200813459 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明财關於―制試纟統 ;係關於-種按鍵測試系統及方法。丨更斤而吕之’ 【先前技術】 、按鍵置都具有可供使用者操作的按鍵， 進響了使用者對電子裝置的功能操控，因 此對域進行測試係為產品出薇前的 =式技術多藉由單晶片機控制，亦即，將單晶目，的 讀ms機與按鍵板（swi灿―）電性連接， 含有複數按鍵之電路板，而此種測試方法 ⑴測试人員需要熟悉單晶片機的硬體電路 早晶片機的輪入輸出接聊及連接'、叔 與按鍵板電性迷接，而不同型號的：此:::二機 二:r量與位置亦不同，若更換另-型號的單= 則早曰曰片機與按鍵板即需要 義 機測試按鍵的技術，其硬體接電種藉由單晶片 改硬體連接電路亦則浪費==路不具有通用性，而更 ⑵賴人員需要—定程度的單晶片機程式編寫義 礎，。由於不同型號的單晶片機，其軟體設計亦不同、^ 5式耘式燒錄於單@ μ機㈣,^ " 取亦不可更改〇 原碼即不可讀 即需要重新編寫及重新^于。=^晶片機’則測試程式 垔新燒錄。故此種藉由單晶片機测試按 19646 5 200813459 =技其軟體測試程式亦不具有通用性，而重新 測試程式同樣會浪費測試時間。 ’、、’… (3)受單晶片機的功能限制，測試程式僅能 鍵好壞而缺乏對測試結果 二 ==⑽，、測試總量及良品率ί 數量限二錄二又，叉早晶片機的輸入輸出接腳的 ^ 一次僅能測試一個或少量的按 此種藉由單晶片機測試按鍵的技術既不利於測試人3 二鍵板測式貧料的追蹤管理’又不適用於按鍵板的大量測 為此’如何提供—種能實現❹m祕與節省測試時 間之功效’復能提供按鍵板測試資料之追縱管理，並適用 於按鍵板之大量測試的按鍵測試系統及方法，以解決前述 習知按鍵測試技術之種種缺點，遂成為目前亟待解決 題。 ^ φ【發明内容】 雲於上述習知技術之缺點，本發明之主要目的在於提 供一種具有通用性之按鍵測試系統及方法。 本發明之另一目的在於提供一種按鍵測試系統及方 法，以節省測試時間。 本發明之再一目的在於提供一種按鍵測試系統及方 法’其能對按鍵板之測試結果進行處理，俾後續按鍵板測 試資料之追縱管理。 本發明之又一目的在於提供—種按鍵測試系統及方 19646 6 200813459 法’藉以實現按鍵板之大量測試。 - 為達上述之目的，本發明提供一種按鍵測試系統，其 包括：測試裝置，係用以電性連接具有至少一按鍵之按鍵 *板（SWltchB〇ard)，用以偵測該按鍵板之按鍵狀態；資料 ^處理裝置，係用以依據該測試裝置所偵測之按鍵板之按鍵 狀恶，記錄對應於該按鍵板之測試結果及按鍵板測試之統 计結果，並用以顯示該測試裝置所偵測之按鍵板之按鍵狀 ；態、測試結果及統計結果；以及傳輸介面，係電性連接該 、⑩測試裝置及資料處理裝置，用以將該測試裝置所偵測之按 鍵板之按鍵狀態傳輸至該資料處理裝置，該傳輸介面係為 周邊元件介面（Peripheral C⑽ponent Interface; PCI) 及萬用串列匯流排（Universal Serial Bus; USB)之其中 一者。 於本發明之一種型態中，該資料處理裝置進一步包 括：設定模組，係用以設定對應於按鍵狀態之顯示方式， _並用以建立該按鍵板及按鍵之位置分佈與該測試裝置所 偵測之按鍵板及按鍵之實體位置的對應關係；讀取模組， 係用以讀取該傳輸介面所傳輸之該測試裝置所偵測之按 鍵板之按鍵狀態；記錄模組，係用以依據該讀取模組所讀 取之按鍵板之按鍵狀態記錄對應於該按鍵板之測試結果 及知:鍵板測試之統計結果；顯示模組，係用以提供按鍵測 试視窗’該按鍵測試視窗係用以顯示該按鍵板及按鍵之位 置分佈、該記錄模組所記錄之對應於該按鍵板之測試結果 及按鍵板測試之統計結果，並用以依據該設定模組所設定 7 19646 200813459 之顯示方式及所建立之對應關係顯示該讀取模組所讀取 -,按鍵板之按鍵狀態；以及儲存模組，係用以儲存該記錄 核組所記錄之對應於該按鍵板之測試結果及按鍵板測試 • 之統計結果。 於本發明之一種型態中，該設定對應於按鍵狀態之顯 不方式，係指設定不同的按鍵狀態對應於不同的顯示 ‘彩。 *、 • 透k鈉述本發明之按鍵測試糸統，本發明復提供一種 、按鍵測試方法，係包括下述步驟：設定對應於按鍵狀態之 顯示方式，並建立按鍵板及按鍵之位置分佈與該測試裝置 所偵測之按鍵板及按鍵之實體位置的對應關係；電性連接 該按鍵板與該測試裝置；顯示該按鍵板及按鍵之位置分 佈；讀取該傳輸介面所傳輸之該測試裝置所偵測之按鍵板 之按鍵狀態；依據所設定之顯示方式及所建立之對應關係 顯示所讀取之該按鍵板之按鍵狀態；依據所讀取之該按鍵 _板之按鍵狀態記錄對應於該按鍵板之測試結果及按鍵板 •測試之統計結果；顯示所記錄之對應於該按鍵板之測試結 _ 果及知7鍵板測试之統計結果；以及儲存該所記錄之對應於 該按鍵板之測試結果及按鍵板測試之統計結果，其中，該 傳輸介面係為周邊元件介面（peripherai Component Interface; PCI)及萬用串列匯流排 〇jniversal Serial Bus; USB)之其中一者。 於本發明之一種型態中，該設定對應於按鍵狀態之顯 示方式’係指設定不同的按鍵狀態對應於不同的顯示色 8 19646 200813459 彩。 ' '因此’本發明之按鍵測試系統及方法係藉由傳輸介面 將测4裝置所㈣之各按鍵板之按鍵狀態傳輸至該資料 .處理裝置並予以顯示及處理’測試人員能直接讀取按鍵之 ，測試結果及統計結果，且由於資料處理裝置之硬體及軟體 貧源強大，即無需再使用單晶片機對按鍵測試進行控制， 故能解決習知技術因使料W機㈣而導致硬體連接 ，電路、軟體測試程式不具㈣用性，以及㈣測試時間之 缺點。再者，本發明之按鍵測試系統利用了資料處理裝置 將測試時間、測試通過的按鍵位置、測試按鍵板的總量及 良品率予以儲存，藉此能使測試人員直接了解不良按鍵之 具體位^以及測試良品率，俾於測試人員對按鍵板測試進 订追知官理。另外，利用該資料處理裝置之強大硬體資源 可一次同時測試多個按鍵板並予以記錄，故本發明亦能適 用於按鍵板之大量測試。、 馨【實施方式】 一以下係藉由具體實例說明本發明之實施方式，熟悉此 技蟄之人士可由本說明書所揭示之内容輕易地瞭解本發 月m點與功效。纟發明亦可藉由其他不同的具體實 例加以施行或應用，本說明書中的各項細節亦可基於不同 觀點與應用，在不㈣本發明之精神下進行各種修飾與變 更。 上、/第1圖為一方塊示意圖，係用以顯示本發明之按鍵測 试系統之基本架構，如圖所示，該按鍵測試系統i係包括 19646 9 200813459 測試裝置li ’傳輸介面12，以及資料處理裝置13。 該測試裝置u，係電性連接具有至少一按鍵之按鍵 板（SwitchBoardMO’用以偵測各按鍵板1〇之按鍵狀態。 該測試裝置11能依據實際f要電性連接單—或複數個按 鍵板，於本實施例中，該測試裝置n係電性連接4個按 鍵板10，且每個按鍵板具有8個按鍵，該測試裝置u可
分別偵測32個按鍵之按鍵狀態，亦即該些按鍵被按下後 疋否能正常發出其所代表的訊號。 該傳輸介面12’係電性連接該測試裝置u及資料處 理裝置13,用以將該測試裝置u所偵測之各按鍵板ι〇 之按鍵狀態傳輸至該資料處理裝置13。其中 面12係為周邊元件介面(Peripheralc卿賺nt傳輸"
Interface; PCI)，於本發明之其他實施例中，該傳輸介 面12亦可為萬用串列匯流Β^; USB)。於本實施例中，該傳輸介面12係為一具有路「】 與〇」之開關量（Switch)輸入之pCI介面的開關量卡， 用以將該測試裝置11所偵測之各按鍵板之按鍵狀態轉換 為開關量，例如，1表示按鍵被按下，〇表示按鍵未按下。 該資料處理裝置13,係用以顯示該測試裝置丨丨所债 測之各按鍵板之按鍵狀態，且用以依據該測試裝置11所 偵測之各按鍵板1〇之按鍵狀態記錄對應於各按鍵板之測 試結果及按鍵板測試之統計結果並予以顯示。於本實施例 中"亥資料處理裝置13係為一電腦。如第1圖所示，該 貝料處理裝置13包括設定模組130、讀取模組131、記錄 19646 10 200813459 模組132、顯示模組133、以及儲存模組134。 該a又疋才果組13 〇，择用以 係用以δ又疋對應於按鍵狀 方式，並用以建立該按锺柘1fl Β“ ‘肩不 :…1… 鍵之位置分佈與該測 ,:衣按鍵板10及按鍵之實體位置的對應關 係。/、中，該设定對應於按鍵狀態之顯示方式，係指設— 不同的按鍵狀態對應於不同的顯示色彩，例如，黑 按鍵被按下，白色表示按鍵未被按下。 又丁 該讀取模組131 ’係用以讀取該傳輸介面12所傳輸 之該測試裝置11所偵測之各按鍵板10之按鍵狀態。於本 實施例中，測試人員分別按下32個按鍵，該測試裝置U 偵測32個按鍵之按鍵狀態，若按鍵有問題（例如斷路， 按鍵接觸不良等），即使按鍵被按下，測試裝置u所偵 測之按鍵狀態亦為未按下。 、 該記錄模組132，係用以依據該讀取模組131所讀取 之按鍵板10之按鍵狀態記錄對應於該按鍵板1〇之測試結 _果及按鍵板10測試之統計結果。於本實施例中，各按鍵 板10之測試結果係指，若所讀取之1個按鍵板1 〇上8 個按鍵狀態均為1 (被按下），則記錄該按鍵板1〇為測 试通過（Pass);若所讀取之1値按鍵板1〇上至少有丨個 按鍵狀·％為〇 (未按下），則記錄該按鍵板1 〇為測試失 敗（Fail)。此外，記錄按鍵板測試之統計結果係包括記錄 所測試之按鍵板的總量（Total)、通過量以及失敗量。 該顯示模組133，係用以提供按鍵測試視窗，該按鍵 測試視窗係用以顯示該按鍵板1 〇及按鍵之位置分佈、該 11 19646 200813459 記錄模組132所記錄之對應於該按鍵板1G之測試結果及 按鍵板10測武之統計結果，i用以依據該設定模組⑽ -所12又疋之頦不方式及所建立之對應關係顯示該讀取模組 • 131所讀取之按鍵板1G。如帛2A圖所示，其係顯示一按 ^鍵測試視窗，該按鍵測試視窗顯示對應於該測試裝置u •所偵測之各按鍵板1〇及按鍵之實體位置之按鍵板（1#板 〜4#板）及按鍵的位置分佈（白色方格）。請繼續參閲第 2B圖，其係依據該設定模組13〇所設定之顯示方式及所 '建立之對應關係顯示該讀取模組131所讀取之各按鍵板 10之按鍵狀態，圖中黑色方格表示偵測到按鍵按下，白 色方格表示未偵測到按鍵按下。若測試人員按下按鍵測試 視®中之檢測結果”按鍵，該按鍵測試視窗即顯示本次測 忒中该e錄模組132所記錄之對應於各按鍵板丨〇之測試 結果及按鍵板10測試之統計結果，並將按鍵狀態之顯示 恢復至初始狀態（白色方格）以繼續進行測試，如第2C 圖所示，其中板、2#板及3#板測試失敗（Fail)，4# 、板測試通過（pass);請配合參閲第2B圖（前次累計的按 ' 鍵板測試之統計結果），本次測試後累計的測試按鍵板的 總里（Total )為 24 個（pcs)，通過量（Pass)為 18 個（pcs)， 失敗量（Fail)為6個（pcs)。 該儲存模組134，係用以儲存該記錄模組132所記錄 之對應於該按鍵板10之測試結果及按鍵板1〇測試之統計 結果。如第2D及2E圖所示，其係為本發明之按鍵測試系 統所儲存之測試結果及統計結果之一實施例示意圖，該儲 12 19646 200813459 存模組134將測試時間及測試通過的按鍵位置儲存於一 檔案中，如第2D圖所示；同時，該儲存模組134依據所 記錄之測試按鍵板10的總量及通過量計算按鍵板測試的 良品率並儲存於一檔案中，如第2E圖所示。 請參閱第3圖，其係為本發明之按鍵測試方法透過前 述本發明之按鍵測試系統流程示意圖。如圖所示，本發明 之按鍵測試方法3包括以下步驟： 设定對應於按鍵狀態之顯示方式，並建立按鍵板及按 鍵之位置分佈與該測試裝置所偵測之按鍵板及按鍵之實 體位置的對應關係；電性連接該按鍵板與該測試裝置；顯 不該按鍵板及按鍵之位置分佈；讀取該傳輸介面所傳輸之 該測試裝置所偵測之按鍵板之按鍵狀態；依據所設定之顯 示方式及所建立之對應關係顯示所讀取之該按鍵板之按 鍵狀悲，依據所§買取之該按鍵板之按鍵狀態記錄對應於該 按鍵板之測試結果及按鍵板測試之統計結果；顯示所記^ 壽之對應於該按鍵板之測試結果及按鍵板測試之統計結、 果；以及儲存該所記錄之對應於該按鍵板之測試結果及按 鍵板測試之統計結果，其中，該傳輸介面係為周邊元件介 面（Peripheral Component lnterface; PCI)及萬用串列 匯流排（Universal Serial Bus; USB)之其中一者 於步驟S30中，設定對應於按鍵狀態之顯示方式，並 建立按鍵板及按鍵之位置分佈與該測試裝置所偵測之按 鍵板及按鍵之實體位置的對應關係。接著進至步驟S3i。 於步驟S31中，電性連接該按鍵板與該測試裝置。接 19646 13 200813459 著進至步驟S32。 即測試人員是否 若否’則返回該 於步驟S32中’判斷是否開始測試， 啓動按鍵測試’若是’則進至步驟S33 ; 步驟S32。 於步驟S33中’提供-按鍵測試視窗，以顯示該按鍵 板及按鍵之位置分佈，朗Μ賴人員㈣之測試按 鍵，如第2Α圖所示。接著進至步驟S34。 於步驟S34中，讀取該傳輸介面所傳輸之該測試裝置 所偵測之按鍵板之按鍵狀態。接著進至步驟§35。 於步驟S35中，依據所設定之顯示方式及所建立之對 應關係顯示所讀取之各按鍵板之按鍵狀態。於本實施例 ^測試人員依次按下各按鍵板之按鍵，若按鍵正常，測 试裝置能夠债測到該按鍵被按下，則該按鍵測試視窗中相 應按鍵位置之白色方格即轉換為黑色方格；若按鍵有問 題’測試裝置偵測到該按鍵未被按下，則該按鍵測試視窗 _中相應按鍵位置之白色方格保持不變，其可例如第找圖 所示。接著進至步驟S36。 於步驟S36中，依據所讀取之各按鍵板之按鍵狀態記 、彔？應於各按鍵板之測試結果及按鍵板測試之統計結 果。接著進至步驟S37。 於步驟S37中，判斷是否顯示檢測結果，即測試人員 疋否知:下5亥按鍵測試視窗中之“檢測結果”按鍵，若是，則 進至步驟S38 ;若否，則返回至步驟S37。 於步驟S38中，顯示所記錄之對應於各按鍵板之測試 19646 14 200813459 結果及按鍵板測試之統計結果。對應於第2B圖，本步驟 •之顯示所記錄之對應於各按鍵板之測試結果及按鍵板測 试之統計結果係如第2C圖所示，其顯示各按鍵板是否通 :過，測試按鍵板的總量，通過量以及失敗量。接著進至步 * 驟 S 3 9 〇 於步驟S39中，儲存該所記錄之對應於該按鍵板之測 試結果及按鍵板測試之統計結果。於本實施例中，將測試 、 時間及測試通過的按鍵位置儲存於一檔案中，如第2d圖 '眷所不；以及依據所記錄之測試按鍵板的總量及通過量計算 按鍵板測試的良品率並儲存於一檔案中，如第2E圖所示。 綜前所述，本發明之按鍵測試系統及方法係藉由傳輸 介面將測試裝置所偵測之各按鍵板之按鍵狀態傳輸至該 資料處理裝置並予以顯示及處理，測試人員能直接讀取按 鍵之測試結果及統計結果，且由於資料處理裝置之硬體及 軟體資源強大，即無需再使用單晶片機對按鍵測試進行控 • _制，故能解決習知技術因使用單晶片機控制而導致硬體連 :接電路、軟體測試程式不具有通用性，以及浪費測試時間 '之缺點。再者，本發明之按鍵測試系統利用了資料處理裝 置將測4b守間、測試通過的按鍵位置、測試按鍵板的總量 及良品率予以儲存，藉此能使測試人員直接了解不良按鍵 之具體位置以及測試良品率，俾於測試人員對按鍵板測試 進行追縱：理。另外，利用該資料處理裝置之強大硬體資 源可-次同時測試多個按鍵板並予以記錄，故本發明亦能 適用於按鍵板之大量測試。 19646 15 200813459 上述實施例僅例示性說明本發明之 -非用於限制本發明。任何熟習此項技蓺原理及其功效，而 背本發明之精神及範疇下，對上述實施^人士均可在不違 ::羞鬥因此’本發明之權利保護範圍’應如後二錦二 . 範圍所列。 τ明專利 【圖式簡單說明】 • 第1圖係為本發明之按鍵測試系統之基本架構 塊示意圖； 〃、 、方 第2A至2C圖係為本發明之按鍵測試系統所顯示之 鍵測試視窗之其中一實施例的示意圖； 安 弟2 D至2 E圖係為本發明之按鍵測試系統所储存之、 試結果及統計結果之其中一實施例的示意圖；以及 、 第3圖係為本發明之按鍵測試方法之流程示意圖。 【主要元件符號說明】 1 按鍵測試系統 10 按鍵板 11 測試裝置 12 傳輸介面 13 資料處理裝置 130 設定模組 131 讀取模組 132 記錄模組 133 顯示模組 134 儲存模組 3 按鍵測試方法 S30〜S38 步驟 19646 16