TWI220459B - Method for handling a module IC and a carrier of a module IC handler - Google Patents
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Description
B7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
五、發明説明(1·) 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種模組IC傳輸操控及一模組汇載具傳 輸操控設備之操作方法,其傳輸操控設備試完成 ^產之模組IC(module 1C),更詳細的是,關於使供料多數 模組1C之載具一面移送於過程間一面實施測試的模組忙傳 輸操控及模組1C載具傳輸操控設備之操作方法。 【習知技術】 一般而T,所謂模組IC1,係如圖一所示,指在基板的 側面或兩側面焊錫固定多數的IC及零件2獨立構成電 路具有組裝於主基板擴充容量的功能。 由於這種模組IC1,藉由零售完成生產的IC具有高附 加饧值,因此以1C生產業體作為主力商品開發銷隹。 ,經過製造過程裝配生產之模、组IC1,由於價格^,因此 產品的信賴性也極重要,實施嚴格的品質檢查,且僅以判斷 為良品的產品來出貨,被判斷為不良品之模組IC將實施修 正或全部廢棄。 ^ 、從瓦,未開發將完成生產之模组IC1自動地供料於測試 插座内只施測4以後,視測試結果自動分類卸料於客供載盤 (customer tray)(未圖示)内的裝備。 因此’如欲測試完成生產之模组1C,由於必須由作業 t員從載盤㈣)依手工逐—取級组IC,再酬試結果將 模組1C分類容納於客供載盤内,因此具有降低作業效率的 問越。此外,具有因單純勞動的無聊,而衍生出降低生產 的問題。 -本纸張尺度適财關家鮮(C^TIiii7^X297公釐) A7 B7
五、發明説明(2.) 實施模組IC之測試時,种請細人開發自動 =:之模組_輸操控設備’其己於專利及新型專 圖4概略絲科触1(:觸縣設備之平面圖, 果間早說明操作容納於供料侧載盤3内之模組ια 法,其方法如下: 、沿X-Y# 4、5移動之供料侧取放工具6被移送於裝載 於供料側〈紐3下降以H彡成雜保持乡數之模組忙i。 由於,供制之取放工具6從翁3保持多數之模組 並且上升至上此點以後沿χ_γ軸45移送供料侧之 取放工具6以後形成以便下降,因此形成可將多數之模組IC 放置於位在測試侧7的測試插座上侧。 —依如上述動作,在測試插座放置多數之模組汇丨以後, 藉由實施如前述動絲次,賴組IC1分職置於測試侧内 所有的測試插座。 如果可在前述測試插座放置多數之模組IC1,即藉由讓 分別放置於前述測試插座之模組IC同時朝下方推壓,形成 於模組IC兩侧的模型la和測試插座的端子連接,依測試器 (未圖示)所設定的時間中來測試模組IC的性能,形成將其 結果傳達至中央處理器CPU。 設定模組IC1的性能時間時,測試以後,另一支推桿從 測試插座取出模組IC1,同時設置於γ軸5之卸料側之取放 工具8從測試插座保持多數之模組IC1,使依測試結果分類 容納於客供載盤9内。 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) --—Inf—----裝— I (請先閲請背面之注意事項再填寫本頁) ’訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 、如亡述,若參考由申請人先提出申請的操作模組IC1 《傳輸操控設備’韓國專利編號第队⑽號再具體 明,即形成如下: θ 如圖二所示,供料侧的取放工具6若欲保持容納於載盤 3内山的多數模、组IC1,當移送於載盤3侧時,保持模組们 兩端的機械手10 ’儘量朝_維持大峨展的狀態。 以這種狀態,供料侧之取放工具6的機械手10以朝兩 側,展的狀態沿χ_γ軸4、5完成移動於載盤3側,如果位 於模組IC1的最上部下降,形成機械手1〇朝内側彎曲,因 此載盤3内之模組IC1被保持於供料侧之取放工具6 〇 由於如果供料侧之取放工具6保持載盤3内之模组 la ’ 取放工具6 ’即如圖三移動於定位測試 插厓12的測試侧7侧以後’造成下降,使保持模組们的 機械手ίο可再朝外側擴展,因此模组IC1被放置於測試插 座12。 、因此供料侧之取放工具6將多數之模組ια放置於測試 插座12以後’供料侧之取放工具6,為保持新模、组们,而 移送於載盤3側。 、如果重複上述動作,在測試側7側全部供料多數的在測 試,座12所測試之模組IC1,即依序驅動主汽* 13及伸出 入/气缸14 ’开;?成使推桿15下降,因此如圖四所示,推桿u 下降,同時等於推壓放置於測試插座12之模組IC1上面。 由於模、、且IC1之模型la以電氣方式和測試插座的端子連 接,因此可達成模組1C的性能測試。 1220459 五、發明説明(4·
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
一方面,完成模組IC1之測試以後藉由取出汽缸16的 驅動,使取出槓桿17轉動,拆除套入測試插座12之模組 IC1 ’之後,位於卸料側之另一取放工具8,沿χ_γ軸45 移送於測試側7侧保持完成測試之模組ια,形成視測試結 果卸料於客供載盤9内。 但是,習知傳輸操控設備由於依供料侧之取放工具6 保持模組ici,直接使移送於設置於測試侧7的測試插座 侧,因此具有如下的問題。 首先’由於依取放工具6、8保持模組IC1,形成在測 試^座12内供料或卸料,因此取放工具不能在密閉腔内操 作模組IC1。所以,在常溫下來測試模組1C。 由於,以常溫來測試完成生產之模組IC1,僅以良品來 出貝,相反地將出貨之模、组IC1裝在產品來實際使用時,驅 動因發生許多熱而形成以高溫的狀態驅動,因此在測試時的 條件和實際·時的條件之曝生差別。故出貨的產品信賴 性遜色。 第二,由於取放工具6、8保持容納於載盤3内之模組 ici及測武插座12内之模組IC被移送,在測試模組汇的 期間,因不能移送模、组IC1,而造成延長循環時間㈣e time),因此在同一時間内不能測試多量之模組冗。 第三,由於依取放工具直接操作模組忙,因此應僅朝 水平方向在測試侧7設置測試插座,所以改變所測試之模組 1C型式時,消除更換插座組件之作業麻煩。 【發明欲解決之課題】 I--------I 裝-- (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁〕 ·線 1 -- - 1 - - me I - lii 尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐 1 置— I -— 1220459 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(5·) 本發明係為解決以往如上述的問題所提出,本發明的目 的在於將完成生產之模組1C容納於載具,以使該載具移送 於測試過程間,再提高出貨的產品信賴性,同時可使昂貴的 裝備的運轉率極大化。 ~ 【解決課題之裝置】 本發明為達成上述目的,提供規定垂直狀態將多數之模 組1C容納於載具,使容納模组IC的載具一面移送於測試過 程,一面在測試侧照舊將模組IC容納於載具之狀態,實施 模組ic 以後,&卸料侧之取紅具保持在卸料位置 芫成測試的模組1C,分類於客供載盤内為其特徵之模組汇 傳輸操控設備之模組1C操作方法。 ’ 如果依本發明的其他形態,即提供由供料側的取放工具 保持載盤狀敝1C,依序供料於位於供料位置之水平狀 態^載具_献,和鱗實錢供料敎IC之載具水平 移送於供料侧之旋轉裝置侧,和供料側之旋轉裝置·的階 段’和開放加熱腔_門同時垂錄立載具崎,下降 載具聯鎖狀態的和在前述域軸使載舰移 f IC的·’蝴放位於加 2試侧之間的閑門,使加熱腔水平移送於測試侧的階段, 和將水平移硕麵載具姉送柏和直角方 组^龍型,使測試插座的端子接觸的狀態與設定的日^ 孓間,貫施測試的階段,和開放位於測試側和卸料腔間之門 水平移送,和在卸料側之旋轉裝置聯鎖的階段甲, 和使朝水平万向還原卸料側旋轉裝置切段,和前述卸 ‘纸張尺度朝t關家標準(CNS ) (請先聞讀背面之注意事項再填寫本買) 裝' 訂 ---- 五、發明説明(6·) 卸ft出载ί使移送於卸料位置的階段,和位於前述
Ic \ i平狀怨之載具,由卸料側之取放工具保持模組 也ϋ果卸科於客供載盤内的階段,和使完成卸料模 值耠^載具斜料於簡位置之為其概之模組1C 傳輸雜設備之觀獅料。 【發明之實施形態】 邊用圖五至圖八再詳細說明有關本發明的實施形態如 下·· 圖五係表示適合本發明在過程間保持多數之模組IC1 吏移C之載具18 ’開放形成框體以使依取放工具$、8可做 模組ία供料及卸料之機殼28上端,而且,下側也開放以 便可插入測_座,前述模組IC1在平行固定於機殼的支撐 片29,由此設置以取得一定的間隔對向之支撐元件30支撐 之狀態移送於過程間。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖六係表示被移送在本發明模組IC傳輸操控設備之載 具徑路的祕目,目七躲本㈣之歓IC倾操控設備 平面圖,圖八係圖七的侧面圖,本發明係以從供料位置19 將模组IC1負載於載具18的狀態,使該載具移送於測試過 程間,同時實施模組IC的測試,以卸料位置20視盆釺 納於客供載盤9為其特徵。 亦即’將容納於載盤3内之多數模組IC1依習知之供料 侧之取放工具6,以垂直狀態容納於載具18,使容納前逑模 組IC1之載具移送於測試過程間’同時在測試側7實施模組 IC1的測試以後,由卸料側之取放工具8保持在卸科位置 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 1220459 五、發明説明(/·; 20疋成測叙模組Ic視測試的結果分類於客供載盤9内。 因此’使供料模組IC1之載具18,移送於測試過程間, 組1C之供料位置19及卸料位置2〇依習知之取放工且 的運轉料及卸料作業’具有形成使裝備 於測=2可在測試侧7將模組ια垂直接觸及水平接觸 但是’如欲在測試侧使模组IC1水平接觸,必須對於 ? 18完成供料模組IC1的狀態,在載具18的移送過程間使 前述載具轉動90。。 史 如上述,在載具18轉動90。的狀態垂直接觸模組奶 具有可在測4側7的背面容易使插座組件21脫離的優 點0 、亦即’水平接觸模組IC1時,和以往相同,應將以電氣 万式連接餘1C的婦⑽21設置爛 7的底面。 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 因此,所測試之模組IC的型式接近時,應從測試侧的 屁面分雜座組件以後安裝新插座組件。此時,測試侧底面 至間狹窄造成更換插座組件的作業麻煩。 但是’垂直接觸模組1C時,如圖八所示,藉由在測試 侧7的背聽裝插座組件2丨’形成可使㈣翻度增大, 因此容易達成插座組件的更換作業。 此外,視上述過程實施模組IC的測試時,儘管不具備 實施耐熱性測試的加熱腔仍可實施。 然而,為使提高信賴性,以實施耐熱性測試的目的具備 本纸^^度適用中關家標準(CNS ) A4祕丨210X297公釐)'--------- 1220459 五、發明説明(8·) 加熱腔22時’使供料模級Ια之載具i8依轉動裝置轉動 90。。之後,移送於加熱腔22的内部,以所設定的溫度 (70者C)加熱被供料於載具之模组ια以後,必須實施測 試。 圖六至圖八係在位於供料位置N的載具μ負載模組 IC1之後’以加熱腔22加熱模組IC,具體地例示實施測試 的課程。 如果再詳細綱上摘事情,㈣f知之供料侧取放工 具6保持被容納於載盤3之多數模、组ια,依序供料於位於 供料位置19之水平狀態載具18内。 容納完成生產模組1C1之載盤3,在供料侧裝載多數 個,未圖7F之形成依昇降機依序逐一階段上昇。 =果以重複的動作在載具18内全部負載模組10,即 由移达裝置使供料模組IC1之載具18和圖六的箭頭符號方 向A相同朝供料侧之旋轉裝置23侧水平移送。 因此,使載具18水平移送於供料側之旋轉裝置23以 後,轉動設置於前述供料侧旋轉裝置侧之掛止槓桿(未圖示 出)使載具回轉時’使載具ls聯鎖以免前述載具從供料側 之旋轉裝置脫離。 如果前述載具18和供料侧之旋轉裝置23聯鎖,即開放 設置於下部加熱腔22之閘門,同時形成賴之旋轉裝置幻 和箭頭符號方向B相同轉動9〇。,因此可垂直暨立載具18。 …以每種狀態,在供料侧之旋轉裝置23卿之載具Μ 朝箭頭符號拍c鼓下降,麵持高溫的加餘22的底 表纸張尺度適用中國國家;^ ( CNS ) A4祕(2Η)χ^^) ^-- (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1220459 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ------— B7 五、發明説明(9·) 〜' 一'—--- 面安裝載具18解除載具18的聯鎖狀態以後,供料側之旋轉 裝置以初始狀態上昇同時關閉被開放之問門。 如上述動作,鱗於加熱腔22之_供給—個載具 18 ’即被供給之祕依移送裝麗箭頭符號方向D逐-階 段依序移翻時以適合測_溫加熱。 、亦即’如果供給於加熱腔22内部的載具18,朝箭頭符 號方向逐階段移送,由於即以和前述相同的動作供料模組 ici而且其他之載具被供給於加熱腔22的内部,因此可達 成在加熱腔22内移送載具。 、由於供給於前述加熱腔22内部的載具18,在加熱腔内 試模組IC的條件加熱模組ic以後, 形成開放位於加熱腔22和測試侧間的閘門,因此依移送裝 置位於加触22 Θ的最前端,載具ls和箭頭符號方向e 相同以水平供給於測試侧7側。 此因此,以測試的條件照舊將模組IC1容納於載具18的 狀態,供給於測試侧7側的内部以後,將推桿(未圖示出)水 «多送過程來之載具18,朝移送方向和直角方向F藉由使 模組IC1的模型和測試插座12的端子連接,被設定的時間 之間,測試模組IC1,形成將其結果通知中央處理器。 、、在前述測試側7設定時間之間,如果實施模組IC1的測 式即開放位於測试侧7和卸料腔24間之閘門,同時依移 送裝置和箭頭符號方向G相同水平移送載具18插入卸料侧 之旋轉裝置25的内部。 如上述’載具18被插入卸料側之旋轉裝置25以後,掛 本^•張级適用中國國家標準(CNS)从規格(210x2^j^---— ---_ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .裝· 訂 線 1220459 經濟部智慧財產局員Η消費合作社印製
1220459 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(η·) =箭頭魏方Κ,形成的_之取放工具8將為再測試 _且IC1涵於再測期18a暫時保管。、’、^ fm用載具18a,係依昇降機(未圖示)昇降,全 =足實施再測試之模组Ic的再測試用載具丨 供^置㈣卸触置2G最付裝_ 號 :::平移送,同時待機至載㈣完成所有的模組: 位於前述再測試位置26,容納為實施再測試的模组忙 %=試用載具收,在卸料位置20卸料之放空載具為容 ^模組IC而移送供料位置19時,放空吻丨起干涉之載 於供料位置19之前’依昇降機朝箭頭符號方向κ暫 2下降以後,形成放空之載具移送於供料位置19以 升0 、如果以重複的作業,而通知控_全部完成所有的 於裁盤3内之模組iC1的測試,即繼續容納於再測試用載且 Ma之模組ic再測試的作業。 " 亦即’使位於供料位置19和卸料位置2G之啊再 用載具18a依移送裝置移送於供料位置19以後,依上 法實施再測試。 .、加上,由於位於供料位置19和卸料位置2〇的正下方處 於裝載芝間27的再測試用載具1Sa,依昇降機依序使移送 於再測試位置26,因此可達成容納於再測試用載具丨^之 模組1C的再測試。 “ 【發明效果】 請 先 閲 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 旁 I 一 裝 訂· 線 本纸張XA適用中國國家標準(CNS ) Α4· ( 2似297公董)" --—一〜 A7 "---------- - B7 五、發明説明(12β) "~^~ - 如以上所說明的本發明,係將模組ια容納於載具18, =移迗_程_時實侧試’較習知職驗設備具有如 下的優點。 第在腔之外部依取放工具將模組1C供料於載具内,使 供料於載具之模組1C容易移送於腔之内部,以設定 之溫度加熱以後,實施測朗此提高產品的信賴度。 第二在載具供料及卸料模組IC1之細,在測試侧,藉由 實訑供料於載具之模組1C測試,可將昂貴裝備的運 轉率加以極大化,因此,可在同一時間内測試多量的 模組1C。 第三藉由在測試侧7腔之背面設置插座組件21,視所測 試之模組1C型式,可達成測試插座的更換作業方便。 【圖式之簡單說明】 【圖Z】係表示一般性模組1C的斜視圖。 【圖二】係概略表示習知模組1C傳輸操控設備之平面圖。 【圖三】係供料侧之取放工具保持模組1C供料於測試側 測試插座之狀態圖。 【圖四】係完成放置於測試插座之模組1C插入之狀態圖。 【圖五】係表示依本發明載具之斜視圖。 【圖六】係表示在依本發明之模組1C傳輸操控設備移送 載具路徑之概略圖。 【圖七】係依本發明模組1C傳輸操控設備之平面圖。 【圖八】係圖七的侧面圖。 【圖號說明】 i-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張又度適用中^^揉準…哪以私見格⑺以加公釐) 1220459 A7 B7 五、發明説明(l3·) 3 :載盤 6:供料侧之取放工具 7 :測試侧 8:卸料侧之取放工具 9:客供載盤 18 :載具 19 :供料位置 20 :卸料位置 22 :加熱腔 23 :供料侧之旋轉裝置 24 :卸料腔 25 :卸料侧之旋轉裝置 26 :再測試位置 27 :裝載空間 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張又度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐)
Claims (1)
- 申請專利範圍第88120842號專利案申請專利範圍修正本 一種操控模組1C及模組1C載具傳輸操控設備之方法, 其特徵為,將多數之模組1C容納於載具,使容納前述模 組1C之載具移送於測試過程間,同時在測試侧照舊將模 組1C容納於載具之狀態實施模組IC的測試後,在卸料 位置由卸料侧之取放工具保持以卸料位置完成測試之模 組1C,視測試結果分類於客供載盤内。 2·如申請專利範圍第1項所述之方法,其特徵為,容納前 述模組1C之載具,係以依轉動裝置轉動9〇。的狀態,移 送於加熱腔之内部,以被設定之溫度加熱容納於載具之 模組1C以後,實施測試。 3.如申請專利範圍第1項所述之方法,其特徵為,前述載 具依供料侧之取放工具供料載盤内之模組IC。 -種模組1C傳輸驗韻之載具操作料,其特徵為, 雜持健$之· IC,依序供料於供 料位置之料雜載翻之酸,和使簡触ic之載 具水平移秘供咖之轉妓,和供之旋轉裝置 聯鎖的階段,和開放加熱腔之閘門同時垂直賢立載具以 解除载具聯鎖狀態之階段,和在前述加熱腔内 階段移送同時以測試的條件加熱模组IC的 』二載:加熱腔和測試侧之間的閘門,使加熱 内< 載具水平移送於峨側的階段,和將 1載具娜送方姊直財向雜,雜触IC模型 1. 4. — — — Ill — — — — — —— — - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) tr._ •線· 1220459 A8B8C8D8經濟部智慧財產局員工消費合作衽印製和測試插座之端子連接的狀態設定時間之間實施測試的 階段,和在測試侧和卸料腔之間開放閘門以後,使載具 水平移送’依序實施和卸料侧之旋轉裝置聯鎖之階段, 和使卸料侧之旋轉裝置還原為水平方向的階段,和從前 述卸料侧之旋轉㈣拉峭具使料射卩料位置的階 ,,和卸料側之取放工具從位於前述卸料位置之水平狀 態載具保持模組1C,視測試結果卸料於客供載盤内的階 ϋ和使餘Ic $彭卩料之載具水平料於供料位置之 5.如申請專利範圍第4項所述之模组IC傳輸操控設備之載 具操作方法’其特徵為,在供料位置和卸料位置之間以 可昇降 < 万式設置容納為實料戦· K 料前再實施㈣ 傳輸操控設備之載 賴Ϊ1Γ其特徵為’在供料位置和卸科位置的下部 置水平移猶述再測朗載具之裳載空間, ^⑽漸奴卿_ IC,即讓再測 4用載具依序移送於再測試位置徭,一 載具依序移送於測試過程間一面實施再測試。再/則4用
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