200819824 • 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種液晶顯示面板及測試其之探 =種:於降低測試成本及重複測試液晶顯示二之^ 5 日日纟、、員不面板及測試其之探針。 【先前技術】 -般在製作液晶顯示器的前段過程中，係使用蟲晶的 方法在-基板上形成數百萬顆的薄膜電晶 ： 丨。元’然而，若有部分之薄膜電晶體在製作時品質不=早 導致無法表現出其開關控制特性，則會產生如亮點及暗點 的缺陷，大幅的降低液晶顯示器的品質。因此，必須^效 率的對薄膜電晶體進行測試，以維持液晶顯示器的品質。 請參考圖1，係為習知之液晶顯示器測試線路示意圖。 15在液晶顯示器的基板上包含了複數條資料線"、複數條閉 極^12、兩個資料短路桿13以及兩個閘極短路桿14。此兩 们為料短路桿13係分別連接至奇數條的資料線丨1丨及偶數 條的貧料線112 ’而兩個閘極短路桿14係分別連接至奇數條 的間極線121及偶數條的閘極線122，最後’將資料短路桿 2〇 13以及閘極短路桿14之一端分別連接至相對應之測試墊 15，16，以供測試裝置之探測端接觸進行測試。此種方式係 為2D2G(即兩條資料線11以及兩極閘極線作測試12)之測試 線路。當進行測試時，測試裝置可藉由複數個探測端與相 對應之測試墊15，16相接觸後，將測試訊號經由資料短路桿 5 200819824 .13以及閘極短路桿14送人料之複數個薄膜電晶體中以進 行測試。在此測試方法由於任相鄰之兩條資料線11或是問 極線12均沒有連接至相同的短路桿。因此，當任相鄰之兩 條貧料線11或是閘極線12在製作上便已短路，可將此製造 5 瑕疵測試出來。 又，另一種習知液晶顯示器測試線路，請參考圖2，同 樣地在液晶顯示器的基板上包含了複數條資料線u、複數 條閘極線12、三個資料短路桿17以及兩個問極短路桿14。 三個資料短路桿η分別連接至如+1、h+M3·3之資料 10線113，114，115 ’其中m為零或正整數。而兩個問極短路桿 14係分別連接至奇數條之閘極線(2 i及偶數條之閘極線 122。最後將資料短路桿17以及閘極短路糾—端分別連接 至相對應之測試墊18，16，此種方式係為3D2G(即三條資料 線11以及兩極閘極線作職丨2)之測試、㈣。當進行測試 15時，測試裝置藉由複數個探測端與相對應之測試塾16，叫目 接觸後，將測試訊號經由資料短路桿17以及間極短路⑷旱 送入特定之薄膜電晶體中以進行測試。此測試方式將資料 線分類成與基本原色（紅色、綠色、藍色）相對應，經由特定 之資料短路桿輸入測試訊號後輸出特定的基本原色。 泊 ’然而，無論是圖lt2D2G或是圖2中3咖的測試線路 方式’均無法有效的同時提升液晶顯示器製作時陣列段 (Array)及晶胞段（CeU)的測試效率。此外，在線路判嘩+之 後均會將短路桿，亦即資料短路桿及閉極短路桿切斷，此 種方式在短路桿切斷之後無法再重新測試。即當要在液晶 6 200819824 ’無法重新測試線路是否短 顯示器產品的品質。 顯示器模組段之前要作測試時 路。因此，無法完全確保液晶 【發明内容】 有鑑於習知之缺 板，包括：一第一基板、一第二基板 本發明係提供一種液晶顯示面 液晶層、複數個 /百、固 15 旦素、複數條訊號線、複數個測試墊。第二基板係具有一 顯示區及一週邊線路區，而顯示區係對應於第一基板，週 邊線路區係位於該顯示區周圍。液晶層係位於該第一基板 及該第二基板之間。複數個晝素係形成於該第二基板^ 顯示區内。複數條訊號線係電性連接至該等畫素。複數個 測试塾係形成於該第二基板之該週邊線路區内並對應電性 連接至該等訊號線’該等測試塾間係以錯位排列之式形 成，並以!!個測試墊作-循環排列，分成㈣測試墊群:每 一測試墊群之該些測試墊係平行排列配置，其中，n係為 於等於2之正整數。 ” ' 本發明之液晶顯示面板，其中，n個測試墊係可包括沿 訊號線的垂直方向作循環排列。又，此等訊號線包括複： 條貧料線、複數條閘極線或共同電極線。此外，測試墊可 20電性連接至該複數條資料線。而此等測試塾中較佳地係可 包括以η=2為一循環排列或者是以㈣為一循環排列。再 者，此等測試墊係較佳可為一導電材料。較佳地，測試塾 的材質可與晝素的材質相同。 在本發明中第一基板係可為一料濾光基板，而第二 200819824 基板係可為一薄膜電晶體基板。… 在本發明中的測試墊係可與—測試土觸6玄寻測試 液晶顯示面板。其中，該：妾觸’以測試該 一軟性+踗柘、置係可包括一薄膜探針或 墊，此福數個；^、目彡 寻判忒衣置可包括複數個感測 墊此稷數個感測墊係可分別對應位 路區的賴㈣形成__群。 板上週邊線 由别述可知’本發明可审& 夕、目丨卜+十〃 Tm種賴液日日日顯示面板 之測试採針，用於測試一液 τ /夜日日顯不面板，該液晶顯示面板 具有禝數個測試墊群，至少向一 ^ 及複數個感測墊。複數個導後 ，、稷數個導線以 ^ 禝數们一線係位於該薄材内或 之表面，且該等導線間不 一、、弘性連接，该些導線電性連接至 驅動㈣。而複數個感測墊係位於該薄材之一側並 电性連接該等導線，且該些感測墊個別對應電性連接至1 液晶顯不面板之該些測試墊群。 人 15 本發明中測試液晶顯示面板的探針，其中，部 其感測塾係不限呈現何種形狀，只要可與液晶顯示 面板中的測試墊接觸即可，例如可呈現— 字型等形狀。 飞疋 “由前述可知，本發明經由在第二基板中的週邊線路區 ^測^墊的配置’可同時提供短路桿（如啊b㈣或是使測 口式的居彳木針中之感測墊完全接觸（比丨1⑶兩種測試方 當短路桿測試線路被切斷後，仍然可以在完成晶胞_) 段^後測#。在作測試時可針對奇數線路或偶數線路進行 測试，也可以針對不同區域的線路組進行獨立測試。本發 20 200819824 明係降低了測試成本 質。 同日守也提南了液晶顯示器產品的品 【實施方式】 以下係藉由特定的呈雜每> 一 的一體貝施例說明本發明之實施方 二1、白此技蟄之人士可由本說明書所揭示之内容輕易地 了解本發明之其他優點與功效。本發明亦可藉由其他不同 的具體實施例加以施行或應用’本說明書中的各項細節亦 10 15 可基於不同觀點與應用’在不棒離本發明之精神下進行各 種修飾與變更。 本發明之實施例中該等圖式均為簡化之示意圖。惟該 等圖式僅顯示與本發明有關之元件，其所顯示之元件非為 實際實施時之態樣’其實際實施時之元件數目、形狀等比 例為選擇性之設計，且其元件佈局型態可能更複雜。 實施例1 睛參考圖3，係為本發明之一液晶顯示面板2〇簡單示意 圖。其具有一彩色濾光基板21、一薄膜電晶體基板22以及 一液晶層23。其中，液晶層23係位於彩色濾光基板21及薄 膜電晶體基板22之間且液晶層23的外側具有一止膠層24。 20 而本實施例中薄膜電晶體基板22的結構，請參考圖4，係為 依據本發明之一種液晶顯示面板20之薄膜電晶體基板22示 意圖。此薄膜電晶體基板22具有一顯示區221及一週邊線路 區222，該顯示區221係對應於一如圖3所示之彩色濾光基板 21，該週邊線路區222係位於該顯示區221周圍。又在薄膜 9 200819824 電晶體基板22的顯示區221内形成複數個晝素31。此外具有 複數條可作為訊號線的資料線32以及閘極線33電性連接至 晝素3 1中。 10 15 接著，請參考圖5A係為圖3之液晶顯示面板2〇俯視圖且 係為薄膜電晶體基板22週邊線路區222放大示意圖。以 G…構為例，在溥膜電晶體基板μ的週邊線路區a]〗 中，係具有複數個測試墊34並對應電性連接至該等訊號 線，即資料線32或是閘極線33。此等測試墊34間係以兩兩 錯位排列之方式形成，可分成2組測試墊群341，342,每一測 j墊群341，342間之測試墊34a，34b係平行排列配置。此種測 试墊34間係以兩兩錯位排列之方式可先應用短路桿％，即 與訊號線連接的短路桿％經由短路測試墊36以2咖(即分 可對應連接至如圖4所不之資料線32及閘極線33)的線路 贼方式測試，如圖5A所示。在測試完之後，即將與短路 杯35連接的訊號線以磨斷或以雷射的方式切斷，如圖顺 「上、在此之後’在製作液晶顯示器的後續製程時，則此等 象式方式不會再針對液晶顯示面板如作測試。 &另外在本，施例中亦提供—種測試此種液晶顯示面 = 此探針在本實施例係為-軟性電路板· 探針。請參考圖6 ’係為本實施例中軟性電路 板4014液晶顯不面板2〇的 ^ 毛r生運接不思圖。茲將軟性電路 板40兵週邊線路區222接觸的 祐如尨命、六Η θ Λ又欲穴木看，此軟性電路 板40係”液日日顯不面板2 ;，寻胰弘日日體基板22的週邊線路 ㈣接觸。關於本實施例之探針，請參考圖7，其至少包 20 200819824 -括：薄材41、複數個導線421，422,423以及複數個感測墊 431，432,433。此等導線4：21，422,423係位於薄材41内或是薄 材41之表面，且導線421，422,423間不電性連接，這些導線 421，422,423電性連接至一測試驅動電路（圖未示）。感測墊 5 431，432,433則位於薄材41之一側並分別電性連接導線 421，422,423 ’且請再參考圖6，此等感測墊431，432個別對 應電性連接至液晶顯示面板2〇之測試墊群341，342。 本實施例如圖7所示之的導線421與其感測墊43 1呈現 一 T型，其係與本實施例中液晶顯示面板2〇的奇數個排列的 10測試墊群341電性連接。而與其感測墊432呈現一 L型的導線 422則與偶數個測試墊群342電性連接。而與其感測墊433呈 現一 一字型的導線423則與其中一測試墊34電性連接，此測 試墊34c則電性連接至液晶顯示面板2〇中的一訊號線。又， 此訊號線係為液晶顯示面板2〇中的共同電極線（圖未示），此 15共同電極線係連接薄膜電晶體基板22以及彩色濾光基板 21。因此，由前述可知，本實施例可依此探針偵測液晶顯 示面板20的薄膜電晶體是否有短路的現象。 又，可依此探針，請參考圖8，作一種2D2G的測試。 以測試Μ裝置電性連結測試探狀另1，以電路板叫 2〇為例，在電路板90的Χ轴方向，包括了如圖6所示之一條連 接薄膜電晶體基板22中週邊線路區222之奇數個排列的測 试塾群341之導線421、一條連接薄膜電晶體基板^中週邊 線路區222之偶數個排列的測試墊群342之導線a]以及一 條與連接至液晶顯示面板2〇中共同電極線之測試塾仏之 11 200819824 • 導線423,而在X軸方向的測試墊34則電性連接至薄膜電晶 體基板22的資料線32(如圖4所示）或共同電極線（圖未示）曰。曰 同樣地，在電路板的γ轴方向則包括了 —條連接薄膜電晶體 基板22中週邊線路區222之奇數個排列的測試墊群％丨之導 5線421以及一條連接薄膜電晶體基板22中週邊線路區222之 偶數個排列的測試墊群342之導線422。此時，γ轴方向的測 試墊3 4則f性連接至賴電晶體基板2 2的閘極線3 3 (如圖* 所示），並且探針中的導線421，422可與其感測墊们i 432妒 成兩個L型。最後，經由信號輸入至電路板9〇中之信號輸二 10墊91 ’可測試出液晶顯示面板中的薄膜電晶體是否短路。 在本實施例中，經過探針的測試之後，可在薄膜電晶 體基板22中之週邊線路區222的測試塾犯與複數個半導 體晶片連接，再繼續後續的製程，以完成液晶顯示器的组 裝。 、、 15 實施例2 本實施例係與實施例1大致上相同，但不同的是，請參 考圖9A ’此等測試墊5〇中本身係可分為第一測試塾51及第 二測試塾52’第-測試墊51係以錯位排列之方式形成，並 以3個第—測試塾51作—循環排列，分成3組測試墊群，亦 2〇即以第卜4、7…等測試墊作為第一組測試墊群511，以第2、 $ 8…等測4墊作為第二組測試塾群，以第3、6、9... 等測試塾作為第三組測試墊群513，每—測試塾群之測試塾 係平行排列配置。此外’此三組的測試塾群（第一組測試 墊群511、第二組測試塾群5!2及第三組測試塾群513)係可 12 200819824 •分別測試如圖3所示之彩色濾光基板21的基本原色，即紅 (R)、綠（G)、藍（B)。測試墊5〇中的第二測試塾52則兩兩互 相交錯著排列。 隨著薄膜電晶體基板22上的測試墊5〇的排列不同。因 5此’再請參考圖9B’本實施例的探針材料亦與實施例呀料 相同，然本實施例中探針，即軟性電路板4〇(或薄膜探針） 中導線423,424,425,426與感測塾433,434,435,436所呈現的 ⑽亦隨之改變。本實施例中與薄膜電晶體基板22中第一 測試墊51中之第—組測試墊群511電性連接的導線424及其 10感測墊434則呈現T型的形狀，其係可測試藍色（B)。另，與 薄膜電晶體基板22中第-測試墊51中之第二組測試塾群 5U電性連接的導線425及其感測墊435則呈現L型的形狀， 其係可測試綠色⑼。此外，與薄膜電晶體基板22中第一測 4墊51中之第三組測試墊群513電性連接的導線及其感 15測墊436亦可呈現1^^的形狀，其係可測試紅色（R)。再者' 與實施例1相同的導線423及其感測墊433可呈現一字型，此 ϋ #式則電性連接至液晶顯示面板中的-作為共同電極線的 訊號線。 本實施例同樣與實施例丨相同，利用電路板進行測試， 20請同時參考圖9及圖10，係為做一種3D2G的測試方式，在 電路板90的X軸方向，包括了一條連接薄 ^邊線路區222之第-測試墊51的第一組測試塾;^之 i線424 條連接薄膜笔晶體基板22中週邊線路區222之 第一測試墊51的第二組測試墊群512之導線425、一條連接 13 200819824 -薄膜電晶體基板22中週邊線路區222之第一測試墊5 1的第 一組測试墊群513之導線426以及一條與連接至液晶顯示面 板20中共同電極線之測試墊5〇之導線423。本實施例在電路 板90的Y轴方向則與實施例丨相同。本實施例經由信號輸入 5至電路板90中之信號輸入墊91，可測試出液晶顯示面板中 的薄膜電晶體是否短路。其餘部分則與實施例丨相同。 實施例3 本實施例係與實施例丨大致上相同，但不同的是，請參 考圖11A，本實施例的測試墊6〇中係以兩兩錯位排列之方式 10形成，並可分為2組測試墊群601，602。而測試墊60本身又可 分為第一測試墊61及第二測試墊62，而第一測試墊61係以 錯位排列之方式形成且每一測試墊群6〇丨，6〇2中之第一測試 墊61係平行排列配置。每一測試墊群6〇1，6〇2中第二測試墊 62則互相平行排列。 15 而測試本實施例中液晶顯示面板的探針（如圖11B所示） 以及利用電路板將信號輸入的方式則與實施例丨相同。此 外，在測試完後的測試墊6〇係可與一薄膜連接，再繼續後 續的製程，以完成液晶顯示器的組裝。 實施例4 20 本實施例係與實施例2大致相同，但不同的是，請參考 圖^，本實施例的測試墊7〇，其本身中的第一測試墊^係 與實施例2相同之方式排列，而每一第二測試墊72則皆互相 平行排列，大致上而言，本實施例的測試墊係以3個第一測 試塾群71作一循環排列，而可分成3組測試墊群 200819824 . 701，702,703。 另外’本實施例中測試液晶顯示面板的探針其排列方式 則可如實施例2相同。而與探針連接的電路板亦與實施例2 相同。 5 實施例5〜10 實施例5〜10係可依照實施例丨〜4中的測試墊之排列方 式，而製作出如圖13A所示之2D4G(實施例5)、如圖13B所 示之3D4G(貫施例6)、如圖13C所示之4D2G(實施例7)、如 圖13D所示之4D4G(實施例8)、如圖13E所示之6D2G(實施例 10 9)以及如圖13F所示之6D4G(實施例10)等測試。熟習此技藝 者，可據上作等效的變化與擴增，並不因此而限制本發^ 之實施方式。 、、，不上所述’本發明所提供的液晶顯示面板以及測試此種 液晶顯示面板的探針，係降低了測試成本。並且，在液晶 15顯示面板上的線路可局部在基板、電路板及軟性電路^ 上，取代了習知原來面板上的線路。此外，本發明亦提升 了液晶顯示器的品質。 上述實施例僅係為了方便說明而舉例而已，本發明所 主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準，而非僅限 20 於上述實施例。 【圖式簡單說明】 圖1係習知之液晶顯示器測試線路示意圖。 圖2係另白知之液晶顯示器測試線路示意圖。 15 200819824 圖係本考x明車父佳實施例之液晶顯示面板剖視圖。 圖4係本發明—較佳實施例之薄膜電晶體基板示意圖。 圖5係本發明—較佳實施例之薄膜電晶體基板上週邊 線路區不意圖。 _圖6係本發明—較佳實施例之液晶顯示面板與探針接 觸不意圖。 圖7係本發明—較佳實施例之測試液晶顯示面板之探 針示意圖。 木 圖8係本發明—較佳實施例之以電路板測試液晶顯示 10 面板示意圖。 、圖9係本發明另—較佳實施例之薄膜電晶體基板上週 邊線路區及與其接觸之探針接觸示意圖。 圖10係本發明_較佳實施例之以電路板測試液晶顯示 面板示意圖。 Μ、® U係本發明另—較佳實施例之薄膜電晶體基板上週 邊線路區及與其接觸之探針接觸示意圖。 圖12係本發明另一較佳實施例之薄膜電晶體基板上週 邊線路區示意圖。 一圖13係本發明其他較佳實施例之以電路板測試液晶顯 20 示面板示意圖。 【主要元件符號說明】 11’111’112’113，114，115,32 資料線 12，121，122,33閘極線 13，17資料短路桿 16 200819824 14 閘極短路桿 15，16，18測試墊 20 液晶顯示面板 21 彩色濾光基板 22 薄膜電晶體基板 221 顯示區 222 週邊線路區 23 液晶層 24 止膠層 31 晝素 34,34a，34b，34c，50,60,70 測試墊 341，342,511，512,513,601，602,701，702,703 測試墊群 35 短路桿 36 短路測試墊 40 軟性電路板 41 薄材 421，422,423,424,425,426 導線 431，432,433,434,435,436 感測墊 51，61，71第一測試墊 52,62,72第二測試墊 90 電路板 91 信號輸入墊 17