TW201316206A

TW201316206A - 觸控點感測方法

Info

Publication number: TW201316206A
Application number: TW100135924A
Authority: TW
Inventors: Ping-Hwan Lee; Chen-Hsiang Ho; Yu-Min Hsu
Original assignee: Au Optronics Corp
Priority date: 2011-10-04
Filing date: 2011-10-04
Publication date: 2013-04-16
Also published as: CN102495691B; TWI451303B; CN102495691A

Abstract

一種觸控點感測方法包括的步驟有：提供一儲存區；於第一時間點時偵測相應於一個觸控點的第一數值；於第一數值超出第一臨界值時，使儲存區中對應於觸控點的判斷參數的值加一；於第一數值不超出第一臨界值時，使儲存區中對應於觸控點的判斷參數的值歸零；及於判斷參數的值到達第二臨界值時，判定對應的觸控點為被觸碰的狀態。藉此，可改善觸控點感測過程的雜訊干擾問題。

Description

觸控點感測方法

本發明是有關於一種訊號感測方法，且特別是有關於一種觸控點感測方法。

目前觸控面板技術大致上具有以下幾種類型：內嵌式、投射式電阻式、電容式、光學式、電磁式與超音波式等。以投射式電容觸控面板為例，目前廣泛應用在智慧型手機、平板電腦等其他類型的資訊處理裝置上。

由於投射式電容觸控面板隨著環境改變會遭受到不同環境背景雜訊源影響，進一步影響觸控操作的靈敏度。因此，目前有部分的觸控點感測方式是利用單一個累積臨界計數器去判斷是否發生真實觸控點。然而當使用者在背景雜訊較強烈，亦或是容易受到不明雜訊干擾源(例如，手機射頻訊號、檯燈穩壓器周圍...等靜電干擾)的環境下進行觸控操作時，容易使所述的投射式電容觸控面板遭受到雜訊干擾，而產生誤報點並影響累積臨界計數器中累積值的正確性。

舉例來說，如圖1所示，在無雜訊干擾的情況下，使用者可於觸控面板上進行單一觸控點的觸控操作，例如，從觸控起點Ts滑動至觸控終點Te，以進行書寫的動作。所述的觸控面板可對應於使用者的觸控操作顯示線條L1。

然而當使用者在雜訊干擾情況下，同樣的操作過程，卻可能因為雜訊干擾問題，使得目前累積臨界計數器中的累積值歸零，導致觸控操作出現觸控斷點的情形。所述的觸控面板則對應於使用者的觸控操作顯示線條L2與線條L3，而此觸控結果亦影響觸控操作的準確性與便利性。因此，目前所述的觸控點感測方法可能導致觸控面板的準確性與靈敏度大幅下降。

本發明提出一種觸控點感測方法，可增強判斷觸控點的真實位置，並抑制雜訊干擾源的影響，以達到提升觸控點的感測精確性。

因此，本發明的觸控點感測方法，包括有下列步驟：首先，提供一個儲存區。接著，於第一時間點時偵測相應於一個觸控點的第一數值。接下來，於第一數值超出第一臨界值時，則使儲存區中對應於觸控點的判斷參數的值加一。於第一數值不超出第一臨界值時，則使所述的儲存區中對應於所述的觸控點的判斷參數的值歸零。以及於所述的判斷參數的值到達第二臨界值時，則判定對應的所述觸控點為被觸碰的狀態。

綜上所述，本發明的觸控點感測方法可在具有雜訊干擾源的環境下，加強觸控點的感測精確性。更具體的說，本發明透過建立具有多重觸控臨界值的儲存區，使儲存區中的每一儲存單元對應到多重觸控點其中之一。藉此，所述的儲存區的各儲存單元可分別累積計算個別觸控點是否已被觸發為真實觸控點。簡單來說，由於各個觸控點由個別獨立的儲存單元計算與處理，因此，即便在雜訊干擾環境中進行觸控操作，仍可有效判斷有無觸控點發生，亦可維持觸控操作的靈敏度與準確性。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

請參照圖2，圖2為本發明實施例的觸控點感測方法步驟流程圖。首先，在步驟S201中，提供一個儲存區。所述的儲存區具有暫時性與/或永久性儲存數據的能力。所述的儲存區可例如是揮發性記憶體(例如，DRAM、EDRAM、SRAM等)與/或非揮發性記體(ROM、PROM、EAROM、EPROM、EEPROM及快閃記憶體等)。

所述的儲存區可設置於智慧型手機、平板電腦或其他類型的資訊處理裝置中，或者是設置於所述資訊處理裝置的外部，並透過有線或無線傳輸技術傳輸所述的數據。更進一步說，所述的儲存區可例如是由至少一個儲存單元所組成。所述的儲存單元可例如是緩存器與/或計數器。換句話說，各個緩存器或計數器係相應於記錄一個觸控點。

接著，在步驟S203中，於第一時間點時偵測相應於一個觸控點的第一數值。舉例來說，可透過掃瞄觸控面板的過程得知目前觸控點的數量，並取得相應於觸控按壓能量的數值(即所述的第一數值)。當所述的觸控按壓能量愈強時，則第一數值愈大。反之，當所述的觸控按壓能量愈弱時，則第一數值愈小。換句話說，所述的觸控按壓能量與第一數值成一正比的關係。所述的第一數值可例如是大於等於零的正整數。另外，在本發明實施例中，所述的第一數值的預設值為零。

接下來，在步驟S205中，判斷第一數值是否超出第一臨界值。舉例來說，所述的判斷程序可透過數據處理器(圖中未示)執行，或者可透過其他具有數值比較功能的軟體程式與/或硬體電路實現所述的判斷程序。藉由比較第一數值與第一臨界值的變化情形，可初步判斷是否有觸控點發生。

在步驟S205中所述的觸控點可例如由雜訊干擾所引起與/或使用者實際按壓所引起。另外，在本發明實施例中，所述的第一臨界值的預設值為零。

在步驟S207中，於所述的第一數值超出第一臨界值時，使儲存區中對應於觸控點的判斷參數的值加一。所述的判斷參數可用來表示觸控點是否隨時間持續按壓累積。在本發明實施例中，所述的判斷參數的預設值為零。舉例來說，當使用者實際按壓或雜訊干擾時，第一數值即反應出當前的觸控按壓能量，例如為25。此時，儲存區中對應於觸控點的判斷參數的值加一，例如，判斷參數的值由0變為1。接著，若於第二時間點，且第一數值持續超過第一臨界值時，則儲存區中對應於觸控點的判斷參數的值持續加一，例如，判斷參數的值由1變為2，依此類推。

另外，在本發明的另一實施例中，於判斷參數的值不為零，且第一時間點所對應的第一數值與第二時間點所對應的第一數值的差值小於等於一個門檻值時，則將儲存區中對應於觸控點的判斷參數的值加一。所述的差值為絕對差值。所述的門檻值可由使用者自行調整與設定。舉例來說，門檻值為10且對應於觸控點的判斷參數的值不為零時，第一時間點對應的第一數值為20，而第二時間點所對應的第一數值的差值為25，因此，第一數值的差值為5，可初步判定為同一觸控點，並將對應於觸控點的判斷參數的值加一。

另外，若於判斷參數的值不為零，且第一時間點所對應的第一數值與第二時間點所對應的第一數值的差值大於一門檻值時，則將判斷參數的值歸零。舉例來說，門檻值為10且於判斷參數的值不為零時，第一時間點對應的第一數值為20，而第二時間點所對應的第一數值的差值為8。因此，第一數值的差值為12，可初步判定不是同一觸控點，或是判定屬於雜訊干擾情況，並將判斷參數的值歸零。

在步驟S213中，於第一數值不超出第一臨界值時，使所述的儲存區中對應於觸控點的判斷參數的值歸零(或者清除為預設值)，並回到步驟S203持續進行觸控點的感測與判定。舉例來說，當使用者未實際按壓或雜訊干擾消失時，第一數值即反應出當前的觸控按壓能量，例如為0。此時，儲存區中對應於觸控點的判斷參數的值歸零，例如，若原先判斷參數的值為1或2時，則目前判斷參數的值由1變為0，或由2變為0，依此類推。

另外，在本發明的另一實施例中，若於第一數值不超出第一臨界值時，使所述的儲存區中對應於觸控點的判斷參數的值歸零，亦可判定對應觸控點為無觸碰的狀態。

接下來，在步驟S209中，確認判斷參數的值是否到達第二臨界值？所述的確認程序可透過數據處理器(圖中未示)執行，或者可透過其他具有數值比較功能的軟體程式與/或硬體電路實現所述的確認程序。藉由比較判斷參數的值與第二臨界值的變化情形，可再次判斷是否有觸控點發生。另外，若確認判斷參數的值未到達第二臨界值時，則回到步驟S205持續進行觸控點的判定程序。

在步驟S211中，於確認判斷參數的值到達第二臨界值時，判定對應的觸控點為被觸碰的狀態，並回到步驟S203持續進行觸控點的感測與判定。舉例來說，在本發明實施例中，所述的第二臨界值的預設值為3。因此，當判斷參數持續加一至3時，判斷參數的值到達第二臨界值，則判定對應觸控點為被觸碰的狀態，以輸出判定結果至下一級電路(圖中未示)。所述的第二臨界值可由使用者自行調整或設定。

所述的第二臨界值的大小可影響觸控面板的感測靈敏度或速度。舉例來說，若所述的第二臨界值愈大，則觸控點的判定時間愈久。反之，若所述的第二臨界值愈小，則觸控點的判定時間愈短。

以下舉例說明觸控點判定的過程。請參照圖3A至圖3D，圖3A至圖3D為本發明實施例之觸控點判定過程示意圖。如圖3A所示，第一儲存區31、第二儲存區33與第三儲存區35可組成觸控點計數矩陣300。第一儲存區31可由5個儲存單元組成。同樣的，第二儲存區33與第三儲存區35可分別由5個儲存單元組成。

值得一提的是，各儲存區中的各儲存單元係對應記錄於一個觸控點。舉例來說，儲存單元31a、儲存單元33a與儲存單元35a可用來記錄單一個觸控點的狀態，而儲存單元31b、儲存單元33b與儲存單元35b可用來記錄另一個觸控點的狀態。另外，在所述的觸控點計數矩陣300中，第一臨界值預設為0，而判斷參數的值預設為0，而第二臨界值預設為3。

首先，在第一時間點t時，使用者於觸控面板上進行觸控操作，並透過掃瞄偵測的過程取得相應於觸控按壓能量(或雜訊觸控點)的第一數值。所述的第一數值分別記錄於第一儲存區31的儲存單元中，分別為10、20、30、0、0。此時，於第一數值超過第一臨界值時，使第二儲存區33的儲存單元中的判斷參數的值加一，分別為1、1、1、0、0。

接下來，如圖3B所示，在第二時間點t+1時，第一儲存區31只剩下兩個儲存單元中記錄有第一數值，分別為0、22、0、25、0。此時，當第一儲存區31中的第一數值為零時，則將第二儲存區33中對應的儲存單元的判斷參數的值清除為零或預設值。同時，儲存單元31b所對應的儲存單元33b中的判斷參數的值繼續加一，以及儲存單元31d所對應的儲存單元33d中的判斷參數的值加一。另外，若第二時間點t+1時，第一儲存區31中所對應的第一數值為零時，則將第二儲存區33中對應的儲存單元中的判斷參數的值歸零。

接下來，如圖3C所示，在第三時間點t+2時，第一儲存區31中記錄有第一數值，分別為35、21、12、30、0。第二儲存區33對應記錄有判斷參數的值，分別為1、3、1、2、0。此時，儲存單元31b所對應的儲存單元33b中的判斷參數的值繼續加一，並且使判斷參數的值到達第二臨界值3。因此，第三儲存區35的儲存單元35b由0變為1，則表示有一個觸控點產生，並判定為被觸碰的狀態。另外，儲存單元31d所對應的儲存單元33d中的判斷參數的值繼續加一。

接下來，如圖3D所示，在第四時間點t+3時，第一儲存區31中記錄有第一數值，分別為0、20、0、28、0。第二儲存區33對應記錄有判斷參數的值，分別為0、4、0、3、0。此時，儲存單元31b所對應的儲存單元33b中的判斷參數的值繼續加一，以及儲存單元31d所對應的儲存單元33d中的判斷參數的值繼續加一，並且使判斷參數的值到達第二臨界值3。因此，第三儲存區35的儲存單元35d由0變為1，則表示有第二個觸控點產生，並判定為被觸碰的狀態。另外，第三儲存區35的儲存單元35b持續為1，則表示判定為持續被觸碰的狀態。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

31．．．第一儲存區

31a．．．儲存單元

31b．．．儲存單元

31d．．．儲存單元

33．．．第二儲存區

33a．．．儲存單元

33b．．．儲存單元

33d．．．儲存單元

35．．．第三儲存區

35a．．．儲存單元

35b．．．儲存單元

35d．．．儲存單元

300．．．觸控點計數矩陣

L1．．．線條

L2．．．線條

L3．．．線條

t．．．第一時間點

t+1．．．第二時間點

t+2．．．第三時間點

t+3．．．第四時間點

Ts．．．觸控起點

Te．．．觸控終點

S201~S213．．．步驟流程說明

圖1繪示為習知技術之觸控操作示意圖。

圖2繪示為本發明實施例之觸控點感測方法步驟流程圖。

圖3A至圖3D繪示為本發明實施例之觸控點判定過程示意圖。

S201~S213．．．步驟流程說明

Claims

一種觸控點感測方法，包括有下列步驟：提供一儲存區；於一第一時間點時偵測相應於一觸控點的一第一數值；於該第一數值超出一第一臨界值時，使該儲存區中對應於該觸控點的一判斷參數的值加一；於該第一數值不超出該第一臨界值時，使該儲存區中對應於該觸控點的該判斷參數的值歸零；及於該判斷參數的值到達一第二臨界值時，判定對應的該觸控點為被觸碰的狀態。
如申請專利範圍第1項所述之觸控點感測方法，其中該第一臨界值為零。
如申請專利範圍第1項所述之觸控點感測方法，其中該儲存區由至少一計數器所組成。
如申請專利範圍第3項所述之觸控點感測方法，其中各該計數器係相應於記錄一觸控點。
如申請專利範圍第1項所述之觸控點感測方法，更包括：於該判斷參數的值不為零，且該第一時間點所對應的該第一數值與一第二時間點所對應的該第一數值的差值小於等於一門檻值時，則將該判斷參數的值加一。
如申請專利範圍第5項所述之觸控點感測方法，更包括：於該判斷參數的值不為零，且該第一時間點所對應的第一數值與該第二時間點所對應的第一數值的差值大於一門檻值時，則將該判斷參數的值歸零。
如申請專利範圍第5項所述之觸控點感測方法，其中若該第二時間點所對應的第一數值為零時，則將該判斷參數的值歸零。