TWI421755B - 觸控面板及觸碰點的偵測方法 - Google Patents

Description

觸控面板及觸碰點的偵測方法

本發明是有關於一種觸控面板，且特別是有關於一種的觸控面板的觸控點的偵測方法。

隨著電子技術的日益精進，消費者對於電子產品的品值及功能上的要求也相形增加。而為了使消費者針對這些電子產品的使用更容易上手，以吸引消費者的喜愛，許多人性化的人機介面分別被提出。

在多個不同種類的人機介面中，最常見的就是所謂的觸控面板。觸控面板是個可直接接收觸頭(無論是手指或膠筆尖等)等輸入訊號的裝置，當使用者的手指接觸到觸控面板時，面版上的觸控感應器回傳相對應產生的電器信號，並利用這個觸控信號來獲知使用者在觸控面板上所做的相對應的動作為何。

在習知的電容式觸控面板中，都是利用其上的觸控單元所傳送的電容變化值來直接偵測出觸碰點的數目及其座標的。但是，在實際的應用環境中，總是充滿了很多的雜訊的影響。因此，在習知的觸控面板中，為了降低環境中的雜訊總是需要增加很多複雜的電路裝置，無形中增加了許多的成本。另外，由於使用者按壓觸控面板的力道並不會相等，這種因為不同使用者所產生的差異在習知的觸控面板中並不容易被考量進去。因此，習知的觸控面板在偵測觸控點的數量及其座標時，常出現許多的誤差。

本發明提供一種觸控面板，用以精確偵測出觸碰點的數目，並定位出觸碰點的位置。

本發明另提供一種觸控面板的觸控點偵測方法，用以精確偵測出觸碰點的數目，並定位出觸碰點的位置。

本發明提供一種觸控面板，包括至少一觸控偵測列以及觸碰點偵測模組。觸控偵測列則包括N個第一觸控偵測單元，其中N為正整數。各第一觸控偵測單元依據被碰觸的面積，來傳送第一電容變化值。觸碰點偵測模組耦接第一觸控偵測單元，並依照第一觸控偵測單元的排列順序，使兩個相鄰的第一觸控偵測單元傳送的第一電容變化值進行差值運算，並藉以獲得第一電容變化順序分布。觸碰點偵測模組並依據第一電容變化順序分布來計算獲得該觸控面板上的至少一個的第一觸碰點數及第一觸碰點的座標。

在本發明之一實施例中，上述之觸碰點偵測模組依據第一觸控偵測單元的排列順序，使第i個第一觸控偵測單元傳送的第一電容變化值減去第i+1個第一觸控偵測單元傳送的第一電容變化值以進行差值運算，並使第i個第一觸控偵測單元傳送的第一電容變化值減去第i-1個第一觸控偵測單元傳送的第一電容變化值以進行差值運算，其中i為偶數。

在本發明之一實施例中，上述之觸碰點偵測模組依據第一觸控偵測單元的排列順序，使第i個第一觸控偵測單元傳送的第一電容變化值減去第i+1個第一觸控偵測單元傳送的第一電容變化值以進行差值運算，並使第i個第一觸控偵測單元傳送的第一電容變化值減去第i-1個第一觸控偵測單元傳送的第一電容變化值以進行差值運算，其中i為奇數。

在本發明之一實施例中，上述之觸碰點偵測模組依據第一觸控偵測單元的排列順序，使第i個第一觸控偵測單元傳送的第一電容變化值減去第i+1個第一觸控偵測單元傳送的第一電容變化值以進行該差值運算，其中i為正整數。

在本發明之一實施例中，上述之觸碰點偵測模組依據差值運算以獲得多數個符號結果及多數個絕對差值。

在本發明之一實施例中，上述之觸碰點偵測模組更依據比較各絕對差值與閥值的比較結果來決定是否紀錄各絕對差值及對應的各符號結果至第一電容變化順序分布。

在本發明之一實施例中，上述之觸碰點偵測模組依據第一電容變化順序分布中出現的符號結果來獲得第一觸碰點數。

在本發明之一實施例中，上述之觸碰點偵測模組依據第一電容變化順序分布中連續的絕對差值來計算，以獲得第一觸碰點的座標。

在本發明之一實施例中，上述之觸控面板更包括至少一觸控偵測行。觸控偵測行耦接觸碰點偵測模組，其中，觸控偵測行包括M個第二觸控偵測單元，各第二觸控偵測單元依據被碰觸的面積，來傳送第二電容變化值，其中M為正整數。

在本發明之一實施例中，上述之觸碰點偵測模組更依照第二觸控偵測單元的排列順序，使兩個相鄰的第二觸控偵測單元傳送的第二電容變化值進行差值運算，以獲得第二電容變化順序分布。觸碰點偵測模組並依據第二電容變化順序分布來計算獲得觸控面板上的第二觸碰點數及第二觸碰點的座標。

在本發明之一實施例中，上述之觸碰點偵測模組更依據比較各絕對差值與閥值的比較結果來決定是否紀錄各絕對差值及對應的各符號結果至第二電容變化順序分布。

在本發明之一實施例中，上述之觸碰點偵測模組依據第二電容變化順序分布中出現連續符號結果的次數來獲得第二觸碰點數。

在本發明之一實施例中，上述之觸碰點偵測模組依據第二電容變化順序分布中連續的絕對差值來計算，以獲得第二觸碰點的座標。

本發明另提供一種觸控面板的觸控點偵測方法，包括：首先，提供多個第一觸控偵測單元以排列成至少一觸控偵測列。接著，提供觸碰點偵測模組來依照第一觸控偵測單元的排列順序，針對兩個相鄰的第一觸控偵測單元所傳送的多個第一電容變化值進行差值運算，並藉以獲得第一電容變化順序分布。最後，提供觸碰點偵測模組來依據第一電容變化順序分布來計算獲得觸控面板上的至少一第一觸碰點數及第一觸碰點的座標。

基於上述，本發明利用依序偵測同一觸控偵測列或同一觸控偵測行中的相鄰的觸控偵測單元所傳送的電容變化值來進行差值運算，並利用差值運算中所獲得的符號結果的分布狀況來判斷觸碰點的個數及觸碰點的座標。此外，本發明更利用差值運算所產生的絕對差值來補償所計算出的觸碰點的座標，使觸碰點的座標更能正確的被標示出來。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

首先，請參照圖1A，圖1A繪示本發明的一實施例的觸控面板100的示意圖。觸控面板100包括觸控偵測列110以及觸碰點偵測模組120，且觸控偵測列110中包括多個的觸控偵測單元111~115。其中，各觸控偵測單元都會依據其所被觸碰的面積大小，來傳送出相對應的電容變化值。

觸碰點偵測模組120與觸控偵測列110相耦接，當觸碰點偵測模組120要進行觸控偵測列110上的觸碰點的偵測時，觸碰點偵測模組120會依照觸控偵測單元111~115的排列順序，來使兩個相鄰的觸控偵測單元傳送的電容變化值進行差值運算。換句話說，觸碰點偵測模組120可以依據如圖1所繪示的由左至右的順序，先使觸控偵測單元111、112所傳送的電容變化值來進行差值運算。接著，再使觸控偵測單元112、113所傳送的電容變化值來進行差值運算。依此類推，直至所有的觸控偵測單元111~115中兩相鄰的觸控偵測單元所傳送的電容變化值都進行過差值運算才結束。

當然，觸碰點偵測模組120也可以改變另一個順序由如圖1所繪示的由右至左的順序，先使觸控偵測單元115、114所傳送的電容變化值來進行差值運算。接著，再使觸控偵測單元114、113所傳送的電容變化值來進行差值運算。在此，並不限制觸碰點偵測模組120偵測觸碰點時所進行的差值運算的執行順序。

此外，關於所謂的差值運算，則是觸碰點偵測模組120會利用兩個相鄰的觸控偵測單元所傳送的電容變化值來進行相減的運算。也就是說，觸碰點偵測模組120先利用觸控偵測單元111所傳送的電容變化值來減去觸控偵測單元112所傳送的電容變化值。接著，再利用觸控偵測單元113所傳送的電容變化值來減去觸控偵測單元112所傳送的電容變化值。依此類推，觸碰點偵測模組120依序執行多次的上述的差值運算，並將每一次差值運算的結果依據其被執行的順序記錄下來，以獲得電容變化順序分布。

當然，觸碰點偵測模組120也可以先利用觸控偵測單元112所傳送的電容變化值來減去觸控偵測單元111所傳送的電容變化值。接著，再利用觸控偵測單元112所傳送的電容變化值來減去觸控偵測單元113所傳送的電容變化值。並依此類推來依序執行多次的上述的差值運算，並獲得電容變化順序分布。

也就是說，觸碰點偵測模組120可以設定觸控偵測列110中排列為偶數的觸控偵測單元112、114所傳送的電容變化值為差值運算中的減數，而設定觸控偵測列110中排列為奇數的觸控偵測單元111、113、115所傳送的電容變化值為差值運算中的被減數來進行相減的運算。相對的，也可以設定觸控偵測列110中排列為奇數的觸控偵測單元111、113、115所傳送的電容變化值為差值運算中的減數，而設定觸控偵測列110中排列為偶數的觸控偵測單元112、114所傳送的電容變化值為差值運算中的被減數來進行相減的運算。

在此請注意，在上述的每一次的差值運算中，都會產生一個符號結果以及絕對差值。當被設定為被減數的觸控偵測單元(例如是觸控偵測單元111)所傳送的電容變化值大於被設定為減數的觸控偵測單元(例如是觸控偵測單元112)所傳送的電容變化值時，差值運算所產生的符號結果為“+”，相反的，在上述的例子中，當觸控偵測單元111所傳送的電容變化值小於被設定為減數的觸控偵測單元112時，差值運算所產生的符號結果為“-”。而絕對差值則為觸控偵測單元111、112的電容變化值的差的絕對值。

另外，在進行差值運算時，觸碰點偵測模組120可以針對所計算出來的絕對差值來與一個設定好的閥值來進行比較。若是絕對差值比閥值小時，觸碰點偵測模組120則捨棄這次差值運算所產生的結果，而若是絕對差值大於等於閥值時，觸碰點偵測模組120才紀錄差值運算所產生的符號結果及絕對差值至電容變化順序分布中。

這個閥值的設定是用來防止觸控偵測單元所傳送的電容變化值因為環境雜訊而生變化，致使判斷出來的觸碰點有錯誤而設置的。舉個例子來說，在圖1的繪示中，觸碰點160的範圍包括觸控偵測單元112的一小部份及觸控偵測單元113的大部份。而觸控偵測單元114、115則是完全未被觸碰到。理論上來說，觸控偵測單元114、115所傳送的電容變化值應該都是0。但是，在沒有閥值的設定下，若是觸控偵測單元115因為環境雜訊的干擾而產生大於0的電容變化值，則針對觸控偵測單元114、115進行差值運算所產生的符號結果及絕對差值則都不會是0，進而會影響到偵測的結果。

上述的閥值定可以依據實際的使用狀態及環境來設定。若希望觸控面板的偵測動作較為靈敏，請處在較無干擾的環境下，則可以設定較低的閥值。相反的，若希望觸控面板的偵測動作較為穩定，請處在較多干擾的環境下，則可以設定較高的閥值。

以下舉一個實際的例子來說明本實施例的觸控面板100的動作細節。請繼續參照圖1，觸碰點160的範圍包括觸控偵測單元112的一小部份及觸控偵測單元113的大部份，且觸控偵測單元111、113、115被設定為被減數，觸控偵測單元112、114被設定為減數。而觸碰點偵測模組110由右至左依序進行差值運算，首先，觸碰點偵測模組110針對觸控偵測單元111、112進行差值運算，所獲得的符號結果為“-“。接著，觸碰點偵測模組110針對觸控偵測單元112、113進行差值運算，由於觸控偵測單元113的被觸碰面積遠大於觸控偵測單元112的被觸碰面積，因此，此次的符號結果為“+“。接著，觸碰點偵測模組110針對觸控偵測單元113、114進行差值運算所獲得的符號結果為“+“。另外，因為觸控偵測單元114、115未被觸碰，因此電容變化值顯然不可能會超過閥值。因此，針對觸控偵測單元114、115所進行的差值運算的結果可以被紀錄為“0”。

在此請注意，若是使用一個位元來記錄兩相鄰觸控偵測單元的差值運算的符號結果時，可以利用“1”來代表符號結果為“+“及“0”來代表符號結果為“-“，當然也可以利用“1”來代表符號結果為“-“及“0”來代表符號結果為“+“。不過，由於一個位元並無法產生第三個準位來代表符號結果為“0“的狀況，因此可以設定利用固定的“1”或是“0”來代表符號結果為“0“的狀況。

也因此，在本實施中，電容變化順序分布在有關符號結果的部份則為“-““+”“+”“0”。其中的“0”表示該次差值運算的符號結果未被紀錄至電容變化順序分布中。由電容變化順序分布中可以發現，在本實施的狀態下，有一個連續的符號結果(“-““+”“+”)，也據此觸碰點偵測模組110可以判斷出本實施的觸控面板100上有一個觸碰點。

由上述的說明可以得知，當有多個的觸碰點碰觸到觸控裝置100時，電容變化順序分布就會出現與觸碰點數量相等的連續的符號結果(“+”及“-“)的變化。觸碰點偵測模組110也可以藉由電容變化順序分布得知超過一個的觸碰點的數量。

當然，利用上述的電容變化順序分布，同樣也可以得知觸碰點160觸碰到哪幾個觸控偵測單元。並且，再利用觸碰點160觸碰到的觸控偵測單元的面積越大所傳送出的電容變化值越大的原理，則可以利用電容變化順序分布中的多個絕對差值，來精算出觸碰點160較準確的座標值。

此外請參照圖1B，圖1B繪示本發明實施例的觸控面板100的另一實施方式。在圖1B的繪示中，相鄰的兩個觸控偵測單元傳送的電容變化值進行差值運算的方式與圖1A的繪示略有不同。其中，針對圖1B中的觸控偵測單元112、113進行差值運算時，是利用觸控偵測單元112的電容變化值減去觸控偵測單元113的電容變化值。也就是說，本實施方式是利用相鄰的兩個觸控偵測單元中排列在前面的觸控偵測單元的電容變化值減去排列在其後的觸控偵測單元的電容變化值來完成差值運算。

綜合圖1A、1B的繪示可以得知，本發明並不限制進行差值運算是利用相鄰的兩個觸控偵測單元中的何者為減數及被減數的。凡只要是利用相鄰的兩個觸控偵測單元的電容變化值進行差值運算，都屬於本發明所保護的範疇。

接著請參照圖2，圖2繪示本發明的另一實施例的觸控面板200的示意圖。觸控面板200包括沿著軸線211、212、213、214及215配置的多個觸控偵測列，以及沿著軸線221、222、223、224及225配置的多個觸控偵測行。其中的觸控偵測列與圖1繪示的觸控偵測列110的實施方式相同，而觸控偵測行則與觸控偵測列相互垂直配置。以沿著軸線221配置的觸控偵測行為例子，該觸控偵測行包括觸控偵測單元2211、2212、2213及2214。

觸碰點偵測模組230則與所有的觸控偵測行及觸控偵測列均相耦接。在此，觸碰點偵測模組230會先針對各觸控偵測行的各相鄰的觸控偵測單元進行差值運算以獲得對應的電容變化順序分布，再針對各觸控偵測列的各相鄰的觸控偵測單元進行差值運算以獲得對應的電容變化順序分布。或者，觸碰點偵測模組230也可以先針對各觸控偵測列的各相鄰的觸控偵測單元進行差值運算以獲得對應的電容變化順序分布，再針對各觸控偵測行的各相鄰的觸控偵測單元進行差值運算以獲得對應的電容變化順序分布。而在針對觸控偵測行進行差值運算方面，動作方式則與針對觸控偵測列所進行的差值運算的實施方式相同，此處不多贅述。

也就是說，由於觸控偵測行及觸控偵測列都是具有相互獨立的觸控偵測單元，因此觸控面板200可以在不相干擾的情況下，獲知觸碰點的垂直軸及水平軸的座標，達到二維定位的能力。

特別值得一提的是，在本實施例中，觸碰點偵測模組230中包括有多個差值運算器231~238，是分別用來計算不同的觸控偵測行及觸控偵測列中相鄰的觸控偵測單元的電容變化值的差。而由於觸碰點偵測模組230一次只會計算兩個相鄰的觸控偵測單元的電容變化值的差，因此，差值運算器也可以只使用一個，並透過多工器來分時選擇所要計算的相鄰的觸控偵測單元的電容變化值來進行差值運算。

接著請參照圖3，圖3繪示本發明的一實施例的觸控面板的觸控點偵測方法的流程圖。其中的步驟包括：首先，提供多數個第一觸控偵測單元以排列成至少一個觸控偵測列(S310)。接著，提供觸碰點偵測模組來依照第一觸控偵測單元的排列順序，針對兩個相鄰的第一觸控偵測單元所傳送的多個第一電容變化值進行差值運算，並藉以獲得第一電容變化順序分布(S320)。最後，再提供觸碰點偵測模組依據第一電容變化順序分布來計算獲得觸控面板上的至少一個的第一觸碰點數及第一觸碰點的座標(S330)。

關於本發明實施例的觸控面板的觸控點偵測方法的動作細節則在上述關於圖1A、1B、2的本發明不同的實施例中都有詳細的說明，在此則不多贅述。

綜上所述，本發明依據順序針對各觸控偵測列及各觸控偵測行中的相鄰的兩個觸控偵測單元的電容變化值來進行差值運算，藉以產生電容變化順序分布。並且，藉由電容變化順序分布中的連續的符號結果的數目來判斷出觸碰點的數目及相對位置，並藉由電容變化順序分布中的絕對差值來準確的定位出處碰點的座標。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100、200‧‧‧觸控面板

110‧‧‧觸控偵測列

111~115、2211~2214‧‧‧觸控偵測單元

120、230‧‧‧觸碰點偵測模組

160‧‧‧觸碰點

231~238‧‧‧差值運算器

211~215、221~225‧‧‧軸線

S310~S330‧‧‧觸控點偵測方法的步驟

圖1A繪示本發明的一實施例的觸控面板100的示意圖。

圖1B繪示本發明實施例的觸控面板100的另一實施方式。

圖2繪示本發明的另一實施例的觸控面板200的示意圖。

圖3繪示本發明的一實施例的觸控面板的觸控點偵測方法的流程圖。

100．．．觸控面板

110．．．觸控偵測列

111~115．．．觸控偵測單元

120．．．觸碰點偵測模組

160．．．觸碰點

Claims (17)

1. 一種觸控面板，包括：至少一觸控偵測列，該觸控偵測列包括：N個第一觸控偵測單元，各該第一觸控偵測單元依據被碰觸的面積，來傳送一第一電容變化值，其中N為正整數；以及一觸碰點偵測模組，耦接該些第一觸控偵測單元，依照該些第一觸控偵測單元的排列順序，使兩個相鄰的第一觸控偵測單元傳送的該些第一電容變化值進行一差值運算，以獲得一第一電容變化順序分布，該觸碰點偵測模組並依據該第一電容變化順序分布來計算獲得該觸控面板上的至少一第一觸碰點數及該第一觸碰點的座標，其中，該觸碰點偵測模組依據該差值運算以獲得多數個符號結果及多數個絕對差值，且該觸碰點偵測模組依據該第一電容變化順序分布中出現的該些符號結果的次數來獲得該第一觸碰點數。
2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該觸碰點偵測模組依據該些第一觸控偵測單元的排列順序，使第i個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值減去第i+1個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值以進行該差值運算，並使第i個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值減去第i-1個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值以進行該差值運算，其中i為偶數。
3. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該觸 碰點偵測模組依據該些第一觸控偵測單元的排列順序，使第i個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值減去第i+1個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值以進行該差值運算，並使第i個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值減去第i-1個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值以進行該差值運算，其中i為奇數。
4. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該觸碰點偵測模組依據該些第一觸控偵測單元的排列順序，使第i個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值減去第i+1個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值以進行該差值運算，其中i為正整數。
5. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該觸碰點偵測模組更依據比較各該絕對差值與一閥值的比較結果來決定是否紀錄各該絕對差值及對應的各該符號結果至該第一電容變化順序分布。
6. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該觸碰點偵測模組依據該第一電容變化順序分布中連續的該些絕對差值來計算，以獲得該第一觸碰點的座標。
7. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，更包括：至少一觸控偵測行，耦接該觸碰點偵測模組，該觸控偵測行包括：M個第二觸控偵測單元，各該第二觸控偵測單元依據被碰觸的面積，來傳送一第二電容變化值，其中M為正整數。
8. 如申請專利範圍第7項所述之觸控面板，其中該觸碰點偵測模組更依照該些第二觸控偵測單元的排列順序，使兩個相鄰的第二觸控偵測單元傳送的該些第二電容變化值進行該差值運算，以獲得一第二電容變化順序分布，觸碰點偵測模組並依據該第二電容變化順序分布來計算獲得該觸控面板上的該第二觸碰點數及該第二觸碰點的座標。
9. 如申請專利範圍第8項所述之觸控面板，其中該觸碰點偵測模組更依據比較各該絕對差值與該閥值的比較結果來決定是否紀錄各該絕對差值及對應的各該符號結果至該第二電容變化順序分布。
10. 如申請專利範圍第8項所述之觸控面板，其中該觸碰點偵測模組依據該第二電容變化順序分布中出現的該些符號結果來獲得該第二觸碰點數。
11. 如申請專利範圍第8項所述之觸控面板，其中該觸碰點偵測模組依據該第二電容變化順序分布中連續的該些絕對差值來計算，以獲得該第二觸碰點的座標。
12. 一種觸控面板的觸控點偵測方法，包括：提供多數個第一觸控偵測單元以排列成至少一觸控偵測列；提供一觸碰點偵測模組來依照該些第一觸控偵測單元的排列順序，針對兩個相鄰的第一觸控偵測單元所傳送的多數個第一電容變化值進行一差值運算，並藉以獲得一第一電容變化順序分布；提供該觸碰點偵測模組依據該差值運算以獲得多數 個符號結果及多數個絕對差值；以及提供該觸碰點偵測模組依據第一電容變化順序分布來計算獲得該觸控面板上的至少一第一觸碰點數及該第一觸碰點的座標，其中，該觸碰點偵測模組依據該第一電容變化順序分布中出現的該些符號結果的次數來獲得該第一觸碰點數。
13. 如申請專利範圍第12項所述之觸控點偵測方法，其中進行該差值運算的步驟包括：提供該觸碰點偵測模組依據該些第一觸控偵測單元的排列順序，使第i個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值減去第i+1個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值以進行該差值運算，其中i為偶數。
14. 如申請專利範圍第12項所述之觸控點偵測方法，其中進行該差值運算的步驟包括：提供該觸碰點偵測模組依據該些第一觸控偵測單元的排列順序，使第i個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值減去第i+1個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值以進行該差值運算，其中i為奇數。
15. 如申請專利範圍第12項所述之觸控點偵測方法，其中進行該差值運算的步驟包括：提供該觸碰點偵測模組依據該些第一觸控偵測單元的排列順序，使第i個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值減去第i+1個第一觸控偵測單元傳送的該第一電容變化值以進行該差值運算，其中i為正整數。
16. 如申請專利範圍第12項所述之觸控點偵測方法，其中更包括：提供該觸碰點偵測模組依據比較各該絕對差值與一閥值的比較結果來決定是否紀錄各該絕對差值及對應的各該符號結果至該第一電容變化順序分布。
17. 如申請專利範圍第12項所述之觸控點偵測方法，其中“依據該第一電容變化順序分布來計算獲得該觸控面板上的該第一觸碰點數的座標”的步驟包括：提供該觸碰點偵測模組來依據該第一電容變化順序分布中連續的該些絕對差值來計算，以獲得該第一觸碰點的座標。