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TWI220459B - Method for handling a module IC and a carrier of a module IC handler - Google Patents

Method for handling a module IC and a carrier of a module IC handler Download PDF

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TWI220459B
TWI220459B TW088120842A TW88120842A TWI220459B TW I220459 B TWI220459 B TW I220459B TW 088120842 A TW088120842 A TW 088120842A TW 88120842 A TW88120842 A TW 88120842A TW I220459 B TWI220459 B TW I220459B
Authority
TW
Taiwan
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module
carrier
test
unloading
stage
Prior art date
Application number
TW088120842A
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English (en)
Inventor
Sang-Soo Lee
Wan-Gu Lee
Jong-Won Kim
Hee-Soo Kim
Young-Hak Oh
Original Assignee
Mirae Corp
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • H10P72/0611
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
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Description

B7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
五、發明説明(1·) 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種模組IC傳輸操控及一模組汇載具傳 輸操控設備之操作方法,其傳輸操控設備試完成 ^產之模組IC(module 1C),更詳細的是,關於使供料多數 模組1C之載具一面移送於過程間一面實施測試的模組忙傳 輸操控及模組1C載具傳輸操控設備之操作方法。 【習知技術】 一般而T,所謂模組IC1,係如圖一所示,指在基板的 側面或兩側面焊錫固定多數的IC及零件2獨立構成電 路具有組裝於主基板擴充容量的功能。 由於這種模組IC1,藉由零售完成生產的IC具有高附 加饧值,因此以1C生產業體作為主力商品開發銷隹。 ,經過製造過程裝配生產之模、组IC1,由於價格^,因此 產品的信賴性也極重要,實施嚴格的品質檢查,且僅以判斷 為良品的產品來出貨,被判斷為不良品之模組IC將實施修 正或全部廢棄。 ^ 、從瓦,未開發將完成生產之模组IC1自動地供料於測試 插座内只施測4以後,視測試結果自動分類卸料於客供載盤 (customer tray)(未圖示)内的裝備。 因此’如欲測試完成生產之模组1C,由於必須由作業 t員從載盤㈣)依手工逐—取級组IC,再酬試結果將 模組1C分類容納於客供載盤内,因此具有降低作業效率的 問越。此外,具有因單純勞動的無聊,而衍生出降低生產 的問題。 -本纸張尺度適财關家鮮(C^TIiii7^X297公釐) A7 B7
五、發明説明(2.) 實施模組IC之測試時,种請細人開發自動 =:之模組_輸操控設備’其己於專利及新型專 圖4概略絲科触1(:觸縣設備之平面圖, 果間早說明操作容納於供料侧載盤3内之模組ια 法,其方法如下: 、沿X-Y# 4、5移動之供料侧取放工具6被移送於裝載 於供料側〈紐3下降以H彡成雜保持乡數之模組忙i。 由於,供制之取放工具6從翁3保持多數之模組 並且上升至上此點以後沿χ_γ軸45移送供料侧之 取放工具6以後形成以便下降,因此形成可將多數之模組IC 放置於位在測試侧7的測試插座上侧。 —依如上述動作,在測試插座放置多數之模組汇丨以後, 藉由實施如前述動絲次,賴組IC1分職置於測試侧内 所有的測試插座。 如果可在前述測試插座放置多數之模組IC1,即藉由讓 分別放置於前述測試插座之模組IC同時朝下方推壓,形成 於模組IC兩侧的模型la和測試插座的端子連接,依測試器 (未圖示)所設定的時間中來測試模組IC的性能,形成將其 結果傳達至中央處理器CPU。 設定模組IC1的性能時間時,測試以後,另一支推桿從 測試插座取出模組IC1,同時設置於γ軸5之卸料側之取放 工具8從測試插座保持多數之模組IC1,使依測試結果分類 容納於客供載盤9内。 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) --—Inf—----裝— I (請先閲請背面之注意事項再填寫本頁) ’訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 、如亡述,若參考由申請人先提出申請的操作模組IC1 《傳輸操控設備’韓國專利編號第队⑽號再具體 明,即形成如下: θ 如圖二所示,供料侧的取放工具6若欲保持容納於載盤 3内山的多數模、组IC1,當移送於載盤3侧時,保持模組们 兩端的機械手10 ’儘量朝_維持大峨展的狀態。 以這種狀態,供料侧之取放工具6的機械手10以朝兩 側,展的狀態沿χ_γ軸4、5完成移動於載盤3側,如果位 於模組IC1的最上部下降,形成機械手1〇朝内側彎曲,因 此載盤3内之模組IC1被保持於供料侧之取放工具6 〇 由於如果供料侧之取放工具6保持載盤3内之模组 la ’ 取放工具6 ’即如圖三移動於定位測試 插厓12的測試侧7侧以後’造成下降,使保持模組们的 機械手ίο可再朝外側擴展,因此模组IC1被放置於測試插 座12。 、因此供料侧之取放工具6將多數之模組ια放置於測試 插座12以後’供料侧之取放工具6,為保持新模、组们,而 移送於載盤3側。 、如果重複上述動作,在測試側7側全部供料多數的在測 試,座12所測試之模組IC1,即依序驅動主汽* 13及伸出 入/气缸14 ’开;?成使推桿15下降,因此如圖四所示,推桿u 下降,同時等於推壓放置於測試插座12之模組IC1上面。 由於模、、且IC1之模型la以電氣方式和測試插座的端子連 接,因此可達成模組1C的性能測試。 1220459 五、發明説明(4·
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
一方面,完成模組IC1之測試以後藉由取出汽缸16的 驅動,使取出槓桿17轉動,拆除套入測試插座12之模組 IC1 ’之後,位於卸料側之另一取放工具8,沿χ_γ軸45 移送於測試側7侧保持完成測試之模組ια,形成視測試結 果卸料於客供載盤9内。 但是,習知傳輸操控設備由於依供料侧之取放工具6 保持模組ici,直接使移送於設置於測試侧7的測試插座 侧,因此具有如下的問題。 首先’由於依取放工具6、8保持模組IC1,形成在測 試^座12内供料或卸料,因此取放工具不能在密閉腔内操 作模組IC1。所以,在常溫下來測試模組1C。 由於,以常溫來測試完成生產之模組IC1,僅以良品來 出貝,相反地將出貨之模、组IC1裝在產品來實際使用時,驅 動因發生許多熱而形成以高溫的狀態驅動,因此在測試時的 條件和實際·時的條件之曝生差別。故出貨的產品信賴 性遜色。 第二,由於取放工具6、8保持容納於載盤3内之模組 ici及測武插座12内之模組IC被移送,在測試模組汇的 期間,因不能移送模、组IC1,而造成延長循環時間㈣e time),因此在同一時間内不能測試多量之模組冗。 第三,由於依取放工具直接操作模組忙,因此應僅朝 水平方向在測試侧7設置測試插座,所以改變所測試之模組 1C型式時,消除更換插座組件之作業麻煩。 【發明欲解決之課題】 I--------I 裝-- (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁〕 ·線 1 -- - 1 - - me I - lii 尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐 1 置— I -— 1220459 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(5·) 本發明係為解決以往如上述的問題所提出,本發明的目 的在於將完成生產之模組1C容納於載具,以使該載具移送 於測試過程間,再提高出貨的產品信賴性,同時可使昂貴的 裝備的運轉率極大化。 ~ 【解決課題之裝置】 本發明為達成上述目的,提供規定垂直狀態將多數之模 組1C容納於載具,使容納模组IC的載具一面移送於測試過 程,一面在測試侧照舊將模組IC容納於載具之狀態,實施 模組ic 以後,&卸料侧之取紅具保持在卸料位置 芫成測試的模組1C,分類於客供載盤内為其特徵之模組汇 傳輸操控設備之模組1C操作方法。 ’ 如果依本發明的其他形態,即提供由供料側的取放工具 保持載盤狀敝1C,依序供料於位於供料位置之水平狀 態^載具_献,和鱗實錢供料敎IC之載具水平 移送於供料侧之旋轉裝置侧,和供料側之旋轉裝置·的階 段’和開放加熱腔_門同時垂錄立載具崎,下降 載具聯鎖狀態的和在前述域軸使載舰移 f IC的·’蝴放位於加 2試侧之間的閑門,使加熱腔水平移送於測試侧的階段, 和將水平移硕麵載具姉送柏和直角方 组^龍型,使測試插座的端子接觸的狀態與設定的日^ 孓間,貫施測試的階段,和開放位於測試側和卸料腔間之門 水平移送,和在卸料側之旋轉裝置聯鎖的階段甲, 和使朝水平万向還原卸料側旋轉裝置切段,和前述卸 ‘纸張尺度朝t關家標準(CNS ) (請先聞讀背面之注意事項再填寫本買) 裝' 訂 ---- 五、發明説明(6·) 卸ft出载ί使移送於卸料位置的階段,和位於前述
Ic \ i平狀怨之載具,由卸料側之取放工具保持模組 也ϋ果卸科於客供載盤内的階段,和使完成卸料模 值耠^載具斜料於簡位置之為其概之模組1C 傳輸雜設備之觀獅料。 【發明之實施形態】 邊用圖五至圖八再詳細說明有關本發明的實施形態如 下·· 圖五係表示適合本發明在過程間保持多數之模組IC1 吏移C之載具18 ’開放形成框體以使依取放工具$、8可做 模組ία供料及卸料之機殼28上端,而且,下側也開放以 便可插入測_座,前述模組IC1在平行固定於機殼的支撐 片29,由此設置以取得一定的間隔對向之支撐元件30支撐 之狀態移送於過程間。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖六係表示被移送在本發明模組IC傳輸操控設備之載 具徑路的祕目,目七躲本㈣之歓IC倾操控設備 平面圖,圖八係圖七的侧面圖,本發明係以從供料位置19 將模组IC1負載於載具18的狀態,使該載具移送於測試過 程間,同時實施模組IC的測試,以卸料位置20視盆釺 納於客供載盤9為其特徵。 亦即’將容納於載盤3内之多數模組IC1依習知之供料 侧之取放工具6,以垂直狀態容納於載具18,使容納前逑模 組IC1之載具移送於測試過程間’同時在測試側7實施模組 IC1的測試以後,由卸料側之取放工具8保持在卸科位置 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 1220459 五、發明説明(/·; 20疋成測叙模組Ic視測試的結果分類於客供載盤9内。 因此’使供料模組IC1之載具18,移送於測試過程間, 組1C之供料位置19及卸料位置2〇依習知之取放工且 的運轉料及卸料作業’具有形成使裝備 於測=2可在測試侧7將模組ια垂直接觸及水平接觸 但是’如欲在測試侧使模组IC1水平接觸,必須對於 ? 18完成供料模組IC1的狀態,在載具18的移送過程間使 前述載具轉動90。。 史 如上述,在載具18轉動90。的狀態垂直接觸模組奶 具有可在測4側7的背面容易使插座組件21脫離的優 點0 、亦即’水平接觸模組IC1時,和以往相同,應將以電氣 万式連接餘1C的婦⑽21設置爛 7的底面。 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 因此,所測試之模組IC的型式接近時,應從測試侧的 屁面分雜座組件以後安裝新插座組件。此時,測試侧底面 至間狹窄造成更換插座組件的作業麻煩。 但是’垂直接觸模組1C時,如圖八所示,藉由在測試 侧7的背聽裝插座組件2丨’形成可使㈣翻度增大, 因此容易達成插座組件的更換作業。 此外,視上述過程實施模組IC的測試時,儘管不具備 實施耐熱性測試的加熱腔仍可實施。 然而,為使提高信賴性,以實施耐熱性測試的目的具備 本纸^^度適用中關家標準(CNS ) A4祕丨210X297公釐)'--------- 1220459 五、發明説明(8·) 加熱腔22時’使供料模級Ια之載具i8依轉動裝置轉動 90。。之後,移送於加熱腔22的内部,以所設定的溫度 (70者C)加熱被供料於載具之模组ια以後,必須實施測 試。 圖六至圖八係在位於供料位置N的載具μ負載模組 IC1之後’以加熱腔22加熱模組IC,具體地例示實施測試 的課程。 如果再詳細綱上摘事情,㈣f知之供料侧取放工 具6保持被容納於載盤3之多數模、组ια,依序供料於位於 供料位置19之水平狀態載具18内。 容納完成生產模組1C1之載盤3,在供料侧裝載多數 個,未圖7F之形成依昇降機依序逐一階段上昇。 =果以重複的動作在載具18内全部負載模組10,即 由移达裝置使供料模組IC1之載具18和圖六的箭頭符號方 向A相同朝供料侧之旋轉裝置23侧水平移送。 因此,使載具18水平移送於供料側之旋轉裝置23以 後,轉動設置於前述供料侧旋轉裝置侧之掛止槓桿(未圖示 出)使載具回轉時’使載具ls聯鎖以免前述載具從供料側 之旋轉裝置脫離。 如果前述載具18和供料侧之旋轉裝置23聯鎖,即開放 設置於下部加熱腔22之閘門,同時形成賴之旋轉裝置幻 和箭頭符號方向B相同轉動9〇。,因此可垂直暨立載具18。 …以每種狀態,在供料侧之旋轉裝置23卿之載具Μ 朝箭頭符號拍c鼓下降,麵持高溫的加餘22的底 表纸張尺度適用中國國家;^ ( CNS ) A4祕(2Η)χ^^) ^-- (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1220459 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ------— B7 五、發明説明(9·) 〜' 一'—--- 面安裝載具18解除載具18的聯鎖狀態以後,供料側之旋轉 裝置以初始狀態上昇同時關閉被開放之問門。 如上述動作,鱗於加熱腔22之_供給—個載具 18 ’即被供給之祕依移送裝麗箭頭符號方向D逐-階 段依序移翻時以適合測_溫加熱。 、亦即’如果供給於加熱腔22内部的載具18,朝箭頭符 號方向逐階段移送,由於即以和前述相同的動作供料模組 ici而且其他之載具被供給於加熱腔22的内部,因此可達 成在加熱腔22内移送載具。 、由於供給於前述加熱腔22内部的載具18,在加熱腔内 試模組IC的條件加熱模組ic以後, 形成開放位於加熱腔22和測試侧間的閘門,因此依移送裝 置位於加触22 Θ的最前端,載具ls和箭頭符號方向e 相同以水平供給於測試侧7側。 此因此,以測試的條件照舊將模組IC1容納於載具18的 狀態,供給於測試侧7側的内部以後,將推桿(未圖示出)水 «多送過程來之載具18,朝移送方向和直角方向F藉由使 模組IC1的模型和測試插座12的端子連接,被設定的時間 之間,測試模組IC1,形成將其結果通知中央處理器。 、、在前述測試側7設定時間之間,如果實施模組IC1的測 式即開放位於測试侧7和卸料腔24間之閘門,同時依移 送裝置和箭頭符號方向G相同水平移送載具18插入卸料侧 之旋轉裝置25的内部。 如上述’載具18被插入卸料側之旋轉裝置25以後,掛 本^•張级適用中國國家標準(CNS)从規格(210x2^j^---— ---_ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .裝· 訂 線 1220459 經濟部智慧財產局員Η消費合作社印製
1220459 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(η·) =箭頭魏方Κ,形成的_之取放工具8將為再測試 _且IC1涵於再測期18a暫時保管。、’、^ fm用載具18a,係依昇降機(未圖示)昇降,全 =足實施再測試之模组Ic的再測試用載具丨 供^置㈣卸触置2G最付裝_ 號 :::平移送,同時待機至載㈣完成所有的模組: 位於前述再測試位置26,容納為實施再測試的模组忙 %=試用載具收,在卸料位置20卸料之放空載具為容 ^模組IC而移送供料位置19時,放空吻丨起干涉之載 於供料位置19之前’依昇降機朝箭頭符號方向κ暫 2下降以後,形成放空之載具移送於供料位置19以 升0 、如果以重複的作業,而通知控_全部完成所有的 於裁盤3内之模組iC1的測試,即繼續容納於再測試用載且 Ma之模組ic再測試的作業。 " 亦即’使位於供料位置19和卸料位置2G之啊再 用載具18a依移送裝置移送於供料位置19以後,依上 法實施再測試。 .、加上,由於位於供料位置19和卸料位置2〇的正下方處 於裝載芝間27的再測試用載具1Sa,依昇降機依序使移送 於再測試位置26,因此可達成容納於再測試用載具丨^之 模組1C的再測試。 “ 【發明效果】 請 先 閲 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 旁 I 一 裝 訂· 線 本纸張XA適用中國國家標準(CNS ) Α4· ( 2似297公董)" --—一〜 A7 "---------- - B7 五、發明説明(12β) "~^~ - 如以上所說明的本發明,係將模組ια容納於載具18, =移迗_程_時實侧試’較習知職驗設備具有如 下的優點。 第在腔之外部依取放工具將模組1C供料於載具内,使 供料於載具之模組1C容易移送於腔之内部,以設定 之溫度加熱以後,實施測朗此提高產品的信賴度。 第二在載具供料及卸料模組IC1之細,在測試侧,藉由 實訑供料於載具之模組1C測試,可將昂貴裝備的運 轉率加以極大化,因此,可在同一時間内測試多量的 模組1C。 第三藉由在測試侧7腔之背面設置插座組件21,視所測 試之模組1C型式,可達成測試插座的更換作業方便。 【圖式之簡單說明】 【圖Z】係表示一般性模組1C的斜視圖。 【圖二】係概略表示習知模組1C傳輸操控設備之平面圖。 【圖三】係供料侧之取放工具保持模組1C供料於測試側 測試插座之狀態圖。 【圖四】係完成放置於測試插座之模組1C插入之狀態圖。 【圖五】係表示依本發明載具之斜視圖。 【圖六】係表示在依本發明之模組1C傳輸操控設備移送 載具路徑之概略圖。 【圖七】係依本發明模組1C傳輸操控設備之平面圖。 【圖八】係圖七的侧面圖。 【圖號說明】 i-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張又度適用中^^揉準…哪以私見格⑺以加公釐) 1220459 A7 B7 五、發明説明(l3·) 3 :載盤 6:供料侧之取放工具 7 :測試侧 8:卸料侧之取放工具 9:客供載盤 18 :載具 19 :供料位置 20 :卸料位置 22 :加熱腔 23 :供料侧之旋轉裝置 24 :卸料腔 25 :卸料侧之旋轉裝置 26 :再測試位置 27 :裝載空間 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張又度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

  1. 申請專利範圍第88120842號專利案申請專利範圍修正本 一種操控模組1C及模組1C載具傳輸操控設備之方法, 其特徵為,將多數之模組1C容納於載具,使容納前述模 組1C之載具移送於測試過程間,同時在測試侧照舊將模 組1C容納於載具之狀態實施模組IC的測試後,在卸料 位置由卸料侧之取放工具保持以卸料位置完成測試之模 組1C,視測試結果分類於客供載盤内。 2·如申請專利範圍第1項所述之方法,其特徵為,容納前 述模組1C之載具,係以依轉動裝置轉動9〇。的狀態,移 送於加熱腔之内部,以被設定之溫度加熱容納於載具之 模組1C以後,實施測試。 3.如申請專利範圍第1項所述之方法,其特徵為,前述載 具依供料侧之取放工具供料載盤内之模組IC。 -種模組1C傳輸驗韻之載具操作料,其特徵為, 雜持健$之· IC,依序供料於供 料位置之料雜載翻之酸,和使簡触ic之載 具水平移秘供咖之轉妓,和供之旋轉裝置 聯鎖的階段,和開放加熱腔之閘門同時垂直賢立載具以 解除载具聯鎖狀態之階段,和在前述加熱腔内 階段移送同時以測試的條件加熱模组IC的 』二載:加熱腔和測試侧之間的閘門,使加熱 内< 載具水平移送於峨側的階段,和將 1載具娜送方姊直財向雜,雜触IC模型 1. 4. — — — Ill — — — — — —— — - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) tr._ •線· 1220459 A8B8C8D8
    經濟部智慧財產局員工消費合作衽印製
    和測試插座之端子連接的狀態設定時間之間實施測試的 階段,和在測試侧和卸料腔之間開放閘門以後,使載具 水平移送’依序實施和卸料侧之旋轉裝置聯鎖之階段, 和使卸料侧之旋轉裝置還原為水平方向的階段,和從前 述卸料侧之旋轉㈣拉峭具使料射卩料位置的階 ,,和卸料側之取放工具從位於前述卸料位置之水平狀 態載具保持模組1C,視測試結果卸料於客供載盤内的階 ϋ和使餘Ic $彭卩料之載具水平料於供料位置之 5.如申請專利範圍第4項所述之模组IC傳輸操控設備之載 具操作方法’其特徵為,在供料位置和卸料位置之間以 可昇降 < 万式設置容納為實料戦· K 料前再實施㈣ 傳輸操控設備之載 賴Ϊ1Γ其特徵為’在供料位置和卸科位置的下部 置水平移猶述再測朗載具之裳載空間, ^⑽漸奴卿_ IC,即讓再測 4用載具依序移送於再測試位置徭,一 載具依序移送於測試過程間一面實施再測試。再/則4用
TW088120842A 1998-11-30 1999-11-30 Method for handling a module IC and a carrier of a module IC handler TWI220459B (en)

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