TWI260093B - Thin film transistor with microlens structure, forming method thereof and TFT display panel comprising thereof - Google Patents
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Description
曰曰 體,且 1260093 五、發明說明(1) 【發明所屬之技術領域】 本务明係有關薄膜電 透鏡結構的薄膜電晶體。 特別是有關於一種有微 【先前技術】 溥膜電晶體除了可 ,也可以作為影像感測器,擷取;::::士的驅動元件 或雷射投影筆其應用包括影印、光筆 •r式電視、自動心ί償= 路互動視訊等功能。 先商子心像機以及網 通^ ’專1¾電晶體液晶顯干哭 示,其中的非晶石夕薄膜u體;;件圖所 Charniei Etch)結構,如第2 f為月通逗蝕刻(Back 光吸收材料,特別是在可見光範=,’因非晶:夕為相當好的 蝕刻結構當作薄膜電晶體光感測器因此:利用此背通道 晶石夕薄膜電晶體感測器的形二需$二取影像二但目前的非 不器製程’因此薄膜電晶體感測:::::晶體顯 •對比 I t田對比值過低,無法彩色 影像丨 p或擷取出品質較佳的 2·當作指紋或掌紋辨識,容易 3·當作互動式電視或監視器的::買錯誤’· 種環境下使用; μ入没備’將無法在各 0632-A50306TWf(5.0) ; AU0404049 ; JASON.ptd 第6頁 1260093 〜^一 五、發明說明(2) 4.對比值過低,造成後段放大 ^, 路分辨信號的困 5 ·因光電流較小所以反應時間較慢 【發明内容】 本發明之實施例係配合薄膜崎、 開=率的製程或反射式薄膜電晶體;C夜晶顯示器目前高 測态上方形成一微透鏡結構聚光,提:“在薄膜電晶體感 的光電流。 阿缚膜電晶體感測器 >本發明之一實施例係提供一種 窀晶體,包括一金屬閘極、一閘極介泰=透鏡結構的薄膜 一源/汲極金屬層以及一微透鏡;金】^、一半導體層、 ,閘極介電層覆蓋該閘極,半雕^ ?極位於一基板上 上,源/沒極金屬層分別覆蓋該極介電層 露出介於該源極^/汲極金屬層間之該=^雕衣面之兩側, 位於露出之該半導體層的上方。^ ^ ~版層,而微透鏡 本發明之實施例亦提供一種呈右 晶體形成方法,包括形成一薄膜電晶體電 I·,電晶體有-半導體層,其兩侧分別為; 層所覆蓋’而露出介於該源極,汲極金屬層;^丰:: 層;以及形成一微透鏡,位於露出之該半導體歧 依據本發明實施例所形成之且右料噯供处" 曰曰 體有如下優點:&之具有被透鏡結構的薄膜電 1.配合目前非晶石夕薄膜電晶體液晶顯示器製程,製裎 0632-A50306TWf(5.0) ; AU0404049 ; JASON.ptd $ 7頁 1260093 五、發明說明(3) 簡單; 2 ·不增加額外成本; 3·有高畫質的影像擷取功能; y 4 ·透過黃光製程及光罩設計可控制光組材料的形狀, 形成各種所需的微透鏡結構; 5 ·反應時間快。 【實施方式】 現請麥照第3圖,其為依據本發明之一實施例之具有 | ,透鏡結構的薄膜電晶體,包括一金屬閘極3 〇 3、一閘钰 介電層305、一半導體層3 〇7、一源/汲極金屬層3〇9以及 一微透鏡3 11 ;金屬閘極3 〇 3位於一基板3 〇 1上,閘極介電 層305覆盍該金屬閘極303,半導體層3〇7位於該閘極介電 層3 0 5上,源/汲極金屬層3 0 9分別覆蓋該半導體層3 〇 7上 表面之兩侧,露出介於該源極/汲極金屬層3 〇 9間之該半 導體層307,而微透鏡311位於露出之該半導體層307的上 方。較佳而言,該半導體層之材質包含石夕,其可以為包含 非晶矽、單晶矽或多晶矽。於一實施例中,係為一非晶 質。 如第3圖β示,該微透鏡31 1與該半導體層3 0 7之間夹 有一護層(passivation layer)310,較佳而言,該微透鏡 3 1 1之材質為一光阻材料。此微透鏡3 1 1可以藉由光阻材料 以旋轉方式塗佈(spin coating)或是以狹缝方式塗佈 (s 1 i t coat i ng),再經軟烤、曝光、顯影及漂白照光後, 0632-A50306TWf(5.0) ; AU0404049 ; JASON.ptd 第8頁 1260093 五、發明説明(4) 幾乎矸以達到透光率大於9 5 %,是一個相當理想的聚光透 鏡,透過此微透鏡3 1 1將外界的光信號放大,可有效地提 昇非晶矽薄膜電晶體感測器的光電流。 舉例而言,形成微透鏡3 1 1之材質可以使用有機光阻 材料,其於微影標準製程之後,若再經過紫外線漂白照光 (UV bleach)及烤爐微烤(〇veri Curing)後,可呈現高穿透 度的壓克力樹酯者即可符合本發明之使用。於本發明之數 個實施例中,我們可以使用例如日本JSR廒商之產品型號 如PC 4 0 3B、PC 41 1、JS100、JS 2 0 0 ····等光阻。 _ 於一實施例中,如第3圖所示,微透鏡3 11與該半導體 層307之間之護層(passivation layer)31〇並非為必要之 條件。例如’當此薄膜電晶體係僅僅作為感測器之用時, 該微透鏡311與該半導體層307係可直接接觸,並不需要護 層(passivation layer)310之存在。但是,如果此電 晶體要當作驅動元件,或是需要具備儲存電容之功能時, 則微透鏡3 11與該半導體層3 0 7之間就可以有一護層此 (passivation 1 ayer)310 ° 曰 率損失的影響,雖然開口率會降低3至5 薄膜電晶體液晶顯示面板的產品應用價 本發明亦提供一種薄膜電晶體液晶顯示面板,包括一 _素陣列,如第4圖所示,該晝素陣列包括—前段感測電 路401以及一後段放大器電路4〇3,前段感測電路4〇1包括 如上逑之具有微透鏡結構的薄膜電晶體&。於此每施例 中’前段感測電路401可置於藍色的晝素\,可^低^開口 ’卻可大幅提昇 0632-A50306TWf(5.0) ; AU0404049 ; JASON.ptd 第9頁
1260093 五、發明說明(5) 曰辦本毛明之實施例亦提供一種具有微透鏡結構的薄膜電 上,开^ ^方去’包括形成一薄膜電晶體於一玻璃基板3 0 1 八,第3圖所示,該薄膜電晶體有一半導體層3 0 7,其兩 二及極金屬層3 0 9所覆蓋,而露出介於該源極 311 ,"、’、麵。層3 〇 9間之該半導體層3 〇 7 ;以及形成一微透鏡 4於路出之該半導體層307上方。較佳而言,該半導 ς島;…含石夕,其可以為包含非晶石夕、單晶石夕或多晶 夕。於一貫施例中,係為一非晶矽材質。 |癱^』再者該具有微迓鏡結構的薄膜電晶體形成方法可f 匕於該微透鏡311與該半導體層30 7之間形成一護層 = = = layer)310,較佳而言,該微透鏡311之材 i材料以(其中成該微透鏡之步驟包括將該光 曰雕 轉力式(spin、sllt coating)塗佈於該薄膜電 =二,/而形成該微透鏡之步驟包括以微影製程控制_ 透鏡的形狀,微影製程包括軟烤(sQftbake)、曝光制⑸ 』fe)、顯影(devel0 ㈣ ent)、硬烤(hardbake)或其 ,„ ^發明之實施例係配合薄膜電晶體液晶顯示器目前古 气:::製程或反射式薄膜電晶體製程,在薄膜電晶體: 測益上方形成一微透鏡結構聚光,収感 的光電流。 门潯胰包日日體感測器 雖然本發明已以較佳實施例揭露如上, :艮=發明,任何熟習此技藝者,在不脫離:發; 和粑圍内,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之^ 0632-A50306TWf(5.0) ; AU0404049 ; JASON.ptd 第10頁 1260093 五、發明說明(6) 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
第11頁 0632-A50306TWf(5.0) ; AU0404049 ; JASON.ptd 1260093 圖式簡單說明 第1圖為薄膜電晶體液晶顯示器之晝素陣列。 第2圖為背通道蝕刻結構的薄膜電晶體。 第3圖為依據本發明之一實施例之具有微透鏡結構的 薄膜電晶體之結構圖。 第4圖為包括第3圖所示具有微透鏡結構的薄膜電晶體 之晝素陣列。 【主要元件符號說明】 3 0 1〜玻璃基板; 鲁 3 0 3〜金屬閘極; 3 0 5〜閘極介電層; 3 0 7〜半導體層; 3 0 9〜源/汲極金屬層; 3 1 1〜微透鏡; 4 0 1〜前段感測電路; 4 0 3〜後段放大器電路;
Tp〜具有微透鏡結構的薄膜電晶體。 ❿
0632-A50306T\Vf(5.0) ; AU0404049 ; JASON.ptd 第12頁
Claims (1)
1260093 六、申請專利範圍 1 · 一種具有微透鏡結構的薄膜電晶體,包括: 一金屬閘極,位於/玻璃基板上; 一閘極介電層,覆蓋該閘極; 一半導體層,位於該閘極介電層上; 侧 二源/沒極金屬層,分別覆蓋該半導體層上表面之兩 路出介於該源極/汲極金屬層間之該半導體層,·以及 一微透鏡,位.於露出之該半導體層的上方。 膜-2曰m利範圍第1項所述之具有微透鏡結構的薄 •'7aa ,,、尹,該微透鏡與該半導體層之間夹有一護屑 "Passivation layer〇。 嘴 膜電3曰:申ί:利J圍第1項所述之具有微透鏡結構的薄 t %日日胜其中,該半導體層之材質包含矽。 〜 膜電4曰:m圍第1項所述之具有微透鏡結構的灌 5二:.微透鏡之材質為-光阻材料。 利二[/所電晶體液晶顯示面板,其係“如申^ R鐘λ返之具有微透鏡結構的薄膜電曰體寻 括: 口構的缚膜電晶體形成方法,包 形成一薄膜電晶體於—破 —半導體層,其兩側分別為源入居該薄膜電晶體有 出介於該源極,没極金屬層間之所覆蓋,而露 形成一微透鏡,位於 孓忒牛¥歧層;以及 7.如申請專利範” 該半導體層上方。 膜電晶體形成方法,其中 述之具有微透鏡結構 該微透鏡與該半導稱的涛 T ’體層之間失 0632-A50306TlVf(5.0) ; AU0404049 ; JASON.ptd 第13 頁 !26〇〇93 ’、、申請專利範圍 口蒦層(passivation layer L如申請專利範圍第6項所述之具有微透鏡結構的薄 联电晶體形成方法,其中,該半導體島之材質為石夕。 9.如申請專利範圍第6項所述之具有微透鏡結構的薄 止笔日日體形成方法,其中,該微透鏡之材質為一光阻材 膜電 光P且 ► 膜電 影製 如申請專利範圍第9項所述之具有微透鏡結構的薄 晶體形成方法,其中,形成該微透鏡之步驟包括^ 材料塗佈於該薄膜電晶體上。 ☆ W 如申請專利範圍第6項所述之具有微透鏡社 晶體形成方法,其中,形成該微透鏡之步驟赵、、, 程控制該微透鏡的形狀。 Μ微
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| Date | Code | Title | Description |
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| MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |