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TWI241019B - Solid imaging element and manufacturing method thereof - Google Patents

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TWI241019B
TWI241019B TW093110468A TW93110468A TWI241019B TW I241019 B TWI241019 B TW I241019B TW 093110468 A TW093110468 A TW 093110468A TW 93110468 A TW93110468 A TW 93110468A TW I241019 B TWI241019 B TW I241019B
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Taiwan
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film
lens film
insulating film
power supply
imaging element
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TW093110468A
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Inventor
Seiji Kai
Ryouji Matsui
Tetsuya Yamada
Tsutomu Imai
Kazuyuki Takegawa
Original Assignee
Sanyo Electric Co
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Description

1241019 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種改善受光效率的固體成像元件及. 其製造方法。 【先前技術】 t 第15圖是表示習知的訊框傳送方式的固體成像元件 的概略構成的俯視圖。訊框傳送方式的固體成像元件U 由有成像部!i、儲存部ls、水平傳送部ih以及輸出部Η 戶二成2像部H由垂直方向上相互平行配置的複數個垂« 構成。垂直移位暫存器的各位元形成各受 $素。儲存部ls係由連接於構成成像部Η的垂直移位 =器的複數個垂直移位暫存器所構成。水平傳送部U π:儲存部ls的輪出側的一行水平移位暫存器所 t部14有接收從水平傳送部^輸出的資訊=的 發生所構成的複數個受光像素所· 傳送時脈二各受光像素’響應訊框 存部,響應垂直傳且’暫時儲存於儲 =時二傳=水平傳送部1h的資訊電荷,響應水 逐次變換為電塵值,以作為^專送到輸出部Μ,並 第16圖是表示成像=…⑴輸出。. 1的一部分結構的俯視圖。第 315743 5 1241019 17圖是第16圖的χ_χ剖視圖。 在/型㈣基板2的—個主面上形成作為元件區域的 Ρ型的擴散層3。在該Ρ型的擴散層3的表面區域,以一定 =間:平行配置有高濃度植入ρ型雜質的複數個分離 成作為次,離區域4之間形^型的擴散層,並形 *、貝5fl電何傳送路徑的複數個通道(仏細⑴區域5。 區域5上’透過由薄的氧切構成的閘絕緣 膑伸在與複數個通道區域5交又之方向上而互相平 =置有複數個多晶石夕的傳送電極7。對於這些傳送電極 士^如可以施加三相的訊框傳送時脈φη至的, 日“里脈衝來控制通道區域5的電位的狀態。二 在複數個傳送電極7上,游#Η 料的#間絕绫膜h ^成有與閘絕緣膜6同一材 配丄:ί 層間絕緣膜上覆蓋分離區域4,而 =例如由_構成的複數條電力供 電力供給線8’係在分離區域4與傳送電極7的交:= 相連接。例如,在-相《動的情況下,在每二
傳达電極7上設置接觸利 1U 送電極相連接。以覆蓋^各電力供給線8與每兩個傳 絕緣膜9,並且,在電力供給線8之方式形成層間 成的保護膜1()。、U軸9上形成由氮切所構 分離區域像凡件的情況下,以在受光區域上覆蓋 £或4之方式形成複 條電力供給線”所使—材二: 315743 6 1241019 性。因此,同樣入射到受光區域的光中,入射到電力供仏 線8的光會在電力供給線8的表面反射。所以,入射到電 力供給線8上的光就不能到達通道區域5,而產生不能作书 為資訊電待而取入的問題。 【發明内容】 因此’本發明的特徵在於提供一種能夠解決上述問 題,將光南效率地取入到像素區域,使受光感度提高的固 體成像元件及其製造方法。 本毛月疋為了解決上述問題而研創者,其特徵在於設 置有半V體基板,在該半導體基板的—個主面上相隔一 定距離而平行配置的複數個通道Uhannel) 這^數個通道區域的間隙上的複數個分離區域;在= 半‘體基板上與上述複數個通道區域交又的方向上延 ,的複數個傳达電極;在上述複數個傳送電極上沿上述複 ^固分離區域而配置的複數條電力供給線;在上述複數個 傳达電極上覆蓋上述複數條電力供給線而疊層的透光性絕 、、彖臈,以及在上述絕緣獏上疊層的透光性上層與下層之透 鏡膜;上述絕緣臈的厚度係在上述分離區域的中心較厚, :時在上述通道區域的中心較薄’且上述上層透鏡膜具有 :面在上述分離區域上方朝向上述通道區域呈連續凸部的 。更透鏡膜具有比上述上層透鏡膜的上層的 而且’ δ亥製造方法的特徵在於具有:在半導體基板的 主面上以相隔一定的距離平行配置複數個通道區域, 315743 7 1241019 ^ _制^^數個通㈣域的間隙形成複數個分離區域的 交又的太&在上述半導體基板上與上述複數個通道區域相 _、11上延伸形成複數個傳送電極,同時在上述複數 :二電極上覆蓋上述分離區域而形成複數個電二 透光度個傳送電極· 多你帝A 7弟一衣^,在上述絕緣膜上形成覆蓋上述 ^ #給線且沿著上述複數個通道區域延伸的遮罩圖 4 '四衣耘,/〇著上述遮罩圖案對上述絕緣膜進行向性 « ^ ’使上述絕緣冑的厚度沿著上述複數個㊣道區域變 製程,·在上述絕緣膜上疊層透光性的下層透鏡膜的 弟程;透過對上述下層透鏡膜進行深蝕刻處理,在上 述分T區域上形成凹部的第七製程;以及在上述下層透鏡 膜上豐層透光性的上層透鏡膜的第八製程;上述上層透鏡 膜具有比上述上層透鏡膜的上層的物質更高的折射率。 根據本發明,上層透鏡膜的表面具有與稜鏡同樣的作 用,能夠將入射到電力供給線的光導向通道區域。由此, 能夠將照射到受光區域的光有效率地變換為資訊電荷。_ 【實施方式】 第1圖是表示本發明中固體成像元件的實施形態的結 構且表示與弟17圖相同的部分。此外,在該圖中,n型 的矽基板2、P型的擴散層3、分離區域4、通道區域5、 閘絕緣膜6、傳送電極7、及電力供給線8都與第17圖所 不者相同。本發明的特徵在於··在複數個傳送電極7上覆 蓋有電力供給線8,而該上層透鏡膜24的表面具有在分離 8 315743 1241019 區域4上方朝向通道區域5呈連續凸部的形狀。 的折2透鏡膜24具有比上層透鏡膜24上方的物質更高 圖中雖然未^光!透明性的材料所構成。而且,在第1 十主7 、不,但在上層透鏡膜24上形成保護膜25的 ^透鏡膜7膜25是由光學透明性的材料所形成,俾將上 曰 、的表面全部覆蓋成為,並使其表面平坦化。 例可以使上層透鏡膜24成為折射率為14至15 的空Lt:: ’且不形成保護膜25,而直接與折射率為1 而且,也可錢上層透鏡膜24成為折射率 :产的氮化矽’並將保護膜25作成折射率為1.4至1.5 左右的氧化石夕。 在本實_‘㈣情況下,上層透鏡膜μ與保護膜 y面’係從分離區域4的中^附近到通道讓⑴ 的—部分呈平緩的曲面形狀,從該曲面形狀的-向通道區域5的中心呈平面形狀。
k樣,藉由形成具有透光性且其表面在分離區域4上 朝向L道區域5呈連續凸部的上層透鏡膜Μ,且將上層透 ,膜24上作成比上層透鏡冑24的折射率⑯的透光性物 f二以使上層透鏡膜24在電力供給線8上具有稜鏡的功 能,能夠將入射到電力供給線8上的光導向通道區域卜 、曰透鏡膜24的表面在分離區域4的中心附近呈曲面形 狀’特別S,上層透鏡膜24的表面與㈣㈣基板2的 表面所成的角1 ’係^:定為隨著接近電力供給線$的中心 部而變大。由此,對於㈣㈣基板2的表面垂直入射的 315743 9 1241019 光’心夠由上層透鏡膜’越是在接近電力供給線8的中心 部分’越得到大的折射’因而使更多的光有效率地導入通 道區域5内。 而且,在具有透光性、且在其膜厚從通道區域5 一側 向刀離區域4的中心連續變厚的絕緣膜22上方疊層比絕緣 膜22的折射率咼的透光性的下層透鏡膜23的情況下,下 層透鏡膜23也在電力供給線8上具有稜鏡的功能,能夠將 入射到電力供給線8上的光更有效率地導向通道區域5。 對於下層透鏡膜23,也是將下層透鏡膜23與絕緣膜22的 '面與N型的矽基板2的表面所構成的角度,設定為隨著 接近電力供給線8的中心部而變大。由此,對^ N型的石夕 、々表面垂直入射的光,能夠藉由下層透鏡膜,在接 近電力供給線8的中心部分得到大的折射,因而使更多的 光有效率地導入通道區域5内。 此外,在本實施形態中,作為上層透鏡膜24及保護 膜25的材料,雖然列舉氧化石夕膜與氮化石夕膜,但本發明並 不限於此。亦即,只要上异诱 24 J / 具有比上層透鏡膜 可。、貝更尚的折射率、且具有光學透明性的材料即 :二ί ’在上層透鏡膜24上形成保護膜25的情況下, 上層透叙膜24具有比保護膜25更高的折射率、 學透明性的材料即可。 + I具有先 22更=折ΓΓ層透賴23,雖然最好為具有比絕緣膜 m 且具有光學透明性的㈣,但並非^ 要求下層透鏡膜23具有比絕緣膜22更高的折射率。而且, 315743 10 1241019 上層透鏡膜24與下層透鏡 料。 膜23也並非一定要是相同的材 而且 9及下層透叙膑與其他材料的折射率 相吻合而適當地調整曲而彡 / & 正曲面形狀的角度,能夠得到與本實施 形悲同樣的效果。例如,在檑由 在僅使上層透鏡膜24具有稜鏡的 功:,也能夠充分地將人射到電力供給線8上的光導向通 、品或5〗_l層透鏡膜24、下層透鏡膜23、及絕緣膜 22也可以全部由氧化矽與氮化矽所構成。 第2圖是表示採用本發明的結構的情況下的光線軌跡 的圖。這樣’人射到電力供給線8㈣可有效率地聚光於 通道區域5。 第3圖至第13圖是說明本發明中固體成像元件的製 仏方去另一製程的剖視圖。而且,在該圖中表示的是與第 1圖相同的部分。 第一製程:第3圖 所在N型的矽基板2的表面區域,擴散硼(b)等卩形 雜貝以形成作為元件區域的P型的擴散層3。在該p型 的擴散層3内,選擇性地植入p形雜質,以形成分離區域 4在這些为離區域4的間隙’植入磷(p )等n型雜質, 以形成作為通道區域5的N型擴散層。 苐一製程··第4圖 使形成有分離區域4及通道區域5的N型的石夕基板2 的表面熱氧化,以形成由氧化矽構成的閘絕緣膜ό。在該 間絕緣膜 6 上使用 CVD ( chemical Vapor Deposition,化學 π 315743 1241019 氣相成長)法形成多晶石夕膜。而且,把該多晶石夕膜圖案化 成與通迢區域5交叉的預定形狀,並形成傳送電極7。 第三製程··第5圖 使用CVD法在傳送電極7上疊層氧化矽膜,以形成第 -層絕緣膜。對於該第一層絕緣膜,在位於分離區域4上 的位置形成接觸孔U。而且,在第—層絕緣膜上疊層紹, 圖案化成預定的形狀,以形成電力供給線8。 第四製程:第6圖 、田在形成有電力供給線8的第一層絕緣膜上使用cvd 法疊層BPSG膜,以形成與第一層絕緣膜相匹配的絕緣膜 2/。而且,由於在後續的製程中進行蝕刻處理,因此在該 f四製程中,該BPSG膜係形成比加工後的最大厚度更要 厚而且,對该BPSG膜的表面實施熱處理,使絕緣膜22 的表面平坦化。 第五製程:第7圖 士上在絶緣膜22上疊層抗蝕層31,沿著電力供給線8將 虫層3 1予以圖案化,以形成覆蓋電力供給8 圖崇。工〇 ^ ^ : ,以遮罩圖案32作為遮罩,對絕緣膜22實 也"向1*生月蝕刻處理(例如乾式侵蝕處理),使絕緣膜22 的厚度沿著通道區域5而變薄。 可選製程:第8圖 去除絕緣膜22上殘留的遮罩圖案32,對於實施異向 ^月蝕刻處理的絕緣膜22施行等向性背蝕刻處理(例如濕 Ά刻處理)。藉由該等向性背姓刻處理,能夠使絕緣膜 315743 12 1241019 22,成在分離區域4上其厚度從通道區域5向分離區域4 連續變厚的形狀。這樣,首先在實施異向性背餘刻後,使 用實施等向性背蝕刻處理的方法,即使是具有如第i圖所 示的曲面形狀的形狀也能夠容易地形成。也就是說,可以 在異向性背蝕刻處理的處理時間根據層間絕緣膜U而自 由地設定下層透鏡膜23的膜厚,同時在等向性㈣刻處理 的時間自由地設定下層透鏡膜的曲面部分的角度,藉由適 當地調整這兩個侵蝕處理,即使是如訊框傳送“ =像元件般,分離區域4的寬度非常窄的類型,也能夠在 電力供給線8上的預定位置上正確地形成所希 ^ 還有,該製程並非一定需要。 第六製程:第9圖 在形成有絕緣膜22的矽基板!上,藉由電漿cvd法 疊層氮切’以形成覆蓋絕緣膜22表面全體的下層透鏡膜 23。此時,下層透鏡膜23的表面反映絕緣膜22的凸凹形 狀,在電力供給線8上形成平緩的凸部。 ' 第七製程··第1〇圖至第丨2圖 如第=圖所示,在下層透鏡膜23上,例如塗布抗敍 i —显=表面平坦化。其後,藉由對抗韻層33的表面 選刻處理而進行深姓刻。此時,藉由適當地 =姓I錢的混合比,而能夠得到下層透鏡膜23比抗姓 二3更谷易蝕刻的條件。由此,如第u圖所示,下層透 =膑23暴露於餘刻氣體的部分比抗餘層33得到更大二蝕 其結果’如f 12圖所示,在對抗钱層33全部姓時, 315743 13 1241019 下層透鏡膜23的表面在電力供給線8上形成平緩的凹部。 第八製程:第13圖 在形成有下層透鏡膜23的矽基板2上,藉由電聚cvd _ 法疊層氮切,以形成覆蓋下層透鏡膜23表面全體的上層. 透鏡膜24。此時,上層透鏡膜24的表面在電力供給線8 上形成平緩的凹部。例如,即使是具有如第i圖所示的曲 ㈣狀的形狀,也容易地形成。也就是說,藉由適當地設 疋利用電聚㈣法疊層氮化石夕膜的條件,能夠自由地設定. ^透鏡膜24之透鏡部分上部的厚度’同時,能夠自由地· 叹疋透鏡部分上部的曲面部分的角度。 如果有必要’可以在形成有上層透鏡膜24的梦基板2 上藉由電漿CVD法疊層氧化石夕’以形成覆蓋上層透鏡膜 2=全體的保護膜25’而且,藉由對保護膜25的表面 貝施背姓刻處理,或利用CMp法(chemicai polish,化學機械研磨法),使其平坦化。 根據以上的製造方法’能夠得到第1圖所示的具有下 層透鏡膜23及上層透鏡膜24的固體成像元件。 · 第1圖是表示經過第一至第五製程、可選製程、第六 至第八★製程所製造的本發明的固體成像元件的實施形態的 結構。_第14圖表示不經過可選製程而製造的本發明的固體 成像元件的實施形態之構成。在該結構中,也是透過使上 層透鏡膜24上方物質成為比上層透鏡膜24折射率更低的 透光性物質’而使上層透鏡膜24具有在電力供給線8上的 稜鏡的功能,能夠將人射到電力供給線8上的光導向通道 315743 14 1241019 區域5。 :者,本發明除了適用於訊框傳送方式之外,當卜 用他傳运方式的CCD型固體成像元件,例如疋 =成像Γ (桶繼電型),型㈣^
固脰成像兀件,離子雪崩刑榮a J 于3朋型4增倍型固體成像元件。 域上由形成具有透光性且其表面在分離區 读〜域王連績凸部的上層透鏡膜,同時使上層 性^、之上方物f成為比上層透鏡膜的折射率更低的透光 处可以使上層透鏡膜在電力供給線上具有棱鏡的功 =此夠將人射到電力供給線上的糾向通道區域。由此 ㈣半導體基板上的光有效率地進行光電變換, 而提南受光感度。 【圖式簡單說明】 第1圖是說明本發明的實施形態的剖視圖。 第2圖是表示採用本發明的結構時的光線執跡的圖。 第3圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的第 —製程的剖視圖。 一第4圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的第 二製程的剖視圖。 — 第5圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的第 三製程的剖視圖。 四 第6圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的 製程的剖視圖。 第7圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的 第 第 15 315743 1241019 五製程的剖視圖。 固體成像兀件的製造方法的可 第8圖是說明本發明之 選製程的剖視圖。 第9圖是說明本發明之 六製程的剖視圖。 固體成像元件的製造方法的第 :10圖是說明本發明之固體成像元件的製造 第七衣程的初期階段的剖視圖。 弟11圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法 弟七製程的中間階段的剖視圖。 、 第七 第12圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的 製程的最終階段的剖視圖。 〆 第13圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的 弟八製程的剖視圖。 第14圖是說明本發明之其他實施形態的剖視圖。 第15圖是表示習知的訊框傳送方式的固體成像元件 的概略結構的俯視圖。 第16圖是用以說明成像部結構的俯視圖。 第17圖是用以說明成像部結構的剖視圖。 【主要元件符號說明】 1 固體成像元件 Id li 成像部 lh 2 N型矽基板 3 4 分離區域 5 6 閘絕緣膜 7 輸出部 水平傳送部 p型擴散層 通道區域 傳送電極 315743 16 1241019 8 電力供給線 9 絕緣膜 10、25保護膜 11 接觸孔 15 儲存部 22 絕緣膜 23 下層透鏡膜 24 上層透鏡膜 31、33抗蝕層 32 遮罩圖案

Claims (1)

1241019 十、申請專利範圍: 1· 一種固體成像元件,其特徵在於設置有:半導體基 板;在該半導體基板的—個主面上相隔—定距離而平 行配置的複數個通道區域;配置在這些複數個通道區 域的間隙上的複數個分離區域;在上述半導體基板上 與上述複數個通道區域交叉的方向上延伸配置的複 數個傳送電極;在上述複數個傳送電極上沿著上述複 數個分離區域而配置的多條電力供給線;在上述複數 個傳达電極上覆蓋上述多條電力供給線而疊層的透 光性絕緣膜;以及在上述絕緣膜上疊層的透光性的上 層與下層之透鏡膜;上述絕緣膜的厚度係在上述分離 區域的中心變厚,同時在上述通道區域的中心變薄, 且上述上層透鏡膜具有表面在上述分離區域上朝向 上述通道區域呈連續凸部的 且古…… 又上述上層透鏡膜 :有比上述上層透鏡膜的上層的物質更高的折射 率 〇 體成像元件,其中,上述 區域上朝上述通道區域
2·如申請專利範圍第1項之固 絕緣膜的厚度係在上述分離 連續地變薄。 項之固體成像元件,其 上述絕緣膜更高的折射 3·如申請專利範圍第1或第2 中,上述下層透鏡膜具有比 率 〇 種固體成像元件之製造方法 在半導, …特徵在於具有· 在牛导體基板的一個主面上相隔 行配置複數個通道區域,同時在上述複數個通二 J8 315743 4. l24l〇i9 的間隙形成複數個分離區域的第一製程; 六在上述半導體基板上與上述複數個通道區域相 =又的方向上延伸形成複數個傳送電極,同時在上述 =:傳5電極上覆蓋上述分離區域而形成複數個 “雷m二製程:以預定的厚度在上述複數個 ^达電極上登層透光性絕緣膜的第三製程;在上述絕 ^膜上形成覆蓋上述多條電力供給線且沿著上述複 數個通道區域延伸的遮罩圖案的第四製程 遮罩圖㈣上述絕緣料行異向性㈣,使上述 膜的厚度沿著上述複數個通道區域變薄的第五_、、’ ί =在^述絕緣膜上疊層透光性的下層透鏡膜的第六 衣程’透過對上述下層透鏡膜進行深餘刻處理,在上 述分離區域上形成凹部的第七製程;以及 透鏡膜上疊層透光性的上層透鏡㈣m = 鏡膜具有比上述透鏡膜的上層的物f更高的L 315743 19
TW093110468A 2003-04-16 2004-04-15 Solid imaging element and manufacturing method thereof TWI241019B (en)

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