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TWI285901B - Apparatus for driving output signals from DLL circuit - Google Patents

Apparatus for driving output signals from DLL circuit Download PDF

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TWI285901B
TWI285901B TW094112406A TW94112406A TWI285901B TW I285901 B TWI285901 B TW I285901B TW 094112406 A TW094112406 A TW 094112406A TW 94112406 A TW94112406 A TW 94112406A TW I285901 B TWI285901 B TW I285901B
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Kyoung-Nam Kim
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Hynix Semiconductor Inc
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Description

1285901
五、發明說明(1) 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種用以驅動延遲鎖相迴路(DLL )電路 之輪出訊號的裝置,並且特別是指一種用以驅動DLL電路 之輪出訊號的裝置,該裝置至少具有兩個驅動部用以接收 DLL電路之輪出訊號。 【先前技術】 如一般之習知技術而言,一個延遲鎖相迴路(DLL)電 路根據外部施加於記憶裝置之時脈來控制從同步記憶裝置 (以下簡稱記憶裝置)讀取之資料的輸出時序(timing)。 # 第1圖所示為典型DLL電路1 0 0範例之構造的方塊圖。 如第1圖所示,該DLL電路1 〇 〇包括:時脈緩衝器丨丨及 1 2、一個延遲線路丨3、一個分割器丨4、一個虛擬延遲線路 1 5、一個複製模型部1 6、一個相位比較器丨7、及一個 控制部1 8。 ^ 在第1圖中,時脈缓衝器11及12接收外部時脈訊號Uk 及Ukb。其中,時脈緩衝器u之輸出訊號rcU與外部 I之上升緣(rising edge)同步,並且時脈緩衝器11之 輪出訊號f elk與外部時脈ci kb之上升緣同步。 延遲線路1 3將通過時脈緩衝器1 1之外邱眭 %延遲。 d"夺脈的相位予 )之比例予以分割。其 1/n (通常η設定為、、或、、8 ;(比例予二 中,該項分割主要是為降低電力銷耗而施行>。 虚擬延遲電路1 5之構造與延遲線路丨3相同。其中
1285901 五、發明說明(2) 為虛擬延遲線路1 5將分割器1 4所分割之訊號予以延遲,所 以銷耗的電力較低。 士 複製模型部16關聯至一個延遲部,藉由將從施加外部 時脈至到達延遲線路1 3之期間以及直到延遲線路丨3之输出 訊號IRCLKDLL及IFCLKDLL被輸出至記憶裝置外部之期間予 以模型化而得到。 ’ 相位比較器1 7偵測一個介於分割器14之輸出訊號與複 製模型部1 6之輸出訊號之間的相位差。假如施加於相^比 較器1 7之各訊號的上升緣相互重合,該DLL電路被鎖定。 鲁此時,DLL時脈IRCLKDLL及IFCLKDLL超前外部時脈 約’ tAC’之長度。 延遲控制部1 8對相位比較器1 7之輸出訊號響應而控制 施加於延遲線路1 3及虛擬延遲線路1 4兩者之訊號的相位。 第2圖所示為習知用以驅動D LL電路之輪出訊號的裝置 之操作圖’或裝置採用D L L電路。第2圖所示之電路已經被 使用於具有晶粒内部終端電阻(〇n- Die Terminator,0DT) 電路之第二代雙倍資料傳輸率同步動態隨機存取記憶體 (DDR2 SDRAM)、第三代雙倍資料傳輸率同步動態隨機存取 舌己憶體(DDR3 SDRAM)等。以下供參考,Rasidle訊號表示 1卜部施加於記憶裝置之訊號。該Ras idle訊號在低位準時 為致動模式(act ive mode),並且在高位準時為預充電模 式(precharge mode)。訊號0DTEN表示由延伸模式暫存器 組(Extended Mode Register Set,EMRS)輸出之訊號。該 訊號0DTEN啟用(enable)晶粒内部終端電阻(〇dt)之操作。
1285901 五、發明說明(3) 一如第2圖所示,DLL電路之輸出訊號係經由驅動部2 1 〇 同步施加於晶粒内部終端電阻(0DT)電路230及輸出驅動器 2 4 〇 〇 1 ^ 因此,習知地,即時當僅有晶粒内部終端電阻(〇 d T) 電路23 0被操作,輸出驅動器24〇被啟用,因而成不必要 的電力消耗。 【發明内容】 日 因此,本發明主要在解決前述習知技術所發生之問 j山並且本發明之目的在提供一種能夠分別驅動晶粒内部 儀^端電阻(ODT)電路及輸出驅動器之驅動裝置。 ^達成上述之目的,本發明提供一種~用以驅動DLL電 此二砌出°孔谠的裝置’ s亥裝置包括至少兩個驅動部用以接 Γ?上路之輸出訊號,其中每個驅動部之輸出訊號被施 加於對應輸出訊號之電路部。 :個用以驅動DLL電路之輸出訊號的裝置包括至少兩 個驅動部。 依據本發明之另一觀點,本發日日 ητ T ^ ^ τ 个赞明提供一種用以驅動 dll電路之輸出訊號的裝置,該梦 鈐Φ 1^ Λ裝置包括用以接收DLL·電路 出δίΐ號之第一驅動部及第二驅動 %於π牛#产胜番士峨 動#,其中DLL電路被使 ’於Η步圮fe裝置中,第一驅動邱 愔酤罢々次把认山▲ 勒#之輸出訊號控制同步記 隱裝置之齑料輸出驅動器,並且坌- ^ 制同步記憶裝置之晶粒内部終端電=動部之輸出訊號控 【實施方式】 而電阻(ODT)電路。 以下為本發明較佳具體實 3 ^列Μ所附圖示加以詳細說
第8頁 1285901
五、發明說明(4) 二7 Γ之說明及圖示中使用相同之表考數字以矣- 4 第3 邮述相同或類似部時則予省略。 裝置的方塊圖。 驅動DLL電路30 0輪出訊號之 圖所示,該裝置包括用以接收DLL電路3 0。輪出 讯號之驅動部310及33〇。 电峪翰出 篦1 B1第^ 2之DLL電路30(3代表精通該項技術者所孰知除了 揭露之習知DLL電路之外的所有DLL電路:、並:了 #热知的一個上拉(puU_up)驅動器及一個下拉(^τ—者 down)驅動器。其中,驅動部31〇及驅動部“^之大小最好 相同。然而,趨動部31〇之大小可能由於驅動部所驅動之 下一端的負載而不同。 如第3圖所示,驅動部31〇之動作被接收?1:1〇{?1^11及 Ras 1 d 1 e訊號之控制部32 〇所控制,驅動部33 〇之動作被接 收0DTEN及Rasidle訊號之控制部340所控制。 控制部3 20包括一個反相器31接收Rasidu訊號、一個 反相器32接收WtlORbtll訊號、一個反及閘33(NAND gate) 接收反相器3 2與反相器3 1兩者之輪出訊號、以及一個反相 β 3 4接收反及閘3 3之輸出訊號。控制部3 2 0以反相器3 4之 輸出訊號ΕΝ 1控制驅動部31 0之動作。 控制部3 40包括一個反相器35接收Rasidle訊號、一個 反或閘36 (NOR gate)接收一個反相器35之輸出訊號及一個 晶粒内部終端電阻(0DT)啟用訊號〇DTEN、以及一個反相器
第9頁
五、發明說明(5) 37接收反或閘36之輸出訊號。其中,驅動部33〇之動作被 ^相器3 7之輸出訊號EN2所控制。其中,精通該項技術者 能以不同的電路來執行與控制部32〇及34〇同等之功能。 驅動部310之輸出訊號^(:1^1)1^及11?(:1^1)1^被施加於 同=圯憶裝置之資料輸出驅動器3 5 〇以便調整資料輸出驅 動裔3 5 0之資料輸出時間點。此外,驅動部33〇之輸出訊號 IRCLKDLLOE及IFCLKDLLOE以可能執行阻抗校正動作之狀態 被施加於同步記憶裝置之晶粒内部終端電阻(〇dt)電路〜 360。因為驅動部310及3 30各自獨立操作,輸出驅動器35〇 修及晶粒内部終端電阻(0DT)電路36〇 (分別被驅動部“Ο及 330之輸出訊號所控制)亦各自獨立操作。因此, 可能低於習知用以同步驅動輸出驅動器及晶 阻(ODT)電路之裝置。 鬥。丨〜知電 以下將藉由第3圖所示詳細說明本發明較 例之操作。 丨玉八體貝施 首先,說明第3圖所示訊號之意義。 訊號WtlORbtll表示一個寫入模式或一個 訊號WtlORbtll保持在高位準時為寫入模 [式。 準時為讀取模式。 、x ,保持在低位 訊號Ras id 1 e係從外部施加於記憶裝置。“ 在低位準時為致動模式,並且在高位〜準< °訊號Rasi die 訊號0DTEN係由EMRS輪出並且啟用晶教‘、預^充電模式。 (0DT)操作。 ’、内4終端電阻 以下說明控制部3 2 〇及驅動部3 1 〇之動作
第10頁 1285901 五、發明說明(6)
當訊號R a s i d 1 e係處於低位準(亦即:絲# B 卞、力I 软動模式)並且 訊號WtlORbtll係處於高位準(亦即:寫入模式)丫 | 部320之輸出訊號EN1處於低位準。因此,驅氣"' ’ & 切口卜J 1 0及輸 出驅動器350被停用(disable)。所以,在耷λ h、 1 馬入模式時,能 夠降低驅動部31 〇及輸出驅動器3 $ 〇兩者之雷 當訊號Rasidl e係處於低位準(亦即:絲去b 卞、ΛΙ I 软動模式)並且 訊號W11 0Rb111係處於低位準(亦即:讀取极 部320之輸出訊號EN1處於高位準。因此,驅動部3 出驅動器3 5 0被啟用。 ° m 瞻 當訊號R as i d I e係處於高位準(亦即:預充電模 驅動部3 1 0及輸出驅動器3 5 0被一直停用。亦即,在 ^ 模式時,能夠降低驅動部31 〇及輸出驅動器3 5 〇兩者^電流 消耗。 , 以下說明控制部340及驅動部33 0。 假如用以執行晶粒内部終端電阻(〇DT)操作之訊號 0DTEN係由EMRS輸出,不論訊號RasidU之值為何,控制部 340之輸出訊號EN2 —直處於高位準。因此,驅動部33〇及 晶粒内部終端電阻(〇DT )電路3 6〇被啟用。 當訊號0DTEN係處於低位準,控制部340之輸出訊號 N2由訊號Rasidle決定。亦即,假如訊號Rasidle係處於 高位準(亦即··預充電模式),驅動部3 3 〇及晶粒内部終端 電阻(0DT)電路3 60被停用。假如訊號Rasidle係處於低位 準(亦即·致動模式)’驅動部3 3 〇及晶粒内部終端電阻 (0DT)電路3 6 0被啟用。
1285901 五、發明說明(7) 第4圖為說明本發明操作之時間曲線圖。 由第4圖得知,在訊號0DTEN之高位準期間,驅動部 3 30將從DLL電路3 0 0接收之訊號傳送至晶粒内部終端電阻 (ODT)電路3 6 0。 此時,能夠得知驅動部3 1 0在寫入模式被停用並且在 讀取模式被啟用而不考慮訊號〇DTEN。 雖然第3圖及第4圖所示之裝置中包括兩個驅動部,但 是依據本發明之精神至少包括三個驅動部。 此外,本發之精神除了適用記憶裝置外能夠適用於所 f使用DLL電路之半導體裝置。 當應用本發明之精神時,一個用以接收DLL電路輸出 訊號的驅動部係獨立操作,因此其電力消耗比習知裝置為
實可專 體到請 具解
但替 ,及 第12頁 1285901 圖式簡單^ ——--____ 圖式簡單說明j 本發明上述及其他之目的 ^ 下列詳細說明將更為清楚,其f特徵及優點以所附圖示及 第1圖所示為典型DLL電踗r為丨★ + A ^ 0 π 电路乾例之方塊圖; 弟2圖所示為習知用以驅 操作圖; L電路輸出訊號之裝置的 第3圖所示為本發明用以驅動DU電路輪< 的方塊圖; 厂^电給镧出讯唬之裝置 第4圖所不為第3圖所示裝置掉作之眸 式中元彳4夕π A Μ & 時間曲線圖。 100 : DLL電路 13 : 延遲線路 15 ·· 虛擬延遲 線路 17 : 相位比較 器 210 •驅動部 240 •輸出驅動 310 、3 3 0 :驅 動部 3卜 3 2 :反相 器 34 : 反相器 _6 : 反或閘 350 :資料輪出驅動器 11、1 2 :時脈緩衝器 14 :分割器 16 ·複製模型部 1 8 :延遲控制部 230 : ODT 電路 30 0 : DLL 電路 32 0 :控制部 3 3 ·反及閘 3 5、3 7 :反相器 340 :控制部 360 :ODT 電路

Claims (1)

  1. J285901 案號 94112406 修正 六、申請專利範圍 1. 一種用以驅動DLL電路之輸出訊號的裝置,該裝置 包括: 用以接收DLL電路之輸出訊號的第一驅動部及第二驅 動部,其中DLL電路被使用於同步記憶裝置,第一驅動部 之輸出訊號控制同步記憶裝置之資料輸出驅動器,並且第 二驅動部之輸出訊號控制同步記憶裝置之晶粒内部終端電 阻(ODT)電路;而且, 其中假如同步記憶裝置為預充電模式或為寫入模式, 則第一驅動部被停用;假如同步記憶裝置為讀取模式,則 一驅動部被啟用;假如同步記憶裝置為晶粒内部終端電 (ODT )操作模式,則第二驅動部被啟用;並且假如同步 記憶裝置不為晶粒内部終端電阻(ODT)操作模式,則第二 驅動部被停用。 2. 如申請專利範圍第1項之裝置,其中第一驅動部及 第二驅動部各自獨立操作。 3. 如申請專利範圍第1項之裝置,其中第二驅動部在 致動模式被啟用並且在預充電模式被停用。 «
    第14頁 1285901 六、指定代表圖 (一) 、本案代表圖為:第3圖 (二) 、本案代表圖之元件代表符號簡單說明·· 30 0 : DLL 電路 3 2 0 :控制部 33 :反及閘 3 5、3 7 :反相器 340 :控制部 3 60 : ODT 電路 3 1 0、3 3 0 :驅動部 31、3 2 :反相器 34 :反相器 36 :反或閘 3 5 0 :資料輸出驅動器
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100639230B1 (ko) * 2005-06-30 2006-10-30 주식회사 하이닉스반도체 출력 드라이버 제어 장치를 갖는 동기식 메모리 장치
US7994833B2 (en) * 2005-09-28 2011-08-09 Hynix Semiconductor Inc. Delay locked loop for high speed semiconductor memory device
KR100834400B1 (ko) * 2005-09-28 2008-06-04 주식회사 하이닉스반도체 Dram의 동작 주파수를 높이기 위한 지연고정루프 및 그의 출력드라이버
KR100738969B1 (ko) * 2006-08-16 2007-07-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리의 온-다이 터미네이션 제어 장치 및 방법
KR100815178B1 (ko) * 2006-12-27 2008-03-19 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
KR100937996B1 (ko) * 2007-07-03 2010-01-21 주식회사 하이닉스반도체 온다이 터미네이션 장치
GB0719233D0 (en) * 2007-10-02 2007-11-14 Skype Ltd Method of transmitting data in a communication system

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100506976B1 (ko) * 2003-01-03 2005-08-09 삼성전자주식회사 온다이 터미네이션 회로를 가지는 동기 반도체 메모리 장치
KR100502664B1 (ko) * 2003-04-29 2005-07-20 주식회사 하이닉스반도체 온 다이 터미네이션 모드 전환 회로 및 그방법
KR100522433B1 (ko) 2003-04-29 2005-10-20 주식회사 하이닉스반도체 도메인 크로싱 회로

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