TWI288365B - Design and image processing method of fiducial marks for the motion control system of two plates alignment - Google Patents
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1288365 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 記設板對位運動控制系統之對位標 效率對位標記’ _是有關於—種防干擾之高 理方法之整合則運動控騎準定位之快速影像處 【先前技術】 除此=的對位之技術應用為玻璃光罩精密對位, 許業、平面:|板_位技術的範圍甚為廣泛,如半導 二、而朵置::益業、、印刷電路板業等領域皆為其應用領 技衍,^Ϊ讀位為上述電子產業之各類曝光機之關鍵 技㈣降低製造成本,則對提高國 際只兄f力將有莫大的助益。
首先"月參照[第1A圖]所示先前技術之圓環與圓點對 位標記及其影像處衫意圖。目前f知的雙層板對位技術 如日商EP簡公司之STN-LCD生產線的光罩對準系統,是 採用-個圓環標記al及-個圓點對位標記a2進行光罩對 位,這兩組標記分別置於上下兩片不同的板子上,每組標 記又分置於上下板的兩個角落’透過兩具cCD取像及灰階 影像處理’當上下兩個標記中心a3幾乎重疊時,就代表上 下兩片板子完成對位,可進行後續之製造程序。此先前技 術之優點係標記構造及製作簡易,惟其缺點為其灰階值(水 平灰階值a4及垂直灰階值a5)之選定及光源強弱會影響 1288365 精度。 再請參照[帛a _ 於晶圓之光罩對位應用—二不先别技術之雙十字對位標記 雙十字對位的方式,預=忍圖,此種標記對位的方式是採 存於記憶體中,實際對擷曰曰圓上的十字標記bl,將之儲 標記b2與晶圓上的十字時,再將即時從光罩取得之十字 之工作。此法優點:單t Μ進行對位及運動控制補償 影像處理有邊緣干擾及叠^標記,^製作容易,而缺點則是: 續請參照[第1C、第m ^ 位標記於TFT-LCD之舞位圖所示先前技術之雙十字對 仞妒人β从、日丨# 應用示意圖。TFT-LCD在光罩對 位、膠合及檢測時一般传用… 之用十予標記作為對位之標記,這 種對位方式經常採用的是上下板雙十字ei,e2精密對位的 方式。而杈常被討論及使用的標記影像處理方法為H〇ugh Transform,由於存在疊影d等問題,將使得影像處理的速
度與精度受到影響。而此法之優點為:單一種標記,製作 容易,缺點則是:影像處理有邊緣干擾及疊影等問題,處 理速度較慢。 再請參閱[第1E圖]所示先前技術之多組十字標記於 雷射光纖對位應用示意圖。這是一種多組雷射光纖el對位 的應用,同樣是上層板e2、下層板e3雙層精密對位的方 式,較不同的是,使用多組的十字對位標記e4作為對位的 輔助工具及基準,此方法之優點係為採多組標記,對位程 序與精度較嚴謹,而缺點乃係影像處理協同作業較複雜, 對位時間相對較長。 1288365 【發明内容】 有鑑於此’本發明之目的係在提供 處理方:’係可避免雙十字標記之直二 …中二對稱型對位記號,並將影 小挺赴、 分開處理,並財像素(像素之 • 雙以二下1位)之精度得到其形心、(幾何中心),可符合 鲁雙曰板向精密對位之需求’並可有效提高對位速度。 影傻ΐ據上狀目的’树明提供_種靠域設計及其 =一处理方法’包含:提供—具有―對位孔且對位孔内呈 ^對位標記之複合影像,運用二值化法獲得 像 值影像,進行閉合處理將雜訊去除,填滿對位= 心像獲得對位孔影像,以取得對位孔影像之形心、座標,另 再運用二值化法,對複合影像進行處理,以獲得-低閥值 影像之後進行閉合處理,將對位孔之外的影像去除^用 =態學處理方法將對位標記邊緣區域之外的影像去除,獲 侍對位標記影像,再取得對位標記影像之形心座標,之後 將一开座標施以座標運算,分別取得兩組座標之偏移量。 • /本發明之另一目的係在於提供一種雙層板對位運動控 制系統及其應用的方法,其藉由此上述之對位記號影像處 理方法,結合一幾何計算模式與一運動控制模組,可自動 地、快速地完成雙層板的精密對位。 根據上述之目的,本發明提供一種雙層板對位運動控 制系統,包含:設置於第一層板與第二層板之兩組對位記 (ί 7 1288365 號,並以二取像裝置分別攝取對位記號之複合影像,再利 用一對位C號影像處理模組,計算每一複合影像之X軸(橫 轴)與Y軸(縱軸)之一座標偏移量,接著以一雙層板偏差量 計算模組,算得雙層板間之位置與角度偏差量再以三軸運 動控制模組,進行雙層精密對位之補償修正。 【實施方式】 兹配合圖式將本發明較佳實施例詳細說明如下。 • 參閱[第2圖]所示之本發明較佳實施例之對位記號影 像處理方法流程圖。本發明之對位記號影像處理方法S2〇 主要係為求出複合影像之偏移座標值,其至少包含下列步 驟:提供一複合影像,例如可由一影像擷取設備之取像裝 置提供複合影像,重要的是,此複合影像須具有一對位孔, 例如一圓形孔,且對位孔内具有一對位標記,例如一十字 標記(步驟S21)。利用二值化法處理上述複合影像,進行 鲁一兩於一基準閥值之處理,以進一步獲得一高閥值影像(步 驟S22a)。接續進行高閥值影像的閉合處理,將對位孔之 外的雜訊影像去除(步驟S23a)。續填滿高閥值影像内的 對位標記影像,獲得對位孔的影像(步驟S24a)。再利用 形心運算法則求得對位孔影像之形心座標,如形心座標為 (Xlc,Yic)(步驟S25a)。再次運用二值化法對前述的複合 影像進行一低於基準閥值的處理,以獲得一複合影像的低 $值衫像(步驟S22b)。進行低閥值影像的閉合處理,將 對位孔之外的雜訊影像去除(步驟S23b)。利用型態學的處 8 1288365 理技術將對位標記邊緣區域之外的影像去除,而獲得對位 標記影像(步驟S24b)。再以形心法求得對位標記影像之 形心座標,如其形心座標為(Xlm,Ylm)(步驟S25b)。將二 形〜座私施以座標運算,取得一組座標偏移量,例如此組 座標偏移量為△ XI ,△ γι( △ xl=xlm—Xle,△ Yl=Ylm-Ylc)(步驟 S26)。 上述步驟S22a至步驟S25a之取出對位孔影像之形心 座標,和上述之步驟S22b至步驟S25b之求取對位標記之 形心座標的步驟並無先後執行順序之要求,惟進行步驟S26 運算座b偏移置之如,需先將對位孔影像之形心座標與對 位標記之形心座標求出,始得進行。 請參閱[第3圖]所示之本發明較佳實施例之雙層板對 位運動控制系統之系統架構圖、及[第4圖]所繪示之雙層 板對位運動控制糸統之對位示意圖,其中雙層板對位運動 控制系統30包括··兩組對位記號31 ,係分別設置於第一 層板301與第一層板302之對應兩側之同一位置,且每組 對位圮號31係至少由一對位孔311與一對位標記312所組 成。一取像裝置32,設置於第一層板3〇1兩侧面上,取像 裝置32的設置位置可如第2圖内之方式或設置於第一層板 301與第二層板302之斜對角之方式,用以分別攝取對位 記號31之一複合影像。一對位記號影像處理模組33,利 用前述之對位記號影像處理方法,用以自取像裝置32取得 複合影像後,運用高、低二值化法取得其高、低閥值影像, 並去除雜訊後單純化,以求出每一對位孔及對位標記影像 1288365 ^心座標,以計算出每—該純合影像之u (橫轴) *軸(縱軸)之-座標偏移量。一雙層板偏差量計算模 =34’用以自對位記號影像處理模組33取得兩組對位記 =之座標偏移量之後,以幾何空間運算技術,得出第一層 ^〇1與第二層板302之雙層板間的位置與角度偏差量。 ★二軸運動控制模組35,用以取得由雙層板偏差量計算模 ί 出之位置與角度偏差量’並根據位置與角度偏差量 鲁:制第二層板或第—層板向X軸(橫軸)、Υ轴(縱軸)或 :軸(施轉軸)補償移動或轉動—偏差角度。且本發明之 二軸運動控制模組35於修正偏差量時,可固定第一層板 3〇1或第二層板逝中的任—層,而僅根據固定的一層板 來修正另一層板。 [第5Α、5Β、第6Α、6Β、第7Α、7Β及第8Α、8Β圖]係本 發明較佳實施例之雙層板對位運動控制系統之各種形狀的 、子位孔與對位標記形狀示意圖,其中左側乃分♦示對位孔 # 311與對位標記312,右側乃為其重疊後之複合影像示意, 然而上述之對位孔311形狀不必限定為圓形,亦可為橢圓或 、其他可尋求形心座標之兩個象限或四個象限對稱式之幾何 • ie型,又其對位孔311之外圍覆蓋一無亮區遮罩,此區面積 大小與影像之純度有助於取像品質及後續的影像處理。另 外,對位標記形狀也不限定一種形狀,舉凡十字形對位標 記312、方形對位標記312a、三角形對位標記312b、圓形對 位標記312c等可運用幾何原理找出一形心之形狀,皆可作 為本發明之對位標記(31、31a、31b、31c)。 1288365 上述的第一層板301或第二層板302中,若其中一層為 晶圓、STN-LCD或TFT - LCD時,另一層應為玻璃光罩,此時 取像裝置32應設於玻璃光罩之外側。 又,本發明所提之取像裝置32可用CCD、CMOS或數位攝 影機型態之電子裝置。 再請參閱[第9圖]之本發明較佳實施例之雙層板對位 運動控制方法之流程圖。本件雙層板對位運動控制方法 S40,包含下列步驟··首先需在第一層板3〇ι與一第二層板 302上提供兩組對位記號31,此對位記號31係分別設置於 第一層板301與第二層板3〇2之對應兩側之同一位置(步驟 S41)。其次分別取得兩組對位記號31之複合影像,此可藉 由。又置於帛g板3G1或第二層板側面之二取像裝置 32/刀別獲得兩組對位記號31之兩組複合影像(步驟⑽)。 兩組對位記號31之偏差量,可利用前述之對位記 理方法,執行兩組複合影像之兩組座標偏差量計 异,取付岐座標料量分_(Δχι,Λγι) 步驟S43)。續而求出雙層板間之位置與角度偏差 二層板之間位置偏得到第-層板與第 S44)。再藉由一 f、:AX,AY與角度偏差量“(步驟 二;巧動控制模組補償上述位置偏差量△ 量與二::n-標準差,當位置偏差 兩㈣人μ、 丰時回獲得兩組對位記號之 兩、、且複"邊叮步驟依序執行(步驟s46)。完成對位: 1288365 當位置偏差量與角度偏差量進入標準差時即完成對位(步 驟 S47)。 綜上所述,當知本案所揭露之專利技術已具有產業 性、新賴性與進步性,符合發明專利要件。惟以上述者, 僅為本案之一較佳實施例而已,並非用來限定本案實施之 摩色圍。即凡依本案申請專利範圍所做的均等變化與修飾, 皆為本案之專利範圍所涵蓋。 【圖式簡單說明】 第1A圖係先前技術之圓環與圓點對位標記及其影像處理示意 圖; 第1B圖係先前技術之雙十字對位標記於晶圓之光罩對位應用 示意圖; 第1C、1D圖係先前技術之雙十字對位標記於tFT—lcd之對位應 用示意圖; 第1E圖係先前技術之多組十字標記於雷射光纖對位應用示意 圑, 程 第2圖係本發輸佳實關之對位記號及其影像處理方法流 1Ξ1 · 圃, 第3圖係本發·佳實關之雙層板靠運動控㈣統之 架構圖; ” 〜 第4圖係本發明較佳實施例之雙層板對位運動控制系統之 示意圖; ~ 、 8B圖係本發明較佳實 第5A、5B、第6A、6B、第7A、7B及第8A、 1288365 施例之雙層板對位運動控制系統之各種形狀的對位孔與 對位標記形狀示意圖;及 第9圖係本發明較佳實施例之雙層板對位運動控制方法之流程 圖。 【主要元件符號說明】 [先前技術部分]
(K al 圓環標記 a2 圓點對位標記 s3 標記中心 a4 水平灰階值 a5 垂直灰階值 bl 晶圓上的十字標記 b2 光罩取得之十字標記 cl 雙十字 c2 雙十字 d 疊影 el 雷射光纖 e2 上層板 e3 下層板 e4 十字對位標記 13 1288365
[本發明部分] S20 步驟S21 步驟S22a 步驟S23a 步驟S24a 步驟S25a 步驟S22b 步驟S23b 步驟S24b 步驟S25b 步驟S26 對位記號影像處理方法 提供複合影像 取得高閥值影像 去除雜訊 單純化對位孔影像 求出對位孔影像之形心座標 (Xlc,Ylc) 取得低閥值影像 去除雜訊 單純化對位標記影像 求出對位標記影像之形心座標 (Xlm,Ylm) 取得座標偏移量ΔΧ1,ΔΥ1 (AXl=Xlm-Xlc, Δ Yl-Ylm-Ylc)
30 301 302 3 卜 31a、31b、31c 雙層板對位運動控制系統 第一層板 第二層板 對位記號 311 對位孔 312、312a、312b、312c 對位標記 32 取像裝置 33 對位記號影像處理模組 34 雙層板偏差量計算模組 14 1288365 35 三軸運動控制模組 X 橫軸 Y 縱軸 θ 旋轉轴 S40 雙層板對位運動控制方法 步驟S41 提供兩組對位記號 步驟S42 取得兩組對位記號之複合影像 步驟S43 求出兩組對位記號之偏差量 步驟S44 求出雙層板間之位置與角度偏差量 步驟S45 以偏差量修正雙層板間之相對位置 步驟S46 判斷是否完成對位,否則返回步驟S42 步驟S47 完成對位
Claims (1)
1288365 十、申請專利範圍: 1. 一種對位記號影像處理方法,至少包含下列步驟: 提供一複合影像,其具有一對位孔且該對位孔内具 有一對位標記; 取得一高閥值影像,係運用二值化法(Threshold), 對該複合影像進行一高於一基準閥值之處理,以獲得一 該複合影像的高閥值影像; 去除雜訊,係進行該高閥值影像的閉合處理,將該 對位孔之外的影像去除; 單純化該對位孔影像,係填滿該高閥值影像内的該 對位標記影像,獲得該對位孔影像; 求出該對位孔影像之形心,係以形心法取得該對位 孔影像之形心座標為(Xlc,Ylc); 取得一低閥值影像,係運用二值化法,對該複合影 像進行一低於該基準閥值之處理,以獲得一該複合影像 的低閥值影像; 去除雜訊,係進行該低閥值影像的閉合處理,將該 對位孔之外的影像去除; 單純化該對位標記影像,係利用型態學處理技術, 將該對位標記邊緣區域之外的影像去除,獲得該對位標 記影像; 求出該對位標記影像之形心,係以形心法取得該對 位標記影像之形心座標為(Xlm,lm);以及 取得座標偏移量,係將該二形心座標施以座標運 d 16 1288365 算,取得一組座標偏移量(△ X1=xim—Xlc,△ Yl=Ylm-Ylc)。 2·—種應用於對位記號影像處理之雙層板對位運動控制系 統,適用於對一第一層板與一第二層板之精密對位,該 雙層板對位運動控制系統包括: - 兩組對位記號,係分別設置於該第一層板與該第二 層板之對應兩側或對角側之同一位置,且每組該對位記 籲 號係至少由一對位孔與一對位標記所組成; 二取像裝置,設置於該第一層板與該第二層板之一 側,用以分別攝取該些對位記號之一複合影像; 一對位記號影像處理模組,用以自該些取像裝置取 得該複合影像後,運用高、低二值化法取得該複合影像 之高、低閥值影像,並去除雜訊後單純化,以求出每一 该對位孔及對位標記影像之形心座標,以計算出每一該 些複合影像之X軸與γ軸之一座標偏移量; # 一雙層板偏差量計算模組,用以自該對位記號影像 處理模組取得兩組對位記號之座標偏移量後,以幾何空 間運算得到該雙層板間之一位置與角度偏差量;以及 一二軸運動控制模組,該三軸運動模組用以取得由 δ亥雙層板偏差量計算模組算出之該位置與角度偏差量, 據以控制該第一層板或第二層板向X軸、γ軸或Θ軸補 償移動或轉動的向量。 Q • °申請專利範圍第2項所述之雙層板對位運動控制系 統,其中該對位孔之外圍覆蓋區域包含一無亮區遮罩, 17 1288365 且該對位標記係-相χ軸(橫軸)或γ軸( 稱型標記。 4.如申請專利範圍第3項所述之雙層板對位運動控制系 統,其中§亥對位孔係為圓形對位孔。 5·如申請專利範圍第3如述之雙層板對位運動控制系 統,其中該對位標記係為圓形、方形、三角形或十字形。 6.如申請專利範圍第2項所述之雙層板對位運動控制系 統,其中該第一層板係為玻璃光罩且該第二層板係為 STN-LCD、TFT-LCD 或晶圓(Wafer)〇 , 7.如申請專利範圍第2項所述之雙層板對位運動控制系 統,其中該第二層板係為玻璃光罩且該第一層板= STN-LCD、TFT-LCD 或晶圓。 9 ’、為 8·如申請專利範圍第2項所述之雙層板對位運動控制/ 統,其中該取像裝置係為CCD、⑽s或數位攝影機^ 之電子裝置。 怒 9· 一種雙層板對位運動控制方法,適用於對一第一層才 一第二層板之精密對位,該雙層板對位運動控制^與 含下列步驟: / & 提供兩組對位記號,係包含具有兩組對位記號之第 一層板與一第二層板,該些對位記號係分別設置於鸪第 一層板與该第二層板之對應兩側之同一位置; 取得兩組對位記號之複合影像,獲得兩組對位記號 之兩組複合影像,藉由設置於第一層板或第二層板甸= 之一取像裝置獲得兩組對位記號之兩組複合影像; 18 1288365 求出兩組對位記號之偏差量,利用前述之對位記號 影像處理方法,執行該兩組複合影像之兩組座標偏差量 計算,取得該兩組座標偏差量(ΔΧ1,ΔΥ1),( ΔΧ2, △ Y2); 求出雙層板間之位置與角度偏差量,藉由幾何空間 運算,計算上述該兩組座標偏差量(ΔΧ1,ΔΥ1),( ΔΧ2, △ Y2 ),得到該第一層板與該第二層板之間位置偏差量△ X,ΔΥ與角度偏差量△ 0 ; 以偏差量修正雙層板間之相對位置,藉由一三軸運 動控制模組補償上述該位置偏差量ΔΧ,ΔΥ與角度偏差 量△ Θ ; 判斷是否完成對位,係設定一標準差,當該位置偏 差量與角度偏差量未達標準差時,返回獲得兩組對位記 號之兩組複合影像以下步驟依序執行;以及 完成對位,當該位置偏差量與角度偏差量進入標準 差時即完成對位。
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |