TWI260086B - Chips with embedded electromagnetic compatibility capacitors and related method - Google Patents
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1260086 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係提供一種具有内嵌電磁防護電容的晶片與相 關方法,尤指一種直接在晶片内之偏壓電力線路間設置内 欲式電磁防護電容的晶片與相關方法。 【先前技術】 隨著半導體技術的進步,各種電子系統,像是電腦系統 等等,已經成為現代資訊社會最重要的硬體基礎之一。一 般來說,在電子系統中,會設有一或多個晶片;整合各個 晶片的功能,就能實現電子系統的整體功能。為了提升效 能,現代的晶片會運作於高時脈,以在單位時間内處理更 ❿ 多的資訊,管理/傳輸更大量的資料與訊號。然而,高速、 大量的資訊處理/傳輸也就意味著電子訊號的電氣特性會 極為頻繁地變化;舉例來說,在數位電路中,若要使一電 子訊號在單位時間内攜載更多的數位資料,就要使該電子 訊號的電力位準(像是電流、電壓)更頻繁地變化。而當 晶片要處理/傳輸這些變化頻繁的電子訊號時,往往就會附 帶地產生出高頻的電力干擾與電磁干擾。這些干擾不僅會 影響晶片本身的正常運作,形成雜訊,還容易輻射至電子 1260086 系統之外,影響其他電子系統,或甚至是使用者。因此, 在維持晶片之高速(高時脈)運作效能之際,要如何減少 晶片所產生的電磁干擾,也就成為現代資訊廠商研發的重
如熟悉技術者所知,現代化的晶片中常會集合有數以萬 _ 計(或更多)的電路單元(譬如說是電晶體、放大器,或 是數位電路中的邏輯閘、正反器等等基本電路單元)。各個 電路單元都要連接於偏壓電源,以引用偏壓電源所提供的 電力(像是電流)來驅動電子訊號中的電力位準改變,使 電子訊號能夠攜載資訊/資料,以訊號中不同的電力位準來 代表不同的資料/資訊。舉例來說,在數位電路中,晶片中 的各個電路單元(邏輯閘/正反器等等)會偏壓於一正偏壓 • 電源(其具有一正電壓Vcc)及一地偏壓電源(具有一地 端電壓Vss)之間,當晶片内的某一電路早元A要將一電 子訊號發送至另一電路單元B時,電路單元A會將電路單 元B視為一負載(像是一電容性負載),電路單元A汲取 正偏壓電源所提供的電力來注入至電路單元B,在電路單 元B建立起足夠高的電力位準,就能向電路單元B發出一 數位「1」;相對地,若電路單元A汲取地偏壓電源所提供 的電力來抽走電路單元B的電力位準,就可使電路單元B 1260086 的電力位準降低至某一程度,以向電路單元B發出一數位 「0」。 由於晶片中具有許多的電路單元,各個電路單元在同一 時間内向各偏壓電源汲取電力,就會對偏壓電源造成極大 的供電負荷;在高速/高時脈的晶片運作時,各個電路單元 φ 更會頻繁地改變其所汲取的電力以傳輸/處理高頻訊號。這 樣一來,就會進一步使偏壓電源的供電負荷頻繁地劇烈變 化,這也就導致了電力驟變(像是電源反彈/地端反彈, power bounce/ground bounce ),導致偏壓電壓與電流不穩 定,形成電力干擾。此種電力干擾不僅會影響各個電路單 元的正常運作,形成電子訊號中的雜訊,還會耦合至晶片 的連外訊號線,將此電力干擾傳播至其他的晶片,甚至會 _ 造成高頻的電磁輻射,形成電磁干擾。 為了減抑上述的電力/電磁干擾,習知技術會在晶片外 並接電容,以吸收電力干擾,進而減抑電磁干擾。如熟悉 技術者所知,電子系統中的各晶片都會整合安裝於一電路 板(像是印刷電路板或是主機板),使各晶片能藉由電路板 上的電力佈線連接於各偏壓電源。舉例來說,某一晶片會 經由電路板上的兩組電力佈線分別連接於一正偏壓電源及 1260086 一地偏壓電源^而習知技術就會在這兩組電力佈線間外接 電磁防護電容。當電力驟變發生時,電磁防護電容就可利 用其内儲存的電荷來補償電力驟變,緩和電力驟變的情 形,減抑相關的電力/電磁干擾。為了補償高頻的電力驟 變,此電磁防護電容應該要具有良好的高頻特性(也就是 具有快速的響應),才能快速地因應/補償/濾除劇烈變化的 Φ 電力驟變。 不過’此種外接電磁防護電容的習知技術也有缺點。外 接電磁防護電容是經由電路板上的電力佈線來減抑電力干 擾的,而電力佈線上分佈的等效電阻與電感會與電磁防護 電容連接在一起,影響電磁防護機制的整體高頻特性,減 緩其響應速度,使其不能快速充分地因應劇烈變化的電力 Φ 驟變。另外,外接電磁防護電容需另行加工/焊接才能連接 於電路板上,這樣會增加電子系統生產/製造的時間與成 本,焊點/連接點之強度也會影響整體電子系統的機械可靠 度。 【發明内容】 因此,本發明之主要目的,即在於提供一種在晶片中内 嵌電磁防護電容的技術,在晶片中就近内建嵌入式的電磁 1260086 防護電容,以克服習知技術中因電容外接所導致的種種缺 為了傳輸偏壓電源的電力,晶片内部會設有電力線路的 佈局;而本發明就是在晶片的電力線路佈局間設置内嵌的 電磁防護電容,直接在晶片内部來因應/補償/緩和電力驟 Φ 變,進而減抑電力干擾及電磁干擾。由於本發明係將電磁 防護電容直接設置於晶片中,可大幅地減少電力線路上與 電容相連之等效電阻/電感,使電磁防護電容的高頻特性/ 響應速度不會劣化,能快速地補償高頻的電力驟變。這樣 也就能更有效地減抑電力干擾/電磁干擾。另一方面,本發 明也可盡量減少外接電容的加工時間與成本,增加電子系 統的可靠度。 在本發明之較佳實施例中,可在晶片設計階段時先估計 /模擬其電力驟變/電磁干擾的頻域,估算出電磁防護電容所 應具備的電容值;然後,就可在晶片的電路佈局中實現此 一電磁防護電容。舉例來說’本發明可在晶片内的兩組電 力線路佈局間先設置複數個各具有預設電容值的電容,在 估計出電磁防護之電容值後,再從這些電容中選出一些電 容來組合出所需的電磁防護電容值;將這些被選出的電容 10 1260086 佈局連接於兩電力線路後,就能實現内嵌電磁防護電容(至 於未被選出的電容,則可備而不用,不必連接於電力線路 間)。在實現電容時,本發明可利用具有不同面積的金氧半 電晶體來實現各種不同電容值的電容,各金氧半電晶體的 閘極成為電容的一端,源極/汲極則共同做為電容的另一 端。在現代的晶片製造技術中,應可合理地在晶片内實現 φ 出數十至數百pF ( lpF為兆分之一法拉)的内嵌電磁防護 電容,適當地減抑晶片的電力/電磁干擾。 【實施方式】 請先參考第1圖;第1圖是在一電子系統10中實施典 型之外接式電磁防護電容的配置示意圖。電子系統10中可 具有一或多個晶片,第1圖中則以晶片14做為代表;電子 • 系統10的各個晶片可統一安裝於一電路板12上,使各個 晶片可經由電路板上的佈線來父換訊號、資料’並連接於 各個直流偏壓電源。如前面討論過的,晶片中的各個電路 都需要適當地偏壓才能正確運作,而在第1圖的例子中, 晶片14内就具有兩個偏壓於不同直流偏壓電源的電路區 塊16A及16B。其中,電路區塊16A偏壓於直流偏壓電源 Vccl及Vss (可視為地端)之間,而電路區塊16B則偏壓 於直流偏壓電源Vcc2及Vss之間。這兩個電路區塊中可分 1260086 別設有許多個電路單元(邏輯閘等等);使各個電路區塊 16A、16B中所有的電路單元汲取電力而交換訊號,就能使 各電路區塊16A、16B整合運作,並進一步實現晶片14所 應具備的整體功能,像是訊號處理、資料傳輸管理或是數 據運算等等。 φ 為了使電路區塊16A、16B能汲取各對應偏壓電源所 提供的電力(電流),晶片14内佈局有各個電力線路18A、 18B及18C,這些電力線路可分別經由晶片14上的輸出入 埠(像是輸出入墊/接腳或球座,Γ/Opad/pinorball)外接 於電路板12上的電力佈線19A、19B及19C,以藉由這些 電力佈線來連接於外界的直流偏壓電源Vccl、Vcc2及 Vss。不過,就如前面所提到的,在晶片高速運作期間,由 φ 於偏壓電源的電力負荷會劇烈的變化,就會導致電力驟 變,並演變成電力/電磁干擾。為了緩和這些電力驟變,典 型的技術是在電路板的電力佈線間另行外接電磁防護電 容。像在第1圖中,電力佈線19A、19C間即連接有電容 Cel來當作電磁防護電容,而電力佈線19B、19C間則連接 有電容Ce2來當作電磁防護電容。當各個電力線路上發生 快速/高頻的電力驟變時,這些電容Cel、Ce2應該要能快 速地利用其内儲存的電荷來補償電力驟變,使電力驟變的 1260086 程度趨緩,等效上來說’這些電磁補償電容應在南頻頻域 具有極小的等效阻抗,使電力驟變會優先由這些電容上通 過。舉例來說,當在電力線路18A上發生了電力驟變而有 高頻、劇烈的電流/電壓變化時,電容Cel就會以其内儲存 的電荷加以補償,等效上也就是使這些快速變化的高頻電 流會傾向由電容Ce 1直接傳導至地端的偏壓電源Vss,進 φ 而減少對電路區塊16A的干擾。 然而,第1圖的典型技術還是有缺點。由於其電磁防 護電容是外接於晶片外的,源起於晶片内的干擾要經由晶 片外的電力佈線才能由電磁防護電容吸收/補償,而電力佈 線上的等效電感、電阻就會增加電磁防護電容的南頻阻 抗,使其反應速度降低,無法因應快速、劇烈的電力驟變。 • 像在第1圖的例子中,電力佈線19B上的等效電阻Rc及 等效電感Lc與電力佈線19C上的等效電阻Rs/電感Ls會 與電容Ce2串連在一起,使電容Ce2難以完全發揮電磁防 護的功能。另外,外接電磁防護電容會增加額外的加工時 間與成本,各電容與電路板間的焊點強度也會影響整體電 子裝置的機械可靠度。 請參考第2圖及第3圖;第2圖即為本發明於一電子 1260086 系統20中實現晶片内嵌式電磁防護電容的配置示意圖,第 3圖則不意了本發明内般電磁防護電容的數種貫施例。首 先,如第2圖所示,電子系統20中可利用一電路板22 (像 是一印刷電路板或一主機板)而將一或多個晶片(以晶片 24為代表)整合在一起,使各個晶片能經由電路板上的訊 號及電力佈線而交換資料,汲取電力。各個晶片中可設有 不同偏壓的電路區塊,像在晶片2 4中’就设有電路區塊 26A及26B,電路區塊26A偏壓於直流偏壓電源Vccl及 Vss之間,電路區塊26B則偏壓於直流偏壓電源Vcc2及 Vss之間。各個電路區塊26A、26B中可分別設有複數個電 路單元(像是邏輯閘、正反器、放大器等等);使各個電路 區塊適當地汲取電力並整合運作,就能實現晶片22的整體 功能。舉例來說,電路區塊26A可以是一邏輯處理核心, _ 用來進行資料處理/數據運算,並主控晶片24的整體運作, 其偏壓電源Vccl可以是較低電壓的偏壓電源;電路區塊 26B則可以是一介面電路,偏壓於電壓較高的偏壓電源 Vcc2,以汲取較強的電力來驅動晶片24的對外訊號發射與 接收。 為了將偏壓電源的電力傳輸至各電路區塊26A及 26B,晶片24中也佈局有電力線路28A、28B及28C,這 14 1260086 些電力線路可以是網狀分佈的電力網格(p〇wer grid)線路, 或者是以半導體層疊架構中的金屬層來實現的電力平面 (Power plane)。這些電力線路28A至28〔可分別經由晶片 24上的輸出入埠(各輸出入埠可以包括一或複數個輸出入 藝/接腳或球座)連接於電路板上的電路佈線,進而連接至 外界的偏壓電源Vccl、VCC2及Vss。 在實現本發明之電磁防護架構時,本發明就可直接將 電磁防護的電容電路内嵌於電子系統的各個晶片中。像在 晶片24中,本發明就可直接在電力線路“八、“^之間設 置了電容電路30A來實現内嵌式電磁防護電容,電力線路 MB、28C間可用電容電路3〇B來實現電磁防護電容,而電 力、、表路28A、28B之間也可設置電容電路3〇c來發揮電磁 •防護的功能。這些電容電路黯至寶可提供電容性阻 抗田各電路區塊26A、26B在運作期間發生了電力驟變 日守,這些電谷電路便能就近吸收/補償這些劇烈變化的電力 驟k ’進而減抑晶片24的電力/電磁干擾。舉例來說,當 在電力線路28A上發生了電力驟變時,電容電路3〇A (及 3〇B)就能快速地以其内儲存的電荷來補償電力驟變,將這 些同頻電力驟變旁路,使其不會直接影響到電路區塊 3〇A、30B的運作,也進—步減抑了可能的電力干擾及電磁 15 1260086 干擾。 相較於第1圖中的典型技術,本發明於第2圖中所實 現的内後式電磁防護電容具有下列優點。在晶片中内嵌電 磁防護電容可避免外接電力佈線上的電阻/電感降低電容 防護電磁的效能與反應速度,使内嵌式的電磁防護電容具 φ 有較佳的高頻響應,能快速地因應高頻的電力驟變。事實 上,就像第2圖中所示,本發明之電容電路30B甚至可内 嵌於電路區塊28B中,以便能更快地就近吸收/補償電路區 塊28B所可能發生的電力驟變。另外,在晶片中内喪電磁 防護電容可以減少電子系統的加工時間與成本,也具有較 高的機械可靠度。 φ 在第3圖中,則示意了本發明在各個電容電路中實現 内嵌式電磁防護電容的各種實施例。舉例來說,各電容電 路中可包含一或多個電容,像在第3圖中,在電力線路28B 及28C之間的電容電路30B就由兩電容C1及C2來形成。 在設計本發明之晶片時,可先對晶片的運作進行模擬分析 (或以試製之晶片進行實測),瞭解電力驟變/電力干擾/電 磁高擾較容易發生於那個頻率(或頻帶)。這樣一來,就可 針對該頻率(頻帶)估算出電磁防護所需的電容值。然後, 16 1260086 就能在各電容電路中實際實現出具有電磁防護電容值的電 容了。 另外,在設計本發明之晶片時,可先在晶片的各個電 容電路中預先設計出多個電容,使各電容各具有預設的電 容值。然後,再對晶片的運作進行模擬分析(或以試製之 Φ 晶片進行實測),暸解電力驟變/電力干擾/電磁干擾的頻 譜,分析電力驟變/電力干擾/電磁干擾較容易發生於那個頻 率(或頻帶),以針對該頻率(頻帶)估算出電磁防護所需 的電容值。接下來,就能在各電容電路所具有的複數個電 容中選出特定的電容來組合出電磁防護所需的電容值,設 計出連線佈局使這些被選出的電容能連接至對應的電力線 路;其他未被選出的電容則可備而不用。這樣一來,就能 • 完成具有内嵌式電磁防護電容的晶片設計與製造/實現。 像在第3圖的實施例中,電容電路30A就採用了金氧 半電晶體所構成的複數個電容;在電容電路30A中,可具 有複數個金氧半電晶體Q(l)至Q(M),各個電晶體之閘極G 做為電容的一端,汲極D與源極S (與基極,base)則連 接為電容的另一端。這樣一來,各電晶體Q(l)至Q (M) 就形成各個具有預設電容值的電容。依據電磁防護所需的 1260086 電容值選出特定的電晶體(電容)時,就可設計特定的佈 局來將這些«體_極0連接至電力線路撒;而沒極 D與源極⑽連接至電力線路28C。其他未被選擇的電晶 體(電容)必實際連接至各電力線路。錢種方式, 就能實現出具有特定電磁防護電容值的電容電路,以發揮 電磁防護㈣能。魏代的晶片製造技術中,應可合理地 在晶片内實現出數十至數百pF(lpF為兆分之—法拉)的 内後電磁防護電容,適當地減抑晶片的電力/電磁干擾。 總結來說,相較於習知或典型的外接式電磁防護電容 配置,本發明係在^中直㈣嵌電磁防護電容。由於晶 片電路之運作是電力/電磁干擾的主因,直接在晶片中設置 内鼓式的電磁防護電容’就能快速地就近因應電力驟變, 減抑電力/電磁干擾。由於電磁防護電容已經内嵌於晶片, 本發明也可大幅減少外接電磁防護電容所f的額外加工時 間與成本,也能增進電子系統的機械耐用程度。 以上所述僅為本發明之較佳實施例,凡依本發明申請專利範 圍所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明之涵蓋範圍。 1260086 【圖式簡單說明】 第1圖為一電子系統中典型外接式電磁防護電容之配置示 意圖。 第2圖為本發明於電子系統之晶片中設置内嵌式電磁防護 電容之配置示意圖。 第3圖為本發明於第2圖之晶片實現内嵌式電磁防護電容 φ 的示意圖。 【主要元件符號說明】 10、20 電子系統 12、22 電路板 14、24晶片 16A-16B > 26A-26B 電路區塊 φ 18A-18C、28A-28C 電力線路 19A-19C 電力佈線 30A-30C 電容電路
Vss、 Vccl-Vcc2 偏壓電源 Cel-Ce2、C1-C2 電容 Lc-Ls 電感 Rc-Rs 電阻 Q(.) 電晶體 D 汲極 s 源極 G 閘極 19
Claims (1)
1260086 十、申請專利範圍: 1. 一種具有内嵌電磁防護電容之晶片,其包含有: 複數個電力線路,每一電力線路用來連接於該晶片外的 一個偏壓電源,以在該晶片與該偏壓電源間傳輸該偏 壓電源提供的電力,以及 至少一電容電路,各電容電路連接於兩對應之電力線路 之間,每一電容電路可於兩對應之電力線路之間提供 一電容性阻抗,用來吸收該兩電力線路間的電力驟 變,以提供電磁防護的功能。 2. 如申請專利範圍第1項之晶片,其中各電容電路包含有 一或複數個電容,各電容的兩端分別連接於一對應之電 力線路。 3. 如申請專利範圍第2項之晶片,其中,各電容係由一對 應之金氧半電晶體所形成,該金氧半電晶體之閘極電連 於一對應之電力線路,而其汲極與源極則電連於另一對 應之電力線路。 20 1260086 4· 一種貫現具有内嵌電磁防, 兒兹丨万邊電各晶片的方法 有: 其包含 於該晶片中實現複數個電力線路 接於该晶片外的一個偏壓電源 電源間傳輸該偏壓電源提供的 ,使每一電力線路可連 ,以在§亥晶片與該偏壓 電力;以及
實現至少一電容電路,使各電 力線路之間,以使每一電容 路之間提供一電容性阻抗, 的電力驟變,提供電磁防護 容電路連接於兩對應之電 電路可於兩對應之電力線 用來吸收該兩電力線路間 的功能。 5·如申請專利範圍第4項之方法,其中, 路時,係包含有: 當實現該電容電
於該晶片上實現複數個電容,使各個 應電容值; 電容具有預設的對 分析該晶片可能產生之電磁干擾,並依據該電磁干擾之 頻譜,以決定出一電磁防護電容值; 於該複數個電容中’選出至少-個電容以使各個被選出 的電容的總電容值與該電磁防護電容餘符;以及 將各個被選出的電容連接於兩對應電力線路之門。 1260086 6·^請專利範圍d項之方法,其t,當實現該複數個 屯4 1於該晶片中實現複數個金氧半電晶體, 各金氧半電晶體可做為一電容。 請專利朗第6項之方法,其中,當使-金氧半電 容的4冑谷時’係使該金氧半電晶體之閉極作為電 二-:而該金氧半電晶體之源極與沒極共同形成電 十一、圖式·· 22
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW094116705A TWI260086B (en) | 2005-05-23 | 2005-05-23 | Chips with embedded electromagnetic compatibility capacitors and related method |
| US11/160,659 US20060267412A1 (en) | 2005-05-23 | 2005-07-05 | Chip with embedded electromagnetic compatibility capacitors and related method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW094116705A TWI260086B (en) | 2005-05-23 | 2005-05-23 | Chips with embedded electromagnetic compatibility capacitors and related method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWI260086B true TWI260086B (en) | 2006-08-11 |
| TW200642070A TW200642070A (en) | 2006-12-01 |
Family
ID=37462436
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW094116705A TWI260086B (en) | 2005-05-23 | 2005-05-23 | Chips with embedded electromagnetic compatibility capacitors and related method |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20060267412A1 (zh) |
| TW (1) | TWI260086B (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9213386B2 (en) * | 2012-10-22 | 2015-12-15 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods and for providing power responsive to a power loss |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6917789B1 (en) * | 1999-10-21 | 2005-07-12 | Broadcom Corporation | Adaptive radio transceiver with an antenna matching circuit |
| US6661634B2 (en) * | 2002-01-08 | 2003-12-09 | Qwest Communications International, Inc. | Digital subscriber line alternating current EMI/RFI broadband noise eliminator |
| US7232733B2 (en) * | 2004-08-23 | 2007-06-19 | Enpirion, Inc. | Method of forming an integrated circuit incorporating higher voltage devices and low voltage devices therein |
-
2005
- 2005-05-23 TW TW094116705A patent/TWI260086B/zh not_active IP Right Cessation
- 2005-07-05 US US11/160,659 patent/US20060267412A1/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW200642070A (en) | 2006-12-01 |
| US20060267412A1 (en) | 2006-11-30 |
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