配線接點之間設定所要施 S 1 S 5 Λ i ^ t ^ ^ ^ ύ W丄ύ W D的5又疋條件，將開關 竹開關電路3的負極開關M i(i = l 、 2014-5547-PF(Nl).ptd 第18頁 1221925 五、發明說明（15) ' 2、〜5)、正極開關τ i(卜1、2、…5)順序接通（步驟#2、 #3)，在檢查對象的配線之間施加試驗電壓的同時，開始 由計時器6 3 a的計時（步驟# 4 )。 其次，一旦數到既定的計數值（與時刻t2對應的計數 值）（步驟#5)，則測量電壓值v和電流丨（步驟#6)，再根據 此電壓值V和電流I計算出絕緣電阻值R(步驟#7)。然後， 判斷火花是否發生（步驟#8)，如果有火花發生（步;驟#8的 YES)，則判斷該電路基板為不良品（步驟#9)。 μ另一方面，如果沒有發生火花（步驟#8的⑽），就判 計算出來的絕緣電阻值r是否在臨界值Rref以上（步驟 #10)。如果絕緣電阻值R在臨界值卜以以上（步驟#1〇的 YES)，就判斷配線間的絕緣狀況為良好（步驟#1丨），如果 在臨界值Rref以下（步驟#1〇的NO)，則判斷該電路基板 不良品（步驟# 9)。 4 並且’對表1的第4次（配線P4和P5之間）檢查，如果w 步驟#1到步驟#11其處理還沒有結束（步驟#12的肋），則^ 回步驟# 1，對剩下的檢查次數反復地執行上述的處理，' = 果對表1所示的全部次數檢查完畢，則結束上述處理（步 驟# 1 2的Y E S) ’並判斷電路基板為優良品（步驟#丨3 )，产 結束整個絕緣檢查。 心而 如此，即，可以在配線的電壓處於穩定狀態時的既定 刻計算出電阻值R，通過比較此電阻值r和臨界值Rref的Z 小，來判斷配線的絕緣狀態是否良好，又可以在進行上、 判斷之前檢測出發生在配線之間的火花。由於在檢2出^

2014-5547-PF(Nl).ptd 1221925 五、發明說明（16) :花時’就直接判斷電路基板為不良&，因此，可 由於在被判斷為優良品的電路美} Φ ^ ^ ^ ^ ^ 刃电路基板中混入了因絕緣檢查中 火化，發生而引起絕緣電阻值生變化的電路基板中 及不是這種情況的電路基板所彳丨如从 降。 略I板所引起的電路基板的信賴度下 而且’在上述實施例中’採用的是在計數值達 值日守、即，配線的電壓處於穩定狀態時的既定時刻，二 斷火花5否發生。然而’也可以不局限於此實施例也J 以在火化發生的時侯就判斷電路基板為不良品。 也就是說，如圖3所示，纟完成與上述實施例的步驟 #1〜步驟#4的處理大體相同的步驟#21〜步驟#24的處理之 後，就判斷火花是否發生（步驟#25)，如果有火花發生 驟#25的NO)，則判斷該電路基板為不良品（步驟#33)。 、另外，如果沒有火花發生（步驟#25的YES)，就在計數 達到了既疋的什數值時（步驟# 2 6 )，測量電壓值v和電流值 1(步驟#27)，再根據此電壓值v和電流1來計算電阻值R(步 驟#28) ’然後’判斷計算出來的電阻值r是否在臨界值 Rref以上（步驟#29)，如果上述電阻值!^在臨界值以以以上 (步驟# 2 9的Y ES )，則判斷配線間的絕緣狀況為良好（步驟 #30)，如果對所有次數的檢查其上述處理都結束了（步驟 # 3 1的Y ES) ’則判斷電路基板為優良品（步驟# 3 2 )，結束絕 緣檢查。另外，如果上述電阻值r比臨界值計以小（步驟 #29的NO)，則判斷該電路基板為不良品（步驟#3 3)。 然而，火化並不是只在剛施加電壓後的過渡期（電壓

2014-5547-PF(Nl).ptd 第20頁 1221925 五、發明說明（17) 上升的時期）才發生，也又可能在電壓的穩定期發生。在 這種情況下，對於在達到時刻t2為止的穩定期内有火花發 生的電路基板來說，如上所述，會將其判斷為不良品，然 而在時刻12之後還繼續施加電壓的情況下，對於 刻t2之後還有火花發生的電路基板來說，就會造成如果在 時刻t2巧定為絕緣合格的話，也被判斷為優良品的情況 發生。XI樣，在被判斷為優良品的電路基板中又混入、 比如，該電路基板的發貨目的地的檢查者在遲於 路基板，❿一旦不良品的數量相對優良品的數 二 大的話’就會有損於製品（電路基板）的信賴度。因此例車: 要延遲该絕緣檢查裝置的判斷 '、 内來監視是否有火花的發生，。較長的時間 度，但在這種情況下，目L Λ 製品的信賴 描木m / 因為1次絕緣檢查所需要的時問合 私加，因此也就導致了檢查效率的降低。 寺1曰 借繁此正好相反的i - 番 桐 ,^ , 々要求，在上述實施例的結構上爯执 置-個，士。圖1的虛線所示，檢查者用來 #再- 1裝置11以及配置在控制裝 ：二的 的時刻設定裝置64。檢查者 八、：更躬斷時刻 查精度(製品的信賴度)和檢查效率：：；所=求的檢 裝置1!來變更，判斷時刻1 :;以：用操作 鈕構成，用來執行，比如，L、、 例女了以由1組按 者延遲判斷時刻的指令，可以基準;提前或 就能以一個既定的單位時二女人女、，判斷時刻 平1 f間栓刖或延遲於時刻t 2的一種鈇

1221925 五、發明說明（18) 構。 根據此結，，如圖5所示，當設定較時刻七 個既定時間的時刻13為生丨邮口生十丨士 m ^ $ — a 士力女认為^斷時刻時，因為可以檢測出在上 述貫施例中沒有檢測出的，尤性μ + 〇 u w λ ^ 』的，在時刻t 2到時刻13之間發砵的 火花（如虛線E所示），從而脾φ μ蚊1 〈间發生的 攸而將電路基板判斷為不良 樣就可以減少如上所述的力雪玫盆α ^ ^ ^ 7处的在電路基板發貨目的地， 對該基片再重新做絕緣檢杳時而 一 柘，你而矸以祛制0似一今而破判斷為不良品的電路基 板，伙而可以使製品的信賴度得到提高。 發明效果 根據 之間施加 的在配線 出來的電 絕緣電阻 而引起配 良品’所 斷為優良 並且 電壓時， 壓的，所 的配線作 起的配線 線之間的 的電路基 直流電壓 動的電流 鼻出此配 斷電路基 有火花發 以確實地 路基板中 本發明， 積小的配 花發生時 位的情況 傷。並且 定所需要 本發明 既定的 之間流 流來計 值來判 線之間 以，可 品的電 ，根據 是將面 以，，火 為向電 等的損 電壓穩 板之絕 ’在檢 的同時 線之間 板是否 生時， 防止通 ，混入 由於在 線作為 流動的 ’這樣 ，又因 的時間 緣檢查 测出由 ’又根 的絕緣 為良好 則直接 過基於 有火花 配線之 高電位 火花電 可以減 為施加 比將面 裝置， 此施加 據施加 電阻值 ，而當 判斷電 電阻值 發生的 間施加 來施加 流則小 少因火 直流電 積大的 由於在配線 電壓所引起 電壓和檢測 ’再根據此 因施加電壓 路基板為不 判斷而被判 電路基板。 既定的直流 上述直流電 於將面積大 花發生而引 壓後，到配 配線作為南

立、贤π說明 電位的情況要短，這揭 基板是否良好的判斷眭Ζ以提前根據上述電阻值判斷電 而曰卢I 時刻，從而縮短檢查時間。 而且，在基於雷厭k m r ^ ^ ^ pi i的變化來檢測火花的情況下，由 囚人化發生所引起的φ蔽、 ^ 献綞西i ^ 吳的電屢變化，面積小的配線比面積大 酉己線要大，所以，通過將面積小的配線作為高電位可以 確地檢測出火花。 、 並且，本發明，因為還具備用來改變判斷電路基板 否良好的上述既定時刻的操作裝置，這樣可以兼顧產品 #賴度和檢查效果的平衡，自由地設定上述既定時刻。 路 於 的 準 的 1221925 圖式簡單說明 圖1係有關本發明的絕緣檢查裝置的一個實施例的結 構示意圖。 圖2係有關絕緣檢查方法的流程圖。 圖3係有關絕緣檢查方法的其他實施例的流程圖。 圖4係習知的絕緣檢查裝置的結構示意圖。 圖5係有關配線之間的電壓、在配線之間流動的電 流、以及電阻值變化的示意圖。 符號說明 2 電壓源 4開關電路 6控制裝置 8 D/A轉換器 1 0 A/D轉換器 6 1轉換控制裝置 6 3判斷裝置 6 4 時刻設定裝置 1 0 1 電壓源 I 絕緣檢查裝置 3 電壓表 5 電流計 7 火花檢出電路 9 A/D轉換器 II 操作裝置 62電阻值計算裝置 6 3 a計時器 1 0 0 絕緣裝置 102 電壓表 1 0 4 電流計 1 0 3 開關 1 0 5控制裝置

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Claims (1)

1221925 六、 申請專利範圍 1 · 一種電 定的直流電壓 時刻，根據上 之間流動的電 據此電阻值來 其特徵在 火花檢測 jjfC配線之間發 判斷裝置 生，則判斷該 2·如申請 置，其中，在 面積小的配線 3·如申請 置，其中，還 既定時刻的操 4.如申請 置，其中，上 電壓檢測 火花判斷 發生。 路基板之絕緣檢查裝置，在配線 ，在上述配線之間的電壓處於穩〜1施加既 述電壓值和由施加電壓所引起“ 2 ’的既定 流值，計算出上述配線之間的 述配線 判斷電路基板是否為良好， 1且值’再根 於包括： 裝置’用來檢測因输4 生的火花；及“上速電壓而引起在上 士 - 上述火花檢測裝置檢 電路基板為不良品。 〜’人化發 專利範圍第1項之電跃A k 电硌基板之絕緣檢杳获 向上述配線之間施力σ $ μ #_ —衣 h A ^ 刀既疋的直流電壓時，蔣 作為面電位來施加上述直流電壓。 專利範圍第1或2項之雷玖其始十姐& 包括用來改變判斷電踗其技曰不❻^做一裝 丨电路基板疋否良好的上述 作裝置。 專利範圍第1項之電路基板之絕緣檢查 述火花檢測裝置包括： 一 裝置’用於檢測上述施加電壓；及 旋置，在施加電壓突然下降時則判斷有火花 t i申明專利範圍第4項之電路基板之絕緣檢查裝 置，其中’上述火花檢測裝置包括： 抽樣保持波置，按既疋的週期對施加電壓進行抽樣

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比較裝置，將上次的信號與這次的信號進行比較。 6 ·如申請專利範圍第1項之電路基板之絕緣檢查褒 置，其中，還包括工序控制裝置，當火花檢測裝置一一^ 測出有火花發生，則不再進行之後的檢查工序，而 對電路基板的檢杳。 疋、、、口束 定的直 時刻， 之間流 據此電 其 檢 止而發 電路基 8. 法，其 以預先 9. 法，其 10 法，其 檢查工 、古=二岭丞板之絕緣檢查方法，在配線之間施加 ^诚堅，在上述配線之間的電壓處於穩定 & & ^ ^ 由電壓所引起的在上述配飧 動的電流值，钟笪ψ μ、+、π i s匕線 伽y士十 。t异出上述配線之間的電阻值，A拍 阻值來判斷電路基板是否為良好， 再根 特徵在於包括下列步驟·· 測因上述施加電壓而引 ,., 肉31起的至上述電壓處於穩々达 生在上述配線之間的火花；及I电处於％疋為 旦檢測出有火花發生，I ^ Μ ^ a ^ . 生 則不官基於電阻值而判鼢沾 板疋否為良好，均判斷該肉判斷的 如巾| j | ^ 路基板為不良品。 又甲明寻利轭圍第7項 中，上祕磁A + μ 、 路基板之絕緣檢杳方 上这判斷電路基板是—万 任意地設定。 為良好的既疋時刻，可 如申請專利範圍第7項之 中，基，於檢測施加電壓 路基板之絕緣檢查方 •如申請專利範圍第7之降來檢出火花的發生。 中，當檢測出有火花發路基板之絕緣檢查方 序。 X T，則結束對電路基板的