TW201326799A - 相機模組污點測試系統及其測試方法 - Google Patents

Abstract

一種相機模組污點測試系統，其包括相機模組及與該相機模組相連之訊號處理器，該訊號處理器包括區域劃分模組、亮度讀取模組及運算判斷模組，該區域劃分模組用於將該相機模組採集之圖像畫面劃分為複數測試區域，該亮度讀取模組用於讀取圖像畫面中複數測試區域之測試點之亮度值，該運算判斷模組預設一臨界對比度，用於運算各測試點與測試點週邊之亮度之對比度，如果該對比度小於或等於預設之臨界對比度，則該測試點為污點。

Description

相機模組污點測試系統及其測試方法

本發明涉及一種相機模組測試系統，尤其涉及一種相機模組污點測試系統及其測試方法。

目前越來越多電子產品內包含可拍照、錄影之攝影單元，如手機、平版電腦等。每一可拍照、錄影之攝影單元內都有至少一相機模組，每一相機模組都由感測器、鏡頭等主要元件所組成，在組合之過程中，可能會有微小顆粒掉入其中，如果成像區域內有微小顆粒，則成像上就會產生色度不均勻、有污霧之一污點區域，習知之檢測方式係藉由人眼來會判，惟，每人之視覺感官不同，標準亦不盡相同，故，易產生誤判或漏判，且檢測效率較低。

有鑒於此，有必要提供一種自動檢測污點之相機模組污點測試系統及其測試方法。

一種相機模組污點測試系統，其包括相機模組及與該相機模組相連之訊號處理器，該訊號處理器包括區域劃分模組、亮度讀取模組及運算判斷模組，該區域劃分模組用於將該相機模組採集之圖像畫面劃分為複數測試區域，該亮度讀取模組用於讀取圖像畫面中複數測試區域之測試點之亮度值，該運算判斷模組預設一臨界對比度，用於運算各測試點與測試點週邊之亮度對比度，如果該對比度小於或等於預設之臨界對比度，則該測試點為污點。

一種相機模組污點測試方法，其採用上述相機模組污點測試系統測試相機模組是否存在污點，該相機模組污點測試方法如下：連接該相機模組與該訊號處理器，於該運算處理模組中設定一臨界對比度；該區域劃分模組將圖像畫面分割成複數測試區域；該運算判斷模組運算各測試區域中各測試點亮度與測試點週邊亮度比值，如果該對比度小於或等於預設之臨界對比度，則該測試點為污點。

藉由上述相機模組污點測試系統，利用區域劃分模組對相機模組採集之圖像畫面進行區域劃分，運算判斷模組對各區域測試點亮度與測試點週邊區域亮度進行對比並判斷是否大於臨界對比度，判斷精確且效率高。

請參閱圖1及圖2，本實施方式之相機模組污點測試系統100包括相機模組10及訊號處理器30。相機模組10包括鏡頭11、感測器13及訊號發送器15。訊號發送器15與訊號處理器30相連。感測器13藉由鏡頭11對圖像進行採集，再藉由訊號發送器15將感測器13採集之圖像訊號發送至訊號處理器30。

訊號處理器30包括訊號接收模組31、區域劃分模組33、亮度讀取模組35、存儲模組37以及運算判斷模組38。在本實施方式中，訊號處理器30為計算機，訊號處理器30還包括顯示屏39。可理解，訊號處理器30可採用單片機、或其他可編程之智能設備。當然，訊號處理器30並不限於本實施方式，可增設其他功能模組優化資訊處理性能。

訊號接收模組31接收訊號發送器15發送之相機模組採集之圖像訊息，並將圖像訊息傳送至區域劃分模組33，區域劃分模組33用於將圖像畫面分割成複數預定測試區域。亮度讀取模組35用於讀取圖像畫面中複數預定測試區域之亮度值。存儲模組37用於存儲亮度讀取模組35讀取之亮度值，運算判斷模組38從存儲模組37讀取需比對之亮度值，並與測試點週邊亮度進行比對以得到測試點亮度值輿測試點週邊亮度之比值，進而判斷該比值是否大於預設之臨界對比度，從而判斷該測試點是否為污點。顯示屏39顯示訊號接收模組31接收之圖像畫面，並顯示出運算判斷模組38之判斷結果。

請參閱圖3，本實施方式之相機模組污點測試方法包括以下步驟：

S101：連接相機模組10與訊號處理器30，相機模組10採集圖像畫面並藉由訊號發送器15傳送至訊號接收模組31，並在運算判斷模組38中設定一臨界對比度Y_t，由於鏡頭不存在絕對之亮度均等，故臨界對比度Y_t一般取為接近1之對比度值。

S102：區域劃分模組33將圖像畫面分割成複數測試區域，亮度讀取模組35讀取畫面中複數預定偵測區域各點之亮度值，並存儲於存儲模組37中。

S103：運算判斷模組38運算各測試區域中各測試點亮度與測試點週邊亮度比值，並判斷該比值是否大於臨界對比度Yt。大於臨界對比度Yt，則該測試點不是污點，小於或等於臨界對比度Y_t，則該測試點是污點。

S104，顯示屏標示運算判斷模組38判斷之结果。

本實施例中，步驟S102包括以下步驟：

S102分步驟一：請參閱圖4，區域劃分模組33將畫面分為W*X方塊。W及X之數值根據畫面之大小及測試之精確度等因素可不同，即劃分之方塊數目根據畫面之大小及測試之精確度等因素確定。

S102分步驟二：請參閱圖5，本發明實施方式中，區域劃分模組33將分步驟一中劃分為W*X方塊之畫面再分為九測試區域A1至A9，每一測試區域佔據複數方塊。測試區域A1至A9中A1為中央測試區域，其位於畫面之居中區域，A2、A3為水準測試區域，分別位於A1上下二側之畫面邊緣區域，A4、A5為垂直測試區域，分別為A1左右二側之畫面邊緣區域，A6、A7、A8及A9為角落測試區域，分別為圖像畫面之四角區域。在本實施方式中，測試區域A4、A5佔據之方塊數相等，測試區域A2、A3佔據之方塊數相等，測試區域A6、A7、A8及A9佔據之方塊數相等。

可理解，區域劃分模組將畫面劃分成複數區域時，可依據其他方法劃分，如直接按照圖元數劃分，此時可省略S102分步驟一，直接將畫面按圖元數劃分為九測試區域。

本實施例中，步驟S103包括以下步驟：

S103分步驟一：請參閱圖6，運算判斷模組38對區域A2、A3進行水準方向亮度運算及判斷。定義測試方塊T，由於污點之面積有可能大於單個方塊之面積，故於測試方塊T之水準二側分別定義一空格區域G_h以及於空格區域G_h水準兩側分別定義一對比區域R_h，其中空格區域G_h之方塊數量為G，對比區域R_h之方塊數量為R。R、G之數量可根據所需測試精度等因素不同。運算判斷模組38從存儲模組中讀取測試方塊T之亮度值Y以及由測試方塊水準方向二側跳過空格區域G_h讀取對比區域R_h之平均亮度值，其中Y_h表示對比區域之平均亮度值，Y_i表示第i方塊之亮度值。運算判斷模組38對讀取之測試點T之亮度Y與對比區域R之平均亮度Y_i進行比值運算，得到，其中P_h為對比度。運算判斷模組38對運算之對比度P_h與預設之臨界對比度Y_t進行比較判斷，若對比度P_h小於或等於臨界對比度Y_t，則說明對比區域R_h之平均亮度大於測試點T之亮度，則測試點T為污點，若對比度P_h大於臨界對比度Y_t，則說明對比區域R_h之平均亮度小於測試點T之亮度，則測試點T不為污點。

S103分步驟二：請參閱圖7，運算判斷模組38對區域A4、A5進行垂直向亮度運算及判斷。定義測試方塊T、於測試方塊T之垂直向二側之空格區域G_v以及於空格區域G_v垂直向二側之對比區域R_v。運算判斷模組38從存儲模組中讀取測試方塊T之亮度值Y以及由測試方塊垂直方向二側跳過空格區域G_v讀取對比區域R_v之平均亮度值。運算判斷模組38對讀取之測試點T之亮度Y與對比區域R_v之平均亮度Y_v進行比值運算，得到對比度。運算判斷模組38對運算之對比度P_v與預設之臨界對比度Y_t進行比較判斷，若對比度P_v小於或等於臨界對比度Y_t，則說明對比區域R_v之平均亮度大於測試點T之亮度，則測試點T為污點，若對比度P_v大於臨界對比度Yt，則說明對比區域R_v之平均亮度小於測試點T之亮度，則測試點T不為污點。

S103分步驟三：請參閱圖8，運算判斷模組38對區域A1分別進行水準向及垂直向亮度運算及判斷。利用步驟S1031同樣之方法運算出測試點T之亮度與測試點T之水準向對比區域R_h之平均亮度之比值P_h，然後利用步驟S1032同樣之方法運算出測試點T之亮度與測試點T之垂直向對比區域R_v之平均亮度之比值P_v。運算判斷模組38對運算之對比度P_h及P_v與預設之臨界對比度Y_t進行比較判斷，若對比度P_h及P_v均小於或等於臨界對比度Y_t，則說明對比區域R_h及R_v之平均亮度大於測試點T之亮度，則測試點T為污點，否則測試點T不為污點。

S103分步驟四：請參閱圖9，運算判斷模組38對區域A6、A7、A8及A9進行垂直向亮度運算及判斷。定義測試方塊T，於測試方塊T之水準向及垂直向分別定義空格區域G_m及對比區域R_m。運算判斷模組38從存儲模組中讀取測試方塊T之亮度值Y以及由測試方塊T跳過空格區域G_m讀取對比區域R_m之平均亮度值。運算判斷模組38對讀取之測試點T之亮度Y與對比區域R_m之平均亮度Y_m進行比值運算，得到對比度。運算判斷模組38對運算之對比度P_m與預設之臨界對比度Y_t進行比較判斷，若對比度P_m小於或等於臨界對比度Y_t，則說明對比區域R_m之平均亮度大於測試點T之亮度，則測試點T為污點，若對比度P_m大於臨界對比度Y_t，則說明對比區域R_m之平均亮度小於測試點T之亮度，則測試點T不為污點。

本實施方式之相機模組污點測試系統100及測試方法中，利用區域劃分模組33對相機模組10採集之圖像畫面進行區域劃分，運算判斷模組38對各區域中採用不同方向之亮度採集，使得各測試點之亮度判斷時，與測試點亮度進行對比之對比區域不會超出畫面邊界，判斷精確且效率高。另，臨界對比度Yt、空格區域、對比區域可調整，能夠對不同要求之污點判斷精度進行調控。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上者僅為本發明之較佳實施方式，本發明之範圍並不以上述實施方式為限，舉凡熟悉本案技藝之人士，於爰依本案發明精神所作之等效修飾或變化，皆應包含於以下之申請專利範圍內。

100．．．相機模組污點測試系統

10．．．相機模組

30．．．訊號處理器

11．．．鏡頭

13．．．感測器

15．．．訊號發送器

31．．．訊號接收模組

33．．．區域劃分模組

35．．．亮度讀取模組

37．．．存儲模組

38．．．運算判斷模組

39．．．顯示屏

圖1係本實施方式之相機模組污點測試系統之模組示意圖。

圖2係圖1所示之相機模組污點測試系統之結構示意圖。

圖3係圖1所示之相機模組污點測試系統之方法示意圖。

圖4係圖1所示之相機模組污點測試系統之方塊劃分示意圖。

圖5係圖1所示之相機模組污點測試系統之區域劃分示意圖。

圖6係圖1所示之相機模組污點測試系統之一區域測試示意圖。

圖7係圖1所示之相機模組污點測試系統之另一區域測試示意圖。

圖8係圖1所示之相機模組污點測試系統之又一區域測試示意圖。

圖9係圖1所示之相機模組污點測試系統之又一區域測試示意圖。

100．．．相機模組污點測試系統

10．．．相機模組

30．．．訊號處理器

11．．．鏡頭

13．．．感測器

15．．．訊號發送器

31．．．訊號接收模組

33．．．區域劃分模組

35．．．亮度讀取模組

37．．．存儲模組

38．．．運算判斷模組

39．．．顯示屏

Claims (10)

1. 一種相機模組污點測試系統，包括相機模組，其改良在於：該相機模組污點測試系統還包括與該相機模組相連之訊號處理器，該訊號處理器包括區域劃分模組、亮度讀取模組及運算判斷模組，該區域劃分模組用於將該相機模組採集之圖像畫面劃分為複數測試區域，該亮度讀取模組用於讀取圖像畫面中複數測試區域之測試點之亮度值，該運算判斷模組預設有一臨界對比度，並運算各測試點與測試點週邊之亮度之對比度，如果該對比度小於或等於預設之臨界對比度，則該測試點為污點。
2. 如申請專利範圍第1項所述之相機模組污點測試系統，其中該相機模組包括一發送圖像畫面之訊號發送器，該訊號處理器還包括一訊號接收模組，訊號接收模組接收該訊號發送器發送之圖像畫面訊號，該區域劃分模組對訊號接收模組接收之畫面進行測試區域分割。
3. 如申請專利範圍第1項所述之相機模組污點測試系統，其中該訊號處理器還包括存儲模組，用於存儲該亮度讀取模組讀取之各測試區域之測試點亮度值，該運算判斷模組從該存儲模組讀取需比對之亮度值。
4. 如申請專利範圍第2項所述之相機模組污點測試系統，其中該訊號處理器還包括顯示屏，該顯示屏顯示該訊號接收模組接收之圖像畫面，且能根據運算判斷模組判斷之結果標示污點所在區域。
5. 如申請專利範圍第2項所述之相機模組污點測試系統，其中該相機模組還包括鏡頭及感測器，該感測器藉由該鏡頭進行圖像採集，並將採集之圖像畫面傳送給訊號發送器發送。
6. 一種相機模組污點測試方法，其採用申請專利範圍第1項所述之相機模組污點測試系統測試相機模組是否存在污點，該相機模組污點測試方法如下：
   連接該相機模組與該訊號處理器，於該運算處理模組中設定一臨界對比度；
   該區域劃分模組將圖像畫面劃分成複數測試區域；
   該運算判斷模組運算各測試區域中各測試點亮度與測試點週邊亮度比值，如果該對比度小於或等於預設之臨界對比度，則該測試點為污點。
7. 如申請專利範圍第6項所述之相機模組污點測試方法，其中區域劃分模組將畫面劃分成複數測試區域之方法如下：
   區域劃分模組先將畫面劃分為複數方塊；
   區域劃分模組再將已劃分為複數方塊之畫面劃分為複數測試區域，每一測試區域佔據複數方塊。
8. 如申請專利範圍第7項所述之相機模組汙點測試方法，其中該區域劃分模組將圖像畫面劃分成九測試區域，該九測試區域分別為一中央測試區域，位於該中央測試區域上下兩側之二水準測試區域，位於該中央測試區域左右兩側之二垂直測試區域，以及四角落測試區域。
9. 如申請專利範圍第8項所述之相機模組污點測試方法，其中該運算判斷模組對各區域運算時，於測試點週邊定義空格區域及對比區域，該空格區域及該對比區域分別佔據至少一方塊，該運算判斷模組運算測試點之亮度值與該對比區域之亮度平均值之亮度比值，如果該亮度比值小於或等於預設之臨界對比度，則該測試點為污點。
10. 如申請專利範圍第9項所述之相機模組污點測試方法，其中該二水準測試區域之空格區域及對比區域定義於測試點水準向二側，該二垂直測試區域之空格區域及對比區域定義於測試點垂直向二側，四角落測試區域之空格區域及對比區域定義於測試點水準向一側及垂直向一側，圖像畫面居中之測試區域之空格區域及對比區域定義於測試點水準向二側及垂直向二側。