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TW201201994A - A pellicle for lithography and a method for manufacturing the same - Google Patents

A pellicle for lithography and a method for manufacturing the same Download PDF

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TW201201994A
TW201201994A TW100102892A TW100102892A TW201201994A TW 201201994 A TW201201994 A TW 201201994A TW 100102892 A TW100102892 A TW 100102892A TW 100102892 A TW100102892 A TW 100102892A TW 201201994 A TW201201994 A TW 201201994A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
frame
film
dust
pellicle
shape
Prior art date
Application number
TW100102892A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazutoshi Sekihara
Original Assignee
Shinetsu Chemical Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinetsu Chemical Co filed Critical Shinetsu Chemical Co
Publication of TW201201994A publication Critical patent/TW201201994A/zh

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    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70983Optical system protection, e.g. pellicles or removable covers for protection of mask
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    • H10P76/4085

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Description

201201994 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係_在製造例如大型積體電路、超 等之半導體裝贼液晶顯示面板時,作( 等的防塵罩而使用之微影顧薄膜組件 【先前技術】 在製造例如大型積體電路(LSD、超大型積體電路等之半導體 裝置或液晶顯示面板時,半導體晶κ或液晶顯示面板用之 t,透如光罩或初縮遮罩(以下在本說明書中統稱為4 罩』)之曝光模板而進行照光,藉此將光罩之圖案轉印至半導體 晶圓或液晶齡面板狀母基板,俾能形解導雜置或液晶顯 示面板之圖案。 Μ 因此,當透過光精轉體晶圓或液晶顯示面板母基板進行 照光時,任何附著至光罩上之異物(例如灰塵粒子)皆合反 ,收曝光’致使轉印到半導體晶賊液晶顯示面板母基&上之圖 案變形,且圖案的邊緣部分變得模糊;不僅如此,下方表面 鱗污而變暗黑,從而使半導體晶_液晶顯示面板母基板之尺 =、.品質及外觀等受損。於是,無法如所期望之方式將光罩的圖 案轉印至半導體晶圓絲晶顯示面板母基板上,半導體晶圓或液 晶顯示面板母基板之效能降低,因醉導體晶圓或液晶顯示面板 母基板之產率無可避免地變差。 β為解決适些問題,半導體晶圓或液晶顯示面板母基板之曝光 操作通常在無塵室内進行。然而,即使如此,亦極難完全地防止 異物附著至鮮之表面上’故通常儀稱為防塵薄膜組件、對於 光罩表面上之曝光具有高穿透率之防塵罩,以施行半導體晶圓或 液晶顯示面板母基板之曝光操作。 一般而言,防塵薄膜組件係藉由將防塵薄膜貼附至防塵薄膜 組件框架之-表面上加以製作,其包含下列步驟:藉由將防塵薄 201201994 於曝光具有高穿透較材料所製成,例如像硝酸纖維素 之纖維素系樹脂、氟化樹脂或其類似物)材::: ί=件;g由;J錄鋼、聚乙烯或其類似物所製成之防 ;或者糊例如丙烯酸樹脂、石烟樹脂、 ^樹&权黏讀’將防塵雜朗於防麟齡件框架之該一 ,面上。接著形成由聚丁烯(polybutene)樹脂、聚乙酸乙酯 獻ί rryl aeetate)觸、壓克力細旨、或補獅等所組成之 毐者,層,並在防塵薄膜組件框架之相對表面上,將光 件框架,以及麵著繼上設置肋賴黏著劑層之 齡(例如,參見日本專利申請案公開號雜-2携23 ,j國專利第4861402號、日本專利申請案公開號第63_277〇7號、 曰本專利申請案公開號第7-168345號)。 在將如此建構之防塵薄膜組件安裝於光罩表面上、並透 半導體晶圓或液晶顯示面板母基板曝光之情況巾,由於 ίΪίίί之異物係附著錄塵薄膜組件之表面,而未直接_ 表面,故可藉由以此—使光線賴在形成於光罩上之 的方式投射曝光,避免受到例如灰塵粒子之異物所影響。一 _再者’為了降低由設置於光罩上之防塵細組件岐義之封 間與防塵薄膜組件外部之_壓力差,可在防塵薄臈1 部分上形鋪除壓力差之小孔,錢置過絲,用以防止 所定㈡空氣中所含之異物進入由防塵薄膜組件及光罩 由於防塵薄膜一般係由薄樹脂片所構成,故為以使防塵 不,下垂之方式由防塵薄膜組件框架支撐防塵薄膜,必須在施加 預定張力至防塵薄膜時,將防塵薄膜貼附至防塵薄膜組件框架。 因此,在使用一般採用之具有矩形截面之^^塵薄膜組件的 ,於’防塵薄膜已被貼附至防塵薄膜組件框架之後,施加至 薄膜之張力無可避免地使防塵薄膜組件框架變形而向内翹曲。 4 201201994 此種防塵_組件框架之向喃 塵薄膜組件框架中、且-般用於製造印刷電路有長邊長之防 大型防塵薄膜組件中尤為顯著。衣、電路板、液晶顯示器等 另一方面,為了降低光罩之製造成本,必 罩曝光區域,但由於防塵薄膜組 置大之光 域會=、,故必雜魏馆麟膜光區 猎由例如以增加防塵薄膜組件框苹 内趣曲交形。 的方式,可技術性地解決上述問題。;、:„加其剛性 i、綱梅域的需 薄膜組件框架外部的需求來加以歧,因此运至防塵 之各侧邊皆具有織定後之直線形,以滿足上膜組件框架 再者,吾人已提出藉由形成具有較 材 ί!膜=’而減,塵薄膜組件框架之=ί㈡ 金所‘防^=^=^=^=銘合 此種解決方法並不切實際。 相、,且件之成本,故 心九νΐ少防塵薄膜組件框架之—曲變形,日本真㈣ 對相對側中之每一者具有向外凸出之 主乂 =部岔相對側上具有凹入部’各凹入部具有向内中凹陷之二:中 狀,在凹入部之相對侧上具有直線形部,在=弧形 組件框架之後’因此種貼附而使防塵薄膜組件框= 可以恤附於防塵薄膜組件框_ 用於大量生膜組件框架之形狀,但此方法不適合 201201994 =4二望二膜防塵薄 同。因此,在防塵薄膜中》·^^程度無可避免地會有所不 薄膜中之張力小於地向_曲變形;而在防塵 仍保持向外龜曲變形;使^ f件框架之侧邊 4286 194祙妲山十士、+ 更將防塵,專膜貼附於以曰本專利第 係至少相對側中;二形一f二塵薄::框斤亦然’該框架 =央部之,具二= 考肩二人部之相對側上具有直線形部。—般而言,在 m對於光罩的貼附誤差、及其他類似因子 尺寸之容差(tol_),丄= ^罩之圖案區域仍洛於安全而留有餘裕的程度。㈣,由 ίΐίΓίϊϋ*機械變形而產生向外祕變形’故在設計防 形並不考慮防塵薄膜組件框架之向外魅曲變 竿之防應舰f i ί驗件框架之侧邊因施加於防麟膜組件框 =之防塵薄膜之張力小於設計張力而向外凸出之情況中,存在卷 ίΐ組件時,防塵薄膜組件框架干擾用於將防塵級: 光罩之防塵薄膜組件貼附裝置、或光罩曝光裝置中之運 送裝置等的風險。 ^ 例如’在揭露於日本專利第4,354,789號之一般防塵薄膜組件 ^附裝置中’防塵馳組件係使防麟酿件框架之—長邊朝下 :置而成,因此,,防塵薄膜組件框架之一長邊向外凸出之情況 中,當吾人將防塵薄膜組件設置於防塵薄膜組件貼附裝置中時, 向外凸出之防塵薄膜組件框架之一長邊即向内變形,致使防塵薄 膜存在相當大的起皺風險。 6 201201994 【發明内容】 :ίίϋϊ::ί的在於提供—種微防塵薄膜組件, 其即使 在防塵薄膜之張力分佈相當不均時光罩之暖 :褶附至防塵薄膜組件^^ *法本塵薄膜組件之製造 者财實質上ΐί =塵薄膜,調整該防塵薄膜i張力二卜 件框架之該對長邊之張力,大於盆、7 二使八/0防塵溥膜組 邊之張力,藉由將防塵薄膜貼附;; 換成具ί實質上直線 製造====== 其具有至少—對平行長邊及—對短邊,臈^件框架, ^ «ϊίΓί"^' ,細;框架之力:使其沿 201201994 中者。因此,在防 件框架之長邊向外_=1目=洛處’便產生迫使防塵薄膜組 產二===== 邊之變形所滅2動㈣產生之防蘭酿個架之該對長 架之;以實= 塵薄膜組件框架之橫截面、直沭形。因此,在不增加防 塵薄膜組===== .膜組件 況中, 地防止J! 2一者皆包含:中央區域’包含防塵薄膜=件框架之短邊之中央 即使防塵薄膜之張力分佈相當地偏;故 塵薄膜施加至防塵薄膜組件框架_所期望之張力分佈’且由防 膜組件設置於防Ϊ薄膜=== 俾使防 塵/專膜組件框架之一長邊朝下方之,声^击, * ,_r 架之長邊並不會向内變形,故可^由於防塵_組件框 在本發明之較佳“中防塵薄臈產生皺褶。 f薄膜組件框架之各短邊之相對端部附=上=:方 狀;及複數個巾間輯,各位於中 質上直線形 兩者之間,且具有使得巾+ S '、/、中一缟部附近區域 暢連接之凹入圓iit 及該端部附近區域其中一者可順 中央較佳態樣’由於防塵薄膜組件框架之短邊之 此一使付中央區域及其中-端部附近區域能夠順暢=== 8 201201994 苒去II換防麟膜組件框架之短邊,以便更呈直線形狀。 的防mi發明之雜健樣,由_近短叙相對端部 可準破^1件框架之端部附近區域具有實質上直線形,故不僅 =;===之=:=防塵薄膜組 件框架。心、疋位因此’可以尚準確性製造防塵薄膜組 且古f本ί狄更佳態樣係將防塵、帛膜組件框架設計成俾使 半徑大於具有外凸圓弧= 弧形形:順暢地連接中央區域之外凸圓 防靡更佳態樣中’防㈣膜之張力分佈,係藉由在將 時框塵薄膜組件框架之前,使防塵薄膜固定於-臨 -對:對侧機械方式位移臨時框架之至少 -對佳態樣中,當以機械方式位雜時框架之至少 的負载量,咖咐部之位 力 對!邊之中央部 所構ί本發明之更佳態射,貞獅雌置由貞鮮元(—U) 而變if 及其他目的及特徵’將由下列參照附圖之說明 【實施方式】 =1為根據本發明較佳實施例之 ϊί:==:;;係用於製造防塵薄膜= 201201994 對短^H者在央部之中央區域 士之^區域i2b則具有凹入圓弧形狀 及具有㈣上直細嫌之射:端部附近區域 之各;1區;1=^ ’/補在絲方向上平行於^ 薄==:於= 短邊!2皆具有實質上直_。千U之各長邊U及各 被执由+Ϊ案人麟行之研究得知:尤佳之防塵_組件框架 可更順暢地連接中央區域12a之外凸圓弧形與中間區域12b 之凹入圓弧形。 圖2為顯示當防塵薄膜組件框架1〇係根據此較佳實施例加以 組件框塵f膜膜組件框架時,防塵薄膜 在圖1及2中’由於防塵薄膜20係在已被施加一預定張力後貼 ,於防塵薄膜組件框架1G ’故具有外凸圓弧形之防㈣膜电件柩 ^1〇之各短邊12的中央區域12a’因受到由防塵薄膜2〇所施加之張 力而向内變形藉此將防塵薄膜組件框架10之各短邊的中央區域 12a轉換成實質上直線形狀。另一方面,防塵薄膜組件框架忉之各 長邊11,因受到由防塵薄膜2〇所施加之張力而向内變形;然而, 201201994 ίίϊ其幅邊12具有實壯直_狀之防_驗件框架10之 之各】,ιίί邊1 曰1ΐ變形量極小。因此,防塵薄膜組件框架10 各長邊11之纟史开》夏在可接受之範圍内。 圖3摘示使麟本發明較佳實棚巾之卩轉触組件製造 祕將_薄卿貼附於防麟酿件框架1G ;而圖4 為>。圖3中之A-A線切開之橫截面示意圖。 如圖3及4所不,防塵薄膜組件製造設備包含平台3〇, lifii防塵薄膜貼附層31及由隔離件(未圖示)加以保護: 之防塵薄膜組件框架1〇。平台3〇可藉由升降機構 α向上下移動。 如y及4所示,防塵薄膜組件製造設備在其四角落處 ΓΐΓί _支撐部22 ’且將已安胁塵薄膜2G以便加以拉伸之 3 ί四角落部設置於防塵薄膜支撐部22上。將固持部 23 5又置於臨時框架21之各侧邊之中央部。 ,,構以施加負载至固持部23、並使對應固持部23在垂直於 jH21其中一侧邊之方向上移位之負載施加裝置25,係藉由 連接邛26而連接至固持部23之每一者。 ϋ載施加裝置25包含:台座27,其可在垂直於臨時框架 ^镜側之方向上手動或自動地移動;及負載檢測裝置烈,其 I膜目關Ϊ之台座27上、且用以檢測施加至其上已安裝防塵 “故^以拉伸之臨時框架21之對應固持部23的負載。在此 m ’ ί使用負载單元作為負載檢測裝置28;再者,根據此 塵減組件製造設備包含顯示裝置(未圖示),該顯 =裝^係用於顯不因負載施加裝置25之移 21之各固持部23之壓縮力或張力。 叶午 ^此,藉由使各台座27在垂直於臨時框架21之對應側邊之 =士移位而使臨框架21變形,藉此改變在臨時框架21之長 及姉ϊ方向上施加於防塵細2G之張力,則負載檢測裝置 時框架2丨在其長轴方向及短軸方向上之位移量、以及 ^框* 21之長轴方向及短軸方向上施加於防塵薄膜20之張 11 201201994 力 在此實施例中,儘管在臨時框架21之長輛 Ϊ力2口薄膜2〇之張力係由負載檢測裝置28加以檢V ^^ 座27 s移動以控制施加於防塵薄膜2 二 〇 21之長軸方㈣瓣細架 臨的ΐ/。21之雖糾上平行雜麟驗翻架^之 ㈣^所述方式,當吾人判定施加於防塵薄膜20之張力,在臨味 二二之上大於她_21之短軸方向上時藉由 i使其上已安裝防㈣膜組件框_之平台3〇t 7觸被瞻臨時框 1中!:二貼附於防塵薄膜組件框架1〇之 31 3〇^ : 务社二二専膜彼此以一微小角度相接觸,以防止* 乳留存於防_膜貼附層31與防塵薄膜2G之間的空防止二 框架:二(二不2 j刀除防塵薄膜20位於防塵薄膜組件 -的。卩刀,於疋兀成防塵薄膜組件之製作。 *八欲I顯ΐ 一由,塵薄膜20施加至防塵薄膜組件框架1 〇之茫 中所塵薄臈製造方法
__組件框架1G 之伽力τ2乃細餅欲拉伸i臨 架10之每一長邊u薄膜0中產生的張力施加至防塵薄膜組件框 12 201201994 之,力,作用力τι大於作用力T2,因此,防塵薄膜組件框架ι〇 之母-短邊12的向内變形或移位均大於其每_長邊i i的向内變 形或移位。 因此,在本實施例中,由於防塵薄膜組件框架1〇之每一短邊 12在其中央區域12a處均有向外突出之圓弧形狀,該短邊^之中 央區域12a便被施加自防塵薄膜2〇之作用力T1而向 ,如 ^使每—短邊12位於—料直線上而與短邊12之相對角落相 運接。 質直i开之圓弧形狀的中央區域i2a以及具有實 端部順暢連接之具有内凹之圓弧 2狀=中間S域12b亦向内移位。因此,具有防塵薄膜2()貼附至 Ϊ一T塵薄膜組件框架1G之每—短邊12便經過轉換而且 有一實質直線的形狀。 又工喝将?吳阳丹 丸丄另:Ϊ面’由於朝向防塵薄膜組件框架内側之作用力T2 =由防塵雜20施加至防塵薄馳件 ,狀之長邊u ’防塵薄敵件框架1G 二 移。然而,由於彎曲動量Μ係由短邊i 便向内位 件框二2;;:::;==使防塵薄膜組 使防塵薄膜組件购1()之4 # 所產生之力量乃與 此,防塵薄膜組件框架1G之每°作動相互抵鎖。因 接受的範圍内。 邊11的向内變形可抑制在可 短邊12二中此,巧^塵薄膜組件框架10之該對 出之圓弧形狀,每_位於中3其中央部)具有-向外突 具有内凹之圓弧形狀,位、售112a之相對側的中間區域12b 域12c形成具有實質直線形狀。另—之^面對附近之端部附近區 上,使防塵薄膜20 至if薄膜組件框㈣之一表面 力刀佈!下述方式加以控制,亦即使平行 13 201201994 於防塵薄膜組件框架10之長邊u 於防塵薄膜組件框架w 上的張力大於平行 的張力T1便使得防塵薄膜組件且件框a之短邊12 直線,而防塵薄膜組件框㈣之^ = 12 _而實質成為 防塵薄膜組件框架1〇之長邊j=被防塵薄臈2〇施加至 ίο之每-角落,俾使防塵薄膜 長邊U向外位移之力= 銷產生而使防塵細組件框架10之 10之tt戶ϋ由於在防塵薄膜20貼附之後,防塵薄膜組件框竿 轉換,俾使其成為實質矩形,如此^保ΐ 面精、^ = ’而不需藉由增加防塵薄膜組件框架1G之樺i面 10等等具有較高剛性的材料來形成防塵薄膜組件框架 膜組件便可輕易用於防塵薄膜組件晴以 驗Π ί張力分佈不均而使張力小於所設計的張力時,防塵 件架10之短邊12便無法轉換成為實質直線而仍且有向 H之凸形。然而’由於防塵薄膜組件係通 g J件貼附裝置内,即傭塵薄膜組件框架i。之—長邊 方塵薄膜20亦不會因防塵薄膜組件框架1〇之短邊u 具有向外突出的形狀而產生起皺的風險。 x主 操作例及比較例 下面將說明一操作例及數個比較例以便更清楚地說明本發明 之技術優點。 操作例1 利用一機械程序生產一鋁合金製之防塵薄膜組件框架10,其 具有如圖1之形狀。該防塵薄膜組件框架為一實質矩形橫截面形、 201201994 狀,其外部尺寸為20〇〇mm*2500mm,内部尺寸為 =Τ*246°聰,且防塵薄膜組件框架10之每二長邊11均為實 質直線形狀。 可仗遭u枸為貫 另一方面,防塵薄膜組件框架1〇之每一 5 R72〇1o L〇〇r之每Γ中間區域12b均具有内凹之圓弧形狀,其 ίί开1Γ 相對的’每—端部附近區域以均具有實質 此處’防塵薄膜組件框架10之每一短邊 組件框架1G之短邊12的相對端部3角 ::匕爾均與其外部具有相同的形狀,使得短邊12具有i 。防塵薄膜組件框架的高度為6 5麵。每—角落的有内 為半徑2mm,其外侧則為半徑6mm。 菩薄膜組件框架1〇的清洗及乾燥程序。接 者’防塵_組件框架H)之—表關塗佈 : ,著膜組件框架1G之另—表面=== ^=caiCo.,Ltd·生產之石夕黏著齊κ產品名稱鹏7〇〇)以 =罩至防塵薄膜組件框架10的黏著劑。接著,將防塵薄= 框架10加熱以硬化石夕黏著劑。 、、午 進一步利用狹縫塗佈處理將一具有矩形形狀 (2200mm*2580mm*22mm)之石英基板塗佈以八純泊咖 ^Ltd.生產之氟聚合物(產品名稱:CYT〇p)以形成一塗 ^形成之塗佈層便貼附至與石英基板具有相同之外尺寸的; ίΠ框架Μ上’剝除石英基板,如此產生具有―厚度之防 如此產生之貼附在欲進行拉伸之臨時框架2〇上的防塵薄膜2〇 ,固定紐塵薄膜組件製造設備上之防麟膜支撐部2如 3及圖4所示。 固 此處,四個負載施加裝置25係經調整,以使位於臨時框架21 15 201201994 之每一短邊的中心區域的負載施加裝置25所施加至防塵薄膜2〇 之張力為位於臨時框架21之每一長邊的中心區域的負載施加裝置 25所施加至防塵薄膜20之張力的2.5倍。 另=方面’將形成為具有防塵薄膜貼附層31以及由一隔離件 ^未顯不)保護之光罩黏著層32的防塵薄膜組件框架1〇放置於 平台30之上表面處。接著,上置有防塵薄膜組件框架1〇之平台 3J)便利用升降機構35緩慢上升,而使防塵薄膜貼附層31與防塵 溥膜20相接觸,藉此使防塵薄膜2〇貼附至防塵薄膜組件框架1〇 之一表面上。此時,防塵薄膜貼附層31以及防塵薄膜2〇乃以微 小角度彼此相接觸,以防止空氣在防塵薄膜貼附層以及防塵薄 膜20之間的空間產生。 在防塵薄膜貼附層31以及防塵薄膜20彼此完全貼合之後, 超出放置於平台30上之防塵薄膜組件框架1〇外的防塵薄膜2〇的 不需要的部分便可利用切刀(未顯示)切掉並加以移除,藉此 成防塵薄膜組件。 如圖2所示,如此產出之防塵薄膜組件之防塵薄膜組件框架 1〇的每一長邊11均些微朝内變形,但防塵薄膜組件框架1〇之^ 一短邊12則具有實質直線形狀。 如此產出之防塵薄膜組件被放置於一機械平台上,而一固定 有Mitutoyo Corporation所生產之針盤量規之支架則沿著一峻鋼靠 的桿子移動,故可每隔50mm測量一次防塵薄膜組件框架1〇的开 狀此處,當作標準之與桿子相接的表面已先經拋光處理,故立 平直度乃等於或低於0.05mm。 、 結果,吾人可發現,防塵薄膜組件框架1〇之每一長邊u的 中央部之向内偏折的量為1.5_,而防塵薄膜組件框架1〇之每一 短邊12之外表面對連接短邊12之相對端部之角落的直線偏 於或低於±0.3mm。 比較例 如圖6所示,吾人利用機械處理生產一鋁合金製之防塵 組件框架10 ’其具有矩形橫截面及實質直線的邊。該防塵薄思 16 201201994
件框架ίο為一實質矩形横截面形狀,其外部尺寸 2000mm*2500mm,内部尺寸為 196〇mm*246〇mnJ 框架K)的高度為6.5職。防塵薄膜組件框架 方塵离專^^牛 部均為半徑2mm,其外部則為半徑6職。㈣角洛的内 防塵薄膜20糊與用於操作例巾的相同步驟, =附至如此產出之防塵薄膜組件框架i。,藉此產出一防 如此產出之防塵薄膜組件之防塵薄膜組件 所示之形狀。因此’吾人可發現防塵薄膜組件'm? 防塵薄膜組件框架1G之每—長邊η的中央部_移形’ 12, t ^ 向則!光區域在長軸方向減少了約5_,在短軸方 比較例2 右如!例1中的方式來生產一防塵薄膜組件,利用具 同比較例1中使用之_防塵薄膜20,以及m如 至防塵薄膜組件框架10而不調整防塵薄膜Wi 如此產出之防塵薄膜組件的防塵薄膜組 所示之形狀。因此,吾人可發現防塵薄膜 ^ ^薄膜組件框㈣之每-長邊η的中央部向内=地伽 纖蝴娜12州部則向内移 向則;曝光區域在長軸方向減少了約3咖’在短軸方 及比較例1和比較例2中可以發現,將防塵薄膜 11在打調整’使其平行於防塵薄膜組件框架10之長邊 在八長轴方向上的張力大於平行於防塵薄膜組件框架忉之^豆 17 201201994 短i方向上的張力,再將固定於欲拉伸之臨時框架21 地防止光罩之之—表面’便可有效 之曝先Q域減少,該防塵薄膜組 短邊12之中央區域12a包含短邊12之中央部且有向外 j之圓弧形狀、其中央區域12a之相 ^ :卜 =有内凹娜形狀、且每,附近區域12e具有; 然而本Γ=ίϊ:特定實施例以及操作例來進行說明及描述。 ;/人應庄思本發明對所設定之安排的細節完全不作任 不偏離所附加之專利巾請範__及修改均為可用。、 1。勺歹人佳實施例及操作例1中,防塵薄顺件框架· 成^立、直線形狀之長邊11以及短邊12 ’該短邊12之組 位於中^ ^含其中央部具有向外突出的圓弧形狀, 矿π *1央£域12之相對側上的每一中間區域i2b具有内凹之圓 2有實質_寸近之每一端部附近區域i2c 阶然形成如此形狀的每—短邊12並非必須。 :邻上iq之每—短邊12亦可有如此的形狀··使其相 ϊ=〇之:力所, 葬·— 力所引起之防塵薄膜組件框架1〇的期望變形。且, it之相對端部㈣落與複數條短直線連接,可形 成具有夕角度之防塵薄膜組件框架1G之每—短邊12。 作負例及操作例1中’雖然負載單元係用於當 ί 使用負載單元當作負載檢測裝置28並非必 ί利檢測裝置。且,臨時框架21之位移量可直 _載檢測裝置28 ’或者亦可利用檢 、負載施加裝置25之移·便可得知_鹤21之位移量。 設有i鹿操作例1中’雖然張力是施加到上 向及f的臨時框架21上,以便在臨時框架21之長軸方 向及=方!伸,同時施加張力到臨時框架21之長軸方 〇及短軸方向並非必須,可以僅施加張力到上設有防塵薄膜2〇的 201201994 設有_膜 21的相騎的額義,喊臨時轉臨時框架 上產生在防塵薄膜中的浮士缺"、之長軸方向及短軸方向 每-邊的中央部的固持部、3,而:時臨t框架21之 短軸方向上產絲__ [架2! J長軸方向及 臨.架2^每j的又固f部並將固持部23以垂直於 及短軸方向上之防塵薄膜if $可在臨時框架21之長軸 之每一邊之中中^生張力。且’只要臨時框架21 每一邊之持部23可設置在辦框架21之 來自時框==邊=整,以使 負載施加褒置25(位於臨時張力為來自 加至防塵薄膜20在臨時^ 區域處)所施 而,並不需將防塵_2〇1張力軸倍。然 在臨時框架21之导點方^ Π 3調整成知加至防塵薄膜2〇 框架2!之短軸方;施力口至防塵薄膜2〇在臨時 f、Λ赠舰加至防塵薄膜2〇的張力分佈固 2等〇^°時框架21的剛性、臨時框㈣之每一短邊突出的耐受量 六八發明,微影用之防塵薄膜組件即使是在防塵薄膜之張 :避免例如貼附防塵薄膜至防塵薄膜組件框架時產=而f 且’根據本發明,亦可提供—微侧之防蘭敵件的製造 19 201201994 方法,其即使是在防塵薄膜之張力分佈十分不均的情況下,仍 預防光罩之曝光區域減少,其亦可避免例如貼附 薄膜組件框_枝生爐而失敗。 #、主防麈 【圖式簡單說明】 一立圖1為根據本發明較佳實施例之防塵薄膜組件框架之平面 示意圖,該防塵薄膜組件框架係用於製造防塵薄膜組 i 塵薄膜組件尚未貼附防塵薄膜。 八 圖2為顯 示意圖。 示已貼附防塵薄膜之圖丨之防塵薄膜組件框架的平面 圖3為顯示使用於本發明較佳實施例中之防塵薄膜制& 设備’其制於將防麟膜蘭於防麟膜組件框架。衣1^ 圖4為沿圖3中之A-A線切開之橫截面示意圖。 。圖5為顯示由防塵薄膜施加至防塵薄膜組件框架之張力分佈 圖。圖6為使用於比較中之防塵薄膜組件框架形狀之平面示意 架形所製造之防塵薄膜組件之防塵薄膜組件框 架形。中所製造之防㈣膜組件之防塵薄膜組件框 【主要元件符號說明】 10防塵薄膜組件框架 11防塵薄膜組件框架之長邊 12防塵薄膜組件框架之短邊 12a防塵薄膜組件框架之中央區域 12b防塵薄膜組件框架之中間區域 12c防塵薄膜組件框架之端部^區域 20 201201994 20防塵薄膜 21 臨時框架 22防塵薄膜支撐部 23固持部 25負載施加裝置 26連接部 27台座 28負載檢測單元 30 平台 31防塵薄膜貼附層 32光罩黏著層 35 升降機構

Claims (1)

  1. 201201994 七、申請專利範圍 1.一 對邊則在其—中央部具有形狀; 的縱長方6上[ίί》佈胁膽,使其在該防塵_之該長邊 ϊίίϊΐϊ大於該防塵薄膜之該短邊的縱長方向上的張 料種用防塵薄膜組件,包含—防塵薄臟架,其至少呈有-=長邊:該對平行長邊的每-邊均具有直 二==塵薄膜至該防塵薄膜框架 膜框朱之該職邊乃被雜献雜絲雜。 ^1獅狀微影时㈣敝件,其中該防塵 ίί ίίΐΐϊ邊之每—邊均具有—中央區域,其包含該防塵 i相對側之具有内凹圓弧形狀的中間區域;以及位於 母-該短叙-端部附近之具有直線形狀的端部附近區域。 3中 圍第2項所述之微影用防塵薄膜組件,其中該每一 ==有_::圓弧形狀而可使該中央區域以及-該端 m月專利範圍第2項所述之微影用防塵薄膜組件,其中該每- ^㈣^圓弧形狀之中間區域的半徑乃大於具有向外突出圓弧形 狀的該中央區域的半徑的三分之一(1/3)。 5 t申請專利範圍第3項所述之微影用I1 方塵薄膜組件,其中該每一 f圓弧形狀之巾間區域的半徑乃大於具有向外突出圓孤形 狀的該中央區域的半徑的三分之一(1/3)。 胳一種微影用防塵薄膜組件的製造方法,其步驟包含提供一防塵薄 具丄其至少具有一對平行長邊以及至少一對短邊,該對平行 長邊的每一邊均具有直線形狀,該對短邊的每一邊則在其一中央 22 201201994 部具有向外突出的形狀;貼附一 使其在雜塵_縣之該張力分佈乃經調整, 薄膜框架之驗邊的縱長方向上的張力大於該防塵 附至之該防塵薄膜框架的該對短邊轉貼 ί 之製造方 域,其包含該防塵薄膜框竿之之母一邊均具有一中央區 狀的中央部;位於該中央區域向外突出的圓孤形 間區域;以及位於每一該短邊=之具有内凹圓弧形狀的中 部齡邊之卩附近之具有直線形狀的端 8.如申請專利範圍第7項所述之傅马由〜由# 法,財該每-中間區域牛之製造方 區域以及-該端部附近區域可;弧驗而可使該中央 i·如項所述之微影用防塵薄膜組件之製造方 時;:時框架上,並機械性地使該臨 該張力分佈< 央部變形,#此調整該防塵薄膜之 5如Z項所述之微影驗塵賴組件之製造方 Si防塵薄膜至該防塵薄膜框架之前,先 時;i 架上’並機械性地使該臨 (邊形,藉此調整該防塵薄膜之 請專利範圍第8項所述之微影用防塵薄膜組件之製造方 法’其步敎包含在_該_薄駐鱗麵酿架之前,先 23 201201994 上,並機械性地使該臨 藉此調整該防塵薄膜之 將該防塵薄翻定至—欲拉 _架之至少一對相對邊的中 架 該張力分佈。 、|趸形, ㈣㈣麻件之製造方 地變形時,該臨時“之相對邊之該中央部已機械性 係經用以檢測位移量二二二:,對邊之該中央部的位移量 框架之該至少-對相對邊置或㈣檢測施加至該臨時 控制。 、#之負載的位移量檢測裝置戶斤 13.如申請專利範圍第1〇 法,其中當觀辦框架之雜顧肋件之製造方 係經用以檢測位移量ί 一;載二;邊之該中央部的位移量 =機少-對相對邊之該 地變形時,該臨二=目f邊之該中央部已韻性 係經用以檢測位移邊之該中央部的位移量 = 相對邊之該中央部之負載的位移量檢測裝置所 八、圖式 24
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