[go: up one dir, main page]

TWI243745B - Stamper substrate and process for producing the same - Google Patents

Stamper substrate and process for producing the same Download PDF

Info

Publication number
TWI243745B
TWI243745B TW093115476A TW93115476A TWI243745B TW I243745 B TWI243745 B TW I243745B TW 093115476 A TW093115476 A TW 093115476A TW 93115476 A TW93115476 A TW 93115476A TW I243745 B TWI243745 B TW I243745B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
template
substrate
plate
metal
scope
Prior art date
Application number
TW093115476A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200508007A (en
Inventor
Futoshi Katsuki
Kunihiro Fukui
Atsuhiko Kuroda
Original Assignee
Sumitomo Metal Ind
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Ind filed Critical Sumitomo Metal Ind
Publication of TW200508007A publication Critical patent/TW200508007A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI243745B publication Critical patent/TWI243745B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/26Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/26Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
    • G11B7/263Preparing and using a stamper, e.g. pressing or injection molding substrates
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/04Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/26Moulds
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/26Moulds
    • B29C45/263Moulds with mould wall parts provided with fine grooves or impressions, e.g. for record discs
    • B29C45/2632Stampers; Mountings thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Compounds Of Unknown Constitution (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Description

1243745 (1) 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關用來製造供大量複製CD (光碟)、 D V D (多樣化數位光碟)等光碟的模板的模板用基板及該 模板用基板之製造方法。 【先前技術】 於CD或DVD等光碟形成用來記錄信號的亞微米大 小的凹區。因此,模板用基板的表面要求有極高平坦度。 爲滿足此要求,歷來藉由使用電鍍法於鏡面磨光的玻璃基 板表面成長鎳膜,製造平坦度高的模板用基板。 然而,模板用基板的厚度一般爲3 0 0 // m左右。因此 ,使用電鍍法成長鎳膜以製造鎳製模板用基板的方法用來 將鎳膜成長至模板用基板的厚度即3 0 0 // m左右所耗電力 過大,從製造成本的觀點看來不佳。又由於因電鍍而產生 廢液’從廢液處理成本增加的觀點及環保的觀點看來亦不 佳。 因此’爲削減製造成本,提議將金屬板,例如將藉由 輥軋製造的鎳或鎳合金製軋板(下稱Ni軋板)裁出預定 大小,藉由磨光製造模板用基板的方法。 例如’於專利文獻1揭示使用N i軋板作爲模板用基 板’對表面進行化學機械磨光處理的模板用基板之製造方 & ^又’於專利文獻2揭示對自盤卷狀帶鋼材料衝裁而成 0勺金屬材料進行化學機械磨光處理的模板用基板之製造方 -5- Ι2Γ43745 (2) 法。 專利文獻1 :日本特開2 002 — 3 5 5 7 49號公報 專利文獻2 :日本特開2 0 0 1 — 2 8 3 4 7 5號公報 【發明內容】 此種金屬板通常經由冷軋及退火製造。於經過此製程 的金屬板中有如下問題。 於材料內部存在非金屬夾雜物,此部分成露出金屬板 表面的狀態。由於非金屬夾雜物的電導度低,故在對金屬 板施以電鍍處理情形下,發生鍍層未附著的缺陷,即所謂 針孔缺陷。由於發生針孔缺陷,電鍍表面的表面粗糙度粗 ,與母材間的密貼力弱,故在極端情形下,有於磨光處理 中發生電鍍層剝離之虞。 通常,會於藉由輥軋製造的金屬板上發生殘留應力。 因此,在僅磨光單面情形下,會有表裏兩面的殘留應力平 衡性不均一,於金屬板出現極大翹曲的問題。爲抑制此翹 曲,較佳的是盡可能抑低回火輥軋的壓下率,藉由使用張 力校平器等均一化輥軋時的壓力。然而,僅採上述對應措 施難以抑制施以金屬板表面的磨光處理後發生的翹曲。 又,於模板用基板的製程中,爲了進行表面磨光,須 將金屬板固定於平台上。於CD、DV D等射出成型時亦相 同。在固定金屬板於平台情形下,通常吸附並固定金屬板 於平台的表面。因此,內含於金屬板完全無翹曲情形下, 難以在磨光處理後自平台脫離,另一方面,在金屬板的翹 -6- (3) 1243745 曲過大情形下,難以吸附於平台的問題。 再者,如專利文獻1所揭露,爲了抑制磨光處理前的 模板用基板的製造成本,較佳的是僅自藉由輥軋製造的 N i軋板裁出預定大小,轉而磨光處理。然而,相對於藉 由輥軋製造的Ni軋板的板厚誤差亙全長爲± ] 〇 %左右, , 對模板要求的板厚誤差爲± 2 %左右。由於對模板用基板 〜 亦要求相同精度,故有難以亙N i軋板全長用來作爲模板 用基板的問題。 Φ 亦即,如第1圖所示,發生於N i軋板的部分a,厚 度dl爲310//m’相對地,於部分B,厚度d2爲300//m的 情形。於此情形下,假定模板用基板所要求的板厚爲3 0 0 // m,表裏兩面的磨光分爲1 〇 # m,於磨光處理前裁出的 N i軋板的厚度即須爲包含磨光分的3 1 0 // m。因此,縱然 可由部分A製作滿足要求(亦即,厚度300#;^,板厚容 許誤差± 2 % )的模板用基板,卻無法由部分]g製作滿足 要求的模板用基板。在如此自一片(或一卷)Ni軋板的 β 不同部位裁出複數片基板情形下,僅能由自特定部位裁出 的基板製作滿足要求的模板用基板,要維持高製造良率很 困難。 一 本發明是有鑑於此情形而硏創的技術,其目的在於提 - 供藉由防止因非金屬夾雜物而於金屬電鍍時發生針孔缺陷 ,可高度維持磨光處理後的表面平坦度的模板用基板及模 板用基板之製造方法。 又,本發明的目的在於提供藉由於金屬板發生適度翹 -7- (4) , 1243745 曲’容易在磨光處理後脫離平台,並可確實進行對平台的 吸附的模板用基板及模板用基板之製造方法。 再者’本發明的目的在於提供可使用金屬軋板全體作 爲模板用基板的材料,可維持高製造良率的模板用基板之 製造方法。 / 爲達成上述目的,第1發明的模板用基板的特徵在於 \ 對板材的表面或裏面,或對表裏兩面施以塗裝。 Φ 第1發明的模板用基板可使用電鑄電鍍法,寧不形成 金屬電鍍厚膜而使塗膜的厚度很薄。因此,可減少耗電及 製造所需時間,可減低製造成本。 又,於第1發明中,第2發明的模板用基板的特徵在 於:前述板材爲金屬板。 桌2發明的模板用基板的板材爲金屬板,可使用電鑄 電鍍法’寧不形成金屬電鍍厚膜而使金屬電鍍厚的厚度很 薄。因此,可減少.耗電、製造所需時間,可減少有關電鍍 · 的消耗品的使用量等,可減輕製造成本。 又,於第2發明中,第3發明的模板用基板的特徵在於 :前述板材的非金屬夾雜物的淸淨度在0.05%以下。 ‘ 弟3發明的丨旲板用基板表不存在於金屬板中的非金屬 - 夾雜物的存在重量比率的淸淨度在0.05%以下。n此,可· 減小非金屬夾雜物露出表面的可能性,可防止在^ &胃|度 情形下發生針孔缺陷。 又,於第1發明至第3發明的任一發明中,n 4胃曰月 (6) 1243745 小,對裁出預定大小的金屬軋板的表面或裏面,或對表裏 兩面施以金屬電鍍’進行磨光處理。 第7發明及第8發明的模板用基板之製造方法利用金 屬電鍍微調藉由輥軋製造的金屬軋板的板厚。由於在施以 磨光處理之前調整板厚,故可藉由對金屬軋板施以磨光處 理,防止板厚不足而無法使用的部分發生的事態於未然, 可維持高製造良率。又,可使用電鑄電鍍法,寧不形成金 屬電鍍厚膜而使塗膜的厚度很薄。因此,可減少耗電、製 膜所需時間,減少有關電鍍的消耗品的使用量等,亦可減 輕製造成本。 又,於第7發明或第8發明中,第9發明的模板用基 板之製造方法的特徵在於:於輥軋前述金屬軋板之際設定 來作爲目標的板厚較磨光處理結束時所要求板厚(典型的 是對模板用基板所要求的板厚)加上磨光分的厚度更薄。 第9發明的模板用基板之製造方法可亙金屬軋板全長 製作滿足要求的模板用基板,可維持高製造良率。如前述 ,藉由輥軋製造的金屬軋板的板厚誤差亦達到1卷全體土 1 〇 %左右。於此情形下,若以模板用基板所要求的板厚加 上磨光分的板厚作爲目標予以輥軋,即可能出現過薄部分 ,亦可能出現過厚部分。 例如在所要求模板用基板的板厚爲3 〇〇 # m,磨光處 理 的磨光分爲]〇 V m情形下,可製造3丨〇 v 的金屬軋板。 然而,在以J m爲目標_乾情形下,會例如在2 8 〇 ν m - 10 - (7) 1243745 至3 4 Ο μ m之間出現板厚的誤差。亦即,於第]圖的金屬軋 板1的部分B的厚度d 2很薄,無法確保目標板厚。因此, 在板厚過薄情形下,藉由施以電鍍’添加電鍍層,可彌補 板厚的不足分。例如在自金屬軋板的任意部分切出的基板 的厚度爲290 μ m情形下,藉由於基板的表裏面平均施以 1 0 // m的電鍍,可彌補板厚的不足分。 然而,在板厚過厚情形下,須施以磨光處理迄達到所 要求板厚爲止。從成本面、作業時間面看來,藉由磨光處 理大幅削減板厚亦很不利。因此,爲了減少或消除過厚板 厚發生的部分,較佳的是將目標板厚設定成很薄。 到底設定薄到哪種程度可考慮輥軋時發生的板厚誤差 或發生槪率來決定。亦即,可設定輥軋時的目標厚度,俾 在板厚沿厚度方向(正値方向)發生板厚誤差情形下的金 屬軋板的板厚與前述模板用基板的板厚加上磨光分的板厚 相等。 又,於第7發明至第9發明的任一發明中,第10發明的 模板用基板之製造方法的特徵在於:對金屬軋板的表面或 裏面,或表裏兩面所施金屬電鍍的合計厚度爲自磨光處理 結束時所要求厚度加上前述磨光處理的磨光分的厚度減去 前述金屬軋板厚度的厚度。 第1 〇發明的模板用基板之製造方法可亙金屬軋板的全 長調整厚度。因此,不管從金屬軋板的哪一處切出均可製 作滿足要求的模板用基板,可維持高製造良率。 又,於第7發明至第]0發明的任一發明中,第1 1發明 -11 - (8) (8)1243745 的模板用基板之製造方法的特徵在於:對金屬軋板的表面 或裏面’或表裏兩面所施金屬電鍍的主要成分與前述金屬 相同。 第1 1發明的模板用基板之製造方法藉由使用與金屬軋 板的金屬材料相同的金屬材料,使在利用所製作模板用基 板於光碟成形時影響模板用基板的熱物理特性相同。因此 不易發生電鍍膜的剝離等,可維持更高的模板用基板的可 靠性。 又’於第7發明至第1 1發明的任一發明中,第I 2發明 的模板用基板之製造方法的特徵在於:前述金屬以鎳、鈦 、鐵、銅、鋁中至少一種作爲主要成分。 第1 2發明的模板用基板之製造方法可望藉由使用此金 屬材料及金屬電鍍膜而有上述效果。 發明效果 根據第1發明、第2發明或第6發明的模板用基板,可 使用電纟著電鍍法,寧不形成金屬電鍍厚膜而使塗膜(金屬 電鍍膜)的厚度很薄。因此,可減少耗電及製造所需時間 ,可減輕製造成本。 根據桌3發明的丨吴板用基板,可減低非金屬夾雜物露 出表面的可能性,可防止因施以金屬電鍍而發生針孔缺陷 於未然。 根據第4發明的模板用基板,可容易進行將夾具等插 入金屬板與平台之間,卸下金屬板的事宜。 根據第5發明的模板用基板,藉由使用此金屬材料及 -12 - (9) 1243745 金屬電鍍膜,可望有上述效果。 根據第7發明或第8發明的模板用基板之製造方法, 由於在施以磨光處理之前藉由金屬電鍍調整藉由輥軋製造 的金屬軋板的板厚,故可藉由對金屬軋板施以磨光處理, 防止板厚不足而無法使用的部分發生的事態於未然,可維 持高製造良率。又由於可使用電鑄電鍍法於模板用基板, 寧不形成金屬電鍍厚膜而使電鍍膜的厚度很薄,故可減少 耗電,亦可減輕製造成本。 又,根據第9發明的模板用基板之製造方法,可亙金 屬軋板全長製作滿足要求的模板用基板,可維持高製造良 率。 又,根據第1 0發明的模板用基板之製造方法,由於可 亙金屬軋板的全長調整厚度,故不管從金屬軋板的哪一處 切出均可製作滿足要求的模板用基板,可維持高製造良率 〇 又,根據第1 1發明的模板用基板之製造方法,由於藉 由使用與金屬軋板的金屬材料相同的金屬材料,使在利用 所製作模板用基板於光碟成形時影響模板用基板的熱物理 特性相同,故不易發生電鍍膜的剝離等,可維持更高的模 板用基板的可靠性。 又,根據第12發明的模板用基板之製造方法,藉由使 用此金屬材料及金屬電鍍膜,可望有上述效果。 【實施方式】 (10) 1243745 以下根據圖示本發明實施形態的圖面對其具體加以說 明。板材的材質並未特別限定’可爲就塗膜的緊貼性而言 能確保在塗裝處理後的磨光處理程序中不會剝離的程度的 緊貼性的材質。且,塗裝方法可爲金屬電鍍、沉積、層疊 等板材間的緊貼性良好的任何方法。 又,較佳的是該板材爲金屬板,使用藉由後述輥軋處 理製造的軋板,例如使用N i軋板。且,此外可使用鈦、 鐵、銅、鋁等作爲軋板的材料,又,亦可例如爲不銹鋼的 合金。
Ni軋板藉由例如在以下條件下軋製。在熔解金屬鎳 後,藉由連續鑄造形成1 5 Onim厚的扁錠,將該扁錠熱軋成4 誦厚。進一步在7 2 0 °C的退火後酸洗,於除去表面的氧化 垢後,冷軋至0.3酬的厚度,於72 CTC下退火。再者,於板 的翹曲構成問題情形下,可賦與2 %以下的拉伸,或可施 加1 %以下的輕軋。 藉由上述製造方法捲成長度數m至數十m,寬度1 m 至2 ni的卷材的Ni軋板具有沿長度方向及寬度方向± 1 〇% 左右的板厚分布。 藉由對如此製造的Ni軋板進行利用周知的機械加工 切出等的處理,匹配用來大量複製例如CD或DVD等光 碟的模板,加工成具有直徑D =約1 6 0酬的圓盤狀。於第2 (a )中圖示具有直徑D = 1 6 0誦的圓盤狀的N i軋板1的截 面圖。且在作爲模板用基板的直徑D二1 6 0麵的範圍內板 厚大致均一。 -14- (11) 1243745 其次,如第2 ( b )的截面圖所示,對加工成具有直徑 D = 1 60ηιπι的圓盤狀的Ni軋板1施以Ni或Ni合金的電鍍 。就電鍍程序而言,首先,將加工成圓盤狀的Ni軋板掛 在以鋼絲製作的鉤上,施以電鍍前置處理的轉化處理。該 轉化處理在例如使用丙酮的脫脂處理後,進行浸漬於體積 〃 濃度5 %的氫氧化鈉水溶液中數秒,接連浸瀆於體積濃度5 ' %的鹽酸溶液中數秒的處理。 在以純水將施以該轉化處理的加工成圓盤狀的N i軋 鲁 板沖淨之後,進行以下詳述的電鍍處理。就用於電鍍處理 的電鍍浴而言,並未特別限定於特殊浴,可使用一般電鍍 浴。在例如施以Ni電鍍情形下,使用氨基磺酸浴或瓦特 浴,在施以Ni合金電鍍情形下,使用NiP (鎳磷)合金 電鍍浴。 該電鍍浴在例如施以NiP合金電鍍情形下,使用化學 上穩定的 SU S3 16鋼等的電鍍槽,以設於槽內的蒸汽盤管 或電加熱器等加熱至預定溫度(通常7〇°C至90°C )。且, β 爲了保持電鍍浴組成及溫度恒定,較佳的是使用泵循環或 攪拌器等經常攪拌槽內。 然後,在施以上述轉化處理的圓盤狀Ni軋板掛在鉤 ‘ 上狀態下,垂入電鍍槽內,浸漬於電鍍浴,估計電鍍層2 - 達到預定厚度的時間拉起。由於在無電解進行成膜的NiP 合金電鍍情形下,電鍍成膜的厚度與浸漬於電鍍浴的時間 成正比,故若例如在8 0 °C下電鍍時的成膜速度爲]2 # m / 1小時,即可藉由浸漬於電鍍浴中5分鐘,在表裏兩面形成 -15- (12) 1243745 各l # 的電鍍層2。 估計磨光分來決定電鍍層2的厚度。依照必要的電鍍 層2的厚度決定將加工成圓盤狀的Ni軋板1浸漬於電鍍浴 的時間。 且,較佳的是以具有與金屬軋板相等的線膨脹係數的 金屬材料或合金的電鍍作爲電鍍層2。可減輕在使用由此 材質施以電鍍的模板用基板製作的模板製造光碟之際,因 金屬軋板與電鍍層2的熱物理特性不同所造成的電鍍層的 剝離等麻煩。典型地,可施以與金屬軋板的金屬材料的成 分相同的金屬電鍍或主要成分相同的合金電鍍。例如,對 N i軋板較佳的是鎳鍍層,或鎳磷、鎳硼、鎳鈷等鎳合金 鍍層。且在磨光處理時剝離等發生的可能性很小情形下, 電鍍層的成分並未特別限定,可藉由沉積等方法進行塗裝 ’亦可耢由層璺%方法形成塗層。 於金屬材料中通常存在有缺乏導電性且使與電鍍液間 的濡濕性大幅降低的非金屬夾雜物。因此,在對此金屬材 料所構成金屬板表面施以電鍍處理情形下,會發生稱之爲 所謂針孔的未形成電鍍層的部分。於發生針孔情形下,即 使對施以電鍍處理的表面施以後述表面磨光處理,表面粗 糙度仍然不會十分低。由於難以形成信號記錄時的點,無 法作爲圖型來使用,故須防止針孔的發生於未然。 因此’以下舉純鎳金屬材料爲一例子來檢驗對施以電 鍍處理的表面施以後述表面磨光處理情形下的表面粗糙度 如何對應非金屬夾雜物存在於金屬材料中的重量比的淸淨 -16 - (13) 1243745 度變動。 自以電爐溶解純鎳後藉由連續鑄造的扁錠採取每一淸 淨度的表面粗縫度檢討用試料。爲改變非金屬夾雜物存在 的重量比的淸淨度’自藉由連續鑄造的扁錠的上面附近、 中央附近、最後凝固位置附近的3個部位採取檢討用試料 。於扁銳的最後凝固位置附近,非金屬夾雜物的濃度提高 ,淸淨度提高(越高,非金屬夾雜物的存在比率越高)。 於扁銳的中央附近,由於進行穩定的凝固,故相較於最後 凝固位置附近,非金屬夾雜物的濃度降低,淸淨度降低( 越低’非金屬夾雜物的存在比率越低)。 其次’自於藉由連續鑄造製造的扁錠的縱長方向的中 央附近採取的檢討用試料進一步採取爲減低非金屬夾雜物 的濃度而用於二次熔解的扁錠。具體而言,採取直徑丨0 0 麵、長度200画的檢討用試料,於真空中施以VAR熔解.( 電弧熔解)。 藉由對施以VAR熔解後的檢討用試料以及自藉由連 續鑄造的扁錠的上面附近、中央附近、最後凝固位置附近 3個部位採取的檢討用試料的4個試料熱鍛造,製造厚度 6 0 _、寬度1 0 0酬的熱軋扁錠。然後,在加熱至1 2 0 0度之 後,藉由熱軋形成4腦的厚度,採取熱軋板作爲檢討用試 料0 採用來作爲檢討用試料的熱軋板於以7 5 0度退火後, 藉由溶融鹽及酸洗,除去表面所生積垢。此後,在對厚度 1麵施以7 5 0度的製程退火之後,藉由冷軋,形成〇. 95画]厚 - 17- (14) 1243745
在施以冷軋狀態下,將4個試料切成直徑]6 〇 mm的圓 盤狀,施以磨光處理。就磨光處理後的試料採取半徑的大 約2分之1,亦即距中心部約80腦之一試料作爲試驗片, 使用原子鍵力顯微鏡測定表面粗縫度。於表面粗縫度測定 時,以1 0 0 // m X 1 0 0 // m的範圍作爲攝影對象,就平均粗 糕度(R a )超過1 0 n m (奈米)的試驗片判斷其磨光性不 佳。(表1 )列示每一試驗片的採取位置、淸淨度、表面 粗糙度的平均値(Ra )、評估,在判定磨光製作不佳情形 下,以X記號標示評估項目。 表1 製造 方法 採取位置 淸淨度 (% ) 磨光後的表面 粗縫度(Ra ) 評估 連續 鑄造 鑄片上面 0.025 4 〇 鑄片中央 0.013 6 〇 最後凝固 位置 0.055 15 X 連續鑄 造 + VAR 熔 解 中央部 0.004 2 〇 且,(表1 )中淸淨度的評估使用·π S (日本工業標 •18- (15) 1243745 準)G0 5 5 5的點算法來實施。由(表u亦可知,試料中 非金屬夾雜物的淸淨度在0· 05 %以下的情形滿足磨光後的 表面粗糙度Ra在10nm以下。其原因在於,於淸淨度在 〇 · 0 5 %以下情形下’金屬板的厚度薄至〇 . 3麵,顯著降低 非金屬夾雜物存在於直徑1 5 0 mm的圓盤表面的可能性。 其次,如第2 ( c )圖的截面圖所示,對藉由調整浸漬 於電鍍浴的時間來調整電鍍層2的厚度的圓盤狀Ni軋板1 進行一般表面磨光處理及裏面磨光處理,或表裏同時進行 磨光處理的兩面磨光處理。於此,裏面磨光處理爲粗磨光 處理即可。因此,使用固定白氧化鋁等磨粒的磨光帶磨光 至表面粗糙度Ra=0.05〜0.1Mm左右。 由於在使用本實施形態的模板用基板製造的光碟上須 形成用來記錄信號的亞微米粒子大小的凹區,故有必要磨 光至無磨光刮痕等殘留的程度。因此,例如使用化學機械 磨光法來進行精磨光,進行無磨光刮痕等殘留的表面精加 工。磨光處理後的最後板厚達到3 00 μ 5 // m左右。 以下,就Ni軋板、對Ni軋板未施以電鍍而施以磨光 處理的板以及對N i軋板施以電鍍後施以磨光處理的板的 三種板比較板厚。又,就對Ni軋板施以電鍍後施以磨光 處理的板評估表面粗糙度。 首先,針對板厚,藉由圓盤狀Ni軋板的質量除以鎳 的比重求得體積,並藉由該體積除以圓形的面積求得平均 厚度,加以評估。使用文獻値的8.9 04 g/ cm 3作爲鎳的比 重c - 19 - (16) 1243745 使用超音波板厚計、分厘卡等計測器測定板厚的分 進行板厚均一性的確認。例如在N i軋板爲D 6 0腿的 盤狀情形下,藉由測定如第3圖的X記號所示隔1 〇酬至 腦間距合計1 7處的板厚,予以確認。 由於表面粗糙度最後須磨光至無磨光刮痕等殘留的 度,故依據表面平坦度及有無刮痕來確認精磨光狀態。 體而言,使用原子鍵力顯微鏡觀察表面形態,同時,評 表面粗糙度Ra。 第4圖是形成於Ni軋板的鎳磷(NiP )合金電鍍膜 截面組織圖。由第4圖可知,電鍍膜以均一厚度成膜於 軋板表面。且第4圖中的電鍍膜是浸漬於電鍍浴中2小時 膜,電鍍膜的厚度達到約24 // m。
第5圖是表示磨光處理前的Ni軋板及未電鍍處理 直接磨光處理Ni軋板情形的板厚分布的圖表。分別地 縱軸表示板厚(A ni ),橫軸表示以圓形的中心爲零的 徑方向的變位(腿)。磨光處理前的Ni軋板的板厚分 如第5圖的〇記號所示爲3 0 5 // 3 // m,可知在直徑D 1 6 0腿的範圍內呈現高均一性。 第5圖的+記號表示對此Ni軋板未電鍍處理而磨 處理後的板厚分布。儘管因磨光處理而出現若干上下浮 ,板厚卻以最大5 // m的誤差爲限。然而,由於磨光表 及裏面的磨光分表裏加起來約1 〇 μ m,故在施以磨光處 情形下,磨光成第5圖的+記號所示板厚,出現板厚較 布 圓 20 程 具 估 的 Ni 的 而 5 直 布 光 動 面 理 曰 取 -20- (17) 1243745 後作爲模板用基板所需3 〇 〇 // md: 5 μ m的範圍(第5圖的斜 線部)更薄的部分,亦即留下無法作爲模板用基板的情形 發生的問題。 第6圖是表示電鍍處理前的n i軋板、對N i軋板施以 電鍍處理後的Ni軋板以及對Ni軋板施以電鍍處理後進行 磨光處理的N i軋板的板厚分布的圖表。如同第5圖,分 別地’縱軸表示板厚(M m ),橫軸表示以圓形的中心爲 零的直徑方向的變位()。雖然第6圖的〇記號表示施 以電鍍處理前的N i軋板的板厚分布,卻爲與第5圖的〇 日己5虎大致相等的3 0 5 // m 士 3 // m,可知在直徑 D = 1 6 0 mn]的 範圍內呈現高均一性。 對此N i軋板估計磨光分〗〇 # m而施以7 # m厚度的電 鍍處理。由於電鍍層形成於N i軋板的表裏兩面,故可對 N i軋板施以3 · 5 // m厚度的電鍍處理。於上述N i P合金電 鍍情形下,將施以轉化處理的Ni軋板浸漬於電鍍浴中1 7 〜18分鐘。第6圖的△記號表示浸漬Ni軋板於電鍍浴後的 板厚分布。如第6圖淸楚顯示,一面維持板厚的均一性, 一面形成電鍍層。 再者,第6圖的X記號表示對N i軋板施以電鍍處理後 施以磨光處理情形下的板厚分布。如同第5圖的+記號, 儘管因磨光處理而出現若干上下浮動,板厚卻以最大5 # m的誤差爲限。又由於施以轉化處理,故電鍍層與Ni軋 板的緊貼性高,看不出會因磨光處理而有局部的剝離。 雖然磨光表面及裏面的磨光分表裏加起來約1 〇 μ m, -21 - (18) 1243745 卻可知在第6圖的x記號情形下,即使施以磨光處理,仍 然涵蓋在最後作爲模板用基板所需3 00 μ m± 5 // m的範圍 (第6圖的斜線部)內,可用來作爲模板用基板。因此, 藉由透過施以電鍍處理增厚切出的基板全體的板厚,不管 其爲自N i軋板的那一部分切出的基板,均可用來作爲模 板用基板。 第7圖是使用化學機械磨光處理對施以電鍍處理的 N i軋板進行表面精加工情形下,N i軋板表面的原子鍵力 顯微鏡像。如第7圖淸楚顯示,Ni軋板表面極平滑,可 知不會發生有在信號記錄時造成故障之虞的磨光刮痕。 且,就表面粗糙度而言,根據原子鍵力顯微鏡像(20 X 2 0 // m 2 )算出算術平均粗糙度Ra,使用本實施形態的 模板用基板的製造方法的Ni軋板的表面粗糙度Ra約爲 0.8 nm,就模板用基板來說,這是充分的表面精加工精度 〇 本實施形態雖然藉由對切成模板大小的金屬軋板的表 裏兩面施以電鍍,設置電鍍層,調整該金屬軋板的厚度’ 不過,即使藉由對表面或裏面的任一面施以電鍍’僅於該 單面設置電鍍層,調整該金屬軋板的厚度’仍可望有相同 效杲。 且在用來作爲模板基板情形下’於母版製作時或碟片 成型時,須將金屬(軋)板固定於金屬模平台上。通常’ 藉由真空吸附法固定於金屬模平台。然而,爲了藉由真空 吸附法將金屬板固定於金屬模平台’於平坦的金屬模平台 ,22_ (19) 1243745 與金屬板之間需要若干空隙。亦即,用來作爲模板基板的 金屬板須在圓板上具有相對於金屬模平台向上凸出的形狀 。亦即,自圓板的中心部相對於金屬模平台向上凸出的部 分除氣,將圓板狀金屬板固定於金屬模平台。本實施形態 藉由賦與金屬板適當的翹曲,獲得相對於金屬模平台向上 凸出的形狀。 然而,即使在賦與金屬板的翹曲小情形下,可藉由真 空吸附法固定於金屬模平台,不過,仍然發生吸附後難以 脫離的問題。因此,調查相對於翹曲的大小,吸附後脫離 的容易度的程度。 具體而言,以在直徑1 60 IM1的外周加工的金屬板一端 固定於金屬模平台情形下金屬模平台與金屬板另一端間的 間隙作爲翹曲的大小,按照翹曲的大小確認是否可藉由真 空吸附法固定於金屬模平台,以及是否可在吸附後脫離。 (表2 )是表示確認每一翹曲大小是否可藉由真空吸附法 固定於金屬模平台,以及是否可在吸附後脫離的結果的表 。於(表2)中,〇記號表示可藉由真空吸附法固定於金 屬模平台以及可在吸附後脫離的要旨,X記號表示無法藉 由真空吸附法固定於金屬模平台以及無法在吸附後脫離的 要旨。 -23- (20) 1243745 [表2]
材料 翹曲(mm ) 吸附性 脫離性 Ni 2 〇 〇 Ni ] 〇 〇 Ni 0.5 〇 〇 Ni 0.2 〇 〇 Ni 0.1 〇 〇 Ni 0.05 〇 X
如(表2 )淸楚顯示,可知於翹曲小於〇.丨誦情形下, 即使在吸附後將氣體注入該間隙,金屬板相對於金屬模平 台向上凸出的部分與金屬模平台間的間隙仍然小於〇 .丨酬 ,難以將夾具等插入間隙,使金屬板脫離。 另一方面,翹曲的上限値爲金屬模平台的平坦度、吸 附力等的性能所左右。透過適當設定回火輥軋、張力校平 器等的條件,賦與金屬板翹曲,藉由對賦與翹曲的金屬板 的表面施以電鍍處理,此後僅磨光處理電鍍部分,就這樣 留下金屬板的翹曲,使脫離性良好。 且,回火輥軋、張力校平器等的條件並未特別限定, 可適當設定回火輥軋的壓下率、潤滑條件、輥徑、上下輥 的周速,還有張力校平器的輥徑、張力等,俾達到本實施 形態所規定的翹_。 【圖式簡單說明】 -24- (21) 1243745 第1圖是習知N i軋板的板厚分布的說明圖。 胃2圖是本發明實施形態的模板用基板的製造方法的 說明圖。 第3圖是N i軋板的板厚分布確認方法的說明圖。 第4圖是形成於Ni軋板的NiP合金電鍍膜的截面組 織圖。 第5圖是表示習知N i軋板的板厚分布的圖表。 第6圖是表示本發明實施形態的N i軋板的板厚分布 的圖表。 第7圖是圖示本發明實施形態的Ni軋板的原子鍵力 顯微鏡像的圖面。 【主要元件符號說明】 1 N i軋板 2 電鍍層

Claims (1)

1243745 ⑴ 私年7月7日修(楚)正本 拾、申請專利範圍 第93 1 1 5476號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國94年7月7日修正 1 · 一種模板用基板,其特徵在於:對板材的表面或裏 面,或對表裏兩面施以塗裝。 2.如申請專利範圍第1項所記載之模板用基板,其中 前述板材爲金屬板。 3 ·如申請專利範圍第2項所記載之模板用基板,其中 前述板材的非金屬夾雜物的清淨度在〇 · 〇 5 %以下。 4 .如申g靑專利範圍第1至3項中任一項所記載之模板用 基板’其中於將前述板材裁出預定的大小情形下,裁出的 板材的翹曲在0.1 mm以上。 5 ·如申請專利範圍第2項所記載之模板用基板,其中 前述板材以純鎳、鎳合金、純鈦、鈦合金、不銹鋼、鐵、 鐵合金、純銅、銅合金、純鋁、鋁合金、純鎂、鎂合金中 至少一種作爲主要成份。 6 ·如申請專利範圍第3項所記載之模板用基板,其中 前述板材以純鎳、鎳合金、純鈦、鈦合金、不銹鋼、鐵、 鐵合金、純銅、銅合金、純鋁、鋁合金、純鎂、鎂合金中 至少一種作爲主要成份。 7 ·如申請專利範圍第4項所記載之模板用基板,其中 前述板材以純鎳、鎳合金、純鈦、鈦合金、不銹鋼、鐵、 鐵合金、純銅、銅合金、純鋁、鋁合金、純鎂、鎂合金中 (2) 1243745 至少一種作爲主要成份。 8 ·如申請專利範圍第1項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 9 .如申請專利範圍第2項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 1 0.如申請專利範圍第3項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 1 1 ·如申請專利範圍第4項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 12. 如申請專利範圍第5項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 13. 如申請專利範圍第6項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 14. 如申請專利範圍第7項所記載之模板用基板,其中 對前述板材施以塗裝的某一面的至少單面施以磨光處理。 1 5 . —種模板用基板之製造方法,其特徵在於:輥軋 金屬,形成金屬軋板,將所形成金屬軋板裁出預定大小, 對裁出預定大小的金屬軋板的表面或裏面,或對表裏兩面 施以金屬電鍍,進行磨光處理。 1 6 .如申請專利範圍第1 5項所記載之模板用基板之製 造方法,其中於輥軋前述金屬軋板之際設定作爲目標的板 厚較磨光處理結束時所要求板厚加上磨光分的厚度更薄。 1 7 ·如申請專利範圍第1 5或1 6項所記載之模板用基板 之製造方法,其中對金屬軋板的表面或裏面,或表裏兩面 -2 - (3) (3)1243745 所施金屬電鍍的合計厚度爲自磨光處理結束時所要求厚度 加上前述磨光處理的磨光分厚度減去前述金屬軋板厚度的 厚度。 1 8 ·如申請專利範圍第1 5項所記載之模板用基板之製 造方法’其中對金屬軋板的表面或裏面,或表裏兩面所施 金屬電鍍的主要成分與前述金屬相同。 1 9 ·如申請專利範圍第】6項所記載之模板用基板之製 造方法,其中對金屬軋板的表面或裏面,或表裏兩面所施 金屬電鍍的主要成分與前述金屬相同。 20·如申請專利範圍第17項所記載之模板用基板之製 坦方法,其中對金屬軋板的表面或裏面,或表裏兩面所施 金屬電鍍的主要成分與前述金屬相同。 2 1 .如申g靑專利範圍第丨5項所記載之模板用基板之製 is方法’其中則述金屬以鎳、鈦、鐵、銅、鋁中至少一種 作爲主要成分。 22 .如申g靑專利範圍第〗6項所記載之模板用基板之製 3S方法,其中則述金屬以鎳、鈦、鐵、銅、鋁中至少一種 作爲主要成分。 2 3 ·如申請專利範圍第i 7項所記載之模板用基板之製 造方法,其中前述金屬以鎳、鈦、鐵、銅' 鋁中至少一種 作爲主要成分。 24 .如申請專利範圍第1 8項所記載之模板用基板之製 造方法,其中前述金屬以鎳、鈦、鐵、銅、鋁中至少一種 作爲主要成分。 -3- (4) 1243745 2 5 .如申請專利範圍第1 9項所記載之模板用基板之製 造方法,其中前述金屬以鎳、鈦、鐵、銅、鋁中至少一種 作爲主要成分。 2 6 .如申請專利範圍第2 0項所記載之模板用基板之製 造方法,其中前述金屬以鎳、鈦、鐵、銅、鋁中至少一種 作爲主要成分。
TW093115476A 2003-05-29 2004-05-28 Stamper substrate and process for producing the same TWI243745B (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003152702 2003-05-29
PCT/JP2004/007389 WO2004107335A1 (ja) 2003-05-29 2004-05-28 スタンパ用基板及びスタンパ用基板の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200508007A TW200508007A (en) 2005-03-01
TWI243745B true TWI243745B (en) 2005-11-21

Family

ID=33487266

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW093115476A TWI243745B (en) 2003-05-29 2004-05-28 Stamper substrate and process for producing the same

Country Status (10)

Country Link
US (1) US7641169B2 (zh)
EP (1) EP1628298B1 (zh)
JP (1) JP4458042B2 (zh)
KR (1) KR100795249B1 (zh)
CN (2) CN101763869B (zh)
AT (1) ATE437435T1 (zh)
DE (1) DE602004022158D1 (zh)
ES (1) ES2326806T3 (zh)
TW (1) TWI243745B (zh)
WO (1) WO2004107335A1 (zh)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006249536A (ja) * 2005-03-11 2006-09-21 Sumitomo Metal Ind Ltd 鏡面研磨用の金属素材
JP5066867B2 (ja) * 2006-08-21 2012-11-07 ヤマハ株式会社 微細成形モールドの製造方法
KR101476746B1 (ko) * 2011-09-04 2014-12-29 포항공과대학교 산학협력단 내부식성 모기판을 이용한 플렉서블 금속 기판과 전자소자의 제조방법, 플렉서블 전자소자 및 플렉서블 금속 기판
WO2018225550A1 (ja) * 2017-06-06 2018-12-13 コニカミノルタ株式会社 成形装置
KR102091419B1 (ko) * 2018-07-19 2020-03-20 주식회사 케이씨텍 광투과성 연마층을 갖는 기판 연마 시스템

Family Cites Families (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3108009A (en) * 1960-10-04 1963-10-22 Little Inc A Process coating a substrate with an opaque coating and resultant article
US4363844A (en) * 1980-09-22 1982-12-14 Lewis Terry W Metallized information carrying discs
JPS5835742A (ja) * 1981-08-21 1983-03-02 Victor Co Of Japan Ltd 情報記録媒体円盤の製作に用いられるスタンパの製作法
US4447381A (en) * 1982-11-08 1984-05-08 Rca Corporation Apparatus and method for making a video disc
JPS613339A (ja) * 1984-06-18 1986-01-09 Hitachi Ltd 高密度情報記録円板複製用スタンパおよびその製造方法
JPH0624728B2 (ja) * 1986-10-24 1994-04-06 キヤノン株式会社 精密成形用複製金型の製造方法
JPH0243380A (ja) * 1988-08-02 1990-02-13 Toshiba Corp 光ディスク基板成形用金型及びその製造方法
JPH02122064A (ja) 1988-10-28 1990-05-09 Sumitomo Metal Ind Ltd 耐銹性に優れたステンレス鋼材及びその製法
JPH0324946A (ja) 1989-06-23 1991-02-01 Meiko Denshi Kogyo Kk 銅張積層板の製造方法
US5126180A (en) * 1989-09-12 1992-06-30 Hitachi Maxell, Ltd. Optical recording medium and method of manufacturing the same
EP0488239B1 (en) * 1990-11-28 1997-07-30 Sharp Kabushiki Kaisha Method for manufacturing a stamper
JP3006199B2 (ja) 1991-09-03 2000-02-07 株式会社日立製作所 光ディスクの製造方法
AT399158B (de) 1991-09-13 1995-03-27 Danubia Petrochem Polymere Verwendung von aus polyolefinen, polyamiden und haftvermittlern bestehenden formteilen zur hochfrequenzschweissung, sowie folien aus polyolefinen, polyamiden und haftvermittlern
US5320514A (en) * 1991-10-22 1994-06-14 Canon Kabushiki Kaisha Roll stamper, and apparatus and process for manufacturing substrate sheet for information recording mediums by using the same
US5538802A (en) * 1992-09-18 1996-07-23 Kao Corporation Magnetic recording medium and process for producing the same
JP2867203B2 (ja) 1993-03-17 1999-03-08 日本金属工業株式会社 リードフレーム用素材の製法
JP3307737B2 (ja) 1993-11-04 2002-07-24 川崎製鉄株式会社 耐食性に優れた缶用鋼板とその製造方法
US5783371A (en) * 1994-07-29 1998-07-21 Trustees Of Boston University Process for manufacturing optical data storage disk stamper
JP3002418B2 (ja) * 1996-03-22 2000-01-24 株式会社精工技研 光ディスク成形用金型装置
EP0872331A1 (en) * 1997-04-16 1998-10-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Stamper protecting layer for optical disk molding apparatus, optical disk molding apparatus and optical disk molding method using the stamper protecting layer
US6814897B2 (en) * 1998-03-27 2004-11-09 Discovision Associates Method for manufacturing a molding tool used for substrate molding
US6190838B1 (en) * 1998-04-06 2001-02-20 Imation Corp. Process for making multiple data storage disk stampers from one master
JPH11293408A (ja) 1998-04-14 1999-10-26 Hitachi Metals Ltd 電子部品用Fe−Ni系合金薄板
TW525159B (en) * 1998-05-14 2003-03-21 Matsushita Electric Industrial Co Ltd Formation method for metallic stamper and metallic stamper and, manufacture method for optical disk substrate with the use of the stamper and optical disk fabricated by the manufacture method
JP3666631B2 (ja) * 1998-10-08 2005-06-29 株式会社リコー 光ディスク複製用スタンパの作成方法及び装置
DE19919764A1 (de) * 1999-04-29 2000-11-02 Innovators Ag Neuhausen Am Rhe Herstellung eienr Preßform für Compact Discs
JP2000348394A (ja) * 1999-06-09 2000-12-15 Mitsubishi Materials Corp 光ディスク成形用スタンパおよびそのスタンパを製造するための基板
JP2000345266A (ja) * 1999-06-09 2000-12-12 Mitsubishi Materials Corp 光ディスク成形用スタンパおよびそのスタンパを製造するための基板
JP2000348395A (ja) * 1999-06-09 2000-12-15 Mitsubishi Materials Corp 光ディスク成形用スタンパおよびそのスタンパを製造するための基板
KR100509579B1 (ko) 1999-06-10 2005-08-22 니폰야긴고오교오가부시기가이샤 Fe-Ni계 섀도우마스크용 재료
US6495235B2 (en) * 2000-03-24 2002-12-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical disk, substrate of the same, and mold for forming the substrate
JP2002092946A (ja) * 2000-09-20 2002-03-29 Toshiba Corp 光ディスク基板およびその製造方法
JP3885518B2 (ja) * 2001-05-29 2007-02-21 住友金属工業株式会社 スタンパ用基板の製造方法及びNi圧延板の研磨方法
JP3656591B2 (ja) * 2001-06-28 2005-06-08 ソニー株式会社 光学記録媒体製造用スタンパの製造方法および光学記録媒体の製造方法
US6627020B2 (en) * 2001-08-31 2003-09-30 International Business Machines Corporation Method for sinter distortion control
US6771867B2 (en) * 2002-02-05 2004-08-03 Mitsubishi Chemical Corporation Optical memory device and method for fabricating optical memory device, and method and apparatus for lamination with filmy member
JP3908970B2 (ja) * 2002-03-18 2007-04-25 住友化学株式会社 光学パネル成形用型並びにその製造及び使用
JPWO2003081584A1 (ja) * 2002-03-27 2005-07-28 松下電器産業株式会社 多層光情報記録媒体の製造方法
FR2843899A1 (fr) * 2002-09-03 2004-03-05 Corning Inc Depot d'un film sur un substrat
US20040202865A1 (en) * 2003-04-08 2004-10-14 Andrew Homola Release coating for stamper
JP2008002355A (ja) * 2006-06-22 2008-01-10 Hino Motors Ltd 排気浄化装置
KR102484421B1 (ko) * 2020-10-16 2023-01-03 이승용 인터페이스, 및 그 인테페이스를 포함하는 테스트 소켓과 테스트 소켓 모듈

Also Published As

Publication number Publication date
CN101763869A (zh) 2010-06-30
DE602004022158D1 (de) 2009-09-03
EP1628298B1 (en) 2009-07-22
EP1628298A4 (en) 2008-08-27
US20060131474A1 (en) 2006-06-22
US7641169B2 (en) 2010-01-05
JPWO2004107335A1 (ja) 2006-07-20
ES2326806T3 (es) 2009-10-20
KR100795249B1 (ko) 2008-01-15
JP4458042B2 (ja) 2010-04-28
CN1799090A (zh) 2006-07-05
WO2004107335A1 (ja) 2004-12-09
EP1628298A1 (en) 2006-02-22
TW200508007A (en) 2005-03-01
CN101763869B (zh) 2012-06-06
ATE437435T1 (de) 2009-08-15
KR20060023975A (ko) 2006-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111164228B (zh) 磁盘用铝合金基板及其制造方法、以及使用该磁盘用铝合金基板的磁盘
CN111448611B (zh) 磁盘用铝合金基板及其制造方法、以及使用了它的磁盘
CN111212927A (zh) 磁盘用铝合金基板及其制造方法、以及使用该磁盘用铝合金基板的磁盘
WO2019163239A1 (ja) 磁気ディスク、並びに、磁気ディスク用のアルミニウム合金基板及び該アルミニウム合金基板の製造方法
TWI243745B (en) Stamper substrate and process for producing the same
TWI774682B (zh) 銅合金輥軋材料及其製造方法以及電氣電子零件
CN116568837A (zh) 磁盘用铝合金盘坯以及磁盘
WO2019171675A1 (ja) 磁気ディスク基板及びその製造方法並びに磁気ディスク
JP2001209925A (ja) 磁気記録媒体用アルミニウム基板およびその製造方法
JP2020007624A (ja) 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法、ならびに、当該磁気ディスク用アルミニウム合金基板を用いた磁気ディスク
JP2024020847A (ja) 磁気ディスク用アルミニウム合金ディスクブランク及び磁気ディスク
JP2018059180A (ja) 磁気ディスク用アルミニウム合金ブランクおよび磁気ディスク用アルミニウム合金サブストレート
JPH02111839A (ja) 優れたメッキ性を有するディスク用アルミニウム合金板とその製造方法
JP2565741B2 (ja) 砥石による研削性及びメッキ性に優れたディスク用アルミニウム合金板及びその製造方法
JP7474356B2 (ja) 磁気ディスク用アルミニウム合金ディスクブランク及び磁気ディスク
WO2020110544A1 (ja) 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法、磁気ディスク用アルミニウム合金基盤及びその製造方法、ならびに、磁気ディスク及びその製造方法
JP7759211B2 (ja) 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及び当該磁気ディスク用アルミニウム合金基板を用いた磁気ディスク
JPH0752030A (ja) 陽極酸化処理基盤及び研磨方法
JP2006249536A (ja) 鏡面研磨用の金属素材
Nanis Sputter seeded nucleation of smooth electroless nickel growth
US20230120845A1 (en) Aluminum alloy substrate for magnetic disk, and magnetic disk using same
JPH05140757A (ja) デイスク用メツキ基盤の製造方法
JPH1036974A (ja) 封止材成形金型の表面処理方法
WO2025126990A1 (ja) アルミニウム合金基板のリサイクル方法、磁気ディスクの製造方法、磁気ディスク、及びハードディスクドライブ
JP2023115935A (ja) 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
MK4A Expiration of patent term of an invention patent