TWI243745B - Stamper substrate and process for producing the same - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 109
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 50
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 117
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 117
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 78
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 58
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims abstract description 49
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims abstract description 26
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 14
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 90
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 22
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims description 20
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 claims description 16
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 11
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 11
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 11
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 claims description 5
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 4
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 claims description 4
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims 3
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 claims 3
- 229910000640 Fe alloy Inorganic materials 0.000 claims 3
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- 229910000861 Mg alloy Inorganic materials 0.000 claims 3
- 229910001069 Ti alloy Inorganic materials 0.000 claims 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims 3
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims 3
- 238000010422 painting Methods 0.000 claims 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 14
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 14
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 14
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 11
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 9
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 8
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 7
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 238000012552 review Methods 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 6
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 6
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 238000009749 continuous casting Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 4
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 4
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 210000004556 brain Anatomy 0.000 description 3
- 238000005323 electroforming Methods 0.000 description 3
- OFNHPGDEEMZPFG-UHFFFAOYSA-N phosphanylidynenickel Chemical compound [P].[Ni] OFNHPGDEEMZPFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000005496 tempering Methods 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- 210000002784 stomach Anatomy 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 229910018104 Ni-P Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018536 Ni—P Inorganic materials 0.000 description 1
- 241000282376 Panthera tigris Species 0.000 description 1
- QXZUUHYBWMWJHK-UHFFFAOYSA-N [Co].[Ni] Chemical compound [Co].[Ni] QXZUUHYBWMWJHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- QDWJUBJKEHXSMT-UHFFFAOYSA-N boranylidynenickel Chemical compound [Ni]#B QDWJUBJKEHXSMT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 238000005097 cold rolling Methods 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 238000005242 forging Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000005098 hot rolling Methods 0.000 description 1
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- LNOPIUAQISRISI-UHFFFAOYSA-N n'-hydroxy-2-propan-2-ylsulfonylethanimidamide Chemical compound CC(C)S(=O)(=O)CC(N)=NO LNOPIUAQISRISI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000005554 pickling Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 229910052704 radon Inorganic materials 0.000 description 1
- SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N radon atom Chemical compound [Rn] SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/26—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
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- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/04—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
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- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
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- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C45/00—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
- B29C45/17—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C45/26—Moulds
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1243745 (1) 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關用來製造供大量複製CD (光碟)、 D V D (多樣化數位光碟)等光碟的模板的模板用基板及該 模板用基板之製造方法。 【先前技術】 於CD或DVD等光碟形成用來記錄信號的亞微米大 小的凹區。因此,模板用基板的表面要求有極高平坦度。 爲滿足此要求,歷來藉由使用電鍍法於鏡面磨光的玻璃基 板表面成長鎳膜,製造平坦度高的模板用基板。 然而,模板用基板的厚度一般爲3 0 0 // m左右。因此 ,使用電鍍法成長鎳膜以製造鎳製模板用基板的方法用來 將鎳膜成長至模板用基板的厚度即3 0 0 // m左右所耗電力 過大,從製造成本的觀點看來不佳。又由於因電鍍而產生 廢液’從廢液處理成本增加的觀點及環保的觀點看來亦不 佳。 因此’爲削減製造成本,提議將金屬板,例如將藉由 輥軋製造的鎳或鎳合金製軋板(下稱Ni軋板)裁出預定 大小,藉由磨光製造模板用基板的方法。 例如’於專利文獻1揭示使用N i軋板作爲模板用基 板’對表面進行化學機械磨光處理的模板用基板之製造方 & ^又’於專利文獻2揭示對自盤卷狀帶鋼材料衝裁而成 0勺金屬材料進行化學機械磨光處理的模板用基板之製造方 -5- Ι2Γ43745 (2) 法。 專利文獻1 :日本特開2 002 — 3 5 5 7 49號公報 專利文獻2 :日本特開2 0 0 1 — 2 8 3 4 7 5號公報 【發明內容】 此種金屬板通常經由冷軋及退火製造。於經過此製程 的金屬板中有如下問題。 於材料內部存在非金屬夾雜物,此部分成露出金屬板 表面的狀態。由於非金屬夾雜物的電導度低,故在對金屬 板施以電鍍處理情形下,發生鍍層未附著的缺陷,即所謂 針孔缺陷。由於發生針孔缺陷,電鍍表面的表面粗糙度粗 ,與母材間的密貼力弱,故在極端情形下,有於磨光處理 中發生電鍍層剝離之虞。 通常,會於藉由輥軋製造的金屬板上發生殘留應力。 因此,在僅磨光單面情形下,會有表裏兩面的殘留應力平 衡性不均一,於金屬板出現極大翹曲的問題。爲抑制此翹 曲,較佳的是盡可能抑低回火輥軋的壓下率,藉由使用張 力校平器等均一化輥軋時的壓力。然而,僅採上述對應措 施難以抑制施以金屬板表面的磨光處理後發生的翹曲。 又,於模板用基板的製程中,爲了進行表面磨光,須 將金屬板固定於平台上。於CD、DV D等射出成型時亦相 同。在固定金屬板於平台情形下,通常吸附並固定金屬板 於平台的表面。因此,內含於金屬板完全無翹曲情形下, 難以在磨光處理後自平台脫離,另一方面,在金屬板的翹 -6- (3) 1243745 曲過大情形下,難以吸附於平台的問題。 再者,如專利文獻1所揭露,爲了抑制磨光處理前的 模板用基板的製造成本,較佳的是僅自藉由輥軋製造的 N i軋板裁出預定大小,轉而磨光處理。然而,相對於藉 由輥軋製造的Ni軋板的板厚誤差亙全長爲± ] 〇 %左右, , 對模板要求的板厚誤差爲± 2 %左右。由於對模板用基板 〜 亦要求相同精度,故有難以亙N i軋板全長用來作爲模板 用基板的問題。 Φ 亦即,如第1圖所示,發生於N i軋板的部分a,厚 度dl爲310//m’相對地,於部分B,厚度d2爲300//m的 情形。於此情形下,假定模板用基板所要求的板厚爲3 0 0 // m,表裏兩面的磨光分爲1 〇 # m,於磨光處理前裁出的 N i軋板的厚度即須爲包含磨光分的3 1 0 // m。因此,縱然 可由部分A製作滿足要求(亦即,厚度300#;^,板厚容 許誤差± 2 % )的模板用基板,卻無法由部分]g製作滿足 要求的模板用基板。在如此自一片(或一卷)Ni軋板的 β 不同部位裁出複數片基板情形下,僅能由自特定部位裁出 的基板製作滿足要求的模板用基板,要維持高製造良率很 困難。 一 本發明是有鑑於此情形而硏創的技術,其目的在於提 - 供藉由防止因非金屬夾雜物而於金屬電鍍時發生針孔缺陷 ,可高度維持磨光處理後的表面平坦度的模板用基板及模 板用基板之製造方法。 又,本發明的目的在於提供藉由於金屬板發生適度翹 -7- (4) , 1243745 曲’容易在磨光處理後脫離平台,並可確實進行對平台的 吸附的模板用基板及模板用基板之製造方法。 再者’本發明的目的在於提供可使用金屬軋板全體作 爲模板用基板的材料,可維持高製造良率的模板用基板之 製造方法。 / 爲達成上述目的,第1發明的模板用基板的特徵在於 \ 對板材的表面或裏面,或對表裏兩面施以塗裝。 Φ 第1發明的模板用基板可使用電鑄電鍍法,寧不形成 金屬電鍍厚膜而使塗膜的厚度很薄。因此,可減少耗電及 製造所需時間,可減低製造成本。 又,於第1發明中,第2發明的模板用基板的特徵在 於:前述板材爲金屬板。 桌2發明的模板用基板的板材爲金屬板,可使用電鑄 電鍍法’寧不形成金屬電鍍厚膜而使金屬電鍍厚的厚度很 薄。因此,可減少.耗電、製造所需時間,可減少有關電鍍 · 的消耗品的使用量等,可減輕製造成本。 又,於第2發明中,第3發明的模板用基板的特徵在於 :前述板材的非金屬夾雜物的淸淨度在0.05%以下。 ‘ 弟3發明的丨旲板用基板表不存在於金屬板中的非金屬 - 夾雜物的存在重量比率的淸淨度在0.05%以下。n此,可· 減小非金屬夾雜物露出表面的可能性,可防止在^ &胃|度 情形下發生針孔缺陷。 又,於第1發明至第3發明的任一發明中,n 4胃曰月 (6) 1243745 小,對裁出預定大小的金屬軋板的表面或裏面,或對表裏 兩面施以金屬電鍍’進行磨光處理。 第7發明及第8發明的模板用基板之製造方法利用金 屬電鍍微調藉由輥軋製造的金屬軋板的板厚。由於在施以 磨光處理之前調整板厚,故可藉由對金屬軋板施以磨光處 理,防止板厚不足而無法使用的部分發生的事態於未然, 可維持高製造良率。又,可使用電鑄電鍍法,寧不形成金 屬電鍍厚膜而使塗膜的厚度很薄。因此,可減少耗電、製 膜所需時間,減少有關電鍍的消耗品的使用量等,亦可減 輕製造成本。 又,於第7發明或第8發明中,第9發明的模板用基 板之製造方法的特徵在於:於輥軋前述金屬軋板之際設定 來作爲目標的板厚較磨光處理結束時所要求板厚(典型的 是對模板用基板所要求的板厚)加上磨光分的厚度更薄。 第9發明的模板用基板之製造方法可亙金屬軋板全長 製作滿足要求的模板用基板,可維持高製造良率。如前述 ,藉由輥軋製造的金屬軋板的板厚誤差亦達到1卷全體土 1 〇 %左右。於此情形下,若以模板用基板所要求的板厚加 上磨光分的板厚作爲目標予以輥軋,即可能出現過薄部分 ,亦可能出現過厚部分。 例如在所要求模板用基板的板厚爲3 〇〇 # m,磨光處 理 的磨光分爲]〇 V m情形下,可製造3丨〇 v 的金屬軋板。 然而,在以J m爲目標_乾情形下,會例如在2 8 〇 ν m - 10 - (7) 1243745 至3 4 Ο μ m之間出現板厚的誤差。亦即,於第]圖的金屬軋 板1的部分B的厚度d 2很薄,無法確保目標板厚。因此, 在板厚過薄情形下,藉由施以電鍍’添加電鍍層,可彌補 板厚的不足分。例如在自金屬軋板的任意部分切出的基板 的厚度爲290 μ m情形下,藉由於基板的表裏面平均施以 1 0 // m的電鍍,可彌補板厚的不足分。 然而,在板厚過厚情形下,須施以磨光處理迄達到所 要求板厚爲止。從成本面、作業時間面看來,藉由磨光處 理大幅削減板厚亦很不利。因此,爲了減少或消除過厚板 厚發生的部分,較佳的是將目標板厚設定成很薄。 到底設定薄到哪種程度可考慮輥軋時發生的板厚誤差 或發生槪率來決定。亦即,可設定輥軋時的目標厚度,俾 在板厚沿厚度方向(正値方向)發生板厚誤差情形下的金 屬軋板的板厚與前述模板用基板的板厚加上磨光分的板厚 相等。 又,於第7發明至第9發明的任一發明中,第10發明的 模板用基板之製造方法的特徵在於:對金屬軋板的表面或 裏面,或表裏兩面所施金屬電鍍的合計厚度爲自磨光處理 結束時所要求厚度加上前述磨光處理的磨光分的厚度減去 前述金屬軋板厚度的厚度。 第1 〇發明的模板用基板之製造方法可亙金屬軋板的全 長調整厚度。因此,不管從金屬軋板的哪一處切出均可製 作滿足要求的模板用基板,可維持高製造良率。 又,於第7發明至第]0發明的任一發明中,第1 1發明 -11 - (8) (8)1243745 的模板用基板之製造方法的特徵在於:對金屬軋板的表面 或裏面’或表裏兩面所施金屬電鍍的主要成分與前述金屬 相同。 第1 1發明的模板用基板之製造方法藉由使用與金屬軋 板的金屬材料相同的金屬材料,使在利用所製作模板用基 板於光碟成形時影響模板用基板的熱物理特性相同。因此 不易發生電鍍膜的剝離等,可維持更高的模板用基板的可 靠性。 又’於第7發明至第1 1發明的任一發明中,第I 2發明 的模板用基板之製造方法的特徵在於:前述金屬以鎳、鈦 、鐵、銅、鋁中至少一種作爲主要成分。 第1 2發明的模板用基板之製造方法可望藉由使用此金 屬材料及金屬電鍍膜而有上述效果。 發明效果 根據第1發明、第2發明或第6發明的模板用基板,可 使用電纟著電鍍法,寧不形成金屬電鍍厚膜而使塗膜(金屬 電鍍膜)的厚度很薄。因此,可減少耗電及製造所需時間 ,可減輕製造成本。 根據桌3發明的丨吴板用基板,可減低非金屬夾雜物露 出表面的可能性,可防止因施以金屬電鍍而發生針孔缺陷 於未然。 根據第4發明的模板用基板,可容易進行將夾具等插 入金屬板與平台之間,卸下金屬板的事宜。 根據第5發明的模板用基板,藉由使用此金屬材料及 -12 - (9) 1243745 金屬電鍍膜,可望有上述效果。 根據第7發明或第8發明的模板用基板之製造方法, 由於在施以磨光處理之前藉由金屬電鍍調整藉由輥軋製造 的金屬軋板的板厚,故可藉由對金屬軋板施以磨光處理, 防止板厚不足而無法使用的部分發生的事態於未然,可維 持高製造良率。又由於可使用電鑄電鍍法於模板用基板, 寧不形成金屬電鍍厚膜而使電鍍膜的厚度很薄,故可減少 耗電,亦可減輕製造成本。 又,根據第9發明的模板用基板之製造方法,可亙金 屬軋板全長製作滿足要求的模板用基板,可維持高製造良 率。 又,根據第1 0發明的模板用基板之製造方法,由於可 亙金屬軋板的全長調整厚度,故不管從金屬軋板的哪一處 切出均可製作滿足要求的模板用基板,可維持高製造良率 〇 又,根據第1 1發明的模板用基板之製造方法,由於藉 由使用與金屬軋板的金屬材料相同的金屬材料,使在利用 所製作模板用基板於光碟成形時影響模板用基板的熱物理 特性相同,故不易發生電鍍膜的剝離等,可維持更高的模 板用基板的可靠性。 又,根據第12發明的模板用基板之製造方法,藉由使 用此金屬材料及金屬電鍍膜,可望有上述效果。 【實施方式】 (10) 1243745 以下根據圖示本發明實施形態的圖面對其具體加以說 明。板材的材質並未特別限定’可爲就塗膜的緊貼性而言 能確保在塗裝處理後的磨光處理程序中不會剝離的程度的 緊貼性的材質。且,塗裝方法可爲金屬電鍍、沉積、層疊 等板材間的緊貼性良好的任何方法。 又,較佳的是該板材爲金屬板,使用藉由後述輥軋處 理製造的軋板,例如使用N i軋板。且,此外可使用鈦、 鐵、銅、鋁等作爲軋板的材料,又,亦可例如爲不銹鋼的 合金。
Ni軋板藉由例如在以下條件下軋製。在熔解金屬鎳 後,藉由連續鑄造形成1 5 Onim厚的扁錠,將該扁錠熱軋成4 誦厚。進一步在7 2 0 °C的退火後酸洗,於除去表面的氧化 垢後,冷軋至0.3酬的厚度,於72 CTC下退火。再者,於板 的翹曲構成問題情形下,可賦與2 %以下的拉伸,或可施 加1 %以下的輕軋。 藉由上述製造方法捲成長度數m至數十m,寬度1 m 至2 ni的卷材的Ni軋板具有沿長度方向及寬度方向± 1 〇% 左右的板厚分布。 藉由對如此製造的Ni軋板進行利用周知的機械加工 切出等的處理,匹配用來大量複製例如CD或DVD等光 碟的模板,加工成具有直徑D =約1 6 0酬的圓盤狀。於第2 (a )中圖示具有直徑D = 1 6 0誦的圓盤狀的N i軋板1的截 面圖。且在作爲模板用基板的直徑D二1 6 0麵的範圍內板 厚大致均一。 -14- (11) 1243745 其次,如第2 ( b )的截面圖所示,對加工成具有直徑 D = 1 60ηιπι的圓盤狀的Ni軋板1施以Ni或Ni合金的電鍍 。就電鍍程序而言,首先,將加工成圓盤狀的Ni軋板掛 在以鋼絲製作的鉤上,施以電鍍前置處理的轉化處理。該 轉化處理在例如使用丙酮的脫脂處理後,進行浸漬於體積 〃 濃度5 %的氫氧化鈉水溶液中數秒,接連浸瀆於體積濃度5 ' %的鹽酸溶液中數秒的處理。 在以純水將施以該轉化處理的加工成圓盤狀的N i軋 鲁 板沖淨之後,進行以下詳述的電鍍處理。就用於電鍍處理 的電鍍浴而言,並未特別限定於特殊浴,可使用一般電鍍 浴。在例如施以Ni電鍍情形下,使用氨基磺酸浴或瓦特 浴,在施以Ni合金電鍍情形下,使用NiP (鎳磷)合金 電鍍浴。 該電鍍浴在例如施以NiP合金電鍍情形下,使用化學 上穩定的 SU S3 16鋼等的電鍍槽,以設於槽內的蒸汽盤管 或電加熱器等加熱至預定溫度(通常7〇°C至90°C )。且, β 爲了保持電鍍浴組成及溫度恒定,較佳的是使用泵循環或 攪拌器等經常攪拌槽內。 然後,在施以上述轉化處理的圓盤狀Ni軋板掛在鉤 ‘ 上狀態下,垂入電鍍槽內,浸漬於電鍍浴,估計電鍍層2 - 達到預定厚度的時間拉起。由於在無電解進行成膜的NiP 合金電鍍情形下,電鍍成膜的厚度與浸漬於電鍍浴的時間 成正比,故若例如在8 0 °C下電鍍時的成膜速度爲]2 # m / 1小時,即可藉由浸漬於電鍍浴中5分鐘,在表裏兩面形成 -15- (12) 1243745 各l # 的電鍍層2。 估計磨光分來決定電鍍層2的厚度。依照必要的電鍍 層2的厚度決定將加工成圓盤狀的Ni軋板1浸漬於電鍍浴 的時間。 且,較佳的是以具有與金屬軋板相等的線膨脹係數的 金屬材料或合金的電鍍作爲電鍍層2。可減輕在使用由此 材質施以電鍍的模板用基板製作的模板製造光碟之際,因 金屬軋板與電鍍層2的熱物理特性不同所造成的電鍍層的 剝離等麻煩。典型地,可施以與金屬軋板的金屬材料的成 分相同的金屬電鍍或主要成分相同的合金電鍍。例如,對 N i軋板較佳的是鎳鍍層,或鎳磷、鎳硼、鎳鈷等鎳合金 鍍層。且在磨光處理時剝離等發生的可能性很小情形下, 電鍍層的成分並未特別限定,可藉由沉積等方法進行塗裝 ’亦可耢由層璺%方法形成塗層。 於金屬材料中通常存在有缺乏導電性且使與電鍍液間 的濡濕性大幅降低的非金屬夾雜物。因此,在對此金屬材 料所構成金屬板表面施以電鍍處理情形下,會發生稱之爲 所謂針孔的未形成電鍍層的部分。於發生針孔情形下,即 使對施以電鍍處理的表面施以後述表面磨光處理,表面粗 糙度仍然不會十分低。由於難以形成信號記錄時的點,無 法作爲圖型來使用,故須防止針孔的發生於未然。 因此’以下舉純鎳金屬材料爲一例子來檢驗對施以電 鍍處理的表面施以後述表面磨光處理情形下的表面粗糙度 如何對應非金屬夾雜物存在於金屬材料中的重量比的淸淨 -16 - (13) 1243745 度變動。 自以電爐溶解純鎳後藉由連續鑄造的扁錠採取每一淸 淨度的表面粗縫度檢討用試料。爲改變非金屬夾雜物存在 的重量比的淸淨度’自藉由連續鑄造的扁錠的上面附近、 中央附近、最後凝固位置附近的3個部位採取檢討用試料 。於扁銳的最後凝固位置附近,非金屬夾雜物的濃度提高 ,淸淨度提高(越高,非金屬夾雜物的存在比率越高)。 於扁銳的中央附近,由於進行穩定的凝固,故相較於最後 凝固位置附近,非金屬夾雜物的濃度降低,淸淨度降低( 越低’非金屬夾雜物的存在比率越低)。 其次’自於藉由連續鑄造製造的扁錠的縱長方向的中 央附近採取的檢討用試料進一步採取爲減低非金屬夾雜物 的濃度而用於二次熔解的扁錠。具體而言,採取直徑丨0 0 麵、長度200画的檢討用試料,於真空中施以VAR熔解.( 電弧熔解)。 藉由對施以VAR熔解後的檢討用試料以及自藉由連 續鑄造的扁錠的上面附近、中央附近、最後凝固位置附近 3個部位採取的檢討用試料的4個試料熱鍛造,製造厚度 6 0 _、寬度1 0 0酬的熱軋扁錠。然後,在加熱至1 2 0 0度之 後,藉由熱軋形成4腦的厚度,採取熱軋板作爲檢討用試 料0 採用來作爲檢討用試料的熱軋板於以7 5 0度退火後, 藉由溶融鹽及酸洗,除去表面所生積垢。此後,在對厚度 1麵施以7 5 0度的製程退火之後,藉由冷軋,形成〇. 95画]厚 - 17- (14) 1243745
在施以冷軋狀態下,將4個試料切成直徑]6 〇 mm的圓 盤狀,施以磨光處理。就磨光處理後的試料採取半徑的大 約2分之1,亦即距中心部約80腦之一試料作爲試驗片, 使用原子鍵力顯微鏡測定表面粗縫度。於表面粗縫度測定 時,以1 0 0 // m X 1 0 0 // m的範圍作爲攝影對象,就平均粗 糕度(R a )超過1 0 n m (奈米)的試驗片判斷其磨光性不 佳。(表1 )列示每一試驗片的採取位置、淸淨度、表面 粗糙度的平均値(Ra )、評估,在判定磨光製作不佳情形 下,以X記號標示評估項目。 表1 製造 方法 採取位置 淸淨度 (% ) 磨光後的表面 粗縫度(Ra ) 評估 連續 鑄造 鑄片上面 0.025 4 〇 鑄片中央 0.013 6 〇 最後凝固 位置 0.055 15 X 連續鑄 造 + VAR 熔 解 中央部 0.004 2 〇 且,(表1 )中淸淨度的評估使用·π S (日本工業標 •18- (15) 1243745 準)G0 5 5 5的點算法來實施。由(表u亦可知,試料中 非金屬夾雜物的淸淨度在0· 05 %以下的情形滿足磨光後的 表面粗糙度Ra在10nm以下。其原因在於,於淸淨度在 〇 · 0 5 %以下情形下’金屬板的厚度薄至〇 . 3麵,顯著降低 非金屬夾雜物存在於直徑1 5 0 mm的圓盤表面的可能性。 其次,如第2 ( c )圖的截面圖所示,對藉由調整浸漬 於電鍍浴的時間來調整電鍍層2的厚度的圓盤狀Ni軋板1 進行一般表面磨光處理及裏面磨光處理,或表裏同時進行 磨光處理的兩面磨光處理。於此,裏面磨光處理爲粗磨光 處理即可。因此,使用固定白氧化鋁等磨粒的磨光帶磨光 至表面粗糙度Ra=0.05〜0.1Mm左右。 由於在使用本實施形態的模板用基板製造的光碟上須 形成用來記錄信號的亞微米粒子大小的凹區,故有必要磨 光至無磨光刮痕等殘留的程度。因此,例如使用化學機械 磨光法來進行精磨光,進行無磨光刮痕等殘留的表面精加 工。磨光處理後的最後板厚達到3 00 μ 5 // m左右。 以下,就Ni軋板、對Ni軋板未施以電鍍而施以磨光 處理的板以及對N i軋板施以電鍍後施以磨光處理的板的 三種板比較板厚。又,就對Ni軋板施以電鍍後施以磨光 處理的板評估表面粗糙度。 首先,針對板厚,藉由圓盤狀Ni軋板的質量除以鎳 的比重求得體積,並藉由該體積除以圓形的面積求得平均 厚度,加以評估。使用文獻値的8.9 04 g/ cm 3作爲鎳的比 重c - 19 - (16) 1243745 使用超音波板厚計、分厘卡等計測器測定板厚的分 進行板厚均一性的確認。例如在N i軋板爲D 6 0腿的 盤狀情形下,藉由測定如第3圖的X記號所示隔1 〇酬至 腦間距合計1 7處的板厚,予以確認。 由於表面粗糙度最後須磨光至無磨光刮痕等殘留的 度,故依據表面平坦度及有無刮痕來確認精磨光狀態。 體而言,使用原子鍵力顯微鏡觀察表面形態,同時,評 表面粗糙度Ra。 第4圖是形成於Ni軋板的鎳磷(NiP )合金電鍍膜 截面組織圖。由第4圖可知,電鍍膜以均一厚度成膜於 軋板表面。且第4圖中的電鍍膜是浸漬於電鍍浴中2小時 膜,電鍍膜的厚度達到約24 // m。
第5圖是表示磨光處理前的Ni軋板及未電鍍處理 直接磨光處理Ni軋板情形的板厚分布的圖表。分別地 縱軸表示板厚(A ni ),橫軸表示以圓形的中心爲零的 徑方向的變位(腿)。磨光處理前的Ni軋板的板厚分 如第5圖的〇記號所示爲3 0 5 // 3 // m,可知在直徑D 1 6 0腿的範圍內呈現高均一性。 第5圖的+記號表示對此Ni軋板未電鍍處理而磨 處理後的板厚分布。儘管因磨光處理而出現若干上下浮 ,板厚卻以最大5 // m的誤差爲限。然而,由於磨光表 及裏面的磨光分表裏加起來約1 〇 μ m,故在施以磨光處 情形下,磨光成第5圖的+記號所示板厚,出現板厚較 布 圓 20 程 具 估 的 Ni 的 而 5 直 布 光 動 面 理 曰 取 -20- (17) 1243745 後作爲模板用基板所需3 〇 〇 // md: 5 μ m的範圍(第5圖的斜 線部)更薄的部分,亦即留下無法作爲模板用基板的情形 發生的問題。 第6圖是表示電鍍處理前的n i軋板、對N i軋板施以 電鍍處理後的Ni軋板以及對Ni軋板施以電鍍處理後進行 磨光處理的N i軋板的板厚分布的圖表。如同第5圖,分 別地’縱軸表示板厚(M m ),橫軸表示以圓形的中心爲 零的直徑方向的變位()。雖然第6圖的〇記號表示施 以電鍍處理前的N i軋板的板厚分布,卻爲與第5圖的〇 日己5虎大致相等的3 0 5 // m 士 3 // m,可知在直徑 D = 1 6 0 mn]的 範圍內呈現高均一性。 對此N i軋板估計磨光分〗〇 # m而施以7 # m厚度的電 鍍處理。由於電鍍層形成於N i軋板的表裏兩面,故可對 N i軋板施以3 · 5 // m厚度的電鍍處理。於上述N i P合金電 鍍情形下,將施以轉化處理的Ni軋板浸漬於電鍍浴中1 7 〜18分鐘。第6圖的△記號表示浸漬Ni軋板於電鍍浴後的 板厚分布。如第6圖淸楚顯示,一面維持板厚的均一性, 一面形成電鍍層。 再者,第6圖的X記號表示對N i軋板施以電鍍處理後 施以磨光處理情形下的板厚分布。如同第5圖的+記號, 儘管因磨光處理而出現若干上下浮動,板厚卻以最大5 # m的誤差爲限。又由於施以轉化處理,故電鍍層與Ni軋 板的緊貼性高,看不出會因磨光處理而有局部的剝離。 雖然磨光表面及裏面的磨光分表裏加起來約1 〇 μ m, -21 - (18) 1243745 卻可知在第6圖的x記號情形下,即使施以磨光處理,仍 然涵蓋在最後作爲模板用基板所需3 00 μ m± 5 // m的範圍 (第6圖的斜線部)內,可用來作爲模板用基板。因此, 藉由透過施以電鍍處理增厚切出的基板全體的板厚,不管 其爲自N i軋板的那一部分切出的基板,均可用來作爲模 板用基板。 第7圖是使用化學機械磨光處理對施以電鍍處理的 N i軋板進行表面精加工情形下,N i軋板表面的原子鍵力 顯微鏡像。如第7圖淸楚顯示,Ni軋板表面極平滑,可 知不會發生有在信號記錄時造成故障之虞的磨光刮痕。 且,就表面粗糙度而言,根據原子鍵力顯微鏡像(20 X 2 0 // m 2 )算出算術平均粗糙度Ra,使用本實施形態的 模板用基板的製造方法的Ni軋板的表面粗糙度Ra約爲 0.8 nm,就模板用基板來說,這是充分的表面精加工精度 〇 本實施形態雖然藉由對切成模板大小的金屬軋板的表 裏兩面施以電鍍,設置電鍍層,調整該金屬軋板的厚度’ 不過,即使藉由對表面或裏面的任一面施以電鍍’僅於該 單面設置電鍍層,調整該金屬軋板的厚度’仍可望有相同 效杲。 且在用來作爲模板基板情形下’於母版製作時或碟片 成型時,須將金屬(軋)板固定於金屬模平台上。通常’ 藉由真空吸附法固定於金屬模平台。然而,爲了藉由真空 吸附法將金屬板固定於金屬模平台’於平坦的金屬模平台 ,22_ (19) 1243745 與金屬板之間需要若干空隙。亦即,用來作爲模板基板的 金屬板須在圓板上具有相對於金屬模平台向上凸出的形狀 。亦即,自圓板的中心部相對於金屬模平台向上凸出的部 分除氣,將圓板狀金屬板固定於金屬模平台。本實施形態 藉由賦與金屬板適當的翹曲,獲得相對於金屬模平台向上 凸出的形狀。 然而,即使在賦與金屬板的翹曲小情形下,可藉由真 空吸附法固定於金屬模平台,不過,仍然發生吸附後難以 脫離的問題。因此,調查相對於翹曲的大小,吸附後脫離 的容易度的程度。 具體而言,以在直徑1 60 IM1的外周加工的金屬板一端 固定於金屬模平台情形下金屬模平台與金屬板另一端間的 間隙作爲翹曲的大小,按照翹曲的大小確認是否可藉由真 空吸附法固定於金屬模平台,以及是否可在吸附後脫離。 (表2 )是表示確認每一翹曲大小是否可藉由真空吸附法 固定於金屬模平台,以及是否可在吸附後脫離的結果的表 。於(表2)中,〇記號表示可藉由真空吸附法固定於金 屬模平台以及可在吸附後脫離的要旨,X記號表示無法藉 由真空吸附法固定於金屬模平台以及無法在吸附後脫離的 要旨。 -23- (20) 1243745 [表2]
材料 翹曲(mm ) 吸附性 脫離性 Ni 2 〇 〇 Ni ] 〇 〇 Ni 0.5 〇 〇 Ni 0.2 〇 〇 Ni 0.1 〇 〇 Ni 0.05 〇 X
如(表2 )淸楚顯示,可知於翹曲小於〇.丨誦情形下, 即使在吸附後將氣體注入該間隙,金屬板相對於金屬模平 台向上凸出的部分與金屬模平台間的間隙仍然小於〇 .丨酬 ,難以將夾具等插入間隙,使金屬板脫離。 另一方面,翹曲的上限値爲金屬模平台的平坦度、吸 附力等的性能所左右。透過適當設定回火輥軋、張力校平 器等的條件,賦與金屬板翹曲,藉由對賦與翹曲的金屬板 的表面施以電鍍處理,此後僅磨光處理電鍍部分,就這樣 留下金屬板的翹曲,使脫離性良好。 且,回火輥軋、張力校平器等的條件並未特別限定, 可適當設定回火輥軋的壓下率、潤滑條件、輥徑、上下輥 的周速,還有張力校平器的輥徑、張力等,俾達到本實施 形態所規定的翹_。 【圖式簡單說明】 -24- (21) 1243745 第1圖是習知N i軋板的板厚分布的說明圖。 胃2圖是本發明實施形態的模板用基板的製造方法的 說明圖。 第3圖是N i軋板的板厚分布確認方法的說明圖。 第4圖是形成於Ni軋板的NiP合金電鍍膜的截面組 織圖。 第5圖是表示習知N i軋板的板厚分布的圖表。 第6圖是表示本發明實施形態的N i軋板的板厚分布 的圖表。 第7圖是圖示本發明實施形態的Ni軋板的原子鍵力 顯微鏡像的圖面。 【主要元件符號說明】 1 N i軋板 2 電鍍層
Claims (1)
1243745 ⑴ 私年7月7日修(楚)正本 拾、申請專利範圍 第93 1 1 5476號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國94年7月7日修正 1 · 一種模板用基板,其特徵在於:對板材的表面或裏 面,或對表裏兩面施以塗裝。 2.如申請專利範圍第1項所記載之模板用基板,其中 前述板材爲金屬板。 3 ·如申請專利範圍第2項所記載之模板用基板,其中 前述板材的非金屬夾雜物的清淨度在〇 · 〇 5 %以下。 4 .如申g靑專利範圍第1至3項中任一項所記載之模板用 基板’其中於將前述板材裁出預定的大小情形下,裁出的 板材的翹曲在0.1 mm以上。 5 ·如申請專利範圍第2項所記載之模板用基板,其中 前述板材以純鎳、鎳合金、純鈦、鈦合金、不銹鋼、鐵、 鐵合金、純銅、銅合金、純鋁、鋁合金、純鎂、鎂合金中 至少一種作爲主要成份。 6 ·如申請專利範圍第3項所記載之模板用基板,其中 前述板材以純鎳、鎳合金、純鈦、鈦合金、不銹鋼、鐵、 鐵合金、純銅、銅合金、純鋁、鋁合金、純鎂、鎂合金中 至少一種作爲主要成份。 7 ·如申請專利範圍第4項所記載之模板用基板,其中 前述板材以純鎳、鎳合金、純鈦、鈦合金、不銹鋼、鐵、 鐵合金、純銅、銅合金、純鋁、鋁合金、純鎂、鎂合金中 (2) 1243745 至少一種作爲主要成份。 8 ·如申請專利範圍第1項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 9 .如申請專利範圍第2項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 1 0.如申請專利範圍第3項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 1 1 ·如申請專利範圍第4項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 12. 如申請專利範圍第5項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 13. 如申請專利範圍第6項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 14. 如申請專利範圍第7項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 1 5 . —種模板用基板之製造方法,其特徵在於:輥軋 金屬,形成金屬軋板,將所形成金屬軋板裁出預定大小, 對裁出預定大小的金屬軋板的表面或裏面,或對表裏兩面 施以金屬電鍍,進行磨光處理。 1 6 .如申請專利範圍第1 5項所記載之模板用基板之製 造方法,其中於輥軋前述金屬軋板之際設定作爲目標的板 厚較磨光處理結束時所要求板厚加上磨光分的厚度更薄。 1 7 ·如申請專利範圍第1 5或1 6項所記載之模板用基板 之製造方法,其中對金屬軋板的表面或裏面,或表裏兩面 -2 - (3) (3)1243745 所施金屬電鍍的合計厚度爲自磨光處理結束時所要求厚度 加上前述磨光處理的磨光分厚度減去前述金屬軋板厚度的 厚度。 1 8 ·如申請專利範圍第1 5項所記載之模板用基板之製 造方法’其中對金屬軋板的表面或裏面,或表裏兩面所施 金屬電鍍的主要成分與前述金屬相同。 1 9 ·如申請專利範圍第】6項所記載之模板用基板之製 造方法,其中對金屬軋板的表面或裏面,或表裏兩面所施 金屬電鍍的主要成分與前述金屬相同。 20·如申請專利範圍第17項所記載之模板用基板之製 坦方法,其中對金屬軋板的表面或裏面,或表裏兩面所施 金屬電鍍的主要成分與前述金屬相同。 2 1 .如申g靑專利範圍第丨5項所記載之模板用基板之製 is方法’其中則述金屬以鎳、鈦、鐵、銅、鋁中至少一種 作爲主要成分。 22 .如申g靑專利範圍第〗6項所記載之模板用基板之製 3S方法,其中則述金屬以鎳、鈦、鐵、銅、鋁中至少一種 作爲主要成分。 2 3 ·如申請專利範圍第i 7項所記載之模板用基板之製 造方法,其中前述金屬以鎳、鈦、鐵、銅' 鋁中至少一種 作爲主要成分。 24 .如申請專利範圍第1 8項所記載之模板用基板之製 造方法,其中前述金屬以鎳、鈦、鐵、銅、鋁中至少一種 作爲主要成分。 -3- (4) 1243745 2 5 .如申請專利範圍第1 9項所記載之模板用基板之製 造方法,其中前述金屬以鎳、鈦、鐵、銅、鋁中至少一種 作爲主要成分。 2 6 .如申請專利範圍第2 0項所記載之模板用基板之製 造方法,其中前述金屬以鎳、鈦、鐵、銅、鋁中至少一種 作爲主要成分。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003152702 | 2003-05-29 | ||
| PCT/JP2004/007389 WO2004107335A1 (ja) | 2003-05-29 | 2004-05-28 | スタンパ用基板及びスタンパ用基板の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW200508007A TW200508007A (en) | 2005-03-01 |
| TWI243745B true TWI243745B (en) | 2005-11-21 |
Family
ID=33487266
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW093115476A TWI243745B (en) | 2003-05-29 | 2004-05-28 | Stamper substrate and process for producing the same |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7641169B2 (zh) |
| EP (1) | EP1628298B1 (zh) |
| JP (1) | JP4458042B2 (zh) |
| KR (1) | KR100795249B1 (zh) |
| CN (2) | CN101763869B (zh) |
| AT (1) | ATE437435T1 (zh) |
| DE (1) | DE602004022158D1 (zh) |
| ES (1) | ES2326806T3 (zh) |
| TW (1) | TWI243745B (zh) |
| WO (1) | WO2004107335A1 (zh) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006249536A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 鏡面研磨用の金属素材 |
| JP5066867B2 (ja) * | 2006-08-21 | 2012-11-07 | ヤマハ株式会社 | 微細成形モールドの製造方法 |
| KR101476746B1 (ko) * | 2011-09-04 | 2014-12-29 | 포항공과대학교 산학협력단 | 내부식성 모기판을 이용한 플렉서블 금속 기판과 전자소자의 제조방법, 플렉서블 전자소자 및 플렉서블 금속 기판 |
| WO2018225550A1 (ja) * | 2017-06-06 | 2018-12-13 | コニカミノルタ株式会社 | 成形装置 |
| KR102091419B1 (ko) * | 2018-07-19 | 2020-03-20 | 주식회사 케이씨텍 | 광투과성 연마층을 갖는 기판 연마 시스템 |
Family Cites Families (42)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US3108009A (en) * | 1960-10-04 | 1963-10-22 | Little Inc A | Process coating a substrate with an opaque coating and resultant article |
| US4363844A (en) * | 1980-09-22 | 1982-12-14 | Lewis Terry W | Metallized information carrying discs |
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| FR2843899A1 (fr) * | 2002-09-03 | 2004-03-05 | Corning Inc | Depot d'un film sur un substrat |
| US20040202865A1 (en) * | 2003-04-08 | 2004-10-14 | Andrew Homola | Release coating for stamper |
| JP2008002355A (ja) * | 2006-06-22 | 2008-01-10 | Hino Motors Ltd | 排気浄化装置 |
| KR102484421B1 (ko) * | 2020-10-16 | 2023-01-03 | 이승용 | 인터페이스, 및 그 인테페이스를 포함하는 테스트 소켓과 테스트 소켓 모듈 |
-
2004
- 2004-05-28 TW TW093115476A patent/TWI243745B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-05-28 CN CN2009102532825A patent/CN101763869B/zh not_active Expired - Lifetime
- 2004-05-28 JP JP2005506510A patent/JP4458042B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-05-28 ES ES04745425T patent/ES2326806T3/es not_active Expired - Lifetime
- 2004-05-28 DE DE602004022158T patent/DE602004022158D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2004-05-28 AT AT04745425T patent/ATE437435T1/de not_active IP Right Cessation
- 2004-05-28 CN CNA200480014928XA patent/CN1799090A/zh active Pending
- 2004-05-28 EP EP04745425A patent/EP1628298B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2004-05-28 WO PCT/JP2004/007389 patent/WO2004107335A1/ja not_active Ceased
- 2004-05-28 KR KR1020057022691A patent/KR100795249B1/ko not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-11-29 US US11/288,166 patent/US7641169B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN101763869A (zh) | 2010-06-30 |
| DE602004022158D1 (de) | 2009-09-03 |
| EP1628298B1 (en) | 2009-07-22 |
| EP1628298A4 (en) | 2008-08-27 |
| US20060131474A1 (en) | 2006-06-22 |
| US7641169B2 (en) | 2010-01-05 |
| JPWO2004107335A1 (ja) | 2006-07-20 |
| ES2326806T3 (es) | 2009-10-20 |
| KR100795249B1 (ko) | 2008-01-15 |
| JP4458042B2 (ja) | 2010-04-28 |
| CN1799090A (zh) | 2006-07-05 |
| WO2004107335A1 (ja) | 2004-12-09 |
| EP1628298A1 (en) | 2006-02-22 |
| TW200508007A (en) | 2005-03-01 |
| CN101763869B (zh) | 2012-06-06 |
| ATE437435T1 (de) | 2009-08-15 |
| KR20060023975A (ko) | 2006-03-15 |
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