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TWI283034B - Data analysis apparatus - Google Patents

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TWI283034B
TWI283034B TW092117283A TW92117283A TWI283034B TW I283034 B TWI283034 B TW I283034B TW 092117283 A TW092117283 A TW 092117283A TW 92117283 A TW92117283 A TW 92117283A TW I283034 B TWI283034 B TW I283034B
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Hiroshi Tamura
Yasuhiko Iguchi
Mitsuhiro Enokida
Original Assignee
Agilent Technologies Inc
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    • H10P74/23

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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Indicating Measured Values (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

1283034 玖、發明說明: I:發明戶斤屬之技術領域3 發明的技術背景 發明的技術領域 5 本發明係有關一種用於半導體晶圓製程的測試資料分 析裝置。
L 才目關H 1言兒曰月 習知技藝是使半導體經過測試,且將對此項測試資料進 10 行分析並將其回饋傳送到製程中,以便可以維持或者改進 半導體製程的生產品質。例如,日本專利公開案 10[1998]-303,267已揭露了圖形顯示器以及晶圓映像圖顯 示器為顯示分析結果的形式,並進一步揭露了藉著重複進 行一連串包括搜尋與抽取為分析之主體的資料、顯示分析 15 結果、並且研究細節等動作來進行分析。 藉著利用此種類型的習知分析裝置,操作者便可以藉著 比較已經圖形化的資料以及已經顯示在晶圓映像圖中的資 料來研究測試資料。然而,缺點在於無法容易地確認出該 圖形上的哪個測試點對應於已經用位於該晶圓映像圖之某 20 個位置上的晶粒來進行測試的資料。換言之,必須要進行 包括資料抽取與分析動作以及顯示結果動作等一連串的運 作,或者當該操作者判定出需要進行進一步的分析時,必 須要搜尋已經被分析的資料,並且確認該圖形與該晶圓映 像圖之間的對應關係。因此,需要花費時間進行分析,且 1283034 並無法能成功地確定出來問題的來源 c發明内容3 發明的概要說明 有餐於上述_題,本案的發明人所了解的是,以半導 體製程與回饋的分析來說,進行此項分析的操作者能在進 行測試的過程中,容易地知悉測試資料與晶圓上 的關係性將是相當有利的。 置貝 二^’本„的目的是提出―種:賴分㈣置,而利 10 15 用5亥衣置,將可令使人容易地知悉測試資料的圖形顯示器 針對映像圖顯示器的傾向。 ' 本㈣的另一目的是提出一種資料分析裝置,而利用該 衣置’ *測試資料之圖形顯示器或者映像圖顯 ==;:了對應於已經被選出之資料的資;;將呈醒 目形式而頒示在另一個顯示器上。 本=的另—目的是提出—種資料分析袭置,而利用該 虽攸測試資料的圖形顯示器中選出測試資料的一個 或數個所欲元件時,對應於所選出測試資料元件的位置資 枓將呈醒目形式被顯示在該測試資料的映像圖顯示器上。' 本發明的另—目的是提出_種資料分析裳置,而利用該 當在測試資料的映像圖顯示器中指明位置資料的一 ㈣所選出位置資料元件的測試資 ”才王-生形式被顯示在該測試資料的圖形顯示器上 示實施例的資料分析裝置包含,形顯 叩、,/、將顯示出為顯示主體的資料圖形、一種有關 20 1283034 為蝻不主體之該資料的測試位置的映 及-種圖形元件選擇裝置,而 …、-衣置、以 梦罢AA ^ 系衣置’該圖形顯干哭 衣置的所欲_化資料將被選出 U "頁不裔 之該映# F1链-壯班 有關该荨已選出資料 z央像®顯不裝置上的映射 來。 形式破顯示出 〜不一員她例的 — /ΓΓ刀斫裒置包含一猶闰r日 二器褒置,其將顯示出為顯示主體的資料圖形、 10 15 一不主體之該資料的測試位置的映像圖顯示”置》 ==圖元件選擇裝置’而利用該裝置,該映像圖:: 上的-料二: 利用本發明的第三實施例,第_實施例另包含— 選擇裝置,而利用該資料,該映像_示«置上 :::二?選/,且有關已被選出之該等映射資料的 =开"置的圖形化資料將呈醒目形式被顯示出 該等資料包括測試資料以及根據測試資料而進行之八 析處理所得義處理結果„4。再者,該圖形顯示哭^ 的圖形表示包括圖形形式,例如二維或者三維圖形了例如 散佈圖、線型圖、長條圖、餅狀圖、累積分布圖等。再者, 該映像圖顯示n裝置將把映射形式包括在該映射中, 此歸因於轉元件之實體㈣上的㈣將可被顯示出來: 例如晶圓映像圖、晶粒映像圖等。 20 1283034 弟1圖為一概要圖,其將展示 例; 务月的一例示實;^ 5 炒一弟2圖為一概要圖,其將展示出第 — 螢幕顯示器; ㈤之例示實施例的 罘3圖為一概要圖,其 的顯示器實例; 、、弟2圖之圖形顯示器視窗 10 弟4圖為一概要圖,其為依照第 窗的顯示器實例; ®之映像圖顯示器視 第5圖為一概要圖,其昭 之圖形顯示器部份3Ί0的另—圖之圖形顯示器視窗 示部份510; 、",、不裔'實例’其係展示為顯 第6圖為一概要圖,其昭 15 窗之映…、圖之映像圖顯示器視 开像0顯不态部份410的另一觀_的— 為顯示部份61Q>. 4不益貫例,其係展示 第7圖為一流程圖,其 件選擇裝置的運作;以及…$目實施例之圖形元 第8圖為一流程圖,其將展示出 件選擇裝置的運作。 只㈣之映像圖兀 【實施方式】 施例的詳纟 邮為本發明一例示實施例的資料分析裝置100(用於半導 體測試)方塊圖將顯示於第 、昂1圖中。貧料分析裝置100將備 20 1283034 置控制器114、顯示器12〇、記憶體11〇、以及輸入裝置 112颁不裔12〇包括一顯示裝i,例如㈤或液晶顯示 )專並且將接收來自控制器^4的顯示資料。記憶體 110具有暫犄纪憶體裝置(例如依電記憶體裝置)及/或一 5水久記憶體裝置(例如硬碟等),且係由控制器114來控制。 輛入衣置Ί12具有一指標裝置(例如滑鼠等及/或一鐽盤), 且將傳送來自操作者的資料輸入或者指標裝置所進行的指 令輸入到控制部份。該控制器將根據輸入裝置⑴及/或記 憶體m的資料或者指令來進行處理動作,並且在顯示器 10 1 20上顯示出該等結果。 顯示器m將另備置圖形顯示器褒置m以及映像圖 顯示器裝置124。圖形顯示器裝置122具備將為顯示主體 之資料顯示在所欲類型圖形上的功能。例如,所顯示的 等圖形類型包括散佈圖、線型圖、長條圖、餅狀圖、累積 15 分布圖等。 ^、 映像圖顯示器裝置124具備將為顯示主體之資料映射 在實體位置上的功能。所顯示出的該等映像圖包括晶圓映 像圖、晶粒映像圖等。 控制器m另具有圖形元件選擇裝置m以及映像圖 元件選擇裝置118。圖形元件選擇裝置m具備選出已: 由圖形顯示器裝置122根據操作者運作而針對輪入裝^ 112以及記憶體·^來進行圖形化之_個或多個顯示元件 的功能。再者,它亦具備對圖形顯示器裝置122傳送指人 1283034 的功能,而該等指令係以醒目形式顯示出來,以便能從盆 他元件中區分出已經選出的元件。 〃、 例如,本文中所使用的用語”呈醒目形式顯示"表示的是 一種顯示方法m使料已_出的元_從其他元 件中區分出來,且它包括以不同的顏色來顯示、以原始顯 不顏色的相反顏色來顯示、或者以不同於其他型樣的一種 ^會型樣來顯示,例如利用明暗法來顯示,或者利用條紋 型樣或斑點型樣顯示。 10 15 20 映像圖元件選擇裝置m具備選出—個或多個映像圖 兀件的功能,其已經由映像圖顯示器裝置Ί24根據操作者 運作而針對輸入褒置112以及記憶體11〇來進行映射。再 者’它亦具備對映像圖顯示器裝置124傳送指令的功能, 而該等指令係以醒目形式顯示出來,以便能從其他元件中 區分出已經選出的元件。 將利用第2圖到第6圖來解說資料分析裝置⑽的運 作。第2圖將展示出本發明完整螢幕顯示器的概要。圖形 顯不器視窗212係由圖形顯示器裝置122顯示出來,映像 圖顯示器視窗2!4係由映像圖顯示器裝置m顯示 ^空制資料分析裝置100之各個其他功能運作的控制台視 由別將被顯示在螢幕2〇〇上,其係由顯示器⑽ CRT或液晶顯示器上。 < 藉著進行展示’該控制台視窗顯示出來做為一分別視 窗’但熟知技藝者將可以想像多種不同形式的控制台視 10 !283〇34 窗, 式等 包括結合圖形gp + %、B # 人,、、貝不态視窗以及映像圖顯示器視窗的形 第3圖所不,圖形顯示器裝置训以及用以進行多種 不同運作的按紐32〇肖322將被顯示在圖形顯示器視窗 212上。散佈圖將被顯示為圖形顯示器裝置31〇上的—實 此政佈圖中的空白圓圈(例如312與3⑽表示的是資 料直線314表示岐回歸曲線。順帶—提地,此榮幕 為貝例。散佈圖未必代表回歸曲線。 10 15 如第4圖所示’映像圖顯示器裝置训以及用以進行多 =不同運作的按紐422與424將被顯示在映像圖顯示器視 ®叫上。於此’晶圓映像圖係被顯示為映像圖顯示界穿 置410上的一實例。在圖形顯示器視窗⑴上具有顯:資 枓的晶粒將被顯示為晶圓412上具有斑點顯示(例如叫與 爛的晶粒。而並未具有顯示資料的晶粒則被顯示為空白 晶粒(例如4Ί6)。 將利用第!圖到第6圖來解說本發明的運作。操作者決 定要根據針對最初被抽取出之資料的圖形化以及映射q 而在第2圖的螢幕上顯示第3圖與第4圖。在此,操作者 將對映像圖顯示器中資料的位置資訊有興趣,其係對應於 2〇第3圖圖形顯示器中掉落的三個資料點316。如此—來, 操作者將拖矣滑氣而利用區域規袼來選出該等3個資料點 316。在此區域中可以包括—個或多個資料點。此種區域規 格方法將使用已知的視窗運作方法。例如,各種不同的輸 11 1283034 方法亦可用來作為替代的輸入方法 選資料而同時壓住鍵盤上的控制鍵等。4貝科、點 將針區域規格’第1射_元件選擇裝置6 及該指標裝置的指令位置等,並且料以 脾舻栌兮― I且田口亥α既正被拖曳時, =據_結果來控制_顯示器裝置122以顯示一矩形 品知、的邊界318。操作者將完成拖曳、、典臼 ^ 肝70成把曳α乳,且圖形元件選 衣6將控制圖形顯示器裝置⑶以使已經被區 心明之該區域中的資料能呈醒目形式而顯示出來,而使它 ::::為第5圖中的資料點512。再者,圖形元件選擇 故置m此時將控制映像圖顯示器裝置m,如第6圖所 示,而對應於所選出之該等3個資料點512的晶粒,即在 此針對3個貧料點512而已被判定出的2個晶粒61 8將利 用明暗型樣呈醒目形式顯示出來。 附帶一提,已經使用-種明暗型樣而於第5圖以及第6 圖中呈_形式顯示出來,但不用多說的是,熟知技藝者 可以如則所述地替代使用多種不同的方法。 上述運作係顯示在第7圖中作為圖形元件選擇裝置116 的-流程圖。圖形元件選擇裝置m將判定是否在圖形顯 不器視窗212(步驟702)已經有區域選擇,且如果有區域選 擇(YES)的話’區域規格中的所有顯示資料將呈醒目形式顯 不出來以作為已經選出的資料(步驟7 Q 4 ),且對應於已經被 選出資料的顯示資料將呈醒目形式顯示在映像圖顯示器視 入 5 10 15 20 12 1283034 ύ 214(步‘ 706)中。如果並沒有區域選擇(N〇)的話,在步 驟702並不會進行任何動作。 因此,藉著使用本發明,操作者便可以㈣地知道晶圓 、=圖為☆中的晶粒位置,其係對應於該圖形所顯示之 有中產生問題的圖形顯示器元件,且因此可在半導體製 私分析的過程中有效地解決問題,尤其是瑕藏分析。 。將針對此種狀況來解釋資料分析裝置1〇〇的運作,其中 ^乍者可月b心知迢圖形顯示資料對應於顯示在晶圓映像圖 10 上之數個晶粒的分散狀況。操作者將決定要顯示第3圖鱼 ^圖,其將根據針對最初抽取出之資料進行圖形化以及 映射的結果而顯示在第2圖的螢幕上。操作者將選出第4 I中9 2们日日粒418作為操作者希望知道對應圖形顯示哭 7刀散狀況的晶粒。為了選屮 5 兮區诚φ沾士麵粒,將拖矣滑鼠以包括 中的主肢晶粒。在此項拖曳動作中,矩形的邊界將 乂間斷線420顯不在晶圓映像圖41〇上。操作者將完成拖 矣該滑氣並且確認該項選擇。已經被選出的該等2個晶粒 =用明日曰型樣而呈醒目形式顯示出來,例如 之 兀件618所示。 如先前實例所指出地,可能可以使用各種 20 法來指明該等晶粒。 乃 映像圖元件選擇裝置m此時將控制圖形顯示哭穿置 2^,如弟5圓所示,且將利用—種明暗型樣而呈醒目形式 來喊不出針對2個已經選出晶粒6ϊδ ' 在此為3個資料點5Ί2卜 “式的謂即 13 1283034 上述運作將顯示於第8圖中以作為映像圖元件選擇裝 置1 18的流程圖。 映像圖元件選擇裝置118將判定是否在映像圖顯示器 視窗214(步驟802)已經有區域選擇,且如果有區域選擇 5 (丫ES)的話,區域規格中的所有顯示資料將呈醒目形式顯示 出來作為已經選出的資料(步驟804),且對應於已經被選出 資料的顯示資料將呈醒目形式而顯示在圖形顯示器視窗 21 2(步驟806)中。再者,如果並沒有區域選擇(NO)的話, 在步驟802並不會進行任何動作。 10 以上已經說明了本發明的實施例。利用上述的實施例, 當操作者已經完成選出圖形顯示器裝置上的所欲資料時, 或者已經完成選出映像圖顯示器裝置上的所欲映像圖顯示 器元件時,位置顯示裝置或者圖形顯示器裝置上的對應元 件將立即以回應方式而呈醒目形式顯示出來。相對於此, 15 利用不同的實施例,一旦已經完成了上述的選擇,當用以 在顯示裝置中顯示更新(renewal)的UPDATE(更新)按鈕 (320或422)被壓下時,便可進行對應於另一個顯示裝置之 顯示器而呈醒目形式的顯示。 如上所述,當使用本發明時,將可以提出一種資料分析 20 裝置,而利用此裝置,便可以容易地知道測試資料相對於 晶圓上之位置傾向的傾向。
I:圖式簡單說明I 第1圖為一概要圖,其將展示出本發明的一例示實施 例; 14 1283034 第2圖為一概要圖,其將展示出第1圖之例示實施例的 螢幕顯示器; 第3圖為一概要圖,其為依照第2圖之圖形顯示器視窗 的顯示器實例; 第4圖為一概要圖,其為依照第2圖之映像圖顯示器視 窗的顯示器實例; 第5圖為一概要圖,其為依照第3圖之圖形顯示器視窗 之圖形顯示器部份310的另一顯示器實例,其係展示為顯 示部份51 0 ; 10 15 第6圖為一概要圖,其為依照第4圖之映像圖顯示器視 窗之映像圖顯示器部份4Ί0的另一顯示器實例,其係展示 為顯示部份610 ; 第7圖為一流程圖,其將展示出第1圖實施例之圖形元 件選擇裝置的運作;以及 第8圖為一流程圖,其將展示出第1圖實施例之映像圖元 件選擇裝置的運作。 【圖式之主要元件代表符號表】 100資料分析裝置 110記憶體 1Ί2輸入裝置 114控制器 116圖形元件選擇裝置 118映像圖元件選擇裝置 120顯示器 122圖形顯示器裝置 124映像圖顯示器裝置 200螢幕 210控制台視窗 212圖形顯示器視窗 214映像圖顯示器視窗 310圖形顯示器裝置 15 1283034
312空白圓圈 424按鈕 314直線 510顯示部份 316資料點 512資料點 318邊界 610顯示部份 320按鈕 6 Ί 8晶粒 322按鈕 702步驟 410映像圖顯示器裝置 704步驟 41 2晶圓 706步驟 414斑點顯示 802步驟 416空白晶粒 804步驟 418晶粒 806步驟 420間斷線 422按鈕
16

Claims (1)

1283034 拾、申請專利範圍: 年岣如修(更)正替換頁 ^—-—一… -.… 第92117283號申請案申請專利範圍修正本95.06.16 1· -顧於半導體測試資料的資料分析裝置,其包含·· -圖形顯示裝置,用以顯示出_資料圖形; 一映像圖顯示裝置,用以顯示出有_資料之-測 試位置的一映像圖; 〜ν么只/广丁吗y!;/ 口;/土义 10 15 20 -部份’而其中該映像圖對應於該資料圖形之該選出部 份的-個部份係呈酉星目形式顯示出來;以及 -映像圖元件選擇裝置,用以選出該資料之該映像 圖勺至乂利而其中该貧料圖形對應於該資料映像 圖之該選出部份的-個部份係呈醒目形式顯示出來。 2.如申請專利範圍第1項之資料 貝#刀析裝置,其中該資料圖 形為從包含下列圖形的一 式:一散佈圖、一摺疊線型圖 .餅狀圖、以及一累積分布圖 • _、、且中遠出的至少一種袼 式: '一勒你 ISI、— 433 ® 線型圖、一長條圖 轉利範圍第1項之f料分析裝置,其中該映像圖 為攸包.下列映像圖的群組中選出的至 晶圓映像圖以及一晶粒映像圖。 。式.- (如申請專利制第彳項之資料分㈣置㈠ =!裝置係藉由指定該圖形上之第-區域來:;: 出忒貢料圖形的該部份 、 置係藉由指定該映像ittTrr元件選擇裝 科映像圖的該部份之動作。弟二區域來執行選出該資 17
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