TW202011547A - 用於產生完全自對準的通孔的方法 - Google Patents

Abstract

描述一種提供完全自對準的通孔的設備及方法。本揭示的一些實施例係提供具有第一金屬化層與第三金屬化層之間的橋接通孔的電子裝置，而橋接通孔並未接觸第二金屬化層。亦描述提供自對準橋接通孔的方法。

Description

用於產生完全自對準的通孔的方法

本揭示的實施例係關於電子裝置製造領域，而更特定為關於積體電路（IC）製造。更特定言之，本揭示的實施例係關於跳過層的通孔或接觸的方法。

一般而言，積體電路（IC）係指稱一組電子裝置（例如，在半導體材料（通常是矽）的小晶片上形成的電晶體）。通常，IC包括具有金屬線段的一或更多個金屬化層，以將IC的電子裝置彼此連接並連接到外部連接。通常，間層介電材料層係放置於IC的金屬化層之間，以用於絕緣。

隨著IC的尺寸降低，則金屬線段之間的間隔降低。通常，為了製造互連結構，使用平面處理，而涉及將一個金屬化層對準並連接到另一金屬化層。

通常，金屬化層中的金屬線段的圖案化係獨立於金屬化層上方的通孔而執行。然而，習知通孔製造技術無法提供完全的通孔自對準。在習知技術中，經形成以將上金屬化層中的線段連接到下金屬化層的通孔通常並未對準下金屬化層中的線段。通孔線段的未對準增加了通孔電阻，並導致可能連到錯誤的金屬線段的短路。通孔線段的未對準造成裝置破損、降低產量、並增加製造成本。此外，習知方法需要高深寬比蝕刻，而導致受限的性能及產量，並且習知方法可能導致介電材料的損傷。因此，需要一種製造通孔及/或通孔支柱的方法，該方法不會造成介電材料的損傷，並且不需要高深寬比的介電蝕刻。

描述一種提供完全自對準的通孔的設備及方法。在一個實施例中，電子裝置包含第一絕緣層。第一金屬化層包含沿著第一方向延伸的一組第一導電線段，第一導電線段中之每一者藉由第一絕緣層與相鄰的第一導電線段分開。第二絕緣層係位於第一絕緣層上。第二金屬化層係位於第二絕緣層上，並包含一組第二導電線段。該組第二導電線段係沿著與第一方向以一角度交叉的第二方向延伸。第三絕緣層係位於第二金屬化層上方。第三金屬化層係位於第三絕緣層上，並包含一組第三導電線段。該組第三導電線段係沿著第一方向延伸，並與該組第一導電線段對準。橋接通孔係位於第一金屬化層與第三金屬化層之間。橋接通孔並未接觸第二金屬化層。

一或更多個實施例係關於提供完全自對準通孔的方法。提供一種包含第一絕緣層的基板，該第一絕緣層具有沿著第一方向延伸的平行凹陷的複數個第一導電線段。凹陷的第一導電線段具有在第一絕緣層的頂表面下方凹陷的頂表面。在凹陷的第一導電線段上形成第一支柱。第一支柱係垂直於第一絕緣層的頂表面而延伸。在第一支柱周圍與第一絕緣層的頂表面上沉積第二絕緣層。選擇性移除第一支柱中之至少一者，以在第二絕緣層中形成至少一個開口。至少一個第一支柱係留在凹陷的第一導電線段上。第二導電材料係沉積於至少一個開口中，以形成第一通孔與第二導電線段。第一通孔係將第一導電線段連接至第二導電線段。移除留在凹陷的第一導電線段上的至少一個第一支柱，以在第二絕緣層中形成至少一個橋接開口。透過橋接開口在凹陷的第一導電線段上形成至少一個橋接支柱。至少一個橋接支柱係垂直於第二絕緣層的頂表面而延伸。第三絕緣層圍繞至少一個橋接支柱沉積，並沉積於第二絕緣層的一部分上。移除至少一個橋接支柱，以在第二絕緣層與第三絕緣層中形成至少一個橋接開口。第三導電材料係沉積於至少一個橋接開口中，以形成橋接通孔與第三導電線段。橋接通孔係將第一導電線段連接到第三導電線段。

在一個實施例中，描述一種用於提供通孔的方法。提供一種包含第一絕緣層的基板，該第一絕緣層具有沿著第一方向延伸的平行凹陷的複數個第一導電線段。凹陷的第一導電線段具有在第一絕緣層的頂表面下方凹陷的頂表面。第一絕緣層包含超低k值，而第一導電線段包含銅或鈷。在凹陷的第一導電線段上形成包含鎢的第一支柱金屬膜，並從凹陷的第一導電線段上的第一支柱金屬膜生長包含氧化鎢的第一支柱。第一支柱係垂直於第一絕緣層的頂表面而延伸。第二絕緣層係沉積於第一絕緣材料上，圍繞第一支柱沉積，並沉積於至少一個第一支柱的頂部上，以形成第二絕緣層的覆蓋層。第二絕緣層包含可流動的氧化矽。將第二絕緣層平坦化，以移除第二絕緣層的覆蓋層，並暴露至少一個第一支柱的頂部。在第二絕緣層上形成硬遮罩，該硬遮罩在至少一個第一支柱上方具有開口。移除至少一個第一支柱，以在第二絕緣層中形成至少一個開口。至少一個第一支柱係留在凹陷的第一導電線段上。第二導電材料係沉積於至少一個開口中，以形成第一通孔與第二導電線段。第一通孔係將第一導電線段連接至第二導電線段。移除留在凹陷的第一導電線段上的至少一個第一支柱，以在第二絕緣層中形成至少一個橋接開口。透過橋接開口在凹陷的第一導電線段上形成包含鎢的橋接支柱金屬膜。從橋接支柱金屬膜生長包含氧化鎢的至少一個橋接支柱。至少一個橋接支柱係垂直於第二絕緣層的頂表面而延伸。第三絕緣層圍繞至少一個橋接支柱沉積，並沉積於第二絕緣層的一部分上。第三絕緣層係選自氧化物、碳摻雜氧化物、多孔二氧化矽、碳化物、碳氧化物、氮化物、氮氧化物、氧碳氮化物、聚合物、磷矽酸鹽玻璃、氟矽酸鹽（SiOF）玻璃、有機矽酸鹽玻璃（SiOCH）、或其任何組合所組成的群組。移除至少一個橋接支柱，以在第二絕緣層與第三絕緣層中形成至少一個橋接開口。包含銅或鈷的第三導電材料係沉積於至少一個橋接開口中，以形成橋接通孔與第三導電線段。橋接通孔係將第一導電線段連接到第三導電線段。

在描述本揭示的幾個示例性實施例之前，應理解，本揭示並不限於在以下描述中闡述的構造或處理步驟的細節。本揭示能夠具有其他實施例，並能夠以各種方式實踐或執行。

如本文所使用的「基板」係指稱在製造處理期間在其上執行膜處理的基板上所形成的任何基板或材料表面。舉例而言，取決於應用，可以在其上執行處理的基板表面包括材料，例如矽、氧化矽、應變矽、絕緣體矽（SOI）、摻碳氧化矽、非晶矽、摻雜矽、鍺、砷化鎵、玻璃、藍寶石，以及任何其他材料，例如金屬、金屬氮化物、金屬合金、及其他導電材料。基板包括但不限於半導體晶圓。基板可以暴露於預加工處理，以研磨、蝕刻、還原、氧化、羥基化、退火、及/或烘烤基板表面。除了直接在基板本身的表面上的膜處理之外，在本揭示中，所揭示的任何膜處理步驟亦可在基板上所形成的底層上執行，如下文更詳細揭示，而術語「基板表面」意欲包括如上下文所指示的這樣的底層。因此，舉例而言，當膜/層或部分膜/層已沉積至基板表面時，新沉積的膜/層的暴露表面變成基板表面。

如在此說明書及隨附申請專利範圍中所使用的術語「前驅物」、「反應物」、「活性氣體」、及類似物可互換使用，用以指稱可以與基板表面反應的任何氣體物質。

描述一種提供完全自對準的通孔的設備及方法。在一個實施例中，電子裝置包含第一絕緣層。第一金屬化層包含沿著第一方向延伸的一組第一導電線段，第一導電線段中之每一者藉由第一絕緣層與相鄰的第一導電線段分開。第二絕緣層係位於第一絕緣層上。第二金屬化層係位於第二絕緣層上，並包含一組第二導電線段。該組第二導電線段係沿著與第一方向以一角度交叉的第二方向延伸。第三絕緣層係位於第二金屬化層上方。第三金屬化層係位於第三絕緣層上，並包含一組第三導電線段。該組第三導電線段係沿著第一方向延伸，並與該組第一導電線段對準。橋接通孔係位於第一金屬化層與第三金屬化層之間。橋接通孔並未接觸第二金屬化層。

在一個實施例中，橋接通孔係沿著第一方向而自對準到第二導電線段中之一者。

在一個實施例中，完全自對準的通孔係為沿著下（或第一）金屬化層與上（或第三）金屬化層中的導電線段的至少二個方向自對準的橋接通孔。在一個實施例中，完全自對準的通孔係由一個方向上的硬遮罩與另一方向上的底下的絕緣層定義，如下文進一步詳細描述。

相較於習知技術，一些實施例有利地提供完全自對準的通孔，而不會造成介電材料的損傷，並且不需要高深寬比的介電蝕刻。在一些實施例中，相較於習知通孔，完全自對準的通孔提供更低的通孔電阻與電容優勢。自對準通孔的一些實施例提供金屬化層的通孔與導電線段之間基本上沒有錯誤的完全對準，這有利地增加裝置產量並降低裝置成本。

在以下描述中，闡述許多具體細節（例如，具體材料、化學成分、元件的尺寸等），以提供對本揭示的實施例中之一或更多者的透徹理解。然而，應理解，該領域具有通常知識者可以在沒有該等具體細節的情況下實踐本揭示的一或更多個實施例。在其他情況下，並未非常詳細描述半導體製造處理、技術、材料、裝備等，以避免不必要地模糊本揭示。利用所包括的描述，該領域具有通常知識者將能夠實現適當的功能，而不需過多的實驗。

儘管在隨附圖式中描述及圖示本揭示的某些示例性實施例，但是應理解，該等實施例僅為說明性而非對本揭示的限制，而因為該領域具有通常知識者可以進行修改，所以本揭示並不限於所示的具體配置及佈置。

參照整個本說明書的「一個實施例」、「另一實施例」、或「實施例」意指結合實施例描述的特定特徵、結構、或特性係包括在本揭示的至少一個實施例中。因此，整個本說明書的各處中出現的短語「在一個實施例中」或「在實施例中」不一定都指稱本揭示的相同實施例。此外，在一或更多個實施例中，特定特徵、結構、或特性可以利用任何合適的方式組合。

第1A圖圖示根據一個實施例的提供完全自對準的通孔的電子裝置結構的橫截面圖100。第1B圖係為第1A圖所示的電子裝置的頂視圖110，而第1C圖係為第1A圖所示的電子裝置的透視圖120。下金屬化層（Mx）包含在基板101的絕緣層102上的沿著X軸（方向）121延伸的一組導電線段103。第1A圖至第1C圖的X軸係垂直於圖式頁面的平面而延伸。如第1A圖至第1C圖所示，X軸（方向）121係以角度123與Y軸（方向）122交叉。在一個實施例中，角度123係為約90度。在另一實施例中，角度123係為並非90度角的角度。絕緣層102包含溝道104。導電線段103係沉積於溝道104中。

在實施例中，基板101包含半導體材料（例如，矽（Si）、碳（C）、鍺（Ge）、矽化鍺（SiGe）、砷化鎵（GaAs）、磷化銦（InP）、砷化鎵銦（InGaAs）、砷化鋁銦（InAlAs）、其他半導體材料、或其任何組合）。在實施例中，基板101係為包括塊狀下基板、中間絕緣層、及頂部單晶層的絕緣體上的半導體（SOI）基板。頂部單晶層可以包含上文列出的任何材料（例如，矽）。在各種實施例中，基板101可以是例如有機、陶瓷、玻璃、或半導體基板。儘管此處描述可以形成基板101的材料的一些實例，但是能夠作為被動式及主動式電子裝置（例如，電晶體、記憶體、電容器、電感器、電阻器、開關、積體電路、放大器、光電裝置、或任何其他電子裝置）的基礎之任何材料亦可以落入本揭示的精神及範圍。

在一個實施例中，基板101包括用於積體電路的一或更多個金屬化互連層。在至少一些實施例中，基板101包括經配置以連接金屬化層的互連（例如，通孔）。在至少一些實施例中，基板101包括電子裝置（例如，電晶體、記憶體、電容器、電阻器、光電裝置、開關），以及由電絕緣層分隔的任何其他主動式及被動式電子裝置（例如，間層介電質、溝道絕緣層、或電子裝置製造領域中具有通常知識者已知的任何其他絕緣層）。在一個實施例中，基板101包括用於限制晶格錯位及缺陷的基板101上方的一或更多個層。

絕緣層102可以是適合使相鄰裝置絕緣並防止洩漏的任何材料。在一個實施例中，電絕緣層102係為氧化物層（例如，二氧化矽），或是由電子裝置設計確定的任何其他電絕緣層。在一個實施例中，絕緣層102包含間層介電質（ILD）。在一個實施例中，絕緣層102係為低k介電質，其包括但不限於例如二氧化矽、氧化矽、碳摻雜氧化物（「CDO」）（例如，碳摻雜的二氧化矽）、多孔二氧化矽（SiO₂ ）、氮化矽（SiN）、或其任何組合的材料。

在一個實施例中，絕緣層102包括k值小於5的介電材料。在一個實施例中，絕緣層102包括k值小於2的介電材料。在至少一些實施例中，絕緣層102包括氧化物、碳摻雜氧化物、多孔二氧化矽、碳化物、碳氧化物、氮化物、氮氧化物、氧碳氮化物、聚合物、磷矽酸鹽玻璃、氟矽酸鹽（SiOF）玻璃、有機矽酸鹽玻璃（SiOCH）或其任何組合、藉由電子裝置設計確定的其他電絕緣層、或其任何組合。在至少一些實施例中，絕緣層102可以包括聚醯亞胺、環氧樹脂、可光定義的材料（例如，苯并環丁烯（BCB）、及WPR系列材料）、或旋塗玻璃。

在一個實施例中，絕緣層102係為低k間層介電質，以將一個金屬線段與基板101上的其他金屬線段隔離。在一個實施例中，隔離層102的厚度係在約10奈米（nm）至約2微米（μm）的範圍內。

在實施例中，使用沉積技術中之一者來沉積絕緣層102，例如但不限於化學氣相沉積（「CVD」）、物理氣相沉積（「PVD」）、分子束磊晶（「MBE」）、金屬有機化學氣相沉積（「MOCVD」）、原子層沉積（「ALD」）、旋塗、或微電子裝置製造領域中具有通常知識者已知的其他絕緣沉積技術。

在一個實施例中，包含導電線段103（例如，金屬線段）的下金屬化層Mx係為電子裝置的後端金屬化的一部分。在一個實施例中，使用硬遮罩對絕緣層102進行圖案化及蝕刻，以使用微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的一或更多種圖案化及蝕刻技術來形成溝道104。在一個實施例中，絕緣層102中的溝道104的尺寸係由稍後在處理中形成的導電線段的尺寸確定。

在一個實施例中，形成導電線段103係涉及利用導電材料層來填充溝道104。在一個實施例中，首先將基底層（未圖示）沉積於溝道104的內側壁及底部上，然後將導電層沉積於基底層上。在一個實施例中，基底層包括沉積於導電阻隔層（未圖示）上的導電種子層（未圖示）。種子層可以包括銅（Cu），而導電阻隔層可以包括鋁（Al）、鈦（Ti）、鉭（Ta）、氮化鉭（TaN）、及類似金屬。導電阻隔層可以用於防止導電材料從種子層（例如，銅或鈷）擴散到絕緣層102中。此外，導電阻隔層可用於針對種子層（例如，銅）提供黏著。

在一個實施例中，為了形成基底層，將導電阻隔層沉積於溝道104的側壁及底部上，然後將種子層沉積於導電阻隔層上。在另一實施例中，導電基底層包括直接沉積於溝道104的側壁及底部上的種子層。可以使用半導體製造領域中具有通常知識者已知的任何薄膜沉積技術（例如，濺射、毯覆沉積、及類似者）來沉積導電阻隔層與種子層中之每一者。在一個實施例中，導電阻隔層與種子層中之每一者的厚度係在約1nm至約100nm的近似範圍內。在一個實施例中，阻隔層可以是薄介電質，經蝕刻以建立與下方的金屬層的導電性。在一個實施例中，可以完全省略阻隔層，並且可以使用銅線的適當摻雜來形成「自形成阻隔層」。

在一個實施例中，藉由電鍍處理將導電層（例如，銅或鈷）沉積到銅的基底層的種子層上。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中的具有通常知識者已知的鑲嵌處理將導電層沉積到溝道104中。在一個實施例中，使用選擇性沉積技術（例如但不限於電鍍、電解、CVD、PVD、MBE、MOCVD、ALD、旋塗、或其他微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的其他沉積技術）將導電層沉積到溝道104中的種子層上。

在一個實施例中，導電線段103的導電層的材料的選擇係確定種子層的材料的選擇。舉例而言，若導電線段103的材料包括銅，則種子層的材料亦包括銅。在一個實施例中，導電線段103包括金屬（例如，銅（Cu）、釕（Ru）、鎳（Ni）、鈷（Co）、鉻（Cr）、鐵（Fe）、錳（Mn）、鈦（Ti）、鋁（Al）、鉿（Hf）、鉭（Ta）、鎢（W）、釩（V）、鉬（Mo）、鈀（Pd）、金（Au）、銀（Ag）、鉑（Pt）、銦（In）、錫（Sn）、鉛（Pd）、銻（Sb）、鉍（Bi）、鋅（Zn）、鎘（Cd）、或其任何組合）。

在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中具有通常知識者已知的化學機械拋光（「CMP」）技術來移除導電層與基底層的部分，以使導電線段103的頂部與絕緣層102的頂部變得平坦。

在一個非限制性實例中，導電線段103的厚度（沿著第1A圖至第1C圖的z軸量測）係在約15nm至約1000nm的近似範圍內。在一個非限制性實例中，導電線段103的厚度係為約20nm至約200nm。在一個非限制性實例中，導電線段103的寬度（沿著第1A圖至第1C圖的y軸量測）係在約5nm至約500nm的近似範圍內。在一個非限制性實例中，導電線段103之間的間隔（節距）係為約2nm至約500nm。在更具體的非限制性實例中，導電線段103之間的間隔（節距）係為約5nm至約50nm。

在實施例中，下金屬化層Mx經配置以連接到其他金屬化層（未圖示）。在實施例中，金屬化層Mx經配置以提供連到電子裝置（例如，電晶體、記憶體、電容器、電阻器、光電裝置、開關、及由電絕緣層（例如，間層介電質、溝道絕緣層、或電子裝置製造領域中具有通常知識者已知的任何其他絕緣層）分隔的任何其他主動式及被動式電子裝置）的電接觸。

第2A圖係為根據一個實施例的在將導電線段103凹陷之後的類似於第1A圖的橫截面圖100的視圖200。第2B圖係為第2A圖所示的電子裝置的頂視圖210，而第2C圖係為第2A圖所示的電子裝置的透視圖220。將導電線段103凹陷到預定深度，以形成凹陷的導電線段201。如第2A圖至第2C圖所示，在絕緣層102中形成溝道205。每一溝道204具有作為絕緣層102的一部分的側壁204以及作為凹陷的導電線段201的頂表面203的底部。

在一個實施例中，溝道205的深度係為約10nm至約500nm。在一個實施例中，溝道205的深度係為凹陷的導電線段201的厚度的約10％至約100％。在一個實施例中，使用濕式蝕刻、乾式蝕刻、或電子裝置製造領域具有通常知識者已知的技術的組合中之一或更多者來使導電線段103凹陷。

第2D圖係為根據一個實施例的在襯墊207沉積於凹陷的導電線段201之後的類似於第2A圖的視圖220a。在一些實施例中，襯墊207係沉積於溝道205的側壁204上。

在一個實施例中，襯墊207係沉積以保護凹陷的導電線段201不會在稍後的處理中（例如，在鎢沉積或其他處理期間）改變特性。在一個實施例中，襯墊207係為導電襯墊。在另一實施例中，襯墊207係為非導電襯墊。在一個實施例中，該領域具有通常知識者應理解，當襯墊207係為非導電襯墊時，在稍後的處理中移除襯墊207。在一個實施例中，襯墊207包括氮化鈦（TiN）、鈦（Ti）、鉭（Ta）、氮化鉭（TaN）、或其任何組合。在另一實施例中，襯墊207係為氧化物（例如，氧化鋁（Al₂ O₃ ）、氧化鈦（TiO₂ ））。在又一實施例中，襯墊207係為氮化物（例如，氮化矽（SiN））。在實施例中，襯墊207係沉積至約0.5nm至約10nm的厚度。

在實施例中，使用原子層沉積（ALD）技術來沉積襯墊207。在實施例中，使用沉積技術（例如但不限於CVD、PVD、MBE、MOCVD、旋塗、或微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的其他襯墊沉積技術）中之一者來沉積襯墊207。在一個實施例中，可以使用電子裝置製造領域中具有通常知識者已知的乾式及濕式蝕刻技術中之一或更多者來選擇性移除襯墊207。

儘管襯墊可以存在於前述實施例中之一或更多者中，但為了繪圖方便，在圖式中省略襯墊。

第3A圖係為根據一個實施例的在間隙填充層301沉積於凹陷的導電線段201與絕緣層102的一部分之後的類似於第2A圖的視圖300。第3B圖係為第3A圖所示的電子裝置的頂視圖310，而第3C圖係為第3A圖所示的電子裝置的透視圖320。如第3A圖至第3C圖所示，間隙填充層301係沉積於凹陷的導電線段201的頂表面203、溝道205的側壁204、及絕緣層102的頂部部分。在一個實施例中，間隙填充層301係為鎢（W）層或其他間隙填充層，以提供選擇性生長支柱。在一些實施例中，間隙填充層301係為金屬膜或含金屬的膜。合適的金屬膜包括但不限於包括鈷（Co）、鉬（Mo）、鎢（W）、鉭（Ta）、鈦（Ti）、釕（Ru）、銠（Rh）、銅（Cu）、鐵（Fe）、錳（Mn）、釩（V）、鈮（Nb）、鉿（Hf）、鋯（Zr）、釔（Y）、鋁（Al）、錫（Sn））、鉻（Cr）、鑭（La）、或其任意組合中之一或更多者的膜。在一些實施例中，種子間隙填充層301包含鎢（W）種子間隙填充層。

在一個實施例中，使用沉積技術（例如但不限於ALD、CVD、PVD、MBE、MOCVD、旋塗、或微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的其他襯墊沉積技術）中之一者來沉積間隙填充層301。

在一些實施例中，間隙填充層301的沉積包括種子間隙填充層（未圖示）的形成。該領域具有通常知識者將理解，種子間隙填充層係為相對薄的材料層，而可以增加間隙填充層301的成核速率（亦即，生長速率）。在一些實施例中，種子間隙填充層的材料係與不同技術所沉積的間隙填充層301相同。在一些實施例中，種子間隙填充層的材料係與間隙填充層301不同。

間隙填充層301的形成可以描述為使用間隙填充材料的塊狀沉積，以在基板的頂部上形成覆蓋層（未圖示），然後進行平坦化以移除覆蓋層。在一些實施例中，間隙填充層301係藉由選擇性沉積處理來形成，選擇性沉積處理基本上不會形成絕緣層102上的覆蓋層（例如，>5％面積）。

然後，根據一個實施例，並如第3A圖至第3C圖所示，可以移除種子間隙填充層301的一部分，以暴露絕緣層102的頂部部分。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中具有通常知識者已知的化學機械平坦化（CMP）技術中之一者來移除種子間隙填充層301的一部分。

第4A圖係為根據一個實施例的在使用種子間隙填充層301形成自對準選擇性生長支柱401之後的類似於第3A圖的視圖400。第4B圖係為第4A圖所示的電子裝置的頂視圖410，而第4C圖係為第4A圖所示的電子裝置的透視圖420。如第4A圖至第4C圖所示，自對準選擇性生長支柱401的陣列具有與該組凹陷的導電線段201相同的圖案。如第4A圖至第4C圖所示，支柱401從凹陷的導電線段201的頂表面基本垂直地延伸。如第4A圖至第4C圖所示，支柱401沿著與凹陷的導電線段201相同的方向延伸。如第4A圖至第4C圖所示，支柱係藉由間隙402分開。

參照第4A圖至第4C圖，在一個實施例中，從絕緣層102的一部分上與凹陷的導電線段201上的間隙填充層301選擇性生長支柱401。在一個實施例中，例如藉由氧化、氮化、或其他處理來擴展凹陷的導電線段201上方的間隙填充層301的部分，以生長支柱401。在一個實施例中，藉由暴露於氧化劑或氧化條件而氧化間隙填充層301，以將金屬或含金屬的間隙填充層301轉變成金屬氧化物支柱401。在一個實施例中，支柱401包括上文列出的一或更多種金屬的氧化物。在更具體的實施例中，支柱401包括氧化鎢（例如，WO、WO₃ 、及其他氧化鎢）。

氧化劑可以是任何合適的氧化劑，包括但不限於O₂ 、O₃ 、N₂ O、H₂ O、H₂ O₂ 、CO、CO₂ 、N₂ /Ar、N₂ /He、N₂ /Ar/He、過氧硫酸銨、有機過氧化劑（例如，間氯過氧苯甲酸與過氧酸（例如，三氟過氧乙酸、2,4-二硝苯甲酸、過氧乙酸、過氧硫酸，過氧碳酸，過氧硼酸、及類似者））、或其任何組合。在一些實施例中，氧化條件包含熱氧化、電漿增強氧化、遠端電漿氧化、微波及射頻氧化（例如，電感耦接電漿（ICP）、電容耦接電漿（CCP））。

在一個實施例中，取決於例如種子間隙填充層與氧化劑的組成物，在任何合適的溫度下藉由種子間隙填充層的氧化來形成支柱401。在一些實施例中，在約25℃至約800℃的近似範圍的溫度下發生氧化。在一些實施例中，在大於或等於約150℃的溫度下發生氧化。

在一個實施例中，支柱401的高度係在約5埃（Å）至約10微米（μm）的近似範圍內。

第5A圖係為根據一個實施例的在沉積絕緣層501以過度填充支柱401之間的間隙402之後的類似於第4A圖的視圖500。第5B圖係為第5A圖所示的電子裝置的頂視圖510，而第5C圖係為第5A圖所示的電子裝置的透視圖520。如第5A圖至第5C圖所示，絕緣層501係沉積在支柱401上及支柱401周圍，並通過支柱401之間的絕緣層102的一部分上的間隙402。

在一個實施例中，絕緣層501係為低k間隙填充層。在一個實施例中，絕緣層501係為可流動的氧化矽（FSiOx）層。在至少一些實施例中，絕緣層501係為氧化物層（例如，二氧化矽（SiO₂ ）），或由電子裝置設計確定的任何其他電絕緣層。在一個實施例中，絕緣層501係為間層介電質（ILD）。在一個實施例中，絕緣層501係為低k介電質，其包括但不限於例如二氧化矽、氧化矽、碳基材料（例如，多孔碳膜）、碳摻雜氧化物（「CDO」）（例如，碳摻雜的二氧化矽）、多孔二氧化矽、多孔碳氫氧化矽（SiOCH）、氮化矽、或其任何組合的材料。在一個實施例中，絕緣層501係為k值小於3的介電材料。在更特定實施例中，絕緣層501係為k值在約2.2至約2.7的近似範圍內的介電材料。在一個實施例中，絕緣層501包括k值小於2的介電材料。在一個實施例中，絕緣層501係代表上述關於絕緣層102的絕緣層中之一者。

在一個實施例中，絕緣層501係為低k間層介電質，以將一個金屬線段與其他金屬線段隔離。在一個實施例中，使用沉積技術中之一者來沉積絕緣層501，例如但不限於CVD、旋塗、ALD、PVD、MBE、MOCVD、或微電子裝置製造領域的具有通常知識者已知的其他低k絕緣層沉積技術。

第6A圖係為根據一個實施例的在將硬遮罩層602沉積於絕緣層601之後的視圖600。第6B圖係為第6A圖所示的電子裝置的頂視圖610，而第6C圖係為第6A圖所示的電子裝置的透視圖620。在一個實施例中，硬遮罩層602係為金屬化層硬遮罩。如第6A圖至第6C圖所示，將硬遮罩層602圖案化，以定義複數個溝道603。如第6A圖至第6C圖所示，溝道603沿著Y軸（方向）122延伸，Y軸（方向）122係以角度123與X軸（方向）121交叉。在一個實施例中，Y軸122基本垂直於X軸121。在一個實施例中，圖案化硬遮罩層602係為碳硬遮罩層、金屬氧化物硬遮罩層、金屬氮化物硬遮罩層、氮化矽硬遮罩層、氧化矽硬遮罩層、碳化物硬遮罩層、或微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的其他硬遮罩層。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的一或更多種硬遮罩圖案化技術來形成圖案化硬遮罩層602。在一個實施例中，透過圖案化硬遮罩層來蝕刻絕緣層601，以使用微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的蝕刻技術中之一或更多者來形成溝道603。在一個實施例中，絕緣層601中的溝道603的尺寸係由稍後在處理中形成的導電線段的尺寸確定。

在一個實施例中，硬遮罩層602包括光阻層。在一個實施例中，硬遮罩層602包括一或更多個硬遮罩層。在一個實施例中，絕緣層601係為硬遮罩層。在一個實施例中，絕緣層601包括底部抗反射塗層（BARC）。在一個實施例中，絕緣層601包括氮化鈦（TiN）層、碳化鎢（WC）層、溴化鎢（WBC）層、碳硬遮罩層、金屬氧化物硬遮罩層、金屬氮化物硬遮罩層、氮化矽硬遮罩層、氧化矽硬遮罩層、碳化物硬遮罩層、其他硬遮罩層、或其任意組合。在一個實施例中，絕緣層601係代表上述絕緣層中之一者。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的一或更多種遮罩層沉積技術來沉積硬遮罩層602。在一個實施例中，使用沉積技術（例如但不限於CVD、PVD、MBE、NOCVD、旋塗、或微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的其他絕緣層沉積技術）中之一者來沉積絕緣層601。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的圖案化及蝕刻技術中之一或更多者來形成溝道603。

第7A圖係為根據一個實施例的在選擇性移除至少一個自對準選擇性生長支柱401以形成開口701之後的類似於第6A圖的視圖700。第7B圖係為第7A圖所示的電子裝置的頂視圖710，而第7C圖係為第7A圖所示的電子裝置的透視圖720。如第7A圖至第7C圖所示，相對於絕緣層501、絕緣層102、及凹陷的導電線段201，選擇性移除支柱401。在另一實施例中，當襯墊207係為導電襯墊時，襯墊207保持在適當位置，並相對於絕緣層501、絕緣層102、及襯墊207選擇性移除支柱401。如第7A圖至第7C圖所示，在絕緣層501及102中形成開口701。開口701沿著與凹陷的導電線段201相同的軸線延伸。如第7A圖至第7C圖所示，每一開口701的底部係為凹陷的導電線段201的頂表面203。若存在襯墊207，則開口的底部係為襯墊207的頂表面。在一個實施例中，襯墊207並不存在，而使得每一開口701的底部係為凹陷的導電線段201的頂表面，並且每一開口701的相對側壁包括絕緣層501與102的一部分。一般而言，溝道的深寬比係指稱溝道的深度與開口的寬度的比率。在一個實施例中，每一開口701的深寬比係在約1：1至約200：1的近似範圍內。

在一個實施例中，使用電子裝置製造領域中具有通常知識者已知的乾式及濕式蝕刻技術中之一或更多者來選擇性移除支柱401。在一個實施例中，在約80℃的溫度下藉由例如5重量％的氫氧化銨（NH₄ OH）水溶液來選擇性濕式蝕刻支柱401。在一個實施例中，將過氧化氫（H₂ O₂ ）加入到5重量％的NH₄ OH水溶液，以增加支柱401的蝕刻速率。在一個實施例中，使用氫氟酸（HF）與硝酸（HNO₃ ）以1：1的比率來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用HF與HNO₃ 以3：7的比率來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用HF與HNO₃ 以4：1的比率來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用HF與HNO₃ 以30％：70％的比率來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用NH₄ OH與H₂ O₂ 以1：2的比率來對包括鎢（W）、鈦（Ti）、或鈦及鎢二者的支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用305克的鐵氰化鉀（K₃ Fe（CN）₆ ）、44.5克的氫氧化鈉（NaOH）、及1000毫升的水（H₂ O）來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用稀釋或濃縮的一或更多種化學物質（包括鹽酸（HCl）、硝酸（HNO₃ ）、硫酸（H₂ SO₄ ）、氟化氫（HF）、及過氧化氫（H₂ O₂ ））來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一或更多個實施例中，將烴與HF及HNO₃ 的溶液、NH₄ OH及H₂ O₂ 的溶液、WCl₅ 、WF₆ 、氟化鈮（NbF₅ ）、氯一起使用來對支柱401進行選擇性蝕刻。在一或更多個實施例中，烴可以是單碳（例如，CH₄ ）或多碳基烴。在一個實施例中，分別使用HF、HNO₃ 、及乙酸（CH₃ COOH）以4：4：3的比率來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用溴三氟甲烷（CBrF₃ ）反應離子蝕刻（RIE）技術來對支柱401進行選擇性乾式蝕刻。在一個實施例中，使用氯、氟、溴、或基於其任何組合的化學物質來對支柱401進行選擇性乾式蝕刻。在一個實施例中，使用熱或溫的Aqua Regia混合物（包括HCl及HNO₃ ，比率分別為3：1）來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用鹼與氧化劑（硝酸鉀（KNO₃ ）與二氧化鉛（PbO₂ ））來對支柱401進行選擇性蝕刻。

第7A圖至第7C圖圖示移除支柱401中之至少一者並保留支柱401中之至少一者的實施例的視圖。該領域具有通常知識者將理解，可以藉由任何合適的技術（包括但不限於遮罩及光刻）實現一些支柱的選擇性移除。

第8A圖係為在將具有導電線段801的金屬化層沉積於凹陷的導電線段201上的開口701中之後的類似於第7A圖的視圖800。第8B圖係為第8A圖所示的電子裝置的頂視圖810，而第8C圖係為第8A圖所示的電子裝置的透視圖820。具有導電線段801的金屬化層包含沿著第二方向延伸並以一角度與第一方向交叉的一組導電線段。在一或更多個實施例中，下金屬化層Mx係利用導電線段801連接到金屬化層，導電線段801亦稱為中間金屬化層My。

在一個實施例中，形成導電線段801係涉及利用導電材料層來填充開口701。在一個實施例中，首先將基底層（未圖示）沉積於凹陷的導電線段201上的開口701的內側壁及底部，然後將導電層沉積於基底層上。在一個實施例中，基底層包括沉積於導電阻隔層（未圖示）上的導電種子層（未圖示）。種子層可以包括銅（Cu），而導電阻隔層可以包括鋁（Al）、鈦（Ti）、鉭（Ta）、氮化鉭（TaN）、及類似金屬。導電阻隔層可以用於防止導電材料從種子層（例如，銅或鈷）擴散到絕緣層102中。此外，導電阻隔層可用於針對種子層（例如，銅）提供黏著。

在一個實施例中，為了形成基底層，將導電阻隔層沉積於開口701的側壁及底部上，然後將種子層沉積於導電阻隔層上。在另一實施例中，導電基底層包括直接沉積於開口701的側壁及底部上的種子層。可以使用半導體製造領域中具有通常知識者已知的任何薄膜沉積技術（例如，濺射、毯覆沉積、及類似者）來沉積導電阻隔層與種子層中之每一者。在一個實施例中，導電阻隔層與種子層中之每一者的厚度係在約1nm至約100nm的近似範圍內。在一個實施例中，阻隔層可以是薄介電質，經蝕刻以建立與下方的金屬層的導電性。在一個實施例中，可以完全省略阻隔層，並且可以使用銅線的適當摻雜來形成「自形成阻隔層」。

在一個實施例中，藉由電鍍處理將導電層（例如，銅或鈷）沉積到銅的基底層的種子層上。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中的具有通常知識者已知的鑲嵌處理將導電層沉積到開口701中。在一個實施例中，使用選擇性沉積技術（例如但不限於電鍍、電解、CVD、PVD、MBE、MOCVD、ALD、旋塗、或其他微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的其他沉積技術）將導電層沉積到開口701中的種子層上。

在一個實施例中，導電線段801的導電層的材料的選擇係確定種子層的材料的選擇。舉例而言，若導電線段801的材料包括銅，則種子層的材料亦包括銅。在一個實施例中，導電線段801包括金屬（例如，銅（Cu）、釕（Ru）、鎳（Ni）、鈷（Co）、鉻（Cr）、鐵（Fe）、錳（Mn）、鈦（Ti）、鋁（Al）、鉿（Hf）、鉭（Ta）、鎢（W）、釩（V）、鉬（Mo）、鈀（Pd）、金（Au）、銀（Ag）、鉑（Pt）、銦（In）、錫（Sn）、鉛（Pd）、銻（Sb）、鉍（Bi）、鋅（Zn）、鎘（Cd）、或其任何組合）。

第9A圖係為根據一個實施例的在移除硬遮罩層602、絕緣層601、及絕緣層501的一部分以暴露絕緣層501及支柱401的頂表面之後的類似於第8A圖的視圖900。第9B圖係為第9A圖所示的電子裝置的頂視圖910，而第9C圖係為第9A圖所示的電子裝置的透視圖920。

第10A圖係為根據一個實施例的在選擇性移除至少一個自對準選擇性生長支柱401以形成開口1001之後的類似於第9A圖的視圖1000。第10B圖係為第10A圖所示的電子裝置的頂視圖1010，而第10C圖係為第10A圖所示的電子裝置的透視圖1020。第10A圖至第10C圖圖示移除支柱401中之至少一者並保留支柱401中之至少一者的實施例的視圖。該領域具有通常知識者將理解，可以藉由任何合適的技術（包括但不限於遮罩及光刻）實現一些支柱的選擇性移除。

如第10A圖至第10C圖所示，相對於絕緣層501、絕緣層102、及凹陷的導電線段201，選擇性移除支柱401。如第7A圖至第7C圖所示，在絕緣層501及102中形成開口1001。開口1001沿著與凹陷的導電線段201相同的軸線延伸。如第7A圖至第7C圖所示，每一溝道701的底部係為凹陷的導電線段201的頂表面203。一般而言，開口的深寬比係指稱開口的深度與開口的寬度的比率。在一個實施例中，每一開口1001的深寬比係在約1：1至約200：1的近似範圍內。

在一個實施例中，使用電子裝置製造領域中具有通常知識者已知的乾式及濕式蝕刻技術中之一或更多者來選擇性移除支柱401。在一個實施例中，在約80℃的溫度下藉由例如5重量％的氫氧化銨（NH₄ OH）水溶液來選擇性濕式蝕刻支柱401。在一個實施例中，將過氧化氫（H₂ O₂ ）加入到5重量％的NH₄ OH水溶液，以增加支柱401的蝕刻速率。在一個實施例中，使用氫氟酸（HF）與硝酸（HNO₃ ）以1：1的比率來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用HF與HNO₃ 以3：7的比率來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用HF與HNO₃ 以4：1的比率來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用HF與HNO₃ 以30％：70％的比率來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用NH₄ OH與H₂ O₂ 以1：2的比率來對包括鎢（W）、鈦（Ti）、或鈦及鎢二者的支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用305克的鐵氰化鉀（K₃ Fe（CN）₆ ）、44.5克的氫氧化鈉（NaOH）、及1000毫升的水（H₂ O）來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用稀釋或濃縮的一或更多種化學物質（包括鹽酸（HCl）、硝酸（HNO₃ ）、硫酸（H₂ SO₄ ）、氟化氫（HF）、及過氧化氫（H₂ O₂ ））來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一或更多個實施例中，將烴與HF及HNO₃ 的溶液、NH₄ OH及H₂ O₂ 的溶液、WCl₅ 、WF₆ 、氟化鈮（NbF₅ ）、氯一起使用來對支柱401進行選擇性蝕刻。在一或更多個實施例中，烴可以是單碳（例如，CH₄ ）或多碳基烴。在一個實施例中，分別使用HF、HNO₃ 、及乙酸（CH₃ COOH）以4：4：3的比率來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用溴三氟甲烷（CBrF₃ ）反應離子蝕刻（RIE）技術來對支柱401進行選擇性乾式蝕刻。在一個實施例中，使用氯、氟、溴、或基於其任何組合的化學物質來對支柱401進行選擇性乾式蝕刻。在一個實施例中，使用熱或溫的Aqua Regia混合物（包括HCl及HNO₃ ，比率分別為3：1）來對支柱401進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用鹼與氧化劑（硝酸鉀（KNO₃ ）與二氧化鉛（PbO₂ ））來對支柱401進行選擇性蝕刻。

第11A圖係為根據一個實施例的在間隙填充層1101沉積於凹陷的導電線段201、絕緣層102的一部分、及絕緣層501的一部分之後的類似於第10A圖的視圖1100。第11B圖係為第11A圖所示的電子裝置的頂視圖1110，而第11C圖係為第11A圖所示的電子裝置的透視圖1120。如第11A圖至第11C圖所示，間隙填充層1101係沉積於凹陷的導電線段201的頂表面203、開口1001的側壁204、及絕緣層102的頂部部分。在一個實施例中，間隙填充層1101係為鎢（W）層或其他間隙填充層，以提供選擇性生長支柱。在一些實施例中，間隙填充層1101係為金屬膜或含金屬的膜。合適的金屬膜包括但不限於包括鈷（Co）、鉬（Mo）、鎢（W）、鉭（Ta）、鈦（Ti）、釕（Ru）、銠（Rh）、銅（Cu）、鐵（Fe）、錳（Mn）、釩（V）、鈮（Nb）、鉿（Hf）、鋯（Zr）、釔（Y）、鋁（Al）、錫（Sn））、鉻（Cr）、鑭（La）、或其任意組合中之一或更多者的膜。在一些實施例中，種子間隙填充層1101包含鎢（W）種子間隙填充層。

在一個實施例中，使用沉積技術（例如但不限於ALD、CVD、PVD、MBE、MOCVD、旋塗、或微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的其他襯墊沉積技術）中之一者來沉積間隙填充層1101。

在一些實施例中，間隙填充層1101的沉積包括種子間隙填充層（未圖示）的形成。該領域具有通常知識者將理解，種子間隙填充層係為相對薄的材料層，而可以增加間隙填充層1101的成核速率（亦即，生長速率）。在一些實施例中，種子間隙填充層的材料係與不同技術所沉積的間隙填充層1101相同。在一些實施例中，種子間隙填充層的材料係與間隙填充層1101不同。

間隙填充層1101的形成可以描述為使用間隙填充材料的塊狀沉積，以在基板的頂部上形成覆蓋層（未圖示），然後進行平坦化以移除覆蓋層。在一些實施例中，間隙填充層1101係藉由選擇性沉積處理來形成，選擇性沉積處理基本上不會形成絕緣層501上的覆蓋層（例如，>5％面積）。

然後，根據一個實施例，並如第11A圖至第11C圖所示，可以移除種子間隙填充層1101的一部分，以暴露絕緣層501的頂部部分。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中具有通常知識者已知的化學機械平坦化（CMP）技術中之一者來移除種子間隙填充層1101的一部分。

第12A圖係為根據一個實施例的在使用種子間隙填充層1101形成自對準選擇性生長支柱1201之後的類似於第11A圖的視圖1200。第12B圖係為第12A圖所示的電子裝置的頂視圖1210，而第12C圖係為第12A圖所示的電子裝置的透視圖1220。如第12A圖至第12C圖所示，自對準選擇性生長支柱1201的陣列具有與該組凹陷的導電線段201相同的圖案。如第12A圖至第12C圖所示，支柱1201從凹陷的導電線段201的頂表面基本垂直地延伸。如第12A圖至第12C圖所示，支柱1201沿著與凹陷的導電線段201相同的方向延伸。

參照第12A圖至第12C圖，在一個實施例中，從絕緣層102的一部分、絕緣層501的一部分、及凹陷的導電線段201上的間隙填充層1101選擇性生長支柱1201。在一個實施例中，例如藉由氧化、氮化、或其他處理來擴展凹陷的導電線段201上方的間隙填充層1101的部分，以生長支柱1201。在一個實施例中，藉由暴露於氧化劑或氧化條件而氧化間隙填充層1101，以將金屬或含金屬的間隙填充層1101轉變成金屬氧化物支柱1201。在一個實施例中，支柱1201包括上文列出的一或更多種金屬的氧化物。在更具體的實施例中，支柱1201包括氧化鎢（例如，WO、WO₃ 、及其他氧化鎢）。

氧化劑可以是任何合適的氧化劑，包括但不限於O₂ 、O₃ 、N₂ O、H₂ O、H₂ O₂ 、CO、CO₂ 、N₂ /Ar、N₂ /He、N₂ /Ar/He、過氧硫酸銨、有機過氧化劑（例如，間氯過氧苯甲酸與過氧酸（例如，三氟過氧乙酸、2,4-二硝苯甲酸、過氧乙酸、過氧硫酸，過氧碳酸，過氧硼酸、及類似者））、或其任何組合。在一些實施例中，氧化條件包含熱氧化、電漿增強氧化、遠端電漿氧化、微波及射頻氧化（例如，電感耦接電漿（ICP）、電容耦接電漿（CCP））。

在一個實施例中，取決於例如種子間隙填充層1101與氧化劑的組成物，在任何合適的溫度下藉由種子間隙填充層1101的氧化來形成支柱1201。在一些實施例中，在約25℃至約800℃的近似範圍的溫度下發生氧化。在一些實施例中，在大於或等於約150℃的溫度下發生氧化。

在一個實施例中，支柱1201的高度係在約5埃（Å）至約10微米（μm）的近似範圍內。

在一或更多個實施例中，術語「橋接支柱」可以用於指稱支柱1201，因為如下所述的支柱將用於形成利用導電線段1601填充的橋接通孔，並將凹陷的導電線段201連接到導電線段1802，而並未接觸導電線段801。換言之，橋接支柱橋接或跨越下金屬化層Mx與上金屬化層Mz，而並未接觸中間金屬化層My。

第13A圖係為根據一個實施例的在沉積絕緣層1301以過度填充及圍繞支柱1201之後的類似於第12A圖的視圖1300。第13B圖係為第13A圖所示的電子裝置的頂視圖1310，而第13C圖係為第13A圖所示的電子裝置的透視圖1320。如第13A圖至第13C圖所示，絕緣層1301係沉積並圍繞於絕緣層501的一部分上的支柱1201與具有導電線段801的金屬化層上。

在一個實施例中，絕緣層1301係為低k間隙填充層。在一個實施例中，絕緣層1301係為可流動的氧化矽（FSiOx）層。在至少一些實施例中，絕緣層1301係為氧化物層（例如，二氧化矽（SiO₂ ）），或由電子裝置設計確定的任何其他電絕緣層。在一個實施例中，絕緣層1301係為間層介電質（ILD）。在一個實施例中，絕緣層1301係為低k介電質，其包括但不限於例如二氧化矽、氧化矽、碳基材料（例如，多孔碳膜）、碳摻雜氧化物（「CDO」）（例如，碳摻雜的二氧化矽）、多孔二氧化矽、多孔碳氫氧化矽（SiOCH）、氮化矽、或其任何組合的材料。在一個實施例中，絕緣層1301係為k值小於3的介電材料。在更特定實施例中，絕緣層1301係為k值在約2.2至約2.7的近似範圍內的介電材料。在一個實施例中，絕緣層1301包括k值小於2的介電材料。在一個實施例中，絕緣層1301係代表上述關於絕緣層102的絕緣層中之一者。

在一個實施例中，絕緣層1301係為低k間層介電質，以將一個金屬線段與其他金屬線段隔離。在一個實施例中，使用沉積技術中之一者來沉積絕緣層1301，例如但不限於CVD、旋塗、ALD、PVD、MBE、MOCVD、或微電子裝置製造領域的具有通常知識者已知的其他低k絕緣層沉積技術。

第14A圖係為根據一個實施例的在將硬遮罩層1402沉積於絕緣層1401之後的視圖1400。第14B圖係為第14A圖所示的電子裝置的頂視圖1410，而第14C圖係為第14A圖所示的電子裝置的透視圖1420。在一個實施例中，硬遮罩層1402係為金屬化層硬遮罩。如第14A圖至第14C圖所示，將硬遮罩層1402圖案化，以定義複數個溝道1403。如第14A圖至第14C圖所示，溝道1403沿著Y軸（方向）122延伸，Y軸（方向）122係以角度123與X軸（方向）121交叉。在一個實施例中，Y軸122基本垂直於X軸121。在一個實施例中，圖案化硬遮罩層1402係為碳硬遮罩層、金屬氧化物硬遮罩層、金屬氮化物硬遮罩層、氮化矽硬遮罩層、氧化矽硬遮罩層、碳化物硬遮罩層、或微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的其他硬遮罩層。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的一或更多種硬遮罩圖案化技術來形成圖案化硬遮罩層1402。在一個實施例中，透過圖案化硬遮罩層來蝕刻絕緣層1401，以使用微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的蝕刻技術中之一或更多者來形成溝道1403。在一個實施例中，絕緣層1401中的溝道1403的尺寸係由稍後在處理中形成的導電線段的尺寸確定。

在一個實施例中，硬遮罩層1402包括光阻層。在一個實施例中，硬遮罩層1402包括一或更多個硬遮罩層。在一個實施例中，絕緣層1401係為硬遮罩層。在一個實施例中，絕緣層1401包括底部抗反射塗層（BARC）。在一個實施例中，絕緣層1401包括氮化鈦（TiN）層、碳化鎢（WC）層、溴化鎢（WBC）層、碳硬遮罩層、金屬氧化物硬遮罩層、金屬氮化物硬遮罩層、氮化矽硬遮罩層、氧化矽硬遮罩層、碳化物硬遮罩層、其他硬遮罩層、或其任意組合。在一個實施例中，絕緣層1401係代表上述絕緣層中之一者。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的一或更多種遮罩層沉積技術來沉積硬遮罩層1402。在一個實施例中，使用沉積技術（例如但不限於CVD、PVD、MBE、NOCVD、旋塗、或微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的其他絕緣層沉積技術）中之一者來沉積絕緣層1401。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的圖案化及蝕刻技術中之一或更多者來形成開口1403。

第15A圖係為根據一個實施例的在選擇性移除至少一個自對準選擇性生長支柱1201以形成開口1501之後的類似於第14A圖的視圖1500。第15B圖係為第15A圖所示的電子裝置的頂視圖1510，而第15C圖係為第15A圖所示的電子裝置的透視圖1520。如第15A圖至第15C圖所示，相對於絕緣層501、絕緣層102、絕緣層1301、及凹陷的導電線段201，選擇性移除支柱1201。如第15A圖至第15C圖所示，在絕緣層1301、501、及102中形成開口1501。開口1501沿著與凹陷的導電線段201相同的軸線延伸。如第15A圖至第15C圖所示，每一開口1501的底部係為凹陷的導電線段201的頂表面203。一般而言，開口的深寬比係指稱開口的深度與開口的寬度的比率。在一個實施例中，每一開口1501的深寬比係在約1：1至約200：1的近似範圍內。

在一個實施例中，使用電子裝置製造領域中具有通常知識者已知的乾式及濕式蝕刻技術中之一或更多者來選擇性移除支柱1201。在一個實施例中，在約80℃的溫度下藉由例如5重量％的氫氧化銨（NH₄ OH）水溶液來選擇性濕式蝕刻支柱1201。在一個實施例中，將過氧化氫（H₂ O₂ ）加入到5重量％的NH₄ OH水溶液，以增加支柱401的蝕刻速率。在一個實施例中，使用氫氟酸（HF）與硝酸（HNO₃ ）以1：1的比率來對支柱1201進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用HF與HNO₃ 以3：7的比率來對支柱1201進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用HF與HNO₃ 以4：1的比率來對支柱1201進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用HF與HNO₃ 以30％：70％的比率來對支柱1201進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，分別使用NH₄ OH與H₂ O₂ 以1：2的比率來對包括鎢（W）、鈦（Ti）、或鈦及鎢二者的支柱1201進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用305克的鐵氰化鉀（K₃ Fe（CN）₆ ）、44.5克的氫氧化鈉（NaOH）、及1000毫升的水（H₂ O）來對支柱1201進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用稀釋或濃縮的一或更多種化學物質（包括鹽酸（HCl）、硝酸（HNO₃ ）、硫酸（H₂ SO₄ ）、氟化氫（HF）、及過氧化氫（H2O2））來對支柱1201進行選擇性濕式蝕刻。在一或更多個實施例中，將烴與HF及HNO₃ 的溶液、NH₄ OH及H₂ O₂ 的溶液、WCl₅ 、WF₆ 、氟化鈮（NbF₅ ）、氯一起使用來對支柱1201進行選擇性蝕刻。在一或更多個實施例中，烴可以是單碳（例如，CH₄ ）或多碳基烴。在一個實施例中，分別使用HF、HNO₃ 、及乙酸（CH₃ COOH）以4：4：3的比率來對支柱1201進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用溴三氟甲烷（CBrF₃ ）反應離子蝕刻（RIE）技術來對支柱1201進行選擇性乾式蝕刻。在一個實施例中，使用氯、氟、溴、或基於其任何組合的化學物質來對支柱1201進行選擇性乾式蝕刻。在一個實施例中，使用熱或溫的Aqua Regia混合物（包括HCl及HNO₃ ，比率分別為3：1）來對支柱1201進行選擇性濕式蝕刻。在一個實施例中，使用鹼與氧化劑（硝酸鉀（KNO₃ ）與二氧化鉛（PbO₂ ））來對支柱1201進行選擇性蝕刻。

第16A圖係為在將金屬膜1601沉積於凹陷的導電線段201上的開口1501中之後的類似於第15A圖的視圖1600。第16B圖係為第16A圖所示的電子裝置的頂視圖1610，而第16C圖係為第16A圖所示的電子裝置的透視圖1620。金屬膜1601包含沿著第一方向延伸並與凹陷的該組導電線段201對準的一組導電線段。

在一個實施例中，形成導電線段1601係涉及利用導電材料層來填充開口1501。在一個實施例中，首先將基底層（未圖示）沉積於凹陷的導電線段201上的開口1501的內側壁及底部，然後將導電層沉積於基底層上。在一個實施例中，基底層包括沉積於導電阻隔層（未圖示）上的導電種子層（未圖示）。種子層可以包括銅（Cu），而導電阻隔層可以包括鋁（Al）、鈦（Ti）、鉭（Ta）、氮化鉭（TaN）、及類似金屬。導電阻隔層可以用於防止導電材料從種子層（例如，銅或鈷）擴散到絕緣層102中。此外，導電阻隔層可用於針對種子層（例如，銅）提供黏著。

在一個實施例中，為了形成基底層，將導電阻隔層沉積於開口1501的側壁及底部上，然後將種子層沉積於導電阻隔層上。在另一實施例中，導電基底層包括直接沉積於開口1501的側壁及底部上的種子層。可以使用半導體製造領域中具有通常知識者已知的任何薄膜沉積技術（例如，濺射、毯覆沉積、及類似者）來沉積導電阻隔層與種子層中之每一者。在一個實施例中，導電阻隔層與種子層中之每一者的厚度係在約1nm至約100nm的近似範圍內。在一個實施例中，阻隔層可以是薄介電質，經蝕刻以建立與下方的金屬層的導電性。在一個實施例中，可以完全省略阻隔層，並且可以使用銅線的適當摻雜來形成「自形成阻隔層」。

在一個實施例中，藉由電鍍處理將導電層（例如，銅或鈷）沉積到銅的基底層的種子層上。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中的具有通常知識者已知的鑲嵌處理將導電層沉積到開口1501中。在一個實施例中，使用選擇性沉積技術（例如但不限於電鍍、電解、CVD、PVD、MBE、MOCVD、ALD、旋塗、或其他微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的其他沉積技術）將導電層沉積到開口1501中的種子層上。

在一個實施例中，導電線段1601的導電層的材料的選擇係確定種子層的材料的選擇。舉例而言，若導電線段1601的材料包括銅，則種子層的材料亦包括銅。在一個實施例中，導電線段1601包括金屬（例如，銅（Cu）、釕（Ru）、鎳（Ni）、鈷（Co）、鉻（Cr）、鐵（Fe）、錳（Mn）、鈦（Ti）、鋁（Al）、鉿（Hf）、鉭（Ta）、鎢（W）、釩（V）、鉬（Mo）、鈀（Pd）、金（Au）、銀（Ag）、鉑（Pt）、銦（In）、錫（Sn）、鉛（Pd）、銻（Sb）、鉍（Bi）、鋅（Zn）、鎘（Cd）、或其任何組合）。

第17A圖係為在移除硬遮罩1402及絕緣層1401之後的類似於第16A圖的視圖1700。第17B圖係為第17A圖所示的電子裝置的頂視圖1710，而第17C圖係為第17A圖所示的電子裝置的透視圖1720。在一個實施例中，使用濕式蝕刻、乾式蝕刻、或微電子裝置製造領域具有通常知識者已知的技術的組合中之一或更多者來移除硬遮罩1402。在一個實施例中，使用溝道第一雙鑲嵌處理的非選擇性蝕刻來移除硬遮罩層1402及絕緣層1401。在一個實施例中，將硬遮罩層1402及絕緣層1401蝕刻到由時間確定的深度。在另一實施例中，將硬遮罩層1402及絕緣層1401非選擇性蝕刻到蝕刻停止層（未圖示）。在一個實施例中，使用濕式蝕刻、乾式蝕刻、或電子裝置製造領域具有通常知識者已知的技術的組合中之一或更多者來非選擇性蝕刻硬遮罩層1402及絕緣層1401。

第18A圖係為根據一或更多個實施例的在沉積金屬化層之後的類似於第17A圖的視圖1800。第18B圖係為第18A圖所示的電子裝置的頂視圖1810，而第18C圖係為第18A圖所示的電子裝置的透視圖1820。在一或更多個實施例中，金屬化層係形成為包含導電線段1801及導電線段1802。導電線段1802係沿著第一方向延伸，並與該組導電線段201對準。

上金屬化層Mz包括延伸於絕緣層1301的一部分上的一組導電線段1802。如第18A圖至第18C圖所示，導電線段1802係沿著Y軸122延伸。利用導電線段1601填充的完全自對準的橋接通孔係位於下金屬化層與上金屬化層之間，下金屬化層包含沿著X軸121延伸的凹陷的導電線段201，而上金屬化層包含導電線段1802。如第18A圖至第18C圖所示，利用導電線段1601填充的橋接通孔係沿著Y軸122與導電線段1802自對準。

在一個實施例中，形成導電線段1802及1801之步驟與利用導電線段1601填充通孔之步驟係涉及在絕緣層1301的頂表面上沉積導電材料層。在一個實施例中，首先將基底層（未圖示）沉積於絕緣層1301的頂表面上，然後將導電層沉積於基底層上。在一個實施例中，基底層包括沉積於導電阻隔層（未圖示）上的導電種子層（未圖示）。種子層可包括銅，而導電阻隔層可包括鋁、鈦、鉭、氮化鉭、及類似金屬。導電阻隔層可用於防止導電材料從種子層（例如，銅）擴散到絕緣層中。此外，導電阻隔層可用於針對種子層（例如，銅）提供黏著。

在一個實施例中，為了形成基底層，將導電阻隔層沉積於絕緣層1301上，然後將種子層沉積於導電阻隔層上。在另一實施例中，導電基底層包括直接沉積於絕緣層1301上的種子層。可以使用半導體製造領域中具有通常知識者已知的任何薄膜沉積技術（例如，濺射、毯覆沉積、及類似者）來沉積導電阻隔層與種子層中之每一者。在一個實施例中，導電阻隔層與種子層中之每一者的厚度係在約1nm至約100nm的近似範圍內。在一個實施例中，阻隔層可以是薄介電質，經蝕刻以建立與下方的金屬層的導電性。在一個實施例中，可以完全省略阻隔層，並且可以使用銅線的適當摻雜來形成「自形成阻隔層」。

在一個實施例中，藉由電鍍處理將導電層（例如，銅或鈷）沉積到銅的基底層的種子層上。在一個實施例中，使用微電子裝置製造領域中的具有通常知識者已知的鑲嵌處理來沉積導電層。在一個實施例中，使用選擇性沉積技術（例如但不限於電鍍、電解、CVD、PVD、MBE、MOCVD、ALD、旋塗、或其他微電子裝置製造領域中的通常知識者已知的其他沉積技術）將導電層沉積到種子層上。

在一個實施例中，導電線段1802及1801的導電層的材料的選擇係確定種子層的材料的選擇。舉例而言，若導電線段1802及1801的材料包括銅，則種子層的材料亦包括銅。在一個實施例中，導電線段1802及1801包括金屬（例如，銅（Cu）、釕（Ru）、鎳（Ni）、鈷（Co）、鉻（Cr）、鐵（Fe）、錳（Mn）、鈦（Ti）、鋁（Al）、鉿（Hf）、鉭（Ta）、鎢（W）、釩（V）、鉬（Mo）、鈀（Pd）、金（Au）、銀（Ag）、鉑（Pt）、銦（In）、錫（Sn）、鉛（Pb）、銻（Sb）、鉍（Bi）、鋅（Zn）、鎘（Cd）、或其任何組合）。

在替代實施例中，可以用於導電線段1802及1801的導電材料的實例包括金屬（例如，銅、鉭、鎢、釕、鈦、鉿、鋯、鋁、銀、錫、鉛、金屬合金）、金屬碳化物（例如，碳化鉿、碳化鋯、碳化鈦、碳化鉭、碳化鋁）、其他導電材料、或其任何組合。

在一個非限制性實例中，導電線段1802及1802的厚度係在約15nm至約1000nm的近似範圍內。在一個非限制性實例中，導電線段1802的厚度係為約20nm至約200nm。在一個非限制性實例中，導電線段1802的寬度係在約5nm至約500nm的近似範圍內。在一個非限制性實例中，導電線段1802之間的間隔（節距）係為約2nm至約500nm。在更具體的非限制性實例中，導電線段1802之間的間隔（節距）係為約5nm至約50nm。

在一或更多個實施例中，術語「橋接通孔」可以用於指稱通孔開口1501，因為在利用導電線段1601填充時，經填充的通孔將凹陷的導電線段201連接到導電線段1802，而並未接觸導電線段801。

在前述說明書中，已經參照具體示例性實施例描述本揭示的實施例。應理解，在不悖離所附請求項中闡述的本揭示的實施例的更廣泛精神及範圍的情況下，可以進行各種修改。因此，說明書與圖式係視為說明性而非限制性。

100:橫截面圖 101:基板 102:絕緣層 103:導電線段 104:溝道 110:頂視圖 120:透視圖 121:X軸 122:Y軸 123:角度 200:視圖 200a:視圖 201:凹陷的導電線段 203:頂表面 204:側壁 205:溝道 207:襯墊 210:頂視圖 220:透視圖 300:視圖 301:間隙填充層 310:頂視圖 320:透視圖 400:橫截面圖 401:支柱 402:間隙 410:頂視圖 420:透視圖 500:視圖 501:絕緣層 510:頂視圖 520:透視圖 600:視圖 601:絕緣層 602:硬遮罩層 603:溝道 610:頂視圖 620:透視圖 700:視圖 701:開口 710:頂視圖 720:透視圖 800:視圖 801:導電線段 810:頂視圖 820:透視圖 900:視圖 910:頂視圖 920:透視圖 1000:視圖 1001:開口 1010:頂視圖 1020:透視圖 1100:視圖 1101:間隙填充層 1110:頂視圖 1120:透視圖 1200:視圖 1201:支柱 1210:頂視圖 1220:透視圖 1300:視圖 1301:絕緣層 1310:頂視圖 1320:透視圖 1400:視圖 1401:絕緣層 1402:硬遮罩層 1403:溝道 1410:頂視圖 1420:透視圖 1500:視圖 1501:開口 1510:頂視圖 1520:透視圖 1600:視圖 1601:金屬膜 1610:頂視圖 1620:透視圖 1700:視圖 1710:頂視圖 1720:透視圖 1800:視圖 1801:導電線段 1802:導電線段 1810:頂視圖 1820:透視圖

為使本揭示的上述特徵可詳細地被理解，本揭示（簡短概要如上）的更特定描述可參照實施例而得，該等實施例之一些係繪示於隨附圖式中。然而，應注意隨附圖式僅圖示本揭示之典型實施例，而非視為限定本揭示的保護範疇，本揭示可接納其他等效實施例。本文所述的實施例係藉由實例的方式圖示，而非限制於隨附圖式的圖式中，其中相似的元件符號表示類似的元件。

第1A圖圖示根據一個實施例的提供完全自對準的通孔的電子裝置結構的橫截面圖；

第1B圖係圖示第1A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第1C圖係圖示第1A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第2A圖係為根據一個實施例的在將導電線段凹陷之後的類似於第1A圖的視圖；

第2B圖係圖示第2A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第2C圖係圖示第2A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第2D圖係圖示根據替代實施例的在襯墊沉積於凹陷的導電線段之後的類似於第2A圖的視圖；

第3A圖係為根據一個實施例的在金屬膜沉積於凹陷的導電線段之後的類似於第2A圖的視圖；

第3B圖係圖示第3A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第3C圖係圖示第3A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第4A圖係為根據一個實施例的在支柱生長於凹陷的導電線段之後的類似於第3A圖的視圖；

第4B圖係圖示第4A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第4C圖係圖示第4A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第5A圖係為根據一個實施例的在沉積絕緣層之後的類似於第4A圖的視圖；

第5B圖係圖示第5A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第5C圖係圖示第5A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第6A圖係為根據一個實施例的在形成硬遮罩層之後的類似於第5A圖的視圖；

第6B圖係圖示第6A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第6C圖係圖示第6A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第7A圖係為根據一個實施例的在蝕刻基板之後的類似於第6A圖的視圖；

第7B圖係圖示第7A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第7C圖係圖示第7A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第8A圖係為根據一個實施例的在填充通孔之後的類似於第7A圖的視圖；

第8B圖係圖示第8A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第8C圖係圖示第8A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第9A圖係為根據一個實施例的在移除硬遮罩之後的類似於第8A圖的視圖；

第9B圖係圖示第9A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第9C圖係圖示第9A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第10A圖係為根據一個實施例的在移除支柱之後的類似於第9A圖的視圖；

第10B圖係圖示第10A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第10C圖係圖示第10A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第11A圖係為根據一個實施例的在沉積金屬膜之後的類似於第10A圖的視圖；

第11B圖係圖示第11A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第11C圖係圖示第11A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第12A圖係為根據一個實施例的在生長支柱之後的類似於第11A圖的視圖；

第12B圖係圖示第12A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第12C圖係圖示第12A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第13A圖係為根據一個實施例的在沉積絕緣層之後的類似於第12A圖的視圖；

第13B圖係圖示第13A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第13C圖係圖示第13A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第14A圖係為根據一個實施例的在沉積硬遮罩之後的類似於第13A圖的視圖；

第14B圖係圖示第14A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第14C圖係圖示第14A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第15A圖係為根據一個實施例的在蝕刻基板之後的類似於第14A圖的視圖；

第15B圖係圖示第15A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第15C圖係圖示第15A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第16A圖係為根據一個實施例的在填充橋接通孔之後的類似於第15A圖的視圖；

第16B圖係圖示第16A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第16C圖係圖示第16A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第17A圖係為根據一個實施例的在移除硬遮罩之後的類似於第16A圖的視圖；

第17B圖係圖示第17A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；

第17C圖係圖示第17A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

第18A圖係為根據一個實施例的在連接導電線段之後的類似於第17A圖的視圖；

第18B圖係圖示第18A圖所示的電子裝置結構的頂視圖；以及

第18C圖係圖示第18A圖所示的電子裝置結構的透視圖；

國內寄存資訊 (請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無

國外寄存資訊 (請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無

101:基板

102:絕緣層

121:X軸

122:Y軸

123:角度

201:凹陷的導電線段

501:絕緣層

801:導電線段

1301:絕緣層

1601:金屬膜

1801:導電線段

1802:導電線段

1820:透視圖

Claims (20)

1. 一種電子裝置，包含： 一第一絕緣層； 一第一金屬化層，包含沿著一第一方向延伸的一組第一導電線段，該等第一導電線段中之每一者藉由該第一絕緣層與相鄰的第一導電線段分開； 一第二絕緣層，位於該第一絕緣層上； 一第二金屬化層，位於該第二絕緣層上，包含一組第二導電線段，該組第二導電線段係沿著與該第一方向以一角度交叉的一第二方向延伸； 一第三絕緣層，位於該第二金屬化層上方； 一第三金屬化層，位於該第三絕緣層上，包含一組第三導電線段，該組第三導電線段係沿著該第一方向延伸，並與該組第一導電線段對準；以及 一橋接通孔，位於該第一金屬化層與該第三金屬化層之間，該橋接通孔並未接觸該第二金屬化層。
2. 如請求項1所述之電子裝置，進一步包含一第一通孔，該第一通孔係連接該等第一導電線段中之至少一者與至少一個第二導電線段，該第一通孔延伸通過該第二絕緣層。
3. 如請求項2所述之電子裝置，其中該第一通孔或該橋接通孔中之一或更多者係沿著該第一方向自對準。
4. 如請求項1所述之電子裝置，其中該橋接通孔係延伸通過該第二絕緣層與該第三絕緣層。
5. 如請求項1所述之電子裝置，其中該第三絕緣層係相對於該第二絕緣層經選擇性蝕刻。
6. 如請求項1所述之電子裝置，進一步包含該至少一個第一導電線段上的一襯墊。
7. 如請求項2所述之電子裝置，其中該第一通孔具有一溝道部分，該溝道部分係為該至少一個第二導電線段的一部分，而一第一通孔部分係位於該溝道部分下方。
8. 一種用於提供一通孔的方法，包含以下步驟： 提供包含一第一絕緣層的一基板，該第一絕緣層具有沿著一第一方向延伸的平行凹陷的複數個第一導電線段，凹陷的該等第一導電線段具有在該第一絕緣層的一頂表面下方凹陷的一頂表面； 在凹陷的該等第一導電線段上形成第一支柱，該等第一支柱垂直於該第一絕緣層的該頂表面而延伸； 在該等第一支柱周圍以及在該第一絕緣層的該頂表面上沉積一第二絕緣層； 選擇性移除該等第一支柱中之至少一者，以在該第二絕緣層中形成至少一個開口，而在凹陷的該等第一導電線段上留下至少一個第一支柱； 在該至少一個開口中沉積一第二導電材料，以形成一第一通孔與第二導電線段，該第一通孔將凹陷的該等第一導電線段連接到該等第二導電線段； 移除留在凹陷的該等第一導電線段上的該至少一個第一支柱，以在該第二絕緣層中形成至少一個橋接開口； 透過該至少一個橋接開口在凹陷的該等第一導電線段上形成至少一個橋接支柱，該至少一個橋接支柱垂直於該第二絕緣層的一頂表面而延伸； 圍繞該至少一個橋接支柱並在該第二絕緣層的一部分上沉積一第三絕緣層； 移除該至少一個橋接支柱，以在該第二絕緣層與該第三絕緣層中形成至少一個橋接開口；以及 在該至少一個橋接開口中沉積一第三導電材料，以形成一橋接通孔與第三導電線段，該橋接通孔將凹陷的該等第一導電線段連接到該等第三導電線段。
9. 如請求項8所述之方法，其中形成該等第一支柱之步驟包含以下步驟：在凹陷的該等第一導電線段上形成一第一支柱金屬膜，以及從該第一支柱金屬膜生長該等第一支柱。
10. 如請求項9所述之方法，其中將該第一支柱金屬膜生長成該等第一支柱之步驟包含該等第一支柱金屬膜的氧化或氮化中之一或更多者。
11. 如請求項8所述之方法，進一步包含以下步驟：在形成該等第一支柱之前，在凹陷的該等第一導電線段上形成一襯墊。
12. 如請求項11所述之方法，進一步包含以下步驟：在形成該第二絕緣層中的該開口之後，以及在沉積該第二導電材料之前，從凹陷的該等第一導電線段移除該襯墊。
13. 如請求項8所述之方法，其中沉積該第二絕緣層之步驟包含以下步驟：在該第一絕緣層上，在該等第一支柱周圍，以及在該至少一個第一支柱的一頂部上沉積一第二絕緣材料，以形成該第二絕緣層的一覆蓋層；以及將該第二絕緣層平坦化，以移除該第二絕緣層的該覆蓋層，並暴露該至少一個第一支柱的該頂部。
14. 如請求項8所述之方法，其中選擇性移除該等第一支柱中之至少一者之步驟包含以下步驟：在該第二絕緣層上形成一硬遮罩，該硬遮罩在至少一個第一支柱上方具有一開口；以及移除該至少一個第一支柱，以形成該至少一個開口。
15. 如請求項8所述之方法，其中形成該至少一個橋接支柱之步驟包含以下步驟：透過該至少一個橋接開口在凹陷的該等第一導電線段上形成一橋接支柱金屬膜，以及從該橋接支柱金屬膜生長該至少一個橋接支柱。
16. 如請求項8所述之方法，其中該至少一個第一支柱與該至少一個橋接支柱包含氧化鎢。
17. 如請求項8所述之方法，其中凹陷的該等第一導電線段、該第二導電材料、及該第三導電材料獨立地包含銅、釕、鎳、鈷、鉻、鐵、錳、鈦、鋁、鉿、鉭、鎢、釩、鉬、鈀、金、銀、鉑、銦、錫、鉛、銻、鉍、鋅、或鎘中之一或更多者。
18. 如請求項17所述之方法，其中凹陷的該等第一導電線段包含鈷或銅，而該第二導電材料包含鈷或銅中之另一者。
19. 如請求項8所述之方法，其中該第一絕緣層、該第二絕緣層、及該第三絕緣層係獨立地選自氧化物、碳摻雜氧化物、多孔二氧化矽、碳化物、碳氧化物、氮化物、氮氧化物、氧碳氮化物、聚合物、磷矽酸鹽玻璃、氟矽酸鹽（SiOF）玻璃、有機矽酸鹽玻璃（SiOCH）、或其任何組合所組成的群組。
20. 一種用於提供一通孔的方法，包含以下步驟： 提供包含一第一絕緣層的一基板，該第一絕緣層具有沿著一第一方向延伸的平行凹陷的複數個第一導電線段，凹陷的該等第一導電線段具有在該第一絕緣層的一頂表面下方凹陷的一頂表面，該第一絕緣層包含超低k值，而凹陷的該等第一導電線段包含銅或鈷； 在凹陷的該等第一導電線段上形成包含鎢的一第一支柱金屬膜，以及從凹陷的該等第一導電線段上的該第一支柱金屬膜生長包含氧化鎢的至少一個第一支柱，該至少一個第一支柱垂直於該第一絕緣層的該頂表面而延伸； 將一第二絕緣層沉積在該第一絕緣層上，圍繞該等第一支柱沉積，並沉積於該至少一個第一支柱的一頂部上，以形成該第二絕緣層的一覆蓋層，該第二絕緣層包含一可流動的氧化矽； 將該第二絕緣層平坦化，以移除該第二絕緣層的該覆蓋層，並暴露該至少一個第一支柱的該頂部； 在該第二絕緣層上形成一硬遮罩，該硬遮罩在至少一個第一支柱上方具有一開口； 移除該至少一個第一支柱，以在該第二絕緣層中形成該至少一個開口，而在凹陷的該等第一導電線段上留下至少一個第一支柱； 在該第二絕緣層中的該至少一個開口中沉積一第二導電材料，以形成一第一通孔與第二導電線段，該第一通孔將凹陷的該等第一導電線段連接到該等第二導電線段； 移除留在凹陷的該等第一導電線段上的該至少一個第一支柱，以在該第二絕緣層中形成至少一個橋接開口； 透過該至少一個橋接開口在凹陷的該等第一導電線段上形成包含鎢的一橋接支柱金屬膜； 從該橋接支柱金屬膜生長包含氧化鎢的至少一個橋接支柱，該至少一個橋接支柱垂直於該第二絕緣層的一頂表面而延伸； 將一第三絕緣層沉積於該至少一個橋接支柱周圍，並沉積於該第二絕緣層的一部分上，該第三絕緣層係選自氧化物、碳摻雜氧化物、多孔二氧化矽、碳化物、碳氧化物、氮化物、氮氧化物、氧碳氮化物、聚合物、磷矽酸鹽玻璃、氟矽酸鹽（SiOF）玻璃、有機矽酸鹽玻璃（SiOCH）、或其任何組合所組成的群組； 移除該至少一個橋接支柱，以在該第二絕緣層與該第三絕緣層中形成至少一個橋接開口；以及 在該至少一個橋接開口中沉積包含銅或鈷的一第三導電材料，以形成一橋接通孔與第三導電線段，該橋接通孔將凹陷的該等第一導電線段連接到該等第三導電線段。

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