TWI241019B - Solid imaging element and manufacturing method thereof - Google Patents
Solid imaging element and manufacturing method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- TWI241019B TWI241019B TW093110468A TW93110468A TWI241019B TW I241019 B TWI241019 B TW I241019B TW 093110468 A TW093110468 A TW 093110468A TW 93110468 A TW93110468 A TW 93110468A TW I241019 B TWI241019 B TW I241019B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- film
- lens film
- insulating film
- power supply
- imaging element
- Prior art date
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 239000007787 solid Substances 0.000 title claims abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 57
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 27
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 22
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 21
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 9
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 claims description 3
- 244000309464 bull Species 0.000 claims 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 11
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 35
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 11
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 9
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000005380 borophosphosilicate glass Substances 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 3
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 3
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 3
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000005571 horizontal transmission Effects 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N Glycerine Chemical compound OCC(O)CO PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000238631 Hexapoda Species 0.000 description 1
- 101000774651 Naja atra Zinc metalloproteinase-disintegrin-like kaouthiagin-like Proteins 0.000 description 1
- 206010034960 Photophobia Diseases 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- -1 dry etching) Chemical compound 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N gadolinium atom Chemical compound [Gd] UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 208000013469 light sensitivity Diseases 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 230000005570 vertical transmission Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F99/00—Subject matter not provided for in other groups of this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/18—Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/011—Manufacture or treatment of image sensors covered by group H10F39/12
- H10F39/024—Manufacture or treatment of image sensors covered by group H10F39/12 of coatings or optical elements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/011—Manufacture or treatment of image sensors covered by group H10F39/12
- H10F39/026—Wafer-level processing
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/15—Charge-coupled device [CCD] image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/806—Optical elements or arrangements associated with the image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/806—Optical elements or arrangements associated with the image sensors
- H10F39/8063—Microlenses
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/807—Pixel isolation structures
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
1241019 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種改善受光效率的固體成像元件及. 其製造方法。 【先前技術】 t 第15圖是表示習知的訊框傳送方式的固體成像元件 的概略構成的俯視圖。訊框傳送方式的固體成像元件U 由有成像部!i、儲存部ls、水平傳送部ih以及輸出部Η 戶二成2像部H由垂直方向上相互平行配置的複數個垂« 構成。垂直移位暫存器的各位元形成各受 $素。儲存部ls係由連接於構成成像部Η的垂直移位 =器的複數個垂直移位暫存器所構成。水平傳送部U π:儲存部ls的輪出側的一行水平移位暫存器所 t部14有接收從水平傳送部^輸出的資訊=的 發生所構成的複數個受光像素所· 傳送時脈二各受光像素’響應訊框 存部,響應垂直傳且’暫時儲存於儲 =時二傳=水平傳送部1h的資訊電荷,響應水 逐次變換為電塵值,以作為^專送到輸出部Μ,並 第16圖是表示成像=…⑴輸出。. 1的一部分結構的俯視圖。第 315743 5 1241019 17圖是第16圖的χ_χ剖視圖。 在/型㈣基板2的—個主面上形成作為元件區域的 Ρ型的擴散層3。在該Ρ型的擴散層3的表面區域,以一定 =間:平行配置有高濃度植入ρ型雜質的複數個分離 成作為次,離區域4之間形^型的擴散層,並形 *、貝5fl電何傳送路徑的複數個通道(仏細⑴區域5。 區域5上’透過由薄的氧切構成的閘絕緣 膑伸在與複數個通道區域5交又之方向上而互相平 =置有複數個多晶石夕的傳送電極7。對於這些傳送電極 士^如可以施加三相的訊框傳送時脈φη至的, 日“里脈衝來控制通道區域5的電位的狀態。二 在複數個傳送電極7上,游#Η 料的#間絕绫膜h ^成有與閘絕緣膜6同一材 配丄:ί 層間絕緣膜上覆蓋分離區域4,而 =例如由_構成的複數條電力供 電力供給線8’係在分離區域4與傳送電極7的交:= 相連接。例如,在-相《動的情況下,在每二
傳达電極7上設置接觸利 1U 送電極相連接。以覆蓋^各電力供給線8與每兩個傳 絕緣膜9,並且,在電力供給線8之方式形成層間 成的保護膜1()。、U軸9上形成由氮切所構 分離區域像凡件的情況下,以在受光區域上覆蓋 £或4之方式形成複 條電力供給線”所使—材二: 315743 6 1241019 性。因此,同樣入射到受光區域的光中,入射到電力供仏 線8的光會在電力供給線8的表面反射。所以,入射到電 力供給線8上的光就不能到達通道區域5,而產生不能作书 為資訊電待而取入的問題。 【發明内容】 因此’本發明的特徵在於提供一種能夠解決上述問 題,將光南效率地取入到像素區域,使受光感度提高的固 體成像元件及其製造方法。 本毛月疋為了解決上述問題而研創者,其特徵在於設 置有半V體基板,在該半導體基板的—個主面上相隔一 定距離而平行配置的複數個通道Uhannel) 這^數個通道區域的間隙上的複數個分離區域;在= 半‘體基板上與上述複數個通道區域交又的方向上延 ,的複數個傳达電極;在上述複數個傳送電極上沿上述複 ^固分離區域而配置的複數條電力供給線;在上述複數個 傳达電極上覆蓋上述複數條電力供給線而疊層的透光性絕 、、彖臈,以及在上述絕緣獏上疊層的透光性上層與下層之透 鏡膜;上述絕緣臈的厚度係在上述分離區域的中心較厚, :時在上述通道區域的中心較薄’且上述上層透鏡膜具有 :面在上述分離區域上方朝向上述通道區域呈連續凸部的 。更透鏡膜具有比上述上層透鏡膜的上層的 而且’ δ亥製造方法的特徵在於具有:在半導體基板的 主面上以相隔一定的距離平行配置複數個通道區域, 315743 7 1241019 ^ _制^^數個通㈣域的間隙形成複數個分離區域的 交又的太&在上述半導體基板上與上述複數個通道區域相 _、11上延伸形成複數個傳送電極,同時在上述複數 :二電極上覆蓋上述分離區域而形成複數個電二 透光度個傳送電極· 多你帝A 7弟一衣^,在上述絕緣膜上形成覆蓋上述 ^ #給線且沿著上述複數個通道區域延伸的遮罩圖 4 '四衣耘,/〇著上述遮罩圖案對上述絕緣膜進行向性 « ^ ’使上述絕緣冑的厚度沿著上述複數個㊣道區域變 製程,·在上述絕緣膜上疊層透光性的下層透鏡膜的 弟程;透過對上述下層透鏡膜進行深蝕刻處理,在上 述分T區域上形成凹部的第七製程;以及在上述下層透鏡 膜上豐層透光性的上層透鏡膜的第八製程;上述上層透鏡 膜具有比上述上層透鏡膜的上層的物質更高的折射率。 根據本發明,上層透鏡膜的表面具有與稜鏡同樣的作 用,能夠將入射到電力供給線的光導向通道區域。由此, 能夠將照射到受光區域的光有效率地變換為資訊電荷。_ 【實施方式】 第1圖是表示本發明中固體成像元件的實施形態的結 構且表示與弟17圖相同的部分。此外,在該圖中,n型 的矽基板2、P型的擴散層3、分離區域4、通道區域5、 閘絕緣膜6、傳送電極7、及電力供給線8都與第17圖所 不者相同。本發明的特徵在於··在複數個傳送電極7上覆 蓋有電力供給線8,而該上層透鏡膜24的表面具有在分離 8 315743 1241019 區域4上方朝向通道區域5呈連續凸部的形狀。 的折2透鏡膜24具有比上層透鏡膜24上方的物質更高 圖中雖然未^光!透明性的材料所構成。而且,在第1 十主7 、不,但在上層透鏡膜24上形成保護膜25的 ^透鏡膜7膜25是由光學透明性的材料所形成,俾將上 曰 、的表面全部覆蓋成為,並使其表面平坦化。 例可以使上層透鏡膜24成為折射率為14至15 的空Lt:: ’且不形成保護膜25,而直接與折射率為1 而且,也可錢上層透鏡膜24成為折射率 :产的氮化矽’並將保護膜25作成折射率為1.4至1.5 左右的氧化石夕。 在本實_‘㈣情況下,上層透鏡膜μ與保護膜 y面’係從分離區域4的中^附近到通道讓⑴ 的—部分呈平緩的曲面形狀,從該曲面形狀的-向通道區域5的中心呈平面形狀。
k樣,藉由形成具有透光性且其表面在分離區域4上 朝向L道區域5呈連續凸部的上層透鏡膜Μ,且將上層透 ,膜24上作成比上層透鏡冑24的折射率⑯的透光性物 f二以使上層透鏡膜24在電力供給線8上具有稜鏡的功 能,能夠將入射到電力供給線8上的光導向通道區域卜 、曰透鏡膜24的表面在分離區域4的中心附近呈曲面形 狀’特別S,上層透鏡膜24的表面與㈣㈣基板2的 表面所成的角1 ’係^:定為隨著接近電力供給線$的中心 部而變大。由此,對於㈣㈣基板2的表面垂直入射的 315743 9 1241019 光’心夠由上層透鏡膜’越是在接近電力供給線8的中心 部分’越得到大的折射’因而使更多的光有效率地導入通 道區域5内。 而且,在具有透光性、且在其膜厚從通道區域5 一側 向刀離區域4的中心連續變厚的絕緣膜22上方疊層比絕緣 膜22的折射率咼的透光性的下層透鏡膜23的情況下,下 層透鏡膜23也在電力供給線8上具有稜鏡的功能,能夠將 入射到電力供給線8上的光更有效率地導向通道區域5。 對於下層透鏡膜23,也是將下層透鏡膜23與絕緣膜22的 '面與N型的矽基板2的表面所構成的角度,設定為隨著 接近電力供給線8的中心部而變大。由此,對^ N型的石夕 、々表面垂直入射的光,能夠藉由下層透鏡膜,在接 近電力供給線8的中心部分得到大的折射,因而使更多的 光有效率地導入通道區域5内。 此外,在本實施形態中,作為上層透鏡膜24及保護 膜25的材料,雖然列舉氧化石夕膜與氮化石夕膜,但本發明並 不限於此。亦即,只要上异诱 24 J / 具有比上層透鏡膜 可。、貝更尚的折射率、且具有光學透明性的材料即 :二ί ’在上層透鏡膜24上形成保護膜25的情況下, 上層透叙膜24具有比保護膜25更高的折射率、 學透明性的材料即可。 + I具有先 22更=折ΓΓ層透賴23,雖然最好為具有比絕緣膜 m 且具有光學透明性的㈣,但並非^ 要求下層透鏡膜23具有比絕緣膜22更高的折射率。而且, 315743 10 1241019 上層透鏡膜24與下層透鏡 料。 膜23也並非一定要是相同的材 而且 9及下層透叙膑與其他材料的折射率 相吻合而適當地調整曲而彡 / & 正曲面形狀的角度,能夠得到與本實施 形悲同樣的效果。例如,在檑由 在僅使上層透鏡膜24具有稜鏡的 功:,也能夠充分地將人射到電力供給線8上的光導向通 、品或5〗_l層透鏡膜24、下層透鏡膜23、及絕緣膜 22也可以全部由氧化矽與氮化矽所構成。 第2圖是表示採用本發明的結構的情況下的光線軌跡 的圖。這樣’人射到電力供給線8㈣可有效率地聚光於 通道區域5。 第3圖至第13圖是說明本發明中固體成像元件的製 仏方去另一製程的剖視圖。而且,在該圖中表示的是與第 1圖相同的部分。 第一製程:第3圖 所在N型的矽基板2的表面區域,擴散硼(b)等卩形 雜貝以形成作為元件區域的P型的擴散層3。在該p型 的擴散層3内,選擇性地植入p形雜質,以形成分離區域 4在這些为離區域4的間隙’植入磷(p )等n型雜質, 以形成作為通道區域5的N型擴散層。 苐一製程··第4圖 使形成有分離區域4及通道區域5的N型的石夕基板2 的表面熱氧化,以形成由氧化矽構成的閘絕緣膜ό。在該 間絕緣膜 6 上使用 CVD ( chemical Vapor Deposition,化學 π 315743 1241019 氣相成長)法形成多晶石夕膜。而且,把該多晶石夕膜圖案化 成與通迢區域5交叉的預定形狀,並形成傳送電極7。 第三製程··第5圖 使用CVD法在傳送電極7上疊層氧化矽膜,以形成第 -層絕緣膜。對於該第一層絕緣膜,在位於分離區域4上 的位置形成接觸孔U。而且,在第—層絕緣膜上疊層紹, 圖案化成預定的形狀,以形成電力供給線8。 第四製程:第6圖 、田在形成有電力供給線8的第一層絕緣膜上使用cvd 法疊層BPSG膜,以形成與第一層絕緣膜相匹配的絕緣膜 2/。而且,由於在後續的製程中進行蝕刻處理,因此在該 f四製程中,該BPSG膜係形成比加工後的最大厚度更要 厚而且,對该BPSG膜的表面實施熱處理,使絕緣膜22 的表面平坦化。 第五製程:第7圖 士上在絶緣膜22上疊層抗蝕層31,沿著電力供給線8將 虫層3 1予以圖案化,以形成覆蓋電力供給8 圖崇。工〇 ^ ^ : ,以遮罩圖案32作為遮罩,對絕緣膜22實 也"向1*生月蝕刻處理(例如乾式侵蝕處理),使絕緣膜22 的厚度沿著通道區域5而變薄。 可選製程:第8圖 去除絕緣膜22上殘留的遮罩圖案32,對於實施異向 ^月蝕刻處理的絕緣膜22施行等向性背蝕刻處理(例如濕 Ά刻處理)。藉由該等向性背姓刻處理,能夠使絕緣膜 315743 12 1241019 22,成在分離區域4上其厚度從通道區域5向分離區域4 連續變厚的形狀。這樣,首先在實施異向性背餘刻後,使 用實施等向性背蝕刻處理的方法,即使是具有如第i圖所 示的曲面形狀的形狀也能夠容易地形成。也就是說,可以 在異向性背蝕刻處理的處理時間根據層間絕緣膜U而自 由地設定下層透鏡膜23的膜厚,同時在等向性㈣刻處理 的時間自由地設定下層透鏡膜的曲面部分的角度,藉由適 當地調整這兩個侵蝕處理,即使是如訊框傳送“ =像元件般,分離區域4的寬度非常窄的類型,也能夠在 電力供給線8上的預定位置上正確地形成所希 ^ 還有,該製程並非一定需要。 第六製程:第9圖 在形成有絕緣膜22的矽基板!上,藉由電漿cvd法 疊層氮切’以形成覆蓋絕緣膜22表面全體的下層透鏡膜 23。此時,下層透鏡膜23的表面反映絕緣膜22的凸凹形 狀,在電力供給線8上形成平緩的凸部。 ' 第七製程··第1〇圖至第丨2圖 如第=圖所示,在下層透鏡膜23上,例如塗布抗敍 i —显=表面平坦化。其後,藉由對抗韻層33的表面 選刻處理而進行深姓刻。此時,藉由適當地 =姓I錢的混合比,而能夠得到下層透鏡膜23比抗姓 二3更谷易蝕刻的條件。由此,如第u圖所示,下層透 =膑23暴露於餘刻氣體的部分比抗餘層33得到更大二蝕 其結果’如f 12圖所示,在對抗钱層33全部姓時, 315743 13 1241019 下層透鏡膜23的表面在電力供給線8上形成平緩的凹部。 第八製程:第13圖 在形成有下層透鏡膜23的矽基板2上,藉由電聚cvd _ 法疊層氮切,以形成覆蓋下層透鏡膜23表面全體的上層. 透鏡膜24。此時,上層透鏡膜24的表面在電力供給線8 上形成平緩的凹部。例如,即使是具有如第i圖所示的曲 ㈣狀的形狀,也容易地形成。也就是說,藉由適當地設 疋利用電聚㈣法疊層氮化石夕膜的條件,能夠自由地設定. ^透鏡膜24之透鏡部分上部的厚度’同時,能夠自由地· 叹疋透鏡部分上部的曲面部分的角度。 如果有必要’可以在形成有上層透鏡膜24的梦基板2 上藉由電漿CVD法疊層氧化石夕’以形成覆蓋上層透鏡膜 2=全體的保護膜25’而且,藉由對保護膜25的表面 貝施背姓刻處理,或利用CMp法(chemicai polish,化學機械研磨法),使其平坦化。 根據以上的製造方法’能夠得到第1圖所示的具有下 層透鏡膜23及上層透鏡膜24的固體成像元件。 · 第1圖是表示經過第一至第五製程、可選製程、第六 至第八★製程所製造的本發明的固體成像元件的實施形態的 結構。_第14圖表示不經過可選製程而製造的本發明的固體 成像元件的實施形態之構成。在該結構中,也是透過使上 層透鏡膜24上方物質成為比上層透鏡膜24折射率更低的 透光性物質’而使上層透鏡膜24具有在電力供給線8上的 稜鏡的功能,能夠將人射到電力供給線8上的光導向通道 315743 14 1241019 區域5。 :者,本發明除了適用於訊框傳送方式之外,當卜 用他傳运方式的CCD型固體成像元件,例如疋 =成像Γ (桶繼電型),型㈣^
固脰成像兀件,離子雪崩刑榮a J 于3朋型4增倍型固體成像元件。 域上由形成具有透光性且其表面在分離區 读〜域王連績凸部的上層透鏡膜,同時使上層 性^、之上方物f成為比上層透鏡膜的折射率更低的透光 处可以使上層透鏡膜在電力供給線上具有棱鏡的功 =此夠將人射到電力供給線上的糾向通道區域。由此 ㈣半導體基板上的光有效率地進行光電變換, 而提南受光感度。 【圖式簡單說明】 第1圖是說明本發明的實施形態的剖視圖。 第2圖是表示採用本發明的結構時的光線執跡的圖。 第3圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的第 —製程的剖視圖。 一第4圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的第 二製程的剖視圖。 — 第5圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的第 三製程的剖視圖。 四 第6圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的 製程的剖視圖。 第7圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的 第 第 15 315743 1241019 五製程的剖視圖。 固體成像兀件的製造方法的可 第8圖是說明本發明之 選製程的剖視圖。 第9圖是說明本發明之 六製程的剖視圖。 固體成像元件的製造方法的第 :10圖是說明本發明之固體成像元件的製造 第七衣程的初期階段的剖視圖。 弟11圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法 弟七製程的中間階段的剖視圖。 、 第七 第12圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的 製程的最終階段的剖視圖。 〆 第13圖是說明本發明之固體成像元件的製造方法的 弟八製程的剖視圖。 第14圖是說明本發明之其他實施形態的剖視圖。 第15圖是表示習知的訊框傳送方式的固體成像元件 的概略結構的俯視圖。 第16圖是用以說明成像部結構的俯視圖。 第17圖是用以說明成像部結構的剖視圖。 【主要元件符號說明】 1 固體成像元件 Id li 成像部 lh 2 N型矽基板 3 4 分離區域 5 6 閘絕緣膜 7 輸出部 水平傳送部 p型擴散層 通道區域 傳送電極 315743 16 1241019 8 電力供給線 9 絕緣膜 10、25保護膜 11 接觸孔 15 儲存部 22 絕緣膜 23 下層透鏡膜 24 上層透鏡膜 31、33抗蝕層 32 遮罩圖案
Claims (1)
1241019 十、申請專利範圍: 1· 一種固體成像元件,其特徵在於設置有:半導體基 板;在該半導體基板的—個主面上相隔—定距離而平 行配置的複數個通道區域;配置在這些複數個通道區 域的間隙上的複數個分離區域;在上述半導體基板上 與上述複數個通道區域交叉的方向上延伸配置的複 數個傳送電極;在上述複數個傳送電極上沿著上述複 數個分離區域而配置的多條電力供給線;在上述複數 個傳达電極上覆蓋上述多條電力供給線而疊層的透 光性絕緣膜;以及在上述絕緣膜上疊層的透光性的上 層與下層之透鏡膜;上述絕緣膜的厚度係在上述分離 區域的中心變厚,同時在上述通道區域的中心變薄, 且上述上層透鏡膜具有表面在上述分離區域上朝向 上述通道區域呈連續凸部的 且古…… 又上述上層透鏡膜 :有比上述上層透鏡膜的上層的物質更高的折射 率 〇 體成像元件,其中,上述 區域上朝上述通道區域
2·如申請專利範圍第1項之固 絕緣膜的厚度係在上述分離 連續地變薄。 項之固體成像元件,其 上述絕緣膜更高的折射 3·如申請專利範圍第1或第2 中,上述下層透鏡膜具有比 率 〇 種固體成像元件之製造方法 在半導, …特徵在於具有· 在牛导體基板的一個主面上相隔 行配置複數個通道區域,同時在上述複數個通二 J8 315743 4. l24l〇i9 的間隙形成複數個分離區域的第一製程; 六在上述半導體基板上與上述複數個通道區域相 =又的方向上延伸形成複數個傳送電極,同時在上述 =:傳5電極上覆蓋上述分離區域而形成複數個 “雷m二製程:以預定的厚度在上述複數個 ^达電極上登層透光性絕緣膜的第三製程;在上述絕 ^膜上形成覆蓋上述多條電力供給線且沿著上述複 數個通道區域延伸的遮罩圖案的第四製程 遮罩圖㈣上述絕緣料行異向性㈣,使上述 膜的厚度沿著上述複數個通道區域變薄的第五_、、’ ί =在^述絕緣膜上疊層透光性的下層透鏡膜的第六 衣程’透過對上述下層透鏡膜進行深餘刻處理,在上 述分離區域上形成凹部的第七製程;以及 透鏡膜上疊層透光性的上層透鏡㈣m = 鏡膜具有比上述透鏡膜的上層的物f更高的L 315743 19
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003111976A JP2004319784A (ja) | 2003-04-16 | 2003-04-16 | 固体撮像素子及びその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW200425499A TW200425499A (en) | 2004-11-16 |
| TWI241019B true TWI241019B (en) | 2005-10-01 |
Family
ID=33296012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW093110468A TWI241019B (en) | 2003-04-16 | 2004-04-15 | Solid imaging element and manufacturing method thereof |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7459327B2 (zh) |
| JP (1) | JP2004319784A (zh) |
| KR (1) | KR100661411B1 (zh) |
| CN (1) | CN100392862C (zh) |
| TW (1) | TWI241019B (zh) |
| WO (1) | WO2004093196A1 (zh) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100886567B1 (ko) | 2005-10-25 | 2009-03-02 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 이미지 센서의 마이크로 렌즈 패턴 형성용 마스크 |
| JP2007287987A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Fujifilm Corp | 固体撮像装置の製造方法及び固体撮像装置 |
| JP4945167B2 (ja) * | 2006-05-12 | 2012-06-06 | スタンレー電気株式会社 | 半導体発光素子の製造方法及び該製造方法により製造された半導体発光素子の実装方法 |
| US8171791B2 (en) * | 2009-05-13 | 2012-05-08 | Robert Bosch Gmbh | Rotation sensor with onboard power generation |
| KR101167361B1 (ko) | 2009-08-25 | 2012-07-19 | 삼성전기주식회사 | 마이크로 렌즈를 내장한 실리콘 광전자 증배관 |
| CN101853887B (zh) * | 2010-04-22 | 2012-09-12 | 河北英沃泰电子科技有限公司 | 用于聚焦太阳能电池中的二次光学透镜 |
| US11482549B2 (en) * | 2017-06-09 | 2022-10-25 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Solid-state imaging device |
| CN111261648B (zh) * | 2020-01-21 | 2023-03-10 | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 | 放射线图像探测器及其制作方法 |
| US20230178576A1 (en) * | 2020-03-31 | 2023-06-08 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Light receiving element and electronic equipment |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04115678A (ja) | 1990-08-31 | 1992-04-16 | Sanyo Electric Co Ltd | 固体撮像素子及びその駆動方法 |
| JP3200856B2 (ja) * | 1991-02-12 | 2001-08-20 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
| JP2833941B2 (ja) * | 1992-10-09 | 1998-12-09 | 三菱電機株式会社 | 固体撮像装置とその製造方法 |
| JPH0927608A (ja) | 1995-05-11 | 1997-01-28 | Sony Corp | 固体撮像装置とその製造方法 |
| JP3405620B2 (ja) * | 1995-05-22 | 2003-05-12 | 松下電器産業株式会社 | 固体撮像装置 |
| JP3426935B2 (ja) | 1997-10-21 | 2003-07-14 | 三洋電機株式会社 | 固体撮像素子及び固体撮像素子の製造方法 |
| JP2000091548A (ja) | 1998-09-08 | 2000-03-31 | Sanyo Electric Co Ltd | 固体撮像素子及びその製造方法 |
| JP2000106425A (ja) | 1998-09-28 | 2000-04-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 固体撮像素子及びその製造方法 |
| JP2000206310A (ja) * | 1999-01-19 | 2000-07-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レンズアレイ |
| JP2001189443A (ja) | 1999-12-28 | 2001-07-10 | Sony Corp | 固体撮像素子及びその製造方法 |
| JP2003179221A (ja) | 2001-12-11 | 2003-06-27 | Mitsubishi Electric Corp | リニアイメージセンサの製造方法及びその構造 |
| JP2003264284A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Sanyo Electric Co Ltd | 固体撮像素子及びその製造方法 |
-
2003
- 2003-04-16 JP JP2003111976A patent/JP2004319784A/ja not_active Withdrawn
-
2004
- 2004-04-15 TW TW093110468A patent/TWI241019B/zh active
- 2004-04-16 CN CNB2004800014973A patent/CN100392862C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-04-16 WO PCT/JP2004/005487 patent/WO2004093196A1/ja not_active Ceased
- 2004-04-16 KR KR1020057008573A patent/KR100661411B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2004-04-16 US US10/533,030 patent/US7459327B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW200425499A (en) | 2004-11-16 |
| KR20050062660A (ko) | 2005-06-23 |
| US20060151773A1 (en) | 2006-07-13 |
| US7459327B2 (en) | 2008-12-02 |
| JP2004319784A (ja) | 2004-11-11 |
| KR100661411B1 (ko) | 2006-12-27 |
| WO2004093196A1 (ja) | 2004-10-28 |
| CN1717807A (zh) | 2006-01-04 |
| CN100392862C (zh) | 2008-06-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI298947B (en) | Solid-state imaging device and method for manufacturing the same | |
| CN110310965B (zh) | 每个像素区域具有多个透镜的图像传感器 | |
| US10854669B2 (en) | Method of manufacturing an imager and imager device | |
| US20250311465A1 (en) | High performance image sensor | |
| US12107104B2 (en) | Backside refraction layer for backside illuminated image sensor and methods of forming the same | |
| TW200814310A (en) | Reflection type CMOS image sensor and method of manufacturing the same | |
| US11258971B2 (en) | Multi-function transfer gate electrode for a photodetector and methods of operating the same | |
| TWI241019B (en) | Solid imaging element and manufacturing method thereof | |
| US20250126911A1 (en) | Methods for forming optical blocking structures for black level correction pixels in an image sensor | |
| US20110018079A1 (en) | Apparatus and method of manufacture for depositing a composite anti-reflection layer on a silicon surface | |
| US6936873B2 (en) | Solid state imaging device and method for manufacturing solid state imaging device | |
| JPH08316450A (ja) | 積層型固体撮像素子及びその製造方法 | |
| US20190312169A1 (en) | Photodiode and method of making thereof | |
| TWI255039B (en) | Manufacturing method for solid photographic device |