TW201107817A - Image inspection apparatus - Google Patents

Description

201107817 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種影像檢測設備，尤指檢測整件液晶面 板半成品之影像檢測設備，其中該液晶面板半成品未黏附 光片。 【先前技術】 按’自動光學檢查（Automated Optical Inspection， 以下簡稱ΑΟΙ)為工業自動化有效的檢測方法，係利 用光學方式取得成品的表面狀態，以影像處理來檢出異物或 圖案異常等瑕疵。AOI係大量應用LCD/TFT、電晶體與 PCB工業製程上。 、 目前AOI在檢測LCD液晶螢幕面板的應用上，主 要以模組組裝後之液晶面板半成品為檢測標的，利用 樣板產生器（Pattern Generator)產生特定樣板，據以 k查液晶面板半成品是否有亮點、暗點、點瑕疲或晝 面顏色不均等缺陷。 上述之液晶面板半成品已裁切完畢並且黏貼偏光 片，基於液晶面板製程之不可逆性，一旦檢測出輝度之異 常或影像瑕疵，不良品將難以補救必須棄置而造成材料之無 謂浪費。 為了在檢測過程中’及早發現並補救瑕疵，本發明的主 要目的在於提供一種檢測整件液晶面板半成品之影像檢測設 備’以未裁切並且未黏貼偏光片之整件液晶面板半成品為檢 201107817 種技術手段解決未模組組裝之整件 ，檢測時所遇到的問題。如此，即 品上之不必要耗材與工時，提升生產 【發明内容】

像檢測設備，整件液晶面板半成品之影 一其輝度 f本體_財__晶面板半成品。探針模=二 機^本體’紐連接液晶面板半成品之電性無以在檢測過 私中通電轉液晶面板半成品之液晶。影像擷取模組係用以 擷取整件㈣面板半成品之影像’以供檢聰組加以比對， 查驗塾件液晶面板半成品之缺陷。

測標的。並且’透過種 液晶面板半成品在影 可間接卽省後續在不良 效率及良率。 影像擷取模組包含一光源裳置及一影像感測器。該整件 液晶面板半成品未組裝背光模組並j_未黏貼偏光片，為了準 確檢測其，影細賴組在雜錄晶面板半成品與光 源裝置，以及該整件液晶面板半成品與影像感測器之間，分 別更包含一第一偏光片以及一第二偏光片。光源裝置係產^ 光線並透過該第一偏光片照射整件液晶面板半成品，影像感 測器係透過該第二偏光片擷取該光線所產生之影像。 影像擷取模組更包含一瑕疵影像擷取模組以及一輝度爹 201107817 像擷取模組。瑕疵影像擷取模組及輝度影像擷取模組係分別 擷取影像，以供檢測模組分別進行影像變異度以及輝度之檢 測0 。相較於習知技術中’受檢測之液晶面板半成品已經過裁 切程序並已加裝偏光片’―旦發現瑕麟同為材料時之浪 費，本發批檢游魏晶祕核品之影像檢測設備，係 在整件液晶面板半成品未域切並且未祕偏光片時，透過 探針模組使整件液晶面板半成品通電以驅動其液晶，並使光 '原裝置與像感測g分別透過第―偏^^與第二偏光片，照 射忒整件液晶面板半成品以及擷取該光線所產生之影像，以 利用4¾測模組對所擁取之影像加以比對。如此，可在液晶面 板半成品未進一步加工之前，查驗其輝度與瑕疵，及早排除 不良αα，提升液晶螢幕面板的生產效率與良率。 、本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖 式得到進一步的瞭解。 【實施方式】 以下兹列舉本創作之一較佳實施例以供熟習該領域技術 者據以貫施。

本發明較佳實施例中’影像檢測設備係應用於檢測pSA LCD ’以液晶半成品的光學影像問題為主要檢測標的。本發明 之影像檢測設備係透過改變其液晶半成品之通電特性以檢驗 製程前後光學影像變異與製程後面板的輝度與反應速度特 性。 201107817 _請參閱第一圖，第一圖係本發明影像檢測設備之外觀立 ，結構示意圖。本發明之影像檢測設備100係供檢測整件液 B曰面板半成品·，該整件液晶面板半成品細未貼附偏光 片’並在檢測後供切割而為複數個液晶面板。影像檢測設備 \〇〇在外觀上包含一機台本體丨、—探針模組2及一影像擷取

機台本體1係用以承載該整件液晶面板半成品200，並 具有一第一移動裝置11與一第二移動裝置12。機台本體i 承載整件液晶面板半成σ〇σ 200之承載平台係由透光材料所構 成’可為玻璃板材。玻璃板材上更具有—框體，以加強支樓 整件液晶面板半成品2〇〇之結構強度。 探針模組2設置於框體之四側，在檢測過程中，係電性 連接整件液晶面板半成品測之紐接點，輯電驅動該整 件液晶面板半成品2〇〇之液晶。 正 影像擷取模組3係於探針模組2驅動該整件 成謂之液晶後，操取來自該整件液晶面板半牛^: 影像。影像擷取模組3包含-光職£ (未顯示），一影像 測器32以及-第-偏光片（未顯示）與—第二偏光片（未顯 示）。。光源裝置產生光線照射整件液晶面板半成品，影像 感測器32擷取來自該整件液晶面板半成品咖之光線所形成 之影像。 其中’影像感測器32更包含一輝度影像擷取模組321 以及-瑕疯影像操取模、组322，輝度影像掏取模㉟32ι 一輝度計。 201107817 请參閱第二圖’第二圖係影像娜模組之局部放大示意 圖。如圖’瑕疫影像操取模組322包含一相機3221及一鏡頭 3222，其中相機3221可為互補式金氧半導體(c〇mpi ementary

Metal-Oxide-Semiconductor; CMOS)' 電荷耦合裝置(Charge

Coupled Device; CCD) ’ 或者線掃描(Line scan)式攝影機； 鏡頭3222可為不同倍率之光學鏡頭。 繼續參閱第二圖。在本發明之較佳實施例中，影像擷取 模組3之光源裝置31與影像感測器⑽係相對設置。其中，

=、裝置31a與輝度影像摘取模組321相對設置，光源裝置 31b與瑕疵影像擷取模組322相對設置。 祕国㈣—圖’第二圖係本發明影像檢測設備之功能方 二圖:如圖，影像檢測設傷丨⑻更包含—處理料‘以及一 5，處理單元4可為處理器或是具有處理ϋ等相關 奴控制機板，檢測模組5可為—程式或包含一程式 之朝體。檢測模組5編妾於處理單元4。 她3 &含輝度影軸轉組321與瑕疵影像 7瑕絲像掏取模組322包含相機聊及 321與瑕疫影像娜模組322 ===當輝度影像擷取模組㈣械 訊分：:::==之後，係將所娜之影像資 對所擷取之〜ρ 傳 ^聰組5 ’以供檢測模組5 檢測以查驗ί整進行影像變異度以 千履日日面板+成品200之缺陷。 〇月參閱弟四圖，第匹^阁总旦/你u 弟圖係衫像擷取模組之爆炸分解示意 201107817 圖。如圖，影像擷取模組3之光源裝置31與影像感測器32 係設置於整件液晶面板半成品2〇〇之兩側。第一偏光片33a、 33b係分別設置於光源裝置31a、31b上，使光源裝置31&、 31b所產生之光線透過第一偏光片33a、33b再照射至整件液 晶面板半成品2〇〇。 第二偏光片34a、34b係分別設置於影像感測器32之供 輝度影像擷取模組321與瑕疵影像擷取模組322之鏡頭，使

輝度影像擷取模組321與瑕疵影像擷取模組322分別透過第 二偏光片34a、34b擷取穿過整件液晶面板半成品·之光線 所產生之影像。 請參閱第-圖，並請一併參閱第三圖。當影像檢測設備 100進行檢測時’係使機台本體丨承载整件液晶面板半成品 200’並使整練晶面板半成品之紐接點電性連接至探 ί模組2 ’叫電轉魏晶。接著，影雜取餘3藉由 第一移練置η與第二移練置12，於勤本體丨上做二 轴向之移動，以擷取整件液晶面板半成品_之影像。 31 5 =由下社魏姐明雜·細财成品测，以供 輝度影像練 321與瑕齡彡侧 該整件液“板核品之域卿狀影像满取末 由於整件液晶面板半成品咖未 了正確查驗該整件液晶面板半成 Μ九月為 嗖備100仙用本、發《 底200，本發明之影像檢測 二備謂係利用如原裝置31a、31b上所設 33a、33b，以及輝度影像擷取 弟偏先片 棋、，且321與瑕疵影像擷取模組 201107817 322上所没置之第二偏光片34a、34b，模擬整件液晶面板半 成品200已貼附偏光月之情形進行檢測。

輝度影像擷取模組321與瑕疲影像擷取模組微掘取影 像之後’分別將所擷取之影像資訊係透過處理單元4傳送至 檢測模組5。檢測模組5檢測輝度影像擷取模組321所擷取 之影像，以判斷光線透過整件液晶面板半成品2⑽之液晶所 =成之輝度衫介於正常值。檢職組5並且檢酿疯影像 ，取核組322所操取之影像，藉由其影像變異度判斷整件液 晶面板半成品綱之液晶成像是否具有亮點、暗點、點瑕 疲或晝面顏色不均等缺陷。. ‘· 相較料知技射，受_域晶面板半紅已經過裁 :序並已加裝偏光片，旦發現瑕鱗同為材料工時之 ，費，本發明之影像制設備⑽在整件液晶面奸成品· 經裁切亚且絲關光㈣，透過騎频2使整件液晶 破半成品⑽通電以驅動其液晶，並使光源裝置加、仙 ^影像感測器32 ’分別透過第—偏光片咖、咖與第二偏 =34 整件液晶吨半成品以及擷取該光線所 之影像’以檢測模組5騎操取之影像加以比對檢 此’可在液晶面板半成品未進一步加工之前，查驗其 疵’及早騰不良品，提升液的幕面板的生產效 、f 上較佳具體實施例之料，係輕能更加清楚描 二士^之特徵與精神’而並非以上述所揭露的較佳具體實 細例來對本购之齡細_。減地，其目的是希望能 201107817

H各，變及具鱗_安排於本發明所欲申請之專利 固的乾_内。 【圖式簡單說明】 第一圖傳、本發明影像檢測設備之外觀立體結構示意圖; 第一圖係影像擷取模組之局部放大示意圖； 第一圖係係本發明影像檢測設備之功能方塊圖；以及 第四圖係影像擷取模組之爆炸分解示意圖。 【主要元件符號說明】 影像檢測設備i 〇〇 整件液晶面板半成品200 機台本體1

第一移動裝置U 第一移動裝置 板針模級2 影像梅取模組3 處理單元4 .檢測模組5 光源裝置3la 201107817 光源裝置31b 影像感測器32 第一偏光片33a 第一偏光片33b 第二偏光片34a 第二偏光片34b • 輝度影像擷取模組321 瑕疵影像擷取模組322 相機3221 鏡頭3222

Claims (1)

1. 201107817 七、申請專利範圍·· 1、一種檢測整件液晶面板 備，兮⑨ 成σο之影像檢測設 m 5亥衫像檢測設備係包含： 一機台本體，俏闲！y i也 。·糸用以承载該整件液晶面板半成 口 σ , 整件液晶面板半成 探針模組，係電性連接該 ，以通電驅動該整件液晶面板 品之電性接| 半成品之液J 1_取_’㈣探針模組驅動該整件液 日曰面板半成品之液晶後，係操 液晶面板半成品之影像；以及 整件 一檢測模組’係比對該影_取模組擷取之影 像，以查驗該整件液晶面板半成品之缺陷； 2 其中’於該影像檢測設備檢測後之整件液晶面 反半成。0，係供切割而為複數個液晶面板。 t申請專利範圍第W所述之影像檢測設備，其 °亥衫像擷取模組進一步包含·· 〜光源裝置，係產生光線照射至該整件液晶面 板半成品；以及 衫像感測器，係擷取來自該整件液晶面板半 12 201107817 成品之光線所形成之影像。 如申請專利範圍第2項所述之影像檢測設備，其 中"亥光源裝置與邊影像感測器設置於該整件液 晶面板半成品之兩側。 4 5 6 如申請專利範圍第2項所述之影像檢_備，其 :該影像檢測設備更包含一第一偏光片以及一 第-偏光片’該第-偏光片係設置於該光源農置 與該整件液晶面板半成品之間，該第二偏光片係 設置於該影像感測器與該整件液晶面板半成品 之間。 如申請專利範圍第1項所述之影像檢測設備，其 中該檢測模組係將該影像擷取模組所擷取該整 件液晶面板半成品之影像，進行影像變異度以及 輝度之檢測。 如申請專利範圍第5項所述之影像檢測設備，並 中該影_取模組更包含—瑕㈣像操取模組 Γ一輝度影像擷取模組，係分別擷取該整件液 日日面板半成品之影像，以分 f, 5 ^ 该檢測模組進行 〜像交異度以及輝度之檢 Γ 2Γ 13