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TW202122788A - 機能膜之檢查方法、檢查系統及素材捲筒 - Google Patents

機能膜之檢查方法、檢查系統及素材捲筒 Download PDF

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TW202122788A
TW202122788A TW109124439A TW109124439A TW202122788A TW 202122788 A TW202122788 A TW 202122788A TW 109124439 A TW109124439 A TW 109124439A TW 109124439 A TW109124439 A TW 109124439A TW 202122788 A TW202122788 A TW 202122788A
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film
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TW109124439A
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三笠康之
松林恭平
田壺宏和
村上洋介
神丸剛
Original Assignee
日商日東電工股份有限公司
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Abstract

本發明之課題在於提供一種可妥當管理機能膜之缺陷資訊之機能膜之檢查方法等。 本發明之機能膜之檢查方法包括：第1步驟，其係檢查長條機能膜F1而獲取機能膜之缺陷資訊，該長條機能膜F1係用以貼合於長條偏光元件或包含偏光元件之長條光學積層體而製造長條偏光膜F2者；第2步驟，其係於機能膜之長邊方向每隔特定間隔，將識別資訊列印於機能膜之寬度方向端部；及第3步驟，其係將機能膜之缺陷資訊與識別資訊建立關聯並加以記憶。

Description

機能膜之檢查方法、檢查系統及素材捲筒
本發明係關於一種長條機能膜之檢查方法、檢查系統及素材捲筒，該長條機能膜係用以貼合於長條偏光元件或包含偏光元件之長條光學積層體而製造長條偏光膜者。本發明尤其係關於一種可妥當管理機能膜之缺陷資訊之機能膜之檢查方法、檢查系統及素材捲筒。
先前將偏光膜用於液晶顯示裝置等。偏光膜係於偏光元件或包含偏光元件之光學積層體貼合積層有機能膜而成之構造。 作為貼合於偏光元件之機能膜，可例示保護膜(亦包括兼作相位差膜者)及相位差膜。 作為包含偏光元件之光學積層體，可例示於偏光元件積層有保護膜者，作為貼合於該光學積層體之機能膜，可例示：相位差膜、反射型偏光元件、防反射膜、ITO(Indium Tin Oxides，氧化銦錫)膜等導電性膜、及例如由聚醯亞胺等製造而成之窗膜等。 由長條偏光膜沖裁出與各種用途相對應之尺寸之偏光膜之步驟例如如下所述。
首先，檢查以卷對卷方式搬送之長條偏光膜，檢測出偏光膜所存在之缺陷。於檢測出缺陷之情形時，於缺陷位置標註標記，捲取偏光膜。 作為最終製品之偏光膜(沖裁後之偏光膜)根據使用者之規格不同而有各種尺寸，而長條偏光膜(偏光膜坯膜)往往可共通使用，因此會預先大量製造偏光膜坯膜，日後再視需要由偏光膜坯膜沖裁為所需尺寸之偏光膜製品。於沖裁偏光膜製品時必須避開存在缺陷之位置，或者於沖裁後將存在缺陷之位置標註有標記之偏光膜製品作為不良品去除。 因此，檢查長條偏光膜時，需要檢測出缺陷並將該缺陷位置等作為缺陷資訊加以記憶。
為了妥當管理缺陷資訊，提高偏光膜製品之良率，專利文獻1中提出一種偏光膜之檢查方法，該檢查方法將識別資訊(至少特定偏光膜之長邊方向位置的資訊)列印於偏光膜之寬度方向端部，將缺陷資訊與識別資訊建立關聯。 根據專利文獻1中記載之檢查方法，可妥當管理於偏光膜之狀態下所產生之缺陷的缺陷資訊。
然而，於偏光膜，不僅存在於將偏光元件或包含偏光元件之光學積層體與機能膜貼合製造而成之偏光膜之狀態下所產生之缺陷，亦存在於單獨機能膜(與偏光元件或光學積層體貼合前之機能膜)之狀態所產生缺陷。並且，有時於偏光膜之狀態下進行檢查難以檢測出於單獨機能膜之狀態所產生之缺陷。 因此，雖然亦會對機能膜單獨進行檢查，但是先前該檢查所檢測出之缺陷之缺陷資訊並未得到妥當管理。
再者，為了防止捲取機能膜時產生捲取偏移、捲取鬆弛、結塊、帶狀凸部等，存在實施滾紋加工之情形，該滾紋加工係藉由雷射刻印於機能膜之寬度方向端部形成微小凹凸(例如參照專利文獻2)。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利第5925609號公報 [專利文獻2]日本專利第5578759號公報
[發明所欲解決之問題]
本發明係為了解決上述先前技術之問題點而完成者，課題在於提供一種可妥當管理機能膜之缺陷資訊之機能膜之檢查方法、檢查系統及素材捲筒。 [解決問題之技術手段]
為了解決上述課題，本發明提供一種機能膜之檢查方法，其特徵在於包括：第1步驟，其係檢查長條機能膜而獲取上述機能膜之缺陷資訊，該長條機能膜係用以貼合於長條偏光元件或包含長條偏光元件之長條光學積層體而製造長條偏光膜者；第2步驟，其係於上述機能膜之長邊方向每隔特定間隔，將識別資訊列印於上述機能膜之寬度方向端部；及第3步驟，其係將上述機能膜之上述缺陷資訊與上述識別資訊建立關聯並加以記憶。
本發明中，「缺陷資訊」意為至少包含缺陷位置之資訊。又，「識別資訊」意為至少包含特定機能膜之長邊方向之位置資訊的資訊。 根據本發明，於第1步驟中獲取機能膜之缺陷資訊，於第2步驟中列印機能膜之識別資訊，於第3步驟中將缺陷資訊與識別資訊建立關聯並加以記憶。 因此，例如，於將機能膜貼合於偏光元件或包含偏光元件之光學積層體而成之偏光膜之狀態下讀取識別資訊，使用於第3步驟中記憶之缺陷資訊與識別資訊之關聯，藉此可避開於機能膜之狀態下所產生之缺陷之位置，從而沖裁製品。 再者，第1步驟～第3步驟並非必須按照該順序執行，例如，亦可於執行第2步驟後執行第1步驟。
本發明中，作為將識別資訊列印於機能膜之方法，例如可考慮藉由噴墨方式來進行列印或藉由雷射刻印來進行列印之方法。 根據本發明人等之見解，於將識別資訊列印於機能膜及偏光膜雙方之情形時，將列印於機能膜之識別資訊設為第1識別資訊，將列印於偏光膜之識別資訊設為第2識別資訊，藉由以下(1)～(6)中之任一方法來列印第1識別資訊及第2識別資訊，藉此即便第1識別資訊與第2識別資訊重疊，亦可辨別二者來加以讀取。 (1)第1識別資訊：使用透明墨水之噴墨方式，第2識別資訊：雷射刻印 (2)第1識別資訊：使用有色墨水之噴墨方式，第2識別資訊：雷射刻印 (3)第1識別資訊：雷射刻印，第2識別資訊：使用透明墨水之噴墨方式 (4)第1識別資訊：雷射刻印，第2識別資訊：使用有色墨水之噴墨方式 (5)第1識別資訊：使用透明墨水之噴墨方式，第2識別資訊：使用有色墨水之噴墨方式 (6)第1識別資訊：使用有色墨水之噴墨方式，第2識別資訊：使用透明墨水之噴墨方式
此處，於在機能膜之寬度方向端部形成有滾紋加工部之情形時，若將識別資訊列印於與滾紋加工部相對應之部位(形成有滾紋加工部之部位或預定形成滾紋加工部之部位)，則存在無法辨別識別資訊與滾紋加工部之凹凸而加以讀取之風險。 對此，本發明人等進行了銳意研究，結果發現若藉由噴墨方式將識別資訊列印於與滾紋加工部相對應之部位，則可辨別識別資訊與滾紋加工部之凹凸來加以讀取。 因此，本發明中，於在上述機能膜之寬度方向端部形成有滾紋加工部之情形時，較佳為於上述第2步驟中，藉由噴墨方式將上述識別資訊列印於上述機能膜之與上述滾紋加工部相對應之部位。
上述較佳之方法中，「與滾紋加工部相對應之部位」意為形成有滾紋加工部之部位或預定形成滾紋加工部之部位。 根據上述較佳之方法，如本發明人等之見解，即便將識別資訊列印於與滾紋加工部相對應之部位，亦可辨別識別資訊與滾紋加工部之凹凸來加以讀取。即，可將缺陷資訊與識別資訊適當地建立關聯。
本發明中，較佳為上述第2步驟中，於將上述滾紋加工部形成於上述機能膜之後，藉由噴墨方式將上述識別資訊列印於上述滾紋加工部。
根據上述較佳之方法，相較於在形成滾紋加工部之前列印識別資訊(即，將識別資訊列印於預定形成滾紋加工部之部位)之情形，並無因滾紋加工而導致識別資訊缺損之風險，可將缺陷資訊與識別資訊更適當地建立關聯。
本發明中，較佳為上述第2步驟中，藉由使用透明墨水之噴墨方式來列印上述識別資訊。
本發明之第2步驟中，亦可使用普通有色墨水。然而，根據本發明人等所研究之結果，使用透明墨水列印識別資訊更易與滾紋加工部之凹凸區分開來而易讀取。透明墨水係藉由照射光而發出螢光之墨水，可例示藉由照射紫外線而發出螢光之UV墨水。 因此，根據上述較佳之方法，可將缺陷資訊與識別資訊更適當地建立關聯。
本發明中，作為上述機能膜，可例示保護膜。
又，為了解決上述課題，本發明亦提供一種機能膜之檢查系統，其特徵在於具備：檢查裝置，其檢查長條機能膜而獲取上述機能膜之缺陷資訊，該長條機能膜係用以貼合於長條偏光元件或包含偏光元件之長條光學積層體而製造長條偏光膜者；列印裝置，其於上述機能膜之長邊方向每隔特定間隔，將識別資訊列印於上述機能膜之寬度方向端部；及運算記憶裝置，其將上述機能膜之上述缺陷資訊與上述識別資訊建立關聯並加以記憶。
進而，為了解決上述課題，本發明亦提供一種機能膜素材捲筒，其特徵在於：其係將長條機能膜捲繞為卷狀而成者，該長條機能膜係用以貼合於長條偏光元件或包含偏光元件之長條光學積層體而製造長條偏光膜者，且於上述機能膜之長邊方向每隔特定間隔列印有識別資訊。 [發明之效果]
根據本發明，可妥當管理機能膜之缺陷資訊。
以下，適當參照隨附圖式，對本發明之一實施方式之機能膜之檢查方法及機能膜之檢查系統進行說明。再者，本實施方式中列舉機能膜為貼合於偏光元件之保護膜之情形為例。並且，對包括保護膜、以及將保護膜貼合於偏光元件製造而成之偏光膜之檢查方法及檢查系統的形態(以下，將保護膜及偏光膜之檢查方法簡稱為「檢查方法」，將保護膜及偏光膜之檢查系統簡稱為「檢查系統」)進行說明。首先，對偏光膜之具體例進行說明。
＜偏光膜＞ 偏光膜係藉由包括以下步驟之製造方法製造而成：(A)使實施有染色處理、交聯處理及延伸處理之聚乙烯醇系膜乾燥，製造偏光元件；(B)於偏光元件之單側或雙側貼合保護膜；(C)貼合後進行加熱處理。
聚乙烯醇系膜之染色處理、交聯處理、延伸處理等各種處理並非必須分別實施，亦可同時實施，又，各處理之順序亦可為任意順序。再者，作為聚乙烯醇系膜，亦可使用實施了膨潤處理之聚乙烯醇系膜。通常，將聚乙烯醇系膜浸漬於包含碘或二色性色素之溶液中，於使其吸附碘或二色性色素而染色後將其洗淨，於包含硼酸或硼砂等之溶液中以延伸倍率3倍～7倍進行單軸延伸後，使其乾燥。於包含碘或二色性色素之溶液中進行延伸後，於包含硼酸或硼砂等之溶液中進一步進行延伸(二級延伸)後，使其乾燥，藉此碘之配向變高，偏光度特性變好，故而特佳。
作為構成上述聚乙烯醇系膜之聚乙烯醇系聚合物，例如可列舉：使乙酸乙烯酯聚合後皂化而成者；或使乙酸乙烯酯與少量不飽和羧酸、不飽和磺酸、陽離子性單體等可共聚之單體進行共聚而成者等。聚乙烯醇系聚合物之平均聚合度並無限制，可任意使用，較佳為1000以上，更佳為2000～5000。又，聚乙烯醇系聚合物之皂化度較佳為85莫耳%以上，更佳為98～100莫耳%。
製造之偏光元件之厚度通常為5～80 μm，但並不限定於此，又，對於調整偏光元件之厚度之方法亦並無特別限定，可使用拉幅機、輥延伸或壓延等通常之方法。
對於偏光元件與保護膜之貼合並無特別限定，例如，可經由包含乙烯醇系聚合物之接著劑、或者至少包含硼酸或硼砂、戊二醛或三聚氰胺、草酸等乙烯醇系聚合物之水溶性交聯劑的接著劑等進行。貼合偏光元件與保護膜之接著層係作為水溶液之塗佈乾燥層等形成，製備該水溶液時可視需要亦調配其他添加劑或酸等觸媒。
貼合於偏光元件之單側或雙側之保護膜可使用適當之透明膜。其中，較佳為使用包含透明性、機械強度、熱穩定性、防水性等優異之聚合物之膜。作為該聚合物，可列舉：三乙醯纖維素等乙酸系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚芳酯、聚對苯二甲酸乙二酯等聚酯系樹脂、聚醯亞胺系樹脂、聚碸系樹脂、聚醚碸系樹脂、聚苯乙烯系樹脂、聚乙烯、聚丙烯等聚烯烴系樹脂、聚乙烯醇系樹脂、聚氯乙烯系樹脂、聚降𦯉烯系樹脂、(甲基)丙烯酸系樹脂、聚甲基丙烯酸甲酯系樹脂、液晶聚合物等。膜可為藉由流延法、壓光法、擠出法中之任一方法製造而成者。
又，亦可列舉日本專利特開2001-343529號公報(WO01/37007)中所記載之聚合物膜、例如含有(A)於側鏈具有經取代及/或未經取代之亞胺基之熱塑性樹脂、及(B)於側鏈具有經取代及/或未經取代之苯基以及腈基之熱塑性樹脂的樹脂組合物。作為具體例，可列舉含有由異丁烯與N-甲基順丁烯二醯亞胺所構成之交替共聚物、及丙烯腈-苯乙烯共聚物之樹脂組合物之膜。作為膜，可使用包含樹脂組合物之混合擠出品等之膜。該等膜由於相位差較小且光彈性係數較小，故可消除由偏光膜之應變所導致之不均等不良情況，又由於透濕度較小，故加濕耐久性優異。
又，保護膜較佳為儘可能無色。因此，較佳為使用Rth＝[(nx＋ny)/2 -nz]・d(其中，nx、ny為膜平面內之主折射率，nz為膜厚方向之折射率，d為膜厚)所示之膜厚方向之相位差值為-90 nm～+75 nm之保護膜。藉由使用厚度方向之相位差值(Rth)為-90 nm～+75 nm者，可基本消除由保護膜引起之偏光膜之著色(光學性著色)。厚度方向之相位差值(Rth)進而較佳為-80 nm～+60 nm，特佳為-70 nm～+45 nm。
作為保護膜，就偏光特性或耐久性等方面而言，較佳為(甲基)丙烯酸系樹脂。又，較佳為三乙醯纖維素等乙酸酯系樹脂，特佳為表面用鹼等進行了皂化處理之三乙醯纖維素膜。再者，於在偏光元件之兩側貼合保護膜之情形時，於其正背亦可使用包含不同聚合物所構成之保護膜。
保護膜之厚度為任意厚度，但通常為了實現偏光膜之薄型化等而為500 μm以下，較佳為1～300 μm，特佳為5～200 μm。
保護膜只要不妨礙本發明之目的，亦可實施硬塗處理及防反射處理、以抗沾黏、擴散及防眩等為目的之處理等。硬塗處理係為了防止偏光膜之表面之損傷等而實施者，例如可藉由將硬化皮膜附加於保護膜之表面之方式等形成，該硬化皮膜係藉由矽酮系等適當之紫外線硬化型樹脂而獲得優異之硬度或滑動性等。
另一方面，防反射處理係為了防止外界光於偏光膜之表面發生反射而實施者，可藉由依據先前方法形成防反射膜等來達成。又，抗沾黏係為了防止與鄰接層之密接而實施者，防眩處理係為了防止外界光於偏光膜之表面發生反射而妨礙偏光膜透射光之視認而實施者，例如可藉由以下方法形成：以藉由噴砂方式或壓紋加工方式等之表面粗糙化方式或調配透明微粒子之方式等適當方式對保護膜之表面賦予微細凹凸結構。
上述透明微粒子例如可列舉平均粒徑為0.5～20 μm之氧化矽及氧化鋁、二氧化鈦及氧化鋯、氧化錫及氧化銦、氧化鎘及氧化銻等，可使用具有導電性之無機系微粒子，又，可使用包含交聯或未交聯之聚合物粒狀物等之有機系微粒子等。通常透明微粒子之使用量為每100質量份之透明樹脂為2～70質量份，尤其是5～50質量份。
進而，調配透明微粒子之防眩層可作為透明保護層本身或對透明保護層表面之塗佈層等而設置。防眩層亦可兼作用以使長條光學積層體(偏光膜)透射光擴散而擴大視角之擴散層(視角補償功能等)。再者，上述防反射層及抗沾黏層、擴散層及防眩層等亦可作為包含設置有該等層之片材等之光學層與透明保護層分開設置。
＜本實施方式之檢查方法＞ 以下，對本實施方式之檢查方法進行說明。 圖1係表示本實施方式之檢查方法之概略步驟之流程圖。如圖1所示，本實施方式之檢查方法包括：於保護膜之製造步驟中執行之步驟(本發明之機能膜(保護膜)之檢查方法所包含之步驟)S1～S4、及於偏光膜之製造步驟中執行之步驟S5～S12。以下，依序對各步驟進行說明。 再者，本實施方式中，將本發明之機能膜(保護膜)之檢查方法及檢查系統中之「缺陷資訊」稱為「第1缺陷資訊」，將「識別資訊」稱為「第1識別資訊」。又，將本發明之機能膜(保護膜)之檢查系統中之「檢查裝置」稱為「第1檢查裝置」，將「列印裝置」稱為「第1列印裝置」，將「運算記憶裝置」稱為「第1運算記憶裝置」。
[於機能膜(保護膜)之製造步驟中執行之步驟] 於機能膜(保護膜)之製造步驟中執行第1步驟S2～第3步驟S4。又，本實施方式中，於第1步驟S2之前執行滾紋加工步驟S1。
(滾紋加工步驟S1) 滾滾紋加工步驟S1中，於保護膜F1之寬度方向端部實施滾紋加工而形成滾紋加工部。滾紋加工之具體內容例如如專利文獻2所記載，已眾所周知，故此處省略詳細說明。
(第1步驟S2) 圖2係模式性地表示用以執行第1步驟S2～第3步驟S4之檢查系統之概略構成的立體圖。 如圖2所示，第1步驟S2中，檢查系統100所具備之第1檢查裝置1檢查由搬送捲筒R以卷對卷方式搬送(朝向圖2中粗實線箭頭所示之方向搬送)之保護膜F1，獲取保護膜F1之缺陷資訊即第1缺陷資訊。 第1檢查裝置1具備：攝像機構1a，其與保護膜F1之正面對向配置；及圖像處理機構1b，其與攝像機構1a電性連接，對攝像機構1a所獲取之保護膜F1之正面之拍攝圖像實施適當之圖像處理。作為攝像機構1a，可使用攝像元件沿著保護膜F1之寬度方向呈直線狀地配置之線感測器、或攝像元件呈矩陣狀地配置之區域傳感器。攝像機構1a之視野為保護膜F1之有效寬度(用於製品之寬度)以上。圖像處理機構1b藉由對拍攝圖像實施二值化等公知之圖像處理，與提取保護膜F1所存在之缺陷相對應之像素區域。並且，圖像處理機構1b特定出拍攝圖像中之缺陷位置(與缺陷相對應之像素區域之座標)，獲取至少包含特定出之缺陷位置之資訊作為第1缺陷資訊。將獲取之第1缺陷資訊輸入至檢查系統100所具備之第1運算記憶裝置4。
(第2步驟S3) 第2步驟S3中，檢查系統100所具備之第1列印裝置2於保護膜F1之長邊方向每隔特定間隔(例如1 m之等間隔)，將第1識別資訊M列印於保護膜F1之寬度方向端部(較佳為滾紋加工部)。圖2中圖示出從保護膜F1之前端側(搬送方向下游側)依序列印有第1識別資訊M1～M3之例。 第1識別資訊M為至少包含特定保護膜F1之長邊方向位置的資訊之資訊。第1識別資訊M例如係藉由二維碼或條碼表示從保護膜F1之前端側依序增加或減少之數值(利用該數值特定保護膜F1之長邊方向位置)。第1識別資訊M中，除特定保護膜F1之長邊方向位置的資訊之外，亦可包含列印之日期時間、保護膜F1之製造編號、列印之步驟之類別等各種附帶資訊。
本實施方式中，利用第1列印裝置2進行之第1識別資訊M之列印受第1運算記憶裝置4控制。具體而言，藉由使用旋轉編碼器等之測距器3，測定保護膜F1之朝向搬送方向之移動量，並輸入至第1運算記憶裝置4。第1運算記憶裝置4基於從測距器3所輸入之移動量，每隔特定間隔對第1列印裝置2發送控制信號，從而使第1列印裝置2每隔特定間隔列印第1識別資訊M。 再者，本實施方式中，以第1運算記憶裝置4亦具有控制第1列印裝置2之功能之情形為例進行了說明，但本發明並不限定於此，亦可採用由第1運算記憶裝置4以外之其他控制裝置控制第1列印裝置2之構成。
本實施方式之第1列印裝置2藉由噴墨方式列印第1識別資訊M。作為較佳之形態，本實施方式之第1列印裝置2係藉由使用透明墨水之噴墨方式列印第1識別資訊M。具體而言，本實施方式中藉由使用UV墨水作為透明墨水之噴墨方式列印第1識別資訊M，該UV墨水藉由照射紫外線而發出螢光。 作為第1列印裝置2，例如可使用Videojet公司製造之噴墨印表機「VJ1000系列」或日立產機公司製造之噴墨印表機「Gravis UX系列」。
(第3步驟S4) 第3步驟S4中，第1運算記憶裝置4將保護膜F1之第1缺陷資訊與第1識別資訊M建立關聯並加以記憶。具體如下所述。 例如，第1檢查裝置1檢測出圖2所示之缺陷D1，並特定出拍攝圖像中缺陷D1之位置(與缺陷D1相對應之像素區域之座標)，將其作為第1缺陷資訊輸入至第1運算記憶裝置4。因已從測距器3對第1運算記憶裝置4輸入有保護膜F1之朝向搬送方向之移動量，故第1運算記憶裝置4可掌握檢測出缺陷D1之時點(特定出拍攝圖像中與缺陷D1相對應之像素區域之座標的時點)與利用第1列印裝置2列印第1識別資訊M之時點之間，保護膜F1於搬送方向上移動之距離。基於保護膜F1於該兩時點間之移動量及拍攝圖像中與缺陷D1相對應之像素區域之座標，第1運算記憶裝置4可計算出從特定之第1識別資訊M(圖2所示之例中為第1識別資訊M3)至缺陷D1之距離(沿著保護膜F1之長邊方向之距離)X1。又，第1運算記憶裝置4基於拍攝圖像中與缺陷D1相對應之像素區域之座標，可計算出從保護膜F1之寬度方向之邊緣至缺陷D1之距離(沿著保護膜F1之寬度方向之距離)Y1。第1運算記憶裝置4將至少該第1識別資訊M(M3)與以第1識別資訊M(M3)為基準之缺陷D1之座標(X1，Y1)建立關聯並加以記憶。
[於偏光膜之製造步驟中執行之步驟] 將於上述製造步中驟製造之保護膜(第1識別資訊M以噴墨方式列印於滾紋加工部之保護膜)F1捲繞為卷狀，製成素材捲筒。將已製成素材捲筒之保護膜F1搬運至偏光膜之製造步驟。於偏光膜之製造步驟使用被搬運來之保護膜F1之素材捲筒。 如圖1所示，本實施方式之偏光膜之製造步驟包括No.1步驟及No.2步驟。本實施方式之偏光膜之製造步驟中，於No.1步驟執行第4步驟S6～第7步驟S9後，再於No.2步驟中執行第4步驟S11及第6步驟S12。又，本實施方式之偏光膜之製造步驟中，於No.1步驟中執行貼合步驟S5，於No.2步驟中執行讀取步驟S10。
(貼合步驟S5) 於No.1步驟中，將保護膜F1之素材捲筒捲出，並將偏光元件之素材捲筒捲出。之後，於貼合步驟S5中，如上所述經由接著劑等將保護膜F1貼合於偏光元件之單側或雙側，從而獲得積層保護膜F1及偏光元件而成之偏光膜F2。
(第4步驟S6) 圖3係模式性地表示用以執行第4步驟S6～第6步驟S8之檢查系統之概略構成的立體圖。 如圖3所示，第4步驟S6中，檢查系統100所具備之第2檢查裝置5檢查藉由搬送捲筒R以卷對卷方式搬送(朝向圖3中粗實線箭頭所示之方向搬送)之偏光膜F2，獲取偏光膜F2之缺陷資訊即第2缺陷資訊。 第2檢查裝置5與圖2所示之第1檢查裝置1同樣地具備攝像機構5a及圖像處理機構5b，且具有與第1檢查裝置1同樣之功能，故此處省略詳細說明。第2檢查裝置5特定出拍攝圖像中之缺陷位置(與缺陷相對應之像素區域之座標)，從而獲取至少包含特定出之缺陷位置之資訊作為第2缺陷資訊。將所獲取之第2缺陷資訊輸入至檢查系統100所具備之第2運算記憶裝置8。
(第5步驟S7) 第5步驟S7中，檢查系統100所具備之第2列印裝置6於偏光膜F2之長邊方向每隔特定間隔(例如1 m之等間隔)，將第2識別資訊N列印於偏光膜F2之寬度方向端部(較佳為保護膜F1之位於較滾紋加工部更靠寬度方向內側之偏光膜F2之部位)。圖3圖示出從偏光膜F2之前端側(搬送方向下游側)依序列印有第2識別資訊N1～N3之例。再者，實際上，第1識別資訊M係列印於構成偏光膜F2之保護膜F1，圖3中為了方便起見省略了第1識別資訊M之圖示。 第2識別資訊N至少包含特定偏光膜F2之長邊方向位置之資訊，而第1識別資訊M至少包含特定保護膜F1之長邊方向位置之資訊，第2識別資訊N與第1識別資訊M除此以外並無不同，故此處省略詳細說明。
再者，本實施方式中，列印於偏光膜F2之第2識別資訊N被列印於同樣列印有第1識別資訊M之保護膜F1，但本發明並不限定於此。 例如，於在偏光元件之雙側貼合保護膜F1而形成偏光膜F2之情形時，亦可將第1識別資訊M列印於其中一個保護膜F1，而將第2識別資訊N列印於未列印第1識別資訊M之另一個保護膜(亦可兼作相位差膜)。 又，例如，於偏光元件之雙側貼合保護膜F1，進而於其中一個保護膜F1貼合相位差膜而形成附相位差功能之偏光膜F2之情形時，亦可將第1識別資訊M列印於另一個保護膜F1，將第2識別資訊N列印於相位差膜。
利用第1列印裝置2進行之第1識別資訊M之列印係藉由第1運算記憶裝置4控制，同樣地，利用第2列印裝置6進行之第2識別資訊N之列印係藉由第2運算記憶裝置8控制。具體之控制內容與藉由第1列印裝置2進行之對第1識別資訊M之列印之控制相同，故此處省略詳細說明。
本實施方式之第2列印裝置6與第1列印裝置2不同，係藉由雷射刻印列印第2識別資訊N。作為第2列印裝置6，例如可應用各種公知之列印裝置，該等列印裝置具有使用CO2 雷射藉由雷射刻印來進行列印之功能，故此處省略詳細說明。
(第6步驟S8) 第6步驟S8中，第2運算記憶裝置8將偏光膜F2之第2缺陷資訊與第2識別資訊N建立關聯並加以記憶。具體而言，與第1運算記憶裝置4將保護膜F1之第1缺陷資訊與第1識別資訊M建立關聯並加以記憶時之順序相同，故省略詳細說明，而第2運算記憶裝置8係使用從具有與測距器3相同構成之測距器7所輸入之偏光膜F2之朝向搬送方向之移動量，將至少第2識別資訊N(圖3所示之例中為第2識別資訊N3)與以第2識別資訊N(N3)為基準之缺陷D2之座標(X2，Y2)建立關聯並加以記憶。
(第7步驟S9) 圖4係模式性地表示用以執行第7步驟S9之檢查系統之概略構成的立體圖。 第7步驟S9中，第2運算記憶裝置8將保護膜F1之第1缺陷資訊與偏光膜F2之第2識別資訊建立關聯並加以記憶。具體而言，配置有用以讀取第1識別資訊M(圖4中圖示出第1識別資訊M1～M3)之第1讀取裝置9、及用以讀取第2識別資訊N(圖4中圖示出第2識別資訊N1～N3)之第2讀取裝置10，將第1讀取裝置9所讀取之第1識別資訊M、及第2讀取裝置10所讀取之第2識別資訊N輸入至第2運算記憶裝置8。此處，於第2運算記憶裝置8中已經預先輸入並記憶有第1運算記憶裝置4中記憶之第1長條光學膜F1之第1缺陷資訊與第1識別資訊M之關聯(第1識別資訊M與以第1識別資訊M為基準之缺陷之座標的關係)。輸入第1缺陷資訊與第1識別資訊M之關聯時，可將第1運算記憶裝置4與第2運算記憶裝置8電性連接，從第1運算記憶裝置4發送至第2運算記憶裝置8，亦可從第1運算記憶裝置4下載並手動輸入至第2運算記憶裝置8。又，從具有與測距器3相同構成之測距器11對第2運算記憶裝置8輸入有偏光膜F2之朝向搬送方向之移動量。
第2運算記憶裝置8基於從測距器11所輸入之偏光膜F2之朝向搬送方向之移動量，可掌握第1讀取裝置9讀取第1識別資訊M之時點(第1識別資訊M被輸入至第2運算記憶裝置8之時點)與第2讀取裝置10讀取第2識別資訊N之時點(第2識別資訊N被輸入至第2運算記憶裝置8之時點)之間，偏光膜F2於搬送方向上移動之距離。基於偏光膜F2於該兩時點間之移動量，第2運算記憶裝置8可計算出第1識別資訊M與第2識別資訊N沿著偏光膜F2之長邊方向之位置偏移(圖4所示之例中為第1識別資訊M3與第2識別資訊N3之位置偏移dX)。 因此，第2運算記憶裝置8可基於預先記憶之保護膜F1之第1缺陷資訊與第1識別資訊M之關聯、以及所計算出第1識別資訊M及第2識別資訊N之位置偏移，將保護膜F1之第1缺陷資訊與偏光膜F2之第2識別資訊N建立關聯並加以記憶。換言之，可將第2識別資訊N與以第2識別資訊N為基準之缺陷之座標建立關聯並加以記憶。如此，藉由執行第7步驟S9，可基於偏光膜F2之第2識別資訊N，統籌管理第1缺陷資訊及第2缺陷資訊。 將執行第7步驟S9後之偏光膜F2捲繞為卷狀並搬運至No.2步驟。
圖5係模式性地表示第1讀取裝置9及第2讀取裝置10之概略構成例之側視圖(從偏光膜F2之寬度方向觀察之側視圖)。圖5(a)表示第1讀取裝置9之概略構成例，圖5(b)表示第2讀取裝置10之概略構成例。 圖5(a)所示，第1讀取裝置9具備出射紫外線之UV照明91及攝像機構(區域傳感器)92。藉由將從UV照明91出射之紫外線照射於偏光膜F2之正面，藉由透明墨水(UV墨水)列印之第1識別資訊M會發出螢光。藉此，對於偏光膜F2之正面配置於與UV照明91相同側(圖5(a)所示之例中為上側)之攝像機構92所獲取之拍攝圖像中，與第1識別資訊M相對應之像素區域變亮(與第2識別資訊N相對應之像素區域與背景同樣地變暗)，從而可辨別第1識別資訊M與第2識別資訊N來加以讀取。又，亦可辨別第1識別資訊M與滾紋加工部之凹凸來加以讀取。 再者，作為UV照明91，例如可使用出射波長200～400 nm左右之紫外線，較佳為使用出射波長365 nm左右之紫外線者。又，作為攝像機構92，例如可使用快門速度(曝光時間)為30～150 μsec左右之附高速快門之區域傳感器。
如圖5(b)所示，第2讀取裝置10具備：照明101，其配置於相對於偏光膜F2之正面之一側(圖5(b)所示之例中為下側)，出射平行光束；及攝像機構(區域傳感器)102，其配置於相對於偏光膜F2之正面之另一側(圖5(b)所示之例中為上側)，接收透過偏光膜F2之光。從照明101出射並照射至偏光膜F2之正面之平行光束，因藉由雷射刻印所列印之第2識別資訊N而發生散射。藉此，攝像機構102所獲取之拍攝圖像中，與第2識別資訊N相對應之像素區域變暗(與第1識別資訊M相對應之像素區域與背景同樣地變亮)，從而可辨別第2識別資訊N與第1識別資訊M來加以讀取。又，亦可辨別第2識別資訊與滾紋加工部之凹凸來加以讀取。
再者，雖然省略詳細說明，但於使用普通有色墨水列印第1識別資訊M之情形時，作為用以讀取第1識別資訊M之讀取裝置，使用將圖5(b)所示之照明101替換為照射擴散光之照明之讀取裝置，藉此攝像機構102所獲取之拍攝圖像中，與第1識別資訊M相對應之像素區域變暗(與第2識別資訊N相對應之像素區域與背景同樣地變亮)，從而可辨別第1識別資訊M與第2識別資訊N來加以讀取。又，亦可辨別第1識別資訊M與滾紋加工部之凹凸來加以讀取。
(讀取步驟S10) 於No.2步驟中，將捲繞為卷狀之偏光膜F2捲出。之後，首先執行讀取步驟S10。 圖6係模式性地表示用以執行讀取步驟S10、第2次第4步驟S11及第6步驟S12(執行第7步驟S9後之第4步驟及第6步驟)之檢查系統之概略構成的立體圖。再者，實際上，第1識別資訊M列印於構成偏光膜F2之保護膜F1，圖6中為了方便而省略了第1識別資訊M之圖示。 如圖6所示，讀取步驟S10中，藉由具有與檢查系統100所具備之第2讀取裝置10(參照圖4、圖5(b))相同構成之第2讀取裝置12讀取第2識別資訊N。所讀取之第2識別資訊N被輸入至第2記憶裝置8。
(第4步驟(第2次)S11) 第2次第4步驟S11中，具有與檢查系統100所具備之第2檢查裝置5相同構成之第2檢查裝置13(攝像機構13a及圖像處理機構13b)檢查藉由搬送捲筒R以卷對卷方式搬送(朝向圖6中粗實線箭頭所示之方向搬送)之偏光膜F2，獲取偏光膜F2之缺陷資訊即第2缺陷資訊。所獲取之第2缺陷資訊被輸入至第2運算記憶裝置8。
(第6步驟(第2次)S12) 第2次第6步驟S12中，第2運算記憶裝置8將第2檢查裝置13所獲取之偏光膜F2之第2缺陷資訊與第2讀取裝置12所讀取之第2識別資訊N建立關聯並加以記憶。具體而言，第2運算記憶裝置8使用從具有與測距器3相同構成之測距器14輸入之偏光膜F2之朝向搬送方向之移動量，掌握第2讀取裝置12讀取第2識別資訊N之時點與第2檢查裝置13檢測出缺陷之時點(特定出拍攝圖像中與缺陷相對應之像素區域之座標的時點)之間，偏光膜F2於搬送方向上移動之距離，從而將至少第2識別資訊N與以第2識別資訊N為基準之缺陷之座標建立關聯並加以記憶。
本實施方式中，以於偏光膜F2之製造步驟中執行2次檢查(利用第2檢查裝置5進行之檢查、利用第2檢查裝置13進行之檢查)之情形為例進行了說明，於檢查3次以上之情形時，第2次以後之檢查反覆執行讀取步驟S10、第4步驟S11及第6步驟S12即可。
根據以上已說明之本實施方式之檢查方法，由於藉由噴墨方式列印第1識別資訊M，故如本發明人等之見解，可辨別第1識別資訊M與滾紋加工部之凹凸來加以讀取。又，由於藉由噴墨方式列印第1識別資訊M，藉由雷射刻印列印第2識別資訊N，故如本發明人等之見解，即便第1識別資訊M與第2識別資訊N重疊，亦可辨別二者來加以讀取。即，可將缺陷資訊與識別資訊適當地建立關聯(將第1缺陷資訊與第1識別資訊M(甚至第2識別資訊N)建立關聯，將第2缺陷資訊與第2識別資訊N建立關聯)。 又，例如，藉由讀取第2識別資訊N，使用於第6步驟S8、S12中記憶之第2缺陷資訊與第2識別資訊N之關聯、及於第7步驟S9中記憶之第1缺陷資訊與第2識別資訊N之關聯，可避開於保護膜F1之狀態下產生之缺陷位置及於偏光膜F2之狀態下所產生之缺陷位置，從而沖裁製品。
但是，並不限定於藉由噴墨方式列印第1識別資訊M、藉由雷射刻印來列印第2識別資訊N之形態。藉由噴墨方式列印第1識別資訊M及第2識別資訊N中之任一者，並藉由雷射刻印來列印另一者，或者藉由使用透明墨水之噴墨方式列印任一者，並藉由使用有色墨水之噴墨方式列印另一者，均可辨別第1識別資訊M與第2識別資訊N來加以讀取。
再者，作為較佳之形態，本實施方式之檢查方法亦可包括第8步驟(圖1中省略了圖示)，該步驟基於保護膜F1之第1識別資訊M(甚至偏光膜F2之第2識別資訊N)與第1缺陷資訊之關聯、及偏光膜F2之第2識別資訊N與第2缺陷資訊之關聯，於偏光膜F2之缺陷位置標註標記。具體而言，亦可讀取第2識別資訊N，於第1缺陷資訊及第2缺陷資訊中所包含之缺陷位置，藉由噴墨方式標註標記、或使用與專利文獻1之記載相同之標記油墨標註標記。藉由包括標註標記之第8步驟，於缺陷位置標註標記，因此目視亦可特定出缺陷位置。
圖7係表示藉由本實施方式之檢查方法之第1識別資訊M及第2識別資訊N之列印例的圖。圖7所示之例係如下之偏光膜F2：其係使用三乙醯纖維素(TAC)製保護膜及丙烯酸樹脂製保護膜作為保護膜F1，於偏光元件之雙側貼合該等保護膜F1而形成。圖7所示之例中，於藉由使用透明墨水(UV墨水)之噴墨方式將第1識別資訊M列印於丙烯酸樹脂製保護膜後，將該丙烯酸樹脂製保護膜與TAC製保護膜分別貼合於偏光元件之雙側，之後，藉由雷射刻印將第2識別資訊N列印於TAC製保護膜側。圖7所示之圓形凹凸為形成於丙烯酸樹脂製保護膜之寬度方向端部之滾紋加工部，菱形凹凸為形成於TAC製保護膜之寬度方向端部之滾紋加工部。 再者，圖7所示之拍攝圖像為同時使用第1讀取裝置9所具備之UV照明91及第2讀取裝置10所具備之照明101雙方來對偏光膜F2進行照明之情形時所得之拍攝圖像。
圖8係表示藉由第1讀取裝置9讀取圖7所示之偏光膜F2之第1識別資訊M之結果的一例。如圖8所示，可知第1讀取裝置9所獲取之拍攝圖像中，與第1識別資訊M相對應之像素區域變亮(與第2識別資訊N相對應之像素區域與背景同樣地變暗)，從而可辨別第1識別資訊M與第2識別資訊N來加以讀取。又，亦可知可辨別第1識別資訊與滾紋加工部之凹凸來加以讀取。
圖9係表示藉由第2讀取裝置10讀取圖7所示之偏光膜F2之第2識別資訊N之結果的一例。如圖9所示，可知第2讀取裝置10所獲取之拍攝圖像中，與第2識別資訊N相對應之像素區域變暗(與第1識別資訊M相對應之像素區域與背景同樣地變亮)，從而可辨別第2識別資訊N與第1識別資訊M來加以讀取。又，亦可知可辨別第2識別資訊與滾紋加工部之凹凸來加以讀取。
再者，本實施方式中，對執行滾紋加工步驟S1之後(於保護膜F1形成滾紋加工部之後)於第2步驟S2將第1識別資訊M列印於保護膜F1之例進行了說明，但本發明並不限定於此。亦可於形成滾紋加工部之前，將第1識別資訊M列印於預定形成滾紋加工部之部位(即，於列印第1識別資訊M之後形成滾紋加工部)。
又，本實施方式中，以執行複數次對偏光膜F2之檢查之情形為例進行了說明，但本發明並不限定於此，亦可僅執行1次偏光膜F2之檢查。於此情形時，無需圖1所示之讀取步驟S10、第4步驟(第2次)S11及第6步驟(第2次)S12。但，於避開在保護膜F1之狀態下所產生之缺陷位置及於偏光膜F2之狀態下所產生之缺陷位置而沖裁製品時、或執行於偏光膜F2之缺陷位置標註標記之第8步驟之情形時，需要讀取步驟S10。
又，本實施方式中，以僅執行1次保護膜F1之檢查之情形為例進行了說明，但本發明並不限定於此，亦可與偏光膜F2之檢查同樣地執行複數次。於此情形時，第2次以後之檢查中，需要於圖1所示之第3步驟S4之後，重複執行讀取第1識別資訊M之讀取步驟、與第1步驟S2同樣地獲取第1缺陷資訊之步驟、及與第3步驟S4同樣地將第1缺陷資訊與第1識別資訊M建立關聯並加以記憶之步驟。
又，本實施方式中，以藉由執行第7步驟S9，基於偏光膜F2之第2識別資訊N而統籌管理第1缺陷資訊及第2缺陷資訊之情形為例進行了說明，但本發明並不限定於此。亦可不執行第7步驟S9，而基於第1識別資訊M管理第1缺陷資訊，基於第2識別資訊N管理第2缺陷資訊。具體而言，例如亦可藉由讀取第1識別資訊M，使用於第3步驟S4中記憶之第1缺陷資訊與第1識別資訊M之關聯，從而避開於保護膜F1之狀態下所產生之缺陷位置而沖裁製品，亦可藉由讀取第2識別資訊N，使用於第6步驟S8中記憶之第2缺陷資訊與第2識別資訊N之關聯，從而避開於偏光膜F2之狀態下所產生之缺陷位置而沖裁製品。
進而，本實施方式中，列舉機能膜為貼合於偏光元件之保護膜之情形為例進行了說明，但本發明並不限定於此。只要是機能膜為貼合於偏光元件或包含偏光元件之光學積層體而製造偏光膜者，則可應用於各種機能膜。 作為貼合於偏光元件之機能膜，可例示本實施方式中所例示之保護膜(亦包括兼作相位差膜者)及相位差膜。 作為包含偏光元件之光學積層體，可例示於偏光元件積層保護膜而成者，作為貼合於該光學積層體之機能膜，可例示：相位差膜、反射型偏光元件、防反射膜、ITO膜等導電性膜、及例如由聚醯亞胺等製造而成之窗膜等。
1:第1檢查裝置(檢查裝置) 1a:攝像機構 1b:圖像處理機構 2:第1列印裝置(列印裝置) 3:測距器 4:第1運算記憶裝置(運算記憶裝置) 5:第2檢查裝置 5a:攝像機構 5b:圖像處理機構 6:第2列印裝置 7:測距器 8:第2運算記憶裝置 9:第1讀取裝置 10:第2讀取裝置 11:測距器 12:第2讀取裝置 13:第2檢查裝置 13a:攝像機構 13b:圖像處理機構 14:測距器 91:UV照明 92:攝像機構 100:檢查系統 101:照明 102:攝像機構 D1:缺陷 D2:缺陷 F1:機能膜(保護膜) F2:偏光膜 M:第1識別資訊 M1,M2,M3:第1識別資訊 N:第2識別資訊 N1,N2,N3:第2識別資訊 R:搬送捲筒
圖1係表示本發明之一實施方式之機能膜之檢查方法及偏光膜之檢查方法之概略步驟的流程圖。 圖2係模式性地表示用以執行圖1所示之第1步驟S2～第3步驟S4之檢查系統之概略構成的立體圖。 圖3係模式性地表示用以執行圖1所示之第4步驟S6～第6步驟S8之檢查系統之概略構成的立體圖。 圖4係模式性地表示用以執行圖1所示之第7步驟S9之檢查系統之概略構成的立體圖。 圖5(a)、(b)係模式性地表示圖4所示之第1讀取裝置9及第2讀取裝置10之概略構成例的側視圖(從偏光膜F2之寬度方向觀察之側視圖)。 圖6係模式性地表示用以執行圖1所示之讀取步驟S10、第2次第4步驟S11及第6步驟S12(執行第7步驟S9後之第4步驟及第6步驟)之檢查系統之概略構成的立體圖。 圖7係表示本發明之一實施方式之機能膜之檢查方法及偏光膜之檢查方法之第1識別資訊M及第2識別資訊N之列印例的圖。 圖8係表示藉由第1讀取裝置9讀取圖7所示之偏光膜F2之第1識別資訊M之結果的一例。 圖9係表示藉由第2讀取裝置10讀取圖7所示之偏光膜F2之第2識別資訊N之結果的一例。

Claims (7)

  1. 一種機能膜之檢查方法，其特徵在於包括： 第1步驟，其係檢查長條機能膜而獲取上述機能膜之缺陷資訊，該長條機能膜係用以貼合於長條偏光元件或包含偏光元件之長條光學積層體而製造長條偏光膜者； 第2步驟，其係於上述機能膜之長邊方向每隔特定間隔，將識別資訊列印於上述機能膜之寬度方向端部；及 第3步驟，其係將上述機能膜之上述缺陷資訊與上述識別資訊建立關聯並加以記憶。
  2. 如請求項1之機能膜之檢查方法，其中 於上述機能膜之寬度方向端部形成有滾紋加工部， 上述第2步驟中，藉由噴墨方式將上述識別資訊列印於上述機能膜之與上述滾紋加工部相對應之部位。
  3. 如請求項2之機能膜之檢查方法，其中 上述第2步驟中，於上述機能膜形成上述滾紋加工部之後，藉由噴墨方式將上述識別資訊列印於上述滾紋加工部。
  4. 如請求項1至3中任一項之機能膜之檢查方法，其中 上述第2步驟中，藉由使用透明墨水之噴墨方式列印上述識別資訊。
  5. 如請求項1至3中任一項之機能膜之檢查方法，其中 上述機能膜為保護膜。
  6. 一種機能膜之檢查系統，其特徵在於具備： 檢查裝置，其檢查長條機能膜而獲取上述機能膜之缺陷資訊，該長條機能膜係用以貼合於長條偏光元件或包含偏光元件之長條光學積層體而製造長條偏光膜者； 列印裝置，其於上述機能膜之長邊方向每隔特定間隔，將識別資訊列印於上述機能膜之寬度方向端部；及 運算記憶裝置，其將上述機能膜之上述缺陷資訊與上述識別資訊建立關聯並加以記憶。
  7. 一種機能膜素材捲筒，其特徵在於： 其係將長條機能膜捲繞為卷狀而成者，該長條機能膜係用以貼合於長條偏光元件或包含偏光元件之長條光學積層體而製造長條偏光膜者，且 於上述機能膜之長邊方向每隔特定間隔列印有識別資訊。
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