TW201006588A - Casting level measurement in a mold by means of a fiber optic measuring method - Google Patents

Description

201006588 ’ - · 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種藉由一或多個測量纖維及/或藉由多 個用於光纖溫度偵測的探棒在一鑄模中測量鑄造位面的方 法’該等探棒在鑄模銅板中齊該鑄造位面之高度布置。根 據由該等用於光纖溫度偵測的探棒所測定之溫度，可推斷 出該鑄造位面之準確高度。本發明此外亦包括相應之探棒。 φ 【先前技術】 習知之常用方法使用嵌在鱗模中的放射性粒子來測定 鑄造位面之高度，其中，測量該鑄模不同高度上的放射輻 射，以此推斷出鑄造位面之高度。為了改良測量結果，可 增大此等粒子在鑄模中的密度。 此類方法具有須遵守愈來愈嚴格之輻射防護規章的缺 點。在使用放射性材料之情況下，維護工作難度較大，此 等材料之成本亦較大。此外，此類方法不適合用來測定鱗 ®造位面波（Gieflspiegeiwelle)的形狀，而自該形狀中可獲 得有關其他鑄造參數（例如製造速度）之有用資訊。 此外亦存在藉由多個熱電偶進行溫度偵測來測定鑄模 之鑄造位面的方法。 、 此類方法之缺點在於，實際操作中無法以極小之間距 布置該等熱電偶。此外，每個單個測量點均須使用—單個 熱電偶，此點不僅意味著較大的材料成本’亦會產生較汽 之佈線費用。最後，熱電偶亦容易受到電磁制動器或電: 3 201006588 授拌線圈之磁場的干擾。定期更換鑄模時，須對電纜進行 重新連接，在此過程中會出現連接錯誤或忘記連接等情況。 EP 1 769 864揭示一種測定一連續鑄造鑄模之熔液位 面的方法，此種方法須使用一照相機，該照相機朝—鑄模 之銅板的背面定向，用於在紅外線區域内偵測該鑄模銅板 的顏色變化。此種布置方式之缺點在於，此種照相機系統 需佔用較大空間，此外，布置在鑄模鋼板後面的冷卻水組 件通常亦會顯著增大鑄造位面之監測難度。若按該方法使 用可直接自該鑄模銅板之各點向該照相機傳導紅外線輻射 的光波導體，則須為每個測量點使用一通向該照相機且與 之正確相連的光波導體。 公開案DE 26 55 640揭示一種用於在一連續鑄造鑄模 中測定㈣位面的裝置’其中’冑用—由熱敏磁性材料構 成的偵測器元件。在此情況下，根據鑄模壁中的溫度變化 最終可推斷出鑄造位面高度。由於此系統之布置方式較為 粗略，故無法進行高空間解析度之鑄造位面偵測。此外， 該方法亦容易受到上述之外部磁場的干擾。即便使用多個 此種類型之裝置’亦無法獲得有關鑄造位面波之形狀= 效資訊。 '有 【發明内容】 因此’本發明之目的在於消除上述缺點。 上辻目的藉由本發明而達成’本發明提供一種在 於鑄造金屬的缚模中測量鑄造位面的方法，盆用 '/Q鑄造 201006588 方向在該鑄模之高度範圍内偵測鑄造位面區域 1心>皿度分 年’以便測定鑄造位面之高度，該方法之特徵在於，藉由 一或多個測量纖維及/或藉由至少一測量探棒進行該溫^偵 測’該至少一測量探棒安裝在鑄模銅板中，且包括多2光 纖感測器，其中，藉由一分析設備根據所偵測到的溫度分 布測定鑄造位面之高度。

此方法可在一鑄模中實現可靠且高空間解析度的鑄造 位面偵測。無需考慮任何在實施放射性偵測方法時所需考 慮的輻射準則。該系統之空間解析度高於藉由埶電偶：r 達到的空間解析度。此外，此種系統無佈線成本。不受‘ 圍磁場之干擾。1¾系統彳以簡單之方式整合在—現有二模 鋼板中，同時亦具有可重複使用之特性。 吴 在該鑄模之下 用於溫度偵測 光纖感測器及/ 根據該方法的一種較佳實施方式，為了 端區域内對澆鑄過程進行調節，布置至少一 的其他測量探棒，該其他測量探棒包括多個 或多個熱電偶。 過程進行控制的可能性， 相對於習知方法而言具有 此種有利特徵提供了對繞轉 且在使用光纖感測器之情況下， 上述之優點。 根據該方法之另一較佳實施 的寬度方向上布置至少兩個測量二：直”造方向 向的至少兩個測量點上敎鑄 ▲ 了在b寬度方 _ k位面兩度，從而獲得有關 一鑄造位面波之形狀的資訊。 復侍有關 藉由以此種方式對光纖感測器或探棒進行布置’可在 5 201006588 高空間解析度之基礎上測定一铸造位面波的形狀，從而推 斷出鑄造速度。在此情況下，藉由_調節迴路亦可對一電 磁制動器進行控制。 根據該方法之另一較佳實施方式 八用光纖Bragg光柵法 (FBG法）或光時域反射法（〇tdr法、七止α Λ在）或先頻域反射法 (OFDR法）進行分析。 ’將該分析系統之資 局度進行控制的調節 根據該方法之另一較佳實施方式 料傳輸至一可對該鑄模中之鑄造位面 系統。 ^ 外评，绿徠棒在一用 =:=模:藉由在铸造位面區域内進行_: 先其特徵在於，該探棒配有至少-先波導體，且可安裝在一鑄模的鋼板中。使 取得上述之有利效果。 木棒可 根據一種較佳實施方式，該 可安裝在賴模域遠離熔形’因而 根據另一較佳實施方式，在該 ： 該銅板接觸的區域内設有多個平行凹槽位面方向與 禱造位面延伸，其内部布置有該至仃:槽二等凹槽垂直於 根據另一較佳實施方— 先波導體。 光波導體，其中，爷等光::個凹槽内均布置有至少-凹槽内。 其長度父錯布置在該等 藉由此種布置方式可進一步增 向上的測量點數量。 θ 直於鑄造位面之方 201006588 根據另一較佳實施方式，該探棒基本呈一圓柱體的形 ，其令5玄至少一光波導體呈螺旋狀捲繞在該圓柱體上， 忒探棒可插入該鑄模銅板上的一鑽孔中。 、藉由將光波導體捲繞在此種探棒上，可視具體之捲繞 密度或捲繞角度增大垂直於鑄造位面之方向上的測量點密 根據另一較佳實施方式，多個光波導體呈螺旋狀捲繞 ❹ ^圓柱體上，該等光波導體分別捲繞在該圓柱體上多個 依次排列的離散區域内。 板件=另一較佳實施方式，該探棒呈一板件的形狀，該 铸模鋼板Γ在㈣㈣板遠料㈣H可布置在該 鑄模銅板上的一縫隙内，其中，該至少一 該探棒與該鑄模銅板接觸的一侧上。 導體布置在 此種探棒亦可提供沿寬度方向之溫度資訊。 根據另一較佳實施方式，該至少一光 脚 及/或呈螺旋狀地布置在該板件上。 體蜿蜒曲折 藉由此種布置方式可增大該板件上 度。 剛篁點的密 根據另一較佳實施方<，該至少— 探棒上的凹槽内。 導體布置在該 根據另一較佳實施方式，該探棒由該至，丨、 構成，該至少—光波導體可直接布置在^光波導體 少一鑽孔内》 蹲核鋼板上的至 201006588 【實施方式】 圖la展示一探棒11如本發明之實施例。如圖所示，探 棒11之基體基本呈立方形，該基體之上端及下端經弧形倒 圓處理。探棒11上設有四個凹槽4,該等凹槽内各布置有 一光波導體（光波導體纖維）或一光纖感測器2。此外亦可 看到多個測量點3，在該等測量點上可進行溫度測定。舉例 而言，探棒11可安裝在一鱗模銅板遠離熔液一側上的一凹 槽内’從而使光波導體2朝該熔液方向定向。其中，探棒 11所採用之女裝方式使光波導體2與該銅板直接接觸，且 朝熔液方向布置在銅板之水冷裝置與該熔液之間。所示探 棒11亦可呈其他可使該探棒嵌入一鑄模銅板之凹槽内的幾 何形狀。此探棒（或凹槽探棒n)亦可整合在現有系統（亦 包括用於溫度監測之現有系統）中，在該等系統中，此探 棒安裝在一銅板上的凹槽内。 圖lb所示者係為圖la中布置有光波導體2之測量點3 之區域經放大的俯視圖。在本實施例中，該區域之垂直總 尺寸為120 mm。四個並排光波導體2布置在此區域内。該 區域之總寬度約為5 mm，在此情況下，探棒丨丨極為緊密。 該等單個平行光導體2之間距約為！麵，故該等測量點3 之寬向間距亦為1随左右。在本實施例中，-光波導體2 之測量點3的垂直間距為4 mm。但若按圖lb所示將光波 =體2父錯布置，亦即，該四個平行光波導體：按其長度 分別交錯1 mm布置’則可有利地使測量點3以ι _之間 距沿探棒11之垂直方向分布。藉此可在12。幽之長度上 201006588 產生120個測量點3。光波導體2之間距、探棒11之大小、 凹槽4與光波導體2之數量及測量點3之間距亦可根據具 體應用另作他選’藉此可布置任意密度的測量點3。上述之 所有尺寸的作用僅在於使該實施例更易於理解。 此外亦可將多個光波導體纖維2交錯布置在—凹槽4 内’以改良空間解析度。藉此可進一步提高溫度偵測之精 度。 凹槽4之直徑一般情況下可介於〇_5 mm與1〇瓜爪之 ® 間’抑或視具體應用亦可為好幾公分。 圖la及圖lb所示之光波導體2與一相應之溫度分析系 統相連’其中，在光波導體2内導入雷射光，藉由一恰當 的分析方法可測定沿相應光波導體之溫度。舉例而言，可 考慮用於該光纖測量方法的習知分析方法有光纖Bragg光 柵法（FBG法）》此方法所用之光波導體2隨折射率之週期 性變化以外加方式獲得測量點或亦做此種變化的光柵。圖 la及圖lb對此種測量點3進行了圖示。折射率的此種週期 ® 性變化會使光波導體2根據該週期性在某些波長下於此等 測量點3上構成一介質反射鏡。當一點上發生溫度變化時， Bragg波長亦會發生變化’其中，所需反射者即為此Bragg 波長。不滿足Bragg條件的光受Bragg光栅的影響不大。隨 後即可根據傳播時間差來區分不同測量點3的不同信號。 此種光纖Bragg光柵及相應之分析單元的具體構造係眾所 周知的技術。空間解析率之精度取決於該等外加測量點之 間距。 9 201006588 作為替代方案，亦可利用光頻域反射法（⑽⑽法 光時域反射法（GTDR法）進行溫度測量。此兩種方法皆以 光纖拉曼背向散射原理為基礎，對光導體2 一點上的溫声 變化會引起該光波導體材料拉曼背向散射變化的情況加： 利用。在此情況下，可藉由分析單元（例如拉曼反射幻 以空間解析之方式對沿一纖維2的溫度值進行測定，其中， 此方法係在該導體2的-定長度上求平均值。亦即，實施 此方法時，一測量點3在纖維2之一定區域上延伸。目前， 此長度為幾公分。根據光的傳播時間差來區分不同測量 點。此類按上述之習知方法運行的分析系統的構造係為眾 所周知之技術’在纖維2内產生雷射光所需的雷射器亦如 此。 圖2展示本發明之用於溫度測量之探棒的另一實施 例。所不探棒21基本呈—狹長形圓柱體或棒件的形狀，多 個光波導體2呈螺旋狀捲繞在該圓柱體或棒件上。亦可將 此等光波導體2以相同之形狀設置在位於該圓柱體之表面 的凹槽内。特定言之，在圖2所示之圓柱體上捲繞有四個 光波導體2。其中，此四個光波導體中的每個單個光波導體 均布置在一僅由該光波導體2監測之區域（22 ' 22,、22,,、 22'〃）内。光波導體之此種螺旋狀布置方式可增大測量點3 在垂直於鑄造位面方向上的密度，此點對於〇TDR法或 OFDR法而s特別有利。附圖未對光波導體2的接頭進行圖 示。此種探棒21可布置在一鑄模銅板之垂直於鑄造位面的 鑽孔内。該鑽孔可視具體應用選用大於探棒21包括光波導 201006588 e 體2在内之直㈣最小尺寸。圖2所示之探棒^特定言之 具有=尺寸為iZOmm的配光導體2之測量區，該測量區被 畫J刀成四個尺寸均為3〇 mm的區域（22、22,、22,,、Μ”，）。 其中’所示探棒21所採用之捲繞方式使測量點3恰好位於 該探棒朝向溶液的-侧。該等測量點3成—直線排列，其 為1 mm |此情況下，在12()舰之長度上沿該探棒 21布置有120個測量點。此外，亦可在探棒21之表面或在 相應之凹槽内僅設置—個光波導體2。亦可在該等區域 (22 22、22"、22…）内採用其他數量之光波導體2,以 及採用其他數量之區域（22、22，、22”、22…上述之所 尺寸的作用僅在於使該實施例更易於理解。進行溫度監 測時，探棒21可安裝在該鑄模的任—高度上，料言之可 =铸位面之南度安裝，藉此可精確測㈣造位面高度。 :::針對圖la及圖11?所說明的其中一種方法對探棒?! 所收集的資訊進行分析。 ?展示-探棒如本發明之另-實施例。此探棒31 件的形狀，確切而言係呈扁平狀。此種探棒31 ; 在銅板遠離熔液的一侧，或可安裝在鋼板上一縫 . W扑、圖3C及圖3d所*，該探棒上之相應凹槽 接觸。導體2,該4光波導體朝炼液方向與鍀模銅板 附圖此I::導體2或凹槽可如圖3b所示布置成螺旋狀。 附圖此外亦對光導體2的 觸法進行分析時須對該^3進灯了圖示’藉由 邊等測量點加以利用。對於圖3a至 201006588 圖3d所示之全部實施例而言，亦可利用〇tdr法或〇FDR 法進行此分析。 圖3c所示之布局與圖3b相似，但此處之光波導體2 或四槽係採用蜿蜒曲折的布置方式。為了對鑄造位面進行 監測’探棒3 1較佳採用一種可使儘可能多的光波導體2垂 直於鑄造位面定向的布置方式，藉此可實現精確的高度測 量。此外，藉由光波導體2在板狀探棒31上之大面積分布， 可在寬度方向上實現對鑄造位面高度的解析，從而可以更 有效之方式獲得有關鑄造位面波的資訊。 _ 圖3d所示者係為光波導體2在一板狀探棒31上的另 種布置方式’其中，兩個或兩個以上的光波導體2呈螺 旋狀布置在該板件上或多個凹槽内。在此情況下，一光波 導體2呈環狀敷設，故該光波導體之起點與其終點重合。 在如圖3a、圖3b、圖3c、圖3d所示的實施例中，亦 可在一凹槽内設置多個光波導體2。此外，該等光波導體可 按其長度交錯布置，以便進一步增大測量點之數量及密度。 圖4以示意圖之形式展示一如圖1所示之探棒u的安 〇 裝隋況違圖對铸模之橫側面上的銅板8、炼液7及鑄造管 6進行了圖示。鎢造管6在鑄造位面下方與熔液7連通。鑄 模中之外溢熔液7及整體上向下運動之熔液7通常會在齊 鑄造位面之高度處產生一個波（確切而言為一駐波在齊 鑄造位面之高度處安裝有一如圖1所示的探棒11。此探棒 11安裝在該鑄模銅棒上的一凹槽内，較佳採用一種可朝熔 液7之方向對銅板8之溫度進行測量、但不會受布置在該 12 201006588 銅板後面之水冷裝置過大影響的布置方式。因此，該圖僅 可視為示意圖。該鑄模之橫側面上的可見區域5係為用於 安裝拉力螺栓之鑽孔或可布置用於溫度測量之熱電偶的位 置。但此等可見區域亦可不用於鑄造位面之測定。 圖5以示意圖之形式展示一如圖2所示之探棒21的安 裝情況。該鑄模自身之布置情況與圖4 一致，其中，所用 之探棒21布置在該鑄模之橫側面上的一鑄模銅板8中的鑽 孔内。探棒21在鑄造位面上方及下方覆蓋一區域，此點與 ® 圖4所示之探棒11相同。在此情況下，探棒21與鑄造位面 或熔液7之間僅存在構成銅板8的銅，藉此可實現精確的 溫度偵測。 圖ό展示如圖3所示之探棒31在鑄模之橫側面之鑄 模銅板8中的布置方式。探棒31安裝在相應之鑄模銅板8 之垂直於鑄造位面的_縫隙内，其中，光纖感測器2安裝 在探棒朝向熔液的一侧。該包括感測器2的板件一般情 況下亦可安裝在銅& 8遠離熔液7 一側上的相應空隙内。

’、中探棒3 1在熔液7之上方及下方覆蓋一測量區。此外， 如此布置之探棒31亦可提供垂直於鑄造方向或沿鑄造位面 之寬度方向的資訊。藉此可對所出現的鑄造位面波的形狀 及變化做出判斷。此點亦可藉由如圄1 』稽田如圖1、圖2及圖7所示之 探棒而實現，但此時須垂直鐘 _办 貝变呈於鑄造方向在鑄造位面高度上 布置多個此種探棒。 圖7展不本發明的另一播娃：/11 探棒41，此探棒安裝在一鑄模 銅板8的橫側面上。其中， 探棒41由一光波導體2構成， 13 201006588 該光波導體布置在鑄造位面區域内_垂直於鑄⑭㈣鑽 孔中。此漏孔之直徑可僅略大於—光料體或— 艘纖維包括-可能之外套（例如不鏽鋼外套）在内的直控。 上述實施例之所有探棒均視缚模之具體性能覆蓋 量區’該測量區之伸展度較佳介於1〇〇 _與2〇〇 _之 間’但亦可選用更大或更小之尺寸。 可將此等探棒布置在鑄模之任一 间沒上，例如布置在 鎊模之下部區域内。此區域可自鏤 目鑄棋之下緣開始延伸0 mm 至 900 mm 〇 ❹ 藉由一如此布置的探棒，可故0 悴了改良澆鑄過程之特性曲線 及控制效果。 —上述實施例所示之所有探棒均可重複使用。亦即，在 定期更換鑄模銅板時’彳以簡單之方式將探棒卸下，再將 探棒連同光波導體一起安裝在一嚭植抬士 衣隹新鑄模中，此點使本發明 之探棒具有極大的成本優勢。 w °褒寻探棒較佳由一導熱材料 C例如不鏽鋼）構成。 〇 此外，光波導體2通常 具有一不鏽鋼外套，以便在 又外部因素影響方面為其提 一 六捉伢更佳之保護。一般情況下， 不錄鋼外套或-不鏽鋼護套内可布置多個此種光導體 ’故在其中—纖維發生故障時（此種情況極少發生）亦可 繼續對已敷設在該護套内的其他鏞維4 ^ 刃头他纖維加以使用。此外亦可 在一護套内布置多個測量用綸始 篁用纖維，從而達到進一步提高測 量精度之目的，因為藉由噠笪她 田忒等纖維之交錯布置可為測量點 、任意程度之乍距。光波導體纖維2可具有較佳介於 14 201006588 mm與0,2 mm之間的直徑，或可具有其他常用直徑。護套 (例如不鏽鋼護套）之直徑通常小於5 mm。 “此等光波導體此外亦可藉由透鏡耦合裝置（即所謂的 擴束連接器（Extended Beam Connector) ”）與分析設備 相連。此類耦合裝置可實現可靠的信號傳輸’且極為堅固， 易於操作。 1 【圖式簡單說明】 ϋ 圖la為本發明之探棒的實施例，該探棒係裝入一 之銅板中的凹槽内； 、 圖lb為圖la中配備多個測量點之區域的俯視圖； 圖2為本發明之探棒的另一實施例該探棒係裝入該 鎮模之銅板中的鑽孔内； 圖3 a為本發明之探棒的另一實施例，該探棒呈板狀； 圖3b為圖3&所示之探棒的一實施例，係該探棒朝向熔 液一侧的俯視圖，其中’-光纖呈螺旋狀布置在該板件上 _ 的凹槽内； 圖3c為如圖3a所示之探棒的另一實施例，其中，多個 光纖蜿蜒曲折地布置在該探棒朝向熔液一側的凹槽内； 圖3d為如圖3a所示之探棒的另一實施例，其中，數量 更多之光波導體纖維布置在朝向熔液一侧的凹槽内； 圖4為一採用本發明之實施例之鑄模的三維截面圖， 其中，該鑄模之橫側面上的銅板中布置有一如圖〗所示的 探棒； 15 201006588 之另一實施例之鑄模的三維截面 面上的銅板中的鑽孔内布置有— 圖5為一採用本發明 圖’其中，該铸模之橫側 如圖2所示的探棒； 圖6為一採用本發明之另一實施例之鑄模的三維戴面 其中在该鑄模之橫侧面上的銅板遠離熔液一側布置 有如圖3a、圖3b、圖3c或圖3d所示的探棒；及 圖7為一採用本發明之另一實施例之鑄模的三維截 ®，JL ib ^ 丹甲’該铸模之橫側面上的銅板中設有—探棒，該探

棒由一單個光波導體構成，該光波導體布置在一垂直於矯 造位面延伸的鑽孔内。 【主要元件符號說明】 1 鑄模 2 光波導體/光纖感 3 測量點 4 凹槽 5 可見區域 6 鑄造管 7 熔液 8 鑄模銅板 11 探棒 21 探棒 測器/光導體/纖維/導體

〃 區域 2v 區域 16 201006588 22" 區域 22"' 區域 31 探棒 41 探棒

Claims (1)

1. 201006588 與最先提申請時所送原文申請範圍內容一致的中文申請範圍 七、申請專利範圍： 1. 一種在一用於鑄造金屬的鑄模中測量鑄造位面的方 法’其中’沿鑄造方向在該鑄模之高度範圍内偵測鑄造位 面區域内之溫度分布，以便測定鑄造位面之高度，其特徵 在於， 藉由一或多個測量纖維及/或藉由至少一測量探棒進行 該溫度偵測’該至少一測量探棒安裝在鑄模銅板中，且包 括多個光纖感測器，其中’藉由一分析設備根據所偵測到 的溫度分布測定鎊造位面之高度。 2.如上述申請專利範圍中任一項之方法，其中， 為了在該鑄模之下端區域内對洗鳞過程進行調節，布 置至；一用於溫度偵測的其他測量探棒該其他測量探棒 包括多個光纖感測器及/或多個熱電偶。 3.如上述申g青專利範圍中任一項之方法，其中， 在垂直於鱗造方向的寬度方向上布置至少兩個測量探 棒’藉此可在沿寬度方向的至少兩個測量點上測定鱗造位 面高度，從而獲得有關一鑄造位面波之形狀的資訊。 4·如上述申請專利範圍中任一項之方法，其中， 用光纖Bragg光栅法或光時域反射法或光頻域 進行分析》 5.如上述申請專利範圍中任一項之方法，其中， 將該分析設備之資料傳輸至一可對該鑄模中之鑄造 向度進行控制的調節系統。 中藉由在

   6· 一種探棒，該探棒在一用於鑄造金屬的鑄模 18 201006588 禱造位面區垃内冶& L域内進仃溫度偵測以測定鑄造位 特徵在於， < 尚度，其 板中 該探棒配有至少一光波導體’且可安裝在一鑄 模的銅 ^如申請專利範㈣6項之探棒，其中，該探棒基本里 立方形’因而可安袭在該鑄模銅板遠離熔液一側上的一凹 槽内。 參 參 i 8.如中請專利範圍第7項之探棒，其中，在該探棒朝鑄 造位面方向與該銅板接觸的區域内設有多個平行凹槽，該 等凹槽垂直於鑄造位面延伸’該等凹槽内布置有該至少I 光波導體。 夕 9·如申請專利範圍第8項之探棒，其中，每個凹槽内均 布置有至少一光波導體’該等光波導體按其長度交錯布置 在該等凹槽内。 从如申請專利範圍第6項之探棒，其中，該探棒基本 呈一圓柱體的形狀，該至少一光波導體呈螺旋狀捲繞在該 ®柱體上’該探棒可插入該鑄模銅板上的一鑽孔中。 ^如申請專利範圍第1G項之探棒’其中，多個光波導 體呈螺旋狀捲繞在該圓柱體上，該等光波導體分別捲繞在 該圓柱體上多個依次排列的離散區域内。 12.如申請專利範圍第6項之探棒，其中，該探棒呈_ 板件的形狀’該板件可布置在該鳞模銅板遠離溶液的一 側，或可布置在該鏵模銅板上的—縫隙内，其中，該至少 -光波導體布置在該探棒與該鑷模鋼板接觸的一側上。 19 201006588 13. 如申請專利範圍第12項之探棒，其_，該至少一光 波導體蜿蜒曲折及/或呈螺旋狀地布置在該板件上。 14. 如申請專利範圍第12或第13項之探棒，其中，該 至少一光波導體布置在該探棒上的凹槽内。 15. 如申請專利範圍第6項之探棒，其中，該探棒由該 至少—光波導體構成’該至少一光波導體可直接布置在該 鑄模銅板上的至少一鑽孔内。 (如次頁）

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